JP2002218742A - Serially-connected circuit for schottky barrier diode, and the schottky barrier diode thereof - Google Patents

Serially-connected circuit for schottky barrier diode, and the schottky barrier diode thereof

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JP2002218742A
JP2002218742A JP2001006419A JP2001006419A JP2002218742A JP 2002218742 A JP2002218742 A JP 2002218742A JP 2001006419 A JP2001006419 A JP 2001006419A JP 2001006419 A JP2001006419 A JP 2001006419A JP 2002218742 A JP2002218742 A JP 2002218742A
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schottky barrier
voltage
sbd
barrier diode
diode
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Saburo Degawa
三郎 出川
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent generation of forward recovery transient loss by using an SBD, in a circuit of which the voltage is at least 200 V. SOLUTION: A D2 formed, by connecting at least two SBDs in series, is used in place of the conventional diode having a PN junction. This permits forward voltage VF to become a flat waveform without the presence of forward recovery voltage VFR. Thus, transient loss can be prevented from occurring at the time of forward recovery.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ショットキーバリ
アダイオード(以下、SBDと略記する。)を使用した
直列接続回路及びそれに使用するSBDの構造に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a series connection circuit using a Schottky barrier diode (hereinafter abbreviated as SBD) and a structure of an SBD used therefor.

【0002】[0002]

【従来の技術】PN接合を有する一般的なダイオードを
使用した整流回路として図4のような回路がある。図の
整流回路では交流電源Eを全波整流ブリッジ回路Bで整
流する。そして、スイチング素子Qがオンの時は、コイ
ルLを経由してドレイン電流IQが流れる。次いで、ス
イッチング素子Qをオフとすると、PN接合を有する一
般用ダイオードDには電流IDが流れる。再びスイッチ
ング素子Qをオンにすると、ドレイン電流IQが流れ、
電流IDは零となりダイオードDにコンデンサCの電圧
が逆電圧として印加される。
2. Description of the Related Art As a rectifier circuit using a general diode having a PN junction, there is a circuit as shown in FIG. In the rectifier circuit shown, the AC power supply E is rectified by a full-wave rectifier bridge circuit B. When the switching element Q is on, a drain current IQ flows through the coil L. Next, when the switching element Q is turned off, a current ID flows through the general-purpose diode D having a PN junction. When the switching element Q is turned on again, the drain current IQ flows,
The current ID becomes zero, and the voltage of the capacitor C is applied to the diode D as a reverse voltage.

【0003】次に、上記整流回路における動作波形を図
5に示す。図で横軸は時間、縦軸は電圧及び電流を示
す。図において、時間t0でスイッチング素子Qをオフ
すると、電流IDは増加し、その後定常状態に至る。こ
の時、時間t0〜t1において、ダイオードD1には急
峻な立ち上がり電流が流れる。ダイオードD1の順電圧
はt1において、大きな順回復電圧VFRが発生する。
このVFRと順方向電流IDの積による過渡損失が発生
する。特に、この過渡損失は、スイッチング素子Qのオ
ン、オフの周期が短くなると、ダイオードD1全体の損
失の中に占める割合が多くなるため、この種の回路の効
率が低下してしまう。なお、上記順回復電圧VFRが発
生した後は、定常状態の順電圧VFとなる。一方、電流
IDはスイッチング素子Qがオフしている期間流れ続け
る。
FIG. 5 shows operation waveforms in the rectifier circuit. In the figure, the horizontal axis represents time, and the vertical axis represents voltage and current. In the figure, when the switching element Q is turned off at time t0, the current ID increases, and then reaches a steady state. At this time, from time t0 to t1, a steep rising current flows through the diode D1. At a forward voltage t1 of the diode D1, a large forward recovery voltage VFR is generated.
A transient loss occurs due to the product of the VFR and the forward current ID. In particular, when the on / off cycle of the switching element Q is shortened, the transient loss accounts for a large proportion of the total loss of the diode D1, so that the efficiency of this type of circuit is reduced. After the forward recovery voltage VFR is generated, the forward voltage VF becomes a steady state forward voltage VF. On the other hand, the current ID continues to flow while the switching element Q is off.

【0004】次に、時間t2からt4に至るまでのダイ
オードの挙動について説明する。時間t2でスイッチン
グ素子Qがオンすると、電流IDは減少し、ダイオード
D1内に残存するキャリアにより逆回復時間trr期間
で図示のように逆電流、逆電圧が発生し、逆回復損失が
発生する。
Next, the behavior of the diode from time t2 to time t4 will be described. When the switching element Q is turned on at the time t2, the current ID decreases, and the carriers remaining in the diode D1 generate a reverse current and a reverse voltage during the reverse recovery time trr as shown in FIG.

【0005】今、PN接合を有するダイオードD1のア
ノード電極側を負(−)電位に、また、ダイオードD1
のカソード電極側を正(+)電位となるように、PN接
合を逆バイアスすると、アノード電極に接続されるP層
側には、負電荷(−qNa)を有するアクセプタ原子
が、また、N層側には、正の電荷(+qNd)を有する
ドナー原子が、両電極の電位と相反発するように片寄っ
た分布を形成し、正負二重の電荷層となる。この空間電
荷により電界分布(E(x))が生じ、さらに、その電
界分布(E(x))により電位分布(−V(x))が発
生し、この負電位分布(−V(x))により印加した逆
電圧(VR)が阻止される。
Now, the anode electrode side of the diode D1 having a PN junction is set to a negative (-) potential, and the diode D1 is
When the PN junction is reverse-biased so that the cathode electrode side of the P layer becomes a positive (+) potential, an acceptor atom having a negative charge (-qNa) is placed on the P layer side connected to the anode electrode, and the N layer is On the side, a donor atom having a positive charge (+ qNd) forms a biased distribution so as to repel the potential of both electrodes, forming a positive / negative double charge layer. The space charge generates an electric field distribution (E (x)), and furthermore, the electric field distribution (E (x)) generates a potential distribution (−V (x)), and this negative potential distribution (−V (x)). ) Prevents the applied reverse voltage (VR).

【0006】次に、上記ダイオード(D1)に順方向電
圧、すなわち、アノード電極側を正(+)電位、カソー
ド電極側を負(−)電位となるようにバイアスすると、
P層側にあって負の電荷を有するアクセプタ原子は、ア
ノード電極の正電位に引かれ、また、N層側にあって正
の電荷を有するドナー原子は、カソード電極の負電位に
引かれ、それぞれの電極に向かって再び流れ込むように
なる。
Next, when the diode (D1) is biased so as to have a forward voltage, that is, a positive (+) potential on the anode electrode side and a negative (-) potential on the cathode electrode side,
Acceptor atoms having a negative charge on the P layer side are attracted to the positive potential of the anode electrode, and donor atoms having a positive charge on the N layer side are attracted to the negative potential of the cathode electrode, It flows again toward each electrode.

【0007】すなわち、P層側では多数キャリアである
正孔は、N層側では少数キャリアとなってP層側からN
層側へと正孔の注入が徐々に開始されるようになる。N
層側からのもう一つのキャリアである電子についても同
様の動きをするが、本説明においては特に正孔が問題と
なるので、電子についてはその説明を省略する。
That is, holes which are majority carriers on the P layer side become minority carriers on the N layer side, and N
Hole injection into the layer side is gradually started. N
The same operation is performed for electrons as another carrier from the layer side. However, in the present description, holes are particularly problematic, and therefore, description of electrons is omitted.

【0008】ところで、上記N層は、逆電圧(VR)
を、通常、該N層側で維持させるようにデバイスを設計
するので、高抵抗(Nd濃度≒1×10↑14atoms/cm
↑3)で、かつ、例えば500V/50μm程度と厚く
なっているため、本来は高抵抗体であるが、N層側に注
入された正孔は、該正孔の注入レベルによって、この高
抵抗体の抵抗率は大きく変わる。
By the way, the N layer has a reverse voltage (VR).
Is usually designed to be maintained on the N layer side, so that high resistance (Nd concentration ≒ 1 × 10 ↑ 14 atoms / cm)
↑ 3) and the thickness is, for example, about 500 V / 50 μm, so that it is originally a high-resistance body. However, the holes injected into the N layer side depend on the injection level of the holes, so Body resistivity varies greatly.

【0009】すなわち、より多くのN層内に正孔が注入
されれば、より強いN層内での伝導度変調が起こり、N
層の抵抗率は下がることになる。しかしながら、この正
孔の注入量があるレベルに達するまでの時間は零ではな
い。つまり、ある程度の伝導度変調が起こり、定常状態
の順電圧降下(VF)に至るまでには、デバイスのライ
フタイム(τp)依存及び電流密度(J)依存もある
が、通常約0.001〜0.1μsオーダの時間がかか
ることが分かってきている。
That is, if holes are injected into more N layers, conductivity modulation in the N layer becomes stronger, and N
The resistivity of the layer will decrease. However, the time required for the hole injection amount to reach a certain level is not zero. In other words, a certain degree of conductivity modulation occurs to reach a steady state forward voltage drop (VF) depending on the device lifetime (τp) and the current density (J). It has been found that a time of the order of 0.1 μs is required.

【0010】以上の結果より、上記伝導度変調が安定す
るまでに要する時間が運転周波数、とりわけ、近年の高
周波運転に影響を及ぼすような高速運転の応用において
は、前記の順回復電圧(VFR)が特に問題となってく
る。
From the above results, the above-mentioned forward recovery voltage (VFR) is required in the application of the operation frequency, especially the high-speed operation which affects the high-frequency operation in recent years, until the conductivity modulation is stabilized. Is particularly problematic.

【0011】上記の問題に対する方策の一つとして、通
常のダイオードD1をSBDに置き換え、効率を上げる
ことができる。上記SBDを使用した場合の電流、電圧
波形を図3に示す。図3で注目すべきことは、PN接合
ダイオードで見られた時間t1における順回復電圧(V
FR)がSBDを使用した場合には存在しないことであ
る。このため、順回復時の過渡損失が殆んどない。
As one measure against the above problem, the ordinary diode D1 can be replaced with an SBD to increase the efficiency. FIG. 3 shows current and voltage waveforms when the above SBD is used. It should be noted in FIG. 3 that the forward recovery voltage (V
FR) does not exist when SBD is used. Therefore, there is almost no transient loss during forward recovery.

【0012】すなわち、スイッチング素子Qのオン、オ
フの周期が短くなってもダイオード全体の損失の中に占
める割合が小さいので、この種の整流回路の効率低下を
防ぐことができる。次に、SBDを使用することにより
上記順回復電圧(VFR)が発生しない理由を考察して
見る。それは、SBDにはPN接合ダイオードのように
少数キャリアが存在せず、多数キャリアによる伝導のた
め、逆バイアスから順バイアスに移行した時に、PN接
合におけるような高抵抗層がないので、上記のVFRが
発生しないということである。
That is, even if the on / off cycle of the switching element Q is shortened, the ratio of the entire diode to the loss is small, so that the efficiency of this type of rectifier circuit can be prevented from lowering. Next, the reason why the forward recovery voltage (VFR) is not generated by using the SBD will be considered. The reason is that the SBD does not have minority carriers like a PN junction diode, and because of conduction by majority carriers, there is no high resistance layer as in the PN junction when transitioning from reverse bias to forward bias. Does not occur.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】上記のように従来のP
N接合を有するダイオードに変え、整流回路にSBDを
使用することにより高周波領域での損失を小さくするこ
とができる。しかしながら、回路電圧が例えば、200
Vを超えるような整流回路にはSBDを使用することが
できない。なぜならば、SBDの耐圧は、現状では10
0〜150Vが限界であり、したがって、回路電圧が2
00Vを超えるような場合は、SBDを使用することが
できず、PN接合を有する高速スイッチング用のダイオ
ードを使用せざるを得ないからである。このため、その
場合には依然として順回復電圧VFRが発生し、結果と
して整流回路の効率低下を改善できないという解決すべ
き課題があった。
As described above, the conventional P
By using an SBD for a rectifier circuit instead of a diode having an N-junction, loss in a high frequency region can be reduced. However, if the circuit voltage is, for example, 200
SBDs cannot be used in rectifier circuits that exceed V. This is because the withstand voltage of SBD is 10
0-150V is the limit and therefore the circuit voltage is 2
If the voltage exceeds 00 V, the SBD cannot be used, and a diode having a PN junction for high-speed switching must be used. For this reason, in this case, a forward recovery voltage VFR still occurs, and as a result, there is a problem to be solved in that the efficiency of the rectifier circuit cannot be reduced.

【0014】[0014]

【発明の目的】本発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、ダイオードを使用した接続回路に
おいて、ダイオードに印加される電圧が200V以上の
ものでも損失が小さくなる回路及び該回路に使用するS
BDを提供することを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to solve the above-described problems. In a connection circuit using a diode, a circuit that reduces the loss even when the voltage applied to the diode is 200 V or more, and S used for the circuit
It is intended to provide a BD.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明のショットキーバ
リアダイオードの直列接続回路は、ショットキーバリア
ダイオードのアノード電極を電源側、該ダイオードのカ
ソード電極を負荷側に接続したショットキーバリアダイ
オードの接続回路において、高電圧回路への対応と順回
復電圧の低減を目的として前記ショットキーバリアダイ
オードを少なくとも2個直列に接続したことを特徴とす
るものである。
A Schottky barrier diode series connection circuit according to the present invention comprises a Schottky barrier diode having an anode electrode connected to a power supply and a cathode electrode connected to a load. In the circuit, at least two Schottky barrier diodes are connected in series for the purpose of supporting a high-voltage circuit and reducing a forward recovery voltage.

【0016】また、本発明のショットキーバリアダイオ
ードは、導体板上に少なくとも2個のショットキーバリ
アダイオードチップを電気的に直列接続されるように搭
載し、該チップの表面電極と外部導出端子とが結線さ
れ、該チップが搭載された導体板の周囲及び外部導出端
子の一部が樹脂封止され、樹脂モールド部が形成された
ことを特徴とするものである。
The Schottky barrier diode of the present invention has at least two Schottky barrier diode chips mounted on a conductor plate so as to be electrically connected in series, and has a surface electrode and an external lead-out terminal. Are connected, and the periphery of the conductor plate on which the chip is mounted and a part of the external lead-out terminal are resin-sealed to form a resin mold portion.

【0017】[0017]

【作用】本発明のSBDの直列接続回路は、従来のPN
接合を有するダイオードに変え、SBDを少なくとも2
個直列に接続して使用することにより、順回復電圧VF
Rが存在せず、順電圧VFは平坦な波形となる。このた
め、順回復時における過渡損失は発生しなくなる。
The series connection circuit of the SBD of the present invention is a conventional PN
Change the SBD to at least 2
By connecting and using these in series, the forward recovery voltage VF
There is no R, and the forward voltage VF has a flat waveform. For this reason, a transient loss during forward recovery does not occur.

【0018】また、本発明のSBDは、1つのパッケー
ジ内に少なくとも2個のSBDチップを電気的に直列接
続となるようにして封入したので、配線抵抗も相対的に
小さく、かつ、使い勝手も良い。
In the SBD of the present invention, at least two SBD chips are sealed in one package so as to be electrically connected in series, so that the wiring resistance is relatively small and the usability is good. .

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態を、
図1を参照して説明する。本発明の直列接続回路は、高
電圧回路への対応と順回復電圧VFRの低減を目的とし
てSBDを少なくとも2個直列に接続したことを特徴と
するものである。なお、従来例として示した図4と同一
構成部分には同一符号を付してその説明を省略する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below.
This will be described with reference to FIG. The series connection circuit of the present invention is characterized in that at least two SBDs are connected in series for the purpose of supporting a high-voltage circuit and reducing the forward recovery voltage VFR. The same components as in FIG. 4 shown as a conventional example are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0020】次に、上記直列接続回路の動作とその波形
を図1及び図3に基づいて説明する。図1において、交
流電源Eの交流を、全波整流回路Bを介して直流に整流
する。次に、この直流がスイッチング素子Qをオンさせ
ると、コイルLを経由してドレイン電流IQが流れる。
次いで、スイッチング素子Qがオフになると、直列接続
のSBD・D2に電流IDが流れ負荷側に電流を供給す
る。
Next, the operation of the series connection circuit and its waveform will be described with reference to FIGS. In FIG. 1, an alternating current of an AC power supply E is rectified into a direct current via a full-wave rectifier circuit B. Next, when the direct current turns on the switching element Q, a drain current IQ flows through the coil L.
Next, when the switching element Q is turned off, a current ID flows through the SBD D2 connected in series, and supplies a current to the load side.

【0021】上記回路では、D2としてSBDを使用し
ているので、図5に示した順回復電圧VFRが存在しな
い。このため、図3に示す通り順電圧VFは平坦な電圧
波形となる。したがって、順回復時における過渡損失は
発生しない。ただし、定常状態における順電圧VFは、
SBDを2個使用しているので、SBD1個の時の値よ
りも2倍の順電力損失が発生する。しかし、スイッチン
グ素子Qのオン、オフの周期を短く、すなわち高周波化
すると、相対的に過渡電力損失の比率が大きくなるの
で、順回復時の電力損失が小さい方が全体の電力損失と
しては小さくなる。
In the above circuit, since the SBD is used as D2, the forward recovery voltage VFR shown in FIG. 5 does not exist. Therefore, the forward voltage VF has a flat voltage waveform as shown in FIG. Therefore, no transient loss occurs during forward recovery. However, the forward voltage VF in the steady state is
Since two SBDs are used, the forward power loss is twice as large as the value when one SBD is used. However, when the ON / OFF cycle of the switching element Q is shortened, that is, when the frequency is increased, the ratio of the transient power loss becomes relatively large. .

【0022】一方、前述の通り現在の技術水準では、S
BD単体での耐圧は150Vが上限であり、そのSBD
に印加される回路電圧も理論的には150Vが限度であ
る。また、実際の使用回路電圧は、安全性を見込んでさ
らに低く設定される。したがって、回路電圧が100V
以上では実際上、SBDが使用できず高速用のダイオー
ドが使用されているが現状である。本発明では、少なく
とも200V以上の回路電圧を必要とする場合にSBD
を使用することができ、実用的効果が大きい。
On the other hand, as described above, in the current state of the art, S
The withstand voltage of a BD alone is 150 V at the upper limit, and its SBD
Is theoretically limited to 150V. Further, the actual operating circuit voltage is set lower in consideration of safety. Therefore, the circuit voltage is 100 V
In the above description, the SBD cannot be used in practice, and a high-speed diode is used. In the present invention, when a circuit voltage of at least 200 V
Can be used, and the practical effect is great.

【0023】次に、上記回路に使用するSBDの構造
を、図2を参照して説明する。なお、同図(a)は上記
SBDを模式的に表した平面図、同図(b)は上記SB
Dの等価回路図である。図において、ベースとなる導体
板1上にSBDチップ2a,2bを、例えば一方のSB
Dチップ2aのアノード電極が上面になるように、他方
のSBDチップ2bはカソード電極が上面になるように
それぞれソルダにて固着する。次いで、外部導出リード
3a,3bとSBDチップ2a,2bとをボンディング
ワイヤ4にて結線した後、図2(a)の鎖線で示した部
分を樹脂封止し樹脂モールド部5を形成する。最後に、
図示を省略したリードフレームのタイバ部を切断し、図
2(b)の等価回路図に示すようにSBDチップ2a,
2bが直列接続された1パッケージの素子が完成する。
なお、上記の実施の形態ではSBDチップを2個使用し
た例について説明したが、回路電圧に応じてSBDチッ
プを複数個とした直列接続回路のパッケージとすること
もできる。
Next, the structure of the SBD used in the above circuit will be described with reference to FIG. FIG. 3A is a plan view schematically showing the SBD, and FIG.
It is an equivalent circuit diagram of D. In the figure, SBD chips 2a and 2b are placed on a conductor plate 1 serving as a base, for example, one SB.
The other SBD chip 2b is fixed with solder so that the anode electrode of the D chip 2a is on the upper surface and the cathode electrode is on the upper surface. Next, after connecting the external leads 3a, 3b and the SBD chips 2a, 2b with the bonding wires 4, the portions indicated by the dashed lines in FIG. Finally,
The tie bar portion of the lead frame (not shown) is cut off, and the SBD chips 2a, 2b,
An element of one package in which 2b are connected in series is completed.
In the above embodiment, an example in which two SBD chips are used has been described. However, a package of a series connection circuit including a plurality of SBD chips according to a circuit voltage may be used.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上のように本発明の直列接続回路は、
従来のPN接合を有するダイオードに変え、SBDを少
なくとも2個直列に接続して使用するようにしたので、
順回復電圧VFRが存在せず、順電圧VFは平坦な波形
となる。このため、順回復時における過渡損失は発生し
なくなる。また、本発明のSBDは、1つのパッケージ
内に少なくとも2個のSBDチップを電気的に直列接続
となるようにして封入したので、配線抵抗も相対的に小
さく、かつ、使い勝手も良いなどの効果がある。
As described above, the series connection circuit of the present invention
Instead of the conventional diode having a PN junction, at least two SBDs are connected in series and used.
There is no forward recovery voltage VFR, and the forward voltage VF has a flat waveform. For this reason, a transient loss during forward recovery does not occur. Further, since the SBD of the present invention has at least two SBD chips encapsulated in one package so as to be electrically connected in series, effects such as relatively low wiring resistance and good usability can be obtained. There is.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のSBDの直列接続回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of an SBD connected in series according to the present invention.

【図2】上記直列回路に使用するSBDを示し、(a)
はその構造を示す模式図、(b)はその等価回路図であ
る。
FIG. 2 shows an SBD used for the series circuit, and (a)
Is a schematic diagram showing the structure, and (b) is an equivalent circuit diagram thereof.

【図3】本発明のSBDの直列接続回路における動作波
形図である。
FIG. 3 is an operation waveform diagram in the SBD series connection circuit of the present invention.

【図4】PN接合を有するダイオードを使用した従来の
直列接続回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram of a conventional series connection using a diode having a PN junction.

【図5】上記従来の直列接続回路における動作波形図で
ある。
FIG. 5 is an operation waveform diagram in the conventional series connection circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

D2 SBD Q スイッチング素子 E 交流電源 B 全波整流ブリッジ回路 L コイル C コンデンサ 1 導体板 2a,2b SBDチップ 3a,3b 外部導出端子 4 ボンディングワイヤ 5 樹脂モールド部 D2 SBD Q Switching element E AC power supply B Full-wave rectification bridge circuit L Coil C Capacitor 1 Conductor plate 2a, 2b SBD chip 3a, 3b External lead-out terminal 4 Bonding wire 5 Resin molded part

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ショットキーバリアダイオードのアノード
電極を電源側、該ダイオードのカソード電極を負荷側に
接続したショットキーバリアダイオードの接続回路にお
いて、高電圧回路への対応と順回復電圧の低減を目的と
して前記ショットキーバリアダイオードを少なくとも2
個直列に接続したことを特徴とするショットキーバリア
ダイオードの直列接続回路。
An object of the present invention is to provide a connection circuit of a Schottky barrier diode in which an anode electrode of a Schottky barrier diode is connected to a power supply side and a cathode electrode of the diode is connected to a load side, to cope with a high voltage circuit and to reduce a forward recovery voltage. The Schottky barrier diode as at least 2
A series connection circuit of Schottky barrier diodes, which are connected in series.
【請求項2】導体板上に少なくとも2個のショットキー
バリアダイオードチップを電気的に直列接続されるよう
に搭載し、該チップの表面電極と外部導出端子とが結線
され、該チップが搭載された導体板の周囲及び外部導出
端子が樹脂封止され、樹脂モールド部が形成されたこと
を特徴とするショットキーバリアダイオード。
2. At least two Schottky barrier diode chips are mounted on a conductor plate so as to be electrically connected in series, and a surface electrode of the chip is connected to an external lead terminal, and the chip is mounted. A Schottky barrier diode, characterized in that the periphery of the conductive plate and the external lead-out terminal are resin-sealed to form a resin mold part.
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