JP2002286811A - Individual environmental testing device, individual environmental testing method and module testing device for optical transmission - Google Patents

Individual environmental testing device, individual environmental testing method and module testing device for optical transmission

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JP2002286811A
JP2002286811A JP2001093363A JP2001093363A JP2002286811A JP 2002286811 A JP2002286811 A JP 2002286811A JP 2001093363 A JP2001093363 A JP 2001093363A JP 2001093363 A JP2001093363 A JP 2001093363A JP 2002286811 A JP2002286811 A JP 2002286811A
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JP
Japan
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test
optical transmission
module
transmission module
temperature
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JP2001093363A
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Japanese (ja)
Inventor
Minoru Kawabata
稔 川端
Kyoichi Yamamoto
恭一 山本
Katsumi Uchida
勝己 内田
Hiroshi Matahira
浩 又平
Yasushi Ideguchi
泰 井手口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a testing device which can conduct an environmental test with a plurality of modules under different test conditions. SOLUTION: This individual environmental testing device is enclosed by an enclosure made of heat insulation member, and it is provided with a plurality testing parts 100A, 100B, 100C, and 100D to which modules are attached. A testing instruction of modules is received every testing part, and a current is respectively applied to each of modules that are respectively attached to the testing parts. Internal temperatures are adjusted every testing part, and the modules attached to the respective testing parts are tested.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電気信号と光信号
を双方に変換可能で、且つ、ファイバーを介して光信号
を送受信可能な光伝送用モジュールの試験装置に関し、
特に、電源供給用ケーブルを介して光伝送用モジュール
に電圧を印加させた状態で、エージング或いは環境試験
を行う光伝送用モジュール試験装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test apparatus for an optical transmission module capable of converting an electric signal and an optical signal into both, and capable of transmitting and receiving an optical signal via a fiber.
In particular, the present invention relates to an optical transmission module test apparatus that performs an aging or environmental test while a voltage is applied to the optical transmission module via a power supply cable.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、光伝送用モジュール試験装置にお
けるエージング及び試験方法は、同一品種の複数個の試
料或いは、同一試験条件の試料を纏めて同一試験室内に
投入し、同一の試験条件の下でエージング及び試験を行
っている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an aging and test method in an optical transmission module test apparatus is such that a plurality of samples of the same type or samples under the same test conditions are put together into the same test chamber and are then subjected to the same test conditions. Aging and testing.

【0003】光伝送用モジュールの生産工程は、人手で
光伝送用モジュールの組立及び調整を行い、でき上がっ
た光伝送モジュールがエージング及び試験を行う工程に
供給されている。調整が完了した光伝送用モジュール
は、試験ボードにセットされ、複数の試料が投入可能な
試験室及び試験室全体を覆う扉を具備した試験装置に投
入され、試験室内において、電源供給用ケーブル及びフ
ァイバーケーブルを取り付けて試験機構と接続される。
調整作業は、光伝送用モジュール1つずつに行われる
為、調整作業終了後エージング或いは試験を行う工程へ
供給される。試験は、試験室内が試験条件である一定温
度下で行われる必要があり、試験中に光伝送用モジュー
ルを投入することは試験室内の温度変化を招くことから
不可である。このため、試験装置内に投入すべき光伝送
用モジュールは一度に纏めて投入し、試験を開始する必
要がある。このため、同一試験条件で行えて、一度に投
入可能な数の光伝送用モジュールについて、調整が完了
するのを待つ必要がある。
[0003] In the production process of the optical transmission module, the optical transmission module is manually assembled and adjusted, and the completed optical transmission module is supplied to a process of aging and testing. The adjusted optical transmission module is set on a test board, and is put into a test apparatus equipped with a test chamber capable of loading a plurality of samples and a door covering the entire test chamber. In the test chamber, a power supply cable and Attach the fiber cable and connect to the test mechanism.
Since the adjustment work is performed for each optical transmission module one by one, the adjustment work is supplied to a step of performing aging or a test after the end of the adjustment work. The test needs to be performed in a test room under a constant temperature, which is a test condition, and it is impossible to insert the optical transmission module during the test because the temperature in the test room changes. For this reason, it is necessary to put the optical transmission modules to be put into the test apparatus all at once and start the test. For this reason, it is necessary to wait until the adjustment is completed for the number of optical transmission modules that can be performed at the same time under the same test conditions.

【0004】従来、特開平11−190176号公報に
は、多数段に形成された棚を備え、内部の環境条件が調
整される環境試験装置について開示している。本従来技
術においては、棚毎に又は複数の棚を単位として使用区
画を定め、同一試験条件で使用区画毎に試験を行ってい
る。また、容易に使用区画を変更させるため隣接する扉
間に結合部材を挿入している。特定の使用区画だけ試料
の出し入れをする時には、その特定の使用区画の扉を開
き、他の区分の扉は閉鎖された状態を維持できる構成に
なっている。
[0004] Conventionally, Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-190176 discloses an environmental test apparatus provided with a plurality of shelves and adjusting the internal environmental conditions. In this prior art, a used section is determined for each shelf or a plurality of shelves, and a test is performed for each used section under the same test conditions. In addition, a connecting member is inserted between adjacent doors in order to easily change the use section. When loading / unloading a sample only in a specific use section, the door of the specific use section is opened, and the doors of the other sections are maintained in a closed state.

【0005】また、特開平8−232532号公報に
は、供試品を恒温槽内に投入する際、開口部がガイドレ
ールにより案内されてスライド開閉する扉を備え、扉の
開閉に伴うスペースを必要としない恒温槽が示されてい
る。
Japanese Unexamined Patent Publication No. Hei 8-232532 discloses a door provided with a door that slides open and closed by being guided by a guide rail when a test sample is put into a constant temperature bath. A thermostat that is not required is shown.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】従来の試験装置におい
て、光伝送用モジュールを試験する場合には、一度に纏
めて投入して試験を開始する必要がある。特開平11−
190176号公報および特開平8−232532号公
報に開示された技術においても、同一試験条件の光伝送
用モジュールのみ一度に試験が可能である為、調整が完
了した光伝送用モジュールは、投入される全数量が揃う
まで投入できない。このため、投入待ち時間が発生し
て、生産リードタイムを増大させるという問題がある。
また、同一試験条件にのみに対応可能であるため、物品
が投入されていない棚が存在しても、異なる試験条件の
物品を投入することはできない。
In a conventional test apparatus, when testing an optical transmission module, it is necessary to collectively input the modules at once and start the test. JP-A-11-
Also in the techniques disclosed in JP 190176 and JP-A-8-232532, only the optical transmission module under the same test conditions can be tested at a time, so the adjusted optical transmission module is put in. Unable to put in until all quantities are ready. For this reason, there is a problem that the input waiting time occurs and the production lead time is increased.
Further, since it is possible to cope only with the same test condition, even if there are shelves in which no articles are loaded, it is not possible to load articles with different test conditions.

【0007】本発明の目的は、上述した従来の問題点を
解決することであり、複数のモジュールの環境試験を異
なる試験条件で行うことができる個別環境試験装置、個
別環境試験方法および光伝送用モジュール試験装置を提
供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems, and to provide an individual environment test apparatus, an individual environment test method, and an optical transmission system capable of performing environmental tests on a plurality of modules under different test conditions. An object of the present invention is to provide a module test apparatus.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、光ファイバーを介して光信号を送受信する
光伝送用モジュールの試験を行う光伝送用モジュール試
験装置において、断熱部材により外壁が構成され、前記
光伝送用モジュールが装着される複数の試験部と、前記
複数の試験部の各々に装着された前記光伝送用モジュー
ルに電圧を印加する電源電圧供給部と、当該電源電圧供
給部を制御し、前記複数の試験部の各々に装着された前
記光伝送用モジュールの試験の制御を各々行う制御部
と、前記複数の試験部の各々における前記光伝送用モジ
ュールの試験指示を受付ける受付け手段とを有する。前
記複数の試験部の各々は、当該試験部の内部を加熱する
加熱手段と、当該試験部の内部を冷却する冷却手段と、
前記加熱手段および前記冷却手段を調節することにより
前記試験部の内部の温度調節を行う温度調節手段とを備
える。前記制御部は、前記受付け手段で受付けた試験指
示に従って、前記複数の試験部の各々について、前記温
度調節手段を制御し、前記試験の制御を行う。これによ
り、複数の光伝送用モジュールの試験を異なる試験条件
で行うことができる。また、エージング中或いは試験中
でも、試験条件に影響を及ぼすことなく、光伝送用モジ
ュールが投入できる。従って、生産リードタイムの短縮
が実現できる。
According to the present invention, there is provided an optical transmission module test apparatus for testing an optical transmission module for transmitting and receiving an optical signal through an optical fiber. A plurality of test units configured and mounted with the optical transmission module; a power supply voltage supply unit configured to apply a voltage to the optical transmission module mounted on each of the plurality of test units; and the power supply voltage supply unit A control unit that controls the test of the optical transmission module mounted on each of the plurality of test units, and a reception unit that receives a test instruction of the optical transmission module in each of the plurality of test units. Means. Each of the plurality of test units, a heating unit that heats the inside of the test unit, a cooling unit that cools the inside of the test unit,
Temperature adjusting means for adjusting the temperature inside the test section by adjusting the heating means and the cooling means. The control unit controls the temperature control unit for each of the plurality of test units according to the test instruction received by the receiving unit, and controls the test. Thus, a plurality of optical transmission modules can be tested under different test conditions. Also, during aging or during testing, the optical transmission module can be inserted without affecting the test conditions. Therefore, the production lead time can be reduced.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面を参照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】図1は、本発明の実施の形態である光伝送
モジュール用個別環境試験装置の斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of an individual environment test apparatus for an optical transmission module according to an embodiment of the present invention.

【0011】本装置は、断熱部材により外壁が構成さ
れ、前記光伝送用モジュールが装着される複数の試験室
(試験部)100A・B・C・Dと、前記複数の試験部
の各々に装着された前記光伝送用モジュールに電圧を印
加する電源電圧供給部28と、当該電源電圧供給部28
を制御し、前記複数の試験部の各々に装着された前記光
伝送用モジュールの試験の制御を各々行う制御部31
と、前記複数の試験部100A・B・C・Dの各々にお
ける前記光伝送モジュールの試験指示を受付ける受付け
手段の操作パネル14、キーボード25および操作パネ
ル60とを有する。
In this apparatus, an outer wall is constituted by a heat insulating member, and a plurality of test chambers (test sections) 100A, B, C, and D where the optical transmission module is mounted, and each of the plurality of test sections is mounted. A power supply voltage supply unit 28 for applying a voltage to the optical transmission module
And a control unit 31 for controlling the test of the optical transmission module mounted on each of the plurality of test units.
And an operation panel 14, a keyboard 25, and an operation panel 60 of receiving means for receiving a test instruction of the optical transmission module in each of the plurality of test units 100A, B, C, and D.

【0012】図1における左側の筐体は、試験機構23
であり、操作パネル60、表示部24、キーボード2
5、電源電圧供給部28、光波形測定器30および制御
部31を備える。また、右側の筐体は、複数の試験室1
00A・B・C・Dを備える。複数の試験室100A・
B・C・Dの各々は、室内の温度を検出する温度検出部
13と、試験室の内部を加熱する加熱機構9と、試験室
の内部を冷却する冷却機構10と、加熱機構9および冷
却機構10を調節することにより試験室の内部の温度調
節を行う温度調節機構11と、これらを制御して試験室
の管理をする個別試験制御部33とを備える。
The housing on the left side in FIG.
The operation panel 60, the display unit 24, the keyboard 2
5, a power supply voltage supply unit 28, an optical waveform measuring device 30, and a control unit 31. In addition, the right housing has a plurality of test chambers 1.
00A, B, C, D. Multiple test rooms 100A
Each of B, C, and D includes a temperature detection unit 13 for detecting the temperature in the room, a heating mechanism 9 for heating the inside of the test chamber, a cooling mechanism 10 for cooling the inside of the test chamber, a heating mechanism 9 and a cooling mechanism. The apparatus includes a temperature adjustment mechanism 11 for adjusting the temperature inside the test chamber by adjusting the mechanism 10, and an individual test control unit 33 for controlling these to control the test chamber.

【0013】試験室100A・B・C・Dには、試料で
ある光伝送用モジュール1が試験ボード2にセットされ
た状態で投入される。隣接する試験室100Aと試験室
100B、或いは、試験室100Aと試験室100Cの
間など、各試験室の外壁には相互の室内温度の影響を遮
断する断熱部12が設けられる。試験ボード2の試験室
100Aへの出し入れするときには、扉22を開閉させ
る。扉22には、閉じた際に試験室100A内を密閉状
態にして外気温の影響を遮断する断熱部15を有する。
また、断熱部12には、電源供給用ケーブル8及びファ
イバーケーブル29を接続する際に利用するケーブル孔
27が備えられ、ケーブル孔27には、電源供給用ケー
ブル8及びファイバーケーブル29取り付けられたとき
に、試験室100内への外気の進入を防ぐ外気遮断部3
2がはめ込まれる。外気遮断部32は、円錐裁頭状で弾
力性を有するゴムなどで構成され、ファイバーケーブル
29及び電源供給用ケーブル8が挿入された際に、ケー
ブル孔27を密閉させるためにはめ込まれ、ケーブル孔
27からの外気の進入を防ぐ。
An optical transmission module 1 as a sample is set in a test room 100A, B, C, and D while being set on a test board 2. A heat insulating portion 12 is provided on the outer wall of each test room, such as between the adjacent test rooms 100A and 100B, or between the test rooms 100A and 100C, to block the influence of the mutual room temperature. When the test board 2 is taken in and out of the test room 100A, the door 22 is opened and closed. The door 22 has a heat insulating portion 15 that closes the inside of the test chamber 100A to shut off the influence of the outside air temperature when closed.
Further, the heat insulating portion 12 is provided with a cable hole 27 used when connecting the power supply cable 8 and the fiber cable 29, and the cable hole 27 is provided when the power supply cable 8 and the fiber cable 29 are attached. In addition, an outside air shutoff unit 3 for preventing outside air from entering the test chamber 100
2 is fitted. The outside air cutoff portion 32 is formed of rubber having elasticity in a truncated cone shape, and is fitted to seal the cable hole 27 when the fiber cable 29 and the power supply cable 8 are inserted. Prevent the outside air from entering from 27.

【0014】制御部31は、操作パネル60およびキー
ボード25などで受付けた試験指示に従って、試験部の
各々について、個別試験制御部33を制御し、試験の制
御を行う。また、制御部31は、各試験室内の設定温度
の指示や試験時間の監視を、GP−IBケーブル等の通
信ケーブル21を介して行う。本実施の形態において
は、制御部31において各試験室の温度制御や試験を行
うことにより、試験室ごとに異なる試験条件で、また、
異なるタイミングで各々試験を行うことができる。制御
部31から各個別試験制御部33への指示は、時分割で
行うようにしてもよいし、それぞれ制御線を設けてお
き、それぞれの制御線を介して指示するようにしてもよ
い。図11に、制御部31と各個別試験制御部33との
接続関係を説明するための制御線の説明図を示す。図1
1において、制御部31と個別試験制御部33A・B・
C・Dの各々とは信号線により接続されている。信号線
は上り方向と下り方向と双方向あり、各々4つのチャネ
ルに時分割され、各チャネルが個別試験制御部の各々に
割り当てられている。制御部31は、制御信号のチャネ
ルを切替え、各個別試験制御部33に対して、設定温度
などの試験条件を制御信号により送信する。また、各個
別試験制御部33からは、各試験室での複数種類のエラ
ー発生を検出し、割り当てられたチャネルを介して制御
部31にエラー発生とエラーの種類との通知を行う。エ
ラー通知を受けた制御部31は、表示部24にエラーが
発生した試験室番号とエラーの種類を表示させ、該当す
る試験室における試験を中止させることができる。各個
別試験制御部33の各々でエラー検出を行うため、試験
室ごとにエラーを検出でき、エラーが発生した試験室だ
けを停止させることができる。また、エラー発生を音声
出力するようにしてもよい。試験室におけるエラーとし
ては、例えば、設定温度以上に温度が上昇した場合など
がある。
The control unit 31 controls the individual test control unit 33 for each of the test units in accordance with the test instructions received from the operation panel 60 and the keyboard 25, and controls the test. In addition, the control unit 31 performs an instruction of a set temperature in each test chamber and monitoring of a test time via the communication cable 21 such as a GP-IB cable. In the present embodiment, the control unit 31 controls the temperature of each test room and performs a test, so that test conditions differ for each test room,
Each test can be performed at a different timing. The instruction from the control unit 31 to each individual test control unit 33 may be performed in a time-division manner, or a control line may be provided, and the instruction may be performed via each control line. FIG. 11 is an explanatory diagram of control lines for explaining a connection relationship between the control unit 31 and each individual test control unit 33. Figure 1
1, the control unit 31 and the individual test control units 33A, B,
Each of C and D is connected by a signal line. The signal lines are bidirectional in the up direction and the down direction, and are each time-divided into four channels, and each channel is assigned to each of the individual test controllers. The control unit 31 switches the channel of the control signal, and transmits a test condition such as a set temperature to each individual test control unit 33 by a control signal. Further, each individual test control unit 33 detects the occurrence of a plurality of types of errors in each test room, and notifies the control unit 31 of the occurrence of the error and the type of the error via the assigned channel. Upon receiving the error notification, the control unit 31 displays the number of the test room in which the error has occurred and the type of the error on the display unit 24, and can stop the test in the relevant test room. Since the error is detected by each of the individual test controllers 33, the error can be detected for each test room, and only the test room where the error has occurred can be stopped. Further, the occurrence of an error may be output as sound. As an error in the test room, for example, there is a case where the temperature rises above a set temperature.

【0015】電源供給部28は、光伝送用モジュール1
が動作するのに必要な電源を、電源供給用ケーブル8を
介して供給する。光波形測定器30は、ファイバーケー
ブル29から得られた光信号の波形から光伝送用モジュ
ール1が有するべき機能を満足しているか否かの判定を
行う。キーボード25は、光伝送用モジュール1の品種
毎に定められた試験温度、試験時間、印加電圧値等の試
験パラメータを受付けたり、試験開始、終了時に特定コ
マンドの試験指示を受付けたりする。ディスプレイなど
の表示部24は、キーボードで受付けたパラメータ・コ
マンドの表示やエラーが発生したときにエラー表示を行
う出力手段として機能する。温度検出部13は、試験室
100内の温度を検出する。ファイバーケーブル29
は、光伝送用モジュール1のファイバー7と接続され、
試験機構23と光伝送用モジュール1との間で光信号の
送受信を行う。
The power supply unit 28 includes the optical transmission module 1
The power required to operate the power supply is supplied via a power supply cable 8. The optical waveform measuring device 30 determines whether or not the function that the optical transmission module 1 should have is satisfied from the waveform of the optical signal obtained from the fiber cable 29. The keyboard 25 receives test parameters such as a test temperature, a test time, and an applied voltage value determined for each type of the optical transmission module 1, and receives a test instruction of a specific command at the start and end of the test. The display unit 24 such as a display functions as an output unit that displays a parameter / command received from the keyboard or displays an error when an error occurs. The temperature detector 13 detects the temperature inside the test chamber 100. Fiber cable 29
Is connected to the fiber 7 of the optical transmission module 1,
Optical signals are transmitted and received between the test mechanism 23 and the optical transmission module 1.

【0016】また、本実施の形態においては、光伝送用
モジュールの種類ごとに試験条件および試験項目をあら
かじめ制御部31に備える記憶手段のメモリにデータベ
ースを作成しておく。データベースの内容を図10に例
示する。図10において、光伝送用モジュールの種類に
対応する品番ごとに温度条件1・2・3と試験項目1・
2・3があらかじめ登録されている。例えば、品番10
1は、第1の温度条件として25度、第2の温度条件と
してマイナス40度、第3の温度条件として85度が設
定され、各温度条件において、「○」が記載されている
第1〜第3の試験項目を実行するように設定されてい
る。第1〜第3の試験項目としては、印加電圧値、試験
時間などがあらかじめ登録されている。キーボード25
で品番の入力を受付けると、制御部31は、図10に示
すデータベースを参照し、登録されている温度条件およ
び試験項目を抽出して表示部24に表示するとともに、
抽出した温度条件および試験項目に従って試験を開始す
る。また、図10に示すデータベースへのデータの登録
は、キーボード25で受付けることができる。
In the present embodiment, a database is created in advance in the memory of the storage means provided in the control unit 31 for test conditions and test items for each type of optical transmission module. FIG. 10 illustrates the contents of the database. In FIG. 10, the temperature conditions 1, 2, and 3 and the test items 1 and 2 for each product number corresponding to the type of optical transmission module.
2 and 3 are registered in advance. For example, product number 10
1 is set to 25 degrees as the first temperature condition, minus 40 degrees as the second temperature condition, and 85 degrees as the third temperature condition. It is set to execute the third test item. As the first to third test items, an applied voltage value, a test time, and the like are registered in advance. Keyboard 25
When the control unit 31 receives the input of the product number, the control unit 31 refers to the database shown in FIG. 10, extracts the registered temperature conditions and test items, and displays them on the display unit 24.
The test is started according to the extracted temperature conditions and test items. In addition, registration of data in the database shown in FIG.

【0017】図2は、本発明の実施の形態である光伝送
モジュール個別環境試験装置の全体動作フロー図を示し
ている。
FIG. 2 shows an overall operation flow chart of the optical transmission module individual environment test apparatus according to the embodiment of the present invention.

【0018】図2において、n・mは、光伝送用モジュ
ールおよび試験ボードの試験番号をそれぞれ示し、nは
試験開始のときに利用され、mは試験終了のときに利用
される。
In FIG. 2, n · m indicates the test number of the optical transmission module and the test number of the test board, where n is used at the start of the test and m is used at the end of the test.

【0019】図2において、nおよびmを1にとし(S
201)、調整が完了した第1番目の光伝送用モジュー
ル1がセットされた試験ボード2が試験室100Aに投
入される(S202)。試験機構23は、ファイバーケ
ーブル29及び電源供給用ケーブル8がケーブル孔27
を通して試験室100Aに接続される(S203)。ま
た、ケーブル孔27に外気遮断部32が取り付けられ、
密閉状態となる。試験機構23の起動指示と試験室番号
と投入した光伝送用モジュールの品番とをキーボードで
受付けると(S204)、制御部31から通信ケーブル
21を介して個別試験制御部33に、登録されている温
度条件に従って、試験室100A内の設定温度が指示さ
れる。個別試験制御部33では、加熱機構9、冷却機構
10および温度調節機構11を制御し、試験室100A
内の温度制御が開始され(S205)、電源供給部28
から電源供給用ケーブル8を介して光伝送用モジュール
1への電源供給が開始される(S206)。試験室10
0A内の温度が設定温度に到達すると(S208)、登
録されている試験項目に従って試験が開始される(S2
09)。
In FIG. 2, n and m are set to 1 (S
201), the test board 2 on which the first optical transmission module 1 that has been adjusted is set is put into the test room 100A (S202). The test mechanism 23 is configured such that the fiber cable 29 and the power supply cable 8
Is connected to the test chamber 100A (S203). In addition, an outside air blocking portion 32 is attached to the cable hole 27,
It becomes a closed state. When the start instruction of the test mechanism 23, the test room number, and the product number of the inserted optical transmission module are received by the keyboard (S204), they are registered in the individual test control unit 33 via the communication cable 21 from the control unit 31. The set temperature in test chamber 100A is indicated according to the temperature condition. The individual test control unit 33 controls the heating mechanism 9, the cooling mechanism 10, and the temperature adjustment mechanism 11, and
Temperature control is started (S205), and the power supply unit 28
Then, power supply to the optical transmission module 1 via the power supply cable 8 is started (S206). Test room 10
When the temperature within 0A reaches the set temperature (S208), the test is started according to the registered test items (S2).
09).

【0020】試験室100A内の温度設定および試験に
並行して、試験室100B・C・Dにおいても、試験指
示を受付けるとそれぞれ温度設定および試験が行われる
(S210・S219・S220)。第1番目の光伝送
用モジュールと同様に、試験室100B・C・Dにそれ
ぞれ光伝送モジュールが投入され(S202)、試験機
構23と接続(S203)、試験室番号・品番を受付
け、試験開始(S209)というS202〜S209が
実行される。各試験室100B間は断熱部12により外
部温度の影響を遮断しており、また、試験室内の温度制
御は、それぞれ異なる機構を使用することから、先行し
て試験を実施している試験室100A内の温度への影響
は全くなく、各試験室において試験を実行することがで
きる。制御部31では、キーボード25で受付けた試験
室番号と品番とに従って、各試験室に品番に対応する温
度条件および試験項目を各個別試験制御部33に指示
し、試験を行わせる。
In parallel with the temperature setting and the test in the test chamber 100A, the temperature setting and the test are also performed in the test chambers 100B, 100C, and 100D when the test instruction is received (S210, S219, and S220). As in the case of the first optical transmission module, the optical transmission modules are put into the test chambers 100B, 100C, and 100D (S202), connected to the test mechanism 23 (S203), received the test chamber number / part number, and started the test. Steps S202 to S209 of (S209) are executed. The influence of the external temperature is cut off between the test chambers 100B by the heat insulating unit 12, and since the temperature control in the test chambers uses different mechanisms, the test chambers 100A that perform the test in advance are used. The test can be performed in each test room without any effect on the temperature inside the test room. In accordance with the test room number and the product number received by the keyboard 25, the control unit 31 instructs each test room to the individual test control unit 33 for the temperature condition and the test item corresponding to the product number, and performs the test.

【0021】試験途中にエラーが発生した場合、各個別
試験制御部33ではエラーを検出し、制御部31にエラ
ー発生とエラーの種類との通知を行う。エラー通知を受
けた制御部31は、表示部24にエラーが発生した試験
室番号とエラーの種類を表示させ、該当する試験室にお
ける試験のみ中止させる。
When an error occurs during the test, each individual test control unit 33 detects the error and notifies the control unit 31 of the occurrence of the error and the type of error. Upon receiving the error notification, the control unit 31 displays the number of the test room in which the error has occurred and the type of the error on the display unit 24, and stops only the test in the relevant test room.

【0022】第1番目に試験を開始した光伝送用モジュ
ール1の試験が完了すると(S212)、電源供給部2
8からの電源供給と個別試験制御部33での温度制御を
OFFにする(S213、S214)。周囲の試験室内
の試験環境に全く影響を及ぼさないので試験室100A
内を密閉していた外気遮断部32がケーブル孔27から
取外され、また、試験室100A内の光伝送用モジュー
ル1と試験機構23とを接続していたファイバーケーブ
ル29及び電源供給用ケーブル8が取外される(S21
5)。試験室100A内から取出された光伝送用モジュ
ール1は、試験ボード2から取外され(S216)、次
工程に供給される。
When the test of the optical transmission module 1 that has started the first test is completed (S212), the power supply unit 2
The power supply from Step 8 and the temperature control in the individual test control unit 33 are turned off (S213, S214). Since it has no effect on the test environment in the surrounding test room, the test room 100A
The outside air shut-off portion 32 whose inside is sealed is removed from the cable hole 27, and the fiber cable 29 and the power supply cable 8 connecting the optical transmission module 1 and the test mechanism 23 in the test chamber 100A. Is removed (S21
5). The optical transmission module 1 removed from the test chamber 100A is removed from the test board 2 (S216), and supplied to the next step.

【0023】本実施の形態によれば、試験を行う前工程
での作業が完了した光伝送用モジュールから各試験室に
おいて、順次試験を開始し、S202からS218が繰
り返され、試験が完了した光伝送用モジュールから順
次、次工程に供給される。
According to the present embodiment, the test is sequentially started in each test room from the optical transmission module for which the work in the process before the test is completed, and S202 to S218 are repeated, and the optical test module in which the test is completed is completed. The transmission module sequentially supplies the next process.

【0024】図3〜図6を参照して、本発明の実施の形
態である個別試験方法についてさらに詳細に記述する。
Referring to FIGS. 3 to 6, the individual test method according to the embodiment of the present invention will be described in more detail.

【0025】図3は、個別試験室35の構成を示す平面
図である。各々の個別試験室35は、試料である光伝送
用モジュール1が、他部位との当接による電気的ショー
トが回避できる試験ボード2の上面にセットされた状態
で投入される。試験室100の底面には、4本のスタン
ド26に当接させることにより、試験ボード2を定位置
に固定できるスタンド受け38を具備する。扉22は、
試験ボード2の試験室100への出し入れ時に開閉さ
れ、上下動可能な扉固定用ロック40と、扉固定用ロッ
ク40を上下動させる機構を具備した開閉レバー39と
を備える。扉固定用ロック40を扉固定用ロック受け4
1に当接させることにより扉22が密閉される。また、
個別試験室35Aと個別試験室35Cとの間には、相互
の室内温度や加熱機構9、冷却機構10の影響を遮断す
る断熱部12が設けられている。ケーブル孔27は、図
1に示した試験機構23からの電源供給に用いる電源供
給用ケーブル8と、光信号を伝搬するファイバー7を通
すための穴である。ケーブル孔27には、電源供給用ケ
ーブル8及びファイバーケーブル29取り付けられたと
きに、試験室100内への外気の進入を防ぐ外気遮断部
32がはめ込まれる。試験機構23から指示された設定
温度と温度検出部13にて検出された試験室100A内
の温度との差違から、温度調節機構11は、加熱機構9
および冷却機構10のモーター(図示せず)を回転さ
せ、風向制御板37を調整し、加熱・冷却された空気を
室内に送風させ、試験室100A内の温度を設定温度に
させる。
FIG. 3 is a plan view showing the configuration of the individual test chamber 35. Each of the individual test chambers 35 is loaded with the optical transmission module 1 as a sample set on the upper surface of the test board 2 in which an electrical short due to contact with another part can be avoided. The bottom of the test chamber 100 is provided with a stand receiver 38 that can fix the test board 2 in a fixed position by being in contact with the four stands 26. The door 22
The door includes a door fixing lock 40 that can be opened and closed when the test board 2 is taken in and out of the test chamber 100, and an opening / closing lever 39 having a mechanism for moving the door fixing lock 40 up and down. Door lock 40 for door lock lock 4
The door 22 is hermetically closed by bringing the door 22 into contact with the door 1. Also,
Between the individual test room 35A and the individual test room 35C, there is provided a heat insulating part 12 for blocking the mutual room temperature and the influence of the heating mechanism 9 and the cooling mechanism 10. The cable hole 27 is a hole for passing the power supply cable 8 used for power supply from the test mechanism 23 shown in FIG. 1 and the fiber 7 for transmitting an optical signal. When the power supply cable 8 and the fiber cable 29 are attached to the cable hole 27, an outside air blocking unit 32 that prevents outside air from entering the test chamber 100 is fitted. Due to the difference between the set temperature instructed by the test mechanism 23 and the temperature in the test chamber 100A detected by the temperature detection unit 13, the temperature adjustment mechanism 11
Then, the motor (not shown) of the cooling mechanism 10 is rotated to adjust the wind direction control plate 37, and the heated and cooled air is blown into the room, and the temperature in the test chamber 100A is set to the set temperature.

【0026】また、個別試験室35B、個別試験室35
C、個別試験室35Dの構造も個別試験室35Aと全く
同じ構造を持つ。
The individual test room 35B and the individual test room 35
C, the structure of the individual test chamber 35D has exactly the same structure as that of the individual test chamber 35A.

【0027】上記構造により、個別試験室35Aにて光
伝送用モジュール1の試験を行っている場合でも、それ
ぞれ異なるタイミングで、個別試験室35Bに他の光伝
送用モジュールを投入できる。また、個別試験室35A
で行われている試験条件に影響を及ぼすことはない。個
別試験室各々に温度調節機構11が設けられている為、
異なる試験条件の複数の光伝送用モジュールが供給され
ても、相互の試験条件に影響を及ぼすことなく、任意の
タイミングで試験が開始できる。
With the above structure, even when the test of the optical transmission module 1 is performed in the individual test room 35A, another optical transmission module can be put into the individual test room 35B at different timings. In addition, individual test room 35A
It does not affect the test conditions undertaken at. Since the temperature control mechanism 11 is provided in each individual test room,
Even if a plurality of optical transmission modules with different test conditions are supplied, the test can be started at any timing without affecting the mutual test conditions.

【0028】図4は、試験機構23の構成を示す平面図
である。操作パネル60は、試験機構23の電源ON及
びOFFを行う際、作業者の操作を受付ける。電源供給
部28は、光伝送用モジュールが動作するのに必要な複
数種の電源を、電源供給用ケーブル8を介して供給す
る。光波形測定器30は、ファイバーケーブル29から
得られた光信号の波形から光伝送用モジュールが有する
べき機能を満足しているか否かの判定を行う。キーボー
ド25は、光伝送用モジュール1の品種毎に定められた
試験温度、試験時間、印加電圧値等の試験パラメータを
受付けたり、試験開始、終了時に特定コマンドの試験指
示を受付けたりする。ディスプレイなどの表示部24
は、キーボードで受付けたパラメータ・コマンドの表示
やエラーが発生したときにエラー表示を行う出力手段と
して機能する。制御部31は、操作パネル60およびキ
ーボード25などで受付けた試験指示に従って、光伝送
用モジュールの品種毎に定められた試験パラメータや試
験室100内の設定温度の指示、試験時間の監視を、通
信ケーブル21を介して行う。
FIG. 4 is a plan view showing the structure of the test mechanism 23. The operation panel 60 receives an operation of an operator when turning on and off the power of the test mechanism 23. The power supply unit 28 supplies a plurality of types of power necessary for the operation of the optical transmission module via the power supply cable 8. The optical waveform measuring device 30 determines whether or not the function that the optical transmission module should have is satisfied based on the waveform of the optical signal obtained from the fiber cable 29. The keyboard 25 receives test parameters such as a test temperature, a test time, and an applied voltage value determined for each type of the optical transmission module 1, and receives a test instruction of a specific command at the start and end of the test. Display unit 24 such as a display
Functions as an output unit for displaying a parameter / command received from the keyboard or displaying an error when an error occurs. The control unit 31 communicates test parameters defined for each type of optical transmission module, instructions of the set temperature in the test chamber 100, and monitoring of the test time in accordance with the test instructions received by the operation panel 60, the keyboard 25, and the like. This is performed via the cable 21.

【0029】図5は、試験機構23における制御部31
の制御内容を示すフロー図を示している。
FIG. 5 shows a control unit 31 in the test mechanism 23.
FIG. 4 is a flowchart showing the control contents of FIG.

【0030】図5において、n・mは、光伝送用モジュ
ールおよび試験ボードの試験番号をそれぞれ示し、nは
試験開始のときに利用され、mは試験終了のときに利用
される。
In FIG. 5, nm indicates the test numbers of the optical transmission module and the test board, respectively, where n is used at the start of the test and m is used at the end of the test.

【0031】図5において、nおよびmを1にとし(S
501)、試験室100毎に、投入される光伝送用モジ
ュールの品種(品番)と光伝送用モジュールの表面に記
載された製造番号とをキーボード25を介して受付け
る。制御部31は、光伝送用モジュールの品種毎に、あ
らかじめ登録されている試験温度、試験時間、印加電圧
値等の試験パラメータを抽出し、投入される試験室10
0と投入されない試験室100との明確化を図る(S5
02)。試験機構23の起動指示を受付けると、試験機
構23を起動させ(S503)、個別試験制御部33の
状態監視が開始される(S504)。個別試験制御部3
3からの応答が有り(S505)、試験室100A(n
=1)が起動状態となっていれば、予め登録されていた
試験パラメータにより、試験室100Aに投入される光
伝送用モジュール1に対応した試験温度条件が、試験室
100A用データとして個別試験制御部33に通信ケー
ブル21を介して送信される(S508)。試験室10
0毎に投入される光伝送用モジュール1の品種を受付け
るため、使用しない試験室100がある場合、その試験
室100については起動しない(S522)。試験室1
00A内の光伝送用モジュール1に対し、電源供給部2
8から電源供給用ケーブル8を介して通電される(S5
09)。試験室100A内の温度が、個別試験制御部3
3に対して送信した試験温度に到達したことにより試験
を開始させる為、制御部31は、温度検出部13で検出
される試験室100A内温度の出力を個別試験制御部3
3に要求し(S510)、設定した試験温度に到達した
か否かを判定する。制御部31は、設定した試験温度に
到達した場合、試験室100Aにおける試験が開始され
(S513)、到達していない場合は、温度到達待ち
(S523)となり、S507〜S512の処理を繰り
返す。試験室100Aの試験が終了すると(S51
4)、試験室100A内の光伝送用モジュール1への通
電をOFFし(S517)、更に、試験室100A内の
温度制御もOFFされる(S518)。
In FIG. 5, n and m are set to 1 (S
501), the type (product number) of the optical transmission module to be loaded and the serial number written on the surface of the optical transmission module are received via the keyboard 25 for each test room 100. The control unit 31 extracts test parameters such as test temperature, test time, and applied voltage value registered in advance for each type of optical transmission module,
Clarify the test room 100 that is not set to 0 (S5)
02). When the activation instruction of the test mechanism 23 is received, the test mechanism 23 is activated (S503), and the state monitoring of the individual test control unit 33 is started (S504). Individual test control unit 3
3 (S505), the test room 100A (n
= 1) is in the activated state, the test temperature condition corresponding to the optical transmission module 1 to be put into the test room 100A is controlled by the test parameters registered in advance as individual test control data as data for the test room 100A. It is transmitted to the unit 33 via the communication cable 21 (S508). Test room 10
If there is a test room 100 that is not used in order to accept the type of the optical transmission module 1 that is inserted every time, the test room 100 is not activated (S522). Test room 1
Power supply unit 2 for the optical transmission module 1
8 through the power supply cable 8 (S5).
09). The temperature in the test chamber 100A is changed to the individual test control unit 3
In order to start the test when the temperature reaches the test temperature transmitted to the test controller 3, the controller 31 outputs the output of the temperature in the test chamber 100 </ b> A detected by the temperature detector 13 to the individual test controller 3.
3 (S510), and determines whether or not the set test temperature has been reached. When the temperature reaches the set test temperature, the control unit 31 starts the test in the test chamber 100A (S513). When the temperature has not reached, the control unit 31 waits for the temperature to reach (S523), and repeats the processing of S507 to S512. When the test in the test room 100A is completed (S51)
4) The power supply to the optical transmission module 1 in the test room 100A is turned off (S517), and the temperature control in the test room 100A is also turned off (S518).

【0032】試験室100A内の温度設定および試験に
並行して、試験室100B・C・Dにおいても、試験指
示を受付けるとそれぞれ温度設定および試験が行われる
(S508〜S518)。
In parallel with the temperature setting and the test in the test chamber 100A, the temperature setting and the test are also performed in the test chambers 100B, 100C, and 100D when the test instruction is received (S508 to S518).

【0033】図6は、本発明の実施の形態である個別試
験方法と従来技術における試験室で試験を行った場合と
のタイムチャートを示している。図6においては、モジ
ュール1からモジュール4の4個のモジュールを生産す
る場合とし、試験工程の前工程である調整作業後に、2
つの異なる条件にて試験(試験1・試験2)を行う試験
工程を対象としている。また、調整作業時間、試験温度
到達待ち時間、試験の全ての工程時間は、本実施の形態
における個別試験方法・従来方法共に、全く同一の時間
で処理されるものとしている。まず、上方のタイムチャ
ートに示す本実施の形態における個別試験方法では、調
整作業完了と共に光伝送用モジュール1が試験室100
Aに投入され、試験(1)温度到達待ちの状態となり、
温度到達と同時に試験(1)が開始され、順次、試験
(2)温度到達待ち、試験(2)へと試験が進められて
いく。また、光伝送用モジュール1が試験(2)温度到
達待ちの状態のときに、光伝送用モジュール2の調整作
業が完了し、光伝送用モジュール1と同様に、直ちに試
験室100Bに投入され、温度設定・試験が開始されて
いる。試験(2)が完了した光伝送用モジュール1は、
直ちに次工程に供給される。同様に、光伝送用モジュー
ル2・3・4と並行して試験が進められていく。一方、
下方のタイムチャートに示す従来方法では、試験中での
光伝送用モジュールの供給は試験条件に影響を及ぼす
為、4個の光伝送用モジュール全ての調整作業が完了す
るまでは試験工程が開始されず、試験工程に投入されて
からも、試験温度到達待ち、試験は全ての光伝送用モジ
ュールが同時に行われる。両者の生産リードタイムを比
較すると、4個全ての光伝送用モジュールの試験が完了
するまでの時間に差違はないが、前者では、光伝送用モ
ジュール1、光伝送用モジュール2、光伝送用モジュー
ル3が試験終了と共に次工程に供給されており、試験が
終了した時点で既に次工程での作業が着手可能である。
FIG. 6 is a time chart showing an individual test method according to an embodiment of the present invention and a time chart when a test is performed in a test room in a conventional technique. FIG. 6 shows a case where four modules from module 1 to module 4 are produced.
It is intended for a test process in which tests (test 1 and test 2) are performed under two different conditions. Further, the adjustment operation time, the test temperature arrival waiting time, and all the process times of the test are to be processed in exactly the same time in both the individual test method and the conventional method in the present embodiment. First, in the individual test method according to the present embodiment shown in the upper time chart, when the adjustment work is completed, the optical transmission module 1
A, and the test (1) waits for the temperature to reach,
The test (1) is started at the same time as the temperature reaches, and the test (2) waits for the temperature to reach, and the test proceeds to the test (2). When the optical transmission module 1 is in the state of waiting for the test (2) temperature attainment, the adjustment work of the optical transmission module 2 is completed and, like the optical transmission module 1, is immediately put into the test room 100B. Temperature setting / test has started. The optical transmission module 1 for which the test (2) has been completed is
It is immediately supplied to the next step. Similarly, the test proceeds in parallel with the optical transmission modules 2, 3, and 4. on the other hand,
In the conventional method shown in the time chart below, the supply of the optical transmission module during the test affects the test conditions, so the test process is started until the adjustment work on all four optical transmission modules is completed. Even after being put into the test process, the test waits for the test temperature to be reached, and the test is performed simultaneously for all the optical transmission modules. Comparing the production lead times of the two, there is no difference in the time until the test of all four optical transmission modules is completed, but in the former, the optical transmission module 1, the optical transmission module 2, and the optical transmission module 3 is supplied to the next step at the end of the test, and the work in the next step can be started when the test is completed.

【0034】図7は、本実施の形態における光伝送用モ
ジュールの試験室100の平面図である。本実施の形態
では、試験室100内への光伝送用モジュールの投入・
取出しを容易にさせるため、モジュール搭載治具59
(試験ボード2)をスライドさせてセットさせるための
ガイドを試験室底面に設けている。モジュール搭載治具
59は、試験室100の開口部にはめ込まれることによ
り試験室100を密閉して外気の影響を遮断する断熱板
57と、光伝送用モジュールが固定搭載されるモジュー
ルセット板53と、モジュールセット板53の光伝送モ
ジュールの取付け面に対し垂直方向に上下動可能な治具
固定用ロック56と、治具固定用ロック56を上下動さ
せる機構を具備した取っ手58とを備える。治具ガイド
55は、試験室100内の底面に設けられ、モジュール
搭載治具59下面に当接することによりモジュール搭載
治具59をガイドする。治具固定用ロック受け54は、
試験室100Aの開口面側にて治具固定用ロック56と
当接し、モジュール搭載治具59を固定し、試験室10
0A内を密閉状態にさせる。本構造により、モジュール
搭載治具59を治具ガイド55に沿わせてスライドさせ
るだけで、扉を開閉することなく光伝送用モジュールの
投入・取出しが容易になり、生産リードタイムの短縮が
図れる。一つの試験室に対して複数のモジュール搭載治
具59を使用することにより、事前に光伝送用モジュー
ル1をモジュール搭載治具59にセットできることか
ら、装置の不稼動時間短縮による生産能力の向上が図れ
る。
FIG. 7 is a plan view of the test room 100 of the optical transmission module according to the present embodiment. In this embodiment, the optical transmission module is inserted into the test chamber 100.
In order to facilitate removal, the module mounting jig 59
A guide for slidingly setting the (test board 2) is provided on the bottom of the test chamber. The module mounting jig 59 includes a heat insulating plate 57 that is fitted into the opening of the test chamber 100 to seal the test chamber 100 to block the influence of the outside air, and a module set plate 53 to which the optical transmission module is fixedly mounted. And a jig fixing lock 56 that can move up and down in the vertical direction with respect to the mounting surface of the light transmitting module of the module set plate 53, and a handle 58 that has a mechanism for moving the jig fixing lock 56 up and down. The jig guide 55 is provided on the bottom surface in the test chamber 100 and guides the module mounting jig 59 by contacting the lower surface of the module mounting jig 59. The jig fixing lock receiver 54
The module mounting jig 59 is fixed by contacting the jig fixing lock 56 on the opening side of the test chamber 100A.
The inside of OA is sealed. With this structure, it is possible to easily insert and remove the optical transmission module without opening and closing the door by simply sliding the module mounting jig 59 along the jig guide 55, thereby shortening the production lead time. By using a plurality of module mounting jigs 59 for one test room, the optical transmission module 1 can be set on the module mounting jig 59 in advance, so that the production capacity can be improved by reducing the downtime of the apparatus. I can do it.

【0035】次に、第2の実施の形態を説明する。図8
に、本発明の第2の実施の形態における個別環境試験装
置の平面図を示す。本実施の形態においては、図8
(b)に示すように、個別環境試験ユニット43A・B
を2台搭載し、キャスター46およびアジャスタパッド
47を具備することにより、個別環境試験装置を任意の
場所に移動可能にしている。
Next, a second embodiment will be described. FIG.
FIG. 7 shows a plan view of an individual environment test apparatus according to the second embodiment of the present invention. In the present embodiment, FIG.
As shown in (b), the individual environmental test units 43A and 43B
Are mounted, and the caster 46 and the adjuster pad 47 are provided, so that the individual environmental test apparatus can be moved to an arbitrary place.

【0036】図8(a)に示すように、個別環境試験ユ
ニット43の構成は、図3に示す個別試験室35と同様
な構成をとることができる。操作パネル14は作業者の
入力を受付ける。試験室100には、試験ボード2に試
料である光伝送用モジュール1がセットされた状態で投
入される。扉22は、試験ボード2の試験室100への
光伝送用モジュール1の出し入れの際に開閉され、閉じ
た際に試験室100内を密閉状態にして外気温の影響を
遮断する断熱部15を有する。温度検出部13は、試験
室100内の温度を検出する。ケーブル孔27は、電源
供給用ケーブル8及びファイバー7を接続させる際、試
験室100A内への外気の進入を防ぐ外気遮断部32が
はめ込まれる。試験機構23から指示された設定温度と
温度検出部13にて検出された試験室100A内の温度
との差違から、温度調節機構11は、加熱機構9および
冷却機構10のモーターを回転させ、風向制御板37を
調整し、加熱・冷却された空気を室内に送風させ、試験
室100内の温度を設定温度にさせる。個別試験制御部
33は、通信ケーブル21を介して、制御部31から試
験室100内の設定温度、試験時間データが指示され
る。個別環境試験ユニット43は、上段に複数台積み重
ねることができる。
As shown in FIG. 8A, the configuration of the individual environment test unit 43 can be the same as that of the individual test chamber 35 shown in FIG. The operation panel 14 receives an input from an operator. The test room 100 is loaded with the optical transmission module 1 as a sample set on the test board 2. The door 22 is opened and closed when the optical transmission module 1 is put in and taken out of the test board 2 into and out of the test chamber 100. When the door 22 is closed, the heat insulating section 15 that closes the test chamber 100 and shuts out the influence of the outside air temperature. Have. The temperature detector 13 detects the temperature inside the test chamber 100. When the power supply cable 8 and the fiber 7 are connected, the cable hole 27 is fitted with an outside air shut-off unit 32 for preventing outside air from entering the test chamber 100A. Based on the difference between the set temperature instructed by the test mechanism 23 and the temperature in the test chamber 100A detected by the temperature detection unit 13, the temperature control mechanism 11 rotates the motors of the heating mechanism 9 and the cooling mechanism 10 to change the wind direction. By adjusting the control plate 37, the heated and cooled air is blown into the room, and the temperature in the test room 100 is set to the set temperature. The individual test control unit 33 is instructed from the control unit 31 via the communication cable 21 by the set temperature and test time data in the test room 100. A plurality of individual environmental test units 43 can be stacked on the upper stage.

【0037】本実施の形態によれば、個別環境試験ユニ
ット43が単体で1台の環境試験装置としての機能を有
し、さらに個別環境試験ユニット43を複数台備えるこ
とができる。また、図8(b)に示すように、キャスタ
ー46およびアジャスタパッド47を具備することによ
り、環境試験装置を任意の場所に移動できる。生産状況
に応じて複数台積載可能なことにより、省スペース化、
省エネ化が図れる。
According to the present embodiment, the individual environmental test unit 43 has the function of a single environmental test device by itself, and a plurality of individual environmental test units 43 can be provided. Further, as shown in FIG. 8 (b), the provision of the casters 46 and the adjuster pads 47 allows the environmental test apparatus to be moved to an arbitrary place. Multiple units can be loaded according to production conditions, saving space.
Energy saving can be achieved.

【0038】次に、温度制御機構に関する他の実施の形
態を説明する。図9は、本発明の個別環境試験装置の温
度制御機構に関する他の実施の形態を説明する平面図で
ある。図9に試験室100の冷却機構10において、ヒ
ートパイプ(放熱型冷却機構)52を設けた場合の構成
を示す。ヒートパイプ52は、試験室100内の冷却
と、試験室100内温度の微調整時に機能する。ヒート
パイプ52は、密閉された内部が真空状態で少量の液体
を封入した金属製のパイプ50、放熱を行うフィン51
から構成される。ヒートパイプ52を具備したことによ
り、試験室100内外の温度差を利用して、試験室10
0内の冷却と、試験室100A内温度の微調整が可能に
なり、装置の小型・省スペース化、及び、低価格化が実
現できる。
Next, another embodiment of the temperature control mechanism will be described. FIG. 9 is a plan view illustrating another embodiment of the temperature control mechanism of the individual environment test apparatus of the present invention. FIG. 9 shows a configuration in which a heat pipe (radiation type cooling mechanism) 52 is provided in the cooling mechanism 10 of the test chamber 100. The heat pipe 52 functions when cooling the test chamber 100 and when finely adjusting the temperature inside the test chamber 100. The heat pipe 52 includes a metal pipe 50 in which a small amount of liquid is sealed in a sealed vacuum state, and a fin 51 for radiating heat.
Consists of By providing the heat pipe 52, the temperature difference between the inside and outside of the test
This makes it possible to cool the inside of the chamber 0 and finely adjust the temperature inside the test chamber 100A, thereby realizing a compact, space-saving and low-cost apparatus.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上の発明により、複数のモジュールの
環境試験を異なる試験条件で行うことができる。また、
エージング中或いは試験中でも、試験条件に影響を及ぼ
すことなく、モジュールが投入できる。従って、生産リ
ードタイムの短縮が実現できる。
According to the invention described above, environmental tests of a plurality of modules can be performed under different test conditions. Also,
Modules can be loaded during aging or testing without affecting test conditions. Therefore, the production lead time can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態である個別試験装置の斜視
FIG. 1 is a perspective view of an individual test apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態である個別試験装置の全体
フロー図
FIG. 2 is an overall flowchart of an individual test apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態である個別試験室の構成を
示す平面図
FIG. 3 is a plan view showing the configuration of an individual test chamber according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施の形態である試験機構の構成を示
す平面図
FIG. 4 is a plan view showing a configuration of a test mechanism according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の実施の形態である試験機構の制御内容
を示すフロー図
FIG. 5 is a flowchart showing control contents of a test mechanism according to an embodiment of the present invention.

【図6】本発明の実施の形態である個別試験方法と従来
方法で試験を行った際のタイムチャート
FIG. 6 is a time chart when a test is performed by the individual test method according to the embodiment of the present invention and a conventional method.

【図7】本発明の実施の形態における光伝送用モジュー
ル投入、取出し方法を示す平面図
FIG. 7 is a plan view showing a method for loading and unloading the optical transmission module according to the embodiment of the present invention.

【図8】第2の実施の形態における個別試験室の構成を
示す平面図
FIG. 8 is a plan view showing the configuration of an individual test chamber according to the second embodiment.

【図9】第3の実施の形態における個別試験室の構成を
示す平面図
FIG. 9 is a plan view showing the configuration of an individual test chamber according to the third embodiment.

【図10】実施の形態における品番に対応する温度条件
および試験項目を示す説明図
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a temperature condition and a test item corresponding to a product number in the embodiment.

【図11】実施の形態における制御信号の構成を示す説
明図
FIG. 11 is an explanatory diagram illustrating a configuration of a control signal according to the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…光伝送用モジュール、2…試験ボード、100A・
B・C・D…試験室、7…ファイバー、8…電源供給用
ケーブル、9…加熱機構、10…冷却機構、11…温度
調節機構、12…断熱部、13…温度検出部、14…操
作パネル、15…断熱部、16…ファン、21…通信ケ
ーブル、22A・B…扉、23…試験機構、24…表示
部、25…キーボード、26…スタンド、27…ケーブ
ル孔、28…電源供給部、29…ファイバーケーブル、
30…光波形計測器、31…制御部、32…外気遮断
部、33…個別試験制御部、35…個別試験室、36…
個別試験室100B、37…風向制御板、38…スタン
ド受け、39…開閉レバー、40…扉固定用ロック、4
1…扉固定用ロック受け、43A・B…個別環境試験ユ
ニット、45…架台、46…キャスター、47…アジャ
スタパッド、50…パイプ、51…フィン、52…放熱
型冷却機構、53…モジュールセット板、54…治具固
定用ロック受け、55…治具ガイド、56…治具固定用
ロック、57…断熱板、58…取っ手、59…モジュー
ル搭載治具、60…操作パネル。
1 ... Module for optical transmission, 2 ... Test board, 100A
B / C / D: Test room, 7: Fiber, 8: Power supply cable, 9: Heating mechanism, 10: Cooling mechanism, 11: Temperature control mechanism, 12: Heat insulation unit, 13: Temperature detection unit, 14: Operation Panel, 15: Heat insulation unit, 16: Fan, 21: Communication cable, 22A, B: Door, 23: Test mechanism, 24: Display unit, 25: Keyboard, 26: Stand, 27: Cable hole, 28: Power supply unit , 29 ... fiber cable,
Reference numeral 30 denotes an optical waveform measuring instrument, 31 denotes a control unit, 32 denotes an outside air cutoff unit, 33 denotes an individual test control unit, 35 denotes an individual test room, and 36 ...
Individual test chamber 100B, 37: wind direction control plate, 38: stand receiver, 39: open / close lever, 40: door lock, 4
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Lock receiver for door fixing, 43A / B ... Individual environmental test unit, 45 ... Stand, 46 ... Caster, 47 ... Adjuster pad, 50 ... Pipe, 51 ... Fin, 52 ... Heat dissipation cooling mechanism, 53 ... Module set plate 54, a jig fixing lock receiver, 55, a jig guide, 56, a jig fixing lock, 57, a heat insulating plate, 58, a handle, 59, a module mounting jig, 60, an operation panel.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内田 勝己 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地 株 式会社日立製作所通信事業部内 (72)発明者 又平 浩 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地 株 式会社日立製作所通信事業部内 (72)発明者 井手口 泰 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地 株 式会社日立製作所通信事業部内 Fターム(参考) 2G132 AA00 AB14 AE14 AE16 AE22 AE24 AE27 AL09 AL25  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Katsumi Uchida 216 Totsuka-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Inside the Communications Division, Hitachi, Ltd. (72) Hiroshi Matahira 216 Totsuka-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Hitachi, Ltd. Communication Division (72) Inventor Yasushi Ideguchi 216 Totsuka-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture F-term in Hitachi Division Communications Division 2G132 AA00 AB14 AE14 AE16 AE22 AE24 AE27 AL09 AL25

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数のモジュールの環境試験を行う個別環
境試験装置において、 断熱部材により外壁が構成され、前記モジュールが装着
される複数の試験部と、前記複数の試験部の各々に装着
された前記モジュールに電圧を印加する電源電圧供給部
と、当該電源電圧供給部を制御し、前記複数の試験部の
各々に装着された前記モジュールの試験の制御を各々行
う制御部と、前記複数の試験部の各々における前記モジ
ュールの試験指示を受付ける受付け手段とを有し、 前記複数の試験部の各々は、当該試験部の内部を加熱す
る加熱手段と、当該試験部の内部を冷却する冷却手段
と、前記加熱手段および前記冷却手段を調節することに
より前記試験部の内部の温度調節を行う温度調節手段と
を備え、前記制御部は、前記受付け手段で受付けた試験
指示に従って、前記複数の試験部の各々について、前記
温度調節手段を制御し、前記試験の制御を行うことを特
徴とする個別環境試験装置。
1. An individual environmental test apparatus for performing an environmental test of a plurality of modules, wherein an outer wall is formed by a heat insulating member, and a plurality of test sections to which the modules are mounted, and each of the plurality of test sections are mounted. A power supply voltage supply unit that applies a voltage to the module, a control unit that controls the power supply voltage supply unit, and controls a test of the module mounted on each of the plurality of test units, and the plurality of tests. Receiving means for receiving a test instruction of the module in each of the sections, each of the plurality of test sections, heating means for heating the inside of the test section, cooling means for cooling the inside of the test section, Temperature control means for controlling the temperature inside the test section by adjusting the heating means and the cooling means, and wherein the control section controls the test received by the receiving section. Display according to, for each of said plurality of test portions, said temperature regulating means to control the individual environmental testing apparatus which is characterized in that the control of the test.
【請求項2】請求項1に記載の個別環境試験装置におい
て、前記制御部は、前記複数の試験部の各々に装着され
た前記モジュールの試験におけるエラー検出をそれぞれ
行い、当該エラー検出をした試験部の試験を停止し、 前記エラー検出が行われたときに、当該エラー検出を外
部に出力する出力手段を有することを特徴とする個別環
境試験装置。
2. The test apparatus according to claim 1, wherein the control unit performs error detection in a test of each of the modules mounted on each of the plurality of test units, and performs the error detection. An individual environment test apparatus, comprising: output means for stopping a test of the unit and outputting the error detection to the outside when the error detection is performed.
【請求項3】請求項1に記載の個別環境試験装置におい
て、前記モジュールの種類ごとに前記制御部で行う試験
手順を記憶する記憶手段をさらに備え、 前記受付け手段は、前記複数の試験部の各々における前
記モジュールの種類についての指示を受付け、 前記制御部は、前記受付け手段で受付けた前記モジュー
ルの種類に応じて、 前記記憶手段に記憶する試験手順に従って試験を行うこ
とを特徴とする個別環境試験装置。
3. The individual environment test apparatus according to claim 1, further comprising storage means for storing a test procedure to be performed by said control unit for each type of said module, wherein said receiving means is provided for said plurality of test units. Receiving an instruction on the type of the module in each of the modules, wherein the control unit performs a test in accordance with a test procedure stored in the storage unit according to the type of the module received by the receiving unit. Testing equipment.
【請求項4】断熱部材により構成される筐体であって、
モジュールが装着される複数の試験部を備える個別環境
試験装置におけるモジュール試験方法であって、 前記複数の試験部ごとに前記モジュールの試験指示を受
付け、 前記複数の試験部の各々に装着された前記モジュールに
各々電圧を印加し、 前記複数の試験部ごとに内部の温度調節を行い、 前記複数の試験部ごとに当該試験部に装着された前記モ
ジュールの試験を行うことを特徴とするモジュール試験
方法。
4. A housing constituted by a heat insulating member,
A module test method in an individual environment test device including a plurality of test units to which a module is attached, wherein a test instruction for the module is received for each of the plurality of test units, and the module is attached to each of the plurality of test units. Applying a voltage to each of the modules, adjusting an internal temperature of each of the plurality of test units, and performing a test of the module mounted on the test unit for each of the plurality of test units. .
【請求項5】光ファイバーを介して光信号を送受信する
光伝送用モジュールの試験を行う光伝送用モジュール試
験装置において、 断熱部材により外壁が構成され、前記光伝送用モジュー
ルが装着される複数の試験部と、前記複数の試験部の各
々に装着された前記光伝送用モジュールに電圧を印加す
る電源電圧供給部と、当該電源電圧供給部を制御し、前
記複数の試験部の各々に装着された前記光伝送用モジュ
ールの試験の制御を各々行う制御部と、前記複数の試験
部の各々における前記光伝送用モジュールの試験指示を
受付ける受付け手段とを有し、 前記複数の試験部の各々は、当該試験部の内部を加熱す
る加熱手段と、当該試験部の内部を冷却する冷却手段
と、前記加熱手段および前記冷却手段を調節することに
より前記試験部の内部の温度調節を行う温度調節手段と
を備え、 前記制御部は、前記受付け手段で受付けた試験指示に従
って、前記複数の試験部の各々について、前記温度調節
手段を制御し、前記試験の制御を行うことを特徴とする
光伝送用モジュール試験装置。
5. An optical transmission module test apparatus for testing an optical transmission module for transmitting and receiving an optical signal via an optical fiber, comprising: a plurality of tests in which an outer wall is formed by a heat insulating member and the optical transmission module is mounted. Unit, a power supply voltage supply unit that applies a voltage to the optical transmission module mounted on each of the plurality of test units, and controls the power supply voltage supply unit, and is mounted on each of the plurality of test units. A control unit that controls each test of the optical transmission module, and a receiving unit that receives a test instruction of the optical transmission module in each of the plurality of test units, each of the plurality of test units, Heating means for heating the inside of the test section, cooling means for cooling the inside of the test section, and adjusting the heating means and the cooling means to adjust the inside of the test section. Temperature control means for performing temperature control, wherein the control unit controls the temperature control means for each of the plurality of test units according to the test instruction received by the receiving means, and controls the test. An optical transmission module test apparatus characterized by the following:
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7078923B2 (en) 2003-05-30 2006-07-18 Denso Corporation Environmental test method and system
KR100689502B1 (en) * 2004-11-04 2007-03-02 삼성전자주식회사 Reliability testing apparatus for optical communication module
KR100837594B1 (en) 2007-05-25 2008-06-13 대림스타릿 주식회사 Multifunction synthesis apparatus for drug manufacturing
WO2009004968A1 (en) * 2007-06-29 2009-01-08 Advantest Corporation Testing apparatus
KR100996680B1 (en) * 2008-11-05 2010-11-25 한전케이피에스 주식회사 Opto card test equipment
JP2012013425A (en) * 2010-06-29 2012-01-19 Espec Corp Environmental test device
JP2018059809A (en) * 2016-10-05 2018-04-12 エスペック株式会社 Environment forming apparatus
CN111813081A (en) * 2020-07-02 2020-10-23 佛山市利涛电子科技有限公司 Temperature controller life test equipment

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7078923B2 (en) 2003-05-30 2006-07-18 Denso Corporation Environmental test method and system
KR100689502B1 (en) * 2004-11-04 2007-03-02 삼성전자주식회사 Reliability testing apparatus for optical communication module
KR100837594B1 (en) 2007-05-25 2008-06-13 대림스타릿 주식회사 Multifunction synthesis apparatus for drug manufacturing
WO2009004968A1 (en) * 2007-06-29 2009-01-08 Advantest Corporation Testing apparatus
US8207744B2 (en) 2007-06-29 2012-06-26 Advantest Corporation Testing apparatus
JP5379685B2 (en) * 2007-06-29 2013-12-25 株式会社アドバンテスト Test equipment
KR100996680B1 (en) * 2008-11-05 2010-11-25 한전케이피에스 주식회사 Opto card test equipment
JP2012013425A (en) * 2010-06-29 2012-01-19 Espec Corp Environmental test device
JP2018059809A (en) * 2016-10-05 2018-04-12 エスペック株式会社 Environment forming apparatus
CN111813081A (en) * 2020-07-02 2020-10-23 佛山市利涛电子科技有限公司 Temperature controller life test equipment
CN111813081B (en) * 2020-07-02 2021-06-01 佛山市利涛电子科技有限公司 Temperature controller life test equipment

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