JP2002126674A - Plasma cleaning apparatus - Google Patents

Plasma cleaning apparatus

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JP2002126674A
JP2002126674A JP2000331045A JP2000331045A JP2002126674A JP 2002126674 A JP2002126674 A JP 2002126674A JP 2000331045 A JP2000331045 A JP 2000331045A JP 2000331045 A JP2000331045 A JP 2000331045A JP 2002126674 A JP2002126674 A JP 2002126674A
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JP
Japan
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electrode
matching device
cleaning apparatus
chamber
cold
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JP2000331045A
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Japanese (ja)
Inventor
Itsuo Nakayama
逸夫 中山
Eiji Komine
栄治 小峰
Masahito Nakada
正仁 中田
Sadamu Osawa
定 大沢
Eizo Higuchi
栄三 樋口
Tatsuya Ishii
辰也 石井
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Yamato Scientific Co Ltd
Original Assignee
Yamato Scientific Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To clean organic and inorganic systems by employing a single plasma cleaning apparatus. SOLUTION: An upper electrode 15 and a lower electrode 17 are arranged in a chamber 1 in which activated gas or insert gas is introduced to inside vacuum state space. A product set stage 23 is provided in the electrode 17 to place a product to be cleaned. High-frequency energy from an oscillator 35 is distributed to a first matching device 25 or a second matching device 27 by a divider 33. At this time, either one of the electrodes 15 and 17 is made to a hot electrode and the other electrode is made to a cold electrode by turning ON and OFF control switches 29 and 30 of the devices 25 and 27, i.e., when the electrode 17 loaded with the stage 23 is made into a hot electrode, the cleaning apparatus is used to clean an inorganic system. When the electrode 17 is made into a cold electrode, the cleaning apparatus is used for cleaning an organic system.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、プラズマ洗浄装
置に関する。
[0001] The present invention relates to a plasma cleaning apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、プラズマ洗浄装置によるプラズマ
洗浄には、RIE(リアクティブイオンエッチング)方
式とDP(ダイレクトプラズマ)方式がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, plasma cleaning by a plasma cleaning apparatus includes an RIE (reactive ion etching) method and a DP (direct plasma) method.

【0003】RIE方法のプラズマ洗浄の概要は、対向
し合うホット電極とコールド電極とによって放電が行な
われるチャンバ内に、ホット電極側に洗浄する半導体等
の製品をセットした後、アルゴンガス等の不活性ガスを
導入し、チャンバ内の放電現象によってプラズマを発生
させることでイオンシースを生成し、そのイオンシース
の物理的なスパッタ作用によって半導体に付着した汚れ
を落とすものである。一般的には無機系の洗浄に適して
いる。
[0003] The outline of the plasma cleaning by the RIE method is as follows. After a product such as a semiconductor to be cleaned is set on the hot electrode side in a chamber in which discharge is performed by a hot electrode and a cold electrode facing each other, an argon gas or the like is used. An ion sheath is generated by introducing an active gas and generating plasma by a discharge phenomenon in the chamber, and removes dirt attached to the semiconductor by a physical sputtering action of the ion sheath. Generally, it is suitable for inorganic cleaning.

【0004】一方、DP方式のプラズマ洗浄の概要は、
ホット電極とコールド電極によって放電が行なわれるチ
ャンバ内に、コールド電極側に洗浄する半導体等の製品
をセットとした後、O2ガス等の活性ガスを充填し、チ
ャンバ内の放電現象によってプラズマを発生させること
で化学反応を起こさせ、その化学反応を利用して汚れを
落とすものである。一般的には有機系の洗浄に適してい
る。
On the other hand, the outline of the DP type plasma cleaning is as follows.
After a product such as a semiconductor to be cleaned is set on the cold electrode side in a chamber where discharge is performed by the hot electrode and the cold electrode, an active gas such as O2 gas is filled, and plasma is generated by a discharge phenomenon in the chamber. This causes a chemical reaction, and the chemical reaction is used to remove dirt. Generally suitable for organic cleaning.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】プラズマ洗浄装置は、
無機系の汚れ、あるいは、有機系の汚れに対応して物理
的なスパッタ作用によって洗浄を行なうRIE方式と、
化学反応を利用して洗浄を行なうDP方式がある。
The plasma cleaning apparatus is
An RIE method in which cleaning is performed by physical sputtering in response to inorganic or organic dirt;
There is a DP method in which cleaning is performed using a chemical reaction.

【0006】RIE方式にあっては、製品をホット電極
側にセットすることと、不活性ガスを用いることが条件
となる。DP方式にあっては、製品をコールド電極側に
セットすること、活性ガスを用いることが条件となるた
め、無機系、有機系の汚れに対応してそれぞれ専用のプ
ラズマ洗浄装置を必要とする。このため、設備コストが
高くなるのがネックとなっている。
In the RIE method, it is necessary to set the product on the hot electrode side and to use an inert gas. In the DP system, it is necessary to set a product on the cold electrode side and to use an active gas. Therefore, a dedicated plasma cleaning device is required for each of inorganic and organic contaminants. For this reason, high equipment costs are a bottleneck.

【0007】また、無機系の汚れと有機系の汚れが一緒
の場合、例えば、無機系の汚れを落とした後に、製品を
一旦取出し、別のプラズマ洗浄装置によって有機系の汚
れを落とす作業となるため、連続した作業が行なえず作
業性の面でも望ましくない。しかも、途中で製品を一旦
取り出す作業が入るため、場合によっては汚れの再付着
も起こりうる。
[0007] In addition, when the inorganic dirt and the organic dirt are the same, for example, after removing the inorganic dirt, the product is once taken out, and the organic dirt is removed by another plasma cleaning device. Therefore, continuous work cannot be performed, which is not desirable in terms of workability. In addition, since the operation of once taking out the product is performed on the way, re-adhesion of the stain may occur in some cases.

【0008】そこで、この発明は、一台のプラズマ洗浄
装置によって無機系と有機系の汚れを落とすことができ
るようにしたプラズマ洗浄装置を提供することを目的と
している。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a plasma cleaning apparatus capable of removing inorganic and organic stains by using a single plasma cleaning apparatus.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、この発明にあっては、真空状態の内部空間に活性ガ
ス又は不活性ガスが導入されるチャンバと、そのチャン
バ内に配置され対向し合う上部電極及び下部電極と、そ
の下部電極にセットされ、洗浄用の製品を載せる製品セ
ットステージと、前記上部電極と電気的に接続し合う第
1の整合器と、前記下部電極と電気的に接続し合う第2
の整合器と、前記第1の整合器と接続のONの時、第2
の整合器とはOFF、第2の整合器と接続のONの時、
第1の整合器とはOFFとなる切換え接点を有する分配
器と、その分配器と接続し高周波を発生させる発振器と
を備え、前記第1,第2の整合器は、いずれか一方がO
Nの時、他方がOFFとなるON,OFF可能な制御ス
イッチを有し、その各制御スイッチのON又はOFFに
対応して、上部電極をホット電極とした時、下部電極を
コールド電極とする一方、上部電極をコールド電極とし
た時、下部電極をホット電極とする。
In order to achieve the above object, according to the present invention, there is provided a chamber in which an active gas or an inert gas is introduced into an inner space in a vacuum state, and a chamber disposed in the chamber and opposed to the chamber. An upper electrode and a lower electrode that fit together, a product set stage that is set on the lower electrode, and on which a product for cleaning is mounted; a first matching device that is electrically connected to the upper electrode; Second connected to
When the connection with the first matcher is ON, the second matcher
When the matching device is OFF and the connection with the second matching device is ON,
The first matching device includes a distributor having a switching contact that is turned off, and an oscillator connected to the distributor and generating a high frequency. One of the first and second matching devices is O.
In the case of N, there is a control switch that can be turned on and off, the other of which is turned off. When the upper electrode is a hot electrode and the lower electrode is a cold electrode, corresponding to ON or OFF of each control switch. When the upper electrode is a cold electrode, the lower electrode is a hot electrode.

【0010】これにより、例えば、無機系の汚れの場合
には、真空状態としたチャンバ内にアルゴンガス等の不
活性ガスを導入する一方、分配器によって下部電極をホ
ット電極、上部電極をコールド電極とする。これによ
り、製品セットステージはホット電極側にセットされる
結果、無機系の洗浄を行なうRIE方式のプラズマ洗浄
装置として使用可能となる。
Thus, for example, in the case of inorganic contamination, an inert gas such as an argon gas is introduced into a vacuum chamber, while a lower electrode is made a hot electrode by a distributor and a cold electrode is made an upper electrode. And As a result, the product setting stage is set on the hot electrode side, so that it can be used as an RIE type plasma cleaning apparatus for performing inorganic cleaning.

【0011】一方、有機系の汚れの場合には、真空状態
としたチャンバ内にO2ガス等の活性ガスを導入する一
方、分配器によって下部電極をコールド電極、上部電極
をホット電極とする。これにより製品セットステージは
コールド電極側にセットされる結果、有機系の洗浄を行
なうDP方式のプラズマ洗浄装置として使用可能とな
る。
On the other hand, in the case of organic contamination, an active gas such as O 2 gas is introduced into a vacuum chamber, while a lower electrode is used as a cold electrode and an upper electrode is used as a hot electrode by a distributor. As a result, the product setting stage is set on the cold electrode side, so that it can be used as a DP-type plasma cleaning apparatus for performing organic cleaning.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、図1乃至図5の図面を参照
しながらこの発明の実施の形態について具体的に説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be specifically described below with reference to FIGS.

【0013】図1において、1はプラズマ洗浄装置のチ
ャンバを示している。チャンバ1は、内部空間が真空ポ
ンプ3によって所定の真空状態に保持されると共に、制
御部Sからの信号によって切換え制御される電磁弁5よ
り、第1タンク7及び第2タンク9に充填されたアルゴ
ン等の不活性ガス、又はO2等の活性ガスの供給が可能
となっている。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a chamber of a plasma cleaning apparatus. The chamber 1 is filled in the first tank 7 and the second tank 9 by the solenoid valve 5 whose internal space is maintained in a predetermined vacuum state by the vacuum pump 3 and controlled to be switched by a signal from the control unit S. It is possible to supply an inert gas such as argon or an active gas such as O2.

【0014】チャンバ1は、上下に分離可能な上部チャ
ンバ部11と下部チャンバ部13とで形成され、内部に
は上下に対向し合う上部電極15と下部電極17が配置
されている。上部電極15は、絶縁体19を介して上部
チャンバ11に、下部電極17は、絶縁体21を介して
下部チャンバ部13にそれぞれ固定支持されている。
The chamber 1 is formed of an upper chamber section 11 and a lower chamber section 13 which can be separated vertically, and an upper electrode 15 and a lower electrode 17 which are vertically opposed to each other are arranged inside. The upper electrode 15 is fixedly supported by the upper chamber 11 via an insulator 19, and the lower electrode 17 is fixedly supported by the lower chamber section 13 via an insulator 21.

【0015】下部電極17の上面には、半導体等の製品
を載せる製品セットステージ23が設けられ、上部チャ
ンバ部11が下部チャンバ部13に対して上昇すること
で上部ステージ23の出し入れが可能となる。上部電極
15は第1の整合器25と、下部電極17は第2の整合
器27とそれぞれ電気的に接続している。
A product set stage 23 on which products such as semiconductors are mounted is provided on the upper surface of the lower electrode 17, and the upper stage 23 can be moved in and out by raising the upper chamber section 11 with respect to the lower chamber section 13. . The upper electrode 15 is electrically connected to the first matching device 25, and the lower electrode 17 is electrically connected to the second matching device 27.

【0016】第1の整合器25及び第2の整合器27
は、ON,OFF可能な制御スイッチ29,30を有
し、分配器33によっていずれか一方に分配される発振
器35からの高周波エネルギーを効率よく上部電極15
又は下部電極17へ送り込む機能を備えている。
First matching device 25 and second matching device 27
Has control switches 29 and 30 that can be turned on and off, and efficiently distributes high-frequency energy from an oscillator 35 distributed to one of the upper electrodes 15 by a distributor 33.
Alternatively, it has a function of sending the signal to the lower electrode 17.

【0017】第1,第2の整合器25,27は、各制御
スイッチ29,30が前記した制御部Sによっていずれ
か一方がONの時、他方がOFFとなるよう切換え制御
されることで、例えば、図1に示すようにONとなる制
御スイッチ29はグランドGへの回路が閉となること
で、上部電極15がコールド電極(マイナス側電極)と
なるようになっている。また、OFFとなる制御スイッ
チ30は、グランドGへの回路が開となることで、下部
電極17がホット電極(プラス側電極)となるよう制御
され、制御スイッチ29,30のON,OFFに対応し
て、上部電極15及び下部電極17のいずれか一方がホ
ット電極となると、他方がコールド電極となるよう設定
されている。
The first and second matching devices 25 and 27 are controlled by the control unit S such that one of the switches is turned on by the control unit S so that the other is turned off. For example, as shown in FIG. 1, the control switch 29 which is turned on turns off the circuit to the ground G, so that the upper electrode 15 becomes a cold electrode (minus side electrode). The control switch 30 that is turned off is controlled so that the lower electrode 17 becomes a hot electrode (positive side electrode) by opening a circuit to the ground G, and corresponds to ON and OFF of the control switches 29 and 30. Then, if one of the upper electrode 15 and the lower electrode 17 becomes a hot electrode, the other is set to be a cold electrode.

【0018】分配器35は、第1の整合器25と接続し
合う第1スイッチ接点P1と、第2の整合器27と接続
し合う第2スイッチ接点P2と、発振器35と接続し合
う切換え端子PLとを有している。
The distributor 35 includes a first switch contact P1 connected to the first matching device 25, a second switch contact P2 connected to the second matching device 27, and a switching terminal connected to the oscillator 35. PL.

【0019】分配器33の切換え端子PLは、前記制御
部Sからの信号によって第1,第2スイッチ端子P1,
P2とそれぞれ接続し合うように切換え可能となってい
て、第1スイッチ接点P1と接続の時、発振器35から
の高周波エネルギは第1の整合器25へ、第2スイッチ
接点P2と接続の時、発振器35からの高周波エネルギ
は第2の整合器27へそれぞれ切換え制御されるように
なっている。
The switching terminal PL of the distributor 33 is connected to the first and second switch terminals P1,
P2 can be switched so as to be connected to each other. When connected to the first switch contact P1, high-frequency energy from the oscillator 35 is supplied to the first matching device 25 and when connected to the second switch contact P2, The high frequency energy from the oscillator 35 is switched and controlled by the second matching device 27, respectively.

【0020】第1,第2スイッチ接点P1,P2と、第
1,第2の整合器25,27の各制御スイッチ29,3
0のON,OFFの関係は、図5に示すように、分配器
33の切換え端子PLが第1スイッチ接点P1側にある
時、第1の整合器25の制御スイッチ29はOFF、第
2の整合器27の制御スイッチ30はONの状態とな
る。
The first and second switch contacts P1 and P2 and the control switches 29 and 3 of the first and second matching devices 25 and 27, respectively.
As shown in FIG. 5, when the switching terminal PL of the distributor 33 is on the first switch contact P1 side, the control switch 29 of the first matching device 25 is OFF and the second ON / OFF relationship of 0 is OFF. The control switch 30 of the matching device 27 is turned on.

【0021】また、分配器33の切換え端子PLが第2
スイッチ接点P2側にある時、第1に整合器25の制御
スイッチ29はON、第2の整合器27の制御スイッチ
30はOFFの状態となるよう設定されている。
The switching terminal PL of the distributor 33 is connected to the second
When the switch is on the switch contact P2 side, first, the control switch 29 of the matching box 25 is set to ON, and the control switch 30 of the second matching box 27 is set to OFF.

【0022】このように構成されたプラズマ洗浄装置に
よれば、例えば、図1に示すように分配器33の切換え
端子PLを第2スイッチ端子P2側に、第1の整合器2
5の制御スイッチ29をONに、第2の整合器27の制
御スイッチ30をOFFにする。この結果、上部電極1
5はコールド電極に、製品セットステージ23が設けら
れた下部電極17はコールド電極となるため、チャンバ
1内にアルゴンガス等の不活性ガスを導入することで無
機系の汚れを落とすRIE方式のプラズマ洗浄装置とし
て使用可能となる。
According to the plasma cleaning apparatus thus constructed, for example, as shown in FIG. 1, the switching terminal PL of the distributor 33 is connected to the second switch terminal P2, and the first matching device 2
The control switch 29 of the fifth matching device 27 is turned off and the control switch 30 of the second matching device 27 is turned off. As a result, the upper electrode 1
5 is a cold electrode, and the lower electrode 17 provided with the product set stage 23 is a cold electrode. Therefore, by introducing an inert gas such as an argon gas into the chamber 1, an RIE type plasma is used to remove inorganic dirt. It can be used as a cleaning device.

【0023】この場合、図3に示すように、チャンバ1
内の放電現象によってプラズマを発生させることでイオ
ンシースを生成し、そのイオンシースの物理的なスパッ
タ作用によって半導体等に付着した無機系の汚れを落と
すものである。
In this case, as shown in FIG.
An ion sheath is generated by generating plasma by a discharge phenomenon in the inside, and an inorganic stain attached to a semiconductor or the like is removed by a physical sputtering action of the ion sheath.

【0024】次に、図2に示すように分配器33の切換
え端子PLを第1スイッチ端子P1側に、第1の整合器
25の制御スイッチ29をOFFに、第2の制御器27
の制御スイッチ30をONにする。この結果、上部電極
15はホット電極に、製品セットステージ23が設けら
れた下部電極17はコールド電極となるため、チャンバ
1内にO2ガス等の活性ガスを導入することで有機系の
汚れを落とすDP方式のプラズマ洗浄装置として使用可
能となる。
Next, as shown in FIG. 2, the switching terminal PL of the distributor 33 is set to the first switch terminal P1, the control switch 29 of the first matching device 25 is turned off, and the second controller 27 is turned off.
Control switch 30 is turned ON. As a result, since the upper electrode 15 is a hot electrode and the lower electrode 17 provided with the product set stage 23 is a cold electrode, an organic gas such as O2 gas is introduced into the chamber 1 to remove organic dirt. It can be used as a DP-type plasma cleaning apparatus.

【0025】この場合、図4に示すように、チャンバ1
内の放電現象によってプラズマを発生させることで、O
2ガスを活性化し化学反応を起こさせ、CO,CO2,H
2O等に分解して、半導体等に付着した有機系の汚れを
落とすものである。
In this case, as shown in FIG.
By generating plasma by the discharge phenomenon in the inside, O
2 Activate gas to cause chemical reaction, CO, CO2, H
It decomposes into 2O and removes organic dirt attached to semiconductors and the like.

【0026】これら一連の作業において、製品セットス
テージ23が設けられた下部電極17のホット電極、コ
ールド電極に対応してチャンバ1内に導入されるガスを
活性ガス又は不活性ガスに入れ換えることで、洗浄する
製品を外に取出すことなく無機系及び有機系の汚れを落
とす洗浄作業が連続して行えるようになる。
In a series of these operations, the gas introduced into the chamber 1 corresponding to the hot electrode and the cold electrode of the lower electrode 17 provided with the product setting stage 23 is replaced with an active gas or an inert gas. The cleaning operation for removing inorganic and organic dirt can be performed continuously without taking out the product to be cleaned.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上、説明したように、この発明のプラ
ズマ洗浄装置によれば、上部電極をホット電極とした時
に、下部電極をコールド電極に、上部電極をコールド電
極とした時に、下部電極をホット電極にすることができ
るため、一台のプラズマ洗浄装置によって無機系と有機
系の洗浄を行なうことができる。
As described above, according to the plasma cleaning apparatus of the present invention, when the upper electrode is a hot electrode, the lower electrode is a cold electrode, and when the upper electrode is a cold electrode, the lower electrode is a cold electrode. Since the hot electrode can be used, inorganic and organic cleaning can be performed by one plasma cleaning apparatus.

【0028】したがって、洗浄する製品を一旦取出すこ
となく無機系及び有機系の汚れを連続して洗浄すること
ができるようになる。
Therefore, inorganic and organic stains can be continuously washed without taking out the product to be washed once.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明にかかるプラズマ洗浄装置を示した全
体のブロック説明図。
FIG. 1 is an overall block diagram showing a plasma cleaning apparatus according to the present invention.

【図2】上部電極をホット電極、下部電極をコールド電
極とした図1と同様の全体のブロック説明図。
FIG. 2 is an overall block diagram similar to FIG. 1, in which an upper electrode is a hot electrode and a lower electrode is a cold electrode.

【図3】無機系洗浄時の動作説明図。FIG. 3 is an explanatory diagram of an operation during inorganic cleaning.

【図4】無機系洗浄時の動作説明図。FIG. 4 is an explanatory diagram of an operation during inorganic cleaning.

【図5】分配器と第1、第2の整合器の制御スイッチと
のON、OFF関係を示した説明図。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing an ON / OFF relationship between a distributor and control switches of first and second matching devices.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 チャンバ 15 上部電極 17 下部電極 23 製品セットステージ 25 第1の整合器 27 第2の整合器 29,30 制御スイッチ 33 分配器 35 発振器 Reference Signs List 1 chamber 15 upper electrode 17 lower electrode 23 product set stage 25 first matching device 27 second matching device 29, 30 control switch 33 distributor 35 oscillator

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中田 正仁 山梨県中巨摩郡甲西町戸田322番地 ヤマ トラボテック株式会社内 (72)発明者 大沢 定 山梨県中巨摩郡甲西町戸田322番地 ヤマ トラボテック株式会社内 (72)発明者 樋口 栄三 山梨県中巨摩郡甲西町戸田322番地 ヤマ トラボテック株式会社内 (72)発明者 石井 辰也 東京都江東区南砂2−10−12 ヤマト硝子 株式会社内 Fターム(参考) 3B116 AA02 AA03 AB42 BC01 CD41 5F004 AA14 BA04 DA23 DA26  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Masato Nakata, Inventor Yamato Trabotech Co., Ltd. 322, Kosai-cho, Kosai-cho, Nakakoma-gun, Yamanashi Prefecture (72) Inventor Tadashi Osawa 322 Toda Toda, Kosai-cho, Nakakoma-gun, Yamanashi Pref. 72) Inventor Eizo Higuchi 322 Toda, Kosai-cho, Nakakoma-gun, Yamanashi Pref. Yamato Lab Tech Co., Ltd. (72) Inventor Tatsuya Ishii 2-10-12 Minamisuna, Koto-ku, Tokyo Yamato Glass Co., Ltd. F-term (reference) 3B116 AA02 AA03 AB42 BC01 CD41 5F004 AA14 BA04 DA23 DA26

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 真空状態の内部空間に活性ガス又は不活
性ガスが導入されるチャンバと、そのチャンバ内に配置
され対向し合う上部電極及び下部電極と、その下部電極
に設けられ、洗浄用の製品を載せる製品セットステージ
と、前記上部電極と電気的に接続し合う第1の整合器
と、前記下部電極と電気的に接続し合う第2の整合器
と、前記第1の整合器と接続のONの時、第2の整合器
とはOFF、第2の整合器と接続のONの時、第1の整
合器とはOFFとなる切換え接点を有する分配器と、そ
の分配器と接続し高周波を発生させる発振器とを備え、
前記第1,第2の整合器は、いずれか一方がONの時、
他方がOFFとなるON,OFF可能な制御スイッチを
有し、その各制御スイッチのON又はOFFに対応し
て、上部電極をホット電極とした時、下部電極をコール
ド電極とする一方、上部電極をコールド電極とした時、
下部電極をホット電極とすることを特徴とするプラズマ
洗浄装置。
1. A chamber in which an active gas or an inert gas is introduced into a vacuum internal space, an upper electrode and a lower electrode opposed to each other which are disposed in the chamber, and provided on the lower electrode for cleaning. A product set stage on which a product is mounted, a first matching device electrically connected to the upper electrode, a second matching device electrically connected to the lower electrode, and connection to the first matching device When the switch is ON, the second matching device is OFF, and when the connection with the second matching device is ON, the distributor has a switching contact that is OFF with the first matching device. An oscillator for generating high frequency,
When one of the first and second matching devices is ON,
The other switch has an ON / OFF control switch that can be turned OFF. When the upper electrode is a hot electrode and the lower electrode is a cold electrode, the upper electrode is When using a cold electrode,
A plasma cleaning apparatus wherein the lower electrode is a hot electrode.
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