JP2002238885A - Method and program for controlling position of x-ray focal point, and x-ray ct apparatus and x-ray tube - Google Patents

Method and program for controlling position of x-ray focal point, and x-ray ct apparatus and x-ray tube

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JP2002238885A
JP2002238885A JP2001027069A JP2001027069A JP2002238885A JP 2002238885 A JP2002238885 A JP 2002238885A JP 2001027069 A JP2001027069 A JP 2001027069A JP 2001027069 A JP2001027069 A JP 2001027069A JP 2002238885 A JP2002238885 A JP 2002238885A
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JP
Japan
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ray
electron beam
detector
rotating anode
collimator
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Application number
JP2001027069A
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Japanese (ja)
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Osamu Hayakawa
理 早川
Akira Izumihara
彰 泉原
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GE Medical Systems Global Technology Co LLC
Original Assignee
GE Medical Systems Global Technology Co LLC
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    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
    • A61B6/548Remote control of the apparatus or devices

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To always obtain an optimum X-ray fan beam in a radiography system with a simple structure without regard to the displacement of an element (especially a rotary anode of an X-ray tube) constituting the radiography system. SOLUTION: The radiography system comprises an X-ray tube 40 capable of deflecting an electronic beam for generating X-rays, a collimator for restricting the width (w) of the generated X-rays in the direction of the body axis of a subject 100, and an X-ray detector 70 having at least two detector rows A and B in the direction of the body axis for detecting the dose of the X-ray fan beam XLFB passing the collimator. In the method of controlling the position of the focal point of the X-rays in the radiography system, the electronic beam is controlled to be deflected, based on prescribed detection signals (a) and (b) of at least two detector rows of the X-ray detector 70, in the direction where the amplitudes of the prescribed detection signals (a) and (b) are the same.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はX線焦点位置制御方
法及びそのプログラム並びにX線CT装置及びX線管に
関し、更に詳しくは、X線を発生するための電子ビーム
を偏向可能に構成されたX線管と、発生されたX線につ
き被検体の体軸方向の線幅を制限するコリメータと、コ
リメータを通過したX線ファンビームの線量を検出可能
なX線検出器であって、体軸方向に少なくとも2列の検
出器列を有するもの、とを備えるX線撮影系のX線焦点
位置制御方法及びそのプログラム並びにX線CT装置及
びX線管に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and a program for controlling an X-ray focal position, an X-ray CT apparatus and an X-ray tube, and more particularly, to a structure capable of deflecting an electron beam for generating X-rays. An X-ray tube, a collimator for limiting a line width of a subject in a body axis direction for generated X-rays, and an X-ray detector capable of detecting a dose of an X-ray fan beam passing through the collimator, comprising: The present invention relates to an X-ray focus position control method for an X-ray imaging system having at least two detector rows in directions, a program thereof, an X-ray CT apparatus, and an X-ray tube.

【0002】[0002]

【従来の技術】図7は従来技術を説明する図で、従来の
X線CT装置における走査ガントリ(X線撮影系)の要
部側面図を示している。図において、40’は回転陽極
型のX線管であり、電子ビームを発生する電子銃42
と、電子ビームの照射によりX線を発生するタングステ
ン等からなる凸面状の回転陽極41と、回転陽極41を
一体化支持するモータ回転子47と、モータ回転子47
をベアリングで回転自在に軸支する陽極軸48とを備
え、このモータ回転子47に対して外部のモータ固定子
(不図示)から回転磁界を加えることで、モータ回転子
47(回転陽極41)を高速で回転させる。
2. Description of the Related Art FIG. 7 is a view for explaining the prior art, and shows a side view of a main part of a scanning gantry (X-ray imaging system) in a conventional X-ray CT apparatus. In the figure, reference numeral 40 'denotes a rotating anode type X-ray tube, and an electron gun 42 for generating an electron beam.
A convex rotating anode 41 made of tungsten or the like which generates X-rays by irradiation with an electron beam, a motor rotor 47 integrally supporting the rotating anode 41, a motor rotor 47.
And an anode shaft 48 rotatably supported by bearings. A rotating magnetic field is applied to the motor rotor 47 from an external motor stator (not shown), so that the motor rotor 47 (rotating anode 41) is provided. At high speed.

【0003】更に、50はX線の曝射範囲(主に体軸C
Lb方向)を制限するコリメータ、100は被検体、2
0は被検体100を載せて体軸方向に移動させる撮影テ
ーブル、70はチャネル方向に並ぶ多数(n=1000
程度)のX線検出素子が円弧状の例えば2列A,Bに配
列されているX線検出器(ツインディテクタ)、80は
X線検出器70の検出信号に基づき被検体100の投影
データg(X,θ)を生成・収集するデータ収集部(D
AS)である。ここで、XはX線検出器70の検出チャ
ネル、θはビュー角を表す。
Further, reference numeral 50 denotes an X-ray irradiation range (mainly the body axis C).
Lb) collimator, 100 is the object, 2
Reference numeral 0 denotes an imaging table on which the subject 100 is placed and moved in the body axis direction. Reference numeral 70 denotes a large number (n = 1000) arranged in the channel direction.
X-ray detectors (twin detectors) in which the X-ray detection elements are arranged in, for example, two rows A and B in an arc shape, and 80 is projection data g of the subject 100 based on a detection signal of the X-ray detector 70. A data collection unit (D which generates and collects (X, θ)
AS). Here, X represents a detection channel of the X-ray detector 70, and θ represents a view angle.

【0004】ツインディテクタ70を備えるX線CT装
置では、コリメータ50を通過したX線ファンビームX
LFBが検出器列A,Bに均等(等分)に照射されるこ
とで、走査ガントリの1回転当たりに2列分の投影デー
タgA(X,θ),gB(X,θ)が同時に得られるた
め、スキャン効率が良い。
In an X-ray CT apparatus provided with a twin detector 70, an X-ray fan beam X passing through a collimator 50 is used.
By uniformly (equally) irradiating the detector rows A and B with the LFB, two rows of projection data g A (X, θ) and g B (X, θ) are obtained per rotation of the scanning gantry. Since they are obtained at the same time, the scanning efficiency is good.

【0005】しかし、スキャン時におけるX線管40’
の焦点Fは、一般にX線管40’の動作温度(即ち、機
構部の熱膨張/収縮)、その他のスキャン条件{走査ガ
ントリのチルト角,走査ガントリの回転速度,焦点サイ
ズの大/小等}によってz軸(体軸)方向に変位するこ
とが知られており、もし焦点Fがz軸方向に移動する
と、もはやX線ファンビームXLFBは検出器列A,B
に均等(等分)には照射されなくなるため、得られたC
T断層像にはアーチファクトやS/N比の低下が生じ
る。
However, during scanning, the X-ray tube 40 '
Is generally the operating temperature of the X-ray tube 40 '(i.e., thermal expansion / contraction of the mechanism), other scanning conditions {tilt angle of the scanning gantry, rotation speed of the scanning gantry, large / small focal size, etc. It is known that the X-ray fan beam XLFB is displaced in the z-axis (body axis) direction by}.
Is not evenly (equally) irradiated, so that the resulting C
Artifacts and a reduction in the S / N ratio occur in the T tomographic image.

【0006】この点、従来は、コリメータ50を機械的
な直動機構によりX線焦点Fの移動に応じてz軸方向に
スライドさせることにより、焦点Fの移動分をカバーし
ていた。即ち、コリメータ50は、z軸方向に並ぶ2枚
の平行板50a,50bを含み、これらを支持する共通
の支持部材54と、該支持部材54に固定されたナット
部材53とを介して、ネジ溝を有する回転シャフト52
に連結している。
In this regard, conventionally, the movement of the focal point F has been covered by sliding the collimator 50 in the z-axis direction according to the movement of the X-ray focal point F by a mechanical linear motion mechanism. That is, the collimator 50 includes two parallel plates 50 a and 50 b arranged in the z-axis direction, and is screwed through a common support member 54 that supports them and a nut member 53 fixed to the support member 54. Rotating shaft 52 having a groove
It is connected to.

【0007】一方、コリメータ制御部50Aは、データ
収集部80より抽出した検出器列A,Bの各所定(レフ
ァレンスチャネルn)の投影データgA(Xn,θ),
B(Xn,θ)を比較してこれらの差信号(誤差信
号)を検出すると共に、該差信号を0とするようなコリ
メータ50のスライド制御信号を生成して、これをモー
タ駆動部50Bに加える。モータ駆動部50Bは入力の
制御信号を増幅してパルスモ−タPMに加え、これを受
けたパルスモータ51は制御信号に応じて回転シャフト
52を回転させることで、コリメータ50を焦点Fの移
動方向に変位させている。
On the other hand, the collimator control unit 50A outputs projection data g A (Xn, θ) of each predetermined (reference channel n) of the detector rows A and B extracted from the data collection unit 80.
g B (Xn, θ) are compared to detect these difference signals (error signals), and generate a slide control signal of the collimator 50 such that the difference signal is set to 0. Add to The motor drive unit 50B amplifies the input control signal and adds it to the pulse motor PM. The pulse motor 51 which receives the signal amplifies the rotation shaft 52 according to the control signal, thereby moving the collimator 50 in the moving direction of the focal point F. Is displaced.

【0008】即ち、今、回転陽極41(X線焦点F)が
その基準位置z0から−z1(点線)の側に移動したと
すると、これに応じてコリメータ50をその基準位置Z
0から−Z1の側に移動させることで、X線ファンビー
ムXLFBを検出器列A,Bに均等に照射させる。ま
た、回転陽極41が基準位置z0から+z2(破線)の
側に移動したとすると、これに応じてコリメータ50を
その基準位置Z0から+Z2の側に移動させることで、
X線ファンビームXLFBを検出器列A,Bに均等に照
射させる。
That is, assuming that the rotating anode 41 (X-ray focal point F) has moved from its reference position z0 to the side of -z1 (dotted line), the collimator 50 is accordingly moved to its reference position Z.
The X-ray fan beam XLFB is evenly applied to the detector rows A and B by moving from 0 to −Z1. Further, if the rotating anode 41 moves from the reference position z0 to the side of + z2 (broken line), the collimator 50 is moved from the reference position Z0 to the side of + Z2 in response to this.
The detector rows A and B are evenly irradiated with the X-ray fan beam XLFB.

【0009】なお、上記コリメータ50を移動させるの
に代えて、X線検出器70をz軸方向に移動させること
で、X線ファンビームXLFBを検出器列A,Bに均等
に照射させる方法も知られている。
A method of uniformly irradiating the X-ray fan beam XLFB to the detector rows A and B by moving the X-ray detector 70 in the z-axis direction instead of moving the collimator 50 is also available. Are known.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記機械的な
直動機構を使用する法式であると、回転シャフト52と
ナット部材53との螺合部における遊び(ガタ)等によ
ってコリメータ50のスライド動作及びその位置決め動
作が不安定なものとなる。また、コリメータ50を移動
制御するための電気回路部やモータ機構部を必要とし、
これらの構成が大型であると共に、高価なものとなる。
また、直動機構部が走査ガントリ部の構成を複雑化させ
ると共に、その分重量が増し、走査ガントリ部の回転動
作の負担ともなっていた。この問題点は、X線検出器7
0を移動させる場合も同様である。
However, according to the above-mentioned method using a mechanical linear motion mechanism, the sliding operation of the collimator 50 is caused by play (play) in a screwing portion between the rotary shaft 52 and the nut member 53 or the like. And its positioning operation becomes unstable. In addition, an electric circuit unit and a motor mechanism unit for controlling the movement of the collimator 50 are required,
These configurations are large and expensive.
In addition, the linear motion mechanism complicates the configuration of the scanning gantry section, increases the weight by that amount, and places a burden on the rotating operation of the scanning gantry section. This problem is caused by the X-ray detector 7.
The same applies when moving 0.

【0011】本発明は上記従来技術の問題点に鑑みなさ
れたもので、その目的とする所は、簡単な構成により、
X線撮影系を構成する要素(特にX線管の回転陽極)の
変位によらず、撮影系に常に最適のX線ファンビームが
得られるX線焦点位置制御方法及びそのプログラム並び
にX線CT装置及びX線管を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art.
X-ray focal position control method, program, and X-ray CT apparatus capable of always obtaining an optimal X-ray fan beam for the imaging system regardless of displacement of elements constituting the X-ray imaging system (particularly, the rotating anode of the X-ray tube) And an X-ray tube.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記の課題は例えば図1
の構成により解決される。即ち、本発明(1)のX線焦
点位置制御方法は、X線を発生するための電子ビームを
偏向可能に構成されたX線管40と、発生されたX線に
つき被検体100の体軸方向の線幅wを制限するコリメ
ータと、コリメータを通過したX線ファンビームXLF
Bの線量を検出可能なX線検出器70であって、体軸方
向に少なくとも2列の検出器列A,Bを有するもの、と
を備えるX線撮影系のX線焦点位置制御方法において、
X線検出器70の少なくとも2列の各所定の検出信号
a,bに基づき、両信号振幅が同一となる方向に電子ビ
ームを偏向制御するものである。
The above-mentioned problem is solved, for example, by referring to FIG.
Is solved. That is, the X-ray focal position control method of the present invention (1) includes an X-ray tube 40 configured to deflect an electron beam for generating X-rays, and a body axis of the subject 100 for the generated X-rays. Collimator for limiting line width w in the direction, and X-ray fan beam XLF passing through the collimator
An X-ray detector 70 capable of detecting the dose of B, having at least two detector rows A and B in the body axis direction, comprising:
Based on at least two predetermined detection signals a and b in at least two rows of the X-ray detector 70, deflection control of the electron beam is performed in a direction in which both signal amplitudes are the same.

【0013】本発明(1)によれば、X線検出器70の
少なくとも2列の各所定の検出信号a,bに基づき、両
信号振幅が同一となる方向に電子ビームを偏向制御する
構成により、電子ビームを偏向制御すると言う簡単な方
法で、X線撮影系を構成する要素(特にX線管40の回
転陽極41)の体軸(z軸)方向の変位によらず、系に
は検出器列A,Bに均等に照射(分配)されるような常
に最適のX線ファンビームが得られる。
According to the present invention (1), based on at least two rows of the predetermined detection signals a and b of the X-ray detector 70, the deflection of the electron beam is controlled in a direction in which both signal amplitudes become the same. In a simple method of controlling the deflection of the electron beam, the system can detect a component of the X-ray imaging system (particularly, the rotating anode 41 of the X-ray tube 40) regardless of displacement in the body axis (z-axis) direction. An always optimal X-ray fan beam is obtained such that the rows A and B are evenly irradiated (distributed).

【0014】また本発明(2)のプログラムは、コンピ
ュータに本発明(1)に記載のX線焦点位置制御方法を
実行させるためのプログラムである。即ち、X線検出器
70の少なくとも2列の各所定の検出信号a,bを入力
として、両信号振幅が同一となる方向に電子ビームを偏
向制御するための制御信号を生成するものである。この
ようなプログラムは、CD−ROM等の記録媒体に記録
して、又は有線/無線による通信回線を介したオンライ
ンにより提供される。
The program of the present invention (2) is a program for causing a computer to execute the X-ray focal position control method described in the present invention (1). That is, a control signal for deflecting the electron beam in a direction in which both signal amplitudes are the same is generated by using the predetermined detection signals a and b in at least two columns of the X-ray detector 70 as inputs. Such a program is provided on a recording medium such as a CD-ROM or online through a wired / wireless communication line.

【0015】また本発明(3)のX線CT装置は、被検
体100を挟んでX線管40とX線検出器70とが相対
向し、X線検出器70の検出信号に基づき被検体100
のCT断層像を再構成するX線CT装置において、電子
銃42と、該電子銃からの電子ビーム照射によりX線を
発生する回転陽極41であって、その回転軸方向に斜面
を有するもの、とを備え、これらの間に介在して、電子
銃42から回転陽極41に向かう電子ビームを偏向可能
に構成された電子ビーム偏向部43を備えるX線管40
と、発生されたX線につき被検体100の体軸方向の線
幅wを制限するコリメータ50と、コリメータ50を通
過したX線ファンビームXLFBの線量を検出可能な体
軸方向に少なくとも2列の検出器列A,Bを有するX線
検出器70と、X線検出器70の少なくとも2列の各所
定の検出信号a,bに基づき、両信号振幅が同一となる
方向に電子ビーム偏向部43の偏向を制御する偏向制御
部60Aとを備えるものである。
In the X-ray CT apparatus according to the present invention (3), the X-ray tube 40 and the X-ray detector 70 face each other with the subject 100 interposed therebetween. 100
An X-ray CT apparatus for reconstructing a CT tomographic image of: an electron gun 42 and a rotating anode 41 that generates X-rays by irradiating an electron beam from the electron gun and has a slope in the direction of the rotation axis thereof; An X-ray tube 40 including an electron beam deflecting unit 43 interposed therebetween and configured to deflect an electron beam from the electron gun 42 toward the rotating anode 41.
A collimator 50 for limiting a line width w of the subject 100 in the body axis direction with respect to the generated X-rays, and at least two rows in a body axis direction capable of detecting a dose of the X-ray fan beam XLFB passing through the collimator 50. An X-ray detector 70 having detector rows A and B, and an electron beam deflecting unit 43 based on at least two predetermined detection signals a and b of the X-ray detector 70 in a direction in which both signal amplitudes are the same. And a deflection control unit 60A for controlling the deflection of the light.

【0016】本発明(3)によれば、体軸方向に斜面を
有する回転陽極と、斜面に照射する電子ビームを該斜面
の方向に変更制御する簡単で信頼性の高い構成により、
X線撮影系を構成する要素(特にX線管40の回転陽極
41)の変位による影響を有効に補正(回避)できるた
め、X線撮影系には常に最適のX線ファンビームが得ら
れる。
According to the present invention (3), a rotating anode having a slope in the body axis direction, and a simple and highly reliable configuration for changing and controlling the electron beam applied to the slope in the direction of the slope,
Since the influence of the displacement of the elements constituting the X-ray imaging system (particularly, the rotating anode 41 of the X-ray tube 40) can be effectively corrected (avoided), an optimal X-ray fan beam can always be obtained for the X-ray imaging system.

【0017】また本発明(4)のX線管40は、電子銃
42と、該電子銃からの電子ビーム照射によりX線を発
生する回転陽極41であって、その回転軸方向に斜面を
有するもの、とを備えるX線管において、電子銃42と
回転陽極41との間に介在して、電子銃42から回転陽
極41に向かう電子ビームを偏向可能に構成された電子
ビーム偏向部43を備えるものである。
The X-ray tube 40 of the present invention (4) is an electron gun 42 and a rotating anode 41 for generating X-rays by irradiating an electron beam from the electron gun, and has a slope in the direction of the rotation axis. An electron beam deflecting unit 43 interposed between the electron gun 42 and the rotary anode 41 and configured to deflect an electron beam from the electron gun 42 toward the rotary anode 41. Things.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、添付図面に従って本発明に
好適なる複数の実施の形態を詳細に説明する。なお、全
図を通して同一符号は同一又は相当部分を示すものとす
る。
Preferred embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. Note that the same reference numerals indicate the same or corresponding parts throughout the drawings.

【0019】図2は実施の形態によるX線CT装置の要
部構成図で、図において、30はX線ファンビームXL
FBにより被検体100のアキシャル/ヘリカルスキャ
ン・読取等を行う走査ガントリ部、20は被検体100
を載せて体軸CLbの方向に移動させる撮影テーブル、
10は技師等が操作するための遠隔の操作コンソール部
である。
FIG. 2 is a structural view of a main part of the X-ray CT apparatus according to the embodiment. In the drawing, reference numeral 30 denotes an X-ray fan beam XL.
A scanning gantry unit for performing axial / helical scanning / reading of the subject 100 by FB, and 20 is a subject 100
A shooting table on which is mounted and moved in the direction of the body axis CLb,
Reference numeral 10 denotes a remote operation console unit for an engineer or the like to operate.

【0020】走査ガントリ部30において、40は回転
陽極型のX線管、40AはX線管40の線量(管電圧k
V,管電流mA等)を制御するX線制御部、41はX線
管40の回転陽極、42は回転陽極41に電子ビームを
照射する電子銃、43は電子銃42と回転陽極41との
間に介在して電子ビームの偏向を行う電子ビーム偏向
部、60Aはその偏向制御部である。
In the scanning gantry section 30, reference numeral 40 denotes a rotating anode type X-ray tube, and 40A denotes a dose (tube voltage k) of the X-ray tube 40.
V, tube current mA, etc.), 41 is a rotating anode of the X-ray tube 40, 42 is an electron gun for irradiating the rotating anode 41 with an electron beam, and 43 is a connection between the electron gun 42 and the rotating anode 41. An electron beam deflecting unit 60A interposed therebetween to deflect the electron beam is a deflection control unit 60A.

【0021】更に、50はX線の曝射範囲(主に体軸C
Lb方向)の制限を行うコリメータ、70はチャネルC
H方向に並ぶ多数(n=1000程度)のX線検出素子
が体軸CLb方向の例えば2列A,Bに配列されている
X線検出器(ツインディテクタ)、80はX線検出器7
0の検出信号に基づき被検体100の投影データg
A(X,θ),gB(X,θ)を生成し、収集するデータ
収集部(DAS)、30Aは走査ガントリ(X線撮影
系)を体軸CLbの周り回転させる回転制御部である。
Further, reference numeral 50 denotes an X-ray irradiation range (mainly the body axis C).
Lb direction) collimator, 70 is channel C
An X-ray detector (twin detector) in which a large number (about n = 1000) of X-ray detection elements arranged in the H direction are arranged in, for example, two rows A and B in the body axis CLb direction.
Projection data g of the subject 100 based on the 0 detection signal
A data collection unit (DAS) for generating and collecting A (X, θ) and g B (X, θ), and 30A is a rotation control unit for rotating the scanning gantry (X-ray imaging system) around the body axis CLb. .

【0022】操作コンソール部10において、11はX
線CT装置の主制御・処理(スキャン制御,CT断層像
の再構成処理等)を行う中央処理装置、11aはそのC
PU、11bはCPU11aが使用するRAM,ROM
等からなる主メモリ(MM)、12はキーボードやマウ
ス等を含む指令やデータの入力装置、13はスキャン計
画情報や画像再構成されたCT断層像等を表示するため
の表示装置(CRT)、14はCPU11aと走査ガン
トリ部30及び撮影テーブル20との間で各種制御信号
CSやモニタ信号MS等のやり取りを行う制御インタフ
ェース、15はデータ収集部80からの投影データを一
時的に記憶するデータ収集バッファ、16はデータ収集
バッファ15からの投影データを最終的に蓄積・格納す
ると共に、X線CT装置の運用に必要な各種アプリケー
ションプログラムや各種演算/補正用のデータファイル
等を格納しているハードディスク装置(HDD)であ
る。
In the operation console unit 10, X is X
A central processing unit for performing main control and processing (scan control, CT tomographic image reconstruction processing, etc.) of the X-ray CT apparatus;
PU, 11b are RAM, ROM used by CPU 11a
A memory (MM) 12 for inputting commands and data including a keyboard, a mouse, and the like; 13, a display device (CRT) for displaying scan plan information and CT tomographic images reconstructed; Reference numeral 14 denotes a control interface for exchanging various control signals CS, monitor signals MS, and the like between the CPU 11a and the scanning gantry unit 30 and the imaging table 20, and reference numeral 15 denotes data collection for temporarily storing projection data from the data collection unit 80. A buffer 16 is a hard disk that finally stores and stores projection data from the data collection buffer 15 and stores various application programs necessary for operation of the X-ray CT apparatus, various calculation / correction data files, and the like. Device (HDD).

【0023】なお、このコリメータ50は、必要なら体
軸CLb方向の開口スリット幅wのみが可変となってお
り、コリメータ50の全体のスライド動作に関しては固
定されているものとする。
In this collimator 50, only the opening slit width w in the direction of the body axis CLb is variable if necessary, and the collimator 50 is assumed to be fixed in its entire sliding operation.

【0024】係る構成により、X線管40からコリメー
タ50を通過したX線ファンビームXLFBは被検体1
00を透過してX線検出器70の検出器列A,Bに一斉
に入射する。データ収集部80はX線検出器70の各検
出出力に対応する投影データgA(X,θ),gB(X,
θ)を生成し、これらをデータ収集バッファ15に格納
する。更に、走査ガントリが僅かに回転した各ビュー角
θで上記同様のX線撮影を行い、こうして走査ガントリ
1回転分の投影データを収集・蓄積する。
With this configuration, the X-ray fan beam XLFB that has passed through the collimator 50 from the X-ray tube 40 is
00 and simultaneously enter the detector rows A and B of the X-ray detector 70. The data collection unit 80 projects data g A (X, θ) and g B (X, θ) corresponding to each detection output of the X-ray detector 70.
θ) are generated and stored in the data collection buffer 15. Further, X-ray imaging similar to the above is performed at each view angle θ at which the scanning gantry is slightly rotated, and thus projection data for one rotation of the scanning gantry is collected and accumulated.

【0025】また同時に、アキシャル/ヘリカルスキャ
ン方式に従って撮影テーブル20を体軸CLbの方向に
間欠的/連続的に移動させ、こうして被検体100の所
要撮影領域についての全投影データを収集・蓄積し、こ
れらを最終的にハードディスク装置16に格納する。そ
して、CPU11aは、上記全スキャンの終了後、又は
スキャン実行に追従(並行)して、得られた投影データ
に基づき被検体100のCT断層像を再構成し、これを
表示装置13に表示する。以下、本発明によるX線焦点
位置制御を詳細に説明する。
At the same time, the imaging table 20 is intermittently / continuously moved in the direction of the body axis CLb in accordance with the axial / helical scan method. Thus, all projection data on a required imaging area of the subject 100 is collected and accumulated. These are finally stored in the hard disk drive 16. The CPU 11a reconstructs a CT tomographic image of the subject 100 based on the obtained projection data after the end of all the scans or following (in parallel with) the execution of the scan, and displays this on the display device 13. . Hereinafter, the X-ray focal position control according to the present invention will be described in detail.

【0026】図3は第1の実施の形態によるX線焦点位
置制御方式を説明する図で、X線制御部40Aにより制
御される静電型の電子銃42Eと、偏向制御部60Aに
より制御される静電型の電子ビーム偏向部43Eとを備
える場合を示している。なお、以下の説明では、記号<
>はベクトルを表す。また図中のベクトルは太文字で
表す。またX線検出器70にける検出器列A,Bの各所
定(レファレンスチャネルn)の投影データgA(X
n,θ),gB(Xn,θ)の各信号振幅をレファレン
ス信号a,bと呼ぶ。
FIG. 3 is a view for explaining an X-ray focal position control method according to the first embodiment. The electrostatic electron gun 42E controlled by the X-ray control unit 40A and the deflection control unit 60A control the electron gun 42E. And an electrostatic type electron beam deflecting unit 43E. In the following description, the symbol <
> Represents a vector. Vectors in the figure are represented by bold characters. Further, projection data g A (X) of each predetermined (reference channel n) of the detector rows A and B in the X-ray detector 70
n, θ) and g B (Xn, θ) are referred to as reference signals a and b.

【0027】電子銃42Eは、管電流mAにより駆動さ
れるヒータHと、各円筒形の陰極(カソード)C,格子
(グリッド)G及び第1の陽極A1とを含み、管電圧k
Vによりバイアスされる回転陽極41(第2の陽極A
2)と共に、回転陽極41の表面で集束するような電子
ビームを形成する。
The electron gun 42E includes a heater H driven by a tube current mA, a cylindrical cathode (cathode) C, a grid (grid) G, and a first anode A1, and a tube voltage k.
Rotating anode 41 (second anode A
Together with 2), an electron beam is formed so as to be focused on the surface of the rotating anode 41.

【0028】即ち、ヒータHにより加熱され、陰極Cか
ら放出された電子束は、陰極Cの表面,格子Gの制限孔
及び第1の陽極A1の制限孔とからなる第1のレンズ系
によって加速・集束され、陰極表面における軸上の小さ
な点(第1のクロスオーバ点)に集中される。更に、こ
のクロスオーバ点(電子源とみなせる)を通過する電子
束は、第1,第2の陽極A1,A2の電圧比(等電位面
の作用)により形成される第2のレンズ系によって加速
・集束され、最終的に回転陽極41の表面(第2のクロ
スオーバ点)に集束(結像)される。
That is, the electron flux heated by the heater H and emitted from the cathode C is accelerated by the first lens system including the surface of the cathode C, the limiting holes of the lattice G, and the first anode A1. • Focused and concentrated on a small axial point (first crossover point) on the cathode surface. Further, the electron flux passing through the crossover point (which can be regarded as an electron source) is accelerated by the second lens system formed by the voltage ratio of the first and second anodes A1 and A2 (the action of the equipotential surface). The light is focused and finally focused (imaged) on the surface (second crossover point) of the rotating anode 41.

【0029】電子ビーム偏向部43Eは、系の軸(z
軸)方向に進む電子ビームを挟むようにして設けられた
上下2枚の平板電極43a,43bを含み、これらに電
圧±Vを加えることで、両平板電極43a,43bの間
の空間には均一な電界±<E>が形成される。そして、こ
の空間をz軸方向に進む電子(ビーム)は、この電界<
E>によりy軸方向に働く力<f>、<f>=q<E>但し、
q:電子の電荷を受ける結果、第2のクロスオーバ点
(X線焦点F)はy軸方向に変位する。
The electron beam deflecting unit 43E is connected to the axis (z
An upper and lower plate electrodes 43a and 43b provided so as to sandwich an electron beam traveling in the (axial) direction, and by applying a voltage ± V to these, a uniform electric field is applied to the space between the plate electrodes 43a and 43b. ± <E> is formed. Then, electrons (beams) traveling in this space in the z-axis direction generate an electric field <
<F>, <f> = q <E>
q: As a result of receiving the electron charge, the second crossover point (X-ray focal point F) is displaced in the y-axis direction.

【0030】一方、偏向制御部60Aは、検出器列A,
Bのレファレンス信号a,bを比較してこれらの差信号
(誤差信号)veを検出する演算部61と、誤差信号v
eを累積加算(積分)して電子ビームを偏向制御するた
めの制御信号vcを生成する累積加算部(ADD)62
と、制御信号vcに対応する制御電圧Vを生成する差動
増幅器(DVA)63とを含んでいる。
On the other hand, the deflection control unit 60A includes a detector array A,
A calculation unit 61 for comparing the reference signals a and b of B to detect a difference signal (error signal) ve between them;
cumulative addition section (ADD) 62 that cumulatively adds (integrates) e to generate a control signal vc for controlling the deflection of the electron beam.
And a differential amplifier (DVA) 63 that generates a control voltage V corresponding to the control signal vc.

【0031】演算部61は、各ビューのレファレンス信
号a,bに基づき誤差信号veを例えば、 ve=k・(a−b)/(a+b) により求める。但し、kは誤差信号veの検出感度を決
定する係数である。
The calculation unit 61 obtains an error signal ve based on, for example, ve = k ・ (ab) / (a + b) based on the reference signals a and b of each view. Here, k is a coefficient that determines the detection sensitivity of the error signal ve.

【0032】挿入図(a)に誤差信号veの検出特性を
示す。この誤差信号veは、上式に含まれる正規化項
{×1/(a+b)}の作用により、コリメータ50の
スリット幅w(即ち、検出器列A,Bが受けるトータル
の線エネルギー)によらず、−k≦ve≦kの範囲で直
線的に変化する。
FIG. 3A shows the detection characteristics of the error signal ve. The error signal ve depends on the slit width w of the collimator 50 (that is, the total line energy received by the detector rows A and B) due to the effect of the normalization term {× 1 / (a + b)} included in the above equation. Instead, it changes linearly in the range of -k ≦ ve ≦ k.

【0033】更に、累積加算部62は演算部61から時
系列(ビュー毎)に発生する誤差信号veを累積加算
(積分)して各時点における制御信号vcを生成する。
そして、差動増幅器63は入力の制御信号vcを増幅し
て制御電圧Vを生成し、これを電子ビーム偏向部43E
の平板電極43a,43bに印加する。
Further, the accumulative adder 62 accumulatively adds (integrates) the error signals ve generated in time series (for each view) from the calculator 61 to generate the control signal vc at each time point.
Then, the differential amplifier 63 amplifies the input control signal vc to generate a control voltage V, which is used to deflect the electron beam deflector 43E.
To the flat plate electrodes 43a and 43b.

【0034】係る構成を使用してX線焦点位置制御のフ
ィードバックループを構成することにより、回転陽極4
1の熱膨張/収縮等によるz軸方向の移動によらず、X
線焦点Fを常に検出器列A,Bの境界線CLdの真上に
位置させることが可能となる。以下、これを具体的に説
明する。
By forming a feedback loop for controlling the X-ray focal position by using such a configuration, the rotating anode 4
X regardless of the movement in the z-axis direction due to thermal expansion / contraction
The line focus F can always be positioned directly above the boundary line CLd between the detector rows A and B. Hereinafter, this will be described in detail.

【0035】今、回転陽極41がその基準位置(実線)
z0にあるとすると、この時の焦点F0はX線検出器列
A,Bの境界線CLdの真上に位置するため、コリメー
タ50を通過したX線ファンビームXLFBは各検出器
列A,Bに均等(等分)に入射し、よってこの場合のレ
ファレンス信号a,bは、a=bの関係にある。従っ
て、この状態では、毎回発生する誤差信号ve=0によ
り、その制御信号vc=0、かつその制御電圧V=0と
なり、この場合の電子ビームは偏向を受けずに系の軸上
を直進し、引き続き焦点F0上に結像する。
Now, the rotating anode 41 is at its reference position (solid line).
If it is at z0, the focal point F0 at this time is located directly above the boundary line CLd between the X-ray detector rows A and B, so that the X-ray fan beam XLFB that has passed through the collimator 50 passes through each of the detector rows A and B. The reference signals a and b in this case have a relationship of a = b. Therefore, in this state, the control signal vc = 0 and the control voltage V = 0 due to the error signal ve = 0 generated each time, and the electron beam in this case goes straight on the axis of the system without being deflected. Then, an image is continuously formed on the focal point F0.

【0036】次に回転陽極41が−z1の側に僅かに変
位したとすると、コリメータ50は固定されているた
め、このままではレファレンス信号a,bは、a<bの
関係となる。その結果、誤差信号ve<0、その制御信
号vc<0、その制御電圧V<0となり、この場合の電
子ビームはy軸と反対方向に僅かに偏向を受けて直進
し、焦点F0の僅かに下側で結像する。そして、このと
きの回転陽極41は−z1の側に僅かに変位しているた
め、このとき生成されるX線焦点Fは境界線CLdの真
上に位置し、よってこの場合のX線ファンビームXLF
Bも各検出器列A,B上に均等(等分)に分配される。
Next, assuming that the rotating anode 41 is slightly displaced to the -z1 side, since the collimator 50 is fixed, the reference signals a and b have a relationship of a <b. As a result, the error signal ve <0, the control signal vc <0, and the control voltage V <0. In this case, the electron beam is slightly deflected in the direction opposite to the y-axis and travels straight, and slightly moves at the focal point F0. An image is formed on the lower side. Since the rotating anode 41 at this time is slightly displaced to the side of -z1, the X-ray focal point F generated at this time is located immediately above the boundary line CLd. XLF
B is also equally (equally) distributed over the detector rows A and B.

【0037】次に回転陽極41が更に−z1の側に僅か
に変位すると、このとき生成された誤差信号ve<0が
直前(それまで)の制御信号vc<0に累積加算される
ため、その制御電圧Vは更に負となり、この場合の電子
ビームはy軸と反対方向に更に強い偏向を受けて直進
し、焦点F0の更に下側で結像する。そして、このとき
の回転陽極41は更に−z1の側に僅かに変位している
ため、このとき生成されるX線焦点Fも境界線CLdの
真上に位置し、よってこの場合のX線ファンビームXL
FBも各検出器列A,B上に均等に分配される。
Next, when the rotating anode 41 further slightly displaces to the -z1 side, the error signal ve <0 generated at this time is cumulatively added to the immediately preceding (up to) control signal vc <0. The control voltage V becomes further negative, and in this case, the electron beam receives a stronger deflection in the direction opposite to the y-axis, travels straight, and forms an image further below the focal point F0. Since the rotating anode 41 at this time is further slightly displaced to the side of -z1, the X-ray focal point F generated at this time is also located immediately above the boundary line CLd. Beam XL
FB is also equally distributed on each of the detector rows A and B.

【0038】以下、同様にして進み,やがて回転陽極4
1が丁度−z1(点線)の位置に変位すると、このとき
生成された誤差信号ve<0が直前(それまで)の制御
信号vc<0に累積加算されるため、その制御電圧Vは
更に負となり、この場合の電子ビームはy軸と反対方向
に更に強い偏向を受けて直進し、丁度F1の位置で結像
する。そして、このときの回転陽極41は丁度−z1
(点線)の位置に変位しているため、このとき生成され
るX線焦点F1も境界線CLdの真上に位置しており、
よってこの場合のX線ファンビームXLFBも各検出器
列A,B上に均等に分配される。また、回転陽極41が
+z2(破線)の側に変位したときは、上記の逆の動作
となる。
Thereafter, the process proceeds in the same manner, and eventually the rotating anode 4
When 1 is shifted to the position of -z1 (dotted line), the error signal ve <0 generated at this time is cumulatively added to the immediately preceding (up to) control signal vc <0, so that the control voltage V is further negative. In this case, the electron beam receives a stronger deflection in the direction opposite to the y-axis, travels straight, and forms an image just at the position F1. And the rotating anode 41 at this time is exactly -z1.
(Dotted line), the X-ray focal point F1 generated at this time is also located directly above the boundary line CLd.
Therefore, the X-ray fan beam XLFB in this case is also equally distributed on the detector rows A and B. When the rotating anode 41 is displaced to the side of + z2 (broken line), the above operation is reversed.

【0039】なお、上記動作を厳密に言えば、電子ビー
ムは電子ビーム偏向部43Eにおける偏向の実質中心か
ら半径rの円弧R上で結像するため、図の焦点F0の位
置では良いが、焦点F1又はF2に至る各位置ではその
結像にボケが生じ得る。但し、このボケ分は基準位置F
0からのビーム偏向量(制御信号vc)の関数として扱
えるから、図示しないが、例えば各時点における制御信
号vcに基づき上記第1及び又は第2のレンズ系の集束
制御に対して補正をかけることが可能であり、こうすれ
ば結像のボケを有効に回避(修正)できる。好ましく
は、その際に使用する補正値については、これを予め実
験又はシミュレーション等により求めておいてROM等
に記憶しておく。
Strictly speaking, the electron beam forms an image on an arc R having a radius r from the substantial center of deflection in the electron beam deflecting unit 43E. At each position reaching F1 or F2, the image may be blurred. However, this blur is the reference position F
Although not shown, since it can be handled as a function of the beam deflection amount (control signal vc) from 0, for example, the convergence control of the first and / or second lens system is corrected based on the control signal vc at each time. This makes it possible to effectively avoid (correct) image blurring. Preferably, the correction value used at that time is obtained in advance by an experiment or a simulation and stored in a ROM or the like.

【0040】かくして、本第1の実施の形態によれば、
回転陽極41のz軸方向の移動によらず、X線焦点Fを
常に検出器列A,Bの境界線CLdの真上に位置させる
ことが可能となる。
Thus, according to the first embodiment,
Regardless of the movement of the rotating anode 41 in the z-axis direction, the X-ray focal point F can always be positioned directly above the boundary line CLd between the detector rows A and B.

【0041】図4,図5は第2の実施の形態によるX線
焦点位置制御方式を説明する図(1),(2)で、X線
制御部40Aにより制御される電磁型の電子銃42M
と、偏向制御部60Aにより制御される電磁型の電子ビ
ーム偏向部43Mとを備える場合を示している。
FIGS. 4 and 5 are views (1) and (2) for explaining an X-ray focal position control method according to the second embodiment, in which an electromagnetic electron gun 42M controlled by an X-ray controller 40A.
And an electromagnetic type electron beam deflecting unit 43M controlled by the deflection control unit 60A.

【0042】図4はX線焦点位置制御方式の構成を示し
ており、このX線管40における回転陽極41の斜面の
傾斜角θは、上記図3に示した回転陽極41の傾斜角θ
よりも大きくなっている。従って、X線焦点Fのy軸方
向への変位量を小さくでき、よって電子ビームの偏向に
よらず、各時点におけるX線焦点FからX線検出器70
までの距離を、より一定なものに近づけることが可能と
なる。
FIG. 4 shows the configuration of the X-ray focal position control system. The inclination angle θ of the inclined surface of the rotating anode 41 in the X-ray tube 40 is the same as the inclination angle θ of the rotating anode 41 shown in FIG.
Is bigger than. Therefore, the amount of displacement of the X-ray focal point F in the y-axis direction can be reduced.
Can be made closer to a more constant one.

【0043】また、この電子銃42Mは、管電流mAに
より駆動されるヒータHと、円筒形の陰極(カソード)
Cと、円筒内部に系の軸(z軸)方向と平行となるよう
な均一な磁場<B>(=μ0<H>)を生成する集束用コイ
ルFOC(又は永久磁石でも良い)とを含み、管電圧k
Vによりバイアスされる回転陽極41と共に、回転陽極
41の表面で集束するような電子ビームを形成する。
The electron gun 42M includes a heater H driven by a tube current mA and a cylindrical cathode (cathode).
C and a focusing coil FOC (or a permanent magnet) that generates a uniform magnetic field <B> (= μ 0 <H>) in the cylinder, which is parallel to the axis (z-axis) of the system. Including tube voltage k
Together with the rotating anode 41 biased by V, it forms an electron beam that is focused on the surface of the rotating anode 41.

【0044】即ち、ヒータHにより加熱され、陰極Cか
ら放出された電子束のうち、系の軸(z軸)方向と平行
に進む成分は磁場<B>の作用を受けずに管電圧kVのみ
よって加速されて直進し、回転陽極41に至る。一方、
系の軸{磁場<B>}とある角度をなして進むような近軸
電子は、磁場<B>との相互作用により軸と直角の方向に
力を受ける結果、該軸に沿って螺旋運動を起こし、丁度
軸上に戻る時に回転陽極41に至るように磁場<B>が調
整される。こうして、最終的に回転陽極41の表面で集
束するような電子ビームが形成される。
That is, of the electron beam heated by the heater H and emitted from the cathode C, the component traveling parallel to the axis (z-axis) of the system is only the tube voltage kV without being affected by the magnetic field <B>. Therefore, it is accelerated and travels straight to reach the rotating anode 41. on the other hand,
Paraxial electrons that travel at an angle with the axis of the system {magnetic field <B>} receive a force in a direction perpendicular to the axis due to the interaction with the magnetic field <B>, resulting in a helical motion along the axis. And the magnetic field <B> is adjusted so that the magnetic field <B> reaches the rotating anode 41 when returning to just on the axis. In this way, an electron beam that is finally focused on the surface of the rotating anode 41 is formed.

【0045】また、この電子ビーム偏向部43Mは、系
の軸方向に進む電子ビームを挟むようにして設けられた
左右2つの偏向コイルDFCa,DFCbを含み、これ
らに制御電流Iを流すことで、両偏向コイルDFCa,
DFCbの間には均一な磁場<B>(=μ0<H>)が形成
される。そして、この空間をz軸方向に進む電子(ビー
ム)は、この磁場<B>によりy軸方向に働く力<f>、 <f>=q<v>×<B> 但し、q:電子の電荷 <v>:電子の速度 ×:ベクトル積 <B>:磁束密度 を受ける結果、この場合の電子ビームの集束点(X線焦
点F)はy軸方向に変位する。なお、図5にそのイメー
ジ(斜視図)を示す。
The electron beam deflecting unit 43M includes two right and left deflecting coils DFCa and DFCb provided so as to sandwich an electron beam traveling in the axial direction of the system. Coil DFCa,
A uniform magnetic field <B> (= μ 0 <H>) is formed between the DFCs. Then, electrons (beams) traveling in this space in the z-axis direction have forces <f>, <f> = q <v> × <B> acting in the y-axis direction due to the magnetic field <B>, where q: As a result of receiving the electric charge <v>: the velocity of the electron x: the vector product <B>: the magnetic flux density, the focal point (X-ray focal point F) of the electron beam in this case is displaced in the y-axis direction. FIG. 5 shows the image (perspective view).

【0046】図4に戻り、一方、この偏向制御部60A
は、検出器列A,Bのレファレンス信号a,bを比較し
てこれらの間の差信号(誤差信号)veを検出する演算
部61と、誤差信号veを累積加算(積分)して電子ビ
ームを偏向制御するための制御信号vcを生成する累積
加算部(ADD)62と、制御信号vcに対応する制御
電流Iを生成する電流増幅器(FET)Qとを含んでい
る。
Returning to FIG. 4, the deflection control unit 60A
Is a calculation unit 61 that compares the reference signals a and b of the detector rows A and B to detect a difference signal (error signal) ve therebetween, and accumulates (integrates) the error signal ve to obtain an electron beam. And a current amplifier (FET) Q that generates a control current vc for generating a control current vc corresponding to the control signal vc.

【0047】演算部61は上記図3で述べたものと同様
でよい。また累積加算部62には制御電流Iに一定のバ
イアスを加えるための定数βが加算されている。また電
流増幅器Qは、例えばFETを使用した定電流源回路か
らなり、ゲート端子Gの制御電圧vc(=Σve+β)
に対応する制御電流IがソースSとドレインD間に流れ
る。
The operation unit 61 may be the same as that described with reference to FIG. Further, a constant β for applying a constant bias to the control current I is added to the cumulative addition unit 62. The current amplifier Q is composed of a constant current source circuit using, for example, an FET, and controls the control voltage vc (= Σve + β) of the gate terminal G.
Flows between the source S and the drain D.

【0048】挿入図(a)に制御電流Iの出力特性を示
す。制御電流Iには一定のバイアス電流Iβが加算され
ている。今、制御電流がIβの時に焦点F0の位置に偏
向するものとすると、回転陽極41がその基準位置z0
から+z2又は−z1の範囲で変位するときに、制御電
流IはIβの上/下の範囲で変化する。
The output characteristics of the control current I are shown in FIG. A constant bias current is added to the control current I. Now, when the control current is assumed to be deflected to the position of the focal point F0 when I beta, rotating anode 41 is the reference position z0
When displacement in the range of + z2 or -z1 from the control current I varies from up / down I beta.

【0049】係る構成を使用してX線焦点位置制御のフ
ィードバックループを構成することにより、回転陽極4
1の移動によらず、X線焦点Fを常に検出器列A,Bの
境界線CLdの真上に位置させることが可能となる。以
下、これを具体的に説明する。
By forming a feedback loop for controlling the X-ray focal position using the above configuration, the rotating anode 4
The X-ray focal point F can always be positioned directly above the boundary line CLd between the detector rows A and B, regardless of the movement of 1. Hereinafter, this will be described in detail.

【0050】今、回転陽極41がその基準位置(実線)
z0にあるとすると、この時の焦点F0はX線検出器列
A,Bの境界線CLdの真上に位置するため、コリメー
タ50を通過したX線ファンビームXLFBは各検出器
列A,B上に均等(等分)に入射し、よってレファレン
ス信号a,bは、a=bの関係にある。従って、この状
態では、毎回発生する誤差信号ve=0により、その制
御信号vc=β、その制御電流I=Iβとなり、この場
合の電子ビームは引き続き焦点F0上に結像する。
Now, the rotating anode 41 is at its reference position (solid line).
If it is at z0, the focal point F0 at this time is located directly above the boundary line CLd between the X-ray detector rows A and B, so that the X-ray fan beam XLFB that has passed through the collimator 50 passes through each of the detector rows A and B. The light is incident evenly (equally) on the upper side, and therefore, the reference signals a and b have a relationship of a = b. Accordingly, in this state, the error signal ve = 0 which occurs every time the control signal vc = beta, becomes the control current I = I beta, electron beam in this case is subsequently imaged on the focus F0.

【0051】次に回転陽極41が−z1の側に僅かに変
位したとすると、コリメータ50は固定されているた
め、このままではレファレンス信号a,bはa<bの関
係となる。その結果、この時点の誤差信号ve<0によ
り、その制御信号vc=β−ve、その制御電流I<I
βとなり、この場合の電子ビームは焦点F0の僅か下側
で結像する。そして、このときの回転陽極41は−z1
の側に僅かに変位しているため、このとき生成されるX
線焦点Fは検出器列A,Bを分ける境界線CLdの真上
に位置しており、よってこの場合のX線ファンビームX
LFBも各検出器列A,B上に均等(等分)に分配され
る。
Next, assuming that the rotating anode 41 is slightly displaced to the -z1 side, since the collimator 50 is fixed, the reference signals a and b have a relationship of a <b. As a result, due to the error signal ve <0 at this time, the control signal vc = β−ve and the control current I <I
β , and the electron beam in this case forms an image slightly below the focal point F0. The rotating anode 41 at this time is −z1
Is slightly displaced to the side of
The line focus F is located immediately above the boundary line CLd separating the detector rows A and B, and thus the X-ray fan beam X in this case is
The LFB is also equally (equally) distributed on each of the detector rows A and B.

【0052】以下、同様にして進み,やがて回転陽極4
1が丁度−z1(点線)の位置に変位すると、このとき
生成された誤差信号ve<0が直前(それまで)の制御
信号vcに累積加算されるため、その制御電流Iは更に
小さくなり、この場合の電子ビームは丁度F1の位置で
結像する。そして、このときの回転陽極41は丁度−z
1(点線)の位置に変位しているため、このとき生成さ
れるX線焦点F1も境界線CLdの真上に位置し、よっ
てこの場合のX線ファンビームXLFBも各検出器列
A,B上に均等に分配される。なお、回転陽極41が+
z2(破線)の側に変位したときは上記の逆の動作とな
る。
Thereafter, the process proceeds in the same manner, and eventually the rotating anode 4
When 1 is displaced to the position of -z1 (dotted line), the error signal ve <0 generated at this time is cumulatively added to the immediately preceding (up to) control signal vc, so that the control current I further decreases. In this case, the electron beam forms an image just at the position of F1. And the rotating anode 41 at this time is exactly -z
1 (dotted line), the X-ray focal point F1 generated at this time is also located immediately above the boundary line CLd. Therefore, in this case, the X-ray fan beam XLFB also has the detector rows A and B. Evenly distributed on top. In addition, the rotating anode 41 has +
When it is displaced to the side of z2 (broken line), the above operation is reversed.

【0053】かくして、本第2の実施の形態によれば、
回転陽極41のz軸方向の移動によらず、X線焦点Fを
常に検出器列A,Bの境界線CLdの真上に位置させる
ことが可能となる。
Thus, according to the second embodiment,
Regardless of the movement of the rotating anode 41 in the z-axis direction, the X-ray focal point F can always be positioned directly above the boundary line CLd between the detector rows A and B.

【0054】なお、上記動作を厳密に言えば、電子ビー
ムは電子ビーム偏向部43Mにおける偏向の実質中心か
ら半径rの円弧R上で結像するため、図の焦点F0の位
置では良いが、焦点F1又はF2に至る各位置ではその
結像にボケが生じ得る。但し、このボケ分は基準位置F
0からのビーム偏向量(制御信号vc)の関数として扱
えるから、図示しないが、例えば各時点の制御信号vc
に基づき上記集束用コイルFOCに加える電流を補正す
ることにより、結像のボケを有効に回避(修正)でき
る。好ましくは、その際に使用する補正値については、
これを予め実験又はシミュレーション等により求めてお
いてROM等に記憶しておく。
Strictly speaking, the electron beam forms an image on an arc R having a radius r from the substantial center of deflection in the electron beam deflecting unit 43M. Therefore, the position of the focal point F0 in FIG. At each position reaching F1 or F2, the image may be blurred. However, this blur is the reference position F
Since it can be handled as a function of the beam deflection amount (control signal vc) from 0, although not shown, for example, the control signal vc at each time point
By correcting the current applied to the focusing coil FOC based on the above, blurring of the image can be effectively avoided (corrected). Preferably, for the correction value used at that time,
This is obtained in advance by experiments or simulations and stored in a ROM or the like.

【0055】図6は他の実施の形態によるX線焦点制御
方式を説明する図で、検出器列が3列以上のX線検出器
(マルチディテクタ)70への適用例を示している。図
において、このX線検出器70は体軸方向に並ぶ例えば
4列の検出器列A1,A2,B1,B2を備えており、
中央の検出器列A2,B1間を分けるような境界線CL
dの真上の位置にX線焦点Fを一定制御可能とするもの
である。
FIG. 6 is a diagram for explaining an X-ray focus control system according to another embodiment, and shows an example of application to an X-ray detector (multi-detector) 70 having three or more detector rows. In the figure, the X-ray detector 70 includes, for example, four detector rows A1, A2, B1, and B2 arranged in the body axis direction.
A boundary line CL separating the central detector rows A2 and B1
The X-ray focal point F can be controlled at a position directly above d.

【0056】即ち、このデータ収集部80は、X線検出
器70の検出信号に基づき被検体100の投影データg
A1(X,θ),gA2(X,θ),gB1(X,θ),gB2
(X,θ)を一斉に生成すると共に、今、その内の各列
のレファレンス信号をa1,a2,b1,b2とする
と、この演算部61は、各ビューのレファレンス信号a
1,a2,b1,b2に基づき毎回の誤差信号veを、
例えば、 ve=k・{(a1+a2)−(b1+b2)}/(a
1+a2+b1+b2) により求める。ここで、kは誤差信号veの検出感度を
決定する係数である。この場合のX線焦点Fは、両側の
レファレンス信号(a1+a2)=(b1+b2)とな
る位置に一定制御されることになる。
That is, the data collection unit 80 generates the projection data g of the subject 100 based on the detection signal of the X-ray detector 70.
A1 (X, θ), g A2 (X, θ), g B1 (X, θ), g B2
Assuming that (X, θ) are generated all at once and the reference signals of the respective columns are a1, a2, b1, and b2, the arithmetic unit 61 calculates the reference signal a of each view.
1, a2, b1, b2, based on each error signal ve,
For example, ve = k {{(a1 + a2)-(b1 + b2)} / (a
1 + a2 + b1 + b2). Here, k is a coefficient that determines the detection sensitivity of the error signal ve. In this case, the X-ray focal point F is fixedly controlled to a position where the reference signals (a1 + a2) = (b1 + b2) on both sides.

【0057】又は、図示しないが、この演算部61は、
両端列のレファレンス信号a1,b2に基づき毎回の誤
差信号veを、例えば、 ve=k・(a1−b2)/(a1+b2) により求める。この場合のX線焦点Fは、少なくとも両
端列のレファレンス信号a1=b2となる位置に一定制
御されることになる。
Alternatively, although not shown, the operation unit 61
Based on the reference signals a1 and b2 at both end rows, an error signal ve for each time is obtained by, for example, ve = k ・ (a1−b2) / (a1 + b2). In this case, the X-ray focal point F is controlled to be at least at a position where the reference signals a1 = b2 at both end rows.

【0058】ところで、上記各実施の形態では電子ビー
ムの偏向制御が回転陽極41の変位をカバーする場合を
中心に述べたが、これに限らない。例えば、上記図3の
構成において、今、X線焦点Fがその基準位置F0の位
置にあるときに、コリメータ50が何らかの理由により
図の右側(z軸方向)に僅かに移動したとすると、この
場合の各レファレンス信号a,bは、a<bの関係とな
り、そのときの誤差信号ve<0、制御信号vc<0,
かつ制御電圧V<0となる。その結果、この場合の電子
ビームは元の位置F0より僅かに下側に偏向される。こ
のとき、上記仮定により回転陽極41は基準位置z0に
あるから、これにより新たなX線焦点Fは回転陽極41
の斜面に沿って元の焦点F0の位置よりも僅かに右下に
移動し、これによってその後のX線ファンビームXLF
Bは、上記位置ずれしたコリメータ50を介して、X線
検出器70の検出器列A,B上に均等に分配される。
In each of the above embodiments, the case where the deflection control of the electron beam covers the displacement of the rotary anode 41 has been mainly described, but the present invention is not limited to this. For example, in the configuration shown in FIG. 3, if the collimator 50 is slightly moved to the right side (z-axis direction) in the figure for some reason when the X-ray focal point F is at the reference position F0, In this case, the reference signals a and b have a relationship of a <b, and the error signal ve <0 and the control signal vc <0,
In addition, the control voltage V <0. As a result, the electron beam in this case is slightly deflected below the original position F0. At this time, since the rotating anode 41 is at the reference position z0 by the above assumption, a new X-ray focal point F is thereby set to the rotating anode 41.
Is moved slightly lower right than the original focal point F0 along the slope of the X-ray fan beam XLF.
B is evenly distributed on the detector rows A and B of the X-ray detector 70 via the displaced collimator 50.

【0059】又は、X線焦点Fがその基準位置F0の位
置にあるときに、X線検出器70が何らかの理由により
図の左側(z軸と反対方向)に僅かに移動したとする
と、この場合の各レファレンス信号a,bは、a<bの
関係となり、そのときの誤差信号ve<0、制御信号v
c<0,制御電圧V<0となる。その結果、この場合の
電子ビームは元の位置F0よりも僅かに下側に偏向され
る。このとき、上記仮定により回転陽極41は基準位置
z0にあるから、これにより新たなX線焦点Fは回転陽
極41の斜面に沿って元の焦点F0の位置よりも僅かに
右下に移動し、これによってその後のX線ファンビーム
XLFBは、上記位置ずれしたX線検出器70の検出器
列A,B上に、均等に分配される。なお、以上のこと
は、上記図4の構成についても同様である。
Alternatively, if the X-ray detector 70 slightly moves to the left (in the direction opposite to the z-axis) in the figure for some reason when the X-ray focal point F is at the reference position F0, Have a relationship of a <b, the error signal ve <0 and the control signal v
c <0 and control voltage V <0. As a result, the electron beam in this case is slightly deflected below the original position F0. At this time, the rotating anode 41 is at the reference position z0 by the above assumption, so that the new X-ray focal point F moves slightly lower right than the original focal point F0 along the slope of the rotating anode 41, Thereby, the subsequent X-ray fan beam XLFB is evenly distributed on the detector rows A and B of the X-ray detector 70 shifted in position. Note that the above is also true for the configuration in FIG.

【0060】以上の場合に、実際上の装置では、上記回
転陽極41のz軸方向における移動に重ねて、コリメー
タ50及び又はX線検出器70のz軸方向における僅か
な移動(ガタや歪み等による影響)が生じることが、少
なからず考えられるが、上記本実施の形態によれば、X
線撮影系における各要素の複雑な変位の組み合わせにも
関わらず、常に各レファレンス信号a,bが同一となる
方向に電子ビームを偏向制御するだけの単純な制御によ
り、常に撮影系のX線ファンビームXLFBを常に検出
器列A,B上に均等に分配可能である。
In the above case, in the practical apparatus, the collimator 50 and / or the X-ray detector 70 move slightly in the z-axis direction (playback, distortion, etc.) in addition to the movement of the rotating anode 41 in the z-axis direction. It is quite possible that this is caused by the influence of X), but according to the present embodiment, X
Despite the complicated combination of displacements of each element in the X-ray imaging system, the X-ray fan of the imaging system is always controlled by a simple control that only controls the deflection of the electron beam in the direction in which the reference signals a and b are always the same. The beam XLFB can always be evenly distributed over the detector rows A and B.

【0061】なお、電子銃42と電子ビーム偏向部43
との組み合わせについては、上記以外にも、静電型と電
磁型の任意組み合わせが可能である。また、電子銃42
としては、他にも様々な構造のものを用い得る。例えば
ヒータ(フィラメント)Hが陽極に対して剥き出しにな
っている構造のものを用い得る。
The electron gun 42 and the electron beam deflecting unit 43
In addition to the above, any combination of an electrostatic type and an electromagnetic type is possible. Also, the electron gun 42
However, various other structures may be used. For example, a heater (filament) H having a structure exposed to the anode may be used.

【0062】また、上記各実施の形態では2列以上の検
出器列を有するX線検出器70への適用例を述べたが、
これに限らない。本発明は、単一の検出器列を有するよ
うなX線検出器(シングルディテクタ)70にも適用で
きる。但し、この場合の偏向制御部60Aは、図示しな
いが、例えば毎回発生する単一のレファレンス信号aに
つき、前回の信号振幅(又は所定の基準値)と、今回の
その偏向量を僅かに変えた時の信号振幅とを比較して、
信号振幅が一定(又は差が0)となる方向に電子ビーム
の偏向制御を行うこととなる。
In each of the above embodiments, an example of application to the X-ray detector 70 having two or more detector rows has been described.
Not limited to this. The present invention can be applied to an X-ray detector (single detector) 70 having a single detector row. However, although not shown, the deflection control unit 60A in this case slightly changes the previous signal amplitude (or a predetermined reference value) and the current deflection amount for a single reference signal a generated every time, for example. Compare with the signal amplitude at the time,
The deflection control of the electron beam is performed in a direction in which the signal amplitude is constant (or the difference is 0).

【0063】また、上記本発明に好適なる複数の実施の
形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部
の構成、制御、処理及びこれらの組合せの様々な変更が
行えることは言うまでも無い。
Although a plurality of preferred embodiments of the present invention have been described, it is to be understood that various changes in the configuration, control, processing, and combinations thereof can be made without departing from the spirit of the present invention. Not even.

【0064】[0064]

【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、簡単な
構成により、X線撮影系を構成する要素(特にX線管の
回転陽極)の変位によらず、撮影系に常に最適のX線フ
ァンビームが得られるため、X線撮影系の小型化、低価
格化、信頼性向上に寄与するところが極めて大きい。
As described above, according to the present invention, with a simple structure, the optimum X-ray for the imaging system is always obtained regardless of the displacement of the elements constituting the X-ray imaging system (particularly, the rotating anode of the X-ray tube). Since the X-ray fan beam can be obtained, it greatly contributes to miniaturization, cost reduction, and improvement in reliability of the X-ray imaging system.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の原理を説明する図である。FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention.

【図2】実施の形態によるX線CT装置の要部構成図で
ある。
FIG. 2 is a main part configuration diagram of an X-ray CT apparatus according to an embodiment.

【図3】第1の実施の形態によるX線焦点位置制御方式
を説明する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating an X-ray focal position control method according to the first embodiment.

【図4】第2の実施の形態によるX線焦点位置制御方式
を説明する図(1)である。
FIG. 4 is a diagram (1) illustrating an X-ray focal position control method according to a second embodiment.

【図5】第2の実施の形態によるX線焦点位置制御方式
を説明する図(2)である。
FIG. 5 is a diagram (2) illustrating an X-ray focal position control method according to a second embodiment.

【図6】他の実施の形態によるX線焦点制御方式を説明
する図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating an X-ray focus control method according to another embodiment.

【図7】従来技術を説明する図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a conventional technique.

【符号の説明】 10 操作コンソール部 11 中央処理装置 11a CPU 11b 主メモリ(MM) 12 入力装置 13 表示装置(CRT) 14 制御インタフェース 15 データ収集バッファ 16 ハードディスク装置(HDD) 20 撮影テーブル 30 走査ガントリ部 30A 回転制御部 40 X線管 40A X線制御部 41 回転陽極 42 電子銃 43 電子ビーム偏向部 50 コリメータ 60A 偏向制御部 70 X線検出器 80 データ収集部(DAS)[Description of Signs] 10 Operation console unit 11 Central processing unit 11a CPU 11b Main memory (MM) 12 Input device 13 Display device (CRT) 14 Control interface 15 Data collection buffer 16 Hard disk device (HDD) 20 Imaging table 30 Scanning gantry unit Reference Signs List 30A Rotation control unit 40 X-ray tube 40A X-ray control unit 41 Rotating anode 42 Electron gun 43 Electron beam deflection unit 50 Collimator 60A Deflection control unit 70 X-ray detector 80 Data acquisition unit (DAS)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 早川 理 東京都日野市旭が丘4丁目7番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 (72)発明者 泉原 彰 東京都日野市旭が丘4丁目7番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 Fターム(参考) 4C093 AA22 CA13 CA32 EA13 EA20 FA15 FA45 FA60  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Osamu Hayakawa Inside 127 Gee Yokogawa Medical System Co., Ltd., 4-7 Asahigaoka, Hino-shi, Tokyo (72) Inventor Akira Izumihara 4-7-7 Asahigaoka, Hino-shi, Tokyo 127 GE Yokogawa Medical Systems Corporation F-term (reference) 4C093 AA22 CA13 CA32 EA13 EA20 FA15 FA45 FA60

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 X線を発生するための電子ビームを偏向
可能に構成されたX線管と、発生されたX線につき被検
体の体軸方向の線幅を制限するコリメータと、コリメー
タを通過したX線ファンビームの線量を検出可能なX線
検出器であって、体軸方向に少なくとも2列の検出器列
を有するもの、とを備えるX線撮影系のX線焦点位置制
御方法において、 X線検出器の少なくとも2列の各所定の検出信号に基づ
き、両信号振幅が同一となる方向に電子ビームを偏向制
御することを特徴とするX線焦点位置制御方法。
1. An X-ray tube configured to deflect an electron beam for generating X-rays, a collimator for limiting a line width of the generated X-ray in a body axis direction of a subject, and passing through the collimator. An X-ray detector capable of detecting the dose of the X-ray fan beam, wherein the X-ray detector has at least two detector rows in the body axis direction. An X-ray focal position control method, comprising: controlling deflection of an electron beam in a direction in which both signal amplitudes are the same based on at least two predetermined detection signals in at least two columns of an X-ray detector.
【請求項2】 コンピュータに請求項1に記載のX線焦
点位置制御方法を実行させるためのプログラム。
2. A program for causing a computer to execute the X-ray focal position control method according to claim 1.
【請求項3】 被検体を挟んでX線管とX線検出器とが
相対向し、X線検出器の検出信号に基づき被検体のCT
断層像を再構成するX線CT装置において、 電子銃と、該電子銃からの電子ビーム照射によりX線を
発生する回転陽極であって、その回転軸方向に斜面を有
するもの、とを備え、これらの間に介在して、電子銃か
ら回転陽極に向かう電子ビームを偏向可能に構成された
電子ビーム偏向部を備えるX線管と、 発生されたX線につき被検体の体軸方向の線幅を制限す
るコリメータと、 コリメータを通過したX線ファンビームの線量を検出可
能な体軸方向に少なくとも2列の検出器列を有するX線
検出器と、 X線検出器の少なくとも2列の各所定の検出信号に基づ
き、両信号振幅が同一となる方向に電子ビーム偏向部の
偏向を制御する偏向制御部とを備えることを特徴とする
X線CT装置。
3. An X-ray tube and an X-ray detector are opposed to each other across a subject, and CT of the subject is detected based on a detection signal of the X-ray detector.
An X-ray CT apparatus for reconstructing a tomographic image, comprising: an electron gun; and a rotating anode that generates X-rays by irradiating an electron beam from the electron gun, the rotating anode having an inclined surface in a rotation axis direction thereof, An X-ray tube having an electron beam deflecting unit configured to deflect an electron beam from the electron gun toward the rotating anode interposed therebetween, and a line width in the body axis direction of the subject with respect to the generated X-rays A X-ray detector having at least two detector rows in the body axis direction capable of detecting a dose of an X-ray fan beam passing through the collimator; and a predetermined each of at least two X-ray detector rows. An X-ray CT apparatus comprising: a deflection control unit that controls the deflection of an electron beam deflection unit in a direction in which both signal amplitudes are the same based on the detection signal.
【請求項4】 電子銃と、該電子銃からの電子ビーム照
射によりX線を発生する回転陽極であって、その回転軸
方向に斜面を有するもの、とを備えるX線管において、 電子銃と回転陽極との間に介在して、電子銃から回転陽
極に向かう電子ビームを偏向可能に構成された電子ビー
ム偏向部を備えることを特徴とするX線管。
4. An X-ray tube comprising: an electron gun; and a rotary anode that generates X-rays by irradiating an electron beam from the electron gun, the X-ray tube having an inclined surface in a rotation axis direction thereof. An X-ray tube comprising an electron beam deflector interposed between a rotating anode and an electron beam deflector configured to deflect an electron beam traveling from an electron gun toward the rotating anode.
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