JP2002090404A - 切替え素子を備えた電子負荷装置 - Google Patents
切替え素子を備えた電子負荷装置Info
- Publication number
- JP2002090404A JP2002090404A JP2000281649A JP2000281649A JP2002090404A JP 2002090404 A JP2002090404 A JP 2002090404A JP 2000281649 A JP2000281649 A JP 2000281649A JP 2000281649 A JP2000281649 A JP 2000281649A JP 2002090404 A JP2002090404 A JP 2002090404A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- power supply
- switching element
- resistance
- electronic load
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】
【課題】複数の切替え素子を有した電子負荷装置におい
て、メカニカルリレーの接点開閉回数の増加に伴うＯＮ
抵抗の漸増や機械的寿命による問題を解消し、安定した
ＯＮ抵抗を維持しながら長寿命の切替え素子を有した電
子負荷装置を提供する。 【解決手段】切替え素子に複数の半導体スイッチ素子を
使用して、ＯＮ時の抵抗をメカニカルリレーより低減す
るとともに、ＯＦＦ時の抵抗が半導体スイッチ素子の寄
生容量により低下する問題についてもコモンモードチョ
ークコイルの付加により実用周波数帯域において十分な
高周波絶縁特性を有した長寿命の切替え素子を有した電
子負荷装置を提供する。
て、メカニカルリレーの接点開閉回数の増加に伴うＯＮ
抵抗の漸増や機械的寿命による問題を解消し、安定した
ＯＮ抵抗を維持しながら長寿命の切替え素子を有した電
子負荷装置を提供する。 【解決手段】切替え素子に複数の半導体スイッチ素子を
使用して、ＯＮ時の抵抗をメカニカルリレーより低減す
るとともに、ＯＦＦ時の抵抗が半導体スイッチ素子の寄
生容量により低下する問題についてもコモンモードチョ
ークコイルの付加により実用周波数帯域において十分な
高周波絶縁特性を有した長寿命の切替え素子を有した電
子負荷装置を提供する。
Description
【０００１】
【発明が属する技術分野】本発明は、電源装置の負荷試
験に使用される電子負荷装置に関するものである。
験に使用される電子負荷装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】各種電源装置の負荷特性試験に使用され
る電子負荷装置において、試験時間の短縮は電源装置の
生産性向上から強く要求されるところであり、供試電源
装置と電子負荷装置の接続においても接続端子台やコネ
クターによる接続手段を複数個設けて負荷試験の効率を
向上させる手法は広く採用されている。例えば、接続手
段が２系統ある場合には、一方の接続手段に供試電源が
接続され負荷試験が開始されると、もう一方の接続手段
は自動的に電子負荷装置との接続が解除され次に負荷試
験に供する電源の接続が可能になり、作業者に表示灯の
点滅で接続の可否を明示するなどの手法が知られてい
る。
る電子負荷装置において、試験時間の短縮は電源装置の
生産性向上から強く要求されるところであり、供試電源
装置と電子負荷装置の接続においても接続端子台やコネ
クターによる接続手段を複数個設けて負荷試験の効率を
向上させる手法は広く採用されている。例えば、接続手
段が２系統ある場合には、一方の接続手段に供試電源が
接続され負荷試験が開始されると、もう一方の接続手段
は自動的に電子負荷装置との接続が解除され次に負荷試
験に供する電源の接続が可能になり、作業者に表示灯の
点滅で接続の可否を明示するなどの手法が知られてい
る。
【０００３】この複数の接続手段を有する負荷特性試験
装置において、費用面から電子負荷装置は１台とし、か
つ複数の接続手段に使用されるスイッチ素子にはＯＮ時
の抵抗が負荷特性試験に影響与えない十分に低い値であ
ることが要求され、ＯＦＦ時の抵抗は負荷試験に供され
ていない電源装置の接続・切断作業が行われるために十
分に高い値でなければ、接続されて負荷試験に供されて
いる電源装置の負荷特性試験や、負荷特性試験時に同時
に行われるリップルやノイズ測定にも影響を与えてしま
うためにメカニカルリレーが広く使用されている。一例
として松下電工製のＨＧ型メカニカルリレーでは接点接
触抵抗の初期値は１５ｍΩであるが、メカニカルリレー
には数万回から数十万回の接点動作で接点寿命がくるこ
とや、接点開閉の回数による接点形状変化等によるＯＮ
時の抵抗値増大等の問題から切替え回数を管理して定格
寿命回数以下で早期に交換して、メカニカルリレーの接
点動作不良や溶着などによる致命的な問題の防止の他
に、接点の繰り返し動作によるＯＮ抵抗の漸増の問題を
回避するため定期的に点検校正を行って供試電源の負荷
特性試験結果への悪影響を防止している。
装置において、費用面から電子負荷装置は１台とし、か
つ複数の接続手段に使用されるスイッチ素子にはＯＮ時
の抵抗が負荷特性試験に影響与えない十分に低い値であ
ることが要求され、ＯＦＦ時の抵抗は負荷試験に供され
ていない電源装置の接続・切断作業が行われるために十
分に高い値でなければ、接続されて負荷試験に供されて
いる電源装置の負荷特性試験や、負荷特性試験時に同時
に行われるリップルやノイズ測定にも影響を与えてしま
うためにメカニカルリレーが広く使用されている。一例
として松下電工製のＨＧ型メカニカルリレーでは接点接
触抵抗の初期値は１５ｍΩであるが、メカニカルリレー
には数万回から数十万回の接点動作で接点寿命がくるこ
とや、接点開閉の回数による接点形状変化等によるＯＮ
時の抵抗値増大等の問題から切替え回数を管理して定格
寿命回数以下で早期に交換して、メカニカルリレーの接
点動作不良や溶着などによる致命的な問題の防止の他
に、接点の繰り返し動作によるＯＮ抵抗の漸増の問題を
回避するため定期的に点検校正を行って供試電源の負荷
特性試験結果への悪影響を防止している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このような複数の接続
手段を有する負荷特性試験装置において、メカニカルリ
レーより長寿命で、かつ供試電源の負荷特性試験に影響
を与えない半導体スイッチ素子による切替え手段を提供
し、供試電源の生産性向上に寄与する複数の接続手段を
有した電子負荷装置を提供するものである。
手段を有する負荷特性試験装置において、メカニカルリ
レーより長寿命で、かつ供試電源の負荷特性試験に影響
を与えない半導体スイッチ素子による切替え手段を提供
し、供試電源の生産性向上に寄与する複数の接続手段を
有した電子負荷装置を提供するものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】従来技術ではメカニカル
リレーにより行っていた供試電源との接続手段の切替え
を複数の半導体スイッチ素子により行い、メカニカルリ
レーに比較してはるかに長寿命の切替えを可能とすると
ともに、半導体スイッチ素子の複数使用によりＯＮ時の
抵抗を減少させ、かつ半導体スイッチ素子の寄生容量に
よりＯＦＦ時の抵抗が高周波領域でメカニカルリレーに
比較して低い問題に対しては、コモンモードチョークコ
イルを付加し実用周波数帯領域において十分なインピー
ダンスを持たせることにより負荷試験時でのリップルや
ノイズ特性試験に影響を与えない装置を提供する。
リレーにより行っていた供試電源との接続手段の切替え
を複数の半導体スイッチ素子により行い、メカニカルリ
レーに比較してはるかに長寿命の切替えを可能とすると
ともに、半導体スイッチ素子の複数使用によりＯＮ時の
抵抗を減少させ、かつ半導体スイッチ素子の寄生容量に
よりＯＦＦ時の抵抗が高周波領域でメカニカルリレーに
比較して低い問題に対しては、コモンモードチョークコ
イルを付加し実用周波数帯領域において十分なインピー
ダンスを持たせることにより負荷試験時でのリップルや
ノイズ特性試験に影響を与えない装置を提供する。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下に本発明による実施の形態を
図を参照しながら説明する。
図を参照しながら説明する。
【０００７】
【実施例】図１から図４でのＥＬは公知の電子負荷装置
であり、ＳＷ１、ＳＷ２は本発明による切替え手段であ
る。ＤＵＴ１、ＤＵＴ２は供試電源装置であり、Ｌ１、
Ｌ２はコモンモードチョークコイルである。図１及び図
３は片線切替えでの接続例であり、図２及び図４は両線
切替えでの接続例である。図５には図１〜図４でのＳＷ
１及びＳＷ２に使用される半導体スイッチにＭＯＳＦＥ
Ｔを使用した場合の回路例をしめしている。半導体スイ
ッチ素子の一例として、日本電気製のＭＯＳＦＥＴであ
る２ＳＫ３３５３ではＯＮ抵抗の代表定格値は７．５ｍ
Ωであり、メカニカルリレーでの初期接点抵抗値より低
い値となっており、かつ並列に複数個使用することによ
りさらに低いＯＮ抵抗が実現できる。このほか、ＯＮ時
の抵抗がメカニカルリレーより低い半導体スイッチ素子
として電界誘導トランジスタ等の公知の半導体スイッチ
素子を使用しても同様の効果が得られる。また、コモン
モードチョークコイルは数１０ＫＨｚでの共振周波数帯
域以上では高い高周波インピーダンスを有しており、一
般的なスイッチング電源でのリップルやノイズ試験で問
題となる数１００ＫＨｚから数１０ＭＨｚの高周波領域
では十分なインピーダンスを有していることから、前述
の半導体スイッチの寄生容量成分によるインピーダンス
低下を十分に補える特性を有している。
であり、ＳＷ１、ＳＷ２は本発明による切替え手段であ
る。ＤＵＴ１、ＤＵＴ２は供試電源装置であり、Ｌ１、
Ｌ２はコモンモードチョークコイルである。図１及び図
３は片線切替えでの接続例であり、図２及び図４は両線
切替えでの接続例である。図５には図１〜図４でのＳＷ
１及びＳＷ２に使用される半導体スイッチにＭＯＳＦＥ
Ｔを使用した場合の回路例をしめしている。半導体スイ
ッチ素子の一例として、日本電気製のＭＯＳＦＥＴであ
る２ＳＫ３３５３ではＯＮ抵抗の代表定格値は７．５ｍ
Ωであり、メカニカルリレーでの初期接点抵抗値より低
い値となっており、かつ並列に複数個使用することによ
りさらに低いＯＮ抵抗が実現できる。このほか、ＯＮ時
の抵抗がメカニカルリレーより低い半導体スイッチ素子
として電界誘導トランジスタ等の公知の半導体スイッチ
素子を使用しても同様の効果が得られる。また、コモン
モードチョークコイルは数１０ＫＨｚでの共振周波数帯
域以上では高い高周波インピーダンスを有しており、一
般的なスイッチング電源でのリップルやノイズ試験で問
題となる数１００ＫＨｚから数１０ＭＨｚの高周波領域
では十分なインピーダンスを有していることから、前述
の半導体スイッチの寄生容量成分によるインピーダンス
低下を十分に補える特性を有している。
【０００８】図５のＱ１、Ｑ２はＮチャンネル型パワー
ＭＯＳＦＥＴを使用した場合の説明であり、Ｄ１端子に
対してＣ１端子に＋５〜２０Ｖの直流電圧を印加する
と、端子Ａ１と端子Ｂ１間がＯＮ（導通）となり、Ｃ１
端子に前述の電圧を印加しない場合にはＯＦＦ（非導
通）となる。なお、このＣ１、Ｄ１端子へ印加する制御
電圧は、電子負荷装置や供試電源のグランド電位から絶
縁されていることが必要であり、絶縁型ＤＣ−ＤＣコン
バーターなどによる公知の方法でこの制御電圧を生成す
ればよく、Ｑ３、Ｑ４はＰチャンネル型パワーＭＯＳＦ
ＥＴをした場合の説明であり、Ｃ２端子、Ｄ２端子への
印可する制御電圧の極性を逆にする以外はＱ１、Ｑ２と
同様の動作となる。
ＭＯＳＦＥＴを使用した場合の説明であり、Ｄ１端子に
対してＣ１端子に＋５〜２０Ｖの直流電圧を印加する
と、端子Ａ１と端子Ｂ１間がＯＮ（導通）となり、Ｃ１
端子に前述の電圧を印加しない場合にはＯＦＦ（非導
通）となる。なお、このＣ１、Ｄ１端子へ印加する制御
電圧は、電子負荷装置や供試電源のグランド電位から絶
縁されていることが必要であり、絶縁型ＤＣ−ＤＣコン
バーターなどによる公知の方法でこの制御電圧を生成す
ればよく、Ｑ３、Ｑ４はＰチャンネル型パワーＭＯＳＦ
ＥＴをした場合の説明であり、Ｃ２端子、Ｄ２端子への
印可する制御電圧の極性を逆にする以外はＱ１、Ｑ２と
同様の動作となる。
【０００９】ここで、電子負荷装置ＥＬへ交互に供試電
源ＤＵＴ１及びＤＵＴ２が接続されて負荷試験に供され
る動作手順を図１での回路例により詳細に述べると、作
業者が端子台への結線若しくはコネクター接続などによ
り供試電源ＤＵＴ１を接続手段ＳＷ１への接続が終了し
た場合には、接続手段ＳＷ１系統への接続完了指定手段
である補助スイッチ若しくは全体を制御するパーソナル
コンピューターのマウス操作やキーボード操作により、
半導体スイッチによる切替え回路へ制御信号が送られ、
接続手段ＳＷ２の系統をＯＦＦにすると共にＳＷ１の系
統への接続が行われる。この切替え手順終了後に作業者
へＳＷ１系統の接続完了及び負荷試験開始の補助的な表
示がランプやパーソナルコンピューターの画面表示など
により行われ、併せてＳＷ２系統の接続端子の接続切離
しが同様に表示される。この、負荷試験に供されていな
い接続手段の切替え完了表示により作業者はすでに試験
を終了していた供試電源ＤＵ２を切離し、所定の負荷試
験結果の規格判定結果表示により所定の選別を行った後
に、次なる供試電源のＳＷ２系統への接続作業を行う。
この次なる供試電源の接続に際しても、本発明による切
替え回路は接続ＯＦＦ時での実用周波数帯域での十分な
インピーダンスを有していることから並行して負荷試験
中である供試電源ＤＵ１への負荷時リップルやノイズ測
定に影響を与えることなく測定及び準備作業が可能とな
る。
源ＤＵＴ１及びＤＵＴ２が接続されて負荷試験に供され
る動作手順を図１での回路例により詳細に述べると、作
業者が端子台への結線若しくはコネクター接続などによ
り供試電源ＤＵＴ１を接続手段ＳＷ１への接続が終了し
た場合には、接続手段ＳＷ１系統への接続完了指定手段
である補助スイッチ若しくは全体を制御するパーソナル
コンピューターのマウス操作やキーボード操作により、
半導体スイッチによる切替え回路へ制御信号が送られ、
接続手段ＳＷ２の系統をＯＦＦにすると共にＳＷ１の系
統への接続が行われる。この切替え手順終了後に作業者
へＳＷ１系統の接続完了及び負荷試験開始の補助的な表
示がランプやパーソナルコンピューターの画面表示など
により行われ、併せてＳＷ２系統の接続端子の接続切離
しが同様に表示される。この、負荷試験に供されていな
い接続手段の切替え完了表示により作業者はすでに試験
を終了していた供試電源ＤＵ２を切離し、所定の負荷試
験結果の規格判定結果表示により所定の選別を行った後
に、次なる供試電源のＳＷ２系統への接続作業を行う。
この次なる供試電源の接続に際しても、本発明による切
替え回路は接続ＯＦＦ時での実用周波数帯域での十分な
インピーダンスを有していることから並行して負荷試験
中である供試電源ＤＵ１への負荷時リップルやノイズ測
定に影響を与えることなく測定及び準備作業が可能とな
る。
【００１０】また、本発明による切替え手段は半導体ス
イッチであることから、従来技術でのメカニカルリレー
による切替え手段でのＯＮ抵抗の経時的増大に対する校
正点検や、メカニカルリレーの公称定格接点開閉回数以
内での定期的交換などの付帯的な保守作業を必要としな
いために、供試電源の負荷測定試験の効率向上及び全体
的な費用低減の効果が得られる。
イッチであることから、従来技術でのメカニカルリレー
による切替え手段でのＯＮ抵抗の経時的増大に対する校
正点検や、メカニカルリレーの公称定格接点開閉回数以
内での定期的交換などの付帯的な保守作業を必要としな
いために、供試電源の負荷測定試験の効率向上及び全体
的な費用低減の効果が得られる。
【００１１】
【発明の効果】以上、述べたように本発明による切替え
素子を備えた電子負荷装置は、一つの供試電源の負荷特
性試験中に試験中である供試電源の負荷特性試験に影響
を与えることなく、試験済み供試電源の切離しや、試験
待ちの供試電源の接続作業が行えるとともに、長寿命の
半導体スイッチ素子による切替え手段であることから、
供試電源の負荷試験効率の向上や負荷特性試験装置全体
の保守作業の大幅な削減が可能となる。
素子を備えた電子負荷装置は、一つの供試電源の負荷特
性試験中に試験中である供試電源の負荷特性試験に影響
を与えることなく、試験済み供試電源の切離しや、試験
待ちの供試電源の接続作業が行えるとともに、長寿命の
半導体スイッチ素子による切替え手段であることから、
供試電源の負荷試験効率の向上や負荷特性試験装置全体
の保守作業の大幅な削減が可能となる。
【図１】 本発明の片線切替えでの回路例
【図２】 本発明の両線切替えでの回路例
【図３】 図１にコモンモードチョークコイルを付加し
た回路例
た回路例
【図４】 図２にコモンモードチョークコイルを付加し
た回路例
た回路例
【図５】 切替え素子の半導体スイッチによる回路構成
例
例
ＥＬ 電子負荷装置 ＤＵＴ１，２ 供試電源 ＳＷ１，２ 切替え素子 Ｌ１，２ コモンモードチョークコイル Ｑ１〜Ｑ４ ＦＥＴ
Claims (1)
- 【請求項１】 供試電源装置の切替え素子を備えた電子
負荷装置において、電子負荷装置の出力端子に切替え素
子間の電位が絶縁された半導体スイッチ素子を複数個使
用した供試電源との接続切替え手段を有し、かつ接続切
替え手段と供試電源装置との接続端子間にコモンモード
チョークコイルを設けることにより高周波コモンモード
ノイズの影響を除外する切替え手段を有する電子負荷装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000281649A JP2002090404A (ja) | 2000-09-18 | 2000-09-18 | 切替え素子を備えた電子負荷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000281649A JP2002090404A (ja) | 2000-09-18 | 2000-09-18 | 切替え素子を備えた電子負荷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002090404A true JP2002090404A (ja) | 2002-03-27 |
Family
ID=18766270
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000281649A Pending JP2002090404A (ja) | 2000-09-18 | 2000-09-18 | 切替え素子を備えた電子負荷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002090404A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102073277A (zh) * | 2010-11-29 | 2011-05-25 | 沈阳工业大学 | 工频绝缘试验计算机控制系统 |
| CN104297698A (zh) * | 2013-11-29 | 2015-01-21 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种电源组件的检测装置 |
| CN105301382A (zh) * | 2014-08-01 | 2016-02-03 | 智上科技股份有限公司 | 电子装置及其侦测方法 |
| CN109471047A (zh) * | 2018-12-21 | 2019-03-15 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种用于交直流电源校准的便携式自动测量装置 |
-
2000
- 2000-09-18 JP JP2000281649A patent/JP2002090404A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102073277A (zh) * | 2010-11-29 | 2011-05-25 | 沈阳工业大学 | 工频绝缘试验计算机控制系统 |
| CN104297698A (zh) * | 2013-11-29 | 2015-01-21 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种电源组件的检测装置 |
| CN105301382A (zh) * | 2014-08-01 | 2016-02-03 | 智上科技股份有限公司 | 电子装置及其侦测方法 |
| CN109471047A (zh) * | 2018-12-21 | 2019-03-15 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种用于交直流电源校准的便携式自动测量装置 |
| CN109471047B (zh) * | 2018-12-21 | 2021-04-02 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种用于交直流电源校准的便携式自动测量装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20050225316A1 (en) | Connection apparatus and cable assembly for semiconductor-device characteristic measurement apparatus | |
| JP4177759B2 (ja) | 入出力回路、及び試験装置 | |
| TWI511437B (zh) | 功率元件驅動器失效檢測裝置及其檢測方法 | |
| JP2002090404A (ja) | 切替え素子を備えた電子負荷装置 | |
| CN110673054B (zh) | Dc/dc电源测试系统及dc/dc电源的老化测试方法 | |
| JP2010219977A (ja) | スイッチング回路及びその試験方法 | |
| CN210665954U (zh) | 一种继电器耐久性测试装置 | |
| JP2012149915A (ja) | 遮断器試験装置、プログラムおよび遮断器試験方法 | |
| CN107038984B (zh) | 一种阵列基板检测线路以及检测方法和制作方法 | |
| US20070018636A1 (en) | Method and program for controlling an apparatus for measurement of characteristics of a semiconductor device under test | |
| CN212391534U (zh) | 一种电流检测电路 | |
| JP7246158B2 (ja) | コイルの信頼性試験装置 | |
| JP3239864B2 (ja) | 電源／ｇｎｄ端子導通試験用テストボード | |
| CN111175648A (zh) | 时间继电器的时间校准方法与系统 | |
| TW201939050A (zh) | 元件通電測試方法與通電測試系統 | |
| CN111629314A (zh) | 一种车载扬声器的过压检测提醒系统及方法 | |
| CN106153989B (zh) | 一种带电换线装置及运作方法 | |
| CN1368643A (zh) | 电子负载装置与受测电源供应器间的切换装置 | |
| CN210804032U (zh) | 一种继电器控制系统 | |
| CN111426927B (zh) | 一种功率半导体器件动态电学应力施加装置及测试方法 | |
| US20070043893A1 (en) | Bus communication apparatus and bus communication method | |
| CN211828642U (zh) | 一种控制继电器电流过零分断的电路结构 | |
| CN219609183U (zh) | 测试电源切换电路及装置 | |
| CN220271507U (zh) | 一种断路器动作电压测试系统 | |
| CN219039268U (zh) | 一种测试电路 |