JP2002213943A - System and method for measuring surface property - Google Patents

System and method for measuring surface property

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JP2002213943A
JP2002213943A JP2001007281A JP2001007281A JP2002213943A JP 2002213943 A JP2002213943 A JP 2002213943A JP 2001007281 A JP2001007281 A JP 2001007281A JP 2001007281 A JP2001007281 A JP 2001007281A JP 2002213943 A JP2002213943 A JP 2002213943A
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JP
Japan
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measurement
preliminary
main
roughness
contour
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Application number
JP2001007281A
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Japanese (ja)
Inventor
Soichi Kadowaki
聰一 門脇
Naoharu Horiuchi
直治 堀内
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Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To measure the surface property of a measured object more accurately in a short time compared with the prior art, by using properly a measuring condition in the measurement. SOLUTION: A range for conducting premeasurement for a face to be measured is determined at first by aligning by vidual observation or a coordinate value (S21). Then, an outline for the premeasuring range is measured in a measuring condition (rough sampling pitch and fast measuring speed) for outline measurement (S22). Then, an outline shape of a surface of the object to be measured is displayed on screen based on premeasured data obtained by the premeasurement (S23). The range for carrying out regular measurement is selected and determined based on the displayed premeasured data (S24) on the screen. Then, the roughness of the regular measurement range is measured under the condition for measuring the roughness (fine sampling pitch.slow measuring speed) (S25). Regular measurement data provided by this manner is displayed (S26) on the screen.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物の表面性
状を検出して表示する表面性状測定機に関し、特に本測
定の測定範囲を予備測定データから指定できるようにし
た表面性状測定システム及び方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface texture measuring device for detecting and displaying the surface texture of an object to be measured, and more particularly, to a surface texture measuring system capable of designating a measurement range of the main measurement from preliminary measurement data. About the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】物体の表面性状は、変化の小さい順に、
粗さ、うねり、輪郭(形状)等と呼ばれる。表面性状測
定機は、このような物体の表面性状を、接触型又は非接
触型の検出器を用いて高精度に検出する。例えば、接触
型の検出器(触針)を用いる表面性状測定機には、フル
ストローク0.5mmを数千分の1の分解能で測定でき
るタイプもある。このような高分解能の測定機は、倍率
の異なる複数の測定レンジを有し、測定対象とする範囲
ができるだけ大きい振幅で表示できるように、測定レン
ジを選択可能にしている。このような表面性状測定機の
中には、粗さと輪郭の両者を測定可能な両用測定機もあ
る。
2. Description of the Related Art The surface properties of an object are in the order of small change.
It is called roughness, undulation, contour (shape) and the like. The surface texture measuring device detects the surface texture of such an object with high accuracy using a contact type or non-contact type detector. For example, there is a surface texture measuring device using a contact-type detector (a stylus) that can measure a full stroke of 0.5 mm at a resolution of several thousandths. Such a high-resolution measuring instrument has a plurality of measurement ranges with different magnifications, and the measurement range can be selected so that the range to be measured can be displayed with as large an amplitude as possible. Among such surface texture measuring instruments, there is a dual-purpose measuring instrument capable of measuring both roughness and contour.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、両用測定機の
場合、粗さ解析と輪郭解析のために必要とするデータ点
数には相違があるため問題が生ずる場合がある。すなわ
ち、物体表面の粗さの解析には大量のデータ点数が必要
だが、輪郭の解析は粗さの解析に比べ、それほどのデー
タ点数は必要でない。
However, in the case of a dual-purpose measuring instrument, a problem may arise because the number of data points required for roughness analysis and contour analysis is different. That is, although a large number of data points is required for analyzing the roughness of the object surface, the contour analysis requires less data points than the roughness analysis.

【0004】図7は従来の両用測定機における粗さ測定
方法のフローチャートを、図8は、そのデータ点の取得
方法の詳細を示している。例えば全長Wが50mmの測
定物の一部分の領域Aの粗さと測定物全体の輪郭を同時
に測定する場合、まず測定物6の測定すべき範囲を選択
する(S11)。次に選択した測定範囲全体に対して粗
さ測定用の測定条件で粗さ測定を行う(S12)。そし
て、得られた測定データを画面表示する(S13)。こ
の場合の測定条件は、ISOに従った粗さ測定用の測定
条件としてカットオフ長さλc:0.8mm、サンプリ
ングピッチPr:0.5μmとすると、取得する総デー
タ点数は、50/0.0005=100,000点/5
0mmという膨大なデータ数となり、データ処理系に必
要以上の負荷がかかってしまう。また、粗さ測定用の測
定条件であることから、より遅い測定速度での測定が必
要となり、結果的に測定全体に要する時間が長くなって
しまう。このように、粗さ測定の目的とする領域が測定
物の表面の一部分であるにも拘わらず、測定物全体の輪
郭を粗さ測定のための細かいサンプリングピッチPrで
測定するという無駄が生じてしまう。
FIG. 7 is a flow chart of a method for measuring roughness in a conventional dual-purpose measuring instrument, and FIG. 8 shows details of a method for acquiring data points. For example, when simultaneously measuring the roughness of a part of the area A of the measured object having a total length W of 50 mm and the contour of the entire measured object, first, a range to be measured of the measured object 6 is selected (S11). Next, roughness measurement is performed on the entire selected measurement range under the measurement conditions for roughness measurement (S12). Then, the obtained measurement data is displayed on the screen (S13). In this case, assuming that the cut-off length λc is 0.8 mm and the sampling pitch Pr is 0.5 μm, the total number of data points to be acquired is 50/0. 0005 = 100,000 points / 5
The number of data becomes enormous, that is, 0 mm, which imposes an unnecessary load on the data processing system. In addition, since the measurement conditions are for measuring roughness, measurement at a lower measurement speed is required, and as a result, the time required for the entire measurement is increased. As described above, although the target area of the roughness measurement is a part of the surface of the measurement object, there is a waste that the contour of the entire measurement object is measured at the fine sampling pitch Pr for the roughness measurement. I will.

【0005】本発明は、かかる問題点に鑑みなされたも
ので、測定時に測定条件を適宜使い分けることによって
測定物の表面性状測定を従来よりも正確に、且つ短時間
で実現することのできる表面性状測定システム及び方法
を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and provides a surface texture which can realize the surface texture measurement of a measured object more accurately and in a shorter time by appropriately using measurement conditions at the time of measurement. It is an object to provide a measurement system and method.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明にかかる表面性状
測定システムは、予備測定として被測定面の任意の予備
測定範囲に対して輪郭測定用の測定条件によって輪郭測
定を行う手段と、前記予備測定により得られる予備測定
データを画面表示する手段と、前記画面表示された予備
測定データに基づいて任意の本測定範囲を選択・決定す
る手段と、本測定として前記本測定範囲に対して粗さ測
定用の測定条件によって粗さ測定を行う手段と、前記本
測定により得られる本測定データを画面表示する手段と
を備えることを特徴とする。
According to the present invention, there is provided a surface texture measuring system for performing a contour measurement for an arbitrary preliminary measurement range of a surface to be measured as a preliminary measurement under measurement conditions for contour measurement. Means for displaying the preliminary measurement data obtained by the measurement on the screen, means for selecting / determining an arbitrary main measurement range based on the preliminary measurement data displayed on the screen, and roughness for the main measurement range as the main measurement. It is characterized by comprising: means for performing roughness measurement under measurement conditions for measurement; and means for displaying main measurement data obtained by the main measurement on a screen.

【0007】また、本発明に係る他の表面性状測定シス
テムは、被測定対象の表面性状を検出する表面性状測定
機本体と、前記表面性状測定機本体を制御すると共に前
記表面性状測定機本体から入力される測定値に対して所
定の処理を実行する制御手段と、この制御手段に対して
必要な情報を入力する入力手段と、前記制御手段での処
理結果を表示する表示手段とを備え、前記制御手段は、
前記被測定対象の指定された予備測定範囲について指定
された輪郭測定用の測定条件に基づいて前記被測定対象
の輪郭測定を行うべく前記表面性状測定機本体を駆動・
制御して予備測定データを得る処理と、この輪郭測定に
より得られた予備測定データを前記表示手段に表示させ
る処理と、前記表示手段に表示された予備測定データに
対して指定された前記被測定対象の本測定範囲について
指定された粗さ測定用の測定条件に基づいて前記被測定
対象の粗さ測定を行うべく前記表面性状測定機本体を駆
動・制御して本測定データを得る処理と、この粗さ測定
により得られた本測定データを前記表示手段に表示させ
る処理とを実行するものであり、前記入力手段は、前記
制御手段に対して前記被測定対象の予備測定範囲及び輪
郭測定用の測定条件を入力すると共に、前記表示手段に
表示された予備測定データに対して前記被測定対象の本
測定範囲及び粗さ測定用の測定条件を入力するものであ
り、前記表示手段は、前記制御手段が取得した予備測定
データと、この予備測定データに対して前記入力手段に
より指定された本測定範囲と、前記制御手段が取得した
本測定データとを表示するものであることを特徴とす
る。
Further, another surface texture measuring system according to the present invention comprises a surface texture measuring device main body for detecting a surface texture of an object to be measured, a surface texture measuring device main body, and a surface texture measuring device main body. Control means for executing predetermined processing on the input measurement value, input means for inputting necessary information to the control means, and display means for displaying a processing result in the control means, The control means includes:
Driving the surface texture measuring device main body to measure the contour of the measurement target based on the measurement condition for the contour measurement specified for the specified preliminary measurement range of the measurement target.
Controlling to obtain preliminary measurement data, processing to display the preliminary measurement data obtained by the contour measurement on the display means, and measuring the measured data designated for the preliminary measurement data displayed on the display means. A process of driving and controlling the surface texture measuring device main body to perform roughness measurement of the object to be measured based on measurement conditions for roughness measurement specified for the main measurement range of the object, and obtaining main measurement data; Displaying the main measurement data obtained by the roughness measurement on the display unit. The input unit transmits a preliminary measurement range and a contour measurement range of the object to be measured to the control unit. And the measurement conditions for the main measurement range and the roughness measurement of the measured object with respect to the preliminary measurement data displayed on the display means, and the display means Displaying the preliminary measurement data acquired by the control means, the main measurement range designated by the input means for the preliminary measurement data, and the main measurement data acquired by the control means. And

【0008】本発明によれば、予備測定には輪郭測定用
の測定条件を用いて測定物の輪郭を予備測定データとし
て取得し、この予備測定データに基づいて選択した本測
定範囲に対して粗さ測定用の測定条件によって粗さ測定
を行うため、希望する部分の粗さ測定を正確に行うこと
ができると共に、粗さ測定を希望する領域のみに対して
粗さ測定を行うことができるため、余分な測定時間を省
き、データ処理系にかかる負荷を軽減することが可能な
表面性状測定システムを実現できる。
According to the present invention, in the preliminary measurement, the contour of the measured object is acquired as preliminary measurement data using the measurement conditions for contour measurement, and the rough measurement is performed on the main measurement range selected based on the preliminary measurement data. Since the roughness measurement is performed according to the measurement conditions for the roughness measurement, the roughness measurement of the desired portion can be accurately performed, and the roughness measurement can be performed only in the region where the roughness measurement is desired. In addition, it is possible to realize a surface texture measuring system capable of eliminating an extra measuring time and reducing a load on a data processing system.

【0009】前記本測定範囲を選択・決定する手段が、
前記画面表示された予備測定データに対して本測定範囲
を画面上の位置情報に基づいて指定する手段を備えたも
のであると、本測定範囲を容易に指定することが可能に
なる。
The means for selecting and determining the main measurement range includes:
The provision of the means for designating the main measurement range based on the position information on the screen with respect to the preliminary measurement data displayed on the screen makes it possible to easily designate the main measurement range.

【0010】また、前記予備測定データの輪郭に本測定
に関連する特定の形状が含まれている場合、前記本測定
範囲を選択・決定する手段は、前記予備測定データの輪
郭解析を行うことにより前記予備測定データに対して前
記特定の形状の当てはめ処理を実行する手段と、前記予
備測定データのうち前記当てはめ処理により求められた
前記特定の形状部分に基づいて前記本測定範囲を指定す
る手段とを備えたものであることが望ましい。
In the case where the contour of the preliminary measurement data includes a specific shape related to the actual measurement, the means for selecting and determining the actual measurement range includes performing an outline analysis on the preliminary measurement data. Means for executing the specific shape fitting process on the preliminary measurement data, and means for specifying the main measurement range based on the specific shape portion obtained by the fitting process in the preliminary measurement data; It is desirable to have.

【0011】この他、前記予備測定及び本測定の一連の
手続き処理を、一つの制御情報として記憶する記憶媒体
を更に備え、前記制御手段は、前記記憶媒体に記憶され
た制御情報に基づいて前記所定の処理を実行するもので
あることが好ましい。
In addition, a storage medium for storing a series of procedural processes of the preliminary measurement and the main measurement as one piece of control information is further provided, and the control means is configured to perform the above-described procedure based on the control information stored in the storage medium. It is preferable to execute a predetermined process.

【0012】また、本発明に係る表面性状測定方法は、
予備測定として被測定面の任意の予備測定範囲に対して
輪郭測定用の測定条件によって輪郭測定を行うステップ
と、前記予備測定により得られる予備測定データを画面
表示するステップと、前記画面表示された予備測定デー
タに基づいて任意の本測定範囲を選択・決定するステッ
プと、本測定として前記本測定範囲に対して粗さ測定用
の測定条件によって粗さ測定を行うステップと、前記本
測定により得られる本測定データを画面表示するステッ
プとを備えることを特徴とする。
Further, the surface texture measuring method according to the present invention comprises:
Performing a contour measurement according to measurement conditions for contour measurement on an arbitrary preliminary measurement range of the surface to be measured as a preliminary measurement; displaying a preliminary measurement data obtained by the preliminary measurement on a screen; and displaying the screen. Selecting and determining an arbitrary main measurement range based on the preliminary measurement data, performing a roughness measurement on the main measurement range under the measurement conditions for roughness measurement as the main measurement, and performing the main measurement. Displaying the main measurement data to be displayed on a screen.

【0013】前記予備測定データの輪郭に本測定に関連
する特定の形状が含まれている場合、前記本測定範囲を
選択・決定するステップは、前記予備測定データの輪郭
解析を行うことにより前記予備測定データに対して前記
特定の形状の当てはめ処理を実行するステップと、前記
予備測定データのうち前記当てはめ処理により求められ
た前記特定の形状部分に基づいて前記本測定範囲を指定
するステップとを備えたものであることが望ましい。
When the contour of the preliminary measurement data includes a specific shape related to the actual measurement, the step of selecting and determining the actual measurement range is performed by performing an outline analysis of the preliminary measurement data. Performing the fitting process of the specific shape on the measurement data, and specifying the main measurement range based on the specific shape portion obtained by the fitting process in the preliminary measurement data. Is desirable.

【0014】また、本発明に係る表面性状測定プログラ
ムは、測定機本体を外部制御可能に接続されたコンピュ
ータによる前記測定機本体への外部制御によって被測定
対象の表面性状を測定する際に機能する表面性状測定プ
ログラムであって、予備測定として被測定面の任意の予
備測定範囲に対して輪郭測定用の測定条件によって輪郭
測定を行うステップと、前記予備測定により得られる予
備測定データを画面表示するステップと、前記画面表示
された予備測定データに基づいて任意の本測定範囲を選
択・決定するステップと、本測定として前記本測定範囲
に対して粗さ測定用の測定条件によって粗さ測定を行う
ステップと、前記本測定により得られる本測定データを
画面表示するステップとを備えることを特徴とする。
Further, the surface texture measuring program according to the present invention functions when measuring the surface texture of the object to be measured by externally controlling the measuring machine main body by a computer connected to the measuring machine main body so as to be capable of external control. A surface texture measurement program, wherein a step of performing contour measurement as a preliminary measurement on an arbitrary preliminary measurement range of a surface to be measured under measurement conditions for contour measurement, and displaying preliminary measurement data obtained by the preliminary measurement on a screen. Step, selecting and determining an arbitrary main measurement range based on the preliminary measurement data displayed on the screen, and performing roughness measurement on the main measurement range as the main measurement under the measurement conditions for roughness measurement. And a step of displaying main measurement data obtained by the main measurement on a screen.

【0015】なお、本発明は、前記予備測定及び本測定
が、例えば二次元測定、三次元測定、いずれの場合にも
適用可能である。
The present invention is applicable to any case where the preliminary measurement and the main measurement are, for example, two-dimensional measurement and three-dimensional measurement.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して本発
明に係る好ましい実施形態について説明する。図1は、
本発明の一実施形態に係る表面性状測定システムの概観
図、図2は同測定システムの制御部の機能ブロック図で
ある。図1に示すように、同測定システムは測定機本体
1とこれを制御する制御部としてのコンピュータ本体2
と、キーボード3、ディスプレイ4、及びマウス5から
構成されている。
Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG.
FIG. 2 is a schematic view of a surface texture measuring system according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a functional block diagram of a control unit of the measuring system. As shown in FIG. 1, the measuring system includes a measuring instrument main body 1 and a computer main body 2 as a control unit for controlling the measuring instrument main body 1.
, A keyboard 3, a display 4, and a mouse 5.

【0017】測定機本体1は、粗さ輪郭検出器11、検
出器送りユニット12、コラム機構13、及びY軸送り
載物台14から構成されている。粗さ輪郭検出器11
は、例えば触針を測定物6の表面に機械的に接触させ、
必要に応じて前記触針を移動させながら測定物6の表面
の凹凸を検出する。
The measuring machine body 1 comprises a roughness profile detector 11, a detector feed unit 12, a column mechanism 13, and a Y-axis feed stage 14. Roughness contour detector 11
Is, for example, mechanically bringing a stylus into contact with the surface of the measurement object 6,
The surface irregularities of the measurement object 6 are detected while moving the stylus as necessary.

【0018】検出器送りユニット12は、同図に示すよ
うに粗さ輪郭検出器11をx軸方向に水平移動させる機
構である。また、検出器送りユニット12はコラム機構
13によってz軸方向の上下動が可能であり、又Y軸送
り載物台14は、測定物6をX軸と直交する水平方向の
Y軸方向へ送ることができる。これによって測定物6の
表面と粗さ輪郭検出器11の触針とのx―y平面上での
位置関係を任意に決定することができる。
The detector feed unit 12 is a mechanism for horizontally moving the roughness contour detector 11 in the x-axis direction as shown in FIG. The detector feed unit 12 can be moved up and down in the z-axis direction by a column mechanism 13, and the Y-axis feed stage 14 sends the object 6 in the horizontal Y-axis direction orthogonal to the X-axis. be able to. Thereby, the positional relationship on the xy plane between the surface of the measurement object 6 and the stylus of the roughness profile detector 11 can be arbitrarily determined.

【0019】検出器送りユニット12の駆動源には、例
えばサーボモータを、検出器送りユニットを上下動させ
るコラム機構13とY軸送り載物台14の駆動源には、
例えばパルスモータを使用することができる。
The drive source of the detector feed unit 12 is, for example, a servo motor, and the drive sources of the column mechanism 13 for moving the detector feed unit up and down and the Y-axis feed stage 14 are:
For example, a pulse motor can be used.

【0020】コンピュータ本体2は、例えば図2に示す
ように構成されている。即ち、測定機本体1から入力さ
れる測定データは、インタフェース(以下、I/Fと呼
ぶ)21を介してCPU22によりI/F23を経てハ
ードディスクドライブ(以下、HDDと呼ぶ)24に格
納される。同測定データは、CPU22及び表示制御部
25を介してディスプレイ4に表示される。
The computer main body 2 is configured, for example, as shown in FIG. That is, the measurement data input from the measuring device main body 1 is stored in a hard disk drive (hereinafter, referred to as HDD) 24 via an I / F 23 by a CPU 22 through an interface (hereinafter, referred to as I / F) 21. The measurement data is displayed on the display 4 via the CPU 22 and the display control unit 25.

【0021】一方、キーボード3、及びマウス5から入
力されるコード情報及び位置情報は、I/F26を介し
てCPU22に入力される。CPU22は、ROM27
に格納されたマイクロプログラム及びHDD24からI
/F23を介してRAM28に格納された測定実行プロ
グラム、測定結果表示プログラム等に従って、測定実行
処理及び測定結果の表示処理等を実行する。CPU22
は、測定実行処理によって、I/F21を介して測定機
本体1を制御する。RAM28は、各種プログラムを格
納する他、各種処理のワーク領域を提供する。
On the other hand, code information and position information input from the keyboard 3 and the mouse 5 are input to the CPU 22 via the I / F 26. The CPU 22 has a ROM 27
From the microprogram stored in the
A measurement execution process, a measurement result display process, and the like are executed according to a measurement execution program, a measurement result display program, and the like stored in the RAM 28 via the / F23. CPU 22
Controls the measuring device main body 1 via the I / F 21 in the measurement execution process. The RAM 28 stores various programs and provides a work area for various processes.

【0022】次に図3に本形態における具体的処理の流
れを示すフローチャートを、図4はデータ点の取得方法
の詳細を示す。まず、測定物6の被測定面の予備測定を
行う範囲を決定する(S21)。次に、この予備測定範
囲に対して輪郭測定用の測定条件(粗いサンプリングピ
ッチ・早い測定速度)で輪郭測定を行う(S22)。こ
こで輪郭測定用の測定条件とは、具体的には全長50m
m程度のサイズの被測定面を想定すると、サンプリング
ピッチPp:0.05mmでは、得られるデータ点数
は、50/0.05=1000点/50mmとなる。次
に、予備測定によって得られた予備測定データに基づ
き、測定対象の表面の輪郭形状を画面表示する(S2
3)。
Next, FIG. 3 is a flowchart showing the flow of a specific process in this embodiment, and FIG. 4 shows details of a method for acquiring data points. First, a range in which the preliminary measurement of the measured surface of the measurement object 6 is performed is determined (S21). Next, contour measurement is performed on the preliminary measurement range under measurement conditions for contour measurement (coarse sampling pitch / high measurement speed) (S22). Here, the measuring conditions for measuring the contour are, specifically, a total length of 50 m.
Assuming a surface to be measured having a size of about m, at a sampling pitch Pp: 0.05 mm, the number of obtained data points is 50 / 0.05 = 1000 points / 50 mm. Next, based on the preliminary measurement data obtained by the preliminary measurement, the contour shape of the surface of the measurement target is displayed on the screen (S2).
3).

【0023】そして、この画面表示された予備測定デー
タに基づいて本測定を行う範囲を選択・決定する(S2
4)。この選択・決定の操作は、具体的にはディスプレ
イ4の画面上に表示される予備測定データの曲線上の任
意の範囲をマウス5又はキーボード3からの入力によっ
て選択することにより行われる。このように、画面表示
されている予備測定データの曲線の任意の範囲を指定す
ることで、表示画面上の座標が選択され、この選択され
た画面上の座標値を実際の測定座標系での座標値へと変
換することにより、本測定における実際の測定座標系で
の本測定範囲が決定される。そして、この決定された本
測定範囲で、粗さ測定用の測定条件(細かいサンプリン
グピッチ・遅い測定速度)によって粗さ測定を行う(S
25)。ここで、粗さ測定用の測定条件とは、具体的に
はλc:0.8mm、サンプリングピッチPr:0.5
μmとなり、例えば粗さ測定をしたい範囲を10mm程
度とすると、得られるデータ点数は、10/0.000
5=20,000点/50mmと、全体で得る総データ
点数は21000点という従来の方法での総データ点数
100,000点に比して非常に少ないデータ数とな
る。そして、このようにして得られた本測定データを画
面表示する(S26)。これらの処理はコンピュータ本
体2にインストールされている表面性状測定プログラム
によって行われている。
Then, based on the preliminary measurement data displayed on the screen, a range for performing the main measurement is selected and determined (S2).
4). This selection / determination operation is specifically performed by selecting an arbitrary range on the curve of the preliminary measurement data displayed on the screen of the display 4 by an input from the mouse 5 or the keyboard 3. In this way, by specifying an arbitrary range of the curve of the preliminary measurement data displayed on the screen, the coordinates on the display screen are selected, and the selected coordinate values on the screen are converted into the actual measurement coordinate system. By converting to the coordinate values, the actual measurement range in the actual measurement coordinate system in the actual measurement is determined. Then, in this determined main measurement range, roughness measurement is performed under the measurement conditions for roughness measurement (fine sampling pitch / slow measurement speed) (S
25). Here, the measurement conditions for roughness measurement are, specifically, λc: 0.8 mm, sampling pitch Pr: 0.5
μm. For example, if the range in which the roughness is to be measured is about 10 mm, the number of data points obtained is 10 / 0.000
5 = 20,000 points / 50 mm, and the total number of data points obtained as a whole is 21,000 points, which is a very small number of data as compared with the total number of data points of 100,000 points in the conventional method. Then, the main measurement data thus obtained is displayed on a screen (S26). These processes are performed by a surface texture measurement program installed in the computer main body 2.

【0024】このように本形態によれば、従来の粗さ・
輪郭測定方法に比べ、粗さ測定を行いたい範囲内でのみ
粗さ測定用の測定条件で測定を行うため、不必要な大量
データの取得をすることがなく、データ処理系への負担
を軽減することができる。また、全体の輪郭を測定した
のちに必要な部分だけで粗さ測定を行うことによって、
遅い測定速度が適用される範囲を極力少なくし、全体と
しての測定時間を短縮することが可能となる。更に、輪
郭測定によって被測定面の形状を把握したのちに、その
輪郭データに基づき粗さ測定範囲を決定するため、粗さ
測定箇所を正確に指定できる。また、作業者が粗さ測定
範囲を指定する際には、コンピュータ端末のディスプレ
イ上で表示されている予備測定データを見ながら容易に
指定することが可能となる。
As described above, according to this embodiment, the conventional roughness
Compared to the contour measurement method, measurement is performed under the measurement conditions for roughness measurement only within the range where roughness measurement is required, so unnecessary large amounts of data are not acquired and the load on the data processing system is reduced. can do. Also, by measuring the roughness of only the necessary parts after measuring the entire contour,
The range in which the slow measurement speed is applied can be minimized, and the measurement time as a whole can be shortened. Furthermore, after the shape of the surface to be measured is grasped by the contour measurement, the roughness measurement range is determined based on the contour data, so that the roughness measurement location can be accurately specified. Further, when the operator specifies the roughness measurement range, the operator can easily specify the roughness measurement range while viewing the preliminary measurement data displayed on the display of the computer terminal.

【0025】この他、図3において示した一連の測定動
作を、手続きデータとしてコンピュータ本体の記憶媒体
に記憶させることにより、同種別個の測定物に対して同
様の測定動作を自動で何回でも実行できるようにするこ
とも可能である。この場合、本測定範囲の選択・決定
(S24)は、毎回手動入力としても良い。これによっ
て、測定物6の任意の範囲の粗さの測定が容易となる。
この時、記憶媒体としては、コンピュータ本体のハード
ディスクに限らず、フロッピーディスクやMO等であっ
てもよい。更に、図3のフローチャートにおいて、本測
定データの画面表示(S26)後、本測定範囲の選択・
決定のステップ(S24)へ戻るようにしても良い。こ
れによって、一回の予備測定後に、複数箇所の粗さ測定
が行えるようになり、測定の能率が向上する。
In addition, by storing a series of measurement operations shown in FIG. 3 as procedural data in a storage medium of a computer main body, the same measurement operation can be automatically performed any number of times for the same kind of separately measured objects. It is also possible to make it executable. In this case, the selection and determination of the main measurement range (S24) may be manually input every time. This facilitates measurement of the roughness of the measurement object 6 in an arbitrary range.
At this time, the storage medium is not limited to the hard disk of the computer main body, but may be a floppy disk, an MO, or the like. Further, in the flowchart of FIG. 3, after the main measurement data is displayed on the screen (S26), selection of the main measurement range is performed.
The process may return to the determination step (S24). As a result, roughness measurement at a plurality of locations can be performed after one preliminary measurement, and measurement efficiency is improved.

【0026】次に、本発明にかかる他の実施形態につい
て説明する。本形態は上述の実施形態の応用である。な
お、上述の実施形態と重複する部分の説明は割愛し、同
一符号を付してある。上述の実施形態では、二次元測定
における測定方法を示したが、本測定方法は三次元測定
に適用した例を示している。三次元測定における測定方
法が上述の実施形態と異なる点は、粗さ測定時の測定条
件の設定方法にある。図5(a)〜(c)に示すよう
に、本形態では、測定物の表面全体を輪郭測定用の測定
条件によって輪郭測定した後、これにより得られたデー
タ点群に基づいて粗さ測定領域Bを決定する。そして、
ディスプレイ4の表示画面上で設定された測定領域B
は、表示座標系から測定座標系での測定領域Bに変換さ
れ、この測定領域Bについて粗さ測定用の測定条件で測
定機本体1による粗さ測定を行う。粗さ測定条件のx軸
方向のサンプリングピッチPx’、y軸方向のサンプリ
ングピッチPy’は、共に予備測定におけるサンプリン
グピッチPx,Pyよりも細かい粗さ測定用のピッチに
設定されている。このような方法をとることで、二次元
の粗さ測定のみならず、三次元の粗さ測定においても高
効率かつ高精度な形状測定を実現することができる。
Next, another embodiment according to the present invention will be described. This embodiment is an application of the above embodiment. The description of the same parts as those in the above-described embodiment is omitted, and the same reference numerals are given. In the above-described embodiment, the measurement method in the two-dimensional measurement has been described, but an example in which the present measurement method is applied to the three-dimensional measurement is shown. The difference of the measurement method in the three-dimensional measurement from the above-described embodiment lies in the method of setting measurement conditions at the time of roughness measurement. As shown in FIGS. 5A to 5C, in the present embodiment, after measuring the contour of the entire surface of the object under the measurement conditions for contour measurement, the roughness measurement is performed based on the data points obtained thereby. The area B is determined. And
Measurement area B set on the display screen of display 4
Is converted from the display coordinate system to the measurement area B in the measurement coordinate system, and the roughness of the measurement area B is measured by the measuring instrument body 1 under the measurement conditions for roughness measurement. The sampling pitch Px ′ in the x-axis direction and the sampling pitch Py ′ in the y-axis direction of the roughness measurement conditions are both set to a finer pitch for roughness measurement than the sampling pitches Px and Py in the preliminary measurement. By adopting such a method, not only two-dimensional roughness measurement but also three-dimensional roughness measurement can realize highly efficient and accurate shape measurement.

【0027】次に、本発明にかかる更に他の実施形態に
ついて説明する。なお、上述の実施形態と重複する部分
の説明は割愛し、同一符号を付してある。本形態は予備
測定データの輪郭に本測定に関連する特定の形状が含ま
れている場合に適用されるもので、本形態が上述の実施
形態と異なる点は、予備測定データに基づいて本測定を
行う範囲を選択・決定する部分にある。図6(a)〜
(e)に本形態における本測定範囲の予備測定データか
らの選択・決定の手順を示す。まず、同図(a)のよう
に予備測定により予備測定を行った範囲における被測定
物の輪郭線Dが得られると、同図(b)のように、輪郭
解析を行うことにより、輪郭線Dを複数種類の形状毎に
分類する。具体的には、輪郭解析として円形や直線等の
形状の当てはめ演算を輪郭線Dに対して行い、それぞれ
当てはめられた形状同士の交点を求めることにより分類
を行う。同図の輪郭線Dは直線部分A1,A2、及び円
弧部分Bから構成されている。そして、同図(c),
(d),(e)に示すように分類された複数種類の形状
のうち特定の形状部分(例えば円弧部分だけ、又は直線
部分だけ)を選択することによって本測定範囲を指定す
る。これらの処理はコンピュータ本体2にインストール
されている表面性状測定プログラムによって行われる。
Next, still another embodiment according to the present invention will be described. The description of the same parts as those in the above-described embodiment is omitted, and the same reference numerals are given. This embodiment is applied when the contour of the preliminary measurement data includes a specific shape related to the main measurement.The difference between the present embodiment and the above-described embodiment is that the main measurement is performed based on the preliminary measurement data. Is to select and determine the range in which FIG.
(E) shows a procedure for selecting and determining the main measurement range from preliminary measurement data in the present embodiment. First, when the contour D of the object to be measured is obtained in the range where the preliminary measurement is performed by the preliminary measurement as shown in FIG. 7A, the contour is analyzed by performing the contour analysis as shown in FIG. D is classified into a plurality of types of shapes. More specifically, classification is performed by performing a shape fitting operation such as a circle or a straight line on the contour line D as a contour analysis, and obtaining intersections of the fitted shapes. The contour line D in the figure is composed of straight line portions A1 and A2 and an arc portion B. Then, FIG.
This measurement range is designated by selecting a specific shape portion (for example, only an arc portion or only a straight line portion) from a plurality of types of shapes classified as shown in (d) and (e). These processes are performed by a surface texture measurement program installed in the computer main body 2.

【0028】この例は例えば円柱軸のシャフトに対して
実際に接触していた軸受け面の粗さを測定したい場合
に、実際に接触していた部分は円弧状となっているはず
なので、円弧部分の位置を決定するような場合に有効で
ある。即ち、予備測定データから円弧部分を形状計算に
よって求め、この円弧部分のみを粗さの本測定範囲とす
ることができる。更に、特定の形状部分を選択して本測
定範囲とする以外に、例えば円弧部分の中央部50%位
置のみを選択することも可能である。また例えば、直線
部分が複数存在する場合に、第1の直線部分の中央箇所
から、第2の直線部分の中央箇所までを選択することも
可能である。つまり、輪郭データDの形状計算結果の各
種パラメータ(例えば円の場合、始点、終点、半径、中
心など)に基づいて本測定範囲を選択することが可能で
ある。これらの形状計算の内容としては、上記のように
特定の形状(例えば円)で近似できる部分を探す他、逆
に予備測定結果全体を各種の形状(例えば円と直線と楕
円)で近似し、特定の形状(例えば直線)で近似できた
部分のみ(例えば摺動面)の粗さを測定する、などが考
えられる。
In this example, for example, when it is desired to measure the roughness of the bearing surface that was actually in contact with the shaft of the cylindrical shaft, the actually contacted portion should be in an arc shape. This is effective when determining the position of. That is, an arc portion is obtained from the preliminary measurement data by shape calculation, and only this arc portion can be used as the main measurement range of roughness. Further, in addition to selecting a specific shape portion as the main measurement range, it is also possible to select, for example, only the position of 50% at the center of the arc portion. Further, for example, when there are a plurality of linear portions, it is also possible to select from the central portion of the first linear portion to the central portion of the second linear portion. That is, it is possible to select the main measurement range based on various parameters of the shape calculation result of the contour data D (for example, in the case of a circle, a start point, an end point, a radius, a center, and the like). As the contents of these shape calculations, in addition to searching for a portion that can be approximated by a specific shape (for example, a circle) as described above, conversely, the entire preliminary measurement result is approximated by various shapes (for example, a circle, a straight line, and an ellipse) For example, the roughness of only a portion (for example, a sliding surface) approximated by a specific shape (for example, a straight line) may be measured.

【0029】このように本形態によれば、上述の実施形
態による効果に加え、表面粗さ解析を行うべき部分が被
測定物の目視、又は画面上に表示される測定データから
では正確に判別できない場合でも、輪郭解析によって被
測定面の輪郭を構成する複数種類の形状を分類したのち
に、これらの分類結果に基づき粗さ測定範囲を決定する
ため、粗さ測定箇所を正確に指定できるという効果を奏
する。
As described above, according to the present embodiment, in addition to the effects of the above-described embodiment, the part to be subjected to the surface roughness analysis can be accurately determined by visual observation of the object to be measured or measurement data displayed on the screen. Even if it is not possible, after classifying multiple types of shapes that constitute the contour of the surface to be measured by contour analysis, the roughness measurement range is determined based on these classification results, so it is possible to accurately specify the roughness measurement location It works.

【0030】また、予備測定により得られる被測定物の
三次元表面形状に本測定に関連する三次元の特定の形状
が含まれている場合、上述と同様に、被測定物の表面形
状を複数種類の形状(例えば球面、平面など)に分類
し、分類された複数種類の形状のうち特定の形状部分に
基づいて本測定範囲を指定することも可能である。
When the three-dimensional surface shape of the object to be measured obtained by the preliminary measurement includes a specific three-dimensional shape related to the main measurement, a plurality of surface shapes of the object to be measured are It is also possible to classify into various types of shapes (for example, spherical surface, flat surface, etc.), and to specify the main measurement range based on a specific shape portion among the classified plural types of shapes.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、予
備測定には輪郭測定用の測定条件を用いて測定物の輪郭
を予備測定データとして取得し、この予備測定データに
基づいて選択した本測定範囲に対して粗さ測定用の測定
条件によって粗さ測定を行うため、希望する部分の粗さ
測定を正確に行うことができると共に、粗さ測定を希望
する領域のみに対して粗さ測定を行うことができるた
め、余分な測定時間を省き、データ処理系にかかる負荷
を軽減することが可能な表面性状測定システム及び方法
を提供することができる。
As described above, according to the present invention, in the preliminary measurement, the contour of the measured object is obtained as preliminary measurement data using the measurement conditions for contour measurement, and selected based on the preliminary measurement data. Since the roughness measurement is performed on the actual measurement range under the measurement conditions for roughness measurement, it is possible to accurately measure the roughness of the desired part, and to perform the roughness measurement only on the area where the roughness measurement is desired. Since the surface measurement can be performed, it is possible to provide a surface texture measuring system and method capable of eliminating an extra measuring time and reducing a load on a data processing system.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態を示す表面性状測定システ
ムの概観図である。
FIG. 1 is a schematic view of a surface texture measuring system according to an embodiment of the present invention.

【図2】同測定システムの制御部の機能ブロック図であ
る。
FIG. 2 is a functional block diagram of a control unit of the measurement system.

【図3】本形態における具体的処理の流れを示すフロー
チャートを示す図である。
FIG. 3 is a flowchart illustrating a flow of a specific process according to the embodiment;

【図4】本形態におけるデータ点の取得方法の詳細を示
す図である。
FIG. 4 is a diagram showing details of a method for acquiring data points in the present embodiment.

【図5】本発明の他の実施形態におけるデータ点の取得
方法の詳細を示す図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating details of a data point acquisition method according to another embodiment of the present invention.

【図6】本発明の更に他の実施形態におけるデータ点の
取得方法の詳細を示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating details of a data point acquisition method according to still another embodiment of the present invention.

【図7】従来の両用測定機における粗さ測定方法のフロ
ーチャートを示す。
FIG. 7 shows a flowchart of a roughness measuring method in a conventional dual-purpose measuring instrument.

【図8】図7で示す粗さ測定方法のデータ点の取得方法
の詳細を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing details of a method for acquiring data points in the roughness measurement method shown in FIG. 7;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・測定機本体、 2・・・コンピュータ本体、 3・・・キーボード、 4・・・ディスプレイ、 5・・・マウス、 6・・・測定物、 A・・・粗さ測定範囲、 W・・・輪郭測定範囲、 Pr・・・粗さ測定用サンプリングピッチ、 Pp・・・輪郭測定用サンプリングピッチ。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Measuring machine main body, 2 ... Computer main body, 3 ... Keyboard, 4 ... Display, 5 ... Mouse, 6 ... Measured object, A ... Roughness measuring range, W … Contour measurement range, Pr… Sampling pitch for roughness measurement, Pp… Sampling pitch for contour measurement.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F069 AA57 AA62 DD15 DD24 GG01 GG62 JJ07 MM32 QQ12  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2F069 AA57 AA62 DD15 DD24 GG01 GG62 JJ07 MM32 QQ12

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 予備測定として被測定面の任意の予備測
定範囲に対して輪郭測定用の測定条件によって輪郭測定
を行う手段と、 前記予備測定により得られる予備測定データを画面表示
する手段と、 前記画面表示された予備測定データに基づいて任意の本
測定範囲を選択・決定する手段と、 本測定として前記本測定範囲に対して粗さ測定用の測定
条件によって粗さ測定を行う手段と、 前記本測定により得られる本測定データを画面表示する
手段とを備えることを特徴とする表面性状測定システ
ム。
1. A means for performing contour measurement on an arbitrary preliminary measurement range of a surface to be measured as a preliminary measurement under measurement conditions for contour measurement, a means for displaying preliminary measurement data obtained by the preliminary measurement on a screen, A means for selecting and determining an arbitrary main measurement range based on the preliminary measurement data displayed on the screen; and a means for performing a roughness measurement on the main measurement range as a main measurement by measuring conditions for roughness measurement. Means for displaying a main measurement data obtained by the main measurement on a screen.
【請求項2】 前記本測定範囲を選択・決定する手段
は、 前記画面表示された予備測定データに対して本測定範囲
を画面上の位置情報に基づいて指定する手段を備えたも
のであることを特徴とする請求項1記載の表面性状測定
システム。
2. The means for selecting and determining the main measurement range includes means for designating the main measurement range based on positional information on a screen with respect to the preliminary measurement data displayed on the screen. The surface texture measuring system according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記予備測定データの輪郭に本測定に関
連する特定の形状が含まれている場合、 前記本測定範囲を選択・決定する手段は、 前記予備測定データの輪郭解析を行うことにより前記予
備測定データに対して前記特定の形状の当てはめ処理を
実行する手段と、 前記予備測定データのうち前記当てはめ処理により求め
られた前記特定の形状部分に基づいて前記本測定範囲を
指定する手段とを備えたものであることを特徴とする請
求項1記載の表面性状測定システム。
3. When the contour of the preliminary measurement data includes a specific shape related to the actual measurement, the means for selecting and determining the actual measurement range includes performing an outline analysis of the preliminary measurement data. Means for performing the specific shape fitting process on the preliminary measurement data, and means for specifying the main measurement range based on the specific shape portion obtained by the fitting process in the preliminary measurement data; The surface texture measuring system according to claim 1, further comprising:
【請求項4】 被測定対象の表面性状を検出する表面性
状測定機本体と、 前記表面性状測定機本体を制御すると共に前記表面性状
測定機本体から入力される測定値に対して所定の処理を
実行する制御手段と、 この制御手段に対して必要な情報を入力する入力手段
と、 前記制御手段での処理結果を表示する表示手段とを備
え、 前記制御手段は、 前記被測定対象の指定された予備測定範囲について指定
された輪郭測定用の測定条件に基づいて前記被測定対象
の輪郭測定を行うべく前記表面性状測定機本体を駆動・
制御して予備測定データを得る処理と、 この輪郭測定により得られた予備測定データを前記表示
手段に表示させる処理と、 前記表示手段に表示された予備測定データに対して指定
された前記被測定対象の本測定範囲について指定された
粗さ測定用の測定条件に基づいて前記被測定対象の粗さ
測定を行うべく前記表面性状測定機本体を駆動・制御し
て本測定データを得る処理と、 この粗さ測定により得られた本測定データを前記表示手
段に表示させる処理とを実行するものであり、 前記入力手段は、前記制御手段に対して前記被測定対象
の予備測定範囲及び輪郭測定用の測定条件を入力すると
共に、前記表示手段に表示された予備測定データに対し
て前記被測定対象の本測定範囲及び粗さ測定用の測定条
件を入力するものであり、 前記表示手段は、前記制御手段が取得した予備測定デー
タと、この予備測定データに対して前記入力手段により
指定された本測定範囲と、前記制御手段が取得した本測
定データとを表示するものであることを特徴とする表面
性状測定システム。
4. A surface texture measuring device main body for detecting a surface texture of an object to be measured, and controlling the surface texture measuring device main body and performing a predetermined process on a measurement value input from the surface texture measuring device main body. Control means for executing, input means for inputting necessary information to the control means, and display means for displaying a processing result in the control means, wherein the control means specifies the measurement target. The surface texture measuring device main body is driven to measure the contour of the object to be measured based on the measurement conditions for contour measurement specified for the preliminary measurement range.
A process of obtaining preliminary measurement data by controlling; a process of displaying preliminary measurement data obtained by the contour measurement on the display unit; and a process of measuring the preliminary measurement data displayed on the display unit. A process of driving and controlling the surface texture measuring device main body to perform roughness measurement of the object to be measured based on measurement conditions for roughness measurement specified for the main measurement range of the object, and obtaining main measurement data; Displaying the main measurement data obtained by the roughness measurement on the display means. The input means is for the control means to perform a preliminary measurement range and a contour measurement of the object to be measured. And inputting the measurement conditions for the main measurement range and the roughness measurement of the object to be measured with respect to the preliminary measurement data displayed on the display means. The stage displays the preliminary measurement data obtained by the control means, the main measurement range specified by the input means for the preliminary measurement data, and the main measurement data obtained by the control means. Surface texture measuring system characterized by the following.
【請求項5】 前記予備測定及び本測定は、二次元測定
であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記
載の表面性状測定システム。
5. The surface texture measuring system according to claim 1, wherein the preliminary measurement and the main measurement are two-dimensional measurements.
【請求項6】 前記予備測定及び本測定は、三次元測定
であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記
載の表面性状測定システム。
6. The surface texture measuring system according to claim 1, wherein the preliminary measurement and the main measurement are three-dimensional measurements.
【請求項7】 前記予備測定及び本測定の一連の手続き
処理を、一つの制御情報として記憶する記憶媒体を更に
備え、前記制御手段は、前記記憶媒体に記憶された制御
情報に基づいて前記所定の処理を実行するものであるこ
とを特徴とする請求項4記載の表面性状測定システム。
7. A storage medium for storing a series of procedural processes of the preliminary measurement and the main measurement as one piece of control information, wherein the control means is configured to perform the predetermined processing based on the control information stored in the storage medium. 5. The surface texture measuring system according to claim 4, wherein the processing is performed.
【請求項8】 予備測定として被測定面の任意の予備測
定範囲に対して輪郭測定用の測定条件によって輪郭測定
を行うステップと、 前記予備測定により得られる予備測定データを画面表示
するステップと、 前記画面表示された予備測定データに基づいて任意の本
測定範囲を選択・決定するステップと、 本測定として前記本測定範囲に対して粗さ測定用の測定
条件によって粗さ測定を行うステップと、 前記本測定により得られる本測定データを画面表示する
ステップとを備えることを特徴とする表面性状測定方
法。
8. A step of performing a contour measurement on an arbitrary preliminary measurement range of a surface to be measured as a preliminary measurement under measurement conditions for contour measurement; and a step of displaying preliminary measurement data obtained by the preliminary measurement on a screen. A step of selecting and determining an arbitrary main measurement range based on the preliminary measurement data displayed on the screen; anda step of performing a roughness measurement on the main measurement range as a main measurement using a measurement condition for roughness measurement. Displaying a main measurement data obtained by the main measurement on a screen.
【請求項9】 前記予備測定データの輪郭に本測定に関
連する特定の形状が含まれている場合、 前記本測定範囲を選択・決定するステップは、 前記予備測定データの輪郭解析を行うことにより前記予
備測定データに対して前記特定の形状の当てはめ処理を
実行するステップと、 前記予備測定データのうち前記当てはめ処理により求め
られた前記特定の形状部分に基づいて前記本測定範囲を
指定するステップとを備えたものであることを特徴とす
る請求項8記載の表面性状測定方法。
9. When the contour of the preliminary measurement data includes a specific shape related to the actual measurement, the step of selecting and determining the actual measurement range includes performing an outline analysis of the preliminary measurement data. Performing the specific shape fitting process on the preliminary measurement data; anddesignating the main measurement range based on the specific shape portion obtained by the fitting process in the preliminary measurement data. 9. The method for measuring surface texture according to claim 8, comprising:
【請求項10】 前記予備測定及び本測定を含む一連の
ステップを、一つの手続き情報として記憶し、この手続
き情報を適宜読み出して前記一連のステップを繰り返し
実行可能なものとしていることを特徴とする請求項8記
載の表面性状測定方法。
10. A series of steps including the preliminary measurement and the main measurement are stored as one piece of procedure information, and the procedure information is appropriately read out so that the series of steps can be repeatedly executed. The method for measuring surface texture according to claim 8.
【請求項11】 測定機本体を外部制御可能に接続され
たコンピュータによる前記測定機本体への外部制御によ
って被測定対象の表面性状を測定する際に機能する表面
性状測定プログラムであって、 予備測定として被測定面の任意の予備測定範囲に対して
輪郭測定用の測定条件によって輪郭測定を行うステップ
と、 前記予備測定により得られる予備測定データを画面表示
するステップと、 前記画面表示された予備測定データに基づいて任意の本
測定範囲を選択・決定するステップと、 本測定として前記本測定範囲に対して粗さ測定用の測定
条件によって粗さ測定を行うステップと、 前記本測定により得られる本測定データを画面表示する
ステップとを備えることを特徴とする表面性状測定プロ
グラム。
11. A surface texture measuring program which functions when measuring the surface texture of a measurement object by externally controlling the measuring instrument main body by a computer connected to the measuring instrument main body so as to be capable of external control, comprising: Performing a contour measurement on an arbitrary preliminary measurement range of the surface to be measured under a measurement condition for contour measurement; displaying a preliminary measurement data obtained by the preliminary measurement on a screen; and displaying the preliminary measurement displayed on the screen. Selecting and determining an arbitrary main measurement range based on the data; performing a roughness measurement on the main measurement range under the measurement conditions for roughness measurement as the main measurement; Displaying a measurement data on a screen.
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