JP2001306259A - タッチパネルスキャン方式 - Google Patents
タッチパネルスキャン方式Info
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- JP2001306259A JP2001306259A JP2000119168A JP2000119168A JP2001306259A JP 2001306259 A JP2001306259 A JP 2001306259A JP 2000119168 A JP2000119168 A JP 2000119168A JP 2000119168 A JP2000119168 A JP 2000119168A JP 2001306259 A JP2001306259 A JP 2001306259A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 タッチパネル装置において、チャッタが発生
しても、正確な座標データを得る。 【解決手段】 タッチパネルがタッチされた際タッチ位
置に応じて測定された測定電圧値を前記タッチ位置の座
標データに変換して出力する際、タッチパネルがタッチ
されると、測定電圧値を複数回測定して第１回目の測定
電圧値を基準電圧値とし第２回目以降の測定電圧値を比
較電圧値とする。基準電圧値と比較電圧値とを順次比較
して連続して予め定められた規定回数一致すると基準電
圧値又は比較値を座標データに変換する。
しても、正確な座標データを得る。 【解決手段】 タッチパネルがタッチされた際タッチ位
置に応じて測定された測定電圧値を前記タッチ位置の座
標データに変換して出力する際、タッチパネルがタッチ
されると、測定電圧値を複数回測定して第１回目の測定
電圧値を基準電圧値とし第２回目以降の測定電圧値を比
較電圧値とする。基準電圧値と比較電圧値とを順次比較
して連続して予め定められた規定回数一致すると基準電
圧値又は比較値を座標データに変換する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はタッチペン等で操作
する情報端末装置で用いられるタッチパネルスキャン方
式に関する。
する情報端末装置で用いられるタッチパネルスキャン方
式に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、スケジューラ又は携帯端末等の
情報端末装置では、所謂タッチパネルを備えているもの
がある。このような情報端末装置では、タッチパネルス
キャンの際、タッチパネルがタッチペン等で押圧される
と、その電圧値を複数回サンプリングして、これらサン
プリング値の平均をとって座標データとしている。
情報端末装置では、所謂タッチパネルを備えているもの
がある。このような情報端末装置では、タッチパネルス
キャンの際、タッチパネルがタッチペン等で押圧される
と、その電圧値を複数回サンプリングして、これらサン
プリング値の平均をとって座標データとしている。
【０００３】ここで、図２を参照して、タッチパネルス
キャンの原理について概説する。
キャンの原理について概説する。
【０００４】一般に、タッチパネルは、二枚の抵抗板１
１及び１２（ここでは、上側の抵抗板１１を上部抵抗板
１１と呼び、下側の抵抗板１２を下部抵抗板１２と呼
ぶ）を備えており、これら上部抵抗板１１及び下部抵抗
板１２が互いに接触しない程度の距離をもって平行状態
に配列されている。図示のように、上部抵抗板１１に
は、図中、横方向（Ｘ軸方向）に電圧が排他的に印加さ
れ、下部抵抗板１１には、図中、縦方向（Ｙ軸方向）に
電圧が排他的に印加される。
１及び１２（ここでは、上側の抵抗板１１を上部抵抗板
１１と呼び、下側の抵抗板１２を下部抵抗板１２と呼
ぶ）を備えており、これら上部抵抗板１１及び下部抵抗
板１２が互いに接触しない程度の距離をもって平行状態
に配列されている。図示のように、上部抵抗板１１に
は、図中、横方向（Ｘ軸方向）に電圧が排他的に印加さ
れ、下部抵抗板１１には、図中、縦方向（Ｙ軸方向）に
電圧が排他的に印加される。
【０００５】上部抵抗板１１にはＸ座標方向の両端にそ
れぞれ電極１１ａ及び１１ｂが設けられ、下部抵抗板１
２にはＹ座標方向の両端にそれぞれ電極１２ａ及び１２
ｂが設けられており、電極１１ａ及び１２ａはスイッチ
１３を介して電源（Ｅ）に選択的に接続され、電極１１
ｂ及び１２ｂはスイッチ１４を介して接地される。な
お、スイッチ１３及び１４は連動する。さらに、電極１
１ｂ及び１２ｂは制御装置（ＣＰＵ）１５に接続されて
いる。
れぞれ電極１１ａ及び１１ｂが設けられ、下部抵抗板１
２にはＹ座標方向の両端にそれぞれ電極１２ａ及び１２
ｂが設けられており、電極１１ａ及び１２ａはスイッチ
１３を介して電源（Ｅ）に選択的に接続され、電極１１
ｂ及び１２ｂはスイッチ１４を介して接地される。な
お、スイッチ１３及び１４は連動する。さらに、電極１
１ｂ及び１２ｂは制御装置（ＣＰＵ）１５に接続されて
いる。
【０００６】いま、タッチペン１６でタッチパネルをタ
ッチすると（押圧すると）、その押圧ポイント（入力
点）で上部抵抗板１１と下部抵抗板１２とが接触する。
この結果、図示のように、入力点において、上部抵抗板
１１では、抵抗Ｒｘ１と抵抗Ｒｘ２とによって分圧され
た電圧（以下Ｘ軸電圧という）が現れ、下部抵抗板１２
では、抵抗Ｒｙ１と抵抗Ｒｙ２とによって分圧された電
圧（以下Ｙ軸電圧という）が現れる。これらＸ軸電圧及
びＹ軸電圧（電圧値ＡＤｘ及びＡＤｙ）はＣＰＵ１５に
与えられ、ＣＰＵ１５はＸ軸電圧及びＹ軸電圧を座標デ
ータに変換して出力する。
ッチすると（押圧すると）、その押圧ポイント（入力
点）で上部抵抗板１１と下部抵抗板１２とが接触する。
この結果、図示のように、入力点において、上部抵抗板
１１では、抵抗Ｒｘ１と抵抗Ｒｘ２とによって分圧され
た電圧（以下Ｘ軸電圧という）が現れ、下部抵抗板１２
では、抵抗Ｒｙ１と抵抗Ｒｙ２とによって分圧された電
圧（以下Ｙ軸電圧という）が現れる。これらＸ軸電圧及
びＹ軸電圧（電圧値ＡＤｘ及びＡＤｙ）はＣＰＵ１５に
与えられ、ＣＰＵ１５はＸ軸電圧及びＹ軸電圧を座標デ
ータに変換して出力する。
【０００７】上述の説明から明らかなように、タッチペ
ン１６の入力点に応じてＸ軸電圧及びＹ軸電圧が変化す
るから、Ｘ軸電圧及びＹ軸電圧によって、ＣＰＵ１５は
タッチパネル上の座標データを得ることができる。
ン１６の入力点に応じてＸ軸電圧及びＹ軸電圧が変化す
るから、Ｘ軸電圧及びＹ軸電圧によって、ＣＰＵ１５は
タッチパネル上の座標データを得ることができる。
【０００８】従来、座標データを得る際には、ＣＰＵ１
５は、次のシーケンスを実行している。
５は、次のシーケンスを実行している。
【０００９】図３も参照して、タッチペン１６でタッチ
パネルをタッチすると、前述のようにして、Ｘ軸電圧及
びＹ軸電圧がＣＰＵ１５に与えられる（つまり、ＣＰＵ
１５は電圧値を測定する。ステップＳ１）。そして、Ｃ
ＰＵ１５では、この測定電圧値を前の測定電圧値に加算
するとともに測定回数をインクリメントする（ステップ
Ｓ２）。その後、測定回数が規定回数となったか否かを
判定する（ステップＳ３）。
パネルをタッチすると、前述のようにして、Ｘ軸電圧及
びＹ軸電圧がＣＰＵ１５に与えられる（つまり、ＣＰＵ
１５は電圧値を測定する。ステップＳ１）。そして、Ｃ
ＰＵ１５では、この測定電圧値を前の測定電圧値に加算
するとともに測定回数をインクリメントする（ステップ
Ｓ２）。その後、測定回数が規定回数となったか否かを
判定する（ステップＳ３）。
【００１０】このようにして、ステップＳ１乃至Ｓ３を
実行して、測定回数が規定回数となると、ＣＰＵ１５は
測定電圧の平均電圧値を算出する（ステップＳ４）。つ
まり、測定電圧値の加算値（合計値）／規定回数を求め
る。そして、ＣＰＵ１５は、この平均電圧値を座標デー
タに変換して通知する（ステップＳ５）。
実行して、測定回数が規定回数となると、ＣＰＵ１５は
測定電圧の平均電圧値を算出する（ステップＳ４）。つ
まり、測定電圧値の加算値（合計値）／規定回数を求め
る。そして、ＣＰＵ１５は、この平均電圧値を座標デー
タに変換して通知する（ステップＳ５）。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】ところで、タッチパネ
ルでは、タッチペンでタッチパネルをタッチした際、そ
の押圧力がしっかりしていることが前提であり、つま
り、押圧力がある程度強いことが前提であり、例えば、
タッチパネルを軽くなぞった場合には上部抵抗板と下部
抵抗板との接触位置が一定せず、所謂チャッタが頻繁に
発生する。
ルでは、タッチペンでタッチパネルをタッチした際、そ
の押圧力がしっかりしていることが前提であり、つま
り、押圧力がある程度強いことが前提であり、例えば、
タッチパネルを軽くなぞった場合には上部抵抗板と下部
抵抗板との接触位置が一定せず、所謂チャッタが頻繁に
発生する。
【００１２】このようにチャッタが発生すると、実際に
タッチしている座標値（正しいと思われる座標値）を中
央値として座標値が変動しておらず、このようにして、
測定された電圧値を平均化すると、実際にタッチしてい
る座標値（位置）とは異なる座標値が得られてしまうと
いう問題点がある。
タッチしている座標値（正しいと思われる座標値）を中
央値として座標値が変動しておらず、このようにして、
測定された電圧値を平均化すると、実際にタッチしてい
る座標値（位置）とは異なる座標値が得られてしまうと
いう問題点がある。
【００１３】つまり、従来のタッチパネルスキャン方式
では、チャッタが発生すると、正確な座標値が得られな
いという問題点がある。
では、チャッタが発生すると、正確な座標値が得られな
いという問題点がある。
【００１４】本発明の目的はチャッタが発生しても、正
確な座標値を得ることのできるタッチパネルスキャン方
式を提供することにある。
確な座標値を得ることのできるタッチパネルスキャン方
式を提供することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、タッチ
パネルがタッチされた際タッチ位置に応じて測定された
測定電圧値を前記タッチ位置の座標データに変換して出
力する際に用いられ、前記タッチパネルがタッチされた
際、前記測定電圧値を複数回測定して第１回目の測定電
圧値を基準電圧値とし第２回目以降の測定電圧値を比較
電圧値とする第１の手段と、前記基準電圧値と前記比較
電圧値とを順次比較して連続して予め定められた規定回
数一致すると前記測定電圧値を前記座標データに変換す
る第２の手段とを有することを特徴とするタッチパネル
スキャン方式が得られる。
パネルがタッチされた際タッチ位置に応じて測定された
測定電圧値を前記タッチ位置の座標データに変換して出
力する際に用いられ、前記タッチパネルがタッチされた
際、前記測定電圧値を複数回測定して第１回目の測定電
圧値を基準電圧値とし第２回目以降の測定電圧値を比較
電圧値とする第１の手段と、前記基準電圧値と前記比較
電圧値とを順次比較して連続して予め定められた規定回
数一致すると前記測定電圧値を前記座標データに変換す
る第２の手段とを有することを特徴とするタッチパネル
スキャン方式が得られる。
【００１６】さらに、前記第２の手段は、前記基準電圧
値と前記比較電圧値とを順次比較して一致した回数を一
致カウント値としてカウントとしており、前記基準電圧
と第ｎ回目（ｎは２以上の整数）の前記比較電圧値とが
不一致であると、前記第ｎ回目の比較電圧値を前記基準
電圧値とするとともに前記一致カウント値を初期化する
ようにしており、前記一致カウント値が前記規定回数と
なると前記基準電圧値又は前記比較電圧値を前記座標デ
ータに変換する。
値と前記比較電圧値とを順次比較して一致した回数を一
致カウント値としてカウントとしており、前記基準電圧
と第ｎ回目（ｎは２以上の整数）の前記比較電圧値とが
不一致であると、前記第ｎ回目の比較電圧値を前記基準
電圧値とするとともに前記一致カウント値を初期化する
ようにしており、前記一致カウント値が前記規定回数と
なると前記基準電圧値又は前記比較電圧値を前記座標デ
ータに変換する。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下本発明について実施の形態に
基づいて説明する。
基づいて説明する。
【００１８】本発明で用いられるタッチパネル装置は、
例えば、図２に示す装置であり、本発明では、ＣＰＵ１
５の機能が図３に関連して説明した機能と異なるので、
実施の形態の説明に当たっては、図２において、ＣＰＵ
の参照番号を２１とする。
例えば、図２に示す装置であり、本発明では、ＣＰＵ１
５の機能が図３に関連して説明した機能と異なるので、
実施の形態の説明に当たっては、図２において、ＣＰＵ
の参照番号を２１とする。
【００１９】本発明では、ＣＰＵ２１は、図１に示すシ
ーケンスを実行する。図１及び図２を参照して、タッチ
ペン１６でタッチパネルをタッチすると、Ｘ軸電圧及び
Ｙ軸電圧がＣＰＵ２１に与えられる（つまり、ＣＰＵ２
１は電圧値を測定する）。つまり、タッチペン１６でタ
ッチパネルをタッチすると、ＣＰＵ２１は、まず、一回
目の電圧値の測定を行い、この一回目の測定電圧値を基
本電圧値Ｖａとする（ステップＰ１）。続いて、ＣＰＵ
２１は、二回目の電圧値の測定を行い、この二回目の測
定電圧値を比較電圧値Ｖｂとする（ステップＰ２）。そ
して、ＣＰＵ２１は、Ｖａ＝Ｖｂであるか否かを調べる
（ステップＰ３）。ステップＰ３において、Ｖａ＝Ｖｂ
でないと、ＣＰＵ２１は、比較電圧値Ｖｂを基準電圧値
Ｖａとする。つまり、二回目の測定電圧値を基準電圧値
とする（ステップＰ４）。その後、ＣＰＵ２１は、内蔵
する一致カウンタを初期化して（ステップＰ５）、ステ
ップＰ２に戻る。
ーケンスを実行する。図１及び図２を参照して、タッチ
ペン１６でタッチパネルをタッチすると、Ｘ軸電圧及び
Ｙ軸電圧がＣＰＵ２１に与えられる（つまり、ＣＰＵ２
１は電圧値を測定する）。つまり、タッチペン１６でタ
ッチパネルをタッチすると、ＣＰＵ２１は、まず、一回
目の電圧値の測定を行い、この一回目の測定電圧値を基
本電圧値Ｖａとする（ステップＰ１）。続いて、ＣＰＵ
２１は、二回目の電圧値の測定を行い、この二回目の測
定電圧値を比較電圧値Ｖｂとする（ステップＰ２）。そ
して、ＣＰＵ２１は、Ｖａ＝Ｖｂであるか否かを調べる
（ステップＰ３）。ステップＰ３において、Ｖａ＝Ｖｂ
でないと、ＣＰＵ２１は、比較電圧値Ｖｂを基準電圧値
Ｖａとする。つまり、二回目の測定電圧値を基準電圧値
とする（ステップＰ４）。その後、ＣＰＵ２１は、内蔵
する一致カウンタを初期化して（ステップＰ５）、ステ
ップＰ２に戻る。
【００２０】一方、ステップＰ３において、Ｖａ＝Ｖｂ
であると、ＣＰＵ２１は一致カウンタをインクリメント
して（ステップＰ６）、一致カウンタのカウント数が予
め設定された規定回数となったか否かを調べる（ステッ
プＰ７）。一致カウンタのカウント数が規定回数未満で
あると、ＣＰＵ２１は再びステップＰ２を実行する。
であると、ＣＰＵ２１は一致カウンタをインクリメント
して（ステップＰ６）、一致カウンタのカウント数が予
め設定された規定回数となったか否かを調べる（ステッ
プＰ７）。一致カウンタのカウント数が規定回数未満で
あると、ＣＰＵ２１は再びステップＰ２を実行する。
【００２１】このようにして、ステップＰ２では、順次
三回目の電圧値を測定して、この測定電圧を比較電圧Ｖ
ｂとして、前述のようにして、ステップＰ３乃至Ｐ７を
実行する。
三回目の電圧値を測定して、この測定電圧を比較電圧Ｖ
ｂとして、前述のようにして、ステップＰ３乃至Ｐ７を
実行する。
【００２２】ステップＰ７において、一致カウンタのカ
ウント数が規定回数となると、ＣＰＵ２１は比較電圧値
Ｖｂ（又は基準電圧値Ｖａ）を座標データＶａ´に変換
して出力（通知）する（ステップＰ８）。
ウント数が規定回数となると、ＣＰＵ２１は比較電圧値
Ｖｂ（又は基準電圧値Ｖａ）を座標データＶａ´に変換
して出力（通知）する（ステップＰ８）。
【００２３】上述のように、本発明では、予め定められ
た規定回数（例えば、ｎ回（ｎは２以上の整数）、基準
電圧値Ｖａと比較電圧Ｖｂとが一致すると、比較電圧値
Ｖｂ（又は基準電圧値Ｖａ）を座標データＶａ´に変換
して出力（通知）するようにしたので、チャッタが発生
した際においても、従来のように平均化する手法に比べ
て、誤差の少ない座標データを得ることができる。
た規定回数（例えば、ｎ回（ｎは２以上の整数）、基準
電圧値Ｖａと比較電圧Ｖｂとが一致すると、比較電圧値
Ｖｂ（又は基準電圧値Ｖａ）を座標データＶａ´に変換
して出力（通知）するようにしたので、チャッタが発生
した際においても、従来のように平均化する手法に比べ
て、誤差の少ない座標データを得ることができる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、予め
定められた規定回数、基準電圧値と比較電圧とが一致す
ると、座標データを出力するようにしたので、チャッタ
が発生した際においても、従来のように平均化する手法
に比べて、誤差の少ない座標データを得ることができる
という効果がある。つまり、本発明によれば、チャッタ
が発生しても、正確な座標データを得ることができると
いう効果がある。
定められた規定回数、基準電圧値と比較電圧とが一致す
ると、座標データを出力するようにしたので、チャッタ
が発生した際においても、従来のように平均化する手法
に比べて、誤差の少ない座標データを得ることができる
という効果がある。つまり、本発明によれば、チャッタ
が発生しても、正確な座標データを得ることができると
いう効果がある。
【図１】本発明によるタッチパネルスキャン方式の一例
を説明するためのフローチャートである。
を説明するためのフローチャートである。
【図２】タッチパネル装置の原理を説明するための図で
ある。
ある。
【図３】従来のタッチパネルスキャン方式を説明するた
めのフローチャートである。
めのフローチャートである。
１１，１２ 抵抗板 １１ａ，１１ｂ，１２ａ、１２ｂ 電極 １３，１４ スイッチ １５，２１ 制御装置（ＣＰＵ） １６ タッチペン
Claims (3)
- 【請求項１】 タッチパネルがタッチされた際タッチ位
置に応じて測定された測定電圧値を前記タッチ位置の座
標データに変換して出力する際に用いられ、前記タッチ
パネルがタッチされた際、前記測定電圧値を複数回測定
して第１回目の測定電圧値を基準電圧値とし第２回目以
降の測定電圧値を比較電圧値とする第１の手段と、前記
基準電圧値と前記比較電圧値とを順次比較して連続して
予め定められた規定回数一致すると前記測定電圧値を前
記座標データに変換する第２の手段とを有することを特
徴とするタッチパネルスキャン方式。 - 【請求項２】 請求項１に記載されたタッチパネルスキ
ャン方式において、前記第２の手段は、前記基準電圧値
と前記比較電圧値とを順次比較して一致した回数を一致
カウント値としてカウントとしており、前記基準電圧と
第ｎ回目（ｎは２以上の整数）の前記比較電圧値とが不
一致であると、前記第ｎ回目の比較電圧値を前記基準電
圧値とするとともに前記一致カウント値を初期化するよ
うにしてしたことを特徴とするタッチパネルスキャン方
式。 - 【請求項３】 請求項２に記載されたタッチパネルスキ
ャン方式において、前記第２の手段は、前記一致カウン
ト値が前記規定回数となると前記基準電圧値又は前記比
較電圧値を前記座標データに変換するようにしたことを
特徴とするタッチパネルスキャン方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000119168A JP2001306259A (ja) | 2000-04-20 | 2000-04-20 | タッチパネルスキャン方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000119168A JP2001306259A (ja) | 2000-04-20 | 2000-04-20 | タッチパネルスキャン方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001306259A true JP2001306259A (ja) | 2001-11-02 |
Family
ID=18630197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000119168A Pending JP2001306259A (ja) | 2000-04-20 | 2000-04-20 | タッチパネルスキャン方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001306259A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005048094A1 (ja) * | 2003-11-17 | 2005-05-26 | Sony Corporation | 入力装置、情報処理装置、リモートコントロール装置および入力装置の制御方法 |
| JP2005149405A (ja) * | 2003-11-19 | 2005-06-09 | Sony Corp | 入力装置、情報処理装置、リモートコントロール装置および入力装置の制御方法 |
| JP2005149197A (ja) * | 2003-11-17 | 2005-06-09 | Sony Corp | 入力装置、情報処理装置、リモートコントロール装置および入力装置の制御方法 |
| EP1630652A1 (en) * | 2004-03-22 | 2006-03-01 | High Tech Computer Corp. | Coordinate positioning device with anti-noise method |
| KR101040925B1 (ko) | 2009-09-08 | 2011-06-17 | 한국과학기술원 | 터치스크린의 리드아웃 회로부 |
-
2000
- 2000-04-20 JP JP2000119168A patent/JP2001306259A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005048094A1 (ja) * | 2003-11-17 | 2005-05-26 | Sony Corporation | 入力装置、情報処理装置、リモートコントロール装置および入力装置の制御方法 |
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| CN100385377C (zh) * | 2003-11-17 | 2008-04-30 | 索尼株式会社 | 输入设备、信息处理设备、遥控设备以及输入设备的控制方法 |
| US7728819B2 (en) | 2003-11-17 | 2010-06-01 | Sony Corporation | Input device, information processing device, remote control device, and input device control method |
| JP2005149405A (ja) * | 2003-11-19 | 2005-06-09 | Sony Corp | 入力装置、情報処理装置、リモートコントロール装置および入力装置の制御方法 |
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| KR101040925B1 (ko) | 2009-09-08 | 2011-06-17 | 한국과학기술원 | 터치스크린의 리드아웃 회로부 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040128 |