JP2001216611A - Manufacturing method of recording/reproducing separation type magnetic head, and recoridng/ reproducing separation type magnetic head - Google Patents

Manufacturing method of recording/reproducing separation type magnetic head, and recoridng/ reproducing separation type magnetic head

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JP2001216611A
JP2001216611A JP2000023623A JP2000023623A JP2001216611A JP 2001216611 A JP2001216611 A JP 2001216611A JP 2000023623 A JP2000023623 A JP 2000023623A JP 2000023623 A JP2000023623 A JP 2000023623A JP 2001216611 A JP2001216611 A JP 2001216611A
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JP
Japan
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magnetic pole
magnetic
coil
insulating material
film
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Withdrawn
Application number
JP2000023623A
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Japanese (ja)
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Zenzo Torii
善三 鳥居
Hiroyuki Mima
宏行 美馬
Osamu Hirai
修 平井
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Proterial Ltd
Original Assignee
Hitachi Metals Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for forming a coil with good accuracy regarding a recording/reproducing separation type magnetic head having a magnetic circuit miniaturized to realize a high transfer speed. SOLUTION: In the method for manufacturing a recording/reproducing separation type magnetic head having lower and upper magnetic poles placed oppositely to each other by sandwiching a gap layer in a magnetic recording surface side to constitute a magnetic circuit, an insulating material provided between the lower and upper magnetic poles, and a coil film formed in a groove provided in the insulating material, at least in the step of forming the coil, the insulating material is covered with a polishing stopper film, a coil is formed in the groove provided in the non-magnetic insulating material, and the coil is polished to expose the polishing stopper film.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、記録再生分離型の
磁気ヘッドに関し、特に基板上に下部磁極、磁気ギャッ
プ層、コイルおよび上部磁極層を形成してなる磁気抵抗
効果型磁気ヘッドの記録ヘッドに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a read / write separated magnetic head, and more particularly to a write head of a magnetoresistive effect type magnetic head having a lower magnetic pole, a magnetic gap layer, a coil and an upper magnetic pole layer formed on a substrate. About.

【0002】[0002]

【従来の技術】記録再生分離型磁気ヘッドは、記録ヘッ
ド部と再生ヘッド部とを分離して備えるヘッドであり、
MRヘッドやGMRヘッド,TMRヘッド等が知られて
いる。記録ヘッド部の一構成として、膜状の下部磁極と
上部磁極の間にギャップ層を設け、上部磁極と下部磁極
とを磁気的に接続し、上部磁極と下部磁極の接続部周囲
にコイル層を設け、上部磁極を保護層で覆う薄膜磁気ヘ
ッドが知られている。
2. Description of the Related Art A recording / reproducing separated magnetic head is a head provided with a recording head portion and a reproducing head portion separated from each other.
MR heads, GMR heads, TMR heads and the like are known. As one configuration of the recording head section, a gap layer is provided between the film-shaped lower magnetic pole and the upper magnetic pole, the upper magnetic pole and the lower magnetic pole are magnetically connected, and a coil layer is formed around the connection between the upper magnetic pole and the lower magnetic pole. There is known a thin film magnetic head which is provided and covers an upper magnetic pole with a protective layer.

【0003】図7は、スライダーの端面に設けた記録再
生分離型磁気ヘッドを拡大した概略図である。記録再生
分離型磁気ヘッドは、絶縁膜2を被覆した基板1上に記
録ヘッド部110と再生ヘッド部210とを備える。記
録ヘッド部110は、下部磁極15と上部磁極16とを
ギャップ層18を挟んで対面して配置させ、両者に間に
コイル17を巻回して構成している。また、再生ヘッド
部210は、下部シールド3と上部シールド15(同図
は上部シールドと下部磁極を兼ねている構造である)と
の間に再生素子14を配置して構成している。また、記
録ヘッド部および再生ヘッド部と外部との間は引き出し
端子19および端子11を介して接続している。記録ヘ
ッド部および再生ヘッド部はアルミナ等の非磁性材12
で全体を覆うようにして保護している。基板1は浮上面
等を有しスライダーとなる。
FIG. 7 is an enlarged schematic diagram of a recording / reproducing separation type magnetic head provided on an end face of a slider. The separate read / write magnetic head includes a write head unit 110 and a read head unit 210 on a substrate 1 covered with an insulating film 2. The recording head unit 110 is configured by arranging a lower magnetic pole 15 and an upper magnetic pole 16 so as to face each other with a gap layer 18 interposed therebetween, and winding a coil 17 therebetween. In addition, the reproducing head section 210 is configured by disposing the reproducing element 14 between the lower shield 3 and the upper shield 15 (in the figure, the structure is also used as the upper shield and the lower magnetic pole). Further, the recording head unit and the reproducing head unit are connected to the outside via the lead-out terminal 19 and the terminal 11. The recording head and the reproducing head are made of a non-magnetic material 12 such as alumina.
It is protected by covering the whole. The substrate 1 has a floating surface or the like and serves as a slider.

【0004】また、記録再生分離型磁気ヘッドは単に磁
気ヘッドとして説明を行う。磁気記録媒体に対する記録
は、磁気ヘッドのギャップ層の先端面を磁気記録媒体に
対向させ、下部磁極、磁気記録媒体、上部磁極によって
磁気回路を形成し、この磁気回路にコイルで発生する磁
界変化を利用して行っている。なお、以下の説明では、
主に記録ヘッド部分のみ示し、再生ヘッド部分について
は省略する。
Further, the recording / reproducing separation type magnetic head will be described simply as a magnetic head. For recording on a magnetic recording medium, a magnetic circuit is formed by a lower magnetic pole, a magnetic recording medium, and an upper magnetic pole, with a tip surface of a gap layer of a magnetic head facing the magnetic recording medium, and a magnetic field change generated by a coil is formed on the magnetic circuit. We go using. In the following description,
Only the recording head portion is mainly shown, and the reproducing head portion is omitted.

【0005】下部磁極と上部磁極の幅を同じにする方法
として、上部磁極16をマスクとしてイオンミリングを
用い下部磁極15の一部を削り同一トラック幅とする方
法が、特開平10−143817号公報に記載されてい
る。このような構成を図8の概略図に示す。図8の
(a)は磁気ヘッドを媒体対向面からみた平面図であ
る。下部シールド3と上部シールド15の間に絶縁膜を
介して設けられた再生素子14と、同一トラック幅に形
成された上部磁極16と、ギャップ層18と、ギャップ
層と同じ幅の凸部を有する上部シールド15を備える。
図8−(b)に媒体対向面に垂直な向きでみた断面図を
示す。この断面図の符号は図7の説明と同様である。
As a method of making the width of the lower magnetic pole equal to the width of the upper magnetic pole, a method in which a part of the lower magnetic pole 15 is cut by ion milling using the upper magnetic pole 16 as a mask to have the same track width is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 10-143817. It is described in. Such a configuration is shown in the schematic diagram of FIG. FIG. 8A is a plan view of the magnetic head as viewed from the medium facing surface. A reproducing element 14 provided between the lower shield 3 and the upper shield 15 with an insulating film interposed therebetween, an upper magnetic pole 16 formed to have the same track width, a gap layer 18, and a projection having the same width as the gap layer. An upper shield 15 is provided.
FIG. 8B is a cross-sectional view taken in a direction perpendicular to the medium facing surface. The reference numerals in this cross-sectional view are the same as those in FIG.

【0006】[0006]

【発明の解決しようとする課題】記録密度の向上に伴っ
て、磁気ヘッドのデーター転送速度を上げることが要求
されている。データー転送速度を上げるには、磁気記録
媒体の回転速度を上げ、磁気ヘッドの記録周波数を上げ
る必要がある。データー転送速度を上げるため5400
rpmから10000rpmを超える回転数になってき
ている。これに伴い記録周波数も200MHzから50
0MHzを超える周波数が求められてきている。
As the recording density increases, it is required to increase the data transfer speed of the magnetic head. To increase the data transfer speed, it is necessary to increase the rotation speed of the magnetic recording medium and increase the recording frequency of the magnetic head. 5400 to increase data transfer speed
The number of rotations has increased from rpm to more than 10,000 rpm. Accompanying this, the recording frequency was changed from 200 MHz to 50
A frequency exceeding 0 MHz is required.

【0007】高転送速度を実現するためには磁気回路の
小型化を行い、インダクタンスを下げる必要がある。イ
ンダクタンスを下げるためには、コイルの巻数を減らす
ことや磁気回路を小さくすべく、小さな領域にコイルを
詰め込むことになる。従来のめっき方法は、レジストで
形成したフレームの中にめっき膜を形成するものであっ
た。しかしながら、このフレームを小型化すると、次に
挙げる問題点が生じてコイルを精度よく形成することが
困難となった。有機物を材料とするレジストは強度が十
分でなく、現状より小型化するとフレーム自体が歪んだ
りするという問題が生じた。このため、より強度のある
材料でフレームを形成し、これにめっき膜を形成した
後、めっき膜を平坦化すべく研磨する方法を検討した。
しかし、この方法では、めっき膜を研磨したときの寸法
だしが難しく、削りすぎによるコイルの寸法精度の低下
を招くおそれがある。
To realize a high transfer speed, it is necessary to reduce the size of the magnetic circuit and reduce the inductance. In order to reduce the inductance, the coil is packed in a small area in order to reduce the number of turns of the coil and to reduce the size of the magnetic circuit. In the conventional plating method, a plating film is formed in a frame formed of a resist. However, when the size of the frame is reduced, the following problems occur, and it is difficult to accurately form the coil. A resist made of an organic material has insufficient strength, and there is a problem that the frame itself is distorted when the resist is made smaller than the current state. Therefore, a method of forming a frame with a stronger material, forming a plating film on the frame, and then polishing the plating film to make the plating film flat was studied.
However, in this method, it is difficult to set the dimensions when the plating film is polished, and the dimensional accuracy of the coil may be reduced due to excessive shaving.

【0008】そこで、本発明は前記した従来の問題点を
解決して、コイルをめっきで形成した後、これを研磨す
る際にコイルを精度よく形成する記録再生分離型磁気ヘ
ッドの製造方法と、その方法で得た記録再生分離型磁気
ヘッドを提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention solves the above-mentioned conventional problems and provides a method of manufacturing a recording / reproducing separation type magnetic head in which a coil is formed with high precision when the coil is formed by plating and then polished. It is an object of the present invention to provide a read / write separated magnetic head obtained by the method.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の記録再生分離型
磁気ヘッドの製造方法は、磁気記録面側においてギャッ
プ層を挟んで対峙させて磁気回路を構成する下部磁極と
上部磁極を備え、前記下部磁極と上部磁極の間に設けた
絶縁材(好ましくは非磁性絶縁材)と、前記絶縁材に設
けられた溝の内に成膜したコイルを有する記録再生分離
型磁気ヘッドを製造する方法であって、すくなくとも前
記コイルを形成する工程が、前記絶縁材に研磨用ストッ
パー膜を被覆し、前記絶縁材に設けられた溝の中にコイ
ルを形成し、前記コイルを研磨して研磨用ストッパー膜
を露出させることを特徴とする。
A method of manufacturing a read / write separated magnetic head according to the present invention comprises a lower magnetic pole and an upper magnetic pole which constitute a magnetic circuit by being opposed to each other with a gap layer therebetween on a magnetic recording surface side. A method for manufacturing a separate read / write magnetic head having an insulating material (preferably a non-magnetic insulating material) provided between a lower magnetic pole and an upper magnetic pole and a coil formed in a groove provided in the insulating material. At least, the step of forming the coil includes coating the insulating material with a polishing stopper film, forming a coil in a groove provided in the insulating material, polishing the coil, and polishing the polishing stopper film. Is exposed.

【0010】本発明の他の記録再生分離型磁気ヘッドの
製造方法は、磁気記録面側においてギャップ層を挟んで
対峙させて磁気回路を構成する下部磁極と上部磁極を備
え、前記下部磁極と上部磁極の間に設けた非磁性絶縁材
と、前記非磁性絶縁材に設けられた溝の内に成膜したコ
イルを有する記録再生分離型磁気ヘッドを製造する方法
であって、前記下部磁極の上に絶縁材を設ける工程と、
前記絶縁材の上部面に研磨用ストッパー膜を成膜する工
程と、前記絶縁材にコイルを埋設するための溝を形成す
る工程と、前記絶縁材にめっき用の下地膜を設けた後に
前記下地膜に電気めっきで銅めっき膜を形成する工程
と、前記銅めっき膜を研磨して研磨用ストッパー膜を露
出させてコイルを得る工程と、前記研磨用ストッパー膜
を除去する工程と前記コイルの上に前記上部磁極を設け
る工程を有することを特徴とする。
Another method of manufacturing a separate read / write magnetic head according to the present invention comprises a lower magnetic pole and an upper magnetic pole which constitute a magnetic circuit by being opposed to each other with a gap layer therebetween on a magnetic recording surface side. A method for manufacturing a read / write separated magnetic head having a non-magnetic insulating material provided between magnetic poles and a coil formed in a groove provided in the non-magnetic insulating material, comprising: Providing an insulating material to the
Forming a stopper film for polishing on the upper surface of the insulating material, forming a groove for embedding a coil in the insulating material, and forming the underlying film for plating on the insulating material, Forming a copper plating film on the ground film by electroplating; polishing the copper plating film to expose a polishing stopper film to obtain a coil; removing the polishing stopper film; And providing a step of providing the upper magnetic pole to the upper magnetic pole.

【0011】本発明の他の記録再生分離型磁気ヘッドの
製造方法は、磁気記録面側においてギャップ層を挟んで
対峙させて磁気回路を構成する下部磁極と上部磁極を備
え、上部磁極はそれぞれ分離した磁極部と磁極柱とヨー
ク部を備え、前記磁極部と磁極柱の間に絶縁材に保持さ
れたコイルを有し、前記ヨーク部は磁極部の上部面と磁
極柱の上面において同一高さで磁気的に接続する記録再
生分離型磁気ヘッドを製造する方法であって、前記コイ
ルおよび絶縁材、磁極部、磁極柱を同時にケミカルメカ
ニカルポリッシング(CMP)加工で研磨して、各々の
上部面を略同一面に形成することを特徴とする。
According to another method of manufacturing a recording / reproducing separation type magnetic head of the present invention, a lower magnetic pole and an upper magnetic pole which constitute a magnetic circuit by being opposed to each other with a gap layer therebetween on a magnetic recording surface side are provided. A magnetic pole portion, a magnetic pole column, and a yoke portion, a coil held by an insulating material between the magnetic pole portion and the magnetic pole column, wherein the yoke portion has the same height on the upper surface of the magnetic pole portion and the upper surface of the magnetic pole column. A magnetic recording / reproducing separation type magnetic head which is magnetically connected by polishing the coil, the insulating material, the magnetic pole portion and the magnetic pole column simultaneously by chemical mechanical polishing (CMP) processing, and polishing each upper surface. It is characterized by being formed on substantially the same surface.

【0012】上記本発明の製造方法において、前記研磨
用ストッパー膜を、タンタル、窒化ケイ素のうち、少な
くとも一つから選ばれた材料で構成することができる。
また、前記研磨用ストッパー膜が第1層と第2層からな
る2層膜であり、前記第1層はニッケル、クロム、銅、
タンタルのうち少なくとも一つで構成された膜であり、
前記第2層は窒化ケイ素、窒化タンタル、窒化チタン、
チタン、タンタルのうち少なくとも一つで構成された膜
とすることができる。また、上記本発明の製造方法にお
いて、前記絶縁材の溝は、プラズマドライエッチングで
形成することができる。
In the method of the present invention, the polishing stopper film may be made of a material selected from at least one of tantalum and silicon nitride.
Further, the polishing stopper film is a two-layer film including a first layer and a second layer, and the first layer is formed of nickel, chromium, copper,
A film composed of at least one of tantalum,
The second layer is silicon nitride, tantalum nitride, titanium nitride,
It can be a film made of at least one of titanium and tantalum. Further, in the manufacturing method of the present invention, the groove of the insulating material can be formed by plasma dry etching.

【0013】従来の方法では、コイルパターンをフォト
レジストで形成、電気めっきでコイルを形成、コイルパ
ターンのフォトレジストの除去、めっきシード膜の除
去、コイル層間絶縁材の充填を行っていた。コイル断面
寸法で1.3μm高さ、0.8μm幅、コイル層間0.
4μm程度の高密度コイルは次の理由で製造が難しいも
のである。第一の理由は、0.4μm幅で、1.3μm
以上のフォトレジストパターンを形成することが難し
い。第二は、0.4μm幅で1.3μm深さの底にある
めっきシード膜をイオンミリング、ケミカルエッチング
で除去することが難しい。第三は、0.4μm幅で1.
3μm深さの溝にフォトレジストを充填することが難し
いためである。
In the conventional method, a coil pattern is formed of photoresist, a coil is formed by electroplating, the photoresist of the coil pattern is removed, a plating seed film is removed, and a coil interlayer insulating material is filled. 1.3 μm height, 0.8 μm width in coil cross-sectional dimension, 0.
A high-density coil of about 4 μm is difficult to manufacture for the following reasons. The first reason is that 0.4 μm width and 1.3 μm
It is difficult to form the above photoresist pattern. Second, it is difficult to remove the plating seed film at the bottom of 0.4 μm width and 1.3 μm depth by ion milling and chemical etching. Third, 0.4 μm width and 1.
This is because it is difficult to fill the groove having a depth of 3 μm with the photoresist.

【0014】本発明のコイル形成であれば、アルミナの
ような非磁性絶縁材でフォトレジストのフレームを形成
するため、前記寸法の様な高密度コイルも実現できる。
従って、前部と後部最下層絶縁材39、40はアルミナ
であることが好ましい。プラズマドライエッチングで
は、イオンミリングやケミカルエッチングがあるが、い
ずれも垂直に近い溝を形成できないと言う問題がある。
アルミナの前部と後部最下層絶縁材39、40の溝形成
する際に、プラズマドライエッチングの一手法であるI
CP(Inductively Coupled Pl
asma)を用いる。エッチングガスにボロンクロライ
ド(BCl)と塩素ガス(Cl)を主成分とする混
合気体を用いることで、ほぼ垂直な溝を形成することが
できるものである。最下層絶縁材にアルミナを用いるこ
とで、従来のフォトレジストに比べ熱伝導率が高いの
で、コイルからの発熱を効率良く外部に逃がすことがで
きる。
According to the coil formation of the present invention, since the photoresist frame is formed of a nonmagnetic insulating material such as alumina, a high-density coil having the above dimensions can be realized.
Accordingly, the front and rear lowermost insulating materials 39 and 40 are preferably made of alumina. In the plasma dry etching, there are ion milling and chemical etching, but there is a problem that neither of them can form a nearly vertical groove.
When forming grooves in the front and rear lowermost insulating materials 39 and 40 of alumina, one method of plasma dry etching, I, is used.
CP (Inductively Coupled Pl)
asma). By using a mixed gas containing boron chloride (BCl 3 ) and chlorine gas (Cl 2 ) as main components as an etching gas, a substantially vertical groove can be formed. By using alumina as the lowermost insulating material, the thermal conductivity is higher than that of the conventional photoresist, so that heat generated from the coil can be efficiently released to the outside.

【0015】なお、本発明の前部と後部最下層コイル4
2、43は、前部と後部最下層コイルの上面が前部と後
部最下層絶縁材39、40と略同一面であるため、その
まま前部と後部上層コイル45、46を形成すると上下
コイル層間の短絡を起こすため、前部と後部最下層コイ
ル45、46の上面部を絶縁する必要がある。後部最下
層コイル43の磁極柱41に最も近い部分は上下コイル
を接続する部分であるのでこの部分は上下コイル絶縁材
44を付加しないものである。上下コイル絶縁材44は
非磁性絶縁材であれば、フォトレジストをベークしたも
のでもアルミナの様なセラミックでも良いが、熱伝導が
高いアルミナを用いることが好ましいものである。
The front and rear lowermost coils 4 of the present invention
2, 43, the upper surfaces of the front and rear lowermost coils are substantially flush with the front and rear lowermost insulating materials 39, 40. , It is necessary to insulate the upper surfaces of the front and rear lowermost coils 45 and 46. Since the portion of the rear lowermost coil 43 closest to the magnetic pole 41 is a portion for connecting the upper and lower coils, this portion does not include the upper and lower coil insulators 44. As long as the upper and lower coil insulating materials 44 are non-magnetic insulating materials, a photoresist baked material or a ceramic such as alumina may be used, but it is preferable to use alumina having high thermal conductivity.

【0016】上層コイルはフォトレジストをコイル形状
にパターニングして電気めっきでコイルを形成するもの
である。前部と後部最下層コイル42、43の様な形成
方法をとらないのは、次の理由による。第一の理由は、
略逆U字型のヨーク部50の形状を容易に形成できると
言うことである。特に磁極部38、磁極柱41との接続
部からコイル上の平坦部の間はなだらかな曲面で形成さ
れていることが、ヨーク部50の磁区を制御する上で重
要である。このなだらかな曲面は、フォトレジストをベ
ークする時にフォトレジストが軟化し自然に形成される
面を使うことが最も簡単な方法である。第二の理由は、
後部上層コイル46の上面は後部上層絶縁材48の上面
より上にあり保護膜51と直接接することが、放熱の面
で有利であるからである。第三の理由は、前部上層コイ
ルの上面は前部キャップ絶縁材49で覆いヨーク部50
との絶縁を確保する必要があり、前部と後部上層コイル
45、46の上面で接する材料が異なるためである。
The upper coil is formed by patterning a photoresist into a coil shape and forming a coil by electroplating. The reason why the method of forming the front and rear lowermost coils 42 and 43 is not adopted is as follows. The first reason is
That is, the shape of the substantially inverted U-shaped yoke portion 50 can be easily formed. In particular, it is important for the magnetic domain of the yoke 50 to be controlled that a smooth curved surface is formed between the connection between the magnetic pole portion 38 and the magnetic pole 41 and the flat portion on the coil. The simplest method is to use a surface that is softened and naturally formed when the photoresist is baked. The second reason is
This is because the upper surface of the rear upper coil 46 is higher than the upper surface of the rear upper insulating material 48 and direct contact with the protective film 51 is advantageous in terms of heat radiation. The third reason is that the upper surface of the front upper coil is covered with the front cap insulating material 49 and the yoke 50
This is because it is necessary to ensure insulation between the front and rear upper coils 45 and 46.

【0017】前部と後部上層コイル45、46は、非磁
性金属を電気めっきで形成したのち、フォトレジストを
除去し、電気めっき用シード膜をイオンミリング、ケミ
カルエッチング等を用いて除去する。上層コイルは最下
層コイルに比べコイル巻数が少ないため、コイルピッチ
を大きくすることが可能であるため、従来方法をとるこ
とができるものである。前部と後部上層絶縁材47、4
8はフォトレジストを充填することで形成することがで
きる。しかし、前部と後部上層コイル45、46の上面
にもフォトレジストが付着するので、ベーク後にプラズ
マアッシャーや、プラズマドライエッチャー、イオンミ
リング等を用いて、少なくとも前部と後部上層コイル4
5、46上面が前部と後部上層絶縁材47、48上面と
同一面かもしくは飛び出る様にすることが良い。前部上
層コイル45は、ヨーク部50との絶縁を確保するため
前部キャップ絶縁材49をフォトレジストをベーク硬化
することで形成する。
The front and rear upper coils 45 and 46 are formed by forming a non-magnetic metal by electroplating, removing the photoresist, and removing the electroplating seed film by ion milling, chemical etching, or the like. The upper-layer coil has a smaller number of coil turns than the lower-layer coil, so that the coil pitch can be increased. Therefore, the conventional method can be used. Front and rear upper insulating materials 47, 4
8 can be formed by filling a photoresist. However, since the photoresist also adheres to the upper surfaces of the front and rear upper coils 45 and 46, at least the front and rear upper coils 4 are baked using a plasma asher, a plasma dry etcher, or ion milling after baking.
It is preferable that the upper surfaces of the upper and lower insulating materials 5 and 46 are flush with or protrude from the upper surfaces of the front and rear upper insulating materials 47 and 48. The front upper layer coil 45 is formed by baking and hardening a front cap insulating material 49 to secure insulation from the yoke part 50.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る実施の形態を
図面によって説明する。図1は本発明によって得た記録
再生分離型磁気ヘッドの断面図である。この記録再生分
離型磁気ヘッドの製造方法について、図2〜図6の製造
工程における断面図を参照しながら詳細に説明する。図
2中の(a)から(h)は、下部磁極とギャップエイペ
ックスの製造工程である。図3中の(a)から(d)
は、磁極部および磁極柱の製造工程である。図3(e)
から(h)と、図4(a)から(c)は、コイルの製造
工程である。図5は、(a)から(h)で上層コイルお
よびヨーク、保護膜の製造工程を示している。各図にお
いて、再生ヘッド部の記載を省略して記録ヘッド部のみ
を示している。判り易くするため、符号はできる限り図
1と同一のものを使用している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view of a read / write separated magnetic head obtained according to the present invention. The method of manufacturing the read / write separated magnetic head will be described in detail with reference to cross-sectional views in the manufacturing steps of FIGS. (A) to (h) in FIG. 2 show a manufacturing process of the lower magnetic pole and the gap apex. (A) to (d) in FIG.
Is a manufacturing process of a magnetic pole part and a magnetic pole column. FIG. 3 (e)
4 (h) and 4 (a) to 4 (c) show a coil manufacturing process. FIGS. 5A to 5H show the steps of manufacturing the upper coil, the yoke, and the protective film. In each of the drawings, only the recording head unit is shown, omitting the description of the reproducing head unit. For the sake of clarity, the same reference numerals as in FIG. 1 are used as much as possible.

【0019】まず図1で記録再生分離型磁気ヘッドの構
成を説明する。図1に示すように上部磁極はそれぞれ分
離した磁極部38と磁極柱41とそれらを磁気的に結合
するヨーク部50を備え、前記磁極部38は磁気媒体対
向面側(以下ABS側と言う)においてギャップ層35
の上に形成されるとともに、該ギャップ層35下の下部
磁極34に形成されたギャップ深さ規定用凸部の上にも
位置するように形成されている。前記ヨーク部50は磁
極部38の上部面と磁極柱41の上部面で、同一の高さ
で磁気的に結合されているものである。従来の磁気ヘッ
ドのギャップ深さは、主にコイルを覆うように設けられ
た非磁性の絶縁材、主にフォトレジストを用い250〜
300℃でベーク、硬化してその端部の形状でギャップ
深さ頂点(以下ギャップエイペックスと言う)を決めて
いた。本発明では、下部磁極に設けられた凸部でギャッ
プエイペックスの位置決めを行うことを特徴とするもの
である。
First, the configuration of the recording / reproducing separation type magnetic head will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 1, the upper magnetic pole includes a magnetic pole portion 38 and a magnetic pole column 41 which are separated from each other, and a yoke portion 50 for magnetically coupling the magnetic pole portion 38 and the magnetic pole portion 38. In the gap layer 35
On the lower magnetic pole 34 below the gap layer 35. The yoke portion 50 is magnetically coupled at the same height on the upper surface of the magnetic pole portion 38 and the upper surface of the magnetic pole column 41. The gap depth of the conventional magnetic head is 250 to 250 nm using a non-magnetic insulating material provided mainly to cover the coil, mainly using a photoresist.
It was baked and cured at 300 ° C., and the top of the gap depth (hereinafter referred to as gap apex) was determined by the shape of the end. The present invention is characterized in that the gap apex is positioned by a projection provided on the lower magnetic pole.

【0020】ギャップエイペックスを備える下部磁極3
4は、磁気特性の異なる磁性材料からなる2層となって
いる。ギャップ層側に位置する第2下部磁極層33は、
再生素子側に位置する第1下部磁極層32に比べ高飽和
磁束密度であることが好ましい。例えば第2下部磁極層
33は、NiFeCo合金(Ni10〜50wt%,F
e15〜40wt%、Co25〜80wt%の組成)の
ような、飽和磁束密度1.8〜1.9(T)の材料を用
い、第1下部磁極層32はNiFe合金(Ni40〜6
0wt%、Fe60〜40wt%の組成)のような、飽
和磁束密度1.5〜1.6(T)の材料を用いることが
できる。第1下部磁極層32は第2下部磁極層33に比
べ、電気抵抗ρが大きいことが好ましい。第2下部磁極
層33に第1下部磁極層32より高飽和磁束密度の材料
を用いるのは、高保磁力の磁気記録媒体の磁化に十分な
記録磁界を与えるためである。
Lower magnetic pole 3 with gap apex
Reference numeral 4 denotes two layers made of magnetic materials having different magnetic properties. The second lower magnetic pole layer 33 located on the gap layer side includes:
It is preferable that the saturation magnetic flux density is higher than that of the first lower magnetic pole layer 32 located on the reproducing element side. For example, the second lower magnetic pole layer 33 is made of a NiFeCo alloy (Ni 10 to 50 wt%, F
e, a material having a saturation magnetic flux density of 1.8 to 1.9 (T) such as 15 to 40 wt% and Co of 25 to 80 wt%, and the first lower magnetic pole layer 32 is made of a NiFe alloy (Ni 40 to 6).
A material having a saturation magnetic flux density of 1.5 to 1.6 (T), such as 0 wt% and Fe 60 to 40 wt%. The first lower magnetic pole layer 32 preferably has a higher electric resistance ρ than the second lower magnetic pole layer 33. The reason why a material having a higher saturation magnetic flux density than that of the first lower magnetic pole layer 32 is used for the second lower magnetic pole layer 33 is to provide a recording magnetic field sufficient for magnetization of a magnetic recording medium having a high coercive force.

【0021】下部磁極34の第1および第2下部磁極層
33、34は、めっきもしくはスパッターで形成するこ
とができる。NiFe系合金の様に電気めっきが容易な
磁性材料はめっきで形成、CoTaZr系合金の様に電
気めっきが難しい磁性材料についてはスパッターを用い
て形成する。ここで第1下部磁極層32を形成したの
ち、第2下部磁極層33を形成するまでに、大気に晒さ
ないことが重要である。電気めっきで第1下部磁極層3
2を形成した場合は、乾燥させず純水等で表面を濡らし
た状態で第2下部磁極層33を形成するめっきを開始す
る。また、スパッターの場合は、第1下部磁極層32を
形成した後、スパッター装置の真空を破り大気に晒し第
1下部磁極層32の表面を酸化させないように、同一の
スパッター装置内で第2下部磁極層33を形成すること
が重要である。第1下部磁極層32と第2下部磁極層3
3の接合境界面に酸化層が出来ると、磁気抵抗が増加し
磁気ヘッドの記録特性が低下するためである。
The first and second lower magnetic pole layers 33 and 34 of the lower magnetic pole 34 can be formed by plating or sputtering. A magnetic material that is easily electroplated such as a NiFe alloy is formed by plating, and a magnetic material that is difficult to electroplate such as a CoTaZr alloy is formed by sputtering. Here, it is important that after the first lower magnetic pole layer 32 is formed, it is not exposed to the air before the second lower magnetic pole layer 33 is formed. First lower pole layer 3 by electroplating
When No. 2 is formed, plating for forming the second lower magnetic pole layer 33 is started in a state where the surface is wetted with pure water or the like without drying. In the case of sputtering, after the first lower magnetic pole layer 32 is formed, the second lower magnetic pole layer 32 is exposed to the atmosphere by breaking the vacuum of the sputter device so that the surface of the first lower magnetic pole layer 32 is not oxidized. It is important to form the pole layer 33. First lower pole layer 32 and second lower pole layer 3
This is because if an oxide layer is formed on the junction boundary of No. 3, the magnetic resistance increases and the recording characteristics of the magnetic head deteriorate.

【0022】第2下部磁極層33を削った個所には、非
磁性で電気抵抗10〜1010(Ω−cm)の絶縁材
料を充填する。この充填絶縁材52としては、アルミニ
ウム、シリコン等の酸化物、炭化物、窒化物等が挙げら
れる。少なくともフォトレジストより熱伝導率の高い材
料が良いことと、スパッターで充填できることが必要で
ある。このスパッターで充填できることは、次項で詳述
するがギャップエイペックスを形成する上で重要な条件
である。
The portion where the second lower magnetic pole layer 33 is cut is filled with a nonmagnetic insulating material having an electric resistance of 10 3 to 10 10 (Ω-cm). Examples of the filling insulating material 52 include oxides such as aluminum and silicon, carbides, nitrides, and the like. It is necessary that at least a material having a higher thermal conductivity than a photoresist is good and that it can be filled by sputtering. As will be described in detail in the next section, it is an important condition for forming a gap apex that filling by sputtering can be performed.

【0023】磁極部38と磁極柱41を取り囲むように
前部最下層絶縁材39および後部最下層絶縁材40を形
成し、ICP(Inductively Couple
dPlasma)などのドライエッチング装置を用い
て、前記絶縁材に前部と後部最下層コイル42、43が
形成される溝を形成し、同溝に電気めっきもしくはスパ
ッターで非磁性金属を充填したのち、ケミカルメカニカ
ルラップ(CMP)により、前部と後部最下層コイル4
2、43の上部面と前部と後部最下層絶縁材39、40
の上部面、磁極部38の上部面、磁極柱41の上部面を
ほぼ同一面に形成するものである。この際、前部最下層
絶縁材39と後部最下層絶縁材40の上に研磨用ストッ
パー膜を形成する(図1では図示を省略)。
A front lowermost insulating material 39 and a rear lowermost insulating material 40 are formed so as to surround the magnetic pole portion 38 and the magnetic pole column 41, and an ICP (Inductively Coupled) is formed.
Using a dry etching apparatus such as dPlasma), a groove for forming the front and rear lowermost coils 42 and 43 is formed in the insulating material, and the groove is filled with a non-magnetic metal by electroplating or sputtering. Front and rear lowermost coils 4 by chemical mechanical wrap (CMP)
2, 43 upper surface, front and rear lowermost insulating materials 39, 40
, The upper surface of the magnetic pole portion 38, and the upper surface of the magnetic pole column 41 are formed substantially in the same plane. At this time, a polishing stopper film is formed on the front lowermost insulating material 39 and the rear lowermost insulating material 40 (not shown in FIG. 1).

【0024】CMPを用いて、前部と後部最下層コイル
42、43の上部面と前部と後部最下層絶縁材39、4
0の上部面、磁極部38の上部面、磁極柱41の上部面
をほぼ同一面に形成することは次の利点がある。磁極
部、磁極柱はNiFe系、NiFeCo系の金属材料、
コイルは銅、アルミニウム、金、銀等電気抵抗の小さな
金属材料、前部と後部最下層絶縁材はアルミナの様なセ
ラミックであり、各々硬さや削れやすさが異なっている
ため、砥粒を分散液で溶いたラップ液を用いたのでは、
凹凸が発生し上層コイルを形成するときに、その凹凸を
引きずってしまうためである。前部と後部最下層絶縁材
39、40に形成される溝は充填絶縁材52まで形成し
てもよいものである。下部磁極層34に溝が達すること
は、絶縁がとれなくなるため問題であることは言うまで
もない。
Using CMP, the upper surfaces of the front and rear lowermost coils 42, 43 and the front and rear lowermost insulating materials 39, 4
Forming the upper surface of the magnetic pole portion 38, the upper surface of the magnetic pole portion 38, and the upper surface of the magnetic pole column 41 in substantially the same plane has the following advantages. The magnetic pole portion and the magnetic pole column are made of NiFe-based, NiFeCo-based metal material,
The coil is made of a metal material with low electrical resistance, such as copper, aluminum, gold, silver, etc., and the front and rear lowermost insulating materials are ceramics such as alumina. With the wrap solution dissolved in the solution,
This is because the unevenness is dragged when the upper layer coil is formed due to the unevenness. The grooves formed in the front and rear lowermost insulating materials 39 and 40 may be formed up to the filling insulating material 52. It goes without saying that the reaching of the groove to the lower magnetic pole layer 34 is a problem because insulation cannot be obtained.

【0025】前部と後部最下層絶縁材39、40に溝を
掘って前部と後部下層コイル42、43を形成する方法
としては、電気めっきとスパッターが考えられる。電気
抵抗の低い材料としては、銅、アルミニウム、金、銀等
がある。アルミニウム以外は電気めっき、スパッターで
形成できるが、アルミニウムは電気めっきで成膜できな
いため、スパッターや真空蒸着を用いるしかない。いず
れの場合でも、溝の中だけでなく溝を構成する前部と後
部最下層絶縁材39、40の上面にこれらの金属が形成
されても、またコイルが隣同士短絡した状態になっても
構わないものである。これら前部と後部最下層絶縁材3
9、40の上面に付いた金属やコイルが隣同士短絡した
部分は、CMPラップにより除去できるためである。
As a method of forming the front and rear lower coils 42 and 43 by digging grooves in the front and rear lowermost insulating materials 39 and 40, electroplating and sputtering can be considered. Materials having low electric resistance include copper, aluminum, gold, silver and the like. Other than aluminum, it can be formed by electroplating or sputtering, but aluminum cannot be formed by electroplating, so there is no choice but to use sputtering or vacuum evaporation. In any case, even if these metals are formed not only in the groove but also on the upper surfaces of the front and rear lowermost insulating materials 39 and 40 constituting the groove, and even if the coils are short-circuited to each other. It doesn't matter. These front and rear lowermost insulating materials 3
This is because a portion where the metal or the coil attached to the upper surfaces of the components 9 and 40 is short-circuited next to each other can be removed by the CMP wrap.

【0026】次に、下部磁極とギャップエイペックスの
製造方法を図2中の(a)〜(h)で説明する。まず、
再生側を形成した基板の上に同一のスパッター装置内で
第1下部磁極層32および第2下部磁極層33の製膜を
行った。ここで基板と再生側の図示は省略した。第1下
部磁極層32はNiFe系(Ni40〜60wt%、F
e60〜40wt%の組成)合金とし、第2下部磁極層
33はNiFeCo合金(Ni10〜50wt%,Fe
15〜40wt%、Co25〜80wt%の組成)とし
た。第1下部磁極層32の飽和磁束密度は1.55
(T)として、電気抵抗は55(μΩ−cm)とした。
第2下部磁極層33の飽和磁束密度は1.8(T)とし
て、電気抵抗は28(μΩ−cm)とした。本実施形態
では、スパッター装置を用いて製膜したが電気めっきを
用いることも可能である。
Next, a method of manufacturing the lower magnetic pole and the gap apex will be described with reference to FIGS. First,
The first lower magnetic pole layer 32 and the second lower magnetic pole layer 33 were formed on the substrate on the reproduction side in the same sputtering apparatus. Here, illustration of the substrate and the reproducing side is omitted. The first lower magnetic pole layer 32 is made of NiFe (Ni 40 to 60 wt%, F
e, the second lower magnetic pole layer 33 is made of a NiFeCo alloy (Ni, 10 to 50 wt%, Fe
15 to 40 wt%, Co 25 to 80 wt%). The saturation magnetic flux density of the first lower magnetic pole layer 32 is 1.55
As (T), the electric resistance was 55 (μΩ-cm).
The saturation magnetic flux density of the second lower magnetic pole layer 33 was set to 1.8 (T), and the electric resistance was set to 28 (μΩ-cm). In the present embodiment, the film is formed using a sputtering apparatus, but it is also possible to use electroplating.

【0027】図2では記載を省略しているが、下部磁極
層34のABS面と反対側に下部磁極層34の段差を解
消するため放熱用非磁性金属31を形成している。この
放熱用非磁性金属31は下部磁性層の反ABS面側の段
差を解消するだけでなく、コイルや磁気回路から発生す
る熱を放散する効果も備えるものである。
Although not shown in FIG. 2, a heat-dissipating nonmagnetic metal 31 is formed on the lower magnetic pole layer 34 on the side opposite to the ABS to eliminate the step of the lower magnetic pole layer 34. The heat-dissipating non-magnetic metal 31 not only eliminates the step on the anti-ABS side of the lower magnetic layer, but also has the effect of dissipating heat generated from the coil and the magnetic circuit.

【0028】キノコ型のフォトレジスト53を、磁極部
38と磁極柱41が接続される部分に形成した(図2−
b)。第2下部磁極層33が除去されるまでイオンミリ
ング装置を用い、イオンミリング加工を行った(図2−
c)。少なくとも第2下部磁極層33は除去されている
ことが必要であり、第1下部磁極層32の一部が削られ
ても良いものである。磁気ヘッドが形成される基板1を
回転させ、イオン入射方向に対し基板を傾けることで、
第2下部磁極層33の端部は垂直に形成されず、傾斜を
有する形状となる。この傾斜角はキノコ型のフォトレジ
スト53の寸法と基板回転角度で制御できるものであ
り、本実施例では傾斜角を45度にした。
A mushroom-type photoresist 53 is formed at a portion where the magnetic pole portion 38 and the magnetic pole column 41 are connected (FIG. 2).
b). Ion milling was performed using an ion milling device until the second lower magnetic pole layer 33 was removed (FIG. 2).
c). At least the second lower magnetic pole layer 33 needs to be removed, and a part of the first lower magnetic pole layer 32 may be removed. By rotating the substrate 1 on which the magnetic head is formed and tilting the substrate with respect to the ion incident direction,
The end of the second lower magnetic pole layer 33 is not formed vertically, but has an inclined shape. This tilt angle can be controlled by the size of the mushroom-type photoresist 53 and the substrate rotation angle. In this embodiment, the tilt angle is set to 45 degrees.

【0029】キノコ型フォトレジスト53を残したま
ま、アルミナの充填絶縁材52をスパッターで被覆した
(図2−d)。充填絶縁材52はキノコ型フォトレジス
ト53の上面および第2下部磁極層33の凹んだ部分だ
けでなく、キノコ型フォトレジスト53の笠の下にも回
り込み製膜される。しかし、キノコ型フォトレジスト5
3の茎の付根部まで製膜されないことが重要で有る。キ
ノコ型フォトレジスト53を第2下部磁極層33の除
去、充填絶縁材52の製膜の際に共通に使用することで
第2下部磁極層33の斜面部と充填絶縁材52の端部盛
り上がり部の位置が自己アライメントされ、精度良くギ
ャップエイペックス36が形成された。充填絶縁材52
の盛り上がり角度は10〜20゜とした。
With the mushroom-type photoresist 53 remaining, an alumina-filled insulating material 52 was coated by sputtering (FIG. 2D). The filling insulating material 52 is formed not only on the upper surface of the mushroom-type photoresist 53 and the recessed portion of the second lower magnetic pole layer 33 but also under the shade of the mushroom-type photoresist 53 to form a film. However, mushroom type photoresist 5
It is important that the film is not formed up to the root of the third stem. The mushroom-type photoresist 53 is commonly used for removing the second lower magnetic pole layer 33 and forming the filling insulating material 52, so that the slope of the second lower magnetic pole layer 33 and the bulging portion of the end of the filling insulating material 52 are formed. Are self-aligned, and the gap apex 36 is formed with high accuracy. Fill insulation 52
Was set at 10 to 20 °.

【0030】次に、キノコ型フォトレジスト53を有機
溶剤で除去した(図2−e)。キノコ型フォトレジスト
53の上面に製膜された充填絶縁材52も同時に除去す
ることができた。
Next, the mushroom type photoresist 53 was removed with an organic solvent (FIG. 2E). The filling insulating material 52 formed on the upper surface of the mushroom type photoresist 53 could be removed at the same time.

【0031】磁極柱38が形成される部分にフォトレジ
スト54を形成した(図2−f)。ギャップ層35とな
るアルミナをスパッターで成膜した(図2−g)。フォ
トレジスト54を有機溶剤で除去し、下部磁極34にギ
ャップ層35が付加された状態にした(図2−h)。ギ
ャップ層35には、非磁性材であるアルミナを用いた。
ギャップエイペックスにギャップ層を製膜したため、実
効ギャップエイペックスは、図2の(h)に図示したポ
イント37となった。
A photoresist 54 was formed on the portion where the pole pole 38 was to be formed (FIG. 2F). Alumina to be the gap layer 35 was formed by sputtering (FIG. 2-g). The photoresist 54 was removed with an organic solvent to leave a gap layer 35 on the lower magnetic pole 34 (FIG. 2H). For the gap layer 35, alumina as a non-magnetic material was used.
Since the gap layer was formed on the gap apex, the effective gap apex was at the point 37 shown in FIG.

【0032】次に、磁極部38および磁極柱41の製造
工程を図3の(a)から(d)で説明する。図2の
(h)の構成に対して、磁極部38および磁極柱41を
電気めっきで形成した。第2下部磁極層33の浮上面側
となる部分には、記録ギャップを介して磁極部38を設
け、第2株磁極層33のバックコンタクトとなる部分に
は、磁極柱41を直接接合した。めっき膜組成は第2下
部磁極層33と同じNiFeCo系磁性合金を使用し
た。電気めっき用のレジストフレーム形成の際に、トラ
ック幅0.8μmの磁極部にはステッパーの1:5縮小
露光機を用いてレジストを露光し、トラック幅0.5μ
mの磁極部用にはエレクトロンビーム(EB)機を用い
てレジストを直接露光を行った。いずれのトラック幅に
おいてもトラック幅ノミナルに対し、製造した磁気ヘッ
ドは全て±5%以内に抑えることができた。
Next, the steps of manufacturing the magnetic pole portion 38 and the magnetic pole column 41 will be described with reference to FIGS. With respect to the configuration shown in FIG. 2H, the magnetic pole portion 38 and the magnetic pole column 41 were formed by electroplating. A magnetic pole portion 38 was provided on the portion on the air bearing surface side of the second lower magnetic pole layer 33 via a recording gap, and a magnetic pole column 41 was directly joined to a portion of the second magnetic pole layer 33 to be a back contact. The plating film composition used was the same NiFeCo-based magnetic alloy as that of the second lower magnetic pole layer 33. At the time of forming a resist frame for electroplating, the magnetic pole portion having a track width of 0.8 μm is exposed with a resist using a 1: 5 reduction exposure machine of a stepper to obtain a track width of 0.5 μm.
For the magnetic pole portion of m, the resist was directly exposed using an electron beam (EB) machine. Regardless of the track width, the manufactured magnetic heads could all be kept within ± 5% of the track width nominal.

【0033】続いて、RIE装置を用いて磁極部38の
トラックトリミングを行った。トラックトリミングする
以外の部分をマスク52aで被覆した後、少なくともト
ラック幅の近傍で第2下部磁極層33が除去される深さ
まで、下部磁極を除去した(図3−b)。この際、下部
磁極のトラック領域を覆うマスクとなる磁極部38は、
点線38bの高さまで削られる。エッチングガスにはボ
ロンクロライド(BCl)と塩素ガス(Cl)を主
とした混合気体を用いた。RIEによるトラックトリミ
ングを行うことにより、図10の(a)に示すようにt
1に対してt2が95%の厚みとなり、従来のイオンミ
リングを用いるトラックトリミングに比べて、下部磁極
34の厚みの均一性が向上した。
Subsequently, track trimming of the magnetic pole portion 38 was performed using an RIE apparatus. After the portion other than the track trimming was covered with the mask 52a, the lower magnetic pole was removed to a depth at which the second lower magnetic pole layer 33 was removed at least in the vicinity of the track width (FIG. 3-B). At this time, the magnetic pole portion 38 serving as a mask covering the track region of the lower magnetic pole is
It is cut to the height of the dotted line 38b. As an etching gas, a mixed gas mainly containing boron chloride (BCl 3 ) and chlorine gas (Cl 2 ) was used. By performing track trimming by RIE, as shown in FIG.
The thickness t2 is 95% of 1, and the uniformity of the thickness of the lower magnetic pole 34 is improved as compared with the conventional track trimming using ion milling.

【0034】充填絶縁材52をスパッターした後(図3
−b)、破線A−A’で示した寸法までCMP加工を施
し、充填絶縁材を平坦化した前部最下層絶縁材39と後
部最下層絶縁材40および磁極部38と磁極柱41との
上面を同一面とする研磨面を得た(図3−c,d)。
After the filling insulating material 52 is sputtered (FIG. 3)
-B), the front lowermost insulating material 39 and the rear lowermost insulating material 40, which have been subjected to the CMP processing to the size indicated by the broken line AA ′ to flatten the filling insulating material, and the magnetic pole portion 38 and the magnetic pole column 41 A polished surface having the same upper surface was obtained (FIGS. 3C and 3D).

【0035】磁極部38や磁極柱41の上面を含む研磨
面の前面に、厚さ0.1μmのタンタル膜55aをスパ
ッターで成膜した(図3−e)。この上にフォトレジス
トを塗布し、前部と後部最下層コイル42、43を設け
る溝を掘るために、パターニングを行ってフォトレジス
トのフレーム55を得た(図3−f)。このフレーム5
5をマスクとしたエッチングで前部最下層絶縁材39と
後部最下層絶縁材40に溝を形成した。(図3−g)。
まず、Ta膜をエッチングするためにフッ素系のエッチ
ングガスを用いたICP(Inductively C
oupledPlasma)によるプラズマドライエッ
チングを行った。Ta膜を貫通したらエッチングガスを
交換して次のエッチングを行った、前部および後部最下
層絶縁材39、40にはアルミナを用いているので、プ
ラズマドライエッチングのエッチングガスにはボロンク
ロライド(BCl)と塩素ガス(Cl)の混合気体
を用いた。溝の深さは1.5μm、幅は0.8μm、溝
ピッチは1.2μmとした。プラズマドライエッチング
加工が終わった後、フォトレジスト55をプラズマアッ
シャー処理と有機溶剤処理で除去し、前部と後部最下層
絶縁材39、40が櫛歯状に形成された。これらの櫛歯
の上面にはTa膜が被覆された状態となった(図3−
h)。
A tantalum film 55a having a thickness of 0.1 μm was formed by sputtering on the front surface of the polished surface including the upper surfaces of the magnetic pole portions 38 and the magnetic pole columns 41 (FIG. 3E). A photoresist was applied thereon, and patterning was performed in order to dig a groove for providing the front and rear lowermost coils 42 and 43, thereby obtaining a photoresist frame 55 (FIG. 3F). This frame 5
A groove was formed in the front lowermost insulating material 39 and the rear lowermost insulating material 40 by etching using No. 5 as a mask. (FIG. 3-g).
First, an ICP (Inductively-Carrying) using a fluorine-based etching gas to etch a Ta film is used.
plasma dry etching by combined plasma). After penetrating the Ta film, the etching gas was exchanged and the next etching was performed. Since alumina was used for the front and rear lowermost insulating materials 39 and 40, boron chloride (BCl 3) was used as the etching gas for the plasma dry etching. 3 ) and a mixed gas of chlorine gas (Cl 2 ) was used. The depth of the groove was 1.5 μm, the width was 0.8 μm, and the groove pitch was 1.2 μm. After the plasma dry etching was completed, the photoresist 55 was removed by a plasma asher process and an organic solvent process, and the front and rear lowermost insulating materials 39 and 40 were formed in a comb shape. The upper surfaces of these comb teeth were covered with a Ta film (FIG. 3).
h).

【0036】前部と後部最下層コイル42、43となる
非磁性金属を前記溝に充填する方法として、電気めっき
とスパッターがある。コイルの高さが1μmを超える場
合には、電気めっきが製膜速度の点から有利である。本
実施例では銅の電気めっきをおこなった。溝の底部分の
み電気めっき用シード膜を付ければ良いが、工程を簡略
化するため全面にシード膜を形成した。そのため、前部
と後部最下層絶縁材39、40および磁極部38と磁極
柱41の上面にも銅膜42aが電気めっきされることと
なった(図4−a)。スパッターを用いても同様になる
ことは容易に判る。次に、破線B−B’で示した部分ま
でCMP加工を施してTa膜を露出させて、銅膜をコイ
ル42,43に形成した(図4−b)。銅膜42aより
硬いTa膜55aはCMPの研磨速度が遅いため、実質
的に研磨用ストッパー膜として機能する。さらに、Ta
膜55aはCoNiFeの磁極部が研磨用のスラリーに
腐食されないようにするための保護膜としても機能す
る。次に、磁極部および前部と後部最下層絶縁材、前部
と後部最下層コイル、磁極柱の上面を同一面に形成する
ために、0.2μm程の深さでプラズマドライエッチン
グを行ってTa膜55aを除去し、コイル高さ1.3μ
m、幅0.8μmのコイルを得た(図4−c)。なお、
このコイル断面寸法は前部最下層コイル42であり、後
部最下層コイル43の幅およびピッチは大きく設計し
た。前記プラズマドライエッチングに代えてTa膜のみ
を選択エッチングする方法を用いると、前部と後部最下
層コイルの上面がわずかに突出しやすい。プラズマドラ
イエッチングでは、コイルの面がわずかに凹み易い傾向
がある。条件を調整して凹凸を抑制した平坦な面を得る
には、プラズマドライエッチングを用いる方が望まし
い。なお、別の方法で平坦化を図ることも可能である。
すなわち、(図4−b)のCMP加工の際に、前部最下
層コイル42と後部最下層コイル43の研磨面(コイル
面と称す)がTa膜55aの面よりオフセットするよう
に加工する。このオフセットの深さdoはTa膜の厚さ
dt以下とする(図4−b2)。このオフセットを設けた
後にプラズマドライエッチングでTa膜を除去するとC
−C’面とコイル面の間の段差を十分に小さくすること
ができる。なお、dt≒doとした場合には、選択エッ
チングでTa膜55aを除去するほうが平坦化し易い。
As a method of filling the grooves with a non-magnetic metal to be the front and rear lowermost coils 42 and 43, there are electroplating and sputtering. When the height of the coil exceeds 1 μm, electroplating is advantageous from the viewpoint of film forming speed. In this embodiment, electroplating of copper was performed. The seed film for electroplating may be formed only on the bottom of the groove, but the seed film is formed on the entire surface to simplify the process. Therefore, the copper film 42a was also electroplated on the upper surfaces of the front and rear lowermost insulating materials 39, 40 and the magnetic pole portion 38 and the pole column 41 (FIG. 4A). It is easy to see that the same is true even with a sputter. Next, the Ta film was exposed to the portion indicated by the broken line BB ′ to expose the Ta film, and copper films were formed on the coils 42 and 43 (FIG. 4B). Since the Ta film 55a, which is harder than the copper film 42a, has a lower CMP polishing rate, it functions substantially as a polishing stopper film. Furthermore, Ta
The film 55a also functions as a protective film for preventing the magnetic pole portion of CoNiFe from being corroded by the polishing slurry. Next, in order to form the upper surface of the magnetic pole part and the front and rear lowermost insulating materials, the front and rear lowermost coils, and the upper surfaces of the pole columns on the same surface, plasma dry etching was performed at a depth of about 0.2 μm. The Ta film 55a is removed, and the coil height is 1.3 μm.
m and a coil having a width of 0.8 μm were obtained (FIG. 4-c). In addition,
The cross-sectional dimension of the coil is the front lowermost layer coil 42, and the width and pitch of the rear lowermost coil 43 are designed to be large. If a method of selectively etching only the Ta film is used instead of the plasma dry etching, the upper surfaces of the front and rear lowermost coils are likely to slightly project. In plasma dry etching, the coil surface tends to be slightly dented. In order to adjust the conditions to obtain a flat surface with suppressed irregularities, it is preferable to use plasma dry etching. Note that it is also possible to achieve flattening by another method.
That is, at the time of the CMP processing of FIG. 4B, the polishing is performed so that the polished surfaces (referred to as coil surfaces) of the front lowermost layer coil 42 and the rear lowermost layer coil 43 are offset from the surface of the Ta film 55a. The depth do of this offset is set to be equal to or less than the thickness dt of the Ta film (FIG. 4-b2). When the Ta film is removed by plasma dry etching after providing this offset, C
The step between the -C 'plane and the coil plane can be made sufficiently small. When dt ≒ do, the Ta film 55a is more easily planarized by removing the Ta film 55a by selective etching.

【0037】前部と後部最下層コイル42、43の上面
が表面に出ている状態では、このまま前部と後部上層コ
イル45、46を形成することは出来ない。そこで、上
下のコイルを直列に接続する個所を除くようにして、上
下コイル絶縁材44を形成した(図5−a)。上下コイ
ル絶縁材44は非磁性絶縁材であれば良い。上下コイル
絶縁材の端部形状をなだらかな曲面に形成し易い材料と
してフォトレジストを用いた。フォトレジストをパター
ニングした後、230℃でベーク(熱処理)して硬化さ
せた。上下コイル絶縁材44の端部をなだらかな曲面と
する必要が無い場合は、熱伝導の良いアルミナを使用す
ることが好ましい。
When the upper surfaces of the front and rear lowermost coils 42 and 43 are exposed, the front and rear upper coils 45 and 46 cannot be formed as they are. Therefore, the upper and lower coil insulators 44 were formed so as to exclude the point where the upper and lower coils were connected in series (FIG. 5A). The upper and lower coil insulators 44 may be non-magnetic insulators. Photoresist was used as a material for easily forming the end shape of the upper and lower coil insulating materials into a gentle curved surface. After patterning the photoresist, it was cured by baking (heat treatment) at 230 ° C. When it is not necessary to make the ends of the upper and lower coil insulating members 44 have a gentle curved surface, it is preferable to use alumina having good heat conductivity.

【0038】前部と後部上層コイル45、46は、従来
より用いられているフォトレジスト57でコイルパター
ンを得るためのフレームを形成し、銅を電気めっきでこ
のフレーム内に形成する方法を採用した。続けてフレー
ムを有機溶剤で除去して前部と後部上層コイル45、4
6を得た(図5−b〜d)。
The front and rear upper coils 45 and 46 are formed by forming a frame for obtaining a coil pattern with a photoresist 57 conventionally used, and forming copper in the frame by electroplating. . Subsequently, the frame is removed with an organic solvent to remove the front and rear upper coils 45 and 4.
6 was obtained (FIGS. 5-b-d).

【0039】前部と後部上層コイル45、46の周囲に
フォトレジストを充填し、230℃でベークし前部と後
部上層絶縁材47、48を形成した(図6−e)。この
前部と後部上層絶縁材47、48はコイル間の隙間全て
を覆うのではなく、コイル高さの2/3程度を隠す程度
とした。しかし、コイルの上面にもレジストが付着する
ため、アッシャーを用いてコイル上面に付着したフォト
レジストを除去した。本実施形態では、後部上層コイル
46にも後部上層絶縁材48を付加したが、後部上層コ
イルピッチが大きくて、保護膜51のアルミナが後部上
層コイル46の線間を完全に充填できれば後部上層絶縁
材48を設ける必要はない。後部上層絶縁材48をコイ
ル高さの2/3程度に形成するのは保護膜51のアルミ
ナが後部上層コイル46を完全に充填できない恐れがあ
る場合に限って良いものである。
A photoresist was filled around the front and rear upper coils 45 and 46, and baked at 230 ° C. to form front and rear upper insulating materials 47 and 48 (FIG. 6E). The front and rear upper insulating materials 47 and 48 do not cover the entire gap between the coils, but cover only about 2/3 of the coil height. However, since the resist also adhered to the upper surface of the coil, the photoresist adhered to the upper surface of the coil was removed using an asher. In the present embodiment, the rear upper-layer insulating material 48 is also added to the rear upper-layer coil 46. However, if the rear upper-layer coil pitch is large and the alumina of the protective film 51 can completely fill the space between the rear upper-layer coils 46, the rear upper-layer insulating It is not necessary to provide the member 48. The formation of the rear upper insulating material 48 to about / of the coil height may be performed only when there is a possibility that the alumina of the protective film 51 may not completely fill the rear upper coil 46.

【0040】前部上層コイル45の上面が出ているた
め、この状態でヨーク部50を形成できない。そこで、
前部キャップ絶縁材49を被覆した。前部キャップ絶縁
材49はフォトレジストを230℃でベーク硬化した
(図5−f)。
Since the upper surface of the front upper coil 45 is exposed, the yoke 50 cannot be formed in this state. Therefore,
The front cap insulation 49 was covered. The front cap insulating material 49 was obtained by baking and curing the photoresist at 230 ° C. (FIG. 5F).

【0041】ヨーク部50は、従来より用いられている
フォトレジストでヨーク用のフレームパターンを形成
し、電気めっきで磁性膜を形成する方法を採用した。本
実施形態ではヨーク部50を形成する材料に第1下部磁
極層32と同じNiFe系合金を用いた(図5−g)。
ヨーク部50を形成することで、磁極部38およびヨー
ク部50、磁極柱41、下部磁極34が接続されて磁気
回路を構成する。
The yoke section 50 employs a method in which a yoke frame pattern is formed from a conventionally used photoresist and a magnetic film is formed by electroplating. In the present embodiment, the same NiFe-based alloy as that of the first lower magnetic pole layer 32 was used as a material for forming the yoke portion 50 (FIG. 5G).
By forming the yoke portion 50, the magnetic pole portion 38 and the yoke portion 50, the magnetic pole column 41, and the lower magnetic pole 34 are connected to form a magnetic circuit.

【0042】ヨーク部50を形成後、図面では省略して
いるが、外部との電気的接続するための引き出し端子1
1等を形成し、全面に保護膜51をスパッターで成膜し
た(図5−h)。
After the yoke portion 50 is formed, although not shown in the drawing, a lead-out terminal 1 for electrical connection to the outside is provided.
1 was formed, and a protective film 51 was formed on the entire surface by sputtering (FIG. 5H).

【0043】以上説明したように、図2の(a)から図
5の(h)の工程で本発明の、下部磁極が2層の磁性材
で構成され下部磁極の凸部でギャップエイペックスを形
成し、磁極部幅(トラック幅)と同一幅に第2下部磁極
層が形成され、磁極部および最下層コイル、磁極柱が同
一面に形成され、後部上層コイルの少なくとも上面は保
護膜と直接接する記録ヘッド部が形成された。
As described above, in the steps shown in FIGS. 2A to 5H, the lower magnetic pole of the present invention is composed of two layers of magnetic material, and the gap apex is formed by the convex portion of the lower magnetic pole. The second lower magnetic pole layer is formed to have the same width as the magnetic pole portion width (track width), the magnetic pole portion, the lowermost coil, and the magnetic pole column are formed on the same surface, and at least the upper surface of the rear upper coil is directly in contact with the protective film. A contacting recording head was formed.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
狭いトラック幅を備えることができ、ギャップ深さの制
御が容易とすることができ、放熱性の高いコイル等を高
集積化することができる。これによって、記録再生分離
型磁気ヘッドを小型化し、高容量化、高転送速度化する
ことができる。
As described above, according to the present invention,
A narrow track width can be provided, the gap depth can be easily controlled, and coils and the like having high heat dissipation can be highly integrated. As a result, it is possible to reduce the size of the recording / reproducing separated magnetic head, to increase the capacity, and to increase the transfer speed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の記録再生分離型磁気ヘッドの断面図で
ある。
FIG. 1 is a sectional view of a read / write separated magnetic head according to the present invention.

【図2】本発明の一実施例の工程図である。FIG. 2 is a process chart of one embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例の工程図である。FIG. 3 is a process chart of one embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例の工程図である。FIG. 4 is a process chart of one embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例の工程図である。FIG. 5 is a process chart of one embodiment of the present invention.

【図6】記録再生分離型磁気ヘッドの一構成の概略斜視
図である。
FIG. 6 is a schematic perspective view of one configuration of a read / write separated magnetic head.

【図7】従来の磁気ヘッドを媒体対向面から見た平面図
と、断面図である。
7A and 7B are a plan view and a cross-sectional view of a conventional magnetic head viewed from a medium facing surface.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板、2 アルミナ、3 下部シールド、11 引
き出し端子、12 保護膜、14 再生素子、15 上
部シールド兼下部磁極、16 上部磁極、17 コイ
ル、18 ギャップ層、19 端子、21 上部磁極、
22 下部磁極、23 ヨーク、110 記録ヘッド
部、210 再生ヘッド部、30 上部シールド、31
放熱用非磁性金属、32 第1下部磁極層、33 第
2下部磁極層、34 下部磁極、35 ギャップ層、3
6 ギャップエイペックス、37 実効ギャップエイペ
ックス、38 磁極部、38b 磁極部が削りとられる
線、39 前部最下層絶縁材、40 後部最下層絶縁
材、41 磁極柱、42 前部最下層コイル、42a
銅膜、43 後部最下層コイル、44 上部コイル絶縁
層、45 前部上層コイル、46 後部上層コイル、4
7 前部上層絶縁材、48 後部上層絶縁材、49 前
部キャップ絶縁材、50 ヨーク部、51 保護膜、5
2 充填絶縁材、52a マスク、53 キノコ型フォ
トレジスト、54,55 フォトレジストのフレーム、
55a Ta膜、57 フォトレジスト
Reference Signs List 1 substrate, 2 alumina, 3 lower shield, 11 lead terminal, 12 protective film, 14 reproducing element, 15 upper shield and lower magnetic pole, 16 upper magnetic pole, 17 coil, 18 gap layer, 19 terminal, 21 upper magnetic pole,
22 lower magnetic pole, 23 yoke, 110 recording head part, 210 reproducing head part, 30 upper shield, 31
Non-magnetic metal for heat dissipation, 32 1st lower magnetic pole layer, 33 2nd lower magnetic pole layer, 34 lower magnetic pole, 35 gap layer, 3
6 gap apex, 37 effective gap apex, 38 magnetic pole part, 38b line from which the magnetic pole part is cut off, 39 front lowermost insulating material, 40 rear lowermost insulating material, 41 magnetic pole pillar, 42 front lowermost coil, 42a
Copper film, 43 rear lowermost coil, 44 upper coil insulating layer, 45 front upper coil, 46 rear upper coil, 4
7 front upper insulating material, 48 rear upper insulating material, 49 front cap insulating material, 50 yoke part, 51 protective film, 5
2 Filled insulating material, 52a mask, 53 mushroom type photoresist, 54, 55 photoresist frame,
55a Ta film, 57 photoresist

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5D033 BA41 BB43 CA05 DA01 DA04 DA08 5D034 BA02 BB12  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5D033 BA41 BB43 CA05 DA01 DA04 DA08 5D034 BA02 BB12

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 磁気記録面側においてギャップ層を挟ん
で対峙させて磁気回路を構成する下部磁極と上部磁極を
備え、前記下部磁極と上部磁極の間に設けた絶縁材と、
前記絶縁材に設けられた溝の内に成膜したコイルを有す
る記録再生分離型磁気ヘッドを製造する方法であって、
すくなくとも前記コイルを形成する工程が、前記絶縁材
に研磨用ストッパー膜を被覆し、前記非磁性絶縁材に設
けられた溝の中にコイルを形成し、前記コイルを研磨し
て研磨用ストッパー膜を露出させることを特徴とする記
録再生分離型磁気ヘッドの製造方法。
An insulating material provided between a lower magnetic pole and an upper magnetic pole, comprising a lower magnetic pole and an upper magnetic pole which constitute a magnetic circuit by being opposed to each other with a gap layer therebetween on a magnetic recording surface side;
A method for manufacturing a read / write separated magnetic head having a coil formed in a groove provided in the insulating material,
At least the step of forming the coil covers the insulating material with a polishing stopper film, forms a coil in a groove provided in the non-magnetic insulating material, and polishes the coil to form a polishing stopper film. A method for manufacturing a read / write separated magnetic head, comprising exposing the magnetic head.
【請求項2】 磁気記録面側においてギャップ層を挟ん
で対峙させて磁気回路を構成する下部磁極と上部磁極を
備え、前記下部磁極と上部磁極の間に設けた絶縁材と、
前記絶縁材に設けられた溝の内に成膜したコイルを有す
る記録再生分離型磁気ヘッドを製造する方法であって、
前記下部磁極の上に絶縁材を設ける工程と、前記絶縁材
の上部面に研磨用ストッパー膜を成膜する工程と、前記
絶縁材にコイルを埋設するための溝を形成する工程と、
前記絶縁材にめっき用の下地膜を設けた後に前記下地膜
に電気めっきで銅めっき膜を形成する工程と、前記銅め
っき膜を研磨して研磨用ストッパー膜を露出させてコイ
ルを得る工程と、前記研磨用ストッパー膜を除去する工
程と、前記コイルの上に前記上部磁極を設ける工程を有
することを特徴とする記録再生分離型磁気ヘッドの製造
方法。
2. An insulating material comprising: a lower magnetic pole and an upper magnetic pole that constitute a magnetic circuit by being opposed to each other with a gap layer therebetween on a magnetic recording surface side; and an insulating material provided between the lower magnetic pole and the upper magnetic pole;
A method for manufacturing a read / write separated magnetic head having a coil formed in a groove provided in the insulating material,
Providing an insulating material on the lower magnetic pole, forming a polishing stopper film on the upper surface of the insulating material, and forming a groove for burying a coil in the insulating material;
Forming a copper plating film by electroplating on the underlying film after providing a plating underlying film on the insulating material, and obtaining a coil by polishing the copper plating film to expose a polishing stopper film; and And removing the polishing stopper film; and providing the upper magnetic pole on the coil.
【請求項3】 磁気記録面側においてギャップ層を挟ん
で対峙させて磁気回路を構成する下部磁極と上部磁極を
備え、上部磁極はそれぞれ分離した磁極部と磁極柱とヨ
ーク部を備え、前記磁極部と磁極柱の間に絶縁材で保持
されたコイルを有し、前記ヨーク部は磁極部の上部面と
磁極柱の上面において同一高さで磁気的に接続する記録
再生分離型磁気ヘッドを製造する方法であって、前記コ
イルおよび絶縁材、磁極部、磁極柱を同時にケミカルメ
カニカルポリッシング(CMP)加工で研磨して、各々
の上部面を略同一面に形成することを特徴とする記録再
生分離型磁気ヘッドの製造方法。
3. A magnetic recording surface comprising: a lower magnetic pole and an upper magnetic pole which are opposed to each other with a gap layer therebetween to form a magnetic circuit, wherein the upper magnetic pole comprises a separated magnetic pole portion, a magnetic pole column and a yoke portion, respectively. A magnetic recording / reproducing separation type magnetic head having a coil held by an insulating material between the magnetic pole portion and the pole column, wherein the yoke portion is magnetically connected at the same height on the upper surface of the magnetic pole portion and the upper surface of the pole column. Wherein the coil, the insulating material, the magnetic pole portion, and the magnetic pole column are simultaneously polished by a chemical mechanical polishing (CMP) process so that respective upper surfaces are substantially flush with each other. Manufacturing method of a magnetic head.
【請求項4】 請求項1ないし3に記載の記録再生分離
型磁気ヘッドの製造方法において、前記研磨用ストッパ
ー膜が、タンタル、窒化ケイ素のうち、少なくとも一つ
から選ばれた材料で構成されていることを特徴とする記
録再生分離型磁気ヘッドの製造方法。
4. The method of manufacturing a read / write separated magnetic head according to claim 1, wherein the polishing stopper film is made of a material selected from at least one of tantalum and silicon nitride. A method for manufacturing a separate read / write magnetic head.
【請求項5】 請求項1ないし3のいずれかに記載の記
録再生分離型磁気ヘッドの製造方法において、前記研磨
用ストッパー膜が第1層と第2層からなる2層膜であ
り、前記第1層はニッケル、クロム、銅、タンタルのう
ち少なくとも一つで構成された膜であり、前記第2層は
窒化ケイ素、窒化タンタル、窒化チタン、チタン、タン
タルのうち少なくとも一つで構成された膜であることを
特徴とする記録再生分離型磁気ヘッドの製造方法。
5. The method according to claim 1, wherein the polishing stopper film is a two-layer film including a first layer and a second layer. One layer is a film composed of at least one of nickel, chromium, copper, and tantalum, and the second layer is a film composed of at least one of silicon nitride, tantalum nitride, titanium nitride, titanium, and tantalum. A method for manufacturing a separate read / write magnetic head.
【請求項6】 請求項1ないし3のいずれかに記載の記
録再生分離型磁気ヘッドの製造方法において、前記非磁
性絶縁材の溝は、プラズマドライエッチングで形成する
ことを特徴とする記録再生分離型磁気ヘッドの製造方
法。
6. The method for manufacturing a read / write separation type magnetic head according to claim 1, wherein said groove of said non-magnetic insulating material is formed by plasma dry etching. Manufacturing method of a magnetic head.
【請求項7】 請求項1ないし6のいずれかの製造方法
で製造したことを特徴とする記録再生分離型磁気ヘッ
ド。
7. A recording / reproducing separation type magnetic head manufactured by the manufacturing method according to claim 1.
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