JP2002278048A - Photomask and color filter manufacturing method - Google Patents

Photomask and color filter manufacturing method

Info

Publication number
JP2002278048A
JP2002278048A JP2001075429A JP2001075429A JP2002278048A JP 2002278048 A JP2002278048 A JP 2002278048A JP 2001075429 A JP2001075429 A JP 2001075429A JP 2001075429 A JP2001075429 A JP 2001075429A JP 2002278048 A JP2002278048 A JP 2002278048A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
photomask
pattern
shielding
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001075429A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaji Sofue
正司 祖父江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2001075429A priority Critical patent/JP2002278048A/en
Publication of JP2002278048A publication Critical patent/JP2002278048A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photomask which suppresses the breakage of a shading pattern due to electrical influence. SOLUTION: This photomask has a connecting means which electrically connects an isolated shading part and a shading part at its periphery.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、感光性樹脂薄膜の
露光等に用いるフォトマスク及びカラーフィルタ製造方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photomask used for exposing a photosensitive resin thin film and the like and a method for producing a color filter.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に液晶表示装置は、パーソナルコン
ピュータ、ワードプロセッサ、パチンコ遊技台、自動車
ナビゲーションシステム、小型テレビ等に搭載され、近
年需要が増大している。しかしながら、液晶表示装置は
価格が高く、液晶表示装置のコストダウンに対する要求
は年々強まっている。
2. Description of the Related Art Generally, a liquid crystal display device is mounted on a personal computer, a word processor, a pachinko game console, an automobile navigation system, a small television, and the like, and the demand has been increasing in recent years. However, liquid crystal display devices are expensive, and the demand for cost reduction of liquid crystal display devices is increasing year by year.

【0003】液晶表示装置を構成するカラーフィルタ
は、透明基板上に赤(R)、緑(G)、青(B)などの
各画素を配列して構成され、さらにこれらの各画素の周
囲には表示コントラストを高めるために、光遮蔽するた
めのブラックマトリックスが設けられている。
A color filter constituting a liquid crystal display device is configured by arranging pixels of red (R), green (G), blue (B), etc. on a transparent substrate. Is provided with a black matrix for shielding light in order to increase display contrast.

【0004】カラーフィルタの画素を構成する着色部分
の形成には、染色法、顔料分散法、電着法、インクジェ
ット法等が提案されている。
A dyeing method, a pigment dispersing method, an electrodeposition method, an ink jet method, and the like have been proposed for forming a colored portion constituting a pixel of a color filter.

【0005】一部のインクジェット法(特開平8−17
9110号公報)を含め、これらの製造方法では、その
製造工程においてフォトマスクを用いる。
Some ink jet methods (Japanese Patent Laid-Open No.
No. 9110), a photomask is used in the manufacturing process.

【0006】インクジェット法によるカラーフィルタの
製造方法の一例としては、ブラックマトリクスが形成さ
れた透明基板上に、インク受容能を有し光化学反応によ
って該インク受容能が低下する樹脂層を設け、露光によ
って透明基板上のブラックマトリクスに沿ったパターン
で樹脂層に非着色領域を形成し、露光されない着色領域
にインクジェット方式によりR、G、Bの3色のインク
滴をオリフィスから吐出させて染み込ませてカラーフィ
ルタを作製する方法が挙げられる。この非着色領域は、
着力領域にR、G、Bのインクを染み込ませる際に、異
なる色のインクの間での混色を防ぐために形成する。
As an example of a method for manufacturing a color filter by an ink-jet method, a resin layer having an ink receiving ability and having a reduced ink receiving ability due to a photochemical reaction is provided on a transparent substrate on which a black matrix is formed. A non-colored area is formed in a resin layer in a pattern along a black matrix on a transparent substrate, and ink droplets of three colors of R, G, and B are ejected from an orifice into an unexposed colored area by an ink-jet method, so that the color is permeated. There is a method for producing a filter. This uncolored area is
When the R, G, and B inks are impregnated into the adhesion area, they are formed to prevent color mixture between inks of different colors.

【0007】このようなカラーフィルタの製造工程等に
おける感光性樹脂の露光工程において必要とされるよう
な、微細なパターンを形成するためのフォトマスクに
は、一般にガラス基板上に遮光部として無機材料薄膜を
設けたハードマスクが広く用いられている。そして、こ
の遮光部として用いられる無機材料には、通常、クロム
等の導電性の材料が用いられる。
[0007] A photomask for forming a fine pattern, such as is required in a photosensitive resin exposure step in such a color filter manufacturing step or the like, generally includes an inorganic material as a light shielding portion on a glass substrate. A hard mask provided with a thin film is widely used. In addition, a conductive material such as chromium is usually used as the inorganic material used for the light shielding portion.

【0008】図7、図8は、従来のフォトマスクの形状
の概念図であり、図7は顔料分散法によってカラーフィ
ルタを製造する際に用いられるものを、図8はインクジ
ェット法によってカラーフィルタを製造する際に用いら
れるものを、夫々表している。これらの図において、1
1はフォトマスク、12は不図示の透明基板上に設けら
れたフォトマスクの遮光部、13はフォトマスクの光透
過部を示している。また、122は内側遮光領域、12
3は周囲遮光領域、124は内側遮光領域122と周囲
遮光領域123との境界である。
FIGS. 7 and 8 are conceptual diagrams of the shape of a conventional photomask. FIG. 7 shows a photomask used for manufacturing a color filter by a pigment dispersion method, and FIG. Those used in manufacturing are shown respectively. In these figures, 1
Reference numeral 1 denotes a photomask, 12 denotes a light shielding portion of the photomask provided on a transparent substrate (not shown), and 13 denotes a light transmitting portion of the photomask. Reference numeral 122 denotes an inner light shielding area;
Reference numeral 3 denotes a peripheral light-shielding region, and reference numeral 124 denotes a boundary between the inner light-shielding region 122 and the peripheral light-shielding region 123.

【0009】ここで内側遮光領域とは、カラーフィルタ
の着色領域等を形成するための主たるパターンの遮光部
が形成されている領域を指し、周囲遮光領域とは、内側
遮光領域の周辺部から通常フォトマスクの外形線まで遮
光部が連続的に形成された余白的な領域を指している。
周囲遮光領域は通常マスクパターンの大半の面積を占
め、内側遮光領域を取り囲んだ形状をなす。
Here, the inner light-shielding region refers to a region where a light-shielding portion of a main pattern for forming a colored region or the like of a color filter is formed, and the peripheral light-shielding region is usually from the peripheral portion of the inner light-shielding region. It indicates a blank area where the light-shielding portion is continuously formed up to the outline of the photomask.
The surrounding light-shielding region usually occupies most of the area of the mask pattern, and has a shape surrounding the inner light-shielding region.

【0010】図8において、内側遮光領域122はその
周囲全てが光透過部13で囲まれている。即ち、内側遮
光領域122は周囲遮光領域123に対して遮光部12
のつながりという点で孤立したパターン形状である。な
お、点線で示した境界124は、特に厳密な位置を示し
ているものではなく、上記のような意味で示した内側遮
光領域122と、周囲遮光領域123の境界を図面上で
明示する意味で示しているにすぎない。つまり、内側遮
光領域の外縁から何μmの位置にこの境界がなければな
らないという性質のものではない。
[0010] In FIG. 8, the entire inner light-shielding region 122 is surrounded by the light transmitting portion 13. That is, the inner light shielding area 122 is different from the surrounding light shielding area 123 in the light shielding section 12.
Is an isolated pattern shape in the point of connection. Note that the boundary 124 indicated by the dotted line does not particularly indicate a strict position, but indicates the boundary between the inner light-shielding region 122 and the peripheral light-shielding region 123 shown in the above-described meaning in the drawing. It only shows. In other words, it does not have such a property that this boundary must be located at a position of several μm from the outer edge of the inner light-shielding region.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】一般にフォトマスク
は、製造工程において様々な静電気的影響を受ける場合
がある。静電気的影響には、例えば露光機内においてカ
ラーフィルタ基板を基板用ステージから剥離する際や、
基板とフォトマスクの距離を広げる際に発生する帯電現
象による影響や、フォトマスクをハンドリングする際
の、手やロボットと、フォトマスクとの間での電位差に
より発生する電荷の移動現象による影響が考えられる。
そして、このような静電気的影響に起因して発生する電
荷の移動により、フォトマスクのパターンが破壊される
場合がある。
Generally, a photomask may be affected by various kinds of static electricity in a manufacturing process. For example, when exposing the color filter substrate from the substrate stage in an exposure machine,
The influence of the charging phenomenon that occurs when the distance between the substrate and the photomask is increased, and the effect of the charge transfer phenomenon that occurs due to the potential difference between the hand or robot and the photomask when handling the photomask are considered. Can be
Then, the pattern of the photomask may be destroyed due to the movement of charges generated due to such an electrostatic influence.

【0012】このような静電気的影響は、例えば図7の
ようなフォトマスクの場合には、遮光部12が全体に渡
って連続に形成されているため、遮光部12の間で放電
が起きたりすることがなく、大きな問題とならないが、
図8のようなフォトマスクの場合には、内側に電気的に
孤立している遮光パターンである孤立パターンが存在
し、遮光部12の間で放電が起きるなどして、パターン
が破壊されることにつながる。
For example, in the case of a photomask as shown in FIG. 7, such an electrostatic influence is caused by the occurrence of discharge between the light-shielding portions 12 because the light-shielding portions 12 are formed continuously over the entirety. Is not a big problem,
In the case of the photomask as shown in FIG. 8, there is an isolated pattern that is a light-shielding pattern that is electrically isolated inside, and the pattern is destroyed due to, for example, discharge occurring between the light-shielding portions 12. Leads to.

【0013】フォトマスクを用いるカラーフィルタ製造
方法においては、そのようなパターンの破壊を生じたフ
ォトマスクのパターン形状が基板に転写されてしまい、
その結果、カラーフィルタには混色、白抜けなどの画素
欠陥を生じる場合がある。
In a method of manufacturing a color filter using a photomask, the pattern shape of the photomask in which such a pattern is destroyed is transferred to a substrate.
As a result, pixel defects such as color mixture and white spots may occur in the color filter.

【0014】該パターンの破壊を生じたフォトマスクが
該画素欠陥の原因となる場合、フォトマスクは、パター
ンの破壊を生じたフォトマスクから、パターンの破壊を
生じていないフォトマスクに、直ちに交換される必要が
あった。
In the case where the photomask in which the pattern has been destroyed causes the pixel defect, the photomask is immediately replaced with a photomask in which the pattern has not been destroyed. Needed to be

【0015】しかしながら、フォトマスク交換を行うた
めには、生産ラインを一時的に停止させることが必要な
場合が多く、稼働率を低下させる問題があった。
However, in order to replace the photomask, it is often necessary to temporarily stop the production line, which causes a problem of lowering the operation rate.

【0016】フォトマスク交換を行っても、フォトマス
ク交換を行うまでの間に、製造されたカラーフィルタ
は、不良品となり、歩留まりを低下させる問題点もあっ
た。
Even when the photomask is replaced, the manufactured color filter becomes defective before the photomask is replaced, and there is a problem that the yield is reduced.

【0017】また、パターンの破壊を生じたフォトマス
クは、破壊部の修復が不可能な場合が多く、この場合、
再使用できない。そのため、高価なマスクを新たに製作
する必要が生じ、日程、コストの点で無駄を生じ、問題
があった。
Further, in a photomask in which a pattern has been destroyed, it is often impossible to repair the destroyed portion.
Cannot be reused. For this reason, it is necessary to newly manufacture an expensive mask, causing waste in terms of schedule and cost, and there has been a problem.

【0018】また、パターンの修復が可能な場合でも、
修復費がかかり、日程、コストの点で問題点があった。
Further, even if the pattern can be repaired,
Repair costs were required, and there were problems in terms of schedule and cost.

【0019】このようにフォトマスクを用いたカラーフ
ィルタの製造方法において、フォトマスクにパターンの
破壊を生じさせないことは非常に重要な課題となる。
In the method of manufacturing a color filter using a photomask as described above, it is very important to prevent the pattern from being destroyed in the photomask.

【0020】本発明は、上記従来技術の実状に鑑みなさ
れたものであり、パターンの破壊の発生を抑えたフォト
マスクを提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the state of the prior art, and has as its object to provide a photomask in which the occurrence of pattern destruction is suppressed.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の請求項1に記載の発明は、内側遮光領域と周囲遮光領
域とからなる所定のパターンの遮光部を有し、インクジ
ェット法によってカラーフィルタを製造する工程中で、
ネガ型の感光性樹脂層を露光するためのフォトマスクで
あって、前記内側遮光領域と前記周囲遮光領域との間の
電気的接続をとる接続手段を少なくとも1つ有すること
を特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a color filter having a predetermined pattern comprising an inner light-shielding region and a peripheral light-shielding region. During the manufacturing process,
A photomask for exposing a negative photosensitive resin layer, comprising at least one connection means for establishing an electrical connection between the inner light-shielding region and the peripheral light-shielding region.

【0022】なお、内側遮光領域とは、カラーフィルタ
の着色領域等を形成するための主たるパターンの遮光部
が形成されている領域を指し、周囲遮光領域とは、内側
遮光領域の周辺部から通常フォトマスクの外形線まで遮
光部が連続的に形成された余白的な領域を指している。
周囲遮光領域は通常マスクパターンの大半の面積を占
め、内側遮光領域を取り囲んだ形状をなす。
The inner light-shielding region refers to a region where a light-shielding portion of a main pattern for forming a colored region or the like of a color filter is formed. It indicates a blank area where the light-shielding portion is continuously formed up to the outline of the photomask.
The surrounding light-shielding region usually occupies most of the area of the mask pattern, and has a shape surrounding the inner light-shielding region.

【0023】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
のフォトマスクにおいて、前記内側遮光領域は、カラー
フィルタの着色領域を形成するパターンであること、前
記周囲遮光領域は、カラーフィルタの前記着色領域の周
囲を形成するパターンであること、を特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the photomask according to the first aspect, the inner light-shielding region is a pattern for forming a colored region of a color filter, and the peripheral light-shielding region is formed of a color filter. A pattern forming the periphery of the colored region.

【0024】請求項3に記載の発明は、請求項1又は2
に記載のフォトマスクにおいて、発明前記接続手段は、
前記内側遮光領域と前記周囲遮光領域との両方につなが
る遮光部であるつなぎパターンであることを特徴とす
る。
The third aspect of the present invention is the first or second aspect.
In the photomask of the invention, the connecting means of the invention,
The connection pattern is a light-shielding portion that is connected to both the inner light-shielding region and the peripheral light-shielding region.

【0025】請求項4に記載の発明は、請求項3に記載
のフォトマスクにおいて、前記つなぎパターンの位置
が、前記着色領域を形成するパターンが列状に形成され
た該列の両端のうちの、少なくとも片端の位置であるこ
とを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the photomask according to the third aspect, the position of the connecting pattern is determined by determining whether the pattern forming the colored region is formed in a row in the two ends of the row. , At least at one end.

【0026】請求項5に記載の発明は、請求項4に記載
のフォトマスクにおいて、前記つなぎパターンの位置
が、前記列の同じ側の片端群のうち、1つおきの片端に
接する位置であることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the photomask according to the fourth aspect, the position of the connecting pattern is a position in contact with every other end of the one end group on the same side of the row. It is characterized by the following.

【0027】請求項6に記載の発明は、請求項1から5
のうちのいずれか1項に記載のフォトマスクにおいて、
全ての前記遮光部の間で電気的接続がとられていること
を特徴とする。
[0027] The invention according to claim 6 is the invention according to claims 1 to 5.
In the photomask according to any one of the above,
An electrical connection is established between all the light-shielding portions.

【0028】上記課題を解決するための請求項7に記載
の発明は、透明基板上に少なくとも所定のパターンで遮
光部を設けたフォトマスクにおいて、孤立した遮光部で
ある孤立パターンと、該孤立パターンの周辺の遮光部で
ある周辺パターンとを電気的に接続する接続手段を少な
くとも1つ有することを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a photomask having at least a predetermined pattern of light shielding portions on a transparent substrate, wherein the isolated pattern is an isolated light shielding portion; Is characterized by having at least one connection means for electrically connecting a peripheral pattern which is a light-shielding portion of the periphery.

【0029】請求項8に記載の発明は、請求項7に記載
のフォトマスクにおいて、前記接続手段は、前記遮光部
の全てが電気的に接続されるように全ての前記孤立パタ
ーンに対して設けられていることを特徴とする。
According to an eighth aspect of the present invention, in the photomask of the seventh aspect, the connection means is provided for all of the isolated patterns so that all of the light shielding portions are electrically connected. It is characterized by having been done.

【0030】請求項9に記載の発明は、請求項7又は8
に記載のフォトマスクにおいて、前記接続手段は、前記
露光工程において照射する光に対して透明な導電性材料
からなることを特徴とする。
The ninth aspect of the present invention is the invention according to the seventh or eighth aspect.
Wherein the connecting means is made of a conductive material that is transparent to light irradiated in the exposure step.

【0031】請求項10に記載の発明は、請求項9に記
載のフォトマスクにおいて、前記接続手段は、前記孤立
パターンと前記周囲パターンとの両方に接触する部分を
少なくとも有する形状で前記導電性材料をパターニング
して形成したことを特徴とする。
According to a tenth aspect of the present invention, in the photomask according to the ninth aspect, the connecting means has a shape having at least a portion in contact with both the isolated pattern and the peripheral pattern. Is formed by patterning.

【0032】請求項11に記載の発明は、請求項10に
記載のフォトマスクにおいて、前記接続手段は、前記透
明基板上の一面に前記遮光部の全てと接触する形で前記
導電性材料を成膜して形成されたことを特徴とする。
According to an eleventh aspect of the present invention, in the photomask of the tenth aspect, the connecting means forms the conductive material on one surface of the transparent substrate in contact with all of the light-shielding portions. It is characterized by being formed as a film.

【0033】請求項12に記載の発明は、請求項1から
11のうちのいずれか1項に記載のフォトマスクを用い
たことを特徴とするカラーフィルタ製造方法である。
According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a color filter manufacturing method using the photomask according to any one of the first to eleventh aspects.

【0034】[0034]

【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な実施の形
態を示しながら本発明を詳細に説明するが、本発明はこ
れらの形態に限定されるものではない。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to specific embodiments of the present invention, but the present invention is not limited to these embodiments.

【0035】(フォトマスク1)まず、内側遮光領域と
周囲遮光領域とからなる所定のパターンの遮光部を有
し、インクジェット法によってカラーフィルタを製造す
る工程中で、ネガ型の感光性樹脂層を露光するためのフ
ォトマスクであって、内側遮光領域と周囲遮光領域との
間の電気的接続をとる接続手段を少なくとも1つ有する
ことを特徴とするフォトマスクについて説明する。
(Photomask 1) First, a light-shielding portion having a predetermined pattern consisting of an inner light-shielding region and a peripheral light-shielding region is provided. A photomask for exposure, which has at least one connection means for making an electrical connection between an inner light-shielding region and a peripheral light-shielding region, will be described.

【0036】図1は、本発明のフォトマスクの形状の概
念図である。図1において、11は不図示の透明基板上
に導電性の遮光性材料を成膜して遮光部を形成したフォ
トマスクである。12は導電性材料で形成されたフォト
マスクの遮光部、13はフォトマスクの光透過部であ
る。また、121は本発明に特徴的なつなぎパターン、
122は内側遮光領域、123は周囲遮光領域、124
は内側遮光領域と周囲遮光領域との境界である。なお、
点線で示した境界124には、上記従来の技術における
説明がそのまま当てはまり、厳密な意味を持つものでは
ない。つまり、内側遮光領域の外縁から何μmの位置に
この境界がなければならないという性質のものではな
い。
FIG. 1 is a conceptual diagram of the shape of a photomask of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a photomask in which a light-shielding portion is formed by forming a conductive light-shielding material on a transparent substrate (not shown). Reference numeral 12 denotes a light shielding portion of a photomask formed of a conductive material, and reference numeral 13 denotes a light transmitting portion of the photomask. Reference numeral 121 denotes a connection pattern characteristic of the present invention;
122 is an inner light shielding area, 123 is a surrounding light shielding area, 124
Is a boundary between the inner light shielding area and the surrounding light shielding area. In addition,
The description in the above-described conventional technique applies to the boundary 124 indicated by the dotted line as it is, and does not have a strict meaning. In other words, it does not have such a property that this boundary must be located at a position of several μm from the outer edge of the inner light-shielding region.

【0037】図1において示した形態は、遮光部12と
同じ材料で内側遮光領域と周囲遮光領域との両方につな
がる形で形成したつなぎパターン121が、内側遮光領
域122に含まれる全ての遮光部と周囲遮光領域123
との間の電気的接続をとる接続手段に対応する、好まし
い形態である。しかしながら、本発明において接続手段
はこの形態に限らない。例えば、接続手段は全ての内側
遮光領域に対して設けなくても良く、少なくとも1つ有
れば、その接続手段が接触している遮光部周辺でのパタ
ーン破壊は防ぐことができる。また、つなぎパターン1
21は必ずしも遮光部12と同じ材料でなくても良く、
その形成は遮光部12の形成前でも形成後でも良い。し
かしながら、つなぎパターン121を遮光部12と同じ
材料で形成し、遮光部121の形成と同時に、即ち、つ
なぎパターン121も含めたパターンで始めから遮光部
全体を形成すれば、工程数が少なくて済むため、好まし
い。
In the embodiment shown in FIG. 1, a connection pattern 121 formed of the same material as that of the light-shielding portion 12 and connected to both the inner light-shielding region and the surrounding light-shielding region includes all the light-shielding portions included in the inner light-shielding region 122. And surrounding light shielding area 123
This is a preferred mode corresponding to connection means for making an electrical connection between However, the connection means in the present invention is not limited to this mode. For example, the connecting means may not be provided for all the inner light-shielding regions, and if there is at least one, it is possible to prevent pattern destruction around the light-shielding portion with which the connecting means is in contact. Also, connection pattern 1
21 does not necessarily have to be the same material as the light-shielding part 12,
The formation may be performed before or after the formation of the light shielding portion 12. However, if the connection pattern 121 is formed of the same material as that of the light-shielding portion 12 and the entire light-shielding portion is formed at the same time as the formation of the light-shielding portion 121, that is, the entire light-shielding portion is formed from the pattern including the connection pattern 121, the number of processes is reduced. Therefore, it is preferable.

【0038】また、つなぎパターン121の形状は、説
明の便宜上、内側遮光領域122のパターン形状と同一
幅の形状を用いたが、本発明は該形状に限るものではな
く、図2に示すように、121Lのような円弧形状や、
121M、121Nのようなくびれ形状などであっても
良い。
Further, the shape of the connection pattern 121 is the same in width as the pattern shape of the inner light-shielding region 122 for convenience of explanation, but the present invention is not limited to this shape, and as shown in FIG. , 121L, and the like,
It may have a constricted shape such as 121M and 121N.

【0039】また、任意の一つの内側遮光領域122に
連結されるつなぎパターン121の数は、一つに限定さ
れるものではなく、複数であってもよい。また、簡単の
ため、周囲遮光領域123は、境界124の周辺部から
フォトマスク11の外形線まで遮光部12が連続的に形
成されたパターン形状を例に説明したが、該周囲遮光領
域123はマスクの外形線まである必要性はなく、所要
の部分まであればよい。
The number of connecting patterns 121 connected to any one inner light-shielding region 122 is not limited to one, but may be plural. For the sake of simplicity, the surrounding light-shielding region 123 has been described as an example of a pattern shape in which the light-shielding portion 12 is continuously formed from the peripheral portion of the boundary 124 to the outline of the photomask 11. There is no need to extend to the outline of the mask;

【0040】透明基板には、通常フォトマスクに用いら
れている石英ガラスや、ソーダライムガラス等が使用で
き、遮光部12及びつなぎパターン121には、一般的
に用いられているクロムや酸化クロム等の金属や酸化金
属等が使用できる。
For the transparent substrate, quartz glass, soda lime glass, or the like, which is usually used for a photomask, can be used. For the light shielding portion 12 and the connecting pattern 121, generally used chrome, chromium oxide, or the like can be used. Metals and metal oxides can be used.

【0041】図3は本発明のフォトマスクの具体的な一
実施形態の平面図であり、図4に示すような露光パター
ンで感光性樹脂を露光して非着色領域を形成し、図5に
示すようなカラーフィルタを製造するためのフォトマス
クの形状を示している。これらの図において、図1、図
2と同じ符号は同じ部材を指している。
FIG. 3 is a plan view of a specific embodiment of the photomask of the present invention. The photosensitive resin is exposed to an exposure pattern as shown in FIG. 4 to form a non-colored area. The shape of the photomask for manufacturing the color filter as shown is shown. In these figures, the same reference numerals as those in FIGS. 1 and 2 indicate the same members.

【0042】図4において、36はフォトマスクの遮光
部によって露光されず、列状に形成された着色領域を表
し、37は露光されて形成された非着色領域である。ま
た、各列に示したR、G、Bはそれぞれ、赤、緑、青に
着色する列であることを意味している。
In FIG. 4, reference numeral 36 denotes a colored region formed in a row without being exposed by the light shielding portion of the photomask, and 37 denotes a non-colored region formed by exposure. Also, R, G, and B shown in each column indicate that the columns are colored red, green, and blue, respectively.

【0043】図5において、31は透明基板上にブラッ
クマトリクスと着色領域が形成されたカラーフィルタで
ある。32は有効画素、33は有効画素領域外縁、34
のハッチングのかかった外側の画素はダミー画素、35
はダミー画素領域外縁、36はブラックマトリクスであ
る。
In FIG. 5, reference numeral 31 denotes a color filter in which a black matrix and a colored region are formed on a transparent substrate. 32 is an effective pixel, 33 is an outer edge of an effective pixel area, 34
The outer pixels with hatching are dummy pixels, 35
Denotes an outer edge of the dummy pixel area, and 36 denotes a black matrix.

【0044】また、図3における33、35は図5の外
縁33、35に対応する外縁を表し、両図における線分
A、線分B、線分Cはそれぞれ、図3のフォトマスクの
遮光部のパターン(A、Bはつなぎパターンの縦方向の
位置、Cは内側遮光領域のパターンのある1列)が、そ
れによって形成される図5のカラーフィルタにおいてど
の位置に対応するかを表している。
Also, 33 and 35 in FIG. 3 represent the outer edges corresponding to the outer edges 33 and 35 in FIG. 5, respectively, and the line segment A, line segment B and line segment C in both figures respectively indicate the light shielding of the photomask of FIG. The position of each pattern (A and B are the vertical positions of the connecting pattern, and C is one line with the pattern of the inner light-shielding region) corresponds to the position of the color filter of FIG. I have.

【0045】ここでダミー画素とは、つなぎパターン1
21がフォトマスクに存在することから、それに対応す
る位置のカラーフィルタの着色領域で隣の異なる色の画
素との混色が起こっても、表示に影響がないように設け
たダミーの画素である。有効画素とは、このダミー画素
以外の、実際の表示に使用する画素である。
Here, the dummy pixel is a connection pattern 1
21 is a dummy pixel provided so as not to affect display even if color mixing with an adjacent pixel of a different color occurs in the colored region of the color filter at the position corresponding to the photomask. An effective pixel is a pixel used for actual display other than the dummy pixel.

【0046】図4に示すような非着色領域37は、図示
したR、G、Bの異なる色の間で混色が起こらないよう
に設けてある。実際にはこれらのパターンは非常に微細
であり、このようにつなぎパターンに対応する部分で非
着色領域37が形成されない部分が存在すると、例えば
左から2列目のGの色と、4列目のRの色との間等の、
非着色領域37で分断されていない領域同志で混色を起
こしてしまう場合がある。そこで、上記のようなダミー
画素領域を周囲に設けておけば、この部分で混色が起き
ても表示装置としての品質に影響を与えないで済む。
The non-colored area 37 as shown in FIG. 4 is provided so as not to cause color mixing between the different colors of R, G and B shown in the figure. Actually, these patterns are very fine, and if there is a portion where the non-colored region 37 is not formed in the portion corresponding to the connection pattern, for example, the G color in the second column from the left and the G Such as between the colors of R,
Color mixing may occur in regions that are not divided by the non-colored region 37. Therefore, if a dummy pixel region as described above is provided in the periphery, even if color mixing occurs in this portion, the quality of the display device is not affected.

【0047】本実施の形態においては、内側遮光領域
は、カラーフィルタの着色領域を形成するパターンであ
り、周囲遮光領域は、カラーフィルタの着色領域の周囲
を形成するパターンである。また、接続手段は、内側遮
光領域と周囲遮光領域との両方につながる遮光部である
つなぎパターンである。
In the present embodiment, the inner light-shielding region is a pattern that forms a colored region of the color filter, and the peripheral light-shielding region is a pattern that forms the periphery of the colored region of the color filter. Further, the connection means is a connection pattern which is a light shielding portion connected to both the inner light shielding area and the surrounding light shielding area.

【0048】つなぎパターンの位置は、着色領域を形成
するパターンが列状に形成された該列の両端のうちの、
少なくとも片端の位置であることが好ましい。更に好ま
しくは、つなぎパターンの位置が、各列の同じ側の片端
群のうち、1つおきの片端に接する位置であり、さらに
は、全ての遮光部の間で電気的接続がとられていること
である。図3においては、この最も好ましい形態のつな
ぎパターンを有する態様を示している。
The position of the connection pattern is determined by determining the position of the pattern forming the colored area in a row of the two ends of the row.
It is preferably at least one end position. More preferably, the position of the connection pattern is a position in contact with every other end of the one end group on the same side of each row, and furthermore, electrical connection is established between all the light shielding portions. That is. FIG. 3 shows an embodiment having a connection pattern of this most preferable form.

【0049】すなわち、図3において、周囲遮光領域1
23が、フォトマスク11の外形線まで遮光部の連続的
に形成されたパターン形状であり、内側遮光領域122
は有効画素領域とダミー画素領域にまたがって形成され
たパターン形状である。また、内側遮光領域122は、
つなぎパターン121により周囲遮光領域123と電気
的に接続されている。つなぎパターン121は、カラー
フィルタの連続した単色の着色層形成用パターンが並ん
で形成された列の片端に接する位置にある。つなぎパタ
ーン121の縦方向の位置は、カラーフィルタの連続し
た単色の着色層形成用パターン形状が並んで形成された
列(例えば図中Cの列)の方向に直交する線分A、線分
Bの延長上に位置し、かつ線分A、線分B上に連続的に
並んで形成された片端群のうち、一つおきの片端位置に
接する位置にある。
That is, in FIG.
Reference numeral 23 denotes a pattern shape in which the light-shielding portion is continuously formed up to the outline of the photomask 11.
Denotes a pattern shape formed over the effective pixel region and the dummy pixel region. Also, the inner light-shielding region 122
The connection pattern 121 is electrically connected to the surrounding light shielding area 123. The connection pattern 121 is located at a position in contact with one end of a row in which a continuous pattern for forming a single-colored layer of a color filter is arranged. The vertical position of the connection pattern 121 is determined by the line segment A and the line segment B orthogonal to the direction of a row (for example, the row of C in the drawing) in which the continuous monochromatic colored layer forming pattern shapes of the color filters are arranged side by side. Of the one end group formed continuously on the line segment A and the line segment B, and is in contact with every other one end position.

【0050】(フォトマスク2)次に、透明基板上に少
なくとも所定のパターンで遮光部を設けたフォトマスク
において、孤立した遮光部である孤立パターンと、該孤
立パターンの周辺の遮光部である周辺パターンとを電気
的に接続する接続手段を少なくとも1つ有することを特
徴とするフォトマスクを説明する。
(Photomask 2) Next, in a photomask in which a light-shielding portion is provided at least in a predetermined pattern on a transparent substrate, an isolated pattern that is an isolated light-shielding portion and a peripheral portion that is a light-shielding portion around the isolated pattern. A photomask having at least one connection means for electrically connecting a pattern will be described.

【0051】本発明は、図8に示すような孤立パターン
を有するフォトマスクにおいて、遮光部を形成する工程
の直前、又は直後の工程で、透明基板上に、本発明のフ
ォトマスクを用いた露光工程において照射する光に対し
て透明な導電性材料を一面に成膜することで実現でき
る。
According to the present invention, in a photomask having an isolated pattern as shown in FIG. 8, light exposure using a photomask of the present invention is performed on a transparent substrate in a step immediately before or immediately after a step of forming a light shielding portion. This can be realized by forming a conductive material which is transparent to light applied in the process over the entire surface.

【0052】このようにすれば、遮光部間で放電が起き
ることは完全に防ぐことができ、フォトマスクのパター
ン破壊を抑制することができる。
In this way, it is possible to completely prevent a discharge from occurring between the light-shielding portions, and to suppress the destruction of the pattern of the photomask.

【0053】本実施の形態は、接続手段が、透明基板上
の一面に遮光部の全てと接触する形で導電性材料を成膜
して形成され、露光工程において照射する光に対して透
明な導電性材料からなる最も好ましい形態である。
In the present embodiment, the connection means is formed by forming a conductive material on one surface of the transparent substrate in contact with all of the light-shielding portions, and is transparent to light irradiated in the exposure step. This is the most preferable form made of a conductive material.

【0054】しかしながら、本発明においては、前記の
透明導電性材料を図1に示したようなつなぎパターンと
同様な形状で成膜しても良いし、全ての孤立パターンに
対して必ずしも設けなくても良い。すなわち、少なくと
も2つの孤立パターンに接触する接続手段があれば良
く、これにより、従来よりはパターン破壊を抑制するこ
とが可能である。
However, in the present invention, the transparent conductive material may be formed in the same shape as the connection pattern shown in FIG. 1, or may not be provided for all the isolated patterns. Is also good. That is, it is sufficient if there is a connecting means that contacts at least two isolated patterns, and thereby, it is possible to suppress pattern destruction as compared with the related art.

【0055】透明基板、遮光部等の材料には、前記と同
様な材料が使用でき、透明導電性材料には、ITO等が
使用できる。
Materials similar to those described above can be used for the material of the transparent substrate, the light shielding portion, and the like, and ITO and the like can be used for the transparent conductive material.

【0056】(カラーフィルタ製造方法)次に、カラー
フィルタ製造方法の具体的な一実施形態を説明する。
(Color Filter Manufacturing Method) Next, a specific embodiment of the color filter manufacturing method will be described.

【0057】ここでは、ブラックマトリクスが形成され
た透明基板上に、インク受容能を有し光化学反応によっ
て該インク受容能が低下する樹脂層を設け、露光によっ
てブラックマトリクスに沿ったパターンで非着色領域を
形成し、露光されない着色領域にインクジェット方式に
よりR、G、Bの3色のインク滴をオリフィスから吐出
させて染み込ませ、カラーフィルタを作製する方法を説
明する。
Here, a resin layer having an ink receiving ability and having a reduced ink receiving ability by a photochemical reaction is provided on a transparent substrate on which a black matrix is formed, and a non-colored area is formed in a pattern along the black matrix by exposure. A method for forming a color filter by ejecting ink droplets of three colors R, G, and B from an orifice into an unexposed colored region by an ink jet method to form a color filter will be described.

【0058】上記のインク受容能を有する材料として
は、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、イミド系樹脂、
ヒドロキシプロピルセルロース、ヒドロキシエチルセル
ロース、メチルセルロース、カルボキシメチルセルロー
ス等のセルロース誘導体が好ましい。その形成方法とし
ては、スピンコート、ロールコート、バーコート、スプ
レーコート、ディップコート等の方法を用いることがで
きる。形成されるインク受容性樹脂層の厚みは、パター
ン形状形成に用いるインクの種類、組成、あるいはその
吐出量、使用方法等によるが、0.5乃至2μm程度が
適当である。
The above-mentioned materials having an ink receiving ability include acrylic resins, epoxy resins, imide resins,
Cellulose derivatives such as hydroxypropylcellulose, hydroxyethylcellulose, methylcellulose and carboxymethylcellulose are preferred. As a forming method, a method such as spin coating, roll coating, bar coating, spray coating, and dip coating can be used. The thickness of the ink receptive resin layer to be formed depends on the type and composition of the ink used for forming the pattern shape, or the ejection amount, the method of use, and the like, but is preferably about 0.5 to 2 μm.

【0059】インクジェット方式としては、熱エネルギ
ーによる方式、あるいは機械エネルギーによる方式が挙
げられるが、いずれの方式も好適に用いることができ
る。使用するインクとしては、インクジェット用として
用いることができるものであれば、特に限られるもので
はなく、インクの着色剤としては、各種染料あるいは顔
料のなかから、R、G、Bの各画素に要求される透過ス
ペクトルにあったものが適宜選択される。
Examples of the ink jet system include a system using thermal energy and a system using mechanical energy, and any system can be suitably used. The ink to be used is not particularly limited as long as it can be used for ink-jet. As the colorant of the ink, various kinds of dyes or pigments are required for each pixel of R, G, B. The transmission spectrum that matches the transmission spectrum to be performed is appropriately selected.

【0060】まず、上記のような材料と方法を用いてイ
ンク受容性樹脂層の形成された基板を60乃至100℃
の内の適切な温度で熱処理を行う。
First, the substrate on which the ink receptive resin layer is formed is formed at a temperature of 60 to 100 ° C. by using the above materials and methods.
Heat treatment is performed at an appropriate temperature.

【0061】その後、露光工程を行う。この工程によっ
て、インク受容性樹脂層の非着色領域のインク受容能を
低下させ、異なる色のインクの間で混色が起こらないよ
うにする。露光工程において使用するフォトマスクに
は、本発明のフォトマスクを使用する。フォトマスクの
例を図6に示す。図において、前出の図と同じ符号は同
じ部材を指している。この形態では、つなぎパターンの
幅Xは内側遮光領域122のパターンの幅と同一であ
り、つなぎパターンの長さYは、内側遮光領域122と
周囲遮光領域123とに接触するように決める。
Thereafter, an exposure step is performed. By this step, the ink receptivity of the non-colored area of the ink receptive resin layer is reduced, so that color mixing does not occur between inks of different colors. As the photomask used in the exposure step, the photomask of the present invention is used. FIG. 6 shows an example of a photomask. In the drawings, the same reference numerals as those in the previous drawings indicate the same members. In this embodiment, the width X of the connection pattern is the same as the width of the pattern of the inner light-shielding region 122, and the length Y of the connection pattern is determined so as to contact the inner light-shielding region 122 and the peripheral light-shielding region 123.

【0062】その後、100乃至150℃の内の適切な
温度で熱処理を行い、インクジェット法によりRGB画
素の着色を行う。
Thereafter, heat treatment is performed at an appropriate temperature within the range of 100 to 150 ° C., and the RGB pixels are colored by the ink jet method.

【0063】さらに200乃至250℃の内の適切な温
度で熱処理を行い、その後、保護層、ITOを形成す
る。
Further, heat treatment is performed at an appropriate temperature of 200 to 250 ° C., and thereafter, a protective layer and ITO are formed.

【0064】[0064]

【実施例】(実施例1)まず、本発明のフォトマスクを
作成した例を説明する。
(Embodiment 1) First, an example in which a photomask of the present invention is formed will be described.

【0065】450×550×5mmの石英ガラスの片
面上に酸化クロムを用いて遮光膜を形成した後、フォト
リソ法によりパターンを形成したフォトマスクにおい
て、図1に示すようなつなぎパターンを有する本発明に
よるフォトマスクを作成した。
After forming a light-shielding film on one side of quartz glass of 450 × 550 × 5 mm using chromium oxide and forming a pattern by photolithography, the present invention has a connecting pattern as shown in FIG. A photomask was created.

【0066】ここで122は幅100μm、長さ180
mmの長方形であり、121は幅100μm、長さ10
μmの長方形、即ち、122と同じ幅で作製したつなぎ
パターンである。また、内側遮光領域122の周囲の光
透過部13は幅10μmのスリット形状である。
Here, 122 is 100 μm in width and 180 in length
mm is a rectangle, 121 is 100 μm in width and 10 in length.
This is a connecting pattern formed with a rectangular shape of μm, that is, the same width as 122. The light transmitting portion 13 around the inner light shielding region 122 has a slit shape with a width of 10 μm.

【0067】このフォトマスクを用い、5000枚のカ
ラーフィルタを製造後フォトマスクの観察を行ったとこ
ろ、パターンの静電破壊は発生していないことが確認さ
れた。
After manufacturing 5000 color filters using this photomask and observing the photomask, it was confirmed that no electrostatic breakdown of the pattern occurred.

【0068】さらに該フォトマスクを洗浄後、同様の観
察を行ったところ、パターンの静電破壊は発生していな
いことが確認された。
Further, after the photomask was washed, the same observation was performed. As a result, it was confirmed that no electrostatic breakdown of the pattern occurred.

【0069】(比較例1)つなぎパターン121を有し
ないこと以外は、実施例1と同様のフォトマスクを作成
した。
(Comparative Example 1) A photomask similar to that of Example 1 was prepared except that the connecting pattern 121 was not provided.

【0070】このフォトマスクを用い5000枚のカラ
ーフィルタを製造後、フォトマスクの観察を行ったとこ
ろパターンに静電破壊が確認された。
After 5,000 color filters were manufactured using this photomask, the photomask was observed. As a result, electrostatic damage was confirmed in the pattern.

【0071】(実施例2)次に、本発明のフォトマスク
を用いたカラーフィルタの製造方法を実施した例を示
す。
(Embodiment 2) Next, an embodiment in which a method of manufacturing a color filter using a photomask of the present invention will be described.

【0072】ブラックマトリクスが形成された透明基板
上に、アクリル系樹脂からなるインク受容性樹脂層をス
ピンコート法によって2μm厚で設け、90℃で熱処理
を行った。
On a transparent substrate on which a black matrix was formed, an ink-receiving resin layer made of an acrylic resin was provided in a thickness of 2 μm by a spin coating method, and heat-treated at 90 ° C.

【0073】その後、露光工程を行った。露光工程にお
いて使用するフォトマスクには、本発明のフォトマスク
を使用した。フォトマスクには図6に示すようなものを
用いた。この形態では、つなぎパターンの幅Xは内側遮
光領域122のパターンの幅と同一であり100μmで
ある。つなぎパターンの長さYは、内側遮光領域122
と周囲遮光領域123とに接触するように決め、2乃至
7μm程度で形成した。露光時のフォトマスクと基板と
のギャップは100μmとした。また、積算露光量は1
00mJ/cm2とした。
Thereafter, an exposure step was performed. The photomask of the present invention was used as a photomask used in the exposure step. A photomask as shown in FIG. 6 was used. In this embodiment, the width X of the connection pattern is the same as the width of the pattern of the inner light-shielding region 122 and is 100 μm. The length Y of the link pattern is
And the surrounding light-shielding region 123 are formed to have a thickness of about 2 to 7 μm. The gap between the photomask and the substrate during exposure was 100 μm. The integrated exposure amount is 1
00 mJ / cm 2 .

【0074】その後、120℃で熱処理を行い、インク
(染料系)をインクジェット法によりインク受容性樹脂
層の着色領域に染み込ませ、RGB画素の着色を行っ
た。
Thereafter, a heat treatment was performed at 120 ° C., and the ink (dye-based) was impregnated into the colored region of the ink-receiving resin layer by an ink-jet method to color the RGB pixels.

【0075】さらに220℃で熱処理を行い、その後、
保護層、ITOを形成した。
Further, a heat treatment is performed at 220 ° C.
A protective layer and ITO were formed.

【0076】このような方法でカラーフィルタを500
0枚を製作したところ、フォトマスクにパターン欠陥は
生じず、良好なカラーフィルタを製造することができ
た。
In this way, 500 color filters are provided.
When zero sheets were manufactured, no pattern defects occurred in the photomask, and a good color filter could be manufactured.

【0077】(比較例2)使用するフォトマスクとし
て、本発明の特徴であるつなぎパターンを有しないフォ
トマスクを使用した以外は、実施例2と同様の方法でカ
ラーフィルタを製造した。
Comparative Example 2 A color filter was manufactured in the same manner as in Example 2 except that a photomask having no connecting pattern, which is a feature of the present invention, was used.

【0078】その結果、カラーフィルタを5000枚を
製作したところ、フォトマスク上にはパターン形状破壊
を生じ、それが原因でカラーフィルタには混色が発生
し、良好なカラーフィルタは製造できなかった。
As a result, when 5,000 color filters were manufactured, pattern shape destruction occurred on the photomask, and as a result, color mixing occurred in the color filters, and a good color filter could not be manufactured.

【0079】[0079]

【発明の効果】請求項1に記載の発明によれば、フォト
マスクが静電気的影響を受けた際に、フォトマスク内に
定常的な電位差が生じにくくなり、静電気的影響によっ
て蓄積した電荷の遮光部間での放電が抑制され、フォト
マスクのパターン破壊を抑えることができる。
According to the first aspect of the present invention, when the photomask is affected by static electricity, a steady potential difference is less likely to be generated in the photomask, and the charge accumulated by the static electricity is shielded. Discharge between the portions is suppressed, and pattern destruction of the photomask can be suppressed.

【0080】請求項3に記載の発明によれば、接続手段
をフォトマスクの遮光部のパターニングの際に同時に形
成できるため、従来の方法よりも工程数を増やすことな
く接続手段を形成することが可能となる。
According to the third aspect of the present invention, since the connecting means can be formed at the same time as the patterning of the light shielding portion of the photomask, the connecting means can be formed without increasing the number of steps as compared with the conventional method. It becomes possible.

【0081】請求項6に記載の発明によれば、遮光部間
での放電をなくすことができ、パターン破壊を防ぐこと
ができる。
According to the sixth aspect of the present invention, it is possible to eliminate discharge between the light-shielding portions and prevent pattern destruction.

【0082】請求項7に記載の発明によれば、フォトマ
スクが静電気的影響を受けた際に、フォトマスク内に定
常的な電位差が生じにくくなり、静電気的影響によって
蓄積した電荷の遮光部間での放電が抑制され、フォトマ
スクのパターン破壊を抑えることができる。
According to the seventh aspect of the invention, when the photomask is affected by static electricity, a steady potential difference is less likely to be generated in the photomask, and the charge accumulated between the light-shielding portions due to the electrostatic influence is reduced. , And the destruction of the pattern of the photomask can be suppressed.

【0083】請求項8に記載の発明によれば、遮光部間
での放電をなくすことができ、パターン破壊を防ぐこと
ができる。
According to the eighth aspect of the present invention, it is possible to eliminate the discharge between the light shielding portions and prevent the pattern from being destroyed.

【0084】請求項9に記載の発明によれば、遮光パタ
ーンの形状を変えることなく接続手段を設けることがで
きる。
According to the ninth aspect, the connecting means can be provided without changing the shape of the light-shielding pattern.

【0085】請求項11に記載の発明によれば、全ての
遮光部を電気的に接続する接続手段を容易に形成するこ
とができる。
According to the eleventh aspect of the present invention, it is possible to easily form the connecting means for electrically connecting all the light shielding portions.

【0086】請求項12に記載の発明によれば、フォト
マスクの破壊が起こりにくいため、フォトマスク破壊に
よるカラーフィルタ製造の歩留まり低下を抑えることが
できる。
According to the twelfth aspect of the present invention, since the photomask is hardly destroyed, it is possible to suppress a decrease in the yield of the color filter due to the photomask being destroyed.

【0087】このように、本発明のフォトマスクを採用
することにより、フォトマスクの寿命を延ばすことでフ
ォトマスクの総製作枚数を低減でき、カラーフィルタの
コストダウンが可能となる。また、フォトマスクのパタ
ーンの破壊を抑制することで、カラーフィルタの画素欠
陥を減少させて歩留まりを向上させ、さらには、マスク
の交換回数が減少でき、ラインの稼働率を向上させるこ
とが可能となる。
As described above, by employing the photomask of the present invention, the total number of photomasks to be manufactured can be reduced by extending the life of the photomask, and the cost of the color filter can be reduced. In addition, by suppressing the destruction of the photomask pattern, it is possible to reduce the pixel defects of the color filter and improve the yield, and further, it is possible to reduce the number of mask replacements and improve the line availability. Become.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のフォトマスクの形状の概念図である。FIG. 1 is a conceptual diagram of the shape of a photomask of the present invention.

【図2】本発明のフォトマスクのつなぎパターン部分の
拡大概念図である。
FIG. 2 is an enlarged conceptual diagram of a connection pattern portion of the photomask of the present invention.

【図3】本発明のフォトマスクの一実施形態の平面図で
ある。
FIG. 3 is a plan view of one embodiment of the photomask of the present invention.

【図4】本発明のフォトマスクを用いた露光パターンの
平面図である。
FIG. 4 is a plan view of an exposure pattern using the photomask of the present invention.

【図5】本発明のフォトマスクを用いて作製したカラー
フィルタの一例の平面図である。
FIG. 5 is a plan view of an example of a color filter manufactured using the photomask of the present invention.

【図6】本発明のフォトマスクの一実施例の平面図であ
る。
FIG. 6 is a plan view of one embodiment of the photomask of the present invention.

【図7】顔料分散法でのカラーフィルタ製造の際に用い
るフォトマスクの形状の概念図である。
FIG. 7 is a conceptual diagram of a shape of a photomask used when a color filter is manufactured by a pigment dispersion method.

【図8】インクジェット法でのカラーフィルタ製造の際
に用いる従来のフォトマスクの形状の概念図である。
FIG. 8 is a conceptual diagram of the shape of a conventional photomask used when a color filter is manufactured by an inkjet method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 フォトマスク 12 遮光部 13 光透過部 121 つなぎパターン 122 内側遮光領域 123 周囲遮光領域 124 境界 128 孤立パターン 31 カラーフィルタ 32 有効画素 33 有効画素領域外縁 34 ダミー画素 35 ダミー画素領域外縁 36 着色領域 37 非着色領域 38 ブラックマトリクス DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Photomask 12 Light-shielding part 13 Light-transmitting part 121 Connecting pattern 122 Inner light-shielding area 123 Peripheral light-shielding area 124 Boundary 128 Isolated pattern 31 Color filter 32 Effective pixel 33 Effective pixel area outer edge 34 Dummy pixel 35 Dummy pixel area outer edge 36 Coloring area 37 Non Colored area 38 Black matrix

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 内側遮光領域と周囲遮光領域とからなる
所定のパターンの遮光部を有し、インクジェット法によ
ってカラーフィルタを製造する工程中で、ネガ型の感光
性樹脂層を露光するためのフォトマスクであって、前記
内側遮光領域と前記周囲遮光領域との間の電気的接続を
とる接続手段を少なくとも1つ有することを特徴とする
フォトマスク。
1. A photomask for exposing a negative photosensitive resin layer during a process of manufacturing a color filter by an inkjet method, comprising a light-shielding portion having a predetermined pattern comprising an inner light-shielding region and a peripheral light-shielding region. A photomask, comprising: at least one connection means for establishing an electrical connection between the inner light-shielding region and the peripheral light-shielding region.
【請求項2】 前記内側遮光領域は、カラーフィルタの
着色領域を形成するパターンであること、前記周囲遮光
領域は、カラーフィルタの前記着色領域の周囲を形成す
るパターンであること、を特徴とする請求項1に記載の
フォトマスク。
2. The method according to claim 1, wherein the inner light-shielding region is a pattern forming a colored region of a color filter, and the surrounding light-shielding region is a pattern forming a periphery of the colored region of a color filter. The photomask according to claim 1.
【請求項3】 前記接続手段は、前記内側遮光領域と前
記周囲遮光領域との両方につながる遮光部であるつなぎ
パターンであることを特徴とする請求項1又は2に記載
のフォトマスク。
3. The photomask according to claim 1, wherein the connection unit is a connection pattern that is a light shielding portion connected to both the inner light shielding region and the surrounding light shielding region.
【請求項4】 前記つなぎパターンの位置が、前記着色
領域を形成するパターンが列状に形成された該列の両端
のうちの、少なくとも片端の位置であることを特徴とす
る請求項3に記載のフォトマスク。
4. The connection pattern according to claim 3, wherein the position of the connection pattern is at least one end of both ends of the row in which the pattern forming the colored region is formed in a row. Photomask.
【請求項5】 前記つなぎパターンの位置が、前記列の
同じ側の片端群のうち、1つおきの片端に接する位置で
あることを特徴とする請求項4に記載のフォトマスク。
5. The photomask according to claim 4, wherein the position of the connection pattern is a position in contact with every other end of the one end group on the same side of the row.
【請求項6】 全ての前記遮光部の間で電気的接続がと
られていることを特徴とする請求項1から5のうちのい
ずれか1項に記載のフォトマスク。
6. The photomask according to claim 1, wherein electrical connection is established between all of the light-shielding portions.
【請求項7】 透明基板上に少なくとも所定のパターン
で遮光部を設けたフォトマスクにおいて、孤立した遮光
部である孤立パターンと、該孤立パターンの周辺の遮光
部である周辺パターンとを電気的に接続する接続手段を
少なくとも1つ有することを特徴とするフォトマスク。
7. In a photomask in which a light-shielding portion is provided at least in a predetermined pattern on a transparent substrate, an isolated pattern that is an isolated light-shielding portion and a peripheral pattern that is a light-shielding portion around the isolated pattern are electrically connected. A photomask having at least one connection means for connection.
【請求項8】 前記接続手段は、前記遮光部の全てが電
気的に接続されるように全ての前記孤立パターンに対し
て設けられていることを特徴とする請求項7に記載のフ
ォトマスク。
8. The photomask according to claim 7, wherein the connection means is provided for all of the isolated patterns so that all of the light-shielding portions are electrically connected.
【請求項9】 前記接続手段は、前記露光工程において
照射する光に対して透明な導電性材料からなることを特
徴とする請求項7又は8に記載のフォトマスク。
9. The photomask according to claim 7, wherein said connecting means is made of a conductive material transparent to light irradiated in said exposure step.
【請求項10】 前記接続手段は、前記孤立パターンと
前記周囲パターンとの両方に接触する部分を少なくとも
有する形状で前記導電性材料をパターニングして形成し
たことを特徴とする請求項9に記載のフォトマスク。
10. The method according to claim 9, wherein the connecting means is formed by patterning the conductive material in a shape having at least a portion that contacts both the isolated pattern and the peripheral pattern. Photo mask.
【請求項11】 前記接続手段は、前記透明基板上の一
面に前記遮光部の全てと接触する形で前記導電性材料を
成膜して形成されたことを特徴とする請求項10に記載
のフォトマスク。
11. The device according to claim 10, wherein the connection means is formed by forming the conductive material on one surface of the transparent substrate so as to be in contact with all of the light shielding portions. Photo mask.
【請求項12】 請求項1から11のうちのいずれか1
項に記載のフォトマスクを用いたことを特徴とするカラ
ーフィルタ製造方法。
12. One of claims 1 to 11
13. A method for producing a color filter, comprising using the photomask described in the section.
JP2001075429A 2001-03-16 2001-03-16 Photomask and color filter manufacturing method Withdrawn JP2002278048A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001075429A JP2002278048A (en) 2001-03-16 2001-03-16 Photomask and color filter manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001075429A JP2002278048A (en) 2001-03-16 2001-03-16 Photomask and color filter manufacturing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002278048A true JP2002278048A (en) 2002-09-27

Family

ID=18932512

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001075429A Withdrawn JP2002278048A (en) 2001-03-16 2001-03-16 Photomask and color filter manufacturing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002278048A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009086385A (en) * 2007-09-29 2009-04-23 Hoya Corp Photomask and method for manufacturing the same, and pattern transfer method
JP2009086384A (en) * 2007-09-29 2009-04-23 Hoya Corp Photomask and method for manufacturing the same, and pattern transfer method
KR20190111779A (en) * 2018-03-23 2019-10-02 호야 가부시키가이샤 Photomask, photomask blank, method of manufacturing photomask, and method of manufacturing electronic device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009086385A (en) * 2007-09-29 2009-04-23 Hoya Corp Photomask and method for manufacturing the same, and pattern transfer method
JP2009086384A (en) * 2007-09-29 2009-04-23 Hoya Corp Photomask and method for manufacturing the same, and pattern transfer method
KR20190111779A (en) * 2018-03-23 2019-10-02 호야 가부시키가이샤 Photomask, photomask blank, method of manufacturing photomask, and method of manufacturing electronic device
KR102193506B1 (en) 2018-03-23 2020-12-21 호야 가부시키가이샤 Photomask, photomask blank, method of manufacturing photomask, and method of manufacturing electronic device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6830856B2 (en) Method for fabricating color filter
US7524592B2 (en) Optical proximity correction mask and method of fabricating color filter
KR100638134B1 (en) Method of forming colored layers of color image display unit
KR100856015B1 (en) Liquid crystal display and electronic apparatus
KR100560184B1 (en) Color filter substrate, method for fabricating the color filter substrate, and display device
CN102419492B (en) Color filter array and manufacturing method thereof
US5684553A (en) Method for manufacturing color filter and multiple color liquid crystal display devices
JPH08271720A (en) Color filter, its production and liquid crystal display device
JP2002278048A (en) Photomask and color filter manufacturing method
KR20120018151A (en) Color filter, liquid crystal display device, and method for manufacturing color filter
JP2007034250A (en) Method for manufacturing color filter
JP2000298209A (en) Manufacture of color filter
US5528398A (en) Color liquid crystal device having color filters on the substrate with fewer electrodes
JPH08179307A (en) Production of image display panel
JP2842142B2 (en) Color filter for liquid crystal display
US20090086352A1 (en) Color filter structure and method of making the same
JPH0954209A (en) Formation of color filter
KR100642859B1 (en) method for manufacturing color filter
JP4095214B2 (en) Color filter for liquid crystal and manufacturing method thereof
JP2004198540A (en) Color filter manufacturing method and color filter
JP4578194B2 (en) Color filter and manufacturing method thereof
JP4977986B2 (en) Black matrix substrate
JP2002071929A (en) Method of manufacturing color filter substrate
US20040157139A1 (en) Method for fabricating color filter
JPH06281807A (en) Manufacture of color filter

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20080603