JP2001331980A - Stamper machining device and method for optical disk substrate manufacturing, stamper protective film - Google Patents
Stamper machining device and method for optical disk substrate manufacturing, stamper protective filmInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク基板製
造用スタンパの内径及び、または外径を加工する方法、
装置及びスタンパの信号面を保護するためのスタンパ保
護膜に関する。The present invention relates to a method for processing the inner diameter and / or outer diameter of a stamper for manufacturing an optical disk substrate,
The present invention relates to a stamper protective film for protecting a signal surface of a device and a stamper.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、情報機器・映像音響機器等が必要
とされる情報量の拡大化に伴い、データアクセスの容易
さ、大容量データの蓄積、機器の小型化に優れている光
ディスクが記録媒体として注目され、研究開発が行われ
ている。一般的に光ディスクの製造は大量生産を可能と
するために、表面にピットやグルーブが形成されている
スタンパを用いて射出圧縮成形によって行われている。
このときスタンパは光ディスク基板成形機に搭載する際
に成形機への固定方法として用いられている内径及び、
または外径の穴を加工することが必要となる。2. Description of the Related Art In recent years, with the increase in the amount of information required for information equipment, audiovisual equipment, and the like, optical discs that are excellent in ease of data access, large-volume data storage, and miniaturization of equipment have been recorded. It is attracting attention as a medium and is being researched and developed. In general, optical disks are manufactured by injection compression molding using a stamper having pits or grooves formed on the surface to enable mass production.
At this time, the stamper has an inner diameter used as a fixing method to the molding machine when mounted on the optical disc substrate molding machine,
Alternatively, it is necessary to machine a hole having an outer diameter.
【0003】図1は、従来の光ディスク基板製造用スタ
ンパ加工装置の断面図を示している。以下、この図面を
用いて従来の光ディスク基板製造用スタンパ加工装置を
説明する。FIG. 1 is a sectional view of a conventional stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate. Hereinafter, a conventional stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate will be described with reference to this drawing.
【0004】従来の光ディスク基板製造用スタンパ加工
装置は、スタンパ11の面に対して平行に下向きに固定
された上刃12と、スタンパ11の下面に上刃12と対
向して設置された下刃13と、スタンパ11を下刃13
上で磁石や真空等を利用して固定しながら摺動するスタ
ンパ固定部14と、スタンパ固定部14の摺動調整部1
5と、スタンパ11、下刃13、スタンパ固定部14及
び摺動調整部15を搭載し回転中心軸Aを中心に回転す
る回転テーブル16と、スタンパ11の面に対して垂直
に設置され白色光を用いてスタンパ上の信号部の偏芯状
態を観測するための偏芯量撮影部17と、偏芯量撮影部
17によって撮られた画像を画像データとして出力する
偏芯量モニター部18が設置されている。A conventional stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate includes an upper blade 12 fixed downward and parallel to the surface of a stamper 11, and a lower blade installed on the lower surface of the stamper 11 so as to face the upper blade 12. 13 and the stamper 11 with the lower blade 13
A stamper fixing part 14 that slides while being fixed using a magnet, a vacuum or the like, and a sliding adjustment part 1 of the stamper fixing part 14
5, a rotary table 16 on which a stamper 11, a lower blade 13, a stamper fixing portion 14, and a slide adjusting portion 15 are mounted and which rotates around a rotation center axis A, and a white light which is installed perpendicularly to the surface of the stamper 11. The eccentricity amount photographing unit 17 for observing the eccentricity state of the signal unit on the stamper using the eccentricity amount, and the eccentricity amount monitoring unit 18 for outputting an image taken by the eccentricity amount photographing unit 17 as image data are installed. Have been.
【0005】次に、従来の光ディスク基板製造用スタン
パ加工装置の動作を説明する。まず、スタンパ11を下
刃13上の任意の位置に置き、スタンパ固定部14によ
って固定する。続いて、回転テーブル16を回転させな
がら、スタンパ上に形成されている同心円状の信号と信
号が記録されていない無記録部との境界を偏芯量撮影部
17を用いて撮影し、回転テーブル16の回転中心軸A
に対するスタンパ上の信号の偏芯量を信号部と無記録部
の境界の移動画像として偏芯量モニター部18に出力す
る。信号部と無記録部の境界の移動幅が偏芯量モニター
部18上で小さくなるように、回転テーブルの外周に9
0度間隔で2つ有る摺動調整部15を用いて下刃13上
でのスタンパ11の位置を調整し、上刃12の内径刃1
2aと外径刃12bと、下刃13の内径刃13aと外径
刃13bがそれぞれ対向する刃とかみ合わされることに
よってスタンパ11の内径穴及び外径穴が加工される。Next, the operation of the conventional stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate will be described. First, the stamper 11 is placed at an arbitrary position on the lower blade 13 and is fixed by the stamper fixing portion 14. Subsequently, while rotating the rotary table 16, a boundary between a concentric signal formed on the stamper and a non-recording portion where no signal is recorded is photographed by using the eccentric amount photographing section 17, and the rotation table is rotated. 16 rotation center axes A
Is output to the eccentricity monitor 18 as a moving image at the boundary between the signal portion and the non-recording portion. In order that the movement width of the boundary between the signal portion and the non-recording portion becomes small on the eccentricity amount monitoring portion 18, 9
The position of the stamper 11 on the lower blade 13 is adjusted by using two slide adjusting portions 15 at an interval of 0 degrees, and the inner blade 1 of the upper blade 12 is adjusted.
The inner diameter hole and the outer diameter hole of the stamper 11 are machined by engaging the 2a, the outer diameter blade 12b, and the inner diameter blade 13a and the outer diameter blade 13b of the lower blade 13 with the opposing blades.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来技術においては偏芯量撮影部17に白色光及び視野倍
率の低い撮影レンズを使用し、偏芯量モニター部18の
出力として画像データを使用していたことから、偏芯量
測定時の分解能が低く、スタンパ上に形成されている信
号領域と信号が記録されていない無記録領域との境界の
限定された位置でしか偏芯量を確認できず、スタンパ1
1に記録されている信号の深さによっては偏芯量撮影部
17の撮影感度を得ることが出来ない場合があった。ま
た分解能が低いことから、複数枚のスタンパ加工を行っ
たときの各々のスタンパ11の偏芯量はばらつきが大き
く、加工の再現性及び精度には限界があった。さらに、
スタンパの反りによっては偏芯量撮影部17の撮影焦点
ずれを生じ、さらなる偏芯量測定の精度の低下を生じて
いた。However, in the prior art, a white light and a photographing lens having a low field magnification are used for the eccentric amount photographing section 17 and image data is used as an output of the eccentric amount monitoring section 18. Therefore, the resolution when measuring the amount of eccentricity is low, and the amount of eccentricity can be confirmed only at the limited position of the boundary between the signal area formed on the stamper and the unrecorded area where no signal is recorded. , Stamper 1
In some cases, depending on the depth of the signal recorded in No. 1, the imaging sensitivity of the eccentricity imaging unit 17 cannot be obtained. Also, since the resolution is low, the amount of eccentricity of each stamper 11 when a plurality of stampers are processed varies greatly, and the reproducibility and accuracy of the processing are limited. further,
Depending on the warpage of the stamper, the imaging focus of the eccentricity imaging unit 17 is deviated, and the accuracy of the eccentricity measurement is further reduced.
【0007】本発明は、従来技術の有するこのような問
題点に鑑みてなされたものであり、スタンパの偏芯量を
高精度に測定し、且つスタンパを高精度で加工する光デ
ィスク基板製造用スタンパ加工方法、装置及びスタンパ
の保護膜を提供するものである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and has been made in consideration of the above problems, and has been made in consideration of the above-described problems. It is intended to provide a processing method, an apparatus and a protective film for a stamper.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
には、本発明の光ディスク基板製造用スタンパ加工方法
として、片面に略同心円状の信号が形成された光ディス
ク基板製造用スタンパを回転テーブル上に固定する過程
と、前記回転テーブルを回転させると同時に、出射され
たレーザー光が焦点を有するように少なくとも1つ以上
のレンズとレーザー光源とで構成された偏芯量測定用光
学ピックアップヘッドを用いて前記回転テーブルに対す
る前記スタンパ上の略同心円状の信号との偏芯量を前記
スタンパ上に記録されている信号面に焦点を有するよう
に制御しつつ測定する過程と、偏芯量データによって前
記回転テーブル上の前記スタンパの固定位置を制御しつ
つ補正する過程と、前記スタンパの内周穴及び、または
外周穴を加工する過程からなることを特徴とする。In order to solve the above problems, a stamper processing method for manufacturing an optical disk substrate according to the present invention includes a method of manufacturing a stamper for manufacturing an optical disk substrate having a substantially concentric signal formed on one side on a rotary table. And rotating the rotary table, and using an eccentricity measuring optical pickup head composed of at least one lens and a laser light source so that the emitted laser light has a focal point. Measuring the eccentricity of the rotary table with the substantially concentric signal on the stamper so as to have a focus on the signal surface recorded on the stamper; and A step of correcting while controlling the fixed position of the stamper on the rotary table, and machining an inner peripheral hole and / or an outer peripheral hole of the stamper Characterized in that it consists of degree.
【0009】また、本発明の光ディスク基板製造用スタ
ンパ加工装置として、片面に信号が形成されている光デ
ィスク基板製造用スタンパの内径及び、または外径を加
工する装置であって、前記スタンパを固定する手段を有
する回転テーブルと、出射されたレーザー光が焦点を有
するように少なくとも1つ以上のレンズとレーザー光源
とで構成された偏芯量測定用光学ピックアップヘッド
と、前記スタンパの内周及び、または外周を略円状に加
工する手段とを備え、前記回転テーブルを回転させるこ
とにより前記回転テーブルの回転中心に対する前記スタ
ンパ上の略同心円状の信号との偏芯量をスタンパ上に記
録されている信号を用いて前記偏芯量測定用光学ピック
アップヘッドによって測定すると同時に、偏芯量が所定
の範囲内に有するように前記回転テーブル上の前記スタ
ンパの固定位置を制御しつつ補正し、加工手段によって
前記スタンパの内周穴及び、または外周穴を略円状に加
工することを特徴とする。Further, as a stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate of the present invention, an apparatus for processing the inner diameter and / or the outer diameter of a stamper for manufacturing an optical disk substrate having a signal formed on one surface, wherein the stamper is fixed. A rotary table having means, an eccentricity measurement optical pickup head including at least one or more lenses and a laser light source such that the emitted laser light has a focal point, and an inner periphery of the stamper, and / or Means for processing the outer periphery into a substantially circular shape, and the amount of eccentricity between the rotation center of the rotary table and a substantially concentric signal on the stamper is recorded on the stamper by rotating the rotary table. At the same time as the measurement by the optical pickup head for measuring the amount of eccentricity using a signal, the amount of eccentricity is within a predetermined range. The controls fixed position of the stamper on the rotary table while correcting, characterized by machining the inner peripheral hole and or the outer periphery hole in a substantially circular shape of the stamper by the processing means.
【0010】ある実施形態では、偏芯量測定用光学ピッ
クアップヘッドとして、波長350nmから700nm
の半導体レーザーを使用することを特徴とする。In one embodiment, the optical pickup head for measuring the amount of eccentricity has a wavelength of 350 nm to 700 nm.
Characterized by using a semiconductor laser.
【0011】また、ある実施形態では、光ディスク基板
製造用スタンパの内周穴及び、または外周穴を略円状に
加工する手段として、YAGレーザーを用いることを特
徴とする。In one embodiment, a YAG laser is used as a means for processing the inner peripheral hole and / or the outer peripheral hole of the stamper for manufacturing an optical disk substrate into a substantially circular shape.
【0012】また、本発明のスタンパ保護膜として、偏
芯量測定用光学ピックアップヘッドの焦点がスタンパ上
に有するように厚みを形成することを特徴とする。Further, the stamper protective film of the present invention is characterized in that the thickness is formed so that the focal point of the optical pickup head for measuring the amount of eccentricity has on the stamper.
【0013】さらにある実施形態では、スタンパ保護膜
として、偏芯量測定用光学ピックアップヘッドの半導体
レーザーのレーザー光波長に対してほぼ透明な材料を用
いることを特徴とする。In still another embodiment, the stamper protective film is made of a material that is substantially transparent to the laser beam wavelength of the semiconductor laser of the optical pickup head for measuring the amount of eccentricity.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。実施の形態として、
スタンパとして片面に凹凸ピットや溝よりなる信号トラ
ックがスパイラル状に形成された金属材料の円盤、スタ
ンパ保護膜として偏芯量測定用光学ピックアップヘッド
のレーザ光に対して透明な材料で形成し、さらに内外径
加工用としてYAGレーザを使用した場合を例として説
明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. As an embodiment,
A disk made of a metal material in which signal tracks consisting of concave and convex pits and grooves are spirally formed on one side as a stamper, and a material transparent to the laser beam of the optical pickup head for eccentricity measurement as a stamper protective film, and An example in which a YAG laser is used for inner and outer diameter processing will be described.
【0015】図2は、本発明にかかる第1の光ディスク
基板製造用スタンパの内外径加工装置の構成の平面図及
び断面図を示している。FIG. 2 shows a plan view and a cross-sectional view of a configuration of an inner and outer diameter processing device of a first optical disk substrate manufacturing stamper according to the present invention.
【0016】図2において、201はスタンパ22を磁
石や真空等を利用して固定しながらスタンパ22の信号
面に対して略平行に摺動するスタンパ固定部202と、
スタンパ固定部202の摺動を行う摺動調整部203
と、スタンパ固定部202を摺動調整部203の反対側
から摺動調整部203の方向に常時押圧を与えるための
スプリング204とからなる回転テーブルである。信号
が形成されている面を上面にしてスタンパ固定部202
に固定されたスタンパ22は、回転テーブル201がス
ピンドルモータ205によって回転することで、回転軸
206を介して回転する。In FIG. 2, reference numeral 201 denotes a stamper fixing portion 202 which slides substantially parallel to the signal surface of the stamper 22 while fixing the stamper 22 using a magnet, vacuum or the like.
Sliding adjustment section 203 for sliding stamper fixing section 202
And a spring 204 for constantly pressing the stamper fixing portion 202 from the opposite side of the slide adjusting portion 203 toward the slide adjusting portion 203. With the surface on which the signal is formed facing upward, the stamper fixing portion 202
Is rotated via a rotary shaft 206 when the rotary table 201 is rotated by a spindle motor 205.
【0017】このときに偏芯量測定用光学ピックアップ
ヘッド207が回転テーブルの回転中心に対するスタン
パ22上に形成されているスパイラル状の信号の偏芯量
を、スタンパ上に偏芯量測定用光学ピックアップヘッド
のレーザーが最も絞られるように屈折率と厚みが選定さ
れたスタンパ保護膜208を介して測定する構造図を図
3に示す。At this time, the eccentricity measuring optical pickup head 207 determines the eccentricity of the spiral signal formed on the stamper 22 with respect to the center of rotation of the rotary table, and places the eccentricity measuring optical pickup on the stamper. FIG. 3 shows a structural diagram in which the refractive index and the thickness are measured via the stamper protective film 208 in which the laser of the head is most narrowed.
【0018】まず、コヒーレントなレーザー光を発生さ
せるレーザー光源301から出射されたP偏光のレーザ
ー光を、コリメートレンズ302によって略平行光に整
形し、偏光ビームスプリッタ303で整形後のレーザー
光をP偏光成分のみ透過させる。偏光ビームスプリッタ
303を透過したP偏光であるレーザー光は、1/4波
長板304を通過することにより円偏光となる。このレ
ーザー光を再生レンズ305に入射させ、スタンパ保護
膜306を介してスタンパ32の信号面上に焦点を有す
るように絞り込む。First, P-polarized laser light emitted from a laser light source 301 for generating coherent laser light is shaped into substantially parallel light by a collimating lens 302, and the shaped laser light is polarized by a polarizing beam splitter 303. Only the components are transmitted. The P-polarized laser light transmitted through the polarization beam splitter 303 becomes circularly polarized light by passing through the quarter-wave plate 304. The laser light is made incident on the reproducing lens 305 and is narrowed down so as to have a focal point on the signal surface of the stamper 32 via the stamper protective film 306.
【0019】スタンパ32の信号面上で反射されたレー
ザー光は、反射されることで円偏光のまま再び再生レン
ズ305へ入射する。再生レンズ305から出射された
レーザー光は1/4波長板304を透過することでS偏
光となり、偏光ビームスプリッタ303によって略垂直
の方向へ反射され、受光部用光路308へ投射される。The laser beam reflected on the signal surface of the stamper 32 is reflected and enters the reproduction lens 305 again as circularly polarized light. The laser light emitted from the reproduction lens 305 passes through the quarter-wave plate 304 to become S-polarized light, is reflected in a substantially vertical direction by the polarization beam splitter 303, and is projected on the optical path 308 for the light receiving unit.
【0020】図4は再生レンズ305からの出射レーザ
ー光がスタンパ32の信号面上に焦点を有するようにフ
ォーカス制御を行うためのレーザー光受光部の詳細構造
を示している。再生レンズ305から偏光ビームスプリ
ッタ303に入射し、略垂直の方向へ反射されたレーザ
ー光は、まず検出レンズ401によってレーザー径(X
及びY方向)が全体的に絞られる。検出レンズ401に
よってレーザー光が最も絞り込まれる焦点41aと検出
レンズ401の間に円筒レンズ402を設けることによ
り、検出レンズ401によって絞られたレーザー径のX
方向だけをさらに絞り込み、円筒レンズ402の焦点4
2aを生じる。FIG. 4 shows a detailed structure of a laser light receiving portion for performing focus control so that the laser light emitted from the reproduction lens 305 has a focus on the signal surface of the stamper 32. The laser beam that has entered the polarization beam splitter 303 from the reproduction lens 305 and has been reflected in a substantially vertical direction is first detected by the detection lens 401 to have a laser beam diameter (X
And Y direction) are narrowed down as a whole. By providing the cylindrical lens 402 between the focal point 41a where the laser light is most narrowed down by the detection lens 401 and the detection lens 401, the X of the laser diameter narrowed down by the detection lens 401 is obtained.
Further narrow down only the direction, focus 4 of the cylindrical lens 402
2a results.
【0021】受光部用光路308としてこのような構造
をもつことにより、図3のスタンパ32の信号面と再生
レンズ305の相対距離が変動すると偏光ビームスプリ
ッタ303で分割されたところのレーザー径が大小変化
し、検出レンズ401の焦点位置41aと円筒レンズ4
02の焦点位置42aの位置が変動するので、この変動
する両焦点間の所定の位置に4分割された受光素子40
3を設け、受光素子からの出力電圧[(43a+43
b)−(43c+43d)]を検出することで、図3の
スタンパ32の信号面と再生レンズ305の相対距離を
検知することができる。By having such a structure as the light path 308 for the light receiving section, when the relative distance between the signal surface of the stamper 32 and the reproducing lens 305 in FIG. 3 fluctuates, the laser diameter split by the polarizing beam splitter 303 becomes large or small. The focal position 41a of the detection lens 401 and the cylindrical lens 4
02, the position of the focal position 42a is changed, so that the light receiving element 40 divided into four at a predetermined position between the two focal points that fluctuates.
3 and the output voltage from the light receiving element [(43a + 43
b)-(43c + 43d)], it is possible to detect the relative distance between the signal surface of the stamper 32 in FIG.
【0022】この検知された信号が一定となるように図
3の再生レンズ305の駆動ユニット307へフィード
バックされ、常にスタンパ32の信号面上に再生レンズ
305からの出射レーザー光の焦点を有するように、ス
タンパ32の信号面と再生レンズ305との間の距離の
制御がなされている。その再生レンズ305からの出射
レーザー光のスタンパ32上の焦点はそのスポットの大
きさとして1信号列を有するようにレーザー光波長と再
生レンズ305の開口数は設定されている。The detected signal is fed back to the drive unit 307 of the reproducing lens 305 in FIG. 3 so as to be constant, so that the focal point of the laser beam emitted from the reproducing lens 305 is always on the signal surface of the stamper 32. The distance between the signal surface of the stamper 32 and the reproduction lens 305 is controlled. The laser light wavelength and the numerical aperture of the reproducing lens 305 are set so that the focal point of the laser light emitted from the reproducing lens 305 on the stamper 32 has one signal sequence as the spot size.
【0023】このとき、スタンパ22が回転すること
で、スタンパ22上のレーザー光の焦点スポット内を、
1回転中に(回転テーブル201の回転中心に対するス
タンパ上の信号の偏芯量/信号トラックピッチ)の数だ
けの信号トラックが横切る。回転テーブル201の回転
中心に対するスタンパ22上に形成されている信号の偏
芯量は、信号トラックがレーザー光の焦点スポット内を
横切るときに発生するトラッキングエラー信号を利用し
て測定される。At this time, as the stamper 22 rotates, the focal spot of the laser beam on the stamper 22
During one rotation, signal tracks of the number (the amount of eccentricity of the signal on the stamper with respect to the rotation center of the rotary table 201 / the signal track pitch) are crossed. The amount of eccentricity of the signal formed on the stamper 22 with respect to the rotation center of the turntable 201 is measured using a tracking error signal generated when the signal track crosses the focal spot of the laser light.
【0024】トラッキングエラー信号の検出方法につい
て図5を参照して説明する。図5は受光素子501とそ
の上に投影された像及び受光素子からの出力を演算する
ためのトラッキングエラー信号検出回路502の構成を
示している。4分割された受光素子51a,51b,5
1c,51d上には、回転しているスタンパ22の信号
面上を再生光スポットが走査することで、その反射光で
ある像が投影される。投影された像は信号列方向503
の受光素子同士で足し合わされ、それら光量変化の差を
トラッキングエラー信号検出回路502を介すことによ
って検出する。A method of detecting a tracking error signal will be described with reference to FIG. FIG. 5 shows the configuration of a light receiving element 501 and a tracking error signal detection circuit 502 for calculating an image projected thereon and an output from the light receiving element. Four divided light receiving elements 51a, 51b, 5
The reproduction light spot scans the signal surface of the rotating stamper 22 on 1c and 51d, so that the reflected light image is projected. The projected image is in the signal column direction 503.
, And the difference between the light quantity changes is detected via the tracking error signal detection circuit 502.
【0025】この場合、例えばトラッキングエラー信号
検出回路502から得られるトラッキングエラー信号を
TE、受光素子51a,51b,51c,51dの各々
から検出された光量をそれぞれA、B、C、Dとする
と、TE=(A+C)−(B+D)となる。このトラッ
キングエラー信号TEを0とすることで受光素子501
に投影される1信号トラックの走査像は、受光素子51
a,51cと受光素子51b,51dのほぼ中央に位置
することになり、スタンパ上の信号の偏芯量を信号トラ
ックピッチ幅以下にすることができる。In this case, for example, if the tracking error signal obtained from the tracking error signal detection circuit 502 is TE, and the light amounts detected from the light receiving elements 51a, 51b, 51c, 51d are A, B, C, D, respectively, TE = (A + C)-(B + D). By setting the tracking error signal TE to 0, the light receiving element 501
The scanning image of one signal track projected on the light receiving element 51
Therefore, the eccentricity of the signal on the stamper can be made smaller than the signal track pitch width.
【0026】次に、回転テーブル201に対するスタン
パ22の偏芯を補正する構造を図6及び図7(a)から
(c)を参照して説明する。図6は回転テーブル60
1、スタンパ固定部602、回転テーブルの外周に設定
された位置検出装置603、摺動調整部604、偏芯量
測定用光学ピックアップヘッド605を示している。回
転テーブル601上の任意の位置に固定されたスタンパ
606が回転テーブル601によって、例えば回転方向
607の方向へ回転しているとすると、例えば図7
(a)に示すように偏芯量測定用光学ピックアップヘッ
ド605の再生光スポット701内では、図7(a)に
示す数だけ信号トラック702が横断している。このと
きにトラッキングエラーとして出力される信号を図7
(b)に示す。Next, a structure for correcting the eccentricity of the stamper 22 with respect to the rotary table 201 will be described with reference to FIGS. 6 and 7A to 7C. FIG. 6 shows a rotary table 60.
1, a stamper fixing unit 602, a position detecting device 603 set on the outer periphery of the rotary table, a sliding adjusting unit 604, and an optical pickup head 605 for measuring the amount of eccentricity. Assuming that the stamper 606 fixed at an arbitrary position on the rotary table 601 is being rotated by the rotary table 601 in, for example, the direction of rotation 607, for example, FIG.
As shown in FIG. 7A, within the reproduction light spot 701 of the optical pickup head 605 for measuring the amount of eccentricity, the signal tracks 702 traverse the number shown in FIG. The signal output as a tracking error at this time is shown in FIG.
(B).
【0027】トラッキングエラーはスタンパ上の信号の
凹部または凸部が再生光スポット内の中心を横断する度
に電圧として0Vを出力し、凹部または凸部が再生光ス
ポット内の中心から最も遠ざかったときに正もしくは負
の電圧の最大値を出力する。この出力信号はパルス化す
るためにパルス化回路209に入力され、スレッシュレ
ベルH703及びL704がスタンパの形成信号深さに
応じて任意に設定できるように設けられている。パルス
化回路209ではこのスレッシュレベルをトラッキング
エラーがクロスするとパルス電圧が出力されるように設
計されている。出力されるパルス化電圧を図7(c)に
示す。A tracking error is generated when the concave or convex portion of the signal on the stamper crosses the center of the reproduction light spot, and outputs 0 V as a voltage. When the concave or convex portion is farthest from the center of the reproduction light spot. Output the maximum value of the positive or negative voltage. This output signal is input to a pulsing circuit 209 for pulsing, and is provided so that the threshold levels H703 and L704 can be arbitrarily set according to the depth of the stamper formation signal. The pulsing circuit 209 is designed to output a pulse voltage when a tracking error crosses this threshold level. The output pulsed voltage is shown in FIG.
【0028】出力されたパルス化信号は偏芯量演算装置
210に入力され、位置検出装置603でトラッキング
エラー信号の1回転周期705を観測しながら、1回転
ごとのトラッキングエラー信号をモニターすることによ
り回転テーブル201の回転中心に対するスタンパ上の
信号の偏芯量を測定し、その偏芯量に応じてスタンパ摺
動調整部203へスタンパの位置調整補正のためのモー
タ駆動電圧を出力するモータ駆動ドライバ211に補正
信号を出力する。スタンパはスタンパ摺動調整部203
によって回転テーブル201の回転中心に対するスタン
パ上の信号の偏芯量をトラックピッチ以下となるように
補正される。The output pulse signal is input to the eccentricity calculating device 210, and the position detecting device 603 monitors the tracking error signal for each rotation while observing one rotation cycle 705 of the tracking error signal. A motor driver that measures the amount of eccentricity of a signal on the stamper with respect to the rotation center of the turntable 201 and outputs a motor drive voltage for stamper position adjustment correction to the stamper sliding adjustment unit 203 according to the amount of eccentricity. A correction signal is output to 211. The stamper is a stamper sliding adjustment unit 203
Accordingly, the eccentricity of the signal on the stamper with respect to the rotation center of the turntable 201 is corrected so as to be equal to or less than the track pitch.
【0029】偏芯が補正されたスタンパは、スタンパ面
に対して略垂直に設置され、あらかじめスタンパを内径
φ22及び外径φ138に加工可能とするために、回転
テーブル201から半径方向に略11mmと略22mm
の2つの位置に設置されたYAGレーザ212を用い
て、回転テーブル201を回転させながらレーザを発射
させることによって切断する。The stamper whose eccentricity has been corrected is installed substantially perpendicular to the surface of the stamper. Approximately 22mm
By using the YAG laser 212 installed at the two positions described above, the laser beam is emitted while rotating the rotary table 201, thereby cutting.
【0030】(表1)は本発明にかかる光ディスク基板
製造用スタンパ加工装置を使用して、スタンパとして片
面に深さが略0.6μm、信号列ピッチが略0.4μm
の信号がスパイラル状に形成され電鋳等の方法により作
製されたニッケル材料の円盤、偏芯量測定用光学ピック
アップのレーザー光源として波長略400nmの半導体
レーザー、スタンパ保護膜として波長400nm付近の
光に対してほぼ透明な材料でスピンコート等の方法で厚
み略10μmに形成された保護膜を使用し、厚み280
nm、290nm、300nm、310nmの4種類の
スタンパを内径φ22、外径φ138に加工したときの
それぞれの内径及び外径の偏芯量を顕微鏡測定機によっ
て測定した例を示している。Table 1 shows that a stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to the present invention is used to form a stamper having a depth of about 0.6 μm on one surface and a signal row pitch of about 0.4 μm.
Signal is formed in a spiral shape, a disc made of nickel material produced by a method such as electroforming, a semiconductor laser having a wavelength of about 400 nm as a laser light source of an optical pickup for measuring eccentricity, and a light having a wavelength of about 400 nm as a stamper protective film. On the other hand, a protective film formed of a substantially transparent material and having a thickness of about 10 μm by a method such as spin coating is used, and a thickness of 280 is used.
This shows an example in which the eccentricity of the inner diameter and the outer diameter when four types of stampers of nm, 290 nm, 300 nm, and 310 nm are processed into an inner diameter φ22 and an outer diameter φ138 is measured by a microscope measuring instrument.
【0031】[0031]
【表1】 [Table 1]
【0032】本実施の形態によれば、(表1)から明ら
かなように、スタンパの信号に対して打ち抜き径の偏芯
量が内径、外径共に信号列ピッチ以下に全スタンパを加
工することができた。According to the present embodiment, as is apparent from Table 1, all stampers are processed so that the eccentricity of the punching diameter for the signal of the stamper is less than the signal row pitch for both the inner diameter and the outer diameter. Was completed.
【0033】なお、上記実施の形態の光ディスク基板製
造用スタンパ加工装置においては、YAGレーザーとし
て、スタンパを内径φ22及び外径φ138に加工可能
とするために、回転テーブルから半径方向に略11mm
と略22mmの2つの位置に設置する手段を用いて説明
したが、例えば、YAGレーザーの設置位置を回転テー
ブルから半径方向に任意に設定することによって、任意
のスタンパの内径及び、または外径に加工することもで
きる。In the stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to the above-described embodiment, in order to process the stamper into an inner diameter φ22 and an outer diameter φ138 as a YAG laser, the stamper is radially moved about 11 mm from the rotary table.
Although the description has been made using the means for installation at two positions of approximately 22 mm, for example, by setting the installation position of the YAG laser arbitrarily in the radial direction from the rotary table, the inner diameter and / or outer diameter of any stamper can be adjusted. It can also be processed.
【0034】また、トラキングエラー信号をパルス化す
るためのスレッシュレベルH及びLとして、トラッキン
グエラーの正負電圧振幅の最大値近傍に設定していた
が、0V近傍に設定することによって打ち抜き穴径の偏
芯量をスタンパ上の信号に対してさらに小さくすること
ができる。Although the threshold levels H and L for pulsing the tracking error signal are set near the maximum value of the positive and negative voltage amplitudes of the tracking error, by setting them near 0 V, the punching hole diameter can be reduced. The amount of eccentricity can be further reduced with respect to the signal on the stamper.
【0035】さらに、スタンパの保護膜として、偏芯量
測定用光学ピックアップヘッドのレーザーをスタンパ上
で最も絞られるように厚みと屈折率を選定したが、保護
膜厚みを所定の厚みに決定し、偏芯量測定用光学ピック
アップヘッドとスタンパ間に焦点補正基板を設置するこ
とで、偏芯量測定用光学ピックアップヘッドのレーザー
の焦点をスタンパの信号面上で最も絞るようにすること
でも実現できる。Furthermore, as the protective film of the stamper, the thickness and the refractive index were selected so that the laser of the optical pickup head for measuring the eccentricity could be most narrowed on the stamper, but the thickness of the protective film was determined to a predetermined thickness. By installing a focus correction substrate between the optical pickup head for measuring eccentricity and the stamper, it is also possible to realize that the laser of the optical pickup head for measuring eccentricity is focused most on the signal surface of the stamper.
【0036】また、上記実施の形態の光ディスク基板製
造用スタンパ加工装置においては、偏芯量測定用光学ピ
ックアップヘッドのレーザー光源として波長略400n
mのものを使用したが、スタンパ上に記録されている信
号によっては、異なるレーザー波長のものを使うことで
偏芯量測定が実現できる。In the stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to the above-described embodiment, the laser light source of the optical pickup head for measuring the amount of eccentricity has a wavelength of about 400 nm.
Although the m type is used, the eccentricity can be measured by using a different laser wavelength depending on the signal recorded on the stamper.
【0037】[0037]
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載するような効果を奏する。Since the present invention is constructed as described above, it has the following effects.
【0038】本発明の発明によれば、光学ピックアップ
ヘッドによって常にスタンパ上の信号面に測定レーザー
の焦点を有するように制御しつつ、回転テーブルの回転
中心に対するスタンパ上の信号の偏芯量を測定するの
で、スタンパの反りに関係無く高精度の偏芯量測定が可
能であり、レーザーを使用することにより測定スポット
を小さくすることができることから、スタンパ上に形成
されている信号のトラック幅の精度で偏芯調整が可能で
あると共に、信号領域であれば測定箇所を限定せずに偏
芯量の測定が可能である。また、偏芯量測定で得られる
データが電気信号であることから、スタンパ位置の制
御、補正が容易に自動化できる。According to the present invention, the amount of eccentricity of the signal on the stamper with respect to the rotation center of the rotary table is measured while controlling the optical pickup head to always have the focus of the measurement laser on the signal surface on the stamper. Therefore, the eccentricity can be measured with high accuracy regardless of the warpage of the stamper, and the measurement spot can be reduced by using a laser. Therefore, the accuracy of the track width of the signal formed on the stamper can be improved. , The eccentricity can be adjusted, and the eccentricity can be measured without limiting the measurement location in the signal area. Further, since the data obtained by the eccentricity measurement is an electric signal, control and correction of the stamper position can be easily automated.
【0039】また、光ディスク基板製造用スタンパの内
周穴及び、または外周穴を略円状に加工する手段として
YAGレーザーを使用することにより、偏芯量測定用光
学ピックアップヘッドで測定した偏芯量で加工ができ
る。また、スタンパ上に保護膜を形成することにより、
スタンパ加工の際に発生する粉塵や作業時の傷などから
信号を保護することができる。Further, by using a YAG laser as a means for processing the inner peripheral hole and / or the outer peripheral hole of the stamper for manufacturing an optical disk substrate into a substantially circular shape, the eccentricity measured by the eccentricity measuring optical pickup head can be obtained. Can be processed with Also, by forming a protective film on the stamper,
The signal can be protected from dust generated at the time of stamper processing and scratches during work.
【図1】従来の技術に係る光ディスク基板製造用スタン
パ加工装置の断面図FIG. 1 is a cross-sectional view of a stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to a conventional technique.
【図2】本発明に係る光ディスク基板製造用スタンパ加
工装置の断面図FIG. 2 is a cross-sectional view of a stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to the present invention.
【図3】本発明に係る光ディスク基板製造用スタンパ加
工装置の偏芯量測定用光学ピックアップとスタンパの関
係を示す断面図FIG. 3 is a cross-sectional view showing the relationship between the optical pickup for measuring the amount of eccentricity and the stamper of the stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to the present invention.
【図4】本発明に係る光ディスク基板製造用スタンパ加
工装置の偏芯量測定用光学ピックアップのフォーカス及
びトラッキングエラー検出用光路図FIG. 4 is an optical path diagram for focus and tracking error detection of the optical pickup for measuring the amount of eccentricity of the stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to the present invention.
【図5】本発明に係る光ディスク基板製造用スタンパ加
工装置の偏芯量測定用光学ピックアップの受光素子及び
トラッキングエラー信号検出回路図FIG. 5 is a light receiving element and a tracking error signal detection circuit diagram of an optical pickup for measuring the amount of eccentricity of the stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to the present invention.
【図6】本発明に係る光ディスク基板製造用スタンパ加
工装置の回転テーブル上に設置されたスタンパ及び偏芯
量測定用光学ピックアップの関係を示す図FIG. 6 is a diagram showing the relationship between a stamper and an optical pickup for measuring the amount of eccentricity installed on a rotary table of a stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to the present invention.
【図7】本発明に係る光ディスク基板製造用スタンパ加
工装置の偏芯量測定用光学ピックアップから出力される
トラッキングエラー信号を示す図FIG. 7 is a diagram showing a tracking error signal output from an optical pickup for measuring the amount of eccentricity of the stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to the present invention.
A 回転中心軸 11 スタンパ 12,12a,12b 上刃 13,13a,13b 下刃 14 スタンパ固定部 15 摺動調整部 16 回転テーブル 17 偏芯量撮影部 18 偏芯量モニター部 201 回転テーブル 202 スタンパ固定部 203 摺動調整部 204 スプリング 205 スピンドルモータ 206 回転軸 207 偏芯量測定用光学ピックアップヘッド 208 スタンパ保護膜 209 パルス化回路 210 偏芯量演算装置 211 モータ駆動ドライバ 212 YAGレーザ 301 レーザー光源 302 コリメートレンズ 303 偏光ビームスプリッタ 304 1/4波長板 305 再生レンズ 306 スタンパ保護膜 307 再生レンズ駆動ユニット 308 受光部用光路 401 検出レンズ 41a 検出レンズの焦点位置 402 円筒レンズ 42a 円筒レンズの焦点位置 403,43a,43b,43c,43d 受光素子 501,51a,51b,51c,51d 受光素子 502 トラッキングエラー信号検出回路 503 信号列方向 601 回転テーブル 602 スタンパ固定部 603 位置検出装置 604 摺動調整部 605 偏芯量測定用光学ピックアップヘッド 606 スタンパ 607 回転方向 701 再生光スポット 702 信号トラック 703 スレッシュレベルH 704 スレッシュレベルL 705 1回転周期 A Rotation center axis 11 Stamper 12, 12a, 12b Upper blade 13, 13a, 13b Lower blade 14 Stamper fixing unit 15 Sliding adjustment unit 16 Rotary table 17 Eccentric amount photographing unit 18 Eccentric amount monitoring unit 201 Rotary table 202 Stamper fixed Unit 203 Sliding adjustment unit 204 Spring 205 Spindle motor 206 Rotating shaft 207 Optical pickup head for measuring eccentricity 208 Stamper protective film 209 Pulser circuit 210 Eccentricity calculating device 211 Motor driver 212 YAG laser 301 Laser light source 302 Collimating lens 303 Polarizing beam splitter 304 1/4 wavelength plate 305 Reproduction lens 306 Stamper protection film 307 Reproduction lens drive unit 308 Light path for light receiving unit 401 Detection lens 41a Focus position of detection lens 402 Cylindrical lens 42a Focus position of cylindrical lens 403, 43a, 43b, 43c, 43d Light receiving element 501, 51a, 51b, 51c, 51d Light receiving element 502 Tracking error signal detection circuit 503 Signal column direction 601 Rotary table 602 Stamper fixing unit 603 Position detection device 604 Sliding adjustment unit 605 Eccentricity measurement optical pickup head 606 Stamper 607 Rotation direction 701 Reproduced light spot 702 Signal track 703 Threshold level H 704 Threshold level L 705 One rotation cycle
Claims (6)
ィスク基板製造用スタンパを回転テーブル上に固定する
過程と、前記回転テーブルを回転させると同時に、出射
されたレーザー光が焦点を有するように少なくとも1つ
以上のレンズとレーザー光源とで構成された偏芯量測定
用光学ピックアップヘッドを用いて前記スタンパ上の信
号面に常にレーザー光の焦点を有するように制御しつ
つ、前記回転テーブルの回転中心に対する前記スタンパ
上の略同心円状の信号の偏芯量をスタンパ上に記録され
ている信号を用いて測定する過程と、偏芯量データによ
って前記回転テーブル上の前記スタンパの固定位置を制
御しつつ補正する過程と、前記スタンパの内周穴及び、
または外周穴を加工する過程からなる光ディスク基板製
造用スタンパ加工方法。1. A process of fixing a stamper for manufacturing an optical disc substrate having a substantially concentric signal formed on a surface thereof on a rotary table, and simultaneously rotating the rotary table so that the emitted laser light has a focal point. While using an optical pickup head for measuring the amount of eccentricity constituted by at least one or more lenses and a laser light source, while controlling so that the signal surface on the stamper always has the focal point of the laser light, A step of measuring the amount of eccentricity of a substantially concentric signal on the stamper with respect to the center of rotation using a signal recorded on the stamper, and controlling a fixed position of the stamper on the rotary table according to the eccentricity amount data While correcting, and the inner peripheral hole of the stamper,
Alternatively, a stamper processing method for manufacturing an optical disk substrate, comprising a step of processing an outer peripheral hole.
板製造用スタンパの内径及び、または外径を加工する装
置であって、前記スタンパを固定する手段を有する回転
テーブルと、出射されたレーザー光が焦点を有するよう
に少なくとも1つ以上のレンズとレーザー光源とで構成
された偏芯量測定用光学ピックアップヘッドと、前記ス
タンパの内周及び、または外周を略円状に加工する手段
とを備え、前記回転テーブルを回転させることにより前
記回転テーブルの回転中心に対する前記スタンパ上の略
同心円状の信号の偏芯量をスタンパ上に記録されている
信号を用いて前記偏芯量測定用光学ピックアップヘッド
によって測定すると同時に、偏芯量が所定の範囲内に有
するように前記回転テーブル上の前記スタンパの固定位
置を制御しつつ補正し、加工手段によって前記スタンパ
の内周穴及び、または外周穴を略円状に加工することを
特徴とした光ディスク用スタンパ加工装置。2. A device for processing an inner diameter and / or an outer diameter of a stamper for producing an optical disk substrate having a signal formed on a surface thereof, comprising: a rotary table having means for fixing the stamper; An optical pickup head for measuring the amount of eccentricity constituted by at least one or more lenses and a laser light source so that the stamper has a focal point; and a means for processing the inner periphery and / or the outer periphery of the stamper into a substantially circular shape. An optical pickup head for measuring the amount of eccentricity by using a signal recorded on the stamper to detect the amount of eccentricity of a substantially concentric signal on the stamper with respect to the center of rotation of the rotary table by rotating the rotary table. And at the same time, while controlling the fixed position of the stamper on the rotary table so that the amount of eccentricity is within a predetermined range, compensation is performed. And, the inner circumferential hole of the stamper by the processing means and or processing optical disc stamper processing apparatus characterized in that the substantially circular outer peripheral holes.
のレーザー光源として、波長350nmから700nm
の半導体レーザーを使用することを特徴とした請求項2
に記載の光ディスク基板製造用スタンパ加工装置。3. A laser light source for the optical pickup head for measuring the amount of eccentricity, which has a wavelength of 350 nm to 700 nm.
3. A semiconductor laser according to claim 2, wherein
4. The stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to claim 1.
穴及び、または外周穴を略円状に加工する手段として、
YAGレーザーを用いることを特徴とした請求項2に記
載の光ディスク基板製造用スタンパ加工装置。4. A means for processing an inner peripheral hole and / or an outer peripheral hole of the stamper for producing an optical disk substrate into a substantially circular shape.
3. The stamper processing apparatus for manufacturing an optical disk substrate according to claim 2, wherein a YAG laser is used.
から出射されたレーザー光が、表面に略同心円状の信号
が形成された光ディスク基板製造用スタンパの信号面上
に焦点を有するように前記スタンパの信号面上に所定の
厚みを形成することを特徴としたスタンパ保護膜。5. A laser beam emitted from the optical pickup head for measuring the amount of eccentricity, so that the laser beam has a focal point on a signal surface of a stamper for manufacturing an optical disk substrate having a substantially concentric signal formed on a surface thereof. A stamper protective film, wherein a predetermined thickness is formed on the signal surface of the stamper.
のレーザー光波長に対してほぼ透明な材料を用いること
を特徴とした請求項5に記載のスタンパ保護膜。6. The stamper protective film according to claim 5, wherein a material that is substantially transparent to the laser light wavelength of the optical pickup head for measuring the amount of eccentricity is used.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000149357A JP2001331980A (en) | 2000-05-22 | 2000-05-22 | Stamper machining device and method for optical disk substrate manufacturing, stamper protective film |
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Publications (1)
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ID=18655226
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7717696B2 (en) * | 2000-07-18 | 2010-05-18 | Nanonex Corp. | Apparatus for double-sided imprint lithography |
-
2000
- 2000-05-22 JP JP2000149357A patent/JP2001331980A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7717696B2 (en) * | 2000-07-18 | 2010-05-18 | Nanonex Corp. | Apparatus for double-sided imprint lithography |
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