JP2002093877A - Semiconductor manufacturing device - Google Patents

Semiconductor manufacturing device

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JP2002093877A
JP2002093877A JP2000275868A JP2000275868A JP2002093877A JP 2002093877 A JP2002093877 A JP 2002093877A JP 2000275868 A JP2000275868 A JP 2000275868A JP 2000275868 A JP2000275868 A JP 2000275868A JP 2002093877 A JP2002093877 A JP 2002093877A
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JP
Japan
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cassette
wafer
adapter plate
wafers
carrier
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Pending
Application number
JP2000275868A
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Japanese (ja)
Inventor
Takesato Shibata
剛吏 柴田
Hideki Mayama
英城 間山
Tatsuhisa Matsunaga
建久 松永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Kokusai Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable a semiconductor manufacturing device to handle wafers having different outside diameters, without requiring large-scale modification. SOLUTION: A cassette 10 housing wafers W2 is transferred, after the cassette 10 has been positioned on the upper surface of an adapter plate 30, having three V-grooves 32 on its lower surface. On the holding plate 29 of a carrier transfer device 20, one low pin 29a and two high pins 29b and 29c are provided in upwardly projecting states for holding the adapter plate 30 in an inclined state. Since the adapter plate 30 is inclined by means of the holding plate 29, the wafers W2 housed in the cassette 10 are inclined rearwardly, and accordingly, the slipping down of the wafers W2 from the cassette 10 can be prevented. Consequently, a CVD system which is constituted to handle wafers by using pad is enabled to handle wafers by using cassettes, without requiring large-scale remodeling.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造装置、
特に、基板収納容器の取扱い技術に関し、例えば、半導
体素子を含む半導体集積回路を作り込まれる基板として
の半導体ウエハ(以下、ウエハという。)に絶縁膜や金
属膜等のCVD膜を形成したり不純物を拡散したりする
バッチ式縦形拡散・CVD装置に利用して有効なものに
関する。
The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus,
In particular, the present invention relates to a technology for handling a substrate storage container. For example, a CVD film such as an insulating film or a metal film is formed on a semiconductor wafer (hereinafter, referred to as a wafer) as a substrate on which a semiconductor integrated circuit including a semiconductor element is formed, The present invention relates to an apparatus which is effective when used in a batch type vertical diffusion / CVD apparatus for diffusing a gas.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体製造装置の一例であるバッチ式縦
形CVD装置(以下、CVD装置という。)において
は、CVD装置の外部から未処理のウエハがキャリア
(基板収納容器)に収納された状態で搬入される。従来
のこの種のキャリアとして、互いに対向する一対の面が
開口された略立方体の箱形状に形成されているカセット
と、一つの面が開口された略立方体の箱形状に形成され
開口面にキャップが着脱自在に装着されているFOUP
(front opening unified pod 。以下、ポッドとい
う。)とがある。
2. Description of the Related Art In a batch type vertical CVD apparatus (hereinafter, referred to as a CVD apparatus), which is an example of a semiconductor manufacturing apparatus, an unprocessed wafer is stored in a carrier (substrate storage container) from outside the CVD apparatus. It is carried in. As a conventional carrier of this type, a cassette formed in a substantially cubic box shape having a pair of opposing surfaces opened, and a cap formed in a substantially cubic box shape having one surface opened. FOUP which is detachably mounted
(Front opening unified pod, hereafter referred to as pod).

【0003】ウエハのキャリアとしてポッドが使用され
る場合には、ウエハが密閉された状態で搬送されること
になるため、周囲の雰囲気にパーティクル等が存在して
いたとしてもウエハの清浄度は維持することができる。
したがって、半導体製造装置が設置されるクリーンルー
ム内の清浄度をあまり高く設定する必要がなくなるた
め、クリーンルームに要するコストを低減することがで
きる。そこで、CVD装置においては、ウエハのキャリ
アとしてポッドが使用されて来ている。
When a pod is used as a wafer carrier, the wafer is transported in a sealed state, so that the cleanliness of the wafer is maintained even if particles and the like exist in the surrounding atmosphere. can do.
Therefore, it is not necessary to set the cleanliness in the clean room in which the semiconductor manufacturing apparatus is installed so high that the cost required for the clean room can be reduced. Therefore, a pod has been used as a carrier of a wafer in a CVD apparatus.

【0004】一方、半導体装置の生産性を高めるために
ウエハの大径化が図られており、直径が二百mmのウエ
ハ(以下、二百mmウエハという。)から直径が三百m
mのウエハ(以下、三百mmウエハという。)への転換
が推進されている。一般に、二百mmウエハのキャリア
としてはカセットが使用され、三百mmウエハのキャリ
アとしてはポッドが使用されている。
On the other hand, in order to increase the productivity of semiconductor devices, the diameter of a wafer has been increased, and a wafer having a diameter of 200 mm (hereinafter, referred to as a 200 mm wafer) has a diameter of 300 m.
The conversion to m wafers (hereinafter, referred to as three hundred mm wafers) has been promoted. Generally, a cassette is used as a carrier for 200 mm wafers, and a pod is used as a carrier for 300 mm wafers.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、三百m
mウエハのポッドを扱うように構成されたCVD装置に
おいて、二百mmウエハのカセットを扱おうとする場合
には、ポッドとカセットとの大きさの相違により位置決
め方式等が異なるため、搬送機構を大幅に改造する必要
がある。そのため、非常に大掛かりな改造が余儀無くさ
れ、時間および費用が莫大になるという問題点がある。
However, three hundred m
In a CVD apparatus configured to handle pods of m wafers, when a cassette of 200 mm wafers is to be handled, since the positioning method and the like are different due to the difference in size between the pod and the cassette, the transfer mechanism is significantly increased. Need to be remodeled. Therefore, there is a problem that a very large-scale remodeling is inevitable and time and cost are enormous.

【0006】本発明の目的は、大掛かりな改造を要する
ことなく外径の異なる基板を扱うことができる半導体製
造装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus capable of handling substrates having different outer diameters without requiring a large-scale remodeling.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体製造
装置は、キャリアを搬送するキャリア搬送装置と、基板
を収納したカセットを収納された基板が水平状態になる
ように載置するアダプタプレートとを備えており、前記
キャリア搬送装置には前記アダプタプレートを傾斜させ
た状態で保持する保持プレートが設けられていることを
特徴とする。
According to the present invention, there is provided a semiconductor manufacturing apparatus comprising: a carrier transport device for transporting a carrier; and an adapter plate for placing a substrate containing a cassette containing the substrates in a horizontal state. Wherein the carrier transport device is provided with a holding plate for holding the adapter plate in an inclined state.

【0008】前記した手段において、基板を収納したカ
セットをアダプタプレートに載置させた状態でキャリア
搬送装置によって搬送するに際して、保持プレートによ
ってアダプタプレートを傾斜させることにより、アダプ
タプレート上のカセットに収納された基板を水平に対し
て傾斜させることができるため、搬送中にカセット内の
基板がカセット内から滑り落ちるのを防止することがで
きる。このようにしてカセット搬送中の基板のカセット
内からの脱落を防止することにより、ポッドを取り扱う
キャリア搬送装置に対応することができるため、基板を
ポッドによって取り扱うように構成された半導体製造装
置を大幅に改造せずに、基板をカセットに収納して取り
扱うことができる。
In the above-described means, when the cassette containing the substrates is transported by the carrier transport device while being placed on the adapter plate, the adapter plate is tilted by the holding plate, so that the cassette is stored in the cassette on the adapter plate. The substrate in the cassette can be inclined with respect to the horizontal, so that it is possible to prevent the substrate in the cassette from slipping from the inside of the cassette during transportation. In this way, by preventing the substrates from dropping out of the cassette during the transport of the cassette, it is possible to cope with a carrier transport device that handles pods. The substrate can be stored in a cassette and handled without modification.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面に即して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】本実施の形態において、本発明に係る半導
体製造装置は、図1に示されているようにCVD装置す
なわちバッチ式縦形CVD装置として構成されており、
また、三百mmウエハ(以下、第一ウエハという。)を
ポッドに収納した状態で取り扱うように構成されてい
る。そして、本実施の形態においては、ポッドを取り扱
うように構成されたCVD装置1において二百mmウエ
ハ(以下、第二ウエハという。)をカセットに収納した
状態で取り扱い得るように構成されている。
In the present embodiment, the semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention is configured as a CVD apparatus, that is, a batch type vertical CVD apparatus as shown in FIG.
Further, it is configured to handle a 300-mm wafer (hereinafter, referred to as a first wafer) in a state of being stored in a pod. In the present embodiment, the CVD apparatus 1 configured to handle a pod is configured to be able to handle a 200-mm wafer (hereinafter, referred to as a second wafer) in a cassette.

【0011】図2に示されているように、第一ウエハW
1 を収納するポッド9は一つの面が開口された略立方体
の箱形状に形成され開口面にキャップ9aが着脱自在に
装着されている。図2(c)に示されているように、ポ
ッド9の一側面(以下、下面とする。)には雌キネマチ
ックカップリング9bが三条、正三角形の頂点にそれぞ
れ配置されて放射状に没設されており、図2(b)およ
び(c)に示されているように、三条の雌キネマチック
カップリング(以下、V溝という。)9bは略三角柱形
の溝形状で溝底である三角柱の頂辺が半径方向に延在す
る底面視が長方形の溝に形成されている。
As shown in FIG. 2, the first wafer W
The pod 9 for storing 1 is formed in a substantially cubic box shape with one surface opened, and a cap 9a is detachably mounted on the opening surface. As shown in FIG. 2C, a female kinematic coupling 9b is disposed on one side (hereinafter referred to as a lower surface) of the pod 9 at the apexes of the three-row and the equilateral triangle, respectively, and is radially submerged. As shown in FIGS. 2B and 2C, the three-way female kinematic coupling (hereinafter referred to as a V-groove) 9b has a substantially triangular prism-shaped groove shape and a triangular prism having a groove bottom. Is formed in a rectangular groove whose bottom side extends in the radial direction.

【0012】図3に示されているように、第二ウエハW
2 を収納するカセット10は一つの対面が開口された略
立方体の箱形状に形成され、一方の開口の一対の側壁内
面には複数条(例えば、二十五条)の保持溝10aが同
一平面を構成するように等間隔に整列されて没設されて
おり、第二ウエハW2 はこれら保持溝10aに外周辺部
が挿入されることにより保持されるようになっている。
カセット10の他方の開口には一対の脚10bが第二ウ
エハW2 の並ぶ方向に平行に突設されており、両脚10
b、10bの間によってカセット10の位置決めが確保
されるようになっている。カセット10の第二ウエハW
2 と平行となる一方の側面には把手10cが突設されて
いる。
As shown in FIG. 3, the second wafer W
2 is formed in a substantially cubic box shape with one facing opening, and a plurality of (for example, twenty-five) holding grooves 10a are flush with the inner surfaces of a pair of side walls of one opening. are Botsu設are aligned at equal intervals so as to constitute a, and is held by the outer peripheral portion is inserted into the second wafer W 2 these holding grooves 10a.
The other of the pair of legs 10b in the opening of the cassette 10 are projectingly provided parallel to the direction of arrangement of the second wafer W 2, legs 10
Positioning of the cassette 10 is ensured between the positions b and 10b. Second wafer W of cassette 10
A handle 10c protrudes from one side surface parallel to 2 .

【0013】図1に示されているCVD装置1は気密室
構造に構築された筐体2を備えている。筐体2内の一端
部(以下、後端部とする。)の上部にはヒータユニット
3が垂直方向に据え付けられており、ヒータユニット3
の内部にはプロセスチューブ4が同心に配置されてい
る。プロセスチューブ4にはプロセスチューブ4内に原
料ガスやパージガス等を導入するためのガス導入管5と
プロセスチューブ4内を真空排気するための排気管6と
が接続されている。筐体2の後端部の下部にはエレベー
タ7が設置されており、エレベータ7はプロセスチュー
ブ4の真下に配置されたボート8を垂直方向に昇降させ
るように構成されている。ボート8は多数枚のウエハを
中心を揃えて水平に配置した状態で支持して、プロセス
チューブ4の処理室に対して搬入搬出するように構成さ
れている。
The CVD apparatus 1 shown in FIG. 1 has a housing 2 constructed in an airtight chamber structure. A heater unit 3 is vertically installed above one end (hereinafter, referred to as a rear end) in the housing 2.
The process tube 4 is arranged concentrically inside the inside. The process tube 4 is connected to a gas introduction pipe 5 for introducing a raw material gas, a purge gas and the like into the process tube 4 and an exhaust pipe 6 for evacuating the inside of the process tube 4. An elevator 7 is provided below the rear end of the housing 2, and the elevator 7 is configured to vertically move a boat 8 disposed directly below the process tube 4. The boat 8 is configured to support a large number of wafers in a state where the wafers are arranged horizontally with their centers aligned, and are carried in and out of the processing chamber of the process tube 4.

【0014】筐体2の正面壁にはキャリア出し入れ口
(図示せず)が開設されており、キャリア出し入れ口は
フロントシャッタによって開閉されるようになってい
る。キャリア出し入れ口にはポッド9の位置合わせを実
行する搬入搬出ステージ(以下、I/Oステージとい
う。)11が設置されており、ポッド9はキャリア出し
入れ口を通してI/Oステージ11に出し入れされるよ
うになっている。
A carrier entrance (not shown) is provided on the front wall of the housing 2, and the carrier entrance is opened and closed by a front shutter. A carry-in / carry-out stage (hereinafter, referred to as an I / O stage) 11 for performing positioning of the pod 9 is provided at the carrier entrance / exit, and the pod 9 is moved into / out of the I / O stage 11 through the carrier entrance / exit. It has become.

【0015】図3、図4および図5に示されているよう
に、I/Oステージ11は平面視が略L字形の平板形状
に形成された載置台12を備えており、載置台12の上
面には三本の雄キネマチックカップリング(以下、ピン
という。)12aがポッド9の三条のV溝9bにそれぞ
れ対応するように正三角形の頂点に配されて突設されて
いる。三本のピン12aが構成する正三角形の頂点の位
置は三条のV溝9bの最も外側の端が構成する正三角形
の頂点の位置の若干内側寄りに設定されている。また、
三本のピン12aの高さは同一に設定されており、三本
のピン12aの頂点は水平面を構成するようになってい
る。
As shown in FIGS. 3, 4 and 5, the I / O stage 11 has a mounting table 12 formed in a substantially L-shaped flat plate shape in plan view. On the upper surface, three male kinematic couplings (hereinafter, referred to as pins) 12a are arranged at the apexes of the equilateral triangle so as to correspond to the three V-grooves 9b of the pod 9, and protrude therefrom. The position of the vertex of the equilateral triangle formed by the three pins 12a is set slightly inward of the position of the vertex of the equilateral triangle formed by the outermost end of the three V-grooves 9b. Also,
The heights of the three pins 12a are set to be the same, and the vertices of the three pins 12a form a horizontal plane.

【0016】図1、図6および図7に示されているよう
に、筐体2内の前後方向の中央部の上部には複数個のキ
ャリアを保管するための回転棚13が設置されており、
本実施の形態において、回転棚13は合計八個のキャリ
アを保管するように構成されている。すなわち、回転棚
13は略卍形状に形成された棚板14を二枚備えてお
り、両棚板14、14が上下二段に配置されて水平面内
で回転自在に支承されて、モータ等の間欠回転駆動装置
(図示せず)によってピッチ送り的に一方向に回転され
るようになっている。
As shown in FIGS. 1, 6, and 7, a rotating shelf 13 for storing a plurality of carriers is provided at an upper portion of a central portion of the housing 2 in the front-rear direction. ,
In the present embodiment, the rotating shelf 13 is configured to store a total of eight carriers. That is, the rotating shelf 13 includes two shelves 14 formed in a substantially swastika shape, and the two shelves 14, 14 are arranged in two stages vertically and rotatably supported in a horizontal plane. It is designed to be rotated in one direction in a pitch feed by an intermittent rotation drive device (not shown).

【0017】回転棚13の卍形状に形成された棚板14
における四箇所の載置部15の上面には三本の雄キネマ
チックカップリング(以下、ピンという)15aがポッ
ド9の三条のV溝9bにそれぞれ対応するように正三角
形の頂点に配置されて突設されている。三本のピン15
aが構成する正三角形の頂点の位置は三条のV溝9bの
最も外側の端が構成する正三角形の頂点の位置の若干内
側寄りに設定されている。また、三本のピン15aの高
さは同一に設定されており、三本のピン15aの頂点は
水平面を構成するようになっている。
A swastika-shaped shelf board 14 of the rotating shelf 13
On the upper surface of the four mounting portions 15, three male kinematic couplings (hereinafter, referred to as pins) 15a are arranged at the vertices of an equilateral triangle so as to correspond to the three V-grooves 9b of the pod 9, respectively. It is protruding. Three pins 15
The position of the vertex of the equilateral triangle formed by a is set slightly inside the position of the vertex of the equilateral triangle formed by the outermost end of the three V-grooves 9b. The heights of the three pins 15a are set to be the same, and the vertices of the three pins 15a form a horizontal plane.

【0018】図1および図8に示されているように、筐
体2内の回転棚13の下側にはウエハを移載(チャージ
ングおよびディスチャージング)するためのウエハ移載
ポート16が一対、垂直方向に上下二段に設置されてお
り、両ウエハ移載ポート16、16は載置台17をそれ
ぞれ備えている。詳細な説明および図示は省略するが、
ウエハ移載ポート16にはポッド9のキャップ9aを開
閉するポッドオープナが設置されており、両載置台1
7、17はポッドオープナによって前後方向に往復移動
されるように構成されている。
As shown in FIGS. 1 and 8, a pair of wafer transfer ports 16 for transferring (charging and discharging) wafers are provided below the rotating shelf 13 in the housing 2. The wafer transfer ports 16, 16 are each provided with a mounting table 17. Although detailed explanation and illustration are omitted,
A pod opener that opens and closes the cap 9a of the pod 9 is installed at the wafer transfer port 16, and both pedestals 1
Reference numerals 7 and 17 are configured to be reciprocated in the front-rear direction by a pod opener.

【0019】載置台17は平面視が略L字形の平板形状
に形成されており、載置台17の上面には三本の雄キネ
マチックカップリング(以下、ピンという。)17aが
ポッド9の三個のV溝9bにそれぞれ対応するように正
三角形の頂点に配置されて突設されている。三本のピン
17aが構成する正三角形の頂点の位置は、三条のV溝
9bの最も外側の端が構成する正三角形の頂点の位置の
若干内側寄りに設定されている。三本のピン17aの高
さは同一に設定されており、三本のピン17aの頂点は
水平面を構成するようになっている。
The mounting table 17 is formed in a flat plate shape having a substantially L-shape in plan view, and three male kinematic couplings (hereinafter, referred to as pins) 17 a are provided on the upper surface of the mounting table 17. The V-grooves 9b are arranged at the vertices of the equilateral triangle so as to correspond to the V-grooves 9b, respectively. The positions of the vertices of the regular triangle formed by the three pins 17a are set slightly inward of the positions of the vertices of the regular triangle formed by the outermost ends of the three V-grooves 9b. The heights of the three pins 17a are set to be the same, and the vertices of the three pins 17a form a horizontal plane.

【0020】図1に示されているように、筐体2内のI
/Oステージ11と回転棚13およびウエハ移載ポート
16との間にはキャリア搬送装置20が設置されてお
り、図1および図4〜図8に示されているように、キャ
リア搬送装置20はスカラ形ロボット(selective comp
liance assembly robot arm 。SCARA)によって構
成されている。すなわち、キャリア搬送装置20は筐体
2内の床面に左右方向に敷設されたリニアアクチュエー
タ21を備えており、リニアアクチュエータ21は移動
台22を左右方向に摺動させるように構成されている。
移動台22の上には昇降台24を昇降させるエレベータ
23が立設されており、昇降台24の上にには第一アー
ム26および第二アーム27を回動させるロータリーア
クチュエータ25が設置されている。第二アーム27の
自由端部には第二のロータリーアクチュエータ28が設
置されており、第二のロータリーアクチュエータ28は
保持プレート29を回動させるように構成されている。
As shown in FIG. 1, the I
A carrier transfer device 20 is provided between the / O stage 11 and the rotary shelf 13 and the wafer transfer port 16, and as shown in FIGS. 1 and 4 to 8, the carrier transfer device 20 SCARA robot (selective comp
liance assembly robot arm. SCARA). That is, the carrier transport device 20 includes a linear actuator 21 laid on the floor surface in the housing 2 in the left-right direction, and the linear actuator 21 is configured to slide the moving table 22 in the left-right direction.
An elevator 23 for elevating and lowering the elevating table 24 is provided on the moving table 22, and a rotary actuator 25 for rotating the first arm 26 and the second arm 27 is provided on the elevating table 24. I have. A second rotary actuator 28 is provided at a free end of the second arm 27, and the second rotary actuator 28 is configured to rotate the holding plate 29.

【0021】キャリア搬送装置20の保持プレート29
はI/Oステージ11の載置台12、回転棚13の載置
部15およびウエハ移載ポート16の載置台17のL字
形状が形成した空所の大きさよりも若干小さめの平面視
が略正方形の平板形状に形成されており、保持プレート
29の上面には三本の雄キネマチックカップリング(以
下、ピンという。)29a、29b、29cがポッド9
の三条のV溝9bにそれぞれ対応するように突設されて
いる。三本のピン29a、29b、29cが構成する正
三角形の頂点の位置は、三条のV溝9bの最も内側の端
が構成する正三角形の頂点の位置の若干外側寄りに設定
されている。また、保持プレート29のロータリーアク
チュエータ28側である基端側のピン29aの高さは低
く設定されており、この低いピン(以下、低いピンとい
う。)29aに対して左右対称形に位置する二本のピン
29b、29cの高さは互いに同一高さで低いピン12
aよりも高く設定されている。そして、低いピン12a
と左右の二本の高いピン(以下、高いピンという。)2
9b、29cとの頂点が構成する平面は、水平面に対し
て基端側が低くなるように傾斜しており、本実施の形態
においては傾斜角度Θ(図5参照)が4度に設定されて
いる。
The holding plate 29 of the carrier transfer device 20
The plan view of the mounting table 12 of the I / O stage 11, the mounting section 15 of the rotating shelf 13 and the mounting table 17 of the wafer transfer port 16 is slightly square in plan view slightly smaller than the size of the space formed by the L-shape. And three male kinematic couplings (hereinafter, referred to as pins) 29 a, 29 b, and 29 c on the upper surface of the holding plate 29.
Projecting so as to respectively correspond to the three V-grooves 9b. The position of the vertex of the equilateral triangle formed by the three pins 29a, 29b, and 29c is set slightly outside the position of the vertex of the equilateral triangle formed by the innermost end of the three V-grooves 9b. The height of a pin 29a on the base end side of the holding plate 29 on the rotary actuator 28 side is set low, and the height of the pin 29a is symmetrical with respect to the low pin (hereinafter referred to as a low pin) 29a. The height of the pins 29b and 29c is the same as the height of the
It is set higher than a. And the low pin 12a
And two high pins on the left and right (hereinafter referred to as high pins) 2
The plane defined by the vertices 9b and 29c is inclined such that the base end side is lower than the horizontal plane, and in the present embodiment, the inclination angle Θ (see FIG. 5) is set to 4 degrees. .

【0022】本実施の形態においては、ポッド9によっ
て第一ウエハW1 を扱うCVD装置1においてカセット
10によって第二ウエハW2 を扱うために、図3〜図8
に示されたアダプタプレート30が準備されている。ア
ダプタプレート30の枚数は投入可能カセットと同じ枚
数すなわち回転棚13の載置部15の数の総数になるよ
うに設定されている。なお、バッファ棚が用意されてい
る場合にはその棚に保管されるカセット数を含めた総数
となる。
In the present embodiment, to handle the second wafer W 2 by the cassette 10 in the CVD apparatus 1 for handling the first wafer W 1 by the pod 9, FIGS. 3-8
Is prepared. The number of adapter plates 30 is set to be the same as the number of loadable cassettes, that is, the total number of mounting portions 15 of the rotating shelf 13. If a buffer shelf is prepared, the total number includes the number of cassettes stored in the shelf.

【0023】アダプタプレート30は本体31を備えて
おり、本体31は平面視がポッド9の下面の面積よりも
若干大きめの正方形の板形状に形成されている。本体3
1の一主面(以下、下面とする。)にはポッド9の三条
のV溝9bに対応した三条の雌キネマチックカップリン
グ(以下、アダプタプレートV溝という。)32が没設
されている。すなわち、図3に示されているように、三
条のアダプタプレートV溝32は本体31の下面の中心
点を中心にして等間隔の放射状にそれぞれ敷設されてお
り、三条のアダプタプレートV溝32の各内側端および
各外側端は各同心円上にそれぞれ揃えられている。
The adapter plate 30 has a main body 31, and the main body 31 is formed in a square plate shape slightly larger than the area of the lower surface of the pod 9 in plan view. Body 3
On one principal surface (hereinafter, referred to as a lower surface) of the pod 9, a three female kinematic coupling (hereinafter, referred to as an adapter plate V groove) 32 corresponding to the three V grooves 9b of the pod 9 is provided. . That is, as shown in FIG. 3, the three adapter plate V-grooves 32 are laid radially at equal intervals around the center point of the lower surface of the main body 31, respectively. Each inner end and each outer end are aligned on each concentric circle.

【0024】本体31の上面における三条のアダプタプ
レートV溝32のうちの一条に直交する一端辺の近傍の
中央位置には、直方体形状の位置決めブロック33がこ
の端辺と平行に突設されており、この位置決めブロック
33は本体31の上面に載置されたカセット10の脚1
0bに当接することによってカセット10の前後方向の
位置を規定するように設定されている。本体31の上面
における前後の位置決めブロック33の左右には左右の
位置決めブロック34、35が互いに平行で左右対称形
に突設されており、左右の位置決めブロック34、35
はカセット10の左右の側面に当接することによってカ
セット10の左右方向の位置を規定するように設定され
ている。左右の位置決めブロック34、35の上面には
カセット10のHバーに嵌合する溝34a、35aが短
手方向に没設されている。
A rectangular parallelepiped positioning block 33 is provided at the center of the upper surface of the main body 31 near one end of the three adapter plate V-grooves 32 perpendicular to one of the V-grooves 32 so as to project in parallel with the end. The positioning block 33 is provided on the leg 1 of the cassette 10 placed on the upper surface of the main body 31.
The position of the cassette 10 in the front-rear direction is set by contacting the cassette 0b. Left and right positioning blocks 34 and 35 are provided on the upper surface of the main body 31 on the left and right of the front and rear positioning blocks 33 so as to be parallel to each other and project symmetrically.
Are set so as to abut on the left and right side surfaces of the cassette 10 to define the position of the cassette 10 in the left-right direction. On the upper surfaces of the left and right positioning blocks 34 and 35, grooves 34a and 35a that fit into the H-bars of the cassette 10 are laid in the short direction.

【0025】なお、図1に示されているように、ウエハ
移載ポート16とボート8との間にはウエハ移載装置4
0が設置されており、ウエハ移載装置40はウエハ移載
ポート16とボート8との間でウエハを搬送してウエハ
をボート8に対してチャージングおよびアンチャージン
グするように構成されている。ウエハ移載装置40のハ
ンドであるツィーザ41は複数枚(例えば五枚)が垂直
方向に両端を揃えられて等間隔に並べられて水平に支持
されており、複数枚のウエハを同時に授受し得るように
なっている。
As shown in FIG. 1, between the wafer transfer port 16 and the boat 8, a wafer transfer device 4 is provided.
0 is set, and the wafer transfer device 40 is configured to transfer the wafer between the wafer transfer port 16 and the boat 8 and charge and uncharge the wafer with respect to the boat 8. A plurality of (for example, five) tweezers 41, which are hands of the wafer transfer device 40, are horizontally supported with their both ends aligned in the vertical direction and arranged at equal intervals and can transfer a plurality of wafers simultaneously. It has become.

【0026】次に、前記構成に係るCVD装置1におい
て第二ウエハW2 をカセット10によって扱う場合につ
いての作用を説明する。
Next, a description will be given of the operation for the case of handling by the second wafer W 2 of the cassette 10 in the CVD apparatus 1 according to the configuration.

【0027】前記構成に係るCVD装置1において第二
ウエハW2 を処理するに際しては、予め、ボート8が第
一ウエハW1 を保持し得るものから第二ウエハW2 を保
持し得るものに置き換えられる。また、ノッチ合わせ装
置が設置されている場合には、第二ウエハに対応し得る
ものとする。さらに、プロセスチューブ4等を第一ウエ
ハ用のものから第二ウエハ用のものへ必要に応じて適宜
に交換する。
When processing the second wafer W 2 in the CVD apparatus 1 according to the above configuration, the boat 8 is previously replaced with a boat capable of holding the first wafer W 1 by a boat capable of holding the second wafer W 2. Can be When a notch aligning device is provided, it can correspond to the second wafer. Further, the process tubes 4 and the like are appropriately changed from those for the first wafer to those for the second wafer as necessary.

【0028】図4に示されているように、第二ウエハW
2 を収納したカセット10が筐体2内のI/Oステージ
11にキャリア出し入れ口から搬入されるに際して、ア
ダプタプレート30が載置台12の上に、載置台12の
三本のピン12aが三条のアダプタプレートV溝32に
それぞれ嵌合された状態で予めセットされる。三本のピ
ン12aが三条のアダプタプレートV溝32に嵌合され
ることにより、アダプタプレート30は載置台12に位
置決めされた状態になる。
As shown in FIG. 4, the second wafer W
When the cassette 10 accommodating the cassette 2 is carried into the I / O stage 11 in the housing 2 from the carrier entrance, the adapter plate 30 is placed on the mounting table 12 and the three pins 12a of the mounting table 12 It is set in advance in a state where it is fitted in the adapter plate V-groove 32, respectively. By fitting the three pins 12a into the three adapter plate V-grooves 32, the adapter plate 30 is positioned on the mounting table 12.

【0029】第二ウエハW2 を収納したカセット10は
アダプタプレート30の上に、三方の側面が三箇所の位
置決めブロック33、34、35に当接されて載置され
る。カセット10が三箇所の位置決めブロック33、3
4、35によってアダプタプレート30に位置決めさ
れ、アダプタプレート30が三条のアダプタプレートV
溝32および三本のピン12aによって載置台12に位
置決めされることにより、カセット10は載置台12に
適正に位置決めされた状態になる。
The cassette 10 accommodating the second wafer W 2 is placed on the adapter plate 30 with three side surfaces abutting the three positioning blocks 33, 34, 35. The cassette 10 has three positioning blocks 33, 3
4 and 35, the adapter plate 30 is positioned on the adapter plate 30.
The cassette 10 is properly positioned on the mounting table 12 by being positioned on the mounting table 12 by the groove 32 and the three pins 12a.

【0030】図5に示されているように、I/Oステー
ジ11に供給されたカセット10はアダプタプレート3
0に載置された状態のまま、I/Oステージ11の載置
台12の上からキャリア搬送装置20によってピックア
ップされて、回転棚13の指定された載置部15に適宜
に搬送されて一時的に保管される。
As shown in FIG. 5, the cassette 10 supplied to the I / O stage 11 is
In the state of being mounted on the rotating shelf 13, it is picked up from the mounting table 12 of the I / O stage 11 by the carrier transfer device 20, appropriately transferred to the specified mounting portion 15 of the rotating shelf 13, and temporarily. Stored in

【0031】カセット10がI/Oステージ11の載置
台12からピックアップされる際に、キャリア搬送装置
20の保持プレート29が載置台12に挿入された後に
上昇されると、保持プレート29がL字形状の載置台1
2の空所部を下から潜ってアダプタプレート30を載置
台12から持ち上げる。この際、三条のアダプタプレー
トV溝32に保持プレート29の三本のピン29a、2
9b、29cが嵌入するため、アダプタプレート30す
なわちカセット10は保持プレート29に位置決めされ
た状態になる。
When the cassette 10 is picked up from the mounting table 12 of the I / O stage 11 and is raised after the holding plate 29 of the carrier transport device 20 is inserted into the mounting table 12, the holding plate 29 is L-shaped. Mounting table 1 of shape
The adapter plate 30 is lifted from the mounting table 12 by dipping from the space 2 below. At this time, the three pins 29a, 2
9b and 29c are fitted, so that the adapter plate 30, that is, the cassette 10 is positioned on the holding plate 29.

【0032】キャリア搬送装置20のカセット10の搬
送に際して、三条のアダプタプレートV溝32にそれぞ
れ嵌合した三本のピン29a、29b、29cのうちカ
セット10の脚10b側に位置するピン29aの高さが
左右のピン29b、29cの高さよりも低く設定されて
いることにより、アダプタプレート30はカセット10
が後傾するように傾斜した状態になるため、カセット1
0に収納された第二ウエハW2 はカセット10の開口か
ら抜け落ちることはない。すなわち、キャリア搬送装置
20の保持プレート29がアダプタプレート30を傾斜
させた状態で支持することにより、アダプタプレート3
0に載置されたカセット10は後傾した状態になるた
め、カセット10に収納された第二ウエハW2 は自重に
よってカセット10の常に後方へ下がろうとする状態に
なる。つまり、第二ウエハW2 は常に後方に下がろうと
しているため、第二ウエハW2 がカセット10の開口か
ら抜け出すことはない。
When the cassette 10 is transported by the carrier transport device 20, the height of the pin 29a located on the leg 10b side of the cassette 10 among the three pins 29a, 29b, and 29c fitted into the three adapter plate V-grooves 32, respectively. Is set lower than the height of the left and right pins 29b and 29c, the adapter plate 30
The cassette 1 is tilted backward so that the cassette 1
0 second wafer W 2 accommodated in the never fall out from the opening of the cassette 10. In other words, the holding plate 29 of the carrier transport device 20 supports the adapter plate 30 in an inclined state, so that the adapter plate 3
0 Since the placed cassette 10 in a state that is tilted backward, the second wafer W 2 contained in the cassette 10 is in a state always trying S'Agaro rearward of the cassette 10 by its own weight. That is, since the second wafer W 2 is always going to descend backward, the second wafer W 2 does not fall out of the opening of the cassette 10.

【0033】図7に示されているように、カセット10
が回転棚13の載置部15にプットダウンされる際に、
キャリア搬送装置20の保持プレート29が載置部15
のL字形の空所に上から整合された後に下降されると、
保持プレート29が当該空所部を上から潜ってアダプタ
プレート30に載置された状態のままカセット10を載
置部15の上に受け渡す。この際、アダプタプレート3
0の三条のアダプタプレートV溝32に載置部15の三
本のピン15aが嵌入するため、アダプタプレート30
すなわちカセット10は載置部15に位置決めされた状
態になる。
As shown in FIG.
Is put down on the mounting portion 15 of the rotating shelf 13,
The holding plate 29 of the carrier transport device 20 is
When it is lowered after being aligned from above in the L-shaped space of
The cassette 10 is transferred to the mounting portion 15 while the holding plate 29 is mounted on the adapter plate 30 by going under the space portion from above. At this time, the adapter plate 3
Since the three pins 15a of the mounting portion 15 are fitted into the three adapter plate V-grooves 32 of the
That is, the cassette 10 is positioned on the mounting portion 15.

【0034】回転棚13に一時的に保管されたカセット
10はアダプタプレート30に載置された状態のままキ
ャリア搬送装置20によって適宜にピックアップされ
て、ウエハ移載ポート16に搬送され、載置台17の上
に移載される。図8に示されているように、この回転棚
13からウエハ移載ポート16への搬送に際しても、キ
ャリア搬送装置20の保持プレート29がアダプタプレ
ート30を傾斜させた状態で支持することにより、アダ
プタプレート30に載置されたカセット10を後傾させ
るため、カセット10に収納された第二ウエハW2 は自
重によってカセット10の常に後方へ下がろうとする状
態になり、このため、第二ウエハW2 がカセット10の
開口から抜け出すことはない。
The cassette 10 temporarily stored on the rotating shelf 13 is appropriately picked up by the carrier transfer device 20 while being placed on the adapter plate 30, transferred to the wafer transfer port 16, and placed on the mounting table 17. Will be transferred to As shown in FIG. 8, when the wafer is transferred from the rotating shelf 13 to the wafer transfer port 16, the adapter plate 30 is supported by the holding plate 29 of the carrier transfer device 20 in a state where the adapter plate 30 is inclined. In order to tilt the cassette 10 placed on the plate 30 backward, the second wafer W 2 stored in the cassette 10 is always going to be lowered to the rear of the cassette 10 by its own weight. 2 does not fall out of the opening of the cassette 10.

【0035】カセット10が載置されたアダプタプレー
ト30がウエハ移載ポート16の載置台17の上に移載
されると、アダプタプレートV溝32に載置台17の三
本のピン17aがそれぞれ嵌入した状態になることによ
り、カセット10はウエハ移載ポート16において水平
に支持された状態になるとともに、適正に位置決めされ
た状態になる。したがって、ウエハ移載装置40はカセ
ット10から第二ウエハW2 を水平に出し入れすること
ができる。
When the adapter plate 30 on which the cassette 10 is mounted is transferred onto the mounting table 17 of the wafer transfer port 16, the three pins 17a of the mounting table 17 are fitted into the adapter plate V-grooves 32, respectively. In this state, the cassette 10 is supported horizontally by the wafer transfer port 16 and is properly positioned. Thus, the wafer transfer device 40 can be out from the cassette 10 and the second wafer W 2 horizontally.

【0036】なお、ポッド9が載置台17に載置された
場合には、その後、キャップ9aがポッドオープナによ
って開放される作業が実施されるが、カセット10の場
合にはウエハ移載装置40側の面が開口しているため、
ポッドオープナの作業は実施されない。すなわち、ポッ
ドオープナのクロージャ(図示せず)はカセット10の
開口面から退避した状態になっている。
When the pod 9 is mounted on the mounting table 17, an operation of opening the cap 9a by the pod opener is performed thereafter. In the case of the cassette 10, the wafer transfer device 40 side is used. Surface is open,
No pod opener work is performed. That is, the closure (not shown) of the pod opener is retracted from the opening surface of the cassette 10.

【0037】ウエハ移載ポート16においてカセット1
0が載置台17にセットされると、カセット10の第二
ウエハW2 がウエハ移載装置40によって引き出されて
ボート8に搬送されて移載(チャージング)される。こ
の際、カセット10の第二ウエハW2 は複数枚がボート
8に、ウエハ移載装置40の複数枚のツィーザ41によ
って同時に移載される。
At the wafer transfer port 16, the cassette 1
When 0 is set to the mounting table 17, the second wafer W 2 of the cassette 10 is drawn out by the wafer transfer apparatus 40 are carried to the boat 8 transfer (charging). At this time, the second wafer W 2 of the cassette 10 on a plurality boat 8, are transferred simultaneously by a plurality of tweezers 41 of the wafer transfer device 40.

【0038】また、ボート8がバッチ処理するウエハの
枚数(例えば、百枚〜百五十枚)は一台のカセット10
に収納された第二ウエハW2 の枚数(例えば、二十五
枚)よりも何倍も多いため、一方(上段または下段)の
ウエハ移載ポート16についてのウエハ移載装置40に
よる移載作業中に、他方(下段または上段)に対して別
のカセット10がキャリア搬送装置20によって同時進
行的に供給され、複数台のカセット10が上下のウエハ
移載ポート16、16にキャリア搬送装置20によって
繰り返し供給されることになる。上下のウエハ移載ポー
ト16、16に対するウエハ移載装置40の移載作業が
交互に繰り返されることによって、複数枚の第二ウエハ
2 がカセット10からボート8に移載されて行く。
The number of wafers (for example, one hundred to one hundred and fifty hundred) to be batch-processed by the boat 8 is one cassette 10
The second number of wafers W 2 housed in the (e.g., twenty-five sheets) for many many times than while transferring operation by the wafer transfer apparatus 40 for the wafer transfer port 16 (upper or lower) Meanwhile, another cassette 10 is simultaneously supplied to the other (lower or upper) by the carrier transfer device 20, and a plurality of cassettes 10 are supplied to the upper and lower wafer transfer ports 16, 16 by the carrier transfer device 20. It will be supplied repeatedly. The transfer operation of the wafer transfer device 40 to the upper and lower wafer transfer ports 16 is alternately repeated, so that a plurality of second wafers W 2 are transferred from the cassette 10 to the boat 8.

【0039】このようにして、一方(上段または下段)
のウエハ移載ポート16へのウエハ移載(チャージン
グ)作業中に、他方(下段または上段)のウエハ移載ポ
ート16への空のカセット10への搬送や準備作業が同
時進行されることにより、ウエハ移載装置40はカセッ
ト10の入替え作業についての待ち時間を浪費すること
なく、ウエハ移載作業を連続して実施することができる
ため、CVD装置1のスループットを高めることができ
る。
In this way, one (upper or lower)
During the wafer transfer (charging) operation to the wafer transfer port 16, the transfer to the empty cassette 10 to the other (lower or upper) wafer transfer port 16 and the preparation work are simultaneously performed. Since the wafer transfer device 40 can continuously perform the wafer transfer operation without wasting a waiting time for the replacement operation of the cassette 10, the throughput of the CVD device 1 can be increased.

【0040】予め指定された複数枚の第二ウエハW2
カセット10からボート8に移載されると、ボート8は
エレベータ7によって上昇されてプロセスチューブ4の
処理室に搬入(ローディング)される。ボート8が上限
に達すると、ボート8を保持したキャップの上面の周辺
部がプロセスチューブ4をシール状態に閉塞するため、
処理室は気密に閉じられた状態になる。
When a plurality of second wafers W 2 specified in advance are transferred from the cassette 10 to the boat 8, the boat 8 is lifted by the elevator 7 and loaded (loaded) into the processing chamber of the process tube 4. . When the boat 8 reaches the upper limit, the periphery of the upper surface of the cap holding the boat 8 closes the process tube 4 in a sealed state.
The processing chamber is airtightly closed.

【0041】プロセスチューブ4が気密に閉じられた状
態で、所定の真空度に排気管6によって真空排気され、
ヒータユニット3によって所定の温度(400〜700
℃)をもって全体にわたって均一に加熱され、所定の原
料ガスがガス導入管5によって所定の流量だけ供給され
る。これにより、所定のCVD膜が第二ウエハW2 に形
成される。
While the process tube 4 is closed in an airtight manner, the process tube 4 is evacuated to a predetermined degree of vacuum by an exhaust pipe 6.
A predetermined temperature (400 to 700) is set by the heater unit 3.
° C), the entire material is uniformly heated, and a predetermined raw material gas is supplied by the gas introduction pipe 5 at a predetermined flow rate. Thus, a predetermined CVD film is formed on the second wafer W 2.

【0042】そして、予め設定された処理時間が経過す
ると、ボート8がエレベータ7によって下降されること
により、処理済み第二ウエハW2 を保持したボート8が
元の待機位置に搬出(アンローディング)される。
[0042] Then, after a lapse of a preset processing time, by boat 8 is lowered by the elevator 7, the processed second wafer W 2 boat 8 holding the can out to the original standby position (unloading) Is done.

【0043】元の待機位置に搬出されたボート8の処理
済み第二ウエハW2 はウエハ移載ポート16のアダプタ
プレート30に載置された状態で予め供給され水平に支
持された空のカセット10に、ウエハ移載装置40によ
って移載(ディスチャージング)される。
The processed second wafer W 2 of the boat 8 carried out to the original standby position is supplied in advance in a state where it is mounted on the adapter plate 30 of the wafer transfer port 16 and the empty cassette 10 supported horizontally. Is transferred (discharged) by the wafer transfer device 40.

【0044】次いで、処理済みの第二ウエハW2 が収納
されたカセット10は、アダプタプレート30に載置さ
れた状態でウエハ移載ポート16のからキャリア搬送装
置20によってピックアップされて、回転棚13に搬送
されてアダプタプレート30に載置された状態で移載
(プットダウン)され一時的に保管される。
Next, the cassette 10 containing the processed second wafer W 2 is picked up from the wafer transfer port 16 by the carrier transfer device 20 while being placed on the adapter plate 30, and Is transported (put down) while being placed on the adapter plate 30 and temporarily stored.

【0045】以上の処理済み第二ウエハW2 の移載(デ
ィスチャージング)作業の際も、ボート8がバッチ処理
した第二ウエハW2 の枚数は一台の空のカセット10に
収納する第二ウエハW2 の枚数よりも何倍も多いため、
複数台のカセット10が上下のウエハ移載ポート16、
16に交互にキャリア搬送装置20によって繰り返し供
給されることになる。この場合においても、一方(上段
または下段)のウエハ移載ポート16へのウエハ移載作
業中に、他方(下段または上段)のウエハ移載ポート1
6への空のカセット10への搬送や準備作業が同時進行
されることにより、ウエハ移載装置40はカセット10
の入替え作業についての待ち時間を浪費することなくウ
エハ移載作業を連続して実施することができるため、C
VD装置1のスループットを高めることができる。
[0045] Also during the above treated second wafer W 2 transfer (the discharging) work, the second boat 8 for accommodating the empty cassette 10 in the number of sheets of the single second wafer W 2 was batched for many many times than the number of wafers W 2,
A plurality of cassettes 10 are provided with upper and lower wafer transfer ports 16,
16 are alternately and repeatedly supplied by the carrier transport device 20. Also in this case, during the wafer transfer operation to one (upper or lower) wafer transfer port 16, the other (lower or upper) wafer transfer port 1
The wafer transfer device 40 moves the cassette 10 to the empty cassette 10 at the same time.
Since the wafer transfer operation can be performed continuously without wasting the waiting time for the replacement operation of C,
The throughput of the VD device 1 can be increased.

【0046】処理済み第二ウエハW2 を収納したカセッ
ト10はアダプタプレート30に載置された状態で、回
転棚13からI/Oステージ11の載置台12へキャリ
ア搬送装置20によって搬送されて移載(プットダウ
ン)される。I/Oステージ11に移載されたカセット
10はカセット出し入れ口から筐体2の外部に搬出され
る。そして、新規の第二ウエハW2 を収納したカセット
10が筐体2内のI/Oステージ11にキャリア出し入
れ口から搬入される。
The cassette 10 accommodating the processed second wafer W 2 is transferred from the rotary shelf 13 to the mounting table 12 of the I / O stage 11 by the carrier transfer device 20 while being mounted on the adapter plate 30. It is put (put down). The cassette 10 transferred to the I / O stage 11 is carried out of the housing 2 through the cassette slot. Then, the cassette 10 accommodating the new second wafer W 2 is carried from the carrier loading and unloading opening in the I / O stage 11 in the housing 2.

【0047】なお、新旧のカセット10のI/Oステー
ジ11への搬入搬出作業およびI/Oステージ11と回
転棚13との間の入替え作業はプロセスチューブ4にお
けるボート8の搬入搬出作業や成膜処理の間に同時進行
されるため、CVD装置1の全体としての作業時間が延
長されるのを防止することができる。
The work of loading and unloading the old and new cassettes 10 to and from the I / O stage 11 and the work of switching between the I / O stage 11 and the rotary shelf 13 are performed by loading and unloading the boat 8 in the process tube 4 and forming films. Since the processing is performed simultaneously during the processing, it is possible to prevent the working time of the entire CVD apparatus 1 from being extended.

【0048】以降、前述した作用が繰り返されて第二ウ
エハW2 がCVD装置1によってバッチ処理されて行
く。
Thereafter, the above-described operation is repeated, and the second wafer W 2 is batch-processed by the CVD apparatus 1.

【0049】そして、所望の枚数の第二ウエハW2 につ
いてのバッチ処理が完了し、第一ウエハW1 についての
バッチ処理を再開する場合には、第一ウエハW1 はポッ
ド9によって取り扱われるため、その準備作業が実施さ
れる。例えば、ボート8やプロセスチューブ4等が第二
ウエハW2 のためのものから第一ウエハW1 のためのも
のに必要に応じて適宜に交換され、ポッドオープナのク
ロージャが退避位置から作動位置に戻される。
[0049] Then, the batch process is completed for the second wafer W 2 of the desired number, when resuming the batch processing for the first wafer W 1, since the first wafer W 1 is handled by the pod 9 The preparation work is performed. For example, a boat 8 and process tube 4 or the like is replaced as necessary to those from those for the second wafer W 2 for the first wafer W 1, closure opener is in the operating position from the retracted position Will be returned.

【0050】前記実施の形態によれば、次の効果が得ら
れる。
According to the above embodiment, the following effects can be obtained.

【0051】1) カセット10をアダプタプレート30
に載置した状態で取り扱うことにより、ポッド9を取り
扱うI/Oステージ11や回転棚13、キャリア搬送装
置20およびウエハ移載ポート16にカセット10を対
応させることができるため、第一ウエハW1 をポッド9
によって取り扱うように構成されたCVD装置を大幅に
改造せずに第二ウエハW2 をカセット10に収納して取
り扱うことができる。
1) Insert the cassette 10 into the adapter plate 30
Since the cassette 10 can be made to correspond to the I / O stage 11, the rotating shelf 13, the carrier transfer device 20, and the wafer transfer port 16 that handle the pod 9 by handling the pod 9, the first wafer W 1 Pod 9
The second wafer W 2 can be handled is housed in the cassette 10 without significantly modifying the configured CVD apparatus as handled by.

【0052】2) アダプタプレート30の下面にポッド
9のV溝9bに対応したV溝32を没設することによ
り、I/Oステージ11の載置台12、回転棚13の載
置部15、キャリア搬送装置20の保持プレート29お
よびウエハ移載ポート16の載置台17における位置決
めのための各ピンに対応させることができるため、ポッ
ド9を取り扱うI/Oステージ11や回転棚13、キャ
リア搬送装置20およびウエハ移載ポート16にカセッ
ト10を対応させることができる。このため、第一ウエ
ハW1 をポッド9によって取り扱うように構成されたC
VD装置1を大幅に改造せずに第二ウエハW2 をカセッ
ト10に収納して取り扱うことができる。
2) Submerging the V-groove 32 corresponding to the V-groove 9b of the pod 9 on the lower surface of the adapter plate 30, the mounting table 12 of the I / O stage 11, the mounting portion 15 of the rotating shelf 13, the carrier Since the pins for positioning the holding plate 29 of the transfer device 20 and the wafer transfer port 16 on the mounting table 17 can be made to correspond to each other, the I / O stage 11, the rotating shelf 13, and the carrier transfer device 20 that handle the pod 9. The cassette 10 can correspond to the wafer transfer port 16. Therefore, the first wafer W 1 is handled by the pod 9 by the C
The second wafer W 2 can be handled is housed in the cassette 10 to VD device 1 without significant modification.

【0053】3) キャリア搬送装置20の保持プレート
29をアダプタプレート30を傾斜させて保持するよう
に構成することにより、カセット10をアダプタプレー
ト30に載置した状態でキャリア搬送装置20によって
移送する際に、カセット10を後傾させることができる
ため、移送中に、第二ウエハW2 がカセット10から抜
け出るのを防止することができる。
3) By configuring the holding plate 29 of the carrier transfer device 20 to hold the adapter plate 30 with the adapter plate 30 inclined, the cassette 10 is transferred by the carrier transfer device 20 with the cassette 10 placed on the adapter plate 30. in, since it is possible to tilted backward of the cassette 10, during the transfer, it is possible to the second wafer W 2 is prevented from escaping from the cassette 10.

【0054】4) キャリア搬送装置20の保持プレート
29をアダプタプレート30を傾斜させて保持するよう
に構成することにより、I/Oステージ11の載置台1
2、回転棚13の載置部15およびウエハ移載ポート1
6の載置台17においてはアダプタプレート30を水平
に支持することができるため、カセット10に収納され
た第二ウエハW2 を水平状態に維持することができる。
4) The holding plate 29 of the I / O stage 11 is configured by holding the holding plate 29 of the carrier transfer device 20 with the adapter plate 30 inclined.
2. Placement section 15 of rotating shelf 13 and wafer transfer port 1
In the mounting table 17 of 6 it is possible to support the adapter plate 30 horizontally, it is possible to maintain the second wafer W 2 contained in the cassette 10 in the horizontal state.

【0055】5) 前記4)により、カセット10がウエハ
移載ポート16に供給された際に、カセット10を水平
に支持することができるため、第二ウエハW2 をカセッ
ト10に対して水平に出し入れすることができ、ウエハ
移載装置40を改造しなくて済む。
5) According to the above 4), when the cassette 10 is supplied to the wafer transfer port 16, the cassette 10 can be supported horizontally, so that the second wafer W 2 is held horizontally with respect to the cassette 10. It can be taken in and out, so that the wafer transfer device 40 does not need to be modified.

【0056】なお、本発明は前記実施の形態に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変
更が可能であることはいうまでもない。
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and it goes without saying that various changes can be made without departing from the spirit of the present invention.

【0057】例えば、第一ウエハ(三百mmウエハ)を
ポッドに収納して扱う場合について説明したが、第一ウ
エハは三百mmウエハ対応のカセットに収納して扱って
もよい。この場合にはポッドオープナ等は省略すること
ができる。
For example, although the case where the first wafer (three-hundred mm wafer) is accommodated in the pod and handled has been described, the first wafer may be housed and handled in a cassette corresponding to the three hundred mm wafer. In this case, the pod opener and the like can be omitted.

【0058】ウエハ移載ポートは上下二段設置するに限
らず、一段でもよいし、上中下三段等のように三段以上
設置してもよい。
The wafer transfer port is not limited to the two-stage upper and lower stages, but may be one stage, or three or more stages, such as upper, middle and lower stages.

【0059】基板はウエハに限らず、ホトマスクやプリ
ント配線基板、液晶パネル、コンパクトディスクおよび
磁気ディスク等であってもよい。
The substrate is not limited to a wafer, but may be a photomask, a printed wiring board, a liquid crystal panel, a compact disk, a magnetic disk, or the like.

【0060】CVD装置は成膜処理に使用するに限ら
ず、酸化膜形成処理や拡散処理等の熱処理にも使用する
ことができる。
The CVD apparatus can be used not only for a film forming process but also for a heat treatment such as an oxide film forming process and a diffusion process.

【0061】前記実施の形態ではバッチ式縦形CVD装
置の場合について説明したが、本発明はこれに限らず、
バッチ式縦形熱処理装置(拡散装置、酸化装置等)等の
半導体製造装置全般に適用することができる。
In the above embodiment, the case of a batch type vertical CVD apparatus has been described. However, the present invention is not limited to this.
The present invention can be applied to all semiconductor manufacturing apparatuses such as a batch type vertical heat treatment apparatus (diffusion apparatus, oxidation apparatus, etc.).

【0062】[0062]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体製造装置の大掛かりな改造を要することなく外径
が異なる基板を扱うことができる。
As described above, according to the present invention,
Substrates having different outer diameters can be handled without requiring major remodeling of the semiconductor manufacturing apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態であるCVD装置を示す
概略斜視図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view showing a CVD apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】ポッドを示しており、(a)は一部切断正面
図、(b)は一部切断側面図、(c)は一部切断底面図
である。
2A and 2B show a pod, wherein FIG. 2A is a partially cut front view, FIG. 2B is a partially cut side view, and FIG. 2C is a partially cut bottom view.

【図3】カセットを扱うI/Oステージを示す分解斜視
図である。
FIG. 3 is an exploded perspective view showing an I / O stage for handling a cassette.

【図4】同じくI/Oステージを示す側面断面図であ
る。
FIG. 4 is a side sectional view showing the I / O stage.

【図5】そのカセットのピックアップ状態を示す側面断
面図である。
FIG. 5 is a side sectional view showing a pickup state of the cassette.

【図6】回転棚を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a rotating shelf.

【図7】その側面断面図である。FIG. 7 is a side sectional view thereof.

【図8】カセットを扱うウエハ移載ポートを示す側面断
面図である。
FIG. 8 is a side sectional view showing a wafer transfer port for handling a cassette.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 …第一ウエハ(三百mmウエハ、基板)、W2 …第
二ウエハ(二百mmウエハ、基板)、1…CVD装置
(半導体製造装置)、2…筐体、3…ヒータユニット、
4…プロセスチューブ、5…ガス導入管、6…排気管、
7…エレベータ、8…ボート、9…ポッド(キャリ
ア)、9a…キャップ、9b…V溝(雌キネマチックカ
ップリング)、10…カセット(キャリア)、10a…
保持溝、10b…脚、10c…把手、11…I/Oステ
ージ、12…載置台、12a…ピン(雄キネマチックカ
ップリング)、13…回転棚、14…棚板、15…載置
部、15a…ピン(雄キネマチックカップリング)、1
6…ウエハ移載ポート、17…載置台、17a…ピン
(雄キネマチックカップリング)、20…キャリア搬送
装置、21…リニアアクチュエータ、22…移動台、2
3…エレベータ、24…昇降台、25…ロータリーアク
チュエータ、26…第一アーム、27…第二アーム、2
8…ロータリーアクチュエータ、29…保持プレート、
29a…低いピン、29b、29c…高いピン、30…
アダプタプレート(第一のアダプタプレート)、31…
本体、32…アダプタプレートV溝(雌キネマチックカ
ップリング)、33、34、35…位置決めブロック、
40…ウエハ移載装置、41…ツィーザ。
W 1 : first wafer (300 mm wafer, substrate), W 2 : second wafer (200 mm wafer, substrate), 1: CVD apparatus (semiconductor manufacturing apparatus), 2: housing, 3: heater unit,
4 ... process tube, 5 ... gas introduction pipe, 6 ... exhaust pipe,
7 elevator, 8 boat, 9 pod (carrier), 9a cap, 9b V-groove (female kinematic coupling), 10 cassette (carrier), 10a ...
Holding groove, 10b leg, 10c handle, 11 I / O stage, 12 mounting table, 12a pin (male kinematic coupling), 13 rotating shelf, 14 shelf board, 15 mounting section, 15a: Pin (male kinematic coupling), 1
6 wafer transfer port, 17 mounting table, 17a pin (male kinematic coupling), 20 carrier transfer device, 21 linear actuator, 22 moving table, 2
3 elevator, 24 elevator, 25 rotary actuator, 26 first arm, 27 second arm, 2
8 rotary actuator 29 holding plate
29a: low pin, 29b, 29c: high pin, 30 ...
Adapter plate (first adapter plate), 31 ...
Main body, 32: Adapter plate V groove (female kinematic coupling), 33, 34, 35: Positioning block,
40: wafer transfer device; 41: tweezer.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松永 建久 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内 Fターム(参考) 5F031 CA02 CA05 CA07 CA09 DA01 DA17 FA03 FA07 GA02 GA06 GA07 GA47 GA48 GA49 KA03 KA12 KA17 MA13 MA28 PA16 5F045 BB08 BB10 DP19 DQ05 EM08 EN05  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Tatehisa Matsunaga 3-14-20 Higashinakano, Nakano-ku, Tokyo International Electric Co., Ltd. F-term (reference) 5F031 CA02 CA05 CA07 CA09 DA01 DA17 FA03 FA07 GA02 GA06 GA07 GA47 GA48 GA49 KA03 KA12 KA17 MA13 MA28 PA16 5F045 BB08 BB10 DP19 DQ05 EM08 EN05

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 キャリアを搬送するキャリア搬送装置
と、基板を収納したカセットを収納された基板が水平状
態になるように載置するアダプタプレートとを備えてお
り、前記キャリア搬送装置には前記アダプタプレートを
傾斜させた状態で保持する保持プレートが設けられてい
ることを特徴とする半導体製造装置。
1. A carrier transport device for transporting a carrier, and an adapter plate on which a substrate storing a cassette storing the substrates is placed so as to be in a horizontal state, wherein the carrier transport device includes the adapter. A semiconductor manufacturing apparatus comprising a holding plate for holding a plate in an inclined state.
【請求項2】 前記アダプタプレートの前記カセット保
持面と反対側の主面には複数個の溝が没設されており、
前記保持プレートには前記各溝にそれぞれ嵌合する複数
本のピンが突設されているとともに、これらピンの長さ
が前記アダプタプレートの傾斜に対応してそれぞれ設定
されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体製
造装置。
2. A plurality of grooves are recessed in a main surface of the adapter plate opposite to the cassette holding surface,
The holding plate is provided with a plurality of pins projecting into the respective grooves, and the lengths of the pins are set corresponding to the inclination of the adapter plate. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1.
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