JP2002183739A - 楕円検出方法及び楕円検出装置 - Google Patents

楕円検出方法及び楕円検出装置

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JP2002183739A
JP2002183739A JP2000381021A JP2000381021A JP2002183739A JP 2002183739 A JP2002183739 A JP 2002183739A JP 2000381021 A JP2000381021 A JP 2000381021A JP 2000381021 A JP2000381021 A JP 2000381021A JP 2002183739 A JP2002183739 A JP 2002183739A
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Tatsuya Hirai
達也 平井
Yoshikazu Nakano
義和 中野
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Tsubakimoto Chain Co
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Tsubakimoto Chain Co
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 欠損楕円であっても二種類のハフ変換を用い
ることによって実用的な時間内で検出することができる
楕円検出方法及び楕円検出装置を提供する。 【解決手段】 楕円検出装置は、予め記憶しているマス
クパターンを用いて処理対象の画像データ中の全画素に
対してパターンマッチングを行うことにより(S2−
3)、エッジ画素の法線方向を予測する。次に、予測し
た法線方向が180度異なるエッジ画素の対を生成し
(S2−7)、生成したエッジ画素の中点の座標を求め
(S2−8)、ハフ変換の手法を用いてその座標を二次
元投票空間上に投票する(S2ー9)。そして、その投
票空間における集積点を検出し(S2−11)、その集
積点を楕円の中心点の座標とし(S2−12)、その中
心点の座標に基づいて楕円の検出を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ハフ変換を用いて
楕円を検出する楕円検出方法及びその方法を実施するた
めの楕円検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】画像パターン認識の分野において、画像
データ中に存在する直線,円又は楕円等の幾何学的図形
を検出することは重要である。特に、楕円を検出するこ
とができる場合、工場におけるビンピッキング等の種々
の分野に応用することができため、各種の楕円検出方法
が研究され提案されている。
【0003】例えば、特開平10−289318号公報
では、最小2乗法を用いて楕円曲線を推定することによ
り楕円を検出する楕円検出方法(以下、第1従来技術と
いう)が提案されている。また、特開平9−28873
3号公報では、閉曲線を演算し、その演算した閉曲線と
等価の楕円を推定することにより楕円を検出する楕円検
出方法(以下、第2従来技術という)が提案されてい
る。
【0004】しかしながら、第1従来技術では、楕円を
推定する部分曲線が所定の長さ以下のものは雑音として
除去しているため、その所定の長さ以上の連続した曲線
が必要となる。そのため、雑音等に起因して生じた欠損
部分を有する楕円(以下、欠損楕円という)に対しては
適用できない場合がある。また、第2従来技術は上述し
たように閉曲線を用いて楕円の検出を行うため、第1従
来技術と同様に欠損楕円を検出することは困難である。
【0005】ところで、欠損楕円を検出することができ
る楕円検出方法として、従来からハフ(Hough )変換を
用いたものが提案されている。このようなハフ変換を用
いた楕円検出方法では、楕円を検出するために必要とな
る5つのパラメータ(中心点のX座標及びY座標,長
径,短径並びに傾き)に対応するパラメータ空間(以
下、投票空間という)を用意し、その投票空間に対して
投票を行う。その結果最も高い票を得た座標(以下、集
積点という)を抽出し、その集積点により5つのパラメ
ータの値を決定する。このように統計的な処理により楕
円の検出を行うことにより、欠損楕円であっても検出す
ることが可能になる。
【0006】しかしながら、このように投票空間が5次
元となる場合、膨大な記憶領域及び計算時間が必要とな
るため、一般的なコンピュータを用いて実用的な時間内
で楕円のを検出することは困難である。
【0007】そこで、まず楕円の中心点のX座標及びY
座標を求め、その後に残りの長径,短径及び傾きをハフ
変換で求めるようにすることによって、投票空間の低次
元化を図り、一般的なコンピュータを用いた場合であっ
ても実用的な時間内に楕円を検出することができる楕円
検出方法が研究されている。
【0008】このように楕円の中心点のX座標及びY座
標を求める場合、「楕円の周上の2点が同一の接線方向
を持つときにそれら2点の中点は楕円の中心点である」
という楕円の性質を利用する。例えば、画像データに対
して微分処理を施してエッジ強調画像及びエッジ画素の
法線方向を求め、その法線方向が180度異なる2点同
士の中点を演算することにより楕円の中心点のX座標及
びY座標を求める方法(以下、第3従来技術という)
が、「楕円の準円を用いた楕円図形の検出」(PRU91-13
4,pp65-70,1992年)に開示されている。
【0009】また、ハフ変換を用いて楕円の中心点のX
座標及びY座標を求める方法も提案されている。例え
ば、所定サイズの画像を用意し、その画像内にある注目
エッジ画素及び他のエッジ画素を通る直線についてハフ
変換を行うことによって注目エッジ画素における接線情
報を求め、その接線情報に基づいて楕円の中心点のX座
標及びY座標を求める方法(以下、第4従来技術とい
う)が、「ハフ変換を用いた接線情報の抽出と欠損楕円
の検出」(電子情報通信学会論文誌,D-II,Vol.J82-D-I
I,No.12,pp.2221-2229,1999年12月)に開示されてい
る。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、第3従
来技術による場合、上述したように画像データに微分処
理を施す処理を行っているため、検出対象が欠損楕円で
ある場合、エッジ画素の法線方向が180度異なる2点
を検出することは容易ではない。したがって、第1及び
第2従来技術の場合と同様に、第3従来技術による場合
であっても欠損楕円を検出することは困難である。
【0011】また、第4従来技術による場合、上述した
所定サイズの画像内に完全な形でデジタル直線が含まれ
ている場合が少ないために、実際には適用することが困
難であるという問題があった。
【0012】本発明は斯かる事情に鑑みてなされたもの
であり、パターンマッチング処理を実行することにより
予測したエッジ画素の法線方向に基づいてエッジ画素の
対を生成し、そのエッジ画素の対の中点を用いてハフ変
換により楕円の中心点を求め、またその決定した中心点
に基づいて楕円の長径,短径及び傾きをハフ変換により
求めることにより、欠損部分がある楕円であっても容易
に検出することができる楕円検出方法及びその方法を実
施するための楕円検出装置を提供することを目的とす
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】第1発明に係る楕円検出
方法は、画像データ中に存在する楕円を検出する楕円検
出方法において、前記画像データ中のエッジ画素を抽出
するステップと、所与のマスクパターンを用いたパター
ンマッチングによって前記抽出したエッジ画素の法線方
向を予測するステップと、予測した法線方向に基づいて
エッジ画素の対を生成するステップと、生成したエッジ
画素の対の中点の座標を算出するステップと、算出した
中点の座標を二次元投票空間上に投票するステップと、
投票した結果に基づいて楕円の中心点の座標を決定する
ステップと、決定した中心点の座標に基づいて楕円を検
出するステップとを含むことを特徴とする。
【0014】第2発明に係る楕円検出装置は、画像デー
タ中に存在する楕円を検出する楕円検出装置において、
前記画像データ中のエッジ画素を抽出する抽出手段と、
所与のマスクパターンを用いたパターンマッチングによ
って前記抽出手段によって抽出されたエッジ画素の法線
方向を予測する法線方向予測手段と、該法線方向予測手
段によって予測された法線方向に基づいてエッジ画素の
対を生成するエッジ画素対生成手段と、該エッジ画素対
生成手段によって生成されたエッジ画素の対の中点の座
標を算出する中点座標算出手段と、該中点座標算出手段
によって算出された中点の座標を二次元投票空間上に投
票する第1投票手段と、該第1投票手段によって投票さ
れた結果に基づいて楕円の中心点の座標を決定する中心
点座標決定手段と、該中心点座標決定手段によって決定
された中心点の座標に基づいて楕円を検出する楕円検出
手段とを備えることを特徴とする。
【0015】第1発明及び第2発明による場合、画像デ
ータ中のエッジ画素を抽出し、所与のマスクパターンを
用いたパターンマッチングを実行することによって前記
抽出したエッジ画素の法線方向を予測する。次に、その
予測した法線方向に基づいてエッジ画素の対を生成し、
その生成したエッジ画素の対の中点の座標を算出する。
そして、ハフ変換の手法に基づいて、予め用意されてい
る二次元投票空間に対して前記中点の座標の投票を行
い、その投票結果により楕円の中心点の座標を決定す
る。このようにして決定された楕円の中心点の座標に基
づいて楕円の検出を行う。
【0016】このようにマスクパターンを用いたパター
ンマッチングを行うことによってエッジ画素の法線方向
を予測し、その予測結果を利用してハフ変換により楕円
の中心点の座標を求める。したがって、従来のように画
像データに微分処理を施すことような処理を行っておら
ず、しかもデジタル直線を必要とすることもないため、
検出対象が欠損楕円の場合であってもその中心点の座標
を容易に求めることができる。
【0017】第3発明に係る楕円検出装置は、第2発明
に係る楕円検出装置において、前記楕円検出手段は、前
記中心点座標決定手段によって決定された中心点の座標
に基づいて、楕円の長径、短径及び傾きの組み合わせを
生成する組み合わせ生成手段と、該組み合わせ生成手段
によって生成された組み合わせを三次元投票空間上に投
票する第2投票手段と、該第2投票手段によって投票さ
れた結果に基づいて楕円の長径、短径及び傾きを決定す
る決定手段とを有することを特徴とする。
【0018】第3発明による場合、決定された楕円の中
心点の座標に基づいて、その楕円の長径、短径及び傾き
の組み合わせを生成し、ハフ変換の手法に基づいて、予
め用意されている三次元投票空間に対して前記生成した
組み合わせの投票を行う。そしてその投票結果により楕
円の長径、短径及び傾きを決定することにより、楕円の
検出を行う。
【0019】このように、まず楕円の中心点の座標を求
め、それからその求めた中心点の座標を利用してハフ変
換により楕円の長径、短径及び傾きを求める。これによ
り、楕円の中心点のX座標及びY座標、長径、短径及び
傾きの5つのパラメータをハフ変換により一度に求める
場合に比し、低次元の投票空間上の投票で足りるため、
一般的なコンピュータを用いて実用的な時間内に楕円の
検出を行うことができる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明をその実施の形態を
示す図面に基づいて詳述する。図1は、本発明の楕円検
出装置の構成を示すブロック図である。図1に示すとお
り、本発明の楕円検出装置は、CPU及びキャッシュメ
モリ等で構成される制御部10を有している。この制御
部10は、バスを介して接続されている後述するハード
ウェア各部を制御すると共に、記憶部11に格納されて
いるコンピュータプログラムを実行する。
【0021】記憶部11は、本発明の楕円検出装置の動
作に必要な種々のコンピュータプログラムを記憶してい
る。また、この記憶部11は、後述する8個のマスクパ
ターンを記憶しているマスクパターンDB11aを有し
ている。
【0022】入力部12は、キーボード及びマウス等で
構成され、本発明の楕円検出装置に対して入力する各種
のデータを受け付ける。また、表示部13は、CRT又
はLCD等で構成され、各種の入出力データの表示を行
う。
【0023】入出力I/F14は、CCD等の撮像手段
を備え、該撮像手段によって検出対象となる楕円を含む
画像データを取得する画像取得装置(図示せず)との間
での入出力処理を行うために用いられる。本発明の楕円
検出装置は、この入出力I/F14を介して画像取得装
置から入力された画像データを記憶部11に記憶する。
このようにして記憶部11に記憶された画像データは、
後述する手順にしたがって楕円の検出処理を行う場合の
処理対象となる。
【0024】なお、本発明の楕円検出装置が処理するこ
とができる画像データは、このようにして画像取得装置
から入力される画像データに限らず、例えば入力部12
によって入力された画像データ等であってもよいことは
いうまでもない。
【0025】図2は、マスクパターンDB11aに記憶
されている8個のマスクパターンの説明図である。図2
において、各マスクパターンは3×3画素サイズの2値
画像であり、白色の画素は後述するようにして得られた
楕円のエッジを示すエッジ画素を、また黒色の画素(図
2中でハッチングされている画素)はそのエッジ画素の
背景となる画素を夫々示している。
【0026】また、各マスクパターン中の矢印は、これ
らのマスクパターンと一致する3×3画素サイズの画像
がある場合に、その画像に含まれている3個のエッジ画
素のうちの特定のエッジ画素の法線方向と予測される方
向を示している。ここで、前記3×3画素サイズの画像
が図2に示すパターン1,3,5及び7のマスクパター
ンと一致する場合はその画像に含まれている3個のエッ
ジ画素のうちの中央に位置するエッジ画素が、またパタ
ーン2,4,6及び8のマスクパターンと一致する場合
は同じく3個のエッジ画素のうちの前記画像の角部に位
置するエッジ画素が夫々前記特定のエッジ画素となる。
【0027】なお、これらのマスクパターンの個数は、
後述するようにしてエッジ画素の対を生成するために少
なくとも2以上でなければならないが、本実施の形態の
場合のように8でなくてもよい。
【0028】次に本発明の楕円検出装置の動作について
説明する。図3は、本発明の楕円検出装置の動作の流れ
を示すフローチャートである。本発明の楕円検出装置
は、記憶部11に記憶している画像データに対して、ソ
ーベルフィルタ等の公知の技術を実施することにより、
図4に示すような検出対象である楕円をエッジにより表
したエッジ強調画像を生成する(S1)。
【0029】次に、後述する中心座標決定処理(S2)
を実行することにより画像データ中の楕円の中心点の座
標を求め、その中心点の座標を用いて後述する長径,短
径及び傾き決定処理(S3)を実行することによって楕
円の長径,短径及び傾きを求める。その結果、楕円を表
すために必要な5つのパラメータである中心点のX座標
及びY座標,長径,短径並びに傾きが求まり、画像デー
タ中の楕円が検出される。
【0030】以下、ステップS2における中心座標決定
処理及びステップS3における長径,短径及び傾き決定
処理について夫々の処理手順を示すフローチャートを参
照して説明する。図5は、中心座標決定処理の処理手順
を示すフローチャートである。まず、所定サイズの二次
元の作業平面を記憶部11に用意する(S2−1)。次
にマスクパターンDB11aから8個のマスクパターン
を読み出し(S2−2)、その読み出したマスクパター
ンを用いて処理対象である画像データにおける任意の画
素に対してパターンマッチングを実行する(S2−
3)。
【0031】その結果、何れかのマスクパターンと一致
した場合(S2−4でYES)、一致したマスクパター
ンのパターン番号を前記作業平面における前記画素の座
標に対応する位置に記憶する(S2−5)。
【0032】そしてステップS2−5を実行した場合、
又はステップS2−4にて何れのマスクパターンとも一
致しなかった場合(S2−4でNO)、画像データにお
ける全ての画素に対してパターンマッチングを実行した
か否かを判別する(S2−6)。ここでまだパターンマ
ッチングが実行されていない画素があると判別した場合
(S2−6でNO)、ステップS2−3に戻り、前記実
行されていない画素に対してパターンマッチングを行
う。以下、ステップS2−6にて全ての画素に対してパ
ターンマッチングを実行したと判別される(S2−6で
YES)まで、これらステップS2−3乃至S2−5を
繰り返す。このように実行したパターンマッチングによ
り、エッジ画素の法線方向を予測することができる。
【0033】図6は、図4に示したエッジ強調画像に対
して上述したパターンマッチングを行った場合の処理結
果を示す概念図である。図6では、画像データ中の3×
3画素サイズの画像が各マスクパターンと一致した場合
に、その画像における上述した特定のエッジ画素に対し
て予測された法線方向を所定長の線により表している。
この処理結果では、図6に示すとおり、同一のマスクパ
ターンが画像データ中の複数の画像と一致しているた
め、同一の法線方向を有しているエッジ画素が複数存在
していることになる。
【0034】次に、上述したようにして予測された法線
方向が互いに180度異なるエッジ画素の対を生成する
(S2−7)。本実施の形態の場合、パターン1のマス
クパターンと一致した3×3画素サイズの画像における
上述した特定のエッジ画素と、パターン5のマスクパタ
ーンと一致した同じく特定のエッジ画素とが対となる。
以下、同様にしてパターン2及びパターン6,パターン
3及びパターン7,並びにパターン4及びパターン8の
夫々のマスクパターンを用いてエッジ画素の対を生成す
る。
【0035】そして、このようにして生成されたエッジ
画素の対の中点の座標を算出し(S2−8)、算出した
中点の座標を、予め用意しておいた二次元の投票空間上
に投票する(S2ー9)。次に、全てのエッジ画素につ
いてステップS2−7における対の生成処理を実行した
か否かを判別する(S2−10)。ここでまだ対の生成
処理が実行されていないエッジ画素があると判別した場
合(S2−10でNO)、ステップS2−7に戻り、前
記実行されていないエッジ画素に対して対の生成処理を
行う。以下、ステップS2−10にて全てのエッジ画素
に対して対の生成処理を実行したと判別される(S2−
10でYES)まで、これらステップS2−7乃至S2
−9を繰り返す。
【0036】上述したようにして全てのエッジ画素に対
して対の生成処理を実行し、その結果、二次元投票空間
への投票が終了した場合、投票空間上で最も多くの投票
を受けた座標である集積点を検出する(S2ー11)。
そして、この集積点に基づいて検出対象である楕円の中
心点の座標を決定する(S2−12)。
【0037】図7は、上述した二次元投票空間への投票
を説明する説明図である。図7の(a)は、上述した二
次元の投票空間であるx−yパラメータで表された二次
元平面を示しており、(b)に示すようにその二次元平
面における各セルに対してカウント処理を施すことによ
り上述した投票が行われる。そして、そのセルのうちも
っとも高い値を示しているセルが上述した集積点とな
り、その集積点に対応するxの値を楕円の中心点のX座
標と,同じくyの値をその中心点のY座標とする。
【0038】図8は、長径,短径及び傾き決定処理の処
理手順を示すフローチャートである。本発明の楕円検出
装置は、ステップS1にて生成したエッジ強調画像中の
エッジ画素のうちの任意のエッジ画素を処理対象画素に
設定し(S3−1)、後述する式(1)及び(2)を用
いて楕円の長径,短径及び傾きを算出する。
【0039】
【数1】
【0040】ここで、式(1)は中心点の座標が(m,
n)、長径がa、短径がb、傾きがゼロの場合の楕円を
表す式である。また、式(2)は、任意の点を原点まわ
りに回転角Θだけ回転させるための行列である。
【0041】本発明の楕円検出装置は、楕円の傾きkに
1を設定し(S3−2)、処理対象画素の座標値を満た
す長径a及び短径bの組み合わせを算出する(S3−
3)。そしてこのようにして算出された長径a及び短径
b並びに傾きkを、予め用意しておいた三次元の投票空
間上に投票する(S3−4)。
【0042】次に、kが180であるか否かの判別を行
う(S3−5)。ここでkが180でないと判別した場
合(S3−5でNO)、kの値を1インクリメントし
(S3−6)、kが180になるまでステップS3−3
乃至S3−6を繰り返す。
【0043】そして、ステップS3−5にてkが180
であると判別した場合(S3−5でYES)、全てのエ
ッジ画素についてa,b及びkの投票が行われたか否
か、すなわち全てのエッジ画素が処理対象画素となった
か否かを判別する(S3−7)。
【0044】ステップS3−7にてまだ処理対象画素と
なっていないエッジ画素がある場合(S3−7でN
O)、ステップS3−1に戻りそのエッジ画素を処理対
象画素に設定し、以下の処理を繰り返す。そして、全て
のエッジ画素が処理対象画素となったと判別した場合
(S3−7でYES)、投票空間上の集積点を検出する
(S3−8)。そして、この集積点に基づいて検出対象
である楕円の長径,短径及び傾きを決定する(S3−
9)。
【0045】図9は、上述した三次元投票空間への投票
を説明する説明図である。図9の(a)は、上述した三
次元の投票空間であるa−b−kパラメータで表された
三次元空間を示しており、(b)にしめすようにその三
次元空間における各セルに対してカウント処理を施すこ
とにより上述した投票が行われる。そして、そのセルの
うちもっとも高い値を示しているセルが上述した集積点
となり、その集積点に対応するaの値を楕円の長径と、
同じくbの値をその短径と、同じくkの値をその傾きと
する。
【0046】このように、中心座標決定処理におけるハ
フ変換と、長径,短径及び傾き決定処理におけるハフ変
換とを用いることにより、容易に楕円の検出を行うこと
ができる。
【0047】なお、互いに独立した二種類のハフ変換を
用いているため、他の方法により求めた楕円の中心点の
座標に基づいて上述した長径,短径及び傾き決定処理を
行うことによって楕円の検出を行うこともでき、また上
述した中心座標決定処理により求めた楕円の中心点の座
標に基づいて他の方法により楕円の長径,短径及び傾き
を求めることによって楕円の検出を行うこともできる。
【0048】
【発明の効果】以上詳述した如く、本発明によれば、パ
ターンマッチングを実行することにより予測したエッジ
画素の法線方向に基づいてエッジ画素の対を生成し、そ
のエッジ画素の対の中点を用いてハフ変換により楕円の
中心点を求め、またその決定した中心点に基づいて楕円
の長径,短径及び傾きをハフ変換により求めることによ
り、欠損部分がある楕円であっても一般的なコンピュー
タを用いて実用的な時間内で楕円を検出することができ
る等、本発明は優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の楕円検出装置の構成を示すブロック図
である。
【図2】マスクパターンDBに記憶されている8個のマ
スクパターンの説明図である。
【図3】本発明の楕円検出装置の動作の流れを示すフロ
ーチャートである。
【図4】エッジ強調画像の表示例を示す概念図である。
【図5】中心座標決定処理の処理手順を示すフローチャ
ートである。
【図6】パターンマッチングの処理結果を示す概念図で
ある。
【図7】二次元投票空間への投票を説明する説明図であ
る。
【図8】長径,短径及び傾き決定処理の処理手順を示す
フローチャートである。
【図9】三次元投票空間への投票を説明する説明図であ
る。
【符号の説明】
10 制御部 11 記憶部 11a マスクパターンDB 12 入力部 13 表示部 14 入出力I/F

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画像データ中に存在する楕円を検出する
    楕円検出方法において、 前記画像データ中のエッジ画素を抽出するステップと、
    所与のマスクパターンを用いたパターンマッチングによ
    って前記抽出したエッジ画素の法線方向を予測するステ
    ップと、予測した法線方向に基づいてエッジ画素の対を
    生成するステップと、生成したエッジ画素の対の中点の
    座標を算出するステップと、算出した中点の座標を二次
    元投票空間上に投票するステップと、投票した結果に基
    づいて楕円の中心点の座標を決定するステップと、決定
    した中心点の座標に基づいて楕円を検出するステップと
    を含むことを特徴とする楕円検出方法。
  2. 【請求項2】 画像データ中に存在する楕円を検出する
    楕円検出装置において、 前記画像データ中のエッジ画素を抽出する抽出手段と、
    所与のマスクパターンを用いたパターンマッチングによ
    って前記抽出手段によって抽出されたエッジ画素の法線
    方向を予測する法線方向予測手段と、該法線方向予測手
    段によって予測された法線方向に基づいてエッジ画素の
    対を生成するエッジ画素対生成手段と、該エッジ画素対
    生成手段によって生成されたエッジ画素の対の中点の座
    標を算出する中点座標算出手段と、該中点座標算出手段
    によって算出された中点の座標を二次元投票空間上に投
    票する第1投票手段と、該第1投票手段によって投票さ
    れた結果に基づいて楕円の中心点の座標を決定する中心
    点座標決定手段と、該中心点座標決定手段によって決定
    された中心点の座標に基づいて楕円を検出する楕円検出
    手段とを備えることを特徴とする楕円検出装置。
  3. 【請求項3】 前記楕円検出手段は、前記中心点座標決
    定手段によって決定された中心点の座標に基づいて、楕
    円の長径、短径及び傾きの組み合わせを生成する組み合
    わせ生成手段と、該組み合わせ生成手段によって生成さ
    れた組み合わせを三次元投票空間上に投票する第2投票
    手段と、該第2投票手段によって投票された結果に基づ
    いて楕円の長径、短径及び傾きを決定する決定手段とを
    有することを特徴とする請求項2に記載の楕円検出装
    置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100935236B1 (ko) * 2008-02-28 2010-01-06 숭실대학교산학협력단 카메라 영상의 선분 세그먼트 기반 임의 허프변환을 이용한 원형물체 검출 방법
US7668337B2 (en) 2005-12-14 2010-02-23 Denso Corporation Ellipsoid detecting method, figure center detecting method, image recognizing device, and controller based on image
JP2011204197A (ja) * 2010-03-26 2011-10-13 Fujitsu Frontech Ltd 楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置
JP2015191623A (ja) * 2014-03-28 2015-11-02 富士重工業株式会社 車外環境認識装置
KR101592333B1 (ko) 2014-09-30 2016-02-05 국방과학연구소 광학위성 영상의 타원체 검출장치 및 방법
WO2017188171A1 (ja) * 2016-04-26 2017-11-02 住友電装株式会社 電線の露出芯線部の検査装置
CN111311593A (zh) * 2020-03-14 2020-06-19 深圳市维森软件股份有限公司 一种基于图像梯度信息的多椭圆检测和评估算法、装置、终端及可读存储介质
CN111652894A (zh) * 2020-04-27 2020-09-11 中国人民解放军火箭军工程大学 一种面向飞行器的环形目标自适应检测方法
CN113888572A (zh) * 2021-09-22 2022-01-04 西北工业大学 一种视觉的平面孔测量方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7668337B2 (en) 2005-12-14 2010-02-23 Denso Corporation Ellipsoid detecting method, figure center detecting method, image recognizing device, and controller based on image
KR100935236B1 (ko) * 2008-02-28 2010-01-06 숭실대학교산학협력단 카메라 영상의 선분 세그먼트 기반 임의 허프변환을 이용한 원형물체 검출 방법
JP2011204197A (ja) * 2010-03-26 2011-10-13 Fujitsu Frontech Ltd 楕円印検出及び楕円印自動正立処理装置
JP2015191623A (ja) * 2014-03-28 2015-11-02 富士重工業株式会社 車外環境認識装置
KR101592333B1 (ko) 2014-09-30 2016-02-05 국방과학연구소 광학위성 영상의 타원체 검출장치 및 방법
WO2017188171A1 (ja) * 2016-04-26 2017-11-02 住友電装株式会社 電線の露出芯線部の検査装置
CN111311593A (zh) * 2020-03-14 2020-06-19 深圳市维森软件股份有限公司 一种基于图像梯度信息的多椭圆检测和评估算法、装置、终端及可读存储介质
CN111311593B (zh) * 2020-03-14 2023-05-26 深圳市维森软件股份有限公司 一种多椭圆检测和评估算法、装置及终端
CN111652894A (zh) * 2020-04-27 2020-09-11 中国人民解放军火箭军工程大学 一种面向飞行器的环形目标自适应检测方法
CN113888572A (zh) * 2021-09-22 2022-01-04 西北工业大学 一种视觉的平面孔测量方法

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