JP2001208927A - Optical circuit component - Google Patents

Optical circuit component

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JP2001208927A
JP2001208927A JP2000017015A JP2000017015A JP2001208927A JP 2001208927 A JP2001208927 A JP 2001208927A JP 2000017015 A JP2000017015 A JP 2000017015A JP 2000017015 A JP2000017015 A JP 2000017015A JP 2001208927 A JP2001208927 A JP 2001208927A
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optical circuit
semiconductor optical
distortion
semiconductor
circuit component
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Masaki Kamitoku
正樹 神徳
Yuzo Yoshikuni
裕三 吉國
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical circuit component inexpensive and having stable characteristics capable of reducing the influence of distortion and the deterioration of element characteristics accompanying it when semiconductor optical circuit elements are mounted. SOLUTION: A semiconductor optical circuit 40 is mounted on a sub-mount 50 turning downward a surface 45 on which the semiconductor optical circuit elements 41-44 are formed and is stuck to be mounted by a sticking part 60 which is composed of a sticking part 65 arranged so as to encircle in a batch an important part for a function of respective semiconductor optical circuit elements 41-44 together with the sticking parts 61-64 similar to an conventional one which is served also as electric wiring to the respective semiconductor optical circuit elements 41-44. Thus, distortion exerting on respective semiconductor optical circuit elements 41-44 is uniformized and the influence on the element characteristics is reduced.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光通信、光交換、
光情報処理等に用いられる光回路部品に関するものであ
る。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to optical communication, optical switching,
The present invention relates to an optical circuit component used for optical information processing and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】光通信は、アクセス系での高速伝送用
に、将来的にも市場の拡大が見込まれており、これらの
アクセス系へ導入される光回路部品には、従来の幹線系
デバイスと比較して大幅な低コスト化が要求されてい
る。低コスト化のためには、現在の光通信ネットワーク
に必要不可欠な半導体レーザや受光素子を代表とする半
導体光回路素子を含む光回路部品のコストの低減、特に
コスト高の大きな要因となっている、半導体光回路素子
の実装コストの低減が必要不可欠である。
2. Description of the Related Art In optical communication, the market is expected to expand in the future for high-speed transmission in access systems, and optical circuit components introduced into these access systems include conventional trunk line devices. Significant cost reduction is required as compared with. In order to reduce costs, the cost of optical circuit components including semiconductor optical circuit elements typified by semiconductor lasers and light receiving elements indispensable for current optical communication networks has been reduced, and this has become a major factor in cost increase. In addition, it is essential to reduce the mounting cost of the semiconductor optical circuit element.

【0003】光通信で使用する部品は光ファイバを用い
て光を入出力する必要があるため、半導体光回路素子も
光ファイバと接続する必要がある。
Since components used in optical communication need to input and output light using an optical fiber, a semiconductor optical circuit element also needs to be connected to the optical fiber.

【0004】素子と光ファイバもしくは素子同士を接続
する方法としては、これらの結合状態をモニタリング
し、素子と光ファイバもしくは素子同士の最適結合が得
られる条件を捜して固定する、アクティブアライメント
と呼ばれる方法がある。しかし、この方法は個々の素子
に対して光ファイバもしくは素子との最適結合が得られ
る条件を捜す必要があるため、実装を行うために多大な
コストを要していた。
[0004] As a method of connecting an element to an optical fiber or an element, a method called active alignment is employed in which the state of connection between these elements is monitored, and conditions for obtaining optimum coupling between the element and the optical fiber or the element are searched and fixed. There is. However, in this method, since it is necessary to search for the condition for obtaining the optimum coupling with the optical fiber or the element for each element, a large cost is required for mounting.

【0005】これに対して、結合状態のモニタリングを
省略し、機械的な位置合わせ等によりアライメントを簡
略化して実装の低コスト化を図る、パッシブアライメン
トと呼ばれる方法がある。また、この際、素子を搭載す
るサブマウント等に電気的な配線を施しておけば、光学
的な実装だけでなく、電気的な実装も同時に完了できる
ため、低コスト化のメリットはさらに大きなものとな
る。
On the other hand, there is a method called passive alignment, which omits monitoring of the coupling state and simplifies the alignment by mechanical alignment or the like to reduce the mounting cost. At this time, if electrical wiring is applied to the submount for mounting the element, not only optical mounting but also electrical mounting can be completed at the same time, so the merit of cost reduction is even greater. Becomes

【0006】現在、パッシブアライメント法による接続
に関し、加入者系レーザと呼ばれる低コストレーザ等で
は、ほぼ実用化のめどがつきつつある。これらの手法が
レーザだけでなく、一般的な半導体光回路素子を含む光
回路部品へ適用できれば、その経済効果は非常に大きい
と言える。
[0006] Currently, relates connected by a passive alignment method, the low cost laser or the like called subscriber based laser, is being sticks prospect of substantially practical. If these techniques can be applied not only to lasers but also to optical circuit components including general semiconductor optical circuit elements, the economic effects can be said to be extremely large.

【0007】しかしながら、パッシブアライメント法を
そのまま一般的な半導体光回路素子を含む光回路部品に
適用した場合、素子の歪み、素子の機能上重要な部分の
保護等、いくつかの問題を生じる。
However, when the passive alignment method is applied to optical circuit components including general semiconductor optical circuit elements as they are, there are some problems such as distortion of the elements and protection of important parts in the function of the elements.

【0008】図1にパッシブアライメント法による光回
路部品の実装のようすの一例を示す。半導体光回路素子
を備えた半導体光回路(以下、本発明では、半導体光回
路素子を少なくとも1つ備えた光回路を半導体光回路と
呼ぶ。)11は、該半導体光回路素子が形成されている
面12を下側にしてサブマウント(基板)13上に搭載
され、それぞれの金属被覆部14,15を介して、金属
ハンダもしくは導電性の接着剤等により接着されて実装
される。また、サブマウント13上には光ファイバ16
が実装されている。サブマウント13と光ファイバ16
とは±0.5μm以下の高精度な位置決めが容易に実現
できている。
FIG. 1 shows an example of mounting optical circuit components by a passive alignment method. A semiconductor optical circuit 11 including a semiconductor optical circuit element (hereinafter, an optical circuit including at least one semiconductor optical circuit element is referred to as a semiconductor optical circuit in the present invention) 11 is formed with the semiconductor optical circuit element. It is mounted on a submount (substrate) 13 with the surface 12 facing down, and is mounted by bonding with metal solder or a conductive adhesive or the like via respective metal coating portions 14 and 15. The optical fiber 16 is mounted on the submount 13.
Has been implemented. Submount 13 and optical fiber 16
Means that highly accurate positioning of ± 0.5 μm or less can be easily realized.

【0009】半導体光回路11と光ファイバ16とのパ
ッシブアライメントを行う場合、高い結合効率を得るた
めには、基板に水平/垂直方向に対して±1μm程度の
アライメント精度が必要である。
When performing passive alignment between the semiconductor optical circuit 11 and the optical fiber 16, in order to obtain high coupling efficiency, the substrate needs to have an alignment accuracy of about ± 1 μm in the horizontal / vertical directions.

【0010】この精度を得るための手法には様々なもの
があるが、基板と水平な方向には、半導体光回路11上
のアライメントマーク17と、サブマウント13上のア
ライメントマーク18とを用いて光学的に位置合わせを
行うことが一般的である。また、基板に垂直な方向に
は、半導体光回路11の半導体光回路素子が形成されて
いる面12を下側にして実装することにより、高い精度
を得ることができる。
There are various methods for obtaining this accuracy. In the direction parallel to the substrate, an alignment mark 17 on the semiconductor optical circuit 11 and an alignment mark 18 on the submount 13 are used. It is common to perform optical alignment. In addition, high precision can be obtained by mounting the semiconductor optical circuit 11 with the surface 12 on which the semiconductor optical circuit element is formed on the lower side in the direction perpendicular to the substrate.

【0011】なお、半導体光回路素子が形成されている
面を上側にして実装を行うことも可能であるが、電気的
な配線を別途施すことが必要となること、放熱性の観点
から基板の膜厚を薄く加工することが必要となり、取り
扱いが難しくなること、また、加工する基板の膜厚の精
度を確保することが必要となる等の意味で問題が大き
い。
Although it is possible to mount the semiconductor optical circuit element with the surface on which the semiconductor optical circuit element is formed on the upper side, it is necessary to separately provide electrical wiring, and from the viewpoint of heat dissipation, It is necessary to process the thinner film, which makes handling difficult, and it is necessary to ensure the accuracy of the film thickness of the substrate to be processed.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、パ
ッシブアライメント法による光回路部品の実装において
は、通常、半導体光回路11の半導体光回路素子が形成
されている面側が、金属被覆部14,15並びに金属ハ
ンダもしくは導電性の接着剤等を介してサブマウント1
3に接着されるが、この時、半導体と異種の材料とが接
着されることになるため、熱膨張係数の違いによって生
ずる応力等の要因により、実装時に歪みを生じる(第1
の問題点)。
As described above, in mounting optical circuit components by the passive alignment method, the surface of the semiconductor optical circuit 11 where the semiconductor optical circuit elements are formed is usually covered with the metal coating portion 14. , 15 and submount 1 via metal solder or conductive adhesive, etc.
At this time, since the semiconductor and the dissimilar material are bonded at this time, distortion occurs at the time of mounting due to factors such as stress caused by a difference in thermal expansion coefficient (first).
Problem).

【0013】前述した半導体レーザ等の小型の素子の場
合、この歪みはそれほど大きな問題とならないが、半導
体光回路素子を複数並べたアレイ型の半導体光回路や、
マッハ・ツェンダ干渉計素子、アレイ導波路格子素子等
のサイズの大きな素子を備えた半導体光回路を実装する
場合には、歪みの影響により、波長特性等の素子特性が
劣化するため、無視することができなくなる。
In the case of a small device such as a semiconductor laser as described above, this distortion is not so serious, but an array type semiconductor optical circuit in which a plurality of semiconductor optical circuit elements are arranged,
When mounting a semiconductor optical circuit equipped with a large-sized element such as a Mach-Zehnder interferometer element or an arrayed waveguide grating element, disregard the element characteristics such as wavelength characteristics due to the influence of distortion. Can not be done.

【0014】特に、図2に示すように、従来の光回路部
品では、金属被覆部並びに金属ハンダもしくは導電性の
接着剤等よりなる接着部分の配置により特定の場所に歪
みが集中するため、各素子間で素子特性のばらつきを生
じる等、再現性上の問題を生じていた。なお、図2中、
21は半導体光回路、22はサブマウント、23は接着
部分、24は応力、25は歪みである。
In particular, as shown in FIG. 2, in a conventional optical circuit component, strain is concentrated at a specific location due to the arrangement of a metal coating portion and an adhesive portion made of a metal solder or a conductive adhesive. There has been a problem in reproducibility, such as variations in element characteristics between elements. In FIG. 2,
21 is a semiconductor optical circuit, 22 is a submount, 23 is an adhesive portion, 24 is stress, and 25 is distortion.

【0015】第2の問題点として、樹脂材料による封止
の問題があげられる。これらの部品は、最終的に接着剤
等の樹脂材料等により封止することが、素子の信頼性の
観点からは望ましい。この場合、図3に示すように、従
来の光回路部品では、毛細管現象により、半導体光回路
の半導体光回路素子の部分にまで樹脂材料が浸透してく
る場合があり、この半導体光回路素子の部分にまで浸透
した樹脂の影響により、素子特性が劣化したり、また、
樹脂が半導体光回路素子に部分的に歪みを与えたりする
という問題を生じていた。なお、図3中、31は半導体
光回路、32はサブマウント、33は光ファイバ、34
は接着部分、35は封止用の樹脂材料、35aは半導体
光回路素子の部分に浸透した樹脂材料である。
As a second problem, there is a problem of sealing with a resin material. It is desirable that these components are finally sealed with a resin material such as an adhesive from the viewpoint of element reliability. In this case, as shown in FIG. 3, in a conventional optical circuit component, a resin material may penetrate into a semiconductor optical circuit element portion of a semiconductor optical circuit due to a capillary phenomenon. Due to the effect of the resin that has penetrated to the part, the element characteristics may deteriorate,
There has been a problem that the resin partially distorts the semiconductor optical circuit element. In FIG. 3, 31 is a semiconductor optical circuit, 32 is a submount, 33 is an optical fiber, 34
Is an adhesive portion, 35 is a sealing resin material, and 35a is a resin material that has permeated into the semiconductor optical circuit element.

【0016】以上の説明においては、サブマウントを用
いた例を示したが、サブマウントの代わりに、シリカガ
ラスを用いた光回路上に半導体光回路を搭載した光回路
部品も多く用いられている。パッシブアライメント法に
よる実装においては、サブマウントを用いた場合でも、
光回路を用いた場合でも同様な問題が生じる。
In the above description, an example in which a submount is used has been described. Instead of the submount, an optical circuit component in which a semiconductor optical circuit is mounted on an optical circuit using silica glass is often used. . In mounting by the passive alignment method, even when using the submount,
A similar problem occurs when an optical circuit is used.

【0017】本発明は、半導体光回路素子の実装時の歪
みの影響が少なく、安価で安定した特性の光回路部品を
提供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide an inexpensive and stable optical circuit component which is less affected by distortion during mounting of a semiconductor optical circuit element.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】以上の問題を解決するた
め、本発明の請求項1では、半導体光回路素子を少なく
とも1つ備えた半導体光回路を異種材料からなるサブマ
ウントもしくは光回路に接着してなる光回路部品におい
て、半導体光回路素子の少なくとも一部を囲うように接
着部分を配置したことを特徴とする。これにより、熱膨
張係数の違い等によって発生する歪みの影響を軽減する
ことができる。
According to a first aspect of the present invention, a semiconductor optical circuit having at least one semiconductor optical circuit element is bonded to a submount or an optical circuit made of a different material. The optical circuit component is characterized in that an adhesive portion is arranged so as to surround at least a part of the semiconductor optical circuit element. As a result, it is possible to reduce the influence of distortion generated due to a difference in thermal expansion coefficient and the like.

【0019】また、本発明の請求項2では、複数の半導
体光回路素子のそれぞれの少なくとも一部を囲うように
接着部分を配置したことを特徴とする。これにより、歪
みの影響をさらに軽減することができる。
According to a second aspect of the present invention, the adhesive portion is arranged so as to surround at least a part of each of the plurality of semiconductor optical circuit elements. Thereby, the influence of distortion can be further reduced.

【0020】また、本発明の請求項3では、半導体光回
路素子の少なくとも一部を囲うように配置する接着部分
を、半導体光回路素子のスラブ導波路部分もしくは埋め
込み導波路部分を通過するように配置したことを特徴と
する。これにより、接着部分が素子特性を劣化させるこ
とを防ぎつつ、効果的に歪みの影響を軽減できる。
According to a third aspect of the present invention, the bonding portion disposed so as to surround at least a part of the semiconductor optical circuit element is formed so as to pass through the slab waveguide portion or the buried waveguide portion of the semiconductor optical circuit device. It is characterized by being arranged. As a result, the influence of distortion can be effectively reduced while preventing the bonded portion from deteriorating element characteristics.

【0021】また、本発明の請求項4では、接着部分の
形状を円形としたことを特徴とする。これにより、特定
の場所に歪みが集中することを防ぎ、より効果的に歪み
の影響を軽減できる。
According to a fourth aspect of the present invention, the shape of the bonding portion is circular. As a result, it is possible to prevent the distortion from being concentrated at a specific place, and it is possible to more effectively reduce the influence of the distortion.

【0022】このように、本発明によれば、半導体光回
路素子の実装時の歪みの影響を低減することができるた
め、素子特性の劣化がなく、歩留まりを高くでき、安価
で安定した特性の光回路部品を提供することが可能とな
る。
As described above, according to the present invention, the influence of distortion at the time of mounting a semiconductor optical circuit element can be reduced, so that the element characteristics are not deteriorated, the yield can be increased, and inexpensive and stable characteristics can be obtained. An optical circuit component can be provided.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】図4は本発明の光回路部品の第1
の実施の形態を示すもので、図中、40は半導体光回
路、50はサブマウントもしくはシリカガラス等の光回
路(以下、簡単のため、サブマウントと記述する。)、
60は接着部分である。
FIG. 4 shows a first embodiment of an optical circuit component according to the present invention.
In the figure, 40 is a semiconductor optical circuit, 50 is a submount or an optical circuit such as silica glass (hereinafter, referred to as a submount for simplicity),
Reference numeral 60 denotes an adhesive portion.

【0024】半導体光回路40は、同図(b)に示すよ
うに複数、ここでは4つの半導体光回路素子41,4
2,43,44を備え、該半導体光回路素子41〜44
が形成されている面45を下側にして、サブマウント5
0上に搭載され、半導体光回路40及びサブマウント5
0のそれぞれの金属被覆部並びに金属ハンダもしくは導
電性の接着剤等よりなる接着部分60により接着されて
実装されている。
As shown in FIG. 1B, a plurality of, here four, semiconductor optical circuit elements 41, 4 are provided.
2, 43 and 44, and the semiconductor optical circuit elements 41 to 44
With the surface 45 on which the
The semiconductor optical circuit 40 and the submount 5
No. 0 and are bonded and mounted by a metal coating portion and a bonding portion 60 made of metal solder or a conductive adhesive or the like.

【0025】ここで、サブマウント50は、一般に、半
導体光回路40と異なる種類の材料からなるため、実装
時に歪みを生じる。この歪みが不均一にかかると、素子
特性のばらつき等の問題点を生じる。
Here, since the submount 50 is generally made of a different kind of material from the semiconductor optical circuit 40, distortion occurs during mounting. If the distortion is non-uniform, problems such as variations in element characteristics occur.

【0026】そこで、接着部分60を、各半導体光回路
素子41〜44への電気的な配線を兼ねた、従来と同様
な接着部分61,62,63,64とともに、各半導体
光回路素子41〜44の機能上重要な部分を一括して囲
うように配置した接着部分65とで構成することによ
り、各半導体光回路素子41〜44にかかる歪みを均一
化して、素子特性に及ぼす影響を軽減するようになして
いる。
Therefore, the bonding portion 60 is used together with the bonding portions 61, 62, 63, and 64 similar to the conventional ones, which also serve as electric wiring to the semiconductor optical circuit elements 41 to 44, and the semiconductor optical circuit elements 41 to 44. By constituting the semiconductor optical circuit elements 41 to 44 with the adhesive parts 65 arranged so as to enclose the functionally important parts of the semiconductor optical elements collectively, distortions applied to the semiconductor optical circuit elements 41 to 44 are uniformed, and the influence on the element characteristics is reduced. I am doing so.

【0027】図5は本発明の光回路部品の第2の実施の
形態を示すもので、ここでは第1の実施の形態において
半導体光回路素子の少なくとも一部を囲うように配置す
る接着部分を、個々の半導体光回路素子を個別に囲うよ
うに配置した例を示す。即ち、図中、66は各半導体光
回路素子41〜44の機能上重要な部分をそれぞれ個別
に囲うように配置した接着部分であり、これにより、歪
みの影響をシールドすることができ、特定の部分に歪み
が集中する等の問題点を解消することができる。なお、
その他の構成・作用は第1の実施の形態の場合と同様で
ある。
FIG. 5 shows a second embodiment of the optical circuit component of the present invention. In this embodiment, an adhesive portion arranged so as to surround at least a part of the semiconductor optical circuit element in the first embodiment is shown. An example is shown in which individual semiconductor optical circuit elements are arranged so as to individually surround them. That is, in the drawing, reference numeral 66 denotes an adhesive portion which is disposed so as to individually surround functionally important portions of the semiconductor optical circuit elements 41 to 44, whereby the influence of distortion can be shielded. Problems such as distortion being concentrated on a portion can be solved. In addition,
Other configurations and operations are the same as those of the first embodiment.

【0028】図6は本発明の光回路部品の第3の実施の
形態を示すもので、ここでは半導体光回路素子としてア
レイ導波路格子素子を用いた例を示す。
FIG. 6 shows an optical circuit component according to a third embodiment of the present invention. Here, an example in which an arrayed waveguide grating element is used as a semiconductor optical circuit element is shown.

【0029】アレイ導波路格子素子やマッハ・ツェンダ
干渉計素子は、素子の干渉現象を用いているために歪み
の影響を受け易い。また一般に、素子のサイズが大きい
ためにさらに歪みの影響を受け易く、実装上、特に注意
を要する素子である。
Array waveguide grating elements and Mach-Zehnder interferometer elements are susceptible to distortion because of the use of element interference phenomena. In general, since the size of the element is large, the element is more susceptible to distortion and requires special attention in mounting.

【0030】図6では1個のアレイ導波路格子素子71
を備えた半導体光回路70の該アレイ導波路格子素子7
1が形成されている面72を示しており、該面72を下
側にして、図示しないサブマウント上に搭載され、半導
体光回路70及び図示しないサブマウントのそれぞれの
金属被覆部並びに金属ハンダもしくは導電性の接着剤等
よりなる接着部分80により接着されて実装される。
In FIG. 6, one arrayed waveguide grating element 71 is shown.
Arrayed grating element 7 of semiconductor optical circuit 70 having
1 shows the surface 72 on which the semiconductor optical circuit 70 and the submount (not shown) are mounted on a submount (not shown) with the surface 72 facing downward, and It is mounted by bonding with a bonding portion 80 made of a conductive adhesive or the like.

【0031】アレイ導波路格子素子71ではアレイ導波
路部分71aが非常に重要であるため、半導体光回路素
子の少なくとも一部を囲うように配置する接着部分80
はアレイ導波路部分71aを囲うように配置されてい
る。また、本実施の形態においては請求項3に掲げたよ
うに、接着部分80はアレイ導波路格子素子71のスラ
ブ導波路部分71bを通過するように配置されている。
Since the arrayed waveguide portion 71a is very important in the arrayed waveguide grating device 71, the adhesive portion 80 is arranged so as to surround at least a part of the semiconductor optical circuit device.
Are arranged so as to surround the array waveguide portion 71a. In the present embodiment, as described in claim 3, the bonding portion 80 is arranged so as to pass through the slab waveguide portion 71b of the arrayed waveguide grating element 71.

【0032】前記接着部分80は素子特性の劣化を防ぐ
働きがある。通常、半導体光回路とサブマウントとは、
金属ハンダもしくは導電性の接着剤等により接着される
が、これらの材料が半導体光回路素子を形成する導波路
に近接した場合、大きな損失を示すことがある。特に、
アレイ導波路格子素子等に用いられるハイメサ導波路構
造では、その影響は甚大であり、ハイメサ導波路部分を
避けて接着部分80を配置することが必要になる。この
ため、図示したようにスラブ導波路部分71bを通過す
るように接着部分80を配置した。
The bonding portion 80 has a function of preventing deterioration of device characteristics. Usually, the semiconductor optical circuit and the submount are
They are bonded by metal solder or a conductive adhesive. However, when these materials come close to the waveguide forming the semiconductor optical circuit element, a large loss may be exhibited. In particular,
In a high mesa waveguide structure used for an arrayed waveguide grating element or the like, the effect is significant, and it is necessary to dispose the bonding portion 80 avoiding the high mesa waveguide portion. For this reason, as shown in the figure, the adhesive portion 80 is arranged so as to pass through the slab waveguide portion 71b.

【0033】なお、アレイ導波路格子素子71の入出力
用導波路71cが埋め込み導波路で構成されている場合
は、スラブ導波路部分71bの代わりに入出力用導波路
71c上を通過するように接着部分80を配置しても構
わない。
When the input / output waveguide 71c of the arrayed waveguide grating element 71 is composed of a buried waveguide, the input / output waveguide 71c passes over the input / output waveguide 71c instead of the slab waveguide portion 71b. The bonding portion 80 may be arranged.

【0034】図7は本発明の光回路部品の第4の実施の
形態を示すもので、ここでは第3の実施の形態において
接着部分の形状を円形とした例を示す。即ち、即ち、図
中、81はアレイ導波路部分71aを囲い、かつスラブ
導波路部分71bを通過するように配置した円形の接着
部分であり、これにより、接着した円形内部では歪みの
影響が均質化され、特定の部分に歪みの影響が集中する
ことを防ぐことができる。このため、アレイ導波路格子
素子やマッハ・ツェンダ干渉計素子等の歪みの影響を受
け易い素子をこの円形の内部に配置することにより、歪
みの影響を低減することが可能となる。なお、その他の
構成・作用は第3の実施の形態の場合と同様である。
FIG. 7 shows an optical circuit component according to a fourth embodiment of the present invention. Here, an example in which the shape of the bonding portion in the third embodiment is circular is shown. That is, in the drawing, reference numeral 81 denotes a circular bonding portion which surrounds the arrayed waveguide portion 71a and is arranged so as to pass through the slab waveguide portion 71b, whereby the influence of distortion is uniform inside the bonded circular shape. And the effect of distortion can be prevented from being concentrated on a specific portion. Therefore, by arranging elements that are easily affected by distortion, such as an arrayed waveguide grating element and a Mach-Zehnder interferometer element, inside this circular shape, the influence of distortion can be reduced. The other configuration and operation are the same as those in the third embodiment.

【0035】以上説明した第1乃至第4の実施の形態に
おいて、半導体光回路素子の少なくとも一部を囲うよう
に配置する接着部分は、半導体光回路素子の重要な部分
を封止する働きがあるため、切れ目なしに形成すること
が望ましいが、電極の引き出し口等を設けるための切れ
目が有る場合においても、歪みの集中を避ける効果が期
待できるため、有効である。
In the first to fourth embodiments described above, the adhesive portion disposed so as to surround at least a part of the semiconductor optical circuit element has a function of sealing an important part of the semiconductor optical circuit element. Therefore, it is desirable to form the electrode without a break. However, even when there is a break for providing a lead-out opening for an electrode, the effect of avoiding concentration of distortion can be expected, which is effective.

【0036】また、以上の説明では、半導体光回路を搭
載する対象を、簡単のためサブマウントと呼んだが、サ
ブマウントだけでなく、シリカガラス等の搭載用光回路
等の、実装を補助する異種材料物質に搭載する場合に
も、同様の効果があることは明らかである。
In the above description, the object on which the semiconductor optical circuit is mounted is called a submount for the sake of simplicity. However, not only the submount but also a different type of auxiliary optical circuit for mounting such as silica glass. It is clear that the same effect can be obtained even when mounting on a material.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体光回路素子の実装時の歪みの影響とそれに伴う素
子特性の劣化を低減することができ、安価で安定した特
性の光回路部品を提供することが可能となる。
As described above, according to the present invention,
It is possible to reduce the influence of the distortion at the time of mounting the semiconductor optical circuit element and the deterioration of the element characteristics accompanying the distortion, and it is possible to provide an optical circuit component having stable characteristics at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】パッシブアライメント法による光回路部品の実
装のようすの一例を示す図
FIG. 1 is a diagram showing an example of how an optical circuit component is mounted by a passive alignment method.

【図2】従来の光回路部品の第1の問題点を説明するた
めの図
FIG. 2 is a diagram for explaining a first problem of a conventional optical circuit component.

【図3】従来の光回路部品の第2の問題点を説明するた
めの図
FIG. 3 is a view for explaining a second problem of the conventional optical circuit component.

【図4】本発明の光回路部品の第1の実施の形態を示す
構成図
FIG. 4 is a configuration diagram showing a first embodiment of the optical circuit component of the present invention.

【図5】本発明の光回路部品の第2の実施の形態を示す
構成図
FIG. 5 is a configuration diagram showing a second embodiment of the optical circuit component of the present invention.

【図6】本発明の光回路部品の第3の実施の形態を示す
構成図
FIG. 6 is a configuration diagram showing an optical circuit component according to a third embodiment of the present invention.

【図7】本発明の光回路部品の第4の実施の形態を示す
構成図
FIG. 7 is a configuration diagram showing an optical circuit component according to a fourth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

40,70:半導体光回路、41〜44:半導体光回路
素子、45:半導体光回路素子形成面、50:サブマウ
ント、60:接着部分、61〜64:従来と同様な接着
部分、65:複数の半導体光回路素子を一括して囲う接
着部分、66:複数の半導体光回路素子を個別に囲う接
着部分、71:アレイ導波路格子素子、71a:アレイ
導波路部分、71b:スラブ導波路部分、71c:入出
力用導波路、72:アレイ導波路格子素子形成面、8
0:アレイ導波路部分を囲う接着部分、90:円形の接
着部分。
40, 70: semiconductor optical circuit, 41 to 44: semiconductor optical circuit element, 45: semiconductor optical circuit element formation surface, 50: submount, 60: adhesive part, 61 to 64: adhesive part similar to the conventional one, 65: plural An adhesive portion enclosing the semiconductor optical circuit elements collectively; 66: an adhesive portion individually enclosing a plurality of semiconductor optical circuit elements; 71: an arrayed waveguide grating element; 71a: an arrayed waveguide portion; 71b: a slab waveguide portion; 71c: input / output waveguide, 72: array waveguide grating element forming surface, 8
0: adhesive part surrounding the array waveguide part, 90: circular adhesive part.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H047 KA04 KB09 MA05 MA07 PA26 TA43 TA44 5F073 AB25 AB28 FA06 FA16 FA21 5F088 BA16 BA18 CB20 JA03 JA14 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H047 KA04 KB09 MA05 MA07 PA26 TA43 TA44 5F073 AB25 AB28 FA06 FA16 FA21 5F088 BA16 BA18 CB20 JA03 JA14

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体光回路素子を少なくとも1つ備え
た半導体光回路を異種材料からなるサブマウントもしく
は光回路に接着してなる光回路部品において、 半導体光回路素子の少なくとも一部を囲うように接着部
分を配置したことを特徴とする光回路部品。
1. An optical circuit component comprising at least one semiconductor optical circuit element and a semiconductor optical circuit having at least one semiconductor optical circuit element adhered to a submount or an optical circuit made of a different material so as to surround at least a part of the semiconductor optical circuit element. An optical circuit component having an adhesive portion disposed thereon.
【請求項2】 複数の半導体光回路素子のそれぞれの少
なくとも一部を囲うように接着部分を配置したことを特
徴とする請求項1記載の光回路部品。
2. The optical circuit component according to claim 1, wherein an adhesive portion is arranged so as to surround at least a part of each of the plurality of semiconductor optical circuit elements.
【請求項3】 半導体光回路素子の少なくとも一部を囲
うように配置する接着部分を、半導体光回路素子のスラ
ブ導波路部分もしくは埋め込み導波路部分を通過するよ
うに配置したことを特徴とする請求項1または2記載の
光回路部品。
3. The semiconductor optical circuit device according to claim 2, wherein the adhesive portion surrounding at least a part of the semiconductor optical circuit device is disposed so as to pass through a slab waveguide portion or a buried waveguide portion of the semiconductor optical circuit device. Item 3. The optical circuit component according to item 1 or 2.
【請求項4】 接着部分の形状を円形としたことを特徴
とする請求項1乃至3いずれか記載の光回路部品。
4. The optical circuit component according to claim 1, wherein the bonding portion has a circular shape.
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