JP2002026228A - Memory module - Google Patents

Memory module

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JP2002026228A
JP2002026228A JP2000203507A JP2000203507A JP2002026228A JP 2002026228 A JP2002026228 A JP 2002026228A JP 2000203507 A JP2000203507 A JP 2000203507A JP 2000203507 A JP2000203507 A JP 2000203507A JP 2002026228 A JP2002026228 A JP 2002026228A
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JP
Japan
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semiconductor memory
bit
configuration
memory device
data input
Prior art date
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Application number
JP2000203507A
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Japanese (ja)
Inventor
Muneharu Tokunaga
宗治 徳永
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a memory module which can flexibly correspond to a change in the bit constitution of a semiconductor storage device even when changed and whose productivity can be improved. SOLUTION: The semiconductor storage device 1 of four bit constitution has a rectangular packaged body 1a having a storage element inside and a plurality of connection terminals 2, 2,... protruded from the side edge parts of the packaged body 1a. A plurality of connection terminals 2, 2,... are arranged in symmetric positions through the packaged body 1a along confronted side edge parts 1b and 1c in the packaged body 1a. The connection terminals of one side in a pair of connection terminals 2 and 2 which are confronted through the packaged body 1a are set to be data input/output terminals (DQ0 to DQ3) to which data input/output signal lines are allocated, and the other connection terminals are non-connected terminals to which any signal line is not allocated. When constituting an eight bit composition, the data input/output terminal is allocated to a terminal equivalent to the non-connected terminal in a connection terminal arrangement similar to that of a four bit component.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、DRAM(Dynami
c Random Access Memory)などの半導体記憶装置を複数
個実装してなるメモリモジュールに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a DRAM (Dynami
The present invention relates to a memory module in which a plurality of semiconductor storage devices such as c Random Access Memory) are mounted.

【0002】[0002]

【従来の技術】メモリモジュールとは、プリント配線基
板などにDRAMなどの複数の半導体記憶装置を実装
し、コンピュータなどの電子機器のメモリを増設する機
能を有するものである。代表的なメモリモジュールとし
て非同期型もしくは同期型DIMM(Dual In-line Mem
ory Module)やSIMM(Single In-line Memory Modu
le)などがある。
2. Description of the Related Art A memory module has a function of mounting a plurality of semiconductor memory devices such as a DRAM on a printed wiring board or the like and increasing the memory of an electronic device such as a computer. As a typical memory module, an asynchronous or synchronous DIMM (Dual In-line Mem
ory Module) or SIMM (Single In-line Memory Modu)
le).

【0003】従来使用されているメモリモジュールで
は、ほとんどの場合半導体記憶装置の語構成により個別
にプリント基板の設計を行っていた。例えば、4ビット
構成のDQ(データ入出力)ピン配置をもつ64Mビッ
ト・DRAMを16個プリント配線基板に搭載した12
8Mバイト容量のDIMMを製造する場合と、8ビット
構成のDQピン配置をもつ64Mビット・DRAMを8
個(もしくは16個)プリント配線基板に搭載した64
Mバイト(もしくは128Mバイト)容量のDIMMを
製造する場合とでピン配置が異なるため2種類のプリン
ト配線基板を用意する必要があり、2品種の製品設計を
行う必要があった。尚、nビット構成とは、nビット単
位で入出力を行う構成を意味する。通常、データ入出力
端子(以下、DQ端子と呼ぶ。)は半導体記憶装置のパ
ッケージの対向する2辺において対称位置に配置される
ことが多い。
In most of the conventional memory modules, a printed circuit board is individually designed according to the word configuration of the semiconductor memory device in most cases. For example, 16 64-Mbit DRAMs having a 4-bit DQ (data input / output) pin arrangement are mounted on a printed circuit board.
When manufacturing a DIMM having a capacity of 8 Mbytes, a 64-Mbit DRAM having a DQ pin arrangement of 8-bit
64 mounted on individual (or 16) printed wiring boards
Since the pin arrangement is different from the case of manufacturing a DIMM having a capacity of M bytes (or 128 M bytes), it is necessary to prepare two types of printed wiring boards, and it is necessary to design two types of products. The n-bit configuration means a configuration in which input and output are performed in n-bit units. Usually, data input / output terminals (hereinafter, referred to as DQ terminals) are often arranged at symmetrical positions on two opposing sides of a package of a semiconductor memory device.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
メモリモジュールでは、ビット構成が異なる複数品種の
半導体記憶装置について品種毎の設計時間が必要とな
り、量産時においても複数品種に対応した複数種類のプ
リント配線基板を管理する必要が生じているのが現状で
ある。このため、プリント配線基板の管理が煩雑にな
り、その管理コストが増大すると同時に、例えば客先な
どで急遽メモリモジュールの設計変更を求められた場
合、その要求に迅速に対応できないという問題が生じて
いた。
However, the conventional memory module requires a design time for each type of semiconductor memory device having a different bit configuration for a plurality of types of semiconductor memory devices. At present, it is necessary to manage wiring boards. For this reason, the management of the printed wiring board becomes complicated, the management cost increases, and at the same time, when a design change of the memory module is required in a hurry at a customer or the like, there is a problem that the request cannot be promptly responded. Was.

【0005】このような問題に鑑みて本発明が解決しよ
うとするところは、ビット構成が異なる複数品種の半導
体記憶装置についてプリント配線基板の管理を簡易に
し、メモリモジュールの設計変更に柔軟に対応し得るメ
モリモジュールを提供する点にある。
In view of such a problem, the present invention is intended to simplify the management of a printed circuit board for a plurality of types of semiconductor memory devices having different bit configurations, and to flexibly cope with a change in the design of a memory module. The purpose of the present invention is to provide a memory module.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】前記課題を達成するため
に、本発明者は半導体記憶装置のピン配置に着目し、そ
のピン配置とプリント配線基板の配線構成との対応を鋭
意研究した結果、本発明に到達するに至った。
In order to achieve the above object, the present inventor focused on the pin arrangement of a semiconductor memory device, and as a result of earnestly studying the correspondence between the pin arrangement and the wiring configuration of a printed wiring board. The present invention has been reached.

【0007】すなわち、本発明の請求項1に係るメモリ
モジュールは、内部に記憶素子を有してパッケージ化さ
れた対向する2辺を有する本体部と、この本体部の前記
対向する2辺から突出した複数の接続端子と、を備えた
半導体記憶装置と、表面に前記半導体記憶装置を複数装
着されるモジュール基板と、を備えたメモリモジュール
であって、前記半導体記憶装置の複数の接続端子は、前
記本体部の対向する2辺に沿って対称位置に配列した複
数の接続端子対を含んでおり、前記モジュール基板は、
前記複数の接続端子対の各々について前記接続端子対の
一方をデータ入出力端子となし且つ他方を無接続端子と
なした第1の構成の前記半導体記憶装置と、前記複数の
接続端子対の各々について前記接続端子対の双方をデー
タ入出力端子となし且つ前記第1の構成の前記半導体記
憶装置と同一配置の前記複数の接続端子対を有する第2
の構成の前記半導体記憶装置と、の何れも同一位置に装
着し得る配線を有することを特徴としたものである。
That is, a memory module according to a first aspect of the present invention has a main body having two opposing sides packaged with a storage element therein, and protruding from the two opposing sides of the main body. A plurality of connection terminals, and a semiconductor memory device comprising: a module substrate having a plurality of the semiconductor storage devices mounted on the surface thereof; anda plurality of connection terminals of the semiconductor storage device, The module substrate includes a plurality of connection terminal pairs arranged at symmetrical positions along two opposing sides of the main body.
A semiconductor memory device having a first configuration in which one of the connection terminal pairs is a data input / output terminal and the other is a non-connection terminal for each of the plurality of connection terminal pairs; A second terminal having both of the connection terminal pairs as data input / output terminals and having the plurality of connection terminal pairs arranged in the same manner as the semiconductor memory device of the first configuration.
And a wiring that can be mounted at the same position.

【0008】また請求項2に係る発明は、請求項1記載
のメモリモジュールであって、前記第1の構成がnビッ
ト構成であり且つ前記第2の構成が2nビット構成であ
るものである。
The invention according to claim 2 is the memory module according to claim 1, wherein the first configuration has an n-bit configuration and the second configuration has a 2n-bit configuration.

【0009】また請求項3に係る発明は、請求項1また
は2記載のメモリモジュールであって、前記モジュール
基板の裏面にも前記半導体記憶装置を装着してなり、前
記表面および裏面の一方の面の前記半導体記憶装置のデ
ータ入出力端子と、そのデータ入出力端子の表裏対称位
置にある、他方の面の半導体記憶装置のデータ入出力端
子または無接続端子とを、前記モジュール基板を貫通す
るスルーホールを介して結線してなるものである。
The invention according to claim 3 is the memory module according to claim 1 or 2, wherein the semiconductor memory device is also mounted on the back surface of the module substrate, and one of the front surface and the back surface is provided. A data input / output terminal of the semiconductor memory device and a data input / output terminal or a non-connection terminal of the semiconductor memory device on the other surface, which are located symmetrically on the front and back sides of the data input / output terminal, through the module substrate. They are connected via holes.

【0010】また請求項4に係る発明は、請求項3記載
のメモリモジュールであって、前記モジュール基板は、
表面に搭載した前記半導体記憶装置と裏面に搭載した前
記半導体記憶装置との各制御信号用配線を、電気的に分
離された別配線と電気的に接続された共通配線との何れ
か一方に切り換える切り換え用電極を備えてなるもので
ある。
The invention according to claim 4 is the memory module according to claim 3, wherein the module substrate comprises:
The control signal wiring of the semiconductor memory device mounted on the front surface and the control signal wiring of the semiconductor memory device mounted on the back surface is switched to one of another electrically separated wiring and a common wiring electrically connected. It is provided with a switching electrode.

【0011】そして請求項5に係る発明は、請求項1〜
4の何れか一項に記載のメモリモジュールであって、前
記モジュール基板は、前記第1の構成と前記第2の構成
とのデータ入出力用配線を個別に有すると共に、何れか
一方の前記データ入出力用配線上に前記モジュール基板
の回路抵抗を調整する抵抗搭載用電極を有してなるもの
である。
The invention according to claim 5 is the invention according to claims 1 to
5. The memory module according to claim 4, wherein the module substrate individually has data input / output wirings for the first configuration and the second configuration, and one of the data A resistor mounting electrode for adjusting the circuit resistance of the module substrate is provided on the input / output wiring.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の種々の実施の形態について説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Various embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】<実施の形態1>図1および図2は、本発
明の実施の形態1に係る半導体記憶装置1の平面図であ
る。図1は4ビット構成の半導体記憶装置、図2は8ビ
ット構成の半導体記憶装置を示している。半導体記憶装
置としては、SDRAM(Synchronous DRAM)やRDR
AM(Rambus DRAM)などの同期型のDRAM、若しく
は非同期型のDRAMなどが挙げられる。これら半導体
記憶装置は、内部に記憶素子を有してパッケージ化され
た長方形状の本体部と、この本体部の対向する両側縁部
分から突出する複数の接続端子(ピン)とを備えてい
る。それら接続端子の各々は、アドレス入力信号
(A)、データ入出力信号(DQ)、列アドレス・スト
ローブ信号(CAS)、行アドレス・ストローブ信号
(RAS)、チップ・セレクト信号(CS)、電源
(V)などの各種信号線に割り付けられる。また何れの
信号線への割付けをされない端子はNC(Non Connecti
on)端子(無接続端子)と呼ばれる。
<First Embodiment> FIGS. 1 and 2 are plan views of a semiconductor memory device 1 according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1 shows a semiconductor memory device having a 4-bit configuration, and FIG. 2 shows a semiconductor memory device having an 8-bit configuration. Semiconductor memory devices include SDRAM (Synchronous DRAM) and RDR.
A synchronous DRAM such as an AM (Rambus DRAM) or an asynchronous DRAM can be used. These semiconductor memory devices include a rectangular main body that is packaged with a storage element therein, and a plurality of connection terminals (pins) protruding from opposite side edges of the main body. Each of these connection terminals is connected to an address input signal (A), a data input / output signal (DQ), a column address strobe signal (CAS), a row address strobe signal (RAS), a chip select signal (CS), a power supply ( V). Terminals not assigned to any signal line are NC (Non Connecti
on) terminal (non-connection terminal).

【0014】図1に示す半導体記憶装置1の本体部1a
は長方形状を有し、その本体部1aの対向する両側縁部
分1b,1cには複数の接続端子2,2,…が等間隔で
配列し突出して形成されている。その側縁部分1b,1
cには、データ入出力信号を割付けられたDQ0〜DQ
3端子、NC端子、電源を割付けられたVss端子および
dd端子が配列しており、これら端子は本体部1aを介
して左右対称位置に配列し、複数の接続端子対を形成し
ている。またこれら接続端子対のうち、一方がデータ入
出力端子DQ0〜DQ3の何れかであれば、他方にはN
C端子が割り付けられている。尚、図で明示しないが、
その他の接続端子2,2,…には、上記したアドレス入
力信号線やチップ・セレクト信号線などが割り付けられ
ている。
The main body 1a of the semiconductor memory device 1 shown in FIG.
Has a rectangular shape, and a plurality of connection terminals 2, 2,... Are arranged at equal intervals and protrude from opposite side edge portions 1b, 1c of the main body 1a. Its side edge portions 1b, 1
c is DQ0 to DQ to which data input / output signals are assigned.
Three terminals, NC terminals, V ss terminals and V dd terminals to which power is allocated are arranged, and these terminals are arranged at symmetrical positions via the main body 1a to form a plurality of connection terminal pairs. . If one of these connection terminal pairs is one of the data input / output terminals DQ0 to DQ3, the other has N
Terminal C is assigned. Although not explicitly shown in the figure,
The above-mentioned address input signal lines, chip select signal lines, and the like are assigned to the other connection terminals 2, 2,.

【0015】また、図2に示す8ビット構成の半導体記
憶装置10は、図1に示した4ビット構成の半導体記憶
装置1と同じ外形状を有し、且つこの半導体記憶装置1
と同一配列の接続端子対を有しており、これら接続端子
対の双方にデータ入出力端子(DQ0〜DQ7)を割り
付けてなるものである。これらデータ入出力端子以外の
端子11,11,…への信号線の割り付け方は、図1に
示した半導体記憶装置1の場合と同じである。
The 8-bit semiconductor memory device 10 shown in FIG. 2 has the same outer shape as the 4-bit semiconductor memory device 1 shown in FIG.
And connection terminal pairs having the same arrangement as the above, and data input / output terminals (DQ0 to DQ7) are allocated to both of these connection terminal pairs. Assignment of signal lines to terminals 11, 11,... Other than these data input / output terminals is the same as that of semiconductor memory device 1 shown in FIG.

【0016】尚、上記半導体記憶装置1,10のパッケ
ージの種類としては、ピン挿入型、表面実装型の何れで
も良い。ピン挿入型は、半導体記憶装置の本体部から接
続端子が下方へ垂直に突出したタイプであり、表面実装
型は、半導体記憶装置の本体部から突出した接続端子が
折曲げ加工されているか、或いは前記本体部の表面にボ
ール状の接続端子を設けたタイプである。表面実装型パ
ッケージとしては、接続端子の先端を外側に折り曲げて
当該基板と略平行にしたSOP(Small Outline Packag
e)やTSOP(Thin Small Outline Package)、SO
I(Small Outline I-leaded Package)などが挙げら
れ、ピン挿入型パッケージとしては、DIP(Dual Inl
ine Package)、ZIP(Zigzag Inline Package)、S
IP(Single Inline Package)などが挙げられる。特
に表面実装型パッケージは、ピン挿入型と比べると、実
装時の基板からの高さを低く抑えられ高さ方向の実装密
度の面で有利なために好ましい。
The type of the package of the semiconductor storage devices 1 and 10 may be a pin insertion type or a surface mount type. The pin insertion type is a type in which connection terminals protrude vertically downward from the main body of the semiconductor storage device, and the surface mount type has connection terminals protruding from the main body of the semiconductor storage device bent or This is a type in which ball-shaped connection terminals are provided on the surface of the main body. As a surface mount type package, an SOP (Small Outline Packag) in which the ends of the connection terminals are bent outward to be substantially parallel to the substrate is used.
e), TSOP (Thin Small Outline Package), SO
I (Small Outline I-leaded Package). DIP (Dual Inl.
ine Package), ZIP (Zigzag Inline Package), S
IP (Single Inline Package) and the like. In particular, the surface mount type package is preferable because the height from the substrate at the time of mounting can be suppressed to be lower than that of the pin insertion type and is advantageous in terms of mounting density in the height direction.

【0017】上記半導体記憶装置1,10をモジュール
基板に複数実装することにより、メモリモジュールが構
成される。そのモジュール基板のデータ入出力用配線
は、上記した4ビット構成の半導体記憶装置1と8ビッ
ト構成の半導体記憶装置10とで共用化できる。図3に
例示するように、メモリモジュール12は、プリント配
線基板からなるモジュール基板13の表面13aもしく
は表裏両面に、上記した4ビット構成もしくは8ビット
構成の半導体記憶装置15,15,…,15,15の接
続端子16,16,…を半田付けなどで複数装着して構
成される。
A memory module is formed by mounting a plurality of the semiconductor storage devices 1 and 10 on a module substrate. The data input / output wiring of the module board can be shared by the above-described semiconductor memory device 1 having the 4-bit configuration and the semiconductor memory device 10 having the 8-bit configuration. As illustrated in FIG. 3, the memory module 12 includes the above-described 4-bit or 8-bit semiconductor memory devices 15, 15,..., 15 on the front surface 13 a or both front and back surfaces of the module substrate 13 made of a printed wiring board. Are connected by soldering or the like.

【0018】また、図3に示すようにモジュール基板1
3の下方側縁部に沿って複数のコンタクト部14,1
4,…が並設され、例えばJEDEC(Joint Electron
Device Engineering Council)などの規格による所定
の幅や間隔などに従って配列している。これらコンタク
ト部14,14,…は、銅箔などからなり、コンピュー
タなどに用意された外部ソケット(図示せず)に装着さ
れ電気的に接続される。尚、コンタクト部14,14,
…の間に形成されている切り欠き13cは、外部ソケッ
トに対するメモリモジュールの位置決めやメモリモジュ
ールの論理構造を定め得るものである。また上記モジュ
ール基板13には、汎用化の観点からJEDECなどに
よる標準規格に準拠した基板を用いるのが望ましい。ま
た前記半導体記憶装置15の出力側にラッチあるいはバ
ッファーを持たせても構わない。
Also, as shown in FIG.
3 along the lower side edge of the plurality of contact portions 14, 1
4, ... are juxtaposed. For example, JEDEC (Joint Electron
They are arranged according to predetermined widths and intervals according to standards such as Device Engineering Council. These contact portions 14, 14,... Are made of copper foil or the like, and are mounted and electrically connected to an external socket (not shown) prepared in a computer or the like. The contact portions 14, 14,
The notch 13c formed between... Can determine the positioning of the memory module with respect to the external socket and the logical structure of the memory module. Further, it is desirable to use a substrate compliant with the standard such as JEDEC as the module substrate 13 from the viewpoint of general use. Further, a latch or a buffer may be provided on the output side of the semiconductor memory device 15.

【0019】図1および図2に示すような半導体記憶装
置1,10を用いることにより、モジュール基板のデー
タ入出力用配線を4ビット構成の半導体記憶装置と8ビ
ット構成の半導体記憶装置とで共用できるから、ビット
構成毎に異なるモジュール基板を設計していた手間が削
減され、設計時間を短縮化することが可能となる。また
プリント配線基板の管理コストを削減し、設計変更にも
迅速且つ柔軟に対応することが可能となる。
By using the semiconductor memory devices 1 and 10 as shown in FIGS. 1 and 2, the data input / output wiring of the module substrate is shared by the 4-bit semiconductor memory device and the 8-bit semiconductor memory device. Since it is possible, the trouble of designing a different module substrate for each bit configuration is reduced, and the design time can be shortened. In addition, it is possible to reduce the management cost of the printed wiring board and to respond quickly and flexibly to design changes.

【0020】尚、図1と図2には、それぞれ4ビット構
成と8ビット構成の半導体記憶装置の例を示したが、本
発明はこれに限らず、8ビット構成と16ビット構成、
16ビット構成と32ビット構成などのnビット構成
(n:自然数)と2nビット構成の半導体記憶装置にも
同様に適用できる。
FIGS. 1 and 2 show examples of a semiconductor memory device having a 4-bit configuration and an 8-bit configuration, respectively. However, the present invention is not limited to this.
The present invention can be similarly applied to a semiconductor memory device having an n-bit configuration (n: natural number) such as a 16-bit configuration and a 32-bit configuration and a 2n-bit configuration.

【0021】<実施の形態2>次に、本発明の実施の形
態2に係るメモリモジュールについて、図4を参照しつ
つ説明する。図4は、表裏両面にそれぞれ半導体記憶装
置を装着されるモジュール基板の配線例を示す概略図で
あり、同図(a)はモジュール基板20の主表面20
a、同図(b)はそのモジュール基板20の裏面20b
にそれぞれ形成された配線例を示す概略図である。
Second Embodiment Next, a memory module according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of wiring of a module substrate on which semiconductor memory devices are mounted on both front and rear surfaces, respectively.
a, (b) shows the back surface 20b of the module substrate 20;
FIG. 3 is a schematic view showing an example of wiring formed on each of the first and second embodiments.

【0022】図4(a)に示すようにモジュール基板2
0の主表面20aには、上記実施の形態1で示したよう
な4ビット構成または8ビット構成の半導体記憶装置2
1が装着され、その主表面20aに設けた電極端子2
2,22,…には、半導体記憶装置21の接続端子が各
々装着される。また、その主表面20aの下方側縁部に
は、コンピュータのマザーボードなどに用意した外部ソ
ケット(図示せず)と装着され電気的に接続されるコン
タクト部24A,24A,…が形成されている。コンタ
クト部24A,24A,…は、モジュール基板20に設
けた配線(図示せず)を通じて電極端子22,22,…
と導通している。
As shown in FIG. 4A, the module substrate 2
0 is provided on the main surface 20a of the semiconductor memory device 2 having the 4-bit configuration or the 8-bit configuration as described in the first embodiment.
1, electrode terminals 2 provided on the main surface 20a thereof.
The connection terminals of the semiconductor memory device 21 are respectively mounted on 2, 22,. On the lower edge of the main surface 20a, there are formed contact portions 24A, 24A,... Which are mounted and electrically connected to an external socket (not shown) prepared on a motherboard of a computer or the like. The contact portions 24A, 24A,... Are connected to the electrode terminals 22, 22,.
It is conducting.

【0023】他方、図4(b)に示すようにモジュール
基板20の裏面20bにも、図4(a)に示したものと
同じビット構成と接続端子配列とをもつ半導体記憶装置
26が装着され、その裏面20bに設けた電極端子2
7,27,…には、半導体記憶装置26の接続端子が各
々装着される。また、その裏面20bの下方側縁部に
は、主表面20aに形成されたコンタクト部24Aとは
別に、前述の外部ソケットと装着されるコンタクト部2
4B,24B,…が形成されている。コンタクト部24
B,24B,…は、モジュール基板20に設けた配線
(図示せず)を通じて電極端子27,27,…と導通し
ている。
On the other hand, as shown in FIG. 4B, a semiconductor memory device 26 having the same bit configuration and connection terminal arrangement as shown in FIG. 4A is also mounted on the back surface 20b of the module substrate 20. , The electrode terminal 2 provided on the back surface 20b
The connection terminals of the semiconductor storage device 26 are respectively mounted on 7, 27,. In addition, a contact portion 2 to be attached to the above-mentioned external socket is provided on a lower side edge of the back surface 20b separately from the contact portion 24A formed on the main surface 20a.
4B, 24B,... Are formed. Contact part 24
, B, 24B, ... are electrically connected to the electrode terminals 27, 27, ... through wiring (not shown) provided on the module substrate 20.

【0024】また前記モジュール基板20には、その表
裏を貫通した貫通孔に配線材料を埋設してなるスルーホ
ール23A〜23Hが形成されている。これらスルーホ
ール23A〜23Hを介して、主表面20aに形成した
電極端子22,…と裏面20bに形成した電極端子2
7,…とが後述する図5,6の配線構成に従って結線さ
れる。
The module substrate 20 has through holes 23A to 23H formed by burying a wiring material in through holes penetrating the front and back surfaces. Through these through holes 23A to 23H, the electrode terminals 22 formed on the main surface 20a and the electrode terminals 2 formed on the back surface 20b
,... Are connected according to the wiring configuration of FIGS.

【0025】このようなモジュール基板20の表裏両面
に装着される半導体記憶装置21,26が共に上記4ビ
ット構成の半導体記憶装置1(以下、4ビット構成品と
呼ぶ。)の場合、スルーホール23A〜23Hは、その
半導体記憶装置1の接続端子対のうちデータ入出力端子
(DQ0〜DQ3)とこれらDQ0〜DQ3端子と表裏
対称位置にある4つのNC端子とに結線している。図5
は、このような表裏両面の4ビット構成品1,1間の配
線構成を示す等価回路図である。図示するように、表裏
両面の4ビット構成品1,1間では、DQ0〜DQ3端
子と4つのNC端子とが一対一対応で接続されると同時
に、共通配線で結線される。
When the semiconductor memory devices 21 and 26 mounted on both the front and back surfaces of the module substrate 20 are the semiconductor memory device 1 having a 4-bit configuration (hereinafter, referred to as a 4-bit configuration product), the through-hole 23A is provided. 23H are connected to the data input / output terminals (DQ0 to DQ3) of the connection terminal pair of the semiconductor memory device 1 and the four NC terminals located symmetrically with the DQ0 to DQ3 terminals. FIG.
FIG. 2 is an equivalent circuit diagram showing a wiring configuration between such 4-bit components 1 and 1 on both sides. As shown, between the 4-bit components 1 and 1 on the front and back surfaces, the DQ0 to DQ3 terminals and the four NC terminals are connected in a one-to-one correspondence, and at the same time, connected by a common wiring.

【0026】また、前記モジュール基板20の表裏両面
に装着される半導体記憶装置21,26が共に上記8ビ
ット構成の半導体記憶装置10(以下、8ビット構成品
と呼ぶ。)の場合、スルーホール23A〜23Hは、そ
の8ビット構成品10の接続端子のうちデータ入出力端
子(DQ0〜DQ7)とそれぞれ結線している。図6
は、このような表裏両面の8ビット構成品10,10間
の配線構成を示す等価回路図である。図示するように、
表裏両面の8ビット構成品10,10間では、DQ1端
子とDQ6端子、DQ2端子とDQ5端子、DQ3端子
とDQ4端子とがそれぞれ接続されると同時に、共通配
線で結線される。
When the semiconductor memory devices 21 and 26 mounted on the front and back surfaces of the module substrate 20 are both the 8-bit semiconductor memory device 10 (hereinafter, referred to as an 8-bit component), the through holes 23A are provided. 23H are respectively connected to data input / output terminals (DQ0 to DQ7) among the connection terminals of the 8-bit component 10. FIG.
FIG. 2 is an equivalent circuit diagram showing a wiring configuration between the 8-bit components 10 on both sides. As shown
The DQ1 terminal and the DQ6 terminal, the DQ2 terminal and the DQ5 terminal, the DQ3 terminal and the DQ4 terminal are respectively connected between the 8-bit components 10 and 10 on the front and back surfaces, and are also connected by common wiring.

【0027】以上に示したように、上記モジュール基板
20の表裏両面には、4ビット構成品と8ビット構成品
との双方に対応した配線構成がなされている。
As described above, the wiring structure corresponding to both the 4-bit component and the 8-bit component is formed on both sides of the module substrate 20.

【0028】また、上記半導体記憶装置21,26が共
に上記8ビット構成品10,10の場合は、モジュール
基板20の表裏両面における半導体記憶装置のデータ入
出力端子(DQ0〜DQ7)が共通配線されるから、デ
ータ信号の衝突が起こるのを避けるために、主表面20
aと裏面20bとに搭載する8ビット構成品10,10
のうち何れか一方を選択して切り換えるための制御信号
用配線を個別に設ける必要がある。かかる場合、主表面
20aに搭載する8ビット構成品群で1バンクを、裏面
20bに搭載する8ビット構成品群で1バンクをそれぞ
れ構成するので、全体で2バンクが構成されることとな
る。このようなバンクの切り換えを制御する制御信号と
しては、8ビット構成品10が同期型DRAMの場合は
CS信号、8ビット構成品10が非同期型DRAMの場
合はRAS信号を用いればよい。
When the semiconductor memory devices 21 and 26 are both the 8-bit components 10, 10, the data input / output terminals (DQ0 to DQ7) of the semiconductor memory device on both the front and back surfaces of the module substrate 20 are commonly wired. In order to avoid data signal collisions, the main surface 20
8-bit components 10, 10 to be mounted on a and the back surface 20b
It is necessary to separately provide control signal wiring for selecting and switching any one of them. In such a case, one bank is constituted by the group of 8-bit components mounted on the main surface 20a, and one bank is constituted by the group of 8-bit components mounted on the rear surface 20b. Thus, two banks are constituted as a whole. As a control signal for controlling such bank switching, a CS signal may be used when the 8-bit component 10 is a synchronous DRAM, and a RAS signal may be used when the 8-bit component 10 is an asynchronous DRAM.

【0029】<実施の形態3>このようにモジュール基
板の表裏両面に8ビット構成品を搭載する場合、バンク
切換のための制御信号用配線を表裏面で個別に用意する
必要があるが、同じモジュール基板の表裏両面に4ビッ
ト構成品を搭載する場合はその必要が無い。図7は、本
発明の実施の形態3に係るメモリモジュールのモジュー
ル基板30の制御信号用配線の一例を示す模式図であ
る。図7において、符号30はモジュール基板、31A
〜31Dはモジュール基板30の主表面30aに搭載さ
れる半導体記憶装置、32A〜32Dは半導体記憶装置
の接続端子に接合される電極端子、38,39,40は
電極を示している。また符号33A〜33D,34A〜
34D,35,36は、モジュール基板30の表裏を貫
通する貫通孔に配線材料を埋設してなるスルーホールを
示している。
<Embodiment 3> When the 8-bit components are mounted on both the front and back surfaces of the module substrate as described above, it is necessary to separately prepare control signal wiring for bank switching on the front and back surfaces. This is not necessary when 4-bit components are mounted on both sides of the module substrate. FIG. 7 is a schematic diagram showing an example of the control signal wiring of the module substrate 30 of the memory module according to Embodiment 3 of the present invention. In FIG. 7, reference numeral 30 denotes a module substrate, 31A.
31D indicate semiconductor memory devices mounted on the main surface 30a of the module substrate 30, 32A to 32D indicate electrode terminals joined to connection terminals of the semiconductor memory device, and 38, 39 and 40 indicate electrodes. Reference numerals 33A to 33D, 34A to
Reference numerals 34D, 35, and 36 denote through holes formed by embedding a wiring material in through holes penetrating the front and back of the module substrate 30.

【0030】またモジュール基板30の裏面30bに
は、前記半導体記憶装置31A〜31Dと各々対応する
ように半導体記憶装置31Ad〜31Dd(図示せず)
がその裏面30bに形成した電極端子(図示せず)を介
して装着される。表裏両面に装着される半導体記憶装置
32A〜32D,32Ad〜32Ddのデータ入出力端
子に対応する電極端子は、図4に示したものと同様にス
ルーホール(図示せず)を介して結線されている。
On the back surface 30b of the module substrate 30, semiconductor storage devices 31Ad to 31Dd (not shown) correspond to the semiconductor storage devices 31A to 31D, respectively.
Are mounted via electrode terminals (not shown) formed on the back surface 30b. The electrode terminals corresponding to the data input / output terminals of the semiconductor memory devices 32A to 32D and 32Ad to 32Dd mounted on the front and back surfaces are connected via through holes (not shown) as shown in FIG. I have.

【0031】スルーホール33A〜33Dは、モジュー
ル基板30の主表面30aに実装される半導体記憶装置
31A〜31CのCS信号(またはRAS信号)に対応
する電極端子32A〜32Dとそれぞれ結線されてお
り、これらスルーホール33A〜33Dとスルーホール
35は共通配線で接続されている。他方、スルーホール
34A〜34Dは、モジュール基板30の裏面30bに
実装される半導体記憶装置31Ad〜31CdのCS信
号(またはRAS信号)に対応する電極端子とそれぞれ
結線されており、これらスルーホール34A〜34Dと
スルーホール36は共通配線で接続されている。
The through holes 33A to 33D are connected to electrode terminals 32A to 32D corresponding to CS signals (or RAS signals) of the semiconductor memory devices 31A to 31C mounted on the main surface 30a of the module substrate 30, respectively. These through holes 33A to 33D and through hole 35 are connected by common wiring. On the other hand, through holes 34A to 34D are connected to electrode terminals corresponding to CS signals (or RAS signals) of semiconductor memory devices 31Ad to 31Cd mounted on back surface 30b of module substrate 30, respectively. 34D and the through hole 36 are connected by common wiring.

【0032】このようなモジュール基板30の表裏両面
に搭載する半導体記憶装置31A〜31D,31Ad〜
31Ddとして上記4ビット構成品1を採用する場合、
電極38と電極39との間にショート用抵抗を装着する
ことにより、表裏両面のCS信号やRAS信号などの制
御信号線が共通配線となり、その制御信号線はコンタク
ト部37と導通される。
The semiconductor memory devices 31A to 31D, 31Ad to 31
When the above 4-bit component 1 is adopted as 31Dd,
By mounting a short-circuit resistor between the electrode 38 and the electrode 39, a control signal line such as a CS signal or a RAS signal on both front and rear surfaces becomes a common wiring, and the control signal line is electrically connected to the contact portion 37.

【0033】他方、上記モジュール基板30の表裏両面
に搭載する半導体記憶装置31A〜31D,31Ad〜
31Ddとして上記8ビット構成品10を採用する場合
は、電極38と電極39間をオープンにし、電極39と
電極40間にオープン用抵抗を搭載することにより、表
裏両面のCS信号やRAS信号などの制御信号線は個別
にコンタクト部37,37に結線される。これにより、
バンク切換が可能となるため、表裏両面の半導体記憶装
置のデータ入出力端子を共通配線で接続することによる
データ信号の衝突を防ぐことが可能となる。
On the other hand, semiconductor memory devices 31A to 31D, 31Ad to 31
When the 8-bit component 10 is adopted as the 31Dd, by opening the electrode 38 and the electrode 39 and mounting an open resistor between the electrode 39 and the electrode 40, the CS signal and the RAS signal on both the front and back surfaces are controlled. The control signal lines are individually connected to the contact portions 37, 37. This allows
Since the bank can be switched, it is possible to prevent a data signal collision caused by connecting the data input / output terminals of the semiconductor memory devices on both the front and back sides with a common wiring.

【0034】以上に示したように、上記オープン用抵抗
もしくはショート用抵抗をモジュール基板30に搭載す
ることで、モジュール基板30に搭載する半導体記憶装
置のビット構成に合わせて制御信号用配線を簡易に切り
換えることができる。
As described above, by mounting the above-described open resistor or short-circuit resistor on the module substrate 30, wiring for control signals can be simplified in accordance with the bit configuration of the semiconductor memory device mounted on the module substrate 30. Can be switched.

【0035】尚、本実施の形態3では、4ビット構成品
と8ビット構成品の双方に対応したモジュール基板30
について示したが、本発明はこれに限らず、8ビット構
成品と16ビット構成品、16ビット構成品と32ビッ
ト構成品などのnビット構成品と2nビット構成品にも
適用できる。
In the third embodiment, the module substrate 30 corresponding to both the 4-bit component and the 8-bit component
However, the present invention is not limited to this, and can be applied to n-bit components and 2n-bit components such as 8-bit components and 16-bit components, and 16-bit components and 32-bit components.

【0036】<実施の形態4>次に、JEDECなどに
よる標準規格では、例えば4ビット構成品を搭載する場
合と8ビット構成品を搭載する場合とでモジュール基板
上の回路抵抗の仕様が異なる。かかる場合、4ビット構
成品を搭載する場合と8ビット構成品を搭載する場合と
でモジュール基板の回路抵抗を変更する必要がある。図
8は、本発明の実施の形態4に係るモジュール基板の配
線構成の一例を示す概略図である。
<Embodiment 4> Next, in the standard by JEDEC or the like, the specification of the circuit resistance on the module substrate differs between the case where a 4-bit component is mounted and the case where an 8-bit component is mounted, for example. In such a case, it is necessary to change the circuit resistance of the module substrate between the case where the 4-bit component is mounted and the case where the 8-bit component is mounted. FIG. 8 is a schematic diagram illustrating an example of a wiring configuration of a module board according to Embodiment 4 of the present invention.

【0037】図8において、符号50はモジュール基
板、50aはモジュール基板50の主表面、50bはそ
の裏面、51はモジュール基板50に搭載する半導体記
憶装置、52は半導体記憶装置51の接続端子と接合さ
れる電極端子、53はモジュール基板50の表裏を貫通
する貫通孔に配線材料を埋設してなるスルーホール、5
4,55,56,57,58は電極、59はコンタクト
部を示している。またモジュール基板50の裏面50b
には、前記半導体記憶装置51と同じ型の半導体記憶装
置51d(図示せず)が装着される。
In FIG. 8, reference numeral 50 denotes a module substrate, 50a denotes a main surface of the module substrate 50, 50b denotes a back surface thereof, 51 denotes a semiconductor memory device mounted on the module substrate 50, and 52 denotes a connection with a connection terminal of the semiconductor memory device 51. The electrode terminal 53 is a through hole formed by embedding a wiring material in a through hole penetrating the front and back of the module substrate 50.
Reference numerals 4, 55, 56, 57, and 58 indicate electrodes, and 59 indicates a contact portion. Also, the back surface 50b of the module substrate 50
A semiconductor memory device 51d (not shown) of the same type as the semiconductor memory device 51 is mounted on the semiconductor device.

【0038】前記電極54,56は、半導体記憶装置5
1のデータ入出力端子に対応する電極端子52と結線
し、電極55と電極57間はスルーホール53を介して
結線している。このスルーホール53は裏面に搭載する
半導体記憶装置51dのデータ入出力端子に対応する電
極端子(図示せず)と結線している。このような配線は
モジュール基板50の裏面においても同様に形成され
る。
The electrodes 54 and 56 are connected to the semiconductor memory 5
An electrode terminal 52 corresponding to one data input / output terminal is connected, and an electrode 55 and an electrode 57 are connected via a through hole 53. The through holes 53 are connected to electrode terminals (not shown) corresponding to data input / output terminals of the semiconductor memory device 51d mounted on the back surface. Such wiring is similarly formed on the back surface of the module substrate 50.

【0039】前記モジュール基板50に搭載する半導体
記憶装置51として上記4ビット構成品1を採用する場
合、電極56と電極58間に切換用抵抗を搭載すること
により、前記電極端子52は電極56と電極58を介し
てコンタクト部59に導通される。他方、上記モジュー
ル基板50の表裏両面に搭載する半導体記憶装置51,
51dとして上記8ビット構成品10を採用する場合
は、電極54と電極55間に回路抵抗調整用のチップ抵
抗を搭載し且つ電極57と電極58間に切換用抵抗を搭
載することにより、前記電極端子52は電極54,5
5,57,58を介してコンタクト部59に導通され
る。ここで、前記電極56と電極58間もしくは電極5
7と電極58間に搭載する前記切換用抵抗や前記チップ
抵抗としては、ノイズ除去用のダンピング抵抗を使用し
てもよい。
When the 4-bit component 1 is used as the semiconductor memory device 51 mounted on the module substrate 50, a switching resistor is mounted between the electrode 56 and the electrode 58 so that the electrode terminal 52 is connected to the electrode 56. Conduction is made to the contact part 59 via the electrode 58. On the other hand, the semiconductor memory devices 51 mounted on the front and back surfaces of the module substrate 50,
When the 8-bit component 10 is adopted as the component 51d, a chip resistor for adjusting the circuit resistance is mounted between the electrode 54 and the electrode 55, and a switching resistor is mounted between the electrode 57 and the electrode 58. Terminal 52 is connected to electrodes 54 and 5
Conduction is made to the contact portion 59 through 5, 57, 58. Here, between the electrode 56 and the electrode 58 or the electrode 5
As the switching resistor or the chip resistor mounted between the electrode 7 and the electrode 58, a noise removing damping resistor may be used.

【0040】このように、本実施の形態に係るモジュー
ル基板50は、そのデータ入出力用の回路抵抗を半導体
記憶装置51のビット構成に対応して容易に変更するこ
とができ、4ビット構成品と8ビット構成品との双方に
対応することができる。尚、本実施の形態3では、4ビ
ット構成品と8ビット構成品の双方に対応したモジュー
ル基板30について示したが、本発明はこれに限らず、
8ビット構成品と16ビット構成品、16ビット構成品
と32ビット構成品などのnビット構成品と2nビット
構成品にも適用できる。
As described above, in the module substrate 50 according to the present embodiment, the circuit resistance for data input / output can be easily changed corresponding to the bit configuration of the semiconductor memory device 51. And 8-bit components. In the third embodiment, the module board 30 corresponding to both the 4-bit component and the 8-bit component has been described. However, the present invention is not limited to this.
The present invention is also applicable to n-bit components and 2n-bit components such as 8-bit components and 16-bit components, and 16-bit components and 32-bit components.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上の如く、本発明の請求項1に係るメ
モリモジュールによれば、モジュール基板は、第1の構
成の半導体記憶装置と第2の構成の半導体記憶装置との
双方で共用できるため、ビット構成が異なる2種類の半
導体記憶装置の各々についてモジュール基板を設計し管
理する必要が無く、メモリモジュールの設計時間を短縮
化し、その設計変更を柔軟且つ迅速に行うことができ
る。またメモリモジュールの量産時においてもモジュー
ル基板の製造、管理を簡易化することが可能となる。
As described above, according to the memory module of the first aspect of the present invention, the module substrate can be shared by both the semiconductor memory device having the first configuration and the semiconductor memory device having the second configuration. Therefore, there is no need to design and manage a module substrate for each of the two types of semiconductor memory devices having different bit configurations, so that the design time of the memory module can be shortened and the design change can be made flexibly and quickly. Also, during mass production of the memory module, it is possible to simplify the production and management of the module substrate.

【0042】請求項2によれば、4ビット構成と8ビッ
ト構成、8ビット構成と16ビット構成などの汎用され
ている半導体記憶装置を使用したメモリモジュールを作
製することができる。
According to the second aspect, a memory module using a general-purpose semiconductor memory device such as a 4-bit configuration and an 8-bit configuration, or an 8-bit configuration and a 16-bit configuration can be manufactured.

【0043】請求項3によれば、表裏両面に半導体記憶
装置を搭載できるから、大容量のメモリモジュールを実
現することができる。
According to the third aspect, since the semiconductor memory device can be mounted on both the front and back surfaces, a large-capacity memory module can be realized.

【0044】請求項4によれば、モジュール基板に2n
ビット構成の半導体記憶装置を搭載する場合に、表裏の
何れかの半導体記憶装置を選択できるため、表裏両面の
半導体記憶装置のデータ入出力端子を共通配線で接続す
ることによるデータ信号の衝突を回避することができ
る。
According to the fourth aspect, 2n is provided on the module substrate.
When a semiconductor memory device with a bit configuration is mounted, either one of the front and back semiconductor memory devices can be selected, thereby avoiding collision of data signals by connecting the data input / output terminals of the semiconductor memory devices on both front and back surfaces with a common wiring. can do.

【0045】請求項5によれば、モジュール基板におけ
る抵抗の搭載の有無により、例えばJEDECなどの規
格に準拠してモジュール基板の配線抵抗を合わせること
ができ、これによりモジュール基板は、第1の構成の半
導体記憶装置と第2の構成の半導体記憶装置との双方に
容易に対応することができる。
According to the fifth aspect, the wiring resistance of the module substrate can be adjusted in accordance with the standards such as JEDEC, depending on whether or not a resistor is mounted on the module substrate. And the semiconductor memory device having the second configuration can be easily supported.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態1に関する4ビット構成
の半導体記憶装置を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a 4-bit semiconductor memory device according to a first embodiment of the present invention;

【図2】 本発明の実施の形態1に関する8ビット構成
の半導体記憶装置を示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view illustrating an 8-bit semiconductor memory device according to the first embodiment of the present invention;

【図3】 本発明の実施の形態1に係るメモリモジュー
ルを示す概略平面図である。
FIG. 3 is a schematic plan view showing the memory module according to the first embodiment of the present invention.

【図4】 (a)は本発明の実施の形態2に係るメモリ
モジュールの表面を示す概略図、(b)は(a)に示す
メモリモジュールの裏面を示す概略図である。
4A is a schematic diagram illustrating a front surface of a memory module according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 4B is a schematic diagram illustrating a back surface of the memory module illustrated in FIG.

【図5】 図1に示す4ビット構成の半導体記憶装置を
表裏両面に実装したときの配線構成を示す等価回路図で
ある。
5 is an equivalent circuit diagram showing a wiring configuration when the 4-bit semiconductor memory device shown in FIG. 1 is mounted on both front and rear surfaces.

【図6】 図2に示す8ビット構成の半導体記憶装置を
表裏両面に実装したときの配線構成を示す等価回路図で
ある。
6 is an equivalent circuit diagram showing a wiring configuration when the 8-bit semiconductor memory device shown in FIG. 2 is mounted on both front and rear surfaces.

【図7】 本発明の実施の形態3に係るモジュール基板
の制御信号用の配線例を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a wiring example for a control signal of a module substrate according to a third embodiment of the present invention.

【図8】 本発明の実施の形態4に係るモジュール基板
のデータ入出力用の配線例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a wiring example for data input / output of a module board according to a fourth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,10 半導体記憶装置、2,11 接続端子(ピ
ン)、20 モジュール基板、21,26 半導体記憶
装置、22,27 接続端子(ピン)、23A〜23H
スルーホール、24 コンタクト部。
1,10 semiconductor storage device, 2,11 connection terminal (pin), 20 module substrate, 21,26 semiconductor storage device, 22,27 connection terminal (pin), 23A to 23H
Through hole, 24 contacts.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 27/10 495 H01L 25/14 Z ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01L 27/10 495 H01L 25/14 Z

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 内部に記憶素子を有してパッケージ化さ
れた対向する2辺を有する本体部と、この本体部の前記
対向する2辺から突出した複数の接続端子と、を備えた
半導体記憶装置と、 表面に前記半導体記憶装置を複数装着されるモジュール
基板と、を備えたメモリモジュールであって、 前記半導体記憶装置の複数の接続端子は、前記本体部の
対向する2辺に沿って対称位置に配列した複数の接続端
子対を含んでおり、 前記モジュール基板は、 前記複数の接続端子対の各々について前記接続端子対の
一方をデータ入出力端子となし且つ他方を無接続端子と
なした第1の構成の前記半導体記憶装置と、 前記複数の接続端子対の各々について前記接続端子対の
双方をデータ入出力端子となし且つ前記第1の構成の前
記半導体記憶装置と同一配置の前記複数の接続端子対を
有する第2の構成の前記半導体記憶装置と、の何れも同
一位置に装着し得る配線を有することを特徴とするメモ
リモジュール。
1. A semiconductor memory comprising: a main body having two opposing sides packaged with a storage element therein; and a plurality of connection terminals protruding from the two opposing sides of the main body. A memory module comprising: a device; and a module substrate on which a plurality of the semiconductor storage devices are mounted. A plurality of connection terminals of the semiconductor storage device are symmetrical along two opposing sides of the main body. A plurality of connection terminal pairs arranged at different positions, wherein the module substrate has one of the connection terminal pairs as a data input / output terminal and the other as a non-connection terminal for each of the plurality of connection terminal pairs. The semiconductor memory device of the first configuration, wherein both of the connection terminal pairs are data input / output terminals for each of the plurality of connection terminal pairs, and are the same as those of the semiconductor memory device of the first configuration. Memory module, characterized in that said semiconductor memory device of the second configuration having a plurality of connecting terminal pairs, both of having wiring which can be mounted in the same position.
【請求項2】 請求項1記載のメモリモジュールであっ
て、前記第1の構成がnビット構成であり且つ前記第2
の構成が2nビット構成であるメモリモジュール。
2. The memory module according to claim 1, wherein said first configuration is an n-bit configuration and said second configuration is an n-bit configuration.
Is a 2n-bit memory module.
【請求項3】 請求項1または2記載のメモリモジュー
ルであって、前記モジュール基板の裏面にも前記半導体
記憶装置を装着してなり、前記表面および裏面の一方の
面の前記半導体記憶装置のデータ入出力端子と、そのデ
ータ入出力端子の表裏対称位置にある、他方の面の半導
体記憶装置のデータ入出力端子または無接続端子とを、
前記モジュール基板を貫通するスルーホールを介して結
線してなるメモリモジュール。
3. The memory module according to claim 1, wherein said semiconductor memory device is also mounted on a back surface of said module substrate, and data of said semiconductor memory device on one of said front surface and back surface. An input / output terminal and a data input / output terminal or a non-connection terminal of the semiconductor memory device on the other surface, which are symmetrically positioned with respect to the data input / output terminal,
A memory module connected through a through hole penetrating the module substrate.
【請求項4】 請求項3記載のメモリモジュールであっ
て、前記モジュール基板は、表面に搭載した前記半導体
記憶装置と裏面に搭載した前記半導体記憶装置との各制
御信号用配線を、電気的に分離された別配線と電気的に
接続された共通配線との何れか一方に切り換える切り換
え用電極を備えてなるメモリモジュール。
4. The memory module according to claim 3, wherein the module substrate electrically connects each control signal wiring between the semiconductor memory device mounted on the front surface and the semiconductor memory device mounted on the back surface. A memory module comprising a switching electrode for switching to one of a separated separate wiring and a common wiring electrically connected.
【請求項5】 請求項1〜4の何れか一項に記載のメモ
リモジュールであって、前記モジュール基板は、前記第
1の構成と前記第2の構成とのデータ入出力用配線を個
別に有すると共に、何れか一方の前記データ入出力用配
線上に前記モジュール基板の回路抵抗を調整する抵抗搭
載用電極を有してなるメモリモジュール。
5. The memory module according to claim 1, wherein the module substrate individually connects data input / output wirings of the first configuration and the second configuration. A memory module comprising: a resistor mounting electrode for adjusting a circuit resistance of the module substrate on one of the data input / output lines.
JP2000203507A 2000-07-05 2000-07-05 Memory module Pending JP2002026228A (en)

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