JP2002251797A - Blank master and its manufacturing method - Google Patents

Blank master and its manufacturing method

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JP2002251797A
JP2002251797A JP2001385778A JP2001385778A JP2002251797A JP 2002251797 A JP2002251797 A JP 2002251797A JP 2001385778 A JP2001385778 A JP 2001385778A JP 2001385778 A JP2001385778 A JP 2001385778A JP 2002251797 A JP2002251797 A JP 2002251797A
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JP
Japan
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photoresist
substrate
rotation speed
photoresist layer
blank master
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JP2001385778A
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Japanese (ja)
Inventor
Takashi Daiko
高志 大胡
Tetsuya Kondo
哲也 近藤
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Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable strict control at positions of boundaries with different thickness and to facilitate formation of signals with different depth in small mirror areas in the same disk, related to a disk in which a plurality of areas coexist. SOLUTION: This blank master is provided with a process to drop photoresist solution on a substrate rotated at a first rotation speed, a second process to form a first photoresist layer by throwing off the photoresist solution by rotating the substrate at a second rotation speed faster than the first one, a third process to drop the photoresist solution on the substrate from a prescribed position again at a state where the substrate is rotated at a third rotation speed and a fourth process to form a second photoresist layer by throwing off the photoresist solution dropped again by rotating the substrate at a fourth rotation speed faster than the third rotation speed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ユーザーによる書
き込みが可能な情報記録媒体を作製するためのブランク
マスター及びブランクマスターの製造方法に関し、特に
追記型光ディスクや書換型光ディスク、再生専用型光デ
ィスクと追記型光ディスク又は書換型光ディスクとが一
枚のディスクの同一面上に形成された、いわゆるパーシ
ャルROM型光ディスクに適用したブランクマスター及
びブランクマスターの製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a blank master for producing a user-writable information recording medium and a method of manufacturing the blank master, and more particularly to a write-once optical disc, a rewritable optical disc, and a read-only optical disc. The present invention relates to a blank master applied to a so-called partial ROM optical disk in which a type optical disk or a rewritable optical disk is formed on the same surface of a single disk, and a method of manufacturing a blank master.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般的に、光ディスクは記録容量が大き
く、非接触によって再生できることから、CD、LD、
DVD等のROM型の記録媒体や、CD−R、DVD−
R等の追記型の記録媒体、CD−RW、DVD−RA
M、DVD−RW等の書換型の記録媒体に幅広く利用さ
れている。
2. Description of the Related Art Generally, an optical disk has a large recording capacity and can be reproduced without contact.
ROM-type recording media such as DVD, CD-R, DVD-
R and other write-once recording media, CD-RW, DVD-RA
It is widely used for rewritable recording media such as M and DVD-RW.

【0003】図6は光ディスクの作製工程を示す図であ
る。まず、表面を研磨洗浄したガラス基盤20に対して
スピンコート法等によりフォトレジスト層21を形成し
ブランクマスターを作製する(図6のa)。
FIG. 6 is a diagram showing a manufacturing process of an optical disk. First, a photoresist layer 21 is formed on a glass substrate 20 whose surface is polished and cleaned by a spin coating method or the like, and a blank master is manufactured (FIG. 6A).

【0004】次に、Ar、Kr、He−Cdレーザ等の
ビーム22をレンズ23によって集光して縮小スポット
をフォトレジスト層21が形成されたガラス基盤20に
照射する。このとき、ガラス基盤20を回転させ、且つ
一定の速度で移動させながら、レーザビーム22をON
状態、OFF状態で切り換えて照射したり、レーザービ
ーム22を連続照射したりすることでピット及びグルー
ブの潜像24をスパイラル(らせん)状に形成する(図
6のb)。
Next, a beam 22 such as an Ar, Kr, He—Cd laser or the like is condensed by a lens 23 and a reduced spot is irradiated on a glass substrate 20 on which a photoresist layer 21 is formed. At this time, the laser beam 22 is turned on while rotating the glass substrate 20 and moving it at a constant speed.
The latent image 24 of the pits and grooves is formed in a spiral shape by irradiating the laser light while switching between the state and the OFF state or continuously irradiating the laser beam 22 (FIG. 6B).

【0005】そして、アルカリ溶液による現像処理を施
すことによりピット及びグルーブのパターン25の形成
されたガラス原盤20が作製される(図6のc)。
[0005] Then, a glass master 20 on which a pit and groove pattern 25 is formed is produced by performing development processing with an alkaline solution (FIG. 6C).

【0006】このように作製されたガラス原盤20の表
面にスパッタ又は無電解メッキ等の方法によってニッケ
ル等の導電性膜26を成膜する(図6のd)。
[0006] A conductive film 26 of nickel or the like is formed on the surface of the glass master 20 manufactured as described above by a method such as sputtering or electroless plating (FIG. 6D).

【0007】この導電性膜26を陰極とするとともに、
陽極側にニッケルを配置して、スルファミン酸ニッケル
溶液中にて通電させることでガラス原盤20上にニッケ
ル27を析出させる(図6のe)。
[0007] While this conductive film 26 is used as a cathode,
Nickel 27 is deposited on the glass master 20 by arranging nickel on the anode side and applying a current in a nickel sulfamate solution (e in FIG. 6).

【0008】そして、上述したように析出させたニッケ
ル27をガラス原盤20から剥離することによって信号
パターンの形成された金属原盤、すなわちスタンパー2
8が作製される(図6のf)。
[0008] Then, the nickel 27 deposited as described above is peeled from the glass master 20 to form a metal master on which a signal pattern is formed, that is, the stamper 2.
8 is produced (f in FIG. 6).

【0009】以上が原盤作製の工程の概略であり、この
ようにして作製されたスタンパー28を利用してディス
ク化工程によって光ディスクの量産を行う。まず、スタ
ンパー28は内外径加工又は裏面研磨等の後処理が施さ
れた後、成形機に設置される成形金型に組み込まれる。
成形方法としては、光透過性を有するアクリル、ポリカ
ーボネート樹脂等の合成樹脂を材料として、コンプレッ
ション(圧縮成形)法、インジェクション(射出成形)
法、或いは、フォトポリマー(2P)法等によって、ス
タンパー28を雌型とした雄型のモールド基板29が作
製される(図6のg)。
The above is an outline of the master disk manufacturing process. The optical disk is mass-produced by the disk forming process using the stamper 28 manufactured as described above. First, the stamper 28 is subjected to post-processing such as inner / outer diameter processing or back surface polishing, and then incorporated into a molding die installed in a molding machine.
As a molding method, a compression (compression molding) method, an injection (injection molding) method using a synthetic resin such as acrylic resin or polycarbonate resin having a light transmitting property as a material.
A male mold substrate 29 having the stamper 28 as a female mold is manufactured by a method or a photopolymer (2P) method (g in FIG. 6).

【0010】次に、成膜工程が行われる。スタンパー2
8の凹凸パターンに対応した凹凸パターンが転写され、
情報信号に基づくスタンパー28の凸部に対応した凹
部、すなわち、ピット30が形成されたモールド基板2
9の一方の主面側にアルミニウム等を成膜して反射層3
1が形成される。なお、成膜方法としては蒸着やスパッ
タリング法が用いられる(図6のh)。
Next, a film forming step is performed. Stamper 2
The uneven pattern corresponding to the uneven pattern of No. 8 is transferred,
A concave portion corresponding to the convex portion of the stamper 28 based on the information signal, that is, the mold substrate 2 on which the pit 30 is formed.
9 is coated with aluminum or the like on one main surface side to form a reflective layer 3
1 is formed. In addition, as a film forming method, a vapor deposition or sputtering method is used (h in FIG. 6).

【0011】更に、上述した反射層31を保護するため
に、アクリル系の紫外線硬化樹脂等をスプレー法、ロー
トコール法、或いはスピンコート法等により塗布、硬化
させて保護層32を形成する(図6のi)。そして、保
護層32上に紫外線硬化型インク等によりレーベル部3
3を形成することにより、光ディスクが完成する(図6
j)。
Further, in order to protect the reflective layer 31 described above, an acrylic UV curable resin or the like is applied and cured by a spray method, a rotocoal method, a spin coating method or the like to form a protective layer 32 (FIG. 1). 6i). Then, the label portion 3 is coated on the protective layer 32 with an ultraviolet curable ink or the like.
3 is completed to complete the optical disk (FIG. 6).
j).

【0012】ところで、近年、追記型光ディスク、書換
型光ディスクの応用として、情報再生専用領域と、ユー
ザが記録できる情報記録可能領域とが混在した光ディス
クが提案され、商品化されている。例えば、内周側にピ
ットを記録して再生専用領域として、外周側にトラッキ
ング用ガイドグルーブを記録しておくことにより記録可
能領域とする光ディスクがある。この光ディスクの再生
専用領域に記録される情報としては、例えば記録用グル
ーブのアドレス情報であったり、記録ディスクの種類や
メーカーを示すための情報であったり、不正なコピーを
防止するためのディスク管理情報であったりする。
In recent years, as an application of a write-once optical disk or a rewritable optical disk, an optical disk in which an information reproduction-only area and an information recordable area in which a user can record information has been proposed and commercialized. For example, there is an optical disc in which pits are recorded on an inner peripheral side as a read-only area, and a guide groove for tracking is recorded on an outer peripheral side to be a recordable area. The information recorded in the read-only area of the optical disc is, for example, address information of a recording groove, information for indicating the type and manufacturer of a recording disc, and disc management for preventing unauthorized copying. Or information.

【0013】通常、ピットを有する光ディスクにおいて
は、信号をピット部とそうでない部分との位相差を利用
して検出するため、ピット深さをλ/4n(λ:再生レ
ーザー光の波長、n:基板の屈折率)付近に設定する。
一方、グルーブを有する光ディスクにおいて、そのグル
ーブは記録時に光学ヘッドがグルーブを正確に追従する
ための案内溝として存在しており、情報が記録された後
は記録されたマーク列を頼りにトラッキングをとるため
に、グルーブの深さは、記録前にトラッキングがとりや
すく、且つ、記録後は記録マークの信号品質が良好とな
る深さに設定される。
Usually, in an optical disk having pits, a signal is detected by using a phase difference between a pit portion and a non-pit portion, so that the pit depth is λ / 4n (λ: wavelength of a reproducing laser beam, n: (Refractive index of the substrate).
On the other hand, in an optical disk having a groove, the groove exists as a guide groove for an optical head to accurately follow the groove during recording, and after information is recorded, tracking is performed by relying on a recorded mark row. Therefore, the depth of the groove is set to a depth at which tracking can be easily performed before recording, and the signal quality of the recording mark after recording is good.

【0014】また、ランドグルーブ記録方式の場合は、
ランドに記録されたマークを検出するときに隣接するグ
ルーブからの信号の影響が少なくなるような深さに設定
されるが、一般的にはその深さはλ/6n付近か、もし
くはそれ以下の値に設定される。
In the case of the land / groove recording method,
When detecting a mark recorded on a land, the depth is set so that the influence of a signal from an adjacent groove is reduced. In general, the depth is around λ / 6n or less. Set to value.

【0015】このように、ピット及びグルーブには、そ
れぞれに対して最適な深さが存在するため、ピットとグ
ルーブが混在するような光ディスクの場合には、ピット
部とグルーブ部でその深さを変えなければならない。と
ころが、前述したような通常の光ディスク原盤の製造工
程を経て作製された光ディスクでは、ピット部とグルー
ブ部との深さは自ずと同一のものとなってしまう。
As described above, since the pit and the groove have an optimum depth for each, in the case of an optical disk in which the pit and the groove are mixed, the depth is set in the pit and the groove. I have to change. However, in an optical disk manufactured through the above-described ordinary optical disk master manufacturing process, the depths of the pit portion and the groove portion are naturally the same.

【0016】例えば、DVD−RWの光ディスクにおい
ては、記録したマークの信号品質(変調度、ジッター)
が良好となることを考慮したために、グルーブ深さは非
常に浅くなり、λ/10n〜λ/18nが選択されてい
る。ここでピットによる再生専用領域を設けようとする
ならば、ピット部からの信号は十分な位相差を得ること
ができなくなってしまう。
For example, in a DVD-RW optical disk, the signal quality (modulation degree, jitter) of a recorded mark is
Is taken into consideration, the groove depth becomes very shallow, and λ / 10n to λ / 18n are selected. Here, if a read-only area using pits is to be provided, a signal from the pit portion cannot have a sufficient phase difference.

【0017】このように、再生専用領域と記録可能領域
とのそれぞれの領域における再生信号の品質を両立する
ためには、同一ディスク内において、ピット部とグルー
ブ部との深さを変えなければならず、その製造工程の改
良が求められている。
As described above, in order to achieve both the reproduction signal quality in the read-only area and the recordable area, the depth of the pit portion and the groove portion must be changed in the same disk. However, improvement of the manufacturing process is required.

【0018】このような同一ディスク内に深さの異なる
信号を形成するための手法に関しては、特開昭60−1
70045号に記載がある。同公報によれば、感光特性
の異なる二種類の感光材料を重ねて塗布し、それぞれの
感光材料に適した露光条件で露光して、ピットと案内溝
を形成することが記載されている。
Japanese Patent Laid-Open No. Sho 60-1 discloses a method for forming signals having different depths in the same disk.
No. 70045. According to the publication, it is described that two types of photosensitive materials having different photosensitive characteristics are applied one on top of the other and exposed under exposure conditions suitable for each photosensitive material to form pits and guide grooves.

【0019】また、公知資料として、光学第23巻6号
(1994年6月)も371ページ〜372ページに記
載されている「ドライエッチングによる光磁気ディス
ク」によれば、基板上にポジ型フォトレジストを塗布
し、レーザーカッティング法でピットと案内溝(グルー
ブ)に対応した露光、現像を行う。ピット部分は充分に
露光し、完全に現像されて基板が露出するが、案内溝は
ピットに比べて不充分な露光状態とし、完全に現像され
ずにある程度の膜厚のフォトレジストが残った状態とす
る。続いて、エッチング、アッシング、エッチング、ア
ッシングの各工程からなる二段階ドライエッチングプロ
セスにて深さの異なったピットと案内溝とを形成する。
As a well-known material, according to “Magneto-Optical Disk by Dry Etching” described in Optics Vol. 23, No. 6, June 1994, pp. 371-372, a positive-type photo-resist is formed on a substrate. A resist is applied, and exposure and development corresponding to pits and guide grooves (grooves) are performed by a laser cutting method. The pit portion is fully exposed and completely developed to expose the substrate, but the guide groove is in an insufficiently exposed state compared to the pit, and the photoresist of a certain thickness remains without being completely developed. And Subsequently, pits and guide grooves having different depths are formed by a two-stage dry etching process including etching, ashing, etching, and ashing.

【0020】更に、一方の領域(例えばピット領域)を
感光剤塗布・露光・現像・エッチングで形成した後、そ
の形成された領域を持つ基板を用いて、もう一方の領域
(例えばグルーブ領域)を感光剤塗布・露光・現像、或
いは感光剤塗布・露光・現像・エッチングで形成する方
法も以前より提案されている。
Further, after one area (for example, a pit area) is formed by applying, exposing, developing, and etching a photosensitive agent, the other area (for example, a groove area) is formed by using a substrate having the formed area. A method of forming by applying, exposing, developing and etching a photosensitive agent, or applying, exposing, developing and etching a photosensitive agent has been proposed before.

【0021】[0021]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来技術には以下の問題点がある。特開昭60−17
0045号公報によれば、二層に塗布した感光材料の中
間にスパッタ法や真空蒸着法によりSiO2等の中間層
を付着させているが、この中間層にはゴミ等の付着によ
りピンホールが生じてしまうことがある。このピンホー
ルから中間層の上に塗布する感光材料の溶剤が下地の感
光材料層に染み込み、下地の感光材料層を冒してしま
う。また、中間層をエッチングで除去しているが、中間
層が除去された下地の感光材料表面はエッチングにより
面荒れを起こしてしまうので、再生された信号のS/N
比が悪くなってしまうという問題があった。更に、一般
的にフォトレジスト等の感光材料の感度は、用いる環境
の温度、保存期間等により変化する。この従来技術で
は、感度の異なる二種類の感光材料の感度差を利用して
深さをコントロールしているので、条件管理が面倒にな
るという問題があった。
However, the above-mentioned prior art has the following problems. JP-A-60-17
According to Japanese Patent Publication No. 0045, an intermediate layer of SiO 2 or the like is attached between the two layers of photosensitive material by a sputtering method or a vacuum evaporation method. May occur. The solvent of the photosensitive material applied on the intermediate layer from the pinholes permeates the underlying photosensitive material layer and attacks the underlying photosensitive material layer. Further, although the intermediate layer is removed by etching, the surface of the underlying photosensitive material from which the intermediate layer has been removed is roughened by etching.
There was a problem that the ratio became worse. Further, in general, the sensitivity of a photosensitive material such as a photoresist changes depending on the temperature of the environment used, the storage period, and the like. In this prior art, since the depth is controlled by utilizing the sensitivity difference between two types of photosensitive materials having different sensitivities, there has been a problem that condition management becomes complicated.

【0022】また、「光学」の「ドライエッチングによ
る光磁気ディスク」では案内溝を形成するために、不充
分な露光を行ってフォトレジストを残しているが、この
ような露光でフォトレジストに形成された案内溝の幅や
深さはばらつき易い。この従来技術では上述したばらつ
きをアッシングにより解消しているが、アッシングでは
一般的にフォトレジストに生じた幅のばらつきは解消さ
れない。また、エッチングで形成されたピットや案内溝
はその表面が荒れてしまうが、ピット部分からは反射光
が小さいので荒れはあまり大きな影響を与えない。しか
しながら、案内溝に情報を記録再生する場合は、面荒れ
の影響が大きく再生S/N比が悪化するという問題があ
った。
On the other hand, in the case of the "optical" magneto-optical disk by dry etching, the photoresist is left by insufficient exposure to form the guide groove. The width and depth of the provided guide groove are likely to vary. In this prior art, the above-described variation is eliminated by ashing, but the ashing does not generally eliminate the variation in width generated in the photoresist. The surfaces of the pits and guide grooves formed by etching are roughened. However, since the reflected light from the pits is small, the roughness does not have a great effect. However, when recording and reproducing information in the guide groove, there is a problem that the influence of surface roughness is large and the reproduction S / N ratio is deteriorated.

【0023】また、前述したエッチングを挟んで二回露
光を行う方法は、一回目の露光後にカッティング装置か
ら基盤を外し、エッチングの後に再度基盤を装着して二
回目の露光を行うため、必然的に再生専用領域と記録再
生領域の間に無信号の領域(ミラー領域)が形成され
る。つまり、再生専用領域の記録も記録再生領域の記録
もスパイラル状又は同心円状に記録するが、一度カッテ
ィング装置から基盤を外してしまうため、二つの記録の
スパイラル状又は同心円のセンターにずれ(偏芯)が生
じてしまう。従って、記録再生の際に光学ヘッドがこの
境界を追従するためには、この偏芯の許容量としてのミ
ラー領域を20μm以下にするのは非常に困難であっ
た。
In the above-described method of performing the second exposure with the etching interposed therebetween, the substrate is removed from the cutting device after the first exposure, and the second exposure is performed by mounting the substrate again after the etching. A non-signal area (mirror area) is formed between the read-only area and the recording / reproduction area. In other words, both the recording in the read-only area and the recording in the recording / reproducing area are recorded in a spiral or concentric manner. ) Occurs. Therefore, in order for the optical head to follow this boundary during recording and reproduction, it is very difficult to reduce the mirror area as the allowable amount of the eccentricity to 20 μm or less.

【0024】[0024]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、第一の回転数にて回転させた基板上にフォトレ
ジスト溶液を滴下する工程と、前記第一の回転数よりも
高速な第二の回転数にて前記基板を回転させることによ
って第一のフォトレジスト層を形成する第二の工程と、
前記基板が第三の回転数にて回転している状態で、第一
のフォトレジスト層上の所定の位置より再度フォトレジ
スト溶液を前記基板上に滴下する第三の工程と、前記第
三の回転数よりも高速な第四の回転数にて前記基板を回
転させることにより第二のフォトレジスト層を形成する
第四の工程とを有するブランクマスターの製造方法を提
供する。
In order to solve the above-mentioned problems, a step of dropping a photoresist solution onto a substrate rotated at a first rotation speed, and a step of dropping a photoresist solution at a higher speed than the first rotation speed. A second step of forming a first photoresist layer by rotating the substrate at a second rotation speed,
A third step of dropping a photoresist solution onto the substrate again from a predetermined position on the first photoresist layer while the substrate is rotating at a third rotation speed; and A fourth step of forming a second photoresist layer by rotating the substrate at a fourth rotation speed higher than the rotation speed.

【0025】また、前記第三の工程において、前記第二
のフォトレジスト層の内周端となる位置よりも外周側か
らフォトレジスト溶液の滴下を開始し、前記基板が第三
の回転数にて回転している状態で滴下ノズルを前記第二
のフォトレジスト層の内周端となる位置にまで移動させ
る工程を含むことを特徴とする請求項1に記載のブラン
クマスターの製造方法を提供する。
In the third step, the photoresist solution is started to be dropped from an outer peripheral side of a position to be an inner peripheral end of the second photoresist layer, and the substrate is rotated at a third rotational speed. The method for manufacturing a blank master according to claim 1, further comprising a step of moving a dropping nozzle to a position that is an inner peripheral end of the second photoresist layer while rotating.

【0026】更に、前記第一の回転数よりも前記第三の
回転数の方が大きいことを特徴とする請求項1又は請求
項2に記載のブランクマスターの製造方法を提供する。
Further, the present invention provides the blank master manufacturing method according to claim 1 or 2, wherein the third rotation speed is higher than the first rotation speed.

【0027】また更に、前記第三の回転数が50rpm
以上であることを特徴とする請求項1乃至請求項3に記
載のブランクマスターの製造方法を提供する。
Still further, the third rotational speed is 50 rpm.
The method for manufacturing a blank master according to any one of claims 1 to 3 is provided.

【0028】更にまた、前記第三の工程及び前記第四の
工程を繰り返すことを特徴とする請求項1乃至請求項4
のいずれかに記載のブランクマスターの製造方法を提供
する。
Further, the third step and the fourth step are repeated.
The present invention provides a method for producing a blank master according to any one of the above.

【0029】また、請求項1乃至請求項5のいずれかに
記載のブランクマスターの製造方法によって製造された
ことを特徴とするブランクマスターを提供する。
Further, the present invention provides a blank master manufactured by the blank master manufacturing method according to any one of claims 1 to 5.

【0030】[0030]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係るブランクマス
ター及びその製造方法について、図面を参照して説明す
る。図1は本発明に係るブランクマスター及びその製造
方法のフォトレジスト層の塗布工程の概要を説明する図
である。 (第1−1工程)まず、表面を研磨し洗浄した後、乾燥
させた直径200mm、厚さ10mmのガラス基盤1
を、スピナー2上に吸着固定して、その中心にフォトレ
ジスト滴下装置のアーム先端に設けられたノズル3をセ
ットする。 (第1−2工程)次に、スピナー2を低速、例えば10
rpm程度で回転駆動した状態で、ガラス基盤1の中心
から外周部側へとノズル3を移動させながら、フォトレ
ジスト液4をガラス基盤1上に滴下する。 (第1−3工程)フォトレジスト液4がガラス基盤1上
にまんべんなく広がったら、フォトレジスト液4の滴下
を停止し、スピナー2を高速回転させることによって余
剰のフォトレジスト液5を遠心力によって振り切り除去
して第一のフォトレジスト層6を形成した。以上の工程
において、フォトレジスト液として例えばフォトレジス
ト原液と溶剤との比率を1:10の割合で混合したもの
を用い、高速回転を1000rpmで40秒間行えば第
一のフォトレジスト層6の厚さは約70nmになる。 (第1−4工程)以上のようにして第一のフォトレジス
ト層6が形成されたガラス原盤1に対して、中心より外
周部側の所定の位置Aにノズル7をセットする。 (第1−5工程)まず、ノズル7を位置Aに固定した状
態でスピナー2を低速で回転駆動させながらフォトレジ
スト液8を滴下する。 (第1−6工程)そして、スピナーが一周以上回転する
間、フォトレジスト液8を滴下させた後、外周部側へと
ノズル7を移動させながら、フォトレジスト液8をガラ
ス基盤1上に滴下する。このように、フォトレジスト液
8を滴下することにより、位置Aより外周部側に形成さ
れていた第一のフォトレジスト層6は溶出する。 (第1−7工程)スピナー2を高速回転させて余剰のフ
ォトレジスト液9を遠心力によって振り切り除去して位
置Aより外周部側に亘って第二のフォトレジスト層10
を形成する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A blank master according to the present invention and a method for manufacturing the same will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a view for explaining an outline of a process of applying a photoresist layer in a blank master and a method for manufacturing the same according to the present invention. (Step 1-1) First, after polishing and cleaning the surface, a dried glass substrate 1 having a diameter of 200 mm and a thickness of 10 mm was prepared.
Is fixed on a spinner 2 by suction, and a nozzle 3 provided at the end of an arm of a photoresist dropping device is set at the center thereof. (Step 1-2) Next, the spinner 2 is rotated at a low speed, for example, 10 minutes.
The photoresist liquid 4 is dropped onto the glass substrate 1 while the nozzle 3 is moved from the center of the glass substrate 1 to the outer peripheral side in a state where the glass substrate 1 is rotationally driven at about rpm. (Step 1-3) When the photoresist solution 4 spreads evenly on the glass substrate 1, the dripping of the photoresist solution 4 is stopped, and the excess photoresist solution 5 is shaken off by centrifugal force by rotating the spinner 2 at high speed. By removing, the first photoresist layer 6 was formed. In the above steps, for example, a mixture of a photoresist stock solution and a solvent at a ratio of 1:10 is used as a photoresist solution, and the high-speed rotation is performed at 1000 rpm for 40 seconds, so that the thickness of the first photoresist layer 6 is reduced. Is about 70 nm. (Step 1-4) With respect to the glass master 1 on which the first photoresist layer 6 is formed as described above, the nozzle 7 is set at a predetermined position A on the outer peripheral side from the center. (Step 1-5) First, with the nozzle 7 fixed at the position A, the photoresist liquid 8 is dropped while the spinner 2 is rotated at a low speed. (Step 1-6) After the photoresist liquid 8 is dropped while the spinner rotates one or more turns, the photoresist liquid 8 is dropped on the glass substrate 1 while moving the nozzle 7 to the outer peripheral side. I do. By dropping the photoresist liquid 8, the first photoresist layer 6 formed on the outer peripheral side from the position A elutes. (Step 1-7) The spinner 2 is rotated at high speed to remove excess photoresist liquid 9 by centrifugal force and removed therefrom.
To form

【0031】以上の工程において、フォトレジスト液と
して例えばフォトレジスト原液と溶剤との比率を1:1
0の割合で混合したものを用い、高速回転を500rp
mにて40秒間行えば、第二のフォトレジスト層の厚さ
は約100nmになる。
In the above steps, the ratio of the photoresist solution to the solvent is, for example, 1: 1.
Using high-speed rotation at 500 rpm
m for 40 seconds, the thickness of the second photoresist layer will be about 100 nm.

【0032】また、上述した第1−5工程において、ス
ピナー2の回転数を変えて第二のフォトレジスト層10
を塗布したときに位置Aにおける半径の一周変動量を測
定した結果を図2に示す。また、図4は半径の一周変動
量の定義を説明するための図であり、図1に示す方法に
よってガラス基盤1上にフォトレジストが塗布されたブ
ランクマスターの上面図がI、断面図がIIである。セ
ンター部から第一のフォトレジスト層12と第二のフォ
トレジスト層11の境界13までの距離Rを一周に亘っ
て測定し、その最大値と最小値との差(R max−R
min)を一周変動量と定義した。
In the above-described first to fifth steps, the rotation speed of the spinner 2 is changed to change the second photoresist layer 10.
FIG. 2 shows the result of measuring the amount of change in one round of the radius at the position A when is applied. FIG. 4 is a diagram for explaining the definition of the amount of change in one round of the radius. The top view of the blank master in which the photoresist is applied on the glass substrate 1 by the method shown in FIG. It is. The distance R from the center to the boundary 13 between the first photoresist layer 12 and the second photoresist layer 11 is measured over one round, and the difference (R max−R) between the maximum value and the minimum value is measured.
min) was defined as the amount of change in one round.

【0033】図2において、aはフォトレジスト液の希
釈比率を1:10、第1−3工程における高速回転条件
を1000rpmで40秒間(膜厚70nm)、第1−
7工程における高速回転条件を500rpmで40秒間
(膜厚100nm)とした場合、つまり、フォトレジス
ト層の厚さを、内周側の厚さ<外周側の厚さとした場合
の結果であり、bはフォトレジスト液の希釈比率を1:
10、第1−3工程における高速回転条件を500rp
mで40秒間(膜厚100nm)、第1−7工程におけ
る高速回転条件を1000rpmで40秒間(膜厚70
nm)とした場合、つまりフォトレジスト層の厚さを、
内周側の厚さ>外周側の厚さとした場合の結果である。
いずれの場合も低速回転数を50rpm以上とすること
によって、位置Aの精度が飛躍的に向上し、一周変動を
20μm以下に抑えることができる。
In FIG. 2, “a” represents a dilution ratio of the photoresist solution of 1:10, and a high-speed rotation condition in the first to third steps at 1000 rpm for 40 seconds (film thickness 70 nm).
The results are obtained when the high-speed rotation conditions in the seven steps are set to 500 rpm for 40 seconds (film thickness 100 nm), that is, when the thickness of the photoresist layer is set such that the thickness on the inner side is smaller than the thickness on the outer side, b Is the dilution ratio of the photoresist solution to 1:
10. The high-speed rotation condition in the 1-3 step is set to 500 rpm.
m for 40 seconds (film thickness 100 nm), and the high-speed rotation conditions in the first to seventh steps were changed to 1000 rpm for 40 seconds (film thickness 70 nm).
nm), that is, the thickness of the photoresist layer is
The result is obtained when the thickness on the inner peripheral side is greater than the thickness on the outer peripheral side.
In any case, by setting the low-speed rotation speed to 50 rpm or more, the accuracy of the position A is remarkably improved, and the one-round variation can be suppressed to 20 μm or less.

【0034】また、図3は、高速回転条件を1000r
pmで40秒間に固定し、フォトレジスト液の希釈の比
率を変えることによって第一フォトレジスト層と第二の
フォトレジスト層の厚さを変えた場合の結果である。c
は最初の塗布に用いるフォトレジスト液の希釈比率を
1:10(膜厚70nm)とし、二回目の塗布に用いる
フォトレジスト液の希釈比率を1:6(膜厚100n
m)とした場合、つまりフォトレジスト層の厚さを、内
周側の厚さ<外周側の厚さとした場合の結果であり、d
は最初の塗布に用いるフォトレジスト液の希釈比率を
1:6(膜厚100nm)とし、二回目の塗布に用いる
フォトレジスト液の希釈比率を1:10(膜厚70n
m)とした場合、つまりフォトレジスト層の厚さを、内
周側の厚さ>外周側の厚さとした場合の結果である。図
2に示したものと同様に低速回転数を50rpm以上と
することによって、位置Aの精度が飛躍的に向上すると
いう結果が得られた。
FIG. 3 shows that the high-speed rotation condition is 1000 r.
The results are obtained when the thickness of the first photoresist layer and the thickness of the second photoresist layer were changed by changing the ratio of the dilution of the photoresist solution while fixing at 40 pm for 40 seconds. c
Sets the dilution ratio of the photoresist solution used for the first application to 1:10 (film thickness 70 nm), and sets the dilution ratio of the photoresist solution used for the second application to 1: 6 (100 nm film thickness).
m), that is, when the thickness of the photoresist layer is such that the thickness on the inner peripheral side is smaller than the thickness on the outer peripheral side,
Sets the dilution ratio of the photoresist solution used for the first application to 1: 6 (film thickness 100 nm) and the dilution ratio of the photoresist solution used for the second application to 1:10 (film thickness 70 n).
m), that is, when the thickness of the photoresist layer is such that the thickness on the inner peripheral side> the thickness on the outer peripheral side. As shown in FIG. 2, by setting the low-speed rotation speed to 50 rpm or more, the result that the accuracy of the position A was remarkably improved was obtained.

【0035】なお、図1においては、2回目の塗布の
際、フォトレジスト液の滴下はノズルの位置を所定の位
置Aに持ってきた後で開始するが、この場合、滴下の際
にフォトレジスト液のはね返りが生じ、それが位置Aよ
りも内周側へと落下してしまい、ブランクマスター自体
を不良品としてしまうケースがある。
In FIG. 1, during the second application, the photoresist solution is dropped after the nozzle position is brought to a predetermined position A. In this case, the photoresist solution is dropped when the photoresist is dropped. There is a case where the liquid rebounds and falls to the inner peripheral side from the position A, and the blank master itself becomes a defective product.

【0036】このような問題に対しては、フォトレジス
ト液の滴下開始位置を位置Aよりも外周側へと持ってい
くことで解決することが出来る。つまり、例えばガラス
基盤の最外周部からフォトレジスト液の滴下を開始し、
滴下したままノズルを内周側へと移動させ、Aの位置で
停止しまた外周側へと移動させるのである。
Such a problem can be solved by moving the photoresist liquid dropping start position to the outer peripheral side from the position A. In other words, for example, starting dropping of the photoresist liquid from the outermost peripheral portion of the glass substrate,
The nozzle is moved to the inner peripheral side while dripping, stops at the position A, and moves to the outer peripheral side.

【0037】下記のそれぞれの方法にて各30枚塗布し
た時、フォトレジスト液の内周部へのはね返りに対する
歩留まりは、が80%、が90%、が97%であ
った。 Aの位置から滴下を開始(図1の方法) ガラス基盤の最外周部から滴下を開始。ノズルをAの
位置で停止させた後に折り返し。 ガラス基盤の外からフォトレジスト液を滴下させなが
らノズルを内周側へ移動させ、Aの位置で停止させた後
に折り返し。
When 30 sheets were coated by each of the following methods, the yield for the rebound of the photoresist solution to the inner peripheral portion was 80%, 90% and 97%, respectively. Start dropping from position A (method in FIG. 1). Start dropping from the outermost periphery of the glass substrate. Turned back after stopping the nozzle at position A. The nozzle is moved to the inner peripheral side while the photoresist liquid is dropped from the outside of the glass substrate, and stopped at the position A and then turned back.

【0038】なお、ここでは、同一のガラス基盤内に二
種類の深さのフォトレジスト層を形成する例について説
明したが、第1−4工程〜第1−7工程を繰り返すこと
によって、3種類以上の深さのフォトレジスト層を形成
することも可能である。
Although an example in which two types of photoresist layers are formed in the same glass substrate has been described above, three types of photoresist layers are formed by repeating steps 1-4 to 1-7. It is also possible to form a photoresist layer having the above depth.

【0039】以上のようにして得られた情報記録媒体用
のブランクマスターに対して、フォトレジスト層の厚い
領域に、例えば再生専用となるピットをレーザービーム
露光によって形成し、フォトレジスト層の薄い領域に、
例えば記録用のグルーブをレーザービーム露光によって
形成して情報記録媒体用原盤を作製する。そして、図6
に示す従来技術と同様の方法によりスタンパーを作製
し、そのスタンパーから情報記録媒体用基板を大量に複
製する。複製された基板のピットやグルーブの形成面に
記録材料がスピンコート法や真空成膜法(スパッター法
や真空蒸着法)で塗布される。記録材料は追記型光ディ
スクの場合、色素等が、光磁気ディスクの場合、希土類
・遷移金属合金等が、相変化光ディスクの場合、カルコ
ゲナイト系材料が選択される。更に、この上に保護膜が
塗布されるか、二枚の基板を貼り合わせられる。そし
て、必要に応じてレーベル印刷が行われ、情報記録媒体
が完成する。
With respect to the blank master for the information recording medium obtained as described above, for example, pits exclusively for reproduction are formed in a thick region of the photoresist layer by laser beam exposure, and a thin region of the photoresist layer is formed. To
For example, a recording groove is formed by laser beam exposure to produce an information recording medium master. And FIG.
A stamper is manufactured by the same method as that of the prior art shown in FIG. 1, and a large number of information recording medium substrates are copied from the stamper. The recording material is applied to the pit or groove formation surface of the copied substrate by a spin coating method or a vacuum film forming method (sputtering method or vacuum evaporation method). As a recording material, in the case of a write-once optical disc, a dye or the like is used. In the case of a magneto-optical disc, a rare earth / transition metal alloy or the like is used. In the case of a phase change optical disc, a chalcogenite-based material is selected. Further, a protective film is applied thereon, or two substrates are bonded together. Then, label printing is performed as needed, and the information recording medium is completed.

【0040】このように作製された情報記録媒体の一例
を図5に示す。プラスチック基板14上に再生専用領域
のピット15と記録再生領域のグルーブ16が形成され
ており、その上に記録膜17、保護膜18、レーベル1
9が順に形成されている。そして、再生専用領域のピッ
ト15の方が、記録再生領域のグルーブ16よりも深く
形成されている。
FIG. 5 shows an example of the information recording medium thus manufactured. A pit 15 in a read-only area and a groove 16 in a recording / reproducing area are formed on a plastic substrate 14, and a recording film 17, a protective film 18, and a label 1 are formed thereon.
9 are formed in order. The pits 15 in the reproduction-only area are formed deeper than the grooves 16 in the recording / reproduction area.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上、詳述したように、本発明によれ
ば、フォトレジスト層の厚さが面内で段階的に異なるよ
うにして形成された光ディスク用ガラス原盤において、
厚さの異なる境界の位置を厳密に制御することが可能と
なる。これにより、同一のディスク中に深さの異なる信
号を小さなミラー領域で形成することが容易になるとい
う効果を奏する。
As described above in detail, according to the present invention, in a glass master for an optical disk formed such that the thickness of a photoresist layer is varied stepwise in a plane,
It is possible to strictly control the positions of boundaries having different thicknesses. As a result, there is an effect that signals having different depths can be easily formed in the same disk with a small mirror area.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るブランクマスター及びその製造方
法のフォトレジスト層の塗布工程の概要を説明する図で
ある。
FIG. 1 is a diagram illustrating an outline of a process of applying a photoresist layer in a blank master and a method of manufacturing the same according to the present invention.

【図2】本発明に係るブランクマスターの位置Aにおけ
る半径の一周変動量を測定した結果を示す図である。
FIG. 2 is a view showing the result of measuring the amount of change in one round of a radius at a position A of a blank master according to the present invention.

【図3】本発明に係るブランクマスターの位置Aにおけ
る半径の一周変動量を測定した結果を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing the result of measuring the amount of change in one round of a radius at a position A of a blank master according to the present invention.

【図4】半径の一周変動量の定義を説明するための図で
ある。
FIG. 4 is a diagram for explaining the definition of the amount of change in one round of a radius;

【図5】本発明に係るブランクマスターを使用して作製
した情報記録媒体の一例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of an information recording medium manufactured using the blank master according to the present invention.

【図6】従来のブランクマスター及びスタンパー、情報
記録媒体の製造方法を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a conventional method for manufacturing a blank master, a stamper, and an information recording medium.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラス基盤 2 スピナー 3,7 ノズル 4,8 フォトレジスト液 5,9 余剰のフォトレジスト液 6,11 第一のフォトレジスト層 10,12 第二のフォトレジスト層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Glass base 2 Spinner 3,7 Nozzle 4,8 Photoresist solution 5,9 Excess photoresist solution 6,11 First photoresist layer 10,12 Second photoresist layer

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】第一の回転数にて回転させた基板上にフォ
トレジスト溶液を滴下する工程と、 前記第一の回転数よりも高速な第二の回転数にて前記基
板を回転させることによって第一のフォトレジスト層を
形成する第二の工程と、 前記基板が第三の回転数にて回転している状態で、第一
のフォトレジスト層上の所定の位置より再度フォトレジ
スト溶液を前記基板上に滴下する第三の工程と、 前記第三の回転数よりも高速な第四の回転数にて前記基
板を回転させることにより第二のフォトレジスト層を形
成する第四の工程と、を有するブランクマスターの製造
方法。
1. A step of dropping a photoresist solution onto a substrate rotated at a first rotation speed, and rotating the substrate at a second rotation speed higher than the first rotation speed. A second step of forming a first photoresist layer by, in a state where the substrate is rotating at a third rotation speed, the photoresist solution again from a predetermined position on the first photoresist layer A third step of dropping on the substrate, and a fourth step of forming a second photoresist layer by rotating the substrate at a fourth rotation speed higher than the third rotation speed And a method for producing a blank master.
【請求項2】前記第三の工程において、前記第二のフォ
トレジスト層の内周端となる位置よりも外周側からフォ
トレジスト溶液の滴下を開始し、前記基板が第三の回転
数にて回転している状態で滴下ノズルを前記第二のフォ
トレジスト層の内周端となる位置にまで移動させる工程
を含むことを特徴とする請求項1に記載のブランクマス
ターの製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein in the third step, the photoresist solution is dropped from an outer peripheral side of a position to be an inner peripheral end of the second photoresist layer, and the substrate is rotated at a third rotational speed. The method for manufacturing a blank master according to claim 1, further comprising a step of moving the dropping nozzle to a position that is an inner peripheral end of the second photoresist layer while rotating.
【請求項3】前記第一の回転数よりも前記第三の回転数
の方が大きいことを特徴とする請求項1又は請求項2に
記載のブランクマスターの製造方法。
3. The blank master manufacturing method according to claim 1, wherein the third rotation speed is higher than the first rotation speed.
【請求項4】前記第三の回転数が50rpm以上である
ことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記
載のブランクマスターの製造方法。
4. The blank master manufacturing method according to claim 1, wherein said third rotation speed is 50 rpm or more.
【請求項5】前記第三の工程及び前記第四の工程を繰り
返すことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか
に記載のブランクマスターの製造方法。
5. The method according to claim 1, wherein the third step and the fourth step are repeated.
【請求項6】請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の
ブランクマスターの製造方法によって製造されたことを
特徴とするブランクマスター。
6. A blank master manufactured by the blank master manufacturing method according to any one of claims 1 to 5.
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