JP2002042344A - Optical disk device and pll circuit - Google Patents

Optical disk device and pll circuit

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JP2002042344A
JP2002042344A JP2001140783A JP2001140783A JP2002042344A JP 2002042344 A JP2002042344 A JP 2002042344A JP 2001140783 A JP2001140783 A JP 2001140783A JP 2001140783 A JP2001140783 A JP 2001140783A JP 2002042344 A JP2002042344 A JP 2002042344A
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JP
Japan
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jitter
variable
divided
measured
minimum
Prior art date
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Application number
JP2001140783A
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Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Shihara
哲也 紫原
Takashi Narutani
孝 成谷
Katsuya Watanabe
克也 渡邊
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a highly reliable high speed optical disk device capable of reducing the start time and read out time. SOLUTION: The optical disk device is constituted with the initial area being divided into plural 1st dividing areas, and one area among plural 1st dividing areas is searched, where a minimum jitter is measured among the jitters measured at plural 1st jitter measuring points respectively positioned at centroids of the plural 1st dividing areas. Then, one area among plural 1st dividing areas is divided into plural 2nd dividing areas; and one area among the plural 2nd dividing areas is searched, where the minimum jitter is measured among the jitters measured at plural 2nd jitter measuring points respectively positioned at centroids of the plural 2nd dividing areas; and then a search means of the minimum jitter value is provided for deciding the optimum combination between a variable X and a variable Y, corresponding to one point among the plural 2nd jitter measuring points included in one area among the plural 2nd dividing areas.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザ等の
光源からの光ビームを利用して光学的に情報担体上の信
号を再生する光ディスク装置およびデータスライスバラ
ンス回路のオフセットを除去するPLL回路に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk apparatus for optically reproducing a signal on an information carrier using a light beam from a light source such as a semiconductor laser, and a PLL circuit for removing an offset of a data slice balance circuit. Things.

【0002】[0002]

【従来の技術】情報担体である光ディスクを再生する光
ディスク装置には、所定の回転数で回転する円盤状の情
報担体(光ディスク)に半導体レーザ等の光源より発生
した光ビームを収束照射し、信号を再生するものがあ
る。この情報担体には、情報ピット列として微小トラッ
クがスパイラル状に形成されている。一般的に光ディス
ク装置では光ディスクを所定の回転数で回転させる回転
制御と、光ディスク上に照射される光ビームが所定の収
束状態になるようなフォーカス制御と、情報担体上のト
ラックを光ビームが正しく走査するようなトラッキング
制御がなされている。
2. Description of the Related Art In an optical disk apparatus for reproducing an optical disk as an information carrier, a disc-shaped information carrier (optical disk) rotating at a predetermined rotation number is convergently irradiated with a light beam generated from a light source such as a semiconductor laser. There is something to play. On this information carrier, minute tracks are formed in a spiral shape as an information pit row. Generally, in an optical disk device, rotation control for rotating the optical disk at a predetermined number of rotations, focus control for a light beam irradiated on the optical disk to be in a predetermined convergence state, and a light beam for a track on an information carrier correctly. Tracking control such as scanning is performed.

【0003】また、光ディスクには、CDオーディオ、
CD−ROM、DVD−ROMなどの情報がピット列で
記録してある再生専用型、CD−R、DVD−R等の一
回のみ記録型、CD−RW、DVD−RAM、DVD−
RWなどの記録再生型まで、様々な種類があるので、記
録密度、ディスクの反射率および再生信号は各々の光デ
ィスクにより異なる。従って各々の光ディスクの特徴に
適応させて再生方法を最適化する必要がある。特に密度
の2種類以上のディスクを再生したり、再生速度を切り
換える場合には、光ディスク装置に含まれる波形等化器
の周波数特性を適応させることにより、再生方法の最適
化を図っていた。
[0003] Optical discs include CD audio,
Read-only type in which information such as CD-ROM and DVD-ROM is recorded in a pit row, one-time recording type such as CD-R and DVD-R, CD-RW, DVD-RAM, DVD-
Since there are various types up to the recording / reproducing type such as RW, the recording density, the reflectivity of the disc and the reproduction signal are different for each optical disc. Therefore, it is necessary to optimize the reproducing method according to the characteristics of each optical disc. In particular, when reproducing two or more types of disks or switching the reproducing speed, the reproducing method is optimized by adapting the frequency characteristics of the waveform equalizer included in the optical disk device.

【0004】図27は、波形等化器のゲインとノイズと
の周波数特性を示すグラフを示す。光ディスクからの再
生信号はランダム信号であるが、高い周波数の信号成分
は低い周波数の信号成分に比べ、符号間干渉により極端
にゲインが低下する。このため図27に示すように波形
等化器により再生信号における所定の周波数FCをブー
ストすることにより、高い周波数の信号成分のゲインの
改善を図り、さらに高次の等リプルフィルタ等でゲイン
を急減して所定の周波数FCよりも高い周波数帯域での
ノイズを除去し、再生信号品質の改善を図っている。
FIG. 27 is a graph showing frequency characteristics of gain and noise of a waveform equalizer. Although the reproduced signal from the optical disk is a random signal, the gain of the high frequency signal component is extremely lower than that of the low frequency signal component due to intersymbol interference. Therefore, as shown in FIG. 27, a predetermined frequency FC in the reproduced signal is boosted by a waveform equalizer to improve the gain of a high-frequency signal component, and the gain is rapidly reduced by a higher-order equiripple filter or the like. Then, noise in a frequency band higher than a predetermined frequency FC is removed to improve the quality of a reproduced signal.

【0005】図28は、フォーカス位置に対するジッタ
の特性を示すグラフである。フォーカス位置が最適位置
(ジャストフォーカス位置2701)からずれるとジッ
タが悪化するが、これは、図27に示す再生信号のゲイ
ンが低下し、再生信号のSN比が悪化して再生信号品質
が悪化するために起こるものである。ジッタを検出し
て、それが最小になるような最適な波形等化の周波数特
性を決定するためには、フォーカス位置をジャストフォ
ーカス位置2701に調整しておく必要がある。
FIG. 28 is a graph showing the characteristics of the jitter with respect to the focus position. When the focus position deviates from the optimum position (just focus position 2701), jitter deteriorates. This is because the gain of the reproduction signal shown in FIG. 27 decreases, the SN ratio of the reproduction signal deteriorates, and the reproduction signal quality deteriorates. Is what happens for you. In order to detect jitter and determine the optimal frequency characteristic of waveform equalization that minimizes the jitter, it is necessary to adjust the focus position to the just focus position 2701.

【0006】これを実現する従来の技術として、波形等
化した再生信号のジッタを計測し、焦点位置であるフォ
ーカス位置と波形等化部の遮断周波数とを2次元的に可
変し、ジッタが最小になるようにフォーカス位置および
遮断周波数を最適化する構成がある(特開平10−69
657号公報)。
As a conventional technique for realizing this, the jitter of a reproduced signal whose waveform has been equalized is measured, and the focus position, which is the focal position, and the cutoff frequency of the waveform equalizer are two-dimensionally varied so that the jitter is minimized. There is a configuration that optimizes the focus position and cutoff frequency so that
657).

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記構成のような従来
の光ディスク装置において、フォーカス位置と遮断周波
数といった2つのパラメータの組み合わせを全て実行
し、そのときのジッタを計測して最もよい(ジッタが最
小になる)組み合わせを求めることで再生信号品質を確
保していた。
In the conventional optical disk apparatus having the above configuration, the combination of the two parameters such as the focus position and the cutoff frequency is all executed, and the jitter at that time is measured (the jitter is minimized). ), The reproduction signal quality was secured.

【0008】しかしながら前述したように再生するメデ
ィア(光ディスク)の種類が増え、特にCD−R/RW
やDVD−R/RW/RAMといった記録系のメディア
を再生する場合は、フォーカス位置は遮断周波数と独立
して調整して遮断周波数とブースト量を最適に合わせな
いとジッタが良くならないという課題が発生した。
However, as described above, the types of media (optical disks) to be reproduced are increasing, and in particular, CD-R / RW
When playing back recording media such as DVDs and DVD-R / RW / RAM, the focus position must be adjusted independently of the cut-off frequency and the cut-off frequency and boost amount must be optimally matched to improve the jitter. did.

【0009】また各ディスクの再生速度の種類、例えば
CD標準速から48倍速、あるいはDVD標準速から1
6倍速といったように信号周波数帯域の種類が非常に増
加した場合に、起動時に毎回再生速度の種類毎にパラメ
ータの組み合わせを全て実行し、そのときのジッタを計
測して最もよい(ジッタが最小になる)組み合わせを求
めていたのでは起動時間が増大する。あるいは再生速度
の切換時にパラメータの組み合わせを全て実行し、その
ときのジッタを計測して最もよい(ジッタが最小にな
る)組み合わせを求めていたのでは、すぐに読み出しが
実行できないという課題が発生する。
Also, the type of reproduction speed of each disk, for example, 48 times speed from CD standard speed, or 1 time from DVD standard speed.
When the type of signal frequency band is greatly increased, such as 6 times speed, all combinations of parameters are executed for each type of reproduction speed at each start-up, and the jitter at that time is measured (the jitter is minimized). If the combination is determined, the startup time increases. Alternatively, when all combinations of parameters are executed at the time of switching the reproduction speed, and the jitter at that time is measured to find the best (minimized jitter) combination, the problem arises that reading cannot be executed immediately. .

【0010】本発明の目的は、多種類の光ディスクに対
応しかつ再生速度を多段階に切り換える光ディスク装置
において、起動時間および読み出し時間を短縮すること
ができる高信頼性で高速な光ディスク装置を提供するこ
とにある。
An object of the present invention is to provide a high-reliability and high-speed optical disk device that can respond to various types of optical disks and switches the reproduction speed in multiple stages, and can shorten the start-up time and the read time. It is in.

【0011】本発明の他の目的は、ジッタが最小になる
パラメータの組み合わせを効率良く速やかに求めること
が出来る光ディスク装置およびPLL回路を提供するこ
とにある。
Another object of the present invention is to provide an optical disk apparatus and a PLL circuit that can efficiently and quickly determine a combination of parameters that minimizes jitter.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明に係る光ディスク
装置は、光源から発光させる光ビームによって情報担体
上に記録された情報を光学的に再生する光ディスク装置
であって、前記光ビームを収束照射する収束手段と、前
記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過光
に対応する再生信号を生成する光検出手段と、前記光検
出手段によって生成された前記再生信号の周波数特性を
変化させる波形等化手段と、前記波形等化手段からの出
力信号のジッタを計測するジッタ計測手段と、前記ジッ
タ計測手段によって計測されるジッタを変化させること
のできる変数Xと変数Yとの2変数で定義されたXY平
面上の初期領域における前記ジッタの最小値を求めるジ
ッタ最小値探索手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手
段は、前記初期領域を互いに等しい形状を有する複数の
第1分割領域に分割し、前記複数の第1分割領域の重心
にそれぞれ位置する複数の第1ジッタ計測点で計測され
たジッタのうち最小のジッタが計測された前記複数の第
1分割領域のうちの1つを探索し、前記ジッタ最小値探
索手段は、探索した前記複数の第1分割領域のうちの前
記1つを互いに等しい形状を有する複数の第2分割領域
に分割し、前記複数の第2分割領域の重心にそれぞれ位
置する複数の第2ジッタ計測点で計測されたジッタのう
ち最小のジッタが計測された前記複数の第2分割領域の
うちの1つを探索し、探索した前記複数の第2分割領域
のうちの前記1つに含まれる前記複数の第2ジッタ計測
点のうちの1つに対応する前記変数Xと前記変数Yとの
最適な組み合わせを決定し、そのことにより上記目的が
達成される。
An optical disk device according to the present invention is an optical disk device for optically reproducing information recorded on an information carrier by a light beam emitted from a light source, wherein the light beam is convergently irradiated with the light beam. Converging means, a light detecting means for generating a reproduced signal corresponding to the reflected light or transmitted light of the light beam from the information carrier, and a waveform for changing a frequency characteristic of the reproduced signal generated by the light detecting means Equalization means, jitter measurement means for measuring jitter of an output signal from the waveform equalization means, and variables X and Y which can change the jitter measured by the jitter measurement means are defined by two variables. And a jitter minimum value searching means for obtaining the minimum value of the jitter in the initial region on the XY plane. Is divided into a plurality of first divided regions having the same shape as each other, and the minimum jitter among the jitters measured at the plurality of first jitter measurement points respectively located at the centers of gravity of the plurality of first divided regions is measured. One of the plurality of first divided areas is searched, and the minimum jitter value searching means is configured to convert the one of the searched plurality of first divided areas into a plurality of second divided areas having the same shape. The plurality of second divided areas, each of which has the smallest jitter among the jitters measured at the plurality of second jitter measurement points respectively positioned at the center of gravity of the plurality of second divided areas. One of the plurality of second divided areas searched for, and the optimum of the variable X and the variable Y corresponding to one of the plurality of second jitter measurement points included in the one of the plurality of second divided areas searched for. Determine the combination and The above-mentioned object can be achieved by.

【0013】前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領
域を互いに等しい正方形の形状を有する4つの第1分割
領域に分割し、前記4つの第1分割領域の重心にそれぞ
れ位置する4つの第1ジッタ計測点で計測されたジッタ
のうち最小のジッタが計測された前記4つの第1分割領
域のうちの1つを探索し、前記ジッタ最小値探索手段
は、探索した前記4つの第1分割領域のうちの前記1つ
を互いに等しい形状を有する4つの第2分割領域に分割
し、前記4つの第2分割領域の重心にそれぞれ位置する
4つの第2ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小
のジッタが計測された前記4つの第2分割領域のうちの
1つを探索してもよい。
The jitter minimum value searching means divides the initial area into four first divided areas having the same square shape, and four first jitters respectively located at the centers of gravity of the four first divided areas. One of the four first divided regions in which the minimum jitter is measured among the jitters measured at the measurement point is searched, and the jitter minimum value searching means searches the four first divided regions in the searched four first divided regions. The one of them is divided into four second divided regions having the same shape, and the smallest of the jitters measured at the four second jitter measurement points respectively located at the centers of gravity of the four second divided regions. One of the four second divided regions where jitter has been measured may be searched.

【0014】前記ジッタ計測手段によって計測されたジ
ッタの値が所定値以下の場合には、前記ジッタ最小値探
索手段は、探索動作を終了してもよい。
When the value of the jitter measured by the jitter measuring means is equal to or less than a predetermined value, the minimum jitter value searching means may end the search operation.

【0015】前記ジッタ計測手段がある領域でジッタを
測定することができなかった場合には、前記ジッタ計測
手段は前記ジッタを測定することができなかった前記領
域での測定を省いて最小ジッタ領域を探索してもよい。
When the jitter measuring means cannot measure the jitter in a certain area, the jitter measuring means omits the measurement in the area where the jitter cannot be measured, and May be searched.

【0016】前記変数Xは、遮断周波数を含み、前記変
数Yは、ブースト量を含んでもよい。
[0016] The variable X may include a cutoff frequency, and the variable Y may include a boost amount.

【0017】前記変数Xは、高域遅延量を含み、前記変
数Yは、低域遅延量を含んでもよい。
The variable X may include a high-frequency delay, and the variable Y may include a low-frequency delay.

【0018】前記光ビームが前記記録担体に対して所定
の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォー
カス制御手段と、前記光ビームが前記記録担体上のトラ
ックを正しく走査するように前記収束手段を制御するト
ラッキング制御手段とをさらに備え、前記変数Xは、ト
ラッキング位置を含み、前記変数Yは、フォーカス位置
を含んでもよい。
Focus control means for controlling the convergence means so that the light beam is brought into a predetermined convergence state with respect to the record carrier; and the focus control means so that the light beam scans a track on the record carrier correctly. The variable X may include a tracking position, and the variable Y may include a focus position.

【0019】前記光ビームの前記記録担体に対するラジ
アル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
と、前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシ
ャル方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調
整手段とをさらにを備え、前記変数Xは、ラジアルチル
トを含み、前記変数Yは、タンジェンシャルチルトを含
んでもよい。
The apparatus further includes radial tilt adjusting means for adjusting the tilt of the light beam in the radial direction with respect to the record carrier, and tangential tilt adjusting means for adjusting the tilt of the light beam in the tangential direction with respect to the record carrier. , The variable X may include a radial tilt, and the variable Y may include a tangential tilt.

【0020】本発明に係る他の光ディスク装置は、光源
から発光させる光ビームによって情報担体上に記録され
た情報を光学的に再生する光ディスク装置であって、前
記光ビームを収束照射する収束手段と、前記情報担体か
らの前記光ビームの反射光あるいは透過光に対応する再
生信号を生成する光検出手段と、前記光検出手段によっ
て生成された前記再生信号の周波数特性を変化させる波
形等化手段と、前記波形等化手段からの出力信号のジッ
タを計測するジッタ計測手段と、前記ジッタ計測手段に
よって計測されるジッタを変化させることのできる変数
Xと変数Yとの2変数で定義されたXY平面上の初期領
域における前記ジッタの最小値を求めるジッタ最小値探
索手段と、前記情報担体の種類を判別する情報担体判別
手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期
領域を互いに等しい形状を有する複数の第1分割領域に
分割し、前記情報担体判別手段によって判別された前記
情報担体の種類に基づいて、前記複数の第1分割領域の
うちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段は、選
択した前記複数の第1分割領域のうちの前記1つを互い
に等しい形状を有する複数の第2分割領域に分割し、前
記複数の第2分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第2分割領域のうちの1つを探索
し、探索した前記複数の第2分割領域のうちの前記1つ
に含まれる前記複数のジッタ計測点のうちの1つに対応
する前記変数Xと前記変数Yとの最適な組み合わせを決
定し、そのことにより上記目的が達成される。
Another optical disk device according to the present invention is an optical disk device for optically reproducing information recorded on an information carrier by a light beam emitted from a light source, comprising a converging means for converging and irradiating the light beam. Light detection means for generating a reproduction signal corresponding to reflected light or transmitted light of the light beam from the information carrier, and waveform equalization means for changing a frequency characteristic of the reproduction signal generated by the light detection means; An XY plane defined by two variables, a jitter measuring means for measuring jitter of an output signal from the waveform equalizing means, and a variable X and a variable Y capable of changing the jitter measured by the jitter measuring means. A jitter minimum value searching means for obtaining a minimum value of the jitter in the initial region, and an information carrier determining means for determining a type of the information carrier; The jitter minimum value searching means divides the initial area into a plurality of first divided areas having the same shape as each other, and based on the type of the information carrier determined by the information carrier determining means, Selecting one of the areas, the jitter minimum value searching means divides the selected one of the plurality of first divided areas into a plurality of second divided areas having shapes equal to each other, One of the plurality of second divided regions where the minimum jitter is measured among the jitters measured at the plurality of jitter measurement points respectively located at the centers of gravity of the plurality of second divided regions, and the searched Determining an optimal combination of the variable X and the variable Y corresponding to one of the plurality of jitter measurement points included in the one of the plurality of second divided areas, thereby determining the object; But It is.

【0021】前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領
域を互いに等しい長方形の形状を有する4つの第1分割
領域に分割し、前記情報担体判別手段によって判別され
た前記情報担体の種類に基づいて、前記4つの第1分割
領域のうちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段
は、選択した前記4つの第1分割領域のうちの前記1つ
を互いに等しい正方形の形状を有する4つの第2分割領
域に分割し、前記4つの第2分割領域の重心にそれぞれ
位置する4つの第2ジッタ計測点で計測されたジッタの
うち最小のジッタが計測された前記4つの第2分割領域
のうちの1つを探索してもよい。
The minimum jitter value searching means divides the initial area into four first divided areas having the same rectangular shape, and based on the type of the information carrier determined by the information carrier determining means, One of the four first divided areas is selected, and the minimum jitter value searching means selects one of the selected four first divided areas into four first divided areas having the same square shape. Of the jitters measured at the four second jitter measurement points respectively located at the centers of gravity of the four second divided areas, the four second divided areas in which the smallest jitter was measured were divided into two divided areas. May be searched.

【0022】前記変数Xは、遮断周波数を含み、前記変
数Yは、ブースト量を含んでもよい。
The variable X may include a cutoff frequency, and the variable Y may include a boost amount.

【0023】前記変数Xは、高域遅延量を含み、前記変
数Yは、低域遅延量を含んでもよい。
The variable X may include a high-frequency delay amount, and the variable Y may include a low-frequency delay amount.

【0024】前記光ビームが前記記録担体に対して所定
の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォー
カス制御手段と、前記光ビームが前記記録担体上のトラ
ックを正しく走査するように前記収束手段を制御するト
ラッキング制御手段とをさらに備え、前記変数Xは、ト
ラッキング位置を含み、前記変数Yは、フォーカス位置
を含んでもよい。
Focus control means for controlling the convergence means so that the light beam is brought into a predetermined convergence state with respect to the record carrier; and the convergence means so that the light beam scans a track on the record carrier correctly. The variable X may include a tracking position, and the variable Y may include a focus position.

【0025】前記光ビームの前記記録担体に対するラジ
アル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
と、前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシ
ャル方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調
整手段とをさらにを備え、前記変数Xは、ラジアルチル
トを含み、前記変数Yは、タンジェンシャルチルトを含
んでもよい。
The apparatus further includes radial tilt adjusting means for adjusting the tilt of the light beam in the radial direction with respect to the record carrier, and tangential tilt adjusting means for adjusting the tilt of the light beam in the tangential direction with respect to the record carrier. , The variable X may include a radial tilt, and the variable Y may include a tangential tilt.

【0026】本発明に係るさらに他の光ディスク装置
は、光源から発光させる光ビームによって情報担体上に
記録された情報を光学的に再生する光ディスク装置であ
って、前記光ビームを収束照射する収束手段と、前記情
報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過光に対
応する再生信号を生成する光検出手段と、前記光検出手
段によって生成された前記再生信号の周波数特性を変化
させる波形等化手段と、前記波形等化手段からの出力信
号のジッタを計測するジッタ計測手段と、前記ジッタ計
測手段によって計測されるジッタを変化させることので
きる変数Xと変数Yとの2変数で定義されたXY平面上
の初期領域における前記ジッタの最小値を求めるジッタ
最小値探索手段と、前記再生信号の再生速度を検出する
再生速度検出手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手段
は、前記初期領域を互いに等しい形状を有する複数の第
1分割領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検
出された前記再生速度に基づいて、前記複数の第1分割
領域のうちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段
は、探索した前記複数の第1分割領域のうちの前記1つ
を互いに等しい形状を有する複数の第2分割領域に分割
し、前記複数の第2分割領域の重心にそれぞれ位置する
複数のジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジ
ッタが計測された前記複数の第2分割領域のうちの1つ
を探索し、探索した前記複数の第2分割領域のうちの前
記1つに含まれる前記複数のジッタ計測点のうちの1つ
に対応する前記変数Xと前記変数Yとの最適な組み合わ
せを決定し、そのことにより上記目的が達成される。
Still another optical disk device according to the present invention is an optical disk device for optically reproducing information recorded on an information carrier by a light beam emitted from a light source, wherein a converging means for converging and irradiating the light beam Light detection means for generating a reproduction signal corresponding to reflected light or transmitted light of the light beam from the information carrier; and waveform equalization means for changing a frequency characteristic of the reproduction signal generated by the light detection means. XY defined by two variables, a jitter measuring means for measuring the jitter of the output signal from the waveform equalizing means, and a variable X and a variable Y capable of changing the jitter measured by the jitter measuring means. A jitter minimum value searching means for obtaining a minimum value of the jitter in an initial area on a plane, and a reproducing speed detecting means for detecting a reproducing speed of the reproduced signal; The minimum jitter value searching means divides the initial area into a plurality of first divided areas having the same shape, and based on the reproduction speed detected by the reproduction speed detection means, Selecting one of the divided regions, the jitter minimum value searching means divides the searched one of the plurality of first divided regions into a plurality of second divided regions having mutually equal shapes, One of the plurality of second divided regions where the minimum jitter was measured among the jitters measured at the plurality of jitter measurement points respectively located at the centers of gravity of the plurality of second divided regions was searched and searched. Determining an optimal combination of the variable X and the variable Y corresponding to one of the plurality of jitter measurement points included in the one of the plurality of second divided regions, and Purpose It is achieved.

【0027】前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領
域を互いに等しい長方形の形状を有する4つの第1分割
領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検出され
た前記再生速度に基づいて、前記4つの第1分割領域の
うちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段は、選
択した前記4つの第1分割領域のうちの前記1つを互い
に等しい正方形の形状を有する4つの第2分割領域に分
割し、前記4つの第2分割領域の重心にそれぞれ位置す
る4つのジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小の
ジッタが計測された前記4つの第2分割領域のうちの1
つを探索してもよい。
The minimum jitter value searching means divides the initial area into four first divided areas having the same rectangular shape, and based on the reproduction speed detected by the reproduction speed detection means, One of the first divided regions is selected, and the jitter minimum value searching means selects one of the selected four first divided regions into four second divided regions having a square shape equal to each other. Divided into regions, and one of the four second divided regions in which the minimum jitter is measured among the jitters measured at the four jitter measurement points respectively located at the centers of gravity of the four second divided regions.
You may search for one.

【0028】前記変数Xは、遮断周波数を含み、前記変
数Yは、ブースト量を含んでもよい。本発明に係るPL
L回路は、単調信号を発生する基準信号発生手段と、前
記単調信号を2値化する2値化手段と、前記単調信号の
信号振幅の中心を2値化することができるように前記2
値化回路を設定するデータスライスバランス設定手段
と、クロック信号を生成するクロック生成手段と、前記
2値化手段によって2値化された前記単調信号と前記ク
ロック信号生成手段によって生成された前記クロック信
号との位相を比較して位相誤差信号を出力する位相比較
手段と、前記位相比較手段から出力された前記位相誤差
信号を平均化するチャージポンプ回路と、前記位相比較
手段から出力された前記位相誤差信号の位相ずれを調整
する位相調整手段と、前記位相比較手段から出力された
前記位相誤差信号に基づいてジッタを計測するジッタ計
測手段と、前記ジッタ計測手段によって計測された前記
ジッタを変化させることのできる変数Xと変数Yとの2
変数で定義されたXY平面上の初期領域における前記ジ
ッタの最小値を求めるジッタ最小値探索手段とを備え、
前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記複
数の第1分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の第1
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第1分割領域のうちの1つを探索
し、前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の
第1分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有
する複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割
領域の重心にそれぞれ位置する複数の第2ジッタ計測点
で計測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前
記複数の第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した
前記複数の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前
記複数の第2ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記
変数Xと前記変数Yとの最適な組み合わせを決定し、そ
のことにより上記目的が達成される。
The variable X may include a cutoff frequency, and the variable Y may include a boost amount. PL according to the present invention
The L circuit includes a reference signal generating unit that generates a monotonous signal, a binarizing unit that binarizes the monotonic signal, and the binarizing unit that binarizes a signal amplitude center of the monotonic signal.
Data slice balance setting means for setting a value conversion circuit; clock generation means for generating a clock signal; the monotone signal binarized by the binarization means; and the clock signal generated by the clock signal generation means Phase comparison means for comparing the phase with the phase error signal, a charge pump circuit for averaging the phase error signal output from the phase comparison means, and the phase error output from the phase comparison means. Phase adjusting means for adjusting a phase shift of a signal, jitter measuring means for measuring jitter based on the phase error signal output from the phase comparing means, and changing the jitter measured by the jitter measuring means. Variable X and variable Y
Jitter minimum value searching means for obtaining a minimum value of the jitter in an initial area on an XY plane defined by a variable,
The minimum jitter value searching means divides the initial area into a plurality of first divided areas having the same shape, and a plurality of first divided areas respectively located at the centers of gravity of the plurality of first divided areas.
One of the plurality of first divided regions in which the minimum jitter is measured among the jitters measured at the jitter measurement point is searched, and the minimum jitter value searching means searches the plurality of first divided regions. Is divided into a plurality of second divided regions having the same shape as each other, and the minimum of the jitters measured at the plurality of second jitter measurement points respectively located at the centers of gravity of the plurality of second divided regions is determined. Searching for one of the plurality of second divided areas where the jitter has been measured, among the plurality of second jitter measurement points included in the one of the searched plurality of second divided areas. An optimal combination of the variable X and the variable Y corresponding to one of the above is determined, thereby achieving the above object.

【0029】前記変数Xは、遮断周波数を含み、前記変
数Yは、ブースト量を含んでもよい。
The variable X may include a cutoff frequency, and the variable Y may include a boost amount.

【0030】前記位相調整手段は、前記位相比較手段か
ら出力された前記位相誤差信号の前記位相ずれを調整す
るように、前記チャージポンプ回路に含まれる出力段に
おける電流バランスを可変してもよい。
[0030] The phase adjusting means may vary a current balance in an output stage included in the charge pump circuit so as to adjust the phase shift of the phase error signal output from the phase comparing means.

【0031】[0031]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して説明する。なお図面中、同様の機能を有する
部材には、同一の参照符号を示す。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, members having the same functions are denoted by the same reference numerals.

【0032】(実施の形態1)実施の形態1は、ジッタ
を可変し得る変数として、遮断周波数を変数X、ブース
ト量を変数YとしたXY平面を所定の割合で分割した各
領域でジッタが最小になる領域を求め、さらにその領域
を小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返し求
めていき、最適な変数X、Yの組み合わせを決定する方
法を実現する構成である。ここでは説明を分かりやすく
するため遮断周波数とブースト量との最適な組み合わせ
を決定する方法を実現する構成を一例とする。
(Embodiment 1) In the first embodiment, as a variable that can change the jitter, the jitter is reduced in each area obtained by dividing the XY plane with a cutoff frequency as a variable X and a boost amount as a variable Y at a predetermined ratio. This is a configuration for obtaining a minimum area, further dividing the area into smaller areas, repeatedly obtaining an area with the minimum jitter, and determining an optimal combination of variables X and Y. Here, for simplicity of explanation, a configuration for realizing a method of determining an optimal combination of a cutoff frequency and a boost amount will be described as an example.

【0033】図1は、実施の形態1に係る光ディスク装
置100の構成を説明するためのブロック図を示す。図
1に示すように、光ディスク装置100は、半導体レー
ザなどの光源から発光された光ビームを情報担体である
光ディスク1上に収束照射する光ヘッド2と、光ヘッド
2から出力される光ディスク1からの反射光に対応した
再生信号を増幅するプリアンプ3と、プリアンプ3によ
って増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路4
と、波形等化回路4によって波形等化された再生信号を
パルス化する2値化回路13と、パルス化された再生信
号のジッタを検出するジッタ検出回路5と、プリアンプ
3によって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検
出回路8と、光ヘッド2から光ディスク1上に収束照射
される光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド
2を制御する制御部7とを備える。
FIG. 1 is a block diagram for explaining the configuration of the optical disk device 100 according to the first embodiment. As shown in FIG. 1, an optical disk device 100 includes an optical head 2 for converging and irradiating a light beam emitted from a light source such as a semiconductor laser onto an optical disk 1 as an information carrier, and an optical disk 1 output from the optical head 2. Preamplifier 3 for amplifying a reproduction signal corresponding to the reflected light of the above, and a waveform equalizing circuit 4 for equalizing the waveform of the reproduction signal amplified by the preamplifier 3
A binarizing circuit 13 for pulsing the reproduced signal whose waveform has been equalized by the waveform equalizing circuit 4, a jitter detecting circuit 5 for detecting jitter of the pulsed reproduced signal, and a reproduction amplified by the preamplifier 3. An amplitude detection circuit 8 for detecting the amplitude of a signal, and a control unit 7 for controlling the optical head 2 so that a light beam converged and irradiated from the optical head 2 onto the optical disk 1 is in an optimum convergence state.

【0034】制御部7は、ジッタ検出回路5によって検
出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査部
6と、振幅検出回路8によって検出された再生信号の振
幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅探査
部9と、光ヘッド2から照射される光ビームが光ディス
ク1上で最適な収束状態になるようにフォーカス制御を
実行するフォーカス制御部10と、光ヘッド2から照射
される光ビームが光ディスク1上のトラックを正しく走
査するようにトラッキング制御を実行するトラッキング
制御部12と、最大振幅探査部9からの信号をフォーカ
ス制御部10からのフォーカス制御信号およびトラッキ
ング制御部10からのトラッキング制御信号と合成する
合成回路11とを含む。
The control section 7 includes a minimum value jitter detecting section 6 for detecting the minimum value of the jitter detected by the jitter detecting circuit 5 and a focus position at which the amplitude of the reproduced signal detected by the amplitude detecting circuit 8 becomes maximum. A maximum amplitude search unit 9 for searching, a focus control unit 10 for executing focus control so that a light beam emitted from the optical head 2 is in an optimum convergence state on the optical disk 1, and a light emitted from the optical head 2 A tracking control unit 12 that performs tracking control so that the beam scans a track on the optical disc 1 correctly; and a signal from the maximum amplitude search unit 9 is a focus control signal from the focus control unit 10 and tracking from the tracking control unit 10. A synthesizing circuit 11 for synthesizing with the control signal.

【0035】光ヘッド2から照射される光ビームが光デ
ィスク1上で最適な収束状態になるようなフォーカス制
御部10の目標位置すなわちフォーカス位置を設定する
ために、振幅検出回路8はプリアンプ3の再生信号の振
幅を検出する。制御装置7はトラッキング制御部12も
含んでいるが、トラッキング制御は本発明に直接関係な
いので、詳しい説明は省略する。
In order to set the target position of the focus control unit 10, that is, the focus position, such that the light beam emitted from the optical head 2 converges optimally on the optical disc 1, the amplitude detection circuit 8 reproduces the preamplifier 3. Detect the amplitude of the signal. The control device 7 also includes a tracking control unit 12, but the tracking control is not directly related to the present invention, and thus a detailed description is omitted.

【0036】波形等化回路4によって波形等化された再
生信号は2値化回路13によってパルス化され、そのジ
ッタをジッタ検出部5が検出する。ジッタ検出回路5
は、2値化回路13によってパルス化された再生信号と
PLLクロックと間のの位相誤差を電圧変換することに
よってジッタを検出している。
The reproduced signal whose waveform has been equalized by the waveform equalizing circuit 4 is pulsed by the binarizing circuit 13, and its jitter is detected by the jitter detector 5. Jitter detection circuit 5
Detects the jitter by converting the phase error between the reproduction signal pulsed by the binarization circuit 13 and the PLL clock into a voltage.

【0037】ジッタ検出回路5によって検出されたジッ
タは、ジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査部6
へ入力される。最小値ジッタ探査部6は、ジッタが最小
となるように遮断周波数FCとブースト量BSTとを波
形等化回路4に与えることで波形等化回路4の周波数特
性を設定する。こうして、最適に設定された周波数特性
を有する波形等化回路4のフィルタを通して光ディスク
1上のに記録された情報を再生する。
The jitter detected by the jitter detection circuit 5 is converted into a minimum value jitter search section 6 for searching for the minimum value of the jitter.
Is input to The minimum value jitter search unit 6 sets the frequency characteristics of the waveform equalization circuit 4 by giving the cutoff frequency FC and the boost amount BST to the waveform equalization circuit 4 so that the jitter is minimized. Thus, the information recorded on the optical disc 1 is reproduced through the filter of the waveform equalizing circuit 4 having the frequency characteristics set optimally.

【0038】上記した構成を用いた実施の形態1におけ
るジッタ最小探査部6の探索動作について詳しく説明す
る。
The search operation of the minimum jitter detector 6 in the first embodiment using the above-described configuration will be described in detail.

【0039】波形等化回路4は、再生信号の高域のノイ
ズ成分を除去するための遮断周波数FCと、再生信号の
高域成分を相対的に高くするブースト量BSTとを可変
できる構成になっている。波形等化回路4はベッセルフ
ィルタや等リップルフィルタなどのアクティブフィルタ
を用いて構成できる。上記したように波形等化回路4に
よって波形等化された再生信号は2値化回路13によっ
て2値化される。ジッタ検出回路5で検出されたジッタ
を用いて最小値ジッタ探査部6は、ジッタが最小になる
ような遮断周波数FCとブースト量BSTとを波形等化
回路4に設定する。
The waveform equalizing circuit 4 has a configuration in which a cutoff frequency FC for removing a high-frequency noise component of the reproduced signal and a boost amount BST for relatively increasing the high-frequency component of the reproduced signal are variable. ing. The waveform equalizing circuit 4 can be configured using an active filter such as a Bessel filter or an equiripple filter. The reproduced signal whose waveform has been equalized by the waveform equalizer 4 as described above is binarized by the binarizer 13. Using the jitter detected by the jitter detection circuit 5, the minimum value jitter search unit 6 sets the cut-off frequency FC and the boost amount BST in the waveform equalization circuit 4 so that the jitter is minimized.

【0040】最小値ジッタ探査部6が実行する最小ジッ
タ探査方法について説明をするために、まず遮断周波数
FCとブースト量BST及びジッタの間の関係について
述べる。
In order to explain the minimum jitter searching method executed by the minimum jitter searching section 6, first, the relationship among the cutoff frequency FC, the boost amount BST, and the jitter will be described.

【0041】図2(a)、 図2(b)および 図2
(c)は、実施の形態1に係る遮断周波数FCとブース
ト量BSTとジッタ等高線との関係を示すグラフであ
る。このグラフは、波形等化回路4の遮断周波数FCと
ブースト量BSTにより定義されるジッタの最小値を探
査するために使用される。直角座標系201は、遮断周
波数FC、ブースト量BSTおよびジッタにより定義す
る。一般に光ディスクからの再生信号のジッタは遮断周
波数FCとブースト量BSTに対して独立変数とはなら
ない。なぜならば、光ディスクからの再生信号では、遮
断周波数FCを高くすれば高域のノイズが多くなりジッ
タが増加し、また遮断周波数FCを低くすればノイズ成
分に対する再生信号成分の比が低くなるので、遮断周波
数FCを高くしても低くしても何れにしても再生信号の
SN比が悪くなりジッタが増加するからであり、ブース
ト量BSTについても遮断周波数FCと同様なことが言
えるからである。
FIGS. 2A, 2B and 2
(C) is a graph showing a relationship between the cutoff frequency FC, the boost amount BST, and the jitter contour according to the first embodiment. This graph is used to search for the minimum value of the jitter defined by the cutoff frequency FC of the waveform equalization circuit 4 and the boost amount BST. The rectangular coordinate system 201 is defined by a cutoff frequency FC, a boost amount BST, and jitter. Generally, the jitter of the reproduction signal from the optical disk does not become an independent variable with respect to the cutoff frequency FC and the boost amount BST. This is because, in the reproduction signal from the optical disk, if the cutoff frequency FC is increased, high-frequency noise increases and jitter increases. Also, if the cutoff frequency FC is decreased, the ratio of the reproduction signal component to the noise component is reduced. This is because, regardless of whether the cutoff frequency FC is increased or decreased, the SN ratio of the reproduced signal deteriorates and the jitter increases, and the same applies to the boost amount BST as with the cutoff frequency FC.

【0042】したがって、遮断周波数FCとブースト量
BSTとを可変した時に同じジッタの値を示すポイント
を結線すると、図2(a)、図2(b)および図2
(c)に示すように、遮断周波数FCを横軸とし、ブー
スト量BSTを縦軸とする平面においてジッタ等高線2
05A、205Bおよび205Cを描くことができる。
ここで、ΔJはジッタ等高線間隔を示しており、ジッタ
等高線間隔ΔJの大きさによりジッタ特性を推測するこ
ともできる。
Therefore, when the points showing the same jitter value when the cut-off frequency FC and the boost amount BST are varied are connected, FIG. 2 (a), FIG. 2 (b) and FIG.
As shown in (c), the jitter contour line 2 on a plane having the cutoff frequency FC as the horizontal axis and the boost amount BST as the vertical axis.
05A, 205B and 205C can be drawn.
Here, ΔJ indicates the jitter contour line interval, and the jitter characteristic can be estimated from the magnitude of the jitter contour line interval ΔJ.

【0043】ブースト量BSTとジッタとの間の相関が
遮断周波数FCとジッタとの間の相関よりも強い場合に
は、グラフ202上のジッタ等高線205Aにより示さ
れるジッタ特性となる。その逆に遮断周波数FCとジッ
タとの間の相関がブースト量BSTとジッタとの間の相
関よりも強い場合には、グラフ204上のジッタ等高線
205Cにより示されるジッタ特性となる。ブースト量
BSTとジッタとの間の相関が遮断周波数FCとジッタ
との間の相関とほぼ等しい場合には、グラフ203上の
ジッタ等高線205Bにより示されるジッタ特性とな
る。前述したように光ディスクは様々な種類があり、ジ
ッタ特性も前述した光ディスクのさまざまな種類によっ
てさまざまに変化する。
When the correlation between the boost amount BST and the jitter is stronger than the correlation between the cutoff frequency FC and the jitter, the jitter characteristic is indicated by the jitter contour 205A on the graph 202. Conversely, when the correlation between the cutoff frequency FC and the jitter is stronger than the correlation between the boost amount BST and the jitter, the jitter characteristic indicated by the jitter contour 205C on the graph 204 is obtained. When the correlation between the boost amount BST and the jitter is substantially equal to the correlation between the cutoff frequency FC and the jitter, the jitter characteristic is indicated by the jitter contour 205B on the graph 203. As described above, there are various types of optical disks, and the jitter characteristics also vary depending on the various types of optical disks described above.

【0044】遮断周波数FCを横軸とし、ブースト量B
STを縦軸とする平面においてジッタが最小になる位置
を求め、求められたジッタが最小になる位置に対応する
遮断周波数FCとブースト量BSTとを得ることによ
り、最適等化量を波形等化回路4に設定することが可能
となる。
The horizontal axis represents the cutoff frequency FC, and the boost amount B
The position where the jitter is minimized is determined on a plane having ST as the vertical axis, and the cutoff frequency FC and the boost amount BST corresponding to the position where the determined jitter is minimized are obtained, whereby the optimal equalization amount is waveform-equalized. This can be set in the circuit 4.

【0045】図3、図4および図5を用いて本実施の形
態1の最小ジッタ探査方法について説明する。図3は、
実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法を説明する
ための図である。図4は、実施の形態1に係る最小ジッ
タ領域を説明するためのグラフである。図5は、実施の
形態1に係る最小ジッタ領域探査方法を説明するフロー
チャートである。
Referring to FIGS. 3, 4 and 5, the method for searching for the minimum jitter according to the first embodiment will be described. FIG.
FIG. 3 is a diagram for explaining a minimum jitter area search method according to the first embodiment. FIG. 4 is a graph for explaining the minimum jitter area according to the first embodiment. FIG. 5 is a flowchart illustrating the minimum jitter area search method according to the first embodiment.

【0046】図3では、横軸に遮断周波数FC、縦軸に
ブースト量BSTをとる。図3に示すように、遮断周波
数FCとブースト量BSTとは、説明の簡単化のために
初期領域301において8ステップの可変幅をそれぞれ
有しているものとする。図3(a)に示すように初期領
域301は正方形の形状を有する。初期領域301は、
分割領域A1、A2、A3およびA4を含む。図3
(a)に示すように分割領域A1、A2、A3およびA
4は正方形の形状を有する。初期領域301は、分割領
域A1、A2、A3およびA4によって等分割されてい
る。初期領域301は、分割領域A0をさらに含む。図
3(a)に示すように分割領域A0は、正方形の形状を
有し、初期領域301の重心の位置に配置されており、
分割領域A1、A2、A3およびA4とそれぞれ4分の
1の面積分ずつオーバーラップしている。
In FIG. 3, the horizontal axis represents the cutoff frequency FC, and the vertical axis represents the boost amount BST. As shown in FIG. 3, it is assumed that the cutoff frequency FC and the boost amount BST have a variable width of 8 steps in the initial area 301 for simplification of the description. As shown in FIG. 3A, the initial area 301 has a square shape. The initial area 301 is
Includes divided areas A1, A2, A3 and A4. FIG.
As shown in (a), divided areas A1, A2, A3 and A
4 has a square shape. The initial area 301 is equally divided by the divided areas A1, A2, A3, and A4. The initial area 301 further includes a divided area A0. As shown in FIG. 3A, the divided area A0 has a square shape, and is arranged at the position of the center of gravity of the initial area 301.
Each of the divided areas A1, A2, A3 and A4 overlaps by a quarter area.

【0047】図3(a)に示すように、各分割領域A
0、A1、A2、A3およびA4は、ジッタ測定点J
0、J1、J2、J3、J4を有する。各ジッタ測定点
J0、J1、J2、J3、J4は、各分割領域A0、A
1、A2、A3およびA4の重心の位置に配置されてい
る。
As shown in FIG. 3A, each divided area A
0, A1, A2, A3 and A4 are jitter measurement points J
0, J1, J2, J3, and J4. Each jitter measurement point J0, J1, J2, J3, J4 is defined by each of the divided areas A0, A
It is arranged at the position of the center of gravity of 1, A2, A3 and A4.

【0048】測定点J4に対応する分割領域A4は、さ
らに細かい分割領域に分割される。即ち分割領域A4
は、分割領域B1、B2、B3およびB4を含む。図3
(b)に示すように分割領域B1、B2、B3およびB
4は正方形の形状を有する。分割領域A4は、分割領域
B1、B2、B3およびB4によって等分割されてい
る。分割領域A4は、分割領域B0をさらに含む。図3
(b)に示すように分割領域B0は、正方形の形状を有
し、分割領域A4の重心の位置に配置されており、分割
領域B1、B2、B3およびB4とそれぞれ4分の1の
面積分ずつオーバーラップしている。
The divided area A4 corresponding to the measurement point J4 is further divided into smaller divided areas. That is, the divided area A4
Includes divided areas B1, B2, B3 and B4. FIG.
As shown in (b), the divided areas B1, B2, B3 and B
4 has a square shape. The divided area A4 is equally divided by the divided areas B1, B2, B3 and B4. The divided area A4 further includes a divided area B0. FIG.
As shown in (b), the divided area B0 has a square shape and is arranged at the position of the center of gravity of the divided area A4, and each of the divided areas B1, B2, B3 and B4 has a quarter of the area. Overlap each other.

【0049】図3(b)に示すように、各分割領域B
0、B1、B2、B3およびB4は、ジッタ測定点J
4、J5、J6、J7およびJ8を有する。各ジッタ測
定点J4、J5、J6、J7およびJ8は、各分割領域
B0、B1、B2、B3およびB4の重心の位置に配置
されている。
As shown in FIG. 3B, each divided area B
0, B1, B2, B3 and B4 are the jitter measurement points J
4, J5, J6, J7 and J8. The jitter measurement points J4, J5, J6, J7, and J8 are arranged at the positions of the centers of gravity of the divided areas B0, B1, B2, B3, and B4.

【0050】初期領域Aにおいて、遮断周波数FCが値
4、ブースト量BSTが値4で直交する太線302およ
び303によって分割される4つの分割領域A1、A
2、A3およびA4を作る。これら4つの分割領域A
1、A2、A3およびA4においてジッタを計測する点
としてジッタ測定点J1、J2、J3およびJ4の4点
が決定される。次にこの4つのジッタ測定点J1、J
2、J3およびJ4においてジッタを計測し、4つの分
割領域A1、A2、A3およびA4のうちジッタが最も
小さい領域を比較決定するのであるが、4点すべてが同
じジッタ値であった場合、ジッタが最も小さい領域が決
定できない。
In the initial area A, four divided areas A 1 and A 1 divided by thick lines 302 and 303 having a cutoff frequency FC of 4 and a boost amount BST of 4 at right angles.
2. Make A3 and A4. These four divided areas A
Four points of jitter measurement points J1, J2, J3 and J4 are determined as points for measuring jitter at 1, A2, A3 and A4. Next, these four jitter measurement points J1, J
2. Jitter is measured at J3 and J4, and the area having the smallest jitter among the four divided areas A1, A2, A3 and A4 is compared and determined. If all four points have the same jitter value, the jitter is determined. Cannot be determined.

【0051】そこで4つの分割領域A1、A2、A3お
よびA4のすべてに接するJ0をジッタ測定点として、
ジッタ測定点J0におけるジッタも計測し、上記5つの
ジッタ計測値が同じであった場合には、ジッタ測定点J
0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最適値とし
て決定する。
Therefore, J0, which is in contact with all of the four divided areas A1, A2, A3 and A4, is defined as a jitter measurement point.
The jitter at the jitter measurement point J0 was also measured, and when the five jitter measurement values were the same, the jitter measurement point J0 was determined.
The cutoff frequency FC at 0 and the boost value BST are determined as optimal values.

【0052】初期領域301におけるジッタ特性は、図
4に示されるグラフ302上のジッタ等高線205Dに
より示されるものとすると、図4に示されるジッタ特性
によれば、上記5つのジッタ測定点J0、J1、J2、
J3およびJ4のうち測定されたジッタが最小であるジ
ッタ測定点はジッタ測定点J4となる。
Assuming that the jitter characteristic in the initial area 301 is indicated by a jitter contour 205D on the graph 302 shown in FIG. 4, according to the jitter characteristic shown in FIG. 4, the five jitter measurement points J0 and J1 are obtained. , J2,
The jitter measuring point at which the measured jitter is the minimum among J3 and J4 is the jitter measuring point J4.

【0053】次に、このジッタ測定点J4に対応する領
域A4において、遮断周波数FCの値が2、ブースト量
BSTの値が2で直交する2本の直線304および30
5によって領域A4を分割する4つの分割領域B1、B
2、B3およびB4を再び設定し、ジッタ計測点J5、
J6、J7およびJ8の4点が決定される。この4つの
ジッタ計測点J5、J6、J7およびJ8におけるジッ
タを計測し、4つの分割領域B1、B2、B3およびB
4のうちジッタが最も小さい領域を比較決定する。図4
のジッタ特性により、ジッタ最小位置は、ジッタ計測点
J4となることが分かる。
Next, in a region A4 corresponding to the jitter measurement point J4, two straight lines 304 and 30 orthogonal to each other with a cutoff frequency FC of 2 and a boost amount BST of 2 are orthogonal.
5, four divided areas B1 and B that divide the area A4
2, B3 and B4 are set again, and the jitter measurement point J5,
Four points J6, J7 and J8 are determined. The jitter at these four jitter measurement points J5, J6, J7 and J8 was measured, and the four divided areas B1, B2, B3 and B were measured.
The area having the smallest jitter among the areas 4 is determined by comparison. FIG.
It can be seen from the jitter characteristics of (1) that the minimum jitter position is the jitter measurement point J4.

【0054】領域A4におけるジッタ計測点J4と他の
4つのジッタ計測点J5、J6、J7およびJ8との間
の幅が1となり最小単位設定幅となったため、ジッタ計
測点J4はジッタ最小位置となる。このジッタ計測点J
4に対応した、遮断周波数FCとブースト量BSTを設
定することにより、波形等化回路4の周波数特性の最適
化が完了する。
Since the width between the jitter measurement point J4 and the other four jitter measurement points J5, J6, J7 and J8 in the area A4 is 1, which is the minimum unit set width, the jitter measurement point J4 is located at the minimum jitter position. Become. This jitter measurement point J
By setting the cutoff frequency FC and the boost amount BST corresponding to 4, the optimization of the frequency characteristics of the waveform equalization circuit 4 is completed.

【0055】最小ジッタ探査領域の分割方法とジッタ計
測点との関係を説明する。まず最小ジッタ探査領域の分
割方法を説明する。図6(a)および図6(b)は、実
施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法におけるジッ
タ計測点を説明する図である。初期領域301上のすべ
てのジッタ計測点において、計測したジッタが最小のジ
ッタとなる確率は等しい。従って各分割領域で最小ジッ
タを探査する各段階において、計測したジッタが最小の
ジッタとなる確率は各分割領域上のすべてのジッタ計測
点において等しい。
The relationship between the method of dividing the minimum jitter search area and the jitter measurement point will be described. First, a method of dividing the minimum jitter search area will be described. FIGS. 6A and 6B are diagrams illustrating jitter measurement points in the minimum jitter area searching method according to the first embodiment. At all the jitter measurement points on the initial area 301, the probability that the measured jitter becomes the minimum jitter is equal. Therefore, in each stage of searching for the minimum jitter in each divided region, the probability that the measured jitter becomes the minimum jitter is equal at all jitter measurement points on each divided region.

【0056】図3(a)に示すように分割領域A1、A
2、A3およびA4のジッタ測定点J1、J2、J3お
よびJ4は、分割領域A1、A2、A3およびA4の重
心と一致している事が好ましい。図6(a)に示すよう
に分割領域のジッタ測定点の少なくとも1つが分割領域
の重心からずれた位置に配置されていると、すべての分
割領域A1、A2、A3およびA4のジッタ測定点J
1、J2、J3およびJ4が分割領域A1、A2、A3
およびA4の重心と一致している場合に比較して、ジッ
タが最小となる分割領域を探索するために以下に示すよ
うにより多くの探査回数が必要になるからである。
As shown in FIG. 3A, the divided areas A1, A
It is preferable that the jitter measurement points J1, J2, J3 and J4 of 2, A3 and A4 coincide with the centers of gravity of the divided areas A1, A2, A3 and A4. As shown in FIG. 6A, when at least one of the jitter measurement points in the divided area is arranged at a position shifted from the center of gravity of the divided area, the jitter measurement point J in all the divided areas A1, A2, A3 and A4 is obtained.
1, J2, J3 and J4 are divided areas A1, A2, A3
This is because, as compared with the case where the center of gravity coincides with the center of gravity of A4 and A4, a larger number of searches is required to search for the divided region with the minimum jitter as described below.

【0057】図6(a)に示されるように、分割領域A
1、A3およびA4のジッタ測定点J1、J3およびJ
4は、分割領域A1、A3およびA4の重心と一致して
いる。分割領域A2のジッタ測定点JC0は、分割領域
A2の重心G1からずれた位置に配置されている。分割
領域A2の重心G1からずれた位置に配置されているジ
ッタ測定点JC0で計測されたジッタが、ジッタ計測点
J1、J3、J4およびJC0で計測されたジッタのう
ち最小のジッタであると、図6(b)に示す分割領域2
500が設定される。分割領域2500は正方形であ
る。分割領域2500の対角線の長さの2分の1は、ジ
ッタ測定点J0およびJC0を結ぶ線分2501の長さ
と等しい。分割領域2500は、さらに遮断周波数FC
の値が7、ブースト量BSTの値が7で直交する直線3
06および307によって4つの分割領域C1、C2、
C3およびC4に分割される。分割領域C1、C2およ
びC3のジッタ測定点JC1、JC2およびJC3は、
分割領域C1、C2およびC3の重心と一致している。
分割領域C4のジッタ測定点JC4は、分割領域C4の
重心G2からずれた位置に配置されている。
As shown in FIG. 6A, the divided area A
1, A3 and A4 jitter measurement points J1, J3 and J
4 matches the center of gravity of the divided areas A1, A3 and A4. The jitter measurement point JC0 of the divided area A2 is located at a position shifted from the center of gravity G1 of the divided area A2. When the jitter measured at the jitter measurement point JC0 arranged at a position shifted from the center of gravity G1 of the divided area A2 is the minimum jitter among the jitter measured at the jitter measurement points J1, J3, J4 and JC0, Divided area 2 shown in FIG.
500 is set. The divided area 2500 is a square. One-half of the length of the diagonal line of the divided area 2500 is equal to the length of a line segment 2501 connecting the jitter measurement points J0 and JC0. The divided area 2500 further includes a cutoff frequency FC
Is a straight line 3 having a value of 7 and a boost amount BST of 7 and orthogonal to each other.
06 and 307, the four divided areas C1, C2,
It is divided into C3 and C4. The jitter measurement points JC1, JC2 and JC3 of the divided areas C1, C2 and C3 are
The center of gravity of the divided areas C1, C2 and C3 coincides with the center of gravity.
The jitter measurement point JC4 of the divided area C4 is located at a position shifted from the center of gravity G2 of the divided area C4.

【0058】図6(a)に示す領域301の対角線の長
さを100%とすると、線分2501の長さは40%で
ある。図6(b)に示すように、初期領域301の中に
入っているジッタ測定点は、ジッタ測定点JC1、JC
2、JC3およびJC4のうちジッタ測定点JC2のみ
である。ジッタ測定点JC1、JC3およびJC4は初
期領域301の外にあるので、ジッタ測定点JC1、J
C3およびJC4では測定しないようなプログラムの処
理が必要になる。従って、ジッタ測定点JC0およびJ
C2のみにおいてジッタが測定される。ジッタが最小と
なる位置がジッタ測定点JC0とJC2との間以外の位
置にあるときは、さらに新たな分割領域を設定してジッ
タが最小となる位置を探索しなければならない。
Assuming that the length of the diagonal line of the region 301 shown in FIG. 6A is 100%, the length of the line segment 2501 is 40%. As shown in FIG. 6B, the jitter measurement points within the initial area 301 are the jitter measurement points JC1 and JC1.
2, JC3 and JC4 are only the jitter measurement point JC2. Since the jitter measurement points JC1, JC3 and JC4 are outside the initial area 301, the jitter measurement points JC1, JC1, JC4
C3 and JC4 require processing of a program that does not measure. Therefore, the jitter measurement points JC0 and JC0
Jitter is measured only at C2. When the position where the jitter becomes minimum is located at a position other than between the jitter measurement points JC0 and JC2, it is necessary to search for a position where the jitter becomes minimum by further setting a new divided area.

【0059】分割領域A2のジッタ測定点がジッタ測定
点JCXであって、分割領域A2の重心G1からジッタ
測定点J0側にずれた位置に配置されており、線分25
01の長さが20%であるとする。このときの分割領域
2500は、分割領域A2をカバーできない程度に小さ
くなる。ジッタが最小となる位置がジッタ測定点JC0
とJCXとの間以外の位置にあるときは、さらに新たな
分割領域を設定してジッタが最小となる位置を探索しな
ければならない。
The jitter measuring point of the divided area A2 is the jitter measuring point JCX, which is located at a position shifted from the center of gravity G1 of the divided area A2 toward the jitter measuring point J0.
Suppose that the length of 01 is 20%. At this time, the divided area 2500 is small enough not to cover the divided area A2. The position where the jitter is minimized is the jitter measurement point JC0.
If it is located at a position other than between the position and the JCX, a new divided region must be set to search for a position where the jitter is minimized.

【0060】このように、分割領域のジッタ測定点の少
なくとも1つが分割領域の重心からずれた位置に配置さ
れていると、すべての分割領域A1、A2、A3および
A4のジッタ測定点J1、J2、J3およびJ4が分割
領域A1、A2、A3およびA4の重心と一致している
場合に比較して、ジッタが最小となる分割領域を探索す
るためにより多くの探査回数が必要になる。
As described above, when at least one of the jitter measurement points in the divided area is arranged at a position shifted from the center of gravity of the divided area, the jitter measurement points J1, J2 in all the divided areas A1, A2, A3 and A4 are set. , J3, and J4 require a larger number of search times to search for the divided region with the minimum jitter than when the center of gravity of the divided regions A1, A2, A3, and A4 is coincident.

【0061】初期領域および分割領域は、4つの正方形
または長方形に分割すると、探索処理のためのプログラ
ムを簡略化することができる。図4に示すジッタは、連
続的に変化し、ステップ状に変化することはない。一般
に光ディスク装置において再生信号品質の指標とされる
ジッタの発生確率分布は正規分布するからである。図4
に示すジッタ等高線は、遮断周波数FCの軸またはブー
スト量BSTの軸と平行になることはない。波形等化手
段の波形等化特性(遮断周波数FCおよびブースト量B
ST)が変化すると、ジッタも変化するからである。さ
らにジッタが最小となる位置を探索する初期領域におい
てジッタが最小となる位置が実質的に複数個存在するこ
とはない。ジッタが最小となる位置が初期領域の外に存
在していたとしても、ジッタが最小となる位置が複数個
存在することがない限り初期領域の中でジッタが最小と
なる位置を探索することが出来る。従って光ディスク装
置の信号系の伝送特性が極端に劣化している場合を除
き、初期領域の中でジッタが最小となる位置を探索する
ことが出来る。
If the initial area and the divided area are divided into four squares or rectangles, the program for the search processing can be simplified. The jitter shown in FIG. 4 changes continuously and does not change stepwise. This is because the probability of occurrence of jitter, which is generally used as an index of the quality of a reproduced signal in an optical disc device, is normally distributed. FIG.
Are not parallel to the axis of the cutoff frequency FC or the axis of the boost amount BST. Waveform equalization characteristics of the waveform equalization means (cutoff frequency FC and boost amount B
This is because when ST) changes, the jitter also changes. Further, in the initial region for searching for the position where the jitter is minimized, there is substantially no plurality of positions where the jitter is minimized. Even if the position where the jitter is minimum exists outside the initial region, it is possible to search for the position where the jitter is minimum in the initial region unless there are multiple positions where the jitter is minimum. I can do it. Therefore, unless the transmission characteristics of the signal system of the optical disk device are extremely deteriorated, it is possible to search for the position where the jitter is minimized in the initial area.

【0062】図5において、ステップ501から、ステ
ップ504は初期領域301における最小値探査の過程
を示しており、ステップ505からステップ510は領
域A4における最小位置探査過程を示している。
In FIG. 5, steps 501 to 504 show the process of searching for the minimum value in the initial area 301, and steps 505 to 510 show the process of searching for the minimum position in the area A4.

【0063】この最小位置探査過程を実行する最小ジッ
タ探査手段は、デジタルシグナルプロセッサ(DSP)
及び、中央演算処理装置(CPU)などのファームウェ
アにより実現することができる。
The minimum jitter searching means for executing the minimum position searching process is a digital signal processor (DSP).
And it can be realized by firmware such as a central processing unit (CPU).

【0064】初期領域301において5つのジッタ測定
点J0、J1、J2、J3およびJ4を設定する(ステ
ップ501)。ジッタ測定点J0、J1、J2、J3お
よびJ4のうちのいずれかに対応する等価量即ち遮断周
波数FCとブースト値BSTとを設定する(ステップ5
02)。設定された遮断周波数FCとブースト値BST
とに基づいてジッタを計測する(ステップ503)。5
つのジッタ測定点J0、J1、J2、J3およびJ4の
すべてのジッタ測定点においてジッタを計測したか否か
を判定する(ステップ504)。5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測していないと判定された場合に
は(ステップ504でNO)、5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のうち未だジッタを計
測していないジッタ測定点においてジッタを計測するた
めにステップ502へ戻る。5つのジッタ測定点J0、
J1、J2、J3およびJ4のすべてのジッタ測定点に
おいてジッタを計測したと判定された場合には(ステッ
プ504でYES)、5つのジッタ測定点J0、J1、
J2、J3およびJ4のうち計測したジッタが最小であ
るジッタ測定点を決定する(ステップ505)。以下5
つのジッタ測定点J0、J1、J2、J3およびJ4の
のうち計測したジッタが最小であるジッタ測定点がジッ
タ測定点J4であった場合を例に挙げて説明を進める。
In the initial area 301, five jitter measurement points J0, J1, J2, J3 and J4 are set (step 501). An equivalent amount corresponding to one of the jitter measurement points J0, J1, J2, J3, and J4, that is, a cutoff frequency FC and a boost value BST are set (step 5).
02). Set cutoff frequency FC and boost value BST
Is measured based on the above (step 503). 5
It is determined whether or not the jitter has been measured at all the jitter measurement points J0, J1, J2, J3 and J4 (step 504). 5 jitter measurement points J
If it is determined that the jitter has not been measured at all the jitter measurement points 0, J1, J2, J3 and J4 (NO in step 504), the five jitter measurement points J
The process returns to step 502 in order to measure the jitter at the jitter measurement point at which the jitter has not yet been measured among 0, J1, J2, J3 and J4. Five jitter measurement points J0,
If it is determined that the jitter has been measured at all the jitter measurement points J1, J2, J3 and J4 (YES in step 504), the five jitter measurement points J0, J1,.
A jitter measurement point at which the measured jitter is minimum among J2, J3 and J4 is determined (step 505). Below 5
The description will be given taking an example in which the jitter measurement point having the smallest measured jitter among the jitter measurement points J0, J1, J2, J3 and J4 is the jitter measurement point J4.

【0065】計測したジッタが最小であるジッタ測定点
J4に対応する分割領域A4において4つのジッタ測定
点J5、J6、J7およびJ8を設定する(ステップ5
06)。ジッタ測定点J4、J5、J6、J7およびJ
8のうちのいずれかに対応する等価量即ち遮断周波数F
Cとブースト値BSTとを設定し、設定された遮断周波
数FCとブースト値BSTとに基づいてジッタを計測す
る(ステップ507)。5つのジッタ測定点J4、J
5、J6、J7およびJ8のすべてのジッタ測定点にお
いてジッタを計測したか否か(計測動作回数が5回であ
るか)を判定する(ステップ508)。5つのジッタ測
定点J4、J5、J6、J7およびJ8のすべてのジッ
タ測定点においてジッタを計測していないと判定された
場合には(ステップ508でNO)、5つのジッタ測定
点J4、J5、J6、J7およびJ8のうち未だジッタ
を計測していないジッタ測定点においてジッタを計測す
るためにステップ506へ戻る。5つのジッタ測定点J
4、J5、J6、J7およびJ8のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測動作したと判定された場合には
(ステップ508でYES)、領域A4におけるジッタ
計測点J4と他の4つのジッタ計測点J5、J6、J7
およびJ8との間の幅が1となり最小単位設定幅になっ
ているか否かを判定する(ステップ509)。ここでい
う最小単位設定幅は、ジッタを可変する2変数である、
遮断周波数FCとブースト量BSTの最小単位設定幅の
ことである。
Four jitter measurement points J5, J6, J7 and J8 are set in the divided area A4 corresponding to the jitter measurement point J4 where the measured jitter is the minimum (step 5).
06). Jitter measurement points J4, J5, J6, J7 and J
8 or the cut-off frequency F
C and the boost value BST are set, and the jitter is measured based on the set cutoff frequency FC and boost value BST (step 507). 5 jitter measurement points J4, J
It is determined whether or not the jitter has been measured at all the jitter measurement points 5, 5, J6, J7 and J8 (whether the number of measurement operations is 5) (step 508). If it is determined that the jitter has not been measured at all of the five jitter measurement points J4, J5, J6, J7 and J8 (NO in step 508), the five jitter measurement points J4, J5, The process returns to step 506 in order to measure the jitter at the jitter measurement point of which jitter has not yet been measured among J6, J7, and J8. 5 jitter measurement points J
If it is determined that the jitter measurement operation has been performed at all the jitter measurement points 4, 4, J6, J7, and J8 (YES in step 508), the jitter measurement point J4 in the area A4 and the other four jitter measurement points J5, J6, J7
It is determined whether or not the width between J8 and J8 is 1 and the minimum unit setting width is set (step 509). The minimum unit setting width here is two variables that vary the jitter.
The minimum unit setting width of the cutoff frequency FC and the boost amount BST.

【0066】ジッタ計測点J4と他の4つのジッタ計測
点J5、J6、J7およびJ8との間の幅が最小単位設
定幅になっていないと判定された場合には(ステップ5
09でNO)、ステップ505へ戻る。ジッタ計測点J
4と他の4つのジッタ計測点J5、J6、J7およびJ
8との間の幅が最小単位設定幅になっていると判定され
た場合には(ステップ509でYES)、5つのジッタ
測定点J4、J5、J6、J7およびJ8のうち計測し
たジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計測した
ジッタが最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち
遮断周波数FCとブースト値BSTとを設定する(ステ
ップ510)。
If it is determined that the width between the jitter measuring point J4 and the other four jitter measuring points J5, J6, J7 and J8 is not the minimum unit set width (step 5).
(NO at 09), the process returns to step 505. Jitter measurement point J
4 and 4 other jitter measurement points J5, J6, J7 and J
8 is determined to be the minimum unit setting width (YES in step 509), the measured jitter among the five jitter measurement points J4, J5, J6, J7 and J8 is the minimum. Is determined, and an equivalent amount, ie, a cutoff frequency FC and a boost value BST, corresponding to the jitter measurement point at which the measured jitter is minimum are set (step 510).

【0067】次に、上述のジッタ計測点を設定する方法
をデジタルシグナルプロセッサ等で実行する場合の一般
的なアルゴリズムについて説明する。
Next, a general algorithm when the above-described method of setting the jitter measurement point is executed by a digital signal processor or the like will be described.

【0068】変数を以下のように順次、定義する。Variables are sequentially defined as follows.

【0069】1.遮断周波数FCとブースト量BSTの
可変範囲をそれぞれ、FCtoral、BSTtota
lとする。
1. The variable ranges of the cutoff frequency FC and the boost amount BST are defined as FCtoral and BSTtota, respectively.
l.

【0070】2.遮断周波数FCとブースト量BSTに
より定義される平面上のジッタをJとする。
2. Let J be the jitter on a plane defined by the cutoff frequency FC and the boost amount BST.

【0071】3.αを初期遮断周波数、βを初期ブース
ト量とする。
3. α is an initial cutoff frequency, and β is an initial boost amount.

【0072】4.初期領域または最小ジッタとなるジッ
タ測定点に対応する分割領域におけるジッタ測定点の間
の幅を遮断周波数に関してΔX、ブースト量に関してΔ
Yとする。
4. The width between the jitter measurement points in the initial area or the divided area corresponding to the jitter measurement point at which the jitter is the minimum is ΔX with respect to the cutoff frequency and Δ with respect to the boost amount.
Let it be Y.

【0073】5.最小ジッタとなるジッタ測定点に対応
する分割領域はr番目の分割領域であるとする。
5. It is assumed that the divided area corresponding to the jitter measurement point at which the minimum jitter is obtained is the r-th divided area.

【0074】これらの条件により、初期遮断周波数FC
の可変範囲FCtoralとブースト量BSTの可変範
囲BSTtotalに関して (α,β)=(FCtotal/2,BSTtotal/2) (1) とおき、代表点設定可変幅を ΔX=FCtotal/2(r+1) (2−1) ΔY=BSTtotal/2(r+1) (2−2) とすると、初期領域におけるジッタ計測点は Jc(α+ΔX,β+ΔY) (4−1) Jb(α−ΔX,β+ΔY) (4−2) Ja(α,β) (4−3) Jd(α+ΔX,β−ΔY) (4−4) Je(α−ΔX,β−ΔY) (4−5) の5点で、決定することができる。
Under these conditions, the initial cutoff frequency FC
(Α, β) = (FCtotal / 2, BSTtotal / 2) (1), and the representative point setting variable width is ΔX = FCtotal / 2 (r + 1). (2-1) Assuming that ΔY = BSTtotal / 2 (r + 1) (2-2), the jitter measurement point in the initial region is Jc (α + ΔX, β + ΔY) (4-1) Jb (α−ΔX, β + ΔY) ( 4-2) Ja (α, β) (4-3) Jd (α + ΔX, β−ΔY) (4-4) Je (α−ΔX, β−ΔY) (4-5) be able to.

【0075】次に、r番目の分割領域におけるジッタ計
測点は、 Jc’(α’+ΔX,β’+ΔY) (5−1) Jb’(α’−ΔX,β’+ΔY) (5−2) Ja’(α’,β’) (5−3) Jd’(α’+ΔX,β’−ΔY) (5−4) Je’(α’−ΔX,β’−ΔY) (5−5) の5点で決定することができる。ここで、α’、β’は
5つのジッタ測定点のうち計測したジッタが最小である
ジッタ測定点に順次更新される。
Next, the jitter measurement point in the r-th divided area is Jc ′ (α ′ + ΔX, β ′ + ΔY) (5-1) Jb ′ (α′−ΔX, β ′ + ΔY) (5-2) Ja ′ (α ′, β ′) (5-3) Jd ′ (α ′ + ΔX, β′−ΔY) (5-4) Je ′ (α′−ΔX, β′−ΔY) (5-5) Five points can be determined. Here, α ′ and β ′ are sequentially updated to the jitter measurement point having the smallest measured jitter among the five jitter measurement points.

【0076】また、ΔX,ΔYも、分割した回数を表す
rの値の応じて変化する。数式(5−1)から数式(5
−5)の中でジッタ最小となるジッタ計測点に対応した
遮断周波数FCとブースト量BSTとを設定する。
Further, ΔX and ΔY also change according to the value of r representing the number of divisions. From Equation (5-1) to Equation (5)
In -5), the cutoff frequency FC and the boost amount BST corresponding to the jitter measurement point at which the jitter becomes minimum are set.

【0077】上記した数式を、DSPやファームウェア
で実行する際には、同一の演算モジュールによる繰り返
し処理で実行することができるので、より少ない資源
(プログラム容量やワーク領域)で波形等化量即ち遮断
周波数FCとブースト量BSTとを設定可能となる。
When the above formula is executed by a DSP or firmware, it can be executed by repetitive processing by the same arithmetic module, so that the amount of waveform equalization, that is, the cutoff with less resources (program capacity and work area) The frequency FC and the boost amount BST can be set.

【0078】PLLまたはサーボが外れている領域でジ
ッタが測定できなかった場合には、そのジッタが測定で
きなかった領域での測定を省いて最小ジッタ領域を探査
すれば最適な遮断周波数FCとブースト量BSTとを速
やかに決定することができる。
If the jitter cannot be measured in the area where the PLL or servo is off, the optimum cut-off frequency FC and the boost can be obtained by omitting the measurement in the area where the jitter cannot be measured and exploring the minimum jitter area. The quantity BST can be determined quickly.

【0079】さらに、基本モジュールを有効に使うため
の方法を説明する。図7は、実施の形態1に係る最小ジ
ッタ領域探査方法におけるジッタ計測点の測定順序を説
明する図を示す。図7では遮断周波数FCとブースト量
BSTとにより定義される初期領域601をジッタ計測
平面として示している。上述したように、ジッタ計測は
各分割領域602、603、604、605および60
6において行うが、測定を行う順番を常に一定にする方
法がある。
Further, a method for effectively using the basic module will be described. FIG. 7 is a diagram for explaining the measurement order of the jitter measurement points in the minimum jitter area search method according to the first embodiment. FIG. 7 shows an initial area 601 defined by the cutoff frequency FC and the boost amount BST as a jitter measurement plane. As described above, the jitter measurement is performed for each of the divided regions 602, 603, 604, 605, and 60.
6, there is a method in which the order of measurement is always constant.

【0080】図7に示すように、初期領域601は5つ
の分割領域602、603、604、605および60
6で構成されている。まず分割領域602におけるジッ
タを計測し、次に分割領域603、分割領域604、分
割領域605、分割領域606の順にジッタを計測す
る。これは、分割領域をさらに分割していく各段階にお
いても5つの分割領域602、603、604、605
および606と同じ位置関係を有する5つの分割領域を
設定し、同様な順番で測定する。このように測定する分
割領域に対する測定の順番を一定にしておけば、同一の
演算モジュールによる繰り返し処理で実行することがで
きるから、μコードやファームウエアの処理が簡単にな
る。
As shown in FIG. 7, the initial area 601 has five divided areas 602, 603, 604, 605 and 60.
6. First, the jitter in the divided region 602 is measured, and then the jitter is measured in the order of the divided region 603, the divided region 604, the divided region 605, and the divided region 606. This is because five divided regions 602, 603, 604, and 605 are also provided at each stage of further dividing the divided region.
And five divided regions having the same positional relationship as 606 and 606 are set and measured in the same order. If the order of measurement with respect to the divided areas to be measured is kept constant in this way, it is possible to execute the processing by repeated processing by the same arithmetic module, so that the processing of μ code and firmware is simplified.

【0081】前述した最小ジッタ探索では、理想的には
波形等化回路の遮断周波数FCとブースト量BSTの分
解能性能ぎりぎりまで、領域の分割を繰り返して精密に
探査していくことが好ましいが、ジッタの検出感度が波
形等化回路の遮断周波数FCとブースト量BSTの分解
能よりも低い場合には、この方法は余分な時間がかかる
ので好ましくない。そこで、ジッタ計測が5つのジッタ
測定点で終了した時点で、測定されたジッタの値が所定
の設定値JH以下になった場合に最小ジッタ探査を終了
するようにすれば、アルゴリズムの短縮を図ることがで
きる。
In the above-described minimum jitter search, ideally, it is preferable to precisely search by repeatedly dividing the region up to the limit of the resolution performance of the cutoff frequency FC and the boost amount BST of the waveform equalizing circuit. If the detection sensitivity is lower than the resolution of the cutoff frequency FC and the boost amount BST of the waveform equalization circuit, this method is not preferable because it takes extra time. Therefore, if the measured jitter value becomes equal to or less than the predetermined set value JH at the time when the jitter measurement is completed at five jitter measurement points, the minimum jitter search is terminated, thereby shortening the algorithm. be able to.

【0082】図8にこの最小ジッタ探査のフローチャー
トを示す。図5を参照して前述した実施の形態1に係る
最小ジッタ領域探査方法を説明するフローチャートに含
まれるステップと同一のステップには同一の参照符号を
付している。これらのステップの詳細な説明は省略す
る。
FIG. 8 shows a flowchart of the minimum jitter search. The same steps as those included in the flowchart for describing the minimum jitter area searching method according to the first embodiment described above with reference to FIG. 5 are denoted by the same reference numerals. Detailed description of these steps will be omitted.

【0083】図5を参照して前述した実施の形態1に係
る最小ジッタ領域探査方法を説明するフローチャートと
異なる点は、ステップ509の代わりに5つのジッタ測
定点J4、J5、J6、J7およびJ8で測定されたジ
ッタの値すべてがジッタの検出感度を表す所定の設定値
JH以下であるか否かを判定するステップ901を実行
する点である。5つのジッタ測定点J4、J5、J6、
J7およびJ8で測定されたジッタの値すべてがジッタ
の検出感度に対応する所定の設定値JH以下でないと判
定された場合には(ステップ901でNO)、ステップ
505へ戻る。5つのジッタ測定点J4、J5、J6、
J7およびJ8で測定できたジッタの値すべてがジッタ
の検出感度を表す所定の設定値JH以下であると判定さ
れた場合には(ステップ901でYES)、5つのジッ
タ測定点J4、J5、J6、J7およびJ8のうち計測
したジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計測し
たジッタが最小であるジッタ測定点に対応する等価量即
ち遮断周波数FCとブースト値BSTとを設定する(ス
テップ510)。
The difference from the flowchart for explaining the minimum jitter area searching method according to the first embodiment described above with reference to FIG. 5 is that instead of step 509, five jitter measurement points J4, J5, J6, J7 and J8 are used. Step 901 is performed to determine whether or not all the jitter values measured in step (1) are equal to or less than a predetermined set value JH indicating the jitter detection sensitivity. Five jitter measurement points J4, J5, J6,
If it is determined that all of the jitter values measured in J7 and J8 are not less than or equal to the predetermined set value JH corresponding to the jitter detection sensitivity (NO in step 901), the process returns to step 505. Five jitter measurement points J4, J5, J6,
When it is determined that all the jitter values measured in J7 and J8 are equal to or less than a predetermined set value JH representing the sensitivity of detecting jitter (YES in step 901), five jitter measurement points J4, J5, J6. , J7 and J8, determine the jitter measurement point at which the measured jitter is minimum, and set the equivalent amount, ie, the cutoff frequency FC and the boost value BST, corresponding to the jitter measurement point at which the measured jitter is minimum (step 510). ).

【0084】所定の設定値JHは上記したジッタ検出感
度に基づいて設定することができる。このように最小ジ
ッタ探査を特定の収束条件で終了することにより、探査
時間の短縮を図ることができる。
The predetermined set value JH can be set based on the jitter detection sensitivity described above. By terminating the minimum jitter search under a specific convergence condition, the search time can be reduced.

【0085】図9は、実施の形態1に係る他の光ディス
ク装置200の構成を説明するためのブロック図を示
す。図1を参照して前述した光ディスク装置100に含
まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を
付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略す
る。
FIG. 9 is a block diagram for explaining the configuration of another optical disk device 200 according to the first embodiment. The same components as those included in the optical disk device 100 described above with reference to FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. A detailed description of these components will be omitted.

【0086】図9を参照して、ジッタが最小になる最適
な変数X、Yの組み合わせを決定する方法を実現する他
の構成として、波形等化回路4の周波数帯毎の群遅延量
すなわち高い周波数域(高域)における群遅延量と低い
周波数域(低域)のおける群遅延量とを可変な構成と
し、高い周波数域(高域)における群遅延量と低い周波
数域(低域)のおける群遅延量との最適な組み合わせを
決定する方法を実現する構成を説明する。
Referring to FIG. 9, as another configuration for realizing a method for determining the optimal combination of variables X and Y that minimizes jitter, the group delay amount of each frequency band of waveform equalizing circuit 4, that is, The group delay amount in the frequency band (high band) and the group delay amount in the low frequency band (low band) are variable, and the group delay amount in the high frequency band (high band) and the low frequency band (low band) A configuration for realizing a method of determining an optimal combination with the group delay amount in the following will be described.

【0087】光ディスク装置200に含まれる最小値ジ
ッタ探査部6Aが実行する最小ジッタ探査方法について
説明をするために、まず群遅延量とジッタとの間の関係
について述べる。
In order to describe the minimum jitter searching method executed by the minimum value jitter searching unit 6A included in the optical disk device 200, first, the relationship between the group delay amount and the jitter will be described.

【0088】波形等化する際に、周波数に対する位相の
変化により定義される群遅延量(群遅延量の単位は時
間)は、波形等化する信号の周波数帯域のうちの相対的
に低い側に対応する低域群遅延量GDLと相対的に低い
側に対応する高域群遅延量GDHとを含む。低域群遅延
量GDLと高域群遅延量GDHとはそれぞれを可変でき
るように構成しておく。群遅延特性を表す群遅延量は、
多段のフィルタで構成した場合には、所望の特性が得ら
れるように、いずれかのフィルタ部の特性を可変するこ
とにより決定でき、また、FIR (Finite I
mpulse Response) フィルタで構成す
る場合には、各タップ係数を可変することにより群遅延
特性を決定することができる。
When performing waveform equalization, the amount of group delay defined by the change in phase with respect to frequency (the unit of the amount of group delay is time) is set to a relatively lower side of the frequency band of the signal to be waveform-equalized. It includes a corresponding low band group delay GDL and a relatively high band corresponding high group delay GDH. The low band group delay amount GDL and the high band group delay amount GDH are configured to be variable. The group delay amount representing the group delay characteristic is
In the case of a multi-stage filter, it can be determined by changing the characteristics of any one of the filter sections so that desired characteristics can be obtained.
In the case of using a filter, the group delay characteristic can be determined by changing each tap coefficient.

【0089】図10に波形等化回路4の群遅延特性を示
す。横軸に周波数、縦軸(左)に利得(点線)、縦軸
(右)に群遅延量を示している。理想的な伝送路の場合
には、波形等化する際の群遅延量は全周波数帯域で同じ
(フラット)になる。もし、伝送路(回路及び回路素子
を含む)に群遅延特性を歪ませる要素が存在するなら
ば、群遅延量を可変した方がより品質の良い信号を得る
ことができる。実際には、どのような伝送路にも、遅延
特性の歪みは存在し、これによる再生信号品質の劣化が
ジッタに現れる。従って、波形等化回路の高域群遅延量
GDH及び低域群遅延量GDLのそれぞれに最適な遅延
量が存在し、高域群遅延量GDH及び低域群遅延量GD
Lの最適な組み合わせを、本発明を用いて決定すること
が可能となる。
FIG. 10 shows the group delay characteristic of the waveform equalizing circuit 4. The horizontal axis indicates frequency, the vertical axis (left) indicates gain (dotted line), and the vertical axis (right) indicates group delay. In the case of an ideal transmission path, the amount of group delay during waveform equalization is the same (flat) in all frequency bands. If a transmission path (including a circuit and a circuit element) has an element that distorts the group delay characteristic, a signal of higher quality can be obtained by varying the amount of group delay. Actually, any transmission line has distortion of the delay characteristic, and the deterioration of the reproduction signal quality due to the distortion appears in the jitter. Accordingly, there is an optimum delay amount for each of the high band group delay amount GDH and the low band group delay amount GDL of the waveform equalizing circuit, and the high band group delay amount GDH and the low band group delay amount GD
The optimal combination of L can be determined using the present invention.

【0090】図11は、実施の形態1に係る低域遅延量
と高域遅延量とジッタ等高線との関係を示すグラフであ
る。高域群遅延量GDHと低域群遅延量GDLとを可変
した時に同じジッタを示すポイントを結線すると、図1
1に示すように、図2および図4で前述した遮断周波数
FCとブースト量BSTとで描いたジッタ等高線205
A〜205Dと同様にジッタ等高線205Eで表される
ジッタ特性図を描くことができる。
FIG. 11 is a graph showing the relationship between the low-band delay amount, the high-band delay amount, and the jitter contour according to the first embodiment. When the points showing the same jitter are connected when the high band group delay amount GDH and the low band group delay amount GDL are varied, FIG.
As shown in FIG. 1, the jitter contour 205 drawn with the cutoff frequency FC and the boost amount BST described above with reference to FIGS.
A jitter characteristic diagram represented by a jitter contour line 205E can be drawn similarly to A to 205D.

【0091】よって遮断周波数FCとブースト量BST
の場合と同様に高域群遅延量GDHと低域群遅延量GD
Lとを横軸と縦軸とする特性平面上でジッタ最小位置を
求めることにより、最適な群遅延特性を実現する高域群
遅延量GDHと低域群遅延量GDLとを波形等化回路4
に設定することが可能となる。
Therefore, the cutoff frequency FC and the boost amount BST
As in the case of the above, the high band group delay amount GDH and the low band group delay amount GD
By determining the jitter minimum position on a characteristic plane having L as the horizontal axis and the vertical axis, the high-band group delay amount GDH and the low-band group delay amount GDL for realizing the optimum group delay characteristics can be calculated by the waveform equalizing circuit 4.
Can be set.

【0092】図12は、実施の形態1に係るさらに他の
光ディスク装置300の構成を説明するためのブロック
図である。図1を参照して前述した光ディスク装置10
0に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照
符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省
略する。
FIG. 12 is a block diagram for explaining the configuration of still another optical disk device 300 according to the first embodiment. Optical disk device 10 described above with reference to FIG.
The same components as those included in 0 are denoted by the same reference numerals. A detailed description of these components will be omitted.

【0093】図12を参照して、ジッタが最小となる最
適な変数X、Yの組み合わせを決定する方法を実現する
構成として、光ビームの収束状態を所定の状態になるよ
うに制御するフォーカス制御と光ビームが正しくトラッ
ク上を走査するように制御するトラッキング制御手段の
各目標位置(フォーカス位置、トラッキング位置)を可
変な構成とし、フォーカス位置、トラッキング位置の最
適な組み合わせを決定する方法を実現する構成を説明す
る。
Referring to FIG. 12, focus control for controlling a convergence state of a light beam to a predetermined state is a configuration for realizing a method for determining an optimum combination of variables X and Y that minimizes jitter. The target position (focus position, tracking position) of the tracking control means for controlling the light beam to scan on the track correctly is variable, and a method for determining an optimal combination of the focus position and the tracking position is realized. The configuration will be described.

【0094】制御装置7Bにはプリアンプ3で生成され
たフォーカスエラー信号FEがバランス回路2203を
介してAD変換されて入力される。制御装置7Bにはプ
リアンプ3で生成されたトラッキングエラー信号TEが
バランス回路2201を介しAD変換されて入力され
る。入力されたフォーカスエラー信号FEは制御装置7
B内のフォーカス制御部10でデジタルフィルタ(不図
示)によって位相補償、ゲイン補償されてDA変換器
(不図示)を介して光ヘッド2に含まれるフォーカス駆
動部(不図示)へ出力される。
The focus error signal FE generated by the preamplifier 3 is AD-converted via a balance circuit 2203 and input to the control device 7B. The tracking error signal TE generated by the preamplifier 3 is AD-converted via a balance circuit 2201 and input to the control device 7B. The input focus error signal FE is
The focus control unit 10 in B is phase-compensated and gain-compensated by a digital filter (not shown) and output to a focus drive unit (not shown) included in the optical head 2 via a DA converter (not shown).

【0095】また、入力されたトラッキングエラー信号
TEは制御装置7B内のトラッキング制御部12でデジ
タルフィルタ(不図示)によって位相補償、ゲイン補償
されてDA変換器(不図示)を介して光ヘッド2に含ま
れるトラッキング駆動部(不図示)へ出力される。
The input tracking error signal TE is phase-compensated and gain-compensated by a digital filter (not shown) by a tracking control unit 12 in the control device 7B, and is passed through a DA converter (not shown). Are output to a tracking drive unit (not shown) included in the.

【0096】ここでジッタ検出部5より入力されたジッ
タが、最小になるように、フォーカス制御部10からの
出力を受け取る合成回路11および、トラッキング制御
部12からの出力を受け取る合成回路2202に加える
べきオフセット、すなわちフォーカス位置、トラッキン
グ位置の設定値を最小値ジッタ探査部6Bで探査する。
これによってフォーカス位置と、トラッキング位置とを
可変した時に同じジッタを示すポイントを結線すると、
図13に示すように、図2および図4で前述した遮断周
波数FCとブースト量BSTとで描いたジッタ等高線2
05A〜205Dと同様にジッタ等高線205Fで表さ
れるジッタ特性図を描くことができる。
Here, the jitter input from the jitter detector 5 is added to the synthesizing circuit 11 receiving the output from the focus control unit 10 and the synthesizing circuit 2202 receiving the output from the tracking control unit 12 so as to minimize the jitter. The minimum offset, that is, the set values of the focus position and the tracking position are searched by the minimum value jitter search unit 6B.
By connecting points that show the same jitter when the focus position and the tracking position are changed,
As shown in FIG. 13, the jitter contour 2 drawn with the cutoff frequency FC and the boost amount BST described above with reference to FIGS.
A jitter characteristic diagram represented by a jitter contour line 205F can be drawn as in the case of 05A to 205D.

【0097】よって遮断周波数FCとブースト量BST
の場合と同様にトラッキング位置を横軸としフォーカス
位置を縦軸とする特性平面でジッタ最小位置を求めるこ
とにより、最適なフォーカス位置、トラッキング位置を
設定することが可能となる。上記説明では、フォーカス
位置、トラッキング位置を可変する構成として、制御装
置7B内部のフォーカス制御部10からの信号、トラッ
キング制御部12からの信号にデジタル的なオフセット
を印加する場合を示したが、図12中点線で示すように
フォーカスエラー信号FEを受け取るバランス回路22
03の出力およびトラッキングエラー信号TEを受け取
るバランス回路2201の出力を変化させることで実現
することもできる。
Therefore, the cutoff frequency FC and the boost amount BST
As in the case of (1), the optimum focus position and tracking position can be set by obtaining the minimum jitter position on a characteristic plane having the tracking position on the horizontal axis and the focus position on the vertical axis. In the above description, the case where a digital offset is applied to the signal from the focus control unit 10 and the signal from the tracking control unit 12 in the control device 7B has been described as a configuration in which the focus position and the tracking position are variable. 12, a balance circuit 22 for receiving a focus error signal FE as indicated by a dotted line.
03 and the output of the balance circuit 2201 that receives the tracking error signal TE.

【0098】図14は、実施の形態1に係るさらに他の
光ディスク装置400の構成を説明するためのブロック
図である。図1を参照して前述した光ディスク装置10
0に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照
符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省
略する。
FIG. 14 is a block diagram for explaining the configuration of still another optical disk device 400 according to the first embodiment. Optical disk device 10 described above with reference to FIG.
The same components as those included in 0 are denoted by the same reference numerals. A detailed description of these components will be omitted.

【0099】図14を参照して、ジッタが最小となる最
適な変数X、Yの組み合わせを決定する方法を実現する
構成として、光ディスク1のラジアル方向のラジアルチ
ルトとタンジェンシャル方向のタンジェンシャルチルト
を補正可能な構成とし、光ディスク1のラジアルチルト
の補正値(調整値)とタンジェンシャルチルトとの補正
値(調整値)の最適な組み合わせを決定する方法を実現
する構成を説明する。
Referring to FIG. 14, as a configuration for realizing a method for determining the optimum combination of variables X and Y that minimizes jitter, the radial tilt of the optical disc 1 in the radial direction and the tangential tilt in the tangential direction are set. A description will be given of a configuration that can be corrected and realizes a method of determining an optimal combination of a correction value (adjustment value) of the radial tilt of the optical disc 1 and a correction value (adjustment value) of the tangential tilt.

【0100】図15は、実施の形態1に係るチルト座標
系を説明するための模式図である。図15では、光ディ
スク1と光ディスク1上のトラック1802及び座標系
を示している。ディスク半径方向をX軸、ディスク上の
トラック走査方向をY軸とし、ディスク面に垂直方向を
Z軸としている。光ビームのトラック走査方向はY軸方
向とする。いま、z軸に沿って光ビームが照射している
ものとすると、図15に示すように、光ビーム照射軸が
XZ平面内で傾いた場合をラジアルチルトθrが生じて
いるとし、光ビーム照射軸がYZ平面内で傾いた場合を
タンジェンシャルチルトθtが生じているとする。
FIG. 15 is a schematic diagram for explaining the tilt coordinate system according to the first embodiment. FIG. 15 shows the optical disk 1, a track 1802 on the optical disk 1, and a coordinate system. The radial direction of the disk is the X axis, the track scanning direction on the disk is the Y axis, and the direction perpendicular to the disk surface is the Z axis. The track scanning direction of the light beam is the Y-axis direction. Now, assuming that the light beam is irradiated along the z-axis, as shown in FIG. 15, when the light beam irradiation axis is inclined in the XZ plane, it is assumed that a radial tilt θr is generated and the light beam irradiation is performed. When the axis is inclined in the YZ plane, it is assumed that a tangential tilt θt has occurred.

【0101】図14には、図15に示すラジアルチルト
θr及びタンジェンシャルチルトθtを変化させる構成
を示す。ラジアルチルト制御部1901とタンジェンシ
ャルチルト制御部1902とを制御装置7Cに設けるこ
とによりラジアルチルトθr及びタンジェンシャルチル
トθtを変化させることができる。実際にラジアルチル
トθr及びタンジェンシャルチルトθtを変化させる手
法としては、機械的に光ヘッド2全体を傾けることによ
り、ラジアルチルトθr及びタンジェンシャルチルトθ
tを生じさせるものや、光学的に光の進路を可変し、光
ビーム照射軸を傾けラジアルチルトθr及びタンジェン
シャルチルトθtを生じさせる手法などがあげられる
が、これらの手法により、限定されるものではない。ラ
ジアルチルトθr及びタンジェンシャルチルトθtのう
ちの一方、もしくは両方が変化した場合には、光ディス
ク1上での光ビームの分布が歪んでしまい、従って、ジ
ッタが劣化する。ラジアルチルトθr及びタンジェンシ
ャルチルトθtのどちらに関しても、最適なチルト量が
存在し、ラジアルチルトθr及びタンジェンシャルチル
トθtの最適な組み合わせを、本発明を用いて決定する
ことが可能となる。
FIG. 14 shows a configuration for changing the radial tilt θr and the tangential tilt θt shown in FIG. By providing the radial tilt control unit 1901 and the tangential tilt control unit 1902 in the control device 7C, the radial tilt θr and the tangential tilt θt can be changed. As a method of actually changing the radial tilt θr and the tangential tilt θt, the entire optical head 2 is mechanically tilted so that the radial tilt θr and the tangential tilt θ are changed.
t, or a method of optically changing the course of light to tilt the light beam irradiation axis to generate a radial tilt θr and a tangential tilt θt, but those methods are limited by these methods. is not. When one or both of the radial tilt θr and the tangential tilt θt change, the distribution of the light beam on the optical disc 1 is distorted, and thus the jitter is deteriorated. There is an optimum amount of tilt for both the radial tilt θr and the tangential tilt θt, and the optimum combination of the radial tilt θr and the tangential tilt θt can be determined using the present invention.

【0102】ラジアルチルトθr及びタンジェンシャル
チルトθtを可変した時に同じジッタを示すポイントを
結線すると、図16に示すように、図2および図4で前
述した遮断周波数FCとブースト量BSTとで描いたジ
ッタ等高線205A〜205Dと同様にジッタ等高線2
05Gで表されるジッタ特性図を描くことができる。
When the points showing the same jitter are connected when the radial tilt θr and the tangential tilt θt are varied, as shown in FIG. 16, the cutoff frequency FC and the boost amount BST described above with reference to FIGS. 2 and 4 are drawn. Jitter contour line 2 as well as jitter contour lines 205A to 205D
A jitter characteristic diagram represented by 05G can be drawn.

【0103】よって遮断周波数FCとブースト量BST
の場合と同様にラジアルチルトθrを横軸としタンジェ
ンシャルチルトθtを縦軸とする特性平面でジッタ最小
位置を求めることにより、最適なラジアルチルトθr及
びタンジェンシャルチルトθtを設定することが可能と
なる。実際のチルト補正操作は液晶による補正やチルト
アクチュエータで行うのが一般的であるが、本発明はそ
のチルトの操作部の構成によっては限定されない。
Therefore, the cutoff frequency FC and the boost amount BST
As in the case of the above, the optimum radial tilt θr and tangential tilt θt can be set by obtaining the minimum jitter position on a characteristic plane having the radial tilt θr as the horizontal axis and the tangential tilt θt as the vertical axis. . The actual tilt correction operation is generally performed by liquid crystal correction or a tilt actuator, but the present invention is not limited by the configuration of the tilt operation unit.

【0104】(実施の形態2)実施の形態2は、実施の
形態1を種々のディスクを再生する装置に適応するため
のものである。装填されたディスクの種別を判別し、判
別したディスクの種別に応じて、ジッタを可変し得る変
数として、遮断周波数FCを変数X、ブースト量BST
を変数YとしたXY平面上の初期領域を分割した各分割
領域でジッタが最小になる領域を求め、さらにその分割
領域を小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返
し求めていくことで、最適な変数X、Yの組み合わせを
装填されたディスクの種別毎に速やかに決定する方法を
実現する構成である。
(Embodiment 2) Embodiment 2 is intended to adapt Embodiment 1 to apparatuses for reproducing various discs. The type of the loaded disk is determined, and the cutoff frequency FC is set as a variable X and the boost amount BST is set as a variable that can vary the jitter according to the determined type of the disk.
By obtaining an area where the jitter is minimum in each divided area obtained by dividing the initial area on the XY plane where is a variable Y, further dividing the divided area into small areas, and repeatedly obtaining an area where the jitter is minimum, This is a configuration for realizing a method for quickly determining the optimum combination of the variables X and Y for each type of loaded disc.

【0105】ここでは説明を分かりやすくするため遮断
周波数FCとブースト量BSTの最適な組み合わせを決
定する方法を実現する構成を一例とする。図17は、実
施の形態2に係る光ディスク装置500の構成を説明す
るためのブロック図である。図1を参照して前述した光
ディスク装置100に含まれる構成要素と同一の構成要
素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素
の詳細な説明は省略する。
Here, in order to make the explanation easy to understand, an example of a configuration for realizing a method for determining an optimum combination of cutoff frequency FC and boost amount BST will be described. FIG. 17 is a block diagram for explaining the configuration of the optical disc device 500 according to the second embodiment. The same components as those included in the optical disk device 100 described above with reference to FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. A detailed description of these components will be omitted.

【0106】光ディスク装置100は、半導体レーザな
どの光源から発光された光ビームを情報担体である光デ
ィスク1上に収束照射する光ヘッド2と、光ヘッド2か
ら出力される光ディスク1からの反射光に対応した再生
信号を増幅するプリアンプ3と、プリアンプ3によって
増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路4と、
波形等化回路4によって波形等化された再生信号をパル
ス化する2値化回路13と、パルス化された再生信号の
ジッタを検出するジッタ検出回路5と、プリアンプ3に
よって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検出回
路8と、光ヘッド2から光ディスク1上に収束照射され
る光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド2を
制御する制御部7Dとを備える。
The optical disk apparatus 100 includes an optical head 2 for irradiating a light beam emitted from a light source such as a semiconductor laser onto an optical disk 1 as an information carrier, and a reflected light from the optical disk 1 output from the optical head 2. A preamplifier 3 for amplifying the corresponding reproduced signal, a waveform equalizing circuit 4 for waveform equalizing the reproduced signal amplified by the preamplifier 3,
A binarizing circuit 13 for pulsing the reproduced signal whose waveform has been equalized by the waveform equalizing circuit 4, a jitter detecting circuit 5 for detecting jitter of the pulsed reproduced signal, and a reproduction signal of the reproduced signal amplified by the preamplifier 3. An amplitude detection circuit 8 for detecting the amplitude, and a control unit 7D for controlling the optical head 2 so that a light beam converged and irradiated from the optical head 2 onto the optical disk 1 is in an optimum convergence state.

【0107】制御部7Dは、ジッタ検出回路5によって
検出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査
部6Dと、振幅検出回路8によって検出された再生信号
の振幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅
探査部9と、光ヘッド2から照射される光ビームが光デ
ィスク1上で最適な収束状態になるようにフォーカス制
御を実行するフォーカス制御部10と、光ヘッド2から
照射される光ビームが光ディスク1上のトラックを正し
く走査するようにトラッキング制御を実行するトラッキ
ング制御部12と、最大振幅探査部9からの信号をフォ
ーカス制御部10からのフォーカス制御信号およびトラ
ッキング制御部10からのトラッキング制御信号と合成
する合成回路11とを含む。制御部7Dは、ディスク判
別部20をさらに備える。
The control section 7D includes a minimum value jitter search section 6D for searching for the minimum value of the jitter detected by the jitter detection circuit 5, and a focus position at which the amplitude of the reproduced signal detected by the amplitude detection circuit 8 becomes maximum. A maximum amplitude search section 9 for searching, a focus control section 10 for executing focus control so that a light beam emitted from the optical head 2 is in an optimum convergence state on the optical disk 1, and a light emitted from the optical head 2 A tracking control unit 12 that performs tracking control so that the beam scans a track on the optical disc 1 correctly; and a signal from the maximum amplitude search unit 9 is a focus control signal from the focus control unit 10 and tracking from the tracking control unit 10. A synthesizing circuit 11 for synthesizing with the control signal. The control unit 7D further includes a disk determination unit 20.

【0108】ディスク判別部20は、振幅検出回路8か
ら得られた光ディスク1の反射ビームに応じた信号の振
幅すなわちRF信号振幅を測定し、その測定したRF信
号を所定の判定レベルと比較することで、装填された光
ディスク1の種類を判別して、そのディスクの種類に応
じて、最小ジッタ領域探索部6Dの処理を切り換える。
The disc discriminating section 20 measures the amplitude of a signal corresponding to the reflected beam of the optical disc 1 obtained from the amplitude detecting circuit 8, ie, the RF signal amplitude, and compares the measured RF signal with a predetermined judgment level. Then, the type of the loaded optical disc 1 is determined, and the processing of the minimum jitter area search unit 6D is switched according to the type of the disc.

【0109】本発明は、再生するディスクの種類には限
定されないが、少なくとも2種類以上の反射率や密度、
容量の違うディスクを再生する光ディスク装置のための
ものである。よって説明を分かりやすくするために、例
えば(表1)に示す種類のディスクを再生するものとす
る。
The present invention is not limited to the type of the disc to be reproduced, but at least two or more types of reflectance, density,
This is for an optical disk device that plays disks of different capacities. Therefore, in order to make the explanation easy to understand, for example, it is assumed that a disc of the type shown in (Table 1) is reproduced.

【0110】[0110]

【表1】 装着するディスクの反射率の差異に応じて、フォーカス
制御部10を動作させる前に光ヘッド2を光ディスク1
に接近離間させると、光ビームスポットが光ディスク1
上に合焦したところで図18に示すようにフォーカスエ
ラー信号とRF信号が出力される。
[Table 1] Before the focus control unit 10 is operated, the optical head 2 is moved to the optical disk 1 according to the difference in the reflectance of the mounted disk.
The optical beam spot is
When the image is focused on above, a focus error signal and an RF signal are output as shown in FIG.

【0111】振幅検出回路8は、このRF信号の振幅を
エンベロープ検波等により処理し、例えばAD変換器
(不図示)を通してデジタル値として制御部7Dに入力
する。制御装置7Dは入力されたRF振幅をその内部の
ディスク判別部20において、所定の判別レベルと比較
して装填されたディスクがディスクαなのか、ディスク
βなのか、ディスクγなのか、あるいは未装填なのかを
判別する。判別結果は最小値ジッタ探査部6Dへ入力さ
れ、判別結果に応じて探索アルゴリズムを切り換える。
The amplitude detection circuit 8 processes the amplitude of this RF signal by envelope detection or the like, and inputs it to the control unit 7D as a digital value through, for example, an AD converter (not shown). The controller 7D compares the input RF amplitude with a predetermined discrimination level in a disc discriminating section 20 therein, and determines whether the disc loaded is a disc α, a disc β, a disc γ, or an unloaded disc. Determine whether it is. The discrimination result is input to the minimum value jitter searching unit 6D, and the search algorithm is switched according to the discrimination result.

【0112】次に、この判別結果に応じて切り換える判
別アルゴリズムについて図19(a)、図19(b)お
よび図19(c)を用いて説明する。図19(a)、図
19(b)および図19(c)では、実施の形態1と同
じく横軸に遮断周波数FC、縦軸にブースト量BSTを
とり、簡単化のために遮断周波数FCとブースト量BS
Tの可変幅を8ステップずつとした初期領域Aをディス
ク判別部20の判別結果に基づいて、ジッタ測定点J
0、J1、J2、J3、J4に対応して分割した分割領
域を示したものである。
Next, a discrimination algorithm for switching according to the discrimination result will be described with reference to FIGS. 19 (a), 19 (b) and 19 (c). 19 (a), 19 (b) and 19 (c), as in the first embodiment, the horizontal axis represents the cutoff frequency FC, and the vertical axis represents the boost amount BST. Boost amount BS
Based on the discrimination result of the disc discrimination unit 20, the initial area A in which the variable width of T is set to 8 steps is determined based on the jitter measurement point J.
The figure shows the divided areas corresponding to 0, J1, J2, J3, and J4.

【0113】ディスク判別部20においてディスクαと
判別された場合、ディスクαはチャネルクロックが4M
Hzと3種類のディスクの中で一番低速の再生速度であ
る。よって初期領域Aを遮断周波数FCの低い側の1/
4の領域Zにおいて、ブースト量BSTが2毎に分割さ
れた分割領域Z1、Z2、Z3およびZ4を作る。これ
ら4つの分割領域Z1、Z2、Z3およびZ4において
ジッタを計測するジッタ計測点としてJ1、J2、J3
およびJ4の4点が決定される。次にこの4点において
ジッタを計測し、4つの領域Z1、Z2、Z3およびZ
4のうちジッタが最も小さい領域を比較決定するのであ
るが、4点すべてが同じ計測値であった場合、最小ジッ
タ領域が決定できない。
If the disc discrimination section 20 discriminates the disc α, the disc α has a channel clock of 4M
Hz and the lowest playback speed among the three types of discs. Therefore, the initial region A is set to 1 /
In the area Z of No. 4, divided areas Z1, Z2, Z3 and Z4 in which the boost amount BST is divided by two are created. J1, J2, and J3 are used as jitter measurement points for measuring jitter in these four divided areas Z1, Z2, Z3, and Z4.
And J4 are determined. Next, jitter was measured at these four points, and the four regions Z1, Z2, Z3 and Z
The area where the jitter is the smallest among the four is determined by comparison, but if all four points have the same measured value, the minimum jitter area cannot be determined.

【0114】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0をジッタ測定点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
測定点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
Therefore, J corresponding to the center of the four regions (center)
The jitter at J0 is also measured with 0 as the jitter measurement point, and if the five measured values are the same, the cutoff frequency FC and the boost value BST at the jitter measurement point J0 are determined as the optimum values.

【0115】領域Zにおけるジッタ特性は、図4に示さ
れるものとすると、上記5つのジッタ計測代表点のジッ
タ最小位置はJ3となり、J3に対応した遮断周波数F
Cとブースト量BSTを設定することにより、ディスク
αにおける波形等化回路4の周波数特性の最適化が完了
する。
Assuming that the jitter characteristic in the area Z is as shown in FIG. 4, the minimum jitter position of the five representative jitter measurement points is J3, and the cut-off frequency F corresponding to J3.
By setting C and the boost amount BST, optimization of the frequency characteristics of the waveform equalization circuit 4 on the disk α is completed.

【0116】同様にディスク判別部20においてディス
クβと判別された場合、ディスクβはチャネルクロック
が27MHzと3種類のディスクの中で2番目の再生速
度である。よって図19(b)に示すように初期領域A
を遮断周波数FCの中心よりやや高い側の1/4の領域
Yにおいて、ブースト量BSTの値2毎に分割した分割
領域Y1、Y2、Y3およびY4を作る。これら4つの
分割領域Y1、Y2、Y3およびY4においてジッタ計
測点としてJ1、J2、J3およびJ4の4点が決定さ
れる。次にこの4点においてジッタを計測し、4つの領
域のうちジッタが最も小さい領域を比較決定するのであ
るが、4点すべてが同じ計測値であった場合、最小ジッ
タ領域が決定できない。
Similarly, when the disc discriminating section 20 discriminates the disc β, the disc β has a channel clock of 27 MHz, which is the second reproduction speed among the three kinds of discs. Therefore, as shown in FIG.
Are divided for every two values of the boost amount BST in a quarter Y, which is a little higher than the center of the cutoff frequency FC, to form divided areas Y1, Y2, Y3 and Y4. In these four divided areas Y1, Y2, Y3, and Y4, four points J1, J2, J3, and J4 are determined as jitter measurement points. Next, the jitter is measured at these four points, and the area where the jitter is the smallest among the four areas is compared and determined. If all the four points have the same measured value, the minimum jitter area cannot be determined.

【0117】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0をジッタ測定点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
計測点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
Therefore, J corresponding to the center of the four regions is considered.
The jitter at J0 is also measured with 0 as the jitter measurement point. If the five measured values are the same, the cutoff frequency FC and the boost value BST at the jitter measurement point J0 are determined as the optimum values.

【0118】上記5つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点J3とすると、ジッタ計測点J3に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、ディスクβにおける波形等化回路4の周波数特
性の最適化が完了する。
Assuming that the minimum jitter position of the five jitter measurement points is the jitter measurement point J3, by setting the cutoff frequency FC and the boost amount BST corresponding to the jitter measurement point J3, the waveform equalization circuit 4 of the disk β Optimization of the frequency characteristics is completed.

【0119】同様にディスク判別部20においてディス
クγと判別された場合、ディスクγはチャネルクロック
が29MHzと3種類のディスクの中で最速の再生速度
である。よって初期領域Aを遮断周波数FCの最も高い
側の1/4の領域Xにおいて、ブースト量BSTの値2
で分割する分割領域X1、X2、X3およびX4を作
る。これら4つの分割領域X1、X2、X3およびX4
においてジッタ計測点としてJ1、J2、J3、J4の
4点が決定される。次にこの4点においてジッタを計測
し、4つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決
定するのであるが、4点すべてが同じ計測値であった場
合、最小ジッタ領域が決定できない。
Similarly, when the disc discriminating section 20 discriminates the disc γ, the disc γ has a channel clock of 29 MHz, which is the fastest reproduction speed among the three types of discs. Therefore, in the initial region A, in the region X of the highest quarter of the cutoff frequency FC, the value of the boost amount BST is 2
Creates divided areas X1, X2, X3 and X4. These four divided areas X1, X2, X3 and X4
In the above, four points J1, J2, J3, and J4 are determined as jitter measurement points. Next, the jitter is measured at these four points, and the area where the jitter is the smallest among the four areas is compared and determined. If all the four points have the same measured value, the minimum jitter area cannot be determined.

【0120】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0を代表点として、J0におけるジッタも計測し、上記
5つの計測値が同じであった場合には、計測点J0での
遮断周波数FCとブースト値BSTを最適値として決定
する。
Therefore, J corresponding to the center of the four regions is considered.
The jitter at J0 is also measured using 0 as a representative point, and if the five measured values are the same, the cutoff frequency FC and the boost value BST at the measurement point J0 are determined as optimal values.

【0121】上記5つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点J2とすると、ジッタ計測点J2に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、ディスクγにおける波形等化回路4の周波数特
性の最適化が完了する。この実施の形態2の制御部7D
における処理の流れを図20に示す。
Assuming that the minimum jitter position of the five jitter measurement points is the jitter measurement point J2, the cut-off frequency FC and the boost amount BST corresponding to the jitter measurement point J2 are set, so that the waveform equalization circuit 4 on the disk γ is controlled. Optimization of the frequency characteristics is completed. Control unit 7D of the second embodiment
FIG. 20 shows the flow of the processing in.

【0122】ディスク判別部20はディスクの種類を判
別する(ステップ1201)。ディスク判別部20にお
いてディスクαと判別された場合には、初期領域Aを遮
断周波数FCの低い側の1/4の領域Zにおいて、ブー
スト量BSTが2毎に分割された分割領域Z1、Z2、
Z3およびZ4を作る(ステップ1202)。ディスク
判別部20においてディスクβと判別された場合には、
初期領域Aを遮断周波数FCの中心よりやや高い側の1
/4の領域Yにおいて、ブースト量BSTの値2毎に分
割した分割領域Y1、Y2、Y3およびY4を作る(ス
テップ1203)。ディスク判別部20においてディス
クγと判別された場合には、初期領域Aを遮断周波数F
Cの最も高い側の1/4の領域Xにおいて、ブースト量
BSTの値2で分割する分割領域X1、X2、X3およ
びX4を作る(ステップ1204)。
The disc discriminating section 20 discriminates the type of the disc (step 1201). When the disc discrimination unit 20 discriminates the disc α, the initial area A is divided into two areas Z1 and Z2 in which the boost amount BST is divided into two in an area Z on the lower side of the cutoff frequency FC.
Z3 and Z4 are created (step 1202). When the disc discriminating section 20 discriminates the disc β,
The initial region A is set to 1 slightly higher than the center of the cutoff frequency FC.
In the area Y of / 4, divided areas Y1, Y2, Y3, and Y4 divided for each value of the boost amount BST of 2 are created (step 1203). If the disc discrimination unit 20 discriminates the disc as γ, the initial area A
In the region X on the highest quarter of C, divided regions X1, X2, X3 and X4 are divided by the value 2 of the boost amount BST (step 1204).

【0123】4つの分割領域においてジッタを計測する
ジッタ計測点を決定し、等価量(遮断周波数およびブー
スト量)を設定する(ステップ1205)。5つのジッ
タ計測点J0、J1、J2、J3およびJ4においてジ
ッタを計測する(ステップ1206)。5つのジッタ測
定点J0、J1、J2、J3およびJ4のうち計測した
ジッタが最小であるジッタ測定点を決定する(ステップ
1207)。
A jitter measurement point for measuring jitter in the four divided areas is determined, and an equivalent amount (cutoff frequency and boost amount) is set (step 1205). Jitter is measured at five jitter measurement points J0, J1, J2, J3 and J4 (step 1206). The jitter measuring point at which the measured jitter is minimum among the five jitter measuring points J0, J1, J2, J3 and J4 is determined (step 1207).

【0124】ジッタ計測点J0とジッタ計測点J2およ
びJ3との間の幅が1となり最小単位設定幅になってい
るか否かを判定する(ステップ1208)。ジッタ計測
点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅が最小
単位設定幅になっていないと判定された場合には(ステ
ップ1208でNO)、ステップ1205へ戻る。ジッ
タ計測点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅
が最小単位設定幅になっていると判定された場合には
(ステップ1208でYES)、5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のうち計測したジッタ
が最小であるジッタ測定点を決定し、計測したジッタが
最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち遮断周波
数FCとブースト値BSTとを設定する(ステップ12
09)。
It is determined whether the width between the jitter measurement point J0 and the jitter measurement points J2 and J3 is 1 and the minimum unit set width is reached (step 1208). If it is determined that the width between the jitter measurement point J0 and the jitter measurement points J2 and J3 is not equal to the minimum unit set width (NO in Step 1208), the process returns to Step 1205. If it is determined that the width between the jitter measurement point J0 and the jitter measurement points J2 and J3 is the minimum unit set width (YES in step 1208), the five jitter measurement points J
The jitter measuring point at which the measured jitter is minimum among 0, J1, J2, J3, and J4 is determined, and the equivalent amount corresponding to the jitter measuring point at which the measured jitter is minimum, that is, the cutoff frequency FC and the boost value BST are determined. Set (Step 12
09).

【0125】以上のようにディスク判別部20で判別し
たディスクの種類に応じて、探索を開始する分割領域を
限定することで非常に高速に最小ジッタ領域を特定で
き、最適な波形等化器の設定を行うことができる。
As described above, the minimum jitter area can be specified very quickly by limiting the divided area from which the search is started in accordance with the type of the disc determined by the disc discriminating section 20, and the optimum waveform equalizer can be specified. Settings can be made.

【0126】また実施の形態1で説明したように、ジッ
タを可変し得る変数XYとして、遮断周波数FCとブー
スト量BST以外に、高域と低域の群遅延量、フォーカ
ス位置とトラッキング位置、ラジアルチルトとタンジェ
ンシャルチルトを適応した構成を実現することが可能で
あるが、構成、方法は同様であるので説明を省略する。
As described in the first embodiment, in addition to the cutoff frequency FC and the boost amount BST, the variable XY that can vary the jitter, the group delay amount in the high band and the low band, the focus position and the tracking position, and the radial position Although it is possible to realize a configuration adapted to tilt and tangential tilt, the configuration and method are the same, and a description thereof will be omitted.

【0127】(実施の形態3)実施の形態3は、実施の
形態1をディスクの再生速度が可変する装置、例えばC
AV再生の装置に適応するためのものである。装置が起
動し、ディスク上から得られたアドレス情報あるいはデ
ィスクから得られるデータ周波数に基づいて、ジッタを
可変し得る変数として、遮断周波数FCを変数X、ブー
スト量BSTを変数YとしたXY平面を所定の範囲の領
域で限定をかけ、その初期領域を分割した各分割領域で
ジッタが最小になる領域を求め、さらにその分割領域を
小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返し求め
ていくことで、最適な変数X、Yの組み合わせを求め、
ディスクの内周と外周とで光ディスクの回転数をダイナ
ミックに切り換えるとき、各再生速度で最適な波形等化
器の周波数特性を決定する方法を実現する構成である。
(Embodiment 3) Embodiment 3 is different from Embodiment 1 in that a device capable of changing the reproduction speed of a disc, for example, C
This is for adapting to an AV playback device. When the apparatus is started, the XY plane with the cutoff frequency FC as a variable X and the boost amount BST as a variable Y is set as a variable that can vary the jitter based on the address information obtained from the disk or the data frequency obtained from the disk. Limiting the area within a predetermined range, finding the area where the jitter is minimized in each divided area of the initial area, further dividing the divided area into smaller areas, and repeatedly finding the area where the jitter is the smallest To find the optimal combination of variables X and Y,
When the rotation speed of the optical disk is dynamically switched between the inner circumference and the outer circumference of the disk, a method for determining an optimum frequency characteristic of the waveform equalizer at each reproduction speed is realized.

【0128】ここでは説明を分かりやすくするため遮断
周波数FCとブースト量BSTの最適な組み合わせを決
定する方法を実現する構成を一例とする。図21は、実
施の形態3に係る光ディスク装置600の構成を説明す
るためのブロック図である。図1を参照して前述した光
ディスク装置100に含まれる構成要素と同一の構成要
素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素
の詳細な説明は省略する。
Here, in order to make the explanation easy to understand, an example of a configuration for realizing a method for determining an optimum combination of the cutoff frequency FC and the boost amount BST will be described. FIG. 21 is a block diagram for explaining the configuration of the optical disc device 600 according to the third embodiment. The same components as those included in the optical disk device 100 described above with reference to FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. A detailed description of these components will be omitted.

【0129】光ディスク装置600は、半導体レーザな
どの光源から発光された光ビームを情報担体である光デ
ィスク1上に収束照射する光ヘッド2と、光ヘッド2か
ら出力される光ディスク1からの反射光に対応した再生
信号を増幅するプリアンプ3と、プリアンプ3によって
増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路4と、
波形等化回路4によって波形等化された再生信号をパル
ス化する2値化回路13と、パルス化された再生信号の
ジッタを検出するジッタ検出回路5と、プリアンプ3に
よって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検出回
路8と、光ヘッド2から光ディスク1上に収束照射され
る光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド2を
制御する制御部7Eとを備える。
The optical disk device 600 includes an optical head 2 for converging and irradiating a light beam emitted from a light source such as a semiconductor laser onto an optical disk 1 serving as an information carrier, and a reflected light from the optical disk 1 output from the optical head 2. A preamplifier 3 for amplifying the corresponding reproduced signal, a waveform equalizing circuit 4 for waveform equalizing the reproduced signal amplified by the preamplifier 3,
A binarizing circuit 13 for pulsing the reproduced signal whose waveform has been equalized by the waveform equalizing circuit 4, a jitter detecting circuit 5 for detecting jitter of the pulsed reproduced signal, and a reproduction signal of the reproduced signal amplified by the preamplifier 3. An amplitude detection circuit 8 for detecting the amplitude, and a control unit 7E for controlling the optical head 2 so that the light beam converged and irradiated from the optical head 2 onto the optical disc 1 is in an optimum convergence state.

【0130】制御部7Eは、ジッタ検出回路5によって
検出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査
部6Eと、振幅検出回路8によって検出された再生信号
の振幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅
探査部9と、光ヘッド2から照射される光ビームが光デ
ィスク1上で最適な収束状態になるようにフォーカス制
御を実行するフォーカス制御部10と、光ヘッド2から
照射される光ビームが光ディスク1上のトラックを正し
く走査するようにトラッキング制御を実行するトラッキ
ング制御部12と、最大振幅探査部9からの信号をフォ
ーカス制御部10からのフォーカス制御信号およびトラ
ッキング制御部10からのトラッキング制御信号と合成
する合成回路11とを含む。
The control unit 7E includes a minimum value jitter search unit 6E for searching for the minimum value of the jitter detected by the jitter detection circuit 5, and a focus position at which the amplitude of the reproduction signal detected by the amplitude detection circuit 8 becomes maximum. A maximum amplitude search unit 9 for searching, a focus control unit 10 for executing focus control so that a light beam emitted from the optical head 2 is in an optimum convergence state on the optical disk 1, and a light emitted from the optical head 2 A tracking control unit 12 that performs tracking control so that the beam scans a track on the optical disc 1 correctly; and a signal from the maximum amplitude search unit 9 is a focus control signal from the focus control unit 10 and tracking from the tracking control unit 10. A synthesizing circuit 11 for synthesizing with the control signal.

【0131】光ディスク装置100は、2値化回路13
の出力に基づいて再生信号の再生速度を検出する再生速
度検出部30をさらに備える。再生速度検出部30は、
2値化回路13から入力されたデータ信号の周期(周波
数)を検出し、光ディスク1上の光ビームが走査してい
るトラックでの再生信号の再生速度を算出する。具体的
には種々な算出方法があるが、例えば記録フォーマット
上最長マークの周期を検出する。あるいは最短マークの
周期を検出することで再生信号の再生速度を一意に算出
することができる。算出された再生速度を表すデータ
は、制御装置7Eに入力される。制御装置7Eは、この
入力された再生速度を表すデータに基づいて、最小ジッ
タ探査部6Eの処理を切り換える。
The optical disc device 100 includes a binarizing circuit 13
And a reproduction speed detection unit 30 for detecting a reproduction speed of the reproduction signal based on the output of the reproduction signal. The playback speed detection unit 30
The period (frequency) of the data signal input from the binarization circuit 13 is detected, and the reproduction speed of the reproduction signal on the track on the optical disk 1 on which the light beam is scanning is calculated. Specifically, there are various calculation methods. For example, the cycle of the longest mark in the recording format is detected. Alternatively, the playback speed of the playback signal can be uniquely calculated by detecting the cycle of the shortest mark. Data representing the calculated reproduction speed is input to the control device 7E. The control device 7E switches the processing of the minimum jitter searching unit 6E based on the data representing the input reproduction speed.

【0132】再生速度は、CAV再生の場合は内周と外
周とのアクセスの間で最大約2.5倍変化する。例えば
内周チャネルクロック27MHzであれば外周チャネル
クロックは約27×2.5=57.5MHzとなる。ま
た、光ディスク装置の設定により例えばCDのオーディ
オ再生では1倍速再生、ROMの読み取りは40倍速
(内周16倍速)といったように使用状態に応じてCD
のオーディオ再生のモードとROMの読み取りのモード
とを切り換えることで16倍変化することもある。よっ
て信号周波数もその倍率分変動するので、波形等化器で
の遮断周波数FCの設定範囲は、再生速度に応じて決定
することができる。よって再生速度を表すデータに応じ
て波形等化器の遮断周波数FCとブースト量BSTで定
義される領域を限定することができるので、遮断周波数
FCとブースト量BSTとの速やかな設定が可能とな
る。
[0132] In the case of CAV playback, the playback speed changes by a maximum of about 2.5 times between access between the inner circumference and the outer circumference. For example, if the inner channel clock is 27 MHz, the outer channel clock is about 27 × 2.5 = 57.5 MHz. Depending on the setting of the optical disk device, for example, 1 × speed reproduction for audio reproduction of a CD, and 40 × speed (16 × inner speed) for reading a ROM according to the use condition.
By switching between the audio reproduction mode and the ROM reading mode, there is a case where the change is 16 times. Therefore, since the signal frequency also varies by the magnification, the setting range of the cutoff frequency FC in the waveform equalizer can be determined according to the reproduction speed. Therefore, since the area defined by the cutoff frequency FC and the boost amount BST of the waveform equalizer can be limited according to the data representing the reproduction speed, the cutoff frequency FC and the boost amount BST can be quickly set. .

【0133】図22(a)、図22(b)および図22
(c)は、実施の形態3に係る最小ジッタ領域探査方法
におけるジッタ計測点を説明する図である。図22
(a)、図22(b)および図22(c)では、実施の
形態1と同じく横軸を遮断周波数FC、縦軸をブースト
量BSTをとり、簡単化のために遮断周波数FCとブー
スト量BSTの可変幅を8ステップずつとした初期領域
Aを再生速度検出回路30の検出結果に基づいて、ジッ
タ測定点J0、J1、J2、J3、J4に対応して分割
した分割領域を示したものである。説明を分かりやすく
するためディスクの内周(チャネルクロック27MH
z)、中周(チャネルクロック43MHz)、外周(チ
ャネルクロック57.5MHz)の3カ所で波形等化器
を最適に設定するためのアルゴリズムの切換について説
明する。
FIGS. 22 (a), 22 (b) and 22
(C) is a diagram for explaining jitter measurement points in the minimum jitter area search method according to the third embodiment. FIG.
(A), FIG. 22 (b) and FIG. 22 (c), as in the first embodiment, the horizontal axis represents the cutoff frequency FC and the vertical axis represents the boost amount BST. The initial area A in which the variable width of the BST is set to 8 steps is shown based on the detection result of the reproduction speed detection circuit 30 and is divided corresponding to the jitter measurement points J0, J1, J2, J3, and J4. It is. The inner circumference of the disk (channel clock 27MH)
z) Switching of the algorithm for optimally setting the waveform equalizer at three locations, that is, the middle frequency (channel clock 43 MHz) and the outer circumference (channel clock 57.5 MHz) will be described.

【0134】再生速度検出部30において、例えばチャ
ネルクロック27MHz、最高周波数4.5MHzの再
生速度と検出された場合、内周の低い再生速度と判定で
きる。この結果、初期領域Aを遮断周波数FCの低い側
の1/4の領域Zにおいて、ブースト量BSTが2毎に
分割された分割領域Z1、Z2、Z3およびZ4を作
る。これら4つの領域Z1、Z2、Z3およびZ4にお
いてジッタ計測点としてJ1、J2、J3およびJ4の
4点が決定される。次にこの4点においてジッタを計測
し、4つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決
定するのであるが、4点すべてが同じ計測値であった場
合、最小ジッタ領域が決定できない。
When the reproduction speed detection section 30 detects a reproduction speed of, for example, a channel clock of 27 MHz and a maximum frequency of 4.5 MHz, it can be determined that the reproduction speed is lower at the inner periphery. As a result, divided regions Z1, Z2, Z3, and Z4 in which the boost amount BST is divided by two in the region Z on the lower side of the cutoff frequency FC from the initial region A are formed. In these four areas Z1, Z2, Z3 and Z4, four points J1, J2, J3 and J4 are determined as jitter measurement points. Next, the jitter is measured at these four points, and the area where the jitter is the smallest among the four areas is compared and determined. If all the four points have the same measured value, the minimum jitter area cannot be determined.

【0135】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0をジッタ計測点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
測定点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
Therefore, J corresponding to the center of the four regions (center)
The jitter at J0 is also measured with 0 as the jitter measurement point. If the above five measured values are the same, the cutoff frequency FC and the boost value BST at the jitter measurement point J0 are determined as optimal values.

【0136】領域Zにおけるジッタ特性は、図4に示さ
れるものとすると、上記5つのジッタ計測代表点のジッ
タ最小位置はJ3となり、J3に対応した遮断周波数F
Cとブースト量BSTを設定することにより、内周にお
ける波形等化回路4の周波数特性の最適化が完了する。
Assuming that the jitter characteristic in the region Z is as shown in FIG. 4, the minimum jitter position of the five representative jitter measurement points is J3, and the cut-off frequency F corresponding to J3.
By setting C and the boost amount BST, optimization of the frequency characteristics of the waveform equalization circuit 4 on the inner circumference is completed.

【0137】同様に再生速度検出部30において、例え
ばチャネルクロック43MHz、最高周波数7.1MH
zとの再生速度と検出された場合、中周の2番目の再生
速度と判定できる。よって図22(b)に示すように初
期領域Aを遮断周波数FCの中心よりやや高い側の1/
4の領域Yにおいて、ブースト量BSTの値2毎に分割
した分割領域Y1、Y2、Y3およびY4を作る。これ
ら4つの分割領域Y1、Y2、Y3およびY4において
ジッタ計測点としてJ1、J2、J3およびJ4の4点
が決定される。次にこの4点においてジッタを計測し、
4つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決定す
るのであるが、4点すべてが同じ計測値であった場合、
最小ジッタ領域が決定できない。
Similarly, in the reproduction speed detector 30, for example, a channel clock of 43 MHz and a maximum frequency of 7.1 MHz
When the playback speed is detected as z, it can be determined that the playback speed is the second middle playback speed. Therefore, as shown in FIG. 22B, the initial area A is set to 1 / on the side slightly higher than the center of the cutoff frequency FC.
In the region Y of No. 4, divided regions Y1, Y2, Y3, and Y4 are formed by dividing the boost amount BST by two. In these four divided areas Y1, Y2, Y3, and Y4, four points J1, J2, J3, and J4 are determined as jitter measurement points. Next, the jitter was measured at these four points,
The area having the smallest jitter among the four areas is compared and determined. If all four points have the same measured value,
The minimum jitter area cannot be determined.

【0138】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0をジッタ測定点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
計測点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
Therefore, J corresponding to the center of the four regions (center)
The jitter at J0 is also measured with 0 as the jitter measurement point. If the five measured values are the same, the cutoff frequency FC and the boost value BST at the jitter measurement point J0 are determined as the optimum values.

【0139】上記5つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点J3とすると、ジッタ計測点J3に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、中周における波形等化回路4の周波数特性の最
適化が完了する。
Assuming that the minimum jitter position of the five jitter measurement points is the jitter measurement point J3, by setting the cutoff frequency FC and the boost amount BST corresponding to the jitter measurement point J3, the waveform equalization circuit 4 in the middle circumference is set. Optimization of the frequency characteristics is completed.

【0140】同様に再生速度検出部30において、例え
ばチャネルクロック67.5MHz、最高周波数11.
25MHzとの再生速度と判別された場合、最速の外周
の再生速度と判定できる。この結果、初期領域Aを遮断
周波数FCの最も高い側の1/4の領域Xにおいて、ブ
ースト量BSTの値2で分割する分割領域X1、X2、
X3およびX4を作る。これら4つの分割領域X1、X
2、X3およびX4においてジッタ計測点としてJ1、
J2、J3、J4の4点が決定される。次にこの4点に
おいてジッタを計測し、4つの領域のうちジッタが最も
小さい領域を比較決定するのであるが、4点すべてが同
じ計測値であった場合、最小ジッタ領域が決定できな
い。
Similarly, in the reproduction speed detecting section 30, for example, a channel clock of 67.5 MHz and a maximum frequency of 11.
When it is determined that the reproduction speed is 25 MHz, it can be determined that the reproduction speed is the fastest outer peripheral reproduction speed. As a result, divided regions X1, X2, which divide the initial region A by a value 2 of the boost amount BST in a region X on the highest side of the cutoff frequency FC.
Make X3 and X4. These four divided areas X1, X
2, J1 as the jitter measurement point at X3 and X4,
Four points J2, J3 and J4 are determined. Next, the jitter is measured at these four points, and the area where the jitter is the smallest among the four areas is compared and determined. If all the four points have the same measured value, the minimum jitter area cannot be determined.

【0141】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0を代表点として、J0におけるジッタも計測し、上記
5つの計測値が同じであった場合には、計測点J0での
遮断周波数FCとブースト値BSTを最適値として決定
する。
Therefore, J corresponding to the center of the four regions is considered.
The jitter at J0 is also measured using 0 as a representative point, and if the five measured values are the same, the cutoff frequency FC and the boost value BST at the measurement point J0 are determined as optimal values.

【0142】上記5つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点J2とすると、ジッタ計測点J2に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、外周における波形等化回路4の周波数特性の最
適化が完了する。この実施の形態3の制御装置7Eにお
ける処理の流れを図23に示す。
Assuming that the jitter minimum position of the above five jitter measurement points is the jitter measurement point J2, the cutoff frequency FC and the boost amount BST corresponding to the jitter measurement point J2 are set, so that the frequency of the waveform equalization circuit 4 on the outer periphery is set. Optimization of the characteristics is completed. FIG. 23 shows the flow of processing in the control device 7E of the third embodiment.

【0143】再生速度検出回路30は再生信号の再生速
度を検出する。(ステップ1501)。再生速度検出回
路30において内周の低い再生速度と判別された場合に
は、初期領域Aを遮断周波数FCの低い側の1/4の領
域Zにおいて、ブースト量BSTが2毎に分割された分
割領域Z1、Z2、Z3およびZ4を作る(ステップ1
502)。再生速度検出回路30において中周の2番目
の再生速度と判別された場合には、初期領域Aを遮断周
波数FCの中心よりやや高い側の1/4の領域Yにおい
て、ブースト量BSTの値2毎に分割した分割領域Y
1、Y2、Y3およびY4を作る(ステップ150
3)。再生速度検出回路30において外周の最速の再生
速度と判別された場合には、初期領域Aを遮断周波数F
Cの最も高い側の1/4の領域Xにおいて、ブースト量
BSTの値2で分割する分割領域X1、X2、X3およ
びX4を作る(ステップ1504)。
The reproduction speed detection circuit 30 detects the reproduction speed of the reproduction signal. (Step 1501). If the reproduction speed detection circuit 30 determines that the reproduction speed is low at the inner periphery, the boost amount BST is divided into two in the initial region A in the region の on the lower side of the cutoff frequency FC. Create regions Z1, Z2, Z3 and Z4 (step 1
502). If the reproduction speed detection circuit 30 determines that the reproduction speed is the second reproduction speed in the middle circumference, the initial region A is set to the value 2 of the boost amount BST in the region Y which is slightly higher than the center of the cutoff frequency FC. Divided area Y divided for each
1, Y2, Y3 and Y4 are made (step 150).
3). When the reproduction speed detection circuit 30 determines that the reproduction speed is the fastest reproduction speed on the outer periphery, the initial region A is set to the cutoff frequency F
In a region X on the highest quarter of C, divided regions X1, X2, X3 and X4 are divided by the value 2 of the boost amount BST (step 1504).

【0144】4つの分割領域においてジッタを計測する
ジッタ計測点を決定し、等価量(ブースト量を設定する
(ステップ1505)。5つのジッタ計測点J0、J
1、J2、J3およびJ4においてジッタを計測する
(ステップ1506)。5つのジッタ測定点J0、J
1、J2、J3およびJ4のうち計測したジッタが最小
であるジッタ測定点を決定する(ステップ1507)。
Jitter measurement points for measuring jitter in the four divided areas are determined, and the equivalent amount (boost amount is set (step 1505). Five jitter measurement points J0 and J
The jitter is measured at 1, J2, J3 and J4 (step 1506). 5 jitter measurement points J0, J
The jitter measuring point at which the measured jitter is minimum among 1, J2, J3 and J4 is determined (step 1507).

【0145】ジッタ計測点J0とジッタ計測点J2およ
びJ3との間の幅が1となり最小単位設定幅になってい
るか否かを判定する(ステップ1508)。ジッタ計測
点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅が最小
単位設定幅になっていないと判定された場合には(ステ
ップ1508でNO)、ステップ1205へ戻る。ジッ
タ計測点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅
が最小単位設定幅になっていると判定された場合には
(ステップ1508でYES)、5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のうち計測したジッタ
が最小であるジッタ測定点を決定し、計測したジッタが
最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち遮断周波
数FCとブースト値BSTとを設定する(ステップ15
09)。
It is determined whether the width between the jitter measurement point J0 and the jitter measurement points J2 and J3 is 1 and the minimum unit set width is reached (step 1508). If it is determined that the width between the jitter measurement point J0 and the jitter measurement points J2 and J3 is not the minimum unit set width (NO in Step 1508), the process returns to Step 1205. If it is determined that the width between the jitter measurement point J0 and the jitter measurement points J2 and J3 is the minimum unit set width (YES in step 1508), the five jitter measurement points J
The jitter measuring point at which the measured jitter is minimum among 0, J1, J2, J3, and J4 is determined, and the equivalent amount corresponding to the jitter measuring point at which the measured jitter is minimum, that is, the cutoff frequency FC and the boost value BST are determined. Set (Step 15
09).

【0146】以上のように再生速度検出回路30で検出
した再生速度に基づいて、探索を開始する初期領域を限
定することで非常に高速に最小ジッタ領域を特定でき、
最適な波形等化器の設定を行うことができる。上記説明
では、内周、中周および外周の3カ所の設定に例をあげ
て説明したが、刻々と変化する再生速度を常時検出し
て、波形等化器の設定値を更新するように構成してもよ
い。
As described above, based on the reproduction speed detected by the reproduction speed detection circuit 30, by limiting the initial region where the search is started, the minimum jitter region can be specified very quickly.
The optimum waveform equalizer can be set. In the above description, an example has been described in which three settings of the inner circumference, the middle circumference, and the outer circumference are set. However, the configuration is such that the constantly changing reproduction speed is constantly detected and the set value of the waveform equalizer is updated. May be.

【0147】また実施の形態1で説明したように、ジッ
タを可変し得る変数XYとして、遮断周波数FCとブー
スト量BST以外に、高域と低域の群遅延量、フォーカ
ス位置とトラッキング位置、ラジアルチルト補正量とタ
ンジェンシャルチルト補正量を適応した構成を実現する
ことが可能であるが、構成、方法は同様であるので説明
を省略する。
As described in the first embodiment, in addition to the cut-off frequency FC and the boost amount BST, the variable XY that can vary the jitter, the group delay amount in the high band and the low band, the focus position and the tracking position, and the radial position Although it is possible to realize a configuration in which the tilt correction amount and the tangential tilt correction amount are adapted, the configuration and method are the same, and a description thereof will be omitted.

【0148】また再生速度検出回路30により検出され
る再生速度は再生信号の周期(周波数)を検出するよう
な構成で説明したが、例えば、光ディスク1上に記録さ
れたアドレス情報によって半径位置を算出して、その半
径位置より再生速度を検出してもよい。またコマンド等
によって光ディスク1の目標回転数や、実際に光ディス
ク1を回転させるモータのFG等によっても再生速度は
検出することが可能である。
Although the reproduction speed detected by the reproduction speed detection circuit 30 has been described with a configuration in which the period (frequency) of the reproduction signal is detected, for example, the radial position is calculated based on the address information recorded on the optical disk 1. Then, the reproduction speed may be detected from the radial position. The reproduction speed can also be detected by a target rotation number of the optical disk 1 by a command or the like, or by the FG of a motor for actually rotating the optical disk 1.

【0149】さらに、実施の形態3において一度内周、
中周、外周あるいは各再生速度モードでの最適な設定値
を決定すれば、その設定値を制御部7E等のメモリに格
納しておき、シークや速度切換のコマンドが来るたび
に、メモリの格納値をロードして波形等化器に設定する
ことができる。再生不能な場合に再度最小ジッタ領域探
索方法を用いて、再設定するように構成することによ
り、波形等化回路性能を一段と向上することができる。
Further, in the third embodiment, the inner circumference once,
Once the optimum set value in the middle, outer, or each playback speed mode is determined, the set value is stored in a memory such as the control unit 7E and stored in the memory each time a seek or speed switching command comes. Values can be loaded and set in the waveform equalizer. When the reproduction is not possible, by using the minimum jitter area search method again to perform the resetting, the performance of the waveform equalization circuit can be further improved.

【0150】(実施の形態4)図24は、実施の形態4
に係るPLL回路700の構成を説明するためのブロッ
ク図である。図1を参照して前述した光ディスク装置1
00に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参
照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は
省略する。
(Embodiment 4) FIG. 24 shows Embodiment 4 of the present invention.
3 is a block diagram for explaining a configuration of a PLL circuit 700 according to the first embodiment. FIG. Optical disk device 1 described above with reference to FIG.
The same components as those included in 00 are denoted by the same reference numerals. A detailed description of these components will be omitted.

【0151】実施の形態4は、実施の形態1をデータス
ライスバランスの回路オフセットを除去するPLL回路
に適用したものである。PLL回路700は、回路オフ
セットを除去する単調信号を発生する基準信号発生回路
2600と、単調信号を2値化する2値化回路13と、
単調信号の信号振幅の中心を2値化することができるよ
うに2値化回路13を設定するデータスライスバランス
設定部2601とクロック信号を生成するクロック信号
生成回路2605と、2値化回路13により2値化され
た信号とクロック信号生成回路2605によって生成さ
れたクロック信号との位相を比較して位相誤差信号を出
力する位相比較部2606と、位相誤差信号を積算する
ジッタ検出回路5と、位相比較部2606によって出力
された位相誤差信号を平均化するチャージポンプ回路2
602と、チャージポンプ回路2602の出力の交流成
分を除去し安定した発振基準電圧をクロック信号生成回
路2605に供給するローパスフィルタ(LPF)26
04と、位相誤差信号の位相ずれを調整する位相調整部
2603と、最小値ジッタ探索部6Fとを備える。
In the fourth embodiment, the first embodiment is applied to a PLL circuit for removing a circuit offset of data slice balance. The PLL circuit 700 includes a reference signal generation circuit 2600 that generates a monotone signal for removing a circuit offset, a binarization circuit 13 for binarizing a monotone signal,
A data slice balance setting unit 2601 for setting the binarization circuit 13 so that the center of the signal amplitude of the monotone signal can be binarized, a clock signal generation circuit 2605 for generating a clock signal, and the binarization circuit 13 A phase comparison unit 2606 that compares the phases of the binarized signal and the clock signal generated by the clock signal generation circuit 2605 and outputs a phase error signal; a jitter detection circuit 5 that integrates the phase error signal; Charge pump circuit 2 for averaging the phase error signal output by comparison section 2606
602 and a low-pass filter (LPF) 26 that removes an AC component of the output of the charge pump circuit 2602 and supplies a stable oscillation reference voltage to the clock signal generation circuit 2605.
04, a phase adjustment unit 2603 for adjusting the phase shift of the phase error signal, and a minimum value jitter search unit 6F.

【0152】データスライスバランス設定部2601を
説明する。光ディスク上に記録されているマーク若しく
はピットから情報を再生するためには、記録されている
マーク若しくはピットの長さを正確に読取る必要があ
る。そのためには、再生信号の振幅の中心を2値化のた
めのデータスライスレベルとすることが望ましい。マー
ク若しくはピットの長さを正確に読取ることができるか
らである。データスライスレベルは、2値化回路13に
よって2値化された2値化データの正負パルスを積分す
ることによってフィードバック制御することも可能であ
る。しかしながら、データスライスレベルをフィードバ
ック制御したとしても、2値化回路13には一般に回路
オフセットが存在するから、フィードバック制御のみで
は不十分である。従って、データスライスレベルをデー
タスライスバランス設定部2601によって微調整する
必要がある。
The data slice balance setting section 2601 will be described. In order to reproduce information from marks or pits recorded on an optical disk, it is necessary to accurately read the length of the recorded marks or pits. For this purpose, it is desirable that the center of the amplitude of the reproduced signal be a data slice level for binarization. This is because the length of the mark or pit can be accurately read. The data slice level can be feedback-controlled by integrating positive and negative pulses of the binarized data binarized by the binarization circuit 13. However, even if the data slice level is feedback-controlled, the binarization circuit 13 generally has a circuit offset, so that the feedback control alone is not sufficient. Therefore, it is necessary to finely adjust the data slice level by the data slice balance setting unit 2601.

【0153】位相調整部2603を説明する。クロック
生成回路2605は、発振基準電圧(制御電圧)に応じ
て可変するクロック信号を生成する、電圧制御型発振回
路である。クロック生成回路2605が受け取る発振基
準電圧(制御電圧)は、2値化回路13により2値化さ
れた信号とクロック信号生成回路2605によって生成
されたクロック信号との位相を比較して位相比較部26
06から出力される位相誤差信号をチャージポンプ回路
2602によって平均化しPLLのループ特性を安定に
するためのローパスフィルタ2604通過させることに
よりクロック生成回路2605へ入力される。
The phase adjustment unit 2603 will be described. The clock generation circuit 2605 is a voltage-controlled oscillation circuit that generates a clock signal that changes according to an oscillation reference voltage (control voltage). The oscillation reference voltage (control voltage) received by the clock generation circuit 2605 compares the phase of the signal binarized by the binarization circuit 13 with the phase of the clock signal generated by the clock signal generation circuit 2605, and compares the phase of the signal with the phase comparison unit 26.
The phase error signal output from 06 is averaged by a charge pump circuit 2602 and passed through a low-pass filter 2604 for stabilizing the loop characteristics of the PLL, whereby the phase error signal is input to a clock generation circuit 2605.

【0154】チャージポンプ回路2602は、位相誤差
信号を積分し平均化する。チャージポンプ回路2602
は、2値化回路13により2値化された信号に対するク
ロック信号生成回路2605によって生成されたクロッ
ク信号の進みまたは遅れに基づいて、チャージ電流を増
加または減少させる。しかし、チャージポンプ回路26
02に含まれる集積回路の中に設けられるトランジスタ
の特性の影響によって、チャージポンプ回路2602か
ら出力される出力電流の吸い込み特性と吐き出し特性と
が対称にならず、結果としてチャージポンプ回路260
2から出力される出力電流がアンバランスになる。チャ
ージポンプ回路2602から出力される出力電流がアン
バランスになると、クロック生成回路2605に供給さ
れる発振基準電圧(制御電圧)が変動するから、クロッ
ク信号生成回路2605によって生成されたクロック信
号と2値化回路13により2値化された信号との間に位
相ずれが生じる。
Charge pump circuit 2602 integrates and averages the phase error signal. Charge pump circuit 2602
Increases or decreases the charge current based on the advance or delay of the clock signal generated by the clock signal generation circuit 2605 with respect to the signal binarized by the binarization circuit 13. However, the charge pump circuit 26
02, the characteristics of a transistor provided in an integrated circuit included in the integrated circuit 02 do not have a symmetrical characteristic of sinking and discharging characteristics of the output current output from the charge pump circuit 2602.
The output current output from 2 becomes unbalanced. When the output current output from the charge pump circuit 2602 becomes unbalanced, the oscillation reference voltage (control voltage) supplied to the clock generation circuit 2605 changes, so that the clock signal generated by the clock signal generation circuit 2605 and the binary signal A phase shift occurs between the signal binarized by the digitizing circuit 13.

【0155】位相調整部2603は、このような位相ず
れを調整する。具体的には位相調整部2603はチャー
ジポンプ回路2602に含まれる出力段における電流バ
ランスを可変することによって、クロック信号生成回路
2605によって生成されたクロック信号と2値化回路
13により2値化された信号との間に位相ずれを調整し
得る。位相調整部2603は、位相調整部2603に含
まれるA/D変換器を用いて電流バランスを可変するこ
とによって、このような位相ずれを調整してもよい。
The phase adjustment section 2603 adjusts such a phase shift. Specifically, the phase adjustment unit 2603 changes the current balance in the output stage included in the charge pump circuit 2602, so that the clock signal generated by the clock signal generation circuit 2605 and the binarization circuit 13 binarize the clock signal. The phase shift with respect to the signal can be adjusted. The phase adjustment unit 2603 may adjust such a phase shift by changing the current balance using an A / D converter included in the phase adjustment unit 2603.

【0156】このような位相ずれが生じると、再生信号
のジッタが増加するので、再生信号のジッタをモニタし
ながら最適な位相調整量を探査する必要がある。このよ
うに、位相調整部2603が最適に設定されていないた
めに位相ずれが生じると、再生信号のジッタが増加す
る。再生信号のジッタをモニタしながらデータスライス
バランス量を最適に設定しようとすると、データスライ
スバランス量に対するジッタの変化の度合いが小さいた
めに最適なデータスライスバランス量を探査することが
困難になる場合がある。
When such a phase shift occurs, the jitter of the reproduced signal increases. Therefore, it is necessary to search for the optimum amount of phase adjustment while monitoring the jitter of the reproduced signal. As described above, when a phase shift occurs because the phase adjustment unit 2603 is not optimally set, the jitter of the reproduced signal increases. When trying to optimally set the data slice balance while monitoring the jitter of the reproduced signal, it may be difficult to search for the optimum data slice balance because the degree of change of the jitter with respect to the data slice balance is small. is there.

【0157】そこで、再生信号のジッタをモニタしなが
らジッタが最も小さくなるようなデータスライスバラン
ス設定部2601によって設定されるデータスライスバ
ランス量と位相調整部2603によって調整される位相
調整量との最適な組み合わせを探索する。
Therefore, while monitoring the jitter of the reproduced signal, the optimum value between the data slice balance amount set by the data slice balance setting unit 2601 and the phase adjustment amount adjusted by the phase adjustment unit 2603 so that the jitter is minimized. Search for combinations.

【0158】図25は、実施の形態4に係る位相調整量
とデータスライスバランス量とジッタ等高線との関係を
示すグラフである。位相調整量及びデータスライスバラ
ンス量を可変した時に同じジッタを示すポイントを結線
すると、図25に示すように、図2および図4で前述し
た遮断周波数FCとブースト量BSTとで描いたジッタ
等高線205A〜205Dと同様にジッタ等高線205
Hで表されるジッタ特性図を描くことができる。
FIG. 25 is a graph showing the relationship between the phase adjustment amount, the data slice balance amount, and the jitter contour according to the fourth embodiment. When points indicating the same jitter are connected when the phase adjustment amount and the data slice balance amount are varied, as shown in FIG. 25, the jitter contour line 205A drawn with the cutoff frequency FC and the boost amount BST described above with reference to FIGS. Jitter contour 205 as well as 205D
A jitter characteristic diagram represented by H can be drawn.

【0159】よって遮断周波数FCとブースト量BST
の場合と同様に位相調整量を横軸としデータスライスバ
ランス量を縦軸とする特性平面でジッタ最小位置を求め
ることにより、最適な位相調整量及びデータスライスバ
ランス量を設定することが可能となる。ジッタ最小位置
を求める探査方法は、実施の形態1で前述したジッタ最
小位置を求める探査方法において変数Xと変数Yとをそ
れぞれ位相調整量とデータスライスバランス量とにした
ものであるので、詳細な説明は省略する。
Therefore, the cutoff frequency FC and the boost amount BST
In the same manner as in the above case, the optimum phase adjustment amount and data slice balance amount can be set by obtaining the minimum jitter position on a characteristic plane having the phase adjustment amount as the horizontal axis and the data slice balance amount as the vertical axis. . The search method for finding the minimum jitter position is the same as the search method for finding the minimum jitter position described in Embodiment 1 except that the variable X and the variable Y are used as the phase adjustment amount and the data slice balance amount, respectively. Description is omitted.

【0160】図26は、実施の形態4に係る最小ジッタ
領域探査方法を説明するフローチャートである。 初期
領域において5つのジッタ測定点を設定する(ステップ
2801)。ジッタ測定点のうちのいずれかに対応する
等価量即ち位相調整量及びデータスライスバランス量を
設定する(ステップ2802)。設定された位相調整量
及びデータスライスバランス量に基づいてジッタを計測
する(ステップ2803)。5つのジッタ測定点のすべ
てのジッタ測定点においてジッタを計測したか否かを判
定する(ステップ2804)。5つのジッタ測定点のす
べてのジッタ測定点においてジッタを計測していないと
判定された場合には(ステップ2804でNO)、5つ
のジッタ測定点のうち未だジッタを計測していないジッ
タ測定点においてジッタを計測するためにステップ28
02へ戻る。5つのジッタ測定点のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測したと判定された場合には(ス
テップ2804でYES)、5つのジッタ測定点のうち
計測したジッタが最小であるジッタ測定点を決定する
(ステップ2805)。
FIG. 26 is a flowchart for explaining the minimum jitter area searching method according to the fourth embodiment. Five jitter measurement points are set in the initial area (step 2801). An equivalent amount, that is, a phase adjustment amount and a data slice balance amount corresponding to any of the jitter measurement points are set (step 2802). The jitter is measured based on the set phase adjustment amount and data slice balance amount (step 2803). It is determined whether or not jitter has been measured at all of the five jitter measurement points (step 2804). If it is determined that the jitter has not been measured at all of the five jitter measurement points (NO in step 2804), at the jitter measurement point of which the jitter has not yet been measured among the five jitter measurement points Step 28 to measure jitter
Return to 02. When it is determined that the jitter has been measured at all of the five jitter measurement points (YES in step 2804), the jitter measurement point having the smallest measured jitter among the five jitter measurement points is determined. (Step 2805).

【0161】計測したジッタが最小であるジッタ測定点
に対応する分割領域において5つのジッタ測定点を設定
する(ステップ2806)。5つのジッタ測定点のうち
のいずれかに対応する等価量即ち位相調整量とデータス
ライスバランス量とを設定し、設定された位相調整量と
データスライスバランス量とに基づいてジッタを計測す
る(ステップ2807)。5つのジッタ測定点のすべて
のジッタ測定点においてジッタを計測したか否かを判定
する(ステップ2808)。5つのジッタ測定点のすべ
てのジッタ測定点においてジッタを計測していないと判
定された場合には(ステップ2808でNO)、5つの
ジッタ測定点のうち未だジッタを計測していないジッタ
測定点においてジッタを計測するためにステップ280
6へ戻る。5つのジッタ測定点のすべてのジッタ測定点
においてジッタを計測したと判定された場合には(ステ
ップ2808でYES)、5つのジッタ測定点で測定で
きたジッタの値すべてがジッタの検出感度を表す所定の
設定値JH以下であるか否かを判定する(ステップ28
09)。5つのジッタ測定点で測定されたジッタの値す
べてがジッタの検出感度に対応する所定の設定値JH以
下でないと判定された場合には(ステップ2809でN
O)、ステップ2805へ戻る。5つのジッタ測定点で
測定されたジッタの値すべてがジッタの検出感度を表す
所定の設定値JH以下であると判定された場合には(ス
テップ2809でYES)、5つのジッタ測定点のうち
計測したジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計
測したジッタが最小であるジッタ測定点に対応する位相
調整量とデータスライスバランス量とを設定する(ステ
ップ2810)。
[0161] Five jitter measurement points are set in the divided area corresponding to the jitter measurement point at which the measured jitter is the minimum (step 2806). An equivalent amount corresponding to any one of the five jitter measurement points, that is, a phase adjustment amount and a data slice balance amount are set, and the jitter is measured based on the set phase adjustment amount and data slice balance amount (step 2807). It is determined whether or not jitter has been measured at all of the five jitter measurement points (step 2808). If it is determined that the jitter has not been measured at all of the five jitter measurement points (NO in step 2808), at the jitter measurement point at which the jitter has not yet been measured among the five jitter measurement points Step 280 to measure jitter
Return to 6. If it is determined that the jitter has been measured at all of the five jitter measurement points (YES in step 2808), all the jitter values measured at the five jitter measurement points indicate the jitter detection sensitivity. It is determined whether the value is equal to or less than a predetermined set value JH (step 28).
09). If it is determined that all the jitter values measured at the five jitter measurement points are not less than or equal to the predetermined set value JH corresponding to the jitter detection sensitivity (N at step 2809)
O), returning to step 2805; If it is determined that all the jitter values measured at the five jitter measurement points are equal to or less than a predetermined set value JH representing the jitter detection sensitivity (YES in step 2809), the measurement is performed among the five jitter measurement points. The jitter measurement point at which the measured jitter is minimum is determined, and the phase adjustment amount and the data slice balance amount corresponding to the jitter measurement point at which the measured jitter is minimum are set (step 2810).

【0162】[0162]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、多種類の
光ディスクに対応しかつ再生速度を多段階に切り換える
光ディスク装置において、起動時間および読み出し時間
を短縮することができる高信頼性で高速な光ディスク装
置を提供することができる。
As described above, according to the present invention, in an optical disk apparatus which supports various types of optical disks and switches the reproduction speed in multiple steps, the start-up time and the readout time can be shortened with high reliability and high speed. An optical disk device can be provided.

【0163】さらに本発明によれば、ジッタが最小にな
るパラメータの組み合わせを効率良く速やかに求めるこ
とが出来る光ディスク装置およびPLL回路を提供する
ことができる。
Further, according to the present invention, it is possible to provide an optical disk apparatus and a PLL circuit capable of quickly and efficiently obtaining a combination of parameters that minimizes jitter.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施の形態1に係る光ディスク装置の構成を説
明するためのブロック図
FIG. 1 is a block diagram for explaining a configuration of an optical disc device according to a first embodiment;

【図2】実施の形態1に係る遮断周波数とブースト量と
ジッタ等高線との関係を示すグラフ
FIG. 2 is a graph showing a relationship between a cutoff frequency, a boost amount, and a jitter contour according to the first embodiment;

【図3】実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法を
説明するための図
FIG. 3 is a diagram for explaining a minimum jitter area search method according to the first embodiment;

【図4】実施の形態1に係る最小ジッタ領域を説明する
ためのグラフ
FIG. 4 is a graph for explaining a minimum jitter area according to the first embodiment;

【図5】実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法を
説明するフローチャート
FIG. 5 is a flowchart illustrating a minimum jitter area search method according to the first embodiment;

【図6】実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法に
おけるジッタ計測点を説明する図
FIG. 6 is a view for explaining jitter measurement points in the minimum jitter area searching method according to the first embodiment;

【図7】実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法に
おけるジッタ計測点の測定順序を説明する図
FIG. 7 is a view for explaining a measurement order of jitter measurement points in the minimum jitter area searching method according to the first embodiment;

【図8】実施の形態1に係る他の最小ジッタ領域探査方
法を説明するフローチャート
FIG. 8 is a flowchart illustrating another minimum jitter area searching method according to the first embodiment;

【図9】実施の形態1に係る他の光ディスク装置の構成
を説明するためのブロック図
FIG. 9 is a block diagram for explaining a configuration of another optical disk device according to the first embodiment;

【図10】実施の形態1に係る波形等化回路の群遅延特
性図
FIG. 10 is a group delay characteristic diagram of the waveform equalization circuit according to the first embodiment;

【図11】実施の形態1に係る低域遅延量と高域遅延量
とジッタ等高線との関係を示すグラフ
FIG. 11 is a graph showing a relationship between a low-band delay amount, a high-band delay amount, and a jitter contour according to the first embodiment;

【図12】実施の形態1に係るさらに他の光ディスク装
置の構成を説明するためのブロック図
FIG. 12 is a block diagram for explaining a configuration of still another optical disk device according to the first embodiment;

【図13】実施の形態1に係るトラッキング制御目標位
置とフォーカス位置とジッタ等高線との関係を示すグラ
FIG. 13 is a graph showing a relationship between a tracking control target position, a focus position, and a jitter contour according to the first embodiment.

【図14】実施の形態1に係るさらに他の光ディスク装
置の構成を説明するためのブロック図
FIG. 14 is a block diagram for explaining a configuration of still another optical disc device according to the first embodiment.

【図15】実施の形態1に係るチルト座標系を説明する
ための模式図
FIG. 15 is a schematic diagram for explaining a tilt coordinate system according to the first embodiment.

【図16】実施の形態1に係るラジアルチルトとタンジ
ェンシャルチルトとジッタ等高線との関係を示すグラフ
FIG. 16 is a graph showing the relationship between radial tilt, tangential tilt, and jitter contour according to the first embodiment.

【図17】実施の形態2に係る光ディスク装置の構成を
説明するためのブロック図
FIG. 17 is a block diagram illustrating a configuration of an optical disc device according to a second embodiment;

【図18】実施の形態2に係る光ディスク装置のディス
ク判別部の動作を説明するためのグラフ
FIG. 18 is a graph for explaining the operation of the disk discriminating unit of the optical disk device according to the second embodiment.

【図19】実施の形態2に係る最小ジッタ領域探査方法
におけるジッタ計測点を説明する図
FIG. 19 is a view for explaining jitter measurement points in the minimum jitter area searching method according to the second embodiment.

【図20】実施の形態2に係る最小ジッタ領域探査方法
を説明するフローチャート
FIG. 20 is a flowchart illustrating a minimum jitter area searching method according to the second embodiment;

【図21】実施の形態3に係る光ディスク装置の構成を
説明するためのブロック図
FIG. 21 is a block diagram illustrating a configuration of an optical disc device according to a third embodiment;

【図22】実施の形態3に係る最小ジッタ領域探査方法
におけるジッタ計測点を説明する図
FIG. 22 is a view for explaining a jitter measurement point in the minimum jitter area searching method according to the third embodiment.

【図23】実施の形態3に係る最小ジッタ領域探査方法
を説明するフローチャート
FIG. 23 is a flowchart illustrating a minimum jitter area search method according to the third embodiment;

【図24】実施の形態4に係るPLL回路の構成を説明
するためのブロック図
FIG. 24 is a block diagram illustrating a configuration of a PLL circuit according to a fourth embodiment.

【図25】実施の形態4に係る位相調整量とデータスラ
イスバランス量とジッタ等高線との関係を示すグラフ
FIG. 25 is a graph showing a relationship between a phase adjustment amount, a data slice balance amount, and a jitter contour according to the fourth embodiment.

【図26】実施の形態4に係る最小ジッタ領域探査方法
を説明するフローチャート
FIG. 26 is a flowchart illustrating a minimum jitter area searching method according to the fourth embodiment;

【図27】波形等化手段のゲインとノイズ周波数特性を
示すグラフ
FIG. 27 is a graph showing gain and noise frequency characteristics of the waveform equalizing means.

【図28】フォーカス位置に対するジッタの特性を示す
グラフ
FIG. 28 is a graph showing jitter characteristics with respect to a focus position.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光ディスク 2 光ヘッド 3 プリアンプ 4 波形等化回路 5 ジッタ検出部 6 最小値ジッタ探査部 7 制御装置 8 振幅検出部 9 最大振幅探査部 10 フォーカス制御部 11 合成回路 12 トラッキング制御部 13 2値化回路 20 ディスク判別部 30 再生速度検出部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical disk 2 Optical head 3 Preamplifier 4 Waveform equalization circuit 5 Jitter detection part 6 Minimum value jitter search part 7 Controller 8 Amplitude detection part 9 Maximum amplitude search part 10 Focus control part 11 Synthesis circuit 12 Tracking control part 13 Binarization circuit 20 disc discrimination unit 30 playback speed detection unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H03L 7/093 H03L 7/08 M (72)発明者 渡邊 克也 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5D044 BC02 CC06 FG02 FG05 FG06 FG11 FG16 GM12 GM18 5D090 AA01 CC04 DD03 EE17 FF01 FF41 5D118 AA14 BA01 BF02 CA04 CA11 CA13 CC12 CD08 5J106 AA04 BB03 BB04 CC03 CC15 CC24 CC59 EE10 FF02 GG15 HH02 KK25 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H03L 7/093 H03L 7/08 M (72) Inventor Katsuya Watanabe 1006 Kadoma, Kazuma, Kazuma, Osaka Matsushita Electric Industrial In-house F-term (reference) 5D044 BC02 CC06 FG02 FG05 FG06 FG11 FG16 GM12 GM18 5D090 AA01 CC04 DD03 EE17 FF01 FF41 5D118 AA14 BA01 BF02 CA04 CA11 CA13 CC12 CD08 5J106 AA04 BB03 BB04 CC03 CC15 CC02 CC59 CC15 CC02

Claims (20)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源から発光させる光ビームによって情
報担体上に記録された情報を光学的に再生する光ディス
ク装置であって、 前記光ビームを収束照射する収束手段と、 前記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過
光に対応する再生信号を生成する光検出手段と、 前記光検出手段によって生成された前記再生信号の周波
数特性を変化させる波形等化手段と、 前記波形等化手段からの出力信号のジッタを計測するジ
ッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測されるジッタを変化さ
せることのできる変数Xと変数Yとの2変数で定義され
たXY平面上の初期領域における前記ジッタの最小値を
求めるジッタ最小値探索手段とを備え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記複
数の第1分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の第1
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第1分割領域のうちの1つを探索
し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有する
複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数の第2ジッタ計測点で計
測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複
数の第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した前記
複数の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前記複
数の第2ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記変数
Xと前記変数Yとの最適な組み合わせを決定する光ディ
スク装置。
1. An optical disc device for optically reproducing information recorded on an information carrier by a light beam emitted from a light source, comprising: a converging means for converging and irradiating the light beam; A light detection unit that generates a reproduction signal corresponding to the reflected light or the transmitted light of the beam; a waveform equalization unit that changes a frequency characteristic of the reproduction signal generated by the light detection unit; A jitter measuring means for measuring the jitter of the output signal; and a jitter measuring means for changing the jitter measured by the jitter measuring means in an initial area on an XY plane defined by two variables, a variable X and a variable Y. Jitter minimum value searching means for obtaining a minimum value, wherein the jitter minimum value searching means comprises a plurality of first divisions having the same shape in the initial region. Into a plurality of first divided regions, each of which is located at a center of gravity of the plurality of first divided regions.
One of the plurality of first divided regions where the minimum jitter is measured among the jitters measured at the jitter measurement point is searched, and the minimum jitter value searching means searches the plurality of first divided regions.
The one of the divided regions is divided into a plurality of second divided regions having the same shape as each other, and jitters measured at a plurality of second jitter measurement points respectively located at the centers of gravity of the plurality of second divided regions are determined. One of the plurality of second divided regions in which the minimum jitter is measured is searched, and the plurality of second jitter measurement points included in the one of the searched plurality of second divided regions are searched. An optical disc apparatus that determines an optimal combination of the variable X and the variable Y corresponding to one of the following.
【請求項2】 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期
領域を互いに等しい正方形の形状を有する4つの第1分
割領域に分割し、前記4つの第1分割領域の重心にそれ
ぞれ位置する4つの第1ジッタ計測点で計測されたジッ
タのうち最小のジッタが計測された前記4つの第1分割
領域のうちの1つを探索し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記4つの第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有する
4つの第2分割領域に分割し、前記4つの第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する4つの第2ジッタ計測点で計
測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前記4
つの第2分割領域のうちの1つを探索する、請求項1記
載の光ディスク装置。
2. The minimum jitter value searching means divides the initial area into four first divided areas having an equal square shape and four first divided areas respectively located at the centers of gravity of the four first divided areas. One of the four first divided areas where the minimum jitter is measured among the jitters measured at one jitter measurement point is searched, and the jitter minimum value searching means searches the four first divided areas.
The one of the divided regions is divided into four second divided regions having the same shape as each other, and jitters measured at four second jitter measuring points respectively located at the centers of gravity of the four second divided regions are determined. The above 4 where the minimum jitter was measured
2. The optical disk device according to claim 1, wherein one of the second divided areas is searched.
【請求項3】 前記ジッタ計測手段によって計測された
ジッタの値が所定値以下の場合には、前記ジッタ最小値
探索手段は、探索動作を終了する、請求項1記載の光デ
ィスク装置。
3. The optical disc apparatus according to claim 1, wherein when the value of the jitter measured by the jitter measuring means is equal to or less than a predetermined value, the minimum jitter value searching means ends the searching operation.
【請求項4】 前記ジッタ計測手段がある領域でジッタ
を測定することができなかった場合には、前記ジッタ計
測手段は前記ジッタを測定することができなかった前記
領域での測定を省いて最小ジッタ領域を探索する、請求
項1記載の光ディスク装置。
4. When the jitter measuring means cannot measure the jitter in a certain area, the jitter measuring means omits the measurement in the area in which the jitter could not be measured. The optical disk device according to claim 1, wherein the optical disk device searches for a jitter area.
【請求項5】 前記変数Xは、遮断周波数を含み、 前記変数Yは、ブースト量を含む、請求項1記載の光デ
ィスク装置。
5. The optical disk device according to claim 1, wherein the variable X includes a cutoff frequency, and the variable Y includes a boost amount.
【請求項6】 前記変数Xは、高域遅延量を含み、 前記変数Yは、低域遅延量を含む、請求項1記載の光デ
ィスク装置。
6. The optical disk device according to claim 1, wherein the variable X includes a high-frequency delay amount, and the variable Y includes a low-frequency delay amount.
【請求項7】 前記光ビームが前記記録担体に対して所
定の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォ
ーカス制御手段と、 前記光ビームが前記記録担体上のトラックを正しく走査
するように前記収束手段を制御するトラッキング制御手
段とをさらに備え、 前記変数Xは、トラッキング位置を含み、 前記変数Yは、フォーカス位置を含む、請求項1記載の
光ディスク装置。
7. A focus control means for controlling said convergence means so that said light beam is brought into a predetermined convergence state with respect to said record carrier, and such that said light beam scans a track on said record carrier correctly. The optical disk device according to claim 1, further comprising: a tracking control unit that controls the convergence unit, wherein the variable X includes a tracking position, and the variable Y includes a focus position.
【請求項8】 前記光ビームの前記記録担体に対するラ
ジアル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
と、 前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシャル
方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調整手
段とをさらにを備え、 前記変数Xは、ラジアルチルトを含み、 前記変数Yは、タンジェンシャルチルトを含む、請求項
1記載の光ディスク装置。
8. A radial tilt adjusting means for adjusting a tilt of the light beam in a radial direction with respect to the record carrier, and a tangential tilt adjusting means for adjusting a tilt of the light beam in a tangential direction with respect to the record carrier. The optical disc device according to claim 1, wherein the variable X includes a radial tilt, and the variable Y includes a tangential tilt.
【請求項9】 光源から発光させる光ビームによって情
報担体上に記録された情報を光学的に再生する光ディス
ク装置であって、 前記光ビームを収束照射する収束手段と、 前記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過
光に対応する再生信号を生成する光検出手段と、 前記光検出手段によって生成された前記再生信号の周波
数特性を変化させる波形等化手段と、 前記波形等化手段からの出力信号のジッタを計測するジ
ッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測されるジッタを変化さ
せることのできる変数Xと変数Yとの2変数で定義され
たXY平面上の初期領域における前記ジッタの最小値を
求めるジッタ最小値探索手段と、 前記情報担体の種類を判別する情報担体判別手段とを備
え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記情
報担体判別手段によって判別された前記情報担体の種類
に基づいて、前記複数の第1分割領域のうちの1つを選
択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、選択した前記複数の第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有する
複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数のジッタ計測点で計測さ
れたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複数の
第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した前記複数
の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前記複数の
ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記変数Xと前記
変数Yとの最適な組み合わせを決定する光ディスク装
置。
9. An optical disk device for optically reproducing information recorded on an information carrier by a light beam emitted from a light source, comprising: a converging means for converging and irradiating the light beam; A light detection unit that generates a reproduction signal corresponding to the reflected light or the transmitted light of the beam; a waveform equalization unit that changes a frequency characteristic of the reproduction signal generated by the light detection unit; A jitter measuring means for measuring the jitter of the output signal; and a jitter measuring means for changing the jitter measured by the jitter measuring means in an initial area on an XY plane defined by two variables, a variable X and a variable Y. A jitter minimum value searching means for determining a minimum value; and an information carrier determining means for determining a type of the information carrier. The initial area is divided into a plurality of first divided areas having the same shape as each other, and one of the plurality of first divided areas is selected based on the type of the information carrier determined by the information carrier determining means. The minimum jitter value searching means may select the plurality of first
The one of the divided regions is divided into a plurality of second divided regions having the same shape as each other, and a minimum of jitter measured at a plurality of jitter measurement points respectively located at the center of gravity of the plurality of second divided regions. Searching for one of the plurality of second divided areas where the jitter has been measured, and selecting one of the plurality of jitter measurement points included in the one of the searched plurality of second divided areas. An optical disc device that determines an optimal combination of the variable X and the variable Y corresponding to the first and second variables.
【請求項10】 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初
期領域を互いに等しい長方形の形状を有する4つの第1
分割領域に分割し、前記情報担体判別手段によって判別
された前記情報担体の種類に基づいて、前記4つの第1
分割領域のうちの1つを選択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、選択した前記4つの第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい正方形の形状
を有する4つの第2分割領域に分割し、前記4つの第2
分割領域の重心にそれぞれ位置する4つの第2ジッタ計
測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが計測され
た前記4つの第2分割領域のうちの1つを探索する、請
求項9記載の光ディスク装置。
10. The minimum jitter value searching means may include four initial regions each having a rectangular shape equal to each other.
Dividing into the divided areas, based on the type of the information carrier determined by the information carrier determining means, the four first
Selecting one of the divided areas, the jitter minimum value searching means selects the four first
Dividing the one of the divided areas into four second divided areas having a square shape equal to each other;
The search according to claim 9, wherein one of the four second divided regions in which the minimum jitter is measured among the jitters measured at the four second jitter measurement points respectively located at the center of gravity of the divided region is searched. Optical disk device.
【請求項11】 前記変数Xは、遮断周波数を含み、 前記変数Yは、ブースト量を含む、請求項9記載の光デ
ィスク装置。
11. The optical disk device according to claim 9, wherein the variable X includes a cutoff frequency, and the variable Y includes a boost amount.
【請求項12】 前記変数Xは、高域遅延量を含み、 前記変数Yは、低域遅延量を含む、請求項9記載の光デ
ィスク装置。
12. The optical disk device according to claim 9, wherein the variable X includes a high-frequency delay amount, and the variable Y includes a low-frequency delay amount.
【請求項13】 前記光ビームが前記記録担体に対して
所定の収束状態になるように前記収束手段を制御するフ
ォーカス制御手段と、 前記光ビームが前記記録担体上のトラックを正しく走査
するように前記収束手段を制御するトラッキング制御手
段とをさらに備え、 前記変数Xは、トラッキング位置を含み、 前記変数Yは、フォーカス位置を含む、請求項9記載の
光ディスク装置。
13. A focus control means for controlling said convergence means so that said light beam is brought into a predetermined convergence state with respect to said record carrier, and such that said light beam scans a track on said record carrier correctly. The optical disc device according to claim 9, further comprising: a tracking control unit configured to control the convergence unit, wherein the variable X includes a tracking position, and the variable Y includes a focus position.
【請求項14】 前記光ビームの前記記録担体に対する
ラジアル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手
段と、 前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシャル
方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調整手
段とをさらにを備え、 前記変数Xは、ラジアルチルトを含み、 前記変数Yは、タンジェンシャルチルトを含む、請求項
9記載の光ディスク装置。
14. A radial tilt adjusting means for adjusting a tilt of the light beam in a radial direction with respect to the record carrier, and a tangential tilt adjusting means for adjusting a tilt of the light beam in a tangential direction with respect to the record carrier. The optical disk device according to claim 9, wherein the variable X includes a radial tilt, and the variable Y includes a tangential tilt.
【請求項15】 光源から発光させる光ビームによって
情報担体上に記録された情報を光学的に再生する光ディ
スク装置であって、 前記光ビームを収束照射する収束手段と、 前記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過
光に対応する再生信号を生成する光検出手段と、 前記光検出手段によって生成された前記再生信号の周波
数特性を変化させる波形等化手段と、 前記波形等化手段からの出力信号のジッタを計測するジ
ッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測されるジッタを変化さ
せることのできる変数Xと変数Yとの2変数で定義され
たXY平面上の初期領域における前記ジッタの最小値を
求めるジッタ最小値探索手段と、 前記再生信号の再生速度を検出する再生速度検出手段と
を備え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記再
生速度検出手段によって検出された前記再生速度に基づ
いて、前記複数の第1分割領域のうちの1つを選択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有する
複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数のジッタ計測点で計測さ
れたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複数の
第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した前記複数
の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前記複数の
ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記変数Xと前記
変数Yとの最適な組み合わせを決定する光ディスク装
置。
15. An optical disk device for optically reproducing information recorded on an information carrier by a light beam emitted from a light source, comprising: a converging means for converging and irradiating the light beam; A light detection unit that generates a reproduction signal corresponding to the reflected light or the transmitted light of the beam; a waveform equalization unit that changes a frequency characteristic of the reproduction signal generated by the light detection unit; A jitter measuring means for measuring the jitter of the output signal; and a jitter measuring means for changing the jitter measured by the jitter measuring means in an initial area on an XY plane defined by two variables, a variable X and a variable Y. A jitter minimum value searching means for obtaining a minimum value; and a reproduction speed detecting means for detecting a reproduction speed of the reproduction signal; Dividing the initial region into a plurality of first divided regions having the same shape as each other, and selecting one of the plurality of first divided regions based on the reproduction speed detected by the reproduction speed detection means. The minimum jitter value searching means,
The one of the divided regions is divided into a plurality of second divided regions having the same shape as each other, and a minimum of jitter measured at a plurality of jitter measurement points respectively located at the center of gravity of the plurality of second divided regions. Searching for one of the plurality of second divided areas where the jitter has been measured, and selecting one of the plurality of jitter measurement points included in the one of the searched plurality of second divided areas. An optical disc device that determines an optimal combination of the variable X and the variable Y corresponding to the first and second variables.
【請求項16】 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初
期領域を互いに等しい長方形の形状を有する4つの第1
分割領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検出
された前記再生速度に基づいて、前記4つの第1分割領
域のうちの1つを選択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、選択した前記4つの第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい正方形の形状
を有する4つの第2分割領域に分割し、前記4つの第2
分割領域の重心にそれぞれ位置する4つのジッタ計測点
で計測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前
記4つの第2分割領域のうちの1つを探索する、請求項
15記載の光ディスク装置。
16. The jitter minimum value searching means may be configured to set the initial area to four first areas having a rectangular shape equal to each other.
Dividing into divided areas, selecting one of the four first divided areas based on the reproduction speed detected by the reproduction speed detection means, Two first
Dividing the one of the divided areas into four second divided areas having a square shape equal to each other;
16. The optical disk device according to claim 15, wherein one of the four second divided regions in which the minimum jitter is measured among the jitters measured at the four jitter measurement points respectively located at the center of gravity of the divided region is searched. .
【請求項17】 前記変数Xは、遮断周波数を含み、 前記変数Yは、ブースト量を含む、請求項15記載の光
ディスク装置。
17. The optical disk device according to claim 15, wherein the variable X includes a cutoff frequency, and the variable Y includes a boost amount.
【請求項18】 単調信号を発生する基準信号発生手段
と、 前記単調信号を2値化する2値化手段と、 前記単調信号の信号振幅の中心を2値化することができ
るように前記2値化回路を設定するデータスライスバラ
ンス設定手段と、 クロック信号を生成するクロック生成手段と、 前記2値化手段によって2値化された前記単調信号と前
記クロック信号生成手段によって生成された前記クロッ
ク信号との位相を比較して位相誤差信号を出力する位相
比較手段と、 前記位相比較手段から出力された前記位相誤差信号を平
均化するチャージポンプ回路と、 前記位相比較手段から出力された前記位相誤差信号の位
相ずれを調整する位相調整手段と、 前記位相比較手段から出力された前記位相誤差信号に基
づいてジッタを計測するジッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測された前記ジッタを変
化させることのできる変数Xと変数Yとの2変数で定義
されたXY平面上の初期領域における前記ジッタの最小
値を求めるジッタ最小値探索手段とを備え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記複
数の第1分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の第1
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第1分割領域のうちの1つを探索
し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有する
複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数の第2ジッタ計測点で計
測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複
数の第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した前記
複数の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前記複
数の第2ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記変数
Xと前記変数Yとの最適な組み合わせを決定するPLL
回路。
18. A reference signal generating means for generating a monotone signal, a binarization means for binarizing the monotone signal, and the binarization means for binarizing a center of a signal amplitude of the monotone signal. Data slice balance setting means for setting a value conversion circuit; clock generation means for generating a clock signal; the monotone signal binarized by the binarization means; and the clock signal generated by the clock signal generation means Phase comparison means for comparing the phase with the phase error signal, a charge pump circuit for averaging the phase error signal output from the phase comparison means, and the phase error output from the phase comparison means. Phase adjustment means for adjusting a phase shift of a signal; and jitter measurement means for measuring jitter based on the phase error signal output from the phase comparison means. Jitter minimum value searching means for obtaining a minimum value of the jitter in an initial area on an XY plane defined by two variables, a variable X and a variable Y, which can change the jitter measured by the jitter measuring means. The minimum jitter value searching means divides the initial area into a plurality of first divided areas having the same shape as each other, and a plurality of first divided areas respectively located at the centers of gravity of the plurality of first divided areas.
One of the plurality of first divided regions where the minimum jitter is measured among the jitters measured at the jitter measurement point is searched, and the minimum jitter value searching means searches the plurality of first divided regions.
The one of the divided regions is divided into a plurality of second divided regions having the same shape as each other, and jitters measured at a plurality of second jitter measurement points respectively located at the centers of gravity of the plurality of second divided regions are determined. One of the plurality of second divided regions in which the minimum jitter is measured is searched, and the plurality of second jitter measurement points included in the one of the searched plurality of second divided regions are searched. For determining an optimal combination of the variable X and the variable Y corresponding to one of the following:
circuit.
【請求項19】 前記変数Xは、遮断周波数を含み、 前記変数Yは、ブースト量を含む、請求項18記載のP
LL回路。
19. The P according to claim 18, wherein the variable X includes a cutoff frequency, and the variable Y includes a boost amount.
LL circuit.
【請求項20】 前記位相調整手段は、前記位相比較手
段から出力された前記位相誤差信号の前記位相ずれを調
整するように、前記チャージポンプ回路に含まれる出力
段における電流バランスを可変する、請求項18記載の
PLL回路。
20. The phase adjustment unit, wherein the current balance in an output stage included in the charge pump circuit is varied so as to adjust the phase shift of the phase error signal output from the phase comparison unit. Item 18. The PLL circuit according to Item 18.
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