JP2002092587A - Target measuring device - Google Patents
Target measuring deviceInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば宇宙航行
体に搭載されて宇宙空間に各種構造物を構築したり、各
種の宇宙実験に供する作業対象物の据付け作業を含む交
換作業等に供するマニピュレータシステムや、宇宙航行
体同士をランデブードッキングさせるドッキングシステ
ム等に用いるのに好適する目標測定装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a manipulator which is mounted on a spacecraft, for example, for constructing various structures in outer space, and for exchanging work including installation work of work objects used for various space experiments. The present invention relates to a target measuring device suitable for use in a system or a docking system for rendezvous-docking space vehicles.
【0002】[0002]
【従来の技術】宇宙開発の分野においては、人間が常駐
可能な宇宙ステーションを宇宙空間に建設して、この宇
宙ステーションを宇宙基地として他の宇宙機の保守点検
等を実現したり、宇宙空間における各種の宇宙実験等を
行なう計画が進められている。このような宇宙ステーシ
ョン建設構想は、建築物資の運搬や組立て作業を、人間
に代わって作業用マニピュレータを遠隔的に操作して実
行するマニピュレータシステムを用いることが考えられ
ている。2. Description of the Related Art In the field of space development, a space station in which humans can reside is constructed in space, and this space station is used as a space base to implement maintenance and inspection of other spacecraft, Plans are underway to conduct various space experiments. In such a space station construction concept, it is considered to use a manipulator system that executes a work manipulator by remotely operating a work manipulator on behalf of a human to carry out and assemble building materials.
【0003】ところで、このようなマニピュレータシス
テムにおいては、図7に示すように作業用マニピュレー
タ本体1に撮像カメラ2を搭載して、その作業目標とな
る作業対象3には、複数のマーカを備えたターゲット部
材4を、把持用の取っ手3aに対応して取り付け配置し
た目標測定装置が備えられ、この目標測定装置で作業対
象3の位置及び姿勢を検出することにより、マニピュレ
ータ本体1の遠隔操作を実行する方法が採用されてい
る。By the way, in such a manipulator system, as shown in FIG. 7, an imaging camera 2 is mounted on a work manipulator main body 1, and a work target 3 as a work target is provided with a plurality of markers. A target measuring device is provided in which the target member 4 is attached and arranged corresponding to the grip 3a for gripping, and the position and orientation of the work target 3 are detected by the target measuring device to execute remote control of the manipulator body 1. The method is adopted.
【0004】即ち、この目標測定装置は、先ずマニピュ
レータ本体1の撮像カメラ2で、作業対象3に設けたタ
ーゲット部材4を撮影して、そのターゲット画像が取得
される。このターゲット画像は、図示しない演算処理部
において、例えば全256階調の中心の128階調を閾
値としたり、あるいは使用者が感覚的に決定した閾値に
基づいて二値化処理されてマーカ画像が抽出されて、そ
の画像解析により、作業対象3の位置及び姿勢が求めら
れる。そして、この作業対象3の位置及び姿勢情報に基
づいてマニピュレータ本体1が遠隔的に駆動制御され
て、その把持部1aで作業対象3の取っ手3aを把持し
たりして所望の作業が実行される。That is, in this target measuring device, first, the imaging camera 2 of the manipulator main body 1 captures an image of the target member 4 provided on the work target 3, and the target image is obtained. This target image is subjected to a binarization process based on a threshold value determined by the user, for example, using a 128-level gradation at the center of all 256 gradation levels in an arithmetic processing unit (not shown), and a marker image is formed. The position and orientation of the work target 3 are extracted and analyzed by the image analysis, and the position and orientation of the work target 3 are obtained. Then, the manipulator body 1 is remotely driven and controlled based on the position and orientation information of the work target 3, and a desired work is performed by gripping the handle 3 a of the work target 3 with the grip portion 1 a. .
【0005】しかしながら、上記目標測定装置では、そ
の撮像環境等に応じて撮像カメラ2で撮像したターゲッ
ト画像を二値化処理を行った状態で、その二値化画像の
全体が暗くなったりしてマーカ画像を識別するのが困難
となる虞があるために、その画像解析の信頼性が劣り、
測定精度が劣るという問題を有する。[0005] However, in the above-described target measurement device, the entire binarized image may be darkened in a state where the binarization process is performed on the target image captured by the imaging camera 2 according to the imaging environment or the like. Since the marker image may be difficult to identify, the reliability of the image analysis is poor,
There is a problem that the measurement accuracy is poor.
【0006】このため、マニピュレータシステム等に適
用した場合、マニピュレータ本体1を遠隔操作するオペ
レータの作業負荷が非常に大きく、そのオペレーション
作業を非常に煩雑なものとするという問題を有する。For this reason, when applied to a manipulator system or the like, there is a problem that the workload of an operator who remotely operates the manipulator body 1 is very large, and the operation work is very complicated.
【0007】係る事情は、マニピュレータシステムに限
るものでなく、例えば宇宙空間において宇宙航行体同士
のランデブードッキングを、地上局等より遠隔的に行う
ようなシステムに適用した場合においても同様である。[0007] Such a situation is not limited to the manipulator system, and is the same when, for example, the present invention is applied to a system in which rendezvous docking between space vehicles in space is performed remotely from a ground station or the like.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来の目標測定装置では、画像解析の信頼性が劣り、測定
精度が劣るという問題を有する。As described above, the conventional target measuring apparatus has a problem that the reliability of image analysis is low and the measurement accuracy is low.
【0009】この発明は、上記の事情に鑑みてなされた
もので、信頼性の高い高精度な画像解析を実現して、測
定精度の向上を図り得るようにした目標測定装置を提供
することを目的とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a target measuring apparatus capable of realizing highly reliable and accurate image analysis and improving measurement accuracy. Aim.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】この発明は、目標物に設
けられ、周囲と明るさの異なる少なくとも1個のマーカ
が設けられたターゲット部材と、前記目標物を追尾する
移動体に設けられ、前記ターゲット部材を撮像する撮像
手段と、この撮像手段で撮像したターゲット画像を平滑
化処理を施した後、微分フィルタ処理を施して作業画像
を生成して、この作業画像の明るさの変化が大きい場所
を抽出し、この抽出した場所データに対応する前記ター
ゲット画像の画素及び該画素の周囲の複数画素の中から
最も明るい画素をそれぞれ選択して、その最も明るい画
素の平均値を閾値として前記ターゲット画像を二値化処
理し、この二値化処理した画像データに基づいて前記目
標物の少なくとも位置を算出する演算処理手段とを備え
て目標測定装置を構成した。According to the present invention, a target member provided on a target and provided with at least one marker different in brightness from the surroundings is provided on a moving body for tracking the target. An imaging unit for imaging the target member, and after performing a smoothing process on the target image captured by the imaging unit, perform a differential filter process to generate a work image, and a change in brightness of the work image is large. A location is extracted, and a pixel of the target image corresponding to the extracted location data and a brightest pixel selected from a plurality of pixels surrounding the pixel are selected. A target measuring device, comprising: Form was.
【0011】上記構成によれば、取得したターゲット画
像を平滑化処理して微分フィルタ処理した作業画像を生
成し、この作業画像の中の明るさの変化が大きな場所を
抽出して、その明るさの大きな場所に対応するターゲッ
ト画像の画素及び該画素の周囲の複数画素の中から最も
明るい画素を選択して、その画素の平均値を閾値として
ターゲット画像の二値化処理を行っていることにより、
ターゲット画像毎に最適な閾値の設定が可能となり、安
定した信頼性の高い画像データが取得される。従って、
信頼性の高い画像データに基づいて画像解析を行うこと
が可能となり、信頼性の高い安定した高精度な目標物の
位置算出が可能となる。According to the above arrangement, a working image is obtained by subjecting the acquired target image to a smoothing process and a differential filter process, and a place where the change in brightness is large in the working image is extracted. By selecting the brightest pixel from the pixels of the target image corresponding to the large location of the target image and a plurality of pixels surrounding the pixel, and performing the binarization process of the target image using the average value of the pixels as a threshold value ,
An optimum threshold can be set for each target image, and stable and reliable image data is obtained. Therefore,
Image analysis can be performed based on highly reliable image data, and stable and highly accurate target position calculation can be performed.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、図面を参照して詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【0013】図1は、この発明の一実施の形態に係る目
標測定装置を示すもので、マニピュレータ本体10に
は、作業監視用の撮像カメラ11が搭載される。この撮
像カメラ11には、演算処理部12が接続され、この演
算処理部12には、撮像カメラ11で撮影したターゲッ
ト画像が入力される。FIG. 1 shows a target measuring device according to an embodiment of the present invention. A manipulator main body 10 has an imaging camera 11 for monitoring work. An arithmetic processing unit 12 is connected to the imaging camera 11, and a target image captured by the imaging camera 11 is input to the arithmetic processing unit 12.
【0014】演算処理部12は、詳細を後述するように
入力したターゲット画像(図2参照)を平滑化処理し
て、微分フィルタ処理を施して作業画像(エッジ部分を
抽出した画像)(図3参照)を生成し、この作業画像の
明るさの変化が大きい場所を抽出する。その後、演算処
理部12は、作業画像における抽出した場所データに対
応する、撮像カメラ11で撮影したターゲット画像の画
素及び該画素の周囲の複数画素の中から最も明るい画素
をそれぞれ選択して(図4参照)、その最も明るい画素
の平均値を閾値として前記ターゲット画像を二値化処理
し、この二値化処理した画像データ(図5参照)を生成
し、この画像データに基づいて例えば目標物の位置及び
姿勢を算出する。The arithmetic processing unit 12 smoothes the input target image (see FIG. 2) as will be described in detail later, performs a differential filtering process on the target image, and extracts a working image (image obtained by extracting an edge portion) (FIG. 3). ) Is extracted, and a place where the change in brightness of the work image is large is extracted. Thereafter, the arithmetic processing unit 12 selects the brightest pixel from among the pixels of the target image captured by the imaging camera 11 and the plurality of pixels surrounding the pixel corresponding to the extracted location data in the work image (FIG. 4), the target image is binarized using the average value of the brightest pixels as a threshold, and the binarized image data is generated (see FIG. 5). Is calculated.
【0015】なお、上記図2乃至図5においては、便宜
上、各図において、波線で、明暗の境界を図示する。In FIGS. 2 to 5, for convenience, the boundary between light and dark is shown by a broken line in each figure.
【0016】また、上記マニピュレータ本体10に対向
して作業目標の作業対象13には、目標測定用のターゲ
ット部材14が取付配置される。このターゲット部材1
4は、例えば一方面が黒色に形成され、その一方面上に
は、第1乃至第3のマーカ141、142、143が所
定の間隔に配列されて設けられる。A target member 14 for measuring a target is attached to the work target 13 as a work target facing the manipulator body 10. This target member 1
4 has, for example, one surface formed in black, and on one surface, first to third markers 141, 142, and 143 are provided at predetermined intervals.
【0017】このうち第1及び第3のマーカ141、1
42、143は、例えば白色等の明るい色彩を施した略
円状に形成される。他方、第1乃至第3のマーカ14
1、143の中間部に位置する第2のマーカ142は、
略円柱状に形成され、その先端が例えば白色等の明るい
色彩を施される。The first and third markers 141, 1
Reference numerals 42 and 143 are formed in a substantially circular shape having a bright color such as white. On the other hand, the first to third markers 14
The second marker 142 located at an intermediate portion between the first and the first 143 is
It is formed in a substantially columnar shape, and its tip is given a bright color such as white.
【0018】上記構成において、マニピュレータ本体1
0の遠隔操作を実行する場合には、先ず、マニピュレー
タ本体10が駆動制御されると共に、その撮像カメラ1
1で作業対象13のターゲット部材14が撮影されて、
そのターゲット画像(図2参照)が演算処理部12に入
力される。In the above configuration, the manipulator body 1
0, the manipulator body 10 is first driven and controlled, and its imaging camera 1 is controlled.
At 1, the target member 14 of the work target 13 is photographed,
The target image (see FIG. 2) is input to the arithmetic processing unit 12.
【0019】ここで、演算処理部12は、図6に示すよ
うにステップS1でターゲット画像が入力されると、ス
テップS2で、入力したターゲット画像(図2参照、マ
ーカ画像と周囲画像の境界のぼやけた画像)を平滑化処
理を施した後、微分フィルタ処理を施していわゆる画像
エッジ部分を抽出した作業画像(図3参照)を生成す
る。Here, as shown in FIG. 6, when the target image is input in step S1 as shown in FIG. 6, in step S2, the arithmetic processing unit 12 checks the input target image (see FIG. 2, the boundary between the marker image and the surrounding image). After performing a smoothing process on the (blurred image), a differential filter process is performed to generate a work image (see FIG. 3) in which a so-called image edge portion is extracted.
【0020】続いて、ステップS3では、抽出した作業
画像の明るさの変化が大きい場所を抽出し、この抽出し
た場所データに対応する上記図2に示すターゲット画像
の画素及び該画素の周囲の複数画素、例えば8画素の計
9画素を選択する。Subsequently, in step S3, a place where the brightness of the extracted work image has a large change in brightness is extracted, and a pixel of the target image shown in FIG. 2 corresponding to the extracted place data and a plurality of pixels around the pixel are extracted. Pixels, for example, a total of 9 pixels of 8 pixels are selected.
【0021】そして、ステップS4では、選択した1画
素+8画素の計9画素の中から最も明るい画素をそれぞ
れ抽出し(図4参照)、その最も明るい画素の平均値を
算出して、その平均値を求め、この平均値、例えば91
階調を閾値として上記ターゲット画像を二値化処理して
図5に示すようなマーカ画像と周囲画像の明暗のある画
像データを求める。続いて、ステップS5において、求
めた画像データに基づいて上記目標物の位置及び姿勢を
算出する。In step S4, the brightest pixels are respectively extracted from the selected 1 pixel + 8 pixels, that is, 9 pixels in total (see FIG. 4), the average value of the brightest pixels is calculated, and the average value is calculated. And calculate the average value, for example, 91
The target image is binarized using the gradation as a threshold to obtain bright and dark image data of the marker image and the surrounding image as shown in FIG. Subsequently, in step S5, the position and orientation of the target are calculated based on the obtained image data.
【0022】このような位置及び姿勢に算出動作は、撮
像カメラ11がターゲット画像を取得した状態で、上記
ステップS1〜ステップS5の手順を繰り返し実行して
リアルタイムで画像データを生成して、その画像データ
に基づいて対象物の位置及び姿勢を算出する。In such an operation for calculating the position and orientation, the image data is generated in real time by repeatedly executing the above-described steps S1 to S5 in a state where the imaging camera 11 has acquired the target image. The position and orientation of the object are calculated based on the data.
【0023】ここで、上記マニピュレータ本体は、演算
処理部12で算出した対象物13の位置及び姿勢情報に
基づいて図示しない駆動制御部を介して駆動制御され、
その把持部で作業対象13を把持して所望の作業が実行
される。The manipulator body is driven and controlled via a drive control unit (not shown) based on the position and orientation information of the object 13 calculated by the arithmetic processing unit 12,
A desired work is executed by holding the work target 13 with the holding portion.
【0024】このように、上記目標測定装置は、撮像カ
メラ11で撮影したターゲット画像を平滑化処理して微
分フィルタ処理して作業画像を生成し、この作業画像の
中の明るさの変化が大きな場所を抽出して、その明るさ
の大きな場所に対応するターゲット画像の画素及び該画
素の周囲の複数画素の中から最も明るい画素を選択し
て、その画素の平均値を閾値としてターゲット画像の二
値化処理を行って画像データを生成し、この画像データ
に基づいて作業対象13の位置及び姿勢を算出するよう
に構成した。As described above, the target measuring device generates a work image by performing a smoothing process and a differential filter process on the target image photographed by the imaging camera 11, and a change in brightness in the work image is large. The location is extracted, and the brightest pixel is selected from the pixels of the target image corresponding to the location having the higher brightness and a plurality of pixels around the pixel, and the average value of the pixels is used as a threshold value to select the target image. Image data is generated by performing a binarization process, and the position and orientation of the work target 13 are calculated based on the image data.
【0025】これによれば、ターゲット画像毎に最適な
閾値の設定が可能となり、安定した信頼性の高い画像デ
ータが取得されることにより、信頼性の高い画像データ
に基づいて画像解析を行うことが可能となるため、信頼
性の高い安定した高精度な作業対象13の位置及び姿勢
を求めることができる。According to this, an optimum threshold value can be set for each target image, and stable and highly reliable image data is obtained, so that image analysis can be performed based on highly reliable image data. Therefore, the position and orientation of the work target 13 can be determined with high reliability and stability.
【0026】また、上記実施の形態では、第1乃至第3
のマーカ141、142、143を備えたターゲット部
材14を作業対象13に取付配置して、作業対象13の
位置及び姿勢を測定するように構成した場合で説明した
が、これに限ることなく、例えば1個のマークを設けた
ターゲット部材に作業対象13に取付配置して、作業対
象13の位置のみを測定する構成のものにおいても、適
用可能で略同様の効果が期待される。In the above embodiment, the first to third
The description has been given of the case where the target member 14 having the markers 141, 142, and 143 is attached to the work object 13 to measure the position and orientation of the work object 13. However, the present invention is not limited to this. It is also applicable to a configuration in which only the position of the work target 13 is measured by mounting the work target 13 on a target member provided with one mark, and substantially the same effect is expected.
【0027】なお、上記実施の形態では、制御対象とし
て、宇宙空間に構築されるマニピュレータ本体10を、
地上側から遠隔操作するシステムに適用した場合で説明
したが、これに限ることなく、その他、例えば宇宙空間
において、人工衛星等の宇宙航行体を遠隔操作して宇宙
航行体同士をいわゆるランデブードッキングさせるシス
テムにおいても適用可能である。In the above embodiment, the manipulator body 10 constructed in outer space is used as a control object.
The description has been given of the case where the present invention is applied to a system that is remotely controlled from the ground. However, the present invention is not limited to this. For example, in space, a space vehicle such as an artificial satellite is remotely controlled to cause so-called rendezvous docking between space vehicles. It is also applicable in a system.
【0028】また、上記実施の形態では、宇宙空間と地
上との間で遠隔操作するシステムに適用した場合で説明
したが、これに限ることなく、例えば遠く離れた地上間
において、操作対象物を遠隔操作したりするシステムに
おいても適用可能であり、略同様の効果が期待される。Further, in the above-described embodiment, the case where the present invention is applied to a system for remotely operating between outer space and the ground has been described. However, the present invention is not limited to this. The present invention can be applied to a system that is remotely operated, and substantially the same effect can be expected.
【0029】よって、この発明は、上記実施の形態に限
ることなく、その他、実施段階ではその要旨を逸脱しな
い範囲で種々の変形を実施し得ることが可能である。さ
らに、上記実施形態には、種々の段階の発明が含まれて
おり、開示される複数の構成要件における適宜な組合せ
により種々の発明が抽出され得る。Therefore, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various other modifications can be made in the implementation stage without departing from the scope of the invention. Further, the above embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements.
【0030】例えば実施形態に示される全構成要件から
幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようと
する課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果で述
べられている効果が得られる場合には、この構成要件が
削除された構成が発明として抽出され得る。For example, even if some components are deleted from all the components shown in the embodiment, the problem described in the section of the problem to be solved by the invention can be solved, and the effects described in the effects of the invention can be solved. Is obtained, a configuration from which this configuration requirement is deleted can be extracted as an invention.
【0031】[0031]
【発明の効果】以上詳述したように,この発明によれ
ば、信頼性の高い高精度な画像解析を実現して、測定精
度の向上を図り得るようにした目標測定装置を提供する
ことができる。As described in detail above, according to the present invention, it is possible to provide a target measuring apparatus which can realize highly reliable and accurate image analysis and can improve the measuring accuracy. it can.
【図1】この発明の一実施の形態に係る目標測定装置の
構成を示した構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing a configuration of a target measurement device according to an embodiment of the present invention.
【図2】ターゲット画像の一部を拡大して示した図であ
る。FIG. 2 is an enlarged view of a part of a target image.
【図3】作業画像の一部を拡大して示した図である。FIG. 3 is an enlarged view of a part of a work image.
【図4】最も明るい画素を抽出した画像を示した図であ
る。FIG. 4 is a diagram showing an image in which the brightest pixels are extracted.
【図5】二値化処理をした画像データを示した図であ
る。FIG. 5 is a diagram showing image data subjected to a binarization process.
【図6】図1の演算処理部の画像処理動作を説明するた
めに示したフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart shown to explain an image processing operation of the arithmetic processing unit in FIG. 1;
【図7】従来の目標測定装置の問題点を説明するために
示した図である。FIG. 7 is a diagram shown to explain a problem of a conventional target measuring device.
10 … マニピュレータ本体。 11 … 撮像カメラ。 12 … 演算処理部。 13 … 作業対象。 14 … ターゲット部材。 141 … 第1のマーカ。 142 … 第2のマーカ。 143 … 第3のマーカ。 10 ... manipulator body. 11 An imaging camera. 12 ... arithmetic processing unit. 13 ... Work target. 14 Target member. 141... First marker. 142... Second marker. 143... Third marker.
Claims (4)
る少なくとも1個のマーカが設けられたターゲット部材
と、 前記目標物を追尾する移動体に設けられ、前記ターゲッ
ト部材を撮像する撮像手段と、 この撮像手段で撮像したターゲット画像を平滑化処理を
施した後、微分フィルタ処理を施して作業画像を生成し
て、この作業画像の明るさの変化が大きい場所を抽出
し、この抽出した場所データに対応する前記ターゲット
画像の画素及び該画素の周囲の複数画素の中から最も明
るい画素をそれぞれ選択して、その最も明るい画素の平
均値を閾値として前記ターゲット画像を二値化処理し、
この二値化処理した画像データに基づいて前記目標物の
少なくとも位置を算出する演算処理手段とを具備したこ
とを特徴とする目標測定装置。1. A target member provided on a target and provided with at least one marker having a different brightness from the surroundings; and an imaging means provided on a moving body that tracks the target and imaging the target member. After performing a smoothing process on the target image captured by the imaging unit, a differential filter process is performed to generate a work image, and a place where the change in brightness of the work image is large is extracted. A pixel of the target image corresponding to the location data and a brightest pixel are selected from a plurality of pixels around the pixel, and the target image is binarized using an average value of the brightest pixels as a threshold,
A target measuring device comprising: an arithmetic processing unit that calculates at least a position of the target based on the image data subjected to the binarization processing.
像の画素及びその周囲の複数の画素の中から最も暗い画
素を選択し、その最も暗い画素の平均値を閾値とするこ
とを特徴とする請求項1記載の目標測定装置。2. The method according to claim 1, wherein the arithmetic processing unit selects a darkest pixel from the pixels of the target image and a plurality of pixels around the pixel, and sets an average value of the darkest pixels as a threshold. Item 2. The target measuring device according to Item 1.
が所定の間隔に配設され、前記演算処理手段は、二値化
処理した画像データに基づいて前記目標物の位置及び姿
勢を算出することを特徴とする請求項1又は2記載の目
標測定装置。3. A method according to claim 2, wherein a plurality of markers are arranged on the target member at predetermined intervals, and the arithmetic processing means calculates the position and orientation of the target based on the binarized image data. The target measuring device according to claim 1 or 2, wherein:
場所データに対応するターゲット画像の画素及び該画素
の周囲、8個の計9個の画素をそれぞれ選択して、個の
9個の画素の中の最も明るい画素を選択して、その最も
明るい画素の平均値を閾値として前記ターゲット画像を
二値化処理し、この二値化処理した画像データに基づい
て前記目標物の少なくとも位置を算出することを特徴と
する請求項1乃至3のいずれか記載の目標測定装置。4. A pixel of the target image corresponding to the location data of the working image generated by the arithmetic processing means, and a total of nine pixels around the pixel, each of which is selected from the nine pixels. Is selected, and the target image is binarized using the average value of the brightest pixels as a threshold value, and at least the position of the target is calculated based on the binarized image data. 4. The target measuring device according to claim 1, wherein
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002092587A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108213898A (en) * | 2018-01-12 | 2018-06-29 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | A kind of in-orbit assembling docking facilities |
KR20200006863A (en) | 2018-07-11 | 2020-01-21 | 한국생산기술연구원 | Apparatus and method for measuring density of metal product using optical microscope image |
-
2000
- 2000-09-19 JP JP2000284411A patent/JP2002092587A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108213898A (en) * | 2018-01-12 | 2018-06-29 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | A kind of in-orbit assembling docking facilities |
KR20200006863A (en) | 2018-07-11 | 2020-01-21 | 한국생산기술연구원 | Apparatus and method for measuring density of metal product using optical microscope image |
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