JP2001344845A - Magneto-optical pickup device - Google Patents

Magneto-optical pickup device

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JP2001344845A
JP2001344845A JP2000168519A JP2000168519A JP2001344845A JP 2001344845 A JP2001344845 A JP 2001344845A JP 2000168519 A JP2000168519 A JP 2000168519A JP 2000168519 A JP2000168519 A JP 2000168519A JP 2001344845 A JP2001344845 A JP 2001344845A
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JP
Japan
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light
magneto
diffraction element
photodetector
pickup device
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JP2000168519A
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Japanese (ja)
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Tetsuo Saeki
哲夫 佐伯
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Sharp Corp
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Sharp Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magneto-optical pickup device which suppress the influence of a wave front aberration even when an inexpensive material is used for a beam splitter. SOLUTION: The magneto-optical pickup device is provided with a light source, a condensing means to condense light rays on a magneto-optical recording medium, the beam splitter in which the joint surface of a first member and a second member acts as a polarized light separating plane, a photodetector, and a first diffraction element which guides light separated into the ordinary light and the extraordinary light by the beam splitter to the photodetector. The first diffraction element has a hologram pattern to compensate the wave front aberration generated by refraction on the joint surface of the first member and the second member.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気ディスクを
再生する光磁気ピックアップ装置に関する。
The present invention relates to a magneto-optical pickup device for reproducing a magneto-optical disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】光磁気ディスクは、音声、映像、文書デ
ータ等を記録するメディアとして、広範に使用され、光
磁気ディスクを再生する各種の再生装置が開発されてい
る。光磁気ピックアップ装置は、上記光磁気ディスク再
生装置において光磁気ディスクから信号を取り出す先端
部分の主要構成要素である。光磁気ディスク再生装置全
体の小型化、軽量化に直接影響するため、その小型化、
高性能化が強く望まれてきた。
2. Description of the Related Art Magneto-optical disks are widely used as media for recording audio, video, document data, and the like, and various reproducing apparatuses for reproducing magneto-optical disks have been developed. The magneto-optical pickup device is a main component of a tip portion for extracting a signal from the magneto-optical disk in the magneto-optical disk reproducing device. Since this directly affects the size and weight of the entire magneto-optical disk reproducing device,
Higher performance has been strongly desired.

【0003】本発明者らは、これまで小型化、高集積化
を目指した光磁気ピックアップ装置の研究開発を進めて
おり、すでに特願平11−183204号公報におい
て、小型化、高集積化をはかった光ピックアップ装置を
提案している。図9および図10を用いて、この光磁気
ピックアップ装置の構成を説明する。この光磁気ピック
アップ装置は、ステム301と、ステム301上に設け
られた光源である半導体レーザ302と、ステム301
を覆うキャップ303と、キャップ303上に取付けら
れた光透過性基板304とを備えている。また、この光
磁気ピックアップ装置は、光透過性基板304の上に取
付けられた1/2波長板305と、1/2波長板305
の上に取付けられたビームスプリッタ306と、半導体
レーザ302から出射される光ビームを光磁気記録媒体
309上に集光するコリメートレンズ307および対物
レンズ308とを有する。さらに、この光磁気ピックア
ップ装置は、ステム301上に配置され、ビームスプリ
ッタ306で分岐された光磁気記録媒体309からの反
射光を検出する光検出器310を備えている。光透過性
基板304上には、第1の回折素子311および第2の
回折素子312が配置されている。
The present inventors have been conducting research and development of a magneto-optical pickup device aiming at miniaturization and high integration, and have already disclosed miniaturization and high integration in Japanese Patent Application No. 11-183204. We have proposed an optical pickup device. The configuration of this magneto-optical pickup device will be described with reference to FIGS. This magneto-optical pickup device includes a stem 301, a semiconductor laser 302 as a light source provided on the stem 301,
And a light transmissive substrate 304 mounted on the cap 303. The magneto-optical pickup device includes a half-wave plate 305 mounted on a light-transmitting substrate 304, and a half-wave plate 305.
A collimating lens 307 and an objective lens 308 for condensing a light beam emitted from the semiconductor laser 302 on a magneto-optical recording medium 309. Further, the magneto-optical pickup device includes a photodetector 310 disposed on the stem 301 and detecting reflected light from the magneto-optical recording medium 309 branched by the beam splitter 306. A first diffraction element 311 and a second diffraction element 312 are arranged on the light transmitting substrate 304.

【0004】半導体レーザ302から出射された光ビー
ムは、第2の回折素子312を通過して、透過光と、±
1次回折光の3本の光ビームに分離される。この後、1
/2波長板305を通過し、ビームスプリッタ306の
第1の面313と第2の面314とで反射され、コリメ
ートレンズ307および対物レンズ308を通過して、
光磁気記録媒体309上に集光される。光磁気記録媒体
309から反射された光ビームは、ビームスプリッタ3
06の第2の面314で、第1の部材の屈折率と、第2
の部材の常光屈折率と異常光屈折率との比によって定め
られる屈折角で、常光と異常光とに分離される。その
後、ビームスプリッタ306の下に配置されている第1
の回折素子311に至り、そこで、さらに透過光と回折
光とに分離され、光検出器310上に集光される。
[0004] The light beam emitted from the semiconductor laser 302 passes through the second diffraction element 312 to be transmitted light and ±
The light is separated into three light beams of the first-order diffracted light. After this, 1
The beam passes through the half-wave plate 305, is reflected by the first surface 313 and the second surface 314 of the beam splitter 306, passes through the collimator lens 307 and the objective lens 308,
The light is focused on the magneto-optical recording medium 309. The light beam reflected from the magneto-optical recording medium 309 is applied to the beam splitter 3
06 at the second surface 314, the refractive index of the first member and the second
The member is separated into ordinary light and extraordinary light at a refraction angle determined by the ratio of the ordinary light refractive index to the extraordinary light refractive index. Then, the first, located below the beam splitter 306,
, Where the light is further separated into transmitted light and diffracted light and condensed on the photodetector 310.

【0005】ビームスプリッタ306は、等方性ガラス
材料からなる第1の部材315と、複屈折材料からなる
第2の部材316から構成され、第1の部材315およ
び第2の部材316の境界面は、偏光分離面となってい
る。光磁気記録媒体309からの反射光が第2の面31
4で屈折する際に発生する波面収差が補償されるよう
に、ビームスプリッタの構成材料を次のように選択す
る。すなわち、第2の部材316を構成する複屈折材料
の常光屈折率と異常光屈折率との平均値と、第1の部材
315のガラス材料の屈折率とが略同じ値になるように
材料設定する。たとえば、第1の部材315のガラス材
料としてSCHOTT社の製品であるLF5(n=1.572
2)を用い、第2の部材316の複屈折材料として4ホ
ウ酸化リチウム(no=1.605、ne=1.549)
を用いる。
The beam splitter 306 is composed of a first member 315 made of an isotropic glass material and a second member 316 made of a birefringent material, and a boundary surface between the first member 315 and the second member 316. Is a polarization separation surface. The reflected light from the magneto-optical recording medium 309 is
The constituent materials of the beam splitter are selected as follows so that the wavefront aberration generated when the light is refracted at 4 is compensated. That is, the material setting is performed so that the average value of the ordinary light refractive index and the extraordinary light refractive index of the birefringent material constituting the second member 316 and the refractive index of the glass material of the first member 315 become substantially the same value. I do. For example, LF5 (n = 1.572), a product of SCHOTT, is used as the glass material of the first member 315.
With 2), 4 borated lithium as the birefringent material of the second member 316 (n o = 1.605, n e = 1.549)
Is used.

【0006】第1の回折素子311は、第1〜第3の領
域に分割されている。また、光検出器310は、図10
に示すような構造になっている。第1の回折素子311
を透過した光は、光検出部310e〜310hにそれぞ
れ集光される。第1の回折素子311の第1の領域で回
折された光は、光検出部310cと光検出部310dの
境界面上に、また、第2の領域で回折された光は、光検
出部310aに集光される。また、第3の領域で回折さ
れた光は、光検出部310bに集光される。
[0006] The first diffraction element 311 is divided into first to third regions. Further, the photodetector 310 is provided in FIG.
It has a structure as shown in FIG. First diffraction element 311
Are transmitted to the photodetectors 310e to 310h, respectively. The light diffracted in the first region of the first diffraction element 311 is on the boundary surface between the light detection unit 310c and the light detection unit 310d, and the light diffracted in the second region is in the light detection unit 310a. Is collected. Further, the light diffracted in the third region is collected on the light detection unit 310b.

【0007】これら各光検出部で検出された光の強度か
ら次の情報を得ることができる。まず、(a)光検出部
310c、310dから出力される信号の差を演算する
ことにより、ナイフエッジ法に基づくフォーカス誤差信
号を得ることができる。また、(b)光検出部310
g、310hから出力される信号の差を演算することに
より、3ビーム法に基づくラジアル誤差信号を得ること
ができる。さらに、(c)光検出部310a、310b
から出力される信号の差を演算することにより、いわゆ
るプッシュ・プル信号を得ることができる。このプッシ
ュ・プル信号は、光磁気記録媒体に蛇行して記録されて
いるアドレス信号を検出するのに用いられる。また、光
磁気信号は、光検出部310e、310fから出力され
る信号の差を演算することにより得られる。
The following information can be obtained from the intensity of the light detected by each of these light detection units. First, (a) a focus error signal based on the knife edge method can be obtained by calculating a difference between signals output from the light detection units 310c and 310d. Also, (b) the light detection unit 310
By calculating the difference between the signals output from g and 310h, a radial error signal based on the three-beam method can be obtained. Further, (c) the light detection units 310a and 310b
By calculating the difference between the signals output from, a so-called push-pull signal can be obtained. This push-pull signal is used to detect an address signal recorded meandering on the magneto-optical recording medium. The magneto-optical signal is obtained by calculating the difference between the signals output from the light detection units 310e and 310f.

【0008】上記光磁気ピックアップ装置によれば、半
導体レーザ302から出射された光ビームは、光磁気記
録媒体309に至る光路中において、偏光プリズムおよ
び第2の回折素子312以外に、余分な光分岐素子を通
過しない。このため、高い光利用効率を確保することが
できる。また、光磁気信号、フォーカス、およびラジア
ル誤差信号をすべて共通の1つの光検出器310で検出
するので、光検出器の面積を縮小することができる。こ
のため、光磁気ピックアップ装置の一層の小型化と低コ
スト化を実現することができる。
According to the above-described magneto-optical pickup device, the light beam emitted from the semiconductor laser 302 is split into an extra light beam in the optical path to the magneto-optical recording medium 309, in addition to the polarizing prism and the second diffraction element 312. Does not pass through the element. Therefore, high light use efficiency can be ensured. In addition, since the magneto-optical signal, the focus, and the radial error signal are all detected by one common photodetector 310, the area of the photodetector can be reduced. Therefore, it is possible to further reduce the size and cost of the magneto-optical pickup device.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
光磁気ピックアップ装置において、第2の部材の複屈折
材料に用いられている4ホウ酸化リチウムは高価であ
り、また、この4ホウ酸化リチウムは潮解性を有してい
るので、防湿膜などにより保護して使用する必要があ
る。このため、光磁気ピックアップ装置全体のコストが
高価になってしまう。また、たとえば、第2の部材に、
安価で安定な複屈折材料であるニオブ酸リチウムを用い
れば、安価なピックアップを構成することができる。し
かしながら、ニオブ酸リチウムの常光屈折率および異常
光屈折率は、それぞれno=2.258、ne=2.17
8と大きい。ガラス材料の屈折率は最大でも2程度であ
るため、従来技術のように、ニオブ酸リチウムの常光屈
折率と異常光屈折率との平均値と、第1の部材であるガ
ラスの屈折率とを略等しくなるように選定して、波面収
差を補償することができない。すなわち、複屈折材料中
の常光線および異常光線の両方ともに波面収差を補償す
ることができない。したがって、たとえばニオブ酸リチ
ウムと、安価なガラス材料であるSCHOTT社製のSF2
(n=1.635)とを組み合せた場合、次の問題を生
じる。光磁気記録媒体からの反射光が、第2の面で屈折
する際、ガラスの屈折率と、ニオブ酸リチウムの常光屈
折率と異常光屈折率との比で定められる屈折角が大きく
なり、上記反射光に波面収差が発生してしまう。上記第
2の面314において波面収差が発生すると、第1の回
折素子311を透過した光と回折した光とがともに同様
に波面収差を含むことになる。このため、図11に示す
ように、Y方向とZ方向との焦点の位置がずれ、光検出
器上での光ビームの集光スポットが図12のように変形
し、大きくなってしまう。このため、ビーム配置設計が
困難になったり、また、光磁気ピックアップユニット組
立時の組立誤差や、環境変化に起因するユニット構成部
品の膨張収縮により、集光スポットが光検出器からはみ
出してしまう場合があった。この結果、光検出器から偽
の信号が出力され、安定に信号を再生することができな
くなるという問題を生じていた。
However, in the above-mentioned magneto-optical pickup device, lithium tetraboride used as the birefringent material of the second member is expensive, and this lithium tetraboride is deliquescent. Therefore, it is necessary to use it after being protected by a moisture-proof film or the like. For this reason, the cost of the entire magneto-optical pickup device becomes high. Also, for example, in the second member,
If lithium niobate, which is an inexpensive and stable birefringent material, is used, an inexpensive pickup can be constructed. However, ordinary refractive index and an extraordinary refractive index of lithium niobate, respectively n o = 2.258, n e = 2.17
8 is big. Since the refractive index of the glass material is at most about 2, the average value of the ordinary light refractive index and the extraordinary light refractive index of lithium niobate and the refractive index of the glass as the first member are different from those of the related art. The wavefront aberration cannot be compensated for by selecting them to be substantially equal. That is, neither the ordinary ray nor the extraordinary ray in the birefringent material can compensate for the wavefront aberration. Therefore, for example, lithium niobate and SF2 manufactured by SCHOTT, which is an inexpensive glass material, are used.
(N = 1.635), the following problem occurs. When the reflected light from the magneto-optical recording medium is refracted on the second surface, the refraction angle determined by the refractive index of glass and the ratio of the ordinary light refractive index and the extraordinary light refractive index of lithium niobate increases, and Wavefront aberration occurs in the reflected light. When the wavefront aberration occurs on the second surface 314, both the light transmitted through the first diffraction element 311 and the diffracted light similarly include the wavefront aberration. For this reason, as shown in FIG. 11, the positions of the focal points in the Y direction and the Z direction are shifted, and the condensed spot of the light beam on the photodetector is deformed as shown in FIG. This makes it difficult to design the beam arrangement, or when the focused spot protrudes from the photodetector due to assembly errors when assembling the magneto-optical pickup unit or expansion and contraction of unit components due to environmental changes. was there. As a result, a false signal is output from the photodetector, and the signal cannot be reproduced stably.

【0010】そこで、本発明は、ビームスプリッタにつ
いて安価な材料選択を行っても、安定して信号を検出す
ることができる光磁気ピックアップ装置を提供すること
を目的とする。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a magneto-optical pickup device capable of stably detecting a signal even when an inexpensive material is selected for a beam splitter.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の光磁気ピックア
ップ装置は、光ビームを発生する光源と、光源から放射
された光ビームを光磁気記録媒体上に集光する集光手段
とを備えている。また、この光磁気ピックアップ装置
は、光源と集光手段との間に配置され、等方性材料から
なる第1の部材と異方性材料からなる第2の部材とによ
り構成され、第1の部材と第2の部材との接合面が偏光
分離面を形成するビームスプリッタを有している。ま
た、この光磁気ピックアップ装置は、光磁気記録媒体で
反射され、導かれてきた光を受光する光検出器と、ビー
ムスプリッタと光検出器との間に配置され、ビームスプ
リッタからの光を光検出器に導く第1の回折素子とを備
えている。この光磁気ピックアップ装置では、第1の回
折素子が、接合面での屈折により発生した波面収差を補
償するホログラムパターンを備えている(請求項1)。
A magneto-optical pickup device according to the present invention comprises a light source for generating a light beam, and a light condensing means for condensing the light beam emitted from the light source on a magneto-optical recording medium. I have. The magneto-optical pickup device is disposed between the light source and the light condensing means, and includes a first member made of an isotropic material and a second member made of an anisotropic material. The joining surface between the member and the second member has a beam splitter forming a polarization splitting surface. The magneto-optical pickup device is disposed between a photodetector for receiving the light reflected and guided by the magneto-optical recording medium, and a beam splitter and the photodetector. A first diffraction element for guiding to the detector. In this magneto-optical pickup device, the first diffractive element has a hologram pattern for compensating for a wavefront aberration generated by refraction at the joint surface.

【0012】第1の回折素子に、第1の部材と第2の部
材との接合面での屈折によって発生した波面収差を補償
するホログラムパターンを持たせることにより、安価な
ビームスプリッタの材料選択を行なっても、安定に信号
を検出することができる。すなわち、安定な信号検出を
行ったうえで、従来とくに高価であった第2の部材を安
価なものにすることができる。
By providing the first diffraction element with a hologram pattern for compensating the wavefront aberration generated by the refraction at the joining surface between the first member and the second member, it is possible to select an inexpensive beam splitter material. Even if it performs, a signal can be detected stably. That is, after performing stable signal detection, it is possible to reduce the cost of the second member, which has conventionally been particularly expensive.

【0013】上記本発明の光磁気ピックアップ装置で
は、ホログラムパターンは、第1の回折素子上の点Hで
あって、(LH−PH)’=nλの関係を満たす点Hの
軌跡からなっている(請求項2)。ただし、L:第1の
回折素子を透過して集光する点、LH:点Hと点Lとの
間の光路長、P:第1の回折素子によって回折されて光
検出器に集光した点、PH:点Pと点Hとの間の光路
長、λ:光ビームの波長、n:整数、(LH−P
H)’:光路長LHまたは光路長PHのいずれか一方
に、上記接合面における波面収差を折り込んだ状態での
両者の光路差。
In the magneto-optical pickup device according to the present invention, the hologram pattern is composed of a locus of the point H on the first diffraction element, which satisfies the relationship of (LH-PH) '= nλ. (Claim 2). Here, L: a point at which light passes through the first diffraction element and condenses, LH: an optical path length between points H and L, P: P is diffracted by the first diffraction element and condensed on the photodetector. Point, PH: optical path length between point P and point H, λ: wavelength of light beam, n: integer, (LH-P
H) ′: The optical path difference between the optical path length LH and the optical path length PH in a state where the wavefront aberration at the joint surface is folded into either the optical path length LH or the optical path length PH.

【0014】上記のホログラムパターンは計算機を用い
て算出することができ、そのホログラムパターンはフォ
トリソグラフィとRIE(Reactive Ion Etching)によ
り、能率よく透明基板に形成することができる。この結
果、第2の部材に高価な4ホウ酸化リチウムを用いた場
合に比べて、大きなコスト低減を得ることができる。
The above hologram pattern can be calculated using a computer, and the hologram pattern can be efficiently formed on a transparent substrate by photolithography and RIE (Reactive Ion Etching). As a result, a large cost reduction can be obtained as compared with the case where expensive lithium tetraboride is used for the second member.

【0015】上記本発明の光磁気ピックアップ装置は、
第1の回折素子で回折された回折光のみを利用して信号
を検出する信号検出手段を備えている(請求項3)。
The above-described magneto-optical pickup device of the present invention comprises:
Signal detection means for detecting a signal using only the diffracted light diffracted by the first diffraction element is provided (claim 3).

【0016】上記のように、回折光のみを用いて信号を
検出するため、第1の回折素子の設計パラメータを変え
ることにより、自由に集光スポットを配置することがで
き、光ピックアップ設計時の光検出器の配置を容易化す
ることができる。
As described above, since the signal is detected using only the diffracted light, the condensing spot can be freely arranged by changing the design parameters of the first diffractive element. The arrangement of the photodetectors can be facilitated.

【0017】上記本発明の光磁気ピックアップ装置で
は、第1の回折素子の断面が鋸歯形状になるように形成
されている(請求項4)。
In the magneto-optical pickup device according to the present invention, the cross section of the first diffraction element is formed so as to have a sawtooth shape.

【0018】第1の回折素子の断面を鋸歯形状にするこ
とにより、回折効率を上げ光検出器に導かれる光量を増
やすことにより、信号対ノイズ比を大きくとることがで
き、安定に信号を再生することができる。
The sawtooth cross section of the first diffraction element increases the diffraction efficiency and increases the amount of light guided to the photodetector, thereby increasing the signal-to-noise ratio and stably reproducing the signal. can do.

【0019】上記本発明の光磁気ピックアップ装置で
は、光源とビームスプリッタとの間の光路上に第2の回
折素子を備えていてもよい。第2の回折素子を配置する
ことにより、3ビーム法による安定なトラッキング信号
を出力することが可能となる。また、上記本発明の光磁
気ピックアップ装置では、ビームスプリッタを構成して
いる第2の部材がニオブ酸リチウムであってもよい。本
発明では、第1の部材と第2の部材の屈折率の差が小さ
くなるように、ビームスプリッタを構成するガラス材料
と複屈折材料とを組合せる必要がない。このため、たと
えば、ニオブ酸リチウムとSCHOTT社の製品であるSF2
のような安価な材料の組合せを選択することができる。
In the magneto-optical pickup device according to the present invention, the second diffraction element may be provided on the optical path between the light source and the beam splitter. By disposing the second diffraction element, it is possible to output a stable tracking signal by the three-beam method. In the magneto-optical pickup device according to the present invention, the second member forming the beam splitter may be lithium niobate. In the present invention, there is no need to combine a glass material and a birefringent material forming the beam splitter so that the difference in refractive index between the first member and the second member is reduced. Therefore, for example, lithium niobate and SF2, a product of SCHOTT, are used.
Inexpensive material combinations such as can be selected.

【0020】上記本発明の光磁気ピックアップ装置で
は、ビームスプリッタの両面に樹脂製の1/2波長板が
配置されている(請求項5)。
In the magneto-optical pickup device of the present invention, a resin half-wave plate is disposed on both sides of the beam splitter (claim 5).

【0021】上記1/2波長板の配置により、光源から
放射された光ビームの偏光方向を自由に設定することが
でき、かつ水晶のような結晶を用いた波長板を配置した
場合と比較して安価に光ピックアップを構成することが
できる。
With the arrangement of the half-wave plate, the direction of polarization of the light beam emitted from the light source can be freely set, and compared with the case where a wave plate using a crystal such as quartz is arranged. Thus, an optical pickup can be configured at low cost.

【0022】上記本発明の光磁気ピックアップ装置で
は、光源および光検出器は、透光性ウィンドウを有する
気密封止された同一のパッケージ内に配置されている
(請求項6)。
In the magneto-optical pickup device according to the present invention, the light source and the photodetector are arranged in the same hermetically sealed package having a light-transmitting window.

【0023】気密封止された同じパッケージ内に光源と
光検出器とを配置することにより、光源と光検出器との
相対位置が長期間安定に保たれ、耐久性のある光磁気ピ
ックアップ装置を構成することが可能となる。
By arranging the light source and the photodetector in the same hermetically sealed package, the relative position between the light source and the photodetector can be stably maintained for a long time, and a durable magneto-optical pickup device can be provided. It becomes possible to configure.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】図1を参照して本発明の実施の形
態における光磁気ピックアップ装置について説明する。
本実施の形態における光磁気ピックアップ装置は、ステ
ム15と、ステム15の上に配置された光ビームを発生
する光源1と、光源1から放射された光ビームを光磁気
記録媒体10上に集光するコリメートレンズ8および対
物レンズ9とを備える。また、この光磁気ピックアップ
装置は、光源1とコリメートレンズ8との間に配置され
た、等方性材料からなる第1の部材16と異方性材料か
らなる第2の部材17とにより構成され、第1の部材と
第2の部材とを貼り合せた面6において偏光分離面が形
成されているビームスプリッタ11を有している。この
光磁気ピックアップ装置は、さらに、ビームスプリッタ
11の入口側と出口側との両面に配置された1/2波長
板4,7と、光源1と同一のパッケージに構成されてい
る光検出器14とを有している。また、この光磁気ピッ
クアップ装置は、面6での屈折により発生した波面収差
を補償するホログラムパターンが形成された、3つの領
域に分割された第1の回折素子12を有している。この
第1の回折素子は、光磁気記録媒体10によって反射さ
れ、面6によって偏光分離された光を回折させ光検出器
14へ導く。この導く際に、上記の波面収差を補償する
のである。さらに、光検出器14は、第1の回折素子1
2で回折された回折光のみを利用して信号を検出する信
号検出手段とを含んでいる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A magneto-optical pickup device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
The magneto-optical pickup device according to the present embodiment includes a stem 15, a light source 1 arranged on the stem 15 for generating a light beam, and a light beam emitted from the light source 1 condensed on a magneto-optical recording medium 10. A collimating lens 8 and an objective lens 9 are provided. The magneto-optical pickup device includes a first member 16 made of an isotropic material and a second member 17 made of an anisotropic material disposed between the light source 1 and the collimating lens 8. , A beam splitter 11 having a polarization separation surface formed on a surface 6 where the first member and the second member are bonded. The magneto-optical pickup device further includes 波長 wavelength plates 4 and 7 disposed on both the entrance side and the exit side of the beam splitter 11, and a photodetector 14 configured in the same package as the light source 1. And The magneto-optical pickup device has a first diffraction element 12 divided into three regions on which a hologram pattern for compensating a wavefront aberration generated by refraction on the surface 6 is formed. The first diffraction element diffracts the light reflected by the magneto-optical recording medium 10 and polarized and separated by the surface 6 and guides the diffracted light to the photodetector 14. At the time of this guidance, the above-mentioned wavefront aberration is compensated. Further, the photodetector 14 includes the first diffraction element 1
And signal detection means for detecting a signal using only the diffracted light diffracted by 2.

【0025】光源1とビームスプリッタ11との間に配
置された第1の1/2波長板4は、樹脂製であり、光源
から放射されたp偏光の光ビームをs偏光に変換する。
また、ビームスプリッタ11とコリメートレンズ8との
間に配置された第2の1/2波長板7は、同じく樹脂製
であり、ビームスプリッタ内を通過してきたs偏光をp
偏光に変換する。ビームスプリッタ11は、光源1から
コリメートレンズ8に至る光路上に配置され、光磁気記
録媒体10から反射されてきた光を偏光分離する機能を
有する偏光分離面6を有する。また、ビームスプリッタ
11は、等方性光学材料からなる第1の部材16と、異
方性光学材料からなる第2の部材17から構成されてい
る。半導体レーザ1から放射された光ビームは、第1の
部材16中のみを通過してコリメートレンズ8に至り、
対物レンズ9により光磁気記録媒体10上に集光され
る。光磁気記録媒体10によって反射された反射光は、
第1の部材16を通過し、偏光分離面となっている上記
境界面6により一部が透過されて、第2の部材17に進
む。第2の部材17は異方性光学材料であるため、光磁
気記録媒体からの反射光は、常光成分18と異常光成分
19の2つの成分に分離され、それぞれ別の屈折角で第
2の部材内に屈折し、それぞれ異なる方向に進む。さら
に、上記の常光成分および異常光成分は、第2の部材1
7と1/2波長板4を通過した後、第1の回折素子12
で回折されて、光検出器14上に集光される。
The first half-wave plate 4 disposed between the light source 1 and the beam splitter 11 is made of resin, and converts a p-polarized light beam emitted from the light source into s-polarized light.
The second half-wave plate 7 disposed between the beam splitter 11 and the collimating lens 8 is also made of resin, and converts the s-polarized light passing through the beam splitter into p-polarized light.
Convert to polarized light. The beam splitter 11 is disposed on an optical path from the light source 1 to the collimator lens 8 and has a polarization splitting surface 6 having a function of splitting light reflected from the magneto-optical recording medium 10. Further, the beam splitter 11 includes a first member 16 made of an isotropic optical material and a second member 17 made of an anisotropic optical material. The light beam emitted from the semiconductor laser 1 passes only through the first member 16 and reaches the collimating lens 8,
The light is focused on the magneto-optical recording medium 10 by the objective lens 9. The reflected light reflected by the magneto-optical recording medium 10 is:
The light passes through the first member 16, and is partially transmitted by the boundary surface 6 serving as a polarization splitting surface, and proceeds to the second member 17. Since the second member 17 is an anisotropic optical material, the reflected light from the magneto-optical recording medium is separated into two components, an ordinary light component 18 and an extraordinary light component 19, and the second component 17 has a different refraction angle. The light is refracted into the member and travels in different directions. Further, the ordinary light component and the extraordinary light component are combined with the second member 1.
7 and the half-wave plate 4, the first diffraction element 12
And is condensed on the photodetector 14.

【0026】第1の回折素子12が配置された光透過性
基板3上の、光源1からビームスプリッタ11に至る光
路上には、第2の回折素子2が配置されている。光源1
を発した光ビームは、この第2の回折素子2によって、
トラッキング用ビーム2本と信号記録再生用ビーム1本
の合計3本のビームに分けられる。したがって、光磁気
記録媒体10から反射された光は、第1の回折素子12
に到達するまでに、第2の回折素子2で生成された3本
のビームのそれぞれについて、常光成分と異常光成分と
が生じ、合計6本の光ビームに分離されることになる。
The second diffractive element 2 is disposed on an optical path from the light source 1 to the beam splitter 11 on the light transmitting substrate 3 on which the first diffractive element 12 is disposed. Light source 1
Is emitted by the second diffraction element 2
It is divided into a total of three beams, two tracking beams and one signal recording / reproducing beam. Therefore, the light reflected from the magneto-optical recording medium 10 is transmitted to the first diffraction element 12
By the time, the ordinary light component and the extraordinary light component are generated for each of the three beams generated by the second diffraction element 2, and the three beams are separated into a total of six light beams.

【0027】第1の回折素子12は、図2に示すように
3つの領域12a,12b,12cに分割されている。
この回折素子12は、面6の屈折により発生した波面収
差を補償するホログラムパターンを有している。この第
1の回折素子12により、波面収差が補償されるのは、
第1の回折素子12により回折された光のみであり、第
1の回折素子12を透過した光においては、波面収差は
補償されない。よって、第1の回折素子12を透過した
光は、光検出器14上で大きな集光スポットとなってし
まう。このため、各信号検出には、第1の回折素子12
により回折された光のみを用いる。このため、図3に
は、第1の回折素子を透過した光を受光する受光部、す
なわち図10における310e〜310hの受光部は形
成されていない。しかし、図3においても、図10の3
10e〜310hの受光部に相当する仮想的な受光部を
考えることができる。仮想点光源Lはそのような仮想的
な受光部に集光する点である。
The first diffraction element 12 is divided into three regions 12a, 12b and 12c as shown in FIG.
The diffraction element 12 has a hologram pattern for compensating for a wavefront aberration generated by refraction of the surface 6. The wavefront aberration is compensated by the first diffraction element 12 because:
The wavefront aberration is not compensated for only the light diffracted by the first diffraction element 12 and the light transmitted through the first diffraction element 12. Therefore, the light transmitted through the first diffraction element 12 becomes a large condensed spot on the photodetector 14. For this reason, the first diffraction element 12
Only the light diffracted by is used. For this reason, in FIG. 3, the light receiving portion for receiving the light transmitted through the first diffraction element, that is, the light receiving portions 310e to 310h in FIG. 10 are not formed. However, FIG.
Virtual light receiving units corresponding to the light receiving units 10e to 310h can be considered. The virtual point light source L is a point that converges on such a virtual light receiving unit.

【0028】図3に示す光検出器14は、14a〜14
iに区分けされた受光部を有する。これらの受光部は、
回折した光を受光する、図10の310a〜310dに
相当する受光部である。第1の回折素子12の第1の領
域12aに入射した光の信号記録再生用ビームのうち、
常光成分は14fと14gとの境界線上に、また異常光
成分は14e上に導かれる。また、第1の回折素子12
の第1の領域12aに入射した光のトラッキング用のビ
ームは、14h,14iに導かれる。第1の回折素子1
2の第2の領域12bに入射した光の信号記録再生用ビ
ームのうち、常光成分は14dに、また、異常光成分は
14cに導かれる。また、第1の回折素子12の第2の
領域12bに入射したトラッキング用ビームは、14
h,14iに導かれる。
The photodetector 14 shown in FIG.
It has a light receiving section divided into i. These light receiving parts
It is a light receiving unit that receives the diffracted light and corresponds to 310a to 310d in FIG. Of the signal recording / reproducing beams of light incident on the first area 12a of the first diffraction element 12,
The ordinary light component is guided on the boundary between 14f and 14g, and the extraordinary light component is guided on 14e. Further, the first diffraction element 12
The tracking beam of light that has entered the first region 12a is guided to 14h and 14i. First diffraction element 1
In the signal recording / reproducing beam of light incident on the second second region 12b, the ordinary light component is guided to 14d, and the extraordinary light component is guided to 14c. The tracking beam that has entered the second region 12b of the first diffraction element 12
h, 14i.

【0029】第1の回折素子12の第3の領域12cに
入射した光の信号記録再生用ビームのうち、常光成分は
14bに、また、異常光成分は14aにそれぞれ導かれ
る。また、第1の回折素子12の第3の領域12cに入
射したトラッキング用ビームは、14hおよび14iに
導かれる。したがって、光検出器14上では合計18個
の集光スポットが形成されることになる。図3に示す光
検出部14a〜14iの出力信号を、それぞれIa〜I
iとするとき次の演算により各信号が得られる。(A)
(If−Ig)を演算することにより、ナイフエッジ法
に基づくフォーカス誤差信号を得ることができる。ま
た、(B)(Ih−Ii)を演算することにより3ビー
ム法に基づくラジアル誤差信号を得ることができる。
(C)(Ia+Ib)−(Ic+Id)を演算すること
によりアドレス信号を得ることができる。さらに、
(D)(Ia+Ic+Ie)−(Ib+Id+If+I
g)を演算することにより光磁気信号を得ることができ
る。
In the signal recording / reproducing beam of light incident on the third region 12c of the first diffraction element 12, the ordinary light component is guided to 14b, and the extraordinary light component is guided to 14a. The tracking beam that has entered the third region 12c of the first diffraction element 12 is guided to 14h and 14i. Therefore, a total of 18 condensed spots are formed on the photodetector 14. The output signals of the photodetectors 14a to 14i shown in FIG.
When i is set, each signal is obtained by the following calculation. (A)
By calculating (If-Ig), a focus error signal based on the knife edge method can be obtained. (B) By calculating (Ih-Ii), a radial error signal based on the three-beam method can be obtained.
(C) An address signal can be obtained by calculating (Ia + Ib)-(Ic + Id). further,
(D) (Ia + Ic + Ie)-(Ib + Id + If + I
By calculating g), a magneto-optical signal can be obtained.

【0030】次に、一般的によく知られている計算機ホ
ログラムを用いた第1の回折素子12の設計方法につい
て、図4および図7を用いて説明する。第1の回折素子
12のホログラムパターンは、仮想的な点光源の位置L
と、光検出器上の集光点Pの2つの点からの発散光の光
透過性基板面3上で干渉縞となる。仮想的な点光源の位
置とは、上記したように、第1の回折素子を透過した光
が集光される点であり、図10の領域310e〜310
hに相当し、図3には設けられていない仮想的な点であ
る。仮想的な点ではあるが、図10に領域310e〜3
10hとして示すように現実に存在する点であり、単
に、図3の光検出器にそれを受光する受光部を設けてい
ないというだけのことである。光検出器上の集光点Pは
第1の回折素子によって回折された光が集光する点であ
り、図3の各領域でその回折光を受光する。波面収差を
補償する必要がない場合、2つの点LおよびPからの光
路長差が波長の整数倍となる第1の回折素子12上の点
Hの集合が第1の回折素子のホログラムパターンとな
る。すなわち、LH−PH=nλで表わされる関係を満
足する、Hを結んだ曲線が第1の回折素子12のパター
ンとなる。ここに、nは整数、λは波長を表わす。
Next, a method of designing the first diffraction element 12 using a generally well-known computer generated hologram will be described with reference to FIGS. The hologram pattern of the first diffraction element 12 has a position L of a virtual point light source.
Then, interference fringes on the light-transmitting substrate surface 3 of the divergent light from the two converging points P on the photodetector. As described above, the position of the virtual point light source is a point at which the light transmitted through the first diffraction element is collected, and the regions 310e to 310 in FIG.
h, and is a virtual point not provided in FIG. Although it is a virtual point, FIG.
This is a point that actually exists as shown by 10h, and simply means that the photodetector in FIG. 3 is not provided with a light receiving unit that receives the light. The condensing point P on the photodetector is a point where the light diffracted by the first diffraction element is condensed, and each region in FIG. 3 receives the diffracted light. When it is not necessary to compensate for the wavefront aberration, a set of points H on the first diffraction element 12 where the optical path length difference from the two points L and P is an integral multiple of the wavelength is equal to the hologram pattern of the first diffraction element. Become. That is, a curve connecting H that satisfies the relationship represented by LH-PH = nλ becomes the pattern of the first diffraction element 12. Here, n represents an integer and λ represents a wavelength.

【0031】第1の部材16と第2の部材17との屈折
率比によって決定される面6での屈折により発生した波
面収差を補償する第1の回折素子12を作製するために
は、次のようにして、ホログラムパターンを形成する。
第1の回折素子を透過した光が仮想上の光検出器上に集
光する点を仮想的な光源Lとし、この光源から放射され
る発散光に、波面収差を含む光ビームの逆の波面情報を
重畳して、上記の計算を行なえばよい。すなわち、光路
長LHに波面収差を折り込んだ長さを(LH)’とし
て、(LH)’−PH=nλとなる、Hの軌跡を形成し
てホログラムパターンを作成する。または、図8のフロ
ーチャートに示すように、集光点PからHにいたる光路
長のほうに上記波面収差の情報を重畳させた光路長(P
H)’として、LH−(PH)’=nλを満たすHの軌
跡を求めてもよい。上記したように、(LH−PH)’
=nλにより、両方のいずれか一方を行うことを表わ
す。
To manufacture the first diffractive element 12 for compensating the wavefront aberration generated by the refraction on the surface 6 determined by the refractive index ratio between the first member 16 and the second member 17, the following steps are required. A hologram pattern is formed in the following manner.
The point at which the light transmitted through the first diffraction element converges on the virtual photodetector is defined as a virtual light source L, and the divergent light emitted from this light source has the opposite wavefront of the light beam including the wavefront aberration. The above calculation may be performed by superimposing information. That is, assuming that the length obtained by folding the wavefront aberration into the optical path length LH is (LH) ′, a trajectory of H is formed to satisfy (LH) ′ − PH = nλ to create a hologram pattern. Alternatively, as shown in the flowchart of FIG. 8, an optical path length (P) in which the information on the wavefront aberration is superimposed on the optical path length from the focal point P to H.
As H) ′, a locus of H satisfying LH− (PH) ′ = nλ may be obtained. As described above, (LH-PH) '
= Nλ indicates that either of the two is performed.

【0032】上記のホログラムパターンにおいて、第1
の回折素子12の断面が矩形の場合、回折効率は約40
%程度しか得ることができない。しかし、断面形状を図
5に示すような鋸歯形状にすることにより、100%の
回折効率が得られ、信号品質が向上する。
In the above hologram pattern, the first
When the cross section of the diffraction element 12 is rectangular, the diffraction efficiency is about 40
% Can only be obtained. However, by making the cross-sectional shape a saw-tooth shape as shown in FIG. 5, a diffraction efficiency of 100% is obtained, and the signal quality is improved.

【0033】また、光源1から光磁気記録媒体10に至
る光路の光結合効率を向上させるため、第2の回折素子
2を省略してもよい。この場合、トラッキング誤差信号
検出は、3ビーム法ではなく、プッシュ・プル法を用い
ることになる。光磁気記録媒体に照射される信号記録再
生用ビームのみになるので、光検出器14上の集光スポ
ットは合計6個となり、光検出器14上の受光部は、図
6に示すような形状のものとなる。第1の回折素子12
の第1の領域12aに入射した光のうち、常光成分は光
検出部140a,140bの分割線上に、また、異常光
成分は光検出部140eに導かれる。第2の領域12b
に入射した光のうち、常光成分は光検出部140cに、
また、異常光成分は光検出部140fに導かれる。第3
の領域12cに入射した光のうち、常光成分は光検出部
140dに、また、異常光成分は140gに、それぞれ
導かれる。光検出部140aから140gの出力信号
を、それぞれIa〜Igとすると、(Ia−Ib)を演
算することにより、ナイフエッジ法に基づくフォーカス
誤差信号を得ることができる。また、(Ic+If)−
(Id+Ig)を演算することによりプッシュ・プル法
に基づくラジアル誤差信号およびアドレス信号を得るこ
とができる。また、(Ia+Ig+Ic+Id)−(I
e+If+Ig)を演算することにより光磁気信号を検
出することができる。
The second diffraction element 2 may be omitted in order to improve the optical coupling efficiency of the optical path from the light source 1 to the magneto-optical recording medium 10. In this case, the tracking error signal detection uses the push-pull method instead of the three-beam method. Since only the signal recording / reproducing beam applied to the magneto-optical recording medium is used, the number of condensed spots on the photodetector 14 is six in total, and the light receiving portion on the photodetector 14 has a shape as shown in FIG. It will be. First diffraction element 12
Of the light incident on the first region 12a, the ordinary light component is guided to the division line between the light detection units 140a and 140b, and the extraordinary light component is guided to the light detection unit 140e. Second area 12b
Out of the light incident on the photodetector 140c,
The extraordinary light component is guided to the light detection unit 140f. Third
Of the light incident on the region 12c, the ordinary light component is guided to the light detection unit 140d, and the extraordinary light component is guided to 140g. Assuming that the output signals of the light detectors 140a to 140g are Ia to Ig, respectively, by calculating (Ia-Ib), a focus error signal based on the knife edge method can be obtained. Also, (Ic + If) −
By calculating (Id + Ig), a radial error signal and an address signal based on the push-pull method can be obtained. Also, (Ia + Ig + Ic + Id)-(I
By calculating (e + If + Ig), a magneto-optical signal can be detected.

【0034】[0034]

【実施例】ビームスプリッタを構成する材料の具体例を
挙げて説明する。ビームスプリッタ11の第1の部材1
6および第2の部材17は、たとえば、それぞれSCHOTT
社の製品であるSF2(n=1.635)、およびニオ
ブ酸リチウム(no=2.258、ne=2.178)か
らなっている。この場合第1の部材16の屈折率と、第
2の部材17の常光屈折率および異常光屈折率の平均屈
折率とが、大きく異なるため、面6では、常光および異
常光は+y軸方向へ大きく屈折され、非点収差およびコ
マ収差が発生する。しかし、面6と光検出器14との間
に配置された第1の回折素子12は、面6での屈折によ
り発生する波面収差を相殺しまたは低減するように、ホ
ログラムパターンが形成されている。このため、光検出
器14上では、図3に示すように、点状の集光スポット
が得られる。このように、第1の回折素子12に、波面
収差の補償構造を付与することにより、光検出器14上
のビーム形状を、図3に示すように、小さな点状にする
ことができる。この結果、光検出器14上でのビーム配
置および設計が容易になる上、ピックアップユニット組
立時の誤差や、環境変化に対するユニット構成部品の膨
張収縮により、集光スポットが光検出器14からはみ出
すことはなくなる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A description will be given of specific examples of materials constituting a beam splitter. First member 1 of beam splitter 11
6 and the second member 17 are, for example, SCHOTT
A company's products SF2 (n = 1.635), and lithium niobate (n o = 2.258, n e = 2.178) is made from. In this case, the refractive index of the first member 16 and the average refractive index of the ordinary light refractive index and the extraordinary light refractive index of the second member 17 are significantly different. It is greatly refracted, and astigmatism and coma occur. However, the first diffraction element 12 disposed between the surface 6 and the photodetector 14 has a hologram pattern formed so as to cancel or reduce the wavefront aberration generated by refraction on the surface 6. . For this reason, on the photodetector 14, a point-like condensed spot is obtained as shown in FIG. As described above, by providing the first diffraction element 12 with a wavefront aberration compensating structure, the beam shape on the photodetector 14 can be made into a small point as shown in FIG. As a result, the beam arrangement and design on the photodetector 14 are facilitated, and the condensed spot protrudes from the photodetector 14 due to errors in assembling the pickup unit and expansion and contraction of unit components due to environmental changes. Is gone.

【0035】これに対して、比較例として、第1の回折
素子12が、面6で発生した波面収差を補償する構造を
持たない場合について考える。ビームスプリッタ11の
第1の部材16および第2の部材17は、たとえば、そ
れぞれ、SCHOTT社の製品であるSF2(n=1.63
5)、およびニオブ酸リチウム(no=2.258、ne
=2.178)からなっている。この場合、第1の部材
16の屈折率と第2の部材17の常光および異常光の平
均屈折率が大きく異なるため、面6では、常光および異
常光は+y軸方向へ大きく屈折され、非点収差およびコ
マ収差が発生する。このため、光検出器14上では、図
12に示すように、光検出器14の幅に対して広がった
大きな集光スポットとなる。この結果、光検出器14上
でのビーム配置、設計が困難になる上、ピックアップユ
ニット組立時の誤差や、環境変化に対するユニット構成
部品の膨張収縮により、集光スポットが光検出器14か
らはみ出す可能性がある。
On the other hand, as a comparative example, consider a case where the first diffraction element 12 does not have a structure for compensating the wavefront aberration generated on the surface 6. The first member 16 and the second member 17 of the beam splitter 11 are, for example, SF2 (n = 1.63), which is a product of SCHOTT, respectively.
5), and lithium niobate (n o = 2.258, n e
= 2.178). In this case, since the refractive index of the first member 16 and the average refractive index of the ordinary light and the extraordinary light of the second member 17 are significantly different, the ordinary light and the extraordinary light are largely refracted on the surface 6 in the + y-axis direction. Aberration and coma occur. For this reason, as shown in FIG. 12, on the photodetector 14, a large condensed spot becomes wider than the width of the photodetector 14. As a result, it becomes difficult to arrange and design the beam on the photodetector 14, and a condensed spot can protrude from the photodetector 14 due to errors in assembling the pickup unit and expansion and contraction of unit components due to environmental changes. There is.

【0036】上記において本発明の実施の形態について
説明を行なったが、上記に開示された本発明の実施の形
態は、あくまで例示であって、本発明の範囲はこれら発
明の実施の形態に限定されるものではない。本発明の範
囲は、特許請求の範囲の記載によって示され、さらに特
許請求の範囲の記載と均等の意味および範囲内でのすべ
ての変更を含む。
Although the embodiments of the present invention have been described above, the embodiments of the present invention disclosed above are merely examples, and the scope of the present invention is limited to these embodiments. It is not something to be done. The scope of the present invention is shown by the description of the claims, and further includes all modifications within the meaning and scope equivalent to the description of the claims.

【0037】[0037]

【発明の効果】上記のように第1の部材と第2の部材の
接合面での屈折により発生した波面収差を第1の回折素
子で補償することにより、光検出器上の集光スポットが
補償しない場合に比べて小さくなる。よって、ユニット
の組立誤差や経時変化などに対して、集光スポットが光
検出器からはみ出す可能性が小さくなり、部品点数を増
やすことなく、安定に信号を検出することが可能な光磁
気ピックアップ装置を提供することができる。
As described above, by compensating the wavefront aberration generated by the refraction at the joint surface between the first member and the second member by the first diffraction element, the condensed spot on the photodetector can be formed. It is smaller than the case without compensation. Therefore, the possibility of the condensed spot protruding from the photodetector due to unit assembly errors or aging changes is reduced, and a magneto-optical pickup device capable of stably detecting a signal without increasing the number of parts. Can be provided.

【0038】また、回折光のみを用いて信号を検出する
ため、第1の回折素子の設計パラメータを変えることに
より、自由に集光スポットを配置することができ、光ピ
ックアップ設計時の光検出器の配置を容易化することが
できる。
Further, since the signal is detected using only the diffracted light, the converging spot can be freely arranged by changing the design parameters of the first diffraction element, and the photodetector at the time of designing the optical pickup can be obtained. Can be easily arranged.

【0039】また、第1の回折素子の断面を鋸歯形状に
することにより、回折効率を上げ光検出器に導かれる光
量を増やすことにより、信号対ノイズ比を大きくとるこ
とができる。
Further, by making the cross section of the first diffraction element into a saw-tooth shape, the diffraction efficiency can be increased and the signal-to-noise ratio can be increased by increasing the amount of light guided to the photodetector.

【0040】また、光源とビームスプリッタとの間に、
第2の回折素子を配置することにより、3ビーム法によ
る安定なトラッキング信号を出力することが可能とな
る。
Further, between the light source and the beam splitter,
By disposing the second diffraction element, it is possible to output a stable tracking signal by the three-beam method.

【0041】また、屈折率の差が小さくなるように、ビ
ームスプリッタを構成するガラス材料と複屈折材料とを
組合せる必要がないため、たとえば、ニオブ酸リチウム
とSCHOTT社の製品であるSF2のような安価な材料の組
合せを選択することができる。
Further, since it is not necessary to combine the glass material and the birefringent material constituting the beam splitter so that the difference in the refractive index becomes small, for example, lithium niobate and SF2 which is a product of SCHOTT are used. An inexpensive combination of materials can be selected.

【0042】また、樹脂製の1/2波長板を使用するこ
とにより、光源から放射された光ビームの偏光方向を自
由に設定することができ、かつ水晶のような結晶を用い
た波長板を配置した場合と比較して安価な光ピックアッ
プを提供することができる。
Also, by using a half-wave plate made of resin, the polarization direction of the light beam emitted from the light source can be freely set, and a wave plate using a crystal such as quartz can be used. An inexpensive optical pickup can be provided as compared with the case where the optical pickup is arranged.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態における光磁気ピックア
ップ装置の構成を示す側面図である。
FIG. 1 is a side view showing a configuration of a magneto-optical pickup device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の実施の形態における光磁気ピックア
ップ装置の第1の回折素子の外観図である。
FIG. 2 is an external view of a first diffraction element of the magneto-optical pickup device according to the embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の実施の形態における光磁気ピックア
ップ装置の光検出器の一例を示した図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a photodetector of the magneto-optical pickup device according to the embodiment of the present invention.

【図4】 本発明の実施の形態における光磁気ピックア
ップ装置の第1の回折素子の計算機ホログラムによる作
製方法を示した模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing a method for manufacturing a first diffraction element of the magneto-optical pickup device according to the embodiment of the present invention using a computer generated hologram;

【図5】 本発明の実施の形態における光磁気ピックア
ップ装置の第1の回折素子の断面図である。
FIG. 5 is a sectional view of a first diffraction element of the magneto-optical pickup device according to the embodiment of the present invention.

【図6】 本発明の実施の形態における光磁気ピックア
ップ装置の光検出器の一例を示した図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a photodetector of the magneto-optical pickup device according to the embodiment of the present invention.

【図7】 収差補償機能を有しない計算機ホログラムの
設計流れ図である。
FIG. 7 is a design flowchart of a computer generated hologram having no aberration compensation function.

【図8】 収差補償機能を有する計算機ホログラムの設
計流れ図である。
FIG. 8 is a design flowchart of a computer generated hologram having an aberration compensation function.

【図9】 従来の光磁気ピックアップ装置の側面図であ
る。
FIG. 9 is a side view of a conventional magneto-optical pickup device.

【図10】 従来の光磁気ピックアップ装置の光検出器
の上面図である。
FIG. 10 is a top view of a photodetector of a conventional magneto-optical pickup device.

【図11】 従来の光磁気ピックアップ装置の集光状態
を示した図である。
FIG. 11 is a diagram showing a condensing state of a conventional magneto-optical pickup device.

【図12】 従来の光磁気ピックアップ装置の光検出器
上での集光スポットを示した図である。
FIG. 12 is a diagram showing a condensed spot on a photodetector of a conventional magneto-optical pickup device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源、2 第2の回折素子、3 光透過性基板、4
1/2 波長板、5半導体斜面、6 第1の部材と第
2の部材との接合面、7 1/2 波長板、8 コリメ
ートレンズ、9 対物レンズ、10 光磁気記録媒体、
11 ビームスプリッタ、12 第1の回折素子、13
キャップ、14 光検出器、15ステム、16 第1
の部材、17 第2の部材、18 反射光の常光成分、
19反射光の異常光成分。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light source, 2nd diffraction element, 3 light-transmitting substrate, 4
1/2 wavelength plate, 5 semiconductor slope, 6 joining surface between first member and second member, 7 1/2 wavelength plate, 8 collimating lens, 9 objective lens, 10 magneto-optical recording medium,
Reference Signs List 11 beam splitter, 12 first diffraction element, 13
Cap, 14 Photodetector, 15 Stem, 16 First
A member of 17, a second member, 18 an ordinary light component of reflected light,
19 Extraordinary light component of reflected light.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光ビームを発生する光源と、 前記光源から放射された光ビームを光磁気記録媒体上に
集光する集光手段と、 前記光源と前記集光手段との間に配置され、等方性材料
からなる第1の部材と異方性材料からなる第2の部材と
により構成され、前記第1の部材と前記第2の部材との
接合面が偏光分離面を形成するビームスプリッタと、 前記光磁気記録媒体で反射し、導かれてきた光を受光す
る光検出器と、 前記ビームスプリッタと光検出器との間に配置され、前
記ビームスプリッタからの光を前記光検出器に導く第1
の回折素子とを備え、 前記第1の回折素子が、前記接合面での屈折により発生
した波面収差を補償するホログラムパターンを備えてい
る、光磁気ピックアップ装置。
A light source for generating a light beam; a light condensing means for condensing the light beam emitted from the light source on a magneto-optical recording medium; and a light source disposed between the light source and the light condensing means; A beam splitter including a first member made of an isotropic material and a second member made of an anisotropic material, wherein a joining surface between the first member and the second member forms a polarization separation surface. And a photodetector that reflects the magneto-optical recording medium and receives the guided light; and a photodetector that is disposed between the beam splitter and the photodetector, and transmits light from the beam splitter to the photodetector. First to guide
A magneto-optical pickup device, wherein the first diffraction element includes a hologram pattern for compensating a wavefront aberration generated by refraction at the bonding surface.
【請求項2】 前記ホログラムパターンは、前記第1の
回折素子上の点Hであって、(LH−PH)’=nλの
関係を満たす点Hの軌跡からなる、請求項1に記載の光
磁気ピックアップ装置。ただし、L:第1の回折素子を
透過して集光する点、LH:点Hと点Lとの間の光路
長、P:第1の回折素子によって回折されて光検出器に
集光した点、PH:点Pと点Hとの間の光路長、λ:光
ビームの波長、n:整数、(LH−PH)’:光路長L
Hまたは光路長PHのいずれか一方に、上記接合面にお
ける波面収差を折り込んだ状態での両者の光路差。
2. The light according to claim 1, wherein the hologram pattern is a locus of a point H on the first diffraction element that satisfies a relationship of (LH-PH) ′ = nλ. Magnetic pickup device. Here, L: a point at which light passes through the first diffraction element and condenses, LH: an optical path length between points H and L, P: P is diffracted by the first diffraction element and condensed on the photodetector. Point, PH: optical path length between point P and point H, λ: wavelength of light beam, n: integer, (LH-PH) ′: optical path length L
H is the optical path difference between the optical path length PH and the optical path length PH in a state where the wavefront aberration at the joint surface is folded.
【請求項3】 前記第1の回折素子で回折された回折光
のみを利用して信号を検出する信号検出手段を備えた、
請求項1または2に記載の光磁気ピックアップ装置。
3. A signal detecting means for detecting a signal using only the diffracted light diffracted by the first diffraction element,
The magneto-optical pickup device according to claim 1.
【請求項4】 前記第1の回折素子の断面が鋸歯形状に
なるように形成されている、請求項1〜3のいずれかに
記載の光磁気ピックアップ装置。
4. The magneto-optical pickup device according to claim 1, wherein a cross section of the first diffraction element is formed so as to have a sawtooth shape.
【請求項5】 前記ビームスプリッタの両面に樹脂製の
1/2波長板が配置されている、請求項1〜4のいずれ
かに記載の光磁気ピックアップ装置。
5. The magneto-optical pickup device according to claim 1, wherein a half-wave plate made of resin is arranged on both surfaces of said beam splitter.
【請求項6】 前記光源および光検出器は、透光性ウィ
ンドウを有する気密封止されたパッケージ内に配置され
ている、請求項1〜5のいずれかに記載の光磁気ピック
アップ装置。
6. The magneto-optical pickup device according to claim 1, wherein the light source and the photodetector are arranged in a hermetically sealed package having a translucent window.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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USRE41193E1 (en) 2003-03-18 2010-04-06 Konica Minolta Opto, Inc. Method for fabricating a prism and method for fabricating an optical system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE41193E1 (en) 2003-03-18 2010-04-06 Konica Minolta Opto, Inc. Method for fabricating a prism and method for fabricating an optical system
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