JP2001150336A - Manufacturing method and polishing method for flat plate-shaped substrate - Google Patents

Manufacturing method and polishing method for flat plate-shaped substrate

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JP2001150336A
JP2001150336A JP33199299A JP33199299A JP2001150336A JP 2001150336 A JP2001150336 A JP 2001150336A JP 33199299 A JP33199299 A JP 33199299A JP 33199299 A JP33199299 A JP 33199299A JP 2001150336 A JP2001150336 A JP 2001150336A
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JP
Japan
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substrate
substrates
cleaning
polishing
flat
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JP33199299A
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Japanese (ja)
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Takao Iihama
孝雄 飯浜
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System Seiko Co Ltd
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System Seiko Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently manufacture at low cost a flat plate-shaped substrate such as a magnetic disc having one surface to be used. SOLUTION: The flat plate-shaped substrate 1 such as a magnetic disc substrate in which one surface, namely, the front surface 1a is a surface to be processed, is formed, and two substrates 1 are bonded into a substrate pair 3 by facing the other surfaces, namely, back surfaces 1b. Respective front surfaces 1a of two bonded substrates 1 are polished by a double surface polishing device, and two substrates 1 are dried in the bonded state. After specified processing to the surfaces to be processed is finished, two substrates 1 are separated from each other. Therefore, two substrates 1 can be simultaneously manufactured by performing polishing work to the substrates at one time.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスク基板、
半導体ウエハおよび液晶基板などの平板状の基板を製造
する平板状基板の製造方法に関し、特に、平板状基板の
表面を研磨加工する研磨工程を有する平板状基板の製造
方法に関する。
The present invention relates to a magnetic disk substrate,
The present invention relates to a method of manufacturing a flat substrate for manufacturing a flat substrate such as a semiconductor wafer and a liquid crystal substrate, and more particularly to a method of manufacturing a flat substrate having a polishing step of polishing a surface of the flat substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】コンピュータの記憶媒体として使用され
る磁気ディスクは、アルミニウム合金やガラスなどを用
いて、中心部に貫通孔を有する磁気ディスク用基板、つ
まりサブストレートを形成した後に、種々の表面処理工
程を経て製造されている。これらの表面処理工程として
は、研削工程、研磨工程、磁性膜を形成するためのスパ
ッタリング工程、メッキ工程および洗浄工程などがあ
る。
2. Description of the Related Art A magnetic disk used as a storage medium for a computer is made of aluminum alloy, glass, or the like, and after forming a substrate for a magnetic disk having a through hole in the center, that is, a substrate, is subjected to various surface treatments. It is manufactured through a process. These surface treatment steps include a grinding step, a polishing step, a sputtering step for forming a magnetic film, a plating step, and a cleaning step.

【0003】磁気ディスクは従来では両面に磁性膜が形
成された磁気ディスク基板を使用することが一般的であ
ったが、最近、磁気ディスクドライブのコストを低減す
るために、片面のみに磁性膜が形成された磁気ディスク
を使用するようにした磁気ディスクドライブの開発が着
手されている。
Conventionally, a magnetic disk has generally used a magnetic disk substrate having a magnetic film formed on both sides, but recently, in order to reduce the cost of a magnetic disk drive, a magnetic film is formed on only one side. The development of a magnetic disk drive using the formed magnetic disk has been started.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、片面
のみを使用する磁気ディスクなどのような平板状の基板
を効率的に低コストで製造し得るようにすることにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to enable a flat substrate such as a magnetic disk using only one side to be manufactured efficiently and at low cost.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の平板状基板の製
造方法は、一方面を処理して平板状の基板を製造する平
板状基板の製造方法であって、それぞれ一方面が被処理
面となった平板状の2枚の基板をそれぞれの他方面で接
合する工程と、接合状態の2枚の前記基板のそれぞれの
一方面を同時に研磨する工程と、研磨加工後に接合状態
の2枚の基板を分離する工程とを有することを特徴とす
る。
A method of manufacturing a flat substrate according to the present invention is a method of manufacturing a flat substrate by processing one surface to manufacture a flat substrate. Joining the two flat substrates formed on the other surface of each other, simultaneously polishing one surface of each of the two substrates in the joined state, and joining the two substrates in the joined state after the polishing process. And a step of separating the substrate.

【0006】本発明の平板状基板の製造方法は、一方面
を処理して平板状の基板を製造する平板状基板の製造方
法であって、それぞれ一方面が被処理面となった平板状
の2枚の基板をそれぞれの他方面で接合する工程と、接
合状態の2枚の前記基板のそれぞれの一方面を同時に研
磨する工程と、接合状態の2枚の前記基板を洗浄乾燥す
る工程と、洗浄乾燥した後に接合状態の2枚の基板を分
離する工程とを有することを特徴とする。
A method of manufacturing a flat substrate according to the present invention is a method of manufacturing a flat substrate in which one surface is processed to manufacture a flat substrate. A step of bonding the two substrates on their other surfaces, a step of simultaneously polishing one surface of each of the two substrates in the bonded state, and a step of washing and drying the two substrates in the bonded state; Separating the two substrates in a bonded state after washing and drying.

【0007】本発明の平板状基板の研磨方法は、平板状
の基板の一方面を研磨加工する平板状基板の研磨方法で
あって、それぞれ一方面が被処理面となった平板状の2
枚の基板をそれぞれの他方面が向き合うようにして重ね
合わせる工程と、2枚の前記基板を重ね合わせた状態の
もとで、それぞれの前記基板の一方面を同時に研磨加工
する工程とを有することを特徴とする。
The method for polishing a flat substrate according to the present invention is a method for polishing a flat substrate in which one surface of a flat substrate is polished.
A step of superimposing two substrates so that the other surfaces thereof face each other, and a step of simultaneously polishing one surface of each of the substrates under a state in which the two substrates are superimposed. It is characterized by.

【0008】本発明の平板状基板の研磨方法は、平板状
の基板の一方面を研磨加工する平板状基板の研磨方法で
あって、それぞれ回転駆動される第1の定盤と第2の定
盤との間に、それぞれ一方面が被処理面となった平板状
の基板をそれぞれの他方面を向き合わせて第1層と第2
層の2層に配置する工程と、前記第1の定盤による前記
1層の基板の一方面の研磨加工と、前記第2の定盤によ
る前記第2層の基板の一方面の研磨加工とを同時に行う
工程とを有することを特徴とする。
The method for polishing a flat substrate according to the present invention is a method for polishing a flat substrate in which one surface of a flat substrate is polished, wherein a first surface plate and a second surface plate which are respectively driven to rotate. A plate-like substrate having one surface to be processed is placed between the first layer and the second layer with the other surface facing each other.
Arranging two layers, polishing the one surface of the one-layer substrate by the first platen, and polishing the one surface of the second-layer substrate by the second platen. And simultaneously performing the steps of

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0010】図1は本発明の一実施の形態である平板状
基板の製造方法を示す工程図であり、磁気ディスクはア
ルミニウム合金やガラスなどを素材として円板状に形成
された磁気ディスク基板1により製造される。図1
(A)に示すように、この基板1の一方面つまり表面1
aは研磨処理や磁性膜の形成加工などの種々の処理がな
される被処理面となっており、他方面つまり背面1bは
磁性膜の形成処理などが行われない非処理面となってい
る。
FIG. 1 is a process diagram showing a method of manufacturing a flat substrate according to an embodiment of the present invention. The magnetic disk is a magnetic disk substrate 1 made of aluminum alloy, glass, or the like. It is manufactured by FIG.
As shown in FIG.
a is a surface to be processed on which various processes such as a polishing process and a magnetic film forming process are performed, and the other surface, that is, the back surface 1b is a non-processed surface on which the magnetic film forming process and the like are not performed.

【0011】図1(B)に示すように、2枚の基板1は
それぞれの背面1bを対向させて接着剤2により接合さ
れて基板対3となり、それぞれの基板1は被処理面であ
る表面1aが反対側を向いた状態となる。背面1bで接
合された基板対3は、図1(C)に示すように、それぞ
れの表面1aの研磨処理と洗浄処理などが行われて表面
1aが鏡面仕上げされた後に、図1(D)に示すように
各々の基板1に分離される。
As shown in FIG. 1B, two substrates 1 are joined by an adhesive 2 with their back surfaces 1b facing each other to form a substrate pair 3, and each substrate 1 has a surface to be processed. 1a faces the opposite side. As shown in FIG. 1 (C), the substrate pair 3 bonded on the back surface 1b is subjected to a polishing process and a cleaning process on each surface 1a, and the surface 1a is mirror-finished. As shown in FIG.

【0012】このように、2枚の基板1のそれぞれの表
面を同時に研磨加工したり洗浄処理することにより、効
率的に基板1を製造することができる。それぞれの基板
1の表面に最終的にスパッタリングによる磁性膜の形成
が終了するまで基板対3のままとし、磁性膜が形成され
た後に2枚の基板1に分離するようにしても良い。
As described above, by simultaneously polishing or cleaning the surfaces of the two substrates 1, the substrates 1 can be manufactured efficiently. Substrate pairs 3 may be left until the formation of the magnetic film by sputtering on the surface of each substrate 1 is finally finished, and the two substrates 1 may be separated after the magnetic film is formed.

【0013】図2は接合された2枚の基板1の表面1a
を同時に研磨加工するための両面研磨装置を示す側面図
であり、図3は図2におけるA−A線に沿う断面図であ
り、図4は両面研磨装置のベース内に組み込まれた下定
盤を示す斜視図であり、図5は図2におけるB−B線に
沿う断面図である。
FIG. 2 shows the surface 1a of the two substrates 1 bonded together.
FIG. 3 is a side view showing a double-side polishing apparatus for simultaneously polishing the same, FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 2, and FIG. FIG. 5 is a sectional view taken along line BB in FIG.

【0014】両面研磨装置10は、図2および図3に示
すように、コラム11が固定されたベース12と、コラ
ム11に上下方向に移動自在に設けられた加工ヘッド1
3とを有している。ベース12内には、図4に示すよう
に、下定盤14が水平面内において回転自在に組み込ま
れており、この下定盤14の上面には下側研磨具として
のバフ、つまり研磨パッド15が環状に取り付けられて
いる。
As shown in FIGS. 2 and 3, a double-side polishing apparatus 10 includes a base 12 to which a column 11 is fixed, and a processing head 1 mounted on the column 11 so as to be movable in the vertical direction.
And 3. As shown in FIG. 4, a lower surface plate 14 is rotatably incorporated in a horizontal plane in the base 12, and a buff as a lower polishing tool, that is, a polishing pad 15 is annularly formed on an upper surface of the lower surface plate 14. Attached to.

【0015】下定盤14の回転中心部には外径が研磨パ
ッド15の内径よりもやや小径となった太陽歯車16が
回転自在に設けられ、研磨パッド15の外側には、この
外径よりもやや大径となった環状の内歯歯車17が下定
盤14を囲むように回転筒体18に固定され、内歯歯車
17は回転筒体18によって回転駆動されるようになっ
ている。
A sun gear 16 having an outer diameter slightly smaller than the inner diameter of the polishing pad 15 is rotatably provided at the center of rotation of the lower stool 14. An annular internal gear 17 having a slightly larger diameter is fixed to the rotary cylinder 18 so as to surround the lower platen 14, and the internal gear 17 is driven to rotate by the rotary cylinder 18.

【0016】下定盤14の研磨パッド15の上面には、
図3および図4に示すように、10個のキャリア19が
配置されるようになっており、それぞれのキャリア19
の外周部に形成された外歯歯車部は、太陽歯車16と内
歯歯車17とに噛み合っている。それぞれのキャリア1
9には、ワークである基板対3を保持するための円形の
保持孔20が、10個ずつ形成されている。この両面研
磨装置10は、それぞれ10個の保持孔20を有するキ
ャリア19が10枚配置されるようになっているので、
同時に100対の基板対3を研磨加工することができ
る。
On the upper surface of the polishing pad 15 of the lower platen 14,
As shown in FIGS. 3 and 4, ten carriers 19 are arranged, and each carrier 19 is arranged.
The external gear portion formed on the outer peripheral portion is meshed with the sun gear 16 and the internal gear 17. Each carrier 1
9, ten circular holding holes 20 for holding the substrate pair 3 as a work are formed by ten. In this double-side polishing apparatus 10, since ten carriers 19 each having ten holding holes 20 are arranged,
At the same time, 100 pairs of substrate pairs 3 can be polished.

【0017】ただし、キャリア19の数はこれに限定さ
れることなく、たとえば、8枚でも5枚でも任意の数の
キャリア19を設けることができる。同様に、1つのキ
ャリア19に形成される保持孔20の数についても、図
示する場合には10個となっているが、5つでも8つで
も良く、任意の数とすることができる。
However, the number of carriers 19 is not limited to this. For example, any number of carriers 19 can be provided, for example, eight or five. Similarly, the number of holding holes 20 formed in one carrier 19 is ten in the illustrated case, but may be five or eight, and may be an arbitrary number.

【0018】図2に示すように、加工ヘッド13はコラ
ム11に対して上下動自在に設けられた上下動ブロック
21を有し、この上下動ブロック21内に組み込まれた
支持スリーブには図5に示す上定盤駆動軸23が回転自
在に装着され、この上定盤駆動軸23に連結された上定
盤24の下面には研磨パッド25が取り付けられてい
る。なお、それぞれの研磨パッド15,25としては、
それぞれの定盤14,24の表面に取り付けるようにし
ても良く、金属製の定盤14,24の表面に格子状の溝
を形成することによって、定盤14,15の表面側の部
分に直接研磨具を形成するようにしても良い。
As shown in FIG. 2, the processing head 13 has a vertically movable block 21 provided so as to be vertically movable with respect to the column 11, and a support sleeve incorporated in the vertically movable block 21 has a support sleeve as shown in FIG. An upper surface plate drive shaft 23 shown in FIG. 1 is rotatably mounted, and a polishing pad 25 is attached to a lower surface of an upper surface plate 24 connected to the upper surface plate drive shaft 23. In addition, as each polishing pad 15, 25,
It may be attached to the surface of each of the surface plates 14, 24, and by forming a lattice-like groove on the surface of the metal surface plates 14, 24, the surface-side portions of the surface plates 14, 15 are directly formed. A polishing tool may be formed.

【0019】上定盤駆動軸23の回転を上定盤24に伝
達するために、上定盤駆動軸23の下端部に固定された
駆動体26と、上定盤24に固定された複数のホルダー
27を支持する複数の支持ブロック28が取り付けられ
た駆動プレート29とがユニバーサルジョイント22を
介して連結されている。
In order to transmit the rotation of the upper stool drive shaft 23 to the upper stool 24, a driving body 26 fixed to the lower end of the upper stool drive shaft 23 and a plurality of fixed members fixed to the upper stool 24. A drive plate 29 to which a plurality of support blocks 28 supporting the holder 27 are attached is connected via a universal joint 22.

【0020】上定盤駆動軸23は上下動ブロック21に
設けられた図示しないモータにより回転駆動されるよう
になっている。図5に示すように、太陽歯車16は太陽
歯車駆動軸16aにより回転駆動され、下定盤14は中
空の下定盤駆動軸14aにより回転駆動され、内歯歯車
17は回転筒体18によって回転駆動されるようになっ
ており、それぞれの駆動軸16a,14aおよび回転筒
体18は図示しないモータに連結されている。したがっ
て、それぞれのキャリア19を太陽歯車16と内歯歯車
17とに噛み合わせた状態で太陽歯車16と内歯歯車1
7と回転させると、それぞれのキャリア19は自転しな
がら太陽歯車16の周りを公転することになる。この状
態のもとで、上定盤24の研磨パッド25を基板対3を
介して下定盤14の研磨パッド15に押し付けると、基
板対はキャリア19によって水平面内において上下の研
磨パッド25,15の間でこれらに接触しながら、サイ
クロイド曲線ないしトロコイド曲線を描いて水平方向に
移動することになる。ただし、太陽歯車16と内歯歯車
17は相対的に回転する関係にあれば良く、太陽歯車1
6のみを回転させ、内歯歯車17を静止させるようにし
ても良く、内歯歯車17のみを回転させるようにしても
良い。
The upper platen drive shaft 23 is driven to rotate by a motor (not shown) provided on the vertical movement block 21. As shown in FIG. 5, the sun gear 16 is driven to rotate by a sun gear drive shaft 16a, the lower platen 14 is driven to rotate by a hollow lower platen drive shaft 14a, and the internal gear 17 is driven to rotate by a rotary cylinder 18. The drive shafts 16a and 14a and the rotary cylinder 18 are connected to a motor (not shown). Therefore, the sun gear 16 and the internal gear 1 are engaged with each carrier 19 in mesh with the sun gear 16 and the internal gear 17.
When rotated as 7, each carrier 19 revolves around the sun gear 16 while rotating. In this state, when the polishing pad 25 of the upper surface plate 24 is pressed against the polishing pad 15 of the lower surface plate 14 via the substrate pair 3, the substrate pair is moved by the carrier 19 between the upper and lower polishing pads 25, 15 in a horizontal plane. While touching them between them, they move in a horizontal direction while drawing a cycloid curve or trochoid curve. However, the sun gear 16 and the internal gear 17 only need to be in a relatively rotating relationship.
Only the internal gear 17 may be rotated and only the internal gear 17 may be rotated.

【0021】基板対3には研磨液が塗布されるようにな
っており、研磨パッド15,25により、研磨液の存在
下のもとでワークとしての磁気ディスク用基板のラッピ
ング加工やポリッシング加工が行われる。したがって、
基板対3の研磨加工を行う際には、上下動ブロック21
を下降移動させて上定盤24の研磨パッド25と下定盤
14の研磨パッド15との間の間隔を所定の間隔に設定
し、上定盤24から基板対に加えられる押し付け力を調
整した状態のもとで、両方の定盤14、24と太陽歯車
16と内歯歯車17とを回転駆動することにより、合計
100対の基板1の表面1a,1aを同時に研磨加工す
ることができる。
The substrate pair 3 is coated with a polishing liquid. The polishing pads 15 and 25 allow the lapping or polishing of a magnetic disk substrate as a work in the presence of the polishing liquid. Done. Therefore,
When polishing the substrate pair 3, the vertical movement block 21 is used.
Is moved downward to set a predetermined interval between the polishing pad 25 of the upper stool 24 and the polishing pad 15 of the lower stool 14, and the pressing force applied from the upper stool 24 to the substrate pair is adjusted. By rotating both the bases 14 and 24, the sun gear 16 and the internal gear 17 under this condition, a total of 100 pairs of the surfaces 1a and 1a of the substrate 1 can be simultaneously polished.

【0022】前述した場合には、2枚の基板1をその背
面1bで接着剤2により接合することにより一対の基板
対3を形成するようにしているが、図5に示すように、
キャリア19の厚みtを1枚の基板1の厚みdよりも大
きい寸法(t>d)に設定すれば、2枚の基板1を接合
することなく、各々のキャリア19の保持孔20内に2
枚の基板1を重ね合わせて配置することができる。その
場合には、各々の保持孔20内には、まず下側の基板1
を表面1aを下向きとして配置した後に、上側の基板1
を表面1aを上向きとして下側の基板1の上に重ね合わ
せる。重なった状態で対となる2枚の基板1はそれぞれ
の表面1a,1aが反対側を向き、背面1b,1bが向
き合うようにして重ね合わせて保持孔20内に配置され
るので、保持孔20内には下側の基板1の第1層と上側
の基板1の第2層とが2層となって配置されることにな
る。
In the case described above, a pair of substrates 3 is formed by bonding two substrates 1 on the back surface 1b thereof with an adhesive 2, but as shown in FIG.
When the thickness t of the carrier 19 is set to a dimension (t> d) larger than the thickness d of one substrate 1, two holes are formed in the holding holes 20 of each carrier 19 without joining the two substrates 1.
The substrates 1 can be arranged in an overlapping manner. In that case, first, the lower substrate 1 is provided in each holding hole 20.
Are arranged with the surface 1a facing downward, and then the upper substrate 1
On the lower substrate 1 with the surface 1a facing upward. The two substrates 1 forming a pair in an overlapped state are placed in the holding hole 20 so that the front surfaces 1a and 1a face the opposite sides and the back surfaces 1b and 1b face each other. Inside, the first layer of the lower substrate 1 and the second layer of the upper substrate 1 are arranged as two layers.

【0023】各々の保持孔20内に2層となって2枚の
基板1が重ね合わされた後に、上述したように、両面研
磨装置10によってそれぞれの表面1a,1aが同時に
研磨加工される。このように、対となる2枚の基板1を
接合しないで研磨加工した場合には、加工終了後に、各
々の保持孔20から基板1を1枚ずつ取り出す操作によ
って基板1は分離されることになる。
After the two substrates 1 are stacked in two layers in each holding hole 20, the respective surfaces 1a, 1a are simultaneously polished by the double-side polishing apparatus 10, as described above. As described above, when the two substrates 1 to be paired are polished without being joined, the substrates 1 are separated by the operation of taking out the substrates 1 one by one from each holding hole 20 after the processing. Become.

【0024】複数の基板対3の表面1a,1aを同時に
研磨加工するための両面研磨装置としては、前述したよ
うにキャリア19を用いた装置以外に、たとえば、特開
平3-66025 号公報に示されるように、ワークである基板
対を保持するチャックが設けられたインデックステーブ
ルを有する両面研磨装置を用いることができる。また、
同時に複数の基板対3を研磨加工することなく、一対ず
つ両面を同時に研磨加工するようにしても良い。そのよ
うな両面研磨装置としては、たとえば、特開平6-302567
号公報および特開昭54-81591号公報に示されるようなタ
イプのものを使用することができる。
As a double-side polishing apparatus for simultaneously polishing the surfaces 1a, 1a of the plurality of substrate pairs 3, other than the apparatus using the carrier 19 as described above, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-66025 discloses the apparatus. As shown, a double-side polishing apparatus having an index table provided with a chuck for holding a substrate pair as a work can be used. Also,
Instead of polishing a plurality of substrate pairs 3 at the same time, two pairs of substrates may be simultaneously polished. As such a double-side polishing apparatus, for example, JP-A-6-302567
And those disclosed in JP-A-54-81591 can be used.

【0025】基板1の研磨加工としては、ワークの寸法
誤差を調整したり、表面仕上げ状態を改善するために行
うラッピング加工やワークの表面に高度の鏡面を形成す
るためのポリッシング加工などがあり、研磨具として研
磨パッドを使用すると磨き加工つまりラッピング加工お
よびポリッシング加工を行うことができ、研磨具として
砥石を使用することにより同じ両面研磨装置によって研
削加工も行うことができる。
Examples of the polishing process of the substrate 1 include a lapping process for adjusting a dimensional error of a work and improving a surface finish state and a polishing process for forming a high mirror surface on the surface of the work. When a polishing pad is used as a polishing tool, polishing, that is, lapping and polishing can be performed, and when a grindstone is used as a polishing tool, grinding can also be performed using the same double-side polishing apparatus.

【0026】図6は洗浄乾燥装置の一例としての洗浄ユ
ニット組立体30を示す斜視図であり、図7は図6の洗
浄ユニット組立体30に配置されるカップ型のスクラブ
洗浄機を示す斜視図であり、図8は図6の洗浄ユニット
組立体30に配置されるロール型のスクラブ洗浄機を示
す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a cleaning unit assembly 30 as an example of the cleaning / drying apparatus. FIG. 7 is a perspective view showing a cup type scrub cleaning machine arranged in the cleaning unit assembly 30 of FIG. FIG. 8 is a perspective view showing a roll type scrub cleaner disposed in the cleaning unit assembly 30 of FIG.

【0027】この洗浄ユニット組立体30は接着剤2に
より接合された基板対3をワークとして、研磨加工され
た基板対3の表面1a,1aに付着している研磨材など
の異物を除去して洗浄するために適用されており、第1
〜第4の4つの洗浄槽31〜34を有している。それぞ
れの洗浄槽は複数の基板対を垂直状態に保持しながら所
定の間隔を隔てて搬送し、表面1a,1aを液体にさら
すことによりデップ洗浄するようにしたデップ槽となっ
ている。
The cleaning unit assembly 30 uses the substrate pair 3 joined by the adhesive 2 as a work to remove foreign substances such as abrasives attached to the polished surfaces 1a, 1a of the substrate pair 3. Has been applied to wash the first
To four cleaning tanks 31 to 34. Each cleaning tank is a dip tank that transports a plurality of pairs of substrates at a predetermined interval while maintaining the substrates in a vertical state, and exposes the surfaces 1a, 1a to liquid to perform dip cleaning.

【0028】第1の洗浄槽31では、研磨加工終了後の
基板対3にこれを搬送しながらノズル35から洗浄液を
吹き付けて洗浄するようにしており、この洗浄槽31は
シャワー槽となっている。第2の洗浄槽32では、この
中に供給された薬液に基板対をひたした状態で搬送して
洗浄するようにしており、この洗浄槽32は薬液槽とな
っている。第3の洗浄槽33では、この中に供給された
洗浄液を超音波振動子により振動させ、洗浄液に基板対
3をひたした状態で搬送して超音波洗浄するようにして
おり、この洗浄槽33は超音波槽となっている。第4の
洗浄槽34では、この中に供給された純水に基板対をひ
たした状態で搬送して洗浄するようにしており、この洗
浄槽34は純水槽となっている。
In the first cleaning tank 31, cleaning is performed by spraying a cleaning liquid from a nozzle 35 while transporting the substrate to the substrate pair 3 after the polishing process, and the cleaning tank 31 is a shower tank. . In the second cleaning tank 32, the substrate supplied to the second cleaning tank 32 is washed while being transported while the substrate pair is laid, and the cleaning tank 32 is a chemical tank. In the third cleaning tank 33, the cleaning liquid supplied therein is vibrated by an ultrasonic vibrator, and the cleaning liquid is transported while the substrate pair 3 is immersed in the cleaning liquid to perform ultrasonic cleaning. Is an ultrasonic bath. In the fourth cleaning tank 34, the substrate pair is transported and washed with pure water supplied therein, and the cleaning tank 34 is a pure water tank.

【0029】それぞれの洗浄槽には、図6に示すよう
に、4本のスクリューコンベア40が回転自在に装着さ
れ、それぞれの基板対3はスクリューコンベア40に形
成された螺旋状の溝に4個所で接触し、垂直状態に保持
された状態となって連続的に一端部から他端部に向けて
搬送されるようになっている。
As shown in FIG. 6, four screw conveyors 40 are rotatably mounted in each of the cleaning tanks, and each substrate pair 3 is provided at four locations in a spiral groove formed in the screw conveyor 40. , And is conveyed continuously from one end to the other end in a state held in a vertical state.

【0030】4つの洗浄槽31〜34は、一列に直線状
となって配置されており、それぞれの洗浄槽31〜34
の搬送端にまで搬送された基板対3は洗浄槽から持ち上
げられて取り出され、取り出された位置をスクラブ洗浄
位置36〜39として、それぞれの位置においてスクラ
ブ洗浄機によりスクラブ洗浄が行われる。
The four cleaning tanks 31 to 34 are arranged in a straight line in a line.
The substrate pair 3 conveyed to the transfer end is lifted and taken out of the cleaning tank, and the taken-out positions are set as scrub cleaning positions 36 to 39, and scrub cleaning is performed at each position by a scrub cleaning machine.

【0031】スクラブ洗浄位置36,37には、図7に
示すスクラブ洗浄機41が配置されており、このスクラ
ブ洗浄機41は、基板対3の表面1a,1aに接触する
2つのカップ型の回転ブラシ42,43と、基板対3の
中心孔の内周面に接触する内周面洗浄ブラシ44と、基
板対の外周面に接触する外周面洗浄ブラシ45とを有
し、それぞれのブラシは矢印で示す方向に回転駆動され
るようになっている。
At the scrub cleaning positions 36 and 37, a scrub cleaning machine 41 shown in FIG. 7 is arranged. The scrub cleaning machine 41 has two cup-shaped rotary members which come into contact with the surfaces 1a and 1a of the substrate pair 3. Brushes 42 and 43, an inner peripheral cleaning brush 44 that contacts the inner peripheral surface of the central hole of the substrate pair 3, and an outer peripheral cleaning brush 45 that contacts the outer peripheral surface of the substrate pair. It is designed to be rotationally driven in the direction shown by.

【0032】スクラブ洗浄位置38,39には、図8に
示すスクラブ洗浄機46が配置されており、このスクラ
ブ洗浄機46は、基板対3の表面と内外周面とに接触す
る2つのロール型の回転ブラシ47,28を有し、それ
ぞれのブラシは矢印で示す方向に回転駆動されるように
なっている。
A scrub cleaning machine 46 shown in FIG. 8 is disposed at the scrub cleaning positions 38 and 39. The scrub cleaning machine 46 is composed of two roll-type cleaners which are in contact with the surface of the substrate pair 3 and the inner and outer peripheral surfaces. , And each of the brushes is driven to rotate in a direction indicated by an arrow.

【0033】それぞれのスクラブ洗浄機は、それぞれの
洗浄槽の搬送端の上方に配置されており、洗浄槽とスク
ラブ洗浄機とにより対となった1つの洗浄ユニットを構
成している。図6に示す場合には、4つの洗浄ユニット
により1つの洗浄ユニット組立体30を形成している
が、基板対の種類や洗浄処理前の表面処理工程に対応さ
せて任意の数の洗浄ユニットにより1つの洗浄ユニット
組立体30を構成することができる。たとえば、4つ以
下あるいは4つ以上の洗浄ユニットにより1つの洗浄ユ
ニット組立体を構成するようにしても良い。
Each scrub cleaning machine is disposed above the transport end of each cleaning tank, and forms one cleaning unit paired with the cleaning tank and the scrub cleaning machine. In the case shown in FIG. 6, one cleaning unit assembly 30 is formed by four cleaning units. However, an arbitrary number of cleaning units may be used in accordance with the type of the substrate pair and the surface treatment process before the cleaning treatment. One cleaning unit assembly 30 can be configured. For example, four or less or four or more cleaning units may constitute one cleaning unit assembly.

【0034】図9は図6に示した洗浄ユニット組立体が
組み込まれた洗浄処理部51と、その隣りに配置された
乾燥処理部52とを有する洗浄装置を示す平面図であ
り、図10は図9の正面図であり、図11は図9におけ
るC−C線に沿う概略断面図であり、図12は図9にお
けるD−D線に沿う概略断面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a cleaning apparatus having a cleaning processing section 51 in which the cleaning unit assembly shown in FIG. 6 is incorporated, and a drying processing section 52 disposed adjacent thereto. FIG. FIG. 11 is a front view of FIG. 9, FIG. 11 is a schematic cross-sectional view along the line CC in FIG. 9, and FIG. 12 is a schematic cross-sectional view along the line DD in FIG.

【0035】洗浄処理部51のハウジング53内には、
図9に示すように、2組の洗浄ユニット組立体30が相
互に平行となって組み込まれており、両方の洗浄ユニッ
ト組立体30の間には、スクラブ洗浄機41,46を駆
動する洗浄機駆動部54が設けられている。したがっ
て、この洗浄処理部51においては、それぞれの洗浄ユ
ニット組立体30の洗浄槽内で基板対を搬送しながらデ
ップ洗浄し、それぞれのスクラブ洗浄機によって1枚の
基板対毎にスクラブ洗浄が行われる。
In the housing 53 of the cleaning section 51,
As shown in FIG. 9, two sets of cleaning unit assemblies 30 are incorporated in parallel with each other, and a cleaning machine that drives scrub cleaning machines 41 and 46 is provided between both cleaning unit assemblies 30. A drive unit 54 is provided. Accordingly, in the cleaning processing section 51, the substrate pair is subjected to the dip cleaning while being transported in the cleaning tank of each cleaning unit assembly 30, and the scrub cleaning is performed for each substrate pair by each scrub cleaning machine. .

【0036】ハウジング53の上部には、図10に示す
ように、フィルタにより清浄化された空気を矢印で示す
ように吹き出す空気供給部55が設けられており、スク
ラブ洗浄はクリーンな空気の中で行われる。
As shown in FIG. 10, an air supply unit 55 for blowing out the air cleaned by the filter as shown by the arrow is provided at the upper part of the housing 53. Scrub cleaning is performed in clean air. Done.

【0037】図13は図11において符号Eで示す部分
を拡大して示す断面図であり、図14は図11における
F−F線に沿う断面図であり、全ての洗浄槽はほぼ同様
の構造となっている。
FIG. 13 is an enlarged sectional view showing a portion indicated by reference numeral E in FIG. 11, and FIG. 14 is a sectional view taken along line FF in FIG. 11. All the cleaning tanks have substantially the same structure. It has become.

【0038】図13および図14に示すように、それぞ
れの洗浄槽の槽本体56には4本のスクリューコンベア
40が回転自在に装着され、槽本体56内に搬入された
基板対3は所定の間隔を隔てて搬入端部から搬出端部に
向けて垂直状態となって搬送されるようになっている。
それぞれのスクリューコンベア40は、両端部が槽本体
56の外部に突出し、外部に設けられた図示しない駆動
手段によって回転駆動されるようになっており、槽本体
56に設けられたシール部材によって槽本体56内の液
体の漏れが防止される。
As shown in FIGS. 13 and 14, four screw conveyors 40 are rotatably mounted on the tank main body 56 of each cleaning tank, and the substrate pair 3 carried into the tank main body 56 has a predetermined size. The paper is conveyed in a vertical state from the carry-in end to the carry-out end at intervals.
Each of the screw conveyors 40 has both ends protruding outside of the tank body 56 and is driven to rotate by driving means (not shown) provided outside. Leakage of liquid in 56 is prevented.

【0039】槽本体56には搬入端部と搬出端部とに対
応させて、図10に示すように、上下動部材57が設け
られており、それぞれの上下動部材57には、図13に
示すように、基板対3を保持する支持爪58が設けられ
ている。搬入端部における上下動部材57を上昇限位置
とした状態で支持爪58に基板対を載置させた後に、上
下動部材57を下降移動させると、基板対は4本のスク
リューコンベア40の溝に接触して槽本体56内に搬入
される。一方、搬出端部における上下動部材57を上昇
移動させると、支持爪58が基板対に接触して基板対は
上昇限位置まで持ち上げられる。
As shown in FIG. 10, the tank main body 56 is provided with vertical moving members 57 corresponding to the carry-in end portion and the carry-out end portion. As shown, a support claw 58 for holding the substrate pair 3 is provided. After the substrate pair is placed on the support claws 58 with the vertical moving member 57 at the carry-in end in the ascending limit position, the vertical moving member 57 is moved downward, so that the substrate pair becomes the groove of the four screw conveyors 40. And is carried into the tank body 56. On the other hand, when the vertically moving member 57 at the carry-out end is moved upward, the support claws 58 come into contact with the substrate pair, and the substrate pair is lifted to the upper limit position.

【0040】第1と第2の2つの洗浄槽31,32の搬
出端部の上方には、上下動部材57によって上昇された
基板対をスクラブ洗浄するためにスクラブ洗浄機41が
設けられており、このスクラブ洗浄機41の一方のカッ
プ型の回転ブラシ42を有するアーム61が図13およ
び図14に示すように洗浄機駆動部54に旋回自在に装
着され、他方のカップ型の回転ブラシ43を有するアー
ム62も洗浄機駆動部54に旋回自在に装着されてい
る。さらに、図7に示した内周面洗浄ブラシ44と外周
面洗浄ブラシ45を有する図示しないアームも洗浄機駆
動部54に旋回自在に装着されている。
Above the carry-out ends of the first and second cleaning tanks 31 and 32, a scrub cleaner 41 is provided for scrub-cleaning the substrate pair lifted by the vertically moving member 57. As shown in FIGS. 13 and 14, an arm 61 having one cup-shaped rotating brush 42 of the scrub cleaning machine 41 is rotatably mounted on a washing machine driving section 54, and the other cup-shaped rotating brush 43 is connected to the arm 61. The arm 62 is also pivotally mounted on the washer driving unit 54. Further, an arm (not shown) having the inner peripheral surface cleaning brush 44 and the outer peripheral surface cleaning brush 45 shown in FIG.

【0041】第3と第4の2つの洗浄槽33,34の搬
出端部の上方には、上下動部材57によって上昇された
基板対をスクラブ洗浄するためにスクラブ洗浄機46が
設けられており、このスクラブ洗浄機46のそれぞれの
ロール型の回転ブラシ47,48が設けられたシャフト
63,64が、図9に示すように、洗浄機駆動部54に
設けられ、それぞれのシャフト63,64は相互に接近
離反移動自在となっている。
Above the carry-out ends of the third and fourth cleaning tanks 33 and 34, a scrub cleaner 46 for scrubbing the substrate pair raised by the vertically moving member 57 is provided. As shown in FIG. 9, shafts 63 and 64 provided with respective roll-type rotary brushes 47 and 48 of the scrub cleaner 46 are provided in a washer driving unit 54, and the respective shafts 63 and 64 are It is movable toward and away from each other.

【0042】第1の洗浄槽31の搬出端部上方のスクラ
ブ洗浄機41によりスクラブ洗浄された基板対を第2の
洗浄槽の搬入端部上方に搬送するために、図14に示す
ように、両方の洗浄槽31,32の間にはワーク移送機
65が設けられている。このワーク移送機65はガイド
レール66に沿って往復動自在となったスライドブロッ
ク67を有し、このスライドブロック67に180度の
範囲で回転自在に装着された旋回軸68には、基板対3
を保持する保持爪69が取り付けられている。したがっ
て、スラクブ洗浄された基板対を保持爪69に支持した
後に、保持爪69を180度旋回させると、基板対3は
第2の洗浄槽32の搬入端部上方に移送される。
As shown in FIG. 14, in order to transfer the substrate pair scrubbed by the scrub cleaning machine 41 above the carry-out end of the first cleaning tank 31 to above the carry-in end of the second cleaning tank, as shown in FIG. A work transfer device 65 is provided between the two cleaning tanks 31 and 32. The work transfer device 65 has a slide block 67 which is reciprocally movable along a guide rail 66, and a pivot shaft 68 rotatably mounted on the slide block 67 within a range of 180 degrees includes a substrate pair 3
Is held. Therefore, after the slug-cleaned substrate pair is supported on the holding claws 69 and the holding claws 69 are turned 180 degrees, the substrate pairs 3 are transferred above the carry-in end of the second cleaning tank 32.

【0043】図9に示すように、それぞれの洗浄槽の間
と、第1の洗浄槽31の搬入端部と、第4の洗浄槽34
の搬出端部には、それぞれ図14に示したワーク移送機
65が設けられている。ただし、第4の洗浄槽34の搬
出端部に設けられたワーク移送機65は、保持爪69が
90度旋回することによって乾燥処理部52に搬出され
るようになっている。
As shown in FIG. 9, between the respective cleaning tanks, the carry-in end of the first cleaning tank 31, and the fourth cleaning tank 34.
The work transfer machines 65 shown in FIG. However, the work transfer device 65 provided at the unloading end of the fourth cleaning tank 34 is unloaded to the drying processing unit 52 when the holding claws 69 rotate 90 degrees.

【0044】乾燥処理部52のハウジング71内には、
図9に示すように、洗浄機駆動部54に連なるようにし
て乾燥機駆動部72が設けられ、2つの洗浄ユニット組
立体30に対応させて乾燥機駆動部72の両側には、2
つずつスピン乾燥機73が設けられている。それぞれの
スピン乾燥機73は基板対3をその外周部で把持するフ
ィンガーを有し、基板対を回転させることによって基板
対に付着した水分を除去するようにしている。
In the housing 71 of the drying section 52,
As shown in FIG. 9, a dryer driving unit 72 is provided so as to be continuous with the cleaning unit driving unit 54, and two drying units 72 are provided on both sides of the drying unit driving unit 72 so as to correspond to the two cleaning unit assemblies 30.
Each is provided with a spin dryer 73. Each of the spin dryers 73 has a finger for gripping the substrate pair 3 at the outer peripheral portion thereof, and removes moisture attached to the substrate pair by rotating the substrate pair.

【0045】ハウジング71の上部には洗浄処理部51
と同様に空気供給部55が設けられており、ハウジング
71内には、それぞれの洗浄ユニット組立体30から搬
出された基板対をスピン乾燥機73に直ちに装填し、乾
燥済みの基板対を搬送するために、乾燥機駆動部72が
設けられ、その両側には搬送ヘッド74が2つずつ配置
されており、それぞれ搬送ヘッド74は水平方向に移動
自在にガイドレール75に装着され、搬送ヘッド74は
スピン乾燥機73に向けて接近離反移動自在となってい
る。
The cleaning section 51 is provided above the housing 71.
An air supply unit 55 is provided in the same manner as described above. In the housing 71, the substrate pairs carried out from the respective cleaning unit assemblies 30 are immediately loaded into the spin dryer 73, and the dried substrate pairs are transported. For this purpose, a dryer driving section 72 is provided, and two transport heads 74 are arranged on both sides of the dryer drive section 72. Each transport head 74 is mounted on a guide rail 75 so as to be movable in the horizontal direction, and the transport head 74 is It is movable toward and away from the spin dryer 73.

【0046】したがって、洗浄処理部51により洗浄処
理された基板対を乾燥処理部52に搬送して直ちにスピ
ン乾燥することができるので、洗浄処理してから乾燥処
理するまでの間に異物などが付着することを防止でき、
基板対の洗浄度を高めることができる。しかも、洗浄処
理された基板対を純水が供給された容器の中に水没させ
て保管する必要がなく、容器の設置スペースが不要とな
る。
Therefore, the substrate pair cleaned by the cleaning processing unit 51 can be transported to the drying processing unit 52 and immediately spin-dried, so that foreign matter and the like adhere between the cleaning processing and the drying processing. Can be prevented,
The degree of cleaning of the substrate pair can be increased. Moreover, there is no need to submerge and store the cleaned substrate pair in a container to which pure water has been supplied, so that there is no need for an installation space for the container.

【0047】図示する洗浄装置にあっては、2組みの洗
浄ユニット組立体30を有しているが、1組のみの洗浄
ユニット組立体30をハウジング53内に組み込むよう
にしても良い。スクラブ洗浄機はカップ型とロール型と
を混在させているが、全てをカップ型の回転ブラシを有
するスクラブ洗浄機、あるいはロール型の回転ブラシを
有するスクラブ洗浄機としても良く、いずれのタイプの
スクラブ洗浄機を使用するようにしても良い。基板対を
デップ洗浄するデップ槽は、シャワー槽、薬液槽、超音
波槽、純水槽の順に組み合わせられているが、これらの
組み合わせ順序は適宜変更でき、槽数についても自由に
設定することができ、さらに他の種類のデップ槽とも適
宜組み合わせて使用することができる。それぞれの洗浄
槽内における基板対の連続搬送は、スクリューコンベア
40に代えて、基板対を保持するフックやフィンガーが
設けられた部材を洗浄槽内や洗浄槽の上部に移動させる
ようにしたウォーキングビーム式のコンベアによって行
うようにしても良い。
Although the illustrated cleaning apparatus has two sets of cleaning unit assemblies 30, only one set of cleaning unit assemblies 30 may be incorporated in the housing 53. Although the scrub cleaner has a mixture of a cup type and a roll type, all may be a scrub cleaner having a cup type rotary brush or a scrub cleaner having a roll type rotary brush. A washing machine may be used. The dip tanks for dip cleaning the substrate pairs are combined in the order of a shower tank, a chemical solution tank, an ultrasonic tank, and a pure water tank, but the order of these combinations can be changed as appropriate, and the number of tanks can be freely set. It can be used in combination with other types of dep tanks as appropriate. The continuous transfer of the substrate pair in each cleaning tank is performed by a walking beam in which a member provided with a hook or a finger for holding the substrate pair is moved to the cleaning tank or the upper part of the cleaning tank instead of the screw conveyor 40. You may make it perform by a conveyer of a formula.

【0048】図示した洗浄装置および乾燥装置は、一例
であって、これらの装置としては、前述したタイプのも
のに限定されることなく、種々のタイプのものを使用す
ることができる。
The illustrated washing device and drying device are merely examples, and these devices are not limited to the above-mentioned types, and various types can be used.

【0049】本発明は前記実施の形態に限定されるもの
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
あることはいうまでもない。
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and it goes without saying that various modifications can be made without departing from the scope of the invention.

【0050】たとえば、図示する実施の形態にあって
は、磁気ディスク基板の表面1aを処理してハードディ
スクを製造するために本発明を適用しているが、半導体
デバイスや液晶を製造するために本発明を適用すること
ができる。半導体デバイスはシリコンなどの単結晶の平
板状の半導体ウエハつまり半導体基板の表面に種々の表
面処理工程を経て製造されている。液晶基板はガラス製
の平板状の基板の表面に種々の表面処理工程を経て製造
されている。これらの半導体基板や液晶基板の表面を研
磨加工する工程を有する製造方法としても、本発明を適
用することができる。
For example, in the illustrated embodiment, the present invention is applied to manufacture a hard disk by treating the surface 1a of a magnetic disk substrate, but the present invention is applied to manufacture a semiconductor device and a liquid crystal. The invention can be applied. 2. Description of the Related Art Semiconductor devices are manufactured through various surface treatment steps on the surface of a single-crystal flat semiconductor wafer such as silicon, that is, a semiconductor substrate. The liquid crystal substrate is manufactured through various surface treatment steps on the surface of a flat glass substrate. The present invention can be applied to a manufacturing method including a step of polishing the surface of the semiconductor substrate or the liquid crystal substrate.

【0051】[0051]

【発明の効果】本発明によれば、2枚の磁気ディスク基
板などの平板状の基板のそれぞれの表面を同時に研磨加
工し、加工後に基板を分離するようにしたので、一方の
面のみに研磨加工が行われる平板状の基板を低コストで
効率的に基板を製造することができる。研磨加工に加え
て2枚の基板を同時に洗浄処理し、さらに乾燥処理する
ことにより効率的に平板状の基板を製造することができ
る。
According to the present invention, the surfaces of two flat disk substrates such as magnetic disk substrates are simultaneously polished and the substrates are separated after the processing, so that only one surface is polished. A flat substrate to be processed can be efficiently manufactured at low cost. In addition to the polishing process, the two substrates are simultaneously cleaned and dried, whereby a flat substrate can be efficiently manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態である平板状基板の製造
方法を示す工程図である。
FIG. 1 is a process chart showing a method of manufacturing a flat substrate according to an embodiment of the present invention.

【図2】基板の表面を同時に研磨加工するための両面研
磨装置の一例を示す側面図である。
FIG. 2 is a side view showing an example of a double-side polishing apparatus for simultaneously polishing the surface of a substrate.

【図3】図2におけるA−A線に沿う断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along line AA in FIG. 2;

【図4】両面研磨装置のベース内に組み込まれた下定盤
を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a lower platen incorporated in a base of the double-side polishing apparatus.

【図5】図2におけるB−B線に沿う断面図である。FIG. 5 is a sectional view taken along line BB in FIG. 2;

【図6】基板の表面を同時に洗浄するための洗浄装置の
一例としての洗浄ユニット組立体を示す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a cleaning unit assembly as an example of a cleaning device for simultaneously cleaning the surface of a substrate.

【図7】図6に示した洗浄ユニット組立体に配置される
カップ型のスクラブ洗浄機を示す斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view showing a cup type scrub cleaner disposed in the cleaning unit assembly shown in FIG. 6;

【図8】図6に示した洗浄ユニット組立体に配置される
ロール型のスクラブ洗浄機を示す斜視図である。
FIG. 8 is a perspective view showing a roll type scrub cleaner disposed in the cleaning unit assembly shown in FIG. 6;

【図9】図6に示した洗浄ユニット組立体が組み込まれ
た洗浄処理部とその隣りに配置された乾燥処理部とを有
する洗浄装置を示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a cleaning apparatus having a cleaning processing unit in which the cleaning unit assembly shown in FIG. 6 is incorporated and a drying processing unit arranged next to the cleaning processing unit.

【図10】図9の正面図である。FIG. 10 is a front view of FIG. 9;

【図11】図9におけるC−C線に沿う概略断面図であ
る。
FIG. 11 is a schematic sectional view taken along line CC in FIG. 9;

【図12】図9におけるD−D線に沿う概略断面図であ
る。
FIG. 12 is a schematic sectional view taken along line DD in FIG. 9;

【図13】図11において符号Eで示す部分を拡大して
示す断面図である。
FIG. 13 is a cross-sectional view showing an enlarged portion indicated by reference numeral E in FIG.

【図14】図13におけるF−F線に沿う断面図であ
る。
FIG. 14 is a sectional view taken along line FF in FIG. 13;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板(磁気ディスク基板) 1a 表面(一方面) 1b 背面(他方面) 2 接着剤 3 基板対 10 両面研磨装置 30 洗浄ユニット 41、46 スクラブ洗浄機 51 洗浄処理部 52 乾燥処理部 73 スピン乾燥機 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate (magnetic disk substrate) 1a Surface (one surface) 1b Back surface (other surface) 2 Adhesive 3 Substrate pair 10 Double-side polishing device 30 Cleaning unit 41, 46 Scrub cleaner 51 Cleaning processing part 52 Drying processing part 73 Spin dryer

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一方面を処理して平板状の基板を製造す
る平板状基板の製造方法であって、 それぞれ一方面が被処理面となった平板状の2枚の基板
をそれぞれの他方面で接合する工程と、 接合状態の2枚の前記基板のそれぞれの一方面を同時に
研磨する工程と、 研磨加工後に接合状態の2枚の基板を分離する工程とを
有することを特徴とする平板状基板の製造方法。
1. A method of manufacturing a flat substrate, wherein one surface is processed to manufacture a flat substrate, wherein two flat substrates each having one surface to be processed are treated on the other surface. A step of bonding two substrates in a bonded state simultaneously, a step of simultaneously polishing one surface of each of the two substrates in a bonded state, and a step of separating the two substrates in a bonded state after polishing. Substrate manufacturing method.
【請求項2】 一方面を処理して平板状の基板を製造す
る平板状基板の製造方法であって、 それぞれ一方面が被処理面となった平板状の2枚の基板
をそれぞれの他方面で接合する工程と、 接合状態の2枚の前記基板のそれぞれの一方面を同時に
研磨する工程と、 接合状態の2枚の前記基板を洗浄乾燥する工程と、 洗浄乾燥した後に接合状態の2枚の基板を分離する工程
とを有することを特徴とする平板状基板の製造方法。
2. A method of manufacturing a flat substrate, wherein one surface is processed to manufacture a flat substrate, wherein two flat substrates having one surface to be processed are respectively processed to the other surface. Bonding two substrates in a bonded state simultaneously; polishing one surface of each of the two substrates in a bonded state; cleaning and drying the two substrates in a bonded state; and cleaning and drying the two substrates. And a step of separating the substrate.
【請求項3】 平板状の基板の一方面を研磨加工する平
板状基板の研磨方法であって、 それぞれ一方面が被処理面となった平板状の2枚の基板
をそれぞれの他方面が向き合うようにして重ね合わせる
工程と、 2枚の前記基板を重ね合わせた状態のもとで、それぞれ
の前記基板の一方面を同時に研磨加工する工程とを有す
ることを特徴とする平板状基板の研磨方法。
3. A method for polishing a flat substrate, wherein one surface of the flat substrate is polished, wherein the other two surfaces of the two flat substrates are opposed to each other. And a step of simultaneously polishing one surface of each of the substrates in a state where the two substrates are superimposed on each other. .
【請求項4】 平板状の基板の一方面を研磨加工する平
板状基板の研磨方法であって、 それぞれ回転駆動される第1の定盤と第2の定盤との間
に、それぞれ一方面が被処理面となった平板状の基板を
それぞれの他方面を向き合わせて第1層と第2層の2層
に配置する工程と、 前記第1の定盤による前記第1層の基板の一方面の研磨
加工と、前記第2の定盤による前記第2層の基板の一方
面の研磨加工とを同時に行う工程とを有することを特徴
とする平板状基板の研磨方法。
4. A method for polishing a flat substrate, wherein one surface of the flat substrate is polished, wherein one surface of each of the first surface plate and the second surface plate, each of which is driven to rotate, is provided. Disposing a flat-plate-shaped substrate, which has become a surface to be processed, in two layers, a first layer and a second layer, with the other surfaces facing each other; and A method for polishing a flat substrate, comprising: simultaneously performing polishing of one surface and polishing of one surface of the substrate of the second layer by the second platen.
JP33199299A 1999-11-22 1999-11-22 Manufacturing method and polishing method for flat plate-shaped substrate Pending JP2001150336A (en)

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