JP2001258054A - Image quality inspection device and detector for center of gravity of luminance used therefor - Google Patents

Image quality inspection device and detector for center of gravity of luminance used therefor

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JP2001258054A
JP2001258054A JP2000068328A JP2000068328A JP2001258054A JP 2001258054 A JP2001258054 A JP 2001258054A JP 2000068328 A JP2000068328 A JP 2000068328A JP 2000068328 A JP2000068328 A JP 2000068328A JP 2001258054 A JP2001258054 A JP 2001258054A
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JP
Japan
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luminance
frame memory
image
measurement
screen
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Application number
JP2000068328A
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Japanese (ja)
Inventor
Tatsuya Yabe
達也 谷部
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image quality inspecting device, which uses a CCD camera for picking up an image quality inspection pattern displayed on a screen for inspecting the image quality such as convergence, that can reduce the measurement time at a low cost and accurately measure calculation of center of gravity of luminance. SOLUTION: An installation angle is attached to an object 1 to be inspected and a CCD camera 2 to enhance the measurement accuracy of calculating the luminance gravity center. Furthermore, a frame memory area segmentation unit 7 and a threshold decision unit 11 are used to reduce the effect of luminance shading of a CRT 1, so as to enhance the accuracy of the luminance gravity calculation and thereby inspecting image quality, such as convergence.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【発明が属する技術分野】本発明は、表示装置の画質検
査装置、および、表示装置の画質検査装置の輝度重心検
査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image quality inspection device for a display device and a luminance center of gravity inspection device for the image quality inspection device for a display device.

【従来の技術】図10に従来のCRT画質検査装置のブ
ロック図を示す。図10において、CRT101は被検
査対象物でありテストパターンを表示する表示装置であ
る。CCDカメラ102は、CRT101の画面に表示
しているテストパターンを撮像する撮像手段である。ま
た、CCDカメラ102は、CRT101の表示画面の
垂線上に位置し回転が無いように固定されている。CC
Dカメラインターフェイス103は、CCDカメラ10
2で撮像した画像をフレームメモリ104に出力する装
置である。フレームメモリ104は、CCDカメライン
ターフェイス103から出力された画像を記録するフレ
ームメモリである。検査位置検索処理器105は、フレ
ームメモリ104上で輝度レベルを検索し、輝度重心を
算出するための検査位置を検索する測定位置確認手段で
ある。輝度重心算出器106は、検査位置検索処理器1
05の検索結果である各検査位置での輝度重心を算出す
る輝度重心検出装置である。輝度重心結果演算器107
は、輝度重心算出器106の演算結果である複数の輝度
重心の相対的な位置関係を算出する輝度重心結果演算手
段である。計測値判定処理器108は、輝度重心結果演
算器107の結果で画質を判定する計測値判定処理手段
であり、計測値判定結果表示器109は、計測値判定処
理器108の判定結果を表示する計測値判定結果表示手
段である。次に、CRT画質検査装置の動作を説明す
る。CRTの画質検査のために格子模様のテストパター
ンをCRT101に表示する。CCDカメラ102は、
CRT101に表示しているテストパターン全画面を一
括入力する。CCDカメラ102で入力された画像は、
CCDカメラインターフェイス103を通してフレーム
メモリ104に記録される。検査位置検索処理器105
は、フレームメモリ104に記録されたデータから輝度
重心を算出するための検査位置を検索する。図11は、
CRTに表示される格子模様のテストパターンを示して
おり、格子上の白丸は検査位置検索処理器105による
検索の結果である検査位置として特定された点である。
図11より、格子模様の全交点の位置が検査位置検索処
理器105で求めた検査位置である。輝度重心算出器1
06では、検査位置検索処理器105で求めた検査位置
の輝度重心を算出する。図12は、従来技術における格
子模様の縦線近傍のCCDカメラの画素の図、および、
輝度レベルを示す図である。図12(a)はCRTに表示
された格子模様を示す。図12(b)は図12(a)の格子模
様の縦線の一部を含むK部分の拡大図である。長方形の
黒枠はKの範囲の格子模様の縦線の輪郭42である。ま
た、丸はCCDカメラ1の画素で、白丸40は受光して
いない画素、また、黒丸41は受光している画素であ
る。図12(c)は、格子模様の縦線の輝度レベルの断面
を水平方向にとったものである。受光していない場合は
輝度レベルが低く、逆に受光している場合は輝度レベル
が高くなっている。あらかじめ設定していたしきい値以
上の輝度レベルの中から、輝度レベルが一番高い位置を
輝度重心とし輝度重心算出器で輝度重心(H1〜H3)
を算出し数ラインの輝度重心の平均値を求める。検査位
置検索処理器105の結果から求めた検査位置の輝度重
心を輝度重心算出器106で算出し、交点の縦線や横線
の位置を求めることができる。輝度重心結果演算器10
7は、輝度重心算出器106の演算結果の輝度重心を使
って、表示されている格子模様の線と線の距離や平行度
などの演算を行う。計測値判定処理器108は、輝度重
心結果演算器107の演算結果から画質の判定を行い、
計測値判定結果表示器109によって判定結果を表示す
る。
2. Description of the Related Art FIG. 10 is a block diagram of a conventional CRT image quality inspection apparatus. In FIG. 10, a CRT 101 is an object to be inspected and is a display device that displays a test pattern. The CCD camera 102 is an imaging unit that captures an image of a test pattern displayed on the screen of the CRT 101. Further, the CCD camera 102 is positioned on a perpendicular line of the display screen of the CRT 101 and is fixed so as not to rotate. CC
The D camera interface 103 is connected to the CCD camera 10
2 is a device that outputs the image captured in 2 to the frame memory 104. The frame memory 104 is a frame memory for recording an image output from the CCD camera interface 103. The inspection position search processor 105 is a measurement position confirmation unit that searches a luminance level on the frame memory 104 and searches for an inspection position for calculating a luminance center of gravity. The luminance center-of-gravity calculator 106 is the inspection position search processor 1
This is a luminance center-of-gravity detecting device that calculates the luminance center of gravity at each inspection position, which is the search result of the search 05. Brightness centroid result calculator 107
Is a luminance center-of-gravity result calculating means for calculating a relative positional relationship between a plurality of luminance centroids, which is a calculation result of the luminance center-of-gravity calculator 106. The measurement value judgment processor 108 is a measurement value judgment processing means for judging image quality based on the result of the luminance center-of-gravity result calculator 107, and the measurement value judgment result display 109 displays the judgment result of the measurement value judgment processor 108. It is a measurement value judgment result display means. Next, the operation of the CRT image quality inspection apparatus will be described. A lattice test pattern is displayed on the CRT 101 for image quality inspection of the CRT. The CCD camera 102
The whole screen of the test pattern displayed on the CRT 101 is input collectively. The image input by the CCD camera 102 is
The data is recorded in the frame memory 104 through the CCD camera interface 103. Inspection position search processor 105
Searches an inspection position for calculating a luminance center of gravity from data recorded in the frame memory 104. FIG.
A test pattern of a lattice pattern displayed on the CRT is shown, and white circles on the lattice are points specified as inspection positions as a result of the search by the inspection position search processor 105.
From FIG. 11, the positions of all intersections of the lattice pattern are the inspection positions obtained by the inspection position search processor 105. Brightness center of gravity calculator 1
At 06, the luminance center of gravity of the inspection position obtained by the inspection position search processor 105 is calculated. FIG. 12 is a diagram of a pixel of a CCD camera in the vicinity of a vertical line of a lattice pattern in the related art, and
FIG. 4 is a diagram illustrating a luminance level. FIG. 12A shows a lattice pattern displayed on the CRT. FIG. 12B is an enlarged view of a portion K including a part of the vertical line of the lattice pattern in FIG. The rectangular black frame is the outline 42 of the vertical line of the lattice pattern in the range of K. The circles are the pixels of the CCD camera 1, the white circles 40 are the pixels that have not received light, and the black circles 41 are the pixels that have received light. FIG. 12C shows a cross section of a vertical line of the lattice pattern at the luminance level taken in the horizontal direction. When no light is received, the brightness level is low, and when light is received, the brightness level is high. Among the luminance levels equal to or higher than the threshold value set in advance, the position with the highest luminance level is determined as the luminance centroid, and the luminance centroid (H1 to H3) is calculated by the luminance centroid calculator.
To calculate the average value of the luminance centroids of several lines. The luminance centroid of the inspection position obtained from the result of the inspection position search processor 105 is calculated by the luminance centroid calculator 106, and the position of the vertical line or horizontal line at the intersection can be obtained. Luminance centroid result calculator 10
Reference numeral 7 uses the luminance centroid of the computation result of the luminance centroid calculator 106 to calculate the distance between the lines of the displayed grid pattern, the parallelism, and the like. The measurement value determination processor 108 determines the image quality from the calculation result of the luminance centroid result calculator 107,
The determination result is displayed by the measurement value determination result display 109.

【発明が解決しようとする課題】CRTの検査を行う場
合、検査位置の輝度重心の測定結果に基づいて検査を行
うため、輝度重心の測定を正確・迅速に行うことが重要
である。しかし、CRTは蛍光体で発光しているため細
部では輪郭がはっきりせず、しかも、40万画素程度の
CCDカメラでは受光素子の分解能も不十分なために精
度良く測定できず、その結果格子模様の縦線および横線
の位置計測精度の誤差が大きくなることがあった。ま
た、従来は、輝度重心を演算する際に、複数の検査位置
に対して同一のしきい値を基準に演算を行っていたが、
同一のしきい値では輝度シェーディングにより位置計測
精度の誤差が大きくなることがある。図13において、
図13(a)は、CRTの表示面に表示されている格子模
様である。図13(b)は、図13(a)上に示した直線Y上
の輝度レベルを示した図である。格子模様の縦線が入っ
ているところは、輝度レベルが高く、格子模様がない部
分は、輝度レベルが低いレベルにある。図13(c)は、
格子模様の縦線(白色)部分の輝度レベルのみを切り出
した図であり、図13(d)は、表示画面の背景(黒色)
部分での輝度レベルの図である。輝度シェーディングと
は、図13(c)の輝度レベルが、中央部が両端よりX分
高くなり、さらに、図13(d)の輝度レベルでも、中央
部が両端よりZ分高くなる現象をいう。例えば、図13
(b)に示すように、全測定位置のしきい値を同一に設定
し、例えばしきい値1とすると、A0、A1、A7、A
8の輝度レベルのピークは、しきい値1の輝度レベルよ
り低いために輝度重心は測定されない。また、しきい値
2とするとA0〜A8の輝度レベルのすべてのピークの
はしきい値2よりも高いが、特にA2〜A6では図13
(a)に示す表示画面での黒の部分の輝度レベルよりも、
しきい値2の方が低い。すなわち、A2〜A6各々に輝
度重心を求めたい場合でも、A2〜A6では全ての値が
しきい値以上となるになるために、最も高いA4のみが
A2〜A6の唯一の輝度重心として測定されるため輝度
重心が正確に測定できない。このように、しきい値の設
定によって輝度重心による位置測定精度の誤差が大きく
なるという問題を有していた。本発明は、上記問題点を
解決するためになされたもので、表示装置の画質検査装
置および輝度重心検査装置において輝度重心位置が高精
度に測定でき、誤差の少ない画質検査装置および輝度重
心検査装置を提供するものである。
When an inspection of a CRT is performed, the inspection is performed based on the measurement result of the luminance centroid at the inspection position. Therefore, it is important to measure the luminance centroid accurately and quickly. However, since the CRT emits light with a phosphor, the outline is not clear in details, and the resolution of the light receiving element cannot be measured accurately with a CCD camera of about 400,000 pixels because the resolution of the light receiving element is insufficient. In some cases, the error in the position measurement accuracy of the vertical line and the horizontal line was large. Also, conventionally, when calculating the luminance centroid, the calculation is performed based on the same threshold value for a plurality of inspection positions.
At the same threshold value, the error in position measurement accuracy may increase due to luminance shading. In FIG.
FIG. 13A shows a lattice pattern displayed on the display surface of the CRT. FIG. 13B is a diagram showing a luminance level on the straight line Y shown in FIG. Where the vertical line of the lattice pattern is included, the luminance level is high, and the portion without the lattice pattern is at a low luminance level. FIG. 13 (c)
FIG. 13D is a diagram in which only the luminance level of the vertical line (white) portion of the lattice pattern is cut out, and FIG. 13D shows the background (black) of the display screen
It is a figure of the brightness level in a part. Luminance shading refers to a phenomenon in which the luminance level in FIG. 13 (c) is higher by X at the center than at both ends, and the luminance level in FIG. 13 (d) is higher by Z at both ends than at both ends. For example, FIG.
As shown in (b), if the thresholds of all the measurement positions are set to the same value, and for example, the threshold value is 1, A0, A1, A7, A
Since the peak of the luminance level of 8 is lower than the luminance level of the threshold 1, the luminance centroid is not measured. When the threshold value is set to 2, all the peaks of the luminance levels A0 to A8 are higher than the threshold value 2. In particular, in the case of A2 to A6, FIG.
(a) than the brightness level of the black part on the display screen,
Threshold 2 is lower. That is, even when it is desired to obtain the luminance centroids for each of A2 to A6, since all the values are equal to or more than the threshold value in A2 to A6, only the highest A4 is measured as the only luminance centroid of A2 to A6. Therefore, the luminance center of gravity cannot be measured accurately. As described above, there is a problem that the error in the position measurement accuracy due to the luminance center of gravity increases due to the setting of the threshold value. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an image quality inspection apparatus and a luminance centroid inspection apparatus capable of measuring a luminance centroid position with high accuracy in an image quality inspection apparatus and a luminance centroid inspection apparatus of a display device and having few errors. Is provided.

【課題を解決するための手段】本発明の画質検査装置
は、画質検査のためのテストパターンを表示している表
示装置を撮像する撮像手段と、前記撮像手段で入力した
画像データを記録するフレームメモリと、前記フレーム
メモリに記録されている画像データを用いて、輝度レベ
ルを検索し検査位置を決定する測定位置確認手段と、前
記検査位置の輝度重心を演算する輝度重心演算手段と、
複数の前記輝度重心の相対的な位置関係を算出する輝度
重心結果演算手段と、前記輝度重心結果演算手段から画
質の判定を行う計測値判定処理手段と、前記計測値判定
処理手段の判定結果を表示する計測値判定結果表示手段
を有し、前記撮像手段の撮像画面と前記表示装置の表示
画面は対向しており、かつ、前記撮像画面と前記表示画
面を結ぶ垂直軸を回転軸として相対的に回転させること
により前記撮像画面を前記表示画面に対し相対的に傾け
た状態で撮像を行う構成を有している。この構成により
受光画素数が増加することから検査精度が向上すること
となる。また、本発明の輝度重心検出装置は、画質検査
のためのテストパターンを表示している表示装置を撮像
する撮像手段と、前記撮像手段で入力した画像データを
記録するフレームメモリと、前記フレームメモリに記録
されている画像データを用いて、輝度レベルを検索し検
査位置を決定する測定位置確認手段と、前記検査位置の
輝度重心を演算する輝度重心演算手段を有し、前記撮像
手段の撮像画面と前記表示装置の表示画面は対向してお
り、かつ、前記撮像画面と前記表示画面を結ぶ垂直軸を
回転軸として相対的に回転させることにより前記撮像画
面を前記表示画面に対し相対的に傾けた状態で撮像を行
う構成を有している。この構成により、受光画素数が増
加することから輝度重心の測定精度が向上することとな
る。さらに、この本発明の画質検査装置は、画質検査の
ためのテストパターンを表示している表示装置を撮像す
る撮像手段と、前記撮像手段で入力した画像データを記
録するフレームメモリと、前記フレームメモリに記録さ
れている画像データを用いて、輝度レベルを検索し、検
査位置を決定する測定位置確認手段と、前記検査位置を
含めた範囲を測定範囲として決定するフレームメモリ領
域切出し手段と、前記測定範囲を用いて、輝度重心の演
算時に使用するしきい値を演算して求めるしきい値決定
手段と、前記しきい値決定手段で求めたしきい値を用い
て、輝度重心を演算する輝度重心演算手段と、前記輝度
重心から、複数の輝度重心の相対的な位置関係を算出す
る輝度重心結果演算手段と、前記輝度重心結果演算手段
から画質の判定を行う計測値判定処理手段と、前記計測
値判定処理手段の判定結果を表示する計測値判定結果表
示手段からなり、しきい値を決定するための測定範囲
は、前記測定位置確認手段により得られた1つの検査位
置を含み、かつ、他の検査位置が前記測定範囲の中に入
らない範囲として、この測定範囲を各検査位置毎に個別
算出する構成を有している。この構成により、各測定位
置で輝度シェーディングが異なってもの最適なしきい値
を決定できるので検査精度が向上することとなる。さら
に、本発明の輝度重心検出装置は、画質検査のためのテ
ストパターンを表示している表示装置を撮像する撮像手
段と、前記撮像手段で入力した画像データを記録するフ
レームメモリと、前記フレームメモリに記録されている
画像データを用いて、輝度レベルを検索し、検査位置を
決定する測定位置確認手段と、前記検査位置を含めた範
囲を測定範囲として決定するフレームメモリ領域切出し
手段と、前記測定範囲を用いて、輝度重心の演算時に使
用するしきい値を演算して求めるしきい値決定手段と、
前記しきい値決定手段で求めたしきい値を用いて、輝度
重心を演算する輝度重心演算手段と、しきい値を決定す
るための測定範囲は、前記測定位置確認手段により得ら
れた1つの検査位置を含み、かつ、他の検査位置が前記
測定範囲の中に入らない範囲として、この測定範囲を各
検査位置毎に個別算出する構成を有している。この構成
により、輝度シェーディングが各測定位置で異なって
も、最適なしきい値を決定できるので輝度重心検出精度
が向上する。さらに、本発明の画質検査装置は、請求項
3記載の構成に加えて撮像手段の撮像画面と前記表示装
置の表示画面が対向しており、かつ、前記撮像画面と前
記表示画面を結ぶ垂直軸を回転軸として相対的に回転さ
せることにより前記撮像画面を前記表示画面に対し相対
的に傾けた状態で撮像を行う構成を有している。この構
成により、受光画素数が増加するので画質検査の精度が
向上することとなる。さらに、本発明の輝度重心検出装
置は、請求項4記載の構成に加えて撮像手段の撮像画面
と前記表示装置の表示画面が対向しており、かつ、前記
撮像画面と前記表示画面を結ぶ垂直軸を回転軸として相
対的に回転させることにより前記撮像画面を前記表示画
面に対し相対的に傾けた状態で撮像を行う構成を有して
いる。この構成により、受光画素数が増加するので輝度
重心検出精度が向上することとなる。さらに、本発明の
画質検査装置は、画質検査のためのテストパターンを表
示している表示装置を撮像する撮像手段と、前記撮像手
段で撮像した画像データを記録するフレームメモリA
と、前記撮像手段で入力した画像データを、前記撮像画
面と前記表示画面の垂直軸を回転軸として相対的に回転
させていない時の画像データに変換するアフィン変換処
理器と、前記アフィン変換処理器で変換された画像デー
タを記録するフレームメモリBと、前記フレームメモリ
Bに記録されている画像データを用いて輝度レベルを検
索し検査位置を決定する測定位置確認手段と、前記フレ
ームメモリBで決定した前記検査位置を前記フレームメ
モリAの位置に変換するために逆アフィン変換するフレ
ームメモリ間位置変換器と、前記フレームメモリ間位置
変換器で前記フレームメモリBから前記フレームメモリ
Aに変換された検査位置を用いて輝度重心を演算する輝
度重心演算手段と、前記輝度重心から、複数の輝度重心
の相対的な位置関係を算出する輝度重心結果演算手段
と、前記輝度重心結果演算手段から画質の判定を行う計
測値判定処理手段と、前記計測値判定処理手段の判定結
果を表示する計測値判定結果表示手段からなり、前記撮
像手段の撮像画面は前記表示装置の表示画面は対向して
おり、かつ、前記撮像画面と前記表示画面を結ぶ垂直軸
を回転軸として相対的に回転させることにより前記撮像
画面を前記表示画面に対し相対的に傾けた状態で撮像す
る構成を有する。この構成により受光画素数が増加し、
また、フレームメモリを2つ使用することで演算スピー
ドが向上し画質検査の精度と検査スピードが向上するこ
ととなる。さらに、本発明の輝度重心検出装置は、画質
検査のためのテストパターンを表示している表示装置を
撮像する撮像手段と、前記撮像手段で撮像した画像デー
タを記録するフレームメモリAと、前記撮像手段で入力
した画像データを、前記撮像画面と前記表示画面の垂直
軸を回転軸として相対的に回転させていない時の画像デ
ータに変換するアフィン変換処理器と、前記アフィン変
換処理器で変換された画像データを記録するフレームメ
モリBと、前記フレームメモリBに記録されている画像
データを用いて輝度レベルを検索し検査位置を決定する
測定位置確認手段と、前記フレームメモリBで決定した
前記検査位置を前記フレームメモリAの位置に変換する
ために逆アフィン変換するフレームメモリ間位置変換器
と、前記フレームメモリ間位置変換器で前記フレームメ
モリBから前記フレームメモリAに変換された検査位置
を用いて輝度重心を演算する輝度重心演算手段からな
り、前記撮像手段の撮像画面は前記表示装置の表示画面
は対向しており、かつ、前記撮像画面と前記表示画面を
結ぶ垂直軸を回転軸として相対的に回転させることによ
り前記撮像画面を前記表示画面に対し相対的に傾けた状
態で撮像する構成を有する。この構成によって受光画素
数が増加し、また、フレームメモリを2つ使用すること
で演算スピードの向上し画質検査の精度と検査スピード
向上することとなる。さらに、本発明の画質検査装置
は、請求項7記載の構成に加えて、測定位置確認手段で
算出した位置を画像データとしてを切り出すフレームメ
モリ領域切り出し手段と、前記フレームメモリ領域切り
出し手段から出力されたデータから、輝度重心の演算を
行う為のしきい値を決定するしきい値決定手段を有し、
前記フレームメモリ領域切り出し手段でしきい値を決定
するための測定範囲は、前記測定位置確認手段の演算に
より得られた1つの検査位置を含み、かつ、他の検査位
置が測定範囲の中に入らない範囲として、この測定範囲
を各検査位置毎に個別算出し、その後、前記しきい値決
定手段で前記測定範囲ごとに決定したしきい値を用いて
輝度重心を算出することを特徴とするものである。この
構成により受光画素数が増加し、各測定位置で輝度シェ
ーディングが異なっても最適なしきい値を決定でき、フ
レームメモリを2つ使用することで演算スピードの向上
するので、画質検査の精度と検査スピード向上すること
となる。さらに、本発明の輝度重心検査装置は、請求項
8記載の構成に加えて測定位置確認手段で算出した位置
を画像データとしてを切り出すフレームメモリ領域切り
出し手段と、前記フレームメモリ領域切り出し手段から
出力されたデータから、輝度重心の演算を行う為のしき
い値を決定するしきい値決定手段を有し、前記フレーム
メモリ領域切り出し手段でしきい値を決定するための測
定範囲は、前記測定位置確認手段の演算により得られた
1つの検査位置を含み、かつ、他の検査位置が測定範囲
の中に入らない範囲として、この測定範囲を各検査位置
毎に個別算出し、その後、前記しきい値決定手段で前記
測定範囲ごとに決定したしきい値を用いて輝度重心を算
出することを特徴とするものである。この構成により、
受光画素数が増加し、各測定位置で輝度シェーディング
が異なっても最適なしきい値を決定でき、フレームメモ
リを2つ使用することで演算スピードの向上するので、
輝度重心の測定精度と検査スピード向上することとな
る。
According to the present invention, there is provided an image quality inspection apparatus, comprising: an image pickup means for picking up an image of a display device displaying a test pattern for image quality check; and a frame for recording image data inputted by the image pickup means. A memory, using image data recorded in the frame memory, a measurement position confirmation unit that searches for a luminance level to determine an inspection position, and a luminance centroid calculation unit that calculates a luminance centroid of the inspection position.
A luminance barycenter result calculating unit that calculates a relative positional relationship between the plurality of luminance centroids, a measurement value determination processing unit that determines image quality from the luminance barycenter result calculation unit, and a determination result of the measurement value determination processing unit. It has a measurement value determination result display means for displaying, an imaging screen of the imaging means and a display screen of the display device are opposed to each other, and a vertical axis connecting the imaging screen and the display screen is relatively defined as a rotation axis. By rotating the imaging screen, the imaging is performed in a state where the imaging screen is tilted relatively to the display screen. With this configuration, the inspection accuracy is improved because the number of light receiving pixels is increased. In addition, the luminance center of gravity detection device of the present invention includes: an imaging unit that captures an image of a display device displaying a test pattern for image quality inspection; a frame memory that records image data input by the imaging unit; Using image data recorded in the camera, a measurement position confirmation unit that searches for a luminance level to determine an inspection position, and a luminance centroid calculation unit that calculates a luminance centroid of the inspection position; And the display screen of the display device is opposed to each other, and the imaging screen is tilted relative to the display screen by relatively rotating about a vertical axis connecting the imaging screen and the display screen as a rotation axis. It has a configuration in which imaging is performed in a state in which the camera is in a closed state. With this configuration, since the number of light receiving pixels is increased, the measurement accuracy of the luminance centroid is improved. Further, the image quality inspection apparatus according to the present invention includes: an imaging unit for imaging a display device displaying a test pattern for image quality inspection; a frame memory for recording image data input by the imaging unit; Using the image data recorded in the image data, a luminance level is searched, and a measurement position confirmation unit that determines an inspection position, a frame memory area cutout unit that determines a range including the inspection position as a measurement range, and Threshold value calculating means for calculating and calculating a threshold value used in calculating the luminance centroid using the range; and a luminance centroid for calculating the luminance centroid using the threshold value calculated by the threshold value determining means. Calculating means for calculating a relative positional relationship between a plurality of luminance centroids from the luminance centroid; and determining the image quality from the luminance centroid result calculating means. It comprises a measured value judgment processing means, and a measured value judgment result display means for displaying the judgment result of the measured value judgment processing means, and the measurement range for determining the threshold value is obtained by the measurement position confirmation means. As a range that includes one inspection position and the other inspection position does not fall within the measurement range, the measurement range is individually calculated for each inspection position. With this configuration, even if the luminance shading differs at each measurement position, the optimum threshold value can be determined, so that the inspection accuracy is improved. Further, the luminance center-of-gravity detecting device of the present invention includes an image pickup unit for picking up an image of a display device displaying a test pattern for image quality inspection, a frame memory for recording image data input by the image pickup unit, and the frame memory. Using the image data recorded in the image data, a luminance level is searched, and a measurement position confirmation unit that determines an inspection position, a frame memory area cutout unit that determines a range including the inspection position as a measurement range, and Threshold value determining means for calculating and calculating a threshold value used in calculating the luminance centroid using the range;
The luminance center of gravity calculating means for calculating the luminance center of gravity using the threshold value determined by the threshold value determining means and the measurement range for determining the threshold value are one of the ones obtained by the measurement position confirmation means. It is configured that the measurement range is individually calculated for each inspection position as a range including the inspection position and other inspection positions not falling within the measurement range. With this configuration, even if the luminance shading is different at each measurement position, the optimum threshold value can be determined, so that the luminance centroid detection accuracy is improved. Furthermore, in the image quality inspection apparatus according to the present invention, in addition to the configuration according to claim 3, an imaging screen of imaging means and a display screen of the display device are opposed to each other, and a vertical axis connecting the imaging screen and the display screen is provided. By rotating the imaging screen relatively with respect to the rotation axis, the imaging is performed in a state where the imaging screen is relatively inclined with respect to the display screen. With this configuration, since the number of light receiving pixels increases, the accuracy of the image quality inspection improves. Furthermore, in the luminance center-of-gravity detecting device according to the present invention, in addition to the configuration according to claim 4, an imaging screen of imaging means and a display screen of the display device are opposed to each other, and A configuration is provided in which the image is taken in a state in which the imaging screen is relatively inclined with respect to the display screen by relatively rotating the axis with the axis as a rotation axis. With this configuration, the number of light receiving pixels is increased, so that the luminance centroid detection accuracy is improved. Further, the image quality inspection apparatus according to the present invention comprises an image pickup means for picking up an image of a display device displaying a test pattern for image quality check, and a frame memory A for recording image data picked up by the image pickup means.
An affine transformation processor for transforming image data input by the imaging means into image data when the image data is not relatively rotated about a vertical axis of the imaging screen and the display screen as a rotation axis; and A frame memory B for recording image data converted by the detector, a measurement position confirmation unit for searching for a luminance level using the image data recorded in the frame memory B and determining an inspection position; The inter-frame-memory position converter that performs inverse affine transformation to convert the determined inspection position into the position of the frame memory A, and the frame memory B is converted to the frame memory A by the inter-frame memory position converter. A luminance centroid calculating means for calculating a luminance centroid using the inspection position; and a relative position relation of a plurality of luminance centroids from the luminance centroid. Brightness center-of-gravity result calculating means, a measured value determination processing means for determining image quality from the brightness center-of-gravity result calculating means, and a measured value determination result display means for displaying a determination result of the measured value determination processing means, The imaging screen of the imaging unit is opposed to the display screen of the display device, and the imaging screen is rotated by a relative rotation about a vertical axis connecting the imaging screen and the display screen. Image pickup in a state of being relatively tilted with respect to. This configuration increases the number of light receiving pixels,
Further, by using two frame memories, the calculation speed is improved, and the accuracy and the inspection speed of the image quality inspection are improved. Further, the luminance center-of-gravity detecting device of the present invention includes: an image pickup means for picking up an image of a display device displaying a test pattern for image quality inspection; a frame memory A for recording image data picked up by the image pickup means; Means for converting the image data input by the means into image data when the image screen and the display screen are not relatively rotated about the vertical axis of the display screen as a rotation axis; and A frame memory B for recording the image data obtained by the measurement, a measurement position confirming means for retrieving a luminance level by using the image data recorded in the frame memory B and determining an inspection position, and the inspection determined by the frame memory B. A frame memory position converter for performing an inverse affine transformation to convert a position into a position of the frame memory A; A luminance barycenter calculating means for calculating a luminance barycenter using the inspection position converted from the frame memory B to the frame memory A by the converter, wherein an image screen of the image pickup means is opposed to a display screen of the display device. And a configuration in which the imaging screen is imaged in a state in which the imaging screen is relatively inclined with respect to the display screen by relatively rotating about a vertical axis connecting the imaging screen and the display screen as a rotation axis. With this configuration, the number of light receiving pixels increases, and the use of two frame memories improves the calculation speed, thereby improving the accuracy of image quality inspection and the inspection speed. Further, in addition to the configuration according to claim 7, the image quality inspection apparatus according to the present invention further includes a frame memory area extracting means for extracting the position calculated by the measurement position confirming means as image data, and an image output from the frame memory area extracting means. Threshold value determining means for determining a threshold value for calculating the luminance center of gravity from the obtained data,
The measurement range for determining the threshold value by the frame memory area cutout means includes one inspection position obtained by the operation of the measurement position confirmation means, and another inspection position falls within the measurement range. This measurement range is individually calculated for each inspection position as a non-existent range, and thereafter, the luminance centroid is calculated using the threshold value determined for each measurement range by the threshold value determination means. It is. With this configuration, the number of light receiving pixels is increased, the optimum threshold value can be determined even if the luminance shading differs at each measurement position, and the calculation speed can be improved by using two frame memories. Speed will be improved. Furthermore, the luminance center-of-gravity inspection apparatus of the present invention, in addition to the configuration according to claim 8, further includes a frame memory area extracting section for extracting the position calculated by the measurement position confirming section as image data, and a frame memory area outputting section. Threshold data for calculating a luminance center of gravity from the obtained data, and a measurement range for determining a threshold value by the frame memory area extracting means is determined by the measurement position confirmation. The measurement range is individually calculated for each inspection position as a range including one inspection position obtained by the operation of the means and not including the other inspection position in the measurement range. The luminance center of gravity is calculated using the threshold value determined for each of the measurement ranges by the determination means. With this configuration,
Since the number of light receiving pixels increases and the optimal threshold value can be determined even if the luminance shading differs at each measurement position, the operation speed is improved by using two frame memories.
The measurement accuracy of the luminance center of gravity and the inspection speed are improved.

【発明の実施の形態】以下、本願発明の第1の実施の形
態について図面を用いて説明する。図1には本願発明の
第1の実施の形態のブロック図を示す。図2はCRT1
とCCDカメラ2の位置関係を示す。図2よりCCDカ
メラ2は、表示部分に対し垂直の軸を中心に回転させ、
傾けた状態で固定されている。図1に示すように、この
画質検査装置では、CRT1は、被検査対象で画質検査
を行うためのテストパターンを表示する。CCDカメラ
2は、CRT1に表示しているテストパターンを撮像す
る。図2に示すように、CCDカメラ2は、CRT1の
表示面(X―Y平面上)に対して垂直方向(Z軸)上に
あり、そのZ軸を中心にCCDカメラ2を回転させ、傾
けた状態(角度付けした状態)で固定されている。カメ
ラインターフェイス3は、CCDカメラ2で入力した画
像をフレームメモリA4に出力しフレームメモリA4で
画像を記録する。アフィン変換処理器5は、入力された
CCDカメラの実画像データをCCDカメラの角度付と
逆の角度に補正を行うアフィン変換処理を行う。フレー
ムメモリB6は、アフィン変換処理を行った画像データ
を記録する。検査位置検索処理器9は、フレームメモリ
B6上で輝度レベルを検索して検査位置を決定する。次
に、フレームメモリ間位置変換器10は、フレームメモ
リB6で検索した測定位置をフレームメモリA4の該当
位置に対応させるため、フレームメモリB6からフレー
ムメモリA4への座標系間の変換を行う。フレームメモ
リ領域切出し器7は、フレームメモリA4上のデータを
測定位置毎に最適なしきい値を設定できる大きさの範囲
に切出す。しきい値決定器11は、フレームメモリ領域
切出し器7で切出された範囲毎の画像の最適なしきい値
を決定する。ライン平均処理付き輝度重心算出器8は、
フレームメモリA4の指定されたラインにおいて輝度重
心の演算を行いその平均値処理を行う。輝度重心結果演
算器13は、ライン平均処理付き輝度重心算出器8の演
算結果を用いて演算を行う。計測値判定処理器14は、
輝度重心結果演算器13の結果から画質を判定する。計
測値判定結果表示器15は、計測値判定処理器14の判
定結果を表示する。図面を用いてCRT画質検査装置の
動作を説明する。図3は本発明の画像処理の流れを示
す。格子模様のテストパターンをCRT1が表示する。
角度付けされているCCDカメラ2(本発明の第1の実
施の形態では5°の角度付けがされている)では、表示
しているテストパターンの全画面を一括撮影する。図3
(a)に示すように、角度付けしているCCDカメラ2か
らの撮像画像は、斜めの状態の格子模様が表示される。
その撮像画像は、CCDカメラインターフェイス3を通
してフレームメモリA4に記録されると同時にアフィン
変換処理器5に入力される。斜め状態の格子模様を入力
したフレームA4は、この斜め状態で画像を記録し、演
算を行う。アフィン変換処理器5では、入力した撮像画
像(角度付けされている斜めの状態の格子模様)を角度
付けしていない状態(図3(b))に補正し、角度付けし
ていない画像データをフレームメモリB6に記録する。
このフレームメモリB6に記録されている角度付けして
いない画像データに対して、検査位置検索処理器9が指
定した画像データの位置(例えば、格子模様の交点)を
検索する。1つのフレームメモリで斜めの格子模様の交
点を検査位置検索処理器で検索する場合、斜めになって
いない格子模様を測定するのと比べて、測定が複雑(例
えば、斜めになっていない格子模様の交点を確認する場
合、まず縦線と横線を確認する時は一カ所確認すれば交
点位置は確認できるが、斜め状態だと、縦と横をそれぞ
れ測定していき最後に交点を確認する)になるために測
定時間がかかる。そこで、フレームメモリA,Bを2つ
用いると、フレームメモリBでは、アフィン変換処理
で、斜めになっていない状態の格子模様から交点位置を
検索することで正確に交点位置を確認でき。また、フレ
ームメモリAでは、フレームメモリBで求めた交点を逆
アフィン変換で変換し、その検査位置のみの輝度重心を
測定するために検査スピードが向上できる。本発明の第
1の実施の形態では、格子パターンの全交点の位置(白
丸)を検査位置検索処理器で求めるものとする。この場
合、検査位置検索処理器9は、25個の格子パターン交
点を検索し、その交点の位置を(Xi,Yi)i=1〜
25とする(図3(C))。フレームメモリ間位置変換器1
0は、検査位置検索処理器9の処理結果(Xi,Yi)
i=1〜25 に対して、フレームメモリB6の座標系
からフレームメモリA4の座標系(Xoi,Yoi)に
変換する(図3(d))。このように、2つのフレームメモ
リを使用することで、測定位置の正確な位置および、検
査スピードの向上に有効である。フレームメモリ領域切
出し器7は、フレームメモリ間位置変換器10の結果
(Xoi,Yoi) i=1〜25を基にして、各検査
位置でしきい値を決定するための測定範囲を決定する。
切り出す範囲の設定方法は、まず、変換後のメモリフレ
ームA4上での検査位置(交点)を中心とし、切り出す
大きさ(測定範囲)の中央に設定して他の検査位置(交
点)を含まない範囲の大きさに設定する。他の交点が入
ると輝度重心が演算できなくなるためで、交点(輝度レ
ベルの高いピーク)は各測定範囲で1カ所である。その
後、フレームメモリ領域切出し器7でフレームメモリA
4から切り出した範囲の画像データをしきい値決定器1
1に出力する。しきい値決定器11では、フレームメモ
リ領域切出し器7で、他の検査位置がフレームに入らな
いように設定した範囲で、各検査位置でのしきい値を算
出する。各検査位置では、背景などの余分な輝度を切り
捨て、測定場所によって異なる輝度シェーディングを考
慮しながら、可能な限り低い輝度レベル(例えば、図1
3(d)に表示した格子模様の背景(黒色)の輝度レベル
Wに近いレベル)のしきい値を決定する。なお、輝度シ
ェーディングは、検査位置によって異なるが、この方法
により輝度シェーディングの影響を少なくして測定で
き、測定精度の向上を図ることができる。ライン平均処
理付き輝度重心算出器8は、フレームメモリ領域切出し
器7が作成する25個のそれぞれの領域の画像データと
しきい値決定器11が決定したしきい値で輝度重心を算
出する。図4に格子模様の縦線近傍のCCDカメラの画
素図と輝度レベルを示す。図4(a)はCCDカメラが撮
像した斜め状態の格子模様を示す。図4(b)は図4(a)格
子模様の縦線の一部を含むK部分の拡大図である。平行
四辺形の黒枠は格子模様の縦線の輪郭42である。ま
た、丸はCCDカメラの画素で、白丸40はCCDカメ
ラの受光していない画素、また、黒丸41は受光してい
る画素である。図4(c)は、格子模様の縦線の輝度レベ
ルの断面を水平方向にとったものである。受光していな
い部分は輝度レベルが低く、受光している部分は輝度レ
ベルが高い。あらかじめ設定していたしきい値以上の輝
度レベルの中から、輝度レベルが一番高い位置を輝度重
心とする。図5は、CCDカメラ2の回転の有無で格子
模様の1本の縦線の受光している図を示す。CCDカメ
ラ2の回転が無い場合は、CCDカメラが受光している
画素数は、横の1ライン4つである。しかし、CCDカ
メラの角度付けが5°の場合の受光している画素数は、
横の1ライン5つである。このように角度付けした場合
はCCDカメラが受光している画素数が増えるので感度
が向上し輝度重心の測定精度が向上する。ライン平均処
理付き輝度重心算出器8では、図4で示すG1〜G9ラ
インでのそれぞれ輝度重心を算出し、輝度重心の水平位
置の平均値に該当する位置に縦線の輝度重心が存在する
と決定する。また、同様に横線も決定する。このよう
に、格子パターンの各交点の近傍の縦線と横線の輝度重
心から交点を算出することができ、これを交点の位置と
する。その後、交点の位置を利用して複数の画質検査を
行う。図6に、画質検査方法の一例を示す。図6(a)、
(b)は、縦線の平行度を測定する方法であり、左右の膨
らみ、へこみの検査を行う。具体的には、白丸で示して
ある交点60、61および62、63のX軸上での距離
差E、Fを算出する。図6(c)は、各交点間の距離を求
める測定方法であり、水平方向、垂直方向の各交点間距
離Gを計算し、交点間距離が同じか、異なるかの検査を
行う。図6(d)は、テストパターンの最外郭の歪具合を
求める測定方法である。4カ所の交点64,65,6
6,67の交点を利用して、向かい合った直線同士(例
えば、交点64と65で結んだ直線と交点66と67で
結んだ直線)が、平行であるか、また、辺の長さが同じ
であるかなどの検査を行う。計測値判定処理器14では
輝度重心結果演算器13の結果から画質の判定を行い、
計測値判定結果表示器15は計測値判定処理器14の結
果を表示する。以上のように、CCDカメラ2とCRT
1に角度付けを行うことで測定精度が向上し、フレーム
メモリA4とフレームメモリB6との2つのフレームメ
モリを使用することにより測定スピードが向上し、さら
に、フレームメモリ領域切出し器7としきい値決定器1
1を使用することで測定位置毎に輝度シェーディングの
影響があっても、最適なしきい値を決定でき測定精度が
向上する。このように、この構成で輝度重心の測定精度
の向上と演算処理のスピードが向上する。次に、本願発
明の第2の実施の形態について図面を用いて説明する。
図7は本願発明の第2の実施の形態のブロック図を示
す。上記した実施の形態と同じ構成部分の説明は省略す
る。図1の本願発明の第1の実施の形態のブロック図と
第2の実施の形態とを比較すると、構成として、アフィ
ン変換処理器5、フレームメモリB6、検査位置検索処
理器9、フレームメモリ間位置変換器10、フレームメ
モリ領域切出し器7、しきい値決定器11が相違する。
従来装置の構成と比較すると演算処理のスピード向上は
できないが、表示画面に対して垂直方向に位置している
CCDカメラ2が回転し傾けている状態で撮像を行うこ
とができるので、測定精度を向上することができる。次
に、本願発明の第3の実施の形態について図面を用いて
説明する。図8は本願発明の第3の実施の形態のブロッ
ク図を示す。上記した実施の形態と同じ構成部分の説明
は省略する。図1の本願発明の第1の実施の形態のブロ
ック図と第3の実施の形態とを比較すると、構成として
アフィン変換処理器5、フレームメモリB6、フレーム
メモリ間位置変換器10が相違する。図10の従来の構
成と比較すると、フレームメモリ領域切出し器7、しき
い値決定器11の構成を付加しており、検査位置検索処
理器9で検査位置を決定しその検査位置をフレームメモ
リ領域切出し器7、しきい値決定器11で、各交点で適
切なしきい値を決定し、輝度シェーディングの影響を少
なくして演算することができるので、これにより、測定
精度を向上することができる。次に、本願発明の第4の
実施の形態について図面を用いて説明する。図9に本願
発明の第4の実施の形態のブロック図を示す。上記した
実施の形態と同じ構成部分の説明は省略する。図1の本
願発明の第1の実施の形態のブロック図と第4の実施の
形態とを比較すると、構成としてフレームメモリ領域切
出し器7、しきい値決定器11が相違する。図10の従
来の構成と比較すると、回転しているCCDカメラ2、
フレームメモリB、アフィン変換処理器、フレームメモ
リ間位置変換器の構成をさらに付加したものである。こ
れにより感度を向上させ、さらにフレームメモリを2つ
使用することにより演算スピードも向上するので、従来
品よりは測定精度と演算スピードが向上することができ
る。さらに、CRTとCCDカメラに角度付けを行い、
2つのフレームメモリ、フレームメモリ領域切出し器を
用いて、フレームメモリAから小領域を切出し最適なし
きい値を設定した後、CRTの輝度シェーディングの影
響を受けにくい条件で輝度重心算出を高精度に行うこと
で、精度良く表示装置の画質検査が行える。なお、CR
T1とCCDカメラ2の角度付けを行っているが、角度
はCCDカメラ2が検査用の画像を一括して入力できる
角度であれば良い。なお、撮像手段に角度付けをおこな
ったが、撮像手段には角度付けを行わず、被測定物であ
る表示装置に角度付けを行っても同様の効果を得られ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a block diagram of a first embodiment of the present invention. Figure 2 shows CRT1
And the positional relationship between the CCD camera 2 and the camera. From FIG. 2, the CCD camera 2 is rotated about an axis perpendicular to the display portion,
It is fixed in an inclined state. As shown in FIG. 1, in this image quality inspection apparatus, the CRT 1 displays a test pattern for performing an image quality inspection on an inspection target. The CCD camera 2 captures an image of the test pattern displayed on the CRT 1. As shown in FIG. 2, the CCD camera 2 is in a direction (Z axis) perpendicular to the display surface (on the XY plane) of the CRT 1, and the CCD camera 2 is rotated around the Z axis and tilted. Fixed (angled). The camera interface 3 outputs an image input by the CCD camera 2 to a frame memory A4, and records the image in the frame memory A4. The affine transformation processor 5 performs affine transformation processing for correcting the input real image data of the CCD camera to an angle opposite to that of the CCD camera. The frame memory B6 records the image data subjected to the affine transformation processing. The inspection position search processor 9 determines an inspection position by searching for a luminance level on the frame memory B6. Next, the inter-frame memory position converter 10 performs conversion between the coordinate systems from the frame memory B6 to the frame memory A4 in order to make the measurement position searched in the frame memory B6 correspond to the corresponding position in the frame memory A4. The frame memory area extractor 7 extracts data on the frame memory A4 into a range of a size that allows an optimum threshold value to be set for each measurement position. The threshold value determiner 11 determines an optimum threshold value of the image for each range extracted by the frame memory area extractor 7. The luminance center of gravity calculator 8 with the line averaging process is
The luminance center of gravity is calculated for the specified line in the frame memory A4, and the average value processing is performed. The brightness centroid result calculator 13 performs a calculation using the calculation result of the brightness centroid calculator 8 with the line averaging process. The measurement value determination processor 14
The image quality is determined from the result of the luminance centroid result calculator 13. The measurement value judgment result display 15 displays the judgment result of the measurement value judgment processor 14. The operation of the CRT image quality inspection apparatus will be described with reference to the drawings. FIG. 3 shows the flow of the image processing of the present invention. The CRT 1 displays a grid test pattern.
The angled CCD camera 2 (angled at 5 ° in the first embodiment of the present invention) collectively captures the entire screen of the displayed test pattern. FIG.
As shown in (a), the captured image from the CCD camera 2 at an angle displays a lattice pattern in an oblique state.
The captured image is recorded in the frame memory A4 through the CCD camera interface 3 and is input to the affine transformation processor 5 at the same time. The frame A4 in which the lattice pattern in the diagonal state is input records an image in the diagonal state and performs an operation. The affine transformation processor 5 corrects the input captured image (the angled grid pattern in an oblique state) to an unangled state (FIG. 3 (b)), and converts the unangled image data. The data is recorded in the frame memory B6.
The inspection position search processor 9 searches the position of the image data designated by the inspection position search processor 9 (for example, the intersection of the lattice pattern) from the image data which is not angled and recorded in the frame memory B6. When the intersection of diagonal lattice patterns is searched by one frame memory using the inspection position search processor, the measurement is more complicated (for example, a lattice pattern that is not diagonal) than when a non-diagonal lattice pattern is measured. When checking the intersection of, first check the vertical line and the horizontal line, you can check the location of the intersection by checking one place, but if it is in a diagonal state, measure the vertical and horizontal sides and confirm the intersection at the end) It takes time to measure. Therefore, if two frame memories A and B are used, the intersection point can be accurately confirmed in the frame memory B by searching for the intersection point from the lattice pattern that is not oblique in the affine transformation processing. In the frame memory A, the intersection obtained by the frame memory B is converted by the inverse affine transformation, and the luminance center of the inspection position alone is measured, so that the inspection speed can be improved. In the first embodiment of the present invention, the positions (white circles) of all the intersections of the grid pattern are determined by the inspection position search processor. In this case, the inspection position search processor 9 searches for 25 grid pattern intersections, and sets the positions of the intersections to (Xi, Yi) i = 1 to 1.
25 (FIG. 3C). Frame memory position converter 1
0 is the processing result (Xi, Yi) of the inspection position search processor 9
For i = 1 to 25, the coordinate system of the frame memory B6 is converted to the coordinate system (Xoi, Yoi) of the frame memory A4 (FIG. 3D). As described above, using two frame memories is effective in improving the accurate measurement position and the inspection speed. The frame memory area extractor 7 determines a measurement range for determining a threshold value at each inspection position based on the result (Xoi, Yoi) i = 1 to 25 of the inter-frame-memory position converter 10.
The method for setting the cutout range is as follows. First, the cutout size (measurement range) is set at the center of the test position (intersection point) on the converted memory frame A4, and does not include other test positions (intersection points). Set to the size of the range. Since the luminance center of gravity cannot be calculated when another intersection is entered, the intersection (peak having a high luminance level) is one in each measurement range. After that, the frame memory A
4 is a threshold value determiner 1
Output to 1. The threshold value determiner 11 calculates a threshold value at each inspection position in the range set by the frame memory area extractor 7 so that another inspection position does not enter the frame. At each inspection position, extra luminance such as the background is discarded, and the luminance level as low as possible (for example, FIG.
3 (d), the threshold value of the background (black) of the lattice pattern (the level close to the luminance level W) is determined. The luminance shading varies depending on the inspection position. However, this method can reduce the influence of the luminance shading and can perform measurement, thereby improving the measurement accuracy. The luminance center of gravity calculation unit 8 with the line averaging process calculates the luminance center of gravity based on the image data of each of the 25 areas created by the frame memory area extractor 7 and the threshold value determined by the threshold value determiner 11. FIG. 4 shows a pixel diagram of a CCD camera and a luminance level near a vertical line of a lattice pattern. FIG. 4A shows an oblique lattice pattern captured by the CCD camera. FIG. 4B is an enlarged view of a portion K including a part of the vertical line of the lattice pattern in FIG. The black frame of the parallelogram is the outline 42 of the vertical line of the lattice pattern. The circles are the pixels of the CCD camera, the white circles 40 are the pixels that are not receiving light from the CCD camera, and the black circles 41 are the pixels that are receiving light. FIG. 4C shows a horizontal cross section of the luminance level of the vertical line of the lattice pattern. The portion not receiving light has a low brightness level, and the portion receiving light has a high brightness level. A position having the highest luminance level among luminance levels equal to or higher than a preset threshold value is set as a luminance center of gravity. FIG. 5 shows a diagram in which one vertical line of a lattice pattern is received depending on whether or not the CCD camera 2 is rotated. When the CCD camera 2 does not rotate, the number of pixels received by the CCD camera is four in one horizontal line. However, when the angle of the CCD camera is 5 °, the number of received pixels is
There are five horizontal lines. When the angle is set in this manner, the number of pixels received by the CCD camera increases, so that the sensitivity is improved and the measurement accuracy of the luminance center of gravity is improved. The luminance centroid calculator 8 with the line averaging process calculates the luminance centroids of the G1 to G9 lines shown in FIG. 4 and determines that the luminance centroid of the vertical line exists at a position corresponding to the average value of the horizontal positions of the luminance centroids. I do. Also, the horizontal line is determined in the same manner. As described above, the intersection can be calculated from the luminance centroids of the vertical and horizontal lines near each intersection of the grid pattern, and this is set as the position of the intersection. Thereafter, a plurality of image quality inspections are performed using the positions of the intersections. FIG. 6 shows an example of the image quality inspection method. FIG. 6 (a),
(b) is a method of measuring the parallelism of a vertical line, and inspects left and right bulges and dents. Specifically, distance differences E and F on the X-axis at the intersections 60, 61 and 62, 63 indicated by white circles are calculated. FIG. 6C shows a measuring method for calculating the distance between the intersections. The distance G between the intersections in the horizontal direction and the vertical direction is calculated, and it is checked whether the distances between the intersections are the same or different. FIG. 6D shows a measurement method for obtaining the degree of distortion of the outermost contour of the test pattern. Four intersections 64, 65, 6
Using the intersections 6, 67, straight lines facing each other (for example, a straight line connected at intersections 64 and 65 and a straight line connected at intersections 66 and 67) are parallel or have the same side length. Inspection of whether or not. The measured value determination processor 14 determines the image quality from the result of the luminance centroid result calculator 13,
The measurement value judgment result display 15 displays the result of the measurement value judgment processor 14. As described above, the CCD camera 2 and the CRT
1, the measurement accuracy is improved, and the measurement speed is improved by using two frame memories, the frame memory A4 and the frame memory B6. Vessel 1
By using 1, even if there is an influence of luminance shading for each measurement position, an optimum threshold value can be determined and measurement accuracy is improved. Thus, with this configuration, the measurement accuracy of the luminance center of gravity is improved and the speed of the arithmetic processing is improved. Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 7 shows a block diagram of the second embodiment of the present invention. The description of the same components as those of the above-described embodiment will be omitted. A comparison between the block diagram of the first embodiment of the present invention of FIG. 1 and the second embodiment shows that the configuration includes an affine transformation processor 5, a frame memory B6, an inspection position search processor 9, and a frame memory. The position converter 10, the frame memory area extractor 7, and the threshold value determiner 11 are different.
Although the speed of the arithmetic processing cannot be improved as compared with the configuration of the conventional apparatus, the measurement accuracy can be improved because the CCD camera 2 positioned in the vertical direction with respect to the display screen can perform imaging while rotating and tilting. Can be improved. Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 8 shows a block diagram of the third embodiment of the present invention. The description of the same components as those of the above-described embodiment will be omitted. Comparing the block diagram of the first embodiment of the present invention in FIG. 1 with the third embodiment, the affine transformation processor 5, the frame memory B6, and the inter-frame memory position converter 10 are different in configuration. Compared with the conventional configuration of FIG. 10, the configuration of the frame memory area extractor 7 and the threshold value determiner 11 is added, and the inspection position is determined by the inspection position search processor 9, and the inspection position is stored in the frame memory area. The cutout device 7 and the threshold value determination device 11 can determine an appropriate threshold value at each intersection and perform calculations with less influence of luminance shading, thereby improving measurement accuracy. Next, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 9 shows a block diagram of the fourth embodiment of the present invention. The description of the same components as those of the above-described embodiment will be omitted. Comparing the block diagram of the first embodiment of the present invention in FIG. 1 with the fourth embodiment, the frame memory area extractor 7 and the threshold value determiner 11 are different in configuration. Compared to the conventional configuration of FIG. 10, the rotating CCD camera 2
The configuration of the frame memory B, the affine transformation processor, and the position converter between frame memories is further added. As a result, the sensitivity is improved, and the operation speed is also improved by using two frame memories, so that the measurement accuracy and the operation speed can be improved as compared with the conventional product. Furthermore, the CRT and CCD camera are angled,
After extracting a small area from the frame memory A using two frame memories and a frame memory area extractor and setting an optimal threshold value, the luminance center of gravity is calculated with high accuracy under the condition that is hardly affected by the luminance shading of the CRT. Thus, the image quality of the display device can be inspected with high accuracy. Note that CR
Although the angle between T1 and the CCD camera 2 is set, the angle may be any angle as long as the CCD camera 2 can collectively input images for inspection. Although the imaging unit is angled, the same effect can be obtained even if the imaging unit is not angled and the display device as an object to be measured is angled.

【発明の効果】以上のように本発明は、輝度重心測定を
正確・迅速に行い、輝度重心の測定精度および画質検査
の精度を向上させるために、CRTとCCDカメラの角
度付けを行うことで従来のCCDカメラを使用しても感
度アップし、検査装置の測定精度を向上できる。また、
CRTとCCDカメラに角度付けを行い、2つのフレー
ムメモリを使用し、1つのフレームメモリBで検査位置
の検索を行いその結果から、他のフレームメモリのデー
タAから輝度重心を求める演算できるようにしている
と、1つのメモリで記録演算するよりも演算スピードの
向上ができる。
As described above, according to the present invention, the CRT and the CCD camera are angled in order to measure the luminance center of gravity accurately and promptly, and to improve the measurement accuracy of the luminance center of gravity and the accuracy of image quality inspection. Even if a conventional CCD camera is used, the sensitivity can be increased and the measurement accuracy of the inspection device can be improved. Also,
The CRT and the CCD camera are angled, two frame memories are used, one frame memory B is used to search for the inspection position, and the result is used to calculate the luminance barycenter from the data A of the other frame memory. Thus, the calculation speed can be improved as compared with the case where the recording calculation is performed by one memory.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態のブロック図FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施の形態におけるCRTとC
CDカメラの位置関係を示す図
FIG. 2 shows a CRT and a CRT according to the first embodiment of the present invention.
Diagram showing positional relationship of CD camera

【図3】(a)本発明の第1の実施の形態におけるフレ
ームメモリAに記憶してある画像を示す説明図 (b)本発明の第1の実施の形態におけるアフィン処理
した画像を示す説明図 (c)本発明の第1の実施の形態における検査位置確認
状態を示す画像の説明図 (d)本発明の第1の実施の形態における座標変換した
画像を示す説明図 (e)本発明の第1の実施の形態における画像処理の流
れを示す説明図
FIG. 3A is an explanatory diagram showing an image stored in a frame memory A according to the first embodiment of the present invention. FIG. 3B is an explanatory diagram showing an image subjected to affine processing according to the first embodiment of the present invention. (C) An explanatory diagram of an image showing an inspection position confirmation state according to the first embodiment of the present invention. (D) An explanatory diagram showing a coordinate-transformed image according to the first embodiment of the present invention. (E) The present invention Explanatory diagram showing the flow of image processing according to the first embodiment of the present invention.

【図4】(a)本発明の第1の実施の形態におけるCC
Dカメラが撮像した斜め状態の格子模様を示す説明図 (b)本発明の第1の実施の形態におけるCCDカメラ
が撮像した格子模様の縦線の一部を含むK部分の拡大図 (c)本発明の第1の実施の形態におけるCCDカメラ
が撮像した格子模様の縦線の輝度レベルの断面を水平方
向にとって説明図
FIG. 4 (a) CC in the first embodiment of the present invention
Explanatory diagram showing a lattice pattern in an oblique state captured by a D camera. (B) Enlarged view of a K portion including a part of a vertical line of a lattice pattern captured by a CCD camera according to the first embodiment of the present invention. FIG. 3 is an explanatory view of a horizontal cross section of a luminance level of a vertical line of a lattice pattern captured by a CCD camera according to the first embodiment of the present invention.

【図5】CCDカメラの角度付けの有無による、CCD
カメラの画素が受光している格子模様の縦線近傍の図
FIG. 5: CCD depending on whether or not the CCD camera is angled
Figure near the vertical line of the grid pattern received by the camera pixels

【図6】(a)本発明の第1の実施の形態で縦線の平行
度を測定する場合の、左右の膨らみを表わす図 (b)本発明の第1の実施の形態で縦線の平行度を測定
する場合の、左右のへこみを表わす図 (c)本発明の第1の実施の形態における各交点間の距
離を求める測定方法の概略図 (d)本発明の第1の実施の形態におけるテストパター
ンの最外郭の歪具合を求める測定方法の概略図
FIG. 6A is a diagram showing left and right bulges when the parallelism of a vertical line is measured in the first embodiment of the present invention. FIG. 6B is a diagram showing the vertical bulge in the first embodiment of the present invention. FIG. 3C is a diagram showing the left and right dents when measuring the parallelism. FIG. 3C is a schematic diagram of a measuring method for obtaining a distance between intersections according to the first embodiment of the present invention. Schematic diagram of a measurement method for determining the degree of distortion of the outermost contour of a test pattern in a form

【図7】本発明の第2の実施の形態のブロック図FIG. 7 is a block diagram of a second embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第3の実施の形態のブロック図FIG. 8 is a block diagram of a third embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第4の実施の形態のブロック図FIG. 9 is a block diagram of a fourth embodiment of the present invention.

【図10】従来例のCRT画質検査装置のブロック図FIG. 10 is a block diagram of a conventional CRT image quality inspection apparatus.

【図11】検査位置検索処理器の検索結果である検査位
置を示す図
FIG. 11 is a diagram showing an inspection position as a search result of the inspection position search processor.

【図12】(a)従来例のCCDカメラが撮像した斜め
状態の格子模様を示す説明図 (b)従来例のCCDカメラが撮像した格子模様の縦線
の一部を含むK部分の拡大図 (c)従来例のCCDカメラが撮像した格子模様の縦線
の輝度レベルの断面を水平方向にとって説明図
12A is an explanatory view showing a lattice pattern in an oblique state captured by a conventional CCD camera. FIG. 12B is an enlarged view of a K portion including a part of a vertical line of the grid pattern captured by a conventional CCD camera. (C) Explanatory drawing with the cross section of the luminance level of the vertical line of the lattice pattern imaged by the conventional CCD camera taken in the horizontal direction

【図13】(a)CRTの表示面に表示されている格子
模様を示す図 (b)格子模様上の直線Y上の輝度レベルを示した図 (c)格子模様の縦線(白色)部分の輝度レベルのみを
切り出した図 (d)表示画面の背景(黒色)部分での輝度レベルの図
13A is a diagram showing a lattice pattern displayed on the display surface of a CRT. FIG. 13B is a diagram showing a luminance level on a straight line Y on the lattice pattern. FIG. 13C is a vertical line (white) portion of the lattice pattern. (D) Diagram of luminance level in background (black) part of display screen

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 CRT 2 CCDカメラ 3 カメラインターフェイス 4 フレームメモリA 5 アフィン変換処理器 6 フレームメモリB 7 フレームメモリ領域切出し器 8 ライン平均処理付き輝度重心算出器 9 検査位置検索処理器 10 フレームメモリ間位置変換器 11 しきい値決定器 13 平均輝度重心結果演算器 14 計測値判定処理器 15 計測値判定結果表示器 20 輝度重心検出装置 30 画質検査装置 Reference Signs List 1 CRT 2 CCD camera 3 Camera interface 4 Frame memory A 5 Affine transformation processor 6 Frame memory B 7 Frame memory area extractor 8 Luminance centroid calculator with line averaging processing 9 Inspection position search processor 10 Frame memory position converter 11 Threshold value determiner 13 Average brightness centroid result calculator 14 Measured value judgment processor 15 Measured value judgment result display 20 Luminance centroid detection device 30 Image quality inspection device

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 画質検査のためのテストパターンを表示
している表示装置を撮像する撮像手段と、前記撮像手段
で入力した画像データを記録するフレームメモリと、前
記フレームメモリに記録されている画像データを用い
て、輝度レベルを検索し検査位置を決定する測定位置確
認手段と、前記検査位置の輝度重心を演算する輝度重心
演算手段と、複数の前記輝度重心の相対的な位置関係を
算出する輝度重心結果演算手段と、前記輝度重心結果演
算手段から画質の判定を行う計測値判定処理手段と、前
記計測値判定処理手段の判定結果を表示する計測値判定
結果表示手段とを有し、前記撮像手段の撮像画面と前記
表示装置の表示画面は対向しており、かつ、前記撮像画
面と前記表示画面を結ぶ垂直軸を回転軸として相対的に
回転させることにより前記撮像画面を前記表示画面に対
し相対的に傾けた状態で撮像を行う画質検査装置。
An image pickup means for picking up an image of a display device displaying a test pattern for image quality inspection, a frame memory for recording image data input by the image pickup means, and an image recorded in the frame memory. Using the data, a measurement position confirmation unit that searches for a luminance level to determine an inspection position, a luminance center calculation unit that calculates a luminance centroid of the inspection position, and calculates a relative positional relationship between the plurality of luminance centroids. Brightness centroid result calculation means, measurement value judgment processing means for judging image quality from the luminance centroid result calculation means, and measurement value judgment result display means for displaying a judgment result of the measurement value judgment processing means, The imaging screen of the imaging unit and the display screen of the display device are opposed to each other, and are relatively rotated about a vertical axis connecting the imaging screen and the display screen as a rotation axis. An image quality inspection apparatus that performs imaging in a state where the imaging screen is inclined relative to the display screen.
【請求項2】 画質検査のためのテストパターンを表示
している表示装置を撮像する撮像手段と、前記撮像手段
で入力した画像データを記録するフレームメモリと、前
記フレームメモリに記録されている画像データを用い
て、輝度レベルを検索し検査位置を決定する測定位置確
認手段と、前記検査位置の輝度重心を演算する輝度重心
演算手段とを有し、前記撮像手段の撮像画面と前記表示
装置の表示画面は対向しており、かつ、前記撮像画面と
前記表示画面を結ぶ垂直軸を回転軸として相対的に回転
させることにより前記撮像画面を前記表示画面に対し相
対的に傾けた状態で撮像を行う輝度重心検出装置。
2. An image pickup means for picking up an image of a display device displaying a test pattern for image quality inspection, a frame memory for recording image data inputted by the image pickup means, and an image recorded in the frame memory. Using the data, a measurement position confirmation unit that searches for a luminance level to determine an inspection position, and a luminance centroid calculation unit that calculates a luminance centroid of the inspection position, wherein the imaging screen of the imaging unit and the display device The display screens are opposed to each other, and the image is captured in a state in which the imaging screen is relatively tilted with respect to the display screen by relatively rotating about a vertical axis connecting the imaging screen and the display screen as a rotation axis. Luminance center of gravity detection device.
【請求項3】 画質検査のためのテストパターンを表示
している表示装置を撮像する撮像手段と、前記撮像手段
で入力した画像データを記録するフレームメモリと、前
記フレームメモリに記録されている画像データを用い
て、輝度レベルを検索し、検査位置を決定する測定位置
確認手段と、前記検査位置を含めた範囲を測定範囲とし
て決定するフレームメモリ領域切出し手段と、前記測定
範囲を用いて、輝度重心の演算時に使用するしきい値を
演算して求めるしきい値決定手段と、前記しきい値決定
手段で求めたしきい値を用いて、輝度重心を演算する輝
度重心演算手段と、前記輝度重心から複数の輝度重心の
相対的な位置関係を算出する輝度重心結果演算手段と、
前記輝度重心結果演算手段から画質の判定を行う計測値
判定処理手段と、前記計測値判定処理手段の判定結果を
表示する計測値判定結果表示手段とからなり、しきい値
を決定するための測定範囲は、前記測定位置確認手段に
より得られた1つの検査位置を含み、かつ、他の検査位
置が前記測定範囲の中に入らない範囲として、この測定
範囲を各検査位置毎に個別算出することを特徴とする画
質検査装置。
3. An image pickup means for picking up an image of a display device displaying a test pattern for image quality inspection, a frame memory for recording image data inputted by the image pickup means, and an image recorded in the frame memory. Using the data, a luminance level is searched, a measurement position confirmation unit that determines an inspection position, a frame memory area extracting unit that determines a range including the inspection position as a measurement range, and a luminance using the measurement range. Threshold value determining means for calculating and calculating a threshold value used in calculating the center of gravity; luminance centroid calculating means for calculating a luminance centroid using the threshold value calculated by the threshold value determining means; Brightness centroid result calculating means for calculating a relative positional relationship between the plurality of luminance centroids from the centroid;
A measurement value judgment processing means for judging image quality from the luminance center-of-gravity result calculation means; and a measurement value judgment result display means for displaying a judgment result of the measurement value judgment processing means. The range includes one inspection position obtained by the measurement position confirmation unit, and the measurement range is individually calculated for each inspection position as a range in which another inspection position does not fall within the measurement range. An image quality inspection apparatus characterized by the above-mentioned.
【請求項4】 画質検査のためのテストパターンを表示
している表示装置を撮像する撮像手段と、前記撮像手段
で入力した画像データを記録するフレームメモリと、前
記フレームメモリに記録されている画像データを用い
て、輝度レベルを検索し、検査位置を決定する測定位置
確認手段と、前記検査位置を含めた範囲を測定範囲とし
て決定するフレームメモリ領域切出し手段と、前記測定
範囲を用いて、輝度重心の演算時に使用するしきい値を
演算して求めるしきい値決定手段と、前記しきい値決定
手段で求めたしきい値を用いて、輝度重心を演算する輝
度重心演算手段とを有し、しきい値を決定するための測
定範囲は、前記測定位置確認手段により得られた1つの
検査位置を含み、かつ、他の検査位置が前記測定範囲の
中に入らない範囲として、この測定範囲を各検査位置毎
に個別算出することを特徴とする輝度重心検出装置。
4. An image pickup means for picking up an image of a display device displaying a test pattern for image quality inspection, a frame memory for recording image data input by the image pickup means, and an image recorded in the frame memory. Using the data, a luminance level is searched, a measurement position confirmation unit that determines an inspection position, a frame memory area extracting unit that determines a range including the inspection position as a measurement range, and a luminance using the measurement range. Threshold value calculating means for calculating a threshold value used in calculating the center of gravity, and luminance center calculating means for calculating a luminance center of gravity using the threshold value calculated by the threshold value determining means. The measurement range for determining the threshold value includes one inspection position obtained by the measurement position confirmation means, and a range in which another inspection position does not fall within the measurement range. A luminance center of gravity detecting apparatus for individually calculating the measurement range for each inspection position.
【請求項5】 前記撮像手段の撮像画面と前記表示装置
の表示画面は対向しており、かつ、前記撮像画面と前記
表示画面を結ぶ垂直軸を回転軸として相対的に回転させ
ることにより前記撮像画面を前記表示画面に対し相対的
に傾けた状態で撮像を行う請求項3記載の画質検査装
置。
5. The imaging device according to claim 1, wherein an imaging screen of the imaging unit and a display screen of the display device face each other, and the imaging is performed by relatively rotating a vertical axis connecting the imaging screen and the display screen as a rotation axis. The image quality inspection apparatus according to claim 3, wherein imaging is performed in a state where a screen is tilted relative to the display screen.
【請求項6】 前記撮像手段の撮像画面と前記表示装置
の表示画面は対向しており、かつ、前記撮像画面と前記
表示画面を結ぶ垂直軸を回転軸として相対的に回転させ
ることにより前記撮像画面を前記表示画面に対し相対的
に傾けた状態で撮像を行う請求項4記載の輝度重心検出
装置。
6. An image pickup apparatus according to claim 1, wherein an image pickup screen of said image pickup means and a display screen of said display device are opposed to each other, and said image pickup is performed by relatively rotating a vertical axis connecting said image pickup screen and said display screen as a rotation axis. 5. The luminance gravity center detecting device according to claim 4, wherein the imaging is performed in a state where the screen is tilted relatively to the display screen.
【請求項7】 画質検査のためのテストパターンを表示
している表示装置を撮像する撮像手段と、前記撮像手段
で撮像した画像データを記録するフレームメモリAと、
前記撮像手段で入力した画像データを前記撮像画面と前
記表示画面の垂直軸を回転軸として相対的に回転させて
いない時の画像データに変換するアフィン変換処理器
と、前記アフィン変換処理器で変換された画像データを
記録するフレームメモリBと、前記フレームメモリBに
記録されている画像データを用いて輝度レベルを検索し
検査位置を決定する測定位置確認手段と、前記フレーム
メモリBで決定した前記検査位置を前記フレームメモリ
Aの位置に変換するために逆アフィン変換するフレーム
メモリ間位置変換器と、前記フレームメモリ間位置変換
器で前記フレームメモリBから前記フレームメモリAに
変換された検査位置を用いて輝度重心を演算する輝度重
心演算手段と、前記輝度重心から複数の輝度重心の相対
的な位置関係を算出する輝度重心結果演算手段と、前記
輝度重心結果演算手段から画質の判定を行う計測値判定
処理手段と、前記計測値判定処理手段の判定結果を表示
する計測値判定結果表示手段とからなり、前記撮像手段
は撮像画面と前記表示装置の表示画面は対向しており、
かつ、前記撮像画面と前記表示画面を結ぶ垂直軸を回転
軸として相対的に回転させることにより前記撮像画面を
前記表示画面に対し相対的に傾けた状態で撮像する画質
検査装置。
7. An image pickup means for picking up an image of a display device displaying a test pattern for image quality inspection, a frame memory A for recording image data picked up by the image pickup means,
An affine transformation processor for transforming the image data input by the imaging means into image data when the image screen and the display screen are not relatively rotated about a vertical axis as the rotation axis; and the affine transformation processor. A frame memory B for recording the obtained image data, a measurement position confirmation unit for searching for a luminance level using the image data recorded in the frame memory B to determine an inspection position, and An inter-frame memory position converter that performs inverse affine transformation to convert an inspection position into the position of the frame memory A; and an inspection position converted from the frame memory B to the frame memory A by the inter-frame memory position converter. A luminance centroid calculating means for calculating a luminance centroid using the luminance centroid; and calculating a relative positional relationship between a plurality of luminance centroids from the luminance centroid. Brightness centroid result calculation means, measurement value judgment processing means for judging image quality from the luminance centroid result calculation means, and measurement value judgment result display means for displaying a judgment result of the measurement value judgment processing means, The imaging unit has an imaging screen and a display screen of the display device facing each other,
In addition, an image quality inspection apparatus that relatively rotates about a vertical axis connecting the imaging screen and the display screen as a rotation axis to image the imaging screen in a state of being relatively tilted with respect to the display screen.
【請求項8】 画質検査のためのテストパターンを表示
している表示装置を撮像する撮像手段と、前記撮像手段
で撮像した画像データを記録するフレームメモリAと、
前記撮像手段で入力した画像データを前記撮像画面と前
記表示画面の垂直軸を回転軸として相対的に回転させて
いない時の画像データに変換するアフィン変換処理器
と、前記アフィン変換処理器で変換された画像データを
記録するフレームメモリBと、前記フレームメモリBに
記録されている画像データを用いて輝度レベルを検索し
検査位置を決定する測定位置確認手段と、前記フレーム
メモリBで決定した前記検査位置を前記フレームメモリ
Aの位置に変換するために逆アフィン変換するフレーム
メモリ間位置変換器と、前記フレームメモリ間位置変換
器で前記フレームメモリBから前記フレームメモリAに
変換された検査位置を用いて輝度重心を演算する輝度重
心演算手段とからなり、前記撮像手段は、撮像画面と前
記表示装置の表示画面は対向しており、かつ、前記撮像
画面と前記表示画面を結ぶ垂直軸を回転軸として相対的
に回転させることにより前記撮像画面を前記表示画面に
対し相対的に傾けた状態で撮像する輝度重心検出装置。
8. An image pickup means for picking up an image of a display device displaying a test pattern for image quality inspection, a frame memory A for recording image data picked up by the image pickup means,
An affine transformation processor for transforming the image data input by the imaging means into image data when the image screen and the display screen are not relatively rotated about a vertical axis as the rotation axis; and the affine transformation processor. A frame memory B for recording the obtained image data, a measurement position confirmation unit for searching for a luminance level using the image data recorded in the frame memory B to determine an inspection position, and An inter-frame memory position converter that performs inverse affine transformation to convert an inspection position into the position of the frame memory A; and an inspection position converted from the frame memory B to the frame memory A by the inter-frame memory position converter. Brightness center of gravity calculation means for calculating a brightness center of gravity using the image pickup means, wherein the image pickup means includes an image pickup screen and a display image of the display device. Is a luminance center of gravity that is opposed to, and captures the imaging screen in a state of being relatively tilted with respect to the display screen by relatively rotating about a vertical axis connecting the imaging screen and the display screen as a rotation axis. Detection device.
【請求項9】 測定位置確認手段で算出した位置を画像
データとして切り出すフレームメモリ領域切り出し手段
と、前記フレームメモリ領域切り出し手段から出力され
たデータから輝度重心の演算を行う為のしきい値を決定
するしきい値決定手段と、前記フレームメモリ領域切り
出し手段でしきい値を決定するための測定範囲が前記測
定位置確認手段の演算により得られた1つの検査位置を
含み、かつ、他の検査位置が測定範囲の中に入らない範
囲としてこの測定範囲を各検査位置毎に個別算出し前記
しきい値決定手段で前記測定範囲ごとに決定したしきい
値を用いて輝度重心を算出する輝度重心算出手段とを有
する請求項7記載の画質検査装置。
9. A frame memory area extracting means for extracting a position calculated by the measurement position confirming means as image data, and a threshold value for calculating a luminance centroid from data output from the frame memory area extracting means. And a measurement range for determining a threshold value by the frame memory area cutout means includes one inspection position obtained by the operation of the measurement position confirmation means, and another inspection position. Is calculated as a range that does not fall within the measurement range, and the measurement range is individually calculated for each inspection position, and the brightness center of gravity is calculated using the threshold value determined for each measurement range by the threshold value determination means. The image quality inspection apparatus according to claim 7, further comprising means.
【請求項10】 測定位置確認手段で算出した位置を画
像データとしてを切り出すフレームメモリ領域切り出し
手段と、前記フレームメモリ領域切り出し手段から出力
されたデータから、輝度重心の演算を行う為のしきい値
を決定するしきい値決定手段と、前記フレームメモリ領
域切り出し手段でしきい値を決定するための測定範囲が
前記測定位置確認手段の演算により得られた1つの検査
位置を含み、かつ、他の検査位置が測定範囲の中に入ら
ない範囲としてこの測定範囲を各検査位置毎に個別算出
し前記しきい値決定手段で前記測定範囲ごとに決定した
しきい値を用いて輝度重心を算出する輝度重心算出手段
とを有する請求項8記載の輝度重心検査装置。
10. A frame memory area extracting means for extracting the position calculated by the measurement position confirming means as image data, and a threshold value for calculating a luminance centroid from data outputted from the frame memory area extracting means. And a measurement range for determining a threshold value by the frame memory area cutout means includes one inspection position obtained by the operation of the measurement position confirmation means, and A luminance in which the inspection position is not included in the measurement range, the measurement range is individually calculated for each inspection position, and the luminance center of gravity is calculated using the threshold value determined for each measurement range by the threshold value determination means. 9. The luminance center of gravity inspection apparatus according to claim 8, further comprising a center of gravity calculation means.
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