JP2001264730A - Liquid crystal display device, and device and method for inspecting the same - Google Patents
Liquid crystal display device, and device and method for inspecting the sameInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】液晶表示装置、その検査装
置、およびその検査方法に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a liquid crystal display device, an inspection device thereof, and an inspection method thereof.
【０００２】[0002]
【従来の技術】液晶表示装置は狭額縁、低消費電力が実
現されたことから「産業の顔」として世間に広く受け入
れられている。その中でも、多結晶シリコンによる薄膜
トランジスタを半導体素子として用い、かつその半導体
素子を安価なガラス基板の歪点（約６５０℃のものが多
く用いられている）以下の低温で形成し、駆動回路を画
面表示部と同一工程で作成した低温多結晶シリコン液晶
表示装置は、一層の部品数削減・低価格・低消費電力を
同時に実現できるため、「次世代の液晶表示装置」とし
て開発に注力されている。2. Description of the Related Art A liquid crystal display device has been widely accepted as an "industrial face" because of its narrow frame and low power consumption. Among them, a thin film transistor made of polycrystalline silicon is used as a semiconductor element, and the semiconductor element is formed at a low temperature equal to or lower than a strain point of an inexpensive glass substrate (often about 650 ° C.), and a driving circuit is formed on a screen. Low-temperature polycrystalline silicon liquid crystal display devices made in the same process as the display unit are being developed as "next-generation liquid crystal display devices" because they can further reduce the number of components, lower cost, and lower power consumption at the same time. .
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところが、多結晶シリ
コンによる半導体素子は、ＩＣなどを構成する結晶シリ
コンによる半導体素子に比べて、温度・電圧等のストレ
スに対する特性変動が大きい場合がある。このため多結
晶シリコンによる半導体素子を使用した液晶表示装置で
は、画面表示部と駆動回路を構成する半導体素子に長時
間通電すると、その素子特性が大きく変化するものがあ
る確率で生じる。素子特性が大きく変化すると、その半
導体素子および液晶表示装置全体に供給される電源電流
が増加し、この電流増加がさらに半導体素子の特性変化
を促進する（劣化のポジティブフィードバック）。そし
て、ついにはその半導体素子が破壊し、画面を表示させ
る場合において特定の線または画面全体が表示できない
といった画面表示不良が発生することがある。However, a semiconductor device made of polycrystalline silicon sometimes has a large characteristic variation with respect to stress such as temperature and voltage as compared with a semiconductor device made of crystalline silicon constituting an IC or the like. For this reason, in a liquid crystal display device using a semiconductor element made of polycrystalline silicon, when a semiconductor element forming a screen display portion and a driving circuit is energized for a long time, there is a possibility that the element characteristics change greatly. When the device characteristics change significantly, the power supply current supplied to the semiconductor device and the entire liquid crystal display device increases, and this increase in current further promotes the change in the characteristics of the semiconductor device (positive feedback of deterioration). Eventually, when the semiconductor element is destroyed and a screen is displayed, a screen display defect such that a specific line or the entire screen cannot be displayed may occur.
【０００４】液晶表示装置を検査する際には、検査装置
から液晶表示装置に一定値の電源電圧を供給して画像検
査および特性検査を実施しているが、この場合、ストレ
スに対する特性変化が著しい半導体素子を有していて長
時間の通電によって画面表示不良が発生する恐れがある
液晶表示装置であっても、その検査装置が供給する一定
範囲内の電源電流に対しては正常な画面を表示し、合格
と判定されることがある。When inspecting a liquid crystal display device, a power supply voltage of a constant value is supplied from the inspection device to the liquid crystal display device to perform image inspection and characteristic inspection. In this case, characteristic changes due to stress are remarkable. Even with a liquid crystal display device that has a semiconductor element and a screen display failure may occur due to long-term energization, a normal screen is displayed for the power supply current within a certain range supplied by the inspection device. And may be determined to be acceptable.
【０００５】一方、ＩＣ等の半導体装置では、半導体装
置に流れる電流を制限するために、および外部からの静
電気に対する保護のために、半導体装置の入力端子部に
抵抗を挿入する場合が多い。しかし液晶表示装置の入力
端子部に抵抗を挿入すると、液晶表示装置に入力される
信号に歪みが生じ画面表示時にクロストークや画面上で
の輝度傾斜等の表示品質の劣化を生ずることが多く、検
査時に表示品質不良と誤判定されることがある。On the other hand, in a semiconductor device such as an IC, a resistor is often inserted into an input terminal of the semiconductor device in order to limit a current flowing in the semiconductor device and to protect against external static electricity. However, when a resistor is inserted into the input terminal of the liquid crystal display device, a signal inputted to the liquid crystal display device is distorted, and display quality such as crosstalk or luminance gradient on the screen is often deteriorated during screen display. At the time of inspection, display quality may be erroneously determined to be poor.
【０００６】本発明は上記問題を解決するもので、液晶
表示装置の表示品質不良を出荷前検査で適正に判定する
とともに、検査後の画面表示不良を防止することを目的
とするものである。An object of the present invention is to solve the above-mentioned problem and to appropriately determine a display quality defect of a liquid crystal display device by a pre-shipment inspection and prevent a screen display defect after the inspection.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、液晶表示装置の画面表示部および画面を表
示させるための駆動回路に供給する電源電流を制限する
ことで、液晶表示装置内に構成される半導体素子、特
に、特性変化が著しい半導体素子や、特性が変化すると
画面表示が不可能になる等の画面表示不良が生じる恐れ
がある特定の半導体素子、における電流増加を制限し、
電流増加によってさらに増大する半導体素子の特性変化
を抑制して、半導体素子自体の破壊や画面表示不良を防
ぐものである。SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a liquid crystal display device in which a power supply current supplied to a screen display section of the liquid crystal display device and a driving circuit for displaying the screen is limited. Limit the increase in current in the semiconductor elements formed therein, in particular, semiconductor elements whose characteristics change remarkably, or specific semiconductor elements that may cause screen display defects such as inability to display the screen when the characteristics change. ,
The purpose of the present invention is to suppress a change in the characteristics of the semiconductor element, which is further increased by an increase in the current, to prevent destruction of the semiconductor element itself and defective screen display.
【０００８】また電流制限可能な検査装置を用いて液晶
表示装置を検査することで、半導体素子の特性変化が著
しい液晶表示装置を画面表示不良として識別し、検査後
に半導体素子自体の破壊や画面表示不良が発生する恐れ
のある液晶表示装置の市場流出を防止するものである。[0008] In addition, by inspecting the liquid crystal display device using an inspection device capable of limiting current, a liquid crystal display device in which the characteristics of the semiconductor element significantly changes is identified as a screen display defect, and after the inspection, the semiconductor element itself is destroyed or the screen display is not performed. An object of the present invention is to prevent a liquid crystal display device that may be defective from flowing out of the market.
【０００９】このとき、電源電流を制限する回路の出力
インピーダンスを極力低くすることにより、液晶表示装
置の画面表示品質を確保するとともに、検査時に表示品
質不良と誤判定することを防ぐ。At this time, by reducing the output impedance of the circuit for limiting the power supply current as much as possible, the display quality of the screen of the liquid crystal display device is ensured, and erroneous determination of display quality failure during inspection is prevented.
【００１０】[0010]
【発明の実施の形態】請求項１記載の本発明は、画面表
示部および画面表示駆動回路の入力端子に、前記画面表
示部および画面表示駆動回路を構成する半導体素子の特
性変化により増大する電源電流を制限する電流制限回路
を付加したことを特徴とする液晶表示装置であり、これ
により、半導体素子の特性変化を抑制し、半導体素子自
体の破壊や画面表示不良を防ぐことができる。電源電流
を制限するに際しては、液晶表示装置が破壊されたり表
示不良が起こったりしないことが信頼性試験等で確認さ
れた電流値や、ユーザー等が要望する電流値を基準とす
る。電流制限回路は、液晶表示装置自体に設けてもよい
し、別体に構成して電源装置の出力側に設けてもよい。According to the present invention, there is provided a power supply which is increased due to a change in the characteristics of the semiconductor elements constituting the screen display unit and the screen display drive circuit. A liquid crystal display device characterized by adding a current limiting circuit for limiting a current, whereby a change in characteristics of a semiconductor element can be suppressed, and destruction of the semiconductor element itself and defective screen display can be prevented. In limiting the power supply current, a current value confirmed by a reliability test or the like that the liquid crystal display device is not broken or display failure does not occur, or a current value requested by a user or the like is used as a reference. The current limiting circuit may be provided on the liquid crystal display device itself, or may be separately provided and provided on the output side of the power supply device.
【００１１】請求項２記載の本発明は、請求項１記載の
構成において、電流制限回路の出力部に出力インピーダ
ンスを下げるトランジスタを用いたことを特徴とするも
のであり、これにより、出力インピーダンスを極力低く
して、画面表示品質を確保できるとともに、検査時に表
示品質不良と誤判定されることを防ぐことができる。According to a second aspect of the present invention, in the configuration of the first aspect, a transistor for lowering an output impedance is used in an output section of the current limiting circuit, thereby reducing the output impedance. The screen display quality can be ensured by minimizing the display quality, and the display quality can be prevented from being erroneously determined to be poor at the time of inspection.
【００１２】請求項３記載の本発明は、液晶表示装置に
一定電圧を供給して画像検査や特性変化検査を行う液晶
表示装置の検査装置において、前記液晶表示装置の画面
表示部および画面表示駆動回路への出力端子に、前記画
面表示部および画面表示駆動回路を構成する半導体素子
の特性変化により増大する電源電流を制限する電流制限
回路を付加したことを特徴とする液晶表示装置の検査装
置であり、供給電流を制限する状態で検査することで、
半導体素子の特性変化が著しい液晶表示装置を画像表示
不良として識別することができる。電流制限回路は、検
査装置自体に設けてもよいし、別体に構成して液晶表示
装置との間に挿入してもよい。According to a third aspect of the present invention, there is provided an inspection apparatus for a liquid crystal display device for performing an image inspection and a characteristic change inspection by supplying a constant voltage to the liquid crystal display device. A liquid crystal display inspection apparatus, wherein a current limiting circuit for limiting a power supply current that increases due to a change in characteristics of semiconductor elements constituting the screen display unit and the screen display driving circuit is added to an output terminal to a circuit. Yes, by inspecting with the supply current limited,
A liquid crystal display device in which the characteristic change of the semiconductor element is remarkable can be identified as an image display defect. The current limiting circuit may be provided in the inspection apparatus itself, or may be configured separately and inserted between the inspection apparatus and the liquid crystal display device.
【００１３】請求項４記載の本発明は、請求項３記載の
構成において、電源制限回路の出力部に出力インピーダ
ンスを下げるトランジスタを用いたことを特徴とするも
のであり、これにより、出力インピーダンスを極力低く
して、検査時に表示品質不良と誤判定することを防ぐこ
とができる。According to a fourth aspect of the present invention, in the configuration of the third aspect, a transistor for lowering the output impedance is used in an output section of the power supply limiting circuit, whereby the output impedance is reduced. It can be minimized to prevent erroneous determination of display quality failure during inspection.
【００１４】請求項５記載の本発明は、請求項３記載の
構成において、電流制限回路が、液晶表示装置に接続す
る１以上の端子に設けられたヒューズであることを特徴
とするものであり、半導体素子の特性変化が著しい場合
には、一定以上の電流が流れヒューズにより回路が切断
され画面が表示されないため、画面表示の有無で判定を
行える。したがって、液晶表示装置の入力端子部に抵抗
を挿入し表示品質の劣化を検出する従来の構成と比べて
誤判定を低減できる。According to a fifth aspect of the present invention, in the configuration of the third aspect, the current limiting circuit is a fuse provided at one or more terminals connected to the liquid crystal display device. On the other hand, when the characteristic change of the semiconductor element is remarkable, a current exceeding a certain value flows, the circuit is cut by the fuse and the screen is not displayed. Therefore, erroneous determination can be reduced as compared with the conventional configuration in which a resistor is inserted into the input terminal of the liquid crystal display device to detect deterioration of display quality.
【００１５】請求項６記載の本発明は、請求項３記載の
構成において、電流制限回路が、液晶表示装置に接続す
る１以上の端子に挿入された抵抗と、他の端子に挿入さ
れ一定の電圧降下で回路を切断するリレーとからなるこ
とを特徴とするものであり、これにより、半導体素子の
特性変化が著しい場合には、抵抗に一定以上の電流が流
れて大きな電圧降下が生じ、リレーにより回路が切断さ
れ画面が表示されないため、画面表示の有無で判定を行
える。つまり、液晶表示装置の入力端子部に抵抗のみを
挿入していた従来の構成では、信号波形が歪み表示品質
不良が発生するのに対して、リレーを挿入するこの構成
では、２値判定方式なので入力信号が歪むことはなく表
示不良の問題は発生しないので、従来に比べて誤判定を
低減できる。According to a sixth aspect of the present invention, in the configuration of the third aspect, the current limiting circuit includes a resistor inserted into one or more terminals connected to the liquid crystal display device and a constant current inserted into another terminal. It is characterized by a relay that cuts off the circuit with a voltage drop.If the characteristic of the semiconductor element changes remarkably, a current exceeding a certain level flows through the resistor, causing a large voltage drop. As a result, the circuit is disconnected and the screen is not displayed, so that the determination can be made based on the presence or absence of the screen display. In other words, in the conventional configuration in which only a resistor is inserted into the input terminal of the liquid crystal display device, the signal waveform is distorted and display quality defects occur, whereas in this configuration in which a relay is inserted, the binary determination method is used. Since the input signal is not distorted and the problem of display failure does not occur, erroneous determination can be reduced as compared with the related art.
【００１６】請求項７記載の本発明は、液晶表示装置に
一定電圧を供給して画像検査や特性変化検査を行うに際
し、前記液晶表示装置の画面表示部および画面表示駆動
回路を構成する半導体素子の特性変化により増大する電
源電流を制限し、前記画面表示部での画面表示不良を検
出することを特徴とする液晶表示装置の検査方法であ
り、これにより、半導体素子の特性変化が著しい液晶表
示装置を識別することができ、半導体素子自体の破壊や
画面表示不良が発生する恐れのある液晶表示装置の市場
流出を防止できる。According to a seventh aspect of the present invention, when a constant voltage is supplied to a liquid crystal display device to perform an image inspection or a characteristic change inspection, a semiconductor element constituting a screen display section and a screen display driving circuit of the liquid crystal display device. A method for inspecting a liquid crystal display device, comprising: limiting a power supply current that increases due to a change in the characteristics of a liquid crystal display device, and detecting a screen display defect in the screen display unit. The device can be identified, and the outflow of the liquid crystal display device to the market where the semiconductor element itself may be destroyed or a screen display defect may occur can be prevented.
【００１７】請求項８記載の本発明は、請求項７記載の
構成において、液晶表示装置の温度を変化させて画面表
示状態を検査することを特徴とするものであり、これに
より、温度による半導体素子の特性変化が著しい液晶表
示装置の検査が可能となる。According to an eighth aspect of the present invention, in the configuration according to the seventh aspect, the temperature of the liquid crystal display device is changed to inspect a screen display state. Inspection of a liquid crystal display device in which the characteristic change of the element is remarkable becomes possible.
【００１８】以下、本発明の実施の形態を図面を参照し
ながら具体的に説明する。図１は本発明の第１の実施の
形態における液晶表示装置を示し、この液晶表示装置１
において、２はガラス等の基板であり、３は画面表示部
であり、４は画面を表示させるための２つの駆動回路で
あり、５は各駆動回路に供給する外部電源である。画面
表示部３および駆動回路４は低温多結晶シリコンによる
半導体素子等の半導体素子で構成されている。画面表示
部３および駆動回路４の外部電源５への接続側には電流
制限回路６が付加されている。Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention.
, 2 is a substrate such as glass, 3 is a screen display unit, 4 is two drive circuits for displaying a screen, and 5 is an external power supply supplied to each drive circuit. The screen display unit 3 and the drive circuit 4 are configured by semiconductor elements such as semiconductor elements made of low-temperature polycrystalline silicon. A current limiting circuit 6 is added to the connection side of the screen display unit 3 and the drive circuit 4 to the external power supply 5.
【００１９】このような液晶表示装置１において、液晶
表示装置１の全体もしくは特定の半導体素子の特性が変
化した場合、その半導体素子を流れる電流が増加し、電
気的にはその半導体素子の抵抗が低下したことと同じ意
味を持つ。しかし電流制限回路６の存在によって、液晶
表示装置１内の全ての半導体素子において電流増加が抑
制され、電流増加が引き起こす半導体素子の特性変化が
抑制されるため、半導体素子自体の破壊や画面表示不良
は防止される。In such a liquid crystal display device 1, when the characteristics of the entire liquid crystal display device 1 or the characteristics of a specific semiconductor element change, the current flowing through the semiconductor element increases, and the resistance of the semiconductor element becomes electrically low. It has the same meaning as a decline. However, the presence of the current limiting circuit 6 suppresses a current increase in all the semiconductor elements in the liquid crystal display device 1 and suppresses a change in the characteristics of the semiconductor element caused by the current increase. Is prevented.
【００２０】液晶表示装置１の画面表示を検査するに際
しては、外部電源５に代えて一定電圧を供給する電源を
内蔵した検査装置７を配置し、それより供給される電源
電流を電流制限回路６によって検査装置７の通常供給範
囲より低下させる状態において検査する。これにより、
半導体素子の特性変化が著しい液晶表示装置１では、液
晶表示装置１全体または液晶表示装置１内に構成された
特定の半導体素子に印加される電圧が不足傾向になるた
め、画面表示部において表示色が薄くなったり表示不可
能になったり等、画面表示品質が劣化する。これに対
し、半導体素子の特性変化が少ない液晶表示装置１で
は、同一の検査装置７を用いて検査しても画面表示品質
は劣化しない。したがって、半導体素子の特性変化が著
しい液晶表示装置１を画面表示品質不良として識別でき
る。When inspecting the screen display of the liquid crystal display device 1, an inspection device 7 having a power supply for supplying a constant voltage is provided in place of the external power supply 5, and a power supply current supplied from the inspection device 7 is supplied to a current limiting circuit 6. Inspection is performed in a state where it is lower than the normal supply range of the inspection device 7. This allows
In the liquid crystal display device 1 in which the characteristic change of the semiconductor element is remarkable, the voltage applied to the entire liquid crystal display device 1 or a specific semiconductor element formed in the liquid crystal display device 1 tends to be insufficient. The screen display quality is degraded, for example, the display becomes thin or the display becomes impossible. On the other hand, in the liquid crystal display device 1 in which the characteristic change of the semiconductor element is small, the screen display quality is not deteriorated even if the inspection is performed using the same inspection device 7. Therefore, the liquid crystal display device 1 in which the characteristic change of the semiconductor element is remarkable can be identified as poor screen display quality.
【００２１】図２は本発明の第２の実施の形態における
液晶表示装置を示し、この液晶表示装置１では、各駆動
回路４がそれぞれ更に分割され、分割された各駆動回路
４の入力側にそれぞれ電流制限回路６が設けられてい
て、駆動回路４および電流制限回路６の負荷が小さい構
成となっている。FIG. 2 shows a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention. In the liquid crystal display device 1, each driving circuit 4 is further divided, and the input side of each divided driving circuit 4 is provided. Each of them is provided with a current limiting circuit 6, so that the loads on the drive circuit 4 and the current limiting circuit 6 are small.
【００２２】このような構成によっても、上記第１の実
施の形態と同様に、電流制限回路６の存在によって、液
晶表示装置１内の全てあるいは一部の半導体素子の特性
変化に基づく電流増加を抑制し、電流増加が引き起こす
半導体素子の特性変化を抑制して、半導体素子自体の破
壊や画面表示不良を防止できるとともに、半導体素子の
特性変化が著しい液晶表示装置１を画面表示品質不良と
して識別できる。With such a configuration, similarly to the first embodiment, the current increase due to the characteristic change of all or some of the semiconductor elements in the liquid crystal display device 1 is prevented by the presence of the current limiting circuit 6. In addition to suppressing the change in the characteristics of the semiconductor element caused by the increase in the current, it is possible to prevent the destruction of the semiconductor element itself and the defective screen display, and to identify the liquid crystal display device 1 in which the characteristic change of the semiconductor element is remarkable as the poor screen display quality. .
【００２３】図３は本発明の第３の実施の形態における
液晶表示装置の検査装置を示す。この検査装置７は、一
定電圧を供給する電源を内蔵するとともに、この電源か
ら液晶表示装置１へ供給する電流を制限する電流制限回
路８を出力側に備えている。FIG. 3 shows an inspection device for a liquid crystal display device according to a third embodiment of the present invention. The inspection device 7 has a built-in power supply for supplying a constant voltage, and a current limiting circuit 8 for limiting the current supplied from the power supply to the liquid crystal display device 1 on the output side.
【００２４】このような構成によれば、上記した第１あ
るいは第２の実施の形態のような電流制限回路を持って
いない従来の液晶表示装置に対しても（破線で示したよ
うに電流制限回路６を持った液晶表示装置に対して
も）、検査装置７を接続するだけで、上記第１あるいは
第２の実施の形態と同様にして、半導体素子の特性変化
が著しい液晶表示装置１を画面表示品質不良として識別
できる。According to such a configuration, even a conventional liquid crystal display device having no current limiting circuit as in the first or second embodiment described above (current limiting circuit as shown by a broken line). Just as with the first or second embodiment, the liquid crystal display device 1 in which the characteristics of the semiconductor element are remarkably changed only by connecting the inspection device 7 to the liquid crystal display device having the circuit 6). It can be identified as poor screen display quality.
【００２５】なお、上記した第１、第２あるいは第３の
実施の形態の構成において、液晶表示装置１（または検
査装置７）に付加する電流制限回路６（または電流制限
回路８）の出力インピーダンスが高いと、特性変化が少
ない半導体素子で構成された液晶表示装置１を表示させ
た場合、または検査した場合に、画面表示品質が劣化し
てしまい、その液晶表示装置１内の半導体素子の特性変
化に関する情報が得られない。したがって、電流制限回
路６（または電流制限回路８）に起因する画面表示品質
の劣化を排除し、液晶表示装置１内の半導体素子の特性
変化に起因する表示品質不良を誤判定なく検査するため
に、電流制限回路６（または電流制限回路８）の出力イ
ンピーダンスを極力低くする必要がある。このために
は、電流制限回路６（または電流制限回路８）の出力部
にたとえばトランジスタを用いることにより出力インピ
ーダンスを低下させる。In the configuration of the first, second or third embodiment, the output impedance of the current limiting circuit 6 (or the current limiting circuit 8) added to the liquid crystal display device 1 (or the inspection device 7). Is high, when displaying or inspecting the liquid crystal display device 1 made of a semiconductor element having a small change in characteristics, the screen display quality is deteriorated, and the characteristics of the semiconductor element in the liquid crystal display device 1 are deteriorated. No information about change is available. Therefore, in order to eliminate the deterioration of the screen display quality caused by the current limiting circuit 6 (or the current limiting circuit 8) and to inspect the display quality defect caused by the change in the characteristic of the semiconductor element in the liquid crystal display device 1 without erroneous judgment. It is necessary to minimize the output impedance of the current limiting circuit 6 (or the current limiting circuit 8). For this purpose, the output impedance of the current limiting circuit 6 (or the current limiting circuit 8) is reduced by using, for example, a transistor in the output section.
【００２６】図４に示した本発明の第４の実施の形態で
は、電流制限回路６（または電流制限回路８）は、オペ
アンプ９の出力部にトランジスタ１０を配したトーテン
ポール回路１１を接続し、このトーテンポール回路１１
の出力を電流制限回路の出力とするとともに、オペアン
プ９の入力部の−端子に接続して負帰還をかける構成と
している。In the fourth embodiment of the present invention shown in FIG. 4, a current limiting circuit 6 (or a current limiting circuit 8) connects a totem-pole circuit 11 having a transistor 10 to an output of an operational amplifier 9; This totem pole circuit 11
Is used as the output of the current limiting circuit, and is connected to the negative terminal of the input section of the operational amplifier 9 to apply negative feedback.
【００２７】本発明の第５の実施の形態における液晶表
示装置の検査装置では、電流制限回路８として、図５に
示すように、液晶表示装置１と検査装置７とを接続する
１以上の端子に電流ヒューズ１２を付加している。この
電流ヒューズ１２は液晶表示装置１と検査装置７の少な
くとも一方に付加するものとする。In the inspection device for a liquid crystal display device according to the fifth embodiment of the present invention, as shown in FIG. 5, one or more terminals connecting the liquid crystal display device 1 and the inspection device 7 are used as the current limiting circuit 8. Is provided with a current fuse 12. This current fuse 12 is added to at least one of the liquid crystal display device 1 and the inspection device 7.
【００２８】この構成によれば、半導体素子の特性変化
が著しい液晶表示装置１を検査すると、半導体素子に流
れる電流が増加し電流ヒューズが切れることになり、液
晶表示装置１には画面は表示されない。これに対して、
半導体素子の特性変化が少ない液晶表示装置１を検査す
ると、電流ヒューズは切断されず、液晶表示装置１は表
示品質劣化のない画面を表示する。このことにより、半
導体素子の特性変化が著しい液晶表示装置１を、画面表
示不可という結果で識別できる。According to this configuration, when the liquid crystal display device 1 in which the characteristics of the semiconductor element change significantly is inspected, the current flowing through the semiconductor element increases and the current fuse is blown, and no screen is displayed on the liquid crystal display device 1. . On the contrary,
When the liquid crystal display device 1 in which the change in the characteristics of the semiconductor element is small is inspected, the current fuse is not cut, and the liquid crystal display device 1 displays a screen without deterioration of display quality. Thus, the liquid crystal display device 1 in which the characteristic change of the semiconductor element is remarkable can be identified based on the result that the screen cannot be displayed.
【００２９】また本発明の第６の実施の形態における液
晶表示装置の検査装置では、液晶表示装置１と検査装置
７とを接続する１以上の端子に抵抗を挿入しても液晶表
示装置の画面表示品質が変化しない場合に、電流制限回
路８として以下のような回路を付加する。すなわち図６
に示すように、液晶表示装置１と検査装置７とを接続す
る１以上の端子に抵抗１３を挿入し、別の端子にリレー
１４を挿入し、挿入した抵抗１３の液晶表示装置側の端
子と挿入したリレーの動作制御端子１５とを電気的に接
続する。このリレー１４は、動作制御端子１５に一定以
上の電圧が印加された時に液晶表示装置１と検査装置７
とを接続する端子間を電気的に接続し、一定以下の電圧
が印加された時に端子間を切断するように動作するもの
である。In the inspection device for a liquid crystal display device according to the sixth embodiment of the present invention, even if a resistor is inserted into one or more terminals connecting the liquid crystal display device 1 and the inspection device 7, the screen of the liquid crystal display device is not affected. If the display quality does not change, the following circuit is added as the current limiting circuit 8. That is, FIG.
As shown in (1), a resistor 13 is inserted into one or more terminals connecting the liquid crystal display device 1 and the inspection device 7, and a relay 14 is inserted into another terminal. The operation control terminal 15 of the inserted relay is electrically connected. The relay 14 is connected to the liquid crystal display device 1 and the inspection device 7 when a certain voltage or more is applied to the operation control terminal 15.
Are electrically connected to each other, and are operated to disconnect the terminals when a voltage equal to or lower than a certain value is applied.
【００３０】このような構成によれば、半導体素子の特
性変化が著しい液晶表示装置１を検査すると、液晶表示
装置１と検査装置７とを接続した端子に付加した抵抗１
３に大電流が流れ、抵抗１３の液晶表示装置１側の端子
の電圧が大きく降下し、この電圧降下した液晶表示装置
１側の端子と動作制御端子１５とがリレー１４によって
電気的に切断されることになり、液晶表示装置１には画
面は表示されない。これに対して、半導体素子の特性変
化が少ない液晶表示装置１を検査すると、抵抗１３の液
晶表示装置１側の端子の電圧降下が少ないため、液晶表
示装置１側の端子と検査装置７側の端子はリレー１４に
よって電気的に接続された状態を維持し、液晶表示装置
１は表示品質劣化のない画面を表示する。よって、半導
体素子の特性変化が著しい液晶表示装置を画面表示不可
という結果で選別できる。なお図６では、抵抗およびリ
レー９は液晶表示装置１と液晶表示装置の検査装置７と
の間に図示しているが、液晶表示装置１または液晶表示
装置の検査装置７内の少なくとも片側に付加すればよ
い。According to such a configuration, when the liquid crystal display device 1 in which the characteristics of the semiconductor element change significantly is inspected, the resistance 1 added to the terminal connecting the liquid crystal display device 1 and the inspection device 7 is determined.
3, a large voltage flows through the resistor 13 and the voltage at the terminal of the liquid crystal display device 1 side drops greatly. The terminal of the liquid crystal display device 1 having the dropped voltage and the operation control terminal 15 are electrically disconnected by the relay 14. That is, no screen is displayed on the liquid crystal display device 1. On the other hand, when inspecting the liquid crystal display device 1 in which the characteristic change of the semiconductor element is small, the voltage drop of the resistor 13 at the terminal on the liquid crystal display device 1 side is small. The terminals remain electrically connected by the relay 14, and the liquid crystal display device 1 displays a screen without display quality deterioration. Therefore, it is possible to select a liquid crystal display device in which the characteristics of the semiconductor element change significantly, as a result that the screen cannot be displayed. In FIG. 6, the resistor and the relay 9 are shown between the liquid crystal display device 1 and the inspection device 7 for the liquid crystal display device, but are added to at least one side in the liquid crystal display device 1 or the inspection device 7 for the liquid crystal display device. do it.
【００３１】なおここで、半導体素子に流れる電流は温
度とともに変化するので、液晶表示装置１の温度を変化
させて上記したような検査を行うことにより、温度によ
る半導体素子の特性変化が著しい液晶表示装置の検出が
可能となる。特に、低温多結晶シリコン用いた半導体素
子は高温にすると電流を多く流すので、上記したような
電流制限を加えた種々の検査を温度を変化させて実施す
ることにより、半導体素子の特性変化が著しい液晶表示
装置１をより適正に選別できる。Here, since the current flowing through the semiconductor element changes with the temperature, the above-described inspection is performed by changing the temperature of the liquid crystal display device 1, and the characteristics of the semiconductor element are significantly changed by the temperature. The device can be detected. In particular, since a semiconductor element using low-temperature polycrystalline silicon causes a large amount of current to flow when the temperature is increased, the characteristics of the semiconductor element are remarkably changed by performing various tests with the above-described current limitation at different temperatures. The liquid crystal display device 1 can be more appropriately sorted.
【００３２】[0032]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、液晶表示
装置に、画面表示部および画面を表示させるための駆動
回路に供給する電源電流を制限する電流制限回路を設け
ることで、画面表示品質不良の原因となり得る半導体素
子の特性変化、それによる電流増加、および半導体素子
の更なる特性変化を抑制することができ、半導体素子自
体の破壊や画面表示不良を防止できる。As described above, according to the present invention, a liquid crystal display device is provided with a current limiting circuit for limiting a power supply current supplied to a screen display unit and a drive circuit for displaying a screen, thereby enabling a screen display. It is possible to suppress a change in the characteristics of the semiconductor element, which may cause a quality defect, an increase in the current, and a further change in the characteristics of the semiconductor element, thereby preventing destruction of the semiconductor element itself and defective screen display.
【００３３】また本発明によれば、液晶表示装置の検査
装置に、液晶表示装置の画面表示部および画面を表示さ
せるための駆動回路に供給する電源電流を制限する電流
制限回路を設けることで、検査に起因する半導体素子自
体の破壊や画面表示不良を招くことなく、半導体素子の
特性変化が著しい液晶表示装置を画面表示不良（表示品
質不良または表示の有無）として識別することができ、
長時間の使用の間に半導体素子自体の破壊や画面表示不
良が発生する恐れのある液晶表示装置の市場流出を防止
できる。Further, according to the present invention, the inspection apparatus for a liquid crystal display device is provided with a current limiting circuit for limiting a power supply current supplied to a screen display section of the liquid crystal display device and a drive circuit for displaying the screen. It is possible to identify a liquid crystal display device in which the characteristic change of the semiconductor element is remarkable as a screen display failure (defective display quality or presence or absence of display) without destruction of the semiconductor element itself or defective screen display caused by the inspection,
It is possible to prevent the liquid crystal display device from leaking out of the market where the semiconductor element itself may be broken or a screen display defect may occur during a long use.
【００３４】上記した各構成においては、電流制限回路
の出力インピーダンスを極力低くするトランジスタを用
いることにより、液晶表示装置の画面表示品質を確保す
ること、および検査時に表示品質不良と誤判定すること
を防止できる。In each of the above-described configurations, the use of a transistor for reducing the output impedance of the current limiting circuit as much as possible ensures that the display quality of the liquid crystal display device is assured, and that the display quality is erroneously determined during inspection. Can be prevented.
【００３５】さらに本発明によれば、液晶表示装置に一
定電圧を供給して画像検査や特性変化検査を行うに際
し、電源電流を制限して画面表示不良を検出するように
したことで、半導体素子の特性変化が著しい液晶表示装
置を識別することができ、半導体素子自体の破壊や画面
表示不良が発生する恐れのある液晶表示装置の市場流出
を防止できる。Further, according to the present invention, when an image inspection or a characteristic change inspection is performed by supplying a constant voltage to a liquid crystal display device, a power supply current is limited to detect a screen display defect, so that a semiconductor element is detected. It is possible to identify a liquid crystal display device whose characteristic change is remarkable, and to prevent the liquid crystal display device from leaking to the market where the semiconductor element itself may be destroyed or a screen display defect may occur.
【図１】本発明の第１の実施の形態における液晶表示装
置の概略構成図FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention.
【図２】本発明の第２の実施の形態における液晶表示装
置の概略構成図FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention.
【図３】本発明の第３の実施の形態における液晶表示装
置およびその検査装置の概略構成図FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a liquid crystal display device and an inspection device thereof according to a third embodiment of the present invention.
【図４】本発明の液晶表示装置または検査装置に設けら
れる電流制限回路の構成図FIG. 4 is a configuration diagram of a current limiting circuit provided in the liquid crystal display device or the inspection device of the present invention.
【図５】本発明の液晶表示装置または検査装置に設けら
れる他の電流制限回路の構成図FIG. 5 is a configuration diagram of another current limiting circuit provided in the liquid crystal display device or the inspection device of the present invention.
【図６】本発明の液晶表示装置または検査装置に設けら
れる他の電流制限回路の構成図FIG. 6 is a configuration diagram of another current limiting circuit provided in the liquid crystal display device or the inspection device of the present invention.
１ 液晶表示装置 ２ 基板 ３ 画面表示部 ４ 駆動回路 ５ 電源装置 ６ 電流制限回路 ７ 検査装置 ８ 電流制限回路 ９ オペアンプ 10 トランジスタ 11 トーテンポール回路 12 電流ヒューズ 13 抵抗 14 リレー REFERENCE SIGNS LIST 1 liquid crystal display device 2 substrate 3 screen display unit 4 drive circuit 5 power supply device 6 current limiting circuit 7 inspection device 8 current limiting circuit 9 operational amplifier 10 transistor 11 totem pole circuit 12 current fuse 13 resistor 14 relay
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2H088 FA12 HA06 MA20 2H093 NA16 NC09 NC11 NC21 NC34 NC49 NC57 NC58 NC62 ND47 ND56 ND60 5C006 AF61 BB11 BF25 BF31 BF42 EB01 EB04 FA19 FA33 5C080 AA10 BB05 DD15 DD20 JJ02 JJ03 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H088 FA12 HA06 MA20 2H093 NA16 NC09 NC11 NC21 NC34 NC49 NC57 NC58 NC62 ND47 ND56 ND60 5C006 AF61 BB11 BF25 BF31 BF42 EB01 EB04 FA19 FA33 5C080 AA10 BB05 DD15 DD20 JJ02
Claims (8)
力端子に、前記画面表示部および画面表示駆動回路を構
成する半導体素子の特性変化により増大する電源電流を
制限する電流制限回路を付加したことを特徴とする液晶
表示装置。An input terminal of a screen display section and a screen display drive circuit is provided with a current limiting circuit for limiting a power supply current which increases due to a characteristic change of a semiconductor element constituting the screen display section and the screen display drive circuit. A liquid crystal display device characterized by the above-mentioned.
ンスを下げるトランジスタを用いたことを特徴とする請
求項１記載の液晶表示装置。2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein a transistor for lowering an output impedance is used in an output section of the current limiting circuit.
検査や特性変化検査を行う液晶表示装置の検査装置にお
いて、 前記液晶表示装置の画面表示部および画面表示駆動回路
への出力端子に、前記画面表示部および画面表示駆動回
路を構成する半導体素子の特性変化により増大する電源
電流を制限する電流制限回路を付加したことを特徴とす
る液晶表示装置の検査装置。3. An inspection apparatus for a liquid crystal display device for performing an image inspection and a characteristic change inspection by supplying a constant voltage to the liquid crystal display device, wherein an output terminal to a screen display unit and a screen display drive circuit of the liquid crystal display device includes: An inspection apparatus for a liquid crystal display device, further comprising a current limiting circuit for limiting a power supply current that increases due to a change in characteristics of semiconductor elements constituting the screen display unit and the screen display drive circuit.
ンスを下げるトランジスタを用いたことを特徴とする請
求項３記載の液晶表示装置の検査装置。4. The inspection apparatus for a liquid crystal display device according to claim 3, wherein a transistor for lowering an output impedance is used in an output section of the power supply limiting circuit.
る１以上の端子に設けられたヒューズであることを特徴
とする請求項３記載の液晶表示装置の検査装置。5. The inspection device for a liquid crystal display device according to claim 3, wherein the current limiting circuit is a fuse provided at one or more terminals connected to the liquid crystal display device.
る１以上の端子に挿入された抵抗と、他の端子に挿入さ
れ一定の電圧降下で回路を切断するリレーとからなるこ
とを特徴とする請求項３記載の液晶表示装置の検査装
置。6. The current limiting circuit comprises a resistor inserted into one or more terminals connected to the liquid crystal display device, and a relay inserted into another terminal to cut off the circuit with a certain voltage drop. The inspection device for a liquid crystal display device according to claim 3.
検査や特性変化検査を行うに際し、前記液晶表示装置の
画面表示部および画面表示駆動回路を構成する半導体素
子の特性変化により増大する電源電流を制限し、前記画
面表示部での画面表示不良を検出することを特徴とする
液晶表示装置の検査方法。7. A power supply which is increased by a change in characteristics of a semiconductor element constituting a screen display section and a screen display drive circuit of a liquid crystal display device when a constant voltage is supplied to the liquid crystal display device to perform an image inspection or a characteristic change inspection. An inspection method for a liquid crystal display device, comprising: limiting a current and detecting a screen display defect on the screen display unit.
面表示部での画面表示不良を検出することを特徴とする
請求項７記載の液晶表示装置の検査方法。8. The inspection method for a liquid crystal display device according to claim 7, wherein a temperature of the liquid crystal display device is changed to detect a screen display defect on the screen display unit.
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|---|---|---|---|---|
| JP2007121422A (en) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | Inspection method of liquid crystal display device |
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