JP2001235287A - Silicon melting apparatus - Google Patents

Silicon melting apparatus

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JP2001235287A
JP2001235287A JP2000191328A JP2000191328A JP2001235287A JP 2001235287 A JP2001235287 A JP 2001235287A JP 2000191328 A JP2000191328 A JP 2000191328A JP 2000191328 A JP2000191328 A JP 2000191328A JP 2001235287 A JP2001235287 A JP 2001235287A
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silicon
plasma
melting
silicon material
dissolving
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JP2000191328A
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Japanese (ja)
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Kengo Kainuma
研吾 貝沼
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Fuji Electric Co Ltd
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Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To more sharply reduce than a prior art apparatus with respect to melting time of a silicon material. SOLUTION: In a silicon melting apparatus for heating, melting, and holding a solid silicon material 4, a plasma melting section 32 is provided in which a silicon molten solution 7 is obtained by passing the silicon material 4 in plasma 39.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、固形のシリコン
材を溶解し加熱保持するためのシリコン溶解装置に関
し、特に、シリコン材の溶解時間が従来の装置より大幅
に短縮されたシリコン溶解装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a silicon melting apparatus for melting and heating and holding a solid silicon material, and more particularly to a silicon melting apparatus in which the melting time of a silicon material is significantly reduced as compared with a conventional apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】図8は、従来のシリコン溶解装置の構成
を示す断面図である。容器1の側面にガイド5が設けら
れるとともに容器1の上部に電子ビーム銃2が取り付け
られている。容器1の内部には受け皿6が収納され、こ
の受け皿6の内部に電子ビーム銃2の電子ビーム3が照
射されるようになっている。粉砕された固形のシリコン
材4が容器1の外部からガイド5に沿って受け皿6内に
投入されるとともに受け皿6内部のシリコン材4が電子
ビーム3でもって照射される。シリコン材4が電子ビー
ム3でもって満遍なく照射されるように、電子ビーム銃
2が回動可能に取り付けられてあり、電子ビーム3が点
線の範囲θを満遍なく照射することができるようになっ
ている。この電子ビーム3によって、シリコン材4が加
熱溶解しシリコン融液7が形成される。最後に、受け皿
6を傾けることによってシリコン融液7が図示されてい
ない鋳型に注湯され、必要とされる固形のシリコンイン
ゴットが形成される。
2. Description of the Related Art FIG. 8 is a sectional view showing the structure of a conventional silicon melting apparatus. A guide 5 is provided on a side surface of the container 1, and an electron beam gun 2 is attached to an upper portion of the container 1. A receiving tray 6 is housed inside the container 1, and the inside of the receiving tray 6 is irradiated with the electron beam 3 of the electron beam gun 2. The pulverized solid silicon material 4 is put into the tray 6 along the guide 5 from outside the container 1, and the silicon material 4 inside the tray 6 is irradiated with the electron beam 3. The electron beam gun 2 is rotatably mounted so that the silicon material 4 can be uniformly irradiated with the electron beam 3 so that the electron beam 3 can uniformly irradiate the dotted line range θ. . The silicon material 4 is heated and melted by the electron beam 3 to form a silicon melt 7. Finally, the silicon melt 7 is poured into a mold (not shown) by tilting the tray 6, and a required solid silicon ingot is formed.

【0003】なお、この明細書におけるシリコン材4と
は固形のシリコン単独、または固形のシリコンと他の材
料とが混合されたのもであり、その形状は粉状や塊状な
ど任意である。また、シリコン材4は加熱処理あるいは
冷熱処理されたものであってもよい。図9は、従来の異
なるシリコン溶解装置の構成を示す断面図である。容器
1の側面にガイド5が設けられるとともに容器1の上部
に支え8を介して黒鉛よりなる導電性のサセプタ9が取
り付けられている。容器1の内部には受け皿6が収納さ
れ、この受け皿6の内部にるつぼ11が設けられ、この
るつぼ11にサセプタ9が嵌まり込むようになってい
る。さらに、受け皿6の外周に高周波コイル10が巻回
され、図示されていない電源でもって高周波コイル10
が高周波励磁されるようになっている。粉砕された固形
のシリコン材4が容器1の外部からガイド5に沿ってる
つぼ11内に投入されるとともに高周波コイル10が高
周波励磁される。この高周波励磁によってるつぼ11の
内部に高周波磁界が形成されるので、サセプタ9自体に
誘導電流が流れる。この誘導電流によるうず電流損でも
ってサセプタ9が加熱するので、この熱でもってシリコ
ン材4が加熱溶解しシリコン融液が形成される。シリコ
ン材4は、約600ないし800℃以上に加熱されると
導電性を帯びてくる。そのために、高周波励磁によって
シリコン融液にも誘導電流を流すことができる。るつぼ
11内にある程度の量のシリコン融液が形成されれば、
支え8を引き上げることによってサセプタ9が受け皿6
から除外される。すなわち、サセプタ9がなくても、自
己うず電流損だけでもってシリコン融液自体の温度が上
昇するのでその熱でもっでシリコン材4が昇温溶解する
ようになる。最後に、るつぼ11とともに受け皿6を傾
けることによってシリコン融液が図示されていない鋳型
に注湯され、必要とされる固形のシリコンインゴットが
形成される。
[0003] The silicon material 4 in this specification refers to solid silicon alone or a mixture of solid silicon and another material, and its shape is arbitrary such as powdery or massive. Further, the silicon material 4 may have been subjected to a heat treatment or a cold heat treatment. FIG. 9 is a cross-sectional view showing the configuration of a different conventional silicon melting apparatus. A guide 5 is provided on the side surface of the container 1, and a conductive susceptor 9 made of graphite is attached to the upper portion of the container 1 via a support 8. The receiving tray 6 is housed inside the container 1, and a crucible 11 is provided inside the receiving tray 6, and the susceptor 9 is fitted into the crucible 11. Further, a high-frequency coil 10 is wound around the outer periphery of the tray 6, and the high-frequency coil 10 is
Are excited at a high frequency. The crushed solid silicon material 4 is put into the crucible 11 from the outside of the container 1 along the guide 5, and the high-frequency coil 10 is excited at high frequency. Since a high-frequency magnetic field is formed inside the crucible 11 by the high-frequency excitation, an induced current flows through the susceptor 9 itself. Since the susceptor 9 is heated by the eddy current loss due to the induced current, the silicon material 4 is heated and melted by the heat to form a silicon melt. The silicon material 4 becomes conductive when heated to about 600 to 800 ° C. or higher. Therefore, an induced current can be caused to flow in the silicon melt by high-frequency excitation. If a certain amount of silicon melt is formed in the crucible 11,
By raising the support 8, the susceptor 9 moves the
Excluded from That is, even without the susceptor 9, the temperature of the silicon melt itself rises only by the self-eddy current loss, so that the silicon material 4 is heated and melted by the heat. Finally, the silicon melt is poured into a mold (not shown) by tilting the tray 6 together with the crucible 11, and a required solid silicon ingot is formed.

【0004】図10は、従来のさらに異なるシリコン溶
解装置の構成を示す断面図である。容器1の側面にガイ
ド5が設けられるとともに容器1の上部にプラズマトー
チ12が取り付けられている。プラズマトーチ12は、
内部に設けられた電極間にアークを発生させ、前記アー
クに高圧ガスを吹き付けることによって放射プラズマ1
3を噴射させるものである。また、容器1の内部には受
け皿6が収納され、この受け皿6の内部にるつぼ11が
設けられてある。さらに、受け皿6の外周に高周波コイ
ル10が巻回され、図示されていない電源でもって高周
波コイル10が高周波励磁されるようになっている。粉
砕された固形のシリコン材4が容器1の外部からガイド
5に沿ってるつぼ11内に投入されるとともにプラズマ
トーチ12の放射プラズマ13がるつぼ11の内部に噴
射される。また、それと同時に高周波コイル10が高周
波励磁される。放射プラズマ13によってるつぼ11内
部に投入されたシリコン材4が加熱溶解しシリコン融液
7が形成される。高周波コイル10の高周波励磁によっ
てるつぼ11の内部に高周波磁界が形成されるので、導
電性を有するシリコン融液7に誘導電流が流れる。シリ
コン融液7はこの渦電流による抵抗損でもって加熱され
るので、この抵抗損の発生熱量だけでもってシリコン材
4を加熱溶解することができる。したがって、放射プラ
ズマ13でもってるつぼ11内にある程度の量のシリコ
ン融液7が形成されれば、後はプラズマトーチ12の放
射プラズマ13を消すことができる。すなわち、放射プ
ラズマ13がなくても、うず電流損だけでもってシリコ
ン融液7自体の温度が上昇するのでその熱でもっでシリ
コン材4が加熱溶解するようになる。最後に、るつぼ1
1とともに受け皿6を傾けることによってシリコン融液
7が図示されていない鋳型に注湯され、必要とされる固
形のシリコンインゴットが形成される。
FIG. 10 is a sectional view showing the structure of another conventional silicon melting apparatus. A guide 5 is provided on a side surface of the container 1, and a plasma torch 12 is attached to an upper portion of the container 1. The plasma torch 12
An arc is generated between electrodes provided inside and a high-pressure gas is blown onto the arc to generate a radiation plasma 1.
3 is injected. Further, the receiving tray 6 is housed inside the container 1, and a crucible 11 is provided inside the receiving tray 6. Further, a high-frequency coil 10 is wound around the outer periphery of the receiving tray 6, so that the high-frequency coil 10 is excited at a high frequency by a power source (not shown). The pulverized solid silicon material 4 is put into the crucible 11 from the outside of the container 1 along the guide 5, and the radiated plasma 13 of the plasma torch 12 is injected into the crucible 11. At the same time, the high-frequency coil 10 is excited at a high frequency. The silicon material 4 put into the crucible 11 is heated and melted by the radiation plasma 13 to form a silicon melt 7. Since a high-frequency magnetic field is formed inside the crucible 11 by the high-frequency excitation of the high-frequency coil 10, an induced current flows through the silicon melt 7 having conductivity. Since the silicon melt 7 is heated by the resistance loss due to the eddy current, the silicon material 4 can be heated and dissolved only by the heat generated by the resistance loss. Therefore, if a certain amount of the silicon melt 7 is formed in the crucible 11 with the radiation plasma 13, the radiation plasma 13 of the plasma torch 12 can be extinguished later. That is, even without the radiation plasma 13, the temperature of the silicon melt 7 itself rises due to only the eddy current loss, so that the silicon material 4 is heated and melted by the heat. Finally, crucible 1
By inclining the tray 6 together with 1, the silicon melt 7 is poured into a mold (not shown) to form a required solid silicon ingot.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たような従来のシリコン溶解装置は、シリコン材を溶解
するのに時間がかかるという問題があった。すなわち、
従来のシリコン溶解装置においてシリコン材を溶解する
加熱源として電子ビームやサセプタ、放射プラズマなど
が用いられているが、いずれの場合もシリコン材の上方
からの加熱となる。シリコン材は粉砕された固体または
粉体なので、その固体自身および固体間の熱伝導が極め
て悪い。したがって、シリコン材を加熱するのに多くの
時間がかかっていた。
However, the conventional silicon melting apparatus as described above has a problem that it takes time to melt the silicon material. That is,
In a conventional silicon melting apparatus, an electron beam, a susceptor, a radiation plasma, or the like is used as a heating source for melting a silicon material. In any case, heating is performed from above the silicon material. Since the silicon material is a crushed solid or powder, the heat conduction between the solid itself and the solid is extremely poor. Therefore, it took much time to heat the silicon material.

【0006】また、図10の装置でもってシリコン材を
溶解させるには複雑な操作が必要であるという問題もあ
った。すなわち、るつぼ内で誘導加熱中のシリコン融液
にシリコン材を投入すると、そのシリコン材はシリコン
融液とるつぼとの境界線(スラグライン)に溜まるとい
う現象がある。図11は、図10の装置においてシリコ
ン融液が誘導加熱されている最中の状況を示し、(A)
は断面図、(B)は平面図である。図11の(A)にお
いて図示されていない容器内に配されたるつぼ11内で
放射プラズマ13およびコイル10の形成する磁界でも
って溶解されたシリコン融液7が加熱保持されている。
この状態において、シリコン材4が追加投入されると、
この追加投入されたシリコン材4はスラグライン、すな
わち、るつぼ11の内壁付近に集まる。るつぼ11内の
シリコン融液7が矢印7Aの方向に流れる。したがっ
て、シリコン融液7の表面では、その流れの方向7Aが
図11の(B)のように放射状になる。そのために、追
加投入されたシリコン材4がシリコン融液7の表面で矢
印7Aの方向に押しやられ、スラグラインに溜まる。こ
のようにシリコン材4がスラグラインの所に集まってし
まうと、シリコン材4の溶解速度が遅くなってしまう。
このような現象に対処するために、従来から種々の方法
が用いられていた。
There is also a problem that a complicated operation is required to melt the silicon material with the apparatus shown in FIG. That is, when a silicon material is introduced into the silicon melt during induction heating in the crucible, the silicon material accumulates at the boundary (slag line) between the silicon melt and the crucible. FIG. 11 shows a state in which the silicon melt is being induction-heated in the apparatus of FIG.
Is a sectional view, and (B) is a plan view. In a crucible 11 arranged in a container not shown in FIG. 11A, a silicon melt 7 melted by a radiation plasma 13 and a magnetic field formed by a coil 10 is heated and held.
In this state, when the silicon material 4 is additionally charged,
The additionally charged silicon material 4 gathers near the slag line, that is, near the inner wall of the crucible 11. The silicon melt 7 in the crucible 11 flows in the direction of arrow 7A. Therefore, on the surface of the silicon melt 7, the flow direction 7A is radial as shown in FIG. Therefore, the additionally charged silicon material 4 is pushed in the direction of arrow 7A on the surface of the silicon melt 7 and accumulates in the slag line. When the silicon material 4 gathers at the slag line in this way, the dissolution rate of the silicon material 4 is reduced.
To cope with such a phenomenon, various methods have conventionally been used.

【0007】図12は、図10の装置においてシリコン
材の溶解速度を速めるための方法を示し、(A)および
(B)は互いに異なる方法を示す断面図である。図12
の(A)では、放射プラズマ13をるつぼ11の内壁に
向けながら周回させている。それによって、スラグライ
ンに溜まったシリコン材4を加熱し溶解させる。一方、
図12の(B)では、るつぼ11を受け皿6とコイル1
0とともに傾けて揺する。それによって、スラグライン
に溜まったシリコン材4を移動させて加熱し溶解させ
る。しかし、いずれの方法も装置の動作が複雑になるの
で、操作が困難であり自動操業をすることも難しかっ
た。この発明の目的は、シリコン材をシリコン融液にす
るための予熱時間を短縮させるとともに、装置の動作も
簡素にすることにある。
FIG. 12 shows a method for increasing the dissolution rate of the silicon material in the apparatus shown in FIG. 10, and (A) and (B) are sectional views showing different methods. FIG.
In (A), the radiated plasma 13 is circulated while facing the inner wall of the crucible 11. Thereby, the silicon material 4 accumulated in the slag line is heated and dissolved. on the other hand,
In FIG. 12B, the crucible 11 receives the pan 6 and the coil 1.
Tilt and shake with 0. Thereby, the silicon material 4 accumulated in the slag line is moved, heated and melted. However, since the operation of the apparatus becomes complicated in any of the methods, the operation is difficult and the automatic operation is also difficult. An object of the present invention is to shorten the preheating time for converting a silicon material into a silicon melt and to simplify the operation of the apparatus.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明によれば、固形のシリコン材を加熱溶解し
保持するためのシリコン溶解装置であって、前記シリコ
ン材をプラズマ中に通過させることによってシリコン融
液にするプラズマ溶解部を備えてなるようにするとよ
い。それによって、シリコン材をプラズマでもって瞬時
に加熱することができるので、固形のシリコン材をシリ
コン融液にするための予熱時間が大幅に短縮される。
According to the present invention, there is provided a silicon melting apparatus for heating and melting a solid silicon material and holding the same, wherein the silicon material is passed through a plasma. It is preferable to provide a plasma dissolving unit that converts the silicon melt into a silicon melt. As a result, the silicon material can be instantaneously heated by the plasma, so that the preheating time for converting the solid silicon material into a silicon melt is greatly reduced.

【0009】かかる構成において、前記プラズマ溶解部
から落下してくるシリコン融液を加熱溶解部が下部で受
け取ってなるようにしてもよい。それによって、装置の
動作機構が必要なくなり装置の構成が簡素になる。ま
た、かかる構成において、前記プラズマ溶解部が高周波
磁界の誘導よってプラズマを形成してなるようにしても
よい。それによって、前記プラズマ溶解部に大きな径の
プラズマを形成することができるので、前記プラズマ溶
解部の上部から単位時間当たりにつき大量のシリコン材
を投入することができる。
In this configuration, the heat melting unit may receive the silicon melt falling from the plasma melting unit at a lower portion. Thereby, the operation mechanism of the device is not required, and the configuration of the device is simplified. Further, in such a configuration, the plasma melting section may form plasma by induction of a high-frequency magnetic field. Thus, a large-diameter plasma can be formed in the plasma melting part, so that a large amount of silicon material can be injected per unit time from the upper part of the plasma melting part.

【0010】また、かかる構成において、前記プラズマ
溶解部がスリットの形成された水冷の金属よりなるプラ
ズマ発生管内にプラズマを発生させてなるようにしても
よい。それによって、プラズマ発生管が熱でもって壊れ
ることがなくなる。また、かかる構成において、前記加
熱溶解部が高周波磁界の誘導よってシリコン融液を磁気
浮上させてなるようにしてもよい。それによって、シリ
コン材を全く汚染させないようにしてシリコン材を加熱
溶解し保持することができる。また、かかる構成におい
て、前記加熱溶解部の下部に開口部が形成され、前記開
口部からシリコン融液を連続的に落下させながらシリコ
ンのインゴットが鋳造されてなるようにしてもよい。そ
れによって、連続鋳造が可能になる。
In this configuration, the plasma melting section may generate plasma in a plasma generating tube made of a water-cooled metal having a slit. Thereby, the plasma generating tube is not broken by heat. Further, in this configuration, the heating and melting unit may be configured to magnetically levitate the silicon melt by inducing a high-frequency magnetic field. Thus, the silicon material can be heated and melted and held without causing any contamination of the silicon material. In this configuration, an opening may be formed at a lower portion of the heating and melting unit, and a silicon ingot may be cast while continuously dropping the silicon melt from the opening. This allows for continuous casting.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、この発明を実施例に基づい
て説明する。図1は、この発明の実施例にかかるシリコ
ン溶解装置の構成を示す断面図である。シリコン溶解装
置が、シリコン材4を液滴7Aに溶解するためのプラズ
マ溶解部32と、このプラズマ溶解部27の下部に配さ
れシリコン融液7を加熱保持するための加熱溶解部28
とで構成されている。プラズマ溶解部32は、中心に負
極性の電極38が設けられ、その周囲にインナーノズル
34が設けられ、さらにその外周がアウターノズル35
で覆われている。インナーノズル34が正極性の電極を
兼ねていて、電極38とインナーノズル34とが直流電
源33に接続されている。一方、加熱溶解部28は、受
け皿6の内部に収納されたるつぼ11と、受け皿6の外
周を巻回する高周波コイル10と、この高周波コイル1
0を励磁する高周波電源22とで構成されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to embodiments. FIG. 1 is a sectional view showing a configuration of a silicon melting apparatus according to an embodiment of the present invention. A silicon dissolving device includes a plasma dissolving unit 32 for dissolving the silicon material 4 into the droplet 7A, and a heat dissolving unit 28 disposed below the plasma dissolving unit 27 for heating and holding the silicon melt 7
It is composed of The plasma melting section 32 has a negative electrode 38 at the center, an inner nozzle 34 around the electrode 38, and an outer nozzle 35 around the outer nozzle 35.
Covered with. The inner nozzle 34 also serves as a positive electrode, and the electrode 38 and the inner nozzle 34 are connected to a DC power supply 33. On the other hand, the heating and melting unit 28 includes a crucible 11 housed inside the pan 6, a high-frequency coil 10 wound around the outer periphery of the pan 6, and the high-frequency coil 1
And a high-frequency power supply 22 for exciting 0.

【0012】図1において、電極38とインナーノズル
34との間に種ガス37が、インナーノズル34とアウ
ターノズル35との間にはアシストガス36がそれぞれ
送り込まれている。直流電源33による電圧印加でもっ
て電極38とインナーノズル34との間で種ガス37が
プラズマ39となる。このプラズマ39は種ガス37と
アシストガス36との流れによってインナーノズル34
の開口部34Aとアウターノズル35の開口部35Aか
ら下方へ吹き出す。その状態で電極38とインナーノズ
ル34との間の上部からシリコン材4が投入されると、
シリコン材4がプラズマ39内を通過する。プラズマ3
9は約10,000Kと高温であり、シリコン材4がプ
ラズマ39に触れると瞬時に昇温・溶解し、液滴7Aと
なって加熱溶解部28のるつぼ11内へ落下し、シリコ
ン融液7になる。シリコン融液7には導電性があるの
で、高周波コイル10から発生する高周波磁界の誘導よ
って環状の誘導電流がシリコン融液7自体に流れ、その
うず電流損でもってシリコン融液7が加熱保持される。
シリコン融液7は図示されていない鋳型に注湯され、必
要とされる固形のシリコンインゴットが形成される。
In FIG. 1, a seed gas 37 is supplied between the electrode 38 and the inner nozzle 34, and an assist gas 36 is supplied between the inner nozzle 34 and the outer nozzle 35. The seed gas 37 becomes a plasma 39 between the electrode 38 and the inner nozzle 34 by applying a voltage from the DC power supply 33. The plasma 39 is supplied to the inner nozzle 34 by the flow of the seed gas 37 and the assist gas 36.
Of the outer nozzle 35 and the opening 34A of the outer nozzle 35. In this state, when the silicon material 4 is injected from the upper portion between the electrode 38 and the inner nozzle 34,
The silicon material 4 passes through the plasma 39. Plasma 3
Reference numeral 9 denotes a high temperature of about 10,000 K. When the silicon material 4 comes into contact with the plasma 39, the temperature rises and dissolves instantaneously, forming a droplet 7A and falling into the crucible 11 of the heating and dissolving part 28, and the silicon melt 7 become. Since the silicon melt 7 is conductive, an annular induced current flows through the silicon melt 7 itself due to induction of a high-frequency magnetic field generated from the high-frequency coil 10, and the silicon melt 7 is heated and held by the eddy current loss. You.
The silicon melt 7 is poured into a mold (not shown) to form a required solid silicon ingot.

【0013】図1の装置は、シリコン材4を図8ないし
図12の従来の装置のように上方からの加熱するのでは
なく、シリコン材4を高温のプラズマ39中に通過させ
ることによって瞬時に加熱するので、シリコン融液7に
するための予熱時間が従来より大幅に短縮される。その
ために、シリコン融液7を効率よく生成することができ
る。また、シリコン材4を上部から投入するだけでなの
で装置の動作機構が必要なくなり、装置の製作コストも
低減される。
The apparatus shown in FIG. 1 does not heat the silicon material 4 from above as in the conventional apparatus shown in FIGS. Since the heating is performed, the preheating time for forming the silicon melt 7 is significantly reduced as compared with the related art. Therefore, the silicon melt 7 can be efficiently generated. Further, since the silicon material 4 is simply introduced from above, the operation mechanism of the device is not required, and the manufacturing cost of the device is reduced.

【0014】図2は、この発明の異なる実施例にかかる
シリコン溶解装置の構成を示す断面図である。プラズマ
溶解部27が、石英ガラスなどからなるプラズマ発生管
15と、このプラズマ発生管15の外周に巻回された高
周波コイル17と、この高周波コイル17を励磁する高
周波電源16と、アルゴンガスなどの種ガスが封入され
ガス配管20とバルブ19とを介して前記種ガスをプラ
ズマ発生管15へ供給するためのガスボンベ21とで構
成されている。プラズマ溶解部27の上部にガイド5が
設けられるとともにロート14が配され、シリコン材4
がガイド5とロート14とに沿ってプラズマ発生管15
内に投入されるようになっている。図2のその他は、図
1の構成と同じである。
FIG. 2 is a sectional view showing the structure of a silicon melting apparatus according to another embodiment of the present invention. The plasma melting section 27 includes a plasma generating tube 15 made of quartz glass or the like, a high-frequency coil 17 wound around the outer periphery of the plasma generating tube 15, a high-frequency power supply 16 for exciting the high-frequency coil 17, and an argon gas or the like. A gas cylinder 21 for supplying the seed gas to the plasma generating tube 15 through a gas pipe 20 and a valve 19 in which a seed gas is sealed is provided. The guide 5 is provided above the plasma melting section 27 and the funnel 14 is provided.
Along the guide 5 and the funnel 14
It is to be thrown in. The rest of FIG. 2 is the same as the configuration of FIG.

【0015】図2において、まず、バルブ19が開成さ
れガスボンベ21からの種ガスがプラズマ発生管15内
へ供給される。次に、高周波電源16でもって高周波コ
イル17が励磁され、プラズマ発生管15内に高周波電
磁界が形成される。種ガスは初期はその分子の大部分が
中性であるが、その種ガス中に含まれる微小な初期電子
が高周波電磁界によって振動する。それによって、初期
電子が中性分子と衝突電離しイオンおよび電子の増倍に
よって種ガスがプラズマ状態になり図2のようなプラズ
マ18が形成される。次に、シリコン材4をガイド5と
ロート14とを介してプラズマ発生管15内に投入する
と、シリコン材4がプラズマ18に触れ瞬時に溶解し液
滴7Aとなって下方へ落下する。その後は、図1の場合
と同様に加熱溶解部28でもってシリコン融液7が加熱
保持される。
In FIG. 2, first, the valve 19 is opened, and the seed gas from the gas cylinder 21 is supplied into the plasma generating tube 15. Next, the high-frequency coil 17 is excited by the high-frequency power supply 16 to form a high-frequency electromagnetic field in the plasma generating tube 15. Most of the molecules of the seed gas are initially neutral, but minute initial electrons contained in the seed gas vibrate by a high-frequency electromagnetic field. As a result, the initial electrons collide with the neutral molecules and are ionized, and the multiplication of ions and electrons causes the seed gas to be in a plasma state, thereby forming a plasma 18 as shown in FIG. Next, when the silicon material 4 is put into the plasma generating tube 15 via the guide 5 and the funnel 14, the silicon material 4 comes into contact with the plasma 18 and is instantaneously melted and drops downward as a droplet 7A. Thereafter, as in the case of FIG. 1, the silicon melt 7 is heated and held by the heating / dissolving portion 28.

【0016】図2の場合もシリコン材4を高温のプラズ
マ18でもって瞬時に加熱するので、シリコン融液7に
するための予熱時間が従来より大幅に短縮される。その
ために、シリコン融液7を効率よく生成することができ
る。また、シリコン材4を上部から投入するだけでなの
で装置の動作機構が必要なくなり、装置の製作コストも
低減される。さらに、プラズマ溶解部27は、図1の装
置の場合より大きな径のプラズマ18を形成することが
できるので、プラズマ溶解部27の上部から単位時間当
たりにつき大量のシリコン材4を投入することができ
る。それによって、シリコン融液7の製作効率がさらに
向上する。また、プラズマ溶解部27は無電極なので、
シリコン融液7が電極でもって汚染されることがなく、
品質の優れたシリコン融液7を生成することができる。
In the case of FIG. 2 as well, since the silicon material 4 is instantaneously heated by the high-temperature plasma 18, the preheating time for forming the silicon melt 7 is greatly reduced as compared with the prior art. Therefore, the silicon melt 7 can be efficiently generated. Further, since the silicon material 4 is simply introduced from above, the operation mechanism of the device is not required, and the manufacturing cost of the device is reduced. Further, since the plasma dissolving unit 27 can form the plasma 18 having a larger diameter than that of the apparatus of FIG. 1, a large amount of the silicon material 4 can be supplied per unit time from the upper portion of the plasma dissolving unit 27. . Thereby, the production efficiency of the silicon melt 7 is further improved. Also, since the plasma melting part 27 has no electrodes,
The silicon melt 7 is not contaminated by the electrodes,
A high-quality silicon melt 7 can be generated.

【0017】図3は、この発明のさらに異なる実施例に
かかるシリコン溶解装置の構成を示す断面図である。加
熱溶解部40が、スカル炉41内にシリコン融液7を収
納させている。スカル炉41の外周には高周波コイル1
0が巻回され、この高周波コイル10は高周波電源22
に接続されている。スカル炉41には冷却路42が埋め
込まれ、冷却路42内の冷媒の流れでもってスカル炉4
1が常時冷却されている。シリコン融液7は図示されて
いない鋳型に注湯され、必要とされる固形のシリコンイ
ンゴットが形成される。図3のその他は、図2の構成と
同じである。
FIG. 3 is a sectional view showing the structure of a silicon melting apparatus according to a further different embodiment of the present invention. The heating and melting unit 40 stores the silicon melt 7 in the skull furnace 41. High frequency coil 1
0 is wound, and the high-frequency coil 10
It is connected to the. A cooling path 42 is embedded in the skull furnace 41, and the skull furnace 4
1 is constantly cooled. The silicon melt 7 is poured into a mold (not shown) to form a required solid silicon ingot. The rest of FIG. 3 is the same as the configuration of FIG.

【0018】図3において、プラズマ溶解部27からの
液滴7Aがスカル炉41内へ落下する。スカル炉41内
のシリコン融液7には高周波コイル10から発生する高
周波磁界の誘導よって電流が発生し、その電流でもって
シリコン融液7が加熱または保温される。スカル炉41
が冷却路42内の冷媒でもって冷却されているので、ス
カル炉41の内壁との接触部付近にあるシリコン融液7
Bが固化する。そのために、シリコン融液7がスカル炉
41自体の材料によって汚染されることなしに溶融状態
で加熱保持されるので、品質の優れたシリコンインゴッ
ットを生成することができる。
In FIG. 3, the droplet 7A from the plasma melting part 27 falls into the skull furnace 41. A current is generated in the silicon melt 7 in the skull furnace 41 by induction of a high-frequency magnetic field generated from the high-frequency coil 10, and the silicon melt 7 is heated or kept warm by the current. Skull furnace 41
Is cooled by the refrigerant in the cooling passage 42, so that the silicon melt 7 near the contact portion with the inner wall of the skull furnace 41
B solidifies. Therefore, the silicon melt 7 is heated and held in a molten state without being contaminated by the material of the skull furnace 41 itself, so that a high-quality silicon ingot can be produced.

【0019】図4は、この発明のさらに異なる実施例に
かかるシリコン溶解装置の構成を示す断面図である。加
熱溶解部43が、図示されていない複数の導電性の金属
セグメントをスリットを介して並べ、その各金属セグメ
ントに冷却路44が埋め込まれた水冷ルツボ45の内部
にシリコン融液7を収納している。この水冷ルツボ45
の外周に高周波コイル10A,10Bが巻回され、この
高周波コイル10A,10Bにそれぞれ高周波電源22
A,22Bが接続されている。シリコン融液7は、水冷
ルツボ29から下部の開口部45Aから図示されていな
い鋳型へ移された後に冷却され合金が形成される。図4
のその他は、図3の従来の構成と同じである。
FIG. 4 is a sectional view showing the structure of a silicon melting apparatus according to a further different embodiment of the present invention. The heating and melting unit 43 arranges a plurality of conductive metal segments (not shown) through slits, and stores the silicon melt 7 in a water-cooled crucible 45 in which a cooling path 44 is embedded in each metal segment. I have. This water-cooled crucible 45
The high-frequency coils 10A and 10B are wound around the outer periphery of the high-frequency coils 10A and 10B.
A and 22B are connected. The silicon melt 7 is transferred from the water-cooled crucible 29 to the mold (not shown) through the lower opening 45A, and then cooled to form an alloy. FIG.
Others are the same as the conventional configuration of FIG.

【0020】図4において、シリコン融液7には高周波
コイル10A,10Bから発生する高周波磁界の誘導よ
って電流が発生し、その電流でもってシリコン融液7が
加熱溶解されるとともに水冷ルツボ45から磁気浮上す
る。そのために、シリコン融液7が加熱溶解しても水冷
ルツボ45自体の材料によって汚染されることなしに溶
融状態で加熱保持されるので、品質の優れたシリコンイ
ンゴッットを生成することができる。
In FIG. 4, a current is generated in the silicon melt 7 by induction of a high-frequency magnetic field generated from the high-frequency coils 10A and 10B. Surface. Therefore, even if the silicon melt 7 is heated and melted, the silicon melt 7 is heated and held in a molten state without being contaminated by the material of the water-cooled crucible 45 itself, so that a silicon ingot of excellent quality can be produced. .

【0021】なお、図1ないし図4の実施例における加
熱溶解部は、加熱ランプや加熱抵抗などでシリコン融液
7を加熱する装置であってもよい。図5は、この発明の
異なる実施例にかかるシリコン溶解装置の構成を示す断
面図である。加熱溶解部29のるつぼ23の下部に開口
部31が形成され、るつぼ23の外周に高周波コイル1
0が巻回されている。図5のその他は、図4の構成と同
一である。シリコン融液7がるつぼ23の下部に行くに
したがって冷却され、開口部31から固化したシリコン
融液7を連続的に落下しシリコンインゴット24が鋳造
される。それによって、シリコンインゴット24の連続
鋳造が可能になり、シリコンインゴット24の製作効率
が向上する。
The heating and melting section in the embodiment shown in FIGS. 1 to 4 may be a device for heating the silicon melt 7 by a heating lamp or a heating resistor. FIG. 5 is a cross-sectional view showing a configuration of a silicon melting apparatus according to another embodiment of the present invention. An opening 31 is formed in the lower part of the crucible 23 of the heating and melting part 29, and the high frequency coil 1
0 is wound. The rest of FIG. 5 is the same as the configuration of FIG. The silicon melt 7 is cooled down toward the lower part of the crucible 23, and the solidified silicon melt 7 is continuously dropped from the opening 31 to cast the silicon ingot 24. Thereby, continuous casting of the silicon ingot 24 becomes possible, and the production efficiency of the silicon ingot 24 is improved.

【0022】図6は、この発明のさらに異なる実施例に
かかるシリコン溶解装置のプラズマ溶解部の構成を示す
断面図であり、図7は、図6のA−A断面図である。プ
ラズマ溶解部30が、図6のようにプラズマ18を発生
させるプラズマ発生管26と、高周波電源16に接続さ
れた高周波コイル17との間に容器25が介装されてな
り、プラズマ発生管26が図7のようにスリット26B
の形成された水冷の金属26Cより形成されている。す
なわち、金属26Cには冷却穴26Aが明けられ、この
冷却穴26Aに冷却液が通されている。図6のプラズマ
溶解部30の下部には、図1や図4で示された加熱溶解
部が配されている。プラズマ発生管26が常時冷却され
た金属26Cよりなるので、プラズマ発生管26が石英
ガラス製のように熱でもって破れることもなくその耐久
性も向上するようになる。
FIG. 6 is a sectional view showing a configuration of a plasma melting section of a silicon melting apparatus according to still another embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a sectional view taken along line AA of FIG. As shown in FIG. 6, the plasma melting section 30 has a vessel 25 interposed between a plasma generating tube 26 for generating plasma 18 and a high-frequency coil 17 connected to the high-frequency power supply 16. Slit 26B as shown in FIG.
Of water-cooled metal 26C formed with That is, a cooling hole 26A is formed in the metal 26C, and a cooling liquid is passed through the cooling hole 26A. The heating melting part shown in FIGS. 1 and 4 is arranged below the plasma melting part 30 in FIG. Since the plasma generating tube 26 is made of a metal 26C which is constantly cooled, the plasma generating tube 26 is not broken by heat as in the case of quartz glass, and its durability is improved.

【0023】[0023]

【発明の効果】この発明は前述のように、シリコン材を
プラズマ中に通過させることによってシリコン融液にす
るプラズマ溶解部を備えてなるようにすることによっ
て、シリコン融液にするための予熱時間が大幅に短縮さ
れ、シリコン融液の製作効率が向上する。
According to the present invention, as described above, a preheating time for converting a silicon material into a silicon melt is provided by providing a plasma melting portion for converting a silicon material into a plasma by passing the silicon material into the plasma. Is greatly shortened, and the production efficiency of the silicon melt is improved.

【0024】かかる構成において、プラズマ溶解部から
落下してくるシリコン融液を加熱溶解部が下部で受け取
ってなるようにすることによって、装置の構成が簡素な
り、装置の製作コストが低減される。また、かかる構成
において、プラズマ溶解部が高周波磁界の誘導よってプ
ラズマを形成してなるようにすることによって、プラズ
マ溶解部の上部から単位時間当たりにつき大量のシリコ
ン材を投入することができシリコン融液の製作効率がさ
らに向上する。
In such a configuration, the heating and melting unit receives the silicon melt falling from the plasma melting unit at the lower part, thereby simplifying the structure of the device and reducing the manufacturing cost of the device. Further, in such a configuration, a large amount of silicon material can be injected per unit time from the upper portion of the plasma melting section by forming the plasma by the induction of the high-frequency magnetic field by the plasma melting section. Production efficiency is further improved.

【0025】また、かかる構成において、プラズマ溶解
部がスリットの形成された水冷の金属よりなるプラズマ
発生管内にプラズマを発生させてなるようにすることに
よって、プラズマ発生管が熱でもって破れることがなく
なり、プラズマ発生管の耐久性が向上する。また、かか
る構成において、前記加熱溶解部が高周波磁界の誘導よ
ってシリコン融液を磁気浮上させてなるようにすること
によって、シリコン材を全く汚染させないようにして加
熱溶解し保持することができ品質の優れたシリコンイン
ゴットを生成することができる。
Further, in such a configuration, the plasma melting portion is configured to generate plasma in the plasma generating tube made of a water-cooled metal having a slit, so that the plasma generating tube is not broken by heat. The durability of the plasma generating tube is improved. Further, in this configuration, the heating and melting unit is configured to magnetically levitate the silicon melt by induction of a high-frequency magnetic field, so that the silicon material can be heated and melted and held without causing any contamination of the silicon material. An excellent silicon ingot can be produced.

【0026】また、かかる構成において、前記加熱溶解
部の下部に開口部が形成され、前記開口部からシリコン
融液を連続的に落下させながらシリコンのインゴットが
鋳造されてなるようにしてもよい。それによって、連続
鋳造が可能になりシリコンインゴットの製作効率が向上
する。
In this configuration, an opening may be formed at a lower portion of the heating and melting unit, and a silicon ingot may be cast while continuously dropping the silicon melt from the opening. Thereby, continuous casting becomes possible, and the production efficiency of the silicon ingot is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施例にかかるシリコン溶解装置の
構成を示す断面図
FIG. 1 is a sectional view showing a configuration of a silicon melting apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の異なる実施例にかかるシリコン溶解
装置の構成を示す断面図
FIG. 2 is a sectional view showing a configuration of a silicon melting apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図3】この発明のさらに異なる実施例にかかるシリコ
ン溶解装置の構成を示す断面図
FIG. 3 is a sectional view showing a configuration of a silicon melting apparatus according to still another embodiment of the present invention.

【図4】この発明のさらに異なる実施例にかかるシリコ
ン溶解装置の構成を示す断面図
FIG. 4 is a sectional view showing a configuration of a silicon melting apparatus according to still another embodiment of the present invention.

【図5】この発明のさらに異なる実施例にかかるシリコ
ン溶解装置の構成を示す断面図
FIG. 5 is a sectional view showing a configuration of a silicon melting apparatus according to still another embodiment of the present invention.

【図6】この発明のさらに異なる実施例にかかるシリコ
ン溶解装置のプラズマ部の構成を示す断面図
FIG. 6 is a sectional view showing a configuration of a plasma unit of a silicon melting apparatus according to still another embodiment of the present invention.

【図7】図6のA−A断面図FIG. 7 is a sectional view taken along line AA of FIG. 6;

【図8】従来のシリコン溶解装置の構成を示す断面図FIG. 8 is a sectional view showing the configuration of a conventional silicon melting apparatus.

【図9】従来の異なるシリコン溶解装置の構成を示す断
面図
FIG. 9 is a cross-sectional view showing the configuration of a different conventional silicon melting apparatus.

【図10】従来のさらに異なるシリコン溶解装置の構成
を示す断面図
FIG. 10 is a cross-sectional view showing the configuration of another conventional silicon melting apparatus.

【図11】図10の装置においてシリコン融液が誘導加
熱されている最中の状況を示し、(A)は断面図、
(B)は平面図
11 shows a state in which the silicon melt is being induction-heated in the apparatus of FIG. 10, (A) is a sectional view,
(B) is a plan view

【図12】図10の装置においてシリコン材の溶解速度
を速めるための方法を示し、(A)および(B)は互い
に異なる方法を示す断面図
12 shows a method for increasing the dissolution rate of a silicon material in the apparatus of FIG. 10, and (A) and (B) are cross-sectional views showing different methods.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4:シリコン材、7:シリコン融液、18,39:プラ
ズマ、24:シリコンインゴット、26:プラズマ発生
管、27,28,30,32:プラズマ溶解部、28,
29,40,43:加熱溶解部、31:開口部
4: Silicon material, 7: Silicon melt, 18, 39: Plasma, 24: Silicon ingot, 26: Plasma generating tube, 27, 28, 30, 32: Plasma melting part, 28,
29, 40, 43: heating melting part, 31: opening

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】固形のシリコン材を加熱溶解し保持するた
めのシリコン溶解装置であって、前記シリコン材をプラ
ズマ中に通過させることによってシリコン融液にするプ
ラズマ溶解部を備えてなることを特徴とするシリコン溶
解装置。
1. A silicon melting apparatus for heating and melting a solid silicon material and holding the same, comprising a plasma melting unit for converting the silicon material into a plasma by passing the silicon material through a plasma. Silicon dissolving equipment.
【請求項2】請求項1に記載のシリコン溶解装置におい
て、前記プラズマ溶解部から落下してくるシリコン融液
を加熱溶解部が下部で受け取ってなることを特徴とする
シリコン溶解装置。
2. The silicon dissolving apparatus according to claim 1, wherein the heat dissolving section receives silicon melt dropped from the plasma dissolving section at a lower portion.
【請求項3】請求項1または2に記載のシリコン溶解装
置において、前記プラズマ溶解部が高周波磁界の誘導よ
ってプラズマを形成してなることを特徴とするシリコン
溶解装置。
3. The silicon melting apparatus according to claim 1, wherein said plasma melting section forms plasma by induction of a high-frequency magnetic field.
【請求項4】請求項3に記載のシリコン溶解装置におい
て、前記プラズマ溶解部がスリットの形成された水冷の
金属よりなるプラズマ発生管内にプラズマを発生させて
なることを特徴とするシリコン溶解装置。
4. The silicon dissolving apparatus according to claim 3, wherein said plasma dissolving portion generates plasma in a plasma generating tube made of a water-cooled metal having a slit formed therein.
【請求項5】請求項3または4に記載のシリコン溶解装
置において、前記加熱溶解部が高周波磁界の誘導よって
シリコン融液を磁気浮上させてなることを特徴とする合
金溶解装置。
5. The alloy melting apparatus according to claim 3, wherein the heat melting section magnetically levitates the silicon melt by induction of a high-frequency magnetic field.
【請求項6】請求項1ないし5に記載のシリコン溶解装
置において、前記加熱溶解部の下部に開口部が形成さ
れ、前記開口部からシリコン融液を連続的に落下させな
がらシリコンのインゴットが鋳造されてなることを特徴
とするシリコン溶解装置。
6. The silicon melting apparatus according to claim 1, wherein an opening is formed in a lower portion of said heat melting section, and a silicon ingot is cast while continuously dropping a silicon melt from said opening. A silicon dissolving apparatus characterized in that it is made.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2013523595A (en) * 2010-04-13 2013-06-17 シュミット シリコン テクノロジー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング Method for producing crystalline semiconductor material

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JP2013523595A (en) * 2010-04-13 2013-06-17 シュミット シリコン テクノロジー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング Method for producing crystalline semiconductor material

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