JP2002168767A - Spectroscopic irradiation device - Google Patents

Spectroscopic irradiation device

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JP2002168767A
JP2002168767A JP2000365127A JP2000365127A JP2002168767A JP 2002168767 A JP2002168767 A JP 2002168767A JP 2000365127 A JP2000365127 A JP 2000365127A JP 2000365127 A JP2000365127 A JP 2000365127A JP 2002168767 A JP2002168767 A JP 2002168767A
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light
spectral
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To execute a synergistic light deterioration test for applying simultaneously and superposing each different spectral wavelength, vary optionally the spectral wavelength to be applied, and display and directly read the applied spectral wavelength. SOLUTION: A spectroscopic chamber is divided into a first spectroscopic chamber 4 and a second spectroscopic chamber 5, and one irradiation window is irradiated with irradiation light from each spectroscopic chamber. A diffraction grating 12 of the second spectroscopic chamber is formed so that the incident angle of the diffraction grating can be varied optionally by combination of a micrometer and a sine bar, and that an optional spectral wavelength can be applied. In addition, a wavelength scale plate 15 for displaying a irradiation wavelength range from the second spectroscopic chamber can be moved horizontally corresponding to the variable quantity of the incident angle, to thereby enable to directly read the irradiation spectral wavelength range.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、各種工業材料、製
品が光によって劣化する現象を促進試験する耐光性試験
において、劣化の波長依存性を調べる技術及び異なる特
定波長を重ね合わせた相乗光劣化試験を行う技術に関す
るものであり、特に、特開平7−234181号公報の
改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique for examining the wavelength dependence of deterioration in a light resistance test for accelerating the deterioration of various industrial materials and products due to light, and a synergistic light deterioration in which different specific wavelengths are superimposed. The present invention relates to a technique for performing a test, and particularly to an improvement in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-234181.

【0002】[0002]

【従来の技術】各種工業材料、製品の光劣化の波長依存
性の調査及び異なる特定波長を重ね合わせた相乗光劣化
試験を行う装置として、本出願人は、特開平7−234
181号公報で開示した。図4は、同公報に開示の分光
照射装置の構成図である。
2. Description of the Related Art As an apparatus for examining the wavelength dependence of photodeterioration of various industrial materials and products and performing a synergistic photodeterioration test in which different specific wavelengths are superimposed, the present applicant has disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-234.
No. 181. FIG. 4 is a configuration diagram of the spectral irradiation device disclosed in the publication.

【0003】図4において、光源室には、光源(空冷5
kWショートアークキセノンランプ)及びその光を有効に
集光するための2個の凹面鏡を備え、その集光部には、
余分な熱線を除去するための熱線吸収フィルタが設けて
ある。
[0003] In FIG. 4, a light source (air cooling 5) is provided in a light source room.
kW short arc xenon lamp) and two concave mirrors for effectively condensing the light.
A heat ray absorbing filter for removing excess heat rays is provided.

【0004】分光室は、スリット、凹面鏡及び2個の回
折格子が設けてある。前記凹面鏡は、複数個(同公報明
細書の実施例では、4個)の小型凹面鏡体からなり、各
小型凹面鏡に集光角度を調節する角度調整機構が設けら
れている。
[0004] The spectroscopic chamber is provided with a slit, a concave mirror and two diffraction gratings. The concave mirror is composed of a plurality of (four in the example of the specification of the publication) small concave mirrors, and each small concave mirror is provided with an angle adjusting mechanism for adjusting a converging angle.

【0005】また、前記2個の回折格子は、回折格子移
動機構付の架台に組み込まれ、内1個の回折格子は、固
定特定波長用(同公報明細書の実施例では、250nm〜
700nmの波長範囲)で固定されており、もう1個の回
折格子には、回折格子変角機構が付加されており、選択
波長(同公報明細書の実施例では、250nm〜475n
m、350nm〜575nm及び450〜650nmの3波長
範囲が記載)に応じて、回折格子の角度が可変出来るよ
うに構成されている。
[0005] The two diffraction gratings are incorporated in a pedestal equipped with a diffraction grating moving mechanism, and one of the diffraction gratings is for a fixed specific wavelength (in the embodiment of the specification, 250 nm to
(The wavelength range of 700 nm), and another diffraction grating is provided with a diffraction grating bending mechanism, and the selected wavelength (250 nm to 475 n in the example of the specification).
m, three wavelength ranges of 350 nm to 575 nm and 450 nm to 650 nm are described).

【0006】前記固定特定波長用回折格子及び選択波長
用回折格子を回折格子移動機構で、凹面鏡体の焦点位置
に、それらを交互に移動させることで、異なる特定波長
の分光エネルギーを重ね合わせた相乗光劣化試験ができ
る分光照射装置である。また、同時に異なる特定波長の
分光エネルギーを重ね合わせた相乗光劣化試験を行う場
合は、固定特定波長用回折格子又は選択波長用回折格子
のいずれか一つを用い、前記小型凹面鏡体の一部の凹面
鏡の反射角度を角度調節機構で可変することで可能であ
るとしている(同公報明細書では、小型凹面鏡4個のう
ち、2個を角度調節)。
[0006] The diffraction grating for the fixed specific wavelength and the diffraction grating for the selected wavelength are alternately moved to the focal position of the concave mirror body by the diffraction grating moving mechanism, so that a synergistic effect in which spectral energies of different specific wavelengths are superimposed. This is a spectral irradiation device that can perform a light degradation test. In addition, when performing a synergistic light degradation test in which spectral energies of different specific wavelengths are simultaneously superimposed, one of the fixed specific wavelength diffraction grating and the selection wavelength diffraction grating is used, and a part of the small concave mirror body is used. It is described that the reflection angle of the concave mirror can be changed by an angle adjusting mechanism (in the specification of the publication, two out of four small concave mirrors are angle-adjusted).

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記した特開平7−2
34181号公報の分光照射装置の場合、第1に、確か
に異なる特定波長の分光エネルギーを重ね合わせた相乗
光劣化試験を行うことは可能であるが、固定特定波長用
回折格子及び選択波長用回折格子を移動装置で交互に入
れ替えて試験を行うため、実質的に2つの異なる分光波
長を同時に照射させることはできない。
SUMMARY OF THE INVENTION The above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-2
In the case of the spectral irradiation apparatus disclosed in Japanese Patent No. 34181, first, it is possible to perform a synergistic light degradation test in which spectral energy of different specific wavelengths are superposed, but a diffraction grating for a fixed specific wavelength and a diffraction for a selected wavelength are used. Since the test is performed by alternately switching the grating with the moving device, it is impossible to irradiate substantially two different spectral wavelengths at the same time.

【0008】第2に、明細書に記載されているように、
一回折格子に対して、小型凹面鏡体の一部の凹面鏡の反
射角度を可変すれば、異なる特定波長を同時させること
は可能になる。しかし、任意の特定波長を得るための微
妙な反射角度調整は大変難しく、また、反射角度を可変
したことで、どの波長範囲が照射窓に分光されているの
か、即座に確認することができない。
Second, as described in the specification,
By changing the reflection angle of a part of the concave mirror of the small concave mirror with respect to one diffraction grating, it becomes possible to simultaneously make different specific wavelengths. However, it is very difficult to delicately adjust the reflection angle to obtain an arbitrary specific wavelength, and it is not possible to immediately confirm which wavelength range is split into the irradiation window by changing the reflection angle.

【0009】回折格子における入射光と回折格子法線と
のなす角(入射角)をα、回折光と回折格子法線とのな
す角(回折角)をβとすると、その関係式は、Nmλ=
sinα±sinβで、Nは1mmあたりの溝本数、mは回折次
数、λは波長である。この関係式から、溝本数1200
本、回折次数をm=1の場合、回折角βを一定にし、入
射角を1°変化した時の回折角βにおける波長を計算し
てみると、1°に対して約12nmのずれが生じる。この
ことから、一度角度調整された凹面鏡の反射角度を任意
の波長範囲の光を当てるために、人為的に凹面鏡の四隅
に取り付けられた螺子で、1°或いは0.1°の単位で
いちいち調整し直すことは、極めて難しい作業である。
Assuming that the angle (incident angle) between the incident light and the diffraction grating normal in the diffraction grating is α and the angle (diffraction angle) between the diffracted light and the diffraction grating normal is β, the relational expression is Nmλ. =
where sin α ± sin β, N is the number of grooves per mm, m is the diffraction order, and λ is the wavelength. From this relational expression, the number of grooves 1200
When the diffraction order is m = 1, the diffraction angle β is fixed, and when the wavelength at the diffraction angle β when the incident angle is changed by 1 ° is calculated, a shift of about 12 nm occurs with respect to 1 °. . From this, the reflection angle of the concave mirror, whose angle has been adjusted once, can be artificially adjusted in units of 1 ° or 0.1 ° with screws attached to the four corners of the concave mirror to irradiate light in an arbitrary wavelength range. Reworking is an extremely difficult task.

【0010】第3に、同公報明細書の実施例では、予め
決められた選択波長(明細書中では、250nm〜475
nm、350nm〜575nm及び450〜650nmの3波長
範囲)を波長選択スイッチで切り換えて選択し、試験を
行うため、任意に他の波長範囲を選択できない不自由さ
があった。
Third, in the embodiment of the specification of the publication, a predetermined selected wavelength (250 nm to 475 in the specification) is used.
nm, 350 nm to 575 nm, and 450 to 650 nm) by switching with a wavelength selection switch, and performing a test, there was inconvenience that other wavelength ranges could not be arbitrarily selected.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に以下の手段を用いた。まず、第1の課題、異なる特定
波長を一被試験体に同時させるために、第1分光器及び
第2分光器を設け、各分光器からの分散光を一照射窓を
透し、被試験体に当てるようにした。
The following means are used to solve the above-mentioned problems. First, in order to simultaneously apply different specific wavelengths to one device under test, a first spectroscope and a second spectroscope are provided, and the scattered light from each spectrometer is transmitted through one irradiation window to be tested. I put it on my body.

【0012】次に、第2の課題、任意の波長範囲を被試
験体に分光させるために、前記第2分光器の回折格子の
中心軸にサインバーを担持させ、マイクロメーターとサ
インバーが連動し、回折格子への入射角を任意、且つ精
密に可変できるようにした。
Next, a second problem is that a sine bar is supported on the center axis of the diffraction grating of the second spectroscope so that an arbitrary wavelength range can be disperse | distributed to a test object, and a micrometer and a sine bar are interlocked. Then, the angle of incidence on the diffraction grating can be arbitrarily and precisely varied.

【0013】第3の課題、前記回折格子への入射角を可
変した際、被試験体にどの波長範囲の光が分光されてい
るかを一目で確認できるように、照射窓の上部に第1受
光器の分光波長範囲を示す第1波長目盛板と第2受光器
の分光波長範囲を表示する第2波長目盛板を設け、前記
第2波長目盛板は、回折格子への入射角の変化量に応じ
て、波長範囲を表示している目盛板が同時に前記変化量
に見合った距離だけ水平移動動作するようにした。
A third problem is that when the incident angle on the diffraction grating is changed, the first light receiving portion is provided above the irradiation window so that the wavelength range of the light to be measured can be confirmed at a glance. A first wavelength scale plate indicating the spectral wavelength range of the detector and a second wavelength scale plate indicating the spectral wavelength range of the second light receiver, wherein the second wavelength scale plate changes the incident angle to the diffraction grating. Accordingly, the scale plate displaying the wavelength range is simultaneously moved horizontally by a distance commensurate with the change amount.

【0014】つまり、回折格子のサインバーによる角度
変化量を電圧信号に変換するためのポテンショメータを
平歯車を用い、回折格子の中心軸と接合させ、また、第
2波長目盛板にラックギアを担持させ、該ラックギアの
端部に、目盛板を移動させるためのピニオンギアを担持
したステッピングモーターと目盛板の移動距離を電圧信
号に変換するためのピニオンギアを担持したポテンショ
メータを配置し、前記回折格子のポテンショメータと前
記第2波長目盛板のポテンショメータの電圧信号の差が
サーボアンプに伝えられ、該電圧信号の差がゼロになる
ように、第2波長目盛板のステッピングモーターを制御
するようにし、被試験体に分光されている波長範囲を表
示できるようにした。
In other words, a potentiometer for converting the angle change of the sine bar of the diffraction grating into a voltage signal is connected to the center axis of the diffraction grating using a spur gear, and a rack gear is supported on the second wavelength scale plate. At the end of the rack gear, a stepping motor carrying a pinion gear for moving the scale plate and a potentiometer carrying a pinion gear for converting the moving distance of the scale plate into a voltage signal are arranged, and The difference between the voltage signal of the potentiometer and the potentiometer of the second wavelength scale plate is transmitted to the servo amplifier, and the stepping motor of the second wavelength scale plate is controlled so that the difference between the voltage signals becomes zero. Enabled to display the wavelength range that is split into the body.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】本発明の実施例の分光照射装置
(1)を図面を用いて説明する。図1は本発明の実施例
の要部構成を示した正面縦断面図、図2は本発明の実施
例のパネル正面図、図3は回折格子変角機構及び目盛板
水平移動機構の仕組みを示した概念図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A spectral irradiation apparatus (1) according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a front vertical sectional view showing a main part of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a front view of a panel of the embodiment of the present invention, and FIG. 3 shows a mechanism of a diffraction grating changing mechanism and a scale plate horizontal moving mechanism. It is the conceptual diagram shown.

【0016】図1の分光照射装置(1)は、第1光源室
(2)、第2光源室(3)、第1分光室(4)、第2分
光室(5)、第1波長目盛板(14)、第2波長目盛板
(15)及び照射窓(16)等から構成されている。
The spectral irradiation apparatus (1) shown in FIG. 1 comprises a first light source chamber (2), a second light source chamber (3), a first spectral chamber (4), a second spectral chamber (5), and a first wavelength scale. It comprises a plate (14), a second wavelength scale plate (15), an irradiation window (16) and the like.

【0017】第1光源室(2)及び第2光源室(3)に
は、それぞれ光源(6a、6b)として300Wの空冷
式ショートアークキセノンランプが配されてあり、該ラ
ンプには照射光を集光するための反射鏡が具備されてい
る。前記光源(6a、6b)は、それぞれ個別の点灯装
置と接続してあり、光源(6a)又は光源(6b)いず
れか一方のみの点灯、光源(6a)及び光源(6b)の
同時点灯も可能である。
Each of the first light source chamber (2) and the second light source chamber (3) is provided with a 300 W air-cooled short arc xenon lamp as a light source (6a, 6b). A reflecting mirror for condensing light is provided. Each of the light sources (6a, 6b) is connected to an individual lighting device, so that only one of the light sources (6a) and (6b) can be turned on, and the light sources (6a) and (6b) can be turned on simultaneously. It is.

【0018】第1光源室(2)と第1分光室(4)及び
第2光源室(3)と第2分光室(5)のそれぞれを仕切
る隔壁には、光源(6a、6b)から集光された照射光
が通過する開口及びスリット幅可変機構を備えた可変ス
リット(7a、7b)がそれぞれ設けられている。
The partitions separating the first light source room (2) and the first spectral room (4) and the second light source room (3) and the second spectral room (5) are collected from the light sources (6a, 6b). An opening through which the emitted irradiation light passes and a variable slit (7a, 7b) provided with a slit width variable mechanism are provided.

【0019】第1分光室(4)及び第2分光室(5)に
おける光学配置は、基本的には、ツェルニー・ターナー
型を採用した。可変スリット(7a、7b)を通過した
それぞれの照射光は、第1分光室(4)では、平面鏡
(8a)及びコリメータ鏡(9a)で向きを変え、入射
角固定回折格子(11)に照射され、ここで分散され、
カメラ鏡(10a)により照射窓(16)で焦点を結
ぶ。また、第2分光室(5)では、平面鏡(8b)及び
コリメータ鏡(9b)で向きを変え、入射角可変回折格
子(12)に照射され、ここで分散され、カメラ鏡(1
0b)を介して、前記照射窓(16)で焦点を結ぶよう
になっている。
The optical arrangement in the first spectroscopic chamber (4) and the second spectroscopic chamber (5) basically employs a Czerny-Turner type. In the first spectroscopic chamber (4), the irradiation light that has passed through the variable slits (7a, 7b) is redirected by the plane mirror (8a) and the collimator mirror (9a), and is irradiated on the diffraction grating (11) with a fixed incident angle. And distributed here,
The camera mirror (10a) focuses on the irradiation window (16). Further, in the second spectroscopic room (5), the direction is changed by the plane mirror (8b) and the collimator mirror (9b), and the light is radiated to the variable incident angle diffraction grating (12).
0b), it is focused in the irradiation window (16).

【0020】前記入射角固定回折格子(11)及び入射
角可変回折格子(12)は、溝本数1200本/mmの同
じ回折格子を用い、コリメータ鏡(9a、9b)からの
入射角を30°に調整してあり、前記照射窓(16)に
は、透明フィルタ(石英フィルタ)が具備されており、
該照射窓の大きさは、幅(波長方向)が160mm、高さ
15mm、前記入射角固定回折格子(11)及び入射角可
変回折格子(12)の分散波長範囲は、入射角可変回折
格子(12)の入射角を可変しない初期段階で、それぞ
れ220nm乃至550nmの分散光が照射窓(16)に照
射されるように設計されている。
The fixed incident angle diffraction grating (11) and the variable incident angle diffraction grating (12) use the same diffraction grating having 1200 grooves / mm, and make the incident angle from the collimator mirrors (9a, 9b) 30 °. The irradiation window (16) is provided with a transparent filter (quartz filter),
The size of the irradiation window is 160 mm in width (in the wavelength direction) and 15 mm in height. The dispersion wavelength range of the fixed incident angle diffraction grating (11) and the variable incident angle diffraction grating (12) is as follows. In the initial stage in which the incident angle is not changed in 12), it is designed such that the dispersion window of each of 220 nm to 550 nm is irradiated to the irradiation window (16).

【0021】前記したように、照射窓(16)には、透
明フィルタ(石英フィルタ)が具備されているが、22
0nmから550nmの波長範囲で、回折格子の+1次光の
みを使用する場合、440nmを超える波長域で回折格子
の+2次光の影響を受けるので、該+2次光をカットす
るためのフィルターが付加されている。
As described above, the irradiation window (16) is provided with a transparent filter (quartz filter).
When only the + 1st order light of the diffraction grating is used in the wavelength range of 0 nm to 550 nm, since it is affected by the + 2nd order light of the diffraction grating in the wavelength range exceeding 440 nm, a filter for cutting off the + 2nd order light is added. Have been.

【0022】前記照射窓(16)の上部には、第1分光
室(4)からの分光波長範囲を表示する第1波長目盛板
(14)と第2分光室(5)からの分光波長範囲を表示
する第2波長目盛板(15)が配置してある。前記第1
波長目盛板(14)及び第2波長目盛板(15)のスケ
ールは、照射窓の幅160mmを220nmから550nmの
波長範囲を10nm間隔で等分されている。前記入射角可
変回折格子(12)の入射角の可変は、図2のマイクロ
メーター(20)のつまみを回して行う。
Above the irradiation window (16), a first wavelength scale plate (14) for displaying a spectral wavelength range from the first spectral chamber (4) and a spectral wavelength range from the second spectral chamber (5). A second wavelength scale plate (15) for indicating the position is displayed. The first
The scales of the wavelength scale plate (14) and the second wavelength scale plate (15) equally divide the irradiation window width 160mm in the wavelength range from 220nm to 550nm at 10nm intervals. The incident angle of the variable incident angle diffraction grating (12) is varied by turning a knob of the micrometer (20) in FIG.

【0023】前記入射角可変回折格子(12)の中心軸
には、図3のサインバー(30)が前記入射角可変回折
格子(12)の法線に沿って坦持されており、該サイン
バー(30)は図2のマイクロメーター(20)の動き
に連動して、回折格子における入射光と回折格子法線と
のなす角度αを可変する。ここで、幅160mm、高さ1
5mmの照射窓に照射されている波長範囲220nm乃至5
50nmの分散光が、入射角αを30°から0.5°ずつ
可変すると、照射窓位置で照射される分散光の波長範囲
がどのように変化するかを、前記したグレーティング方
程式、Nmλ=sinα±sinβから算出した表が、下記表
1である。
A sine bar (30) of FIG. 3 is carried on the central axis of the variable incident angle diffraction grating (12) along the normal line of the variable incident angle diffraction grating (12). The bar (30) varies the angle α between the incident light on the diffraction grating and the normal to the diffraction grating in conjunction with the movement of the micrometer (20) in FIG. Here, width 160mm, height 1
Wavelength range from 220 nm to 5 irradiating a 5 mm irradiation window
When the angle of incidence α of the dispersed light of 50 nm is changed from 30 ° to 0.5 ° in steps of 0.5 °, how the wavelength range of the dispersed light irradiated at the irradiation window position changes is described by the above-described grating equation, Nmλ = sinα. The table calculated from ± sinβ is Table 1 below.

【0024】[0024]

【表1】 [Table 1]

【0025】表1からわかるように、入射角αを1°変
角すると、波長は約12nmずれる。回折格子は、一定次
数の回折光の単位波長当りの分散幅が一定に近い。本実
施例では、回折格子の+1次光を使用しているので、前
記表1における入射角30°から35°まで可変した際
の波長範囲220nmから550nmまでの分散角度を、溝
本数(N)1200本/mm、回折次数m=1で算出して
みると、分散角度は、20.77°乃至20.83°と
ほとんど変わりなく一定と言える。
As can be seen from Table 1, when the incident angle α is changed by 1 °, the wavelength shifts by about 12 nm. In a diffraction grating, the dispersion width of diffracted light of a certain order per unit wavelength is nearly constant. In this embodiment, since the + 1st-order light of the diffraction grating is used, the dispersion angle in the wavelength range from 220 nm to 550 nm when the incident angle is changed from 30 ° to 35 ° in Table 1 is determined by the number of grooves (N). When the calculation is performed with 1200 lines / mm and the diffraction order m = 1, it can be said that the dispersion angle is almost constant at 20.77 ° to 20.83 °.

【0026】このことから、回折格子の長所として、波
長目盛を直線的にすることができるので、サインバーで
回折格子への入射角αを可変すれば、分散角度が一定で
あるため、例えば、波長(λ)=220nmの回折格子か
ら反射して照射している点をλa、波長(λ)=550
nmの回折格子から反射して照射している点をλbとし、
その波長幅をλa−λbとすると、入射角(α)変化に
応じて、前記波長幅λa−λbは、そのまま直線的ずれ
を生じ、波長幅を変えず、λa’−λb’の位置へ移動
する。よって、照射窓位置が一定であれば、回折格子に
具備されたサインバーを動かすことで、前記照射窓に分
散される波長範囲をずらす事が出来る。
From this, as an advantage of the diffraction grating, the wavelength scale can be made linear. If the incident angle α to the diffraction grating is changed by the sine bar, the dispersion angle is constant. The point irradiated with the light reflected from the diffraction grating of wavelength (λ) = 220 nm is λa, and the wavelength (λ) = 550.
The point reflected and reflected from the diffraction grating of nm is λb,
Assuming that the wavelength width is λa-λb, the wavelength width λa-λb causes a linear shift as it is in accordance with the change of the incident angle (α), and moves to the position of λa′-λb ′ without changing the wavelength width. I do. Therefore, if the position of the irradiation window is constant, the wavelength range dispersed in the irradiation window can be shifted by moving the sine bar provided on the diffraction grating.

【0027】本発明の実施例では、約60nm波長を可変
でき、また、入射角の可変は最大で5°である。
In the embodiment of the present invention, the wavelength of about 60 nm can be varied, and the variation of the incident angle is 5 ° at the maximum.

【0028】図1における可変スリット(7a、7b)
は、図2のスリット幅調整器(21a、21b)で、ス
リット幅を0mm乃至10mm可変できる。スリット幅を可
変することで、照射光量の調節ができるようになってい
る。スリット幅は、分解能にも影響を与えるが、本実施
例においては、スリット幅1mmの時の分解能は、約2nm
である。
Variable slits (7a, 7b) in FIG.
Is a slit width adjuster (21a, 21b) shown in FIG. 2, and the slit width can be varied from 0 mm to 10 mm. By varying the slit width, the amount of irradiation light can be adjusted. Although the slit width also affects the resolution, in this embodiment, the resolution when the slit width is 1 mm is about 2 nm.
It is.

【0029】図3は、入射角可変回折格子(12)に坦
持されたサインバーの動作に連動して第2水平移動波長
目盛板が動作することを示した図である。図3の入射角
可変回折格子(12)の軸に坦持されたサインバー(3
0)が、図2のマイクロメーター(20)で動作する
と、該動作は、軸端部ある平歯車(40a)に伝わり、
該平歯車(40a)と歯合している平歯車(40b)か
ら第1ポテンショメータ(31)に伝わる。第1ポテン
ショメータ(31)で、前記サインバー(30)の動作
(変角量)を電圧信号Aに変換され、該電圧信号Aは、
サーボアンプ(35)に送られる。
FIG. 3 is a diagram showing that the second horizontally moving wavelength scale plate operates in conjunction with the operation of the sine bar carried on the variable incident angle diffraction grating (12). The sine bar (3) carried on the axis of the variable incident angle diffraction grating (12) in FIG.
0) is operated by the micrometer (20) in FIG. 2, the operation is transmitted to the spur gear (40a) at the shaft end,
The power is transmitted from the spur gear (40b) meshing with the spur gear (40a) to the first potentiometer (31). The operation of the sine bar (30) (the amount of change in angle) is converted into a voltage signal A by a first potentiometer (31).
It is sent to the servo amplifier (35).

【0030】前記ステッピングモーター(34)に坦持
したピニオンギアは、第2波長目盛板(15)に坦持し
たラックギア(33)と歯合し、ステッピングモーター
(34)の回転動作が、第2波長目盛板(15)の水平
動作となる。一方、第2波長目盛板(15)に坦持した
ラックギア(33)の端部には、第2ポテンショメータ
(32)が具備されており、第2波長目盛板(15)の
水平動作(言い換えれば移動距離)を電圧信号Bに変換
する。該電圧信号Bは、サーボアンプ(35)に送られ
る。サーボアンプ(35)で、前記第1ポテンショメー
タ(31)の電圧信号Aと前記第2ポテンショメータ
(32)の電圧信号Bの差がゼロになるまで(平衡がと
れるまで)、前記ステッピングモーター(34)を回転
させ、差がゼロの時、停止するように制御する。
The pinion gear carried on the stepping motor (34) meshes with the rack gear (33) carried on the second wavelength scale (15), and the rotation of the stepping motor (34) is controlled by the second operation. The horizontal operation of the wavelength scale (15) is performed. On the other hand, a second potentiometer (32) is provided at the end of the rack gear (33) carried on the second wavelength scale (15), and the second wavelength scale (15) is horizontally moved (in other words, (The moving distance) is converted into a voltage signal B. The voltage signal B is sent to the servo amplifier (35). The stepping motor (34) until the difference between the voltage signal A of the first potentiometer (31) and the voltage signal B of the second potentiometer (32) becomes zero (until equilibrium is achieved) in the servo amplifier (35). Is controlled to stop when the difference is zero.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明によれば、上述のとおり構成され
ているので、次に、記載する効果を奏する。入射角固定
回折格子を有する第1分光器と入射角可変機構付回折格
子を有する第2分光器を配することで、同波長範囲の分
光照射試験及び異なる波長範囲を重ね合わせた分光照射
試験を簡易に、しかも、同時に照射することができる。
According to the present invention, since the configuration is as described above, the following effects can be obtained. By arranging a first spectroscope having a fixed incident angle diffraction grating and a second spectroscope having a diffraction grating with a variable incident angle mechanism, a spectral irradiation test in the same wavelength range and a spectral irradiation test in which different wavelength ranges are overlapped can be performed. Irradiation can be performed simply and simultaneously.

【0032】また、第2分光器からの分光波長範囲を表
示する第2波長目盛板が、入射角可変機構付回折格子の
入射角変角に伴い、水平移動し、照射窓に照射されてい
る波長範囲のずれ具合を直接表示できるため、どの波長
範囲が被試験体に分光されているか簡易に確認できる。
Further, the second wavelength scale plate for displaying the spectral wavelength range from the second spectroscope moves horizontally with the change of the incident angle of the diffraction grating with the variable incident angle mechanism, and is irradiated on the irradiation window. Since the degree of shift of the wavelength range can be directly displayed, it is possible to easily confirm which wavelength range is spectrally separated on the device under test.

【0033】更に、入射角可変機構付回折格子は、マイ
クロメーターで任意に入射角を変角できるので、特開平
7−234181号公報のような予め決められた選択波
長(明細書中では、250nm〜475nm、350nm〜5
75nm及び450〜650nmの3波長範囲)に縛われる
ことなく、任意な分光照射波長範囲が選択できる。
Further, the diffraction grating with the variable incident angle mechanism can arbitrarily change the angle of incidence with a micrometer. Therefore, a predetermined selected wavelength as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-234181 (250 nm in the specification). ~ 475nm, 350nm ~ 5
75 nm and three wavelength ranges of 450 to 650 nm), any spectral irradiation wavelength range can be selected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例の分光照射装置の要部正面縦断
面図である。
FIG. 1 is a front vertical sectional view of a main part of a spectral irradiation apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施例の分光照射装置のパネル正面図
である。
FIG. 2 is a panel front view of the spectral irradiation apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施例における入射角可変回折格子の
動作に伴う第2波長目盛板の動作システムを示した概念
図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram showing an operation system of a second wavelength scale plate accompanying the operation of the variable incident angle diffraction grating in the embodiment of the present invention.

【図4】従来の分光照射装置の要部構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram of a main part of a conventional spectral irradiation apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 分光照射装置 2 第1光源室 3 第2光源室 4 第1分光室 5 第2分光室 6a、6b 光源 7a、7b 可変スリット 8a、8b 平面鏡 9a、9b コリメータ鏡 10a、10b カメラ鏡 11 入射角固定回折格子 12 入射角可変回折格子 14 第1波長目盛板 15 第2波長目盛板 16 照射窓 17 試料保持具 20 マイクロメーター 21a、21b スリット幅調節器 22 制御盤 30 サインバー 31 第1ポテンショメータ 32 第2ポテンショメータ 33 ラックギア 34 ステッピングモーター 35 サーボアンプ 40a、40b 平歯車 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Spectral irradiation apparatus 2 1st light source room 3 2nd light source room 4 1st spectral room 5 2nd spectral room 6a, 6b Light source 7a, 7b Variable slit 8a, 8b Plane mirror 9a, 9b Collimator mirror 10a, 10b Camera mirror 11 Incident angle Fixed diffraction grating 12 Variable incident angle diffraction grating 14 First wavelength scale 15 Second wavelength scale 16 Irradiation window 17 Sample holder 20 Micrometer 21a, 21b Slit width adjuster 22 Control panel 30 Sine bar 31 First potentiometer 32 First 2 potentiometer 33 Rack gear 34 Stepping motor 35 Servo amplifier 40a, 40b Spur gear

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 照射光を集光する反射鏡を具備した光
源、可変スリット、コリメータ鏡、角度可変可能なカメ
ラ鏡及び回折格子とを備えた第1分光器と、照射光を集
光する反射鏡を具備した光源、可変スリット、コリメー
タ鏡、角度可変可能なカメラ鏡、マイクロメータと連動
し、水平方向の動きを回転動作に変えるサインバー及び
平歯車を担持した回転軸を有する回折格子及び前記平歯
車と歯合する平歯車を担持し、前記回転軸を有する回折
格子の回転角を電圧に変換する第1ポテンショメータと
を備えた第2分光器と、前記第1分光器及び第2分光器
からのカメラ鏡の角度を調整し、同一の焦点位置に透明
ガラスフィルタを取り付けた照射窓と、前記照射窓前面
に被試験体を固定配置するための試料保持体と、前記照
射窓上方に前記第1分光照射器の分光照射波長範囲を示
す固定配置された第1波長表示板と、前記第2分光器の
分光照射波長範囲を示し、表示板の端部にラックギアを
担持し、該ラックギアに、前記表示板を水平方向に移動
させるステッピングモーターに担持したピニオンギア及
び前記表示板の水平移動距離を電圧に変換する第2ポテ
ンショメータに担持したピニオンギアと歯合してなり、
前記第1ポテンショメータ及び第2ポテンショメータか
らの電圧信号の差がサーボアンプに伝えられ、該電圧信
号の差がゼロになるように、前記ステッピングモーター
を制御することにより、水平移動可能な第2波長表示板
とからなり、前記第1分光器及び第2分光器の各分光照
射波長範囲を表示でき、且つ同一の特定波長範囲の分散
光を重ねて照射エネルギーを高めた試験又は前記第2分
光器からの特定波長範囲の分散光のみをずらし、照射す
ることで異なる波長同士を同時に照射し、重ね合わせる
相乗光劣化試験ができることを特徴とした分光照射装
置。
1. A first spectroscope including a light source having a reflecting mirror for condensing irradiation light, a variable slit, a collimator mirror, a camera mirror capable of changing an angle and a diffraction grating, and a reflection for condensing irradiation light. A light source equipped with a mirror, a variable slit, a collimator mirror, a camera mirror capable of changing the angle, a diffraction grating having a rotation axis carrying a sine bar and a spur gear in cooperation with a micrometer and changing a horizontal movement into a rotation operation, and A second spectroscope that carries a spur gear meshing with the spur gear and includes a first potentiometer that converts a rotation angle of the diffraction grating having the rotation axis into a voltage, and the first and second spectrometers Adjusting the angle of the camera mirror from the above, an irradiation window with a transparent glass filter attached to the same focal position, a sample holder for fixedly placing the test object in front of the irradiation window, and the above-mentioned irradiation window 1st minute A first wavelength display plate fixedly disposed to indicate the spectral irradiation wavelength range of the light irradiator, and a spectral irradiation wavelength range of the second spectroscope indicated, and a rack gear is carried at an end of the display plate; A pinion gear carried by a stepping motor for moving the display board in the horizontal direction and a pinion gear carried by a second potentiometer for converting the horizontal movement distance of the display board into a voltage,
The difference between the voltage signals from the first potentiometer and the second potentiometer is transmitted to a servo amplifier, and the stepping motor is controlled so that the difference between the voltage signals becomes zero, so that the second wavelength display that can move horizontally is displayed. A test in which each of the first and second spectroscopes can display the respective spectral irradiation wavelength ranges, and the irradiation energy is increased by overlapping the dispersed light of the same specific wavelength range. A spectral irradiation apparatus characterized in that, by shifting and irradiating only dispersed light within a specific wavelength range, different wavelengths can be simultaneously irradiated and a synergistic light deterioration test can be superposed.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN116087085A (en) * 2023-04-11 2023-05-09 中车长春轨道客车股份有限公司 Track carrier testing system and method

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