JP2001191338A - Sheet for cleaning mold and method for manufacturing semiconductor device using the same - Google Patents
Sheet for cleaning mold and method for manufacturing semiconductor device using the sameInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造技術に
関し、特に、半導体装置用の成形金型内のクリーニング
のクリーニング効果および製造性向上に適用して有効な
技術に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing technique, and more particularly, to a technique effective when applied to a cleaning effect of a cleaning in a molding die for a semiconductor device and improvement of manufacturability.
【0002】[0002]
【従来の技術】以下に説明する技術は、本発明を研究、
完成するに際し、本発明者によって検討されたものであ
り、その概要は次のとおりである。2. Description of the Related Art The technology described below studies the present invention,
Upon completion, they were examined by the inventor, and the outline is as follows.
【0003】樹脂封止形の半導体装置の樹脂封止工程で
は、幾度も樹脂成形が繰り返されるため、封止用樹脂が
充填される成形金型の内部、つまり一対の成形金型を形
成する上金型および下金型のキャビティやランナおよび
エアーベント、カルブロック周辺などに樹脂バリ、油分
または塵埃などの汚れが蓄積する。In the resin sealing step of a resin-sealed semiconductor device, resin molding is repeated many times, so that the inside of a molding die filled with a sealing resin, that is, a pair of molding dies is formed. Dirt such as resin burrs, oil or dust accumulates around the cavities, runners, air vents and cul-blocks of the mold and lower mold.
【0004】このような汚れは、成形品質に悪影響を与
え、また、成形金型から製品を取り出す時の離型性の低
下にもなるので、一定のショット数おきに作業者が成形
金型をクリーニングする必要がある。[0004] Such dirt has an adverse effect on the molding quality and also reduces the releasability when the product is taken out of the molding die. Therefore, the operator removes the molding die every predetermined number of shots. Needs cleaning.
【0005】しかし、作業者による成形金型のクリーニ
ングは、それが手作業であるためにかなりの時間を要す
ることになるので、短時間で成形金型をクリーニングで
きる技術が要請されている。[0005] However, since cleaning of a molding die by an operator requires a considerable amount of time since it is a manual operation, a technique capable of cleaning the molding die in a short time is required.
【0006】そこで、このような要請に応えるものとし
て、半導体チップの搭載されていないリードフレーム
(以降、ダミーリードフレームと呼ぶ)を成形金型にク
ランプし、クリーニング用樹脂を成形金型内に充填して
成形金型をクリーニングする方法が行われている。In order to meet such a demand, a lead frame on which no semiconductor chip is mounted (hereinafter referred to as a dummy lead frame) is clamped on a molding die, and a cleaning resin is filled in the molding die. The method of cleaning a molding die is performed.
【0007】しかし、この技術によれば、クリーニング
用として高価なダミーリードフレームを使用することに
なるので不経済であるのみならず、成形金型にはそれに
適合した特定形状のダミーリードフレームを所定の位置
にセットしてクランプすることになるので、成形金型と
ダミーリードフレームとの位置決めのための精度が必要
となる。さらに、成形したクリーニング用樹脂において
カル部やランナ部に形成された樹脂は、リードフレーム
から外れて分離し、この分離した樹脂を成形金型から除
去するのにはかなりの時間を要するため作業性が悪い。
また、分離したカル、ランナーは、モールド装置摺動部
にはさまり、その結果、故障の原因となることもある。However, according to this technique, an expensive dummy lead frame is used for cleaning, which is not only uneconomical, but also requires a dummy lead frame of a specific shape suitable for the molding die. Therefore, precision is required for positioning the molding die and the dummy lead frame. In addition, the resin formed on the cull and runner portions of the molded cleaning resin separates from the lead frame and separates, and it takes a considerable amount of time to remove the separated resin from the molding die. Is bad.
Also, the separated culls and runners may get caught in the sliding portion of the molding apparatus, and as a result, may cause a failure.
【0008】そこで、このような問題を解決する技術と
して、以下に説明する技術が考案された。Therefore, as a technique for solving such a problem, the following technique has been devised.
【0009】まず、第1の技術として、特開平6−25
4866号公報に記載されているように、型開きした金
型間に、クリーニング用樹脂が含浸および透過可能な綿
布(不織布)からなるシート状部材をクランプし、型閉
じめした成形金型のキャビティ内に溶融状態のクリーニ
ング用樹脂を充填する工程からなるものである。First, as a first technique, Japanese Patent Laid-Open Publication No.
As described in Japanese Patent No. 4866, a sheet-shaped member made of a cotton cloth (non-woven fabric) that can be impregnated and permeable with a cleaning resin is clamped between the opened molds, and the mold cavity is closed. And a step of filling the inside with a cleaning resin in a molten state.
【0010】さらに、第2の技術として、特開平1−9
5010号公報に記載されているように、キャビティに
対応する箇所に孔が設けられた難燃性の紙不織布または
樹脂からなる基板を成形金型間に配置し、この状態で金
型内にクリーニング用樹脂を充填固化して前記基板とク
リーニング用樹脂とを離型する方法である。Further, as a second technique, Japanese Patent Application Laid-Open No.
As described in Japanese Patent No. 5010, a substrate made of flame-retardant paper nonwoven fabric or resin having a hole at a position corresponding to a cavity is arranged between molding dies, and in this state, cleaning is performed in the mold. This is a method of filling and solidifying a cleaning resin to release the substrate and the cleaning resin.
【0011】[0011]
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記第1の
技術において、クリーニング用樹脂をキャビティに充填
させる際に、シート状部材がキャビティ内で上下動(リ
フト)し、これにより、クリーニング用樹脂の流れに対
してシート状部材が抵抗となってキャビティ内の隅々ま
でクリーニング用樹脂が行き渡らないような現象が起こ
る。However, in the first technique, when the cleaning resin is filled in the cavity, the sheet-like member moves up and down (lifts) in the cavity, whereby the cleaning resin is removed. A phenomenon occurs in which the sheet-like member becomes resistant to the flow and the cleaning resin does not spread to every corner in the cavity.
【0012】その結果、キャビティの隅に汚れが残存
し、キャビティ内のクリーニングが不十分になることが
問題とされる。As a result, there is a problem that dirt remains in the corners of the cavity and cleaning inside the cavity becomes insufficient.
【0013】また、第2の技術においては、紙不織布も
しくは樹脂からなる1枚の基板が成形金型の合わせ面全
体ではなく合わせ面の一部(例えば、片側半分)を覆う
大きさであるため、エアベントやカルなどに付着した汚
れがとれにくく、かつ、1回のクリーニングショットに
対して複数の基板を使用することになり、その結果、ク
リーニング後の基板の取り出しなどの後処理に手間が掛
かる。In the second technique, a single substrate made of paper nonwoven fabric or resin covers not a whole mating surface of a molding die but a part of the mating surface (for example, half of one side). In addition, it is difficult to remove dirt attached to air vents and culls, and a plurality of substrates are used for one cleaning shot. As a result, post-processing such as removal of the substrate after cleaning is troublesome. .
【0014】これにより、クリーニング後の作業時間の
効率が悪いことが問題となる。Thus, there is a problem that the working time after cleaning is inefficient.
【0015】ここで、成形金型の合わせ面には、キャビ
ティの外周部の隅部にこれと連通するフローキャビティ
(エアーや封止用樹脂をこれに逃がして、ゲートからの
エアーの巻き込みやキャビティ内の封止用樹脂の充填バ
ランスを良くするもの)やエアベントなどの凹部が形成
されている。Here, the mating surface of the molding die has a flow cavity communicating with the corner of the outer periphery of the cavity. Recesses for improving the filling balance of the inner sealing resin) and air vents.
【0016】しかし、成形金型クリーニング用シートを
用いた成形金型のクリーニングでは、キャビティの隅部
付近にはクリーニング用樹脂が回り込み難く、その結
果、クリーニング時にフローキャビティやエアベントに
クリーニング用樹脂が入り込まずにフローキャビティや
エアベントがクリーニングされず、したがって、クリー
ニング後の製品のモールド時にキャビティへの封止用樹
脂の充填不足の問題が起こる。However, in the cleaning of the molding die using the molding die cleaning sheet, the cleaning resin does not easily flow around the corners of the cavity, and as a result, the cleaning resin enters the flow cavity and the air vent during cleaning. Therefore, the flow cavity and the air vent are not cleaned, so that there is a problem that the cavity is not sufficiently filled with the sealing resin when the cleaned product is molded.
【0017】さらに、キャビティの隅部付近に封止用樹
脂が回り込み難ければ、成形金型クリーニング用シート
のキャビティの隅部付近に対応した箇所にクリーニング
用樹脂が絡みつかないため、クリーニング終了後、成形
金型の合わせ面から成形金型クリーニング用シートごと
クリーニング用樹脂を離脱させる際にも、クリーニング
用樹脂が残留して成形金型クリーニング用シートおよび
クリーニング用樹脂の合わせ面からの除去に手間が掛か
ることが問題となる。Further, if the sealing resin does not easily flow around the corner of the cavity, the cleaning resin does not become entangled with the portion corresponding to the vicinity of the corner of the cavity of the molding die cleaning sheet. Even when the cleaning resin is removed from the mating surface of the molding die together with the cleaning resin for the molding die, the cleaning resin remains and it takes time to remove the molding die cleaning sheet and the cleaning resin from the mating surface. Is a problem.
【0018】また、細長い封止部を有するSOP(Smal
l Outline Package)やマトリクスフレームを用いたQF
N(Quad Flat Non-leaded Package) などのモールドを
行う成形金型の合わせ面において、キャビティの外側端
部と合わせ面の縁部との距離が比較的短い場合(例え
ば、10mm以下の場合)には、成形金型のクリーニン
グ時に、キャビティから漏出したクリーニング用樹脂が
成形金型クリーニング用シートからはみ出て、成形金型
の合わせ面から繋がる側面に亘って付着する。Also, an SOP (Smal) having an elongated sealing portion
l Outline Package) and QF using matrix frame
When the distance between the outside edge of the cavity and the edge of the mating surface is relatively short (for example, 10 mm or less) on the mating surface of the mold for molding such as N (Quad Flat Non-leaded Package) When the molding die is cleaned, the cleaning resin leaked from the cavity protrudes from the molding die cleaning sheet and adheres to the side surface connected from the mating surface of the molding die.
【0019】このような場合、成形金型の側面に付着し
たクリーニング用樹脂を除去するのには時間がかかり、
その結果、成形金型のクリーニング作業の効率が低下す
ることが問題となる。In such a case, it takes time to remove the cleaning resin adhering to the side surface of the molding die.
As a result, there is a problem that the efficiency of the cleaning operation of the molding die is reduced.
【0020】本発明の目的は、成形金型のクリーニング
効果の向上とクリーニング作業の時間短縮化とを図って
製造性を向上させる成形金型クリーニング用シートおよ
びそれを用いた半導体装置の製造方法を提供することに
ある。An object of the present invention is to provide a molding die cleaning sheet for improving the productivity by improving the cleaning effect of the molding die and shortening the cleaning operation time, and a method of manufacturing a semiconductor device using the same. To provide.
【0021】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.
【0022】[0022]
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。SUMMARY OF THE INVENTION Among the inventions disclosed in the present application, the outline of a representative one will be briefly described.
It is as follows.
【0023】すなわち、本発明による成形金型クリーニ
ング用シートは、一対の第1金型と第2金型とからなる
成形金型の前記第1金型と前記第2金型との間に配置し
て前記成形金型の内部をクリーニングする成形金型クリ
ーニング用シートであり、前記第1金型と前記第2金型
との間に配置された際に前記成形金型の合わせ面全体を
覆い、前記成形金型のキャビティに対応した貫通孔が形
成されているものである。That is, the sheet for cleaning a molding die according to the present invention is disposed between the first die and the second die of a pair of a first die and a second die. A molding die cleaning sheet for cleaning the inside of the molding die, and covers the entire mating surface of the molding die when disposed between the first die and the second die. And a through-hole corresponding to the cavity of the molding die.
【0024】これにより、キャビティにクリーニング用
樹脂を供給して充填させる際に、クリーニング用樹脂が
成形金型クリーニング用シートの貫通孔を抵抗なく通過
できるため、クリーニング用樹脂に含まれるフィラーや
樹脂注入圧力に係わらず、キャビティ内におけるクリー
ニング用樹脂の流れを妨げずにキャビティの隅々までク
リーニング用樹脂を行き渡らせることができる。With this, when supplying and filling the cavity with the cleaning resin, the cleaning resin can pass through the through hole of the molding die cleaning sheet without resistance, so that the filler or the resin contained in the cleaning resin is injected. Irrespective of the pressure, the cleaning resin can spread to every corner of the cavity without obstructing the flow of the cleaning resin in the cavity.
【0025】その結果、キャビティの隅々まで行き渡っ
たクリーニング用樹脂によってキャビティの隅の汚れも
除去することができる。したがって、成形金型のキャビ
ティのクリーニングを十分に行うことができ、これによ
り、クリーニング効果の向上を図ることができる。な
お、貫通孔は、特に、注入圧力の高い製品、成型パッケ
ージの小さい製品、薄形パッケージの製造に有効であ
る。As a result, dirt at the corners of the cavity can be removed by the cleaning resin that has spread to the corners of the cavity. Therefore, the cavity of the molding die can be sufficiently cleaned, whereby the cleaning effect can be improved. The through-hole is particularly effective for manufacturing a product having a high injection pressure, a product having a small molded package, and a thin package.
【0026】また、本発明の半導体装置の製造方法は、
一対の第1金型と第2金型とからなる成形金型の合わせ
面全体を覆い、前記成形金型のキャビティに対応した貫
通孔が形成された前記成形金型クリーニング用シートを
準備する工程と、前記貫通孔を前記キャビティに対応さ
せて前記成形金型クリーニング用シートを前記成形金型
の前記合わせ面全体に配置して前記成形金型クリーニン
グ用シートを前記第1金型と前記第2金型とによってク
ランプする工程と、クリーニング用樹脂を前記キャビテ
ィに供給し、前記クリーニング用樹脂を前記成形金型ク
リーニング用シートの前記貫通孔に通して前記キャビテ
ィ内に前記クリーニング用樹脂を充填させる工程と、前
記クリーニング用樹脂を固化させた後、前記クリーニン
グ用樹脂および前記成形金型クリーニング用シートを前
記成形金型から離型する工程とを有するものである。Further, a method of manufacturing a semiconductor device according to the present invention
A step of preparing the molding die cleaning sheet that covers the entire mating surface of the molding die composed of a pair of the first die and the second die and has a through-hole corresponding to the cavity of the molding die. Disposing the molding die cleaning sheet on the entire mating surface of the molding die with the through-holes corresponding to the cavities, and disposing the molding die cleaning sheet on the first die and the second die. A step of clamping with a mold and a step of supplying a cleaning resin to the cavity, and passing the cleaning resin through the through-hole of the molding die cleaning sheet to fill the cavity with the cleaning resin. After the cleaning resin is solidified, the cleaning resin and the molding die cleaning sheet are separated from the molding die. And a step of.
【0027】さらに、本発明の半導体装置の製造方法
は、一対の第1金型と第2金型とからなる成形金型の合
わせ面全体を覆い、前記成形金型のキャビティに対応し
た貫通孔と、前記キャビティに連通してこれの外周部に
設けられた凹部に対応した切り込み部とが形成された前
記成形金型クリーニング用シートを準備する工程と、前
記貫通孔を前記キャビティに対応させるとともに、前記
切り込み部を前記凹部に対応させて前記成形金型クリー
ニング用シートを前記成形金型の前記合わせ面全体に配
置して前記成形金型クリーニング用シートを前記第1金
型と前記第2金型とによってクランプする工程と、クリ
ーニング用樹脂を前記キャビティに供給し、前記クリー
ニング用樹脂を前記成形金型クリーニング用シートの前
記貫通孔および前記切り込み部に通して前記キャビティ
および前記凹部に前記クリーニング用樹脂を充填させる
工程と、前記クリーニング用樹脂を硬化させた後、前記
クリーニング用樹脂および前記成形金型クリーニング用
シートを前記成形金型から離型する工程とを有するもの
である。Further, in the method of manufacturing a semiconductor device according to the present invention, a through hole corresponding to a cavity of the molding die covers an entire mating surface of the molding die composed of a pair of first and second dies. And a step of preparing the molding die cleaning sheet in which a notch portion corresponding to a concave portion provided in an outer peripheral portion thereof is formed in communication with the cavity, and the through hole corresponds to the cavity. The molding die cleaning sheet is disposed on the entire mating surface of the molding die with the notch portions corresponding to the recesses, and the molding die cleaning sheet is placed on the first die and the second die. Clamping with a mold, supplying a cleaning resin to the cavity, and applying the cleaning resin to the through-hole of the molding die cleaning sheet and the cleaning resin. A step of filling the cavity and the concave portion with the cleaning resin through an insertion portion, and after curing the cleaning resin, the cleaning resin and the molding die cleaning sheet are removed from the molding die. And releasing the mold.
【0028】これにより、成形金型のクリーニング時
に、クリーニング用樹脂をキャビティに注入した際に、
成形金型クリーニング用シートの切り込み部にクリーニ
ング用樹脂を通過させることができる。Thus, when cleaning resin is injected into the cavity during cleaning of the molding die,
The cleaning resin can be passed through the cut portion of the molding die cleaning sheet.
【0029】したがって、フローキャビティやエアベン
トなどの凹部にクリーニング用樹脂を充填できるととも
に、切り込み部を介して成形金型クリーニング用シート
にクリーニング用樹脂を絡ませて付着させることができ
る。Therefore, the cleaning resin can be filled in the concave portion such as the flow cavity or the air vent, and the cleaning resin can be entangled and adhered to the molding die cleaning sheet through the cutout portion.
【0030】その結果、クリーニング用樹脂の硬化後、
成形金型から成形金型クリーニング用シートを剥離する
ことにより、凹部に充填されたクリーニング用樹脂が除
去されるため、凹部のクリーニング効果を向上できると
ともに、成形金型クリーニング用シートごと確実にクリ
ーニング用樹脂を除去でき、これにより、クリーニング
用樹脂の凹部からの除去を容易に行うことができる。As a result, after the cleaning resin is cured,
By peeling off the molding die cleaning sheet from the molding die, the cleaning resin filled in the concave portion is removed, so that the cleaning effect of the concave portion can be improved and the molding die cleaning sheet can be surely cleaned. The resin can be removed, whereby the cleaning resin can be easily removed from the concave portion.
【0031】また、本発明の半導体装置の製造方法は、
一対の第1金型と第2金型とからなる成形金型の合わせ
面全体を覆うとともに前記成形金型のキャビティに対応
した貫通孔が形成された前記成形金型クリーニング用シ
ートと、前記成形金型の前記合わせ面の複数の前記キャ
ビティの外側に前記合わせ面の周縁部に沿って配置可能
な補強シートとを準備する工程と、前記成形金型クリー
ニング用シートの前記貫通孔を前記キャビティに対応さ
せて前記合わせ面全体に前記成形金型クリーニング用シ
ートを配置するとともに、前記補強シートを複数の前記
キャビティの外側に前記合わせ面の周縁部に沿って前記
合わせ面に配置して前記成形金型クリーニング用シート
および前記補強シートを前記第1金型と前記第2金型と
によってクランプする工程と、クリーニング用樹脂を前
記キャビティに供給し、前記クリーニング用樹脂を前記
成形金型クリーニング用シートの前記貫通孔に通して前
記キャビティに前記クリーニング用樹脂を充填させる工
程と、前記クリーニング用樹脂を硬化させた後、前記ク
リーニング用樹脂および前記成形金型クリーニング用シ
ートを前記成形金型から離型する工程とを有するもので
ある。Further, a method of manufacturing a semiconductor device according to the present invention
The molding die cleaning sheet, which covers the entire mating surface of the molding die composed of a pair of first and second dies and has a through-hole corresponding to the cavity of the molding die; A step of preparing a reinforcing sheet that can be arranged along the periphery of the mating surface outside the plurality of cavities of the mating surface of the mold; and forming the through-hole of the molding die cleaning sheet in the cavity. Correspondingly, the molding die cleaning sheet is arranged on the entire mating surface, and the reinforcing sheet is arranged on the mating surface outside the plurality of cavities along the peripheral edge of the mating surface. Clamping the mold cleaning sheet and the reinforcing sheet by the first mold and the second mold; and supplying a cleaning resin to the cavity. A step of passing the cleaning resin through the through-hole of the molding die cleaning sheet to fill the cavity with the cleaning resin; and after curing the cleaning resin, the cleaning resin and the Releasing the molding die cleaning sheet from the molding die.
【0032】これにより、成形金型のクランプ力を向上
でき、その結果、クリーニング時のクリーニング用樹脂
の成形金型の合わせ面からの漏出を防止できる。したが
って、成形金型の側面にクリーニング用樹脂が付着する
ことを防げるため、これを除去する手間がなくなり、そ
の結果、成形金型のクリーニング作業の効率を向上でき
る。Thus, the clamping force of the molding die can be improved, and as a result, leakage of the cleaning resin from the mating surface of the molding die during cleaning can be prevented. Therefore, it is possible to prevent the cleaning resin from adhering to the side surface of the molding die, so that there is no need to remove the cleaning resin. As a result, the efficiency of the cleaning operation of the molding die can be improved.
【0033】[0033]
【発明の実施の形態】以下の実施の形態では特に必要な
とき以外は同一または同様な部分の説明を原則として繰
り返さない。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In the following embodiments, the description of the same or similar parts will not be repeated in principle unless particularly necessary.
【0034】さらに、以下の実施の形態では便宜上その
必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態
に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それ
らはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部
または全部の変形例、詳細、補足説明などの関係にあ
る。Further, in the following embodiments, when necessary for the sake of convenience, the description will be made by dividing into a plurality of sections or embodiments, but they are not unrelated to each other unless otherwise specified. One has a relationship of some or all of the other, such as modified examples, details, and supplementary explanations.
【0035】また、以下の実施の形態において、要素の
数など(個数、数値、量、範囲などを含む)に言及する
場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の
数に限定される場合などを除き、その特定の数に限定さ
れるものではなく、特定の数以上でも以下でも良いもの
とする。In the following embodiments, when referring to the number of elements and the like (including the number, numerical value, amount, range, etc.), the number is particularly limited to a specific number and clearly limited to a specific number in principle. Except for cases, the number is not limited to the specific number, and may be greater than or less than the specific number.
【0036】以下、本発明の実施の形態を図面に基づい
て詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための
全図において、同一の機能を有する部材には同一の符号
を付し、その繰り返しの説明は省略する。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In all the drawings for describing the embodiments, members having the same functions are denoted by the same reference numerals, and the repeated description thereof will be omitted.
【0037】(実施の形態1)図1は本発明の実施の形
態1の成形金型クリーニング用シートを用いてモールド
を行うトランスファーモールド装置の構造の一例を示す
斜視図、図2は図1に示すトランスファーモールド装置
における樹脂成形部の構造を示す部分断面図、図3は本
発明の実施の形態1の成形金型クリーニング用シートの
構造の一例を示す図であり、(a)は平面図、(b)は
(a)のA−A線に沿う断面図、図4は図2に示す樹脂
成形部に設けられた成形金型の第2金型の合わせ面に成
形金型クリーニング用シートを配置した状態の一例を示
す平面図、図5は図3に示す成形金型クリーニング用シ
ートを用いた成形金型内のクリーニング時の状態の一例
を示す部分断面図、図6は本発明の半導体装置の製造方
法によって製造された半導体装置の構造の一例を一部断
面にして示す斜視図である。(Embodiment 1) FIG. 1 is a perspective view showing an example of the structure of a transfer molding apparatus for performing molding using a molding die cleaning sheet according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing a structure of a resin molding unit in the transfer mold apparatus shown in FIG. 3; FIG. 3 is a view showing an example of a structure of a molding die cleaning sheet according to Embodiment 1 of the present invention; 4B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 4A. FIG. 4 shows a cleaning sheet for a molding die on a mating surface of a second die of a molding die provided in the resin molding section shown in FIG. FIG. 5 is a plan view showing an example of an arrangement state, FIG. 5 is a partial cross-sectional view showing an example of a state at the time of cleaning in a molding die using the molding die cleaning sheet shown in FIG. 3, and FIG. 6 is a semiconductor of the present invention. Manufactured by the manufacturing method of the device And is a perspective view showing the one example in partial cross section of a structure of a semiconductor device.
【0038】図1に示すトランスファーモールド装置は
マルチポット型のものであり、例えば、図6に示す半導
体チップ24およびこの半導体チップ24と電気的に接
続されたインナリード20などを樹脂によって封止する
ために使用されるものである。The transfer molding apparatus shown in FIG. 1 is of a multi-pot type. For example, the semiconductor chip 24 shown in FIG. 6 and the inner leads 20 electrically connected to the semiconductor chip 24 are sealed with resin. Is what is used for
【0039】このトランスファーモールド装置は、上金
型である第1金型3と、これと一対を成す下金型である
第2金型4と、第1金型3および第2金型4を備えた樹
脂成形部5と、ワーク(ここでは、例えば、ダイボンデ
ィングとワイヤボンディングとを終えたリードフレー
ム)を樹脂成形部5に搬入するローダ1と、前記ワーク
を樹脂成形部5から取り出すアンローダ2とを有してお
り、前記トランスファーモールド装置において、半導体
チップ24(図6参照)がボンディングされたリードフ
レームは、図1に示すローダ1から樹脂成形部5に搬入
され、この樹脂成形部5で半導体チップ24などが樹脂
封止される。なお、樹脂成形を終了した樹脂封止形の半
導体装置であるQFP(Quad Flat Package)19は、ア
ンローダ2に搬出されてここに収容される。This transfer molding apparatus includes a first mold 3 as an upper mold, a second mold 4 as a pair of a lower mold, a first mold 3 and a second mold 4. A loader 1 for carrying a resin molding unit 5 provided, a work (here, for example, a lead frame that has been subjected to die bonding and wire bonding) into the resin molding unit 5, and an unloader 2 for removing the work from the resin molding unit 5 In the transfer molding apparatus, the lead frame to which the semiconductor chip 24 (see FIG. 6) is bonded is carried into the resin molding section 5 from the loader 1 shown in FIG. The semiconductor chip 24 and the like are sealed with resin. Note that a QFP (Quad Flat Package) 19, which is a resin-encapsulated semiconductor device whose resin molding has been completed, is carried out to the unloader 2 and housed therein.
【0040】さらに、図2に示す樹脂成形部5には、図
6に示すQFP19の封止部22に対応した形状のキャ
ビティ6と、カル7と、ランナ8と、ポット9と、プラ
ンジャ10と、エジェクタプレート11,15と、エジ
ェクタピン12,16と、ゲート13と、エアベント1
4とが設けられている。Further, the resin molded portion 5 shown in FIG. 2 includes a cavity 6, a cull 7, a runner 8, a pot 9, a plunger 10 and a cavity 6 having a shape corresponding to the sealing portion 22 of the QFP 19 shown in FIG. , Ejector plates 11, 15, ejector pins 12, 16, gate 13, air vent 1
4 are provided.
【0041】また、図4に示すように、成形金型28
(図2参照)の第2金型4の合わせ面26には、半導体
チップ24が配置される所定形状のキャビティ6が複数
箇所に形成されている(なお、キャビティ6は第1金型
3の合わせ面26にも第2金型4と同様に形成されてい
る)。Further, as shown in FIG.
In the mating surface 26 of the second mold 4 (see FIG. 2), cavities 6 of a predetermined shape in which the semiconductor chips 24 are arranged are formed at a plurality of locations (the cavities 6 are formed of the first mold 3). The mating surface 26 is also formed in the same manner as the second mold 4).
【0042】また、第2金型4の所定の位置には、タブ
レットなどの封止用樹脂がセットされるシリンダ状のポ
ット9が複数貫通して形成され、ポット9に対応する第
1金型3のそれぞれの部分には、図2に示すようにカル
7が設けられている。At a predetermined position of the second mold 4, a plurality of cylindrical pots 9 for setting a sealing resin such as a tablet are formed so as to penetrate therethrough, and the first mold corresponding to the pot 9 is formed. A cull 7 is provided in each of the portions 3 as shown in FIG.
【0043】さらに、このカル7からは、前記した複数
のキャビティ6が連通された複数のランナ8が分岐して
形成されており、第1金型3と第2金型4とが密着され
た状態において、ポット9の上辺がカル7によって閉止
されるとともに、カル7およびランナ8を介してポット
9が複数のキャビティ6に連通されるようになってい
る。なお、キャビティ6の外側には、キャビティ6のエ
アーを外部に逃がして樹脂の充填を完全にするためのエ
アベント14が形成されている。Further, a plurality of runners 8 communicating with the plurality of cavities 6 are formed to branch from the cull 7 so that the first mold 3 and the second mold 4 are in close contact with each other. In this state, the upper side of the pot 9 is closed by the cull 7, and the pot 9 is connected to the plurality of cavities 6 via the cull 7 and the runner 8. An air vent 14 is formed outside the cavity 6 to allow the air in the cavity 6 to escape to the outside to completely fill the resin.
【0044】次に、図3に示す本実施の形態1の成形金
型クリーニング用シート(以降、単にクリーニング用シ
ートと呼ぶ)17について説明する。Next, the molding die cleaning sheet (hereinafter simply referred to as cleaning sheet) 17 of the first embodiment shown in FIG. 3 will be described.
【0045】クリーニング用シート17は、半導体チッ
プ24のモールドを行っていない時に、成形金型28の
第1金型3と第2金型4との間に配置して成形金型28
の内部をクリーニングするものであり、第1金型3と第
2金型4との間に配置された際に成形金型28の合わせ
面(キャビティ以外のパーティング面)26全体を覆う
とともに、成形金型28のキャビティ6に対応した貫通
孔17aが形成されているものである。The cleaning sheet 17 is disposed between the first die 3 and the second die 4 of the molding die 28 when the semiconductor chip 24 is not molded.
And cleans the entire mating surface (parting surface other than the cavity) 26 of the molding die 28 when disposed between the first die 3 and the second die 4. A through hole 17a corresponding to the cavity 6 of the molding die 28 is formed.
【0046】なお、本実施の形態1のクリーニング用シ
ート17に形成された貫通孔17aは、キャビティ6の
開口部6a(図2参照)とほぼ同形状に形成されてい
る。The through hole 17a formed in the cleaning sheet 17 according to the first embodiment has substantially the same shape as the opening 6a of the cavity 6 (see FIG. 2).
【0047】すなわち、貫通孔17aは、第1金型3お
よび第2金型4のキャビティ6の開口部6aの形状・大
きさとほぼ同じか、それより僅かに小さい程度の四角形
に形成されている。That is, the through-hole 17a is formed in a quadrangular shape that is substantially the same as or slightly smaller than the shape and size of the opening 6a of the cavity 6 of the first mold 3 and the second mold 4. .
【0048】これにより、クリーニング時には、第1金
型3と第2金型4とによってこのクリーニング用シート
17のみをクランプし、この状態で図5に示すクリーニ
ング用樹脂25をキャビティ6に供給することにより、
キャビティ6内でクリーニング用樹脂25がクリーニン
グ用シート17の貫通孔17aを通り抜け、その結果、
キャビティ6内でクリーニング用樹脂25が抵抗となっ
てクリーニング用シート17はリフトすることなくキャ
ビティ6内の隅々に充填される。Thus, at the time of cleaning, only the cleaning sheet 17 is clamped by the first mold 3 and the second mold 4 and the cleaning resin 25 shown in FIG. By
In the cavity 6, the cleaning resin 25 passes through the through hole 17a of the cleaning sheet 17, and as a result,
The cleaning resin 25 becomes a resistance in the cavity 6 and the cleaning sheet 17 is filled in every corner of the cavity 6 without lifting.
【0049】したがって、キャビティ6内を十分にクリ
ーニングできる。Therefore, the inside of the cavity 6 can be sufficiently cleaned.
【0050】また、本実施の形態1のクリーニング用シ
ート17は、図4に示すように、第2金型4(第1金型
3についても同様)の合わせ面26全体を覆う大きさ・
形状のものである。As shown in FIG. 4, the cleaning sheet 17 of the first embodiment has a size that covers the entire mating surface 26 of the second mold 4 (the same applies to the first mold 3).
Of shape.
【0051】すなわち、第2金型4の合わせ面26の外
周各辺に設けられた上下金型の位置決め用の位置決めウ
ェッチ18に案内される程度の大きさに形成されてお
り、これにより、第2金型4の合わせ面26上にクリー
ニング用シート17を載置する際には、各辺の位置決め
ウェッチ18に合わせてクリーニング用シート17を載
置すればよく、成形金型28との間で高精度な位置決め
を行わなくて済む。That is, it is formed in such a size that it can be guided by the positioning wefts 18 for positioning the upper and lower dies provided on each side of the outer periphery of the mating surface 26 of the second die 4. When the cleaning sheet 17 is placed on the mating surface 26 of the second mold 4, the cleaning sheet 17 may be placed in accordance with the positioning wedges 18 on each side. There is no need to perform high-precision positioning.
【0052】また、本実施の形態1のクリーニング用シ
ート17は、耐熱性および柔軟性を有する例えば100
%の紙、布または不織布などによって形成されている
が、そのうち不織布によって形成されていることが好ま
しい。The cleaning sheet 17 according to the first embodiment has a heat resistance and flexibility of, for example, 100%.
% Of paper, cloth or non-woven fabric, and among them, it is preferable to be formed of non-woven fabric.
【0053】さらに、クリーニング用シート17の厚さ
は、例えば、第1金型3と第2金型4とをクランプした
際に、例えば、約0.6mm程度になるものである。Further, the thickness of the cleaning sheet 17 is, for example, about 0.6 mm when the first mold 3 and the second mold 4 are clamped.
【0054】また、図6に示すQFP19は、図1に示
すトランスファーモールド装置によってモールドが行わ
れて組み立てられた半導体装置の一例であり、半導体チ
ップ24の電極とこれに対応するインナリード20とを
電気的に接続するボンディングワイヤ21と、半導体チ
ップ24、インナリード20およびボンディングワイヤ
21を樹脂封止して形成された封止部22と、インナリ
ード20と繋がり、かつこの封止部22から外部に突出
する外部端子である複数のアウタリード23とによって
構成され、それぞれのアウタリード23がガルウィング
状に形成されているものである。The QFP 19 shown in FIG. 6 is an example of a semiconductor device assembled by performing molding by the transfer molding device shown in FIG. 1. The QFP 19 includes electrodes of the semiconductor chip 24 and inner leads 20 corresponding to the electrodes. A bonding wire 21 to be electrically connected, a sealing portion 22 formed by resin-sealing the semiconductor chip 24, the inner lead 20 and the bonding wire 21, and a connection to the inner lead 20, and an external connection from the sealing portion 22. And a plurality of outer leads 23 which are external terminals protruding from each other, and each outer lead 23 is formed in a gull wing shape.
【0055】次に、本実施の形態1の半導体装置の製造
方法について説明する。Next, a method of manufacturing the semiconductor device of the first embodiment will be described.
【0056】なお、前記半導体装置の製造方法は、図1
に示すトランスファーモールド装置を用いた半導体チッ
プ24のモールド(樹脂封止)工程と、図3に示すクリ
ーニング用シート17を用いた前記トランスファーモー
ルド装置の成形金型28の内部のクリーニング工程とを
有するものである。The method for manufacturing the semiconductor device is described in FIG.
And a step of cleaning the inside of a molding die 28 of the transfer molding apparatus using the cleaning sheet 17 shown in FIG. 3 and a step of molding (resin sealing) the semiconductor chip 24 using the transfer molding apparatus shown in FIG. It is.
【0057】まず、ワイヤボンディング工程において、
半導体チップ24とワークであるリードフレームのイン
ナリード20とをボンディングワイヤ21によって電気
的に接続する。First, in the wire bonding step,
The semiconductor chip 24 and the inner lead 20 of the lead frame, which is a work, are electrically connected by a bonding wire 21.
【0058】その後、モールド工程において、図1に示
すトランスファーモールド装置を用いて半導体チップ2
4およびこの半導体チップ24と電気的に接続されたイ
ンナリード20、さらにボンディングワイヤ21を封止
用樹脂によって樹脂封止する。Thereafter, in a molding step, the semiconductor chip 2 is transferred using the transfer molding apparatus shown in FIG.
4 and the inner leads 20 electrically connected to the semiconductor chip 24 and the bonding wires 21 are resin-sealed with a sealing resin.
【0059】ここで、本実施の形態1のモールド工程に
おける前記樹脂封止(モールド)工程について説明す
る。Here, the resin sealing (molding) step in the molding step of the first embodiment will be described.
【0060】まず、図2に示すプランジャ10の上に、
プレヒータによって加熱された固体状の封止用樹脂(タ
ブレット)をセットし、その後、半導体チップ24とイ
ンナリード20とがワイヤボンディングされたリードフ
レームを、図1に示すローダ1から樹脂成形部5に搬送
する。First, on the plunger 10 shown in FIG.
A solid sealing resin (tablet) heated by a preheater is set, and then the lead frame in which the semiconductor chip 24 and the inner lead 20 are wire-bonded is transferred from the loader 1 shown in FIG. Transport.
【0061】この状態で、第2金型4を第1金型3に向
けて接近移動させることにより、成形金型28を形成す
る第1金型3と第2金型4との間にキャビティ6を含め
た空間を形成する。その後、溶融状態となった前記封止
用樹脂をプランジャ10によってカル7へ押し出すと、
前記封止用樹脂はランナ8およびゲート13を通ってキ
ャビティ6内に流入する。In this state, the second mold 4 is moved toward the first mold 3 to move the cavity between the first mold 3 and the second mold 4 forming the molding mold 28. 6 is formed. Then, when the sealing resin in a molten state is pushed out to the cull 7 by the plunger 10,
The sealing resin flows into the cavity 6 through the runner 8 and the gate 13.
【0062】さらに、キャビティ6に充填された前記封
止用樹脂が、熱とキュアとにより熱硬化し、その後、第
2金型4を下降移動すると型開きが行われる。Further, the sealing resin filled in the cavity 6 is thermoset by heat and cure, and thereafter, when the second mold 4 is moved downward, the mold is opened.
【0063】続いて、エジェクタプレート15を下降移
動させるとともに、エジェクタプレート11を上昇移動
させる。これにより、エジェクタピン12,16が突出
して型開きを完了し、樹脂封止された樹脂封止形のQF
P(半導体装置)19の取り出しを行う。この樹脂封止
では、一日に何百ショットと繰り返すため、前記封止用
樹脂を充填する成形金型28の内部、つまり成形金型2
8の第1金型3と第2金型4との合わせ面(エアベント
14やキャビティ6さらにランナ8やカル7周辺を含
む)26に樹脂バリおよび油分や塵埃などの汚れ(付着
物)が蓄積することになる。Subsequently, the ejector plate 15 is moved down while the ejector plate 11 is moved up. As a result, the ejector pins 12 and 16 project to complete the mold opening, and the resin-sealed QF of the resin-sealed type is completed.
P (semiconductor device) 19 is taken out. In this resin sealing, since hundreds of shots are repeated a day, the inside of the molding die 28 filled with the sealing resin, that is, the molding die 2
Resin burrs and dirt (adhesion) such as oil and dust accumulate on the mating surface 26 (including the air vent 14 and the cavity 6 and the vicinity of the runner 8 and the cull 7) 26 of the first mold 3 and the second mold 4 of FIG. Will do.
【0064】したがって、前記汚れを除去するために前
記モールド工程における成形金型28のクリーニング工
程を施す必要がある。Therefore, it is necessary to perform a cleaning step of the molding die 28 in the molding step in order to remove the dirt.
【0065】なお、QFP19に対しては、その後、切
断工程においてリードフレームの切断を行い、これによ
り、図6に示すようなQFP19の組み立てを終了す
る。The lead frame is then cut in the cutting step for the QFP 19, thereby completing the assembly of the QFP 19 as shown in FIG.
【0066】続いて、本実施の形態1の前記クリーニン
グ工程(成形金型のクリーニング方法)について説明す
る。Next, the cleaning step (a method of cleaning a molding die) of the first embodiment will be described.
【0067】まず、不織布によって形成され、かつ成形
金型28の合わせ面26全体を覆うとともに、成形金型
28のキャビティ6に対応した貫通孔17aが形成され
た図3に示すクリーニング用シート17を準備する。First, the cleaning sheet 17 shown in FIG. 3 formed of a nonwoven fabric and covering the entire mating surface 26 of the molding die 28 and having the through holes 17a corresponding to the cavities 6 of the molding die 28 is prepared. prepare.
【0068】続いて、成形金型28の金型温度を、例え
ば、170℃〜180℃に設定する。Subsequently, the mold temperature of the molding mold 28 is set to, for example, 170 ° C. to 180 ° C.
【0069】その後、図4に示すように、貫通孔17a
をキャビティ6に対応させてクリーニング用シート17
を合わせ面26全体に配置し、この状態で、第2金型4
を第1金型3に向けて接近移動させる。Thereafter, as shown in FIG.
Cleaning sheet 17 corresponding to cavity 6
Are arranged on the entire mating surface 26, and in this state, the second mold 4
Is moved toward the first mold 3.
【0070】この接近移動により、クリーニング用シー
ト17を第1金型3と第2金型4とによって挟んでクラ
ンプし、その後、クリーニング用樹脂25をキャビティ
6に供給する。By this approaching movement, the cleaning sheet 17 is clamped between the first mold 3 and the second mold 4, and then the cleaning resin 25 is supplied to the cavity 6.
【0071】その際、図5に示すように、キャビティ6
内においてクリーニング用樹脂25をクリーニング用シ
ート17の貫通孔17aに通してキャビティ6内の隅々
にクリーニング用樹脂25を充填させる。At this time, as shown in FIG.
The cleaning resin 25 is passed through the through-holes 17a of the cleaning sheet 17 to fill the inside of the cavity 6 with the cleaning resin 25.
【0072】続いて、クリーニング用樹脂25を硬化さ
せ、その後、第2金型4を下降移動させることにより、
第1金型3と第2金型4とを離反させて型開きを行う。Subsequently, the cleaning resin 25 is cured, and then the second mold 4 is moved downward, whereby
The mold is opened by separating the first mold 3 and the second mold 4 from each other.
【0073】さらに、エジェクタプレート15を下降移
動させるとともに、エジェクタプレート11を上昇移動
させる。これにより、エジェクタピン12,16が突出
して型開きを完了する。Further, the ejector plate 15 is moved downward while the ejector plate 11 is moved upward. As a result, the ejector pins 12, 16 project to complete the mold opening.
【0074】その後、クリーニング用樹脂25およびク
リーニング用シート17を成形金型28から離型する。Thereafter, the cleaning resin 25 and the cleaning sheet 17 are released from the molding die 28.
【0075】すなわち、クリーニング用シート17とこ
のシート上に樹脂成形されたクリーニング用樹脂25の
取り出しを行う。That is, the cleaning sheet 17 and the cleaning resin 25 molded on the sheet are taken out.
【0076】これにより、成形金型28内のクリーニン
グが行われる。Thus, the inside of the molding die 28 is cleaned.
【0077】なお、図3に示すクリーニング用シート1
7を用いて成形金型28内をクリーニングした後、再
び、着工(モールド)する際には、成形金型28のキャ
ビティ6に半導体チップ24を配置し、その後、前記モ
ールド方法と同様の方法により、キャビティ6に封止用
樹脂を供給して半導体チップ24を樹脂封止する。The cleaning sheet 1 shown in FIG.
After the inside of the molding die 28 is cleaned using the mold 7, when starting (molding) again, the semiconductor chip 24 is arranged in the cavity 6 of the molding die 28, and thereafter, by the same method as the above-described molding method. Then, a sealing resin is supplied to the cavity 6 to seal the semiconductor chip 24 with the resin.
【0078】本実施の形態1の成形金型クリーニング用
シートおよびそれを用いた半導体装置の製造方法によれ
ば、以下のような作用効果が得られる。According to the molding die cleaning sheet and the method of manufacturing a semiconductor device using the same according to the first embodiment, the following operational effects can be obtained.
【0079】すなわち、クリーニング用シート17に、
キャビティ6に対応した貫通孔17aが形成されている
ことにより、キャビティ6にクリーニング用樹脂25を
供給して充填させる際に、クリーニング用樹脂25がク
リーニング用シート17の貫通孔17aを通過できるた
め、クリーニング用樹脂25に含まれるフィラーや樹脂
注入圧力に係わらず、キャビティ6内におけるクリーニ
ング用樹脂25の流れを妨げずにキャビティ6の隅々ま
でクリーニング用樹脂25を行き渡らせることができ
る。That is, the cleaning sheet 17
Since the through-holes 17a corresponding to the cavities 6 are formed, the cleaning resin 25 can pass through the through-holes 17a of the cleaning sheet 17 when the cavity 6 is supplied with and filled with the cleaning resin 25. Irrespective of the filler or resin injection pressure contained in the cleaning resin 25, the cleaning resin 25 can be spread to every corner of the cavity 6 without obstructing the flow of the cleaning resin 25 in the cavity 6.
【0080】その結果、キャビティ6の隅々まで行き渡
ったクリーニング用樹脂25によってキャビティ6の隅
の汚れも除去することができる。As a result, dirt at the corners of the cavity 6 can be removed by the cleaning resin 25 that has spread to all corners of the cavity 6.
【0081】これにより、成形金型28のキャビティ6
のクリーニングを十分に行うことができ、したがって、
クリーニング効果の向上を図ることができる。Thus, the cavity 6 of the molding die 28
Cleaning can be performed satisfactorily,
The cleaning effect can be improved.
【0082】また、クリーニング用シート17が、クリ
ーニング時に成形金型28の合わせ面26全体を覆うこ
とにより、キャビティ6、合わせ面26(パーティング
面)、カル7およびゲート13によって形成されるクリ
ーニング用樹脂25がクリーニング用シート17によっ
て繋がった状態となるため、クリーニング用樹脂25の
硬化後、クリーニング用シート17を取り出す際に、ク
リーニング用シート17上でばらばらにならず一体とな
った状態で取り出すことができる。The cleaning sheet 17 covers the entire mating surface 26 of the molding die 28 during cleaning, so that the cleaning sheet 17 formed by the cavity 6, the mating surface 26 (parting surface), the cull 7 and the gate 13 is formed. Since the resin 25 is connected by the cleaning sheet 17, when the cleaning sheet 17 is taken out after the cleaning resin 25 is hardened, the resin 25 is taken out in an integrated state without being separated on the cleaning sheet 17. Can be.
【0083】したがって、成形金型28へのクリーニン
グ用シート17の着脱を容易に行うことができ、これに
より、クリーニング後のクリーニング用シート17の処
理も容易に行うことができる。Therefore, the cleaning sheet 17 can be easily attached to and detached from the molding die 28, whereby the cleaning sheet 17 after the cleaning can be easily processed.
【0084】その結果、クリーニング用シート17を用
いたクリーニング作業の時間短縮化を図ることができ
る。As a result, the time for the cleaning operation using the cleaning sheet 17 can be reduced.
【0085】また、クリーニング用シート17が成形金
型28の合わせ面26全体を覆うことにより、成形金型
28のポット9入り口やカル7周辺、さらにはエアベン
ト14などでもクリーニング用樹脂25をクリーニング
用シート17に絡ませて汚れを除去でき、その結果、レ
ジンバリを除去でき、また、大幅な作業時間の低減を図
れる。Further, since the cleaning sheet 17 covers the entire mating surface 26 of the molding die 28, the cleaning resin 25 is also cleaned at the inlet 9 of the molding die 28, around the cull 7, and also at the air vent 14. The dirt can be removed by entanglement with the sheet 17, and as a result, resin burrs can be removed, and the working time can be greatly reduced.
【0086】さらに、クリーニング用シート17が成形
金型28の合わせ面26全体を覆うことにより、成形金
型28においてクリーニング用樹脂25が接触しない箇
所をクリーニングすることも可能である。Further, since the cleaning sheet 17 covers the entire mating surface 26 of the molding die 28, it is possible to clean a portion of the molding die 28 where the cleaning resin 25 does not contact.
【0087】また、成形金型28内にセットするリード
フレームなどの枚数に限らず、クリーニング用シート1
枚によって成形金型28の合わせ面26全体を覆うた
め、クリーニング用シート17の成形金型28に対して
の高精度な位置決めが不要となる。The cleaning sheet 1 is not limited to the number of lead frames and the like set in the molding die 28.
Since the whole of the mating surface 26 of the molding die 28 is covered by the sheet, it is not necessary to position the cleaning sheet 17 with respect to the molding die 28 with high accuracy.
【0088】その際、本実施の形態1のように、不織布
によって形成されたクリーニング用シート17を用いる
ことにより、従来のようなダミーリードフレームを用い
る場合のような、成形金型28に対しての位置決め用ピ
ンの加工や、位置決めピン孔の加工が不要になる。At this time, by using the cleaning sheet 17 made of a non-woven fabric as in the first embodiment, the molding die 28 as in the case of using a conventional dummy lead frame is used. The processing of the positioning pin and the processing of the positioning pin hole are not required.
【0089】したがって、成形金型28のコストを低減
できる。Therefore, the cost of the molding die 28 can be reduced.
【0090】また、ダミーリードフレームを用いないた
め、ダミーリードフレームのずれに起因するずれ成形が
発生しない。Further, since the dummy lead frame is not used, no misalignment due to the misalignment of the dummy lead frame occurs.
【0091】また、クリーニング用シート1枚によって
成形金型28の合わせ面26全体を覆うため、モールド
時に成形金型28内にセットする前記リードフレームの
枚数に限らず、クリーニング用シート17を1枚セット
すればよく、その結果、クリーニング作業の低コスト化
を図ることができる。Further, since the entire mating surface 26 of the molding die 28 is covered by one cleaning sheet, the cleaning sheet 17 is not limited to the number of lead frames set in the molding die 28 at the time of molding. What is necessary is just to set, and as a result, cost reduction of a cleaning operation can be achieved.
【0092】なお、本実施の形態1のクリーニング用シ
ート17を用いることにより、クリーニング用の高価な
ダミーリードフレームを使用せずに済むため、成形金型
28のクリーニング作業の低コスト化を図ることができ
る。By using the cleaning sheet 17 of the first embodiment, it is not necessary to use an expensive dummy lead frame for cleaning, so that the cost of the cleaning operation of the molding die 28 can be reduced. Can be.
【0093】また、クリーニング用シート17が、キャ
ビティ6の開口部6aに対応した貫通孔17aを有し、
かつクリーニング時に成形金型28の合わせ面26全体
を覆うことにより、クリーニングの作業性を低下させる
ことなく、クリーニング効果を向上できる。The cleaning sheet 17 has a through hole 17a corresponding to the opening 6a of the cavity 6,
In addition, by covering the entire mating surface 26 of the molding die 28 during cleaning, the cleaning effect can be improved without lowering the cleaning workability.
【0094】なお、本実施の形態1のQFP19などの
半導体装置の製造工程においては、成形金型28のクリ
ーニング作業の大幅な時間短縮を図ることができること
と、成形金型28のクリーニング効果を向上できること
とにより、前記半導体装置の製造性を向上できる。In the process of manufacturing the semiconductor device such as the QFP 19 of the first embodiment, the time required for the cleaning operation of the molding die 28 can be greatly reduced, and the effect of cleaning the molding die 28 can be improved. With this, the manufacturability of the semiconductor device can be improved.
【0095】(実施の形態2)図7は本発明の実施の形
態2の成形金型クリーニング用シートの構造の一例を示
す平面図、図8は図7に示す成形金型クリーニング用シ
ートを成形金型の合わせ面に配置した状態の一例を示す
拡大部分平面図、図9は図7に示す成形金型クリーニン
グ用シートに対する変形例の成形金型クリーニング用シ
ートの構造を示す平面図である。(Embodiment 2) FIG. 7 is a plan view showing an example of the structure of a molding die cleaning sheet according to Embodiment 2 of the present invention, and FIG. 8 is a plan view of the molding die cleaning sheet shown in FIG. FIG. 9 is an enlarged partial plan view showing an example of a state of being disposed on a mating surface of a mold, and FIG. 9 is a plan view showing a structure of a molding die cleaning sheet of a modified example of the molding die cleaning sheet shown in FIG.
【0096】本実施の形態2では、実施の形態1で説明
した半導体装置の製造工程における図2に示す成形金型
28のクリーニング工程で用いられる成形金型クリーニ
ング用シートの変形例について説明する。In the second embodiment, a modified example of the molding die cleaning sheet used in the cleaning step of the molding die 28 shown in FIG. 2 in the semiconductor device manufacturing process described in the first embodiment will be described.
【0097】すなわち、図7に示すクリーニング用シー
ト(成形金型クリーニング用シート)29は、前記実施
の形態1で説明したクリーニング用シート17と同様に
成形金型28のキャビティ6に対応した箇所に貫通孔2
9aが形成されているとともに、これに加えて貫通孔2
9aの外周部の隅部にスリット29bやフローキャビ用
切り込み部29cなどの切り込み部が形成されているも
のである。That is, the cleaning sheet (molding sheet cleaning sheet) 29 shown in FIG. 7 is located at a position corresponding to the cavity 6 of the molding die 28 similarly to the cleaning sheet 17 described in the first embodiment. Through hole 2
9a is formed, and in addition to this,
A cut portion such as a slit 29b and a cut portion 29c for a flow cabinet is formed at a corner of the outer peripheral portion of 9a.
【0098】なお、貫通孔29aは、成形金型28のキ
ャビティ6とほぼ同じ大きさか、もしくはそれより僅か
に小さい程度の大きさである。The through-hole 29a is substantially the same size as the cavity 6 of the molding die 28, or slightly smaller than that.
【0099】また、スリット29bおよびフローキャビ
用切り込み部29cは、図8に示すように、第2金型4
のキャビティ6に連通するフローキャビティ27(凹
部)に対応した箇所に形成されたものであり、そのう
ち、フローキャビ用切り込み部29cは、フローキャビ
ティ27の形状とほぼ同じ形状に形成された切り込み部
である。Further, as shown in FIG. 8, the slit 29b and the cut portion 29c for the flow cabinet
Are formed at locations corresponding to the flow cavities 27 (concave portions) communicating with the cavities 6. Of these, the cut portions 29 c for the flow cavities are cut portions formed to have substantially the same shape as the flow cavity 27. is there.
【0100】ここで、フローキャビティ27は、樹脂注
入時のキャビティ6内のエアーや封止用樹脂をこれに逃
がして、ゲート13からのエアーの巻き込みやキャビテ
ィ6内の封止用樹脂の充填バランスを良くするものであ
る。Here, the flow cavity 27 allows the air and the sealing resin in the cavity 6 at the time of the injection of the resin to escape therethrough, thereby taking in air from the gate 13 and filling the sealing resin in the cavity 6. Is to improve.
【0101】したがって、スリット29bおよびフロー
キャビ用切り込み部29cは、成形金型28のクリーニ
ング時に、キャビティ6に連通する凹部であるフローキ
ャビティ27やエアベント14に対して、図5に示すク
リーニング用樹脂25を十分に充填させるためのもので
ある。Therefore, the slit 29b and the cutout portion 29c for the flow cabinet are used to clean the molding resin 28 with respect to the flow cavity 27 and the air vent 14 which are concave portions communicating with the cavity 6, and the cleaning resin 25 shown in FIG. For sufficient filling.
【0102】すなわち、キャビティ6にクリーニング用
樹脂25を注入すると、クリーニング用樹脂25がクリ
ーニング用シート29の貫通孔29aを通ってキャビテ
ィ6に充填され、さらに、キャビティ6の隅部におい
て、クリーニング用樹脂25がクリーニング用シート2
9のフローキャビ用切り込み部29cやスリット29b
を通り抜けてフローキャビティ27やエアベント14に
流れ込む。That is, when the cleaning resin 25 is injected into the cavity 6, the cleaning resin 25 is filled into the cavity 6 through the through holes 29a of the cleaning sheet 29. Further, the cleaning resin 25 is formed at the corners of the cavity 6. 25 is the cleaning sheet 2
9 for flow cabinet cut-out 29c and slit 29b
And flows into the flow cavity 27 and the air vent 14.
【0103】これにより、フローキャビ用切り込み部2
9cやスリット29bを介してクリーニング用樹脂25
をクリーニング用シート29に絡みつかせることがで
き、この状態でクリーニング用樹脂25をフローキャビ
ティ27やエアベント14に充填できる。Thereby, the cut portion 2 for the flow cabinet is formed.
9c and the cleaning resin 25 through the slit 29b.
Can be entangled with the cleaning sheet 29, and the cleaning resin 25 can be filled in the flow cavity 27 and the air vent 14 in this state.
【0104】その結果、クリーニング用樹脂25の硬化
後のクリーニング用樹脂25の第2金型4からの除去
を、クリーニング用シート29の成形金型28からの取
り外しとともに行うことができる。As a result, the removal of the cleaning resin 25 from the second mold 4 after the curing of the cleaning resin 25 can be performed together with the removal of the cleaning sheet 29 from the molding die 28.
【0105】なお、切り込み部としてスリット29bを
形成するか、もしくはフローキャビ用切り込み部29c
を形成するかについては、第2金型4のゲート13から
遠い箇所に配置されたフローキャビティ27にはクリー
ニング用樹脂25が比較的流れ込み難いため、スリット
29bではなくフローキャビ用切り込み部29cを形成
することが好ましい。The slits 29b may be formed as the cuts or the flow cabinet cuts 29c may be formed.
Is formed, since the cleaning resin 25 is relatively hard to flow into the flow cavity 27 located far from the gate 13 of the second mold 4, not the slit 29b but the flow cavity cutout 29c is formed. Is preferred.
【0106】また、ゲート13側のフローキャビティ2
7にはクリーニング用樹脂25が比較的流れ込み易いた
め、ここにはスリット29bを形成する。The flow cavity 2 on the gate 13 side
Since the cleaning resin 25 relatively easily flows into 7, a slit 29b is formed here.
【0107】したがって、図7、図8に示す変形例(図
6に示すQFP19用のクリーニング用シート29)で
は、ゲート13から最も遠い箇所に配置されたフローキ
ャビティ27のみをフローキャビ用切り込み部29cと
し、それ以外の三隅は、スリット29bとしている。Therefore, in the modified example shown in FIGS. 7 and 8 (the cleaning sheet 29 for the QFP 19 shown in FIG. 6), only the flow cavity 27 disposed farthest from the gate 13 is cut by the cut portion 29c for the flow cabinet. The other three corners are slits 29b.
【0108】これに対して、図9に示す変形例(BGA
(Ball Grid Array)用のクリーニング用シート29)
は、四隅にスリット29bを形成した場合を示してお
り、フローキャビ用切り込み部29c(図7参照)やス
リット29bをキャビティ6のいずれの隅部に形成する
かは特に限定されるものではなく、また、スリット29
bの幅や長さあるいはフローキャビ用切り込み部29c
の形状についても特に限定されるものではない。On the other hand, a modification (BGA) shown in FIG.
(Cleaning sheet 29 for (Ball Grid Array))
Shows a case where slits 29b are formed at four corners, and it is not particularly limited to which corner of the cavity 6 the notch 29c for the flow cabinet (see FIG. 7) and the slit 29b are formed. Also, the slit 29
b width or length or notch 29c for flow cabinet
Is not particularly limited.
【0109】なお、本実施の形態2のクリーニング用シ
ート29の素材や厚さについては、実施の形態1のクリ
ーニング用シート17と同様である。The material and thickness of the cleaning sheet 29 of the second embodiment are the same as those of the cleaning sheet 17 of the first embodiment.
【0110】さらに、本実施の形態2のクリーニング用
シート29のその他の構造およびクリーニング用シート
29を用いた半導体装置の製造方法については、実施の
形態1で説明したクリーニング用シート17を用いた半
導体装置の製造方法と同様であるため、その重複説明は
省略する。Further, the other structure of the cleaning sheet 29 according to the second embodiment and a method of manufacturing a semiconductor device using the cleaning sheet 29 will be described with reference to the semiconductor using the cleaning sheet 17 described in the first embodiment. Since the method is the same as the method of manufacturing the device, the description thereof will not be repeated.
【0111】本実施の形態2のクリーニング用シート2
9およびそれを用いた半導体装置の製造方法によれば、
図2に示す成形金型28のクリーニング時にキャビティ
6にクリーニング用樹脂25を注入した際に、クリーニ
ング用シート29のスリット29bやフローキャビ用切
り込み部29cなどの切り込み部にクリーニング用樹脂
25を通過させることができる。The cleaning sheet 2 of the second embodiment
9 and a method for manufacturing a semiconductor device using the same,
When the cleaning resin 25 is injected into the cavity 6 at the time of cleaning the molding die 28 shown in FIG. 2, the cleaning resin 25 is passed through slits 29b of the cleaning sheet 29 and cut portions such as cut portions 29c for flow cabinets. be able to.
【0112】これにより、クリーニング時に、フローキ
ャビティ27やエアベント14などの凹部にクリーニン
グ用樹脂25を充填できるとともに、前記切り込み部を
介してクリーニング用シート29にクリーニング用樹脂
25を絡ませて付着させることができる。Thus, at the time of cleaning, concave portions such as the flow cavity 27 and the air vent 14 can be filled with the cleaning resin 25, and the cleaning resin 25 can be entangled and adhered to the cleaning sheet 29 through the cutout portion. it can.
【0113】したがって、クリーニング用樹脂25の硬
化後、第2金型4からクリーニング用シート29を剥離
することにより、第2金型4の合わせ面26の前記凹部
(フローキャビティ27やエアベント14)に充填され
たクリーニング用樹脂25が除去されるため、前記凹部
のクリーニング効果を向上できるとともに、クリーニン
グ用シート29ごと確実にクリーニング用樹脂25を除
去でき、したがって、クリーニング用樹脂25の前記凹
部からの除去を容易に行うことができる。Therefore, after the cleaning resin 25 is hardened, the cleaning sheet 29 is peeled off from the second mold 4 so that the recesses (flow cavities 27 and air vents 14) of the mating surface 26 of the second mold 4 are formed. Since the filled cleaning resin 25 is removed, the cleaning effect of the concave portion can be improved, and the cleaning resin 25 can be reliably removed together with the cleaning sheet 29. Therefore, the cleaning resin 25 can be removed from the concave portion. Can be easily performed.
【0114】その結果、クリーニング用シート29を用
いた成形金型28のクリーニング時間の短縮化を図るこ
とができる。As a result, the cleaning time of the molding die 28 using the cleaning sheet 29 can be reduced.
【0115】なお、第2金型4のゲート13に対向する
箇所(ゲート13から比較的離れた箇所)の前記凹部に
対応したフローキャビ用切り込み部29cやスリット2
9bなどの前記切り込み部を、この凹部に応じた形状と
することにより、前記凹部のクリーニング効果をさらに
向上できる。The notch 29c for the flow cabinet and the slit 2 corresponding to the recess at the portion of the second mold 4 facing the gate 13 (the portion relatively far from the gate 13).
By forming the cut portion such as 9b into a shape corresponding to the concave portion, the cleaning effect of the concave portion can be further improved.
【0116】(実施の形態3)図10は本発明の実施の
形態3の成形金型クリーニング用シートの構造の一例を
示す図であり、(a)は平面図、(b)は(a)のB−
B線に沿う断面図、図11は図10に示す成形金型クリ
ーニング用シートを成形金型の合わせ面に配置した状態
の一例を示す平面図、図12図11に示すC−C線に沿
う拡大部分断面図である。(Embodiment 3) FIGS. 10A and 10B are views showing an example of the structure of a molding die cleaning sheet according to Embodiment 3 of the present invention, wherein FIG. 10A is a plan view and FIG. B-
FIG. 11 is a cross-sectional view taken along the line B, FIG. 11 is a plan view showing an example of a state in which the molding die cleaning sheet shown in FIG. 10 is arranged on the mating surface of the molding die, and FIG. It is an expanded partial sectional view.
【0117】本実施の形態3では、実施の形態2と同
様、実施の形態1で説明した半導体装置の製造工程にお
ける図2に示す成形金型28のクリーニング工程で用い
られる成形金型クリーニング用シートの変形例について
説明する。In the third embodiment, similarly to the second embodiment, the molding die cleaning sheet used in the cleaning step of the molding die 28 shown in FIG. 2 in the manufacturing process of the semiconductor device described in the first embodiment. A modified example will be described.
【0118】すなわち、図10に示す枠付きクリーニン
グ用シート(成形金型クリーニング用シート)30は、
前記実施の形態1で説明したクリーニング用シート17
と同様に、成形金型28の合わせ面26全体を覆うとと
もにキャビティ6に対応した箇所に貫通孔30bが形成
されたクリーニング用シート30aと、成形金型28の
合わせ面26の複数のキャビティ6の外側に合わせ面2
6の周縁部26aに沿って配置可能な枠状の補強シート
30cとからなるものである。That is, the framed cleaning sheet (molding die cleaning sheet) 30 shown in FIG.
The cleaning sheet 17 described in the first embodiment.
Similarly to the above, the cleaning sheet 30a which covers the entire mating surface 26 of the molding die 28 and has a through hole 30b formed at a location corresponding to the cavity 6, and the plurality of cavities 6 of the mating surface 26 of the molding die 28 Outer mating surface 2
6 and a frame-shaped reinforcing sheet 30c that can be arranged along the peripheral edge portion 26a.
【0119】なお、クリーニング用シート30aに形成
された貫通孔30bは、成形金型28のキャビティ6と
ほぼ同じ大きさか、もしくはそれより僅かに小さい程度
の大きさである。The through-hole 30b formed in the cleaning sheet 30a is substantially the same size as the cavity 6 of the molding die 28 or slightly smaller than the cavity.
【0120】ここで、本実施の形態3の枠付きクリーニ
ング用シート30は、図12に示すように成形金型28
のクリーニング時のクリーニング用樹脂25(図5参
照)の注入の際に、下金型である第2金型4と上金型で
ある第1金型3とによる成形金型28のクランプ時のキ
ャビティ6の外側のクランプ力を大きくして、成形金型
28の合わせ面26からのクリーニング用樹脂25の漏
出を防ぐものである。Here, as shown in FIG. 12, the cleaning sheet 30 with a frame according to the third embodiment is formed with a molding die 28.
When the cleaning resin 25 (see FIG. 5) is injected at the time of cleaning, the molding die 28 is clamped by the second die 4 as the lower die and the first die 3 as the upper die. The clamping force outside the cavity 6 is increased to prevent the cleaning resin 25 from leaking from the mating surface 26 of the molding die 28.
【0121】すなわち、図10に示すように、枠付きク
リーニング用シート30は、図11に示すキャビティ6
に応じて貫通孔30bが形成されたクリーニング用シー
ト30aと、第2金型4の合わせ面26の複数のキャビ
ティ6の外側に合わせ面26の周縁部26aに沿って配
置可能な枠状の補強シート30cとを張り合わせたもの
である。That is, as shown in FIG. 10, the framed cleaning sheet 30 is provided in the cavity 6 shown in FIG.
And a frame-like reinforcement that can be arranged along the peripheral edge 26a of the mating surface 26 outside the plurality of cavities 6 of the mating surface 26 of the second mold 4 in accordance with the above. The sheet 30c is attached.
【0122】これにより、成形金型28のクリーニング
を行う際には、図11に示すように、クリーニング用シ
ート30aの貫通孔30bをキャビティ6に対応させて
合わせ面26全体にクリーニング用シート30aを配置
し、かつ、枠状の補強シート30cを複数のキャビティ
6の外側に合わせ面26の周縁部26aに沿って合わせ
面26に配置する。As a result, when cleaning the molding die 28, as shown in FIG. 11, the cleaning sheet 30a is formed over the entire mating surface 26 with the through holes 30b of the cleaning sheet 30a corresponding to the cavities 6. The frame-shaped reinforcing sheet 30c is arranged on the mating surface 26 along the peripheral edge 26a of the mating surface 26 outside the plurality of cavities 6.
【0123】なお、本実施の形態3の枠付きクリーニン
グ用シート30は、図10に示すようなクリーニング用
シート30aと補強シート30cとが予め張り付けられ
ているものであり、したがって、クリーニングを行う際
には、枠付きクリーニング用シート30を第2金型4の
合わせ面26上に配置する。The cleaning sheet 30 with a frame according to the third embodiment has a cleaning sheet 30a and a reinforcing sheet 30c as shown in FIG. , The framed cleaning sheet 30 is arranged on the mating surface 26 of the second mold 4.
【0124】その後、図12に示すように、クリーニン
グ用シート30aおよび補強シート30cを第1金型3
と第2金型4とによってクランプし、さらに、このクラ
ンプ状態のキャビティ6に、図5に示すように、クリー
ニング用樹脂25を注入してキャビティ6にクリーニン
グ用樹脂25を充填し、クリーニング用樹脂25を硬化
させた後、成形金型28の合わせ面26からクリーニン
グ用シート30aごとクリーニング用樹脂25を取り除
いて成形金型28をクリーニングする。Thereafter, as shown in FIG. 12, the cleaning sheet 30a and the reinforcing sheet
5 and the second mold 4, and further, the cleaning resin 25 is injected into the cavity 6 in the clamped state as shown in FIG. 5 to fill the cavity 6 with the cleaning resin 25. After curing the mold 25, the mold resin 28 is cleaned by removing the cleaning resin 25 together with the cleaning sheet 30a from the mating surface 26 of the mold 28.
【0125】なお、図10に示す枠付きクリーニング用
シート30は、例えば、半導体装置において比較的細長
い封止部22(図6参照、ただし、図6に示すQFP1
9は、封止部22がほぼ正方形である)を有したSOP
やマトリクスフレームを用いたQFNなどの半導体装置
のモールドを行う際に、これらの成形金型28の合わせ
面26において、キャビティ6の外側端部と合わせ面2
6の周縁部26aとの距離(図11および図12に示す
L)が比較的短い場合(例えば、Lが10mm以下の場
合)には、成形金型28のクリーニング時にキャビティ
6から漏出したクリーニング用樹脂25が成形金型クリ
ーニング用シートからはみ出て、成形金型28の合わせ
面26から繋がる側面に亘って付着することがあるた
め、前記Lが10mm以下となるようなSOPやQFN
用の成形金型28のクリーニングに対して、より有効で
ある。The cleaning sheet 30 with a frame shown in FIG. 10 is, for example, a comparatively elongated sealing portion 22 (see FIG. 6, except for the QFP1 shown in FIG. 6) in a semiconductor device.
9 is an SOP having a sealing portion 22 that is substantially square).
When molding a semiconductor device such as a QFN or a matrix frame using a matrix frame, the outer end of the cavity 6 and the mating surface 2
In the case where the distance (L shown in FIGS. 11 and 12) from the peripheral portion 26a of the molding die 6 is relatively short (for example, when L is 10 mm or less), the cleaning mold leaked from the cavity 6 when the molding die 28 is cleaned. Since the resin 25 may protrude from the molding die cleaning sheet and adhere to the side surface connected to the mating surface 26 of the molding die 28, the SOP or QFN having the L of 10 mm or less may be used.
It is more effective for cleaning the molding die 28 for use.
【0126】ここで、枠状の補強シート30cは、例え
ば、厚さ0.1〜0.2mm程度であって、不織布、紙、銅
またはフッ素樹脂などによって形成されていることが好
ましい。Here, the frame-shaped reinforcing sheet 30c has a thickness of, for example, about 0.1 to 0.2 mm, and is preferably formed of nonwoven fabric, paper, copper, fluororesin, or the like.
【0127】さらに、本実施の形態3の枠付きクリーニ
ング用シート30のように、クリーニング用シート30
aと補強シート30cとが予め張り付けられていてもよ
く、あるいは両者を張り付けずにそれぞれ準備して、ク
リーニング時に、成形金型28の合わせ面26に順次配
置してクリーニングのモールドを行ってもよい。Further, like the cleaning sheet 30 with a frame according to the third embodiment, the cleaning sheet 30
a and the reinforcing sheet 30c may be attached in advance, or both may be prepared without being attached, and the cleaning may be performed by sequentially disposing them on the mating surface 26 of the molding die 28 during cleaning. .
【0128】また、本実施の形態3の枠付きクリーニン
グ用シート30は、SOPやQFN以外のマトリクスフ
レームを用いた半導体装置、あるいはテープ基板を用い
たBGAなどに対しても有効である。The cleaning sheet 30 with a frame according to the third embodiment is also effective for a semiconductor device using a matrix frame other than SOP and QFN, or a BGA using a tape substrate.
【0129】なお、本実施の形態3の枠付きクリーニン
グ用シート30におけるクリーニング用シート30aの
素材や厚さについては、実施の形態1のクリーニング用
シート17と同様である。The material and thickness of the cleaning sheet 30a in the framed cleaning sheet 30 of the third embodiment are the same as those of the cleaning sheet 17 of the first embodiment.
【0130】さらに、本実施の形態3の枠付きクリーニ
ング用シート30を用いた半導体装置の製造方法につい
ては、実施の形態1で説明したクリーニング用シート1
7を用いた半導体装置の製造方法と同様であるため、そ
の重複説明は省略する。Further, a method of manufacturing a semiconductor device using the framed cleaning sheet 30 of the third embodiment will be described with reference to the cleaning sheet 1 described in the first embodiment.
7 is the same as the method of manufacturing the semiconductor device using No. 7, and the overlapping description is omitted.
【0131】本実施の形態3の枠付きクリーニング用シ
ート30およびそれを用いた半導体装置の製造方法によ
れば、成形金型28のクリーニング時に、枠付きクリー
ニング用シート30のクリーニング用シート30aの貫
通孔30bをキャビティ6に対応させて合わせ面26全
体に配置するとともに、補強シート30cを複数のキャ
ビティ6の外側に合わせ面26の周縁部26aに沿って
合わせ面26に配置して、枠付きクリーニング用シート
30を成形金型28の第1金型3と第2金型4とによっ
てクランプしてクリーニングを行うことにより、成形金
型28のクランプ力を向上でき、その結果、クリーニン
グ時のクリーニング用樹脂25の成形金型28の合わせ
面26からの漏出を防止できる。According to the framed cleaning sheet 30 and the method of manufacturing a semiconductor device using the same according to the third embodiment, when the molding die 28 is cleaned, the cleaning sheet 30a of the framed cleaning sheet 30 penetrates. The holes 30b are arranged on the entire mating surface 26 so as to correspond to the cavities 6, and the reinforcing sheet 30c is arranged on the mating surface 26 along the peripheral edge 26a of the mating surface 26 outside the plurality of cavities 6, so that cleaning with a frame is performed. The clamping force of the molding die 28 can be improved by clamping the cleaning sheet 30 with the first die 3 and the second die 4 of the molding die 28, and as a result, the cleaning Leakage of the resin 25 from the mating surface 26 of the molding die 28 can be prevented.
【0132】したがって、成形金型28の側面にクリー
ニング用樹脂25が付着することを防げるため、これを
除去する手間がなくなり、その結果、成形金型28のク
リーニング作業の効率を向上できる。Therefore, since the cleaning resin 25 can be prevented from adhering to the side surface of the molding die 28, there is no need to remove it, and as a result, the efficiency of the cleaning operation of the molding die 28 can be improved.
【0133】また、補強シート30cが張り付けられた
枠付きクリーニング用シート30を用いることにより、
クリーニング時のクリーニング用樹脂25の成形金型2
8の合わせ面26からの漏出を防止できるため、クリー
ニング用樹脂25をキャビティ6およびフローキャビ用
切り込み部29c(図8参照)などの凹部に十分に充填
することができ、その結果、キャビティ6およびフロー
キャビ用切り込み部29cなどの凹部のクリーニング効
果を向上できる。By using the framed cleaning sheet 30 to which the reinforcing sheet 30c is attached,
Mold 2 for cleaning resin 25 during cleaning
8 can be prevented from leaking out from the mating surface 26, so that the cleaning resin 25 can be sufficiently filled in the cavity 6 and the concave portion such as the cutout portion 29c for the flow cabinet (see FIG. 8). The cleaning effect of the concave portion such as the cut portion 29c for the flow cabinet can be improved.
【0134】なお、特に、成形金型28におけるキャビ
ティ6の外側端部と合わせ面26の周縁部26aとの距
離が比較的短い際に(例えば、図11に示す距離Lが1
0mm以下の場合)、補強シート30cを有した枠付き
クリーニング用シート30は特に効果的である。In particular, when the distance between the outer end of the cavity 6 in the molding die 28 and the peripheral edge 26a of the mating surface 26 is relatively short (for example, when the distance L shown in FIG.
In the case of 0 mm or less), the framed cleaning sheet 30 having the reinforcing sheet 30c is particularly effective.
【0135】また、補強シート30cを有した枠付きク
リーニング用シート30を用いることにより、クリーニ
ング時のクリーニング用樹脂25の成形金型28の合わ
せ面26からの漏出を防止できるため、成形金型28の
合わせ面26に対しての枠付きクリーニング用シート3
0の装着および取り外しを容易に行うことが可能にな
る。Further, by using the framed cleaning sheet 30 having the reinforcing sheet 30c, the leakage of the cleaning resin 25 from the mating surface 26 of the molding die 28 during cleaning can be prevented. Cleaning sheet 3 with frame for mating surface 26
0 can be easily attached and detached.
【0136】さらに、クリーニング用シート30aが不
織布である場合に、補強シート30cを用いることによ
り、クリーニング用シート30aの伸縮を防止すること
ができ、その結果、成形金型28のクリーニング作業の
効率をさらに向上できる。Further, when the cleaning sheet 30a is a non-woven fabric, the use of the reinforcing sheet 30c can prevent the expansion and contraction of the cleaning sheet 30a. As a result, the efficiency of the cleaning operation of the molding die 28 can be reduced. It can be further improved.
【0137】以上、本発明者によってなされた発明を発
明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記発明の実施の形態に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言う
までもない。The invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiments of the present invention. However, the present invention is not limited to the embodiments of the invention, and does not depart from the gist of the invention. It is needless to say that various changes can be made.
【0138】例えば、前記実施の形態1,2,3におい
ては、クリーニング用シート17,29,30aが不織
布によって形成されている場合を説明したが、クリーニ
ング用シート17,29,30aの材質は、不織布に限
定されずに紙や他の布などの他の材質のものであっても
よい。For example, in the first, second, and third embodiments, the case where the cleaning sheets 17, 29, and 30a are formed of a nonwoven fabric has been described. However, the material of the cleaning sheets 17, 29, and 30a is as follows. The material is not limited to the nonwoven fabric, but may be other materials such as paper and other cloth.
【0139】また、クリーニング用シート17,29,
30aの厚さについても前記実施の形態1,2,3で説
明したものに限定されず、種々の厚さのものを用いるこ
とができる。The cleaning sheets 17, 29,
The thickness of 30a is not limited to those described in the first, second, and third embodiments, and various thicknesses can be used.
【0140】さらに、クリーニング用シート17,2
9,30aの大きさについても、成形金型28の合わせ
面26をほぼ全体に亘って覆う大きさであれば、合わせ
面26より若干小さくてもよい。Further, the cleaning sheets 17 and 2
Regarding the size of 9, 30a, it may be slightly smaller than the mating surface 26 as long as it covers almost the entire mating surface 26 of the molding die 28.
【0141】また、クリーニング用シート17,29,
30aに形成された貫通孔17a,29a,30bにつ
いても、その形状や形成数は、前記実施の形態1,2,
3のものに限定されずに様々な形状や形成数であってよ
く、さらに、大きさについても、キャビティ6の開口部
6aとほぼ同じか、あるいはクリーニング用樹脂25が
通過可能な程度の大きさであればキャビティ6の開口部
6aより大きくても、または小さくてもよい。The cleaning sheets 17, 29,
Regarding the through holes 17a, 29a, and 30b formed in 30a, the shapes and the number of the through holes 17a, 29a, and 30b are determined according to the first, second, and third embodiments.
The shape is not limited to three, but may be various shapes and numbers. Further, the size is almost the same as that of the opening 6a of the cavity 6, or is large enough to allow the cleaning resin 25 to pass therethrough. If so, it may be larger or smaller than the opening 6a of the cavity 6.
【0142】なお、前記実施の形態1,2,3の成形金
型28は、リードフレームが多連の一列形のものであっ
てもよく、また、マトリクスフレームであってもよく、
何れの場合であっても、クリーニング作業の低コスト化
を図ることができる。In the molding dies 28 of the first, second and third embodiments, the lead frame may be a multiple-row single-row type, or may be a matrix frame.
In any case, the cost of the cleaning operation can be reduced.
【0143】また、前記実施の形態1,2においては、
図1に示すトランスファーモールド装置によってモール
ドされる半導体装置が、図6に示すQFP19の場合に
ついて説明したが、前記半導体装置は、QFP19に限
らず、前記トランスファーモールド装置によってモール
ドが行われて組み立てられる半導体装置であれば、SO
Pなどの他の半導体装置であってもよい。In the first and second embodiments,
Although the case where the semiconductor device molded by the transfer molding apparatus shown in FIG. 1 is the QFP 19 shown in FIG. 6 is described, the semiconductor device is not limited to the QFP 19, and the semiconductor molded by the transfer molding apparatus and assembled. If it is a device, SO
Other semiconductor devices such as P may be used.
【0144】さらに、前記実施の形態1,2,3の成形
金型28においては、第1金型3を上型とし、第2金型
4を下型として説明したが、これと反対に第1金型3を
下型とし、第2金型4を上型としてもよい。Further, in the molding dies 28 of the first, second and third embodiments, the first and second dies 3 and 4 have been described as the upper and lower dies. The first mold 3 may be a lower mold and the second mold 4 may be an upper mold.
【0145】[0145]
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。Advantageous effects obtained by typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described.
It is as follows.
【0146】(1).成形金型クリーニング用シート
に、キャビティに対応した貫通孔が形成されていること
により、キャビティにクリーニング用樹脂を供給して充
填させる際に、クリーニング用樹脂が貫通孔を通過でき
るため、キャビティ内におけるクリーニング用樹脂の流
れを妨げずにキャビティの隅々までクリーニング用樹脂
を行き渡らせることができる。その結果、キャビティの
隅の汚れも除去することができる。これにより、成形金
型のキャビティのクリーニングを十分に行うことがで
き、したがって、クリーニング効果の向上を図ることが
できる。(1). Since the through holes corresponding to the cavities are formed in the molding die cleaning sheet, the cleaning resin can pass through the through holes when supplying and filling the cavity with the cleaning resin. The cleaning resin can be spread to every corner of the cavity without obstructing the flow of the cleaning resin. As a result, dirt at the corners of the cavity can be removed. As a result, the cavity of the molding die can be sufficiently cleaned, and thus the cleaning effect can be improved.
【0147】(2).成形金型クリーニング用シート
が、成形金型の合わせ面全体を覆うことにより、キャビ
ティ、合わせ面、カルおよびゲートによって形成される
クリーニング用樹脂が成形金型クリーニング用シートに
よって繋がった状態となるため、成形金型クリーニング
用シート上でばらばらにならず一体となった状態で取り
出すことができる。したがって、クリーニング後の成形
金型クリーニング用シートの処理も容易に行うことがで
きる。その結果、クリーニング作業の大幅な時間短縮化
を図ることができる。(2). Since the molding die cleaning sheet covers the entire mating surface of the molding die, the cleaning resin formed by the cavity, the mating surface, the cull and the gate is in a state of being connected by the molding die cleaning sheet. It can be taken out in an integrated state without falling apart on the mold cleaning sheet. Therefore, the processing of the mold cleaning sheet after cleaning can be easily performed. As a result, the time required for the cleaning operation can be significantly reduced.
【0148】(3).成形金型内にセットするリードフ
レームの枚数に限らず、成形金型クリーニング用シート
1枚によって成形金型の合わせ面全体を覆うため、成形
金型クリーニング用シートの成形金型に対しての高精度
な位置決めが不要となる。その結果、成形金型に対して
位置決め用ピンの加工や位置決めピン孔の加工をせずに
済むため、成形金型のコストを低減できる。また、ダミ
ーリードフレームを用いないため、ダミーリードフレー
ムのずれに起因するずれ成形が発生しない。(3). Not only the number of lead frames set in the molding die, but also the entirety of the mating surface of the molding die with one molding die cleaning sheet, the height of the molding die cleaning sheet relative to the molding die is high. Accurate positioning is not required. As a result, there is no need to process the positioning pins or the positioning pin holes on the molding die, and thus the cost of the molding die can be reduced. In addition, since the dummy lead frame is not used, misalignment due to the misalignment of the dummy lead frame does not occur.
【0149】(4).成形金型クリーニング用シートを
用いることにより、クリーニング用の高価なダミーリー
ドフレームを使用せずに済むため、成形金型のクリーニ
ング作業の低コスト化を図ることができる。(4). By using the molding die cleaning sheet, it is not necessary to use an expensive dummy lead frame for cleaning, so that the cost of the molding die cleaning operation can be reduced.
【0150】(5).半導体装置の製造工程において
は、成形金型のクリーニング作業の大幅な時間短縮を図
ることができ、かつ成形金型のクリーニング効果を向上
できるため、半導体装置の製造性を向上できる。(5). In the manufacturing process of the semiconductor device, the time for cleaning the molding die can be greatly reduced, and the effect of cleaning the molding die can be improved, so that the productivity of the semiconductor device can be improved.
【0151】(6).成形金型のキャビティに連通する
凹部に対応した切り込み部が形成された成形金型クリー
ニング用シートを用いて成形金型のクリーニングを行う
ことにより、クリーニング時に、フローキャビティやエ
アベントなどの凹部にクリーニング用樹脂を充填でき、
かつ、切り込み部を介して成形金型クリーニング用シー
トにクリーニング用樹脂を絡ませて付着させることがで
きる。したがって、樹脂硬化後、成形金型から成形金型
クリーニング用シートを剥離することにより、凹部に充
填されたクリーニング用樹脂が除去されるため、凹部の
クリーニング効果を向上できる。(6). By cleaning the molding die using a molding die cleaning sheet provided with cutouts corresponding to the concave portion communicating with the cavity of the molding die, the cleaning cavity is used for cleaning the concave portion such as the flow cavity or air vent. Can be filled with resin,
Further, the cleaning resin can be entangled and adhered to the molding die cleaning sheet via the cutout portion. Therefore, after the resin is cured, the cleaning resin filled in the concave portions is removed by peeling the cleaning sheet from the molding die, thereby improving the effect of cleaning the concave portions.
【0152】(7).成形金型クリーニング用シートと
ともに補強シートを用いることにより、クリーニング時
のクリーニング用樹脂の成形金型の合わせ面からの漏出
を防止でき、したがって、クリーニング用樹脂をキャビ
ティおよび凹部に十分に充填することができ、その結
果、キャビティおよび凹部のクリーニング効果を向上で
きる。(7). By using the reinforcing sheet together with the molding die cleaning sheet, it is possible to prevent the cleaning resin from leaking from the mating surface of the molding die at the time of cleaning, and therefore, it is possible to sufficiently fill the cavity and the concave portion with the cleaning resin. As a result, the effect of cleaning the cavity and the concave portion can be improved.
【図1】本発明の実施の形態1の成形金型クリーニング
用シートを用いてモールドを行うトランスファーモール
ド装置の構造の一例を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an example of the structure of a transfer molding apparatus for performing molding using a molding die cleaning sheet according to Embodiment 1 of the present invention.
【図2】図1に示すトランスファーモールド装置におけ
る樹脂成形部の構造を示す部分断面図である。FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing a structure of a resin molding unit in the transfer molding device shown in FIG.
【図3】(a),(b)は本発明の実施の形態1の成形金
型クリーニング用シートの構造の一例を示す図であり、
(a)は平面図、(b)は(a)のA−A線に沿う断面
図である。FIGS. 3A and 3B are diagrams showing an example of the structure of a molding die cleaning sheet according to the first embodiment of the present invention;
(A) is a plan view, and (b) is a cross-sectional view along the line AA of (a).
【図4】図2に示す樹脂成形部に設けられた成形金型の
第2金型の合わせ面に成形金型クリーニング用シートを
配置した状態の一例を示す平面図である。FIG. 4 is a plan view showing an example of a state in which a molding die cleaning sheet is arranged on a mating surface of a second die of a molding die provided in the resin molding section shown in FIG.
【図5】図3に示す成形金型クリーニング用シートを用
いた成形金型内のクリーニング時の状態の一例を示す部
分断面図である。5 is a partial cross-sectional view showing an example of a state at the time of cleaning in a molding die using the molding die cleaning sheet shown in FIG. 3;
【図6】本発明の半導体装置の製造方法によって製造さ
れた半導体装置の構造の一例を一部断面にして示す斜視
図である。FIG. 6 is a perspective view showing, in partial cross section, an example of the structure of a semiconductor device manufactured by the method for manufacturing a semiconductor device of the present invention.
【図7】本発明の実施の形態2の成形金型クリーニング
用シートの構造の一例を示す平面図である。FIG. 7 is a plan view showing an example of the structure of a molding die cleaning sheet according to Embodiment 2 of the present invention.
【図8】図7に示す成形金型クリーニング用シートを成
形金型の合わせ面に配置した状態の一例を示す拡大部分
平面図である。8 is an enlarged partial plan view showing an example of a state where the molding die cleaning sheet shown in FIG. 7 is arranged on a mating surface of the molding die.
【図9】図7に示す成形金型クリーニング用シートに対
する変形例の成形金型クリーニング用シートの構造を示
す平面図である。FIG. 9 is a plan view showing a structure of a molding die cleaning sheet according to a modification of the molding die cleaning sheet shown in FIG. 7;
【図10】(a),(b)は本発明の実施の形態3の成形
金型クリーニング用シートの構造の一例を示す図であ
り、(a)は平面図、(b)は(a)のB−B線に沿う
断面図である。FIGS. 10A and 10B are diagrams showing an example of the structure of a molding die cleaning sheet according to the third embodiment of the present invention, wherein FIG. 10A is a plan view and FIG. It is sectional drawing which follows the BB line of FIG.
【図11】図10に示す成形金型クリーニング用シート
を成形金型の合わせ面に配置した状態の一例を示す平面
図である。11 is a plan view showing an example of a state in which the molding die cleaning sheet shown in FIG. 10 is arranged on a mating surface of the molding die.
【図12】図11に示すC−C線に沿う拡大部分断面図
である。FIG. 12 is an enlarged partial sectional view taken along the line CC shown in FIG. 11;
【符号の説明】 1 ローダ 2 アンローダ 3 第1金型 4 第2金型 5 樹脂成形部 6 キャビティ 6a 開口部 7 カル 8 ランナ 9 ポット 10 プランジャ 11,15 エジェクタプレート 12,16 エジェクタピン 13 ゲート 14 エアベント(凹部) 17 クリーニング用シート(成形金型クリーニング用
シート) 17a 貫通孔 18 位置決めウェッチ 19 QFP(半導体装置) 20 インナリード 21 ボンディングワイヤ 22 封止部 23 アウタリード 24 半導体チップ 25 クリーニング用樹脂 26 合わせ面 26a 周縁部 27 フローキャビティ(凹部) 28 成形金型 29 クリーニング用シート(成形金型クリーニング用
シート) 29a 貫通孔 29b スリット(切り込み部) 29c フローキャビ用切り込み部(切り込み部) 30 枠付きクリーニング用シート(成形金型クリーニ
ング用シート) 30a クリーニング用シート 30b 貫通孔 30c 補強シートDESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Loader 2 Unloader 3 First mold 4 Second mold 5 Resin molding section 6 Cavity 6a Opening 7 Cal 8 Runner 9 Pot 10 Plunger 11,15 Ejector plate 12,16 Ejector pin 13 Gate 14 Air vent (Concave part) 17 Cleaning sheet (molding sheet cleaning sheet) 17a Through hole 18 Positioning wet 19 QFP (semiconductor device) 20 Inner lead 21 Bonding wire 22 Sealing part 23 Outer lead 24 Semiconductor chip 25 Cleaning resin 26 Fitting surface 26a Peripheral edge 27 Flow cavity (recess) 28 Mold 29 Cleaning sheet (mold cleaning sheet) 29a Through hole 29b Slit (cut) 29c Cut for flow cabinet (cut) ) 30 framed cleaning sheet (molding die cleaning sheet) 30a cleaning sheet 30b through holes 30c reinforcing sheet
Claims (5)
形金型の前記第1金型と前記第2金型との間に配置して
前記成形金型の内部をクリーニングする成形金型クリー
ニング用シートであって、前記第1金型と前記第2金型
との間に配置された際に前記成形金型の合わせ面全体を
覆い、前記成形金型のキャビティに対応した貫通孔が形
成されていることを特徴とする成形金型クリーニング用
シート。1. A molding die comprising a pair of a first die and a second die, which is disposed between the first die and the second die to clean the inside of the die. A molding die cleaning sheet that covers an entire mating surface of the molding die when disposed between the first die and the second die, and corresponds to a cavity of the molding die. A sheet for cleaning a molding die, wherein a through hole is formed.
半導体装置の製造方法であって、 一対の第1金型と第2金型とからなる成形金型の合わせ
面全体を覆い、前記成形金型のキャビティに対応した貫
通孔が形成された前記成形金型クリーニング用シートを
準備する工程と、 前記貫通孔を前記キャビティに対応させて前記成形金型
クリーニング用シートを前記成形金型の前記合わせ面全
体に配置して前記成形金型クリーニング用シートを前記
第1金型と前記第2金型とによってクランプする工程
と、 クリーニング用樹脂を前記キャビティに供給し、前記ク
リーニング用樹脂を前記成形金型クリーニング用シート
の前記貫通孔に通して前記キャビティ内に前記クリーニ
ング用樹脂を充填させる工程と、 前記クリーニング用樹脂を硬化させた後、前記クリーニ
ング用樹脂および前記成形金型クリーニング用シートを
前記成形金型から離型する工程とを有することを特徴と
する半導体装置の製造方法。2. A method of manufacturing a semiconductor device using a molding die cleaning sheet, wherein the molding die covers an entire mating surface of a pair of a first die and a second die. Preparing the molding die cleaning sheet in which a through hole corresponding to a cavity of a mold is formed; and aligning the molding die cleaning sheet with the molding die by making the through hole correspond to the cavity. Clamping the molding die cleaning sheet by the first die and the second die by disposing the cleaning die sheet on the entire surface; supplying a cleaning resin to the cavity; Filling the cavity with the cleaning resin through the through hole of the mold cleaning sheet; and after curing the cleaning resin. The method of manufacturing a semiconductor device characterized by a step of releasing the cleaning resin and the molding die cleaning sheet from the molding die.
半導体装置の製造方法であって、 一対の第1金型と第2金型とからなる成形金型の合わせ
面全体を覆い、前記成形金型のキャビティに対応した貫
通孔が形成された前記成形金型クリーニング用シートを
準備する工程と、 前記貫通孔を前記キャビティに対応させて前記成形金型
クリーニング用シートを前記合わせ面全体に配置して前
記成形金型クリーニング用シートを前記第1金型と前記
第2金型とによってクランプする工程と、 クリーニング用樹脂を前記キャビティに供給し、前記ク
リーニング用樹脂を前記成形金型クリーニング用シート
の前記貫通孔に通して前記キャビティ内に前記クリーニ
ング用樹脂を充填させる工程と、 前記クリーニング用樹脂を硬化させた後、前記クリーニ
ング用樹脂および前記成形金型クリーニング用シートを
前記成形金型から離型する工程と、 前記成形金型クリーニング用シートを用いて前記成形金
型内をクリーニングした後、前記成形金型の前記キャビ
ティに半導体チップを配置し、その後、前記キャビティ
に封止用樹脂を供給して前記半導体チップを樹脂封止す
る工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造方
法。3. A method for manufacturing a semiconductor device using a molding die cleaning sheet, wherein the molding die covers an entire mating surface of a pair of a first die and a second die. Preparing the molding die cleaning sheet having a through-hole corresponding to the cavity of the die; and disposing the molding die cleaning sheet over the entire mating surface with the through-hole corresponding to the cavity. Clamping the molding die cleaning sheet with the first die and the second die, supplying a cleaning resin to the cavity, and applying the cleaning resin to the molding die cleaning sheet. Filling the cavity with the cleaning resin through the through-hole; and curing the cleaning resin, Removing the molding resin and the molding die cleaning sheet from the molding die; and cleaning the interior of the molding die using the molding die cleaning sheet, and then removing the cavity of the molding die. A semiconductor chip is disposed in the cavity, and thereafter, a sealing resin is supplied to the cavity to seal the semiconductor chip with the resin.
半導体装置の製造方法であって、 一対の第1金型と第2金型とからなる成形金型の合わせ
面全体を覆い、前記成形金型のキャビティに対応した貫
通孔と、前記キャビティに連通してこれの外周部に設け
られた凹部に対応した切り込み部とが形成された前記成
形金型クリーニング用シートを準備する工程と、 前記貫通孔を前記キャビティに対応させるとともに、前
記切り込み部を前記凹部に対応させて前記成形金型クリ
ーニング用シートを前記成形金型の前記合わせ面全体に
配置して前記成形金型クリーニング用シートを前記第1
金型と前記第2金型とによってクランプする工程と、 クリーニング用樹脂を前記キャビティに供給し、前記ク
リーニング用樹脂を前記成形金型クリーニング用シート
の前記貫通孔および前記切り込み部に通して前記キャビ
ティおよび前記凹部に前記クリーニング用樹脂を充填さ
せる工程と、 前記クリーニング用樹脂を硬化させた後、前記クリーニ
ング用樹脂および前記成形金型クリーニング用シートを
前記成形金型から離型する工程とを有することを特徴と
する半導体装置の製造方法。4. A method of manufacturing a semiconductor device using a molding die cleaning sheet, wherein the molding die covers an entire mating surface of a pair of a first die and a second die. A step of preparing the molding die cleaning sheet in which a through-hole corresponding to a cavity of a mold and a cutout corresponding to a concave portion provided in an outer peripheral portion of the cavity are formed in communication with the cavity; A hole is made to correspond to the cavity, and the notch is made to correspond to the concave portion, and the molding die cleaning sheet is arranged over the entire mating surface of the molding die, and the molding die cleaning sheet is 1
A step of clamping with a mold and the second mold, supplying a cleaning resin to the cavity, and passing the cleaning resin through the through-hole and the cutout portion of the molding die cleaning sheet; And a step of filling the concave portion with the cleaning resin, and a step of releasing the cleaning resin and the molding die cleaning sheet from the molding die after curing the cleaning resin. A method for manufacturing a semiconductor device, comprising:
半導体装置の製造方法であって、 一対の第1金型と第2金型とからなる成形金型の合わせ
面全体を覆うとともに前記成形金型のキャビティに対応
した貫通孔が形成された前記成形金型クリーニング用シ
ートと、前記成形金型の前記合わせ面の複数の前記キャ
ビティの外側に前記合わせ面の周縁部に沿って配置可能
な補強シートとを準備する工程と、 前記成形金型クリーニング用シートの前記貫通孔を前記
キャビティに対応させて前記合わせ面全体に前記成形金
型クリーニング用シートを配置するとともに、前記補強
シートを複数の前記キャビティの外側に前記合わせ面の
周縁部に沿って前記合わせ面に配置して前記成形金型ク
リーニング用シートおよび前記補強シートを前記第1金
型と前記第2金型とによってクランプする工程と、 クリーニング用樹脂を前記キャビティに供給し、前記ク
リーニング用樹脂を前記成形金型クリーニング用シート
の前記貫通孔に通して前記キャビティに前記クリーニン
グ用樹脂を充填させる工程と、 前記クリーニング用樹脂を硬化させた後、前記クリーニ
ング用樹脂および前記成形金型クリーニング用シートを
前記成形金型から離型する工程とを有することを特徴と
する半導体装置の製造方法。5. A method of manufacturing a semiconductor device using a molding die cleaning sheet, wherein the molding die covers an entire mating surface of a pair of a first die and a second die. A mold cleaning sheet having a through-hole corresponding to a cavity of the mold, and a reinforcement that can be arranged along a peripheral edge of the mating surface outside the plurality of cavities of the mating surface of the mold. Preparing a sheet, and disposing the molding die cleaning sheet over the entire mating surface with the through-holes of the molding die cleaning sheet corresponding to the cavities; The molding die cleaning sheet and the reinforcing sheet are disposed on the mating surface along the periphery of the mating surface outside the cavity, and the first mold is provided with the reinforcing sheet. A step of clamping with the second mold, supplying a cleaning resin to the cavity, filling the cavity with the cleaning resin by passing the cleaning resin through the through hole of the molding die cleaning sheet. And a step of releasing the cleaning resin and the molding die cleaning sheet from the molding die after curing the cleaning resin.
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2000
- 2000-08-04 JP JP2000236687A patent/JP2001191338A/en active Pending
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