JP2002050079A - Optical disk - Google Patents

Optical disk

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JP2002050079A
JP2002050079A JP2000230709A JP2000230709A JP2002050079A JP 2002050079 A JP2002050079 A JP 2002050079A JP 2000230709 A JP2000230709 A JP 2000230709A JP 2000230709 A JP2000230709 A JP 2000230709A JP 2002050079 A JP2002050079 A JP 2002050079A
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JP
Japan
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layer
thickness
substrate
reflective
reflective layer
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Application number
JP2000230709A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenji Oishi
健司 大石
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Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Publication date
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  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical disk having good heat radiating property in which reproducing signals can be read out with good accuracy and the number of rewritable times is improved. SOLUTION: The optical disk 1 consists of a reflection layer 4, first protective layer 5, phase change type recording layer 6 and second protective layer 7 successively laminated on guide grooves 3 formed in a first substrate 2, and further a second substrate 9 adhered with an adhesive layer 8 on the second protective layer 7. The reflection layer 4 consists of a first reflection layer 41, first smooth layer 42 and second reflection layer 43 successively laminated. The thickness d1 of the first reflection layer 41, thickness d2 of the first smooth layer 42 and thickness d3 of the second reflection layer 43 are controlled to satisfy the relation of 0 nm<d1<=75 nm, 0 nm<d2<=10 nm, 0 nm<d3<=75 nm and d1+d3<=150 nm.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光学的に情報の記
録、再生が可能な光ディスクに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk capable of optically recording and reproducing information.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスクは、DVD−RAMやDVD
−RW等の用途として広く用いられている。従来の光デ
ィスクについて図3を用いて説明する。図3は、第1従
来例の光ディスクを示す断面図である。図3に示すよう
に、光ディスク10は、第1基板2に形成されたランド
L及びグルーブGからなる案内溝3上に第1保護層1
1、相変化記録層12、第2保護層13、反射層14、
第3保護膜15が順次積層され、この第3保護膜15上
に接着剤層8を介して、第2基板9が貼り付けられた構
成を有する。
2. Description of the Related Art Optical disks are DVD-RAM and DVD.
-Widely used for applications such as RW. A conventional optical disk will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a sectional view showing an optical disc of the first conventional example. As shown in FIG. 3, the optical disk 10 has a first protective layer 1 on a guide groove 3 formed of a land L and a groove G formed on a first substrate 2.
1, phase change recording layer 12, second protective layer 13, reflective layer 14,
The third protective film 15 is sequentially laminated, and the second substrate 9 is attached on the third protective film 15 via the adhesive layer 8.

【0003】次に、光ディスク10への書込み、消去、
再生について説明する。まず、初期化によって表面全体
を反射率の高い状態にした光ディスク10の第1基板2
側からレーザ光を局所的に照射して相変化記録層12を
溶融、急冷し、アモルファス状態に相変化させる。この
相変化に伴い相変化記録層12の反射率や複素屈折率が
変化して情報が相変化記録層12に記録される。
Next, writing, erasing, and
Reproduction will be described. First, the first substrate 2 of the optical disc 10 whose entire surface has been made to have a high reflectance by initialization.
The phase change recording layer 12 is melted and quenched by locally irradiating a laser beam from the side to change the phase to an amorphous state. The reflectivity and the complex refractive index of the phase change recording layer 12 change with this phase change, and information is recorded on the phase change recording layer 12.

【0004】再生は、第1基板2側から相変化が起こら
ない程度の弱いレーザ光を照射して高反射率状態と低反
射率状態との反射率差を検出して行う。この際、レーザ
光は、反射層14で反射されて、第1基板2側から再び
出射する。書換えは、結晶化を引き起こすエネルギーの
バイアスパワーの上に重畳した記録ピークパワーを相変
化記録層12に投入することにより、消去過程を経るこ
となく既に記録されている記録マーク上にオーバライト
して行う。このオーバーライトの際に相変化記録層12
には、高温に熱せられて溶融、急冷によって形成される
新たな記録マークが書き込まれる。
[0004] Reproduction is performed by irradiating a weak laser beam from the first substrate 2 side that does not cause a phase change to detect a reflectance difference between a high reflectance state and a low reflectance state. At this time, the laser light is reflected by the reflection layer 14 and is emitted again from the first substrate 2 side. In the rewriting, the recording peak power superimposed on the bias power of the energy causing crystallization is applied to the phase change recording layer 12 to overwrite the already recorded recording mark without going through the erasing process. Do. During this overwriting, the phase change recording layer 12
A new recording mark formed by heating to a high temperature, melting and quenching is written in the.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、開口率
NAを高くした場合には、レーザ光の収差を抑えるため
に、第1基板2の厚さを薄くする必要があるので、第1
基板2が大きくなる反りを生じるといった問題を生じて
いた。この対策として、第1基板2の厚さを厚くし、薄
膜の積層順序を逆にした図4に示す光ディスク16が考
えられた。
However, when the aperture ratio NA is increased, it is necessary to reduce the thickness of the first substrate 2 in order to suppress the aberration of the laser beam.
There has been a problem that the substrate 2 is warped to be large. As a countermeasure, an optical disc 16 shown in FIG. 4 in which the thickness of the first substrate 2 is increased and the order of laminating the thin films is reversed.

【0006】図4は、第2従来例の光ディスクを示す断
面図である。第1従来例の光ディスクと同一構成には同
一符号を付し、その説明を省略する。第2従来例の光デ
ィスク16は、第1基板2に形成された凹凸状の案内溝
3上にAl、Al合金、Ag合金等からなる反射層1
7、第1保護層18、相変化記録層12、第2保護層1
1が順次積層され、更に、この第2保護層11上に接着
剤層8を介して第2基板9が貼り付けられた構成を有す
る。
FIG. 4 is a sectional view showing an optical disk of a second conventional example. The same components as those of the optical disk of the first conventional example are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. The optical disc 16 of the second conventional example has a reflection layer 1 made of Al, an Al alloy, an Ag alloy or the like on an uneven guide groove 3 formed on a first substrate 2.
7, first protective layer 18, phase change recording layer 12, second protective layer 1
1 are sequentially laminated, and a second substrate 9 is attached on the second protective layer 11 via an adhesive layer 8.

【0007】この光ディスク16への書込み、消去、再
生については、レーザ光を第2基板9側から照射する以
外は、第1従来例と同一であるので、その説明を省略す
る。この光ディスク16の製造方法として、第1基板2
の案内溝3上に反射層17乃至第2保護層11の各層を
順次積層していくが、反射層17の形成の際、AlやA
l合金等は、柱状の結晶を生じやすく、この厚さが75
nm以上になると、表面に大きな凹凸部を生じる。この
結果、反射層17と第1保護層18との界面に凹凸部を
生じる。
The writing, erasing, and reproducing operations on the optical disk 16 are the same as those in the first conventional example except that the laser beam is irradiated from the second substrate 9 side. As a method of manufacturing the optical disk 16, the first substrate 2
Each layer of the reflective layer 17 to the second protective layer 11 is sequentially laminated on the guide groove 3 of FIG.
1 alloy and the like are liable to form columnar crystals, and this thickness is 75%.
If it is not less than nm, large irregularities are generated on the surface. As a result, an uneven portion is generated at the interface between the reflective layer 17 and the first protective layer 18.

【0008】このため、再生の際、反射層17で反射さ
れたレーザ光がこの凹凸部で散乱されるので、ランドL
及びグルーブGに記録されている信号の読み取り品質が
悪かった。また、このように表面に凹凸部が形成された
反射層17上に、前記した各層を形成すると、全体的な
平坦性が悪くなるので、大きな再生信号ノイズを生じた
り、ジッタが高くなって書き換え回数が少なくなるとい
った問題を生じていた。更にまた、青色半導体レーザを
用いた記録再生では、記録マークやエンボスピット或い
は案内溝3のランドL及びグルーブGのサイズを小さく
する必要があるので、反射層17の結晶粒径が大きい場
合、この結晶粒径によって、ランドL及びグルーブGに
記録されている信号パターンが埋め込まれ、信号を読み
出すことができなくなるといった問題も生じていた。
For this reason, at the time of reproduction, the laser beam reflected by the reflection layer 17 is scattered by the concave and convex portions.
And the reading quality of the signal recorded in the groove G was poor. In addition, when the above-described layers are formed on the reflective layer 17 having the irregularities formed on the surface as described above, the overall flatness is deteriorated. There has been a problem that the number of times is reduced. Furthermore, in recording / reproducing using a blue semiconductor laser, it is necessary to reduce the size of the recording mark, emboss pit or land L and groove G of the guide groove 3. A signal pattern recorded on the land L and the groove G is buried depending on the crystal grain size, and a problem has arisen that a signal cannot be read.

【0009】この対策として、反射層17の厚さを75
nm以下にして表面の平坦性を高めることが考えられる
が、通常、相変化記録層12で発生した熱を効率良く放
熱するためには、反射層17の厚さは、150nm以上
が必要であると言われているため、75nm以下にする
ことができなかった。このように、相変化記録層12で
発生した熱を効率良く放熱することと、反射層17の平
坦性を同時に満たすことができなかった。そこで、本発
明は、上記のような問題点を解消するためになされたも
ので、良好な放熱性を有して精度良く再生信号を読み取
ることができ、かつ書き換え回数が向上する光ディスク
を提供することを目的とする。
As a countermeasure, the thickness of the reflection layer 17 is set to 75
It is conceivable to improve the flatness of the surface by setting the thickness to not more than nm, but usually, in order to efficiently radiate the heat generated in the phase change recording layer 12, the thickness of the reflective layer 17 needs to be 150 nm or more. Therefore, it could not be reduced to 75 nm or less. Thus, the heat generated in the phase change recording layer 12 cannot be efficiently radiated and the flatness of the reflection layer 17 cannot be satisfied at the same time. Therefore, the present invention has been made to solve the above-described problems, and provides an optical disc having good heat radiation, capable of reading a reproduced signal with high accuracy, and improving the number of rewrites. The purpose is to:

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の光ディスクにお
ける第1の発明は、第1基板に形成された案内溝上に順
次積層された反射層と、第1保護層と、相変化記録層
と、第2保護層と、この第2保護層上に接着剤層を介し
て貼り付けられた第2基板とからなる光ディスクであっ
て、前記反射層は、第1反射層上に順次積層された第1
平滑層、第2反射層とからなり、前記第1反射層の厚さ
をd1、前記第1平滑層の厚さをd2、前記第2反射層の
厚さをd3とする時、0nm<d1≦75nm、0nm<d
2≦10nm、0nm<d3≦75nm、かつd1+d3≦1
50nmの関係を有するようにしたことを特徴とする。
第2の発明は、第1基板に形成された案内溝上に順次積
層された反射層と、第1保護層と、相変化記録層と、第
2保護層と、この第2保護層上に接着剤層を介して貼り
付けられた第2基板とからなる光ディスクであって、前
記反射層は、第1反射層上に順次積層された第1平滑層
と、第2平滑層と金属層とが交互に繰り返して積層され
た第2反射層とからなり、前記第1反射層の厚さを
1、前記第1平滑層の厚さをd2、前記金属層の厚さを
4とする時、0nm<d1≦75nm、0nm<d2≦1
0nm、0nm<d4≦75nm、かつd1+2d4≧15
0nmの関係を有することを特徴とする。
According to a first aspect of the optical disc of the present invention, a reflective layer, a first protective layer, a phase change recording layer, and a reflective layer sequentially laminated on a guide groove formed in a first substrate are provided. An optical disc comprising a second protective layer and a second substrate adhered on the second protective layer via an adhesive layer, wherein the reflective layer is a second optical disk sequentially laminated on the first reflective layer. 1
When the thickness of the first reflective layer is d 1 , the thickness of the first smooth layer is d 2 , and the thickness of the second reflective layer is d 3 , 0 nm <d 1 ≦ 75 nm, 0 nm <d
2 ≦ 10 nm, 0 nm <d 3 ≦ 75 nm, and d 1 + d 3 ≦ 1
It is characterized by having a relationship of 50 nm.
According to a second aspect of the present invention, a reflective layer, a first protective layer, a phase change recording layer, a second protective layer, and a reflective layer sequentially laminated on a guide groove formed in a first substrate are bonded to the second protective layer. An optical disk comprising a second substrate adhered via an agent layer, wherein the reflective layer includes a first smooth layer sequentially laminated on the first reflective layer, a second smooth layer, and a metal layer. consists of a second reflective layer laminated alternately and repeatedly, the thickness of the first reflective layer d 1, the thickness of the first smooth layer d 2, the thickness of the metal layer and d 4 0 nm <d 1 ≦ 75 nm, 0 nm <d 2 ≦ 1
0 nm, 0 nm <d 4 ≦ 75 nm, and d 1 + 2d 4 ≧ 15
It is characterized by having a relationship of 0 nm.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明の光ディスクの実施形態に
ついて図面を用いて説明する。第1及び第2従来例と同
一構成には同一符号を付し、その説明を省略する。図1
は、本発明の実施形態の光ディスクを示す断面図であ
る。図2は、図1における反射層を3層にした断面図で
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of an optical disk according to the present invention will be described with reference to the drawings. The same components as those of the first and second conventional examples are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. Figure 1
1 is a cross-sectional view illustrating an optical disc according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view of FIG. 1 with three reflective layers.

【0012】まず始めに、本発明の実施形態の光ディス
クについて図1及び図2を用いて以下に説明する。図1
に示すように、本発明の実施形態の光ディスク1は、第
1基板2に形成されたランドL及びグルーブGからなる
案内溝3上に反射層4、第1保護層5、相変化記録層
6、第2保護層7が順次積層され、この第2保護層7上
には、接着剤層8を介して、第2基板9が貼り付けられ
た構成を有する。
First, an optical disk according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. Figure 1
As shown in FIG. 1, an optical disc 1 according to an embodiment of the present invention has a reflection layer 4, a first protection layer 5, and a phase change recording layer 6 on a guide groove 3 formed of a land L and a groove G formed on a first substrate 2. , A second protective layer 7 are sequentially laminated, and a second substrate 9 is attached on the second protective layer 7 via an adhesive layer 8.

【0013】第1基板2の材料としては、例えば、ポリ
カーボネート、ポリオレフィン、アクリル等のプラスチ
ック基板、ガラス基板及び金属板がある。ランドL或い
はグルーブGにレーザー光を案内するプリグルーブ、プ
リピットあるいは書き換えができない再生信号がエンボ
スピットに設けられている。これらの案内溝3やプリピ
ットは、第1基板2上に、直接、射出成形されたり、ス
タンパー上にフォトポリマーを滴下し、その上に第1基
板2を載せてポリマーを硬化して形成される(フォトポ
リマー法)。
Examples of the material of the first substrate 2 include a plastic substrate such as polycarbonate, polyolefin, and acrylic, a glass substrate, and a metal plate. A pre-groove for guiding a laser beam to the land L or the groove G, a pre-pit or a non-rewritable reproduction signal is provided in the emboss pit. These guide grooves 3 and pre-pits are formed by directly injection molding on the first substrate 2 or by dropping a photopolymer on a stamper, placing the first substrate 2 thereon, and curing the polymer. (Photopolymer method).

【0014】反射層4は、第1反射層41上に順次積層
された第1平滑層42と、第2反射層43とからなる。
第1反射層41の厚さd1及び第2反射層43の厚さd3
は、0<d1≦75nm、0<d3≦75nm、かつd1
3≦150nmにする。第1反射層41及び第2反射
層43がAgの場合には、これらの厚さが50nm以下
でも、これらの反射層4の表面の平坦性は良好となり、
第1反射層41と第2反射層43との厚さの和が100
nm以上であれば、相変化記録層6で発生した熱を効率
良く放熱できるため、第1反射層41及び第2反射層4
3の厚さを上記のように設定することができる。
The reflection layer 4 includes a first smoothing layer 42 and a second reflection layer 43 sequentially laminated on the first reflection layer 41.
The thickness d 1 of the first reflection layer 41 and the thickness d 3 of the second reflection layer 43
Are 0 <d 1 ≦ 75 nm, 0 <d 3 ≦ 75 nm, and d 1 +
d 3 ≦ 150 nm. When the first reflective layer 41 and the second reflective layer 43 are made of Ag, even if their thickness is 50 nm or less, the flatness of the surface of these reflective layers 4 becomes good,
The sum of the thicknesses of the first reflection layer 41 and the second reflection layer 43 is 100
If it is not less than nm, the heat generated in the phase change recording layer 6 can be efficiently dissipated, so that the first reflection layer 41 and the second reflection layer 4
3 can be set as described above.

【0015】なお、図2に示すように、反射層4中の第
2反射層43を以下のようにしても良い。即ち、第2反
射層43は、下部金属層44a上に第2平滑層45と、
上部金属層44bとを順次積層した構成である。この
際、下部金属層44aと上部金属層44bの厚さは共に
4にする。また、第1反射層41の厚さをd1、第1平
滑層42の厚さをd2とする時、0<d1≦75nm、0<
2≦10nm、0<d4≦75nm、かつd1+2d4
150nmにする。
As shown in FIG. 2, the second reflection layer 43 in the reflection layer 4 may be configured as follows. That is, the second reflection layer 43 includes a second smoothing layer 45 on the lower metal layer 44a,
This is a configuration in which the upper metal layer 44b is sequentially laminated. In this case, the thickness of the lower metal layer 44a and the upper metal layer 44b are both in d 4. When the thickness of the first reflection layer 41 is d 1 and the thickness of the first smoothing layer 42 is d 2 , 0 <d 1 ≦ 75 nm and 0 <
d 2 ≦ 10 nm, 0 <d 4 ≦ 75 nm, and d 1 + 2d 4
Set to 150 nm.

【0016】このようにすると、第1反射層41の厚さ
1、下部金属層44aの厚さd4及び上部金属層44b
の厚さd4が75nm以下であるので、反射層4の平坦
性が確保でき、また、第1反射層41、下部金属層44
a及び上部金属層44bの厚さ合計が150nm以上で
あるので、相変化記録層6で発生した熱を効率良く放熱
できる。第1反射層41、下部金属層44a及び上部金
属層44bの材料としては、Al以外にAu、Ag、C
u、Ni、In、Ti、Cr、Pt、Si、Ge、M
o、W、Ta、Zr等の金属、AlにTi、Cr、Z
r、Si等の添加物を添加したもの、Ag−Pd−Cu
等の合金或いは半導体がある。なお、第2反射層43
は、第2平滑層45と下部金属層44a又は上部金属層
44bとを交互に繰り返した構成としても良い。再生光
として波長400nm台の青色半導体レーザを用いる時
には、Al系合金やAg系の合金を用いると高い反射率
が得られる。
In this manner, the thickness d 1 of the first reflection layer 41, the thickness d 4 of the lower metal layer 44a, and the thickness d 4 of the lower metal layer 44a
Since the thickness d 4 is less than 75 nm, it can ensure the flatness of the reflective layer 4, also, the first reflective layer 41, the lower metal layer 44
Since the total thickness of a and the upper metal layer 44b is 150 nm or more, the heat generated in the phase change recording layer 6 can be efficiently radiated. The material of the first reflection layer 41, the lower metal layer 44a, and the upper metal layer 44b is Au, Ag, C
u, Ni, In, Ti, Cr, Pt, Si, Ge, M
o, W, Ta, Zr and other metals; Al, Ti, Cr, Z
Ag-Pd-Cu with additives such as r and Si added
Alloys or semiconductors. In addition, the second reflection layer 43
May have a configuration in which the second smoothing layer 45 and the lower metal layer 44a or the upper metal layer 44b are alternately repeated. When a blue semiconductor laser having a wavelength of the order of 400 nm is used as the reproduction light, a high reflectance can be obtained by using an Al-based alloy or an Ag-based alloy.

【0017】第1平滑層42及び第2平滑層45の材料
としては、結晶化し難い材料が選ばれ、Te、Se、S
等のカルコゲン化合物、イオン半径の異なる元素同士の
金属化合物、酸化物、窒化物、硫化物、炭化物、フッ化
物等の誘電体がある。一般的に、この厚さは1〜10n
mが用いられるが、放熱性能を低下させない厚さとして
は1〜5nmが良い。これらの第1平滑層42及び第2
平滑層45は、DCスパッタやRFスパッタして形成さ
れる。必要に応じて添加ガスを加えて、反応性スパッタ
して形成しても良い。
As the material of the first smoothing layer 42 and the second smoothing layer 45, a material which is hardly crystallized is selected, and Te, Se, S
And the like, metal compounds of elements having different ionic radii, and dielectrics such as oxides, nitrides, sulfides, carbides and fluorides. Generally, this thickness is between 1 and 10 n
Although m is used, the thickness which does not lower the heat radiation performance is preferably 1 to 5 nm. These first smooth layer 42 and second
The smooth layer 45 is formed by DC sputtering or RF sputtering. If necessary, an additional gas may be added to form the layer by reactive sputtering.

【0018】第1保護膜5及び第2保護膜7の材料とし
ては、ZnS−SiO2、ZnS、SiO2、Ta25
Si34、AlN、Al23、AlSiON、Zr
2、TiO2等やこれらの混合物がある。第2保護膜7
の厚さは、10〜200nmが良く、再生信号を増大さ
せるためには40〜150nmが良い。また、記録再生
用に青色レーザ光を用いる場合には、この厚さを40〜
60nmにして変調度を大きくすることができる。ま
た、第1保護膜5は、熱的ダメージを軽減するために第
2保護膜7の厚さよりも薄くして、2〜50nmにする
と良い。
The material of the first protective film 5 and the second protective film 7 is ZnS-SiO 2 , ZnS, SiO 2 , Ta 2 O 5 ,
Si 3 N 4 , AlN, Al 2 O 3 , AlSiON, Zr
There are O 2 , TiO 2 and the like, and mixtures thereof. Second protective film 7
Is preferably 10 to 200 nm, and more preferably 40 to 150 nm to increase the reproduction signal. When a blue laser beam is used for recording and reproduction, the thickness is set to 40 to
The modulation degree can be increased by setting it to 60 nm. Further, the first protective film 5 is preferably made thinner than the second protective film 7 to reduce the thermal damage to a thickness of 2 to 50 nm.

【0019】相変化記録層6の材料としては、アモルフ
ァス−結晶間の反射率変化或いは屈折率変化を利用する
相変化材料が選ばれ、Ge−Sb−Te系、Ag−In
−Te−Sb系、Cu−Al−Sb−Te系、Te又は
Seを主成分とする合金がある。この厚さは、5〜10
0nm、好ましくは記録感度を上げ、かつ再生信号を増
大させるためには、5〜30nmが良い。
As a material of the phase change recording layer 6, a phase change material utilizing a change in reflectance or a change in refractive index between amorphous and crystal is selected, and a Ge—Sb—Te system, Ag—In
There are -Te-Sb-based, Cu-Al-Sb-Te-based, and alloys containing Te or Se as a main component. This thickness is 5-10
0 nm, preferably 5 nm to 30 nm to increase the recording sensitivity and increase the reproduction signal.

【0020】接着剤層8の材料としては、プレポリマ
ー、単官能アクリレートモノマー、多官能アクリレート
モノマー等と光重合開始剤とからなる。この接着剤層8
は、厚さ1〜200μmであり、記録再生光に対して透
明である。また、この屈折率は、第2基板9と等しく、
反射率の低下を抑えている。この接着剤層8は、スピン
コート法、スプレー法、ディップ法、ブレードコート
法、ロールコート法、スクリーン印刷法等によって形成
される。
The material of the adhesive layer 8 comprises a prepolymer, a monofunctional acrylate monomer, a polyfunctional acrylate monomer and the like, and a photopolymerization initiator. This adhesive layer 8
Has a thickness of 1 to 200 μm and is transparent to recording / reproducing light. This refractive index is equal to that of the second substrate 9,
The decrease in reflectance is suppressed. The adhesive layer 8 is formed by spin coating, spraying, dipping, blade coating, roll coating, screen printing, or the like.

【0021】第2基板9の材料としては、ポリカーボネ
ート、ポリオレフィン、アクリル等の透過性のプラスチ
ック基板やガラス基板が用いられる。この厚さは、0.
01〜1.2mmである。対物レンズのNAが大きい場
合には、球面収差の影響を抑制するため、第2基板9の
厚さを薄くする。
As a material of the second substrate 9, a transparent plastic substrate such as polycarbonate, polyolefin, acrylic or the like or a glass substrate is used. This thickness is 0.
01 to 1.2 mm. When the NA of the objective lens is large, the thickness of the second substrate 9 is reduced to suppress the influence of spherical aberration.

【0022】この光ディスク1への書込み、消去、再生
は、第2従来例と同様であるので、その説明を省略す
る。
The writing, erasing, and reproducing operations on the optical disk 1 are the same as those in the second conventional example, and the description thereof is omitted.

【0023】次に、光ディスク1の記録再生特性につい
て、ジッタ、キャリアレベル及び再生ノイズレベルを測
定して調べた。光ディスク1への記録は、レーザ波長を
635nm、対物レンズのNAを0.6、変調信号や記
録ストラテジ等をDVD−RWのBookver.0.
9に基づいた条件で、ピークパワー1515.0mW、
バイアスパワー7.5mW、ボトムパワー0.5mWで
レーザ光を変調して行った。また、再生は、0.7mW
のレーザ光を用いて行った。
Next, the recording and reproduction characteristics of the optical disk 1 were examined by measuring the jitter, carrier level and reproduction noise level. The recording on the optical disc 1 is performed by setting the laser wavelength to 635 nm, the NA of the objective lens to 0.6, the modulation signal, the recording strategy and the like to the DVD-RW Bookver. 0.
9, a peak power of 1515.0 mW,
The laser beam was modulated with a bias power of 7.5 mW and a bottom power of 0.5 mW. In addition, reproduction is 0.7 mW
The laser beam was used.

【0024】ジッタは、標準偏差をσ、ウィンドウ幅を
Twとして、σ/Twを演算することによって求め、キ
ャリアレベル及び再生ノイズレベルは、最短マークであ
る3T信号(長さ0.4μm)を測定することによって
求めた。この結果、初期におけるジッタは、7.5%で
あり、ダイレクトオーバーライト1000回の書き換え
後におけるジッタは、初期に比較して2.5%増加し
た。また、初期のキャリアレベルは23.4dBm、初
期の再生ノイズレベルは71.5dBmであった。
The jitter is obtained by calculating σ / Tw, where σ is the standard deviation and Tw is the window width, and the carrier level and the reproduction noise level are obtained by measuring the 3T signal (0.4 μm length), which is the shortest mark. Sought by. As a result, the initial jitter was 7.5%, and the jitter after 1000 direct overwrite rewrites was increased by 2.5% compared to the initial. The initial carrier level was 23.4 dBm, and the initial reproduction noise level was 71.5 dBm.

【0025】以上のように、反射層4が、Agからなる
第1反射層41上に順次積層された第1平滑層42と、
Agからなる第2反射層43とからなり、かつ第1反射
層41、第1平滑層42、第2反射層43の厚さを
1、d2、d3とする時、0nm<d1≦75nm、0n
m<d2≦10nm、0nm<d3≦75nm、かつd1
3≦150nmにしたので、反射層4が平坦となり、
相変化記録層6で発生した熱を効率良く放熱できる。ま
た、光ディスク1に入射するレーザ光が散乱されること
がないので、精度良く再生信号を読み取ることができ、
ジッタが小さくなり、書き換え回数を向上させることが
できる。
As described above, the first smoothing layer 42 in which the reflective layer 4 is sequentially laminated on the first reflective layer 41 made of Ag,
When made from the second reflective layer 43 made of Ag, and the first reflective layer 41, the first smoothing layer 42, the thickness of the second reflective layer 43 and d 1, d 2, d 3 , 0nm <d 1 ≤75 nm, 0n
m <d 2 ≦ 10 nm, 0 nm <d 3 ≦ 75 nm, and d 1 +
Since d 3 ≦ 150 nm, the reflection layer 4 becomes flat,
The heat generated in the phase change recording layer 6 can be efficiently radiated. In addition, since the laser light incident on the optical disc 1 is not scattered, the reproduced signal can be read with high accuracy.
Jitter is reduced, and the number of times of rewriting can be improved.

【0026】また、反射層4がAlからなる第1反射層
41上に順次積層された第1平滑層42と、Alからな
る下部金属層44a、第2平滑層45、Alからなる上
部金属層44bとからなり、かつ第1反射層41、第1
平滑層42、下部金属層44a、上部金属層44bの厚
さをd1、d2、d4、d4とする時、0nm<d1≦75n
m、0nm<d2≦10nm、0nm<d4≦75nm、d
1+2d4≧150nmにしたので、反射層4が平坦とな
り、相変化記録層6で発生した熱を効率良く放熱でき
る。また、光ディスク1に入射するレーザ光が散乱され
ることがないので、精度良く再生信号を読み取ることが
でき、ジッタが小さくなり、書き換え回数を向上させる
ことができる。
Further, a first smoothing layer 42 in which the reflecting layer 4 is sequentially laminated on the first reflecting layer 41 made of Al, a lower metal layer 44a made of Al, a second smoothing layer 45, and an upper metal layer made of Al 44b and the first reflective layer 41, the first
When smoothing layer 42, the lower metal layer 44a, the thickness of the upper metal layer 44b and d 1, d 2, d 4 , d 4, 0nm <d 1 ≦ 75n
m, 0 nm <d 2 ≦ 10 nm, 0 nm <d 4 ≦ 75 nm, d
Since 1 + 2d 4 ≧ 150 nm, the reflection layer 4 becomes flat, and the heat generated in the phase change recording layer 6 can be efficiently radiated. Further, since the laser light incident on the optical disc 1 is not scattered, the reproduced signal can be read with high accuracy, the jitter can be reduced, and the number of times of rewriting can be improved.

【0027】次に、第2反射層43が下部金属層44a
上に第2平滑層45、上部金属層44bを積層した場合
の光ディスク1の製造方法について説明する。まず、ト
ラックピッチ0.74μm、溝深さ30nmのプリグル
ープ3(グルーブ幅0.3μm、ランド幅0、44μ
m)が形成された板厚0.6mmのポリカーボネートか
らなる第1基板2を用意する。次に、スパッタ装置内に
第1基板2を導入し、1×10-6Torr以下に真空排
気した後、Arガスを導入して2mTorrにし、引き
続いてこの第1基板2の案内溝3上にAl(99.99
%)ターゲットをDCスパッタして厚さ200nmの第
1反射層41を形成する。この際、成膜速度は、0.1
nm/sである。
Next, the second reflection layer 43 is formed by the lower metal layer 44a.
A method of manufacturing the optical disc 1 when the second smoothing layer 45 and the upper metal layer 44b are laminated thereon will be described. First, a pre-group 3 having a track pitch of 0.74 μm and a groove depth of 30 nm (groove width 0.3 μm, land width 0, 44 μm)
A first substrate 2 made of polycarbonate having a thickness of 0.6 mm and having m) formed thereon is prepared. Next, the first substrate 2 is introduced into the sputtering apparatus, evacuated to 1 × 10 −6 Torr or less, and then Ar gas is introduced to 2 mTorr, and then the guide groove 3 of the first substrate 2 Al (99.99
%) The target is DC-sputtered to form a first reflective layer 41 having a thickness of 200 nm. At this time, the film formation rate was 0.1
nm / s.

【0028】次に、ZnS−SiO2(SiO220mo
l%)ターゲットをRFスパッタして厚さ10nmの第
1平滑層42を形成する。次に、Al(99.99%)
ターゲットを第1反射層41時の6倍の成膜速度0.6
nm/sでDCスパッタして厚さ65nmの下部金属層
44aを形成する。次に、前記と同様のZnS−SiO
2(SiO220mol%)ターゲットをRFスパッタし
て厚さ10nmの第2平滑層45を形成する。
Next, ZnS-SiO 2 (SiO 2 20 mol)
1%) The target is RF-sputtered to form a first smooth layer 42 having a thickness of 10 nm. Next, Al (99.99%)
The target was formed at a deposition rate of 0.6, which is six times that of the first reflective layer 41.
DC sputtering is performed at a rate of nm / s to form a lower metal layer 44a having a thickness of 65 nm. Next, the same ZnS-SiO
A 2 (SiO 2 20 mol%) target is RF-sputtered to form a second smooth layer 45 having a thickness of 10 nm.

【0029】次に、Al(99.99%)ターゲットを
第1反射層41時の6倍の成膜速度0.6nm/sでD
Cスパッタして厚さ500nmの上部金属層44bを形
成する。更に、ZnS−SiO2(SiO220mol
%)ターゲットをRFスパッタして厚さ17nmの第1
保護層5を形成する。次に、Ag(4at%)−In
(4at%)−Sb(63at%)−Te(29at
%)合金ターゲットをDCスパッタして厚さ20nmの
相変化記録層6を形成する。
Next, an Al (99.99%) target was deposited at a deposition rate of 0.6 nm / s, which is six times that of the first reflective layer 41, and was subjected to D
The upper metal layer 44b having a thickness of 500 nm is formed by C sputtering. Further, ZnS-SiO 2 (SiO 2 20 mol
%) The target is RF-sputtered to form a first
The protection layer 5 is formed. Next, Ag (4 at%)-In
(4 at%)-Sb (63 at%)-Te (29 at%)
%) A phase change recording layer 6 having a thickness of 20 nm is formed by DC sputtering of an alloy target.

【0030】更に、ZnS−SiO2(SiO220mo
l%)ターゲットをRFスパッタして厚さ75nmの第
2保護層7を形成する。
Further, ZnS-SiO 2 (SiO 2 20 mol)
1%) The target is RF-sputtered to form a second protective layer 7 having a thickness of 75 nm.

【0031】この後、スパッタ装置内から第1反射層4
乃至第2保護層7が形成された第1基板2を取り出し、
第2保護層7上に紫外線硬化樹脂(住友化学製、XR9
8)からなる接着剤層8をスピンコートし、未硬化状態
で板厚0.1nmのポリカーボネートからなる第2基板
9を載置する。次に、第2基板9側から紫外線を照射し
て、接着剤層8を硬化させて、光ディスク1を作製す
る。この際、接着剤層8の厚さは、20μmである。
Thereafter, the first reflection layer 4 is removed from the inside of the sputtering apparatus.
And taking out the first substrate 2 on which the second protective layer 7 is formed,
UV curable resin (XR9, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.) on the second protective layer 7
The adhesive layer 8 made of 8) is spin-coated, and a second substrate 9 made of polycarbonate having a thickness of 0.1 nm is placed in an uncured state. Next, ultraviolet rays are irradiated from the second substrate 9 side to cure the adhesive layer 8, and the optical disc 1 is manufactured. At this time, the thickness of the adhesive layer 8 is 20 μm.

【0032】[0032]

【発明の効果】本発明の光ディスクによれば、第1基板
に形成された案内溝上に順次積層された反射層と、第1
保護層と、相変化記録層と、第2保護層と、この第2保
護層上に接着剤層を介して貼り付けられた第2基板とか
らなる光ディスクであって、前記反射層は、第1反射層
上に順次積層された第1平滑層、第2反射層とからな
り、前記第1反射層の厚さをd1、前記第1平滑層の厚
さをd2、前記第2反射層の厚さをd3とする時、0nm
<d1≦75nm、0nm<d2≦10nm、0nm<d 3
75nm、かつd1+d3≦150nmの関係を有するよ
うにしたので、反射層が平坦となり、相変化記録層で発
生した熱を効率良く放熱できる。また、光ディスクに入
射するレーザ光が散乱されることがないので、精度良く
再生信号を読み取ることができ、ジッタが小さくなり、
書き換え回数を向上させることができる。第1基板に形
成された案内溝上に順次積層された反射層と、第1保護
層と、相変化記録層と、第2保護層と、この第2保護層
上に接着剤層を介して貼り付けられた第2基板とからな
る光ディスクであって、前記反射層は、第1反射層上に
順次積層された第1平滑層と、第2平滑層と金属層とが
交互に繰り返して積層された第2反射層とからなり、前
記第1反射層の厚さをd1、前記第1平滑層の厚さを
2、前記金属層の厚さをd4とする時、0nm<d1≦7
5nm、0nm<d2≦10nm、0nm<d4≦75n
m、かつd1+2d4≧150nmの関係を有するので、
反射層が平坦となり、相変化記録層で発生した熱を効率
良く放熱できる。また、光ディスクに入射するレーザ光
が散乱されることがないので、精度良く再生信号を読み
取ることができ、ジッタが小さくなり、書き換え回数を
向上させることができる。
According to the optical disc of the present invention, the first substrate
A reflective layer sequentially laminated on a guide groove formed in
A protection layer, a phase change recording layer, a second protection layer, and a second protection layer.
Such as a second substrate attached on the protective layer via an adhesive layer
An optical disk comprising: a first reflective layer;
A first smoothing layer and a second reflecting layer sequentially laminated on
And the thickness of the first reflective layer is d1The thickness of the first smoothing layer
DTwo, The thickness of the second reflective layer is dThree0 nm
<d1≦ 75 nm, 0 nm <dTwo≦ 10 nm, 0 nm <d Three
75 nm and d1+ dThree≤ 150 nm
As a result, the reflective layer becomes flat and the phase change recording layer
The generated heat can be efficiently dissipated. In addition, the
Since the emitted laser light is not scattered,
Read the playback signal, reduce jitter,
The number of times of rewriting can be improved. Form on the first substrate
A reflective layer sequentially laminated on the formed guide groove, and a first protection
Layer, phase change recording layer, second protective layer, and second protective layer
And a second substrate adhered thereon via an adhesive layer.
An optical disc, wherein the reflective layer is provided on the first reflective layer.
The first smooth layer, the second smooth layer, and the metal layer sequentially laminated
The second reflection layer is alternately and repeatedly laminated,
The thickness of the first reflective layer is d1, The thickness of the first smoothing layer
dTwo, The thickness of the metal layer is dFour0 nm <d1≦ 7
5 nm, 0 nm <dTwo≦ 10 nm, 0 nm <dFour≤75n
m and d1+ 2dFour≧ 150 nm,
The reflective layer becomes flat, and the heat generated in the phase change recording layer is efficiently
Good heat dissipation. In addition, laser light incident on the optical disc
The reproduced signal is read accurately because
And reduce jitter and reduce the number of rewrites.
Can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態の光ディスクを示す断面図で
ある。
FIG. 1 is a sectional view showing an optical disc according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1における反射層を3層にした断面図であ
る。
FIG. 2 is a cross-sectional view of FIG. 1 with three reflective layers.

【図3】第1従来例の光ディスクを示す断面図である。FIG. 3 is a sectional view showing an optical disc of a first conventional example.

【図4】第2従来例の光ディスクを示す断面図である。FIG. 4 is a sectional view showing an optical disc of a second conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…光ディスク、2…第1基板、3…案内溝、4…反射
層、5…第1保護層、6…相変化記録層、7…第2保護
層、8…接着剤層、9…第2基板、41…第1反射層、
42…第1平滑層、43…第2反射層、44a…下部金
属層(金属層)、44b…上部金属層(金属層)、45
…第2平滑層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical disk, 2 ... 1st board | substrate, 3 ... Guide groove, 4 ... Reflective layer, 5 ... 1st protective layer, 6 ... Phase change recording layer, 7 ... 2nd protective layer, 8 ... Adhesive layer, 9 ... No. 2 substrates, 41 ... first reflection layer,
42: first smooth layer, 43: second reflective layer, 44a: lower metal layer (metal layer), 44b: upper metal layer (metal layer), 45
... Second smooth layer

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】第1基板に形成された案内溝上に順次積層
された反射層と、第1保護層と、相変化記録層と、第2
保護層と、この第2保護層上に接着剤層を介して貼り付
けられた第2基板とからなる光ディスクであって、 前記反射層は、第1反射層上に順次積層された第1平滑
層、第2反射層とからなり、前記第1反射層の厚さをd
1、前記第1平滑層の厚さをd2、前記第2反射層の厚さ
をd3とする時、0nm<d1≦75nm、0nm<d2
10nm、0nm<d3≦75nm、かつd1+d3≦15
0nmの関係を有するようにしたことを特徴とする光デ
ィスク。
A reflective layer, a first protective layer, a phase-change recording layer, and a second reflective layer sequentially laminated on a guide groove formed in a first substrate.
An optical disc comprising a protective layer and a second substrate adhered on the second protective layer via an adhesive layer, wherein the reflective layer is a first smooth layer sequentially laminated on the first reflective layer. And a second reflective layer, wherein the thickness of the first reflective layer is d
1 , when the thickness of the first smoothing layer is d 2 and the thickness of the second reflecting layer is d 3 , 0 nm <d 1 ≦ 75 nm and 0 nm <d 2
10 nm, 0 nm <d 3 ≦ 75 nm, and d 1 + d 3 ≦ 15
An optical disc characterized by having a relationship of 0 nm.
【請求項2】第1基板に形成された案内溝上に順次積層
された反射層と、第1保護層と、相変化記録層と、第2
保護層と、この第2保護層上に接着剤層を介して貼り付
けられた第2基板とからなる光ディスクであって、 前記反射層は、第1反射層上に順次積層された第1平滑
層と、第2平滑層と金属層とが交互に繰り返して積層さ
れた第2反射層とからなり、 前記第1反射層の厚さをd1、前記第1平滑層の厚さを
2、前記金属層の厚さをd4とする時、0nm<d1≦7
5nm、0nm<d2≦10nm、0nm<d4≦75n
m、かつd1+2d4≧150nmの関係を有することを
特徴とする光ディスク。
2. A reflection layer, a first protection layer, a phase change recording layer, and a second layer, which are sequentially laminated on a guide groove formed in a first substrate.
An optical disc comprising a protective layer and a second substrate adhered on the second protective layer via an adhesive layer, wherein the reflective layer is a first smooth layer sequentially laminated on the first reflective layer. And a second reflective layer in which a second smooth layer and a metal layer are alternately and repeatedly laminated. The thickness of the first reflective layer is d 1 , and the thickness of the first smooth layer is d 2 When the thickness of the metal layer is d 4 , 0 nm <d 1 ≦ 7
5 nm, 0 nm <d 2 ≦ 10 nm, 0 nm <d 4 ≦ 75 n
An optical disc, wherein m and d 1 + 2d 4 ≧ 150 nm.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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