JP2002207998A - 画像処理装置、自動寸法検査装置、自動寸法検査方法 - Google Patents
画像処理装置、自動寸法検査装置、自動寸法検査方法Info
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- JP2002207998A JP2002207998A JP2001002543A JP2001002543A JP2002207998A JP 2002207998 A JP2002207998 A JP 2002207998A JP 2001002543 A JP2001002543 A JP 2001002543A JP 2001002543 A JP2001002543 A JP 2001002543A JP 2002207998 A JP2002207998 A JP 2002207998A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 デジタルカメラを用いた写真測量による表面
形状の測定を行う前処理に有用な画像処理装置を提供す
る。 【解決手段】 複数のターゲットが位置する被測定物に
対して、所定間隔で撮像された一連の画像から寸法計測
に用いる画像を選択する画像選択処理部１００と、該寸
法計測に用いる画像に撮像されたターゲットの位置を検
出するターゲット位置検出処理部１１０と、該寸法計測
に用いる画像の一方における所定距離のターゲットの組
に対応する、他方の画像における対応ターゲットの組の
候補を抽出する対応候補抽出処理部１２０と、該他方の
画像における対応ターゲットの組を該一方の画像に投影
したときに前記ターゲットの組と最も良く一致する対応
ターゲットの組を選定する評価値計算処理部１３０と、
該選定された対応ターゲットの組に前記ターゲットの組
と同一の名称を付する名称付け処理部１４０とを備えて
いる。
形状の測定を行う前処理に有用な画像処理装置を提供す
る。 【解決手段】 複数のターゲットが位置する被測定物に
対して、所定間隔で撮像された一連の画像から寸法計測
に用いる画像を選択する画像選択処理部１００と、該寸
法計測に用いる画像に撮像されたターゲットの位置を検
出するターゲット位置検出処理部１１０と、該寸法計測
に用いる画像の一方における所定距離のターゲットの組
に対応する、他方の画像における対応ターゲットの組の
候補を抽出する対応候補抽出処理部１２０と、該他方の
画像における対応ターゲットの組を該一方の画像に投影
したときに前記ターゲットの組と最も良く一致する対応
ターゲットの組を選定する評価値計算処理部１３０と、
該選定された対応ターゲットの組に前記ターゲットの組
と同一の名称を付する名称付け処理部１４０とを備えて
いる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、発電機タービン
や高温タービン等のように機器形状を接触型で測定する
のが困難な機器に用いて好適な非接触式の自動寸法検査
装置並びにその前処理に使用する画像処理装置に関す
る。
や高温タービン等のように機器形状を接触型で測定する
のが困難な機器に用いて好適な非接触式の自動寸法検査
装置並びにその前処理に使用する画像処理装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】火力発電所に設置されるタービンは、高
温流体の流れをタービン翼でタービンの回転運動に変換
する関係で、タービン翼の形状測定が極めて重要であ
る。即ち、量産過程においては何百台という発電機ター
ビン等のタービン翼の形状測定を行って、許容範囲内の
製作誤差で製作されているか検査する必要がある。また
定期点検では、タービン翼の形状測定を行って、歪みが
許容範囲内か或いは交換する必要があるかの判定を行っ
ている。しかし、タービンや燃焼器の尾筒は大型である
為、現場から持ち出すことが困難である。また油切りボ
ルトのように直接ノギスやマイクロメータを用いて測定
することが困難な場所がある。このような油切りボルト
においては、油をふき取って測定しなければならず、計
測作業の負担が大きいと言う課題があった。
温流体の流れをタービン翼でタービンの回転運動に変換
する関係で、タービン翼の形状測定が極めて重要であ
る。即ち、量産過程においては何百台という発電機ター
ビン等のタービン翼の形状測定を行って、許容範囲内の
製作誤差で製作されているか検査する必要がある。また
定期点検では、タービン翼の形状測定を行って、歪みが
許容範囲内か或いは交換する必要があるかの判定を行っ
ている。しかし、タービンや燃焼器の尾筒は大型である
為、現場から持ち出すことが困難である。また油切りボ
ルトのように直接ノギスやマイクロメータを用いて測定
することが困難な場所がある。このような油切りボルト
においては、油をふき取って測定しなければならず、計
測作業の負担が大きいと言う課題があった。
【０００３】そこで、可搬性や計測精度の点で優れてい
るデジタルカメラを用いた写真測量が、大型の産業用プ
ラントの非接触計測に用いられている。デジタルカメラ
を用いた写真測量では、一定間隔で多数の写真撮影をす
ると共に、各写真画像における基準となる計測点を用い
て立体構造物の表面状態を表現している。写真測量の原
理は例えば本発明者の提案している特願平１１−１８３
７１２号公報の段落番号００１７及び図６に説明されて
いる。
るデジタルカメラを用いた写真測量が、大型の産業用プ
ラントの非接触計測に用いられている。デジタルカメラ
を用いた写真測量では、一定間隔で多数の写真撮影をす
ると共に、各写真画像における基準となる計測点を用い
て立体構造物の表面状態を表現している。写真測量の原
理は例えば本発明者の提案している特願平１１−１８３
７１２号公報の段落番号００１７及び図６に説明されて
いる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特願平
１１−１８３７１２号公報では段落番号００３８に記載
されているように、画像中の測定対象物の輪郭線各位置
や測定対象物の特徴点である為、現実に測定したい二次
元的、３次元的なプロファイル測定の基準点として望ま
しい部位を任意に選定することが困難である。そこで、
現実に測定したい表面部位にバーコードを付した反射シ
ールをターゲットシールとして貼付することが行われて
いる。
１１−１８３７１２号公報では段落番号００３８に記載
されているように、画像中の測定対象物の輪郭線各位置
や測定対象物の特徴点である為、現実に測定したい二次
元的、３次元的なプロファイル測定の基準点として望ま
しい部位を任意に選定することが困難である。そこで、
現実に測定したい表面部位にバーコードを付した反射シ
ールをターゲットシールとして貼付することが行われて
いる。
【０００５】ところが、写真に写ったターゲットシール
のバーコードを読取る為には、写真を高解像度で読取る
必要があり、収差や解像度を考慮するとバーコードを正
確に読取るのは困難であるという課題があった。また、
バーコードを付した反射シールは比較的高価であるた
め、特に量産品の表面形状測定作業におけるコスト要因
として無視できないものである。さらに、量産品におい
ては完成品に一々バーコードを付した反射シールを貼付
する作業は繁雑であるいう課題があった。
のバーコードを読取る為には、写真を高解像度で読取る
必要があり、収差や解像度を考慮するとバーコードを正
確に読取るのは困難であるという課題があった。また、
バーコードを付した反射シールは比較的高価であるた
め、特に量産品の表面形状測定作業におけるコスト要因
として無視できないものである。さらに、量産品におい
ては完成品に一々バーコードを付した反射シールを貼付
する作業は繁雑であるいう課題があった。
【０００６】この発明は、上記のような課題を解決する
ためになされたもので、第１の目的は高価なバーコード
を付した反射シールを用いることなく、デジタルカメラ
を用いた写真測量による表面形状の測定を行う前処理に
有用な画像処理装置を提供することである。第２の目的
は高価なバーコードを付した反射シールを用いることな
く、デジタルカメラを用いた写真測量による表面形状の
測定を行う自動寸法検査装置を提供することである。第
３の目的は、量産品に反射シールを多量に貼付する作業
を行うことなく、製造した機器が設計図通りに製造され
ているか容易に検査できる自動寸法検査装置を提供する
ことである。
ためになされたもので、第１の目的は高価なバーコード
を付した反射シールを用いることなく、デジタルカメラ
を用いた写真測量による表面形状の測定を行う前処理に
有用な画像処理装置を提供することである。第２の目的
は高価なバーコードを付した反射シールを用いることな
く、デジタルカメラを用いた写真測量による表面形状の
測定を行う自動寸法検査装置を提供することである。第
３の目的は、量産品に反射シールを多量に貼付する作業
を行うことなく、製造した機器が設計図通りに製造され
ているか容易に検査できる自動寸法検査装置を提供する
ことである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るために本発明にかかる画像処理装置は、図１に示すよ
うに、複数のターゲットが位置する被測定物に対して、
所定間隔で撮像された一連の画像から寸法計測に用いる
画像を選択する画像選択処理部１００と、該寸法計測に
用いる画像に撮像されたターゲットの位置を検出するタ
ーゲット位置検出処理部１１０と、該寸法計測に用いる
画像の一方における所定距離のターゲットの組に対応す
る、他方の画像における対応ターゲットの組の候補を抽
出する対応候補抽出処理部１２０と、該他方の画像にお
ける対応ターゲットの組を該一方の画像に投影したとき
に前記ターゲットの組と最も良く一致する対応ターゲッ
トの組を選定する評価値計算処理部１３０と、該選定さ
れた対応ターゲットの組に前記ターゲットの組と同一の
名称を付する名称付け処理部１４０とを備えている。
るために本発明にかかる画像処理装置は、図１に示すよ
うに、複数のターゲットが位置する被測定物に対して、
所定間隔で撮像された一連の画像から寸法計測に用いる
画像を選択する画像選択処理部１００と、該寸法計測に
用いる画像に撮像されたターゲットの位置を検出するタ
ーゲット位置検出処理部１１０と、該寸法計測に用いる
画像の一方における所定距離のターゲットの組に対応す
る、他方の画像における対応ターゲットの組の候補を抽
出する対応候補抽出処理部１２０と、該他方の画像にお
ける対応ターゲットの組を該一方の画像に投影したとき
に前記ターゲットの組と最も良く一致する対応ターゲッ
トの組を選定する評価値計算処理部１３０と、該選定さ
れた対応ターゲットの組に前記ターゲットの組と同一の
名称を付する名称付け処理部１４０とを備えている。
【０００８】このように構成された装置において、画像
選択処理部１００は、写真測量と同様の原理に基づいて
所定間隔で撮像された被測定物に対する一連の画像から
寸法計測に用いる画像を選択する。被測定物には写真測
量における対空標識に相当する複数のターゲットが位置
する。寸法計測に用いる画像には、撮影間隔が既知の隣
接した２枚の画像を採用するとよい。ターゲット位置検
出処理部１１０は、該寸法計測に用いる画像に撮像され
たターゲットの位置を検出する。対応候補抽出処理部１
２０は、該寸法計測に用いる画像の一方における所定距
離のターゲットの組に対応する、他方の画像における対
応ターゲットの組の候補を抽出する。評価値計算処理部
１３０は、該他方の画像における対応ターゲットの組を
該一方の画像に投影したときに前記ターゲットの組と最
も良く一致する対応ターゲットの組を選定する。名称付
け処理部１４０は、該選定された対応ターゲットの組に
前記ターゲットの組と同一の名称を付する。
選択処理部１００は、写真測量と同様の原理に基づいて
所定間隔で撮像された被測定物に対する一連の画像から
寸法計測に用いる画像を選択する。被測定物には写真測
量における対空標識に相当する複数のターゲットが位置
する。寸法計測に用いる画像には、撮影間隔が既知の隣
接した２枚の画像を採用するとよい。ターゲット位置検
出処理部１１０は、該寸法計測に用いる画像に撮像され
たターゲットの位置を検出する。対応候補抽出処理部１
２０は、該寸法計測に用いる画像の一方における所定距
離のターゲットの組に対応する、他方の画像における対
応ターゲットの組の候補を抽出する。評価値計算処理部
１３０は、該他方の画像における対応ターゲットの組を
該一方の画像に投影したときに前記ターゲットの組と最
も良く一致する対応ターゲットの組を選定する。名称付
け処理部１４０は、該選定された対応ターゲットの組に
前記ターゲットの組と同一の名称を付する。
【０００９】好ましくは、被測定物は被測定物の近傍に
配置された計測枠を有すると共に、該計測枠の所定位置
にはターゲットが位置する構成とすると、被測定物が量
産品である場合に、ターゲットが貼付された計測枠を用
いることで、効率よく被測定物の画像処理が行える。好
ましくは、評価値計算処理部は、該他方の画像における
対応ターゲットの組を該一方の画像に投影したときに前
記ターゲットの組とのずれの大きさが最小の対応ターゲ
ットの組を選定すると良い。また、評価値計算処理部
は、該他方の画像における対応ターゲットの組を該一方
の画像に投影したときに前記ターゲットの組とのずれの
大きさが最小となる座標変換行列を選定する構成とする
と、座標変換行列によりターゲットの組の対応ターゲッ
トへの変換が効率よく行える。
配置された計測枠を有すると共に、該計測枠の所定位置
にはターゲットが位置する構成とすると、被測定物が量
産品である場合に、ターゲットが貼付された計測枠を用
いることで、効率よく被測定物の画像処理が行える。好
ましくは、評価値計算処理部は、該他方の画像における
対応ターゲットの組を該一方の画像に投影したときに前
記ターゲットの組とのずれの大きさが最小の対応ターゲ
ットの組を選定すると良い。また、評価値計算処理部
は、該他方の画像における対応ターゲットの組を該一方
の画像に投影したときに前記ターゲットの組とのずれの
大きさが最小となる座標変換行列を選定する構成とする
と、座標変換行列によりターゲットの組の対応ターゲッ
トへの変換が効率よく行える。
【００１０】上記第２の目的を達成するために本発明に
かかる自動寸法検査装置は、図１に示すように、請求項
１乃至請求項４の何れかに記載の画像処理装置と、前記
画像処理装置の名称付け処理部で同一の名称を付された
ターゲットの組に対して３次元座標解析を施す３次元座
標解析手段１５０を有する構成としている。ここで、３
次元座標解析は、写真測量における対空標識を用いた地
形図のような視差を用いた３次元座標解析を行うもの
で、被測定物の複数のターゲットに対する３次元座標解
析に有効である。
かかる自動寸法検査装置は、図１に示すように、請求項
１乃至請求項４の何れかに記載の画像処理装置と、前記
画像処理装置の名称付け処理部で同一の名称を付された
ターゲットの組に対して３次元座標解析を施す３次元座
標解析手段１５０を有する構成としている。ここで、３
次元座標解析は、写真測量における対空標識を用いた地
形図のような視差を用いた３次元座標解析を行うもの
で、被測定物の複数のターゲットに対する３次元座標解
析に有効である。
【００１１】上記第３の目的を達成するために本発明に
かかる自動寸法検査装置は、図３に示すように、被測定
物の設計図面に基づいてターゲットが位置する座標が記
述されるモデル座標データベース１７０と、請求項５に
記載の自動寸法検査装置により該被測定物のターゲット
が位置する座標が記述されるセンサ座標系データベース
１６０を備えている。さらに、センサ座標系データベー
ス１６０の中で基準ターゲットの組を選定する基準ター
ゲット位置選定部２００と、モデル座標データベース１
７０の対応基準ターゲットの組における該基準ターゲッ
トの組に対応する候補を抽出する対応候補抽出処理部２
１０と、センサ座標系データベース１６０の基準ターゲ
ットの組をモデル座標データベース１７０の対応基準タ
ーゲットの組に投影したときに、基準ターゲットの組と
最も良く一致する対応基準ターゲットの組をえる座標変
換行列を求める座標変換行列選定部２２０を備えてい
る。さらに、座標変換行列選定部２２０によりセンサ座
標系データベース１６０のターゲットを対応するモデル
座標データベース１７０の対応ターゲットを投影し、モ
デル座標データベース１７０の対応ターゲットの名称と
同一の名称をセンサ座標系データベース１６０のターゲ
ットに付する名称付け処理部２４０と、名称付け処理部
２４０で同一の名称を付されたセンサ座標系データベー
ス１６０のターゲットの組に対して３次元座標解析を施
す寸法演算部２５０を有している。
かかる自動寸法検査装置は、図３に示すように、被測定
物の設計図面に基づいてターゲットが位置する座標が記
述されるモデル座標データベース１７０と、請求項５に
記載の自動寸法検査装置により該被測定物のターゲット
が位置する座標が記述されるセンサ座標系データベース
１６０を備えている。さらに、センサ座標系データベー
ス１６０の中で基準ターゲットの組を選定する基準ター
ゲット位置選定部２００と、モデル座標データベース１
７０の対応基準ターゲットの組における該基準ターゲッ
トの組に対応する候補を抽出する対応候補抽出処理部２
１０と、センサ座標系データベース１６０の基準ターゲ
ットの組をモデル座標データベース１７０の対応基準タ
ーゲットの組に投影したときに、基準ターゲットの組と
最も良く一致する対応基準ターゲットの組をえる座標変
換行列を求める座標変換行列選定部２２０を備えてい
る。さらに、座標変換行列選定部２２０によりセンサ座
標系データベース１６０のターゲットを対応するモデル
座標データベース１７０の対応ターゲットを投影し、モ
デル座標データベース１７０の対応ターゲットの名称と
同一の名称をセンサ座標系データベース１６０のターゲ
ットに付する名称付け処理部２４０と、名称付け処理部
２４０で同一の名称を付されたセンサ座標系データベー
ス１６０のターゲットの組に対して３次元座標解析を施
す寸法演算部２５０を有している。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態を説明する。図２は、所定間隔で撮像された被測
定物に対する一連の画像の説明図である。測定対象物、
例えばタービンの表面にターゲットシールを貼付して、
複数の異なる視点から写真撮影して画像１、画像２、画
像３、…が得られる。そして異なる写真画像間で、ター
ゲットシールを対応つける必要がある。例えば、画像１
にはターゲットｐ１、ｐ２、…、ｐ７が写っており、画
像２にはターゲットｑ１、ｑ２、…、ｑ７が写っている
とする。この場合に、例えば画像１のターゲットｐ２は
画像２のターゲットｑ２と同一ターゲットシールである
という関係を見出すことが、写真測量の原理に基づいて
各ターゲットの高さを含む座標を決定するのに必要な情
報となる。
の形態を説明する。図２は、所定間隔で撮像された被測
定物に対する一連の画像の説明図である。測定対象物、
例えばタービンの表面にターゲットシールを貼付して、
複数の異なる視点から写真撮影して画像１、画像２、画
像３、…が得られる。そして異なる写真画像間で、ター
ゲットシールを対応つける必要がある。例えば、画像１
にはターゲットｐ１、ｐ２、…、ｐ７が写っており、画
像２にはターゲットｑ１、ｑ２、…、ｑ７が写っている
とする。この場合に、例えば画像１のターゲットｐ２は
画像２のターゲットｑ２と同一ターゲットシールである
という関係を見出すことが、写真測量の原理に基づいて
各ターゲットの高さを含む座標を決定するのに必要な情
報となる。
【００１３】図１は本発明の第１の実施の形態を示す画
像処理装置並びにこの画像処理装置を用いた自動寸法検
査装置の構成図である。画像選択処理部１００は、写真
画像のうち今回処理対象となる２枚の写真画像を抽出す
る。ターゲット位置検出処理部１１０は、寸法計測に用
いる画像に撮像されたターゲットの位置を検出するもの
で、例えば図２の画像１の中心付近にあるターゲットｐ
ｉを第１番目のターゲットとし、近傍のターゲットを第
２番目のターゲットｐｊとして、ターゲットシール間の
距離Ｌ（ｐｉ，ｐｊ）を求める。ここで、ｉ＝１，２，
…、ｊ＝１，２，…である。対応候補抽出処理部１２０
は、画像２の中でターゲットシール間の距離Ｌ（ｑｋ，
ｑｌ）が距離Ｌ（ｐｉ，ｐｊ）と同じ程度離れたターゲ
ットの組の候補Ｑ｛（ｑｋ，ｑｌ）、（ｑｋ＋１，ｑｌ
＋１）、（ｑｋ＋２，ｑｌ＋２）、…｝を選択する。
像処理装置並びにこの画像処理装置を用いた自動寸法検
査装置の構成図である。画像選択処理部１００は、写真
画像のうち今回処理対象となる２枚の写真画像を抽出す
る。ターゲット位置検出処理部１１０は、寸法計測に用
いる画像に撮像されたターゲットの位置を検出するもの
で、例えば図２の画像１の中心付近にあるターゲットｐ
ｉを第１番目のターゲットとし、近傍のターゲットを第
２番目のターゲットｐｊとして、ターゲットシール間の
距離Ｌ（ｐｉ，ｐｊ）を求める。ここで、ｉ＝１，２，
…、ｊ＝１，２，…である。対応候補抽出処理部１２０
は、画像２の中でターゲットシール間の距離Ｌ（ｑｋ，
ｑｌ）が距離Ｌ（ｐｉ，ｐｊ）と同じ程度離れたターゲ
ットの組の候補Ｑ｛（ｑｋ，ｑｌ）、（ｑｋ＋１，ｑｌ
＋１）、（ｑｋ＋２，ｑｌ＋２）、…｝を選択する。
【００１４】評価値計算処理部１３０は、ターゲットの
組の候補Ｑの中から任意に選んだ組（ｑｋ，ｑｌ）が
（ｐｉ，ｐｊ）と一致するように座標変換する変換行列
（Ｒ，Ｔ）を計算する。変換行列（Ｒ，Ｔ）を用いて画
像２のその他の点ｑｎを画像１の画像へ投影したとき、
近傍に対応点ｐｎがある場合に、対応点ｐｎに既知点ｐ
ｉからの距離の逆数を評価値として与える。評価値を与
えられていない点ｐｍに対しては、例えば“−１”を与
える。そして、画像２の全ての点ｑｎを座標変換して画
像１の対応点ｐに評価関数を付け終えると、画像１の全
ての点ｐｎにおける評価値を足し合わせた値を、（ｐ
ｉ，ｐｊ）と（ｑｋ，ｑｌ）との一致度とする。そし
て、最も一致度が高くなる対応候補の組を画像１と画像
２のマッチング結果とする。
組の候補Ｑの中から任意に選んだ組（ｑｋ，ｑｌ）が
（ｐｉ，ｐｊ）と一致するように座標変換する変換行列
（Ｒ，Ｔ）を計算する。変換行列（Ｒ，Ｔ）を用いて画
像２のその他の点ｑｎを画像１の画像へ投影したとき、
近傍に対応点ｐｎがある場合に、対応点ｐｎに既知点ｐ
ｉからの距離の逆数を評価値として与える。評価値を与
えられていない点ｐｍに対しては、例えば“−１”を与
える。そして、画像２の全ての点ｑｎを座標変換して画
像１の対応点ｐに評価関数を付け終えると、画像１の全
ての点ｐｎにおける評価値を足し合わせた値を、（ｐ
ｉ，ｐｊ）と（ｑｋ，ｑｌ）との一致度とする。そし
て、最も一致度が高くなる対応候補の組を画像１と画像
２のマッチング結果とする。
【００１５】名称付け処理部１４０は、一致度が大きく
なる座標変換結果を用いてターゲットｑｎにターゲット
ｐｎと同じ名称を付けなおす。座標変換後、近傍に点が
ないターゲットｑｎに対しては新しいターゲット名称ｑ
ｎ＋１を付ける。航空写真測量の要領で、画像２と画像
３、画像３と画像４と少しずつ移動しながら連続して撮
影した画像に対して、全部のターゲット画像に名称付け
を実行する。全部の画像に対して名前付け処理を終了す
ると、３次元解析処理部１５０は同一の名称を付された
ターゲットの組に対して視差を用いた３次元解析処理を
実行して、各ターゲットｑｎの３次元座標を計算する。
なる座標変換結果を用いてターゲットｑｎにターゲット
ｐｎと同じ名称を付けなおす。座標変換後、近傍に点が
ないターゲットｑｎに対しては新しいターゲット名称ｑ
ｎ＋１を付ける。航空写真測量の要領で、画像２と画像
３、画像３と画像４と少しずつ移動しながら連続して撮
影した画像に対して、全部のターゲット画像に名称付け
を実行する。全部の画像に対して名前付け処理を終了す
ると、３次元解析処理部１５０は同一の名称を付された
ターゲットの組に対して視差を用いた３次元解析処理を
実行して、各ターゲットｑｎの３次元座標を計算する。
【００１６】続いて、タービンのような実機にターゲッ
トシールを貼付して、製造された機器の表面形状が設計
図面通りになっているか測定する実施例を説明する。図
３は本発明の第２の実施の形態を示す自動寸法検査装置
の構成図である。図４はモデル座標系とセンサ座標系の
説明図である。図において、センサ座標系データベース
１６０には、第１の実施の形態で説明した自動寸法検査
装置により寸法計測された被測定物のターゲットが位置
する座標が、センサ座標系Ｏ−ＸＹＺにより記述されて
いる。モデル座標データベース１７０には、被測定物の
設計図面に基づいてターゲットが位置すべき座標が、モ
デル座標系ｏ−ｘｙｚにより記述されている。
トシールを貼付して、製造された機器の表面形状が設計
図面通りになっているか測定する実施例を説明する。図
３は本発明の第２の実施の形態を示す自動寸法検査装置
の構成図である。図４はモデル座標系とセンサ座標系の
説明図である。図において、センサ座標系データベース
１６０には、第１の実施の形態で説明した自動寸法検査
装置により寸法計測された被測定物のターゲットが位置
する座標が、センサ座標系Ｏ−ＸＹＺにより記述されて
いる。モデル座標データベース１７０には、被測定物の
設計図面に基づいてターゲットが位置すべき座標が、モ
デル座標系ｏ−ｘｙｚにより記述されている。
【００１７】基準ターゲット位置選定部２００は、セン
サ座標系データベース１６０の中で基準ターゲットの組
を選定するもので、例えば距離と角度が既知のターゲッ
ト３点を選定する。対応候補抽出処理部２１０は、基準
ターゲットの組に対応するモデル座標データベース１７
０の対応基準ターゲットの組における候補を対応候補と
して抽出する。座標変換行列選定部２２０は、センサ座
標系データベース１６０の基準ターゲットの組をモデル
座標データベース１７０の対応基準ターゲットの組に投
影したときに、基準ターゲットの組と最も良く一致する
対応基準ターゲットの組をえる座標変換行列を求める。
サ座標系データベース１６０の中で基準ターゲットの組
を選定するもので、例えば距離と角度が既知のターゲッ
ト３点を選定する。対応候補抽出処理部２１０は、基準
ターゲットの組に対応するモデル座標データベース１７
０の対応基準ターゲットの組における候補を対応候補と
して抽出する。座標変換行列選定部２２０は、センサ座
標系データベース１６０の基準ターゲットの組をモデル
座標データベース１７０の対応基準ターゲットの組に投
影したときに、基準ターゲットの組と最も良く一致する
対応基準ターゲットの組をえる座標変換行列を求める。
【００１８】対応点評価値計算処理部２３０は、座標変
換行列選定部２２０で求めた座標変換行列を用いて、セ
ンサ座標系データベース１６０の基準ターゲット以外の
ターゲット点ｓをモデル座標データベース１７０の画像
へ投影したとき、モデル座標データベース１７０の対応
ターゲット点P,Q,Rを定める。例えば、ターゲット点ｓ
に対する対応ターゲット点P,Q,Rの評価値として、対応
ターゲット点P,Q,Rの任意の基準ターゲットからの距離
の逆数を用いる。評価値を与えられていないターゲット
点P,Q,Rに対しては、例えば“−１”を与える。そし
て、センサ座標系データベース１６０の全てのターゲッ
ト点ｓを座標変換してモデル座標データベース１７０の
対応ターゲット点P,Q,Rに評価関数を付け終えると、モ
デル座標データベース１７０の全てのターゲット点ｓに
おける評価値を足し合わせた値を、（ｓｉ，ｓｊ）と
（P,Q,R）との一致度とする。そして、最も一致度が高
くなる対応候補の組をモデル座標データベース１７０の
ターゲット点ｓに対するセンサ座標系データベース１６
０の対応ターゲット点P,Q,Rとする。
換行列選定部２２０で求めた座標変換行列を用いて、セ
ンサ座標系データベース１６０の基準ターゲット以外の
ターゲット点ｓをモデル座標データベース１７０の画像
へ投影したとき、モデル座標データベース１７０の対応
ターゲット点P,Q,Rを定める。例えば、ターゲット点ｓ
に対する対応ターゲット点P,Q,Rの評価値として、対応
ターゲット点P,Q,Rの任意の基準ターゲットからの距離
の逆数を用いる。評価値を与えられていないターゲット
点P,Q,Rに対しては、例えば“−１”を与える。そし
て、センサ座標系データベース１６０の全てのターゲッ
ト点ｓを座標変換してモデル座標データベース１７０の
対応ターゲット点P,Q,Rに評価関数を付け終えると、モ
デル座標データベース１７０の全てのターゲット点ｓに
おける評価値を足し合わせた値を、（ｓｉ，ｓｊ）と
（P,Q,R）との一致度とする。そして、最も一致度が高
くなる対応候補の組をモデル座標データベース１７０の
ターゲット点ｓに対するセンサ座標系データベース１６
０の対応ターゲット点P,Q,Rとする。
【００１９】名称付け処理部２４０は、対応点評価値計
算処理部２３０によりモデル座標データベース１７０の
ターゲット点ｓに対するセンサ座標系データベース１６
０の対応ターゲット点P,Q,Rが得られると、センサ座標
系データベース１６０の対応ターゲット点P,Q,Rと同一
の名称をモデル座標データベース１７０のターゲット点
ｓに付する。寸法演算部２５０は、名称付け処理部２４
０で同一の名称を付されたセンサ座標系データベース１
６０のターゲットの組に対して３次元座標解析を施すも
ので、例えばミニコンや数理演算用コンピュータを用い
る。表示部２６０は寸法演算部２５０で演算した結果を
表形式や３次元立体表示、平面図、正面図、側面図等の
平面表示を行うもので、例えばＣＲＴや液晶画面が用い
られる。即ち、予めモデル座標系でどの位置を計測する
かを取り決めておけば、寸法演算部２５０により計測し
た座標系であるセンサ座標系で必要とする長さ、角度な
どの必要とする寸法を自動的に演算して表示させること
ができる。
算処理部２３０によりモデル座標データベース１７０の
ターゲット点ｓに対するセンサ座標系データベース１６
０の対応ターゲット点P,Q,Rが得られると、センサ座標
系データベース１６０の対応ターゲット点P,Q,Rと同一
の名称をモデル座標データベース１７０のターゲット点
ｓに付する。寸法演算部２５０は、名称付け処理部２４
０で同一の名称を付されたセンサ座標系データベース１
６０のターゲットの組に対して３次元座標解析を施すも
ので、例えばミニコンや数理演算用コンピュータを用い
る。表示部２６０は寸法演算部２５０で演算した結果を
表形式や３次元立体表示、平面図、正面図、側面図等の
平面表示を行うもので、例えばＣＲＴや液晶画面が用い
られる。即ち、予めモデル座標系でどの位置を計測する
かを取り決めておけば、寸法演算部２５０により計測し
た座標系であるセンサ座標系で必要とする長さ、角度な
どの必要とする寸法を自動的に演算して表示させること
ができる。
【００２０】図５は計測枠の一例を説明する正面図であ
る。測定枠は高温の被測定物に適する四辺形の計測枠３
００やＸ字形のクロススケールバー３１０であって、表
面にはターゲットが貼付されている。被測定物は、火力
発電所用タービンの尾筒のような摂氏数百度程度になる
ものでもよく、また量産品のように設計形状が予め判っ
ているものでも良い。火力発電所用タービンの尾筒に
は、計測枠として入口フランジ用治具Ａ３２０、上部フ
ランジ用治具Ｂ３３０、出口側フランジ用治具Ｃ３４０
等を装着すると良い。
る。測定枠は高温の被測定物に適する四辺形の計測枠３
００やＸ字形のクロススケールバー３１０であって、表
面にはターゲットが貼付されている。被測定物は、火力
発電所用タービンの尾筒のような摂氏数百度程度になる
ものでもよく、また量産品のように設計形状が予め判っ
ているものでも良い。火力発電所用タービンの尾筒に
は、計測枠として入口フランジ用治具Ａ３２０、上部フ
ランジ用治具Ｂ３３０、出口側フランジ用治具Ｃ３４０
等を装着すると良い。
【００２１】図６は四辺形の計測枠で火力発電所用ター
ビンの尾筒を計測する場合を示している。四辺形の計測
枠３００には適宜の場所にターゲット３０２が貼付され
ている。尾筒４００は四辺形の計測枠３００の内部に設
置される。そして、第１の実施の形態や第２の実施形態
で説明した自動寸法検査装置により、尾筒４００の形状
測定を行う。
ビンの尾筒を計測する場合を示している。四辺形の計測
枠３００には適宜の場所にターゲット３０２が貼付され
ている。尾筒４００は四辺形の計測枠３００の内部に設
置される。そして、第１の実施の形態や第２の実施形態
で説明した自動寸法検査装置により、尾筒４００の形状
測定を行う。
【００２２】図７は図５に示す入口フランジ用治具Ａ、
上部フランジ用治具Ｂ、出口側フランジ用治具Ｃ等を被
測定物に装着する状態を説明している。被測定物が量産
品の場合に、ターゲットを被測定物の指定場所に正確に
貼付することは困難である。そこで、予め専用治具３２
０，３３０，３４０にターゲットを貼付しておいて、こ
の専用治具を被測定物である尾筒４００の指定場所、例
えば入口フランジ、上部フランジ、出口側フランジ等に
装着して、被測定物である尾筒４００の形状計測を行っ
ても良い。
上部フランジ用治具Ｂ、出口側フランジ用治具Ｃ等を被
測定物に装着する状態を説明している。被測定物が量産
品の場合に、ターゲットを被測定物の指定場所に正確に
貼付することは困難である。そこで、予め専用治具３２
０，３３０，３４０にターゲットを貼付しておいて、こ
の専用治具を被測定物である尾筒４００の指定場所、例
えば入口フランジ、上部フランジ、出口側フランジ等に
装着して、被測定物である尾筒４００の形状計測を行っ
ても良い。
【００２３】なお、上記実施の形態では、写真測量の原
理に基づいて各ターゲットの高さを含む座標を計算する
３次元座標解析により演算しているが、本発明はこれに
限定されるものではなく、三角測量の原理のような写真
測量の原理と均等の３次元座標解析を行っても良い。
理に基づいて各ターゲットの高さを含む座標を計算する
３次元座標解析により演算しているが、本発明はこれに
限定されるものではなく、三角測量の原理のような写真
測量の原理と均等の３次元座標解析を行っても良い。
【００２４】
【発明の効果】以上述べたように本発明の画像処理装置
は、複数のターゲットが位置する被測定物に対して、所
定間隔で撮像された一連の画像から寸法計測に用いる画
像を選択する画像選択処理部と、該寸法計測に用いる画
像に撮像されたターゲットの位置を検出するターゲット
位置検出処理部と、該寸法計測に用いる画像の一方にお
ける所定距離のターゲットの組に対応する、他方の画像
における対応ターゲットの組の候補を抽出する対応候補
抽出処理部と、該他方の画像における対応ターゲットの
組を該一方の画像に投影したときに前記ターゲットの組
と最も良く一致する対応ターゲットの組を選定する評価
値計算処理部と、該選定された対応ターゲットの組に前
記ターゲットの組と同一の名称を付する名称付け処理部
とを備えている。そこで、被測定物に貼付したターゲッ
トが多数の画像相互においてどのような関係にあるか容
易に対応付けることができ、自動寸法検査装置の前処理
として優れている。
は、複数のターゲットが位置する被測定物に対して、所
定間隔で撮像された一連の画像から寸法計測に用いる画
像を選択する画像選択処理部と、該寸法計測に用いる画
像に撮像されたターゲットの位置を検出するターゲット
位置検出処理部と、該寸法計測に用いる画像の一方にお
ける所定距離のターゲットの組に対応する、他方の画像
における対応ターゲットの組の候補を抽出する対応候補
抽出処理部と、該他方の画像における対応ターゲットの
組を該一方の画像に投影したときに前記ターゲットの組
と最も良く一致する対応ターゲットの組を選定する評価
値計算処理部と、該選定された対応ターゲットの組に前
記ターゲットの組と同一の名称を付する名称付け処理部
とを備えている。そこで、被測定物に貼付したターゲッ
トが多数の画像相互においてどのような関係にあるか容
易に対応付けることができ、自動寸法検査装置の前処理
として優れている。
【００２５】本発明にかかる自動寸法検査装置は、画像
処理装置と、画像処理装置の名称付け処理部で同一の名
称を付されたターゲットの組に対して３次元座標解析を
施す３次元座標解析手段を有する構成としているので、
ターゲットの位置が写真測量における対空標識を用いた
地形図のような視差を用いた３次元座標解析によって正
確に求めることができる。そこで、被測定物についても
ターゲット貼付位置の情報から正確に寸法計測が行え
る。
処理装置と、画像処理装置の名称付け処理部で同一の名
称を付されたターゲットの組に対して３次元座標解析を
施す３次元座標解析手段を有する構成としているので、
ターゲットの位置が写真測量における対空標識を用いた
地形図のような視差を用いた３次元座標解析によって正
確に求めることができる。そこで、被測定物についても
ターゲット貼付位置の情報から正確に寸法計測が行え
る。
【００２６】本発明にかかる自動寸法検査装置は、被測
定物の設計図面に基づいてターゲットが位置する座標が
記述されるモデル座標データベースの中で基準ターゲッ
トの組を選定する基準ターゲット位置選定部と、請求項
５に記載の自動寸法検査装置により該被測定物のターゲ
ットが位置する座標が記述されるセンサ座標系データベ
ースの対応基準ターゲットの組における該基準ターゲッ
トの組に対応する候補を抽出する対応候補抽出処理部
と、センサ座標系データベースの基準ターゲットの組を
モデル座標データベースの対応基準ターゲットの組に投
影したときに、基準ターゲットの組と最も良く一致する
対応基準ターゲットの組をえる座標変換行列を求める座
標変換行列選定部と、座標変換行列選定部によりセンサ
座標系データベースのターゲットを対応するモデル座標
データベースの対応ターゲットを投影し、モデル座標デ
ータベースの対応ターゲットの名称と同一の名称をセン
サ座標系データベースのターゲットに付する名称付け処
理部を備えているので、設計図面による基準ターゲット
と、設計図面に基づいて製造された被測定物の寸法を測
定した対応基準ターゲットの対応付けがバーコードを用
いることなく行える。しかも、基準ターゲット位置選定
部、対応候補抽出処理部、座標変換行列選定部、並びに
名称付け処理部は請求項１の画像処理装置の構成に近い
ので、請求項１の画像処理装置を用いてシステム構築す
ることができる。
定物の設計図面に基づいてターゲットが位置する座標が
記述されるモデル座標データベースの中で基準ターゲッ
トの組を選定する基準ターゲット位置選定部と、請求項
５に記載の自動寸法検査装置により該被測定物のターゲ
ットが位置する座標が記述されるセンサ座標系データベ
ースの対応基準ターゲットの組における該基準ターゲッ
トの組に対応する候補を抽出する対応候補抽出処理部
と、センサ座標系データベースの基準ターゲットの組を
モデル座標データベースの対応基準ターゲットの組に投
影したときに、基準ターゲットの組と最も良く一致する
対応基準ターゲットの組をえる座標変換行列を求める座
標変換行列選定部と、座標変換行列選定部によりセンサ
座標系データベースのターゲットを対応するモデル座標
データベースの対応ターゲットを投影し、モデル座標デ
ータベースの対応ターゲットの名称と同一の名称をセン
サ座標系データベースのターゲットに付する名称付け処
理部を備えているので、設計図面による基準ターゲット
と、設計図面に基づいて製造された被測定物の寸法を測
定した対応基準ターゲットの対応付けがバーコードを用
いることなく行える。しかも、基準ターゲット位置選定
部、対応候補抽出処理部、座標変換行列選定部、並びに
名称付け処理部は請求項１の画像処理装置の構成に近い
ので、請求項１の画像処理装置を用いてシステム構築す
ることができる。
【００２７】さらに、本発明にかかる自動寸法検査装置
は、名称付け処理部で同一の名称を付されたセンサ座標
系データベースのターゲットの組に対して３次元座標解
析を施す寸法演算部を有しているので、設計図面に基づ
いて製造された被測定物の寸法計測を迅速に行える。
は、名称付け処理部で同一の名称を付されたセンサ座標
系データベースのターゲットの組に対して３次元座標解
析を施す寸法演算部を有しているので、設計図面に基づ
いて製造された被測定物の寸法計測を迅速に行える。
【図１】 本発明の第１の実施の形態を示す画像処理装
置並びにこの画像処理装置を用いた自動寸法検査装置の
構成図である。
置並びにこの画像処理装置を用いた自動寸法検査装置の
構成図である。
【図２】 所定間隔で撮像された被測定物に対する一連
の画像の説明図である。
の画像の説明図である。
【図３】 本発明の第２の実施の形態を示す自動寸法検
査装置の構成図である。
査装置の構成図である。
【図４】 モデル座標系とセンサ座標系の説明図であ
る。
る。
【図５】 計測枠の一例を説明する正面図である。。
【図６】 四辺形の計測枠で火力発電所用タービンの尾
筒を計測する場合を示している。
筒を計測する場合を示している。
【図７】 図５に示す入口フランジ用治具Ａ、上部フラ
ンジ用治具Ｂ、出口側フランジ用治具Ｃ等を被測定物に
装着する状態を説明している。
ンジ用治具Ｂ、出口側フランジ用治具Ｃ等を被測定物に
装着する状態を説明している。
１００ 画像選択処理部 １１０ ターゲット位置検出処理部 １２０ 対応候補抽出処理部 １３０ 評価値計算処理部 １４０ 名称付け処理部 １５０ ３次元座標解析手段 １６０ センサ座標系データベース １７０ モデル座標データベース ２００ 基準ターゲット位置選定部 ２１０ 対応候補抽出処理部 ２２０ 座標変換行列選定部 ２３０ 対応点評価値計算処理部 ２４０ 名称付け処理部 ２５０ 寸法演算部
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F065 AA21 AA51 CC08 FF05 FF09 FF26 FF61 JJ03 JJ05 JJ26 QQ25 QQ31 SS13 5B057 AA01 BA02 CA08 CA13 CA16 CB02 CB13 CB16 CC01 DA07 DB03 DB05 DB09 DC09
Claims (8)
- 【請求項１】 複数のターゲットが位置する被測定物に
対して、所定間隔で撮像された一連の画像から寸法計測
に用いる画像を選択する画像選択処理部と、 該寸法計測に用いる画像に撮像されたターゲットの位置
を検出するターゲット位置検出処理部と、 該寸法計測に用いる画像の一方における所定距離のター
ゲットの組に対応する、他方の画像における対応ターゲ
ットの組の候補を抽出する対応候補抽出処理部と、 該他方の画像における対応ターゲットの組を該一方の画
像に投影したときに前記ターゲットの組と最も良く一致
する対応ターゲットの組を選定する評価値計算処理部
と、 該選定された対応ターゲットの組に前記ターゲットの組
と同一の名称を付する名称付け処理部と、 を備えることを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項２】 前記被測定物は、前記被測定物の近傍に
配置された計測枠を有すると共に、該計測枠の所定位置
にはターゲットが位置することを特徴とする請求項１に
記載の画像処理装置。 - 【請求項３】 前記評価値計算処理部は、該他方の画像
における対応ターゲットの組を該一方の画像に投影した
ときに前記ターゲットの組とのずれの大きさが最小の対
応ターゲットの組を選定することを特徴とする請求項１
又は請求項２に記載の画像処理装置。 - 【請求項４】 前記評価値計算処理部は、該他方の画像
における対応ターゲットの組を該一方の画像に投影した
ときに前記ターゲットの組とのずれの大きさが最小とな
る座標変換行列を選定することを特徴とする請求項１又
は請求項２に記載の画像処理装置。 - 【請求項５】 請求項１乃至請求項４の何れかに記載の
画像処理装置と、 前記画像処理装置の名称付け処理部で同一の名称を付さ
れたターゲットの組に対して３次元座標解析を施す３次
元座標解析手段と、 を有することを特徴とする自動寸法検査装置。 - 【請求項６】 複数のターゲットが位置する被測定物に
対して、所定間隔で撮像された一連の画像から寸法計測
に用いる画像を選択し、 該寸法計測に用いる画像に撮像されたターゲットの位置
を検出し、 該寸法計測に用いる画像の一方における所定距離のター
ゲットの組に対応する、他方の画像における対応ターゲ
ットの組の候補を抽出し、 該他方の画像における対応ターゲットの組を該一方の画
像に投影したときに前記ターゲットの組と最も良く一致
する対応ターゲットの組を選定し、 該選定された対応ターゲットの組に前記ターゲットの組
と同一の名称を付し、 前記同一の名称を付されたターゲットの組に対して３次
元座標解析を施すことを含むことを特徴とする自動寸法
検査方法。 - 【請求項７】 被測定物の設計図面に基づいてターゲッ
トが位置する座標が記述されるモデル座標データベース
と、 請求項５に記載の自動寸法検査装置により該被測定物の
ターゲットが位置する座標が記述されるセンサ座標系デ
ータベースと、 該センサ座標系データベースの中で基準ターゲットの組
を選定する基準ターゲット位置選定部と、 該モデル座標データベースの対応基準ターゲットの組に
おける、該基準ターゲットの組に対応する候補を抽出す
る対応候補抽出処理部と、 該センサ座標系データベースの基準ターゲットの組を該
モデル座標データベースの対応基準ターゲットの組に投
影したときに、前記基準ターゲットの組と最も良く一致
する対応基準ターゲットの組をえる座標変換行列を求め
る座標変換行列選定部と、 該座標変換行列選定部により該センサ座標系データベー
スのターゲットを該モデル座標データベースの対応ター
ゲットに投影し、該モデル座標データベースの対応ター
ゲットの名称と同一の名称を該センサ座標系データベー
スのターゲットに付する名称付け処理部と、 該名称付け処理部で同一の名称を付された該センサ座標
系データベースのターゲットの組に対して３次元座標解
析を施す寸法演算部と、 を備えることを特徴とする自動寸法検査装置。 - 【請求項８】 請求項５に記載の自動寸法検査装置によ
り被測定物のターゲットが位置する座標が記述されるセ
ンサ座標系データベースの中で基準ターゲットの組を選
定し、 該被測定物の設計図面に基づいてターゲットが位置する
座標が記述されるモデル座標データベースの中で、該基
準ターゲットの組に対応する対応基準ターゲットの組に
おける候補を抽出し、 該センサ座標系データベースの基準ターゲットの組を該
モデル座標データベースの対応基準ターゲットの組に投
影したときに、前記基準ターゲットの組と最も良く一致
する対応基準ターゲットの組をえる座標変換行列を求
め、 該座標変換行列選定部により該センサ座標系データベー
スのターゲットを該モデル座標データベースの対応ター
ゲットに投影して、該モデル座標データベースの対応タ
ーゲットの名称と同一の名称を該センサ座標系データベ
ースのターゲットに付し、 前記同一の名称を付された該センサ座標系データベース
のターゲットの組に対して３次元座標解析を施すことを
含むことを特徴とする自動寸法検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001002543A JP2002207998A (ja) | 2001-01-10 | 2001-01-10 | 画像処理装置、自動寸法検査装置、自動寸法検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001002543A JP2002207998A (ja) | 2001-01-10 | 2001-01-10 | 画像処理装置、自動寸法検査装置、自動寸法検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002207998A true JP2002207998A (ja) | 2002-07-26 |
Family
ID=18871031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001002543A Withdrawn JP2002207998A (ja) | 2001-01-10 | 2001-01-10 | 画像処理装置、自動寸法検査装置、自動寸法検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002207998A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003329796A (ja) * | 2002-05-16 | 2003-11-19 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 連結管製作方法及びフランジ位置計測システム |
| JP2004361265A (ja) * | 2003-06-05 | 2004-12-24 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | プラントの連結管製作方法 |
| JP2006038590A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Teruaki Yogo | ３次元形状測定方法及びその装置 |
| JP2007303828A (ja) * | 2006-05-08 | 2007-11-22 | Konica Minolta Sensing Inc | 断面データ取得方法、システム、及び断面検査方法 |
-
2001
- 2001-01-10 JP JP2001002543A patent/JP2002207998A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003329796A (ja) * | 2002-05-16 | 2003-11-19 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 連結管製作方法及びフランジ位置計測システム |
| JP2004361265A (ja) * | 2003-06-05 | 2004-12-24 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | プラントの連結管製作方法 |
| JP2006038590A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Teruaki Yogo | ３次元形状測定方法及びその装置 |
| JP2007303828A (ja) * | 2006-05-08 | 2007-11-22 | Konica Minolta Sensing Inc | 断面データ取得方法、システム、及び断面検査方法 |
| JP4743771B2 (ja) * | 2006-05-08 | 2011-08-10 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 断面データ取得方法、システム、及び断面検査方法 |
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