JP2001190543A - Method for detecting x-ray beam quantity and x-ray ct apparatus - Google Patents

Method for detecting x-ray beam quantity and x-ray ct apparatus

Info

Publication number
JP2001190543A
JP2001190543A JP2000004265A JP2000004265A JP2001190543A JP 2001190543 A JP2001190543 A JP 2001190543A JP 2000004265 A JP2000004265 A JP 2000004265A JP 2000004265 A JP2000004265 A JP 2000004265A JP 2001190543 A JP2001190543 A JP 2001190543A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
imaging
ray beam
subject
tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000004265A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4597299B2 (en
Inventor
Masayasu Nukui
正健 貫井
Makoto Gono
誠 郷野
Hirofumi Yanagida
弘文 柳田
Masaya Kumazaki
昌也 熊崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GE Healthcare Japan Corp
Original Assignee
GE Yokogawa Medical System Ltd
Yokogawa Medical Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by GE Yokogawa Medical System Ltd, Yokogawa Medical Systems Ltd filed Critical GE Yokogawa Medical System Ltd
Priority to JP2000004265A priority Critical patent/JP4597299B2/en
Publication of JP2001190543A publication Critical patent/JP2001190543A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4597299B2 publication Critical patent/JP4597299B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily obtain image data in the optimum range at all times in a method for detecting X-ray beam quantity and in an X-ray CT apparatus. SOLUTION: In this method for detecting X-ray beam quantity, an X-ray beam is irradiated for a subject 100 from an X-ray tube 40, the X-ray beam passing through the subject is detected, the detected output is integrated by integrators 811 to 81n to generate an X-ray beam quantity detection voltage, and the output is A/D converted by an A/D converter 83 to obtain X-ray beam quantity detection data. Time constants of the integrators 811 to 81n are changed in accordance with one or two or more imaging parameters of a tube voltage kV of the X-ray tube, a tube current mA, a detection width Thic in axis direction of the subject, and X-ray irradiation time Sec for the subject which are imaging parameters to generate an X-ray beam quantity detection voltage in the optimum dynamic range which does not exceed the range for the A/D converter 83 per channel.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はX線ビーム量検出方
法及びX線CT(Computed Tomography) 装置に関し、更
に詳しくは、X線管から照射され、被検体を透過したX
線ビームを対向する検出器で検出し、その出力を積分及
びA/D変換してX線ビーム量検出データ(投影デー
タ)を得るX線ビーム量検出方法及びX線CT装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray beam amount detection method and an X-ray CT (Computed Tomography) apparatus, and more particularly to an X-ray beam emitted from an X-ray tube and transmitted through a subject.
The present invention relates to an X-ray beam amount detection method and an X-ray CT apparatus that detect a line beam by an opposing detector, and integrate and A / D convert the output to obtain X-ray beam amount detection data (projection data).

【0002】一般に、X線CT装置の撮像条件(X線管
の管電圧kV、管電流mA、被検体の体軸方向における
検出幅Thic 及び被検体へのX線照射時間Sec等)は、
被検体の体格や医療に基づく撮像目的等により大きく異
なっており、いかなる撮像条件下でも適正なX線CT画
像が得られることが望まれる。
In general, the imaging conditions (X-ray tube voltage kV, tube current mA, detection width Thic in the body axis direction of the subject, X-ray irradiation time Sec on the subject, etc.) of the X-ray CT apparatus are as follows:
It differs greatly depending on the physique of the subject and the purpose of imaging based on medical treatment, and it is desired that an appropriate X-ray CT image can be obtained under any imaging conditions.

【0003】[0003]

【従来の技術】図10は従来のX線CT装置の主要部構
成を示す図で、主にデータ収集システム(DAS)の構
成を示している。図において、40はX線管、50はX
線の曝射範囲(ファン方向及びスライス厚方向)を制限
するコリメータ、100は被検体、20は被検体100
を載置し、体軸方向に移動する撮影テーブル、70は多
数(例えばn=1000)のX線検出器が円弧状の例え
ば1列に配列されているX線検出器アレイ、XD1〜X
DnはシンチレータとフォトダイオードとからなるX線
検出器、811 〜81n はX線ビーム量を検出する積分
器、A1〜Anはアンプ、SH1〜SHnはサンプルホ
ールド回路、82は信号マルチプレクサ(MPX)、8
3はA/D変換器(A/D)、15はデータ収集バッフ
ァ、11はX線CT装置の主制御・処理(スキャン制
御,CT画像再構築処理等)を行う中央処理装置、11
aはそのCPU、11bはCPUが実行する制御プログ
ラム等を記憶している主メモリ(MEM)、14はCP
U11aの制御インタフェース、84はX線データ検出
・収集制御に係る各種タイミング信号を発生するタイミ
ング発生部(TG)である。
2. Description of the Related Art FIG. 10 is a diagram showing the configuration of a main part of a conventional X-ray CT apparatus, and mainly shows the configuration of a data acquisition system (DAS). In the figure, 40 is an X-ray tube, 50 is an X-ray tube.
A collimator for limiting a line irradiation range (fan direction and slice thickness direction), 100 is a subject, 20 is a subject 100
An X-ray detector array in which a large number (for example, n = 1000) of X-ray detectors are arranged in, for example, a single row in an arc shape, XD1 to XD
Dn is an X-ray detector including a scintillator and a photodiode, 81 1 to 81 n are integrators for detecting the amount of X-ray beams, A 1 to An are amplifiers, SH 1 to SHn are sample-hold circuits, and 82 is a signal multiplexer (MPX). ), 8
3 is an A / D converter (A / D), 15 is a data acquisition buffer, 11 is a central processing unit that performs main control and processing (scan control, CT image reconstruction processing, etc.) of the X-ray CT apparatus, 11
a is a CPU, 11b is a main memory (MEM) storing a control program executed by the CPU, and 14 is a CP.
A control interface 84 of U11a is a timing generator (TG) for generating various timing signals related to X-ray data detection / collection control.

【0004】動作の概要を述べると、X線管40から曝
射され、かつコリメータ50で制限されたファンビーム
は被検体100を介してX線検出器アレイ70に一斉に
入射する。今、X線ビームXB1の信号処理に着目する
と、X線検出器XD1はX線ビームXB1の強度に応じ
た電流信号IB1を出力し、積分器811 は入力の電流
信号IB1を一定の時定数(容量C)で積分する。
[0004] In summary, the fan beam emitted from the X-ray tube 40 and restricted by the collimator 50 is simultaneously incident on the X-ray detector array 70 through the subject 100. Focusing on the signal processing of the X-ray beam XB1, the X-ray detector XD1 outputs a current signal IB1 corresponding to the intensity of the X-ray beam XB1, and the integrator 81 1 converts the input current signal IB1 into a constant time constant. (Capacity C).

【0005】ここで、この積分動作を一般的な式で記述
すると、積分器の出力電圧Voと入力電流Iiとの間に
は(1)式、
[0005] Here, this integration operation is described by a general equation. Equation (1) is defined between the output voltage Vo and the input current Ii of the integrator.

【0006】[0006]

【数1】 (Equation 1)

【0007】の関係がある。これは積分器の入力(信号
源)を電流源とした場合であり、(1)式によれば積分
器の出力電圧Voは入力電流Iiを(1/C)の比で積
分する関係にある。そこで、本明細書ではこの容量Cの
ことを積分の時定数とも呼ぶ。また、この場合の抵抗R
は抵抗値の比較的小さい所謂回路の保護抵抗であり、積
分動作(時定数)には寄与しないものとする。
[0007] There is a relationship. This is a case where the input (signal source) of the integrator is a current source. According to the equation (1), the output voltage Vo of the integrator is in a relationship of integrating the input current Ii at a ratio of (1 / C). . Therefore, in this specification, this capacitance C is also called a time constant of integration. In this case, the resistance R
Is a protection resistance of a so-called circuit having a relatively small resistance value, and does not contribute to the integration operation (time constant).

【0008】更に、アンプA1は積分器811 の出力を
増幅し、サンプルホールド回路SH1はアンプA1の出
力を所定のタイミングでサンプルホールドする。他のX
線ビームXB2〜XBnの各信号処理についても同様で
ある。そして、信号マルチプレクサ82はサンプルホー
ルド回路SH1〜SHnの各サンプル出力を高速でスキ
ャンし、A/D変換器83は信号マルチプレクサ82の
各出力を高速でA/D変換する。こうして得られた一連
の主信号データ(X線ビーム量検出データ)はデータ収
集バッファ15に蓄積され、CPU11aにより処理さ
れる。
Furthermore, the amplifier A1 amplifies the output of the integrator 81 1, the sample-hold circuit SH1 samples and holds the output of the amplifier A1 at a predetermined timing. Other X
The same applies to each signal processing of the line beams XB2 to XBn. Then, the signal multiplexer 82 scans each sample output of the sample hold circuits SH1 to SHn at high speed, and the A / D converter 83 performs A / D conversion on each output of the signal multiplexer 82 at high speed. A series of main signal data (X-ray beam amount detection data) thus obtained is stored in the data collection buffer 15 and processed by the CPU 11a.

【0009】なお、積分器811 〜81n において、ブ
ロック「RESET」は容量(コンデンサ)Cのリセッ
ト回路であり、タイミング発生部84のリセット信号R
Sが付勢されると、アナログスイッチS5が閉成され、
容量Cの電荷Qがリセット回路を介して放電される。ま
たブロック「AUTO ZERO」はオペアンプOAの
入力オフセット電圧キャリブレーション回路であり、タ
イミング発生部84のキャリブレーション信号CALが
付勢されると、アナログスイッチS6,S7が図示の反
対側に切替えられ、その時のオペアンプOAの出力電圧
が0Vとなる様にキャリブレーション回路のバイアス状
態が更新される。
In the integrators 81 1 to 81 n , a block “RESET” is a reset circuit of a capacitance (capacitor) C, and a reset signal R of a timing generator 84.
When S is energized, the analog switch S5 is closed,
The charge Q of the capacitor C is discharged via the reset circuit. The block "AUTO ZERO" is an input offset voltage calibration circuit of the operational amplifier OA, and when the calibration signal CAL of the timing generation unit 84 is activated, the analog switches S6 and S7 are switched to the opposite sides shown in FIG. The bias state of the calibration circuit is updated so that the output voltage of the operational amplifier OA becomes 0V.

【0010】ところで、上記では積分器811 がX線検
出器XD1の検出電流出力IB1を直接積分して対応す
る積分電圧信号V1を生成する場合を述べたが、これに
限らない。X線CT装置によっては、図の矢印で挿入す
る如く、X線検出器XD1の検出電流出力IB1を一旦
プリアンプPA1により電圧信号VB1に変換(対数変
換を含む)して後、積分器811 に入力する方式のもの
が存在する。
In the above, the case where the integrator 81 1 directly integrates the detected current output IB1 of the X-ray detector XD1 to generate the corresponding integrated voltage signal V1 has been described, but the present invention is not limited to this. Depending on the X-ray CT device, the detection current output IB1 of the X-ray detector XD1 is once converted into a voltage signal VB1 (including logarithmic conversion) by the preamplifier PA1 as shown by an arrow in the figure, and then converted to the integrator 81 1 . There are input methods.

【0011】この場合の積分器811 (オペアンプOA
1)の入力回路では、常に、 IB1=VB1/Rの関係が成り立つ、即ち、これを一
般的に言うと、積分器811 の入力電流Iiと入力電圧
Viとの間には、常に、 Ii=Vi/R の関係が成り立つため、これを上記電流積分の(1)式
に代入すると、積分器の出力電圧Voと入力電流Iiと
の間には(2)式、
In this case, the integrator 81 1 (the operational amplifier OA)
In the input circuit of 1), the relationship of IB1 = VB1 / R always holds. That is, generally speaking, the input current Ii and the input voltage Vi of the integrator 81 1 always have Ii. = Vi / R holds, and when this is substituted into the above-described equation (1) of current integration, the equation (2) is obtained between the output voltage Vo of the integrator and the input current Ii,

【0012】[0012]

【数2】 (Equation 2)

【0013】の関係がある。これは積分器の入力(信号
源)を電圧源とした場合であり、(2)式によれば積分
器の出力電圧Voは入力電圧Viを(1/C・R)の比
で積分する関係にある。そこで、本明細書ではこの容量
Cと抵抗Rとの積(C・R)を積分の時定数とも呼ぶ。
この場合の抵抗Rは積分動作(時定数)に寄与するもの
であることは明らかである。なお、以下の説明では上記
(1)式の電流積分に対応する構成を中心に述べるが、
必要に応じて上記(2)式の電圧積分に対応する構成に
ついても言及する。
There is a relationship as follows. This is a case where the input (signal source) of the integrator is a voltage source. According to the equation (2), the output voltage Vo of the integrator is a relation that integrates the input voltage Vi at a ratio of (1 / CR). It is in. Therefore, in this specification, the product (CR) of the capacitance C and the resistance R is also referred to as a time constant of integration.
It is clear that the resistance R in this case contributes to the integration operation (time constant). In the following description, the configuration corresponding to the current integration of the above equation (1) will be mainly described.
If necessary, a configuration corresponding to the voltage integration of the above equation (2) will be described.

【0014】従来は、係る構成により被検体100のX
線CT撮像を行うが、上記の如く、一般にX線CT装置
の撮像条件は被検体の体格や医療に基づく撮像目的等に
より大きく異なっており、これに応じてX線CT装置の
撮像パラメータ(X線管の管電圧kV,管電流mA,被
検体の体軸方向における検出幅Thic 及び被検体へのX
線照射時間Sec等)を広範囲に設定変更することが行わ
れる。
Conventionally, the X of the subject 100 is
X-ray CT imaging is performed. As described above, imaging conditions of an X-ray CT apparatus generally vary greatly depending on the physique of a subject, imaging purposes based on medical treatment, and the like. Tube voltage kV, tube current mA, detection width Thic of the subject in the body axis direction, and X to the subject
The line irradiation time Sec is changed over a wide range.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかるに、係る状況の
下で、従来のDASゲイン(即ち、積分器81の時定数
Cに相当)は撮像条件によらず一定のものに固定されて
いた為、撮像条件(管電圧kV,管電流mA等)の大き
さによっては、アンプA(即ち、サンプルホールド回路
SH)の出力電圧がA/D変換器83の変換上限値LI
Mに対してオーバレンジとなっていまい、それらの収集
データによってCT画像を再構成すると、ストリークア
ーチファクトや一部が黒く落ち込むアーチとなってい
た。
However, under such circumstances, the conventional DAS gain (that is, the time constant C of the integrator 81) is fixed to a constant value regardless of the imaging conditions. Depending on the magnitude of the imaging conditions (tube voltage kV, tube current mA, etc.), the output voltage of the amplifier A (that is, the sample-and-hold circuit SH) is changed to the conversion upper limit value LI of the A / D converter 83.
When the CT image is reconstructed with the acquired data, the streak artifact or an arch partly blackened was obtained.

【0016】以下、従来の積分器81の動作特性を具体
的に説明する。なお、以下の説明では積分器81の積分
出力VとA/D変換器83の変換出力上限値LIMとの
関係が問題となるため、説明の簡単の為に、アンプAの
利得は1であるとして説明を行う。即ち、以下の説明で
は積分器81の積分出力V=A/D変換器83の入力で
ある。
Hereinafter, the operation characteristics of the conventional integrator 81 will be specifically described. In the following description, the relationship between the integration output V of the integrator 81 and the conversion output upper limit LIM of the A / D converter 83 becomes a problem, and therefore, the gain of the amplifier A is 1 for simplicity. The description is made as follows. That is, in the following description, the integral output V of the integrator 81 is the input of the A / D converter 83.

【0017】図11は従来の積分器の動作特性を説明す
る図で、図11(A)は単位積分時間t2につき、大き
さの異なる電流(i1<i2<i3)が入力した時の積
分出力電圧(v1<v2<v3)の関係を示している。
ここで、LIMはA/D変換出力の上限値である。従来
のDASゲイン(積分器81の時定数Cに相当)は、入
力電流IBの大きさが例えばi2の時にその積分出力v
2が上限値LIMと等しくなる様に固定されていた。こ
のため、もしi2よりも大きい例えばi3が入力する
と、その積分出力電圧v3は図示の如く上限値LIMを
オーバしてしまい、そのA/D変換出力は上限値LIM
にクランプされていた。
FIG. 11 is a diagram for explaining the operation characteristics of the conventional integrator. FIG. 11A shows an integrated output when currents having different magnitudes (i1 <i2 <i3) are input per unit integration time t2. The relationship of voltage (v1 <v2 <v3) is shown.
Here, LIM is the upper limit of the A / D conversion output. The conventional DAS gain (corresponding to the time constant C of the integrator 81) is the integral output v when the magnitude of the input current IB is, for example, i2.
2 was fixed to be equal to the upper limit value LIM. Therefore, if, for example, i3 larger than i2 is input, the integrated output voltage v3 exceeds the upper limit LIM as shown in the figure, and the A / D conversion output becomes the upper limit LIM.
Was clamped to.

【0018】図11(B)は1ビュー分の主信号データ
(プロファイル)を示しており、横軸はX線検出器XD
1〜XDn(即ち、検出チャネルCH1〜CHn)に対
応している。図において、入力電流がi2を超えない検
出チャネルでは夫々に適正なA/D変換出力が得られる
が、入力電流がi2を超える検出チャネルではそのA/
D変換出力が上限値LIMにクランプされてしまうた
め、この様な主信号データはアーチファクトの原因とな
っていた。
FIG. 11B shows main signal data (profile) for one view, and the horizontal axis represents the X-ray detector XD.
1 to XDn (that is, detection channels CH1 to CHn). In the figure, an appropriate A / D conversion output is obtained in each of the detection channels whose input current does not exceed i2, but the A / D conversion output is obtained in each of the detection channels whose input current exceeds i2.
Since the D-converted output is clamped at the upper limit LIM, such main signal data causes an artifact.

【0019】本発明は上記従来技術の問題点に鑑みなさ
れたもので、その目的とする所は、常に最適レンジの撮
像データが容易に得られるX線ビーム量検出方法及びX
線CT装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and has as its object to provide an X-ray beam amount detection method and an X-ray beam amount detection method capable of easily obtaining imaging data in an optimum range.
An object of the present invention is to provide a line CT apparatus.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記の課題は例えば図1
の構成により解決される。即ち、本発明(1)のX線ビ
ーム量検出方法は、所定の撮像パラメータの下、X線管
40から被検体100に対してX線ビームを照射し、被
検体100を透過したX線ビームを検出し、その検出出
力を積分器811 〜81n で積分してX線ビーム量検出
電圧を生成し、その出力をA/D変換器83でA/D変
換してX線ビーム量検出データを得るX線ビーム量検出
方法において、撮像パラメータであるX線管40の管電
圧kV、管電流mA、被検体100の体軸方向における
検出幅Thic 及び被検体100へのX線照射時間Secの
内の何れか1又は2以上の撮像パラメータに応じて積分
器811 〜81n の時定数を変更するものである。
The above-mentioned problem is solved, for example, by referring to FIG.
Is solved. That is, the X-ray beam amount detection method of the present invention (1) irradiates the subject 100 with an X-ray beam from the X-ray tube 40 under predetermined imaging parameters, and transmits the X-ray beam transmitted through the subject 100. Is detected, the detection output is integrated by integrators 81 1 to 81 n to generate an X-ray beam amount detection voltage, and the output is A / D converted by an A / D converter 83 to detect the X-ray beam amount. In the X-ray beam amount detection method for obtaining data, tube voltages kV and tube current mA of the X-ray tube 40, the detection width Thic in the body axis direction of the subject 100, and the X-ray irradiation time Sec on the subject 100 are imaging parameters. The time constants of the integrators 81 1 to 81 n are changed according to any one or more of the imaging parameters.

【0021】本発明(1)によれば、X線CT撮像時の
撮像パラメータに応じて積分器81 1 〜81n の時定数
を変更可能とする構成により、被検体の体格や医療に基
づく撮像目的等によりX線CT撮像時の撮像パラメータ
が広範囲に設定変更されても、A/D変換器83に対し
てオーバレンジとならない様な常に最適レンジのX線ビ
ーム量検出電圧を生成可能となる。
According to the present invention (1), X-ray CT imaging
Integrator 81 according to imaging parameters 1~ 81nTime constant
Can be changed based on the physique and medical treatment of the subject.
Imaging parameters during X-ray CT imaging depending on the imaging purpose
Is changed over a wide range, the A / D converter 83
X-ray beam always in the optimal range to avoid overrange
It is possible to generate a beam amount detection voltage.

【0022】なお、上記積分器811 〜81n は被検体
100を透過したX線ビームの検出出力を積分してX線
ビーム量検出電圧を生成するが、このX線ビームの検出
出力には、X線ビームの検出電流及びX線ビームの検出
電圧が含まれる。
The integrators 81 1 to 81 n integrate the detection output of the X-ray beam transmitted through the subject 100 to generate an X-ray beam amount detection voltage. , X-ray beam detection current and X-ray beam detection voltage.

【0023】好ましくは本発明(2)においては、上記
本発明(1)において、A/D変換器83の変換上限値
をVLIM とする場合に、予め第1の撮像パラメータをX
線管40の管電圧kVs 、管電流mAs 、被検体100
の体軸方向における検出幅Thic s 及び被検体100へ
のX線照射時間Secs とする第1の撮像により被検体1
00の所望撮像領域についてのX線ビーム量検出データ
を収集し、かつ後に第2の撮像パラメータをX線管40
の管電圧kVa 、管電流mAa 、被検体100の体軸方
向における検出幅Thic a 及び被検体100へのX線照
射時間Seca とする第2の撮像を行うに際しては、前記
第1,第2の撮像パラメータの比Ratioを該両撮像パラ
メータの内の何れか1又は2以上の対応項目値の比又は
各比の積により求め、該第2の撮像で検出されるべきX
線ビーム量検出電圧が前記上限値VLIM を超えないため
の積分器811 〜81n の時定数を前記求めた比Ratio
を基に決定するものである。
Preferably, in the present invention (2), when the conversion upper limit value of the A / D converter 83 is V LIM in the present invention (1), the first imaging parameter is set to X in advance.
The tube voltage kV s , tube current mA s of the tube 40,
The first subject by the imaging to the X-ray irradiation time Sec s of the detection width THIC s and the subject 100 in the body axis direction 1
X-ray beam amount detection data for the desired imaging region of No. 00 is collected, and the second imaging parameter is later set to the X-ray tube 40.
Tube voltage kV a, tube current mA a, when performing a second imaging of the X-ray irradiation time Sec a to the detection width THIC a and the subject 100 in the body axis direction of the subject 100, the first, The ratio Ratio of the second imaging parameter is obtained from the ratio of one or more corresponding item values of the two imaging parameters or the product of the respective ratios, and X to be detected in the second imaging.
The time constant of the integrators 81 1 to 81 n for preventing the line beam amount detection voltage from exceeding the upper limit value V LIM is determined by the above-described ratio Ratio.
Is determined based on

【0024】本発明(2)によれば、予め第1の撮像で
採用した第1の撮像パラメータと後の第2の撮像時に設
定する第2の撮像パラメータとの間の何れか1又は2以
上の対応項目値の比(例えばmAa /mAs 等)又は各
比の積{例えば(mAa /mAs )×(Thic a /Thi
c s )×…等}を求め、得られた比Ratioを基に第2の
撮像時における積分器811 〜81n の時定数を決定す
る構成により、第2の撮像時における第2の撮像パラメ
ータがどの様に大きく設定変更されていても、第2の撮
像で検出されるべきX線ビーム量検出電圧がA/D変換
器83に対してオーバレンジしないばかりか、積分器8
1 〜81n のX線ビーム量検出電圧をA/D変換出力
の上限値VLIM を下回る線形のフルレンジで動作させる
ことが可能となり、よって常に最適レンジ(最適分解
能)の撮像データ(X線ビーム量検出データ)を取得可
能となる。
According to the present invention (2), at least one or more of the first imaging parameter previously adopted in the first imaging and the second imaging parameter set in the second imaging later. the ratio of the corresponding item value (e.g. mA a / mA s) or the product of the ratio {e.g. (mA a / mA s) × (Thic a / Thi
c s ) ×... are determined, and the time constants of the integrators 81 1 to 81 n during the second imaging are determined based on the obtained ratio Ratio. No matter how large the parameter is changed, not only does the X-ray beam amount detection voltage to be detected in the second imaging not overrange the A / D converter 83, but also the integrator 8
It is possible to operate the X-ray beam amount detection voltage of 1 1 to 81 n in a linear full range that is lower than the upper limit value V LIM of the A / D conversion output, so that the imaging data (X-ray Beam amount detection data).

【0025】また好ましくは、本発明(3)において
は、上記本発明(2)において、時定数は、第1,第2
の撮像パラメータの比Ratioと、第1の撮像で収集した
X線ビーム量検出データの内の最大値VMAX 及び又は最
小値VMIN とに基づいて決定するものである。
Preferably, in the present invention (3), in the above-mentioned present invention (2), the time constants are the first and second time constants.
And the maximum value V MAX and / or the minimum value V MIN of the X-ray beam amount detection data collected in the first imaging.

【0026】本発明(3)によれば、時定数の決定に際
しては、第1,第2の撮像パラメータの比Ratioを基準
とすることに加え、第1の撮像で収集したX線ビーム量
検出データの内の最大値VMAX 及び又は最小値VMIN
更に考慮に入れることにより、第1の撮像で収集したX
線ビーム量検出データを有効に活用できると共に、第2
の撮像時における時定数のよりきめ細かい設定が可能と
なる。
According to the present invention (3), in determining the time constant, the ratio between the first and second imaging parameters is used as a reference, and the amount of X-ray beams collected in the first imaging is detected. By further taking into account the maximum value V MAX and / or the minimum value V MIN of the data, the X
The line beam amount detection data can be used effectively,
, The time constant can be set more finely at the time of imaging.

【0027】具体的に言うと、例えば両者の差(VMAX
−VMIN )が小さい場合は、被検体100の体格が普通
以下である可能性が高く、よって両撮像パラメータの比
Ratioがこれを単独で評価すると多少大きくても、第2
の撮像時のデータ収集においてオーバレンジする可能性
は低く、よってこの場合の容量(時定数)Cを大きくし
ないことが可能である。一方、両者の差(VMAX −V
MIN )が大きい場合は、被検体100の体格が大きい可
能性が高く、よって両撮像パラメータの比Ratioがこれ
を単独で評価するとあまり大きくなくても、第2の撮像
時のデータ収集においてオーバレンジする可能性が高
く、よってこの場合は容量(時定数)Cを大きくするこ
とが可能である。
More specifically, for example, the difference between the two (V MAX
When −V MIN ) is small, it is highly possible that the physique of the subject 100 is lower than normal. Therefore, even if the ratio Ratio between the two imaging parameters is slightly large when this ratio is evaluated by itself, the second
Is unlikely to be over-ranged in the data collection at the time of imaging, so that the capacity (time constant) C in this case can be kept small. On the other hand, the difference (V MAX −V
When MIN ) is large, there is a high possibility that the physique of the subject 100 is large, and therefore, even if the ratio Ratio of the two imaging parameters is not so large when evaluated independently, the overrange in the data collection at the second imaging is large. Therefore, in this case, it is possible to increase the capacity (time constant) C.

【0028】上記の課題は例えば図1の構成により解決
される。即ち、本発明(4)のX線ビーム量検出方法
は、所定の撮像パラメータの下、X線管40から被検体
100に対してX線ビームを照射し、被検体100を透
過したX線ビームを検出し、その検出出力を積分器81
1 〜81n で積分してX線ビーム量検出電圧を生成し、
その出力をA/D変換器83でA/D変換してX線ビー
ム量検出データを得るX線ビーム量検出方法において、
A/D変換器83の変換上限値をVLIM とする場合に、
予めX線管40の管電流を所定値mAs とする第1の撮
像により被検体100の所望撮像領域についてのX線ビ
ーム量検出データを収集し、これらの内の体軸方向にお
ける最大値VMAX を検出すると共に、後に行う第2の撮
像で検出されるべきX線ビーム量検出電圧が前記上限値
LIM を超えないための管電流mA a を前記上限値V
LIM と最大値VMAX との比に基づいて求めるものであ
る。
The above-mentioned problem is solved by, for example, the configuration of FIG.
Is done. That is, the X-ray beam amount detection method of the present invention (4)
Is an object from the X-ray tube 40 under predetermined imaging parameters.
100 is irradiated with an X-ray beam,
The passed X-ray beam is detected, and the detected output is
1~ 81nTo generate an X-ray beam amount detection voltage,
The output is A / D converted by an A / D converter 83, and the
In the X-ray beam amount detection method for obtaining the system amount detection data,
The conversion upper limit value of the A / D converter 83 is VLIMAnd if
The tube current of the X-ray tube 40 is set to a predetermined value mA in advance.sFirst shooting
An X-ray image of a desired imaging area of the
Collect the volume detection data, and
Maximum value VMAXIs detected, and a second photographing performed later is performed.
X-ray beam amount detection voltage to be detected in an image is the upper limit value
VLIMTube current mA not to exceed aIs the upper limit value V
LIMAnd the maximum value VMAXIs calculated based on the ratio
You.

【0029】本発明(4)によれば、第2の撮像時の管
電流mAa を、A/D変換出力の上限値VLIM と、予め
第1の撮像で収集したX線ビーム両検出データの最大値
MA X との比(例えばVLIM /VMAX )に基づいて求め
る(予測する)構成により、第2の撮像時には適正な管
電流mAa が容易に設定可能となる。従って、第2の撮
像時のX線ビーム量検出電圧がA/D変換器83に対し
てオーバレンジとならないばかりか、例えば被検体10
0をA/D変換出力の上限値VLIM を僅かに下回る様な
最適のダイナミックレンジで撮像でき、よって最適レン
ジ(最適分解能)の撮像データ(X線ビーム量検出デー
タ)を容易に取得できる。
According to the present invention (4), the tube for the second imaging is provided.
Current mAaIs the upper limit value V of the A / D conversion output.LIMAnd in advance
Maximum value of both X-ray beam detection data collected in the first imaging
VMA X(For example, VLIM/ VMAX) Based on
(Predicting) the proper tube for the second imaging.
Current mAaCan be easily set. Therefore, the second shooting
The X-ray beam amount detection voltage at the time of image is supplied to the A / D converter 83
Not only overrange, but also
0 is the upper limit value V of the A / D conversion outputLIMSlightly below
Images can be taken with the optimal dynamic range, and therefore the optimal lens
Image data (X-ray beam amount detection data)
Can be easily obtained.

【0030】また上記の課題は例えば図1の構成により
解決される。即ち、本発明(5)のX線CT装置は、被
検体100を挟んで相対向するX線管40及び検出器7
0と、検出器70によるX線ビーム強度の検出出力を積
分して対応するX線ビーム量検出電圧を生成する積分器
811 〜81n と、積分器811 〜81n の出力電圧を
A/D変換するA/D変換器83とを備え、A/D変換
器83の出力のX線ビーム量検出データ(主信号デー
タ)に基づき被検体100の断層像を再構成するX線C
T装置において、撮像パラメータであるX線管40の管
電圧kV、管電流mA、被検体100の体軸方向におけ
る検出幅Thic 及び被検体100へのX線照射時間Sec
の内の何れか1又は2以上の撮像パラメータに応じて積
分器811〜81n の時定数(例えば抵抗値R1〜R4
及び又は容量値C1〜C4)が可変に構成されているも
のである。
The above-mentioned problem can be solved, for example, by the structure shown in FIG. That is, the X-ray CT apparatus of the present invention (5) includes the X-ray tube 40 and the detector 7 which face each other across the subject 100.
0, the integrators 81 1 to 81 n for integrating the detection output of the X-ray beam intensity by the detector 70 to generate a corresponding X-ray beam amount detection voltage, and the output voltages of the integrators 81 1 to 81 n as A An A / D converter 83 for performing A / D conversion, and an X-ray C that reconstructs a tomographic image of the subject 100 based on X-ray beam amount detection data (main signal data) output from the A / D converter 83
In the T device, tube voltages kV and tube current mA of the X-ray tube 40, which are imaging parameters, a detection width Thic in the body axis direction of the subject 100, and an X-ray irradiation time Sec on the subject 100
The time constants of the integrators 81 1 to 81 n (for example, the resistance values R 1 to R 4) in accordance with one or more of the imaging parameters
And / or the capacitance values C1 to C4) are variably configured.

【0031】なお、上記積分器811 〜81n は検出器
70によるX線ビーム強度の検出出力を積分して対応す
るX線ビーム量検出電圧を生成するが、このX線ビーム
の検出出力には、検出器70によるX線ビームの検出電
流及び検出器70によるX線ビームの検出電流を例えば
プリアンプPA1〜PAnで電流−電圧変換(対数変換
等を含む)した検出電圧が含まれる。
The integrators 81 1 to 81 n integrate the detection output of the X-ray beam intensity by the detector 70 to generate a corresponding X-ray beam amount detection voltage. Includes the detection current of the X-ray beam detected by the detector 70 and the detection voltage obtained by current-voltage conversion (including logarithmic conversion or the like) of the detection current of the X-ray beam detected by the detector 70 by, for example, the preamplifiers PA1 to PAn.

【0032】好ましくは本発明(6)においては、上記
本発明(5)において、A/D変換の上限値をVLIM
するA/D変換器83と、予め第1の撮像パラメータを
X線管の管電圧kVs 、管電流mAs 、被検体の体軸方
向における検出幅Thic s 及び被検体へのX線照射時間
Secs とする第1の撮像により被検体の所望撮像領域に
ついてのX線ビーム量検出データを収集する撮像制御部
(中央処理装置)11と、前記撮像制御部が後に第2の
撮像パラメータをX線管の管電圧kVa 、管電流m
a 、被検体の体軸方向における検出幅Thic a 及び被
検体へのX線照射時間Seca とする第2の撮像を行うに
際して、前記第1,第2の撮像パラメータの比Ratioを
該両撮像パラメータの内の何れか1又は2以上の対応項
目値の比又は各比の積により求める比演算手段3と、前
記第2の撮像で検出されるべきX線ビーム量検出電圧が
前記上限値VLIM を超えないための積分器811 〜81
n の時定数を前記求めた比Ratioを基に選択する選択制
御手段4とを備える。
Preferably, in the present invention (6), in the above-mentioned present invention (5), an A / D converter 83 having an upper limit value of A / D conversion of V LIM and an X-ray tube voltage kV s of the tube, tube current mA s, X for a desired imaging area of the first object by the imaging to the X-ray irradiation time Sec s to detection width THIC s and the subject in the body axis direction of the subject An imaging control unit (central processing unit) 11 for collecting line beam amount detection data, and the imaging control unit later sets a second imaging parameter to a tube voltage kV a of the X-ray tube, a tube current m
A a, when performing a second imaging of the X-ray irradiation time Sec a to the detection width THIC a and subject in the body axis direction of the subject, the first, the ratio Ratio of the second imaging parameters the both A ratio calculating means 3 for calculating a ratio of one or more corresponding item values of the imaging parameters or a product of the respective ratios, and an X-ray beam amount detection voltage to be detected in the second imaging is the upper limit value Integrators 81 1 to 81 for not exceeding V LIM
selection control means 4 for selecting a time constant of n based on the determined ratio Ratio.

【0033】好ましくは本発明(7)においては、上記
本発明(6)において、選択制御手段4は、第1,第2
の撮像パラメータの比Ratioと、第1の撮像で収集した
X線ビーム量検出データの内の最大値VMAX 及び又は最
小値VMIN とに基づいて積分器811 〜81n の時定数
を選択する。
Preferably, in the present invention (7), in the above present invention (6), the selection control means 4
The time constant of the integrators 81 1 to 81 n is selected based on the ratio Ratio of the imaging parameters and the maximum value V MAX and / or the minimum value V MIN of the X-ray beam amount detection data collected in the first imaging. I do.

【0034】また上記の課題は例えば図1の構成により
解決される。即ち、本発明(8)のX線CT装置は、被
検体100を挟んで相対向するX線管40及び検出器7
0と、検出器70によるX線ビーム強度の検出出力を積
分して対応するX線ビーム量検出電圧を生成する積分器
811 〜81n と、積分器811 〜81n の出力電圧を
A/D変換するA/D変換器83とを備え、A/D変換
器83の出力のX線ビーム量検出データに基づき被検体
の断層像を再構成するX線CT装置において、A/D変
換の上限値をVLIM とするA/D変換器83と、予めX
線管40の管電流を所定値mAs とする第1の撮像によ
り被検体100の所望撮像領域についてのX線ビーム量
検出データを収集する撮像制御部11と、前記収集した
X線ビーム量検出データの内の体軸方向における最大値
MAX を検出する最大値検出手段1と、前記撮像制御部
11により後に行われる第2の撮像において検出される
べきX線ビーム量検出電圧が前記上限値VLIM を超えな
いための管電流mAa を前記上限値VLIM と最大値V
MAX との比に基づいて求める管電流演算手段2とを備え
るものである。
The above-mentioned problem can be solved, for example, by the structure shown in FIG. That is, the X-ray CT apparatus of the present invention (8) includes the X-ray tube 40 and the detector 7 that face each other across the subject 100.
0, the integrators 81 1 to 81 n for integrating the detection output of the X-ray beam intensity by the detector 70 to generate a corresponding X-ray beam amount detection voltage, and the output voltages of the integrators 81 1 to 81 n as A An A / D converter 83 for reconstructing a tomographic image of a subject based on the X-ray beam amount detection data output from the A / D converter 83 is provided. A / D converter 83 whose upper limit value is V LIM ,
An imaging control unit 11 for collecting X-ray beam quantity detection data of the desired imaging region of the object 100 by the first imaging of the tube current of the line pipe 40 to a predetermined value mA s, the collected X-ray beam quantity detection A maximum value detecting means 1 for detecting a maximum value V MAX in the body axis direction of the data; and an X-ray beam amount detection voltage to be detected in a second imaging performed later by the imaging control unit 11 is the upper limit value. the tube current mA a for not exceeding V LIM upper limit V LIM and the maximum value V
And a tube current calculating means 2 for obtaining a value based on the ratio to MAX .

【0035】[0035]

【発明の実施の形態】以下、添付図面に従って本発明に
好適なる実施の形態を詳細に説明する。なお、全図を通
して同一符号は同一又は相当部分を示すものとする。図
2は実施の形態によるX線CT装置のブロック図で、図
において、10はユーザが操作する操作コンソール、2
0は被検体を載せて体軸方向に移動させる撮影テーブ
ル、30はX線のファンビーム等により被検体のAxial
/Hericl スキャン・読取を行う走査ガントリである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. Note that the same reference numerals indicate the same or corresponding parts throughout the drawings. FIG. 2 is a block diagram of the X-ray CT apparatus according to the embodiment. In the figure, reference numeral 10 denotes an operation console operated by a user;
Reference numeral 0 denotes an imaging table on which the subject is placed and moved in the body axis direction. Reference numeral 30 denotes an Axial of the subject by an X-ray fan beam or the like.
/ Hericl A scanning gantry for scanning and reading.

【0036】走査ガントリ30において、40はX線
管、41はX線の照射タイミング(被検体へのX線照射
時間Secに対応)やX線の強度(管電圧kV,管電流m
A)を制御するX線制御部、50はX線の曝射範囲を制
限するコリメータ、51はX線の透過スリット幅(被検
体の体軸方向における検出幅Thic に対応)や位置を調
整するコリメータ制御部、60はX線管40やX線検出
器アレイ70等を被検体の体軸の回りに回転させる回転
制御部、70は多数(例えばn=1000)のX線検出
器が円弧状の例えば一列に配列されているX線検出器ア
レイ、80はX線検出器アレイの検出データを収集する
データ収集部(DAS)である。
In the scanning gantry 30, 40 is an X-ray tube, 41 is X-ray irradiation timing (corresponding to the X-ray irradiation time Sec to the subject) and X-ray intensity (tube voltage kV, tube current m
A) an X-ray control unit for controlling A), 50 a collimator for limiting the X-ray exposure range, and 51 adjusting the X-ray transmission slit width (corresponding to the detection width Thic in the body axis direction of the subject) and position. A collimator control unit 60 is a rotation control unit for rotating the X-ray tube 40, the X-ray detector array 70, and the like around the body axis of the subject, and a large number (for example, n = 1000) of X-ray detectors are arc-shaped For example, an X-ray detector array 80 is arranged in a line, and a data acquisition unit (DAS) 80 collects detection data of the X-ray detector array.

【0037】操作コンソール10において、11はX線
CT装置の主制御・処理(スキャン制御,CT画像再構
成処理等)を行う中央処理装置、12は操作者の指示や
情報等を受け付ける入力装置、13はスキャンプロトコ
ル(撮像パラメータkV,mA,Sec,Thic 等)やC
T再構成画像を表示するための表示装置(CRT)、1
4は走査ガントリ30や撮影テーブル20に各種制御信
号等を出力する制御インタフェース、15はデータ収集
部80からの主信号データを蓄積するデータ収集バッフ
ァ、16はX線CT装置の運用に必要な各種データやア
プリケーションプログラム等を記憶している二次記憶装
置(Disk等)である。
In the operation console 10, reference numeral 11 denotes a central processing unit that performs main control and processing (scan control, CT image reconstruction processing, etc.) of the X-ray CT apparatus, 12 denotes an input device that receives instructions and information of an operator, 13 is a scanning protocol (imaging parameters kV, mA, Sec, Thic, etc.) and C
A display device (CRT) for displaying a T-reconstructed image;
Reference numeral 4 denotes a control interface for outputting various control signals and the like to the scanning gantry 30 and the imaging table 20, reference numeral 15 denotes a data collection buffer for storing main signal data from the data collection unit 80, and reference numeral 16 denotes various types of data necessary for operation of the X-ray CT apparatus. A secondary storage device (such as a disk) that stores data, application programs, and the like.

【0038】図3は実施の形態によるデータ収集部(D
AS)のブロック図である。本実施の形態による積分器
811 〜81n は積分の時定数Cを所望に設定変更可能
とするために複数の容量値C1〜C4からなるコンデン
サC1〜C4(以下、容量C1〜C4と呼ぶ)を並列に
備えており、該容量C1〜C4はアナログスイッチAS
Wにより抵抗Rに切替接続可能に構成されている。即
ち、CPU11aからの選択指令SLは制御インタフェ
ース14を介して積分器811 〜81n の各デコーダD
ECに加えられ、選択指令SLに対応する1又は2以上
のスイッチS1〜S4が閉成される。これにより積分器
811 〜81n の時定数Cを微小〜広範囲に変更可能で
ある。ここで、容量C1〜C4の値はC1<C2<C3
<C4の関係にあるものとする。
FIG. 3 shows a data collection unit (D) according to the embodiment.
AS) is a block diagram. The integrators 81 1 to 81 n according to the present embodiment have capacitors C 1 to C 4 (hereinafter, referred to as capacitors C 1 to C 4) including a plurality of capacitance values C 1 to C 4 so that the integration time constant C can be set and changed as desired. ) Are provided in parallel, and the capacitors C1 to C4 are connected to the analog switch AS.
It is configured to be switchable and connectable to a resistor R by W. That is, the selection command SL from the CPU 11a is transmitted via the control interface 14 to each of the decoders D of the integrators 81 1 to 81 n.
In addition to EC, one or more switches S1 to S4 corresponding to the selection command SL are closed. Thereby, the time constant C of the integrators 81 1 to 81 n can be changed in a minute to wide range. Here, the values of the capacitors C1 to C4 are C1 <C2 <C3.
<C4 is assumed.

【0039】なお、図の挿入矢印で示す如く、X線検出
器XD1〜XDnの各出力にプリアンプPA1〜PAn
を挿入して、予め積分器811 〜81n への入力電流I
B1〜IBnを対応する電圧信号VB1〜VBnに変換
(対数変換を含む)する様なX線CT装置においては、
上記1又は2以上の容量C1〜C4を選択する構成に代
えて、例えば一つの容量Cと、及び図の抵抗Rに代えて
該回路に複数の抵抗R1〜R4等を直列又は並列に備
え、該抵抗R1〜R4をアナログスイッチASWで選択
する様に構成しても良い。こうすれば、積分器811
81n の時定数(C・R)を変更可能となる。又は複数
の容量C1〜C4及び抵抗R1〜R4を備え、これらの
接続の組合せを変える様に構成しても良い。
As shown by the insertion arrows in the figure, the preamplifiers PA1 to PAn are connected to the respective outputs of the X-ray detectors XD1 to XDn.
And input current I to integrators 81 1 to 81 n in advance.
In an X-ray CT apparatus that converts B1 to IBn into corresponding voltage signals VB1 to VBn (including logarithmic conversion),
Instead of the configuration of selecting one or two or more capacitors C1 to C4, for example, a single capacitor C and a plurality of resistors R1 to R4 or the like are provided in series or in parallel in the circuit instead of the resistor R in the drawing, The resistors R1 to R4 may be configured to be selected by the analog switch ASW. In this case, the integrators 81 1-
The time constant (CR) of 81 n can be changed. Alternatively, a plurality of capacitors C1 to C4 and resistors R1 to R4 may be provided to change the combination of these connections.

【0040】以下、本実施の形態によるX線CT装置を
使用した撮像の動作を具体的に説明する。図4,図5は
実施の形態によるスカウト(Scout)スキャンの動
作説明図(1),(2)で、図4は被検体(患者)10
0の体格が普通の場合を示している。ここで、スカウト
スキャンとは、続く本スキャンを適正に行うための最適
撮像パラメータを得る目的で、本スキャンの前に行われ
る透視撮像を言う。また本スキャン(Axial/Helical
Scan)とは、医療目的に従って被検体100から所望
の撮像データを得る目的で行う撮像を言う。
Hereinafter, the operation of imaging using the X-ray CT apparatus according to the present embodiment will be specifically described. 4 and 5 are operation explanatory diagrams (1) and (2) of a scout scan according to the embodiment, and FIG.
The case where the physique of 0 is normal is shown. Here, the scout scan refers to fluoroscopic imaging performed before the main scan in order to obtain optimal imaging parameters for appropriately performing the subsequent main scan. In addition, this scan (Axial / Helical
“Scan” refers to imaging performed for the purpose of obtaining desired imaging data from the subject 100 in accordance with a medical purpose.

【0041】図4(c)において、撮影テーブル20の
上には普通の体格の被検体100が載っている。被検体
100の体軸(Z軸)方向の基準点をZ0とする時に、
今、Z0−10cm〜Z0+10cmの範囲を本スキャ
ンするとすると、この範囲で予め粗い精度(飛び飛びの
スライス位置)のスカウトスキャンを行う。この時、撮
影テーブル20は矢印a方向に移動する。またこのスカ
ウトスキャンは、例えば図4(a)に示す如く、被検体
100を真上から見下ろす角度(例えば0°)について
行う。また更に必要なら、例えば図4(b)に示す如
く、被検体100を真横から見る角度(例えば90°)
について行っても良い。
In FIG. 4C, a subject 100 having a normal physique is placed on the imaging table 20. When the reference point in the body axis (Z-axis) direction of the subject 100 is Z0,
Now, assuming that the main scan is performed in the range of Z0−10 cm to Z0 + 10 cm, a scout scan with coarse accuracy (intermittent slice positions) is performed in advance in this range. At this time, the imaging table 20 moves in the direction of arrow a. Also, this scout scan is performed at an angle (for example, 0 °) at which the subject 100 is looked down from directly above as shown in FIG. Further, if necessary, for example, as shown in FIG. 4B, the angle at which the subject 100 is viewed from the side (for example, 90 °).
May be followed.

【0042】図4(d)に表示装置13上の撮像パラメ
ータの表示例を示す。好ましくは、このスカウトスキャ
ンは被検体100の被曝量が少ない態様で行われ、その
プロトコル(撮像パラメータ)の設定は例えば以下の通
りである。
FIG. 4D shows a display example of the imaging parameters on the display device 13. Preferably, this scout scan is performed in a mode in which the amount of exposure of the subject 100 is small, and the protocol (imaging parameter) setting is as follows, for example.

【0043】 X線管の管電圧(kVs )=120kV X線管のフィラメント電流(mAs )=20mA 被検体のスライス厚(Thic s )=1mm スカウトスキャンのX線照射時間をガントリ1回転分に
換算した時間(スキャンタイムに相当)( Secs )=1
Sec なお、スキャンタイムについては、Axialスキャンでは
ガントリ1回転分のX線照射時間を表し、またスカウト
スキャンではトータルのX線照射時間を表す。そこで、
上記スカウトスキャンにおけるスキャンタイムの設定
は、スカウトスキャンのトータルのX線照射時間をガン
トリ1回転分に換算した時間とし、これにより後述の本
(Axial)スキャンにおけるスキャンタイムと比較可能
なものにしている。
Tube voltage of the X-ray tube (kV s ) = 120 kV Filament current of the X-ray tube (mA s ) = 20 mA Slice thickness of the subject (Thic s ) = 1 mm The X-ray irradiation time of the scout scan is set for one rotation of the gantry. Time (corresponding to scan time) (Sec s ) = 1
The scan time indicates the X-ray irradiation time for one rotation of the gantry in the Axial scan, and the total X-ray irradiation time in the Scout scan. Therefore,
The scan time in the scout scan is set to a time obtained by converting the total X-ray irradiation time of the scout scan into one rotation of the gantry, and can be compared with a scan time in a main (Axial) scan described later. .

【0044】また、上記のプロトコル設定は積分器81
の時定数が比較的小さくてもDASゲインがオーバレン
ジしない範囲のものであり、これに応じて積分器81の
例えば最適の容量C2が選択される。なお、このプロト
コル設定はユーザがスカウトスキャンの度に任意値を設
定しても良いし、又は上記プロトコル設定値をデフォル
ト情報として保持しておき、スカウトスキャンの度に自
動的に設定される様にしても良い。
The above protocol setting is performed by the integrator 81.
Is within a range where the DAS gain does not over-range even if the time constant of the integrator 81 is relatively small, and for example, the optimum capacity C2 of the integrator 81 is selected. The user may set an arbitrary value for this protocol setting every time a scout scan is performed, or hold the above protocol setting value as default information and automatically set the protocol setting every time a scout scan is performed. May be.

【0045】図4(e)〜(g)に上記スカウトスキャ
ンにより得られたX線ビーム量検出データ(A/D変換
後の主信号データ)のプロファイル例を示す。図4
(e)は撮像開始位置におけるある角度(例えば0°)
のVEW1に対応しており、チャネルCH1〜CHnに
つき図示のようなデータプロファイルP1sが得られ
た。ここで、LIMはA/D変換器83の変換上限値、
MAXV1は撮像(チャネル方向)の注目領域における
X線ビーム量検出データの最大値である。同様にして図
4(f),(g)は撮像の中間及び最後における上記あ
る角度(0°)のVEWi,VEWkに夫々対応してお
り、チャネルCH1〜CHnにつき夫々図示のような各
データプロファイルPis,Pks並びに夫々の最大値
MAXVi,MAXVkが得られた。実際には更に多く
の角度やスライス位置のデータプロファイルを収集可能
である。
FIGS. 4E to 4G show examples of profiles of X-ray beam amount detection data (main signal data after A / D conversion) obtained by the above scout scan. FIG.
(E) is a certain angle (for example, 0 °) at the imaging start position
, And a data profile P1s as shown is obtained for the channels CH1 to CHn. Here, LIM is a conversion upper limit value of the A / D converter 83,
MAXV1 is the maximum value of the X-ray beam amount detection data in the region of interest in imaging (channel direction). Similarly, FIGS. 4F and 4G respectively correspond to VEWi and VEWk at the above-mentioned certain angle (0 °) in the middle and at the end of the imaging, and each data profile as shown for the channels CH1 to CHn. Pis, Pks and their respective maximum values MAXVi, MAXVk were obtained. Actually, data profiles of more angles and slice positions can be collected.

【0046】なお、この例の各最大値MAXV1〜MA
XVkは夫々airを介した(即ち、被検体100を介
さない)X線ビーム量検出データに相当しており、これ
らはX線管40の略曝射エネルギーを一様に反映したも
のとなっている。即ち、この場合の各最大値MAXV1
〜MAXVkは略同一である。
The maximum values MAXV1-MA of this example
XVk corresponds to X-ray beam amount detection data that has passed through the air (that is, does not pass through the subject 100), and these uniformly reflect the substantially irradiation energy of the X-ray tube 40. I have. That is, each maximum value MAXV1 in this case
MAXVk are substantially the same.

【0047】ところで、X線管40の射出面に所要のフ
ィルタ(水等)を設ける場合があり、この場合の各デー
タプロファイルP1s〜Pksの両端部は、図の点線で
示す如く、減衰されたものとなっている。従って、この
場合の各データプロファイルP1s〜Pksはフィルタ
と被検体100の各減衰特性が重畳されたものとなり、
注目領域における各最大値MAXV1〜MAXVkは必
ずしも略同一とはならない。
In some cases, a required filter (water or the like) is provided on the emission surface of the X-ray tube 40. In this case, both ends of each data profile P1s to Pks are attenuated as shown by the dotted lines in the figure. It has become something. Accordingly, the data profiles P1s to Pks in this case are obtained by superimposing the respective attenuation characteristics of the filter and the subject 100,
Each of the maximum values MAXV1 to MAXVk in the attention area is not always substantially the same.

【0048】更に、この例では被検体100の体格が普
通であるため、X線の被検体100による減衰量もあま
り大きくなく、よって各データプロファイルP1s〜P
ksにつき、そのX線ビーム量検出データが「0」以外
の有為な値を持つ最小値MINV1〜MINVkが検出
されている。従って、この場合は減衰量の振幅(MAX
V−MINV)を検出可能であり、逆に本装置は、この
ことから被検体100の体格が普通(又は幾分小柄) で
あることを認識できる。
Further, in this example, since the physique of the subject 100 is normal, the amount of attenuation of the X-rays by the subject 100 is not so large, so that the data profiles P1s to P1s
For ks, the minimum values MINV1 to MINVk whose X-ray beam amount detection data has a significant value other than “0” are detected. Therefore, in this case, the amplitude of the attenuation (MAX
V-MINV) can be detected, and conversely, the present apparatus can recognize that the physique of the subject 100 is normal (or somewhat small) from this.

【0049】更に、図4(e)〜(g)を参照すると、
各データプロファイルP1s〜Pksは、X線の曝射出
エネルギー(管電流mAs 等)が低い結果、X線ビーム
量検出データは比較的低いダイナミックレンジで推移し
ており、A/D変換器83の変換レンジをフルに活用す
るものとはなっていない。従って、これは続く本スキャ
ンのための必ずしも最適の撮像プロトコルとは言えな
い。
Further, referring to FIGS. 4 (e) to 4 (g),
Each data profile P1s~Pks is, X-rays of the exposure output energy (tube current mA s etc.) is low results, X-rays beam weight detection data has remained at a relatively low dynamic range, the A / D converter 83 It does not fully utilize the conversion range. Therefore, this is not necessarily the optimal imaging protocol for the subsequent main scan.

【0050】図5は被検体(患者)100の体格が大き
い場合を示している。ここで図5(a)〜図5(c)の
説明は上記図4(a)〜図4(c)と同様である。図5
(d)において、このスカウトスキャンでは被検体10
0の体格が大きいことを考慮して少し大きめの管電流m
A(=30mA)が採用されている。
FIG. 5 shows a case where the size of the subject (patient) 100 is large. Here, the description of FIGS. 5 (a) to 5 (c) is the same as that of FIGS. 4 (a) to 4 (c). FIG.
In (d), in this scout scan, the subject 10
A slightly larger tube current m in consideration of the large physique of 0
A (= 30 mA) is adopted.

【0051】図5(e)〜(g)にこのスカウトスキャ
ンにより得られたX線ビーム量検出データのプロファイ
ル例を示す。この場合の各データプロファイルP1s〜
Pksは、上記X線管40の曝射エネルギー(管電流m
s )を高めた結果、これを反映して各最大値MAXV
1〜MAXVkは一様にそのレベルが高くなっている。
しかるに、この被検体100の体格は極めて大きいた
め、X線の被検体100による減衰量が極めて大きく、
例えば図5(f),(g)に示す如く、これらのスライ
ス位置では、プロファイルデータPis,Pksの一部
がレベル0となっていしまい、図の点線で示す様な有為
な最小値MINVi,MINVkを検出出来ない状態と
なっている。即ち、逆に本装置は、このことから被検体
100の体格が大きいことを認識できる。またこの例の
場合も、このスカウトスキャンで採用したプロトコルは
続く本スキャンのための必ずしも最適の撮像プロトコル
とは言えない。
FIGS. 5E to 5G show examples of profiles of X-ray beam amount detection data obtained by the scout scan. In this case, each data profile P1s ~
Pks is the irradiation energy of the X-ray tube 40 (tube current m
Result of enhanced A s), each of the maximum value to reflect this MAXV
The levels of 1 to MAXVk are uniformly higher.
However, since the physique of the subject 100 is extremely large, the amount of X-ray attenuation by the subject 100 is extremely large,
For example, as shown in FIGS. 5F and 5G, at these slice positions, some of the profile data Pis and Pks are at level 0, and a significant minimum value MINVi, MINVk cannot be detected. That is, on the contrary, the present apparatus can recognize that the physique of the subject 100 is large from this. Also in this case, the protocol adopted in this scout scan is not necessarily the optimal imaging protocol for the subsequent main scan.

【0052】そこで、本実施の形態ではこの様なスカウ
トスキャンで得られた撮像データを基に、X線ビーム量
検出データ(正確には、A/D変換器83の入力)がオ
ーバレンジしない範囲内で最適の本スキャンを行う。以
下、この制御・処理を具体的に説明する。
Therefore, in the present embodiment, based on the imaging data obtained by such a scout scan, the range in which the X-ray beam amount detection data (accurately, the input of the A / D converter 83) does not over-range. Perform the most suitable main scan within. Hereinafter, this control and processing will be specifically described.

【0053】図6は実施の形態によるオーバレンジ回避
処理のフローチャートで、ここには上記スカウトスキャ
ンにより得られた主信号データ等を基に、続く本スキャ
ンを最適レンジで行う為の一連の処理が示され、この処
理は図3のCPU11aにより実行される。ステップS
1ではスカウトスキャンの上記プロトコル(撮像パラメ
ータ等)の設定を行う。なお、この時、上記管電流mA
s 以外の各撮像パラメータは、続く本スキャン時のプロ
トコルと同一に合わせておくことが可能である。こうす
れば、本スキャン時には管電流mAa のみを変更(上
昇)させれば良く、この設定方法を採用すれば後述の処
理により本スキャン時の最適管電流mAa(同時に、D
ASゲイン)を正確に予測可能となる。勿論、このスカ
ウトスキャン時のプロトコル設定を、本スキャン時とは
無関係の任意値に設定できることは言うまでも無い。
FIG. 6 is a flowchart of the overrange avoiding process according to the embodiment. Here, a series of processes for performing the subsequent main scan in the optimum range based on the main signal data and the like obtained by the scout scan are described. This processing is executed by the CPU 11a of FIG. Step S
In step 1, the above-described protocol (imaging parameters and the like) of the scout scan is set. At this time, the tube current mA
Each imaging parameter other than s can be set to be the same as the protocol for the subsequent main scan. In this way, when the scanning it is sufficient only to change (increase) the tube current mA a, this by adopting a method for setting the process described below in the main scan optimum tube current mA a (simultaneously, D
AS gain) can be accurately predicted. Of course, it goes without saying that the protocol setting at the time of the scout scan can be set to an arbitrary value irrelevant to the time of the main scan.

【0054】ステップS2では1ビュー(ある角度にお
けるあるスライス位置)のスキャンを行う。ステップS
3ではチャネルCH1〜CHnの各X線ビーム量検出デ
ータ(A/D変換出力)をデータ収集バッファ15に収
集する。ステップS4では収集データにつき、必要な
ら、所定のデータ補正処理(所謂リファレンス補正,チ
ャネル間感度補正等)を行う。ステップS5では所望
(スカウトスキャン計画)エリアの全スキャン終了か否
かを判別し、終了でない場合はステップS2の処理に戻
る。
In step S2, scanning of one view (a certain slice position at a certain angle) is performed. Step S
In step 3, the X-ray beam amount detection data (A / D conversion output) of each of the channels CH1 to CHn is collected in the data collection buffer 15. In step S4, if necessary, predetermined data correction processing (so-called reference correction, inter-channel sensitivity correction, etc.) is performed on the collected data. In step S5, it is determined whether or not all scans in the desired (scout scan plan) area have been completed. If not, the process returns to step S2.

【0055】また、やがて、全スキャン終了の場合はス
テップS6に進み、注目領域の全プロファイルデータに
つき最大のX線ビーム量検出データVmax を抽出する。
上記図4(e)〜(g)の例では、例えばMAXVi>
MAXVk>MAXV1の関係にあり、よって注目領域
の最大値Vmax =MAXViである。更にこのステップ
S6では上記全プロファイルデータにつき最小のX線ビ
ーム量検出データVmin を抽出する。CPU11aは、
この最小値Vmin >0の場合は被検体100の体格が普
通以下と判断でき、また最小値Vmin =0の場合は被検
体100の体格が大きいと判断できる。そして、ステッ
プS7では本スキャン時の管電流mAaを(3)式、
When all the scans are completed, the flow advances to step S6 to extract the maximum X-ray beam amount detection data Vmax for all the profile data in the target area.
In the examples of FIGS. 4E to 4G, for example, MAXVi>
MAXVk> MAXV1, so that the maximum value Vmax = MAXVi of the attention area. Further, in this step S6, the minimum X-ray beam amount detection data Vmin is extracted from all the profile data. The CPU 11a
When the minimum value Vmin> 0, the physique of the subject 100 can be determined to be less than normal, and when the minimum value Vmin = 0, the physique of the subject 100 can be determined to be large. Then, in step S7 the tube current mA a of the main scan (3),

【0056】[0056]

【数3】 (Equation 3)

【0057】により求める。ここで、もし係数α=1と
すると、管電流mAa は管電流mAsにおける最大値V
max を本スキャン時にA/D変換器83の上限値VLIM
にまで引き上げる様な管電流となる。なお実際上は、例
えばα=0.9とすることで、本スキャン時のダイナミ
ックレンジに少し余裕を持たせる。ステップS8では上
記得られた管電流mAa を表示装置13に表示する。同
時に、上記抽出された最大値Vmax ,最小値Vmin (=
0も含む)を表示しても良い。
Is obtained by Here, if the a coefficient alpha = 1, the tube current mA a maximum in the tube current mA s V
max is the upper limit value V LIM of the A / D converter 83 during the main scan.
The tube current is as high as In practice, for example, by setting α = 0.9, a margin is given to the dynamic range at the time of the main scan. In step S8 is displayed on the display device 13 the resulting tube current mA a. At the same time, the extracted maximum value V max and minimum value Vmin (=
0 (including 0).

【0058】ステップS9では、ユーザが、本スキャン
のためのプロトコルを設定する。その際には、好ましく
は上記最適のダイナミックレンジを得るための管電流m
aの表示値が参考にされる。そして、もし管電流mA
以外の各撮像パラメータがスカウトスキャン時と本スキ
ャン時とで同一でも良い場合は、ユーザは管電流mA a
のみを設定すれれば良い。又は上記表示れた管電流mA
a を自動的に採用できる。勿論、この本スキャンの全撮
像パラメータの設定を、上記スカウトスキャン時とは無
関係に任意値に設定できることは言うまでも無い。
In step S9, the user sets the main scan
Set the protocol for In that case, preferably
Is the tube current m for obtaining the above optimum dynamic range.
AaThe displayed value of is referred to. And if the tube current mA
Each imaging parameter other than
In the case where the same may be used at the time of the scan, the user may select the tube current mA. a
All you need to do is set. Or the tube current mA indicated above
aCan be automatically adopted. Of course, this full scan
The setting of the image parameter is
It goes without saying that the relationship can be set to an arbitrary value.

【0059】上記いずれにしても、続くステップS10
では、本スキャン時とスカウトスキャン時との間の撮像
パラメータ(撮像エネルギー)の比Ratioを(4)式、
In any case, the following step S10
Then, the ratio Ratio of the imaging parameters (imaging energy) between the main scan and the scout scan is expressed by Equation (4),

【0060】[0060]

【数4】 (Equation 4)

【0061】により求める。ここで、例えばβ=3であ
る。なお、実際上は、両スキャンの間で常に比が1又は
他の一定値となる様なパラメータ要素も存在し得るの
で、上記比Ratioの式は少なくとも両スキャン間で変化
の生じ得る1又は2以上のパラメータ要素の比又は各比
の積となっていれば良い。因みに、管電流mA以外の全
パラメータの比が一定値γ(不変化)の用途では、 Ratio=γ×(mAa /mAs )=γ×α×(VLIM
max ) の関係となり、ユーザが上記ステップS9で本スキャン
時の管電流mAa を設定入力するまでもなく、上記ステ
ップS7では本スキャン時のための最適の管電流mAa
が、また上記ステップS10では両スキャン間の撮像エ
ネルギーの比Ratioが夫々自動的に求まる。
Is determined by Here, for example, β = 3. In practice, there may be a parameter element such that the ratio always becomes 1 or another constant value between the two scans. Therefore, the above expression of the ratio Ratio is at least 1 or 2 where a change may occur between the two scans. What is necessary is just the ratio of the above parameter elements or the product of each ratio. By the way, in an application where the ratio of all parameters other than the tube current mA is a constant value γ (invariant), Ratio = γ × (mA a / mA s ) = γ × α × (V LIM /
Becomes a relationship of V max), the user even without setting the tube current mA a during the scan input in step S9, the optimum tube current mA a for the main scan at step S7
However, in step S10, the ratio of the imaging energy between both scans is automatically obtained.

【0062】ステップS11では前記求めた撮像エネル
ギーの比Ratioに基づき、なお、必要なら各パラメータ
要素毎の比を考慮して、積分器811 〜81n の出力が
オーバレンジとならないための最適のDASゲイン(即
ち、容量C)を選択する。この選択の態様については後
述する。ステップS12では本スキャン時の撮像プロト
コルに従って被検体100の本スキャンを行う。
In step S11, based on the ratio of the imaging energies thus obtained and, if necessary, taking into account the ratio of each parameter element, an optimum value for preventing the outputs of the integrators 81 1 to 81 n from being overranged. Select the DAS gain (ie, capacitance C). The mode of this selection will be described later. In step S12, the main scan of the subject 100 is performed according to the imaging protocol used in the main scan.

【0063】図7は実施の形態による積分器の動作特性
を説明する図で、図7(A)は、上記図11(A)の場
合と同様に、単位積分時間t2につき、大きさの異なる
電流(i1<i2<i3)が入力した時の積分出力電圧
(v1’<v2’<v3’)の関係を示している。な
お、この図7(A)には上記図11(A)と同一状態の
積分特性が太い点線で重ねて描いてあり、ここでもし、
本実施の形態における積分器81の時定数が上記スカウ
トスキャン時のC2(従来のCに相当)のままであると
すると、積分器81に電流i2よりも大きい例えば電流
i3が入力したことにより、その積分出力電圧v3は図
示の如く上限値LIMをオーバしてしまい、そのA/D
変換出力は上限値LIMにクランプされてしまう。
FIG. 7 is a diagram for explaining the operating characteristics of the integrator according to the embodiment. FIG. 7A shows a difference in magnitude per unit integration time t2 as in the case of FIG. 11A. The relationship of the integrated output voltage (v1 ′ <v2 ′ <v3 ′) when the current (i1 <i2 <i3) is input is shown. In FIG. 7 (A), the integral characteristic in the same state as that of FIG. 11 (A) is drawn with a thick dotted line superimposed.
Assuming that the time constant of the integrator 81 in the present embodiment remains C2 (corresponding to the conventional C) at the time of the above-described scout scan, the current i3 larger than the current i2 is input to the integrator 81, for example. The integrated output voltage v3 exceeds the upper limit value LIM as shown in FIG.
The converted output is clamped to the upper limit LIM.

【0064】しかし、本実施の形態によれば、上記図6
のステップS10で求めた撮像エネルギーの比Ratio
(好ましくは管電圧kV,管電流mA,スライス厚Thi
c の各比等)が所定より大であることに基づき、そのス
テップS11では本スキャン時の選択容量(時定数)を
例えばC3(>C2)とした結果、この場合の入力電流
(i1<i2<i3)は図示の如く夫々の振幅が一定の
比で圧縮された積分出力電圧(v1’<v2’<v
3’)となり、こうしてオーバレンジを有効に回避でき
る。
However, according to the present embodiment, FIG.
Ratio of imaging energy obtained in step S10
(Preferably tube voltage kV, tube current mA, slice thickness Thi
Based on the fact that each ratio of c is greater than a predetermined value, the selected capacitance (time constant) in the main scan is set to, for example, C3 (> C2) in step S11. As a result, the input current (i1 <i2) in this case is obtained. <I3) is an integrated output voltage (v1 ′ <v2 ′ <v) in which the respective amplitudes are compressed at a fixed ratio as shown.
3 ′), and thus the overrange can be effectively avoided.

【0065】図7(B)は1ビュー分の主信号データ
(プロファイル)を示しており、横軸は各X線検出器X
D1〜XDnの検出チャネルCH1〜CHnに対応して
いる。図において、上記の如く各積分出力電圧(v1’
<v2’<v3’)の振幅が夫々一定の比(例えば2/
3)で圧縮された結果、全検出チャネルCH1〜CHn
につき適正な主信号データが得られている。こうして、
常にオーバレンジすることの無い最適レンジ(最適DA
Sゲイン)の積分電圧Vが得られる。
FIG. 7B shows main signal data (profile) for one view, and the horizontal axis represents each X-ray detector X.
It corresponds to the detection channels CH1 to CHn of D1 to XDn. In the figure, each integrated output voltage (v1 '
<V2 ′ <v3 ′) have a fixed ratio (for example, 2 /
As a result of the compression in 3), all the detection channels CH1 to CHn
, Proper main signal data is obtained. Thus,
Optimal range that does not always overrange (optimal DA
(S gain) integrated voltage V is obtained.

【0066】なお、上記積分器811 〜81n の容量の
選択に関しては、上記CPU11aが自動的に行う以外
にも、例えば図3に示す如く、表示装置13上に表示さ
れた各容量の番号1〜4を撮像に熟練したユーザが任意
に強制選択する様にしても良い。
The capacity of the integrators 81 1 to 81 n is selected automatically by the CPU 11a. For example, as shown in FIG. 3, the number of each capacity displayed on the display device 13 is selected. A user who is skilled in imaging may arbitrarily select any of 1 to 4 forcibly.

【0067】図8,図9は実施の形態による本(Axial
/Herical)スキャンの動作説明図(1),(2)で、
図8は上記図4のスカウトスキャン(普通の体格の被検
体)に対応する本スキャンを示している。図8(a)に
おいて、撮影テーブル20の上には上記図4(c)と同
一の普通の体格の被検体100が同一状態で載ってい
る。被検体100の体軸方向の基準点をZ0とする時
に、Z0−10cm〜Z0+10cmの範囲で今度は精
密な本(Axial/Herical)スキャンを行う。この時、
撮影テーブル20は例えば矢印a方向に移動するが、A
xialスキャンの場合は走査ガントリ30の1回転終了毎
に撮影テーブル20を間欠的に移動し、またHericalス
キャンの場合は走査ガントリ30の回転と同時に撮影テ
ーブル20を連続的に移動する。
FIGS. 8 and 9 show a book (Axial) according to the embodiment.
/ Herical) Scan operation explanatory diagrams (1), (2),
FIG. 8 shows a main scan corresponding to the scout scan (subject having a normal physique) of FIG. 8A, the subject 100 having the same normal physique as that of FIG. 4C is mounted on the imaging table 20 in the same state. When the reference point in the body axis direction of the subject 100 is Z0, a precise book (Axial / Herical) scan is performed in the range of Z0-10 cm to Z0 + 10 cm. At this time,
The photographing table 20 moves in the direction of arrow a, for example.
In the case of xial scan, the imaging table 20 is intermittently moved each time one rotation of the scanning gantry 30 is completed. In the case of Herical scanning, the imaging table 20 is continuously moved simultaneously with the rotation of the scanning gantry 30.

【0068】本スキャン時のプロトコル設定は上記図6
のステップS9で上記図4(d)の態様により行う。こ
の本スキャンは被検体100の体格や医療目的に応じた
所望の態様で行われ、この例では被検体100の体格が
普通以下であるので、そのプロトコル設定は例えば以下
の通りである。
The protocol setting at the time of the main scan is shown in FIG.
In step S9 of FIG. 4, the process is performed in the manner shown in FIG. This main scan is performed in a desired mode according to the physique and medical purpose of the subject 100. In this example, since the physique of the subject 100 is less than normal, the protocol setting is as follows, for example.

【0069】 X線管の管電圧(kVa )=120kV X線管のフィラメント電流(mAa )=40mA 被検体のスライス厚(Thic a )=1mm ガントリ1回転当たりのスキャンタイム(Seca )=1
Sec ここでは、管電流mAa =40mAのみが上記図4のス
カウトスキャン時の2倍となっており、しかも、この管
電流mAa =40mAは上記図6のステップS7でCP
U11aにより求められたものが自動的に採用されてい
る。従って、両スキャン間のエネルギー比Ratio=(2
/1)×1×1×1=2である。
X-ray tube voltage (kV a ) = 120 kV X-ray tube filament current (mA a ) = 40 mA Slice thickness of subject (Thic a ) = 1 mm Scan time per gantry rotation (Sec a ) = 1
Here, only the tube current mA a = 40 mA is twice as large as that in the scout scan shown in FIG. 4, and the tube current mA a = 40 mA is used as the CP in step S7 in FIG.
The one determined by U11a is automatically adopted. Therefore, the energy ratio between both scans Ratio = (2
/ 1) × 1 × 1 × 1 = 2.

【0070】更に、上記図6のステップS11では両ス
キャン間のエネルギー比Ratio=2に基づき積分器81
1 〜81n の時定数(容量)が選択される。この例で
は、更に、管電流mAa の比が2倍と小さいこと、かつ
スキャンタイムSeca の比が1であることを考慮して、
例えばスカウトスキャン時と同一の容量C2が選択され
る。そして、続くステップS12では本スキャンが行わ
れる。
Further, in step S11 in FIG. 6, the integrator 81 based on the energy ratio Ratio = 2 between both scans.
A time constant (capacity) of 1 to 81 n is selected. In this example, furthermore, the ratio of the tube current mA a twice as small, and the ratio of the scan time Sec a Considering that 1,
For example, the same capacitance C2 as in the scout scan is selected. Then, in the subsequent step S12, a main scan is performed.

【0071】図8(b)〜(d)にこの本スキャンによ
り得られたX線ビーム量検出データ(正確にはA/D変
換器83の入力)のプロファイルの一部P1a〜Pka
を夫々実線で示す。併せて上記図4のスカウトスキャン
で得られたデータプロファイルP1s〜Pksを夫々点
線で示す。図8(c)において、今、スカウトスキャン
時の最大値Vmax (=MAXVi)に注目すると、同一
チャネルにおける本スキャン時のX線ビーム量検出デー
タは、上記図6のステップS7で求められた最適の管電
流mAa =40mAをそのまま採用した結果、A/D変
換出力の上限値LIMを越える(オーバレンジする)こ
となく、上記エネルギー比Ratio=2に従ってA/D変
換上限値LIMの90%程度のレベルに引き上げられて
いる。また上記データプロファイルPisの最小値MI
NViも同時にこのエネルギー比Ratio分だけ底上げさ
れており、よって本スキャン時のデータプロファイルP
iaの全体が、有効なダイナミックレンジの全範囲内
で、最適(所望の)レベルに展開している。他のデータ
プロファイルP1a,Pkaについても同様である。
FIGS. 8B to 8D show partial profiles P1a to Pka of the profiles of the X-ray beam amount detection data (accurately, the input of the A / D converter 83) obtained by the main scan.
Are indicated by solid lines. In addition, data profiles P1s to Pks obtained by the scout scan in FIG. 4 are indicated by dotted lines. In FIG. 8C, focusing on the maximum value Vmax (= MAXVi) at the time of the scout scan, the X-ray beam amount detection data at the time of the main scan on the same channel is the optimum value obtained at the step S7 of FIG. As a result of adopting the tube current mA a = 40 mA as it is, without exceeding (over-ranging) the upper limit LIM of the A / D conversion output, it is about 90% of the A / D conversion upper limit LIM according to the above energy ratio Ratio = 2. Level has been raised. Also, the minimum value MI of the data profile Pis
NVi is also raised at the same time by this energy ratio Ratio, so that the data profile P at the time of the main scan is
The entirety of ia evolves to an optimal (desired) level within the full effective dynamic range. The same applies to other data profiles P1a and Pka.

【0072】また図9は上記図5のスカウトスキャン
(大きい体格の被検体)に対応する本スキャンを示して
いる。図9(a)において、この例では被検体100の
体格が大きいため、そのプロトコル設定は例えば以下の
通りである。
FIG. 9 shows a main scan corresponding to the scout scan (subject having a large size) shown in FIG. In FIG. 9A, since the physique of the subject 100 is large in this example, the protocol setting is as follows, for example.

【0073】 X線管の管電圧(kVa )=120kV X線管のフィラメント電流(mAa )=90mA 被検体のスライス厚(Thic a )=1mm ガントリ1回転当たりのスキャンタイム(Seca )=2
Sec ここで、管電流mAa =90mAは上記スカウトスキャ
ン時の3倍、スキャンタイムSeca はスカウトスキャン
時の2倍、他の各パラメータはスカウトスキャン時と同
一となっており、両スキャン間のエネルギー比Ratio=
(3/1)×1×(2/1)×1=6となっている。
X-ray tube voltage (kV a ) = 120 kV X-ray tube filament current (mA a ) = 90 mA Slice thickness of subject (Thic a ) = 1 mm Scan time per gantry rotation (Sec a ) = 2
Sec Here, the tube current mA a = 90 mA is three times that of the above scout scan, the scan time Sec a is twice that of the scout scan, and other parameters are the same as those of the scout scan. Energy ratio Ratio =
(3/1) × 1 × (2/1) × 1 = 6.

【0074】更に、上記図6のステップS11では両ス
キャン間のエネルギー比Ratio=6に基づき積分器81
1 〜81n の時定数(容量)が選択される。この例で
は、更に、管電流mAa が3倍(=90mA)であるこ
と、かつスキャンタイムSecaが2倍であることとを考
慮して、例えば容量C3(>C2)が選択される。そし
て、続くステップS12では本スキャンが行われる。
Further, in step S11 in FIG. 6, the integrator 81 based on the energy ratio Ratio = 6 between both scans.
A time constant (capacity) of 1 to 81 n is selected. In this example, further, that the tube current mA a is 3 times (= 90 mA), and in consideration of the fact scan time Sec a is twice, for example, capacitance C3 (> C2) is selected. Then, in the subsequent step S12, a main scan is performed.

【0075】図9(b)〜(d)に本スキャンにより得
られたX線ビーム量検出データのプロファイルの一部P
1a〜Pkaを夫々実線で示す。併せて上記図5のスカ
ウトスキャンで得られたデータプロファイルP1s〜P
ksを夫々点線で示す。図9(c)において、今、スカ
ウトスキャン時の最大値Vmax (=MAXVi)に注目
すると、同一チャネルにおける本スキャン時のX線ビー
ム量検出データは、もし上記エネルギー比Ratio=6に
従ってそのままレベルが引き上げられたとすると、図の
破線で示す如くA/D変換出力の上限値LIMを大幅に
オーバレンジしてしまう。
FIGS. 9B to 9D show a part P of the profile of the X-ray beam amount detection data obtained by the main scan.
1a to Pka are indicated by solid lines. In addition, the data profiles P1s to P1s obtained by the scout scan in FIG.
ks are indicated by dotted lines. In FIG. 9C, if attention is paid to the maximum value Vmax (= MAXVi) at the time of the scout scan, the level of the X-ray beam amount detection data at the time of the main scan in the same channel is unchanged according to the above energy ratio Ratio = 6. If it is raised, the upper limit LIM of the A / D conversion output will be greatly overranged as shown by the broken line in the figure.

【0076】しかし、本実施の形態によれば、上記積分
器811 〜81n の各時定数がスカウトスキャン時のC
2よりも大きい値C3に設定変更されている結果、上記
MAXVi対応の本スキャン時におけるX線ビーム量検
出データは、上記図7で述べたDASゲインの自動変更
作用に従って、図9(c)の実線で示す如く、そのA/
D変換上限値LIMを越えない(オーバレンジしない)
ものとなっている。また上記データプロファイルPis
のレベル0を下回る様な最小値MINViに対応する本
スキャン時のX線ビーム量検出データも上記DASゲイ
ンの変更作用により相応に底上げされており、よって本
スキャン時のデータプロファイルPiaの全体が、有効
なダイナミックレンジの全範囲内で、最適(所望の)レ
ベルに、かつフル解像度に展開している。他のデータプ
ロファイルP1a,Pkaについても同様である。
However, according to the present embodiment, each of the time constants of the integrators 81 1 to 81 n is equal to C in the scout scan.
As a result of the setting change to the value C3 larger than 2, the X-ray beam amount detection data at the time of the main scan corresponding to the MAXVi is obtained in accordance with the automatic changing operation of the DAS gain described in FIG. As shown by the solid line, the A /
Do not exceed D conversion upper limit LIM (do not overrange)
It has become something. In addition, the above data profile Pis
The X-ray beam amount detection data at the time of the main scan corresponding to the minimum value MINVi that falls below the level 0 is raised accordingly by the above-mentioned DAS gain changing operation. Therefore, the entire data profile Pia at the time of the main scan is It develops to the optimal (desired) level and full resolution within the full effective dynamic range. The same applies to other data profiles P1a and Pka.

【0077】ところで、上記図6のステップS11にお
ける容量Cの選択に際しては、上記両撮像パラメータの
比Ratioを基準とすることに加え、上記スカウトスキャ
ンで取得された全X線ビーム量検出データについての最
大値VMAX (=LIMを含む)及び最小値VMIN (=0
を含む)を更に考慮に入れることが可能である。具体的
に言うと、例えば両者の差(VMAX −VMIN )が小さい
場合は、被検体100の体格が普通以下である可能性が
高く、よって両撮像パラメータの比Ratioがこれを単独
で評価すると多少大きくても、本スキャン時のDASに
おいてオーバレンジする可能性は低く、よってこの場合
の容量(時定数)Cを大きくしないことが可能である。
一方、両者の差(VMAX −VMIN )が大きい場合は、被
検体100の体格が大きい可能性が高く、よって両撮像
パラメータの比Ratioがこれを単独で評価するとあまり
大きくなくても、本スキャン時のDASにおいてオーバ
レンジする可能性が高く、よってこの場合は容量(時定
数)Cを大きくすることが可能である。また、例えば最
大値VMAX =LIMの場合も、本スキャン時のDASに
おいてオーバレンジする可能性が高いから、よってこの
場合も容量(時定数)Cを大きくすることが可能であ
る。かくして、本実施の形態によれだ、スカウトスキャ
ンで収集したX線ビーム量検出データを有効に活用でき
ると共に、本スキャン時における時定数のよりきめ細か
い設定が可能となる。
When the capacitance C is selected in step S11 in FIG. 6, the ratio of the two imaging parameters is used as a reference, and in addition to the total X-ray beam amount detection data acquired in the scout scan. The maximum value V MAX (including LIM) and the minimum value V MIN (= 0
) Can be further taken into account. Specifically, for example, when the difference (V MAX −V MIN ) between the two is small, it is highly possible that the physique of the subject 100 is less than normal, and therefore, the ratio Ratio of the two imaging parameters is evaluated independently. Then, even if it is somewhat large, the possibility of overrange in the DAS at the time of the main scan is low, and therefore, it is possible not to increase the capacity (time constant) C in this case.
On the other hand, when the difference (V MAX −V MIN ) between the two is large, there is a high possibility that the physique of the subject 100 is large. There is a high possibility that the DAS at the time of scanning will overrange, and in this case, the capacity (time constant) C can be increased. Also, for example, in the case where the maximum value V MAX = LIM, there is a high possibility that the DAS at the time of the main scan will be over-ranged. Therefore, also in this case, the capacity (time constant) C can be increased. Thus, according to the present embodiment, the X-ray beam amount detection data collected by the scout scan can be effectively used, and the time constant during the main scan can be set more finely.

【0078】なお、上記実施の形態では一例の積分器8
1の回路構成(ミラー積分回路)を示したが、積分器8
1の基本的な回路構成については、他の公知の様々な回
路構成を採用し得る。
In the above embodiment, an example of the integrator 8
1 is shown, the integrator 8
As for one basic circuit configuration, various other known circuit configurations can be adopted.

【0079】また、上記実施の形態では積分器81が入
力電流IBを積分する場合を述べたが、積分器81が入
力電圧VBを積分する場合も本発明を適用できることは
明らかである。
In the above embodiment, the case where the integrator 81 integrates the input current IB has been described. However, it is apparent that the present invention can be applied to the case where the integrator 81 integrates the input voltage VB.

【0080】また、一般にこの種の積分器の時定数には
高精度を要求されるため、上記実施の形態では一般に高
精度のものが得易いデスクリートな容量C(又は抵抗
R)を複数設けて、これらの接続を切り替える場合を述
べたが、本発明における「積分器の時定数を変更する」
ことの意味は、例えば単一の可変容量VC(又は可変抵
抗VR)を用いて積分器の時定数を変更可能に構成する
ことを除外するものでは無い。
In general, a high accuracy is required for the time constant of this type of integrator. Therefore, in the above-described embodiment, a plurality of discrete capacitors C (or resistors R) are generally provided so that a high-precision one can be easily obtained. Thus, the case where these connections are switched has been described. However, in the present invention, "changing the time constant of the integrator" is performed.
This does not exclude, for example, a configuration in which the time constant of the integrator can be changed using a single variable capacitor VC (or variable resistor VR).

【0081】また、上記実施の形態ではファンビームを
使用したRotate/Rotate 方式によるX線CT装置への適
用例を述べたが、本発明はX線ビームの検出信号を積分
する構成を有する他のあらゆる方式(Stationary/Rotat
e 方式、パラレル方式等)のX線CT装置にも適用でき
ることは明らかである。
In the above embodiment, an example of application to an X-ray CT apparatus using a Rotate / Rotate method using a fan beam has been described. However, the present invention provides another configuration having a configuration for integrating a detection signal of an X-ray beam. Any method (Stationary / Rotat
It is apparent that the present invention can be applied to an X-ray CT apparatus of an e-type or a parallel type.

【0082】また、上記本発明に好適なる実施の形態を
述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部の構
成、制御、処理及びこれらの組合せの様々な変更が行え
ることは言うまでも無い。
Although the preferred embodiments of the present invention have been described, it goes without saying that various changes in the configuration, control, processing, and combinations thereof can be made without departing from the spirit of the present invention. There is no.

【0083】[0083]

【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、X線C
Tの撮像パラメータに応じてX線ビーム量を検出するた
めの積分器の時定数を変更することにより、常に最適レ
ンジの撮像データが容易に得られ、よってX線CT画像
の画質改善に寄与するところが極めて大きい。
As described above, according to the present invention, the X-ray C
By changing the time constant of the integrator for detecting the amount of X-ray beam in accordance with the imaging parameters of T, imaging data in the optimum range can be easily obtained at all times, thus contributing to the improvement of the image quality of the X-ray CT image. However, it is extremely large.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の原理を説明する図である。FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention.

【図2】実施の形態によるX線CT装置のブロック図で
ある。
FIG. 2 is a block diagram of the X-ray CT apparatus according to the embodiment.

【図3】実施の形態によるデータ収集部(DAS)のブ
ロック図である。
FIG. 3 is a block diagram of a data collection unit (DAS) according to the embodiment.

【図4】実施の形態によるスカウトスキャンの動作説明
図(1)である。
FIG. 4 is an explanatory diagram (1) of a scout scan operation according to the embodiment;

【図5】実施の形態によるスカウトスキャンの動作説明
図(2)である。
FIG. 5 is an explanatory diagram (2) of a scout scan operation according to the embodiment;

【図6】実施の形態によるオーバレンジ回避処理のフロ
ーチャートである。
FIG. 6 is a flowchart of overrange avoidance processing according to the embodiment.

【図7】実施の形態による積分器の動作特性を説明する
図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating the operation characteristics of the integrator according to the embodiment.

【図8】実施の形態による本スキャンの動作説明図
(1)である。
FIG. 8 is an explanatory diagram (1) of a main scan operation according to the embodiment.

【図9】実施の形態による本スキャンの動作説明図
(2)である。
FIG. 9 is an explanatory diagram (2) of the operation of the main scan according to the embodiment.

【図10】従来のX線CT装置の主要部構成を示す図で
ある。
FIG. 10 is a diagram showing a main part configuration of a conventional X-ray CT apparatus.

【図11】従来の積分器の動作特性を説明する図であ
る。
FIG. 11 is a diagram illustrating the operation characteristics of a conventional integrator.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 操作コンソール 11 中央処理装置 12 入力装置 13 表示装置(CRT) 14 制御インタフェース 15 データ収集バッファ 16 二次記憶装置 20 撮影テーブル 40 X線管 30 走査ガントリ 50 コリメータ 60 回転制御部 70 X線検出器アレイ 80 データ収集部(DAS) 811 〜81n 積分器 82 信号マルチプレクサ(MPX) 83 A/D変換器(A/D) 84 タイミング発生部(TG) 100 被検体 A1〜An アンプ ASW アナログスイッチ DEC デコーダ SH1〜SHn サンプルホールド回路 XD1〜XDn X線検出器Reference Signs List 10 operation console 11 central processing unit 12 input device 13 display device (CRT) 14 control interface 15 data collection buffer 16 secondary storage device 20 imaging table 40 X-ray tube 30 scanning gantry 50 collimator 60 rotation control unit 70 X-ray detector array Reference Signs List 80 Data acquisition unit (DAS) 81 1 to 81 n Integrator 82 Signal multiplexer (MPX) 83 A / D converter (A / D) 84 Timing generation unit (TG) 100 Subject A1 to An amplifier ASW Analog switch DEC decoder SH1 to SHn sample hold circuit XD1 to XDn X-ray detector

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柳田 弘文 東京都日野市旭が丘4丁目7番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 (72)発明者 熊崎 昌也 東京都日野市旭が丘4丁目7番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 Fターム(参考) 4C093 AA22 CA13 FA18 FA32 FA44 FA52 FA59 FC04 FD01 FD09 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Hirofumi Yanagida 127 Gee Yokogawa Medical System Co., Ltd., 4-7-7 Asahigaoka, Hino-shi, Tokyo (72) Inventor Masaya Kumazaki 4-7-7 Asahigaoka, Hino-shi, Tokyo 127 GE Yokogawa Medical System Corporation F-term (reference) 4C093 AA22 CA13 FA18 FA32 FA44 FA52 FA59 FC04 FD01 FD09

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定の撮像パラメータの下、X線管から
被検体に対してX線ビームを照射し、被検体を透過した
X線ビームを検出し、その検出出力を積分器で積分して
X線ビーム量検出電圧を生成し、その出力をA/D変換
器でA/D変換してX線ビーム量検出データを得るX線
ビーム量検出方法において、 撮像パラメータであるX線管の管電圧kV、管電流m
A、被検体の体軸方向における検出幅Thic 及び被検体
へのX線照射時間Secの内の何れか1又は2以上の撮像
パラメータに応じて積分器の時定数を変更することを特
徴とするX線ビーム量検出方法。
An X-ray tube is irradiated with an X-ray beam from an X-ray tube under predetermined imaging parameters, an X-ray beam transmitted through the object is detected, and the detection output is integrated by an integrator. An X-ray beam amount detection method for generating an X-ray beam amount detection voltage and A / D converting an output of the voltage with an A / D converter to obtain X-ray beam amount detection data, comprising: Voltage kV, tube current m
A: The time constant of the integrator is changed in accordance with one or more imaging parameters of the detection width Thic in the body axis direction of the subject and the X-ray irradiation time Sec on the subject. X-ray beam amount detection method.
【請求項2】 A/D変換器の変換上限値をVLIM とす
る場合に、予め第1の撮像パラメータをX線管の管電圧
kVs 、管電流mAs 、被検体の体軸方向における検出
幅Thic s 及び被検体へのX線照射時間Secs とする第
1の撮像により被検体の所望撮像領域についてのX線ビ
ーム量検出データを収集し、かつ後に第2の撮像パラメ
ータをX線管の管電圧kVa 、管電流mAa 、被検体の
体軸方向における検出幅Thic a 及び被検体へのX線照
射時間Seca とする第2の撮像を行うに際しては、前記
第1,第2の撮像パラメータの比Ratioを該両撮像パラ
メータの内の何れか1又は2以上の対応項目値の比又は
各比の積により求め、該第2の撮像で検出されるべきX
線ビーム量検出電圧が前記上限値VLIM を超えないため
の積分器の時定数を前記求めた比Ratioを基に決定する
ことを特徴とする請求項1に記載のX線ビーム量検出方
法。
2. When the upper limit of the conversion of the A / D converter is set to V LIM , the first imaging parameters are set in advance to the tube voltage kV s , the tube current mA s of the X-ray tube, and the body axis direction of the subject. X-ray beam amount detection data for a desired imaging region of the subject is collected by the first imaging with the detection width Thic s and the X-ray irradiation time Sec s to the subject, and the second imaging parameter is changed to X-ray later. When performing the second imaging with the tube voltage kV a of the tube, the tube current mA a , the detection width Thic a in the body axis direction of the subject, and the X-ray irradiation time Sec a to the subject, the first and second imagings are performed. The ratio Ratio of the two imaging parameters is obtained from the ratio of any one or two or more corresponding item values of the two imaging parameters or the product of each ratio, and X to be detected in the second imaging.
The X-ray beam amount detection method according to claim 1, wherein a time constant of an integrator for preventing the line beam amount detection voltage from exceeding the upper limit value V LIM is determined based on the determined ratio.
【請求項3】 時定数は、第1,第2の撮像パラメータ
の比Ratioと、第1の撮像で収集したX線ビーム量検出
データの内の最大値VMAX 及び又は最小値V MIN とに基
づいて決定することを特徴とする請求項2に記載のX線
ビーム量検出方法。
3. The time constant is defined as first and second imaging parameters.
Ratio and the amount of X-ray beam collected in the first imaging
Maximum value V of dataMAXAnd / or minimum value V MINAnd base
3. The X-ray according to claim 2, wherein
Beam amount detection method.
【請求項4】 所定の撮像パラメータの下、X線管から
被検体に対してX線ビームを照射し、被検体を透過した
X線ビームを検出し、その検出出力を積分器で積分して
X線ビーム量検出電圧を生成し、その出力をA/D変換
器でA/D変換してX線ビーム量検出データを得るX線
ビーム量検出方法において、 A/D変換器の変換上限値をVLIM とする場合に、予め
X線管の管電流を所定値mAs とする第1の撮像により
被検体の所望撮像領域についてのX線ビーム量検出デー
タを収集し、これらの内の体軸方向における最大値V
MAX を検出すると共に、後に行う第2の撮像で検出され
るべきX線ビーム量検出電圧が前記上限値VLIM を超え
ないための管電流mAa を前記上限値VLIM と最大値V
MAX との比に基づいて求めることを特徴とするX線ビー
ム量検出方法。
4. An X-ray tube is irradiated with an X-ray beam from an X-ray tube under predetermined imaging parameters, an X-ray beam transmitted through the subject is detected, and the detection output is integrated by an integrator. In the X-ray beam amount detection method of generating an X-ray beam amount detection voltage and A / D converting an output of the voltage by an A / D converter to obtain X-ray beam amount detection data, a conversion upper limit value of the A / D converter to the case of a V LIM, collects X-ray beam quantity detection data of the desired imaging region of the object by the first imaging of the tube current of the advance X-ray tube with a predetermined value mA s, body of these Maximum value V in the axial direction
It detects the MAX, the upper limit value the tube current mA a for the X-ray beam quantity detection voltage to be detected does not exceed the upper limit value V LIM at second imaging performed after V LIM and the maximum value V
An X-ray beam amount detection method characterized in that the X-ray beam amount is obtained based on a ratio with MAX .
【請求項5】 被検体を挟んで相対向するX線管及び検
出器と、検出器によるX線ビーム強度の検出出力を積分
して対応するX線ビーム量検出電圧を生成する積分器
と、積分器の出力電圧をA/D変換するA/D変換器と
を備え、A/D変換器の出力のX線ビーム量検出データ
に基づき被検体の断層像を再構成するX線CT装置にお
いて、 撮像パラメータであるX線管の管電圧kV、管電流m
A、被検体の体軸方向における検出幅Thic 及び被検体
へのX線照射時間Secの内の何れか1又は2以上の撮像
パラメータに応じて積分器の時定数が可変に構成されて
いることを特徴とするX線CT装置。
5. An X-ray tube and a detector facing each other across an object, an integrator for integrating a detection output of an X-ray beam intensity by the detector to generate a corresponding X-ray beam amount detection voltage, An A / D converter for A / D converting the output voltage of the integrator, wherein the X-ray CT apparatus reconstructs a tomographic image of the subject based on the X-ray beam amount detection data output from the A / D converter X-ray tube voltage kV and tube current m as imaging parameters
A, the time constant of the integrator is configured to be variable according to any one or two or more imaging parameters of the detection width Thic in the body axis direction of the subject and the X-ray irradiation time Sec to the subject. An X-ray CT apparatus characterized by the above-mentioned.
【請求項6】 A/D変換の上限値をVLIM とするA/
D変換器と、 予め第1の撮像パラメータをX線管の管電圧kVs 、管
電流mAs 、被検体の体軸方向における検出幅Thic s
及び被検体へのX線照射時間Secs とする第1の撮像に
より被検体の所望撮像領域についてのX線ビーム量検出
データを収集する撮像制御部と、 前記撮像制御部が後に第2の撮像パラメータをX線管の
管電圧kVa 、管電流mAa 、被検体の体軸方向におけ
る検出幅Thic a 及び被検体へのX線照射時間Seca
する第2の撮像を行うに際して、前記第1,第2の撮像
パラメータの比Ratioを該両撮像パラメータの内の何れ
か1又は2以上の対応項目値の比又は各比の積により求
める比演算手段と、 前記第2の撮像で検出されるべきX線ビーム量検出電圧
が前記上限値VLIM を超えないための積分器の時定数を
前記求めた比Ratioを基に選択する選択制御手段とを備
えることを特徴とする請求項5に記載のX線CT装置。
6. An A / D converter in which the upper limit value of A / D conversion is V LIM.
The D converter and the first imaging parameters are set in advance as the tube voltage kV s and tube current mA s of the X-ray tube, and the detection width Thic s in the body axis direction of the subject.
And an imaging control unit for collecting X-ray beam quantity detection data of the desired imaging region of the object by the first imaging of the X-ray irradiation time Sec s to a subject, a second imaging after the imaging control unit In performing the second imaging, parameters are a tube voltage kV a of the X-ray tube, a tube current mA a , a detection width Thic a in the body axis direction of the subject, and an X-ray irradiation time Sec a to the subject. A ratio calculating means for calculating a ratio Ratio of the first and second imaging parameters by a ratio of one or more corresponding item values of the two imaging parameters or a product of the respective ratios; 6. The apparatus according to claim 5, further comprising: selection control means for selecting a time constant of an integrator based on the obtained ratio to prevent the X-ray beam amount detection voltage from exceeding the upper limit value V LIM. An X-ray CT apparatus according to claim 1.
【請求項7】 選択制御手段は、第1,第2の撮像パラ
メータの比Ratioと、第1の撮像で収集したX線ビーム
量検出データの内の最大値VMAX 及び又は最小値VMIN
とに基づいて積分器の時定数を選択することを特徴とす
る請求項6に記載のX線CT装置。
7. The selection control means includes a ratio Ratio of the first and second imaging parameters and a maximum value V MAX and / or a minimum value V MIN of the X-ray beam amount detection data collected in the first imaging.
7. The X-ray CT apparatus according to claim 6, wherein the time constant of the integrator is selected based on the following.
【請求項8】 被検体を挟んで相対向するX線管及び検
出器と、検出器によるX線ビーム強度の検出出力を積分
して対応するX線ビーム量検出電圧を生成する積分器
と、積分器の出力電圧をA/D変換するA/D変換器と
を備え、A/D変換器の出力のX線ビーム量検出データ
に基づき被検体の断層像を再構成するX線CT装置にお
いて、 A/D変換の上限値をVLIM とするA/D変換器と、 予めX線管の管電流を所定値mAs とする第1の撮像に
より被検体の所望撮像領域についてのX線ビーム量検出
データを収集する撮像制御部と、 前記収集したX線ビーム量検出データの内の体軸方向に
おける最大値VMAX を検出する最大値検出手段と、 前記撮像制御部により後に行われる第2の撮像において
検出されるべきX線ビーム量検出電圧が前記上限値V
LIM を超えないための管電流mAa を前記上限値VLIM
と最大値VMAX との比に基づいて求める管電流演算手段
とを備えることを特徴とするX線CT装置。
8. An X-ray tube and a detector facing each other across a subject, an integrator for integrating a detection output of X-ray beam intensity by the detector to generate a corresponding X-ray beam amount detection voltage, An A / D converter for A / D converting the output voltage of the integrator, wherein the X-ray CT apparatus reconstructs a tomographic image of the subject based on the X-ray beam amount detection data output from the A / D converter , an a / D converter for the upper limit value of the a / D converter and V LIM, the X-ray beam for a desired imaging region of the object by the first imaging of the tube current of the advance X-ray tube with a predetermined value mA s An imaging control unit that collects the amount detection data; a maximum value detection unit that detects a maximum value V MAX in the body axis direction of the collected X-ray beam amount detection data; and a second value detection unit that is performed later by the imaging control unit. The X-ray beam amount detection voltage to be detected in Limited value V
The tube current mA a for not exceeding LIM is set to the upper limit value V LIM
An X-ray CT apparatus comprising: a tube current calculating means for obtaining a tube current based on a ratio between a maximum value and a maximum value V MAX .
JP2000004265A 2000-01-13 2000-01-13 X-ray beam amount detection method and X-ray CT apparatus Expired - Fee Related JP4597299B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000004265A JP4597299B2 (en) 2000-01-13 2000-01-13 X-ray beam amount detection method and X-ray CT apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000004265A JP4597299B2 (en) 2000-01-13 2000-01-13 X-ray beam amount detection method and X-ray CT apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001190543A true JP2001190543A (en) 2001-07-17
JP4597299B2 JP4597299B2 (en) 2010-12-15

Family

ID=18533070

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000004265A Expired - Fee Related JP4597299B2 (en) 2000-01-13 2000-01-13 X-ray beam amount detection method and X-ray CT apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4597299B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004135860A (en) * 2002-10-17 2004-05-13 Shimadzu Corp X-ray ct apparatus
JP2006110126A (en) * 2004-10-15 2006-04-27 Hitachi Medical Corp X-ray ct apparatus
US11300528B2 (en) 2016-09-26 2022-04-12 Canon Medical Systems Corporation X-ray computed tomography apparatus

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04292145A (en) * 1991-03-20 1992-10-16 Hitachi Medical Corp X-ray ct device
JPH06285055A (en) * 1993-04-01 1994-10-11 Hitachi Medical Corp X-ray photographing device
JPH08168482A (en) * 1994-12-20 1996-07-02 Toshiba Corp Ct scanner

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04292145A (en) * 1991-03-20 1992-10-16 Hitachi Medical Corp X-ray ct device
JPH06285055A (en) * 1993-04-01 1994-10-11 Hitachi Medical Corp X-ray photographing device
JPH08168482A (en) * 1994-12-20 1996-07-02 Toshiba Corp Ct scanner

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004135860A (en) * 2002-10-17 2004-05-13 Shimadzu Corp X-ray ct apparatus
JP2006110126A (en) * 2004-10-15 2006-04-27 Hitachi Medical Corp X-ray ct apparatus
JP4500147B2 (en) * 2004-10-15 2010-07-14 株式会社日立メディコ X-ray CT system
US11300528B2 (en) 2016-09-26 2022-04-12 Canon Medical Systems Corporation X-ray computed tomography apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP4597299B2 (en) 2010-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7203270B2 (en) X-ray computed tomographic apparatus
US6373920B1 (en) Method and apparatus for acquiring CT perfusion images
EP1038500A1 (en) Methods and apparatus for artifact compensation with variable angular sampling
EP1304077A2 (en) X-ray computed tomography apparatus
JP4554046B2 (en) Method and apparatus for calibrating a CT X-ray beam tracking loop
US20070181813A1 (en) Variable resolution x-ray ct detector with target imaging capability
JP4159188B2 (en) Tube current adjusting method and apparatus, and X-ray CT apparatus
JP4393105B2 (en) Radiation imaging apparatus and operation method thereof
JP2010194310A (en) Low noise data collecting system for medical photography
JP2009125250A (en) X-ray ct equipment
EP1382298A1 (en) X-ray computed tomography apparatus with support system for setting scan conditions
Ning et al. Flat-panel-detector-based cone beam volume CT imaging: detector evaluation
JPH11226004A (en) X-ray inspection device and image pickup method for x-ray image
JP2006026410A (en) X-ray computed tomographic system and its data correction method
JP2004531306A (en) A method for reducing artifacts in target images
JP4597299B2 (en) X-ray beam amount detection method and X-ray CT apparatus
Ning et al. Real-time flat-panel detector-based-volume tomographic angiography imaging: detector evaluation
JP2009131563A (en) X-ray ct equipment
JP4939702B2 (en) X-ray CT system
JPH10337287A (en) X-ray ct scanner
JPH10127618A (en) X-ray ct scanner
JP2010075553A (en) X-ray computed tomography system
IL139758A (en) Methods and apparatus for optimizing ct image quality with optimized data acquisition
JP3946986B2 (en) X-ray computed tomography system
JPH06269443A (en) X-ray ct apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061113

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090728

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090928

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100406

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100706

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100706

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20100722

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100831

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100922

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131001

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees