JP2002251965A - Substrate for plasma display panel - Google Patents
Substrate for plasma display panelInfo
- Publication number
- JP2002251965A JP2002251965A JP2001050088A JP2001050088A JP2002251965A JP 2002251965 A JP2002251965 A JP 2002251965A JP 2001050088 A JP2001050088 A JP 2001050088A JP 2001050088 A JP2001050088 A JP 2001050088A JP 2002251965 A JP2002251965 A JP 2002251965A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- warpage
- warp
- display panel
- plasma display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ガス放電を利用し
た自発光形式の平板ディスプレイであるプラズマディス
プレイパネル(以下、PDPと記す)の技術分野に属す
るものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention belongs to the technical field of a plasma display panel (hereinafter, referred to as a PDP) which is a self-luminous type flat panel display utilizing gas discharge.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、PDPは、2枚の対向する基板
にそれぞれ規則的に配列した一対の電極を設け、その間
にNe,Xe,He等を主体とするガスを封入した構造
になっている。そして、これらの電極間に電圧を印加
し、電極周辺の微小なセル内で放電を発生させることに
より、各セルを発光させて表示を行うようにしている。
情報表示をするためには、規則的に並んだセルを選択的
に放電発光させる。このPDPには、電極が放電空間に
露出している直流型(DC型)と絶縁層で覆われている
交流型(AC型)の2タイプがあり、双方とも表示機能
や駆動方法の違いによって、さらにリフレッシュ駆動方
式とメモリー駆動方式とに分類される。2. Description of the Related Art In general, a PDP has a structure in which a pair of electrodes arranged regularly on two opposing substrates is provided, and a gas mainly composed of Ne, Xe, He or the like is sealed between the electrodes. . Then, a voltage is applied between these electrodes, and a discharge is generated in minute cells around the electrodes, so that each cell emits light and display is performed.
In order to display information, regularly arranged cells are selectively caused to emit light. There are two types of PDPs, a direct current type (DC type) in which the electrodes are exposed to the discharge space, and an alternating current type (AC type) in which the electrodes are covered with an insulating layer. And a refresh driving method and a memory driving method.
【0003】図1にAC型PDPの一構成例を示す。こ
の図は前面板と背面板を離した状態で示したもので、図
示のように2枚のガラス基板1,2が互いに平行に且つ
対向して配設されており、両者は背面板となるガラス基
板2上に互いに平行に設けられたバリヤーリブ3により
一定の間隔に保持されるようになっている。前面板とな
るガラス基板1の背面側には透明電極である維持電極4
と金属電極であるバス電極5とで構成される複合電極が
互いに平行に形成され、これを覆って誘電体層6が形成
されており、さらにその上に保護層7(MgO層)が形
成されている。また、背面板となるガラス基板2の前面
側には前記複合電極と直交するようにバリヤーリブ3の
間に位置してアドレス電極8が互いに平行に形成されて
おり、これを覆って誘電体層9が形成され、さらにバリ
ヤーリブ3の壁面とセル底面を覆うようにして蛍光体1
0が設けられている。このAC型PDPは面放電型であ
って、前面板上の複合電極間に交流電圧を印加し、放電
させる構造である。そしてこの放電により生じる紫外線
により蛍光体10を発光させ、前面板を透過する光を観
察者が視認するようになっている。FIG. 1 shows a configuration example of an AC type PDP. This figure shows the front plate and the rear plate separated from each other. As shown, two glass substrates 1 and 2 are arranged in parallel with each other and face each other, and both become the rear plate. Barrier ribs 3 provided in parallel with each other on the glass substrate 2 are held at regular intervals. On the back side of the glass substrate 1 serving as a front plate, a sustain electrode 4 which is a transparent electrode
A composite electrode composed of a metal electrode and a bus electrode 5 is formed in parallel with each other, a dielectric layer 6 is formed to cover the composite electrode, and a protective layer 7 (MgO layer) is further formed thereon. ing. On the front side of the glass substrate 2 serving as a back plate, address electrodes 8 are formed between the barrier ribs 3 so as to be orthogonal to the composite electrode and parallel to each other. Are formed, and the fluorescent material 1 is formed so as to cover the wall surface of the barrier rib 3 and the cell bottom surface.
0 is provided. This AC type PDP is of a surface discharge type, and has a structure in which an AC voltage is applied between composite electrodes on the front panel to discharge. Then, the phosphor 10 emits light by the ultraviolet light generated by the discharge, so that an observer can visually recognize the light transmitted through the front plate.
【0004】上記の如きPDPにおける背面板は、ガラ
ス基板2の表面に下地層を設けてからその上にアドレス
電極8を形成し、必要に応じてそれを覆うようにベタ膜
の誘電体層9を形成した後、バリヤーリブ3を形成して
そのバリヤーリブ3の間に蛍光体10を設けることによ
って製造される。また、前面板は、ガラス基板1の表面
に下地層を設けてからその上に維持電極4とバス電極5
を重ねて形成し、それを覆って誘電体層6を形成し、さ
らに保護層7を形成することで作製される。そして、こ
のようにそれぞれ膜面を形成した両基板を、外周に沿っ
てシール剤にて貼り合わせてから、ガスを封入すること
によりPDPが製造される。[0004] The back plate of the PDP is provided with an underlayer on the surface of the glass substrate 2 and then forming an address electrode 8 on the underlayer and, if necessary, covering the dielectric layer 9 with a solid film. Is formed, barrier ribs 3 are formed, and a phosphor 10 is provided between the barrier ribs 3. Further, the front plate is formed by providing a base layer on the surface of the glass substrate 1 and then holding the sustain electrode 4 and the bus electrode 5 on the base layer.
Are formed in a stack, and a dielectric layer 6 is formed so as to cover it, and a protective layer 7 is further formed. Then, the PDP is manufactured by bonding the two substrates having the respective film surfaces thus formed along the outer periphery with a sealant, and then sealing the gas.
【0005】上記のように、PDPは別々に作製した前
面板と背面板を外周においてシール剤にて貼り合わせる
ため、それぞれの基板に反りのないことが理想である。
しかし、PDPは32〜60インチのものが作られてお
り、このような大型のものではどうしても基板に反りが
生じやすい。この基板の反りに関しては、各社ごとに様
々な基準があるが、反りの測定方法としては、図2に示
すように、定盤Bの上に基板Gを載置し、隙間ゲージも
しくはダイヤルゲージを用いてその反り量を測定する方
法が一般的に採られている。さらにこの方法において許
容される基板Gの反りの方向は、基板Gの膜面側を凸と
するのが一般的である。これは前面板と背面板のそれぞ
れの基板が凹型に反っていると貼り合わせ時に空隙がで
きやすい点を考慮しているからである。[0005] As described above, since the front panel and the rear panel of the PDP which are separately manufactured are bonded together with a sealant on the outer periphery, it is ideal that the respective substrates have no warpage.
However, PDPs having a size of 32 to 60 inches are manufactured, and such large ones are liable to warp the substrate. Regarding the warpage of the substrate, there are various standards for each company, but as a method of measuring the warpage, as shown in FIG. 2, a substrate G is placed on a surface plate B, and a gap gauge or a dial gauge is used. In general, a method of measuring the amount of warpage using such a method is employed. Further, the direction of warpage of the substrate G allowed in this method is generally such that the film surface side of the substrate G is convex. This is because, when the respective substrates of the front plate and the back plate are warped in a concave shape, a gap is easily formed at the time of bonding.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】従来行われている反り
の測定方法は、基板サイズが大きくなった場合の重力に
よる基板Gの変形を考慮していない。すなわち、基板G
にある程度の反りがあっても、定盤Bの上に載置すると
図2に示すように重力により中程が落ち込み、隙間ゲー
ジやダイヤルゲージによる測定値は実際の反りよりも小
さな値となってしまい、反り量を正確に把握できないと
いう問題点がある。その結果、本来反り量として問題の
ある基板が良品として流出することになる。そして、反
り量が大き過ぎる基板は、貼り合わせた場合に、その形
状が複雑になり、輸送時における振動や衝撃によりリブ
欠損を起こしやすくなることが分かった。The conventional method for measuring the warp does not take into account the deformation of the substrate G due to gravity when the substrate size increases. That is, the substrate G
Even if there is a certain amount of warpage, when it is placed on the surface plate B, the middle part drops due to gravity as shown in FIG. 2, and the measured value by the gap gauge or dial gauge becomes smaller than the actual warp. As a result, there is a problem that the amount of warpage cannot be accurately grasped. As a result, a substrate that originally has a problem in the amount of warpage flows out as a non-defective product. Then, it has been found that the shape of a substrate having an excessively large warpage becomes complicated when the substrates are bonded together, and that ribs are easily caused by vibration or impact during transportation.
【0007】本発明は、このような問題点に鑑みててさ
れたものであり、その目的とするところは、実際の反り
を正確に把握し、反りが良品としての所定範囲内にある
PDP用基板を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to accurately grasp an actual warp and use a PDP having a warp within a predetermined range as a non-defective product. It is to provide a substrate.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明のPDP用基板は、膜面側が凸になる向きに
反りのあるPDP用基板であって、立てた状態での基板
における対向する2辺に渡って当接させた直定規を基準
に測定した場合に、反り量が0.15%以下であること
を特徴としている。Means for Solving the Problems To achieve the above object, a PDP substrate of the present invention is a PDP substrate that is warped in a direction in which the film surface side is convex, and is used in a substrate in an upright state. It is characterized in that the amount of warpage is 0.15% or less when measured based on a straight ruler contacted over two opposing sides.
【0009】[0009]
【発明の実施の形態】図3は反り量を測定する方法の具
体例を示した説明図であり、同図に示される方法の場
合、基板Gは図示の如く一対の縦板11,12とこれを
連結する一枚の底板13とを備えた測定用のフレームの
中にセットされる。縦板11,12にはそれぞれ内側に
縦方向の溝14が少なくとも1本以上形成されており、
底板13には2〜3個の台座15が配置されている。縦
板11,12の溝14は、基板Gを遊嵌して垂直に立て
ることができればよいので、幅や形状は適宜選択する。
台座15は基板Gを支えるもので、クッション性のある
ものが好ましい。FIG. 3 is an explanatory view showing a specific example of a method for measuring the amount of warpage. In the case of the method shown in FIG. 3, a substrate G is made up of a pair of vertical plates 11 and 12 as shown in FIG. It is set in a frame for measurement provided with a single bottom plate 13 for connecting it. Each of the vertical plates 11 and 12 has at least one or more vertical grooves 14 formed on the inner side thereof.
Two or three pedestals 15 are arranged on the bottom plate 13. The width and the shape of the grooves 14 of the vertical plates 11 and 12 are appropriately selected as long as the grooves can be vertically set by loosely fitting the substrate G.
The pedestal 15 supports the substrate G, and preferably has a cushioning property.
【0010】測定に際しては、図3に示すように、基板
Gをフレームの中に立てた後、縦板11,12の上端縁
に直定規16を載せ、その直定規16を基板Gの対向す
る両側辺に当接させた状態とする。なお、基板Gは、製
造工程において焼成を経る段階で、膜面側が凸になる向
きに反りがあるようになっている。すなわち、図3では
向こう側に膜面が形成されている。そして、直定規16
を基準にして基板Gの反り量を隙間ゲージやダイヤルゲ
ージで測定する。この直定規16は、基板Gに当接する
一辺が長さ方向に真っ直ぐであることが必要があり、加
工性や重量の点からアルミ製の角材やH型材が好ましい
が、材質は特に限定されるものではない。PDPの基板
サイズを考えると、直定規16としては、長さが140
〜150cmで、2〜3cm角程度の角材やH型材が扱
いやすい。At the time of measurement, as shown in FIG. 3, after the substrate G is set in a frame, a straight ruler 16 is placed on the upper end edges of the vertical plates 11 and 12, and the straight ruler 16 faces the substrate G. It is in a state of contacting both sides. It should be noted that the substrate G is warped in a direction in which the film surface side becomes convex at the stage of firing in the manufacturing process. That is, the film surface is formed on the other side in FIG. And the straightedge 16
The warpage of the substrate G is measured with a gap gauge or a dial gauge on the basis of. The straight ruler 16 needs to have a straight side in contact with the substrate G in the length direction, and is preferably an aluminum square or H-shaped material in terms of workability and weight, but the material is particularly limited. Not something. Considering the substrate size of the PDP, the straight ruler 16 has a length of 140
It is easy to handle square wood and H-shaped wood of about 2 to 3 cm square at ~ 150 cm.
【0011】図3に示す状態では、直定規16を基準ラ
インとして基板Gの長辺側反り量を測定することができ
る。そして、台座15の高さを替えることにより、或い
は基板Gの向きを上下逆にすることにより、複数の基準
ラインで長辺側反り量を測定できる。また、幅の狭い別
のフレームに移し、縦横を入れ替えて基板Gを立てるこ
とにより、基板Gの短辺側反り量を測定することができ
る。In the state shown in FIG. 3, the amount of warpage on the long side of the substrate G can be measured using the straight ruler 16 as a reference line. Then, by changing the height of the pedestal 15 or by turning the substrate G upside down, the amount of warpage on the long side can be measured with a plurality of reference lines. In addition, by moving the board G to another frame having a small width and setting the board G upside down, the amount of warpage on the short side of the board G can be measured.
【0012】図4は基板の反りの測定例を示す説明図で
ある。まず図3に示す状態で、基準ラインaに対する基
板Gの反り量を測定する。次に、図3にて基板Gを上下
逆にセットすることで、基準ラインbに対する基板Gの
反り量を測定する。また、幅の狭いフレームに移し、縦
横を変えて基板Gを立てることで、基準ラインcに対す
る基板Gの反り量を測定する。そして、3つの基準ライ
ンa,b,cすべての反り量が0.15%以下にあるも
のを良品として出荷する。FIG. 4 is an explanatory view showing an example of measuring the warpage of the substrate. First, in the state shown in FIG. 3, the amount of warpage of the substrate G with respect to the reference line a is measured. Next, the amount of warpage of the substrate G with respect to the reference line b is measured by setting the substrate G upside down in FIG. In addition, the substrate G is moved to a frame having a small width, and the length of the substrate G is changed, so that the warpage of the substrate G with respect to the reference line c is measured. Then, the three reference lines a, b, and c having a warpage of 0.15% or less are shipped as non-defective products.
【0013】このように、複数の基準ラインで基板の反
りを測定し、その測定値が所定の範囲内にある基板を良
品とする。そして、基板の反り量が0.15%以内とす
る方法として、もともと反りの少ないガラス基板を用い
ることは当然であるが、製造ラインにて複数回ある焼成
工程において、基板を載せるセッター板の反りを管理す
る方法を採るのが望ましい。As described above, the warpage of a substrate is measured on a plurality of reference lines, and a substrate whose measured value is within a predetermined range is regarded as a non-defective product. As a method for keeping the warpage of the substrate within 0.15%, it is natural to use a glass substrate having a small warpage from the beginning. It is desirable to adopt a method of managing
【0014】[0014]
【実施例】サイズが1000×600mmで厚さが2.
8cmのガラス基板を用いて背面板を、またサイズが1
050×550mmで厚さが2.8cmのガラス基板を
用いて背面板をそれぞれ複数枚ずつ作成し、その各基板
の反り量を図4で説明した方法により測定した。そし
て、表1に示す組合せで前面板と背面板を使用し、それ
らを外周においてシール剤にて貼り合わせ、ガスを封入
してパネル化した。このようにして製造したPDPの輸
送(通常の輸送)を行ってリブの欠損状態の有無をチェ
ックした。その結果を表1に示す。反り量の最大値は、
2つの長辺側反り量と1つの短辺側反り量のうちの最大
のものを採用した。なお、リブ欠損が僅かでも認められ
る場合は×印とした。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The size is 1000 × 600 mm and the thickness is 2.
8cm glass substrate, back plate, size 1
Using a glass substrate of 050 × 550 mm and a thickness of 2.8 cm, a plurality of back plates were formed, and the amount of warpage of each substrate was measured by the method described with reference to FIG. Then, a front plate and a back plate were used in the combinations shown in Table 1, and they were attached to each other with a sealant on the outer periphery, and gas was sealed to form a panel. The PDP manufactured in this manner was transported (normal transport), and the presence or absence of rib deficiency was checked. Table 1 shows the results. The maximum value of the amount of warpage is
The largest of the two long side warpage amounts and one short side warpage amount was employed. In addition, when the rib deficiency was recognized even a little, it was marked with x.
【0015】[0015]
【表1】 [Table 1]
【0016】表1から明らかなように、前面板と背面板
のいずれについても、その反り量の最大値が1.5%以
内にない場合、これらを組み合わせたPDPは輸送時の
振動や衝撃でリブに欠損が生じることが分かる。As is clear from Table 1, when the maximum value of the warpage of each of the front plate and the rear plate is not within 1.5%, the PDP obtained by combining them is subject to vibration and impact during transportation. It can be seen that the ribs have defects.
【0017】[0017]
【発明の効果】以上説明したように、本発明のPDP用
基板は、膜面側が凸になる向きに反りのあるPDP用基
板であって、立てた状態での基板における対向する2辺
に渡って当接させた直定規を基準に測定した場合に、反
り量が0.15%以下であることを特徴しているので、
実際の反りを正確に把握したものとなり、しかもその反
りが良品としての所定範囲内にあることから、パネル化
した時に空隙を生じず、輸送時においてリブ欠損を生じ
るようなことがない。As described above, the PDP substrate of the present invention is a PDP substrate which is warped in a direction in which the film surface side becomes convex, and extends over two opposing sides of the substrate in an upright state. It is characterized by the fact that the amount of warpage is 0.15% or less when measured based on a straight ruler contacted with
Since the actual warpage is accurately grasped, and since the warpage is within a predetermined range as a non-defective product, no void is generated when the panel is formed, and no rib defect occurs during transportation.
【図1】プラズマディスプレイパネルの一例をその前面
板と背面板とを離間状態で示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an example of a plasma display panel in which a front plate and a back plate are separated from each other.
【図2】従来の反り測定法を示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory view showing a conventional warpage measurement method.
【図3】反り量を測定する方法の具体例を示した説明図
であある。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a specific example of a method for measuring the amount of warpage.
【図4】基板の反りの測定例を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of measuring the warpage of a substrate.
1,2 ガラス基板 3 リブ 4 維持電極 5 バス電極 6 誘電体層 7 保護層 8 アドレス電極 9 誘電体層 10 蛍光体 11,12 縦板 13 底板 14 溝 15 台座 G 基板 1, glass substrate 3 rib 4 sustain electrode 5 bus electrode 6 dielectric layer 7 protective layer 8 address electrode 9 dielectric layer 10 phosphor 11, 12 vertical plate 13 bottom plate 14 groove 15 pedestal G substrate
Claims (1)
ズマディスプレイパネル用基板であって、立てた状態で
の基板における対向する2辺に渡って当接させた直定規
を基準に測定した場合に、反り量が0.15%以下であ
ることを特徴とするプラズマディスプレイパネル用基
板。1. A substrate for a plasma display panel which is warped in a direction in which a film surface side becomes convex, and is measured based on a straight ruler which is in contact with two opposing sides of the substrate in an upright state. A substrate for a plasma display panel, wherein the amount of warpage is 0.15% or less.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001050088A JP2002251965A (en) | 2001-02-26 | 2001-02-26 | Substrate for plasma display panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001050088A JP2002251965A (en) | 2001-02-26 | 2001-02-26 | Substrate for plasma display panel |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002251965A true JP2002251965A (en) | 2002-09-06 |
Family
ID=18911104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001050088A Pending JP2002251965A (en) | 2001-02-26 | 2001-02-26 | Substrate for plasma display panel |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002251965A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009117301A (en) * | 2007-11-09 | 2009-05-28 | Nippon Electric Glass Co Ltd | Glass substrate and method of inspecting warpage in glass substrate |
-
2001
- 2001-02-26 JP JP2001050088A patent/JP2002251965A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009117301A (en) * | 2007-11-09 | 2009-05-28 | Nippon Electric Glass Co Ltd | Glass substrate and method of inspecting warpage in glass substrate |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2002251965A (en) | Substrate for plasma display panel | |
US7456572B2 (en) | Plasma display panel and method of manufacturing back panel thereof | |
TW556241B (en) | Panel for discharging within cells positioned on a pair of line electrodes | |
KR100550986B1 (en) | Glass substrate cutting machine and plasma display panel manufacturing method | |
US20080122356A1 (en) | Plasma display panel | |
KR100634710B1 (en) | Manufacturing Method for Plasma Display Panel | |
JP2007335138A (en) | Manufacturing method of plasma display panel | |
TW578194B (en) | Measurement method of dielectric thickness and device thereof | |
JP2006120633A (en) | Plasma display panel and its manufacturing method | |
KR100589359B1 (en) | Plasma display pannel | |
JP3373507B1 (en) | Surface discharge type plasma display device | |
KR19990034684A (en) | Bulkhead Structure for Plasma Display Panel and Formation Method | |
JP3625809B2 (en) | Barrier correction method | |
KR100489875B1 (en) | Plasma display panel | |
Hirakawa et al. | A light and flexible plasma tube array with a film substrate | |
JP2006269258A (en) | Gas discharge display panel | |
US20050099123A1 (en) | Sealing structure and plasma display panel employing the same | |
KR20060019340A (en) | Method for manufacturing plasma display panel | |
TW567323B (en) | Device and method to inspect the broken electrode in plasma display panel | |
KR20060006362A (en) | Device for fixing plasma display panel | |
JP2008091044A (en) | Evaluation method of base board for displaying | |
JP4161817B2 (en) | Plasma display panel | |
KR100684755B1 (en) | Plasma display panel | |
JP2006134887A (en) | Plasma display panel | |
JP2003036792A (en) | Surface discharge type plasma display device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060322 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20071022 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080502 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20080610 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20080619 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20081010 |