JP2001189356A - Measurement signal output device - Google Patents

Measurement signal output device

Info

Publication number
JP2001189356A
JP2001189356A JP37191599A JP37191599A JP2001189356A JP 2001189356 A JP2001189356 A JP 2001189356A JP 37191599 A JP37191599 A JP 37191599A JP 37191599 A JP37191599 A JP 37191599A JP 2001189356 A JP2001189356 A JP 2001189356A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output unit
optical
power supply
photoelectric conversion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP37191599A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3688544B2 (en
Inventor
Koju Yanagisawa
幸樹 柳沢
Choichi Tomoshiro
暢一 伴城
Jun Kikuchi
潤 菊池
Guputa Sanjei
グプタ サンジェイ
Mitsuru Shinagawa
満 品川
Chisato Hashimoto
千里 橋本
Tadao Nagatsuma
忠夫 永妻
Oku Kuraki
億 久良木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP37191599A priority Critical patent/JP3688544B2/en
Priority to GB0030560A priority patent/GB2361766A/en
Priority to US09/738,763 priority patent/US20010022338A1/en
Priority to DE10064515A priority patent/DE10064515C2/en
Publication of JP2001189356A publication Critical patent/JP2001189356A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3688544B2 publication Critical patent/JP3688544B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/07Non contact-making probes
    • G01R1/071Non contact-making probes containing electro-optic elements

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measurement signal output device which copes with light signals at a low level of power, prevents loss or imbalance from occurring in measured signals, and is easily handled or used. SOLUTION: An optoelectrical probe 15A and an optical input/output unit D are connected together with cables 37, 38, and 39, the optical input/output unit D and a power supply/measurement signal output unit E are connected detachably together with connectors 45 and 50.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被測定信号の電圧
に応じた偏光成分を含む光信号から、前記被測定信号に
応じた電気信号を測定信号として取り出して測定器に供
給する測定信号出力装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring signal output for extracting an electric signal corresponding to a signal to be measured from an optical signal containing a polarization component corresponding to the voltage of the signal to be measured as a measuring signal and supplying it to a measuring instrument. Related to the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の測定信号出力装置として、例え
ば、ICなどの測定対象の内部信号(以下、被測定信号
という)が現れる部位に、電界により偏光面が変化する
電気光学結晶を結合させ、この電気光学結晶からの反射
光の偏光状態により被測定信号を再現し、被測定信号に
応じた偏光状態を有する光信号を取り出すための光学系
が内蔵された電気光学プローブと、この光信号を受光し
てその偏光状態に応じた電気信号を取り出すための受光
回路を備えたものがある。
2. Description of the Related Art As a conventional measurement signal output device, for example, an electro-optic crystal whose polarization plane is changed by an electric field is coupled to a portion where an internal signal of a measurement object such as an IC (hereinafter referred to as a signal to be measured) appears. An electro-optic probe having a built-in optical system for reproducing a signal to be measured based on the polarization state of light reflected from the electro-optic crystal and extracting an optical signal having a polarization state corresponding to the signal to be measured, and Some include a light receiving circuit for receiving light and extracting an electric signal corresponding to the polarization state.

【0003】この測定信号出力装置は、電気式プローブ
を用いた従来の測定システムと比較して、 1)信号を測定する際にグランド線を必要としないた
め、測定が容易 2)電気光学プローブの先端にある金属ピンがオシロス
コープ側の回路系から電気的に絶縁されているので、被
測定信号の状態をほとんど乱すことなく波形観測が可能 3)光パルスを利用することからギガヘルツのオーダー
までの広帯域測定が可能といった特徴を有する。
This measurement signal output device is different from a conventional measurement system using an electric probe in that: 1) a ground line is not required when measuring a signal; Since the metal pin at the tip is electrically insulated from the oscilloscope side circuit system, it is possible to observe the waveform without substantially disturbing the state of the signal to be measured. 3) Broadband from optical pulse to gigahertz order It has the feature that measurement is possible.

【0004】この測定信号出力装置に用いられる電気光
学プローブの構成例を、図2について説明する。同図に
おいて、符号1は、絶縁体からなるプローブヘッドであ
り、この中心に、被測定信号が現れる部位に接触する金
属ピン1aが嵌め込まれている。符号2は、電界により
偏光面が変わる電気光学素子(電気光学結晶)であり金
属ピン1a側の端面に反射膜2aが設けられ、金属ピン
1aに接している。
[0004] An example of the configuration of an electro-optical probe used in the measurement signal output device will be described with reference to FIG. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a probe head made of an insulator, and a metal pin 1a that is in contact with a portion where a signal to be measured appears is fitted into the center of the probe head. Reference numeral 2 denotes an electro-optic element (electro-optic crystal) whose polarization plane is changed by an electric field. A reflection film 2a is provided on an end face on the metal pin 1a side, and is in contact with the metal pin 1a.

【0005】符号4は、1/2波長板であり、符号5
は、1/4波長板である。符号6および8は、偏光ビー
ムスプリッタである。符号7は、ファラデー素子であ
る。符号9は、EOSオシロスコープなどの測定器本体
(図示せず)から出力されるパルス信号(制御信号)に
応じてレーザ光を発するレーザダイオードである。符号
10は、レーザダイオード9からのレーザ光を一方向に
収束して平行光に変換するコリメートレンズであり、こ
れにより収束されたレーザ光Lの光路上に、電気光学素
子2、1/2波長板4、1/4波長板5、偏光ビームス
プリッタ6,8、ファラデー素子7が配置される。
Reference numeral 4 denotes a half-wave plate, and reference numeral 5
Is a 波長 wavelength plate. Reference numerals 6 and 8 are polarization beam splitters. Reference numeral 7 denotes a Faraday element. Reference numeral 9 denotes a laser diode that emits laser light in response to a pulse signal (control signal) output from a measuring instrument body (not shown) such as an EOS oscilloscope. Reference numeral 10 denotes a collimating lens that converges the laser light from the laser diode 9 in one direction and converts the laser light into parallel light. A plate 4, a quarter-wave plate 5, polarizing beam splitters 6, 8, and a Faraday element 7 are arranged.

【0006】符号11,13は、集光レンズであり、偏
光ビームスプリッタ6,8により分離されたレーザ光を
集光する。符号12,14は、後述する受光回路を構成
する光電変換素子としてのフォトダイオードであり、集
光レンズ11,13により集光されたレーザ光を電気信
号に変換して測定器本体へ出力する。
Reference numerals 11 and 13 denote condensing lenses for condensing the laser beams split by the polarizing beam splitters 6 and 8, respectively. Reference numerals 12 and 14 denote photodiodes as photoelectric conversion elements constituting a light receiving circuit described later, which convert the laser light condensed by the condensing lenses 11 and 13 into an electric signal and output the electric signal to the main body of the measuring instrument.

【0007】符号15は、電気光学プローブとしてのプ
ローブ本体である。符号17は、1/4波長板、二つの
偏光ビームスプリッタ6,8、およびファラデー素子7
からなるアイソレータであり、レーザダイオード9が出
射した光を通過させ、反射膜2aによって反射された光
を分離するためのものである。
Reference numeral 15 denotes a probe body as an electro-optic probe. Reference numeral 17 denotes a quarter-wave plate, two polarization beam splitters 6 and 8, and a Faraday element 7.
, Which passes the light emitted from the laser diode 9 and separates the light reflected by the reflection film 2a.

【0008】次に測定信号出力装置に用いられている従
来の受光回路の構成例を図3について説明する。同図に
おいて、符号100はバイアス電源、符号12,14は
フォトダイオード、符号102,105は抵抗、符号1
03,106は増幅器、符号107は電流モニタ、符号
108はA/D変換器、符号109は抵抗109A〜1
09Dと演算増幅器109Eからなる差動増幅器、符号
110は抵抗、符号111はA/D変換器である。
Next, a configuration example of a conventional light receiving circuit used in a measurement signal output device will be described with reference to FIG. In the figure, reference numeral 100 denotes a bias power supply, reference numerals 12 and 14 denote photodiodes, reference numerals 102 and 105 denote resistors, and reference numeral 1.
Reference numerals 03 and 106 denote amplifiers, reference numeral 107 denotes a current monitor, reference numeral 108 denotes an A / D converter, and reference numeral 109 denotes resistors 109A to 109A.
Reference numeral 110 denotes a resistor, and reference numeral 111 denotes an A / D converter.

【0009】この受光回路では、バイアス電源100で
バイアスされたフォトダイオード12,14が発生する
電流を増幅器103,106によりそれぞれ増幅し、こ
れら増幅器103,106の出力の差分を差動増幅器1
09により増幅して測定信号を得るように構成され、こ
の差動増幅器109の出力値はA/D変換器111によ
りA/D変換される。また、フォトダイオード12,1
4が発生する電流は電流モニタ107によりモニタさ
れ、その電流値はA/D変換器108によりA/D変換
される。
In this light receiving circuit, the currents generated by the photodiodes 12 and 14 biased by the bias power supply 100 are amplified by amplifiers 103 and 106, respectively, and the difference between the outputs of these amplifiers 103 and 106 is compared with the differential amplifier 1
09 to obtain a measurement signal by amplification. The output value of the differential amplifier 109 is A / D converted by an A / D converter 111. In addition, the photodiodes 12, 1
4 is monitored by a current monitor 107, and the current value is A / D converted by an A / D converter 108.

【0010】次に、この従来装置の動作を説明する。図
2に示すレーザダイオード9は、パルス信号(制御信
号)により駆動されてサンプリング周期を有するパルス
状のレーザ光Aを出射する。また、このレーザ光Aは、
コリメートレンズ10により平行光に変換され、偏光ビ
ームスプリッタ8,ファラデー素子7および偏光ビーム
スプリッタ6を直進し、さらに、1/4波長板5と1/
2波長板4を通って電気光学素子2に入射する。
Next, the operation of the conventional device will be described. The laser diode 9 shown in FIG. 2 is driven by a pulse signal (control signal) and emits a pulsed laser beam A having a sampling period. This laser light A is
The light is converted into parallel light by the collimating lens 10, travels straight through the polarization beam splitter 8, the Faraday element 7, and the polarization beam splitter 6, and further passes through the quarter-wave plates 5 and 1 /
The light enters the electro-optical element 2 through the two-wavelength plate 4.

【0011】入射したレーザ光は、金属ピン1a側の電
気光学素子2の端面に形成された反射膜2aにより反射
される。ここで、金属ピン1aを測定点に接触させる
と、金属ピン1aに加わる電圧に応じた電界が電気光学
素子2へ伝搬し、ポッケルス効果により電気光学素子2
の複屈折率が変化する現象が起きる。これにより、レー
ザダイオード9から発せられたレーザ光が電気光学素子
2を伝搬するときに光の偏光状態が変化し、この結果、
電気光学素子2の端面2aで反射されたレーザ光は、被
測定信号の電圧に応じた偏光成分を含むものとなる。
The incident laser light is reflected by the reflection film 2a formed on the end face of the electro-optical element 2 on the metal pin 1a side. Here, when the metal pin 1a is brought into contact with the measurement point, an electric field corresponding to the voltage applied to the metal pin 1a propagates to the electro-optical element 2, and the electro-optical element 2 is caused by the Pockels effect.
A phenomenon occurs in which the birefringence changes. As a result, when the laser light emitted from the laser diode 9 propagates through the electro-optical element 2, the polarization state of the light changes, and as a result,
The laser light reflected by the end face 2a of the electro-optical element 2 contains a polarization component corresponding to the voltage of the signal under measurement.

【0012】電気光学素子2の端面2aで反射されたレ
ーザ光は、再び1/2波長板4と1/4波長板5を通っ
て、このレーザ光の一部(被測定信号の電圧に応じた偏
光成分)は、偏光ビームスプリッタ6により分離され、
集光レンズ11によって集光されて、受光回路を構成す
るフォトダイオード12へ入射される。偏光ビームスプ
リッタ6を透過したレーザ光は、偏光ビームスプリッタ
8で分離され、集光レンズ13によって集光されて、図
3に示すフォトダイオード14へ入射されて、電気信号
に変換される。
The laser light reflected by the end face 2a of the electro-optical element 2 passes through the half-wave plate 4 and the quarter-wave plate 5 again, and a part of the laser light (according to the voltage of the signal to be measured). Polarization component) is separated by the polarization beam splitter 6,
The light is condensed by the condenser lens 11 and is incident on the photodiode 12 constituting the light receiving circuit. The laser light transmitted through the polarization beam splitter 6 is separated by the polarization beam splitter 8, collected by the condenser lens 13, incident on the photodiode 14 shown in FIG. 3, and converted into an electric signal.

【0013】ここで、受光回路の動作を説明する。被測
定信号の電圧の変化にともなって、電気光学素子2の複
屈折率が変化すると、フォトダイオード12とフォトダ
イオード14の出力に差が生じる。受光回路はこの出力
差を検出することによって、被測定信号に応じた測定信
号を出力するように動作する。
Here, the operation of the light receiving circuit will be described. When the birefringence of the electro-optical element 2 changes with the change in the voltage of the signal under measurement, a difference occurs between the outputs of the photodiodes 12 and 14. The light receiving circuit operates so as to output a measurement signal according to the signal under measurement by detecting the output difference.

【0014】すなわち、受光回路のフォトダイオード1
2が偏光ビームスプリッタ6からのレーザ光を受光する
と、フォトダイオード12はこのレーザ光の強度に応じ
た電流を発生し、この電流に応じた電圧が抵抗102の
一端側に現れ、増幅器103で増幅される。同様にフォ
トダイオード14が発生する電流に応じた電圧が抵抗1
05の一端側に現れ、増幅器106で増幅される。差動
増幅器109は増幅器103と106との出力差に応じ
た測定信号を測定器本体側へ出力する。
That is, the photodiode 1 of the light receiving circuit
2 receives the laser beam from the polarizing beam splitter 6, the photodiode 12 generates a current corresponding to the intensity of the laser beam, and a voltage corresponding to the current appears at one end of the resistor 102 and is amplified by the amplifier 103. Is done. Similarly, the voltage corresponding to the current generated by the photodiode 14 is the resistance 1
05 and is amplified by the amplifier 106. The differential amplifier 109 outputs a measurement signal corresponding to the output difference between the amplifiers 103 and 106 to the measuring instrument main body side.

【0015】上述のように、従来の受光回路によれば、
フォトダイオード12,14で検出された信号は、増幅
器103,106でそれぞれ増幅され、この後、差動増
幅器109でその差分を取ることにより測定信号のみを
検出するものとなっている。
As described above, according to the conventional light receiving circuit,
The signals detected by the photodiodes 12 and 14 are amplified by amplifiers 103 and 106, respectively, and then the difference is obtained by a differential amplifier 109 to detect only the measurement signal.

【0016】なお、電流モニタ107によりモニタされ
た電流はA/D変換器108によりA/D変換されて、
A/D変換器111により変換された測定信号の値と共
に、フォトダイオード12,14の動作の検証やキャリ
ブレーションなどに用いられる。また、電気光学素子2
の結晶軸に対して、入射するレーザ光の偏光面を合わせ
る必要があり、このため、1/2波長板4と1/4波長
板5を回転させることによって偏光面の調整が行われ
る。
The current monitored by the current monitor 107 is A / D converted by the A / D converter 108,
Together with the value of the measurement signal converted by the A / D converter 111, it is used for verification of operation of the photodiodes 12, 14 and calibration. Further, the electro-optical element 2
It is necessary to align the plane of polarization of the incident laser light with the crystal axis of. Therefore, the plane of polarization is adjusted by rotating the half-wave plate 4 and the quarter-wave plate 5.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
このような測定信号出力装置にあっては、通常プローブ
本体15と、このプローブ本体15から出力されるレー
ザ光を光電流に変換するフォトダイオード12,14、
およびその光電流のモニタ出力の変化にもとづいてプロ
ーブ本体15内のレーザダイオード9に対して駆動電流
を出力する電流駆動回路とが、コネクタ(図示しない)
などを介して分離可能に接続されているため、その接続
部において伝送損失を生じたり、その接続部の電気抵抗
(接触抵抗)のアンバランスなどにより光電流および駆
動電流の入出力誤差を生じ、測定精度の高い測定信号を
測定器に出力できない場合があるという課題があった。
However, in such a conventional measurement signal output device, a conventional probe body 15 and a photodiode 12 for converting a laser beam output from the probe body 15 into a photocurrent are usually used. , 14,
And a current drive circuit for outputting a drive current to the laser diode 9 in the probe main body 15 based on a change in the monitor output of the photocurrent.
Since the connection is separable through such as, the transmission loss occurs at the connection portion, and the input / output error of the photocurrent and the drive current occurs due to imbalance of the electric resistance (contact resistance) of the connection portion, There has been a problem that a measurement signal with high measurement accuracy may not be output to a measuring instrument.

【0018】本発明は前記課題を解決するものであり、
プローブ本体である電気光学プローブと、電流駆動回路
およびフォトダイオードを持つ受光部とを分離不可能に
電気・光学的に結合したものとして扱うことで、取り扱
う信号としてレベルの低い光信号や被測定信号の損失ま
たはアンバランスの発生を十分に防止できるほか、その
取り扱いや使用を容易化できる測定信号出力装置を得る
ことを目的とする。
The present invention solves the above-mentioned problems, and
By treating the electro-optic probe, which is the probe body, and the light-receiving unit having the current drive circuit and the photodiode as inseparably coupled electrically and optically, low-level optical signals and signals to be measured are handled as signals. It is an object of the present invention to provide a measurement signal output device that can sufficiently prevent the occurrence of loss or imbalance of the measurement signal and can easily handle and use the measurement signal.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】前記目的達成のために、
請求項1の発明にかかる測定信号出力装置は、光源から
の光出力を受けて、被測定信号の電圧に応じて偏光変化
した第1の光信号および第2の光信号を出力する電気光
学プローブと、第1のバイアス電源と第2のバイアス電
源との間に直列接続されて、前記第1の光信号と第2の
光信号をそれぞれ受光して電気信号に変換する第1の光
電変換素子および第2の光電変換素子と該第1の光電変
換素子と第2の光電変換素子との接続点に得られる電気
信号を出力する出力回路と、前記第1の光電変換素子,
第2の光電変換素子および出力回路とともに光入出力ユ
ニットに設けられて、前記第1の光電変換素子および第
2の光電変換素子に流れる電流変化に応じた制御電圧を
受けて、前記光源に駆動電流を供給する電流駆動回路
と、前記光入出力ユニットに接続されて、前記接続点に
得られる電気信号を増幅して測定回路側へ出力する増幅
器、および前記光入出力ユニット内の電気回路に電力を
供給する電源を有する電源供給/測定信号出力ユニット
とを備え、前記電気光学プローブと光入出力ユニットと
をケーブルにより接続し、前記光入出力ユニットと電源
供給/測定信号出力ユニットとをコネクタにより分離可
能に接続したものである。
To achieve the above object,
An electro-optic probe for receiving a light output from a light source and outputting a first light signal and a second light signal whose polarization has been changed in accordance with the voltage of the signal under measurement. And a first photoelectric conversion element connected in series between a first bias power supply and a second bias power supply for receiving the first optical signal and the second optical signal, respectively, and converting the optical signal into an electric signal And an output circuit for outputting an electric signal obtained at a connection point between the second photoelectric conversion element and the first photoelectric conversion element and the second photoelectric conversion element;
The light source is provided in the light input / output unit together with the second photoelectric conversion element and the output circuit, and receives a control voltage corresponding to a change in current flowing through the first photoelectric conversion element and the second photoelectric conversion element, and drives the light source. A current drive circuit for supplying a current, an amplifier connected to the optical input / output unit, for amplifying an electric signal obtained at the connection point and outputting the amplified signal to the measurement circuit side, and an electric circuit in the optical input / output unit. A power supply / measurement signal output unit having a power supply for supplying power, the electro-optic probe and the optical input / output unit being connected by a cable, and the optical input / output unit and the power supply / measurement signal output unit being connected by a connector Are connected so that they can be separated from each other.

【0020】また、請求項2の発明にかかる測定信号出
力装置は、前記電源供給/測定信号出力ユニットに、前
記接続点に得られる電気信号を増幅して出力する増幅器
を複数チャンネル分設けたものである。
According to a second aspect of the present invention, in the measurement signal output device, the power supply / measurement signal output unit is provided with an amplifier for amplifying and outputting an electric signal obtained at the connection point for a plurality of channels. It is.

【0021】また、請求項3の発明にかかる測定信号出
力装置は、前記電気光学プローブを用途ごとに異なった
光入出力ユニットに接続したものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a measurement signal output device, wherein the electro-optic probe is connected to a light input / output unit which is different for each application.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の一形態を図
について説明する。図1において、符号15Aは電気光
学プローブであり、これが図2に示した電気光学プロー
ブ15からフォトトランジスタ12,14を外したもの
として構成されている。また、符号Dは光入出力ユニッ
トであり、この光入出力ユニットD内にはフォトダイオ
ード21,22が直列接続されている。これらのフォト
ダイオード21,22の直列回路は、第1のバイアス電
源としての正のバイアス電源23と第2のバイアス電源
としての負のバイアス電源24との間に、電流モニタ2
5,26をそれぞれ介して接続されている。これらのフ
ォトダイオード21,22の接続点Pには、(初段)増
幅器27を介して信号出力端子28が接続されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1, reference numeral 15A denotes an electro-optic probe, which is configured by removing the phototransistors 12 and 14 from the electro-optic probe 15 shown in FIG. Reference numeral D denotes an optical input / output unit, in which photodiodes 21 and 22 are connected in series. A series circuit of these photodiodes 21 and 22 includes a current monitor 2 between a positive bias power supply 23 as a first bias power supply and a negative bias power supply 24 as a second bias power supply.
5 and 26, respectively. A signal output terminal 28 is connected to a connection point P between the photodiodes 21 and 22 via an (first-stage) amplifier 27.

【0023】電流モニタ25,26はそれぞれフォトダ
イオード21,22に流れる電流をモニタして電圧変換
するもので、これらの各モニタ値A,Bは加算回路29
に入力されて、A+Bを演算する。なお、モニタされる
前記電流の和の変化はレーザダイオード9の発光量の変
化に対応する。この加算回路29の演算出力は演算増幅
器30の負の入力端子に抵抗31を介して入力される。
また、この演算増幅器30の正の入力端子には、駆動電
流制御回路Cを構成する基準電圧発生部32から出力さ
れる任意の基準電圧(制御電圧)が入力されるようにな
っている。従って、この演算増幅器30は加算回路29
からの演算出力と基準電圧発生部32からの基準電圧の
差に応じた制御信号を出力する。33は演算増幅器30
の出力端子と負の入力端子との間に接続されて、抵抗3
1とともに増幅率を決める抵抗である。なお、演算増幅
器30および基準電圧発生部32は抵抗31,33とと
もに前記の駆動電流制御回路Cを構成している。
The current monitors 25 and 26 monitor currents flowing through the photodiodes 21 and 22, respectively, and perform voltage conversion. These monitor values A and B are added to an adder 29.
To calculate A + B. Note that a change in the sum of the monitored currents corresponds to a change in the light emission amount of the laser diode 9. The operation output of the adder circuit 29 is input to the negative input terminal of the operational amplifier 30 via the resistor 31.
Further, an arbitrary reference voltage (control voltage) output from the reference voltage generator 32 constituting the drive current control circuit C is input to the positive input terminal of the operational amplifier 30. Therefore, this operational amplifier 30 is
And a control signal corresponding to the difference between the calculation output from the reference voltage generator and the reference voltage from the reference voltage generator 32. 33 is an operational amplifier 30
Connected between the output terminal and the negative input terminal of the
A resistor that determines the amplification factor together with 1. Note that the operational amplifier 30 and the reference voltage generator 32 constitute the drive current control circuit C together with the resistors 31 and 33.

【0024】演算増幅器30の出力側には電流駆動回路
34が接続されている。この電流駆動回路34はトラン
ジスタ35のエミッタに電流設定用抵抗36を接続した
ものからなる。この電流駆動回路34はトランジスタ3
5のベースに演算増幅器30からの制御信号を受けて、
つまり電流モニタ25,26からのモニタ出力の変化に
応じた制御信号を受けて、電気光学プローブ15A内の
光源としてのレーザダイオード9に駆動電流をケーブル
としての同軸コード37を介して供給するように機能す
る。なお、この電流駆動回路34はレーザダイオード9
をパルス光および連続光のいずれかで発光させる駆動電
流を出力するものとする。
A current drive circuit 34 is connected to the output side of the operational amplifier 30. This current drive circuit 34 is formed by connecting a current setting resistor 36 to the emitter of a transistor 35. This current drive circuit 34 is a transistor 3
Receiving the control signal from the operational amplifier 30 at the base of
That is, upon receiving a control signal corresponding to a change in monitor output from the current monitors 25 and 26, a drive current is supplied to the laser diode 9 as a light source in the electro-optic probe 15A via the coaxial cord 37 as a cable. Function. Note that this current drive circuit 34 is
Output a drive current for emitting light with either pulsed light or continuous light.

【0025】また、図示しないが、必要に応じ各フォト
ダイオード21,22に流れる電流のモニタ値(電圧
値)を減算回路に入れ、その減算結果として得られる電
圧差から光バランスのずれ量を検出することで、間接的
にS/Nの劣化量を知ることができる。そこで、この劣
化量を補正するように、つまりこの劣化量を抑制する方
向に各フォトダイオード21,22が受光する光信号の
偏光比を調整することで前記光バランスのずれを抑える
ことができる。
Although not shown, a monitor value (voltage value) of a current flowing through each of the photodiodes 21 and 22 is input to a subtraction circuit as necessary, and a deviation amount of the light balance is detected from a voltage difference obtained as a result of the subtraction. By doing so, it is possible to indirectly know the S / N deterioration amount. Therefore, the deviation of the light balance can be suppressed by correcting the deterioration amount, that is, by adjusting the polarization ratio of the optical signal received by each of the photodiodes 21 and 22 in the direction of suppressing the deterioration amount.

【0026】さらに、電気光学プローブ15Aと光入出
力ユニットDとの間には、図2に示すような偏光ビーム
スプリッタ6,8および集光レンズ11,13を介して
出射されるレーザ光をフォトダイオード21,22に導
くケーブルとしての光ファイバケーブル38,39が固
定的に取り付けられている。
Further, between the electro-optic probe 15A and the light input / output unit D, laser light emitted through the polarizing beam splitters 6, 8 and the condenser lenses 11, 13 as shown in FIG. Optical fiber cables 38 and 39 as cables leading to the diodes 21 and 22 are fixedly attached.

【0027】次に、符号Eは電源供給/測定信号出力ユ
ニットであり、この電源供給/測定信号出力ユニットE
内には、光入出力ユニットDの信号出力端子28に接続
される信号入力端子40,この信号入出力端子40から
受けた前記測定信号を増幅する前段の増幅器41,測定
信号中の所定周波の信号を除去するフィルタ42,後段
の増幅器43および測定信号出力端子44が設けられて
いる。ここで、信号出力端子28および信号入力端子4
0は高周波伝送用のコネクタである同軸コネクタ45と
して構成される。
Reference numeral E denotes a power supply / measurement signal output unit.
A signal input terminal 40 connected to the signal output terminal 28 of the optical input / output unit D, an amplifier 41 at the previous stage for amplifying the measurement signal received from the signal input / output terminal 40, a predetermined frequency in the measurement signal A filter 42 for removing a signal, an amplifier 43 at a subsequent stage, and a measurement signal output terminal 44 are provided. Here, the signal output terminal 28 and the signal input terminal 4
Reference numeral 0 denotes a coaxial connector 45 which is a high-frequency transmission connector.

【0028】この電源供給/測定信号出力ユニットEに
は、光入出力ユニットD内の電気回路に電力を供給する
電源46,パネル制御器47,フォトダイオード21,
22の光電流差である光バランスのずれ量をモニタする
バランスモニタ48および、レーザダイオード9の光量
をフォトダイオード21,22の出力電流の和に応じた
値でモニタするフォトカレントモニタ49が設けられて
いる。そして、電源電圧およびバランスモニタ信号,フ
ォトカレントモニタ信号は、多極コネクタ50を構成す
る各入出力接触子を通じて、光入出力ユニットDおよび
電源供給/測定信号出力ユニットE間で授受可能となっ
ている。なお、光入出力ユニットDの電源側回路には電
源電圧の立ち上がりを緩やかにするスロースタート回路
51が接続されて、過渡電流にもとづく回路素子の破壊
を未然に防止している。
The power supply / measurement signal output unit E includes a power supply 46 for supplying power to an electric circuit in the optical input / output unit D, a panel controller 47, a photodiode 21,
There is provided a balance monitor 48 for monitoring the shift amount of the light balance, which is a difference between the photocurrents 22, and a photocurrent monitor 49 for monitoring the light amount of the laser diode 9 with a value corresponding to the sum of the output currents of the photodiodes 21 and 22. ing. The power supply voltage, the balance monitor signal, and the photocurrent monitor signal can be exchanged between the optical input / output unit D and the power supply / measurement signal output unit E through each input / output contact constituting the multi-pole connector 50. I have. The power supply side circuit of the optical input / output unit D is connected to a slow start circuit 51 for gently rising the power supply voltage, thereby preventing the destruction of circuit elements due to the transient current.

【0029】次に動作について説明する。まず、電源4
6から各電気回路に電力を供給した後、電気光学プロー
ブ15Aのプローブヘッド1の金属ピン1aを測定点に
接触させると、前記したように金属ピン1aに発生した
電界が電気光学素子2へ伝搬する。一方、レーザダイオ
ード9からのレーザ光が電気光学素子2に伝搬し、その
端面で反射されたレーザ光は、被測定信号の電圧に応じ
た偏向成分を含んで、1/2波長板4および1/4波長
板5を通って偏向ビームスプリッタ6,8から分離出力
される。
Next, the operation will be described. First, power supply 4
After the electric power is supplied to each electric circuit from 6 and the metal pin 1a of the probe head 1 of the electro-optical probe 15A is brought into contact with the measurement point, the electric field generated at the metal pin 1a propagates to the electro-optical element 2 as described above. I do. On the other hand, the laser light from the laser diode 9 propagates to the electro-optical element 2, and the laser light reflected at the end face includes a deflection component corresponding to the voltage of the signal under measurement, and includes the half-wave plates 4 and 1 The light is separated and output from the deflecting beam splitters 6 and 8 through the 波長 wavelength plate 5.

【0030】また、この分離出力された各レーザ光は電
気光学プローブ15Aを出て光入出力ユニットDのフォ
トダイオード21,22に各光ファイバケーブル38,
39を通して照射されて、ここでレーザ光の強度に応じ
た電気信号に変換される。フォトダイオード21,22
に発生した光電流は接続点Pに現れて、増幅器27,同
軸コネクタ45,増幅器41,フィルタ42,増幅器4
3および測定信号出力端子44を通して、オシロスコー
プやスペクトラムアナライザなどの測定器へ出力され
る。
Each of the separated laser beams exits the electro-optic probe 15A and is connected to the photodiodes 21 and 22 of the optical input / output unit D by the respective optical fiber cables 38 and.
Irradiated through 39, it is converted into an electric signal according to the intensity of the laser beam. Photodiodes 21 and 22
Occurs at the connection point P, and the amplifier 27, the coaxial connector 45, the amplifier 41, the filter 42, and the amplifier 4
The signal is output to a measuring instrument such as an oscilloscope or a spectrum analyzer through the measuring signal output terminal 3 and the measurement signal output terminal 44.

【0031】また、レーザダイオード9の出力が変動す
ると、被測定信号が一定状態を保っていても、フォトダ
イオード21,22に流れる電流が変化する。このた
め、各電流モニタ25,26を介して得られる電圧の加
算値も変化し、この加算値は基準電圧発生部32からの
電圧基準値と演算増幅器30にて比較演算され、この演
算結果に従ってレーザダイオード9の光が安定するよう
な制御信号が電流駆動回路34に入力される。このた
め、フォトダイオード21,22に流れる電流の変化に
拘らずレーザダイオード9の光出力を安定させることが
でき、被測定信号の検出感度を一定に保つことができ
る。
When the output of the laser diode 9 fluctuates, the current flowing through the photodiodes 21 and 22 changes even if the signal to be measured remains constant. Therefore, the added value of the voltage obtained through each of the current monitors 25 and 26 also changes, and this added value is compared with the voltage reference value from the reference voltage generator 32 by the operational amplifier 30, and according to the calculation result, A control signal for stabilizing the light of the laser diode 9 is input to the current drive circuit 34. Therefore, the optical output of the laser diode 9 can be stabilized irrespective of the change in the current flowing through the photodiodes 21 and 22, and the detection sensitivity of the signal under measurement can be kept constant.

【0032】このように被測定信号の電圧に応じた偏向
特性を持つ二つの光信号を受光し、これらの信号の変動
に応じてレーザダイオード9の出力光の調整を行えるよ
うにすることで、その変動が測定信号の誤差となって現
れるのを防止でき、受光した光信号を精度よく電気信号
に変換でき、これにより測定器による測定精度の向上を
図ることができる。
As described above, by receiving two optical signals having deflection characteristics according to the voltage of the signal to be measured, the output light of the laser diode 9 can be adjusted according to the fluctuation of these signals. The fluctuation can be prevented from appearing as an error in the measurement signal, and the received optical signal can be converted into an electric signal with high accuracy, whereby the measurement accuracy of the measuring instrument can be improved.

【0033】そして、本発明によれば、電気光学プロー
ブ15Aおよび光入出力ユニットD間で取り扱う光信号
および電気信号のレベルが比較的小さくかつ微妙に変化
するため、これらの光信号および電気信号の授受を、コ
ネクタを使わずに、電気光学プローブ15Aおよび光入
出力ユニットD間に固定的に接続された光ファイバケー
ブル38,39および同軸ケーブル37を用いて行える
ようにしてある。こうすることで、光信号や電気信号の
損失や外部への洩れを確実に防止できる。また、その光
ファイバケーブル38,39および同軸ケーブル37を
短くすれば、損失をさらに低減でき被測定信号の検出感
度を一段と向上できる。
According to the present invention, since the level of the optical signal and the electrical signal handled between the electro-optical probe 15A and the optical input / output unit D are relatively small and slightly change, the level of the optical signal and the electrical signal is changed. The transmission and reception can be performed using the optical fiber cables 38 and 39 and the coaxial cable 37 fixedly connected between the electro-optic probe 15A and the optical input / output unit D without using a connector. By doing so, loss of the optical signal or the electric signal and leakage to the outside can be reliably prevented. Further, if the optical fiber cables 38 and 39 and the coaxial cable 37 are shortened, the loss can be further reduced and the detection sensitivity of the signal under measurement can be further improved.

【0034】また、電気光学プローブ15Aは用途によ
り使い分けられ、この場合にも光入出力ユニットDと一
体として組み付けられて取り扱われる。一方、光入出力
ユニットDと電源供給/測定信号出力ユニットEとは、
測定信号の出力用としての同軸コネクタ45と、電源電
圧やバランスモニタ信号,フォトカレントモニタ信号の
入出力用としての多極コネクタ50とによって着脱可能
に接続されて、これらの着脱が任意に行えるようになっ
ている。従って、用途に応じて電気光学プローブ15A
はこれに一体の光入出力ユニットDとともに、電源供給
/測定信号出力ユニットEに対し接続替えが行われる。
なお、電源供給/測定信号出力ユニットEに測定信号の
伝送系が複数チャンネル分設けられている場合にも、電
気光学プローブ15Aは光入出力ユニットDと一体とな
って所定の同軸コネクタ45を介していずれかのチャン
ネルの増幅器41,43やフィルタ42に繋るように着
脱可能に接続される。
The electro-optic probe 15A is used properly depending on the application. In this case as well, the electro-optic probe 15A is integrated with the optical input / output unit D and handled. On the other hand, the optical input / output unit D and the power supply / measurement signal output unit E
A coaxial connector 45 for outputting a measurement signal and a multi-pole connector 50 for inputting / outputting a power supply voltage, a balance monitor signal, and a photocurrent monitor signal are detachably connected to each other so that they can be arbitrarily attached and detached. It has become. Therefore, the electro-optic probe 15A is used depending on the application.
Is connected to the power supply / measurement signal output unit E together with the optical input / output unit D integrated therewith.
Even when the power supply / measurement signal output unit E is provided with a plurality of measurement signal transmission systems, the electro-optic probe 15A is integrated with the optical input / output unit D via the predetermined coaxial connector 45. It is detachably connected so as to be connected to the amplifiers 41 and 43 and the filter 42 of one of the channels.

【0035】なお、電気光学プローブ15Aの種類とし
ては、例えば感度1,周波数特性10MHz〜1GHz
の標準タイプと、感度3,周波数特性50MHz〜1G
Hzの高感度タイプのものがあり、これらには各タイプ
に応じた性能や機能を持つ光入出力ユニットが一体に接
続される。
The type of the electro-optic probe 15A is, for example, sensitivity 1, frequency characteristic 10 MHz to 1 GHz.
Standard type, sensitivity 3, frequency characteristic 50MHz ~ 1G
There is a high-sensitivity type of Hz, and an optical input / output unit having performance and function corresponding to each type is integrally connected to these types.

【0036】また、プローブヘッド1の電気光学素子2
に金属ピン1aを当接するのに代えて、この金属ピン1
aを着脱(交換)可能に支持するソケットを当接してお
くことで、金属ピン1aのみの交換を迅速,容易に行う
ことができる。
The electro-optical element 2 of the probe head 1
Instead of contacting the metal pin 1a with the metal pin 1a,
By abutting the socket for detachably supporting (replacement) a, replacement of only the metal pin 1a can be performed quickly and easily.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば電気光学
プローブと光入出力ユニットとをケーブルにより接続
し、前記光入出力ユニットと電源供給/測定信号出力ユ
ニットとをコネクタにより分離可能に接続したので、扱
う信号としてレベルの低い光信号や被測定信号の損失ま
たはアンバランスの発生を防止できるほか、扱う信号レ
ベルが比較的大きい部分でのコネクタ接続によってその
取り扱いや使用を容易化できるという効果が得られる。
As described above, according to the present invention, the electro-optical probe and the optical input / output unit are connected by the cable, and the optical input / output unit and the power supply / measurement signal output unit can be separated by the connector. The connection prevents loss or imbalance of low-level optical signals and signals under measurement as signals to be handled, and facilitates handling and use by connecting connectors at relatively large signal levels. The effect is obtained.

【0038】また、本発明によれば前記電源供給/測定
信号出力ユニットに、前記接続点に得られる電気信号を
増幅して出力する増幅器を複数チャンネル分設けたの
で、用途に応じて性能が異なる電気光学プローブの複数
組を光入出力ユニットとともに電源供給/測定信号出力
ユニットに接続することができ、用途別の測定作業の切
り換えが迅速に行えるという利点が得られる。また、電
気光学プローブを用途ごとに異なった光入出力ユニット
に接続するようにしたので、用途ごとに異なる一体の電
気光学プローブおよび光入出力ユニットとして、電源供
給/測定信号出力ユニットに着脱自在に接続可能とな
り、その使用や取り扱いが容易になる。
Further, according to the present invention, the power supply / measurement signal output unit is provided with an amplifier for amplifying and outputting an electric signal obtained at the connection point for a plurality of channels. A plurality of sets of electro-optic probes can be connected to the power supply / measurement signal output unit together with the optical input / output unit, and the advantage that the measurement work for each application can be quickly switched is obtained. In addition, since the electro-optic probe is connected to a different optical input / output unit for each application, it can be detachably attached to the power supply / measurement signal output unit as an integrated electro-optic probe and optical input / output unit that differs for each application Connection becomes possible, and its use and handling become easy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の一形態による測定信号出力装
置を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a measurement signal output device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 従来の測定信号出力装置における電気光学プ
ローブを概念的に示す構成図である。
FIG. 2 is a configuration diagram conceptually showing an electro-optic probe in a conventional measurement signal output device.

【図3】 従来の測定信号出力装置における受光回路を
示すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a light receiving circuit in a conventional measurement signal output device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

15A 電気光学プローブ 21 フォトダイオード(第1の光電変換素子) 22 フォトダイオード(第2の光電変換素子) 23 正のバイアス電源(第1のバイアス電源) 24 負のバイアス電源(第2のバイアス電源) 27,41,43 増幅器(出力回路) 34 電流駆動回路 37 同軸コード(ケーブル) 38,39 光ファイバケーブル(ケーブル) 45 同軸コネクタ(コネクタ) 46 電源 50 多極コネクタ(コネクタ) D 光入出力ユニット E 電源供給/測定信号出力ユニット P 接続点 15A Electro-optic probe 21 Photodiode (first photoelectric conversion element) 22 Photodiode (second photoelectric conversion element) 23 Positive bias power supply (first bias power supply) 24 Negative bias power supply (second bias power supply) 27, 41, 43 Amplifier (output circuit) 34 Current drive circuit 37 Coaxial cord (cable) 38, 39 Optical fiber cable (cable) 45 Coaxial connector (connector) 46 Power supply 50 Multipolar connector (connector) D Optical input / output unit E Power supply / measurement signal output unit P connection point

フロントページの続き (72)発明者 伴城 暢一 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 菊池 潤 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 サンジェイ グプタ 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 品川 満 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 橋本 千里 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 永妻 忠夫 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 久良木 億 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 Fターム(参考) 2G011 AA01 AC14 AC31 AD02 AE11 2G032 AD07 AF07 4M106 AA01 BA01 BA06 CA05 DD03 DD08 DE14 5J092 AA01 AA56 CA00 CA36 FA20 HA02 HA19 HA25 HA44 KA00 KA01 KA02 KA12 KA26 KA28 KA34 KA41 KA61 SA13 TA01 UL02 Continued on the front page (72) Inventor Junichi Banjo 4-19-7 Kamata, Ota-ku, Tokyo Inside Ando Electric Co., Ltd. (72) Inventor Jun Kikuchi 4-19-7 Kamata, Ota-ku, Tokyo Ando Electric (72) Inventor Sanjay Gupta 4-19-7 Kamata, Ota-ku, Tokyo Ando Electric Corporation (72) Inventor Mitsuru Shinagawa 2-3-1, Otemachi, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Telegraph and Telephone Within Telephone Co., Ltd. (72) Inventor Chisato Hashimoto 2-3-1, Otemachi, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Telegraph and Telephone Corporation (72) Inventor Tadao Nagatsuma 2-3-1, Otemachi, Chiyoda-ku, Tokyo Sun Within the Telegraph and Telephone Co., Ltd. BA06 CA05 DD03 DD08 DE14 5J092 AA01 AA56 CA00 CA36 FA20 HA02 HA19 HA25 HA44 KA00 KA01 KA02 KA12 KA26 KA28 KA34 KA41 KA61 SA13 TA01 UL02

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源からの光出力を受けて、被測定信号
の電圧に応じて偏光変化した第1の光信号および第2の
光信号を出力する電気光学プローブと、 第1のバイアス電源と第2のバイアス電源との間に直列
接続されて、前記第1の光信号と第2の光信号をそれぞ
れ受光して電気信号に変換する第1の光電変換素子およ
び第2の光電変換素子と、 該第1の光電変換素子と第2の光電変換素子との接続点
に得られる電気信号を出力する出力回路と、 前記第1の光電変換素子,第2の光電変換素子および出
力回路とともに光入出力ユニットに設けられて、前記第
1の光電変換素子および第2の光電変換素子に流れる電
流変化に応じた制御電圧を受けて、前記光源に駆動電流
を供給する電流駆動回路と、 前記光入出力ユニットに接続されて、前記接続点に得ら
れる電気信号を増幅して測定回路側へ出力する増幅器、
および前記光入出力ユニット内の電気回路に電力を供給
する電源を有する電源供給/測定信号出力ユニットとを
備え、 前記電気光学プローブと光入出力ユニットとがケーブル
により接続され、前記光入出力ユニットと電源供給/測
定信号出力ユニットとがコネクタにより分離可能に接続
されていることを特徴とする測定信号出力装置。
An electro-optic probe for receiving a light output from a light source and outputting a first light signal and a second light signal whose polarization has been changed in accordance with the voltage of a signal under measurement; a first bias power supply; A first photoelectric conversion element and a second photoelectric conversion element, which are connected in series between the second bias power supply and receive the first optical signal and the second optical signal, respectively, and convert the optical signals into electric signals; An output circuit for outputting an electric signal obtained at a connection point between the first photoelectric conversion element and the second photoelectric conversion element; and an optical circuit together with the first photoelectric conversion element, the second photoelectric conversion element, and the output circuit. A current driving circuit provided in the input / output unit and receiving a control voltage according to a change in current flowing through the first photoelectric conversion element and the second photoelectric conversion element and supplying a driving current to the light source; Connected to the input / output unit, Amplifier that outputs to the measuring circuit side amplifies the electrical signal obtained in connection point,
And a power supply / measurement signal output unit having a power supply for supplying power to an electric circuit in the optical input / output unit, wherein the electro-optical probe and the optical input / output unit are connected by a cable, And a power supply / measurement signal output unit are connected to be separable by a connector.
【請求項2】 前記電源供給/測定信号出力ユニット
が、前記接続点に得られる電気信号を増幅して出力する
増幅器を複数チャンネル分備えていることを特徴とする
請求項1に記載の測定信号出力装置。
2. The measurement signal according to claim 1, wherein the power supply / measurement signal output unit includes amplifiers for amplifying and outputting an electric signal obtained at the connection point for a plurality of channels. Output device.
【請求項3】 前記電気光学プローブが、用途ごとに異
なった光入出力ユニットに接続されていることを特徴と
する請求項1に記載の測定信号出力装置。
3. The measurement signal output device according to claim 1, wherein the electro-optic probe is connected to a different optical input / output unit for each application.
JP37191599A 1999-12-27 1999-12-27 Measurement signal output device Expired - Fee Related JP3688544B2 (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP37191599A JP3688544B2 (en) 1999-12-27 1999-12-27 Measurement signal output device
GB0030560A GB2361766A (en) 1999-12-27 2000-12-14 Voltage measurement apparatus comprising an electro-optic probe and separable units
US09/738,763 US20010022338A1 (en) 1999-12-27 2000-12-18 Probe signal outputting apparatus
DE10064515A DE10064515C2 (en) 1999-12-27 2000-12-22 Arrangement for the output of a probe signal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP37191599A JP3688544B2 (en) 1999-12-27 1999-12-27 Measurement signal output device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001189356A true JP2001189356A (en) 2001-07-10
JP3688544B2 JP3688544B2 (en) 2005-08-31

Family

ID=18499528

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP37191599A Expired - Fee Related JP3688544B2 (en) 1999-12-27 1999-12-27 Measurement signal output device

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20010022338A1 (en)
JP (1) JP3688544B2 (en)
DE (1) DE10064515C2 (en)
GB (1) GB2361766A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018165727A (en) * 2018-08-06 2018-10-25 浜松ホトニクス株式会社 Image generation device and image generation method

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2445637C1 (en) * 2011-01-13 2012-03-20 Открытое Акционерное Общество Холдинговая Компания "Электрозавод" (Оао "Электрозавод") Optoelectronic device for measuring high-frequency voltage on high-voltage leads
EP2573574A1 (en) * 2011-09-21 2013-03-27 EADS Deutschland GmbH Handheld test probe assembly for non-contacting microwave measurements and method of using same
WO2014087502A1 (en) * 2012-12-05 2014-06-12 パイオニア株式会社 Measurement device, probe portion and connection cable
US11187730B2 (en) * 2019-11-19 2021-11-30 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Probe head, probe coupler and probe arrangement

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5917170A (en) * 1982-07-21 1984-01-28 Hitachi Ltd Optical system electric field intensity measuring instrument
US5808473A (en) * 1994-08-04 1998-09-15 Nippon Telegraph & Telephone Corp. Electric signal measurement apparatus using electro-optic sampling by one point contact
CA2348274C (en) * 1998-09-01 2005-07-12 Lockheed Martin Idaho Technologies Company Electro-optic voltage sensor
JP2000147021A (en) * 1998-11-11 2000-05-26 Ando Electric Co Ltd Light-receiving circuit for electro-optical sampling oscilloscope

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018165727A (en) * 2018-08-06 2018-10-25 浜松ホトニクス株式会社 Image generation device and image generation method

Also Published As

Publication number Publication date
JP3688544B2 (en) 2005-08-31
DE10064515A1 (en) 2001-08-02
DE10064515C2 (en) 2003-02-27
GB0030560D0 (en) 2001-01-31
GB2361766A (en) 2001-10-31
US20010022338A1 (en) 2001-09-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0411641B1 (en) Electro-optic sampling apparatus using a low noise pulsed laser diode
KR100401347B1 (en) Optically driven driver, optical output type voltage sensor, and ic testing equipment using these devices
US6384590B1 (en) Light receiving circuit for use in electro-optic sampling oscilloscope
JP3688544B2 (en) Measurement signal output device
US6429669B1 (en) Temperature-insensitive electro-optic probe
WO2020059440A1 (en) Search method and search system
US6690454B2 (en) Method, apparatus and system for testing one or more waveguides of an optical device
JP2001183398A (en) Measurement signal outputting device
JPH10229237A (en) Optical amplifier as well as optical amplifier gain control method and device
CN116195042A (en) Inspection apparatus
US6297651B1 (en) Electro-optic sampling probe having unit for adjusting quantity of light incident on electro-optic sampling optical system module
JP2000221213A (en) Electro-optic probe
CN114383641B (en) Optical sensing demodulation module and optical sensing system
JP2000162243A (en) Electro-optical sampling prober
TWI801557B (en) Optical difference detector and inspection device
JP2000171488A (en) Electrooptical probe
JPH09264780A (en) Linearity tester for photodetector
JPH06331660A (en) Optical sensor
CN112985586A (en) Polarization maintaining light source and optical power detection integrated equipment
JP2000171487A (en) Electrooptical probe
JP2593647Y2 (en) BOTDA device for displaying far-end point
JPH0540133A (en) Signal-waveform measuring apparatus
JPH0540132A (en) Signal-waveform measuring apparatus
Martini et al. Spectral attenuation measurements of optical fibers: Design of an instrument based on a pulsed-light source
JP2001099871A (en) Electric optical probe

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041025

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20041124

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050201

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050401

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050510

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050608

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080617

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090617

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100617

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees