JP2001174351A - Pressure sensor - Google Patents
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- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/02—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning
- G01L9/04—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of resistance-strain gauges
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- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0051—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in ohmic resistance
- G01L9/0052—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in ohmic resistance of piezoresistive elements
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、高精度の圧力セン
サに関するものである。特に、本発明は、プラスチック
材料、プラスチックフィルム、合成繊維及びこれらと同
様のものの押出機における圧力を検出するのに適用され
る圧力センサに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high-precision pressure sensor. In particular, the invention relates to a pressure sensor applied to detect the pressure in an extruder of plastic materials, plastic films, synthetic fibers and the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】例えばプラスチック材料、プラスチック
フィルム、合成繊維及びこれらと同様のものの押出機に
用いられる圧力センサは、ストレーンゲージが配置され
ている面を有する薄膜が一端に棒状要素を含んでいるこ
とが知られている。かかる棒状要素は、水銀またはオイ
ルのような流体で満たされ、圧力が測定されるプラスチ
ック材料の質量によるその流体の圧縮はストレーンゲー
ジへ作用を及ぼし、従ってストレーンゲージはその圧力
センサに接続された電子システムによって処理される電
気的信号を発生する。2. Description of the Related Art For example, a pressure sensor used in an extruder for a plastic material, a plastic film, a synthetic fiber, and the like is such that a thin film having a surface on which a strain gauge is disposed includes a rod-shaped element at one end. It has been known. Such a rod is filled with a fluid, such as mercury or oil, and the compression of that fluid by the mass of the plastic material whose pressure is to be measured acts on the strain gauge, so that the strain gauge is connected to the electronic sensor connected to its pressure sensor. Generate electrical signals that are processed by the system.
【0003】この圧力センサの欠点は、溶融したプラス
チック材料が薄膜に容易に損傷を与えるため、限定され
たその厚さに基づいて、急速に疲弊することである。従
って、圧力センサは取り替えが必要であり、就中、これ
は水銀またはオイルの処分を必要とし、例えば水銀は高
い汚染性があってその処分のために厳しい基準が守られ
なければならないから、無視できないコストを伴う。[0003] A disadvantage of this pressure sensor is that, due to its limited thickness, the molten plastic material easily damages the thin film and quickly becomes exhausted. Therefore, pressure sensors need to be replaced, and above all this requires the disposal of mercury or oil, for example mercury is highly contaminating and strict standards must be adhered to for its disposal. With unacceptable costs.
【0004】さらに、圧力センサは、一面にストレーン
ゲージが配設されている半導体材料のチップに作用する
圧力の機械的伝達のための要素を備えた一端を有する棒
状体によって構成されることが知られている。実際に、
半導体チップは上述のセンサの薄膜と同じように挙動す
る。半導体チップの存在は、もはや必要でなくなる水銀
またはオイルのような流体の問題を解決させる。In addition, it is known that the pressure sensor is constituted by a bar having one end with an element for mechanically transmitting pressure acting on a chip of semiconductor material, on one side of which a strain gauge is arranged. Have been. actually,
The semiconductor chip behaves like the thin film of the sensor described above. The presence of semiconductor chips solves the problem of fluids such as mercury or oil that are no longer needed.
【0005】半導体チップは、通常は、例えばアルミナ
から作られるブロック内に形成され適当に設けられた空
洞に収容されており、該ブロックからは、信号を処理す
るための電子システムへストレーンゲージから生じる信
号を伝えるのに適合する複数の金属化ターミナルが伸び
ている。これらのセンサは、例えば固着することにより
アルミナブロックに強固に結合されている半導体チップ
を有している。[0005] Semiconductor chips are usually housed in suitably provided cavities formed in blocks made of, for example, alumina, from which the strain gauges lead to electronic systems for processing signals. There are a number of metallized terminals that are adapted to carry signals. These sensors have a semiconductor chip that is firmly bonded to the alumina block, for example, by being fixed.
【0006】上記機械的伝達要素は、通常カバー内に収
容される。該カバーは、強固に結合された対応する半導
体チップを有するアルミナブロックを内部に収容する金
属の外囲いに結合されるようにしてある。[0006] The mechanical transmission element is usually housed in a cover. The cover is adapted to be coupled to a metal enclosure that houses an alumina block having a correspondingly bonded semiconductor chip firmly attached thereto.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】この課題解決の利点
は、この場合、半導体材料のチップから構成される薄膜
が、圧力が測定されるプラスチック材料との摩擦による
摩耗に実質的にさらされないということである。The advantage of this solution is that in this case the thin film composed of chips of semiconductor material is not substantially exposed to wear due to friction with the plastic material whose pressure is to be measured. It is.
【0008】しかし、半導体チップがそれを支持するア
ルミナブロックに強固に結合されているという事実は、
圧力検出の結果として発生される信号が不正確であるか
もしれないという問題を残す。なぜなら、半導体チップ
を収容し支持するアルミナブロックに影響するかもしれ
ない変形があるからである。[0008] However, the fact that the semiconductor chip is firmly bonded to the alumina block that supports it,
The problem remains that the signal generated as a result of the pressure detection may be incorrect. This is because there are deformations that may affect the alumina block that houses and supports the semiconductor chip.
【0009】そのために、上記課題解決策でさえ欠点を
解消しておらず、特に基本的要求である測定精度が絶対
的に確保されるわけではない。本発明の狙いは、常に高
い測定精度を確保し、特にプラスチック材料及び同様の
材料の押出機に適した圧力センサを提供することにあ
る。For this reason, even the above-mentioned solution to the problem does not solve the drawback, and in particular, the measurement accuracy, which is a basic requirement, is not absolutely secured. The aim of the present invention is to provide a pressure sensor which always ensures high measurement accuracy and which is particularly suitable for extruders of plastic and similar materials.
【0010】この狙いの範囲内で、本発明の目的の一つ
は、高い耐久性のある圧力センサを提供することであ
る。本発明の他の目的は、特にプラスチック材料及び同
様の材料の押出機に使用し、それらにおいて熱膨張に基
づく測定信号の変化、変形及びこれらに類するものが可
能な限り最低水準に低減される圧力センサを提供するこ
とである。[0010] Within this aim, one of the objects of the present invention is to provide a highly durable pressure sensor. Another object of the invention is to use, in particular, extruders for plastics and similar materials, in which the change, deformation and the like of the measuring signal due to thermal expansion are reduced to the lowest possible level. It is to provide a sensor.
【0011】本発明のその他の目的は、特にプラスチッ
ク材料の押出機に使用し、高い信頼性があり、相対的に
製造が容易であって低コストである圧力センサを提供す
ることである。Another object of the present invention is to provide a pressure sensor which is particularly reliable for use in extruders for plastic materials and which is highly reliable, relatively easy to manufacture and low in cost.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】以下において明白になる
上記の狙い及び各目的は、背向する面の一方にストレー
ンゲージを有する半導体チップのための支持要素と、該
支持要素を入れるのに適合した外囲いと、該外囲いを閉
じるために設けられているカバー要素と、該カバー要素
内に収容され前記半導体チップへ向けられておりかつ該
チップに接触している機械的伝達要素とを備え、前記半
導体チップが前記支持要素内に浮かぶように収容されて
いることを特徴とする圧力センサによって達成される。
本発明に係る圧力センサは特にプラスチック材料の押出
機、化学工程及びこれらと同様のものに好適に使用され
る。SUMMARY OF THE INVENTION The above objects and objects, which will become apparent hereinafter, are adapted to accommodate a support element for a semiconductor chip having a strain gauge on one of the opposite surfaces and to accommodate the support element. And a cover element provided for closing the outer enclosure, and a mechanical transmission element housed within the cover element and directed to the semiconductor chip and in contact with the chip. The pressure sensor is characterized in that the semiconductor chip is housed in a floating manner in the support element.
The pressure sensor according to the invention is particularly suitable for use in plastic material extruders, chemical processes and the like.
【0013】本発明の好ましい実施の形態において、前
記カバー要素内に収容された前記機械的伝達要素が前記
カバー要素内に形成されたシート内に浮かぶように収容
されることを特徴としてもよい。In a preferred embodiment of the present invention, the mechanical transmission element housed in the cover element may be housed so as to float in a sheet formed in the cover element.
【0014】前記支持要素はアルミナからなり、そして
該支持要素には該支持要素から伸びる複数の導体があ
り、該導体は前記ストレーンゲージによって検出される
圧力信号を伝達するのに適合しており、前記ストレーン
ゲージは前記機械的伝達要素が作用する面の反対側にあ
る前記半導体チップの一面に配置されていることを特徴
としてもよく、前記機械的伝達要素は、該機械的伝達要
素が作用する前記半導体チップの面に対し予め荷重が課
されるように前記カバー要素内に収容されていることを
特徴とすることも可能である。また、前記半導体チップ
は、シリコンカーバイド(SiC)、SOI(SiliconOn
Insulator)またはSOS(Silicon On Sapphire)のいず
れから作られてもよい。The support element comprises alumina, and the support element has a plurality of conductors extending from the support element, the conductors being adapted to transmit a pressure signal detected by the strain gauge; The strain gauge may be disposed on one surface of the semiconductor chip opposite to a surface on which the mechanical transmission element operates, and the mechanical transmission element operates on the mechanical transmission element. The semiconductor chip may be housed in the cover element so that a load is applied to the surface of the semiconductor chip in advance. The semiconductor chip may be made of silicon carbide (SiC), SOI (SiliconOn).
Insulator) or SOS (Silicon On Sapphire).
【0015】[0015]
【発明の実施の形態】本発明のさらなる特徴及び利点
は、本発明に係る圧力センサの好ましいがしかし限定し
ない実施形態の以下における詳細な説明によって、一層
明らかになるであろう。本実施形態は、添付図面の範囲
に限定しない一例によってのみ説明され、その唯一の図
である図1は本発明に従って実施された圧力センサの端
部の横断面図である。Further features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description of preferred but non-limiting embodiments of the pressure sensor according to the present invention. This embodiment is described by way of example only and not by way of limitation in the scope of the accompanying drawings, the sole figure of which is a cross-sectional view of an end of a pressure sensor implemented in accordance with the present invention.
【0016】上記図面に示すように、本発明に係る圧力
センサは、本実施形態に係る部分が符号1によって全体
的に示され、後述するように、半導体チップ5を収容す
るためのシート(seat)4を有する支持要素3を収容すべ
く適合した外囲い2を備えている。As shown in the above-mentioned drawings, in the pressure sensor according to the present invention, a portion according to the present embodiment is generally indicated by reference numeral 1, and as will be described later, a seat for accommodating a semiconductor chip 5 is provided. ) 4 having an outer enclosure 2 adapted to receive a support element 3.
【0017】支持要素3は、アルミナブロックによって
設けられることが好ましく、該ブロックの図において下
面から複数の金属導体10が下方へ伸びており、該金属
導体10は本発明によるセンサに接続される電子システ
ムへ半導体チップ5により生じる信号を伝えるようにな
っている。即ち、半導体チップ5と金属導体10とは、
図示しない電子システムを介して接続されている。The support element 3 is preferably provided by an alumina block, in the drawing of the block of which a plurality of metal conductors 10 extend downwardly from the lower surface, the metal conductors 10 being connected to a sensor according to the invention. A signal generated by the semiconductor chip 5 is transmitted to the system. That is, the semiconductor chip 5 and the metal conductor 10 are
It is connected via an electronic system (not shown).
【0018】また、支持要素3は、下面に、下方へ伸び
ている参照電極11と、金属導体10及び該参照電極1
1を囲む筒体12とが固着されている。参照電極11
は、上記図示しない電子システムを介して半導体チップ
5に接続されており、該半導体チップ5が周囲の温度及
び圧力により受ける影響を補償するために設けられてい
る。筒体12は、下広がりのスカート状をなしており、
支持要素3を支持するためのものである。The supporting element 3 has a lower surface provided with a reference electrode 11 extending downward, a metal conductor 10 and the reference electrode 1.
1 is fixed to a cylindrical body 12 surrounding the cylindrical body 1. Reference electrode 11
Is connected to the semiconductor chip 5 via the electronic system (not shown), and is provided for compensating the influence of the ambient temperature and pressure on the semiconductor chip 5. The cylindrical body 12 has a skirt shape spreading downward,
For supporting the support element 3.
【0019】符号5は支持要素3に形成されているシー
ト4に収容されるようになっている半導体チップを示
す。この半導体チップ5は、支持要素3内に限定された
シート(座席)4の内側に浮いている。このことは、シ
ート4が半導体チップ5の直径よりも僅かに大きく、そ
して半導体チップ5がシート4内で僅かに動くことがで
き、半導体チップ5がシート4の底と接触していること
を意味する。Reference numeral 5 denotes a semiconductor chip adapted to be accommodated in the sheet 4 formed on the support element 3. The semiconductor chip 5 floats inside a seat (seat) 4 defined within the support element 3. This means that the sheet 4 is slightly larger than the diameter of the semiconductor chip 5 and that the semiconductor chip 5 can move slightly in the sheet 4 and the semiconductor chip 5 is in contact with the bottom of the sheet 4 I do.
【0020】カバー要素6は、カバーのように外囲い2
を閉じるために、該外囲い2の上方に設けられている。
カバー要素6は機械的伝達要素8を収容するシート7を
有しており、該機械的伝達要素8はプラスチック材料の
流れがカバー要素6の上面をたたいた時に、半導体チッ
プ5への圧力を働かせるようになっている。ストレーン
ゲージ9は、機械的伝達要素8が作用する面とは反対側
にある半導体チップ5の面に取り付けられている。[0020] The cover element 6 comprises an enclosure 2 like a cover.
Is provided above the outer enclosure 2 to close the enclosure.
The cover element 6 has a sheet 7 which houses a mechanical transmission element 8, which exerts a pressure on the semiconductor chip 5 when a flow of plastic material strikes the upper surface of the cover element 6. It is designed to work. The strain gauge 9 is mounted on the surface of the semiconductor chip 5 opposite to the surface on which the mechanical transmission element 8 acts.
【0021】本発明に係る圧力センサ1の特徴は、半導
体チップ5が支持要素3のシート4内に浮かぶように収
容されていることであり、それは従来の圧力センサにお
いて行っているような支持要素3への強固な結合がされ
ないということである。A feature of the pressure sensor 1 according to the present invention is that the semiconductor chip 5 is accommodated so as to float in the sheet 4 of the support element 3, which is the same as in a conventional pressure sensor. 3 is not tightly bound.
【0022】このことは、支持要素3が受けるであろう
いかなる膨張及び変形に対しても半導体チップ5を独立
にする。そして絶対的に正確で、かつ就中、常時一定で
ある圧力測定信号を得るようにする。都合がよいこと
に、カバー要素6は損傷を回避する厚さを有している。This makes the semiconductor chip 5 independent of any expansions and deformations that the support element 3 will undergo. An absolutely accurate and, above all, constant pressure measurement signal is obtained. Advantageously, the cover element 6 has a thickness that avoids damage.
【0023】さらに、本発明による圧力センサ1におい
て、半導体チップ5は、シリコンカーバイド、いわゆる
SOIまたは例えばSOSから作られる。都合がよいこ
とに、機械的伝達要素8もまた、カバー要素6の内側で
浮かぶように収容されており、これは圧力センサ1によ
って検出される圧力信号が受ける変化をさらに最小にす
るためである。Further, in the pressure sensor 1 according to the present invention, the semiconductor chip 5 is made of silicon carbide, so-called SOI or, for example, SOS. Advantageously, the mechanical transmission element 8 is also accommodated so as to float inside the cover element 6, in order to further minimize the changes experienced by the pressure signal detected by the pressure sensor 1. .
【0024】さらに機械的伝達要素8は、カバー要素6
のシート(seat)7中に収容されている。これは予め荷重
が課され、常時半導体チップ5と接触させ、常時半導体
チップ5と接触状態にしておくためである。Further, the mechanical transmission element 8 includes a cover element 6
Are stored in a seat 7. This is because a load is applied in advance, the semiconductor chip 5 is always in contact, and the semiconductor chip 5 is always in a contact state.
【0025】実際に、本発明による圧力センサ1は、意
図された狙いを十分達成することが観察されている。そ
れは、従来のデバイスで得られるよりもはるかに正確な
圧力測定を達成可能とするからである。さらに、カバー
要素の大きな厚みは、従来の薄膜に用いられたならば摩
擦により該薄膜が受けたであろうプラスチック材料の作
用による損傷をこの圧力センサ1に免れさせる。このデ
バイスは化学工程及びそれと同様の工程にも適用可能で
ある。Indeed, it has been observed that the pressure sensor 1 according to the invention achieves its intended aim well. This is because much more accurate pressure measurements can be achieved than can be obtained with conventional devices. In addition, the large thickness of the cover element allows the pressure sensor 1 to be protected from damage by the action of the plastic material which would have suffered the frictional film if used on conventional films. The device is applicable to chemical processes and similar processes.
【0026】上述のようなデバイスは多数の変形及び変
更をすることができ、それらの全てが本発明の概念の範
囲内にあり、全ての細部は他の技術的に同等の要素で置
き換えられてもよい。実際に、用いられる材料、ディメ
ンジョンと同様に適合する仕様である限り、技術の要求
及び状態に従っていかようにもできる。例えば、図1に
おいて、シート4は、中空の支持要素3の上部に形成し
た内向きフランジの内縁3aに、シート部材の上端を固
着することにより、位置決めして形成することができ
る。また、カバー要素6は、中央に突起6aを設け、該
突起aの下向き凹部の内面のシート7内に機械的伝達要
素8の一部を嵌入して、該機械的伝達要素8の横方向の
位置きめをするようにすることができる。Devices such as those described above are capable of many variations and modifications, all of which are within the scope of the inventive concept, with all details replaced by other technically equivalent elements. Is also good. In fact, it can be done according to the requirements and conditions of the technology, as long as the specifications are as well as the materials and dimensions used. For example, in FIG. 1, the sheet 4 can be positioned and formed by fixing the upper end of the sheet member to the inner edge 3a of the inward flange formed at the top of the hollow support element 3. The cover element 6 is provided with a projection 6a at the center, and a part of the mechanical transmission element 8 is fitted into the sheet 7 on the inner surface of the downwardly facing concave portion of the projection a, so that the Positioning can be done.
【0027】[0027]
【発明の効果】本発明、以上の如く構成され、常に高い
測定精度を確保し、熱膨張に基づく測定信号の変化、変
形及びこれらに類するものを最低水準に低減し、高い信
頼性と耐久性があり、相対的に製造が容易で低コストの
圧力センサを提供することができるという効果を奏す
る。The present invention is constructed as described above, and ensures high measurement accuracy at all times, and reduces the change and deformation of the measurement signal due to thermal expansion and the like to the minimum level, and achieves high reliability and durability. This has the effect of providing a low-cost pressure sensor that is relatively easy to manufacture.
【図1】 本発明の実施形態に係る圧力センサの端部に
おける横断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view at an end of a pressure sensor according to an embodiment of the present invention.
1:圧力センサ、2:外囲い、3:支持要素、3a:内
縁、4:シート、5:半導体チップ、6:カバー要素、
6a:突起、7:シート、8:機械的伝達要素、9:ス
トレーンゲージ、10:金属導体、11:参照電極、1
2:筒体。1: pressure sensor, 2: outer enclosure, 3: support element, 3a: inner edge, 4: sheet, 5: semiconductor chip, 6: cover element,
6a: protrusion, 7: sheet, 8: mechanical transmission element, 9: strain gauge, 10: metal conductor, 11: reference electrode, 1
2: cylindrical body.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 500509025 Via Cave, 11,Prov. o f Brescia, 25050 PROV AGLIO D’ISEO, ITALY (72)発明者 ジョセ イセニ イタリア国、ベルガモ ブレンバテ 24041、ヴィア ジ. ディ ヴィットリ オ、17 (72)発明者 ジョヴァンバッティスタ プレヴェ イタリア国、ミラノ ブルギヘリオ 20047、ヴィア ヴォルツルノ、80 (72)発明者 セルジオ ドネダ イタリア国、ブレスシア ピソグネ 25055、コルソ ナヴェ コーリエラ、8 (72)発明者 エルンスト オベールメイヤー ドイツ共和国、デー−14050 ベルリン、 ボリバラリー、6 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (71) Applicant 500509025 Via Cave, 11, Prov. of Brescia, 25050 PROV AGLIO D'ISEO, ITALLY (72) Inventor Jose Iseni, Bergamo Brembate 24041, Italy, Viagi. Di Vittorio, 17 (72) Inventor Giovanbattista Preve Italy, Milano Bruggiello 20047, Via Volzulno, 80 (72) Inventor Sergio Doneda, Italy, Brescia Pisogne 25055, Corso Nave Corriera, 8 (72) Inventor Ernst Obermeyer Germany, Day 14050 Berlin, Bolivarary, 6
Claims (7)
有する半導体チップのための支持要素と、該支持要素を
入れるのに適合した外囲いと、該外囲いを閉じるために
設けられているカバー要素と、該カバー要素内に収容さ
れ前記半導体チップへ向けられておりかつ該チップに接
触している機械的伝達要素とを備え、前記半導体チップ
が前記支持要素内に浮かぶように収容されていることを
特徴とする圧力センサ。1. A support element for a semiconductor chip having a strain gauge on one of the opposite surfaces, an outer enclosure adapted to receive the support element, and a cover provided to close the outer enclosure. An element and a mechanical transmission element housed in the cover element and directed to and in contact with the semiconductor chip, the semiconductor chip being housed in a floating manner in the support element. Pressure sensor characterized by the above-mentioned.
的伝達要素が前記カバー要素内に形成されたシート内に
浮かぶように収容されていることを特徴とする請求項1
に記載の圧力センサ。2. The apparatus according to claim 1, wherein the mechanical transmission element housed in the cover element is housed so as to float in a sheet formed in the cover element.
Pressure sensor.
て該支持要素には該支持要素から伸びる複数の導体があ
り、該導体は前記ストレーンゲージによって検出される
圧力信号を伝達するのに適合しており、前記ストレーン
ゲージは前記機械的伝達要素が作用する面の反対側にあ
る前記半導体チップの一面に配置されていることを特徴
とする請求項1に記載の圧力センサ。3. The support element comprises alumina, and the support element has a plurality of conductors extending from the support element, the conductors adapted to transmit a pressure signal detected by the strain gauge. The pressure sensor according to claim 1, wherein the strain gauge is disposed on one surface of the semiconductor chip on a side opposite to a surface on which the mechanical transmission element operates.
素が作用する前記半導体チップの面に対し予め荷重が課
されるように前記カバー要素内に収容されていることを
特徴とする請求項3に記載の圧力センサ。4. The semiconductor device according to claim 1, wherein the mechanical transmission element is housed in the cover element such that a load is previously applied to a surface of the semiconductor chip on which the mechanical transmission element operates. Item 4. The pressure sensor according to item 3.
から作られることを特徴とする請求項1〜4のいずれか
に記載の圧力センサ。5. The pressure sensor according to claim 1, wherein said semiconductor chip is made of silicon carbide.
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の圧力
センサ。6. The pressure sensor according to claim 1, wherein said semiconductor chip is made of SOI.
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の圧力
センサ。7. The pressure sensor according to claim 1, wherein said semiconductor chip is made of SOS.
Applications Claiming Priority (2)
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Cited By (1)
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JP2006250614A (en) * | 2005-03-09 | 2006-09-21 | Denso Corp | Pressure detector |
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