JP2002252268A - Holding device for conveying substrate - Google Patents

Holding device for conveying substrate

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JP2002252268A
JP2002252268A JP2001045932A JP2001045932A JP2002252268A JP 2002252268 A JP2002252268 A JP 2002252268A JP 2001045932 A JP2001045932 A JP 2001045932A JP 2001045932 A JP2001045932 A JP 2001045932A JP 2002252268 A JP2002252268 A JP 2002252268A
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JP
Japan
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substrate
movable claw
holding device
claw
holding
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Application number
JP2001045932A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazunari Matsuzaki
一成 松崎
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Yaskawa Electric Corp
Original Assignee
Yaskawa Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a holding device for conveying a substrate, which does not generate powder dust and can correct the central position of the substrate, having a small and thin positioning detector which hardly generates powder dust. SOLUTION: The holding device 1 for conveying a substrate, which holds the substrate W to convey it, comprises a plurality of holding claws 2, 4. At least one of these claws 2, 4 is a movable claw which pushes the substrate W to the other claw side, and the movable claw has a positioning detector 3 which can detect the moving position of the movable claw itself.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェハや液
晶ガラス基板など薄板状の基板を保持して搬送する基板
搬送用把持装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a holding device for transferring and holding a thin substrate such as a semiconductor wafer or a liquid crystal glass substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の基板の把持装置としては、基板の
裏面を真空吸着する装置や、基板周辺を押さえる装置
(エッジグリッピング)があったが、吸着痕が残るとい
った問題を無視できない場合には、真空吸着は使えない
ため、エッジグリッピングが有効な手段となっていた。
エッジグリッピングの方法としては基板のエッジを複数
個の把持爪で保持する装置がすでに提案されている(例
えば、特開平7−201947号公報)。
2. Description of the Related Art Conventionally, there are a device for holding a substrate under vacuum and a device for holding the periphery of a substrate (edge gripping) as a conventional device for holding a substrate. Since vacuum suction cannot be used, edge gripping has been an effective means.
As an edge gripping method, an apparatus for holding an edge of a substrate with a plurality of gripping claws has already been proposed (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-201947).

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この場
合、把持爪は片方が可動し、もう片方は固定されている
ため、基板外径に公差があると把持中心がずれ、その結
果基板の位置決め精度が低下するという問題があった。
このような問題に対しては、可動爪の変位を検出し、基
板中心を補正する方法が考えられるが、この場合には、
把持装置に検出機構を直接搭載する必要がある。しかし
ながら、従来使用されている検出器は、形状が大きく、
基板を取りに行った際、検出器が他の基板と干渉してし
まうといった問題があった。さらには、可動把持爪が基
板エッジに接触する際、その時の衝撃により、粉塵が発
生し基板表面を汚染してしまうという問題があった。本
発明は、このような問題を解消するためになされたもの
で、粉塵の発生がなく基板中心の補正を行うことができ
るとともに、粉塵をほとんど発生することがない、小型
でかつ、薄型の位置検出器を有する基板把持装置を提供
することを目的とするものである。
However, in this case, since one of the gripping claws is movable and the other is fixed, if there is a tolerance in the outer diameter of the substrate, the gripping center shifts, and as a result, the positioning accuracy of the substrate is reduced. However, there was a problem that was reduced.
For such a problem, a method of detecting the displacement of the movable claw and correcting the center of the substrate can be considered. In this case,
It is necessary to mount the detection mechanism directly on the gripping device. However, conventionally used detectors are large in shape,
When a substrate is picked up, there is a problem that the detector interferes with another substrate. Furthermore, when the movable gripper comes into contact with the edge of the substrate, there is a problem that dust is generated due to the impact at that time and the surface of the substrate is contaminated. The present invention has been made in order to solve such a problem, and it is possible to perform correction of the center of the substrate without generating dust, and to realize a small and thin position that hardly generates dust. It is an object of the present invention to provide a substrate holding device having a detector.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記問題を解決するた
め、本発明は、基板を保持して搬送する基板搬送用把持
装置において、前記基板を径方向に加圧して把持する複
数の把持爪を有し、かつ、この把持爪の少なくとも1個
が、他の把持爪側に前記基板を加圧する可動爪であり、
前記可動爪がそれ自身の移動状態を検知する位置検出装
置を具備するようにしたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention relates to a substrate transport gripping device for holding and transporting a substrate, wherein a plurality of gripping claws for radially pressing and gripping the substrate are provided. And at least one of the holding claws is a movable claw that presses the substrate toward the other holding claw side;
The movable claw is provided with a position detecting device for detecting a moving state of the movable claw itself.

【0005】[0005]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図に基づ
いて説明する。図1は、本発明の第1の実施例における
基板搬送用把持装置で、基板を把持した状態を示してい
る。図1において、1は基板把持装置で、Wは前記基板
把持装置1に把持された、半導体ウェハや液晶ガラス基
板などの薄板状の基板である。2は前記基板把持装置1
の上面の根元部に設けられた可動爪で、例えば図示しな
いエアーシリンダ等で矢印A方向に直線的に移動するよ
うに設定され、前記基板Wを径方向に押圧する。3は前
記可動爪2に設けられた位置検出器で、図示しない磁石
と磁界検出素子によって構成され、前記可動爪2の移動
量を検出している。4は固定爪で、例えば2個設置さ
れ、前記可動爪2で押圧された基板Wを受け止めてい
る。このような構成において、可動爪2と固定爪4とで
基板Wを保持するが、この場合、基板Wの中心は、固定
爪4の垂直2等分線上に位置することになる。固定爪4
間の距離は一定なので、基板Wの外径が変わると、可動
爪2の移動量が変化することになる。この基板Wの外径
寸法に応じた可動爪2の移動量を予め設定しておくこと
により、変化した移動量を前記位置検出器3で検出して
基板Wの外径寸法を算出することができる。これによ
り、基板Wの中心位置の補正を精度よく行うことができ
る。前記可動爪2の加圧方向の変位量Xは、図2に示す
ように、基準となる基板の半径をR0、被検出基板の半
径をR、固定爪4間の寸法をAとしたとき、次の(1)
式によって、算出することができる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a state in which a substrate is gripped by a substrate transfer gripping device according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a substrate holding device, and W denotes a thin substrate, such as a semiconductor wafer or a liquid crystal glass substrate, held by the substrate holding device 1. 2 is the substrate holding device 1
A movable claw provided at the base of the upper surface of the device is set to move linearly in the direction of arrow A by, for example, an air cylinder (not shown), and presses the substrate W in the radial direction. Reference numeral 3 denotes a position detector provided on the movable claw 2, which is constituted by a magnet and a magnetic field detection element (not shown), and detects a moving amount of the movable claw 2. Reference numeral 4 denotes fixed claws, for example, two fixed claws, which receive the substrate W pressed by the movable claws 2. In such a configuration, the substrate W is held by the movable claw 2 and the fixed claw 4. In this case, the center of the substrate W is located on a vertical bisector of the fixed claw 4. Fixed nail 4
Since the distance between them is constant, when the outer diameter of the substrate W changes, the moving amount of the movable claw 2 changes. By setting the amount of movement of the movable claw 2 according to the outer diameter of the substrate W in advance, the changed amount of movement can be detected by the position detector 3 to calculate the outer diameter of the substrate W. it can. This makes it possible to accurately correct the center position of the substrate W. As shown in FIG. 2, the displacement X of the movable claw 2 in the pressing direction is represented by R 0 , the radius of the substrate to be detected, R, and the dimension between the fixed claws 4 as A, as shown in FIG. And the following (1)
It can be calculated by an equation.

【0006】[0006]

【数1】 (Equation 1)

【0007】[第2の実施例]この第2の実施例におい
ては、図3に示すように、前記基板把持装置1上に、例
えばピニオンを有する回転駆動部5と、例えばラックを
有する回転−直動変換機構部6とを設けて、前記可動爪
2を、回転駆動部5の駆動で基板Wの径方向に移動させ
て基板Wを押圧するようにしている。位置検出器3は、
図4に示すように、前記回転駆動部5の回転部と同一的
に回転する、円盤形状でかつ単一方向に2極に磁化して
いる磁石7を有し、前記磁石7の円周面に対して垂直方
向に第1および第2の磁界検出素子8、9の感磁面を配
置して、磁気信号を検出するように構成されている。前
記第2の実施例における位置検出器が可動爪2そのもの
の移動量を検出するのに対して、この第3の実施例にお
ける位置検出器3は、回転駆動部5の回転部の回転位置
を検出する。前記回転部の回転角度の検出は次のように
してなされる。前記磁石が1回転すると、第1の磁界検
出素子8からは1周期の正弦波が生成される。さらに出
力信号の位相が90度ずれるように配置した第2の磁界
検出素子9からは1周期の余弦波が生成される。これに
より、正弦波、余弦波の関係を有する2つの信号を得る
ことができる。この2つの信号より逆正接を求めると、
前記回転駆動部5の回転部の回転角度を検出することが
でき、可動爪の移動量を算出することができる。前記回
転駆動部5の回転部の回転角度の変化量θは、図5に示
すように、基準となる基板の半径をR0 、被検出基板の
半径をR、回転駆動部5の回転部の半径をr、固定爪4
間の寸法をAとしたとき、次の(2)式によって、算出
することができる。
[Second Embodiment] In this second embodiment, as shown in FIG. 3, a rotary drive unit 5 having, for example, a pinion and a rotary drive having, for example, a rack are provided on the substrate holding device 1. A linear motion conversion mechanism 6 is provided to move the movable claw 2 in the radial direction of the substrate W by driving the rotation driving unit 5 so as to press the substrate W. The position detector 3
As shown in FIG. 4, there is provided a disk-shaped magnet 7 which is magnetized in two poles in a single direction and rotates in the same manner as the rotating part of the rotation driving part 5, and has a circumferential surface of the magnet 7. The magnetic sensing surfaces of the first and second magnetic field detection elements 8 and 9 are arranged in a direction perpendicular to the magnetic field detection device to detect a magnetic signal. While the position detector in the second embodiment detects the amount of movement of the movable claw 2 itself, the position detector 3 in the third embodiment determines the rotational position of the rotating part of the rotation drive unit 5. To detect. The detection of the rotation angle of the rotating unit is performed as follows. When the magnet makes one rotation, a sine wave of one cycle is generated from the first magnetic field detecting element 8. Further, the second magnetic field detecting element 9 arranged so that the phase of the output signal is shifted by 90 degrees generates a cosine wave of one cycle. As a result, two signals having a relationship of a sine wave and a cosine wave can be obtained. When the arc tangent is obtained from these two signals,
The rotation angle of the rotation unit of the rotation drive unit 5 can be detected, and the movement amount of the movable claw can be calculated. As shown in FIG. 5, the change amount θ of the rotation angle of the rotation unit of the rotation drive unit 5 is R 0 , the radius of the substrate to be detected is R, the radius of the detected substrate is R, and the rotation amount of the rotation unit of the rotation drive unit 5 is R. Radius r, fixed claw 4
Assuming that the dimension between them is A, it can be calculated by the following equation (2).

【0008】[0008]

【数2】 (Equation 2)

【0009】例えば、rを3mm、Aを170mm、R
0を150mmとしたときの前記回転駆動部5の回転部
の回転角度の変化量と基板Wの外径の誤差の関係をグラ
フにすると図6のようになり、ほぼ直線の関係になるこ
とがわかる。したがって、予め基準となる基板の外径
を、前記位置検出器3を用いて測っておき、この基準値
と比較することでばらつきのある基板Wの半径の誤差を
正確に検出することができ、基板Wの中心位置の補正が
可能になる。このように、第1の実施例および第2の実
施例とも、磁石と磁界検出素子という組み合わせにおい
て、薄い平面状の磁石と磁界検出素子として小型のホー
ル素子を用いることで把持装置に直接搭載可能な検出器
を構成することができる。さらに、衝撃による発塵の問
題に対しては、位置検出器3の信号を用いて、可動爪2
が基板Wと衝突する位置に近接したことを検知し、衝突
寸前に回転駆動の速度を落として、ゆっくりと接触させ
ることで、処理速度を大きく低下させることなく、基板
Wを把持し、発塵の発生を低減することが可能になる。
For example, r is 3 mm, A is 170 mm, R
FIG. 6 is a graph showing the relationship between the amount of change in the rotation angle of the rotation unit of the rotation drive unit 5 and the error in the outer diameter of the substrate W when 0 is set to 150 mm. Understand. Therefore, the outer diameter of the substrate serving as a reference is measured in advance by using the position detector 3, and by comparing with the reference value, an error in the radius of the substrate W having a variation can be accurately detected. The center position of the substrate W can be corrected. As described above, in both the first embodiment and the second embodiment, the combination of the magnet and the magnetic field detecting element can be directly mounted on the gripping device by using the thin flat magnet and the small Hall element as the magnetic field detecting element. A simple detector can be configured. Further, with respect to the problem of dust generation due to impact, the movable claw 2 is used by using the signal of the position detector 3.
Detects the proximity of the substrate to the position where it collides with the substrate W, reduces the rotational drive speed just before the collision, and makes the contact slowly, so that the substrate W is gripped without significantly lowering the processing speed, and dust is generated. Can be reduced.

【0010】[0010]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、基
板中心の補正を行うことができる小型で、かつ薄型の位
置検出器を提供することができるという効果がある。
As described above, according to the present invention, there is an effect that a small and thin position detector capable of correcting the center of the substrate can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1の実施例における基板搬送用把
持装置を示す平面図で、基板を把持した状態を示してい
る。
FIG. 1 is a plan view illustrating a holding device for transferring a substrate according to a first embodiment of the present invention, showing a state where a substrate is held.

【図2】 第1の実施例における(1)式の記号を説明
する図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining symbols of equation (1) in the first embodiment.

【図3】 本発明の第2の実施例における基板搬送用把
持装置を示す平面図で、基板を把持した状態を示してい
る。
FIG. 3 is a plan view illustrating a gripping device for transporting a substrate according to a second embodiment of the present invention, showing a state where the substrate is gripped.

【図4】 本発明の第2の実施例における位置検出器を
示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing a position detector according to a second embodiment of the present invention.

【図5】 第2の実施例における(2)式の記号を説明
する図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining symbols of Expression (2) in the second embodiment.

【図6】 回転駆動部5の回転部の回転角度の変化量と
基板の外径の誤差の関係を示すグラフである。
FIG. 6 is a graph showing a relationship between a change amount of a rotation angle of a rotation unit of a rotation drive unit 5 and an error of an outer diameter of a substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板把持装置、 2 可動爪、 3 位置検出器、 4 固定爪、 5 回転駆動部、 6 回転−直動変換駆動部、 7 磁石、 8 第1の磁気検出素子、 9 第2の磁気検出素子、 W 基板 Reference Signs List 1 substrate gripping device, 2 movable claw, 3 position detector, 4 fixed claw, 5 rotation drive unit, 6 rotation-linear motion conversion drive unit, 7 magnet, 8 first magnetic detection element, 9 second magnetic detection element , W substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B65G 49/07 B65G 49/07 F ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) B65G 49/07 B65G 49/07 F

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を保持して搬送する基板搬送用把持
装置において、 前記基板を径方向に加圧して把持する複数の把持爪を有
し、 かつ、この把持爪の少なくとも1個が、他の把持爪側に
前記基板を加圧する可動爪であり、前記可動爪がそれ自
身の移動状態を検知する位置検出装置を具備しているこ
とを特徴とする基板搬送用把持装置。
1. A holding device for transferring and holding a substrate, comprising: a plurality of holding claws for pressing the substrate in a radial direction by pressing the substrate in a radial direction; A movable claw that presses the substrate on a gripping claw side of the moving claw, and the movable claw includes a position detecting device that detects a moving state of the movable claw itself.
【請求項2】 前記可動爪の駆動部が、直線駆動装置で
構成されていることを特徴とする請求項1に記載の基板
搬送用把持装置。
2. The holding device for transporting a substrate according to claim 1, wherein the driving portion of the movable claw is constituted by a linear driving device.
【請求項3】 前記可動爪の駆動部が、回転駆動と、前
記回転駆動による回転運動を直線運動に変換する機構よ
り構成されていることを特徴とする請求項1に記載の基
板搬送用把持装置。
3. The substrate transfer grip according to claim 1, wherein the drive unit of the movable claw is constituted by a rotary drive and a mechanism for converting a rotary motion by the rotary drive into a linear motion. apparatus.
【請求項4】 前記可動爪の位置検出装置の源信号発生
部が、磁石と、磁石の回転位置に応じて異なる出力を発
生する磁界検出素子とからなることを特徴とする請求項
2または3に記載の基板搬送用把持装置。
4. The movable claw position detecting device according to claim 2, wherein said source signal generating section comprises a magnet and a magnetic field detecting element for generating a different output according to the rotational position of said magnet. 4. The holding device for transferring a substrate according to item 1.
【請求項5】 前記磁石の外形が円盤形状で、かつ単一
方向に2極に磁化していることを特徴とする請求項2か
ら4のいずれかの項に記載の基板搬送用把持装置。
5. The holding device for transporting a substrate according to claim 2, wherein the outer shape of the magnet is a disk shape and is magnetized in two poles in a single direction.
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