JP2001174731A - Multi-beam light source device and multi-beam scanner - Google Patents

Multi-beam light source device and multi-beam scanner

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JP2001174731A
JP2001174731A JP35531099A JP35531099A JP2001174731A JP 2001174731 A JP2001174731 A JP 2001174731A JP 35531099 A JP35531099 A JP 35531099A JP 35531099 A JP35531099 A JP 35531099A JP 2001174731 A JP2001174731 A JP 2001174731A
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laser array
axis
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light source
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Tomohiro Nakajima
智宏 中島
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multi-beam light source device which can improve the assembling efficiency by enabling the subscanning pitch of the beam spot array of each semiconductor laser array to be easily and surely adjusted by a simple work. SOLUTION: Two semiconductor laser arrays 11 and 12 are individually supported on a base member 15 freely turnably and adjustably around revolving shafts 16 and 17 made approximately parallel with their exit axes, and revolving shafts 16 and 17 are made nonparallel with each other to separate beam spot arrays of semiconductor laser arrays 11 and 12 on a scan object surface, and thus the attitude of each of semiconductor arrays 11 and 12 can be independently kept to improve the assembling efficiency.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル複写機や
レーザプリンタ等の画像形成装置の光書込走査装置に適
用され、特に、複数のレーザビームにより感光体等の被
走査面上を同時に走査させるために用いられるマルチビ
ーム光源装置及びこれを用いたマルチビーム走査装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is applied to an optical writing / scanning apparatus of an image forming apparatus such as a digital copying machine or a laser printer, and in particular, simultaneously scans a surface to be scanned such as a photoconductor with a plurality of laser beams. 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-beam light source device used for performing the scanning and a multi-beam scanning device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、光書込系に用いられる光走査装
置において記録速度を向上させる手法として、偏向手段
としてのポリゴンミラーの回転速度を上げる方法があ
る。しかし、この方法ではポリゴンモータの耐久性や騒
音、振動、及び、レーザの変調速度等が問題となり、か
つ、記録速度の向上にも限界がある。
2. Description of the Related Art In general, as a method of improving a recording speed in an optical scanning device used in an optical writing system, there is a method of increasing a rotation speed of a polygon mirror as a deflecting means. However, in this method, durability, noise, vibration, laser modulation speed, and the like of the polygon motor are problematic, and there is a limit in improving the recording speed.

【0003】そこで、一度に複数本のレーザビームを走
査して複数の記録ラインを同時に記録させるマルチビー
ム走査装置が提案されている。例えば、特開昭56−4
2248号公報に示されるように複数個の発光源(発光
点)をモノリシックにアレイ状に配列させた半導体レー
ザアレイを光源として用いるようにしている。
Therefore, a multi-beam scanning apparatus has been proposed in which a plurality of laser beams are scanned at one time to simultaneously record a plurality of recording lines. For example, JP-A-56-4
As disclosed in Japanese Patent No. 2248, a semiconductor laser array in which a plurality of light emitting sources (light emitting points) are monolithically arranged in an array is used as a light source.

【0004】通常、半導体レーザの光出力は1走査ライ
ン毎に画像領域外の走査時間を利用して、その光出力を
検出し、フィードバック制御により印加電流量の設定が
行われる。上述した公報例のような半導体レーザアレイ
では発光源(発光点)は複数であるものの、光出力を検
出するセンサは共通であるため、光出力の検出〜フィー
ドバックによる出力設定を時系列的に行なわざるを得な
い。従って、半導体レーザアレイにおける光源数が多く
なるに従い、この処理に要する時間が増加し、1走査毎
の画像領域外の走査時間では間に合わなくなる可能性が
大きい。間に合わない場合には、ページ間の走査時間を
利用して上記の処理を行なうが、これでは、設定した印
加電流量を長時間に渡って保持しなければならず、その
間にレーザ出力が変動し画像濃度が変化してしまう可能
性がある。
Normally, the light output of a semiconductor laser is detected by utilizing the scanning time outside the image area for each scanning line, and the amount of applied current is set by feedback control. Although the semiconductor laser array as in the above-mentioned publication example has a plurality of light-emitting sources (light-emitting points), since the sensor for detecting the light output is common, the output setting from the detection of the light output to the feedback is performed in time series. I have no choice. Therefore, as the number of light sources in the semiconductor laser array increases, the time required for this processing increases, and there is a high possibility that the scanning time outside the image area for each scan will not be enough. If not, the above processing is performed using the scanning time between pages. However, in this case, the set applied current amount must be held for a long time, during which the laser output fluctuates. The image density may change.

【0005】この点、特開平7−72407号公報によ
れば、複数個の半導体レーザアレイの複数の発光点から
射出されるレーザ光をプリズム等のビーム合成手段を用
いて合成させ、恰も1つの光源から複数本のレーザ光が
射出される如く構成したマルチビーム光源ユニットが提
案されている。これによれば、1個の半導体レーザアレ
イに要求される発光点の数を半減させることができるの
で、これらの発光点の光出力の検出〜フィードバック制
御による光出力の設定処理に要する処理時間も半減させ
ることができる。よって、画像濃度の変動を最小限に抑
えて、高品質な画像を得ることができる。
[0005] In this regard, according to Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-72407, laser beams emitted from a plurality of light emitting points of a plurality of semiconductor laser arrays are combined using a beam combining means such as a prism. A multi-beam light source unit configured to emit a plurality of laser beams from a light source has been proposed. According to this, since the number of light emitting points required for one semiconductor laser array can be halved, the processing time required for detecting the light output of these light emitting points and setting the light output by feedback control is also reduced. Can be halved. Therefore, it is possible to obtain a high-quality image while minimizing the fluctuation of the image density.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】複数個の半導体レーザ
アレイの各々は、複数個の発光点に対して単一のコリメ
ータレンズが配設されて、各発光点からのレーザ光は平
行光束化して、走査光学系に入射させる構成とされる。
ここに、走査光学系全体の副走査倍率によりビームスポ
ット列の隣接ピッチが決定されることとなる。
In each of the plurality of semiconductor laser arrays, a single collimator lens is provided for a plurality of light emitting points, and the laser light from each light emitting point is converted into a parallel light beam. , Into the scanning optical system.
Here, the adjacent pitch of the beam spot array is determined by the sub-scanning magnification of the entire scanning optical system.

【0007】しかしながら、半導体レーザアレイは各々
走査光学系全体の副走査倍率によりその配列間隔が像面
でのビームスポット列の隣接ピッチに拡大されて投影さ
れるため、半導体レーザアレイの配列角度及び半導体レ
ーザアレイ同士の配置関係を精度よく合わせないとビー
ムスポットの配列順序が合わなかったり、良好なピッチ
精度が得られないという問題がある。
However, since the semiconductor laser arrays are projected with their arrangement intervals enlarged to the adjacent pitch of the beam spot array on the image plane by the sub-scanning magnification of the entire scanning optical system, the arrangement angle of the semiconductor laser arrays and the semiconductor Unless the arrangement relationship between the laser arrays is precisely adjusted, there is a problem that the arrangement order of the beam spots does not match, and good pitch accuracy cannot be obtained.

【0008】そこで、本発明は、半導体レーザアレイ個
々のビームスポット列の副走査ピッチの調整を可能とす
るとともに、その調整を単純作業で容易かつ確実に行え
るようにすることで組立効率を向上させ得るマルチビー
ム光源装置を提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention improves the assembling efficiency by making it possible to adjust the sub-scanning pitch of the individual beam spot arrays of the semiconductor laser array, and to make it possible to easily and surely perform the adjustment by a simple operation. It is an object of the present invention to provide a multi-beam light source device.

【0009】また、本発明は、半導体レーザアレイのビ
ームスポット列間の相対位置合わせの調整を可能とする
とともに、その調整を単純作業で容易かつ確実に行える
ようにすることで組立効率を向上させ得るマルチビーム
光源装置を提供することを目的とする。
Further, the present invention makes it possible to adjust the relative positioning between the beam spot arrays of the semiconductor laser array, and to improve the assembly efficiency by making it possible to perform the adjustment easily and reliably by a simple operation. It is an object of the present invention to provide a multi-beam light source device.

【0010】さらに、本発明では、上述のように2個の
半導体レーザアレイを用いて多ビームを走査させる場合
にも単ビーム時と同等に高品位な画像記録を行わせ得る
マルチビーム光源装置及びマルチビーム走査装置を提供
することを目的とする。
Further, according to the present invention, there is provided a multi-beam light source device capable of performing high-quality image recording as in the case of a single beam even when scanning multiple beams using two semiconductor laser arrays as described above. It is an object to provide a multi-beam scanning device.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
直線上に複数個の発光点を有する第1の半導体レーザア
レイと、この第1の半導体レーザアレイと同一構造の第
2の半導体レーザアレイと、前記第1の半導体レーザア
レイから射出される複数のレーザ光をカップリングする
第1のカップリングレンズと、前記第2の半導体レーザ
アレイから射出される複数のレーザ光をカップリングす
る第2のカップリングレンズと、前記第1の半導体レー
ザアレイと前記第1のカップリングレンズとを第1の射
出軸上に配置させるとともに前記第2の半導体レーザア
レイと前記第2のカップリングレンズとを前記第1の射
出軸に対して所定角度隔てた第2の射出軸上に配置させ
てこれらの部材を一体に支持するベース部材と、を備
え、前記第1の半導体レーザアレイを前記第1の射出軸
に対して略平行に設定された第1の回転軸を中心に前記
ベース部材に回動調整自在に支持させ、前記第2の半導
体レーザアレイを前記第2の射出軸に対して略平行に設
定されて前記第1の回転軸と非平行な第2の回転軸を中
心に前記ベース部材に回動調整自在に支持させてなる。
According to the first aspect of the present invention,
A first semiconductor laser array having a plurality of light emitting points on a straight line, a second semiconductor laser array having the same structure as the first semiconductor laser array, and a plurality of light emitting points emitted from the first semiconductor laser array. A first coupling lens for coupling the laser light, a second coupling lens for coupling a plurality of laser lights emitted from the second semiconductor laser array, the first semiconductor laser array, A first coupling lens is disposed on a first emission axis, and a second semiconductor laser array and the second coupling lens are separated by a predetermined angle with respect to the first emission axis. A base member that is disposed on the emission axis and supports these members integrally, and the first semiconductor laser array is set substantially parallel to the first emission axis. The second semiconductor laser array is set to be substantially parallel to the second emission axis, and is supported by the base member so as to be freely rotatable about the first rotation axis. The base member is supported so as to be freely rotatable about a second rotation axis that is not parallel to the axis.

【0012】従って、第1及び第2の2個の半導体レー
ザアレイを各々個別にその射出軸と略平行に設定された
第1及び第2の回転軸を中心にベース部材に回動調整自
在に支持させるとともに、第1及び第2の回転軸を互い
に非平行としてなるので、各半導体レーザアレイのビー
ムスポット列を分離させることができ、半導体レーザア
レイ毎に独立してその姿勢を保つことが可能となり、組
立効率を向上させることができる。
Accordingly, the first and second two semiconductor laser arrays are individually and rotatably adjustable on the base member about the first and second rotation axes set substantially in parallel with the emission axes thereof. In addition to the support, the first and second rotation axes are non-parallel to each other, so that the beam spot array of each semiconductor laser array can be separated, and the attitude can be maintained independently for each semiconductor laser array. And the assembly efficiency can be improved.

【0013】請求項2記載の発明は、請求項1記載のマ
ルチビーム光源装置において、前記第1及び第2の半導
体レーザアレイから出射される複数のレーザ光を走査し
て被走査面にビームスポットを形成するための走査光学
系の光軸と略平行に設定された第3の回転軸を中心とし
て回動調整自在に設けられて前記ベース部材を保持する
ホルダ部材を備える。
According to a second aspect of the present invention, in the multi-beam light source device according to the first aspect, a plurality of laser beams emitted from the first and second semiconductor laser arrays are scanned to form a beam spot on a surface to be scanned. And a holder member that is provided so as to be rotatable and adjustable about a third rotation axis set substantially parallel to the optical axis of the scanning optical system and that holds the base member.

【0014】従って、第1、第2の一対の半導体レーザ
アレイ及びカップリングレンズを同一のベース部材上に
支持させるとともに、このベース部材を走査光学系の光
軸と略平行に設定された第3の回転軸を中心にホルダ部
材に回動調整自在に保持させてなるので、各半導体レー
ザアレイのビームスポット列間の副走査方向における相
対位置の微調整が可能となり、ピッチ設定精度が向上
し、高品位な画像記録を行わせることができる。
Therefore, the first and second pair of semiconductor laser arrays and the coupling lens are supported on the same base member, and the third base member is set substantially parallel to the optical axis of the scanning optical system. Since the holder member is held rotatably about the rotation axis of the laser beam, fine adjustment of the relative position in the sub-scanning direction between the beam spot rows of each semiconductor laser array is possible, and the pitch setting accuracy is improved. High-quality image recording can be performed.

【0015】請求項3記載の発明は、直線上に複数個の
発光点を有する第1の半導体レーザアレイと、この第1
の半導体レーザアレイと同一構造の第2の半導体レーザ
アレイと、前記第1の半導体レーザアレイから射出され
るレーザ光をカップリングする第1のコリメータレンズ
と、前記第2の半導体レーザアレイから射出されるレー
ザ光をカップリングする第2のコリメータレンズと、前
記第1の半導体レーザアレイと前記第1のカップリング
レンズとを第1の射出軸上に配置させて前記第1の射出
軸に対して略平行に設定された第1の回転軸を中心に一
体に回動調整自在に支持する第1のベース部材と、前記
第2の半導体レーザアレイと前記第2のカップリングレ
ンズとを第2の射出軸上に配置させて前記第2の射出軸
に対して略平行に設定されて前記第1の回転軸と非平行
な第2の回転軸を中心に一体に回動調整自在に支持する
第2のベース部材と、を備える。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a first semiconductor laser array having a plurality of light emitting points on a straight line;
A second semiconductor laser array having the same structure as that of the first semiconductor laser array, a first collimator lens for coupling laser light emitted from the first semiconductor laser array, and a second collimator lens emitted from the second semiconductor laser array. A second collimator lens for coupling the laser beam, and the first semiconductor laser array and the first coupling lens are arranged on a first emission axis so as to be positioned with respect to the first emission axis. A first base member that is supported so as to be integrally rotatable and adjustable about a first rotation axis set substantially in parallel, the second semiconductor laser array, and the second coupling lens; A second support shaft disposed on the injection shaft and supported so as to be integrally rotatable about a second rotation shaft that is set substantially parallel to the second injection shaft and is non-parallel to the first rotation shaft; 2 base members and , Is provided.

【0016】従って、第1及び第2の各対毎に半導体レ
ーザアレイ及びカップリングレンズをその射出軸と略平
行に設定された第1及び第2の回転軸を中心に各々回動
調整自在な第1及び第2のベース部材に一体に支持させ
るとともに、これらの第1及び第2の回転軸を互いに非
平行としてなるので、カップリングレンズと発光点との
配置関係を保ったまま半導体レーザアレイ毎のピッチ調
整を行うことが可能となり、ピッチ調整に伴う他の光学
性能への影響を回避し、容易、かつ、確実に調整を行う
ことができ、組立効率を向上させることができる。
Accordingly, the semiconductor laser array and the coupling lens for each of the first and second pairs can be freely rotated and adjusted about the first and second rotation axes set substantially in parallel with the emission axis. Since the first and second rotation axes are made non-parallel to each other while being integrally supported by the first and second base members, the semiconductor laser array is maintained while maintaining the positional relationship between the coupling lens and the light emitting point. This makes it possible to perform pitch adjustment every time, avoiding the influence of the pitch adjustment on other optical performance, making it possible to perform adjustment easily and reliably, and to improve assembly efficiency.

【0017】請求項4記載の発明は、請求項3記載のマ
ルチビーム光源装置において、前記第1及び第2の半導
体レーザアレイから出射される複数のレーザ光を走査し
て被走査面にビームスポットを形成するための走査光学
系の光軸と略平行に設定された第3の回転軸を中心とし
て回動調整自在に設けられて前記第1及び第2のベース
部材を保持するホルダ部材を備える。
According to a fourth aspect of the present invention, in the multi-beam light source device according to the third aspect, a plurality of laser beams emitted from the first and second semiconductor laser arrays are scanned to form a beam spot on a surface to be scanned. And a holder member that is provided so as to be rotatable and adjustable about a third rotation axis set substantially parallel to an optical axis of a scanning optical system for forming the first and second base members. .

【0018】従って、第1、第2の一対のベース部材を
同一のホルダ部材上に保持させるとともに、このホルダ
部材を走査光学系の光軸と略平行に設定された第3の回
転軸を中心として回動調整自在に設けたので、各半導体
レーザアレイのビームスポット列間の副走査方向におけ
る相対位置の微調整が可能となり、ピッチ設定精度が向
上し、高品位な画像記録を行わせることができる。
Accordingly, the first and second pair of base members are held on the same holder member, and the holder member is centered on the third rotation axis set substantially parallel to the optical axis of the scanning optical system. The rotation position is freely adjustable, so that fine adjustment of the relative position between the beam spot rows of each semiconductor laser array in the sub-scanning direction is possible, the pitch setting accuracy is improved, and high-quality image recording can be performed. it can.

【0019】請求項5記載の発明は、請求項1ないし4
の何れか一に記載のマルチビーム光源装置において、前
記第1の回転軸と前記第2の回転軸とは前記走査光学系
におけるポリゴンミラー反射点近傍で交差するように設
定されている。
The invention according to claim 5 provides the invention according to claims 1 to 4
In the multi-beam light source device according to any one of the above, the first rotation axis and the second rotation axis are set to intersect near a polygon mirror reflection point in the scanning optical system.

【0020】従って、第1及び第2の回転軸を走査光学
系におけるポリゴンミラー反射点近傍で交差するように
設定することで、反射点位置の差による光学性能のばら
つきを抑えることができ、よって、高品位な画像記録を
行わせることができる。
Therefore, by setting the first and second rotation axes so as to intersect in the vicinity of the reflection point of the polygon mirror in the scanning optical system, it is possible to suppress variations in optical performance due to the difference in the reflection point position. Thus, high-quality image recording can be performed.

【0021】請求項6記載の発明のマルチビーム走査装
置は、請求項1ないし5の何れか一に記載のマルチビー
ム光源装置と、このマルチビーム光源装置により出力さ
れる複数のレーザ光を偏向走査させる偏向手段と、この
偏向手段により偏向走査される複数のレーザ光を被走査
面上に光スポットとして結像させる結像光学系とを有す
る走査光学系と、を備える。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a multi-beam scanning device according to any one of the first to fifth aspects, and a plurality of laser beams output from the multi-beam light source are deflected and scanned. A scanning optical system having a deflecting unit for causing the laser beam to be deflected and scanned by the deflecting unit, and an imaging optical system for forming an image on the surface to be scanned as a light spot.

【0022】従って、各光スポットの間隔の均一なる状
態で感光体等の被走査面上への光書込みを行わせること
ができ、よって、高品位な画像記録を行わせることがで
きる。
Accordingly, it is possible to perform optical writing on a surface to be scanned such as a photoreceptor in a state where the intervals between the light spots are uniform, and thus it is possible to perform high-quality image recording.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】本発明の第一の実施の形態を図1
ないし図6に基づいて説明する。まず、本実施の形態の
前提として、半導体レーザアレイを用いた場合の結像関
係について図1及び図2を参照して説明する。図1は2
つの発光点1a,1bを有する半導体レーザアレイ1の
発光点間隔をd、その副走査方向成分をds、走査光学
系2の副走査倍率をβとすると、被走査面(感光体面等
の像面)3上での副走査ピッチPsは、概ね、 Ps=β・ds で表される。4は焦点距離fのコリメートレンズ(カッ
プリングレンズ)である。
FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention.
This will be described with reference to FIG. First, as an assumption of the present embodiment, an image forming relationship when a semiconductor laser array is used will be described with reference to FIGS. Figure 1 shows 2
Assuming that the interval between the light emitting points of the semiconductor laser array 1 having the two light emitting points 1a and 1b is d, the component in the sub-scanning direction is ds, and the sub-scanning magnification of the scanning optical system 2 is β, the surface to be scanned (the image surface The sub-scanning pitch Ps on (3) is generally expressed by Ps = β · ds. Reference numeral 4 denotes a collimating lens (coupling lens) having a focal length f.

【0024】ここで、副走査倍率βは通常3〜7倍程度
であるので、半導体レーザアレイ1の発光点間隔dが比
較的狭い(10〜30μm)場合には、図2(a)に示
すように発光点1a,1bの配列方向を副走査方向に配
列させ所定の副走査ピッチPs(例えば、16dot/m
mの場合であれば、63.5μm)が得られるように発
光点間隔dに合わせて副走査倍率βの設計がなされる。
一方、半導体レーザアレイ1の発光点間隔dが比較的広
い(100〜150μm)場合には、図2(b)に示す
ように発光点1a,1bの配列方向を主走査方向とし射
出軸aに垂直な面内で角度θだけ傾けることにより生ず
る副走査方向成分を利用して副走査倍率βの設計がなさ
れる。
Here, since the sub-scanning magnification β is usually about 3 to 7 times, when the light emitting point interval d of the semiconductor laser array 1 is relatively narrow (10 to 30 μm), it is shown in FIG. The light emitting points 1a and 1b are arranged in the sub-scanning direction in the sub-scanning direction as described above, and a predetermined sub-scanning pitch Ps (for example, 16 dots / m
In the case of m, the sub-scanning magnification β is designed in accordance with the light emitting point interval d so as to obtain 63.5 μm).
On the other hand, when the interval d between the light emitting points of the semiconductor laser array 1 is relatively wide (100 to 150 μm), the arrangement direction of the light emitting points 1a and 1b is set to the main scanning direction as shown in FIG. The sub-scanning magnification β is designed by using the sub-scanning direction component generated by tilting by an angle θ in a vertical plane.

【0025】ここに、本実施の形態では、図2(a)方
式を前提としており、基本的には、図3に示すように、
4個の発光点1a〜1dを有する半導体レーザアレイ
(発光点間隔14μm)1を用い、コリメートレンズ4の
光軸Cを対称として副走査方向に正確に配置させた場合
に所定の副走査ピッチが得られるように走査光学系2が
設計されている(d=ds)。
Here, in the present embodiment, the method shown in FIG. 2A is assumed, and basically, as shown in FIG.
Semiconductor laser array having four light emitting points 1a to 1d
The scanning optical system 2 is designed so as to obtain a predetermined sub-scanning pitch when the light-emitting point interval 14 μm is used and the optical axis C of the collimating lens 4 is symmetrical and accurately arranged in the sub-scanning direction. (d = ds).

【0026】このような前提の下、本実施の形態の構成
例を図4ないし図6により説明する。図4は本実施の形
態のマルチビーム光源装置の分解斜視図、図5はその組
立状態における縦断側面図である。本実施の形態は、各
々4個の発光点を有する2個の半導体レーザアレイ1
1,12(第1,2の半導体レーザアレイ)を用いる8
ビーム光源装置として構成されている。これらの半導体
レーザアレイ11,12は同一構造で形成されている。
また、これらの半導体レーザアレイ11,12に対して
対をなし、射出光を平行光として走査光学系にカップリ
ングさせるためのカップリングレンズ13,14(第
1,2のカップリングレンズ)も設けられている。
Under such a premise, a configuration example of the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is an exploded perspective view of the multi-beam light source device of the present embodiment, and FIG. 5 is a vertical sectional side view in an assembled state. In this embodiment, two semiconductor laser arrays 1 each having four light emitting points are provided.
8 using 1, 12 (first and second semiconductor laser arrays)
It is configured as a beam light source device. These semiconductor laser arrays 11 and 12 have the same structure.
Coupling lenses 13 and 14 (first and second coupling lenses) for forming a pair with these semiconductor laser arrays 11 and 12 and coupling the emitted light as parallel light to the scanning optical system are also provided. Have been.

【0027】半導体レーザアレイ11,12は、各々主
走査方向に微小に傾斜させた(本実施の形態では約1.
5°)ベース部材15の嵌合穴15a,15bに個別に
円筒状ヒートシンク部16,17の半分厚を嵌合させ押
え部材18,19の突起18a,19aをヒートシンク
部16,17の切欠部16a,17aに合わせた状態で
背面側からねじ20によりベース部材15に取付けられ
ている。
The semiconductor laser arrays 11 and 12 are each slightly tilted in the main scanning direction (in this embodiment, about 1.
5 °) Half the thickness of the cylindrical heat sink portions 16 and 17 is individually fitted into the fitting holes 15 a and 15 b of the base member 15, and the projections 18 a and 19 a of the holding members 18 and 19 are cut out 16 a of the heat sink portions 16 and 17. , 17a are attached to the base member 15 by screws 20 from the rear side.

【0028】また、ベース部材15はホルダ部材21に
円筒状係合部15cを係合させた状態で、ねじ22を長
穴21a,21bを介してねじ穴15d,15eにねじ
止めすることにより固定されて光源ユニットが構成され
る。このとき、各半導体レーザアレイ11,12の発光
点同士の位置合せを行うためベース部材15をホルダ部
材21に対して円筒状係合部15cの中心を回転軸(第
3の回転軸)としてγ方向の角度調整を行うと同時に、
この角度調整によっても発光点の配列方向が常に副走査
方向との平行を保てるようにヒートシンク部16,17
の各々の中心を回転軸(第1及び第2の回転軸)として
押え部材18,19を各々回動させることにより、α方
向の角度が補正自在とされている。
The base member 15 is fixed by screwing the screw 22 to the screw holes 15d and 15e via the elongated holes 21a and 21b in a state where the cylindrical engaging portion 15c is engaged with the holder member 21. Thus, a light source unit is configured. At this time, in order to align the light emitting points of the semiconductor laser arrays 11 and 12, the center of the cylindrical engagement portion 15 c is rotated with respect to the holder member 21 with respect to the holder member 21.
At the same time as adjusting the angle in the γ direction
The heat sinks 16 and 17 are so arranged that the arrangement direction of the light emitting points can always be kept parallel to the sub-scanning direction even by this angle adjustment.
The angles in the α direction can be freely corrected by rotating the holding members 18 and 19 about the center of each of them as a rotation axis (first and second rotation axes).

【0029】カップリングレンズ13,14は各々その
外周をベース部材15の半円状の取付面15f,15g
に沿わせて発光点から射出した発散ビームが平行光束と
なるよう位置決めされ接着される。
The coupling lenses 13 and 14 have semicircular mounting surfaces 15f and 15g of the base member 15 on their outer circumferences, respectively.
The divergent beam emitted from the light emitting point is positioned and bonded so as to become a parallel light flux.

【0030】光学ハウジングへの取付けは、取付壁23
に形成された基準穴23aにホルダ部材21の円筒部2
1cを係合させてねじにより固定される。
The optical housing is mounted on the mounting wall 23.
The cylindrical portion 2 of the holder member 21 is inserted into the reference hole 23a formed in
1c is engaged and fixed by screws.

【0031】なお、本実施の形態では、ヒートシンク部
16,17の中心である回転軸(第1及び第2の回転
軸)を射出軸a1,a2に、円筒状係合部15cの中心
を走査光学系の光軸Cに、各々略一致させているが、必
ずしも一致させる必要はなく、図6に示すような関係が
維持されるよう略平行であればよい。
In this embodiment, the rotation axes (first and second rotation axes), which are the centers of the heat sink sections 16 and 17, are used as the emission axes a1 and a2, and the center of the cylindrical engagement section 15c is scanned. The optical axes C are substantially aligned with the optical axis C of the optical system, but need not necessarily be aligned, and may be substantially parallel so that the relationship shown in FIG. 6 is maintained.

【0032】図6には被走査面(感光体面等の像面)上
における半導体レーザアレイ11,12の各ビームスポ
ット列の配置関係を示す。図6では、半導体レーザアレ
イ11の4個の発光点により形成されるビームスポット
を24a〜24dで示し、半導体レーザアレイ12の4
個の発光点により形成されるビームスポットを25a〜
25dで示す。半導体レーザアレイ11,12において
発光点は等間隔に並んでいるため隣接するビームスポッ
ト間のピッチPsも均等で、本実施の形態では記録ピッ
チPに対して1ライン置きに配列するよう副走査倍率β
が設計されている。また、各半導体レーザアレイ11,
12の射出軸a1,a2が主走査方向に僅かに傾斜され
ていることでビームスポット列は主走査方向に分離され
間隔xだけ隔てて配置され、γ方向への回転により各ビ
ームスポット列の配列を1ライン分ずらすことで各ライ
ンを走査するようにしている。
FIG. 6 shows the arrangement of the beam spot arrays of the semiconductor laser arrays 11 and 12 on the surface to be scanned (image surface such as the surface of the photosensitive member). In FIG. 6, beam spots formed by the four light emitting points of the semiconductor laser array 11 are indicated by reference numerals 24a to 24d.
Beam spots formed by the light emitting points
25d. Since the light emitting points are arranged at equal intervals in the semiconductor laser arrays 11 and 12, the pitch Ps between the adjacent beam spots is also uniform. In the present embodiment, the sub-scanning magnification is set so as to be arranged every other line with respect to the recording pitch P. β
Is designed. Further, each semiconductor laser array 11,
Since the twelve emission axes a1 and a2 are slightly inclined in the main scanning direction, the beam spot rows are separated in the main scanning direction and are arranged at intervals x, and the arrangement of each beam spot row is performed by rotation in the γ direction. Is shifted by one line to scan each line.

【0033】このように、本実施の形態によれば、半導
体レーザアレイ11,12は各々個別にその射出軸a
1,a2と略一致させて設定された回転軸(第1及び第
2の回転軸)を有し各々の回転軸を中心として回動調整
可能に支持してなるとともに、これらの回転軸は互いに
非平行であるので、被走査面上における各半導体レーザ
アレイ11,12のビームスポット列を分離させること
ができ、よって、半導体レーザアレイ11,12毎に独
立して姿勢を保つことが可能となり組立効率が向上す
る。併せて、一対の半導体レーザアレイ11,12及び
カップリングレンズ13,14が同一のベース部材15
上に支持されているとともに、このベース部材15は走
査光学系2の光軸Cと略一致させて設定された回転軸
(第3の回転軸)を中心として回動調整可能に支持され
ているので、各半導体レーザアレイ11,12のビーム
スポット列間の副走査方向の相対位置の微調整が可能と
なり、ピッチ設定精度が向上する。よって、高品位な画
像記録を行わせることができる。
As described above, according to the present embodiment, each of the semiconductor laser arrays 11 and 12 has its emission axis a
1 and a2, the rotating shafts (first and second rotating shafts) are set so as to be substantially coincident with each other, and are supported so as to be able to rotate around the respective rotating shafts. Since they are non-parallel, the beam spot rows of the semiconductor laser arrays 11 and 12 on the surface to be scanned can be separated, so that the attitude can be maintained independently for each of the semiconductor laser arrays 11 and 12. Efficiency is improved. In addition, the pair of semiconductor laser arrays 11 and 12 and the coupling lenses 13 and 14 are
The base member 15 is supported so as to be rotatable about a rotation axis (third rotation axis) set substantially coincident with the optical axis C of the scanning optical system 2. Therefore, it is possible to finely adjust the relative position in the sub-scanning direction between the beam spot arrays of the semiconductor laser arrays 11 and 12, thereby improving the pitch setting accuracy. Therefore, high-quality image recording can be performed.

【0034】本発明の第二の実施の形態を図7ないし図
10に基づいて説明する。本実施の形態では、図2
(b)方式を前提としており、基本的には、図7に示す
ように、2個の発光点31a,31bを有する半導体レ
ーザアレイ(発光点間隔100μm)31を用い、コリメ
ートレンズ32の光軸Cを対称として主走査方向に配置
させ、光軸Cに垂直な面内で角度α回動させ、その副走
査方向成分ds=d・sinαにより副走査方向に正確な
所定の副走査ピッチPsが得られるように走査光学系が
設計されている。
A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In the present embodiment, FIG.
As shown in FIG. 7, basically, a semiconductor laser array (light emitting point interval 100 μm) 31 having two light emitting points 31 a and 31 b is used, and an optical axis of a collimating lens 32 is used. C is symmetrically arranged in the main scanning direction and rotated by an angle α in a plane perpendicular to the optical axis C, and an accurate predetermined sub-scanning pitch Ps in the sub-scanning direction is obtained by the sub-scanning direction component ds = d · sin α. The scanning optical system is designed to obtain.

【0035】このような前提の下、本実施の形態の構成
例を図8ないし図10により説明する。図8は本実施の
形態のマルチビーム光源装置の分解斜視図、図9はその
組立状態における縦断側面図である。本実施の形態は、
各々2個の発光点を有する2個の半導体レーザアレイ4
1,42(第1,2の半導体レーザアレイ)を用いる4
ビーム光源装置として構成されている。
Under such a premise, a configuration example of the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 8 is an exploded perspective view of the multi-beam light source device of the present embodiment, and FIG. 9 is a vertical sectional side view in an assembled state. In this embodiment,
Two semiconductor laser arrays 4 each having two light emitting points
4 using 1,42 (first and second semiconductor laser arrays)
It is configured as a beam light source device.

【0036】まず、半導体レーザアレイ41,42は各
々ベース部材43,44(第1,2のベース部材)に形
成された嵌合穴43a,44aに圧入され固定されてい
る。カップリングレンズ45,46(第1,2のカップ
リングレンズ)は各々その外周をベース部材43,44
の半円状の取付面43b,44bに沿わせて各々の半導
体レーザアレイ41,42の2個の発光点から射出され
た発散ビームが平行光束となるよう位置決めされ接着さ
れている。
First, the semiconductor laser arrays 41 and 42 are press-fitted and fixed in fitting holes 43a and 44a formed in base members 43 and 44 (first and second base members), respectively. Coupling lenses 45 and 46 (first and second coupling lenses) have their outer circumferences formed on base members 43 and 44, respectively.
The divergent beams emitted from the two light emitting points of each of the semiconductor laser arrays 41 and 42 are positioned and adhered along the semicircular mounting surfaces 43b and 44b.

【0037】これらのベース部材43,44は、中間部
材47の主走査方向に微小に傾斜させた取付面47aに
各々円筒状係合部43c,44cを係合穴47b,47
cに係合させ、ねじ48を各々2ヶ所ずつ穴47d,4
7eを介してねじ穴43d,44dにねじ止めすること
により固定されている。また、中間部材47はホルダ部
材49にねじ50をねじ穴47f,47gにねじ止めす
ることにより固定されている。このようにして光源ユニ
ットが構成されている。ここに、ホルダ部材49は光学
ハウジング取付壁51に形成された基準穴51aに係合
し、走査光学系の光軸Cと同軸上に位置させて円筒部4
9aが形成されており、この円筒部49aの中心を回転
軸(第3の回転軸)として回動調整自在に保持されてい
る。
These base members 43, 44 are respectively provided with cylindrical engaging portions 43c, 44c on engaging surfaces 47a, 47c of the intermediate member 47 slightly inclined in the main scanning direction.
c, and screw 48 into two holes 47d, 4
It is fixed by screwing into the screw holes 43d and 44d via 7e. The intermediate member 47 is fixed to the holder member 49 by screwing a screw 50 to the screw holes 47f and 47g. Thus, the light source unit is configured. Here, the holder member 49 engages with a reference hole 51a formed in the optical housing mounting wall 51, and is positioned coaxially with the optical axis C of the scanning optical system so that the cylindrical portion 4 is moved.
9a is formed, and is rotatably adjusted about the center of the cylindrical portion 49a as a rotation axis (third rotation axis).

【0038】さらに、ねじりスプリング52は基準穴5
1aから突出してホルダ部材49の円筒部49aに挿入
されその一端52aが止輪53の穴53aに挿入される
とともにスプリング自身を圧縮させることにより止輪5
3を円筒部49a外周に形成された突起部49bに引っ
掛け、他端52cが光学ハウジング取付壁51の係止部
51bに引っ掛けられている。これにより、ホルダ部材
49はねじりスプリング52の付勢力により光学ハウジ
ング取付壁51に密着するように取付けられている。ま
た、止輪53の立ち上げ部53cがホルダ部材49の突
起49bに係止することにより、時計方向の回転付勢力
が付与されており、この付勢力に抗して調整ねじ54が
ハウジングに固定され、ホルダ部材49の一側に形成さ
れたレバー片49cに突き当てることにより、調整ねじ
54の送りにより円筒部49aの中心を回転軸としてγ
方向に回転調整自在に保持されている。
Further, the torsion spring 52 is connected to the reference hole 5.
1a, which is inserted into the cylindrical portion 49a of the holder member 49, one end 52a of which is inserted into the hole 53a of the retaining ring 53 and compresses the spring itself to thereby form the retaining ring 5
3 is hooked on a projection 49b formed on the outer periphery of the cylindrical portion 49a, and the other end 52c is hooked on a locking portion 51b of the optical housing mounting wall 51. Thus, the holder member 49 is attached so as to be in close contact with the optical housing attachment wall 51 by the urging force of the torsion spring 52. The rising portion 53c of the retaining ring 53 is engaged with the projection 49b of the holder member 49 to apply a clockwise rotational urging force, and the adjusting screw 54 is fixed to the housing against the urging force. Then, by abutting against a lever piece 49c formed on one side of the holder member 49, the adjustment screw 54 feeds the center of the cylindrical portion 49a as a rotation axis, and γ
It is held so that rotation can be adjusted in the direction.

【0039】このとき、各ベース部材43,44につい
ても同時に円筒状係合部43c,44cの中心を回転軸
(第1、第2の回転軸)としてホルダ部材49に対して
回動調整自在に支持させているので、上述のようにホル
ダ部材49の回動調整によりγ調整を行っても各ベース
部材43,44のα方向の角度補正により各半導体レー
ザアレイ41,42は常に所定の角度αを保つように構
成されている。
At this time, each of the base members 43 and 44 is simultaneously rotatable and adjustable with respect to the holder member 49 with the centers of the cylindrical engagement portions 43c and 44c as the rotation axes (first and second rotation axes). As described above, the semiconductor laser arrays 41 and 42 are always kept at the predetermined angle α by the angle correction of the base members 43 and 44 in the α direction even if the γ adjustment is performed by the rotation adjustment of the holder member 49 as described above. Is configured to keep.

【0040】なお、本実施の形態でも円筒状係合部43
a,44aの中心を射出軸a1、a2に略一致させてい
るが、必ずしも一致させる必要はなく、図10に示すよ
うな関係が維持されるよう略平行であればよい。
In this embodiment, the cylindrical engagement portion 43 is also provided.
Although the centers of a and 44a are substantially coincident with the injection axes a1 and a2, they do not necessarily have to coincide with each other, and may be substantially parallel so that the relationship shown in FIG. 10 is maintained.

【0041】図10には被走査面(感光体面等の像面)
上における半導体レーザアレイ41,42の各ビームス
ポット列の配置関係を示す。図10では、半導体レーザ
アレイ41の発光点により形成されるビームスポットを
55a,55bで示し、半導体レーザアレイ42の発光
点により形成されるビームスポットを56a,56bで
示す。発光点間隔dは走査光学系の倍率によりビームス
ポット間隔Pmに投影されるが、ビームスポット列毎に
α方向に傾けることで副走査ピッチPに合わせることが
できる。また、各半導体レーザアレイ41,42の射出
軸a1,a2が主走査方向に僅かに傾斜されていること
でビームスポット列は主走査方向に分離され間隔xだけ
隔てて配置され、γ方向への回転することで各ビームス
ポット列の配列を2ライン分ずらし各ラインを走査する
ようにしている。
FIG. 10 shows a surface to be scanned (image surface such as a photoreceptor surface).
The arrangement relationship of each beam spot array of the semiconductor laser arrays 41 and 42 above is shown. In FIG. 10, beam spots formed by the light emitting points of the semiconductor laser array 41 are indicated by 55a and 55b, and beam spots formed by the light emitting points of the semiconductor laser array 42 are indicated by 56a and 56b. The light emitting point interval d is projected onto the beam spot interval Pm by the magnification of the scanning optical system, but can be adjusted to the sub-scanning pitch P by tilting in the α direction for each beam spot row. Further, since the emission axes a1 and a2 of the semiconductor laser arrays 41 and 42 are slightly inclined in the main scanning direction, the beam spot rows are separated in the main scanning direction and are arranged at intervals x, and the beam spot rows are arranged in the γ direction. By rotating, the arrangement of each beam spot array is shifted by two lines to scan each line.

【0042】このように、本実施の形態によれば、半導
体レーザアレイ41及びカップリングレンズ45が射出
軸a1上に設けられたベース部材43と、半導体レーザ
アレイ42及びカップリングレンズ46が射出軸a2に
設けられたベース部材44とを、各々射出軸a1,a2
と略一致させて設定された非平行な各々の回転軸を中心
に回動調整自在としてホルダ部材49に支持させてなる
ので、カップリングレンズ45,46と発光点との配置
関係を保ったまま半導体レーザアレイ41,42毎のピ
ッチ調整を行うことが可能となり、ピッチ調整に伴う他
の光学性能への影響を回避し、容易、かつ、確実に調整
を行うことができ、組立効率が向上する。さらに、これ
らの一対のベース部材43,44を同一のホルダ部材4
9上に保持させるとともに、このホルダ部材49を走査
光学系の光軸Cと略一致させて設定された回転軸を中心
として回動調整自在に設けているので、各半導体レーザ
アレイ41,42のビームスポット列間の副走査方向に
おける相対位置の微調整が可能となり、ピッチ設定精度
が向上し、高品位な画像記録を行わせることができる。
As described above, according to the present embodiment, the base member 43 provided with the semiconductor laser array 41 and the coupling lens 45 on the emission axis a1, and the semiconductor laser array 42 and the coupling lens 46 provided with the emission axis a2 and the base member 44 provided on the injection shafts a1 and a2, respectively.
And is supported by the holder member 49 so as to be freely rotatable about each of the non-parallel rotation axes set substantially in conformity with the above, so that the arrangement relationship between the coupling lenses 45 and 46 and the light emitting point is maintained. Pitch adjustment for each of the semiconductor laser arrays 41 and 42 can be performed, and the influence on other optical performance due to the pitch adjustment can be avoided, the adjustment can be performed easily and reliably, and assembling efficiency is improved. . Further, the pair of base members 43 and 44 are connected to the same holder member 4.
9 and the holder member 49 is provided so as to be freely rotatable about a rotation axis set substantially coincident with the optical axis C of the scanning optical system. Fine adjustment of the relative position in the sub-scanning direction between the beam spot arrays is possible, the pitch setting accuracy is improved, and high-quality image recording can be performed.

【0043】本発明の第三の実施の形態を図11に基づ
いて説明する。本実施の形態は、第一の実施の形態又は
第二の実施の形態の如く構成された光源ユニット(マル
チビーム光源装置)61のレーザプリンタへの適用例を
示すものである。
A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This embodiment shows an application example of a light source unit (multi-beam light source device) 61 configured as in the first embodiment or the second embodiment to a laser printer.

【0044】上述の如く構成された光源ユニット61は
何れの実施の形態においても、図11に示すように半導
体レーザアレイ62,63(11,12又は41,42
に相当する)とカップリングレンズ64,65(13,
14又は45,46に相当する)との光軸を射出軸a
1,a2上で一致させることで主走査方向に対称に射出
角度を持たせ、走査光学系66中の偏向手段としてのポ
リゴンミラー67の反射点近傍で射出軸a1,a2(従
って、第1及び第2の回転軸)が交差するように配置さ
れている。各半導体レーザアレイ62,63から射出さ
れた複数のレーザビームはシリンダレンズ68を介して
ポリゴンミラー67で一括して偏向走査され、ビーム結
像光学系を構成するfθレンズ69、ミラー70及びト
ロイダルレンズ71により被走査面としての感光体72
上に結像され、副走査方向のピッチPにて複数ライン同
時に書込み記録が行われる。
In any embodiment, the light source unit 61 having the above-described structure can be used as a semiconductor laser array 62, 63 (11, 12 or 41, 42) as shown in FIG.
) And coupling lenses 64, 65 (13,
14 or 45, 46) to the emission axis a.
1 and a2, the emission angles are given symmetrically in the main scanning direction, and the emission axes a1 and a2 (accordingly, the first and second axes) are located near the reflection point of the polygon mirror 67 as the deflecting means in the scanning optical system 66. (Second rotation axes) are arranged to intersect. A plurality of laser beams emitted from each of the semiconductor laser arrays 62 and 63 are collectively deflected and scanned by a polygon mirror 67 via a cylinder lens 68, and an fθ lens 69, a mirror 70, and a toroidal lens which constitute a beam imaging optical system. A photosensitive member 72 as a surface to be scanned by 71
A plurality of lines are simultaneously written and recorded at a pitch P in the sub-scanning direction.

【0045】従って、射出軸a1,a2(第1及び第2
の回転軸)を走査光学系66におけるポリゴンミラー6
7の反射点近傍で交差するように設定することで、反射
点位置の差による光学性能のばらつきを抑えることがで
き、よって、高品位な画像記録を行わせることができ
る。
Therefore, the injection shafts a1 and a2 (first and second
The rotation axis of the polygon mirror 6 in the scanning optical system 66.
By setting so as to intersect near the reflection point 7, variation in optical performance due to the difference in the reflection point position can be suppressed, and thus high-quality image recording can be performed.

【0046】なお、第一の実施の形態では、各々4個の
発光点を有する半導体レーザアレイ11,12を用い、
第二の実施の形態では各々2個の発光点を有する半導体
レーザアレイ41,42を用いたが、このような発光点
数に制約されないのはもちろんである。
In the first embodiment, the semiconductor laser arrays 11 and 12 each having four light emitting points are used.
Although the semiconductor laser arrays 41 and 42 each having two light emitting points are used in the second embodiment, it is needless to say that the number of light emitting points is not limited.

【0047】[0047]

【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、第1及び
第2の半導体レーザアレイを各々個別にその射出軸と略
平行に設定された第1及び第2の回転軸を中心としてベ
ース部材に回動調整自在に支持させるとともに、第1及
び第2の回転軸を互いに非平行としてなるので、各半導
体レーザアレイのビームスポット列を分離させることが
でき、半導体レーザアレイ毎に独立してその姿勢を保つ
ことが可能となり、組立効率を向上させることができ
る。
According to the first aspect of the present invention, the first and second semiconductor laser arrays are individually arranged on the basis of the first and second rotation axes set substantially parallel to the emission axes thereof. Since the first and second rotation axes are non-parallel to each other while being rotatably supported by the member, the beam spot rows of each semiconductor laser array can be separated, and each semiconductor laser array can be independently controlled. This posture can be maintained, and the assembling efficiency can be improved.

【0048】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載のマルチビーム光源装置において、第1、第2の一対の
半導体レーザアレイ及びカップリングレンズを同一のベ
ース部材上に支持させるとともに、このベース部材を走
査光学系の光軸と略平行に設定された第3の回転軸を中
心としてホルダ部材に回動調整自在に保持させてなるの
で、各半導体レーザアレイのビームスポット列間の副走
査方向における相対位置の微調整が可能となり、ピッチ
設定精度が向上し、高品位な画像記録を行わせることが
できる。
According to a second aspect of the present invention, in the multi-beam light source device according to the first aspect, the first and second pair of semiconductor laser arrays and the coupling lens are supported on the same base member, The base member is held by the holder member so as to be rotatable and adjustable about a third rotation axis set substantially parallel to the optical axis of the scanning optical system. Fine adjustment of the relative position in the scanning direction becomes possible, the pitch setting accuracy is improved, and high-quality image recording can be performed.

【0049】請求項3記載の発明によれば、第1及び第
2の各対毎に半導体レーザアレイ及びカップリングレン
ズをその射出軸と略平行に設定された第1及び第2の回
転軸を中心として各々回動調整自在な第1及び第2のベ
ース部材に一体に支持させるとともに、これらの第1及
び第2の回転軸を互いに非平行としてなるので、カップ
リングレンズと発光点との配置関係を保ったまま半導体
レーザアレイ毎のピッチ調整を行うことが可能となり、
ピッチ調整に伴う他の光学性能への影響を回避し、容
易、かつ、確実に調整を行うことができ、組立効率を向
上させることができる。
According to the third aspect of the present invention, the semiconductor laser array and the coupling lens are provided for each of the first and second pairs with the first and second rotation axes set substantially parallel to the emission axis. The first and second rotation members are integrally supported on the first and second base members, each of which is rotatable and adjustable as a center, and the first and second rotation axes are not parallel to each other. It is possible to adjust the pitch of each semiconductor laser array while maintaining the relationship,
It is possible to avoid the influence on the other optical performance due to the pitch adjustment, easily and reliably perform the adjustment, and improve the assembling efficiency.

【0050】請求項4記載の発明によれば、請求項3記
載のマルチビーム光源装置において、第1、第2の一対の
ベース部材を同一のホルダ部材上に保持させるととも
に、このホルダ部材を走査光学系の光軸と略平行に設定
された第3の回転軸を中心として回動調整自在に設けた
ので、各半導体レーザアレイのビームスポット列間の副
走査方向における相対位置の微調整が可能となり、ピッ
チ設定精度が向上し、高品位な画像記録を行わせること
ができる。
According to the fourth aspect of the present invention, in the multi-beam light source device according to the third aspect, the first and second pair of base members are held on the same holder member, and the holder member is scanned. Rotationally adjustable about a third rotation axis set substantially parallel to the optical axis of the optical system, so that fine adjustment of the relative position in the sub-scanning direction between the beam spot rows of each semiconductor laser array is possible. Thus, the pitch setting accuracy is improved, and high-quality image recording can be performed.

【0051】請求項5記載の発明によれば、請求項1な
いし4の何れか一に記載のマルチビーム光源装置におい
て、第1及び第2の回転軸を走査光学系におけるポリゴ
ンミラー反射点近傍で交差するように設定したので、反
射点位置の差による光学性能のばらつきを抑えることが
でき、よって、高品位な画像記録を行わせることができ
る。
According to the fifth aspect of the present invention, in the multi-beam light source device according to any one of the first to fourth aspects, the first and second rotation axes are set near the polygon mirror reflection point in the scanning optical system. Since they are set so as to intersect, it is possible to suppress variations in optical performance due to differences in the positions of the reflection points, and thus to perform high-quality image recording.

【0052】請求項6記載の発明のマルチビーム走査装
置によれば、請求項1ないし5の何れか一に記載のマル
チビーム光源装置を備えるので、各光スポットの間隔の
均一なる状態で感光体等の被走査面上への光書込みを行
わせることができ、よって、高品位な画像記録を行わせ
ることができる。
According to the multi-beam scanning device of the present invention, since the multi-beam light source device according to any one of the first to fifth aspects is provided, the photosensitive member is provided in a state where the intervals between the light spots are uniform. , Etc., can be written on the surface to be scanned, so that high-quality image recording can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の前提として、2つの発光点を有する半
導体レーザアレイの発光点ピッチと被走査面における副
走査ピッチとの関係を示す光学系説明図である。
FIG. 1 is an explanatory view of an optical system showing a relationship between a light emitting point pitch of a semiconductor laser array having two light emitting points and a sub-scanning pitch on a scanned surface as a premise of the present invention.

【図2】その複数個の発光点の配列方式を示す説明図で
ある。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing an arrangement system of a plurality of light emitting points.

【図3】本発明の第一の実施の形態の前提とする発光点
の配列方式を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a method of arranging light emitting points as a premise of the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第一の実施の形態のマルチビーム光源
装置を示す分解斜視図である。
FIG. 4 is an exploded perspective view showing the multi-beam light source device according to the first embodiment of the present invention.

【図5】その組立状態における縦断側面図である。FIG. 5 is a vertical sectional side view in the assembled state.

【図6】被走査面上でのビームスポット配列を示す説明
図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a beam spot array on a surface to be scanned.

【図7】本発明の第二の実施の形態の前提とする発光点
の配列方式を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a method of arranging light emitting points as a premise of a second embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第二の実施の形態のマルチビーム光源
装置を示す分解斜視図である。
FIG. 8 is an exploded perspective view showing a multi-beam light source device according to a second embodiment of the present invention.

【図9】その組立状態における縦断側面図である。FIG. 9 is a vertical sectional side view in the assembled state.

【図10】被走査面上でのビームスポット配列を示す説
明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a beam spot array on a surface to be scanned.

【図11】本発明の第三の実施の形態のレーザプリンタ
構成例を示す斜視図である。である。
FIG. 11 is a perspective view illustrating a configuration example of a laser printer according to a third embodiment of the present invention. It is.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 第1の半導体レーザアレイ 12 第2の半導体レーザアレイ 13 第1のカップリングレンズ 14 第2のカップリングレンズ 15 ベース部材 21 ホルダ部材 41 第1の半導体レーザアレイ 42 第2の半導体レーザアレイ 43 第1のベース部材 44 第2のベース部材 45 第1のカップリングレンズ 46 第2のカップリングレンズ 49 ホルダ部材 61 マルチビーム光源装置 62 第1の半導体レーザアレイ 63 第2の半導体レーザアレイ 64 第1のカップリングレンズ 65 第2のカップリングレンズ 66 走査光学系 67 ポリゴンミラー 69,71 結像光学系 a1 第1の射出軸 a2 第2の射出軸 C 走査光学系の光軸 Reference Signs List 11 first semiconductor laser array 12 second semiconductor laser array 13 first coupling lens 14 second coupling lens 15 base member 21 holder member 41 first semiconductor laser array 42 second semiconductor laser array 43 1 base member 44 2nd base member 45 1st coupling lens 46 2nd coupling lens 49 holder member 61 multi-beam light source device 62 1st semiconductor laser array 63 2nd semiconductor laser array 64 1st Coupling lens 65 Second coupling lens 66 Scanning optical system 67 Polygon mirror 69, 71 Imaging optical system a1 First emission axis a2 Second emission axis C Optical axis of scanning optical system

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 直線上に複数個の発光点を有する第1の
半導体レーザアレイと、 この第1の半導体レーザアレイと同一構造の第2の半導
体レーザアレイと、 前記第1の半導体レーザアレイから射出される複数のレ
ーザ光をカップリングする第1のカップリングレンズ
と、 前記第2の半導体レーザアレイから射出される複数のレ
ーザ光をカップリングする第2のカップリングレンズ
と、 前記第1の半導体レーザアレイと前記第1のカップリン
グレンズとを第1の射出軸上に配置させるとともに前記
第2の半導体レーザアレイと前記第2のカップリングレ
ンズとを前記第1の射出軸に対して所定角度隔てた第2
の射出軸上に配置させてこれらの部材を一体に支持する
ベース部材と、を備え、 前記第1の半導体レーザアレイを前記第1の射出軸に対
して略平行に設定された第1の回転軸を中心に前記ベー
ス部材に回動調整自在に支持させ、前記第2の半導体レ
ーザアレイを前記第2の射出軸に対して略平行に設定さ
れて前記第1の回転軸と非平行な第2の回転軸を中心に
前記ベース部材に回動調整自在に支持させてなるマルチ
ビーム光源装置。
A first semiconductor laser array having a plurality of light emitting points on a straight line; a second semiconductor laser array having the same structure as the first semiconductor laser array; and a first semiconductor laser array. A first coupling lens that couples a plurality of emitted laser beams; a second coupling lens that couples a plurality of laser beams emitted from the second semiconductor laser array; A semiconductor laser array and the first coupling lens are arranged on a first emission axis, and the second semiconductor laser array and the second coupling lens are fixed with respect to the first emission axis. Angled second
A base member disposed on the emission axis of the first semiconductor laser and integrally supporting these members, wherein a first rotation of the first semiconductor laser array is set substantially parallel to the first emission axis. The second semiconductor laser array is set to be substantially parallel to the second emission axis and is non-parallel to the first rotation axis. A multi-beam light source device which is supported on the base member so as to be freely rotatable about a rotation axis of (2).
【請求項2】 前記第1及び第2の半導体レーザアレイ
から出射される複数のレーザ光を走査して被走査面にビ
ームスポットを形成するための走査光学系の光軸と略平
行に設定された第3の回転軸を中心として回動調整自在
に設けられて前記ベース部材を保持するホルダ部材を備
える請求項1記載のマルチビーム光源装置。
2. A scanning optical system which scans a plurality of laser beams emitted from the first and second semiconductor laser arrays to form a beam spot on a surface to be scanned, and is set substantially parallel to an optical axis of the scanning optical system. The multi-beam light source device according to claim 1, further comprising a holder member provided to be rotatable about the third rotation axis and holding the base member.
【請求項3】 直線上に複数個の発光点を有する第1の
半導体レーザアレイと、 この第1の半導体レーザアレイと同一構造の第2の半導
体レーザアレイと、 前記第1の半導体レーザアレイから射出されるレーザ光
をカップリングする第1のコリメータレンズと、 前記第2の半導体レーザアレイから射出されるレーザ光
をカップリングする第2のコリメータレンズと、 前記第1の半導体レーザアレイと前記第1のカップリン
グレンズとを第1の射出軸上に配置させて前記第1の射
出軸に対して略平行に設定された第1の回転軸を中心に
一体に回動調整自在に支持する第1のベース部材と、 前記第2の半導体レーザアレイと前記第2のカップリン
グレンズとを第2の射出軸上に配置させて前記第2の射
出軸に対して略平行に設定されて前記第1の回転軸と非
平行な第2の回転軸を中心に一体に回動調整自在に支持
する第2のベース部材と、を備えるマルチビーム光源装
置。
3. A first semiconductor laser array having a plurality of light emitting points on a straight line, a second semiconductor laser array having the same structure as the first semiconductor laser array, and a first semiconductor laser array. A first collimator lens for coupling the emitted laser light, a second collimator lens for coupling the laser light emitted from the second semiconductor laser array, the first semiconductor laser array and the first The first coupling lens and the first coupling axis are arranged on a first exit axis, and are supported so as to be integrally rotatable and adjustable about a first rotation axis set substantially parallel to the first exit axis. The first base member, the second semiconductor laser array, and the second coupling lens are arranged on a second emission axis, and are set substantially parallel to the second emission axis. One A second base member that is supported so as to be integrally rotatable and adjustable about a second rotation axis that is non-parallel to the rotation axis.
【請求項4】 前記第1及び第2の半導体レーザアレイ
から出射される複数のレーザ光を走査して被走査面にビ
ームスポットを形成するための走査光学系の光軸と略平
行に設定された第3の回転軸を中心として回動調整自在
に設けられて前記第1及び第2のベース部材を保持する
ホルダ部材を備える請求項3記載のマルチビーム光源装
置。
4. A scanning optical system which scans a plurality of laser beams emitted from the first and second semiconductor laser arrays to form a beam spot on a surface to be scanned, and is set substantially parallel to an optical axis of the scanning optical system. 4. The multi-beam light source device according to claim 3, further comprising a holder member that is provided so as to be rotatable about the third rotation axis and holds the first and second base members.
【請求項5】 前記第1の回転軸と前記第2の回転軸と
は前記走査光学系におけるポリゴンミラー反射点近傍で
交差するように設定されている請求項1ないし4の何れ
か一に記載のマルチビーム光源装置。
5. The scanning optical system according to claim 1, wherein the first rotation axis and the second rotation axis are set so as to intersect near a reflection point of a polygon mirror in the scanning optical system. Multi-beam light source device.
【請求項6】 請求項1ないし5の何れか一に記載のマ
ルチビーム光源装置と、 このマルチビーム光源装置により出力される複数のレー
ザ光を偏向走査させる偏向手段と、この偏向手段により
偏向走査される複数のレーザ光を被走査面上に光スポッ
トとして結像させる結像光学系とを有する走査光学系
と、を備えるマルチビーム走査装置。
6. A multi-beam light source device according to claim 1, deflecting means for deflecting and scanning a plurality of laser beams output from the multi-beam light source device, and deflecting and scanning by the deflecting means. A scanning optical system having an imaging optical system that forms a plurality of laser beams onto the surface to be scanned as light spots.
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JP2009058960A (en) * 2008-09-08 2009-03-19 Ricoh Co Ltd Optical scanner, image forming apparatus and image information processing system
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JP2009093196A (en) * 2002-05-15 2009-04-30 Canon Inc Scanning optical device and image forming apparatus using it

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7460145B2 (en) 2001-07-24 2008-12-02 Ricoh Company, Ltd. Multi-beam pitch adjusting apparatus and image forming apparatus
JP2009093196A (en) * 2002-05-15 2009-04-30 Canon Inc Scanning optical device and image forming apparatus using it
US7518627B2 (en) 2003-09-24 2009-04-14 Canon Kabushiki Kaisha Image forming apparatus
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