JP2001307015A - Card authenticity deciding device - Google Patents

Card authenticity deciding device

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JP2001307015A
JP2001307015A JP2000118790A JP2000118790A JP2001307015A JP 2001307015 A JP2001307015 A JP 2001307015A JP 2000118790 A JP2000118790 A JP 2000118790A JP 2000118790 A JP2000118790 A JP 2000118790A JP 2001307015 A JP2001307015 A JP 2001307015A
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JP
Japan
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card
diffraction pattern
authenticity
genuine
determination unit
Prior art date
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Application number
JP2000118790A
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Japanese (ja)
Inventor
Nobuo Hori
信男 堀
Shigenori Nagano
繁憲 永野
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a card authenticity deciding device capable of objectively and exactly deciding the authenticity of a card provided with a hologram image formed by a diffractive pattern on its surface. SOLUTION: The card authenticity deciding device is provided with a projection system 10 to project a laser measurement light flux Q1 to the hologram image 4 provided on the surface of the card 1 and formed by the diffractive pattern 3, a light reception system 20 having a Fourier transformation lens 21 to form the image of the diffractive pattern on a line sensor 22 by a diffractive reflection light flux Q2 reflected from the hologram image 4 and a deciding part 32 to decide the authenticity of the hologram image 4 based on a signal from the line sensor 22.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、回折パターンに基
づく画像を形成したホログラムが表面に設けられたカー
ドの真偽を判定するカード真偽判定装置に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a card authenticity judging device for judging the authenticity of a card provided with a hologram on which an image based on a diffraction pattern is formed.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、図7(A)に示すように、ク
レジットカード等のカード1には、その表面にホログラ
ムシール2を貼設したものが知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as shown in FIG. 7A, a card 1 such as a credit card has a hologram sticker 2 attached to the surface thereof.

【0003】このホログラムシール2には、図7(B)
に示すように(一部を拡大)、回折パターン3から形成
された絵柄,マーク,文字等を模したホログラム画像4
が形成されている。
[0003] The hologram seal 2 has a structure shown in FIG.
As shown in FIG. 4 (partially enlarged), a hologram image 4 imitating a pattern, mark, character, etc. formed from the diffraction pattern 3.
Are formed.

【0004】一般に、ホログラム画像4は、カード1の
見栄えが向上されると同時に、その偽装が困難なことか
ら、上述したクレジットカード等に採用されている。
In general, the hologram image 4 is employed in the above-described credit card and the like because the appearance of the card 1 is improved and at the same time, it is difficult to disguise the card.

【0005】一方、このようなホログラム画像4は、ホ
ログラム画像4自体を肉眼視して、若しくは、部分形状
(全体形状を含む)やカード1の貼設位置等を光学装置
を使用して、真偽判断していた。
[0005] On the other hand, such a hologram image 4 can be obtained by visually observing the hologram image 4 itself or by using an optical device to determine the partial shape (including the entire shape) and the position where the card 1 is attached. I was making a false judgment.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た肉眼視によってカード1の真偽を判定するには、入射
光線の微妙な方向によって画像が変化することから、厳
密な真偽判定を行うことは困難であるという問題が生じ
ていた。
However, in order to determine the authenticity of the card 1 with the naked eye, since the image changes depending on the delicate direction of the incident light beam, it is difficult to perform strict authenticity determination. There was a problem of difficulty.

【0007】また、部分形状(全体形状を含む)やカー
ド1の貼設位置等を光学装置を使用して真偽判断した場
合には、ホログラム画像4の偽装が困難であるとはい
え、その形状や貼設位置の復元は比較的容易であり、厳
密な真偽判定を行うことは困難であるという問題が生じ
ていた。
[0007] When the authenticity of the partial shape (including the entire shape) and the position where the card 1 is stuck is determined using an optical device, it is difficult to disguise the hologram image 4. There has been a problem that it is relatively easy to restore the shape and the attachment position, and it is difficult to make a strict true / false determination.

【0008】そこで、ホログラム画像4は、その回折パ
ターン3の溝の深さやピッチは厳密に管理されているこ
とに着目し、ホログラム画像4を部分若しくは全体形状
的な要素でない極小部分を解析することによって厳密な
真偽判定を客観的に行ない得るという考えに至った。
Therefore, focusing on the fact that the depth and pitch of the grooves of the diffraction pattern 3 of the hologram image 4 are strictly controlled, it is necessary to analyze the hologram image 4 for a part or a minimum part which is not an element of the overall shape. Has led to the idea that strict judgments can be made objectively.

【0009】本発明は、上記問題を解決するため、回折
パターンによって形成されたホログラム画像を表面に設
けたカードの真偽を客観的に厳密に判定することができ
るカード真偽判定装置を提供することを目的とする。
The present invention, in order to solve the above-mentioned problem, provides a card authenticity determination apparatus capable of objectively and strictly determining the authenticity of a card provided with a hologram image formed by a diffraction pattern on a surface. The purpose is to:

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】その目的を達成するた
め、請求項1に記載のカード真偽判定装置は、カード表
面に設けられ且つ回折パターンによって形成されたホロ
グラム画像に向けてレーザ測定光束を投影する投影系
と、ホログラム画像から反射された回折反射光束により
回折パターン像を受光部上に形成するフーリエ変換レン
ズを有する受光系と、前記受光部からの信号に基づいて
ホログラム画像の真偽を判定するための判定部とを備え
ていることを要旨とする。
In order to achieve the object, a card authenticity determination device according to claim 1 is provided with a laser measurement light beam toward a hologram image provided on a card surface and formed by a diffraction pattern. A projection system for projecting, a light receiving system having a Fourier transform lens for forming a diffraction pattern image on the light receiving portion by a diffracted and reflected light beam reflected from the hologram image, and authenticating the hologram image based on a signal from the light receiving portion. The gist of the present invention is to include a determination unit for determining.

【0011】請求項2に記載のカード真偽判定装置は、
前記判定部は、その判定結果を表示する表示部を備えて
いることを要旨とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a card authenticity determination apparatus,
The gist is that the determination unit includes a display unit that displays the determination result.

【0012】請求項3に記載のカード真偽判定装置は、
前記判定部は、回折パターン像を解析するための解析部
からの解析結果に基づいてホログラム画像の真偽を判定
することを要旨とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a card authenticity determination apparatus,
The gist is that the judgment unit judges the authenticity of the hologram image based on the analysis result from the analysis unit for analyzing the diffraction pattern image.

【0013】請求項4に記載のカード真偽判定装置は、
前記解析部は、回折パターン像の形成位置,ピーク強
度,広がり幅を解析して前記判定部にその解析結果を出
力することを要旨とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a card authenticity determination apparatus,
The analysis unit analyzes the formation position, peak intensity, and spread width of the diffraction pattern image and outputs the analysis result to the determination unit.

【0014】請求項5に記載のカード真偽判定装置は、
前記判定部は、回折パターン像の形成位置,ピーク強
度,広がり幅のうち、その全てが真正であると判定した
場合に、真正カードであると判定すると共に真正カード
である旨を前記表示部に表示させることを要旨とする。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a card authenticity determination apparatus,
The determination unit, when determining that all of the diffraction pattern image formation position, peak intensity, and spread width are genuine, determines that the card is a genuine card and informs the display unit that the card is a genuine card. The gist is to display it.

【0015】請求項6に記載のカード真偽判定装置は、
前記判定部は、回折パターン像の形成位置,ピーク強
度,広がり幅のうち、その何れか一つ以上が偽装である
と判定した場合に、偽装カードであると判定すると共に
偽装カードである旨を前記表示部に表示させることを要
旨とする。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a card authenticity determination device,
The determining unit, when determining that any one or more of the formation position, the peak intensity, and the spread width of the diffraction pattern image is a fake, determines that the card is a fake card, and informs that the card is a fake card. The gist of the present invention is to display on the display unit.

【0016】請求項7に記載のカード真偽判定装置は、
前記判定部は、回折パターン像の形成位置,ピーク強
度,広がり幅のうち、その全てが真正であると判定した
場合には真正カードであると判定し、その何れか一つの
みが所定の解析範囲内で擬似であると判定した場合には
仮の真正カードであると判定し、その何れか一つ以上が
偽装であると判定した場合には擬似カードであると判定
し、その判定結果を前記表示部に表示させることを要旨
とする。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a card authenticity determination device,
The determination unit determines that the card is a genuine card when it is determined that all of the formation position, the peak intensity, and the spread width of the diffraction pattern image are genuine, and only one of the genuine cards is subjected to a predetermined analysis. If it is determined to be a pseudo card within the range, it is determined that the card is a temporary genuine card, and if it is determined that at least one of the cards is a fake card, it is determined that the card is a pseudo card, and the result of the determination is determined. The gist of the present invention is to display on the display unit.

【0017】請求項8に記載のカード真偽判定装置は、
前記判定部は、回折パターンのピッチ若しくは方向が複
数種類存在している場合には、その種類の一つ若しくは
全てに対する解析結果で判定することを要旨とする。
[0017] The card authenticity determination device according to claim 8 is
The gist is that, when a plurality of types of pitches or directions of the diffraction pattern exist, the determination unit makes a determination based on an analysis result for one or all of the types.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】次に、本発明のカード真偽判定装
置の実施の形態を図1乃至図6に基づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment of a card authenticity judging device according to the present invention will be described with reference to FIGS.

【0019】図1(A),(B)において、10はカー
ド1の表面に設けられたホログラムシール2に向けてレ
ーザ測定光束Q1を投影する投影系、20はホログラム
2から反射された回折反射光束Q2を受光する受光系、
30は受光系20で受光した回折反射光束Q2に基づい
てカード1の真偽を解析し判定する解析・判定部であ
る。尚、ホログラムシール2には、上述したように回折
パターン3に基づくホログラム画像4が形成されてい
る。
1A and 1B, reference numeral 10 denotes a projection system for projecting a laser measurement light beam Q1 toward a hologram seal 2 provided on the surface of the card 1, and reference numeral 20 denotes a diffraction reflection reflected from the hologram 2. A light receiving system for receiving the light flux Q2,
Reference numeral 30 denotes an analysis / determination unit that analyzes and determines the authenticity of the card 1 based on the diffracted reflected light beam Q2 received by the light receiving system 20. In addition, the hologram image 4 based on the diffraction pattern 3 is formed on the hologram seal 2 as described above.

【0020】投影系10は、レーザ測定光束Q1を出射
する半導体レーザー11と、この半導体レーザー11か
ら出射されたレーザ測定光束Q1を平行光束とするコリ
メーターレンズ12とを備えている。
The projection system 10 includes a semiconductor laser 11 for emitting a laser measurement light beam Q1, and a collimator lens 12 for converting the laser measurement light beam Q1 emitted from the semiconductor laser 11 into a parallel light beam.

【0021】受光系20は、ホログラムシール2の直上
に位置するフーリエ変換レンズ21と、受光部としての
ラインセンサー22とを備えている。カード1は、ホロ
グラムシール2がフーリエ変換レンズ21の前側焦点位
置(受光面側焦点位置)fに位置するように図示を略す
る筐体状本体に挿入される。ラインセンサー22はフー
リエ変換レンズ21の後側焦点位置f’に位置すると共
に、図1(B)に示すように、平面視においてレーザー
測定光束Q1(光軸で示す)と平行に配置されている。
尚、前側焦点位置fと後側焦点位置f’とは等距離であ
る。
The light receiving system 20 includes a Fourier transform lens 21 located immediately above the hologram seal 2 and a line sensor 22 as a light receiving unit. The card 1 is inserted into a housing body (not shown) such that the hologram seal 2 is located at the front focal position (light receiving surface focal position) f of the Fourier transform lens 21. The line sensor 22 is located at the rear focal position f ′ of the Fourier transform lens 21 and, as shown in FIG. 1B, is arranged in parallel with the laser measurement light beam Q1 (indicated by the optical axis) in plan view. .
The front focal position f and the rear focal position f 'are equidistant.

【0022】解析・判定部30は、ラインセンサー22
に形成された回折反射光束Q2の回折パターン像Q2’
(図2(A)参照)を解析する解析部31と、解析部3
1から出力された信号に基づいて真偽判定を行う判定部
32と、その判定結果を表示する表示部33とを備えて
いる。
The analysis / judgment unit 30 includes the line sensor 22
Pattern image Q2 'of diffracted reflected light beam Q2 formed on
(See FIG. 2 (A)) an analyzing unit 31 and an analyzing unit 3
A determination unit 32 that performs a true / false determination based on the signal output from 1 and a display unit 33 that displays the determination result.

【0023】上記の構成において、半導体レーザー11
が点灯されると、レーザー測定光束Q1がホログラムシ
ール2に対する入射角度θを一定としてラインセンサー
22と平面視平行にホログラム画像4に入射される。
In the above configuration, the semiconductor laser 11
Is turned on, the laser measurement light beam Q1 is incident on the hologram image 4 parallel to the line sensor 22 in a plan view while keeping the incident angle θ with respect to the hologram seal 2 constant.

【0024】ホログラム画像4は、この例では、ライン
センサー22の延在方向と直交する方向に各回折パター
ン3が所定ピッチ(例えば、一定ピッチ幅1.0μm)
で形成されているものとする。回折現象は、回折パター
ン3に入射する平行光束のレーザー測定光束Q1のう
ち、回折パターン3の延びる方向に対して垂直に入射す
る入射光ベクトル成分が寄与する。
In this example, the hologram image 4 is such that each diffraction pattern 3 has a predetermined pitch (for example, a constant pitch width of 1.0 μm) in a direction orthogonal to the extending direction of the line sensor 22.
It is assumed to be formed by The diffraction phenomenon is caused by an incident light vector component incident perpendicular to the direction in which the diffraction pattern 3 extends, of the laser measurement light beam Q1 of the parallel light beam incident on the diffraction pattern 3.

【0025】これにより、レーザー測定光束Q1がホロ
グラム画像4に入射されると、図2(A)に示すよう
に、フーリエ変換レンズ21によって回折パターン像
(一次回折光)Q2’がラインセンサー22上に位置す
るように形成される。
As a result, when the laser measurement light beam Q1 is incident on the hologram image 4, a diffraction pattern image (first-order diffraction light) Q2 'is formed on the line sensor 22 by the Fourier transform lens 21, as shown in FIG. It is formed so as to be located at.

【0026】ラインセンサー22は、回折パターン3が
理想的に一定ピッチ幅で揃っているとした場合に中心番
地にレーザー測定光束Q1のピークが位置するものとし
て配置されている。
The line sensor 22 is arranged such that the peak of the laser measurement light beam Q1 is located at the center address when the diffraction patterns 3 are ideally arranged at a constant pitch width.

【0027】一方、回折パターン3は、現実には、図2
(C)に示すように、極小のばらつきが存在する。この
ばらつきは、精度良くホログラム画像4を作成したとし
ても極めて小さい範囲で存在するものであるが、粗雑な
ホログラム画像4であった場合には大きい範囲で発生す
る。以下、説明の便宜上、回折パターン3の理想的なピ
ッチ幅を1.0μmとした場合に、真正のカード1のホ
ログラム画像4の回折パターン3のピッチ誤差を±0.
1μm以下とし、回折パターン3の深さHとする。
On the other hand, the diffraction pattern 3 actually corresponds to FIG.
As shown in (C), there is a minimal variation. This variation exists in a very small range even if the hologram image 4 is created with high accuracy, but occurs in a large range when the hologram image 4 is rough. Hereinafter, for convenience of explanation, when the ideal pitch width of the diffraction pattern 3 is 1.0 μm, the pitch error of the diffraction pattern 3 of the hologram image 4 of the genuine card 1 is ± 0.
1 μm or less, and the depth H of the diffraction pattern 3.

【0028】ラインセンサー22には、カード1に設け
られたホログラム画像4が真正であった場合、回折パタ
ーン3の回折パターン像Q2’が、ほぼ中心番地に形成
される。
When the hologram image 4 provided on the card 1 is authentic, a diffraction pattern image Q2 'of the diffraction pattern 3 is formed on the line sensor 22 substantially at the center address.

【0029】図2(B)は、その際の回折パターン3の
深さHに基づくピーク強度P、回折パターン3のピッチ
幅に基づくピーク位置M、回折パターン3のピッチのば
らつきに基づく所定閾値wでの広がり幅Wで表れる光量
分布Rを示している。判定部32には、これらピーク強
度P、ピーク位置M、広がり幅Wが真正判定許容基準値
として記憶されている。
FIG. 2B shows the peak intensity P based on the depth H of the diffraction pattern 3, the peak position M based on the pitch width of the diffraction pattern 3, and the predetermined threshold w based on the variation in the pitch of the diffraction pattern 3. 5 shows a light amount distribution R expressed by a spread width W in FIG. The determination unit 32 stores the peak intensity P, the peak position M, and the spread width W as authenticity allowable reference values.

【0030】ここで、図3(C)に示すように、回折パ
ターン3の深さが、真正のカード1の回折パターン3の
深さHよりも浅い深さH2であった場合の回折パターン
像Q3では、その光量分布R1のピーク強度P2が光量
分布Rのピーク強度Pよりも低い分布となる。
Here, as shown in FIG. 3C, a diffraction pattern image when the depth of the diffraction pattern 3 is a depth H2 smaller than the depth H of the diffraction pattern 3 of the genuine card 1 In Q3, the peak intensity P2 of the light amount distribution R1 is lower than the peak intensity P of the light amount distribution R.

【0031】また、図4(C)に示すように、回折パタ
ーン3のピッチのばらつきが、真正のカード1の回折パ
ターン3のばらつき(例えば、±0.1μm以下)より
も粗いばらつき(例えば、±0.2μm以上)であった
場合の回折パターン像Q4では、その光量分布R2の閾
値w上での広がり幅W2が光量分布Rの広がり幅Wより
も広い分布となる。
As shown in FIG. 4C, the variation in the pitch of the diffraction pattern 3 is coarser (for example, ± 0.1 μm or less) than the variation in the diffraction pattern 3 of the genuine card 1 (for example, ± 0.1 μm or less). In the diffraction pattern image Q4 in the case of ± 0.2 μm or more, the spread width W2 of the light amount distribution R2 on the threshold w is wider than the spread width W of the light amount distribution R.

【0032】さらに、図5(C)に示すように、回折パ
ターン3のピッチ幅が、真正のカード1の回折パターン
3のピッチ幅(例えば、1.0μm)より広いピッチ幅
(例えば、2.0μm)であった場合の回折パターン像
Q5では、その光量分布R3のピーク位置M2が光量分
布Rのピーク位置Mから左へとずれた分布となる。
Further, as shown in FIG. 5C, the pitch width of the diffraction pattern 3 is larger than the pitch width of the diffraction pattern 3 of the genuine card 1 (for example, 1.0 μm). 0 μm), the peak position M2 of the light amount distribution R3 is shifted to the left from the peak position M of the light amount distribution R in the diffraction pattern image Q5.

【0033】尚、上記各図では、各光量分布R〜R3の
ピーク位置Mを基準としているが、各光量分布R〜R3
で示す重心位置を基準としても良い。
In the above figures, the peak positions M of the light amount distributions R to R3 are used as references, but the light amount distributions R to R3
The center of gravity position indicated by may be used as a reference.

【0034】従って、解析部31は、ラインセンサー2
2上でのこれらの光学的特性を解析して判定部32へと
出力し、判定部32でその出力結果と予め記憶されたピ
ーク強度P、ピーク位置M、広がり幅W(標準偏差)の
真正判定許容基準値とを比較(統計的手法)し、少なく
ともその何れか一つでも真正判定許容基準値と異なって
いる場合、或いは、所定範囲の許容値よりも大きい場合
に偽装カードであると判定し、その判定結果を表示部3
3に出力する。
Accordingly, the analysis unit 31 is provided with the line sensor 2
These optical characteristics are analyzed and output to the determination unit 32. The determination unit 32 determines the authenticity of the output result and the previously stored peak intensity P, peak position M, and spread width W (standard deviation). A comparison is made with a judgment allowable reference value (statistical method), and when at least one of the values is different from the authenticity judgment allowable reference value or is larger than an allowable value in a predetermined range, it is determined that the card is a fake card. And displays the determination result on the display unit 3.
Output to 3.

【0035】例えば、総画素数n個のラインセンサー2
2の画素ナンバーを図2(A)の左から順に1、2、
…、i、…nとし、各画素の光電出力をXiとしたと
き、先ず、ラインセンサー22上での最大強度(ピーク
強度P)とその最大強度を示す画素ナンバーiを検出し
た後、各画素の光電出力Xiから平均値に相当する画素
ナンバー(ピーク位置M)を下記の式(1)から算出す
る。
For example, a line sensor 2 having a total number of n pixels
The pixel numbers of 2 are 1, 2,.
.., I,... N, and the photoelectric output of each pixel is Xi. First, a maximum intensity (peak intensity P) on the line sensor 22 and a pixel number i indicating the maximum intensity are detected. From the photoelectric output Xi, a pixel number (peak position M) corresponding to the average value is calculated from the following equation (1).

【0036】[0036]

【数式1】 [Formula 1]

【0037】また、光量分布の広がりWを上記の式
(2)から求める。
The spread W of the light quantity distribution is obtained from the above equation (2).

【0038】この際、光電出力Xiのうち、所定値以下
を示す画素ナンバーのものは上記数式による演算には用
いない。
At this time, of the photoelectric output Xi, those having a pixel number indicating a value equal to or less than a predetermined value are not used in the calculation by the above formula.

【0039】従って、解析部31は、上述した式
(1),(2)に基づいて演算を行い、その演算結果を
一時的に記憶する機能と、ピーク強度Pを一時的に記憶
する機能とを備えている。
Accordingly, the analysis unit 31 performs a calculation based on the above-described equations (1) and (2), and has a function of temporarily storing the calculation result and a function of temporarily storing the peak intensity P. It has.

【0040】一方、判定部32は、図6に示すように、
許容値制御部34、比較器34a,34b,34c、許
容値設定器35a,35b,35c、総合判定部36を
備えている。
On the other hand, as shown in FIG.
The apparatus includes an allowable value control unit 34, comparators 34a, 34b, 34c, allowable value setting units 35a, 35b, 35c, and an overall judgment unit 36.

【0041】許容値設定器35aは光量分布のピーク強
度Pの許容範囲を設定し、許容値設定器35bは光量分
布の重心位置Mの許容範囲を設定し、許容値設定器35
cは光量分布の広がり幅Wの許容範囲を設定する。
The allowable value setting unit 35a sets the allowable range of the peak intensity P of the light amount distribution, and the allowable value setting unit 35b sets the allowable range of the center of gravity M of the light amount distribution.
c sets the allowable range of the spread width W of the light amount distribution.

【0042】真正のカード1であっても、ホログラム画
像4を形成する回折パターン3の光量分布のピーク強度
P、重心位置M、広がり幅Wが異なることがあり得るの
で、各許容値設定器35a,35b,35cに設定する
許容範囲を許容値制御部34によって制御するのが望ま
しい。
Even in the case of the genuine card 1, since the peak intensity P, the center of gravity M, and the spread width W of the light quantity distribution of the diffraction pattern 3 forming the hologram image 4 may be different, each allowable value setting unit 35a , 35b, 35c is desirably controlled by the tolerance control unit 34.

【0043】比較器34aには解析部31で解析された
ピーク強度Pに関する解析出力が入力され、比較器34
bには解析部31で解析された重心位置Mに関する解析
出力が入力され、比較器34cには解析部31で解析さ
れた広がり幅Wに関する解析出力が入力される。
The comparator 34a receives an analysis output relating to the peak intensity P analyzed by the analyzer 31 and outputs the result to the comparator 34a.
The analysis output regarding the center-of-gravity position M analyzed by the analysis unit 31 is input to b, and the analysis output regarding the spread width W analyzed by the analysis unit 31 is input to the comparator 34c.

【0044】比較器34aは許容値設定器35aにより
設定されたカード真偽判定用のピーク強度許容範囲にピ
ーク強度Pに関する解析出力があるか否かを比較し、比
較器34bは許容値設定器35bにより設定された重心
位置許容範囲に重心位置Mに関する解析出力があるか否
かを比較し、比較器34cは許容値設定器35cにより
設定されたカード真偽判定用の広がり幅許容範囲に広が
り幅Wに関する解析出力があるか否かを比較する。
The comparator 34a compares whether or not there is an analysis output relating to the peak intensity P in the allowable range of the peak intensity for the card authenticity set by the allowable value setting unit 35a. The comparator 34c compares whether or not there is an analysis output related to the center of gravity position M within the allowable range of the center of gravity set by 35b, and the comparator 34c expands to the allowable range of the card width authenticity set by the allowable value setting unit 35c. It is compared whether or not there is an analysis output related to the width W.

【0045】これらの比較結果は、総合判定部36に入
力され、総合判定部36は、これらの比較結果に基づい
て、真正カードか偽装カードかを判定し、その判定結果
は表示部50に表示される。
The results of these comparisons are input to the overall judgment section 36, which determines whether the card is a genuine card or a fake card based on the results of these comparisons, and displays the judgment result on the display section 50. Is done.

【0046】このように、本発明の実施の形態によれ
ば、真正のカードか偽装のカードかの真偽判定を、光量
分布のピーク強度P、重心位置M、広がり幅Wが許容範
囲にあるか否かで判定することにより、ホログラム画像
4の全体画像や広い範囲での部分画像で真偽判定をする
のではなく、より狭い範囲での解析格子3という偽装が
困難な細かい範囲での厳密な真偽判定とすることができ
る。
As described above, according to the embodiment of the present invention, whether the authenticity card is a genuine card or a fake card is determined by determining whether the peak intensity P, the center of gravity M, and the spread width W of the light quantity distribution are within the allowable range. By determining whether the hologram image 4 is true or false based on the entire image of the hologram image 4 or a partial image in a wide range, it is possible to determine whether the analysis grid 3 in a narrower range is strict or not. True / false judgment.

【0047】尚、カード1は、例えば、頻繁な使用によ
る経年劣化によって、回折パターン3の表面が擦り切れ
てしまったり、細かな傷が付いてしまったりすることか
ら、真正のカード1の場合での光量分布のピーク強度
P、重心位置M、広がり幅Wの許容範囲を厳密な範囲と
すると真正カードであるにも関わらず偽装カードである
と判定してしまう虞があるので、各許容範囲(特に、回
折パターン3の深さに起因するピーク強度P)を若干広
くすることも可能である。
In the case of the genuine card 1, the surface of the diffraction pattern 3 is worn out or finely scratched due to, for example, aging due to frequent use. If the allowable ranges of the peak intensity P, the center of gravity position M, and the spread width W of the light quantity distribution are strict, there is a possibility that the card may be determined to be a fake card despite being a genuine card. It is also possible to slightly increase the peak intensity P) caused by the depth of the diffraction pattern 3.

【0048】この際、上述した経年劣化等を考慮して、
光量分布のピーク強度P、重心位置M、広がり幅Wの何
れか一つが厳密に近い許容範囲には含まれないものの、
その厳密な許容範囲から若干ずれた位置にある場合に
は、偽装範囲とは異なる擬似範囲の仮の真正カードとし
て判定すると共に表示部33にその旨を表示して、例え
ば、カード1が利用された店員等の目視による劣化や傷
の確認を促したり、損傷が激しいためにカードの交換を
利用者に促すなどの対応が可能となる。
At this time, in consideration of the above-mentioned aging and the like,
Although any one of the peak intensity P, the center of gravity position M, and the spread width W of the light amount distribution is not included in the strictly close allowable range,
If the card is located at a position slightly deviated from the strict allowable range, it is determined as a genuine genuine card in a pseudo range different from the disguise range, and the fact is displayed on the display unit 33. For example, the card 1 is used. For example, it is possible to prompt a store clerk or the like to visually confirm deterioration or damage, or to prompt a user to replace a card due to severe damage.

【0049】[0049]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のカード真
偽判定装置にあっては、真正のカードか偽装のカードか
の真偽判定を、ホログラム画像の全体画像や広い範囲で
の部分画像で真偽判定をするのではなく、偽装が困難な
より狭い解析格子という細かい範囲での厳密な真偽判定
とすることができる。
As described above, according to the card authenticity determining apparatus of the present invention, the authenticity determination as to whether the card is a genuine card or a fake card is performed by determining the whole image of the hologram image or the partial image in a wide range. Instead of making a true / false decision, it is possible to make a strict truth / false decision within a fine range of a narrower analysis grid that is difficult to disguise.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係わるカード真偽判定装
置を示し、(A)はカード真偽判定装置の概略側面図、
(B)はカード真偽判定装置の概略平面図である。
FIG. 1 shows a card authenticity judging device according to an embodiment of the present invention, (A) is a schematic side view of the card authenticity judging device,
(B) is a schematic plan view of the card authenticity determination device.

【図2】同じく、(A)は回折パターンとフーリエ変換
レンズとラインセンサーとの相対関係の説明図、(B)
は真正のカードの場合の光量分布グラフ図、(C)は真
正のカードの場合の回折パターンの深さとばらつきを説
明するための説明図である。
FIG. 2A is an explanatory diagram of a relative relationship between a diffraction pattern, a Fourier transform lens, and a line sensor, and FIG.
FIG. 4 is a graph showing a light amount distribution in the case of a genuine card, and FIG. 4C is an explanatory diagram for explaining the depth and variation of the diffraction pattern in the case of a genuine card.

【図3】同じく、(A)は回折パターンとフーリエ変換
レンズとラインセンサーとの相対関係の説明図、(B)
は回折パターンの深さが浅い偽装のカードの場合の光量
分布グラフ図、(C)は回折パターンの深さが浅い偽装
のカードを説明するための説明図である。
3A is an explanatory diagram of a relative relationship between a diffraction pattern, a Fourier transform lens, and a line sensor, and FIG.
FIG. 7 is a graph showing a light amount distribution in the case of a camouflaged card having a shallow diffraction pattern, and FIG. 9C is an explanatory diagram for explaining a camouflage card having a shallow diffraction pattern.

【図4】同じく、(A)は回折パターンとフーリエ変換
レンズとラインセンサーとの相対関係の説明図、(B)
は回折パターンのばらつきが大きい偽装のカードの場合
の光量分布グラフ図、(C)は回折パターンのばらつき
が大きい偽装のカードを説明するための説明図である。
FIG. 4A is an explanatory diagram of a relative relationship between a diffraction pattern, a Fourier transform lens, and a line sensor, and FIG.
FIG. 4 is a graph showing a light amount distribution in the case of a camouflaged card having a large variation in diffraction pattern, and FIG. 4C is an explanatory diagram for explaining a camouflage card having a large variation in the diffraction pattern.

【図5】同じく、(A)は回折パターンとフーリエ変換
レンズとラインセンサーとの相対関係の説明図、(B)
は回折パターンのピッチ幅が大きい偽装のカードの場合
の光量分布グラフ図、(C)は回折パターンのピッチ幅
が大きい偽装のカードを説明するための説明図である。
FIG. 5A is an explanatory diagram of a relative relationship between a diffraction pattern, a Fourier transform lens, and a line sensor, and FIG.
FIG. 7 is a graph showing a light amount distribution in the case of a camouflaged card having a large pitch width of a diffraction pattern, and FIG. 7C is an explanatory diagram for explaining a camouflage card having a large pitch width of a diffraction pattern.

【図6】同じく、判定回路のブロック図である。FIG. 6 is also a block diagram of a determination circuit.

【図7】(A)はホログラムシールを表面に貼設したカ
ードの正面図、(B)はホログラムシールの拡大図であ
る。
FIG. 7A is a front view of a card having a hologram seal stuck on its surface, and FIG. 7B is an enlarged view of the hologram seal.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…カード 2…ホログラムシール 3…回折パターン 4…ホログラム画像 10…投影系 20…受光系 21…フーリエ変換レンズ 22…ラインセンサー(受光部) 32…判定部 Q1…レーザー測定光束 Q2…回折反射光束 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Card 2 ... Hologram seal 3 ... Diffraction pattern 4 ... Hologram image 10 ... Projection system 20 ... Light receiving system 21 ... Fourier transform lens 22 ... Line sensor (light receiving part) 32 ... Judgment part Q1 ... Laser measurement light beam Q2 ... Diffraction reflected light beam

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2C005 HA02 HB09 JA18 JB08 LA19 LB17 LB52 2K008 AA13 CC03 EE04 FF21 HH01 HH06 HH28 3E041 AA10 BA11 BB01 CA01 CA03 5B072 AA02 CC02 CC35 DD02 GG07 LL07 LL12 LL18 MM09  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2C005 HA02 HB09 JA18 JB08 LA19 LB17 LB52 2K008 AA13 CC03 EE04 FF21 HH01 HH06 HH28 3E041 AA10 BA11 BB01 CA01 CA03 5B072 AA02 CC02 CC35 DD02 GG07 LL07 LL12 LL18

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】カード表面に設けられ且つ回折パターンに
よって形成されたホログラム画像に向けてレーザ測定光
束を投影する投影系と、ホログラム画像から反射された
回折反射光束により回折パターン像を受光部上に形成す
るフーリエ変換レンズを有する受光系と、前記受光部か
らの信号に基づいてホログラム画像の真偽を判定するた
めの判定部とを備えていることを特徴とするカード真偽
判定装置。
1. A projection system provided on a card surface and projecting a laser measurement light beam toward a hologram image formed by a diffraction pattern, and a diffraction pattern image formed on a light receiving portion by a diffraction reflection light beam reflected from the hologram image. A card authenticity determining apparatus comprising: a light receiving system having a Fourier transform lens to be formed; and a determining unit for determining the authenticity of a hologram image based on a signal from the light receiving unit.
【請求項2】前記判定部は、その判定結果を表示する表
示部を備えていることを特徴とする請求項1に記載のカ
ード真偽判定装置。
2. The card authenticity judging device according to claim 1, wherein said judging section includes a display section for displaying the judgment result.
【請求項3】前記判定部は、回折パターン像を解析する
ための解析部からの解析結果に基づいてホログラム画像
の真偽を判定することを特徴とする請求項1又は請求項
2に記載のカード真偽判定装置。
3. The method according to claim 1, wherein the determination unit determines the authenticity of the hologram image based on an analysis result from an analysis unit for analyzing the diffraction pattern image. Card authenticity judgment device.
【請求項4】前記解析部は、回折パターン像の形成位
置,ピーク強度,広がり幅を解析して前記判定部にその
解析結果を出力することを特徴とする請求項3に記載の
カード真偽判定装置。
4. The authenticity of the card according to claim 3, wherein the analysis unit analyzes a formation position, a peak intensity, and a spread width of the diffraction pattern image and outputs the analysis result to the determination unit. Judgment device.
【請求項5】前記判定部は、回折パターン像の形成位
置,ピーク強度,広がり幅のうち、その全てが真正であ
ると判定した場合に、真正カードであると判定すると共
に真正カードである旨を前記表示部に表示させることを
特徴とする請求項4に記載のカード真偽判定装置。
5. When the determination unit determines that all of the diffraction pattern image formation position, peak intensity, and spread width are genuine, the determination unit determines that the card is a genuine card and that the card is a genuine card. 5 is displayed on the display unit.
【請求項6】前記判定部は、回折パターン像の形成位
置,ピーク強度,広がり幅のうち、その何れか一つ以上
が偽装であると判定した場合に、偽装カードであると判
定すると共に偽装カードである旨を前記表示部に表示さ
せることを特徴とする請求項4に記載のカード真偽判定
装置。
6. When the determination unit determines that at least one of the formation position, the peak intensity, and the spread width of the diffraction pattern image is a fake, the determination unit determines that the card is a fake card. The card authenticity judging device according to claim 4, wherein the card is displayed on the display unit.
【請求項7】前記判定部は、回折パターン像の形成位
置,ピーク強度,広がり幅のうち、その全てが真正であ
ると判定した場合には真正カードであると判定し、その
何れか一つのみが所定の解析範囲内で擬似であると判定
した場合には仮の真正カードであると判定し、その何れ
か一つ以上が偽装であると判定した場合には擬似カード
であると判定し、その判定結果を前記表示部に表示させ
ることを特徴とする請求項4に記載のカード真偽判定装
置。
7. The determination unit determines that the card is a genuine card when all of the formation position, peak intensity, and spread width of the diffraction pattern image are genuine. If only one is determined to be a pseudo card within the predetermined analysis range, it is determined to be a temporary genuine card, and if it is determined that at least one of the cards is a counterfeit card, it is determined to be a pseudo card. 5. The card authenticity determination device according to claim 4, wherein the determination result is displayed on the display unit.
【請求項8】前記判定部は、回折パターンのピッチ若し
くは方向が複数種類存在している場合には、その種類の
一つ若しくは全てに対する解析結果で判定することを特
徴とする請求項4に記載のカード真偽判定装置。
8. The apparatus according to claim 4, wherein when there are a plurality of types of pitches or directions of the diffraction pattern, the determination unit makes a determination based on an analysis result for one or all of the types. Card authenticity judgment device.
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