JP2001268448A - Sorting method for image pickup element, image pickup element and image pickup device - Google Patents
Sorting method for image pickup element, image pickup element and image pickup deviceInfo
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Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、オプティカルブラ
ック（光学的黒：ＯＢ）の欠陥判定を通常より厳しい判
定条件とした撮像素子の選別方法と、この選別方法によ
って選別され使用可能条件が記載された撮像素子、更に
は撮像素子の使用条件に基づいた露光時間の制御等を行
う撮像装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for selecting an image pickup element in which a defect judgment of an optical black (optical black: OB) is made a stricter judgment condition than usual, and a condition which can be used by being selected by this method. More specifically, the present invention relates to an imaging device for controlling an exposure time based on a use condition of the imaging device.
【０００２】[0002]
【従来の技術】ＣＣＤ等の撮像素子を用いた撮像装置に
おいては、温度などの条件変動に伴って大きく変動する
暗電流のＤＣ分を取り除くためにＯＢクランプ回路が設
けられている。旧くは全アナログ回路であったが、近年
の回路デジタル化に伴いデジタル回路が採用され、例え
ば特開平９−８３８３６号公報には、Ａ／Ｄコンバータ
前段のアナログ部にＡ／Ｄのデジタル出力からフィード
バックしたＤＣバイアスを重畳する、デジタル検出アナ
ログフィードバックＯＢクランプの技術も記載されてい
る。この方式を用いれば、Ａ／Ｄレンジを充分に取るこ
とができ、またＡ／Ｄコンバータの分解能以下での処理
が可能である。2. Description of the Related Art In an image pickup apparatus using an image pickup device such as a CCD, an OB clamp circuit is provided in order to remove a DC component of a dark current which fluctuates greatly with a change in conditions such as temperature. In the past, all analog circuits were used, but digital circuits have been adopted in accordance with the recent digitization of circuits. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-83836 discloses that an analog section before an A / D converter receives an A / D digital output. A technique of digitally detected analog feedback OB clamp that superimposes the fed back DC bias is also described. If this method is used, the A / D range can be sufficiently obtained, and processing at a resolution lower than the resolution of the A / D converter is possible.
【０００３】このようなデジタル化されたＯＢクランプ
のクランプ基準としては原理的には垂直（Ｖ）ＯＢを用
いても、水平（Ｈ）ＯＢを用いてもよいが、スミアの混
入による悪影響を避けるという意味から、回路設計上の
要請が大きかったアナログ回路時代と同様にＨＯＢを用
いることが望ましい。[0003] In principle, a vertical (V) OB or a horizontal (H) OB may be used as a clamp reference for such a digitized OB clamp, but an adverse effect due to the incorporation of smear is avoided. In this sense, it is desirable to use the HOB as in the analog circuit era where there has been a great demand for circuit design.
【０００４】ＯＢクランプ回路の方式を問わず、ＯＢ領
域からは正常な画素出力が出力されていることが前提で
あり、ＯＢ領域にいわゆる画素欠陥が存在した場合はク
ランプ情報の中に本来のＯＢ画素情報以外の情報が混入
してしまうため、クランプが誤動作してしまい画質不良
を生じてしまう。特に、ＨＯＢクランプを採用している
場合には、当該ラインだけがその上下のラインとは異な
った誤クランプ（クランプずれ）を生じるため、信号レ
ベル差が筋状のノイズ（ライン段差）となって極めて目
立ち易く、僅かな欠陥の存在が画質不良の原因となるも
のである。Regardless of the type of the OB clamp circuit, it is assumed that a normal pixel output is output from the OB area. If a so-called pixel defect exists in the OB area, the original OB is included in the clamp information. Since information other than the pixel information is mixed, the clamp malfunctions and the image quality is deteriorated. In particular, when the HOB clamp is adopted, only the line concerned causes an erroneous clamp (clamp shift) different from the lines above and below the line, so that the signal level difference becomes streak-like noise (line step). It is extremely noticeable, and the presence of slight defects causes poor image quality.
【０００５】ところで、通常の有効画素領域の画素欠陥
に関しては、撮像装置における信号処理の過程で、当該
欠陥画素の画素信号を無効とし周辺画素の情報で補完す
るなどの対策が取られる。そして、このための欠陥情報
は予め所定露光時間の露光を行って、その出力画像信号
のレベルを解析、判定することによってその検出が行わ
れている。具体的には、所定の信号出力が出力されな
い、いわゆる黒欠陥画素や、暗電流のレベルが他の画素
に比して極端に大きい白欠陥画素などを検出し、その画
素位置（アドレス）情報を欠陥情報としてしている。With respect to pixel defects in a normal effective pixel area, countermeasures such as invalidating the pixel signal of the defective pixel and complementing it with information on peripheral pixels are taken in the course of signal processing in the imaging apparatus. The defect information is detected by performing exposure for a predetermined exposure time in advance and analyzing and determining the level of the output image signal. Specifically, a so-called black defective pixel where a predetermined signal output is not output, a white defective pixel whose dark current level is extremely large compared to other pixels, and the like are detected, and the pixel position (address) information is detected. Defect information.
【０００６】このように、通常の画素欠陥対策としては
その欠陥画素の判定に当たっては信号レベルを用いる
が、撮像装置ではそのアドレス情報だけが使用され、当
該画素の情報は補完に際して無効化されるから、その欠
陥レベル自体はその撮像素子が使用可能であるかどうか
の合否判定に際しては問題にはならない。また、これら
通常の有効画素領域の出力画像信号とは、既に上記ＯＢ
クランプ処理を受けた後の信号である。As described above, a signal level is used in the determination of a defective pixel as a normal countermeasure against a pixel defect, but only the address information is used in an image pickup apparatus, and the information of the pixel is invalidated in complementation. The defect level itself does not matter when determining whether or not the imaging device is usable. The output image signals of these normal effective pixel areas are already OB
This is the signal after the clamp process.
【０００７】これに対して、ＯＢ領域の画素については
上記ＯＢクランプに使用されるものであるから、上記補
完処理を適用することができない。また、上記したよう
に僅かなレベルの欠陥でも目立ち易いという問題があっ
た。On the other hand, since the pixels in the OB area are used for the OB clamp, the above-described complementary processing cannot be applied. Further, as described above, there is a problem that even a slight level of defect is conspicuous.
【０００８】これは、特に温度や露光時間などの使用条
件を様々に設定した場合により大きな問題になるもので
ある。何故なら、一般的な使用状況では少なくともＯＢ
部には問題となるような画素欠陥を有しない撮像素子で
あったとしても、温度上昇に伴いその暗電流レベルは増
大し、またそれによる暗出力レベルは露光時間（厳密に
は蓄積時間）にほぼ比例して増大するため、高温下での
使用や長時間露光を行なう場合には潜在していた画素欠
陥が顕在化し、上記筋状のノイズを生じてしまう畏れが
あるからである。そしてこれは、通常の有効画素領域の
暗電荷による点状の孤立ノイズよりも目立ち易いもので
あった。[0008] This is a more serious problem particularly when various use conditions such as temperature and exposure time are set. Because at least OB in general use situation
Even if the imaging device does not have a pixel defect that causes a problem, the dark current level increases as the temperature rises, and the dark output level due to the increase in the exposure time (strictly speaking, the accumulation time) This is because, when used at a high temperature or when exposure is performed for a long time, latent pixel defects become apparent, and there is a fear that the above-mentioned streak-like noise may occur. This is more conspicuous than a point-like isolated noise caused by dark charges in a normal effective pixel area.
【０００９】[0009]
【発明が解決しようとする課題】このように従来、撮像
素子のＯＢ領域に画素欠陥が存在すると、これを使用し
た撮像装置においては画質不良を招くことになる。ま
た、ＯＢ領域に欠陥が無い撮像素子であっても、長時間
露光に伴う電荷蓄積により潜在欠陥が顕在化して、画質
劣化を生じる不具合があった。As described above, conventionally, if a pixel defect exists in the OB region of the image pickup device, an image quality defect is caused in an image pickup apparatus using the same. Further, even in an image pickup device having no defect in the OB region, there is a problem that latent defects become apparent due to charge accumulation due to long-time exposure and image quality deteriorates.
【００１０】本発明は、上記事情を考慮してなされたも
ので、その目的とするところは、撮像装置の仕様条件
（温度・露出時間）の範囲内で、ＯＢ画素欠陥によって
ＯＢクランプに際して発生する画質劣化を生じない撮像
素子を選別するための撮像素子の選別方法を提供するこ
とにある。The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and an object thereof is to occur during OB clamping due to an OB pixel defect within a range of specification conditions (temperature and exposure time) of an imaging device. An object of the present invention is to provide a method for selecting an image sensor for selecting an image sensor that does not cause deterioration in image quality.
【００１１】また、本発明の他の目的は、上記の選別方
法を適用して選別され、撮像装置を製造する際の作業効
率を高める撮像素子を提供することにある。また、本発
明の更に他の目的は、この選別方法を適用した撮像素子
を用いるて画質劣化を生じないようにした撮像装置を提
供することにある。Another object of the present invention is to provide an image pickup device which is selected by applying the above-described selection method and which improves the working efficiency when manufacturing an image pickup device. Still another object of the present invention is to provide an image pickup apparatus using an image pickup device to which this sorting method is applied so that image quality does not deteriorate.
【００１２】[0012]
【課題を解決するための手段】（構成）上記課題を解決
するために本発明は次のような構成を採用している。(Structure) In order to solve the above problem, the present invention employs the following structure.
【００１３】即ち本発明は、撮像装置の被写体画像取込
みに用いる撮像素子の選別方法であって、前記撮像素子
の出力信号に基づいて与えられた露光時間及び温度条件
下における該撮像素子の各画素毎の画素欠陥レベルを検
出する画素欠陥情報検出手段と、前記画素欠陥情報検出
手段により検出された欠陥情報を第１の判定方法及び第
１の判定方法とは異なる第２の判定方法とで前記選別の
ための合否判定を行う欠陥判定手段とを用い、前記撮像
素子の光学的黒領域の画素部分に対しては第１の判定方
法を適用し、且つ光学的黒領域以外の有効画素領域の画
素部分に対しては第２の判定方法を適用して前記合否判
定を行うことを特徴とする。That is, the present invention relates to a method for selecting an image sensor used for capturing an image of a subject in an image sensing apparatus, wherein each pixel of the image sensor under an exposure time and a temperature condition given based on an output signal of the image sensor. A pixel defect information detecting means for detecting a pixel defect level for each pixel, and a first judging method and a second judging method different from the first judging method for judging the defect information detected by the pixel defect information detecting means. Defect determining means for performing pass / fail determination for selection, applying the first determination method to the pixel portion of the optical black area of the image sensor, and determining whether the effective pixel area other than the optical black area is effective pixel area. The pass / fail judgment is performed on the pixel portion by applying the second judgment method.
【００１４】また本発明は、上記の撮像素子の選別方法
を用いて選別された撮像素子であって、前記合格の判定
を得る際に付帯された前記使用可能条件を表す情報が付
与されていることを特徴とする。According to the present invention, there is provided an image pickup device selected by using the above-described method for selecting an image pickup device, wherein information indicating the usable condition attached when obtaining the pass judgment is added. It is characterized by the following.
【００１５】また本発明は、上記の選別方法又は撮像素
子を被写体画像取込みに用いる撮像装置であって、画質
劣化を生じない露光時間の最大値である露光時間制限値
を設定する制限時間設定手段を具備してなり、前記制限
時間設定手段は前記撮像素子の前記使用可能条件が許容
する最長露光時間を超えない値に前記露光時間制限値を
設定するものであることを特徴とする。According to the present invention, there is provided an image pickup apparatus using the above-described selection method or the image pickup device for capturing a subject image, wherein a time limit setting means for setting an exposure time limit value which is a maximum value of an exposure time without causing image quality deterioration. Wherein the time limit setting means sets the exposure time limit value to a value not exceeding the longest exposure time allowed by the usable condition of the image sensor.
【００１６】ここで、本発明の望ましい実施態様として
は次のものが挙げられる。Here, preferred embodiments of the present invention include the following.
【００１７】(1) 欠陥判定手段における第１の判定方法
は、第２の判定方法よりも欠陥判定レベルが厳しく設定
され、対象画素領域における欠陥レベルが所定レベルを
超えないのを条件とすること。(1) The first judging method in the defect judging means requires that the defect judging level is set more strictly than the second judging method, and that the defect level in the target pixel area does not exceed a predetermined level. .
【００１８】(2) 欠陥判定手段における合否判定におい
て、合格の判定を得るための露光時間及び温度範囲と欠
陥レベルとの関係である使用可能条件を求める使用可能
条件算定手段をさらに用い、欠陥判定手段は選別対象の
撮像素子に対して前記使用可能条件を付帯して合格の判
定を行うものであること。(2) In the pass / fail judgment by the defect judging means, the usable condition calculating means for obtaining the usable condition which is the relation between the exposure time and the temperature range and the defect level for obtaining a pass judgment is further used, The means is to judge a pass by attaching the usable condition to the image pickup device to be selected.
【００１９】(3) 撮像素子における使用可能条件を表す
情報の付与は、撮像素子に対する貼付，刻印，印刷，又
は筆記によって行われたものであること。(3) The information indicating the usable conditions in the image sensor is added by pasting, engraving, printing, or writing on the image sensor.
【００２０】(4) 撮像素子における使用可能条件を表す
情報の付与は、撮像素子が内蔵する記憶手段に対する情
報の書込みによって行われたものであること。(4) The information indicating the usable condition in the image sensor is added by writing the information to the storage means incorporated in the image sensor.
【００２１】(5) 撮像装置における制限時間設定手段
は、装置自体の仕様温度上限において使用可能条件が許
容する最長露光時間を超えない値に、露光時間制限値を
設定するものであること。(5) The time limit setting means in the image pickup apparatus sets the exposure time limit value to a value not exceeding the maximum exposure time permitted by the usable condition at the upper limit of the specification temperature of the apparatus itself.
【００２２】(6) 撮像装置は制限時間設定手段と共に温
度検出手段を具備してなり、制限時間設定手段は、温度
検出手段で検出される使用温度下で前記使用可能条件が
許容する最長露光時間を超えないように、露光時間制限
値を可変設定するものであること。(6) The image pickup apparatus includes a temperature detecting means together with a time limit setting means, and the time limit setting means has a maximum exposure time allowed by the usable condition under the operating temperature detected by the temperature detecting means. The exposure time limit must be variably set so as not to exceed.
【００２３】(7) 撮像装置は、露光時間制限値以下に露
光時間を制限する露光時間制限手段を具備したこと。(7) The image pickup apparatus has an exposure time limiting means for limiting the exposure time to an exposure time limit or less.
【００２４】(8) 撮像装置は、露光時間制限値を超える
露光時間の使用に際しては警告を発する警告手段を具備
したこと。(8) The image pickup apparatus has a warning means for issuing a warning when an exposure time exceeding the exposure time limit value is used.
【００２５】(9) 撮像装置は、使用可能条件を記憶する
記憶手段を有していること。(9) The imaging device has storage means for storing usable conditions.
【００２６】（作用）本発明によれば、撮像装置の被写
体画像取込みに用いる撮像素子の選別に際して、撮像素
子の光学的黒領域の画素部分に対しては第１の判定方法
を適用し、光学的黒領域以外の有効画素領域の画素部分
に対しては第２の判定方法を適用して合否判定を行う。
ここで、通常は第１の判定方法を第２の判定方法よりも
厳しくし、撮像素子の選別に際してＯＢにおける欠陥判
定レベルを通常画素よりも厳しくする。そして、第１の
判定方法において、選別対象の撮像素子に対して使用可
能条件を付帯して合格の判定を行うことにより、撮像装
置の仕様条件（温度・露出時間）の範囲内で、ＯＢ画素
欠陥によってＯＢクランプに際して発生する画質劣化を
防止することが可能となる。(Operation) According to the present invention, when selecting an image pickup device used for capturing a subject image by the image pickup device, the first determination method is applied to the pixel portion of the optical black region of the image pickup device, For the pixel portion of the effective pixel region other than the target black region, the pass / fail judgment is performed by applying the second judgment method.
Here, usually, the first determination method is made stricter than the second determination method, and the defect determination level in OB is made stricter than that of the normal pixels when selecting the image sensor. Then, in the first determination method, a pass condition is determined with the usable condition attached to the image pickup device to be selected, so that the OB pixel is within the range of the specification condition (temperature / exposure time) of the image pickup device. It is possible to prevent the image quality deterioration that occurs at the time of OB clamping due to a defect.
【００２７】また、上記の選別方法によって選別された
撮像素子に対して、合格の判定を得る際に付帯された使
用可能条件を表す情報を付与することにより、撮像装置
を製造する際の作業効率を高めることが可能となる。さ
らに、使用可能条件を表す情報を付与された撮像素子を
用いて撮像装置を構成することにより、撮像装置は使用
可能条件に基づいた露光時間の制限を行うことが可能と
なる。[0027] Further, by assigning information indicating usable conditions attached when obtaining a pass to the imaging device selected by the above-described selection method, the work efficiency in manufacturing the imaging device is provided. Can be increased. Further, by configuring an imaging device using an imaging element to which information indicating a usable condition is added, the imaging device can limit the exposure time based on the usable condition.
【００２８】[0028]
【発明の実施の形態】まず、実施形態を説明する前に、
本発明に用いるデジタルカメラの基本構成とＯＢクラン
プ部の基本構成を説明しておく。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, before describing the embodiments,
The basic configuration of the digital camera used in the present invention and the basic configuration of the OB clamp will be described.
【００２９】図１は、本発明に用いるデジタルカメラの
回路構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a circuit configuration of a digital camera used in the present invention.
【００３０】図中１０１は各種レンズからなるレンズ
系、１０２はレンズ系１０１を駆動するためのレンズ駆
動機構、１０３はレンズ系１０１の絞りを制御するため
の露出制御機構、１０４はメカシャッタ、１０５は色フ
ィルタを内蔵したＣＣＤカラー撮像素子、１０６は撮像
素子１０５を駆動するためのＣＣＤドライバ、１０７は
Ａ／Ｄ変換器等を含むプリプロセス回路、１０８は色信
号生成処理，マトリックス変換処理，その他各種のデジ
タル処理を行うためのデジタルプロセス回路、１０９は
カードインターフェース、１１０はＣＦ等のメモリカー
ド、１１１はＬＣＤ画像表示系を示している。In the figure, reference numeral 101 denotes a lens system including various lenses; 102, a lens driving mechanism for driving the lens system 101; 103, an exposure control mechanism for controlling the aperture of the lens system 101; 104, a mechanical shutter; CCD color image pickup device with a built-in color filter, 106 a CCD driver for driving the image pickup device 105, 107 a pre-processing circuit including an A / D converter, etc., 108 a color signal generation process, a matrix conversion process, and other various types , A digital interface circuit 109, a card interface, 110, a memory card such as a CF, and 111, an LCD image display system.
【００３１】また、図中の１１２は各部を統括的に制御
するためのシステムコントローラ（ＣＰＵ）、１１３は
各種ＳＷからなる操作スイッチ系、１１４は操作状態及
びモード状態等を表示するための操作表示系、１１５は
レンズ駆動機構１０２を制御するためのレンズドライ
バ、１１６は発光手段としてのストロボ、１１７はスト
ロボ１１６を制御するための露出制御ドライバ、１１８
は各種設定情報等を記憶するための不揮発性メモリ（Ｅ
ＥＰＲＯＭ）を示している。Further, in the figure, reference numeral 112 denotes a system controller (CPU) for overall control of each unit, 113 denotes an operation switch system composed of various switches, and 114 denotes an operation display for displaying an operation state, a mode state, and the like. System, 115 is a lens driver for controlling the lens driving mechanism 102, 116 is a strobe as a light emitting means, 117 is an exposure control driver for controlling the strobe 116, 118
Is a nonvolatile memory (E) for storing various setting information and the like.
EPROM).
【００３２】本実施形態のデジタルカメラにおいては、
システムコントローラ１１２が全ての制御を統括的に行
っており、特に露出制御機構１０３に含まれるシャッタ
装置と、ＣＣＤドライバ１０６によるＣＣＤ撮像素子１
０５の駆動を制御して露光（電荷蓄積）及び信号の読み
出しを行い、それをプリプロセス回路１０７を介してデ
ジタルプロセス回路１０８に取込んで、各種信号処理を
施した後にカードインターフェース１０９を介してメモ
リカード１１０に記録するようになっている。In the digital camera of the present embodiment,
A system controller 112 performs overall control, and particularly includes a shutter device included in the exposure control mechanism 103 and a CCD image pickup device 1 by a CCD driver 106.
Exposure (charge accumulation) and signal readout are performed by controlling the drive of the drive circuit 05, and the readout signal is taken into the digital process circuit 108 via the preprocess circuit 107, subjected to various signal processings, and then subjected to the card interface 109 via the card interface 109. The data is recorded on the memory card 110.
【００３３】図２は、ＯＢクランプ部の回路構成を示す
ブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a circuit configuration of the OB clamp unit.
【００３４】ＣＣＤ撮像素子２０１から得られる映像信
号は、メインＡ／Ｄ変換器（ＭＡＤ）２０２に入力さ
れ、このＭＡＤ２０２により有効画素領域における映像
信号がＡ／Ｄ変換されて映像信号が得られる。また、撮
像素子２０１からの映像信号は、クランプ用Ａ／Ｄ変換
器（ＣＬＡＤ）２０３に入力され、このＣＬＡＤ２０３
によりＯＢ部における信号がＡ／Ｄ変換される。ＣＬＡ
Ｄ２０３の出力は、クランプシフタ（ＣＬＳＨ）２０４
に入力され、このＣＬＳＨ２０４によりによりＯＢ出力
の平均値が得られる。そして、この平均値は、ＭＡＤ２
０２にボトム基準電圧として与えられる。従って、ＭＡ
Ｄ２０２では、撮像素子信号から暗電流成分を差し引い
た映像信号が得られることになる。A video signal obtained from the CCD image pickup device 201 is input to a main A / D converter (MAD) 202, and the MAD 202 converts the video signal in an effective pixel area into a digital signal to obtain a video signal. A video signal from the image sensor 201 is input to an A / D converter for clamping (CLAD) 203, and the CLAD 203
A / D-converts the signal in the OB section. CLA
The output of D203 is a clamp shifter (CLSH) 204
, And an average value of the OB output is obtained by the CLSH 204. And this average is MAD2
02 is provided as a bottom reference voltage. Therefore, MA
In D202, a video signal obtained by subtracting the dark current component from the image sensor signal is obtained.
【００３５】ここで、本実施形態では白欠陥について考
える。黒欠陥については温度や露光時間に依存しないも
のであり、素子製造工程で既に、ＯＢ領域では無し（あ
ったら選別で除去）、有効領域では欠陥アドレス登録さ
れているものとする。 カメラのＯＢクランプは、黒レ
ベル検出は各ライン（Ｈ）毎にＯＢ画素の出力レベルの
クランプ用Ａ／Ｄ出力の加算平均を求めてホールドし、
そのラインの有効画素をサンプリングする際の画像信号
用Ａ／Ｄボトム基準電圧に重畳する。以下、本発明の詳
細を図示の実施形態によって説明する。In this embodiment, a white defect is considered. The black defect does not depend on the temperature or the exposure time, and it is assumed that there is no black defect in the OB area (if there is any), and the defect address is registered in the effective area in the element manufacturing process. In the OB clamp of the camera, the black level detection calculates and holds the average of the A / D output for clamping of the output level of the OB pixel for each line (H).
This is superimposed on the A / D bottom reference voltage for the image signal when sampling the effective pixels of the line. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the illustrated embodiments.
【００３６】（第１の実施形態）本実施形態は、撮像装
置に使用する撮像素子の選別方法である。これを、図４
のフローチャートに従って説明する。(First Embodiment) The present embodiment is a method for selecting an image pickup device used in an image pickup apparatus. This is shown in FIG.
This will be described according to the flowchart of FIG.
【００３７】まず、撮像素子を特定の条件に保持した状
態で該素子の出力を検出できる判定用の検査装置を用意
する。この装置を用い、遮光状態で例えば２５度の恒温
槽中で１０秒の露光（蓄積）時間で撮像素子出力をＡ／
Ｄサンプリングする。ビット数（分解能）カメラのＡ／
Ｄ分解能（例示：１ｍＶ）に対して充分とる。First, an inspection device for determination capable of detecting the output of an image pickup device while holding the image pickup device under specific conditions is prepared. Using this apparatus, the output of the image sensor is A / A in a light-shielded state, for example, in a 25 ° C. constant temperature bath for an exposure (accumulation) time of 10 seconds.
Perform D sampling. Bit number (resolution) of camera A /
It is sufficient for D resolution (example: 1 mV).
【００３８】使用予定カメラがＨＯＢサンプリングを使
用するものである場合、ＶＯＢは不要であり、従ってＨ
ＯＢと有効画素領域を解析する。ここで、撮像素子にお
けるＨＯＢ，ＶＯＢ，有効画素領域の関係を図３に示し
ておく。ここでは、全画素数を１０００×１０００と
し、ＨＯＢ，ＶＯＢの幅は共に２０画素とした。If the camera to be used uses HOB sampling, no VOB is needed and therefore H
OB and effective pixel area are analyzed. Here, the relationship between HOB, VOB, and effective pixel area in the image sensor is shown in FIG. Here, the total number of pixels is set to 1000 × 1000, and the widths of the HOB and VOB are both set to 20 pixels.
【００３９】ＨＯＢのライン毎の積分値に着目し、全ラ
インにおける平均値とＰ−Ｐ値を求める。平均値は有効
画素領域の判定をするためであり、Ｐ−Ｐ値はＯＢ領域
の欠陥を判定するためである。そして、上記の条件下
（２５度，１０秒）でのＯＢレベル（平均値）をＯＢＬ
（２５，１０）、ＯＢ欠陥レベル（Ｐ−Ｐ値）をＯＢＤ
（２５，１０）とする（ステップＳ１）。Paying attention to the integrated value of each line of the HOB, the average value and the PP value of all the lines are obtained. The average value is for determining an effective pixel area, and the PP value is for determining a defect in an OB area. Then, the OB level (average value) under the above conditions (25 degrees, 10 seconds) is calculated as OBL
(25, 10), OB defect level (PP value) is set to OBD
(25, 10) (Step S1).
【００４０】補足すれば、ＨＯＢの（ライン毎の積分）
値はクランプ基準になるものであるからそれ自体の大小
は画質劣化には直接関与せず、その差がライン段差とな
って画質劣化を生じることは前述のとおりである。従っ
てその差の最大値に対応する、積分値のＰ−Ｐ値をもっ
てＯＢ欠陥レベルの評価量としたものである。Supplementally, HOB (integration per line)
Since the value serves as a clamp reference, the magnitude of the value itself does not directly contribute to the image quality deterioration, and the difference becomes a line step, which causes the image quality deterioration as described above. Therefore, the PP value of the integral value corresponding to the maximum value of the difference is used as the evaluation amount of the OB defect level.
【００４１】次いで、指定した使用条件下における欠陥
レベル算出値をＯＢＬ（ｅｎｖ）とＯＢＤ（ｅｎｖ）と
する（ステップＳ２）。換算は時間比例、また６ｄＢ／
８℃で行う。例えば、４１℃，３０秒のとき、時間によ
る換算が３倍で、温度による換算が４倍であることか
ら、ＯＢＬ（４１，３０）＝１２×ＯＢＬ（２５，１
０），ＯＢＤ（４１，３０）＝１２×ＯＢＤ（２５，１
０）となる。Next, the defect level calculation values under the designated use conditions are set to OBL (env) and OBD (env) (step S2). Conversion is time proportional, and 6dB /
Perform at 8 ° C. For example, at 41 ° C. for 30 seconds, the conversion by time is three times and the conversion by temperature is four times, so that OBL (41, 30) = 12 × OBL (25, 1)
0), OBD (41, 30) = 12 × OBD (25, 1)
0).
【００４２】第１の判定（ステップＳ３）では、ＯＢＤ
（ｅｎｖ）≦０．５ｍＶなら合格、ＯＢＤ（ｅｎｖ）＞
０．５ｍＶなら不合格とする。第２の判定（ステップＳ
４〜６）では、各有効画素出力（ｅｎｖ）−ＯＢＬ（ｅ
ｎｖ）＞２５ｍＶを（補完対象の）欠陥画素とし、欠陥
画素に関してはアドレス登録する。ここで、登録数が許
す限り幾つでもよいが、欠陥画素数が多すぎる場合は不
合格とする。例えば、1000個／100万画素以下は合格と
する。なお、各有効画素出力（ｅｎｖ）−ＯＢＬ（ｅｎ
ｖ）≦２５ｍＶは合格とする。In the first determination (step S3), the OBD
If (env) ≦ 0.5 mV, pass, OBD (env)>
If it is 0.5 mV, it is rejected. Second determination (step S
4-6), each effective pixel output (env) -OBL (e)
nv)> 25 mV is set as the defective pixel (to be complemented), and the address of the defective pixel is registered. Here, any number may be used as long as the number of registrations permits, but if the number of defective pixels is too large, the test is rejected. For example, 1000 or less than 1 million pixels is considered acceptable. Note that each effective pixel output (env) -OBL (en
v) 25mV is acceptable.
【００４３】このように本実施形態では、第１及び第２
の判定共に合格の場合に総合判定合格とする。そして、
総合判定合格の撮像素子を用いることによって、使用す
るカメラの指定した使用条件下において撮像素子は常に
欠陥レベルが所定値以下となり、長時間露光に伴う電荷
蓄積による画質劣化を防止することができる。As described above, in the present embodiment, the first and second
If both judgments pass, the overall judgment is passed. And
By using an image sensor that passes the comprehensive judgment, the defect level of the image sensor always becomes equal to or lower than a predetermined value under the use condition specified by the camera to be used, and it is possible to prevent image quality degradation due to charge accumulation due to long-time exposure.
【００４４】（第２の実施形態）本実施形態は、判定用
の検査装置によってデータが記載された撮像素子に関す
る。なお以下では、第２の判定については４５度，３０
秒においてまだ余裕を持って合格しているとし、第１の
判定のみに着目して例示する。(Second Embodiment) The present embodiment relates to an imaging device in which data is described by an inspection device for determination. In the following, the second determination is 45 degrees and 30 degrees.
It is assumed that the test passes with a margin in seconds, and only the first determination is focused on.
【００４５】第１の実施形態による撮像素子選別方法を
使用した撮像評価の結果が、ＯＢＤ（４５，３０）＝
０．５ｍＶであったとする。この結果を、例えばバーコ
ード印刷されたシールとして、撮像素子パッケージ背面
に貼付させる。他にリードも含めた任意箇所に同様の貼
付，刻印，印刷，捺印，ペン等による書込み、を行って
もよい。さらに、ＥＥＰＲＯＭを内蔵させ、電気的に記
憶させてもよい。The result of the imaging evaluation using the imaging element selection method according to the first embodiment is OBD (45, 30) =
Suppose that it was 0.5 mV. The result is affixed to the back surface of the image sensor package, for example, as a barcode-printed sticker. In addition, the same affixing, engraving, printing, stamping, writing with a pen, or the like may be performed at any place including the lead. Further, an EEPROM may be built in and stored electrically.
【００４６】本実施形態による撮像素子では、パッケー
ジ背面に貼付されたバーコード等により、該素子の最大
使用環境を判断することができる。このため、撮像装置
を構成する際の作業効率を高めることができる。In the image pickup device according to the present embodiment, the maximum use environment of the device can be determined from a bar code or the like attached to the back of the package. For this reason, work efficiency when configuring the imaging device can be improved.
【００４７】（第３の実施形態）本実施形態は、第１の
実施形態による撮像素子選別方法で選別された撮像素
子、又は第２の実施形態による撮像素子を用いた撮像装
置に関する。(Third Embodiment) This embodiment relates to an image pickup device selected by the image pickup device selection method according to the first embodiment or an image pickup apparatus using the image pickup device according to the second embodiment.
【００４８】（実施例１）撮像装置としての仕様は、温
度上限４５℃、最長露光時間３０秒であるとする。この
場合、この条件で合格するもの、即ちＯＢＤ（４５，３
０）≦０．５ｍＶのものだけを合格として選別した撮像
素子を使用する。即ち、撮像装置の仕様に応じてどのよ
うな撮像素子が使用できるかが判断でき、装置仕様に適
した撮像素子のみを搭載することができる。(Embodiment 1) It is assumed that the specifications of the image pickup apparatus are a temperature upper limit of 45 ° C. and a maximum exposure time of 30 seconds. In this case, those passing under this condition, that is, OBD (45, 3
0) Only those imaging devices which are selected as those having a ≤0.5 mV as acceptable are used. That is, it is possible to determine which imaging device can be used according to the specifications of the imaging device, and it is possible to mount only the imaging device suitable for the device specifications.
【００４９】（実施例２）撮像装置としての仕様は、温
度上限４５℃であるとする。この装置にＯＢＤ（４５，
３０）＝０．５ｍＶと判別された撮像素子が組込まれた
場合（他のものも使用され得る）、製造工程においてバ
ーコードリーダー入力を介して本体装置のＥＥＰＲＯＭ
１１８にこのデータが入力される。(Embodiment 2) It is assumed that the specification of the image pickup apparatus has a temperature upper limit of 45 ° C. OBD (45,
30) When an image sensor determined to be 0.5 mV is incorporated (other devices can be used), the EEPROM of the main unit is input via a barcode reader input in the manufacturing process.
This data is input to 118.
【００５０】これに基づいて、このカメラの最長露光時
間は３０秒と設定される。例えば、ＯＢＤ（４５，３
０）＝１ｍＶの撮像素子が組込まれた場合は、データに
基づいてこのカメラの最長露光時間は１５秒（ＯＢＤ
（４５，３０）＝ＸｍＶなら｛３０×０．５／Ｘ｝秒）
と設定される。即ち、搭載された撮像素子に合わせて露
光条件を設定することができる。Based on this, the longest exposure time of this camera is set to 30 seconds. For example, OBD (45, 3
0) = 1 mV, the longest exposure time of this camera is 15 seconds (OBD) based on the data.
(45, 30) = {30 x 0.5 / X} seconds if XmV)
Is set. That is, the exposure conditions can be set according to the mounted image sensor.
【００５１】（実施例３）撮像装置としての仕様は、温
度上限４５℃であるとする。また、この装置は温度セン
サを有しているものとする。この装置にＯＢＤ（４５，
３０）＝０．５ｍＶと判別された撮像素子が使用された
場合（他のものも使用され得る）、製造工程においてバ
ーコードリーダー入力を介して本体装置のＥＥＰＲＯＭ
１１８にこのデータが入力される。(Embodiment 3) It is assumed that the specification of the image pickup apparatus has a temperature upper limit of 45 ° C. It is also assumed that this device has a temperature sensor. OBD (45,
30) If an image sensor determined to be 0.5 mV is used (others may be used), the EEPROM of the main unit is input via a barcode reader input in the manufacturing process.
This data is input to 118.
【００５２】これに基づいて、かつ温度センサの出力に
従ってこのカメラの最長露光時間は、３０秒／４５℃，
６０秒／３７℃，１２０秒／２９℃，２４０秒／２１
℃，…（ＯＢＤ（４５，３０）＝ＸｍＶのものでＴ℃の
場合は｛３０×２(45-T)/8×０．５／Ｘ｝秒）と設定さ
れる。即ち、搭載された撮像素子及び温度条件に合わせ
て露光条件を設定することができる。Based on this and according to the output of the temperature sensor, the longest exposure time of this camera is 30 seconds / 45 ° C.
60 seconds / 37 ° C, 120 seconds / 29 ° C, 240 seconds / 21
° C, ... (OBD ( 45, 30) = XmV, and in the case of T ° C, it is set to {30 x 2 (45-T) / 8 x 0.5 / X} seconds). That is, the exposure condition can be set according to the mounted image sensor and the temperature condition.
【００５３】（実施例４）撮像装置としての仕様は、温
度上限４５℃であるとする。また、この装置は温度セン
サを有しているものとする。この装置にＯＢＤ（４５，
３０）＝０．５ｍＶと判別された撮像素子が使用された
場合（他のものも使用され得る）、製造工程においてバ
ーコードリーダー入力を介して本体装置のＥＥＰＲＯＭ
１１８にこのデータが入力される。(Embodiment 4) It is assumed that the specification as an image pickup apparatus has a temperature upper limit of 45 ° C. It is also assumed that this device has a temperature sensor. OBD (45,
30) If an image sensor determined to be 0.5 mV is used (others may be used), the EEPROM of the main unit is input via a barcode reader input in the manufacturing process.
This data is input to 118.
【００５４】これに基づいて、かつ温度センサの出力に
従ってこのカメラの露光時間制限値は、３０秒／４５
℃，６０秒／３７℃，１２０秒／２９℃，２４０秒／２
１℃，c…（ＯＢＤ（４５，３０）＝ＸｍＶのものでＴ
℃の場合は｛３０×２(45-T)/8×０．５／Ｘ｝秒）と設
定される。ここで、カメラの最長露光時間は固定的に１
２０秒に設定されている。検出温度が２９℃より大きい
場合は、その温度での制限値を超える露光時間の場合に
警告表示を出す（撮影は可能）。２９℃以下では制限値
を超えないから警告はされない。Based on this and according to the output of the temperature sensor, the exposure time limit value of this camera is 30 seconds / 45
° C, 60 seconds / 37 ° C, 120 seconds / 29 ° C, 240 seconds / 2
1 ° C, c ... (OBD (45, 30) = XmV and T
In the case of ° C, it is set as {30 × 2 (45-T) /8×0.5/X} second). Here, the longest exposure time of the camera is fixedly 1
It is set to 20 seconds. If the detected temperature is higher than 29 ° C., a warning is displayed if the exposure time exceeds the limit value at that temperature (capturing is possible). At 29 ° C. or lower, no warning is issued because the limit value is not exceeded.
【００５５】（変形例）なお、本発明は上述した各実施
形態に限定されるものではない。実施形態では、第１の
判定レベルはカメラのＡ／Ｄを考慮して１／２ＬＳＢ以
下としたが、これはあくまでも例示であり、Ａ／Ｄ分解
能と必ずしも対応づける必要はない。第１の判定レベル
は画質許容レベルから決められるものであり、適宜変更
可能である。第２の判定レベルについても同様である。(Modification) The present invention is not limited to the above embodiments. In the embodiment, the first determination level is set to 以下 LSB or less in consideration of the A / D of the camera. However, this is merely an example, and does not necessarily need to correspond to the A / D resolution. The first determination level is determined from the image quality allowable level, and can be appropriately changed. The same applies to the second determination level.
【００５６】さらに、上記実施形態ではＯＢ欠陥レベル
の評価量ＯＢＤとしてＨＯＢのライン毎の積分値のＰ−
Ｐ値を使用したが、これに限られず任意の評価量を用い
ることができる。一例を挙げれば、ライン段差の目立ち
易さを考慮して、隣接２ライン間の差だけに着目してこ
れの最大値をもってＯＢＤとしたものも好適である。こ
うすることによってＰ−Ｐ値自体は大きくても良いこと
になるからさらに歩留りを向上できる可能性がある。
（この場合上記実施例よりも判定基準を緩くしたＰ−Ｐ
値評価を併用しても良い。）また、上記実施形態では、
バーコードシール貼付された撮像素子を用いて、カメラ
の製造工程においてバーコードリーダー入力を介して本
体装置のＥＥＰＲＯＭ１１８にこのデータが入力される
ようにしたが、ＥＥＰＲＯＭを内蔵した撮像素子を用い
る場合には、カメラ本体のＥＥＰＲＯＭへのデータ書込
みを行うことなくこの撮像素子内蔵ＥＥＰＲＯＭのデー
タを読み出して直接用いることができるし、一旦本体Ｅ
ＥＰＲＯＭに書き移す場合も、組立て完了後も含めた任
意の時点で行なうことができる。Further, in the above-described embodiment, the evaluation value OBD of the OB defect level is obtained by calculating the integral value P−
Although the P value is used, the evaluation value is not limited to this, and an arbitrary evaluation amount can be used. As an example, it is also preferable that the difference between two adjacent lines is focused on and the maximum value of the difference is set as the OBD in consideration of the conspicuousness of the line step. By doing so, the PP value itself may be large, so that the yield may be further improved.
(In this case, PP with a looser criterion than the above embodiment)
Value evaluation may be used in combination. In the above embodiment,
In the camera manufacturing process, this data is input to the EEPROM 118 of the main unit using a bar code reader input using an image pickup device with a bar code sticker. Can read and use the data in the EEPROM with built-in image sensor without writing data to the EEPROM in the camera body,
The data can be transferred to the EPROM at any time, including after the completion of assembly.
【００５７】なお、このように、ＥＥＰＲＯＭを内蔵し
た撮像素子又はこれを使用したカメラにおける「撮像素
子にＥＥＰＲＯＭを内蔵した」という新規な特徴的構成
により生じる効果は、上記したように撮像素子の個別性
能に係るデータの撮像素子への付帯を目的とした場合に
最大に発揮されるものであることは言うまでも無いが、
たとえそのような限定条件が無くともそれ自体大きな効
果を有したものである。As described above, the effect brought about by the novel characteristic configuration of “the image sensor has the built-in EEPROM” in the image sensor having the built-in EEPROM or the camera using the same is as described above. Needless to say, this is best exhibited when the purpose is to attach the data related to the performance to the image sensor.
Even if there is no such limiting condition, it has a great effect in itself.
【００５８】即ちこのような構成の撮像素子を用いるこ
とで、「この撮像素子内蔵ＥＥＰＲＯＭを、組立て後の
完成したカメラが各種の調整等のために汎用的に必要と
するＥＥＰＲＯＭとして使用する」構成も実現可能とな
る。そしてこのような構成を特徴とするカメラは、従来
必要とした独立のＥＥＰＲＯＭを不要と出来るから、コ
スト低減や小型化の観点から優れた効果を有しているも
のである。そしてこのような構成においても、既に上記
実施例で述べたような個別性能に関するものなどの撮像
素子データを付帯するために、この撮像素子内蔵ＥＥＰ
ＲＯＭを使用することができる。この場合は、少なくと
も付帯する撮像素子データに予定するデータ量とその他
の調整等に用いる汎用データに予定するデータ量の合計
に対して不足の無い容量のＥＥＰＲＯＭを内蔵した構成
とするものである。That is, by using the image pickup device having such a structure, the structure "the EEPROM with a built-in image pickup device is used as an EEPROM which the completed camera after assembling generally needs for various adjustments and the like" is used. Can also be realized. The camera having such a configuration can eliminate the need for an independent EEPROM conventionally required, and has an excellent effect from the viewpoint of cost reduction and miniaturization. Even in such a configuration, in order to attach image sensor data such as those relating to individual performance as already described in the above-described embodiment, this image sensor built-in EEP
ROM can be used. In this case, an EEPROM having a capacity sufficient for at least the total of the data amount planned for the accompanying image sensor data and the data amount planned for general-purpose data used for other adjustments or the like is provided.
【００５９】なお、上記における撮像素子へのＥＥＰＲ
ＯＭの「内蔵」に関しては、一つの電子部品として通常
分離不可能に一体化されていることを意味するのみであ
り、例えばワンチップかマルチチップかなどを含めて、
内蔵の方法や形態は任意である。It should be noted that the above-mentioned EEPR to the imaging device
The “built-in” of the OM only means that it is usually inseparably integrated as one electronic component, and includes, for example, whether it is a single chip or a multi-chip.
The built-in method and form are arbitrary.
【００６０】また、本発明はデジタルカメラやビデオカ
メラに適用できるのは勿論のこと、撮像素子を使用する
各種の撮像装置に適用することができる。その他、本発
明の要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実施するこ
とができる。The present invention can be applied not only to a digital camera or a video camera but also to various image pickup apparatuses using an image pickup device. In addition, various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.
【００６１】[0061]
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、撮
像素子に対してＯＢにおける欠陥判定レベルを通常より
も厳しくすることにより、撮像装置の仕様条件（温度・
露出時間）の範囲内で、ＯＢ画素欠陥によってＯＢクラ
ンプに際して発生する画質劣化を防止することができ
る。また、上記の選別方法で選別された撮像素子に対し
て使用可能条件を表す情報が付与することにより、撮像
装置を製造する際の作業効率を高めることができる。さ
らに、上記の選別方法を適用した撮像素子を用い撮像装
置を構成することにより、ＯＢクランプに際して発生す
る画質劣化を防止することができる。As described in detail above, according to the present invention, the specification conditions (temperature, temperature,
Within the range of (exposure time), it is possible to prevent image quality deterioration occurring during OB clamping due to OB pixel defects. In addition, by assigning the information indicating the usable condition to the image pickup device selected by the above-described selection method, it is possible to increase the work efficiency when manufacturing the image pickup device. Furthermore, by configuring an imaging device using an imaging element to which the above-described selection method is applied, it is possible to prevent image quality deterioration occurring during OB clamping.
【図１】本発明に用いるデジタルカメラの回路構成を示
すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing a circuit configuration of a digital camera used in the present invention.
【図２】ＯＢクランプ部の回路構成を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing a circuit configuration of an OB clamp unit.
【図３】撮像素子におけるＨＯＢ，ＶＯＢ，有効画素領
域の関係を示す図。FIG. 3 is a diagram showing a relationship among HOB, VOB, and effective pixel area in the image sensor.
【図４】第１の実施形態に係わる撮像素子の選別方法を
説明するためのフローチャート。FIG. 4 is a flowchart illustrating a method for selecting an image sensor according to the first embodiment.
１０１…レンズ系 １０２…レンズ駆動機構 １０３…露出制御機構 １０４…メカシャッタ １０５…ＣＣＤカラー撮像素子 １０６…ＣＣＤドライバ １０７…プリプロセス部 １０８…デジタルプロセス部 １０９…カードインターフェース １１０…メモリカード １１１…ＬＣＤ画像表示系 １１２…システムコントローラ（ＣＰＵ） １１３…操作スイッチ系 １１４…操作表示系 １１５…レンズドライバ １１６…ストロボ １１７…露出制御ドライバ １１８…不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ） ２０１…ＣＣＤ撮像素子 ２０２…メインＡ／Ｄ変換器（ＭＡＤ） ２０３…クランプＡ／Ｄ変換器（ＣＬＡＤ） ２０４…クランプシフタ（ＣＬＳＨ） DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 ... Lens system 102 ... Lens drive mechanism 103 ... Exposure control mechanism 104 ... Mechanical shutter 105 ... CCD color imaging device 106 ... CCD driver 107 ... Pre-process unit 108 ... Digital process unit 109 ... Card interface 110 ... Memory card 111 ... LCD image display System 112 ... System controller (CPU) 113 ... Operation switch system 114 ... Operation display system 115 ... Lens driver 116 ... Strobe 117 ... Exposure control driver 118 ... Non-volatile memory (EEPROM) 201 ... CCD imaging device 202 ... Main A / D conversion (MAD) 203: Clamp A / D converter (CLAD) 204: Clamp shifter (CLSH)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G086 EE01 4M118 AA09 AA10 AB01 BA10 BA30 FA06 FA50 GD07 5C024 CX24 CY44 GY01 GZ37 HX09 HX20 HX21 HX23 HX29 5C061 BB01 BB05 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2G086 EE01 4M118 AA09 AA10 AB01 BA10 BA30 FA06 FA50 GD07 5C024 CX24 CY44 GY01 GZ37 HX09 HX20 HX21 HX23 HX29 5C061 BB01 BB05
Claims (12)
素子の選別方法であって、 前記撮像素子の出力信号に基づいて与えられた露光時間
及び温度条件下における該撮像素子の各画素毎の画素欠
陥レベルを検出する画素欠陥情報検出手段と、前記画素
欠陥情報検出手段により検出された欠陥情報を第１の判
定方法及び第１の判定方法とは異なる第２の判定方法と
で前記選別のための合否判定を行う欠陥判定手段とを用
い、 前記撮像素子の光学的黒領域の画素部分に対しては第１
の判定方法を適用し、且つ光学的黒領域以外の有効画素
領域の画素部分に対しては第２の判定方法を適用して前
記合否判定を行うことを特徴とする撮像素子の選別方
法。1. A method for selecting an image sensor used for capturing a subject image of an image pickup device, comprising: a pixel for each pixel of the image sensor under an exposure time and a temperature condition given based on an output signal of the image sensor. A pixel defect information detecting means for detecting a defect level; and a first judging method and a second judging method different from the first judging method for the defect information detected by the pixel defect information detecting means. And a defect determination unit that performs pass / fail determination of the first and second pixels.
The above-mentioned judgment method is applied, and the pass / fail judgment is performed by applying the second judgment method to the pixel portion of the effective pixel area other than the optical black area.
欠陥判定レベルが厳しく設定され、対象画素領域におけ
る欠陥レベルが所定レベルを超えないのを条件とするこ
とを特徴とする請求項１記載の撮像素子の選別方法。2. The method according to claim 1, wherein the defect determination level is set more strictly than in the second determination method, and the defect level in the target pixel area does not exceed a predetermined level. Item 4. The method for selecting an imaging device according to Item 1.
めの露光時間及び温度範囲と欠陥レベルとの関係である
使用可能条件を求める使用可能条件算定手段を更に用
い、前記欠陥判定手段は、選別対象の撮像素子に対して
前記使用可能条件を付帯して合格の判定を行うことを特
徴とする請求項１又は２に記載の撮像素子の選別方法。3. The apparatus according to claim 1, further comprising a usable condition calculating unit for obtaining a usable condition which is a relationship between an exposure time and a temperature range and a defect level for obtaining a pass / fail judgment in said pass / fail judgment. The method according to claim 1, wherein a pass is determined by attaching the usable condition to the target image sensor.
いて選別された撮像素子であって、前記合格の判定を得
る際に付帯された前記使用可能条件を表す情報が付与さ
れていることを特徴とする撮像素子。4. An image pickup device selected using the image pickup device selection method according to claim 3, wherein information indicating the usable condition attached when obtaining the pass determination is added. An imaging device, characterized in that:
記撮像素子に対する貼付，刻印，印刷，又は筆記によっ
て行われたものであることを特徴とする請求項４記載の
撮像素子。5. The imaging device according to claim 4, wherein the information indicating the usable condition is given by pasting, engraving, printing, or writing on the imaging device.
記撮像素子が内蔵する記憶手段に対する情報の書込みに
よって行われたものであることを特徴とする請求項４記
載の撮像素子。6. The image pickup device according to claim 4, wherein the information indicating the usable condition is given by writing the information into a storage unit incorporated in the image pickup device.
いて選別された撮像素子、又は請求項４〜６の何れかに
記載の撮像素子を被写体画像取込みに用いる撮像装置で
あって、 画質劣化を生じない露光時間の最大値である露光時間制
限値を設定する制限時間設定手段を具備してなり、前記
制限時間設定手段は前記撮像素子の前記使用可能条件が
許容する最長露光時間を超えない値に前記露光時間制限
値を設定するものであることを特徴とする撮像装置。7. An image pickup device selected by using the image pickup device selection method according to claim 3, or an image pickup device using the image pickup device according to any one of claims 4 to 6 for capturing a subject image. A time limit setting unit that sets an exposure time limit value that is a maximum value of an exposure time that does not cause deterioration in image quality, wherein the time limit setting unit is a longest exposure time allowed by the usable condition of the image sensor. An image pickup apparatus for setting the exposure time limit value to a value not exceeding.
温度上限において前記使用可能条件が許容する最長露光
時間を超えない値に、前記露光時間制限値を設定するも
のであることを特徴とする請求項７記載の撮像装置。8. The apparatus according to claim 1, wherein said time limit setting means sets said exposure time limit value to a value which does not exceed a maximum exposure time allowed by said usable condition at an upper limit of a specification temperature of the apparatus itself. The imaging device according to claim 7, wherein:
の温度を検出する温度検出手段を具備してなり、前記制
限時間設定手段は、前記温度検出手段が検出した使用温
度下で前記使用可能条件が許容する最長露光時間を超え
ないように、前記露光時間制限値を可変設定するもので
あることを特徴とする請求項７記載の撮像装置。9. A temperature detecting means for detecting a temperature of the image pickup device together with the time limit setting means, wherein the time limit setting means operates under the operating temperature detected by the temperature detecting means. 8. The imaging apparatus according to claim 7, wherein the exposure time limit value is variably set so that the maximum exposure time does not exceed the maximum exposure time allowed.
限する露光時間制限手段を具備したことを特徴とする請
求項７〜９の何れかに記載の撮像装置。10. The imaging apparatus according to claim 7, further comprising an exposure time limiter for limiting an exposure time to a value equal to or less than the exposure time limit value.
使用に際して警告を発する警告手段を具備したことを特
徴とする請求項７〜９の何れかにに記載の撮像装置。11. The imaging apparatus according to claim 7, further comprising a warning unit for issuing a warning when an exposure time exceeding the exposure time limit value is used.
用いて選別された撮像素子、若しくは請求項４〜６の何
れかに記載の撮像素子を被写体画像取込みに用いる撮像
装置、又は請求項７〜１１の何れかに記載の撮像装置で
あって、前記使用可能条件を記憶する記憶手段を有した
ことを特徴とする撮像装置。12. An image pickup device selected by using the image pickup device selection method according to claim 3, or an image pickup device using the image pickup device according to any one of claims 4 to 6 for capturing a subject image. Item 12. The image pickup apparatus according to any one of Items 7 to 11, further comprising a storage unit for storing the usable condition.
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