JP2002032195A - Optical scanning-type touch panel and method for adjusting optical axis thereof - Google Patents

Optical scanning-type touch panel and method for adjusting optical axis thereof

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JP2002032195A
JP2002032195A JP2000218262A JP2000218262A JP2002032195A JP 2002032195 A JP2002032195 A JP 2002032195A JP 2000218262 A JP2000218262 A JP 2000218262A JP 2000218262 A JP2000218262 A JP 2000218262A JP 2002032195 A JP2002032195 A JP 2002032195A
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light
unit
optical
optical scanning
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Susumu Suzuki
進 鈴木
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To detect an inclination of an optical axis, to easily adjust the optical axis and to secure safety even if a large inclination and deviation of the optical axis occur. SOLUTION: An optical scanning-type touch panel is provided with a plurality of optical scanning units 11a which optically scan a recursive reflector 13 by light outputted from light emitting parts with the rotation of a scanning mirror and receive reflected light in light receiving parts. The optical scanning units are provided with optical axis adjusting jigs 15 having prescribed reflection patterns for detecting the inclination of the optical axis of light outputted from the light emitting parts in close positions in accordance with the start position and the end position of optical scanning, which are beyond the effective range of a scan area. The light emitting part is provided with an optical axis adjusting mechanism for adjusting the inclination of the optical axis of light outputted from the light emitting part. The light receiving part detects the prescribed reflection pattern of the optical axis adjusting jig and adjusts the optical axis adjusting mechanism so that a detected detection value becomes maximum.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、スキャンミラーの
回転によって発光部から出力した光で再帰性反射体を光
走査し、この再帰性反射体で反射した光をスキャンミラ
ーの反射を介して受光部で受光する光走査型タッチパネ
ルおよびその光軸調整方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to optical scanning of a retroreflector with light output from a light emitting section by rotation of a scan mirror, and light reflected by the retroreflector is received via reflection of the scan mirror. TECHNICAL FIELD The present invention relates to an optical scanning type touch panel that receives light at a unit and an optical axis adjustment method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の光走査型タッチパネルは、例えば
特開平2000−112661に提案されている図6お
よび図7に示すような構成であった。すなわち、図6に
おいて10は表示装置の表示画面の前面に設けられる光
学フィルタなどの角形の基板で、この基板10の1方辺
の側面の両隅に光走査ユニット11a、11bを配置
し、基板10の一面の光走査ユニット11a、11bの
取付け部を除く3方辺の側面に細長いフレーム12が固
着され、このフレーム12の内側面に再帰性反射体13
が取り付けられている。この再帰性反射体13は例えば
テープ形状に形成され、前記フレーム12の内側面に貼
着されている。
2. Description of the Related Art A conventional optical scanning type touch panel has a configuration as shown in FIGS. 6 and 7 proposed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-112661. That is, in FIG. 6, reference numeral 10 denotes a rectangular substrate such as an optical filter provided on the front surface of the display screen of the display device, and the optical scanning units 11a and 11b are arranged at both corners on one side of the substrate 10; An elongated frame 12 is fixed to three sides of the optical scanning units 11a and 11b excluding the mounting portions of the optical scanning units 11a and 11b.
Is attached. The retroreflector 13 is formed in a tape shape, for example, and is adhered to the inner surface of the frame 12.

【0003】光走査ユニット11aは、図7に示すよう
に、ユニット支持板25の固定部(図示省略)が基板1
0に接着剤などで固着され、この固定部と一体の略L字
形の支持部27の上にユニット本体14が載せられ角度
調整自在に取り付けられている。ユニット本体14は、
下面の前記支持部27に遊嵌して形成され、内部には、
半導体レーザ装置などの発光素子(例えばレーザダイオ
ード)からなる発光部16と、フォトダイオードなどの
受光素子からなる受光部17が収納され、上面には、発
光部16から出力した走査光としてのレーザ光18(以
下、走査光18とする)を屈折させる屈折プリズム19
と、この屈折させた走査光18を透過させるハーフミラ
ー20を具備したプリズム21と、スキャンミラー22
とが設けられ、このスキャンミラー22はパルスモータ
23により回転自在に設けられている。光走査ユニット
11bは光走査ユニット11aと同様に構成されてい
る。
In the optical scanning unit 11a, as shown in FIG.
The unit main body 14 is fixed on an approximately L-shaped support portion 27 integrated with the fixing portion, and is attached so as to be adjustable in angle. The unit body 14
The support portion 27 on the lower surface is loosely fitted and formed inside.
A light emitting unit 16 including a light emitting element (for example, a laser diode) such as a semiconductor laser device and a light receiving unit 17 including a light receiving element such as a photodiode are housed. Laser light as scanning light output from the light emitting unit 16 is provided on the upper surface. 18 (hereinafter referred to as scanning light 18)
A prism 21 having a half mirror 20 for transmitting the refracted scanning light 18;
The scan mirror 22 is rotatably provided by a pulse motor 23. The optical scanning unit 11b has the same configuration as the optical scanning unit 11a.

【0004】そして、発光部16から出力した走査光1
8が屈折プリズム19で屈折し、ハーフミラー20及び
プリズム21を透過してスキャンミラー22で反射し図
1を参照して再帰性反射体13に照射する。この再帰性
反射体13では、入射光と略同一光路を戻りスキャンミ
ラー22で反射し、プリズム21のハーフミラー20で
反射屈折して受光部17で受光される。パルスモータ2
3によるスキャンミラー22の回転により走査光18は
例えば約90°だけ走査される。この光走査範囲内に対
象物(例えば指やペン)24が有ると、この対象物24
によって走査光18が遮断されるので、受光部17の受
光エネルギーに基づいて対象物24の角度θが検出され
る。対象物24の座標は、光走査ユニット11a、11
bのそれぞれの走査で検出された対象物24の角度か
ら、三角測量の原理によって求められる。
The scanning light 1 output from the light emitting section 16 is
The light 8 is refracted by the refraction prism 19, passes through the half mirror 20 and the prism 21, is reflected by the scan mirror 22, and irradiates the retroreflector 13 with reference to FIG. In the retroreflector 13, the light returns substantially along the same optical path as the incident light, is reflected by the scan mirror 22, is reflected and refracted by the half mirror 20 of the prism 21, and is received by the light receiving unit 17. Pulse motor 2
The scanning light 18 is scanned by, for example, about 90 ° by the rotation of the scan mirror 22 by 3. If there is an object (for example, a finger or a pen) 24 in this optical scanning range, this object 24
As a result, the scanning light 18 is blocked, so that the angle θ of the object 24 is detected based on the received light energy of the light receiving unit 17. The coordinates of the object 24 are determined by the optical scanning units 11a and 11a.
From the angle of the object 24 detected in each of the scans b, it is obtained by the principle of triangulation.

【0005】しかしながら、図6、7に示した従来例で
は、走査光18を再帰性反射体13の所定位置(例えば
中央部)に照射するための光軸調整が煩雑になるという
問題点があった。特に走査光18が不可視光(例えば赤
外光)の場合(通常不可視光の場合が多い)、光軸調整
が煩雑になるという問題点があった。この問題を解決す
るために、光軸の調整時に、光走査ユニット11a、1
1bのそれぞれの対向する対辺の再帰性反射体13に、
それぞれの光軸に対応するビーム幅と略等しい幅を有す
るスリット111a、113a、111b、113b
と、各スリットの背面側に受光部112a、114a、
112b、114bをそれぞれ設け、光走査ユニット1
1a、11bから発光する光を受光して信号レベルが最
大になるように調整していた。しかし、この方法では、
各スリットを常設すると、光走査ユニット11a、11
bのそれぞれの光軸が重ならないように上下にずらせる
必要があり、そのために、調整範囲が狭まるという問題
があった。また、各スリットを常設する場合には、スキ
ャン範囲内の再帰性反射体13を加工しなければなら
ず、また、それぞれに受光素子の追加が必要であり、加
工の作業性やコストに問題を有していた。さらには、発
光部に使用するレーザの光軸がずれた場合、ずれたレー
ザ光線を長時間直視する恐れがある、という安全性の問
題も有していた。通常の使用時は勿論、調整時において
も安全性の高い、調整が確実で扱いやすい光走査型タッ
チパネルおよびその光軸調整方法の出現が望まれてい
た。
However, in the conventional examples shown in FIGS. 6 and 7, there is a problem that the optical axis adjustment for irradiating the scanning light 18 to a predetermined position (for example, the center) of the retroreflector 13 becomes complicated. Was. In particular, when the scanning light 18 is invisible light (for example, infrared light) (usually, invisible light is often used), there is a problem that optical axis adjustment becomes complicated. In order to solve this problem, the optical scanning units 11a, 11a, 1
1b, each of the opposing retroreflectors 13 on the opposite side,
Slits 111a, 113a, 111b, 113b having a width substantially equal to the beam width corresponding to each optical axis
And light receiving sections 112a, 114a on the back side of each slit.
112b and 114b, respectively, and the optical scanning unit 1
Light emitted from 1a and 11b is received and the signal level is adjusted to be maximum. But with this method,
When each slit is permanently installed, the optical scanning units 11a, 11a
It is necessary to shift up and down so that the respective optical axes of b do not overlap, which causes a problem that the adjustment range is narrowed. In addition, when each slit is permanently provided, the retroreflector 13 within the scan range must be processed, and a light receiving element must be added to each of them, which causes problems in processing workability and cost. Had. Furthermore, when the optical axis of the laser used for the light emitting unit is shifted, there is also a safety problem that the shifted laser beam may be directly viewed for a long time. There has been a demand for an optical scanning type touch panel that is highly safe during adjustment as well as during normal use, that can be adjusted securely, and that is easy to handle, and that an optical axis adjustment method thereof has been developed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述の問題
点に鑑みなされたもので、所定の反射パターンを有する
光軸調整用治具を設けて、受光部でその所定の反射パタ
ーンを監視し、光軸の傾きを検出するとともに光軸の調
整が簡単に行え、かつ、なるべく不要な発光を抑え、光
軸の大きな傾きやずれが発生しても安全性に優れた光走
査型タッチパネルおよびその光軸調整方法を提供するこ
とを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and provides an optical axis adjusting jig having a predetermined reflection pattern, and monitors the predetermined reflection pattern with a light receiving unit. An optical scanning type touch panel that detects the inclination of the optical axis and easily adjusts the optical axis, suppresses unnecessary light emission as much as possible, and is excellent in safety even when a large inclination or deviation of the optical axis occurs. An object of the present invention is to provide a method for adjusting the optical axis.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するため、スキャンミラーの回転によって発光部か
ら出力する光で再帰性反射体を光走査し、同再帰性反射
体で反射した光を前記スキャンミラーの反射を介して受
光部で受光する光走査ユニットを複数具え、スキャン領
域の有効範囲内にタッチされた対象物の座標を検出する
光走査型タッチパネルにおいて、前記複数の光走査ユニ
ットの全てに対してスキャン領域の有効範囲外となる、
前記光走査の開始位置と終了位置に対応して近接する位
置に、前記発光部から出力する光の光軸の傾きを検出す
るための、所定の反射パターンを有する光軸調整用治具
を具え、前記発光部は、同発光部から出力する光の光軸
の傾きを調整するための光軸調整機構に取付けられ、前
記受光部が、前記光軸調整用治具の前記所定の反射パタ
ーンを検出するとともに、検出する検出値が最大となる
ように、前記光軸調整機構を調整するようにした。
According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, the retroreflector is optically scanned by light output from the light emitting section by rotation of the scan mirror, and reflected by the retroreflector. An optical scanning type touch panel that includes a plurality of optical scanning units that receive light at a light receiving unit through reflection of the scan mirror and detects coordinates of an object touched within an effective range of a scan area; Outside the effective range of the scan area for all of the units,
An optical axis adjusting jig having a predetermined reflection pattern for detecting the inclination of the optical axis of the light output from the light emitting unit at a position close to the start position and the end position of the optical scanning; The light emitting unit is attached to an optical axis adjusting mechanism for adjusting the inclination of the optical axis of light output from the light emitting unit, and the light receiving unit is configured to adjust the predetermined reflection pattern of the optical axis adjusting jig. Upon detection, the optical axis adjustment mechanism is adjusted so that the detected value is maximized.

【0008】前記光軸調整用治具は、反射を遮蔽するた
めの遮光部材からなるベースと、同ベースの前面の所定
の部位に設けた、所定の幅と長さとを有する再帰性反射
体によって形成される前記反射パターンとからなる。
The optical axis adjusting jig comprises a base made of a light shielding member for shielding reflection, and a retroreflector having a predetermined width and length provided at a predetermined portion on the front surface of the base. And the reflection pattern to be formed.

【0009】前記光軸調整用治具は、対応する複数の前
記光走査ユニット毎に、それぞれに適する位置と向きと
を設定されて配設される。
[0009] The optical axis adjusting jig is disposed with a suitable position and orientation set for each of the plurality of optical scanning units.

【0010】前記所定の反射パターンは、前記光軸調整
用治具の前面中央部に再帰性反射体によって形成され
る、所定の幅と長さとを有する第一の反射パターンと、
同第一の反射パターンの上下のいずれか、または双方に
設けた前記第一の反射パターンより長さの短い第二の反
射パターンとからなる。
[0010] The predetermined reflection pattern is a first reflection pattern having a predetermined width and length formed by a retroreflector at the center of the front surface of the optical axis adjusting jig.
And a second reflection pattern having a shorter length than the first reflection pattern provided above, below, or both of the first reflection pattern.

【0011】前記光軸調整機構は、前記発光部、前記受
光部および前記スキャンミラーを備えた光走査ユニット
本体と、同光走査ユニット本体をバネ部材により付勢し
て支えるユニット支持部と、前記光走査ユニット本体を
前記ユニット支持部に角度調整可能に取付けるための、
複数の取付ねじとからなる。
The optical axis adjusting mechanism includes an optical scanning unit main body including the light emitting unit, the light receiving unit, and the scan mirror; a unit supporting unit for supporting the optical scanning unit main body by urging the same with a spring member; For attaching the optical scanning unit body to the unit support part so that the angle can be adjusted,
Consists of multiple mounting screws.

【0012】前記光軸調整機構は、前記光走査型タッチ
パネルを水平面に寝かせて設置した場合の、左右方向に
対する光軸の上下の傾き(以降X軸方向の傾きとする)
と、前後方向に対する光軸の上下の傾き(以降Y軸方向
の傾きとする)とを個別に調整するための角度調整機構
とを、それぞれ別に備えた。
The optical axis adjusting mechanism is configured to tilt the optical axis up and down with respect to the horizontal direction when the optical scanning type touch panel is laid on a horizontal plane (hereinafter referred to as X axis direction tilt).
And an angle adjustment mechanism for individually adjusting the vertical inclination of the optical axis with respect to the front-back direction (hereinafter referred to as the Y-axis direction).

【0013】前記角度調整機構は、前記光走査ユニット
本体のいずれか一端を上下させるためのカムと、同カム
に直結され、前記カムを回転するための駆動モータとか
らなる。
The angle adjusting mechanism includes a cam for raising or lowering one end of the optical scanning unit main body, and a drive motor directly connected to the cam for rotating the cam.

【0014】前記受光部は、前記光軸を検出するための
第一の受光部と、同第一の受光部を挟んで上下に配設さ
れ、前記光軸の傾きを検出するための第二の受光部、お
よび、または第三の受光部とからなる。
[0014] The light receiving unit is disposed vertically above and below the first light receiving unit for detecting the optical axis, and a second light receiving unit is provided for detecting the inclination of the optical axis. And / or a third light receiving unit.

【0015】前記発光部の発光を制御する発光制御手段
を備え、前記光走査時に、前記受光部が前記光軸調整用
治具の所定の反射パターンを所定の期間内に検出できな
いか、所定のレベルを検出できない場合、前記発光制御
手段が、前記発光部の発光を停止するようにした。
A light emission control unit for controlling light emission of the light emitting unit, wherein the light receiving unit cannot detect a predetermined reflection pattern of the optical axis adjusting jig within a predetermined period during the light scanning; When the level cannot be detected, the light emission control unit stops the light emission of the light emitting unit.

【0016】スキャンミラーの回転によって発光部から
出力する光で再帰性反射体を光走査し、同再帰性反射体
で反射した光を前記スキャンミラーの反射を介して受光
部で受光する光走査ユニットを複数具え、スキャン領域
の範囲内にタッチされた対象物の座標を検出する光走査
型タッチパネルにおいて、前記複数の光走査ユニットの
全てに対してスキャン領域の有効範囲外となる、前記光
走査の開始位置と終了位置に対応して近接する位置に、
前記再帰性反射体に連設するか、または前記再帰性反射
体の所定の位置の前面に配設する、前記発光部から出力
する光の光軸の傾きを検出するための、所定の反射パタ
ーンを有する光軸調整用治具を具え、前記発光部は、同
発光部から出力する光の光軸の傾きを調整するための光
軸調整機構に取付けられ、前記受光部が、前記光軸調整
用治具の前記所定の反射パターンを検出するとともに、
検出する検出値が最大となるように、前記光軸調整機構
を調整するようにした。
An optical scanning unit that optically scans the retroreflector with light output from the light emitting unit by rotation of the scan mirror, and receives light reflected by the retroreflector at the light receiving unit via reflection of the scan mirror. In a light-scanning touch panel that detects the coordinates of the object touched within the range of the scan area, the optical scan of the optical scan is out of the effective range of the scan area for all of the plurality of light scan units. At a position close to the start position and end position,
A predetermined reflection pattern for detecting the inclination of the optical axis of the light output from the light emitting unit, which is provided continuously to the retroreflector or disposed in front of a predetermined position of the retroreflector. Wherein the light emitting unit is attached to an optical axis adjusting mechanism for adjusting a tilt of an optical axis of light output from the light emitting unit, and the light receiving unit is configured to adjust the optical axis. While detecting the predetermined reflection pattern of the jig,
The optical axis adjusting mechanism is adjusted so that the detected value becomes maximum.

【0017】前記光軸調整用治具は、前記再帰性反射体
の所定に位置の前面に設けた、反射を遮蔽するための遮
光部材からなるベースと、同ベースの所定の部位に設け
た、所定の幅と長さとを有するスリットと同スリットの
後方の前記再帰性反射体とで形成される前記反射パター
ンとからなる。
The optical axis adjusting jig is provided on a front surface of the retroreflector at a predetermined position, the base comprising a light blocking member for blocking reflection, and provided on a predetermined portion of the base. The reflective pattern includes a slit having a predetermined width and length and the retroreflector behind the slit.

【0018】前記光軸調整用治具は、反射を遮蔽するた
めの遮光部材からなるベースと、同ベースの前面の所定
の部位に設けた、所定の幅と長さとを有する再帰性反射
体によって形成される前記反射パターンとからなる。
The optical axis adjusting jig includes a base made of a light shielding member for shielding reflection, and a retroreflector having a predetermined width and length provided at a predetermined portion on the front surface of the base. And the reflection pattern to be formed.

【0019】前記所定の反射パターンは、前記光軸調整
用治具の前面中央部に再帰性反射体によって形成され
る、所定の幅と長さとを有する第一の反射パターンと、
同第一の反射パターンの上下のいずれか、または双方に
設けた前記第一の反射パターンより長さの短い第二の反
射パターンとからなり、前記受光部は、前記光軸の信号
レベルを検出するための第一の受光部と、同第一の受光
部を挟んで上下に配設される第二の受光部、および、ま
たは第三の受光部とを具え、前記第一の受光部が検出す
る前記第一の反射パターンの検出値が最大となるととも
に、前記第二の受光部、および、または前記第三の受光
部が検出する前記第二の反射パターンの検出値が最小と
なるように、前記光軸調整機構を調整するよにした。
The predetermined reflection pattern is a first reflection pattern having a predetermined width and length, which is formed by a retroreflector at the center of the front surface of the optical axis adjusting jig;
The first reflection pattern comprises a second reflection pattern having a shorter length than the first reflection pattern provided above or below the first reflection pattern, or both, and the light receiving unit detects a signal level of the optical axis. A first light receiving unit for performing the first light receiving unit, a second light receiving unit disposed vertically above and below the first light receiving unit, and / or a third light receiving unit, wherein the first light receiving unit The detection value of the first reflection pattern to be detected is maximized, and the detection value of the second reflection pattern detected by the second light receiving unit, or the third light receiving unit is minimized. Then, the optical axis adjusting mechanism is adjusted.

【0020】前記光軸調整機構は、前記発光部、前記受
光部および前記スキャンミラーを備えた光走査ユニット
本体と、バネ部材で付勢して前記光走査ユニット本体を
支えるユニット支持部と、前記光走査ユニット本体を前
記ユニット支持部に角度調整可能に取付けるための複数
の取付ねじとからなり、前記ユニット支持部は、前記光
走査ユニット本体のいずれか一端を上下させるためのカ
ムと、同カムに直結され、前記カムを回転するための駆
動モータとからなる角度調整機構を有し、前記角度調整
機構は、光軸のX軸方向の傾きとY軸方向の傾きとを個
別に調整して光軸の平行度を保つために、それぞれに備
え、前記駆動モータを駆動する駆動部と、前記受光部が
検出する検出値に基づいて前記駆動部の制御を行う制御
部とを備え、前記受光部が、前記再帰性反射体の前記所
定の反射パターンを検出するとともに、検出する検出値
が最大となるように、前記光軸調整機構を自動調整する
ようにした。
The optical axis adjusting mechanism includes an optical scanning unit main body including the light emitting section, the light receiving section, and the scan mirror; a unit supporting section biased by a spring member to support the optical scanning unit main body; A plurality of mounting screws for mounting the optical scanning unit main body to the unit supporting portion so as to be adjustable in angle; the unit supporting portion includes a cam for moving one end of the optical scanning unit main body up and down; And an angle adjustment mechanism comprising a drive motor for rotating the cam, wherein the angle adjustment mechanism individually adjusts the tilt of the optical axis in the X-axis direction and the tilt of the optical axis in the Y-axis direction. In order to maintain the parallelism of the optical axis, each provided, a drive unit that drives the drive motor, and a control unit that controls the drive unit based on a detection value detected by the light receiving unit, Light unit detects a predetermined reflection pattern of the retro-reflector, so that the detected value to be detected is maximized, and the optical axis adjustment mechanism to automatically adjust.

【0021】前記発光部の発光を制御する発光制御手段
を備え、前記光軸の調整時は、前記光軸調整用治具を走
査するに必要な期間のみ発光をオンさせるようにした。
A light emission control means for controlling light emission of the light emitting section is provided, and when the optical axis is adjusted, light emission is turned on only for a period necessary for scanning the optical axis adjusting jig.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本発明による光走査型タッ
チパネルおよびその光軸調整方法の一実施形態例を図1
以下の図面を用いて説明する。図1は光走査型タッチパ
ネルの平面図である。なお、従来例で説明したものと同
一部分は同一符号としている。図1において、10は基
板、11a、11bは光走査ユニット、12はフレー
ム、13は再帰性反射体で、これらは図6、7とほぼ同
様に構成され、同様の原理で対象物の走査と座標の特定
が行われている。
FIG. 1 shows an embodiment of an optical scanning type touch panel according to the present invention and an optical axis adjusting method thereof.
This will be described with reference to the following drawings. FIG. 1 is a plan view of an optical scanning type touch panel. The same parts as those described in the conventional example are denoted by the same reference numerals. In FIG. 1, reference numeral 10 denotes a substrate, 11a and 11b denote optical scanning units, 12 denotes a frame, and 13 denotes a retroreflector, which are configured in substantially the same manner as in FIGS. The coordinates are specified.

【0023】フレーム12及び再帰性反射体13の光走
査ユニット11aによる光走査の開始位置の直前には特
定の反射パターンを有する光軸調整用治具15aと、光
走査の終了位置の直後には同様に所定の反射パターンを
有する光軸調整用治具15cとが設けられている。同様
に、光走査ユニット11bによる光走査の開始位置の直
前には光軸調整用治具15bと、光走査の終了位置の直
後には光軸調整用治具15dとが設けられている。この
ように、複数の光走査ユニット11a、11bの全てに
対してスキャン領域の有効範囲外となる、光走査18の
開始位置と終了位置に対応して近接する位置に、発光部
16から出力する光の光軸の傾きを検出するための、所
定の反射パターンを有する光軸調整用治具15を具えて
いる。本実施例においては、光走査ユニット11aは、
光軸調整用治具15a、再帰性反射体13の本体、およ
び光軸調整用治具15cの順序でスキャンし、光走査ユ
ニット11bは、光軸調整用治具15b、再帰性反射体
13の本体、および光軸調整用治具15dの順序でスキ
ャンするようにしている。各光軸調整用治具15は、そ
れぞれ対応する光走査ユニット11a、11bに対して
適正な反射が行われるように、それぞれ適する位置と向
きとを設定されて配置されている。
An optical axis adjusting jig 15a having a specific reflection pattern immediately before the optical scanning unit 11a starts the optical scanning by the optical scanning unit 11a of the frame 12 and the retroreflector 13, and immediately after the optical scanning ending position. Similarly, an optical axis adjusting jig 15c having a predetermined reflection pattern is provided. Similarly, an optical axis adjustment jig 15b is provided immediately before the optical scanning start position by the optical scanning unit 11b, and an optical axis adjustment jig 15d is provided immediately after the optical scanning end position. As described above, the light emitting unit 16 outputs the light to the positions corresponding to the start position and the end position of the optical scanning 18 which are outside the effective range of the scanning area for all of the plurality of optical scanning units 11a and 11b. An optical axis adjusting jig 15 having a predetermined reflection pattern for detecting the inclination of the optical axis of light is provided. In the present embodiment, the optical scanning unit 11a
The optical axis adjusting jig 15a, the main body of the retroreflector 13, and the optical axis adjusting jig 15c are scanned in this order, and the optical scanning unit 11b scans the optical axis adjusting jig 15b and the retroreflector 13. The scanning is performed in the order of the main body and the optical axis adjusting jig 15d. The respective optical axis adjusting jigs 15 are arranged with appropriate positions and orientations set so that appropriate reflection is performed on the corresponding optical scanning units 11a and 11b.

【0024】光走査ユニット11aは、図2に示すよう
に、ユニット支持板25の固定部26が基板10に接着
剤などで固着され、この固定部26と一体の略L字形の
支持部27の上にユニット本体14が載せられ角度調整
自在に取り付けられている。すなわち、ユニット本体1
4は、下面に支持部27に遊嵌する略L字形のL字溝1
4aが形成され、内部には発光素子からなる発光部16
と、受光素子からなる受光部17が収納され、上面に
は、発光部16から出力した走査光18を屈折させる屈
折プリズム19と、この屈折させた走査光18を透過さ
せるハーフミラー20を具備したプリズム21と、スキ
ャンミラー22とが設けられ、このスキャンミラー22
はパルスモータ23により回転自在に設けられている。
光走査ユニット11bは光走査ユニット11aと同様に
構成されている。
In the optical scanning unit 11a, as shown in FIG. 2, a fixing portion 26 of a unit support plate 25 is fixed to the substrate 10 with an adhesive or the like, and a substantially L-shaped supporting portion 27 integrated with the fixing portion 26 is formed. The unit main body 14 is placed on the upper part, and is attached so that the angle can be adjusted. That is, the unit body 1
4 is a substantially L-shaped L-shaped groove 1 loosely fitted to the support portion 27 on the lower surface.
4a are formed, and a light emitting portion 16 made of a light emitting element is formed therein.
And a light receiving section 17 composed of a light receiving element, and a refraction prism 19 for refracting the scanning light 18 output from the light emitting section 16 and a half mirror 20 for transmitting the refracted scanning light 18 are provided on the upper surface. A prism 21 and a scan mirror 22 are provided.
Are rotatably provided by a pulse motor 23.
The optical scanning unit 11b has the same configuration as the optical scanning unit 11a.

【0025】ユニット支持板25の支持部27には、図
2に示すように、L字形の両端部と曲り部の3か所に位
置してばね受け孔40が穿設され、このばね受け孔40
の内部の中央下部には、ねじ孔が形成されている。ま
た、ユニット本体14のL字溝14a部分にも、ばね受
け孔40と一致してねじ差し込み孔42が穿設され、ば
ね43を介在してねじ44で取り付けられ、ユニット本
体14は、ばね43によって上方へ付勢されている。ユ
ニット本体14、ユニット支持板25及び3本のねじ4
4は光軸調整機構を構成し、これらの3本のねじ44の
ねじ孔へのねじ込み度合いを調整することによって、再
帰性反射体13の光走査面を走査する走査光18の光軸
を変えることができる。
As shown in FIG. 2, spring receiving holes 40 are formed in the support portion 27 of the unit support plate 25 at three positions, that is, both ends of the L-shape and a bent portion. 40
A screw hole is formed in the lower part of the center of the inside. Also, a screw insertion hole 42 is formed in the L-shaped groove 14a of the unit main body 14 so as to coincide with the spring receiving hole 40, and the unit main body 14 is attached with a screw 44 via a spring 43. Urged upwards. Unit body 14, unit support plate 25 and three screws 4
Reference numeral 4 denotes an optical axis adjustment mechanism, which changes the optical axis of the scanning light 18 that scans the optical scanning surface of the retroreflector 13 by adjusting the degree of screwing of these three screws 44 into the screw holes. be able to.

【0026】本実施例ではこれらの調整を自動化するた
めに、角度調整機構を備えている。角度調整機構は、ス
キャン面のY軸方向の傾きやずれを修正するための、偏
心したカム28aと、カム軸28bとステッピングモー
タ28cとからなるY軸調整機構部28と、スキャン面
のX軸方向のずれを修正するための、偏心したカム29
aと、カム軸29bとステッピングモータ29cとから
なるX軸調整機構部29とをそれぞれ備えている。ユニ
ット支持板25の支持部27は、それぞれのカム28
a、29aに対応する部位に凹部31a、31bを備
え、ステッピングモータ28c、29cが回転するとと
もにカム軸28b、29bに偏心して取り付けられたカ
ム28a、29aが、出没自在にユニット本体14を押
圧して上下するように形成されている。Y軸調整機構部
28と、X軸調整機構部29とは、受光部17で検出す
る光軸調整用治具15の特定の反射パターンの受光レベ
ルを検出し、最大の正しい受光レベルを得るように自動
制御を行う。
In this embodiment, an angle adjusting mechanism is provided to automate these adjustments. The angle adjustment mechanism includes an eccentric cam 28a for correcting inclination and displacement of the scan plane in the Y-axis direction, a Y-axis adjustment mechanism unit 28 including a cam shaft 28b and a stepping motor 28c, and an X-axis of the scan plane. Eccentric cam 29 to correct direction deviation
a, and an X-axis adjustment mechanism 29 including a camshaft 29b and a stepping motor 29c. The support portion 27 of the unit support plate 25 is
The stepping motors 28c, 29c rotate and the cams 28a, 29a eccentrically attached to the camshafts 28b, 29b press the unit body 14 so that they can come and go. It is formed so that it goes up and down. The Y-axis adjustment mechanism 28 and the X-axis adjustment mechanism 29 detect the light receiving level of a specific reflection pattern of the optical axis adjusting jig 15 detected by the light receiving unit 17 so as to obtain the maximum correct light receiving level. Automatic control.

【0027】図3は本発明における制御の概要を説明す
るための要部ブロック図である。制御部50は、CPU
であり、内部にROM、RAM、カウンタおよびレジス
タなどを有し、座標の演算や標準の受光波形の記憶や装
置の制御などを行う。制御部50は、まずレーザ発信の
オンオフなどの制御を行うためのレーザ発信制御部51
を制御してレーザドライバ52を介し、発光部16を発
光させる。発光した走査光18は、スキャンミラー22
で反射させてスキャンするため、パルスモータ23およ
び駆動するためのモータドライバ56を介し、制御部5
0からの指令でパルスモータ制御部55によりスキャン
制御が行われる。
FIG. 3 is a principal block diagram for explaining an outline of control in the present invention. The control unit 50 includes a CPU
It has a ROM, a RAM, a counter, a register, and the like, and performs calculations of coordinates, storage of a standard light-receiving waveform, control of the device, and the like. The control unit 50 first includes a laser transmission control unit 51 for performing control such as turning on / off the laser transmission.
To cause the light emitting section 16 to emit light via the laser driver 52. The emitted scanning light 18 is transmitted to a scan mirror 22.
In order to scan by reflecting light from the control unit 5 via the pulse motor 23 and the motor driver 56 for driving.
Scan control is performed by the pulse motor control unit 55 in response to a command from 0.

【0028】受光部17は3つ備えており、そのうち、
中央に配置される第一の受光部である、フォトダイオー
ドからなる中央受光部17aで受光した走査光18は、
その受光エネルギーに相当した電流を電圧に変換する電
流・電圧変換回路53a、A/D(アナログ/ディジタ
ル)変換回路54aが順次結合し、デジタル信号に変換
されて制御部50に入力され、波形、レベル、幅、位置
などが検出される。制御部50では入力信号の中からス
キャンミラー22の1次反射光(受光エネルギー最大)
に相当する信号を分離して光走査開始パルスを検出す
る。中央受光部17aの上下には、第二および第三の受
光部である上側の受光素子である上側受光部17bおよ
び下側の下側受光部17cが配設され、それぞれ電流・
電圧変換回路53b、53c、A/D(アナログ/ディ
ジタル)変換回路54b、54cが順次結合し、デジタ
ル信号に変換されて制御部50に入力される。
There are three light receiving sections 17, of which three
The scanning light 18 received by the central light receiving unit 17a made of a photodiode, which is the first light receiving unit disposed at the center,
A current / voltage conversion circuit 53a for converting a current corresponding to the received light energy to a voltage and an A / D (analog / digital) conversion circuit 54a are sequentially coupled, converted into a digital signal and input to the control unit 50, and the waveform, Level, width, position, etc. are detected. In the control unit 50, the primary reflected light of the scan mirror 22 (the received light energy is maximum) from the input signal.
Are separated to detect an optical scanning start pulse. Above and below the central light receiving unit 17a, an upper light receiving unit 17b and a lower lower light receiving unit 17c as upper light receiving elements, which are second and third light receiving units, are provided.
The voltage conversion circuits 53b and 53c and the A / D (analog / digital) conversion circuits 54b and 54c are sequentially coupled, converted into a digital signal, and input to the control unit 50.

【0029】通常の正しいスキャン時には中央受光部1
7aのみに走査光18が最大で受光され、他の受光部1
7b、17cに受光するエネルギーは最小となるが、光
軸がずれると、中央受光部17aの受光エネルギーが減
少し、上下いずれかの受光部17b、17cの受光エネ
ルギーが増加する。これらの傾きやずれは、中央受光部
17aで受光する特定の反射パターンのパターンレベル
や形状を監視することにより、X軸方向の傾きや、Y軸
方向の傾きを検出できる。Y軸方向の傾きを検出する場
合はY軸調整機構部28を調整するために、Y軸モータ
制御部58aを制御し、モータドライバ59aを介して
ステッピングモータ28cを制御してカム28aを回転
させ調整する。X軸方向の傾きを検出する場合は、X軸
調整機構部29を調整するために、X軸モータ制御部5
8bを制御し、モータドライバ59bを介してステッピ
ングモータ29cを制御してカム29aを回転させ調整
する。なお、光軸の調整は、受光した信号レベルを表示
装置57へ出力し、この受光レベルを監視しながらユニ
ット本体14、ユニット支持板25及び3本のねじ44
からなる光軸調整機構を、これらの3本のねじ44のね
じ孔へのねじ込み度合いを調整することによって手動で
調整する方法で行ってもよい。
At the time of normal correct scanning, the central light receiving section 1
The scanning light 18 is received at the maximum only in the light receiving portion 7a, and the other light receiving portions 1
Although the energy received by the light receiving portions 7b and 17c becomes minimum, when the optical axis is shifted, the light receiving energy of the central light receiving portion 17a decreases and the light receiving energy of one of the upper and lower light receiving portions 17b and 17c increases. These inclinations and deviations can be detected in the X-axis direction and in the Y-axis direction by monitoring the pattern level and shape of the specific reflection pattern received by the central light receiving unit 17a. When the inclination in the Y-axis direction is detected, the Y-axis adjustment mechanism 28 is adjusted by controlling the Y-axis motor controller 58a, and controlling the stepping motor 28c via the motor driver 59a to rotate the cam 28a. adjust. When detecting the tilt in the X-axis direction, the X-axis motor control unit 5 is used to adjust the X-axis adjustment mechanism unit 29.
8b, and controls the stepping motor 29c via the motor driver 59b to rotate and adjust the cam 29a. To adjust the optical axis, the received signal level is output to the display device 57, and the unit main body 14, the unit support plate 25 and the three screws 44 are monitored while monitoring the received light level.
The optical axis adjustment mechanism may be adjusted manually by adjusting the degree of screwing of these three screws 44 into the screw holes.

【0030】図4は再帰性反射体および光軸調整用治具
の光走査を説明するための説明図である。図4(a)に
示す再帰性反射体13および光軸調整用治具15の特定
の反射パターンについて説明する。光軸調整用治具15
は、図のように再帰性反射体13と並ぶ前後の位置に配
設されるが、本体は走査光18を反射しない遮光部材で
ベースが形成され、ベースの前面の中央部に許容差を考
慮した光軸の幅に略等しい、所定の長さを有する再帰性
反射体で形成される再帰性反射部115が貼付されてい
る。再帰性反射部115は、第一の反射パターンである
横長の中央パターン部115aと、それより長さが短い
第二の反射パターンである上側の上側パターン部115
bおよび下側の下側パターン部115cとからなる。中
央パターン部115aと、上側パターン部115bおよ
び下側パターン部115cの長さが異なるのは、それぞ
れの識別を行うためであり、これにより受光部で検出す
る受光パターンが中央パターン部115aの反射か、他
のパターンからの反射かを区別することができる。これ
らの光軸調整用治具15は図1に示すようにスキャン領
域外に配置されている。
FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining optical scanning of the retroreflector and the optical axis adjusting jig. A specific reflection pattern of the retroreflector 13 and the optical axis adjusting jig 15 shown in FIG. 4A will be described. Optical axis adjustment jig 15
Are arranged at positions before and after the retroreflector 13 as shown in the figure, but the main body is formed of a light-blocking member that does not reflect the scanning light 18, and a tolerance is taken into account at the center of the front surface of the base. A retroreflective portion 115 formed of a retroreflector having a predetermined length substantially equal to the width of the optical axis is attached. The retroreflective portion 115 includes a horizontally long central pattern portion 115a that is a first reflection pattern, and an upper upper pattern portion 115 that is a second reflection pattern having a shorter length.
b and a lower pattern portion 115c on the lower side. The reason why the lengths of the central pattern portion 115a and the upper pattern portion 115b and the lower pattern portion 115c are different from each other is to identify each of them, so that the light receiving pattern detected by the light receiving portion is reflected by the central pattern portion 115a. , Can be distinguished from reflection from other patterns. These optical axis adjusting jigs 15 are arranged outside the scan area as shown in FIG.

【0031】図4(b)は光軸調整用治具と受光部の関
係を説明するための説明図である。図に示すように、光
軸調整用治具15のスキャン側の側面には中央部の横長
の中央パターン部115aの上下に上側パターン部11
5bおよび下側の下側パターン部115cが形成されて
いる。受光部は中央の中央受光部17aの上下に上側受
光部17bおよび下側受光部17cが配設されている。
通常、走査光18は中央の光軸18aによって傾きのな
い状態で走査され、中央受光部17aでのみ受光され
る。しかし、走査光18が傾き、例えば、上方に傾くと
走査光18は上方に傾いた光軸18bとなり、中央受光
部17aには戻らず、上側の上側受光部17bで受光さ
れる。走査光18が下方に傾くと走査光18は下方に傾
いた光軸18cとなり、中央受光部17aには戻らず、
下側の下側受光部17cで受光される。
FIG. 4B is an explanatory diagram for explaining the relationship between the optical axis adjusting jig and the light receiving section. As shown in the figure, the upper side of the upper side pattern portion 11a above and below the horizontally long center pattern portion 115a at the center is provided on the scanning side surface of the optical axis adjusting jig 15.
5b and a lower pattern portion 115c on the lower side are formed. In the light receiving section, an upper light receiving section 17b and a lower light receiving section 17c are arranged above and below a central light receiving section 17a at the center.
Normally, the scanning light 18 is scanned by the central optical axis 18a without inclination, and is received only by the central light receiving unit 17a. However, when the scanning light 18 is tilted, for example, tilted upward, the scanning light 18 becomes an optical axis 18b tilted upward, does not return to the central light receiving portion 17a, and is received by the upper upper light receiving portion 17b. When the scanning light 18 is inclined downward, the scanning light 18 becomes an optical axis 18c inclined downward, and does not return to the central light receiving portion 17a.
The light is received by the lower lower light receiving portion 17c.

【0032】再帰性反射体13および光軸調整用治具1
5を光走査ユニット11aでスキャンする場合、正常な
場合の走査光18は図4(a)に示す傾きのない光軸1
8aの軌跡を描き、図4(c)に示す信号波形が得られ
る。正常の状態では、中央受光部17aのみに(2)に
示す最大レベルの信号波形が得られる。上側受光部17
bには(1)、および下側受光部17cには(3)のよ
うに信号は受光しないか、わずかなリークのみが現れ
る。
Retroreflector 13 and optical axis adjusting jig 1
5 is scanned by the optical scanning unit 11a, the scanning light 18 in the normal case is the optical axis 1 having no tilt shown in FIG.
The locus of 8a is drawn, and the signal waveform shown in FIG. 4C is obtained. In a normal state, the signal waveform of the maximum level shown in (2) is obtained only in the central light receiving section 17a. Upper light receiving section 17
No signal is received or only a slight leak appears in (b) as in (1) and in the lower light receiving portion 17c as in (3).

【0033】図4(d)は走査光の光軸がX軸方向に傾
き、例えば光軸に上側の傾きを生じた場合に受光する信
号波形を示す。傾きの度合いに応じて中央の再帰性反射
体13からの反射による受光レベルは減少するととも
に、上側受光部17bの受光量が増加する。スキャンの
前後の光軸調整用治具15の上側パターン部115bの
パターン波形を明確に検出することができるようにな
る。図4(e)は走査光の光軸がY軸方向に傾き、例え
ば光軸がスキャン開始当初は上側の傾きを生じ、スキャ
ン終了時に下側に傾きを生じた場合に受光する信号波形
を示す。中央受光部17aで検出する波形は、光軸の一
致する中央部の波高は高く、光軸が傾いてずれる前後の
位置では波高は低くなる。上側受光部17bで検出する
波形は、スキャン開始直前の光軸調整用治具15の上側
パターン部115bのパターン波形を明確に検出するこ
とができるようになる。スキャン範囲内では当初の信号
レベルは高く、徐々に下がる。下側受光部17cで検出
する波形は、スキャン範囲内では当初の信号は検出しな
いが、後半よりレベルは徐々に上がり、スキャン終了直
後の光軸調整用治具15の下側パターン部115cのパ
ターン波形を明確に検出することができるようになる。
FIG. 4D shows a signal waveform received when the optical axis of the scanning light is inclined in the X-axis direction, for example, when the optical axis has an upward inclination. The light receiving level due to the reflection from the central retroreflector 13 decreases and the light receiving amount of the upper light receiving unit 17b increases according to the degree of the inclination. The pattern waveform of the upper pattern portion 115b of the optical axis adjusting jig 15 before and after scanning can be clearly detected. FIG. 4E shows a signal waveform received when the optical axis of the scanning light is inclined in the Y-axis direction, for example, when the optical axis is inclined upward at the beginning of the scan and is inclined downward at the end of the scan. . The waveform detected by the central light receiving unit 17a has a high wave height at the center where the optical axes coincide, and a low wave height before and after the optical axis is tilted and shifted. The waveform detected by the upper light receiving portion 17b can clearly detect the pattern waveform of the upper pattern portion 115b of the optical axis adjusting jig 15 immediately before the start of scanning. Within the scan range, the initial signal level is high and gradually decreases. The waveform detected by the lower light receiving portion 17c does not detect the initial signal within the scan range, but the level gradually increases from the latter half, and the pattern of the lower pattern portion 115c of the optical axis adjusting jig 15 immediately after the scan is completed. The waveform can be clearly detected.

【0034】以上に説明したように、各受光部の信号レ
ベルや信号の幅を監視し、所定の反射パターンが常に最
大レベルであれば、スキャンは正常であることがわか
る。光軸に傾きやずれ生じると、まず、中央受光部17
aで検出する光軸調整用治具15の特定の反射パターン
の再帰性反射部115からの受光レベルが下がったり、
レベルに傾きを生じたり、あるいは、信号の幅が減少す
る、などの症状が現れる。さらに傾きやずれが大きくな
ると、反射パターンの反射により上側受光部17bや下
側受光部17cの受光レベルが上昇する。光軸がX軸方
向で上方にずれると上側受光部17bの反射パターンの
受光レベルが上昇し、光軸が下方にずれると下側受光部
17cの反射パターンの受光レベルが上昇する。光軸が
Y軸方向で傾くと、上側受光部17bと下側受光部17
cの双方での反射パターンの受光レベルが上昇するが、
スキャンの前後で一方のみが上昇するため、どちらが先
に上昇するかで傾きがわかる。光軸が大きくずれると中
央受光部17aへの走査光18の戻りが減少するので、
受光レベルも下がる。以上の性質を利用して光軸の自動
制御を行うことが可能となる。
As described above, the signal level and the signal width of each light receiving section are monitored, and if the predetermined reflection pattern is always at the maximum level, it can be understood that the scan is normal. If the optical axis is tilted or displaced, first, the central light receiving section 17
The light receiving level of the specific reflection pattern of the optical axis adjusting jig 15 detected by the a from the retroreflective portion 115 decreases,
Symptoms appear, such as a slope in the level or a decrease in signal width. When the inclination and the deviation further increase, the light receiving levels of the upper light receiving unit 17b and the lower light receiving unit 17c increase due to the reflection of the reflection pattern. When the optical axis shifts upward in the X-axis direction, the light receiving level of the reflection pattern of the upper light receiving unit 17b increases, and when the optical axis shifts downward, the light receiving level of the reflection pattern of the lower light receiving unit 17c increases. When the optical axis is tilted in the Y-axis direction, the upper light receiving portion 17b and the lower light receiving portion 17
c, the light receiving level of the reflection pattern increases,
Since only one rises before and after the scan, the inclination can be determined by which rises first. If the optical axis shifts greatly, the return of the scanning light 18 to the central light receiving unit 17a decreases,
The light reception level also drops. It is possible to perform automatic control of the optical axis using the above properties.

【0035】つぎに、本発明による光走査型タッチパネ
ルにおいて、光軸調整方法を説明する。まず、光走査ユ
ニット11aによる光走査の光軸調整を手動で行う場合
について説明する。 (イ)中央受光部17aで受光した電流が、電流・電圧
変換回路53aで電圧に変換され、A/D変換回路54
aでディジタル信号に変換されて制御部50に入力し、
この制御部50からの出力信号に基づいて表示装置57
が受光エネルギーに相当した信号レベル値を表示する。
信号レベルはオシロスコープで確認する方法でもよい。 (ロ)この表示装置57の表示を見ながら、中央受光部
17aのフォトダイオードの検出値が最大となるよう
に、光軸調整機構の3つのねじ44のねじ込み度合いを
調整する。この時、光軸調整用治具15の特定の反射パ
ターンが正確にあらわれるかどうかを確認する。フォト
ダイオードの検出値が最大となるのは、再帰性反射体1
3の光走査面を走査する走査光18の光軸が光軸調整用
治具15の特定の反射パターンの長手方向の中心軸と一
致したときである。このため、走査光18が不可視光の
場合でも、走査光18が再帰性反射体13の所定位置
(例えば中央部)を走査するように調整する走査光18
の光軸調整を、簡単に行うことができる。なお、光走査
ユニット11bについても全く同様に調整することがで
きる。
Next, an optical axis adjusting method in the optical scanning type touch panel according to the present invention will be described. First, a case where the optical axis adjustment of the optical scanning by the optical scanning unit 11a is performed manually will be described. (A) The current received by the central light receiving section 17a is converted into a voltage by the current / voltage conversion circuit 53a, and the voltage is converted by the A / D conversion circuit 54.
a, is converted into a digital signal and input to the control unit 50;
The display device 57 based on the output signal from the control unit 50
Indicates a signal level value corresponding to the received light energy.
The signal level may be checked with an oscilloscope. (B) While watching the display on the display device 57, the screwing degree of the three screws 44 of the optical axis adjusting mechanism is adjusted so that the detection value of the photodiode of the central light receiving unit 17a becomes maximum. At this time, it is confirmed whether or not a specific reflection pattern of the optical axis adjusting jig 15 appears correctly. The detection value of the photodiode is maximized when the retroreflector 1
This is when the optical axis of the scanning light 18 for scanning the optical scanning surface of No. 3 coincides with the central axis in the longitudinal direction of the specific reflection pattern of the optical axis adjusting jig 15. For this reason, even when the scanning light 18 is invisible light, the scanning light 18 is adjusted so that the scanning light 18 scans a predetermined position (for example, the center) of the retroreflector 13.
Can be easily adjusted. Note that the adjustment can be made in exactly the same manner for the optical scanning unit 11b.

【0036】図5は光走査ユニット11aによる光走査
の光軸の自動調整を説明するための概略の制御のフロー
チャートである。図に基づいて説明する。まず、各受光
部での信号の検出を行う。検出した各受光部の信号波形
と、再帰性反射体13と前後の光軸調整用治具15によ
る本来得られるべき標準波形との、レベルと信号幅およ
び位置などの比較確認を行う(ST1)。検出した信号
レベル、信号幅および位置などが最大レベル、あるいは
所定の許容範囲内であれば、光軸に傾きやずれはないと
判断されるので調整を終了する(ST10)。許容範囲
内でなければ、光軸に傾きやずれがあると判断されるの
で、次にスキャン範囲およびその前後における特定の反
射パターンの上側受光部17bおよび下側受光部17c
の受光波形のレベル確認を行い、光軸の傾きを確認し判
断する(ST3)。まず、光軸調整用治具15の特定の
反射パターンからの反射光を、上側受光部17bおよび
下側受光部17cのいずれか一方のみに受光している
か、あるいは、スキャン範囲の前後で双方にそれぞれ交
互に受光しているか、を確認し(ST4)、双方に検出
していれば、光軸がY軸方向に傾いていることなので、
Y軸調整機構部28のステッピングモータ28cを駆動
制御し、傾き調整を行う(ST5)。この場合、スキャ
ンの先頭で上側受光部17bが特定の反射パターンを検
出するか、下側受光部17cが検出するかで傾きが判明
するので、その傾きを打ち消すような制御を行う。
FIG. 5 is a schematic control flowchart for explaining the automatic adjustment of the optical axis of the optical scanning by the optical scanning unit 11a. Description will be made based on the drawings. First, a signal is detected at each light receiving unit. The level, signal width, position, and the like of the detected signal waveform of each light receiving unit and the standard waveform that should be originally obtained by the retroreflector 13 and the front and rear optical axis adjusting jigs 15 are compared and confirmed (ST1). . If the detected signal level, signal width, position, and the like are at the maximum level or within a predetermined allowable range, it is determined that there is no tilt or deviation in the optical axis, and the adjustment is terminated (ST10). If it is not within the allowable range, it is determined that the optical axis is tilted or deviated. Then, the upper light receiving portion 17b and the lower light receiving portion 17c of the specific reflection pattern before and after the scan range are determined.
The level of the received light waveform is confirmed, and the inclination of the optical axis is confirmed and determined (ST3). First, the reflected light from the specific reflection pattern of the optical axis adjusting jig 15 is received by only one of the upper light receiving portion 17b and the lower light receiving portion 17c, or is reflected before and after the scanning range. It is checked whether the light is received alternately (ST4), and if both are detected, the optical axis is inclined in the Y-axis direction.
The drive of the stepping motor 28c of the Y-axis adjustment mechanism 28 is controlled to adjust the inclination (ST5). In this case, at the beginning of the scan, the inclination can be determined depending on whether the upper light receiving unit 17b detects a specific reflection pattern or the lower light receiving unit 17c detects, so that control is performed to cancel the inclination.

【0037】調整を開始してから予め定められた所定の
時間を超えていないかどうかのタイムオーバーチェック
を行い(ST6)、所定の時間内であれば、次に傾きが
解消したかを確認し(ST7)、傾きが解消していなけ
ればステップ3(ST3)に戻り、傾き調整を繰返す
(ST3〜ST7)。傾きが解消していれば、ステップ
1(ST1)に戻り、各受光部の信号波形の確認から再
度繰返す。ステップ4(ST4)で、光軸調整用治具1
5の特定の反射パターン信号を、上側受光部17bおよ
び下側受光部17cの双方で受光していない場合、即
ち、上側受光部17bおよび下側受光部17cのいずれ
かで一方でのみ受光する場合、X軸方向に対して光軸が
傾いていることなので、X軸調整機構部29のステッピ
ングモータ29cを駆動制御し、傾き調整を行う(ST
8)。X軸の駆動制御後、ステップ6(ST6)へ戻
る。
A time-over check is performed to determine whether a predetermined time has passed since the start of the adjustment (ST6). If the time is within the predetermined time, it is checked whether the inclination has been eliminated next (step ST6). ST7) If the inclination has not been resolved, the process returns to step 3 (ST3), and the inclination adjustment is repeated (ST3 to ST7). If the inclination has been eliminated, the process returns to step 1 (ST1), and the process is repeated again from the confirmation of the signal waveform of each light receiving unit. In step 4 (ST4), the optical axis adjusting jig 1
5 when the specific reflection pattern signal is not received by both the upper light receiving unit 17b and the lower light receiving unit 17c, that is, when only one of the upper light receiving unit 17b and the lower light receiving unit 17c receives light Since the optical axis is inclined with respect to the X-axis direction, the driving of the stepping motor 29c of the X-axis adjustment mechanism 29 is controlled to adjust the inclination (ST
8). After the X-axis drive control, the process returns to step 6 (ST6).

【0038】ステップ6(ST6)で傾き調整がタイム
オーバーとなる場合、即ち、光走査時、所定の期間内に
受光部が光軸調整用治具15の特定の反射パターン信号
を検出できないか、所定のレベルを検出できない場合、
何らかの調整不能の異常が発生したと判断し、レーザ発
信制御部51を制御し、発光の停止処理を行う。また、
同時に何らかの異常アラーム表示を行うなどし(ST
9)、注意を喚起するとともに、安全性を確保するよう
にして調整処理を終了する(ST10)。以上のよう
に、光軸調整用治具15の特定の反射パターンを常時監
視しながらスキャンを行い、常に中央受光部17aに最
大レベルで受光するように制御しているので、誤動作の
少ない制御が可能となっている、また、異常時には発光
を停止するので、安全性にも優れたものとなっている。
If the tilt adjustment is timed out in step 6 (ST6), that is, if the light receiving unit cannot detect a specific reflection pattern signal of the optical axis adjusting jig 15 within a predetermined period during optical scanning, it is determined whether or not a predetermined reflection pattern signal is detected. If we ca n’t detect the level of
It is determined that some uncontrollable abnormality has occurred, and the laser emission control unit 51 is controlled to perform emission stop processing. Also,
At the same time, an abnormal alarm is displayed (ST
9) Call attention, and end the adjustment process to ensure safety (ST10). As described above, scanning is performed while constantly monitoring a specific reflection pattern of the optical axis adjusting jig 15, and control is performed so that the central light receiving unit 17a always receives light at the maximum level. The light emission is stopped when an abnormality occurs, so that the safety is excellent.

【0039】以上、光軸調整用治具15を常設して、随
時傾き検出と調整を行う場合について説明したが、操作
モードとして調整モードを備えて調整を行う場合につい
て述べる。調整モードを備えて調整を行う場合、光軸調
整用治具15は常設する必要はないので、再帰性反射体
の任意の位置に配置可能となる。この場合、前述のよう
に光軸調整用治具15に反射体を形成することに代わ
り、スリットを形成し、背後の再帰性反射体の反射を利
用するようにしてもよい。これによりコストを下げるこ
とができる。また、調整モード時は、光軸調整用治具1
5の走査に必要な期間のみ、発光するようにし、他の期
間は発光停止してもよい。これにより、より安全性を高
めることができる。
In the above, the case where the optical axis adjusting jig 15 is permanently installed and the inclination detection and the adjustment are performed as needed is described. The case where the adjustment is performed with the adjustment mode as the operation mode will be described. When the adjustment is performed with the adjustment mode, the optical axis adjustment jig 15 does not need to be permanently provided, and can be arranged at an arbitrary position on the retroreflector. In this case, instead of forming the reflector on the optical axis adjusting jig 15 as described above, a slit may be formed and the reflection of the retroreflector behind it may be used. This can reduce costs. In the adjustment mode, the optical axis adjustment jig 1 is used.
Light emission may be performed only during the period necessary for the scan of No. 5, and light emission may be stopped during the other periods. Thereby, safety can be further improved.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上のように本発明において、スキャン
ミラーの回転によって発光部から出力する光で再帰性反
射体を光走査し、再帰性反射体で反射した光を前記スキ
ャンミラーの反射を介して受光部で受光する光走査ユニ
ットを複数具え、スキャン領域の範囲内にタッチされた
対象物の座標を検出する光走査型タッチパネルにおい
て、再帰性反射体の両側に連設する、スキャン領域の範
囲外に、発光部から出力する光の光軸の傾きを検出する
ための、所定の反射パターンを有する光軸調整用治具を
具え、発光部は、発光部から出力する光の光軸の傾きを
調整するための、光軸調整機構を具え、受光部が、光軸
調整用治具の所定の反射パターンを検出するとともに、
検出する検出値が最大となるように、光軸調整機構を調
整するようにしたので、受光部で所定の反射パターンを
監視し、光軸の傾きを検出するとともに光軸の調整が簡
単に行え、かつ、なるべく不要な発光を抑え、光軸の大
きな傾きやずれが発生しても安全性に優れた光走査型タ
ッチパネルおよびその光軸調整方法を提供することがで
きる。
As described above, in the present invention, the retroreflector is optically scanned by the light output from the light emitting section by the rotation of the scan mirror, and the light reflected by the retroreflector is reflected by the scan mirror. A light-scanning touch panel that includes a plurality of light-scanning units that receive light at a light-receiving unit and detects the coordinates of an object touched within the scan area. And an optical axis adjusting jig having a predetermined reflection pattern for detecting an inclination of an optical axis of the light output from the light emitting unit. For adjusting the optical axis adjustment mechanism, the light receiving unit detects a predetermined reflection pattern of the optical axis adjustment jig,
The optical axis adjustment mechanism is adjusted so that the detected value is maximized, so that the light receiving unit monitors the predetermined reflection pattern, detects the tilt of the optical axis, and easily adjusts the optical axis. Further, it is possible to provide an optical scanning type touch panel which suppresses unnecessary light emission as much as possible and is excellent in safety even when a large inclination or deviation of the optical axis occurs, and a method of adjusting the optical axis thereof.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の光走査型タッチパネルおよびその光軸
調整方法における光走査型タッチパネルの実施例を示す
平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of an optical scanning type touch panel in an optical scanning type touch panel and an optical axis adjusting method of the present invention.

【図2】本発明の光走査型タッチパネルおよびその光軸
調整方法における光走査型ユニットの実施例を示す分解
斜視図である。
FIG. 2 is an exploded perspective view showing an embodiment of an optical scanning type touch panel and an optical scanning type unit in the optical axis adjusting method of the present invention.

【図3】本発明の光走査型タッチパネルおよびその光軸
調整方法における制御部のブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram of an optical scanning type touch panel of the present invention and a control unit in the optical axis adjusting method thereof.

【図4】本発明の光走査型タッチパネルおよびその光軸
調整方法における、(a)および(b)は光走査を説明
するための説明図であり、(c)〜(e)は受光部の信
号波形である。
FIGS. 4A and 4B are explanatory diagrams for describing optical scanning in the optical scanning type touch panel and the optical axis adjusting method thereof according to the present invention, and FIGS. It is a signal waveform.

【図5】本発明の光走査型タッチパネルおよびその光軸
調整方法における自動調整を説明するためのフローチャ
ートである。
FIG. 5 is a flowchart for explaining automatic adjustment in the optical scanning type touch panel and the optical axis adjustment method thereof according to the present invention.

【図6】従来例における光走査型タッチパネルの平面図
である。
FIG. 6 is a plan view of an optical scanning type touch panel in a conventional example.

【図7】従来例における光走査型ユニットの側面図であ
る。
FIG. 7 is a side view of an optical scanning unit in a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 基板 11a、11b 光走査ユニット 12 フレーム 13 再帰性反射体 14 ユニット本体 14a L字溝 15、15a、15b、15c、15d 光軸調整用治
具 16 発光部 17、17a、17b、17c 受光部 18 走査光 18a、18b、18c 光軸 19 屈折プリズム 20 ハーフミラー 21 プリズム 22 スキャンミラー 23 パルスモータ 25 ユニット支持板 26 固定部 27 支持部 28 Y軸調整機構部 29 X軸調整機構部 28a、29a カム 28b、29b カム軸 28c、29c ステッピングモータ 31a、31b 凹部 40、42 孔 44 ねじ 50 制御部 51 レーザ発信制御部 52 レーザドライバ 53a、53b、53c 電流・電圧変換回路 54a,54b、54c A/D変換回路 55 パルスモータ制御部 56 モータドライバ 57 表示装置 59a、59b モータドライバ 58a Y軸モータ制御部 58b X軸モータ制御部 115 再帰性反射部 115a、115b、115c 反射パターン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Substrate 11a, 11b Optical scanning unit 12 Frame 13 Retroreflector 14 Unit main body 14a L-shaped groove 15, 15a, 15b, 15c, 15d Optical axis adjustment jig 16 Light emitting part 17, 17a, 17b, 17c Light receiving part 18 Scanning light 18a, 18b, 18c Optical axis 19 Refraction prism 20 Half mirror 21 Prism 22 Scan mirror 23 Pulse motor 25 Unit support plate 26 Fixed part 27 Support part 28 Y-axis adjustment mechanism part 29 X-axis adjustment mechanism part 28a, 29a Cam 28b , 29b Cam shaft 28c, 29c Stepping motor 31a, 31b Recess 40, 42 hole 44 Screw 50 Control unit 51 Laser transmission control unit 52 Laser driver 53a, 53b, 53c Current / voltage conversion circuit 54a, 54b, 54c A / D conversion circuit 55 pulse motor Control unit 56 motor driver 57 display device 59a, 59b motor driver 58a Y-axis motor control unit 58b X-axis motor control unit 115 retroreflective unit 115a, 115b, 115c reflected pattern

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 スキャンミラーの回転によって発光部か
ら出力する光で再帰性反射体を光走査し、同再帰性反射
体で反射した光を前記スキャンミラーの反射を介して受
光部で受光する光走査ユニットを複数具え、スキャン領
域の有効範囲内にタッチされた対象物の座標を検出する
光走査型タッチパネルにおいて、 前記複数の光走査ユニットの全てに対してスキャン領域
の有効範囲外となる、前記光走査の開始位置と終了位置
に対応して近接する位置に、前記発光部から出力する光
の光軸の傾きを検出するための、所定の反射パターンを
有する光軸調整用治具を具え、 前記発光部は、同発光部から出力する光の光軸の傾きを
調整するための光軸調整機構に取付けられ、 前記受光部が、前記光軸調整用治具の前記所定の反射パ
ターンを検出するとともに、検出する検出値が最大とな
るように、前記光軸調整機構を調整するようにしたこと
を特徴とする光走査型タッチパネル。
A light output from a light-emitting portion by rotation of a scan mirror, which optically scans the retroreflector, and receives light reflected by the retroreflector at a light-receiving portion via reflection of the scan mirror. In an optical scanning touch panel comprising a plurality of scanning units and detecting coordinates of an object touched within an effective range of the scan area, the scan area is out of an effective range of the scan area for all of the plurality of optical scanning units. At a position close to the start position and the end position of the optical scanning, for detecting the inclination of the optical axis of the light output from the light emitting unit, an optical axis adjusting jig having a predetermined reflection pattern, The light emitting unit is attached to an optical axis adjusting mechanism for adjusting an inclination of an optical axis of light output from the light emitting unit, and the light receiving unit detects the predetermined reflection pattern of the optical axis adjusting jig. Then In both cases, the optical scanning type touch panel is characterized in that the optical axis adjusting mechanism is adjusted so that the detected value becomes maximum.
【請求項2】 前記光軸調整用治具は、反射を遮蔽する
ための遮光部材からなるベースと、同ベースの前面の所
定の部位に設けた、所定の幅と長さとを有する再帰性反
射体によって形成される前記反射パターンとからなるこ
とを特徴とする請求項1記載の光走査型タッチパネル。
2. The optical axis adjusting jig comprises: a base made of a light-shielding member for shielding reflection; and a retroreflector having a predetermined width and length provided at a predetermined portion on the front surface of the base. The optical scanning type touch panel according to claim 1, comprising the reflection pattern formed by a body.
【請求項3】 前記光軸調整用治具は、対応する複数の
前記光走査ユニット毎に、それぞれに適する位置と向き
とを設定されて配設されることを特徴とする請求項1ま
たは2記載の光走査型タッチパネル。
3. The optical axis adjusting jig is provided with a suitable position and orientation set for each of the plurality of corresponding optical scanning units. The optical scanning type touch panel according to the above.
【請求項4】 前記所定の反射パターンは、前記光軸調
整用治具の前面中央部に再帰性反射体によって形成され
る、所定の幅と長さとを有する第一の反射パターンと、
同第一の反射パターンの上下のいずれか、または双方に
設けた前記第一の反射パターンより長さの短い第二の反
射パターンとからなることを特徴とする請求項1ないし
3記載の光走査型タッチパネル。
4. The first reflection pattern having a predetermined width and length, formed by a retroreflector at a center of the front surface of the optical axis adjusting jig;
4. The optical scanning device according to claim 1, further comprising a second reflection pattern having a shorter length than the first reflection pattern provided on one or both sides of the first reflection pattern or on both sides thereof. Type touch panel.
【請求項5】 前記光軸調整機構は、前記発光部、前記
受光部および前記スキャンミラーを備えた光走査ユニッ
ト本体と、同光走査ユニット本体をバネ部材により付勢
して支えるユニット支持部と、前記光走査ユニット本体
を前記ユニット支持部に角度調整可能に取付けるため
の、複数の取付ねじとからなることを特徴とする請求項
1ないし4記載の光走査型タッチパネル。
5. The optical axis adjusting mechanism includes: an optical scanning unit main body including the light emitting unit, the light receiving unit, and the scan mirror; and a unit supporting unit that supports the optical scanning unit main body by urging the same with a spring member. 5. The optical scanning type touch panel according to claim 1, further comprising a plurality of mounting screws for mounting said optical scanning unit main body to said unit supporting portion so as to be adjustable in angle.
【請求項6】 前記光軸調整機構は、前記光走査型タッ
チパネルを水平面に寝かせて設置した場合の、左右方向
に対する光軸の上下の傾き(以降X軸方向の傾きとす
る)と、前後方向に対する光軸の上下の傾き(以降Y軸
方向の傾きとする)とを個別に調整するための角度調整
機構とを、それぞれ別に備えたことを特徴とする請求項
1ないし5記載の光走査型タッチパネル。
6. The optical axis adjusting mechanism includes: a vertical tilt (hereinafter referred to as an X-axis tilt) of an optical axis with respect to a horizontal direction when the optical scanning type touch panel is laid on a horizontal surface; 6. The optical scanning type according to claim 1, further comprising an angle adjusting mechanism for individually adjusting the vertical inclination of the optical axis with respect to the angle (hereinafter referred to as the Y-axis direction). Touch panel.
【請求項7】 前記角度調整機構は、前記光走査ユニッ
ト本体のいずれか一端を上下させるためのカムと、同カ
ムに直結され、前記カムを回転するための駆動モータと
からなることを特徴とする請求項6記載の光走査型タッ
チパネル。
7. The angle adjusting mechanism comprises a cam for moving one end of the optical scanning unit main body up and down, and a drive motor directly connected to the cam for rotating the cam. The optical scanning type touch panel according to claim 6.
【請求項8】 前記受光部は、前記光軸を検出するため
の第一の受光部と、同第一の受光部を挟んで上下に配設
され、前記光軸の傾きを検出するための第二の受光部、
および、または第三の受光部とからなることを特徴とす
る請求項1ないし7記載の光走査型タッチパネル。
8. The light-receiving section is provided with a first light-receiving section for detecting the optical axis, and disposed vertically above and below the first light-receiving section, for detecting a tilt of the optical axis. A second light receiving section,
The optical scanning type touch panel according to claim 1, further comprising a third light receiving unit.
【請求項9】 前記発光部の発光を制御する発光制御手
段を備え、前記光走査時に、前記受光部が前記光軸調整
用治具の所定の反射パターンを所定の期間内に検出でき
ないか、所定のレベルを検出できない場合、前記発光制
御手段が、前記発光部の発光を停止するようにしたこと
を特徴とする請求項1ないし8記載の光走査型タッチパ
ネル。
9. A light emission control unit for controlling light emission of the light emitting unit, wherein the light receiving unit cannot detect a predetermined reflection pattern of the optical axis adjusting jig within a predetermined period during the light scanning. 9. An optical scanning type touch panel according to claim 1, wherein said light emission control means stops light emission of said light emitting section when a predetermined level cannot be detected.
【請求項10】 スキャンミラーの回転によって発光部
から出力する光で再帰性反射体を光走査し、同再帰性反
射体で反射した光を前記スキャンミラーの反射を介して
受光部で受光する光走査ユニットを複数具え、スキャン
領域の範囲内にタッチされた対象物の座標を検出する光
走査型タッチパネルにおいて、 前記複数の光走査ユニットの全てに対してスキャン領域
の有効範囲外となる、前記光走査の開始位置と終了位置
に対応して近接する位置に、前記再帰性反射体に連設す
るか、または前記再帰性反射体の所定の位置の前面に配
設する、前記発光部から出力する光の光軸の傾きを検出
するための、所定の反射パターンを有する光軸調整用治
具を具え、 前記発光部は、同発光部から出力する光の光軸の傾きを
調整するための光軸調整機構に取付けられ、 前記受光部が、前記光軸調整用治具の前記所定の反射パ
ターンを検出するとともに、検出する検出値が最大とな
るように、前記光軸調整機構を調整するようにしたこと
を特徴とする光走査型タッチパネルの光軸調整方法。
10. A retroreflector is optically scanned with light output from a light emitting unit by rotation of a scan mirror, and light reflected by the retroreflector is received by a light receiving unit via reflection of the scan mirror. An optical scanning type touch panel comprising a plurality of scanning units and detecting coordinates of an object touched within a range of a scanning area, wherein the light is outside an effective range of a scanning area for all of the plurality of optical scanning units. Output from the light-emitting unit, which is provided adjacent to the position corresponding to the start position and the end position of scanning, connected to the retroreflector, or disposed in front of a predetermined position of the retroreflector. An optical axis adjusting jig having a predetermined reflection pattern for detecting the inclination of the optical axis of the light, wherein the light emitting unit adjusts the optical axis inclination of the light output from the light emitting unit. For axis adjustment mechanism The light receiving unit detects the predetermined reflection pattern of the optical axis adjusting jig, and adjusts the optical axis adjusting mechanism so that the detected value is maximized. A method for adjusting an optical axis of an optical scanning type touch panel.
【請求項11】 前記光軸調整用治具は、前記再帰性反
射体の所定に位置の前面に設けた、反射を遮蔽するため
の遮光部材からなるベースと、同ベースの所定の部位に
設けた、所定の幅と長さとを有するスリットと同スリッ
トの後方の前記再帰性反射体とで形成される前記反射パ
ターンとからなることを特徴とする請求項10記載の光
走査型タッチパネルの光軸調整方法。
11. The optical axis adjusting jig is provided on a front surface of a predetermined position of the retroreflector and formed of a light blocking member for blocking reflection, and provided on a predetermined portion of the base. 11. The optical axis of the optical scanning type touch panel according to claim 10, wherein said optical pattern comprises a slit having a predetermined width and length and said reflection pattern formed by said retroreflector behind said slit. Adjustment method.
【請求項12】 前記光軸調整用治具は、反射を遮蔽す
るための遮光部材からなるベースと、同ベースの前面の
所定の部位に設けた、所定の幅と長さとを有する再帰性
反射体によって形成される前記反射パターンとからなる
ことを特徴とする請求項10記載の光走査型タッチパネ
ルの光軸調整方法。。
12. The optical axis adjusting jig comprises: a base made of a light shielding member for shielding reflection; and a retroreflective reflector having a predetermined width and length provided at a predetermined portion on a front surface of the base. The method for adjusting an optical axis of an optical scanning type touch panel according to claim 10, comprising the reflection pattern formed by a body. .
【請求項13】 前記所定の反射パターンは、前記光軸
調整用治具の前面中央部に再帰性反射体によって形成さ
れる、所定の幅と長さとを有する第一の反射パターン
と、同第一の反射パターンの上下のいずれか、または双
方に設けた前記第一の反射パターンより長さの短い第二
の反射パターンとからなり、 前記受光部は、前記光軸の信号レベルを検出するための
第一の受光部と、同第一の受光部を挟んで上下に配設さ
れる第二の受光部、および、または第三の受光部とを具
え、 前記第一の受光部が検出する前記第一の反射パターンの
検出値が最大となるとともに、前記第二の受光部、およ
び、または前記第三の受光部が検出する前記第二の反射
パターンの検出値が最小となるように、前記光軸調整機
構を調整するよにしたことを特徴とする請求項10また
は12記載の光走査型タッチパネルの光軸調整方法。
13. The first reflection pattern having a predetermined width and length, which is formed by a retroreflector in the center of the front surface of the optical axis adjusting jig, Consisting of a second reflection pattern having a shorter length than the first reflection pattern provided above or below one of the reflection patterns, or both, the light receiving unit detects a signal level of the optical axis. A first light receiving section, and a second light receiving section disposed vertically above and below the first light receiving section, and / or a third light receiving section, wherein the first light receiving section detects As the detection value of the first reflection pattern is maximized, the second light receiving unit, and, or as the detection value of the second reflection pattern detected by the third light receiving unit is minimized, The optical axis adjusting mechanism is adjusted. Optical axis adjusting method for an optical scanning-type touch panel of claim 10 or 12 wherein.
【請求項14】 前記光軸調整機構は、前記発光部、前
記受光部および前記スキャンミラーを備えた光走査ユニ
ット本体と、バネ部材で付勢して前記光走査ユニット本
体を支えるユニット支持部と、前記光走査ユニット本体
を前記ユニット支持部に角度調整可能に取付けるための
複数の取付ねじとからなり、 前記ユニット支持部は、前記光走査ユニット本体のいず
れか一端を上下させるためのカムと、同カムに直結さ
れ、前記カムを回転するための駆動モータとからなる角
度調整機構を有し、 前記角度調整機構は、光軸のX軸方向の傾きとY軸方向
の傾きとを個別に調整して光軸の平行度を保つために、
それぞれに備え、 前記駆動モータを駆動する駆動部と、前記受光部が検出
する検出値に基づいて前記駆動部の制御を行う制御部と
を備え、 前記受光部が、前記再帰性反射体の前記所定の反射パタ
ーンを検出するとともに、検出する検出値が最大となる
ように、前記光軸調整機構を自動調整するようにしたこ
とを特徴とする請求項10ないし13記載の光走査型タ
ッチパネルの光軸調整方法。
14. An optical axis adjusting mechanism, comprising: an optical scanning unit main body including the light emitting unit, the light receiving unit, and the scan mirror; and a unit support unit that is urged by a spring member to support the optical scanning unit main unit. A plurality of mounting screws for mounting the optical scanning unit main body to the unit support unit so as to adjust the angle, the unit support unit includes a cam for moving one end of the optical scanning unit main body up and down, An angle adjustment mechanism that is directly connected to the cam and includes a drive motor for rotating the cam; the angle adjustment mechanism individually adjusts the tilt of the optical axis in the X-axis direction and the tilt of the optical axis in the Y-axis direction; To keep the optical axis parallel,
A driving unit that drives the driving motor, and a control unit that controls the driving unit based on a detection value detected by the light receiving unit. 14. The light of the optical scanning type touch panel according to claim 10, wherein a predetermined reflection pattern is detected, and the optical axis adjustment mechanism is automatically adjusted so that a detected value becomes maximum. Axis adjustment method.
【請求項15】 前記発光部の発光を制御する発光制御
手段を備え、前記光軸の調整時は、前記光軸調整用治具
を走査するに必要な期間のみ発光をオンさせるようにし
たことを特徴とする請求項10ないし14記載の光走査
型タッチパネルの光軸調整方法。
15. A light emission control means for controlling light emission of the light emitting section, wherein light emission is turned on only during a period necessary for scanning the optical axis adjustment jig when adjusting the optical axis. The optical axis adjustment method for an optical scanning type touch panel according to claim 10, wherein:
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