JP2001118282A - Optical pickup device - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のレーザ波長
で使用する複数の光学記録媒体の信号の記録再生に使用
する光学ピックアップ装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup device used for recording and reproducing signals on a plurality of optical recording media used at a plurality of laser wavelengths.
【0002】[0002]
【従来の技術】通常密度の光ディスク媒体の再生やCD
−R(Compact Disc−Recordabl
e)の再生、記録には、波長780nm前後のレーザが
必要である。一方、DVD等の高密度光学記録媒体の再
生時には、例えば650nm前後の短波長レーザが必要
である。例えば特開平9−120568号公報には、上
記のように異なるレーザ波長が必要となる光学記録媒体
に対し、1つの光学ピックアップ装置により記録再生が
可能となるものが開示されている。2. Description of the Related Art Normal density optical disc media reproduction and CD
-R (Compact Disc-Recordable)
For reproduction and recording in e), a laser having a wavelength of about 780 nm is required. On the other hand, when reproducing a high-density optical recording medium such as a DVD, a short-wavelength laser of, for example, about 650 nm is required. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 9-120568 discloses an optical recording medium that requires a different laser wavelength as described above, which can be recorded and reproduced by one optical pickup device.
【0003】図10(A)は前記公報に記載の光学ピッ
クアップ装置であり、1は例えば655nmの短波長の
レーザを出力する第1のレーザ素子、2は例えば780
nmの長波長のレーザを出力する第2のレーザ素子、3
はプリズムであり、該プリズム3は、第1のレーザ素子
1からのレーザを透過し、第2のレーザ素子2からのレ
ーザを、第1のレーザ素子1からの透過レーザと光軸が
一致するよう反射させるものである。4はプリズム3か
らの光軸に垂直な面に凹凸溝であるホログラムパターン
5を形成した回折素子である。6a、6bは受光素子
群、7は対物レンズ、8は光学記録媒体である。レーザ
素子1、2と受光素子群6a、6bと回折素子4は筐体
9によって全体が封止固定されている。FIG. 10A shows an optical pickup device described in the above publication, wherein 1 is a first laser element for outputting a laser having a short wavelength of 655 nm, for example, and 2 is 780 for example.
a second laser element that outputs a long-wavelength laser
Is a prism, and the prism 3 transmits the laser from the first laser element 1 and makes the laser from the second laser element 2 coincide with the optical axis of the transmitted laser from the first laser element 1. Is to be reflected. Reference numeral 4 denotes a diffraction element having a hologram pattern 5 which is an uneven groove formed on a surface perpendicular to the optical axis from the prism 3. 6a and 6b are light receiving element groups, 7 is an objective lens, and 8 is an optical recording medium. The laser elements 1 and 2, the light receiving element groups 6a and 6b, and the diffraction element 4 are entirely sealed and fixed by a housing 9.
【0004】図10(A)の光学ピックアップ装置にお
いて、第1のレーザ素子1または第2のレーザ素子2か
らの光ビームは、前記回折素子4において0次光として
透過する。回折素子4を透過した光ビームは、対物レン
ズ7で集光されて光学記録媒体8の記録面上に読みとり
スポットを作る。記録面で反射された光ビームは、対物
レンズ7を透過し、回折素子4に戻る。回折素子4にお
いては、ホログラムパターン5によって光が回折され、
+1次光10、−一次光11としてそれぞれ受光素子群
6a、6bに導かれる。受光素子群6a、6bによる検
出信号から、不図示の回路により焦点誤差信号、トラッ
キング誤差信号、再生信号を得る。In the optical pickup device shown in FIG. 10A, a light beam from the first laser element 1 or the second laser element 2 is transmitted through the diffraction element 4 as zero-order light. The light beam transmitted through the diffraction element 4 is condensed by the objective lens 7 and forms a reading spot on the recording surface of the optical recording medium 8. The light beam reflected by the recording surface passes through the objective lens 7 and returns to the diffraction element 4. In the diffraction element 4, light is diffracted by the hologram pattern 5,
The light is guided to the light receiving element groups 6a and 6b as +1 order light 10 and −primary light 11, respectively. A focus error signal, a tracking error signal, and a reproduced signal are obtained from detection signals from the light receiving element groups 6a and 6b by a circuit (not shown).
【0005】上記の構成において、レーザ素子1、2や
プリズム3の配置構造をコンパクト化するため、プリズ
ム3として、図10(B)に示すように、それぞれ反射
膜94、95(ただし反射膜95は、レーザ素子1から
のレーザ光を透過させることができる。)を有する2つ
のプリズム96、97を貼り合わせたプリズム3Aを使
用し、レーザ素子1、2はプリズム3Aの反対側に配置
したものも用いられる。In the above configuration, as shown in FIG. 10 (B), the prisms 3 are made of reflecting films 94 and 95 (however, reflecting films 95) in order to make the arrangement structure of the laser elements 1 and 2 and the prism 3 compact. Can transmit the laser beam from the laser element 1). A prism 3A having two prisms 96 and 97 bonded together is used, and the laser elements 1 and 2 are arranged on the opposite side of the prism 3A. Is also used.
【0006】このプリズム3Aは、図11に示す工程で
製造される。まず図11(A)に示すように、反射膜9
4を片面に設けたガラス板96Aを複数枚貼り合わせ、
平行な切断面98に沿って切断する。同様に、前記反射
膜95を有するガラス板97A(図11(B)にその積
層、切断後の状態を示す。)も同様に複数枚貼り合わせ
ておき、同様に切断する。そして、これらの切断したピ
ースを図11(B)に示すように、反射膜94、95の
位置が合うように、接合面99において貼り合わせる。
そして、接合面99に垂直な切断面100に沿って切断
し研磨することによりプリズム3Aを得る。The prism 3A is manufactured by the steps shown in FIG. First, as shown in FIG.
4, a plurality of glass plates 96A provided on one side are attached,
Cut along the parallel cutting surface 98. Similarly, a plurality of glass plates 97A each having the reflective film 95 (FIG. 11B shows a state after lamination and cutting) are similarly bonded and cut in the same manner. Then, as shown in FIG. 11B, these cut pieces are bonded to each other on the bonding surface 99 so that the positions of the reflective films 94 and 95 are aligned.
Then, the prism 3A is obtained by cutting and polishing along a cut surface 100 perpendicular to the bonding surface 99.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】このような構造のプリ
ズム3Aを製造コスト低減のために上記のような量産工
程により得る場合、各ガラス板96A、97Aのそれぞ
れの厚みの相違やその相違の累積および図11(B)の
ように貼り合わせたときの位置ずれにより、図10
(B)の点線で示すように、反射膜92、93の相対的
位置が、例えば反射膜93が図面上右側または左側にず
れる等の態様でずれてしまう。When the prism 3A having such a structure is obtained by the above-described mass production process in order to reduce the manufacturing cost, the difference in thickness between the respective glass plates 96A and 97A and the accumulation of the difference. 10A and 10B due to a positional shift when the substrates are bonded as shown in FIG.
As shown by the dotted line in (B), the relative positions of the reflection films 92 and 93 are shifted, for example, such that the reflection film 93 is shifted to the right or left in the drawing.
【0008】このように、反射膜94、95にずれが発
生すると、図10(B)に示すように、一方のレーザ素
子2から反射膜95までの距離がずれてしまい、また、
光学記録媒体8に向かうビーム101が点線で示すよう
に正規の位置からずれてしまい、光学記録媒体8からの
反射光が結像する位置にも誤差を生じさせることにな
る。このような誤差により、焦点誤差信号、トラッキン
グ誤差信号、再生信号に誤差を生じてしまい、歩留まり
が低下することになる。When the reflection films 94 and 95 are displaced in this way, the distance from one laser element 2 to the reflection film 95 is displaced as shown in FIG.
The beam 101 directed to the optical recording medium 8 is deviated from a normal position as shown by a dotted line, and an error occurs at the position where the reflected light from the optical recording medium 8 forms an image. Such an error causes an error in the focus error signal, the tracking error signal, and the reproduction signal, thereby lowering the yield.
【0009】また、このような誤差の発生を防止するた
め、レーザ素子1、2を取付ける取付台上に調整機構を
設けてレーザ素子1、2のビーム101方向の位置を調
整するようにすれば、構造が複雑となり、コスト高を招
く。In order to prevent the occurrence of such an error, an adjusting mechanism is provided on a mounting base on which the laser elements 1 and 2 are mounted so as to adjust the positions of the laser elements 1 and 2 in the beam 101 direction. However, the structure becomes complicated and the cost is increased.
【0010】本発明は、上記問題点に鑑み、波長の異な
るレーザ光を発生させる複数のレーザ素子と、光学記録
媒体からの反射光を受光素子に導く回折素子を有する光
学ピックアップ装置において、複数のレーザ素子から出
射される光の光軸のずれを小さくすることができ、もっ
て歩留まりを向上させ、コスト低減を達成できる構造の
光学ピックアップ装置を提供することを目的とする。In view of the above problems, the present invention provides an optical pickup device having a plurality of laser elements for generating laser beams having different wavelengths and a diffractive element for guiding light reflected from an optical recording medium to a light receiving element. It is an object of the present invention to provide an optical pickup device having a structure capable of reducing a shift of an optical axis of light emitted from a laser element, thereby improving a yield and achieving a cost reduction.
【0011】また、本発明は、上記光軸のずれを簡単な
手段で調整可能として、さらに歩留まりを向上させるこ
とができる構造の光学ピックアップ装置を提供すること
を目的とする。Another object of the present invention is to provide an optical pickup device having a structure capable of adjusting the deviation of the optical axis by simple means and further improving the yield.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】請求項1の光学ピックア
ップ装置は、使用するレーザ光の波長が異なる複数種類
の光記録媒体に対応して、波長が互いに異なるレーザ光
を出力する複数のレーザ素子と、これらのレーザ素子か
らのレーザ光を光学記録媒体の記録面に導くプリズム
と、前記光学記録媒体からの反射光を回折する回折素子
と、該回折素子により回折された回折光を受光する受光
素子集合体とを含む光学ピックアップ装置であって、前
記プリズムは、前記複数のレーザ素子に対応してそれぞ
れ波長選択性反射面を有し、これらの反射面は互いに平
行に配置されると共に、複数のレーザ素子はプリズムに
対して同じ側に配置されていることを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided an optical pickup device comprising: a plurality of laser elements for outputting laser beams having different wavelengths corresponding to a plurality of types of optical recording media having different wavelengths of laser light used; A prism for guiding laser light from these laser elements to a recording surface of an optical recording medium, a diffraction element for diffracting light reflected from the optical recording medium, and a light receiving element for receiving the diffracted light diffracted by the diffraction element An optical pickup device including an element assembly, wherein the prism has a wavelength-selective reflecting surface corresponding to each of the plurality of laser elements, and these reflecting surfaces are arranged in parallel with each other, and Are characterized by being arranged on the same side with respect to the prism.
【0013】このように、プリズムの複数の反射面が平
行となるように構成すれば、反射膜を設けたガラス板を
貼り合わせたものを切断することによりプリズムを作製
することができる。このようなプリズムにおいては、光
軸の誤差は、実質的にガラス板の厚みに依存し、厚みの
誤差の累積や積層ガラス板どうしの位置合わせ誤差は発
生しない。As described above, if the plurality of reflecting surfaces of the prism are configured to be parallel, the prism can be manufactured by cutting a glass plate provided with a reflecting film and pasting it. In such a prism, the error of the optical axis substantially depends on the thickness of the glass plate, and the accumulation of the thickness error and the positioning error between the laminated glass plates do not occur.
【0014】請求項2の光学ピックアップ装置は、使用
するレーザ光の波長が異なる第1、第2の光記録媒体に
対応して、波長が互いに異なるレーザ光を出力する第
1、第2のレーザ素子と、これらのレーザ素子からのレ
ーザ光を前記第1、第2の光学記録媒体の記録面に導く
光学手段と、前記第1、第2の光学記録媒体からの反射
光を回折する回折素子と、該回折素子により回折された
回折光を受光する受光素子集合体とを含む光学ピックア
ップ装置であって、前記プリズムは、前記第1、第2の
レーザ素子に対応してそれぞれ波長選択性反射面を有
し、これらの反射面は互いに平行に配置されると共に、
複数のレーザ素子はプリズムに対して同じ側に配置さ
れ、前記第1のレーザ素子により発生し、かつ前記回折
素子に回折された回折光を受光する焦点誤差検出用の第
1の受光素子と、前記第2のレーザ素子により発生し、
かつ前記回折素子に回折された回折光を受光する焦点誤
差検出用の第2の受光素子とは、前記回折素子に入射す
る反射光の光軸を中心として相対的に回転した位置に設
け、前記回折素子は、該回折素子に入射する反射光の光
軸に対して平行方向と該光軸を中心とする回転方向との
少なくとも2方向に位置調整されて、前記第1、第2の
受光素子への各回折光のスポットを合わせたことを特徴
とする。According to a second aspect of the present invention, there is provided an optical pickup device for outputting first and second laser beams having different wavelengths corresponding to first and second optical recording media having different wavelengths of laser light to be used. Element, optical means for guiding laser light from these laser elements to the recording surfaces of the first and second optical recording media, and diffractive element for diffracting reflected light from the first and second optical recording media An optical pickup device comprising: a light receiving element assembly for receiving the diffracted light diffracted by the diffraction element; wherein the prisms correspond to the first and second laser elements, respectively. Surfaces, and these reflecting surfaces are arranged parallel to each other,
A plurality of laser elements are arranged on the same side with respect to the prism, a first light receiving element for focus error detection for receiving diffracted light generated by the first laser element and diffracted by the diffraction element; Generated by the second laser element,
And a second light receiving element for focus error detection that receives the diffracted light diffracted by the diffractive element, provided at a position relatively rotated about the optical axis of the reflected light incident on the diffractive element, The position of the diffraction element is adjusted in at least two directions: a direction parallel to the optical axis of the reflected light incident on the diffraction element and a rotation direction about the optical axis, and the first and second light receiving elements are adjusted. The spots of the respective diffracted lights are combined.
【0015】このように、請求項2の光学ピックアップ
装置においては、前記第1、第2の焦点誤差検出用受光
素子は、前記回折素子に入射する反射光の光軸を中心と
して相対的に回転した位置とする。すなわち、第1、第
2の焦点誤差検出用受光素子は、反射光の光軸を中心と
する回転方向にずれた位置に設定する。回折素子を光軸
に平行方向に移動させると、2種の回折光の受光素子上
の2つのスポット間の間隔を調整することができる。ま
た、この間隔を適正に調整すれば、回折素子を光軸を中
心として回転させることにより、前記2つのスポットを
それぞれの焦点誤差検出用受光素子の所望の位置に合わ
せることができる。As described above, in the optical pickup device of the second aspect, the first and second light receiving elements for detecting a focus error are relatively rotated about the optical axis of the reflected light incident on the diffraction element. Position. That is, the first and second light receiving elements for focus error detection are set at positions shifted in the rotation direction about the optical axis of the reflected light. When the diffraction element is moved in a direction parallel to the optical axis, the distance between two spots on the light receiving element of the two types of diffracted light can be adjusted. If the distance is properly adjusted, the two spots can be adjusted to desired positions of the respective focus error detecting light receiving elements by rotating the diffraction element about the optical axis.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】図1は本発明による光学ピックア
ップ装置の一実施の形態を示す構成図である。図1にお
いて、30は波長785nmのレーザ光を発生させる半
導体レーザチップでなる第1のレーザ素子、31は波長
655nmのレーザ光を発生させる半導体レーザチップ
でなる第2のレーザ素子である。32はこれらのレーザ
素子30、31で発生したレーザを回折素子33側に共
通に向かわせるプリズムである。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an optical pickup device according to the present invention. In FIG. 1, reference numeral 30 denotes a first laser element which is a semiconductor laser chip which generates a laser beam having a wavelength of 785 nm, and 31 denotes a second laser element which is a semiconductor laser chip which generates a laser beam having a wavelength of 655 nm. Reference numeral 32 denotes a prism for commonly directing the laser beams generated by the laser elements 30 and 31 to the diffraction element 33 side.
【0017】レーザ素子30、31は、図2(A)に示
すように、筐体70に取付けられる取付台102に固定
され、プリズム32に対して同側に配置される。33は
対物レンズ7とプリズム32との間に設けられた回折素
子、34は複数のフォトダイオード等からなる受光素子
集合体、7はホルダー71に保持された対物レンズ、8
は光学ディスクでなる光学記録媒体である。As shown in FIG. 2A, the laser elements 30 and 31 are fixed to a mounting table 102 mounted on a housing 70 and arranged on the same side as the prism 32. 33, a diffraction element provided between the objective lens 7 and the prism 32; 34, a light receiving element assembly including a plurality of photodiodes; 7, an objective lens held by a holder 71;
Is an optical recording medium composed of an optical disk.
【0018】前記レーザ素子30、31、プリズム3
2、回折素子33、受光素子集合体34は共通の筐体7
0に取付けられる。対物レンズ7のホルダー71には駆
動コイル72が取付けられる。前記駆動コイル72はフ
ォーカシングコイルと、トラッキングコイルとからな
る。これらのホルダー71や筐体70はハウジング73
に取付けられる。The laser elements 30, 31, the prism 3
2, the diffraction element 33 and the light receiving element assembly 34
0 is attached. A drive coil 72 is attached to the holder 71 of the objective lens 7. The driving coil 72 includes a focusing coil and a tracking coil. These holder 71 and housing 70 are provided with housing 73
Attached to
【0019】図2(A)に示すように、プリズム32
は、2つの三角形プリズム103、104と、1つの平
行四辺形プリズム105と、プリズム103、104と
プリズム105との接合面に設けられ、反射面を構成す
る反射膜106、107とからなる。反射膜106は、
第1のレーザ素子30で発生させる波長785nmのレ
ーザ光を効率よく反射させ、波長655nmの波長のレ
ーザ光を透過させるホットミラー面を構成する。反射膜
107は、第2のレーザ素子31で発生させる波長65
5nmのレーザ光を効率よく反射させ、第1のレーザ素
子30で発生させる波長785nmのレーザ光を透過さ
せるコールドミラー面を構成する。As shown in FIG. 2A, the prism 32
Is composed of two triangular prisms 103 and 104, one parallelogram prism 105, and reflection films 106 and 107 provided on a joint surface between the prisms 103 and 104 and the prism 105 and constituting a reflection surface. The reflective film 106
A hot mirror surface which efficiently reflects the laser light having a wavelength of 785 nm generated by the first laser element 30 and transmits the laser light having a wavelength of 655 nm is formed. The reflection film 107 has a wavelength 65 generated by the second laser element 31.
A cold mirror surface that efficiently reflects 5 nm laser light and transmits 785 nm wavelength laser light generated by the first laser element 30 is formed.
【0020】このプリズム32は、図2(B)に示すよ
うに、ガラス板103A、105A、104Aを貼り合
わせ、切断面109に沿って切断した後、切断面110
に沿って切断し、研磨することにより作製することがで
きる。この場合、反射膜106はガラス板103A、1
05Aの対向面にいずれかに設けておき、反射膜107
はガラス板104A、105Aのいずれかに設けてお
く。As shown in FIG. 2B, the prism 32 is formed by bonding glass plates 103A, 105A, and 104A, cutting along the cut surface 109, and then cutting the cut surface 110.
Can be manufactured by cutting along the surface and polishing. In this case, the reflection film 106 is made of a glass plate 103A, 1
The reflective film 107 is provided on one of the opposing surfaces of the reflective film 107A.
Is provided on one of the glass plates 104A and 105A.
【0021】このような工程でプリズム32を作製すれ
ば、プリズムの加工精度は単にガラス板105Aの厚み
に依存することになり、図11(B)において説明した
貼り合わせ工程がなくなるため、貼り合わせにおける誤
差や厚みの誤差の蓄積が無くなるため、容易に精度をあ
げることができる。このため、取付台102に対するレ
ーザ素子30、31の取付け位置を調整することなく、
プリズム32におけるレーザ素子30、31の反射光の
光軸のずれを小さくすることができる。If the prism 32 is manufactured in such a process, the processing accuracy of the prism simply depends on the thickness of the glass plate 105A, and the bonding step described with reference to FIG. Accuracy can be easily increased because the accumulation of errors and thickness errors is eliminated. For this reason, without adjusting the mounting position of the laser elements 30 and 31 with respect to the mounting base 102,
The deviation of the optical axis of the reflected light from the laser elements 30 and 31 in the prism 32 can be reduced.
【0022】次にこの光学ピックアップ装置の作用の詳
細とプリズム32からの2種の反射光の光軸のずれ調整
について説明する。図3は対物レンズ7側から回折素子
33および受光素子集合体34を光軸方向に見た図であ
る。図3に示すように、回折素子33には、回折を行わ
せるための凹凸溝でなるホログラムパターン35〜38
が、中心33aを通る縦横の線81、82により4分割
された領域に設けられている。回折素子33は、図4
(A)に示すように、回折素子33から1次光100の
像面40までの距離L1と、回折素子33を透過する0
次光101の像面41までの距離L2との比L1/L2
である倍率βが、図4(B)に示すように1であるよう
に設定した。Next, the operation of the optical pickup device will be described in detail, and the adjustment of the deviation of the optical axes of the two types of reflected light from the prism 32 will be described. FIG. 3 is a view of the diffraction element 33 and the light receiving element assembly 34 viewed from the objective lens 7 side in the optical axis direction. As shown in FIG. 3, the diffraction element 33 has hologram patterns 35 to 38 formed of concave and convex grooves for performing diffraction.
Is provided in an area divided into four by vertical and horizontal lines 81 and 82 passing through the center 33a. The diffraction element 33 is shown in FIG.
As shown in (A), the distance L1 from the diffraction element 33 to the image plane 40 of the primary light 100 and the distance L1 passing through the diffraction element 33
Ratio L1 / L2 of next light 101 to distance L2 to image surface 41
Is set to 1 as shown in FIG. 4 (B).
【0023】図1において、第1のレーザ素子30が駆
動される場合は、第1のレーザ素子30から出た長い波
長のレーザ光は、プリズム32の反射膜106で反射
し、回折素子33を透過し、対物レンズ7により集光さ
れて光学記録媒体8の記録面で反射され、対物レンズ7
から回折素子33に戻る。回折素子33においては、反
射光の一部は図3に示すホログラムパターン35〜38
によりそれぞれ回折され、受光素子集合体34に回折光
42が照射される。In FIG. 1, when the first laser element 30 is driven, the laser light of a long wavelength emitted from the first laser element 30 is reflected by the reflection film 106 of the prism 32, and The transmitted light is condensed by the objective lens 7 and reflected by the recording surface of the optical recording medium 8.
Returns to the diffraction element 33. In the diffraction element 33, part of the reflected light is converted into hologram patterns 35 to 38 shown in FIG.
, And the light receiving element assembly 34 is irradiated with the diffracted light 42.
【0024】第2のレーザ素子31が駆動される場合
は、短い波長のレーザ光は、プリズム32の反射膜10
7で反射され、前述と同様の経路で進み、光学記録媒体
8からの戻り光が回折素子33により回折され、回折光
43が受光素子集合体34に照射される。波長の短い回
折光43は、波長の長い回折光42より回折角が小さい
ため、受光素子集合体34の光軸45に近い位置に照射
される。When the second laser element 31 is driven, the laser light having a short wavelength is applied to the reflecting film 10 of the prism 32.
The light reflected by the optical recording medium 7 travels along the same path as described above, and the return light from the optical recording medium 8 is diffracted by the diffractive element 33, and the diffracted light 43 is irradiated to the light receiving element assembly 34. Since the diffracted light 43 having a short wavelength has a smaller diffraction angle than the diffracted light 42 having a long wavelength, the diffracted light 43 is applied to a position near the optical axis 45 of the light receiving element assembly 34.
【0025】図3(A)に示すように、該受光素子集合
体34は、受光素子46〜49からなる一方の受光素子
群と、受光素子51〜54からなる他方の受光素子群と
からなる。一方の受光素子群は、第1のレーザ素子30
からの長い波長のレーザ光の回折光を受光するものであ
り、長い波長は回折角が大きいため、短い波長の回折光
を受ける他方の受光素子群より、光軸45から遠い距離
に配置される。As shown in FIG. 3A, the light receiving element assembly 34 includes one light receiving element group including light receiving elements 46 to 49 and the other light receiving element group including light receiving elements 51 to 54. . One light receiving element group includes the first laser element 30.
, Which receives the diffracted light of the long-wavelength laser light from the light source. Since the long wavelength has a large diffraction angle, it is arranged farther from the optical axis 45 than the other light-receiving element group that receives the short-wavelength diffracted light. .
【0026】一方の受光素子群に含まれる第1の受光素
子49は、焦点誤差検出用のものであり、第1のレーザ
素子30により発生する長い波長のレーザ光のホログラ
ムパターン38からの回折光をスポットとして受けるも
のである。該第1の受光素子49は、対をなす受光部5
8、59を検出線60を介して隣接配置したもので、ナ
イフエッジ法あるいはフーコー法として焦点誤差信号を
発生させるものである。また、受光素子46、47、4
8はそれぞれ長い波長の戻り光がホログラムパターン3
6、37、35で回折され、回折光をスポットとして受
けるものである。A first light receiving element 49 included in one of the light receiving element groups is for detecting a focus error, and is a diffracted light of a long wavelength laser light generated by the first laser element 30 from the hologram pattern 38. Is received as a spot. The first light receiving element 49 includes a pair of light receiving sections 5.
8 and 59 are arranged adjacently via a detection line 60, and generate a focus error signal by the knife edge method or the Foucault method. Also, the light receiving elements 46, 47, 4
Reference numeral 8 denotes a hologram pattern 3 for returning light of a long wavelength.
The light is diffracted at 6, 37, and 35, and receives the diffracted light as a spot.
【0027】他方の受光素子群に含まれる第2の受光素
子51は、焦点誤差検出用のものであり、第1のレーザ
素子31により発生する短い波長のレーザ光のホログラ
ムパターン36からの回折光をスポットとして受けるも
のである。該第2の受光素子51は、対をなす受光部6
1、62を検出線63を介して隣接配置したもので、ナ
イフエッジ法あるいはフーコー法として焦点誤差信号を
発生させるものである。また、受光素子52、53、5
4は、それぞれ回折素子33のホログラムパターン3
7、35、38からの回折光をスポットとして受けるも
のである。The second light receiving element 51 included in the other light receiving element group is for detecting a focus error, and is a diffracted light of the short wavelength laser light generated by the first laser element 31 from the hologram pattern 36. Is received as a spot. The second light receiving element 51 includes a pair of light receiving sections 6.
Numerals 1 and 62 are arranged adjacently via a detection line 63, and generate a focus error signal by the knife edge method or the Foucault method. Further, the light receiving elements 52, 53, 5
4 is a hologram pattern 3 of the diffraction element 33, respectively.
It receives the diffracted lights from 7, 35, and 38 as spots.
【0028】長い波長のレーザ光を用いる場合、一方の
受光素子群の受光素子46〜49の出力の和を再生信号
とする。また、受光素子47と48の出力の差を求めて
位相差法としてのトラック誤差信号とする。短い波長の
レーザ光を用いる場合は、他方の受光素子群の受光素子
51〜54の出力の和を再生信号とする。また、受光素
子52と53の出力の差を位相差法としてのトラック誤
差信号とする。When a long wavelength laser beam is used, the sum of the outputs of the light receiving elements 46 to 49 of one of the light receiving element groups is used as a reproduction signal. Further, the difference between the outputs of the light receiving elements 47 and 48 is obtained and used as a track error signal as a phase difference method. When using laser light of a short wavelength, the sum of the outputs of the light receiving elements 51 to 54 of the other light receiving element group is used as a reproduction signal. The difference between the outputs of the light receiving elements 52 and 53 is used as a track error signal as a phase difference method.
【0029】図3(A)に示すように、前記第1の受光
素子49の検出線60と前記第2の受光素子51の検出
線63とを、前記回折素子33に入射する紙面に垂直な
反射光の光軸(通常この光軸は回折素子33の中心33
aに位置する)を中心として相対的に回転した位置に設
定する。また、前記各検出線60、63は、前記回折素
子33に入射する反射光の光軸に対して捻れた方向、す
なわち該光軸に非平行でかつ検出線50、63の延長線
が前記光軸と交差しない方向に設定する。本例において
は、検出線60、63は互いに平行に設定されている。As shown in FIG. 3A, the detection line 60 of the first light-receiving element 49 and the detection line 63 of the second light-receiving element 51 are perpendicular to the plane of the light entering the diffraction element 33. The optical axis of the reflected light (usually this optical axis is the center 33 of the diffraction element 33)
a) is set at a position relatively rotated around the center. The detection lines 60 and 63 are twisted with respect to the optical axis of the reflected light incident on the diffraction element 33, that is, non-parallel to the optical axis and the extension of the detection lines 50 and 63 is the light Set in a direction that does not intersect the axis. In this example, the detection lines 60 and 63 are set parallel to each other.
【0030】図1において、65はフォーカス制御回路
であり、前記第1の受光素子49、51の出力を入力と
して焦点誤差信号を得、その焦点誤差信号に応じて前記
駆動コイル72のうちのフォーカシングコイルに通電す
ることにより、対物レンズ7のフォーカス方向の位置を
制御するものである。66はトラッキング制御回路であ
り、前記受光素子47と48、および受光素子52と5
3の出力を入力としてトラック誤差信号を得、そのトラ
ッキング誤差信号に応じて前記駆動コイル72のうちの
トラッキングコイルに通電することにより、対物レンズ
7のトラッキング方向の位置制御を行うものである。In FIG. 1, reference numeral 65 denotes a focus control circuit, which receives the outputs of the first light receiving elements 49 and 51 as inputs and obtains a focus error signal, and focuses the driving coil 72 in accordance with the focus error signal. By energizing the coil, the position of the objective lens 7 in the focus direction is controlled. Reference numeral 66 denotes a tracking control circuit, and the light receiving elements 47 and 48 and the light receiving elements 52 and 5
A tracking error signal is obtained by inputting the output of the objective lens 3 as an input, and the position of the objective lens 7 in the tracking direction is controlled by energizing a tracking coil of the drive coil 72 in accordance with the tracking error signal.
【0031】図5は受光素子上のスポットを説明する図
である。図5(A)〜(C)は、長い波長で再生すると
きのスポットの説明図である。図5(A)は長い波長で
再生する場合、焦点が光学記録媒体8の記録面位置と比
較して奥にあるときのスポットの形状を、それぞれ受光
素子46〜49について斜線で示す。この場合、焦点誤
差検出用の第1の受光素子49においては、一方の受光
部58に主にスポット66aが形成される。図5(B)
は焦点が光学記録媒体8の記録面位置と一致した時のス
ポット66bの形状である。この時、受光部58と59
の受光量は等しくなる。図5(C)は焦点が光磁気記録
媒体8の記録面位置の手前にある時のスポット66cの
形状である。この時は、受光素子49においては、主と
して他方の受光部59にスポット66cが形成される。FIG. 5 is a diagram for explaining spots on the light receiving element. FIGS. 5A to 5C are explanatory diagrams of spots when reproducing at a long wavelength. FIG. 5A shows the shape of the spot when the focal point is deeper than the recording surface position of the optical recording medium 8 in the case of reproducing with a long wavelength, with the light receiving elements 46 to 49 being indicated by oblique lines. In this case, in the first light receiving element 49 for focus error detection, the spot 66a is mainly formed on one light receiving section 58. FIG. 5 (B)
Is the shape of the spot 66b when the focus coincides with the recording surface position of the optical recording medium 8. At this time, the light receiving units 58 and 59
Are equal. FIG. 5C shows the shape of the spot 66c when the focal point is located before the recording surface position of the magneto-optical recording medium 8. At this time, in the light receiving element 49, a spot 66c is formed mainly on the other light receiving portion 59.
【0032】従って、受光部58、59の出力をそれぞ
れV58、V59とし、焦点誤差信号をFEとすると、 FE=V58−V59 とし、この焦点誤差信号FEの正負を監視することで焦
点位置を判定することができる。Accordingly, when the outputs of the light receiving sections 58 and 59 are V58 and V59, respectively, and the focus error signal is FE, FE = V58-V59, and the focus position is determined by monitoring the sign of the focus error signal FE. can do.
【0033】図6(A)〜(C)は短い波長で再生する
ときのスポットの説明図である。図5(A)には、焦点
が光学記録媒体8の記録面位置と比較して奥にあるとき
のスポットの形状を斜線で示す。この場合、焦点誤差検
出用の第2の受光素子51には、前記と同様に一方の受
光部61に主にスポット67aが形成される。図6
(B)は焦点が光学記録媒体8の記録面位置と一致した
時のスポット67bの形状を示し、このときは受光部6
1、62の受光量は等しくなる。図6(C)は焦点が光
磁気記録媒体8の記録面位置の手前にある時のスポット
67cの形状を示し、このときは他方の受光部62に主
にスポット67cが形成される。FIGS. 6A to 6C are explanatory diagrams of spots when reproducing at a short wavelength. In FIG. 5A, the shape of the spot when the focal point is deeper than the recording surface position of the optical recording medium 8 is indicated by oblique lines. In this case, in the second light receiving element 51 for focus error detection, a spot 67a is mainly formed on one of the light receiving portions 61 as described above. FIG.
(B) shows the shape of the spot 67b when the focal point coincides with the recording surface position of the optical recording medium 8, in which case the light receiving section 6
The light receiving amounts of 1, 62 become equal. FIG. 6C shows the shape of the spot 67c when the focal point is located before the recording surface position of the magneto-optical recording medium 8. In this case, the spot 67c is mainly formed on the other light receiving portion 62.
【0034】従って、この場合も、受光部61、62の
出力をそれぞれV61、V62とし、焦点誤差信号をF
Eとすると、 FE=V61−V62 とし、焦点誤差信号FEの正負を監視することで焦点位
置を判定することができる。Therefore, also in this case, the outputs of the light receiving sections 61 and 62 are V61 and V62, respectively, and the focus error signal is F.
Assuming that E, FE = V61−V62, and the focus position can be determined by monitoring the sign of the focus error signal FE.
【0035】図7(A)は本発明の光学ピックアップ装
置の筐体70の部分の構成の一例を示す図である。筐体
70には前記レーザ素子30、31、受光素子集合体3
4等の光学部品69が取付けてある。筐体70の前面に
は、円筒体74が半田等の固定手段75により固定され
る。円筒体74には、前記回折素子33を保持した円筒
体76が、固定手段77による固定前には、矢印78で
示すように回転自在に、かつ矢印79で示すように円筒
体76の中心線方向、すなわち光軸方向に位置調整自在
に装着される。該円筒体76は、前記回転方向と光軸に
平行方向に位置調整した後、固定手段77により固定さ
れる。FIG. 7A is a diagram showing an example of the configuration of the housing 70 of the optical pickup device of the present invention. The housing 70 includes the laser elements 30 and 31 and the light receiving element assembly 3.
Optical components 69 such as 4 are attached. A cylindrical body 74 is fixed to the front surface of the housing 70 by fixing means 75 such as solder. The cylindrical body 74 holding the diffraction element 33 is rotatably mounted on the cylindrical body 74 before being fixed by the fixing means 77, as shown by an arrow 78, and the center line of the cylindrical body 76 as shown by an arrow 79. It is mounted so that the position can be adjusted in the direction, that is, in the optical axis direction. After adjusting the position of the cylindrical body 76 in the direction parallel to the rotation direction and the optical axis, the cylindrical body 76 is fixed by fixing means 77.
【0036】従来は、図7(B)に示すように、回折素
子を有する円筒体76が筐体70に光軸を中心として回
転方向にのみ調整されて固定手段75により固定されて
いる。Conventionally, as shown in FIG. 7B, a cylindrical body 76 having a diffractive element is fixed to a housing 70 only in the direction of rotation about the optical axis and fixed by fixing means 75.
【0037】図8は焦点誤差検出用第1、第2の受光素
子49、51の検出線60、63に回折素子33からの
回折光42、43のうちのホログラムパターン38また
は36からの回折光のスポット66、67を合わせるた
めの本発明の方法を説明する図である。図8(A)は、
例えばレーザ素子30、31の配置位置が設計位置から
ずれている等の理由により、長い波長のレーザ光の光学
記録媒体8からの戻り光の回折素子33へ入射する光軸
45Aと、短い波長の戻り光の光軸45Bとがずれてい
る場合の受光素子46〜54上のスポット位置ずれを示
す。この場合、ホログラムパターン36から回折光のス
ポット67を焦点誤差検出用の第2の受光素子51の検
出線63に合わせた状態において、焦点誤差検出用の第
1の受光素子49に向かうホログラムパターン38から
の回折光のスポット66が検出線60からずれている場
合は次のように調整を行う。FIG. 8 shows the detection lines 60 and 63 of the first and second light receiving elements 49 and 51 for detecting a focus error, and the diffracted light from the hologram pattern 38 or 36 among the diffracted lights 42 and 43 from the diffractive element 33. FIG. 7 is a diagram for explaining a method of the present invention for matching spots 66 and 67 of FIG. FIG. 8 (A)
For example, because the arrangement positions of the laser elements 30 and 31 are deviated from the design positions, the optical axis 45A of the long-wavelength laser light returning from the optical recording medium 8 to the diffraction element 33 and the short-wavelength laser light The figure shows a spot position shift on the light receiving elements 46 to 54 when the optical axis 45B of the return light is shifted. In this case, in a state where the spot 67 of the diffracted light from the hologram pattern 36 is aligned with the detection line 63 of the second light receiving element 51 for detecting a focus error, the hologram pattern 38 traveling toward the first light receiving element 49 for detecting a focus error In the case where the spot 66 of the diffracted light from the laser beam deviates from the detection line 60, the following adjustment is performed.
【0038】図3(A)に示したように、第1、第2の
受光素子49、51の検出線60、63は回折素子33
のホログラムパターンの図面上横方向の分割線82と平
行をなしており、対物レンズ7側から見て、検出線6
0、63は分割線82の延長線を挟んで両側にある。図
8の例では、検出線60、63の分割線82に垂直をな
す方向の間隔より、スポット66、67間の間隔は大で
ある。この場合は、まず、回折素子33を光軸に沿って
対物レンズ7から遠ざける方向、すなわち受光素子集合
体34側に近づける方向に位置を調整する。これによ
り、図8(B)に示すように、スポット66、67はそ
れぞれ線83、84に沿って光軸45A、45B側に近
づく。この移動量を調整することにより、スポット6
6、67の間隔を、前記スポット66、67の間隔と検
出線60、63の間隔のずれにほぼ合致する程度縮小さ
せるように調整することができる。As shown in FIG. 3A, the detection lines 60 and 63 of the first and second light receiving elements 49 and 51 correspond to the diffraction element 33.
Is parallel to the horizontal dividing line 82 in the drawing of the hologram pattern, and the detection line 6 is viewed from the objective lens 7 side.
0 and 63 are on both sides of the extension of the dividing line 82. In the example of FIG. 8, the distance between the spots 66 and 67 is larger than the distance between the detection lines 60 and 63 in the direction perpendicular to the dividing line 82. In this case, first, the position is adjusted in a direction to move the diffraction element 33 away from the objective lens 7 along the optical axis, that is, in a direction to approach the light receiving element assembly 34 side. Thus, as shown in FIG. 8B, the spots 66 and 67 approach the optical axes 45A and 45B along the lines 83 and 84, respectively. By adjusting this movement amount, the spot 6
The distance between the spots 6 and 67 can be adjusted so as to be reduced to the extent that the distance between the spots 66 and 67 and the distance between the detection lines 60 and 63 substantially coincides with each other.
【0039】このように、スポット66、67の間隔を
調整した後、スポット66と検出線60またはスポット
67と検出線63とのずれを調整するため、矢印85に
示すように、光軸45を中心として回折素子33を回転
させる。これにより、図8(C)に示すように、スポッ
ト66、67をそれぞれ第1の受光素子49、51の検
出線60、63に合わせる。After adjusting the distance between the spots 66 and 67 in this way, in order to adjust the displacement between the spot 66 and the detection line 60 or between the spot 67 and the detection line 63, the optical axis 45 is moved as shown by an arrow 85. The diffraction element 33 is rotated as a center. Thus, as shown in FIG. 8C, the spots 66 and 67 are aligned with the detection lines 60 and 63 of the first light receiving elements 49 and 51, respectively.
【0040】前記と反対に、分割線82に垂直方向につ
いてのスポット66、67間の間隔が、検出線61、6
3の間隔より小さい場合は、回折素子33を対物レンズ
7側に近づける方向に位置調整してスポット66、67
間の間隔を大きくする調整を行う。また、光軸45を中
心とした回折素子33の回動による調整も行う。On the contrary, the interval between the spots 66 and 67 in the direction perpendicular to the dividing line 82 is
In the case where the distance is smaller than 3, the position of the diffraction element 33 is adjusted in a direction to approach the objective lens 7 side, and the spots 66 and 67 are adjusted.
Make adjustments to increase the spacing between them. Further, the adjustment is also performed by rotating the diffraction element 33 about the optical axis 45.
【0041】このような調整を行えば、2個のレーザ素
子30、31が光学的に等価な位置に設置されていなく
ても、2個のスポット66、67の双方とも検出線6
0、63にのせることができる。実験によれば、レーザ
素子30、31の設置誤差が±50μm程度ある場合
や、プリズム32の設置角度誤差が±1度程度ある場合
であっても、上記の方法でスポット66、67を検出線
60、63に合わせて組立調整を行うことができる。By performing such adjustment, even if the two laser elements 30 and 31 are not installed at optically equivalent positions, both of the two spots 66 and 67 are connected to the detection line 6.
0, 63. According to the experiment, even if the installation error of the laser elements 30 and 31 is about ± 50 μm or the installation angle error of the prism 32 is about ± 1 degree, the spots 66 and 67 are detected by the above method. Assembly adjustment can be performed according to 60 and 63.
【0042】このような調整は、図7(A)に示した円
筒体76の矢印78に示す回転方向の位置調整や、矢印
79に示す光軸に平行方向の位置調整により行うことが
できる。ただし、実際には、回折素子33の光軸に平行
方向の位置調整は、±100μm程度で、回転方向につ
いてもせいぜい2〜3度程度であるから、必ずしも図7
(A)に示した円筒体74、76による位置調整のため
の嵌合構造は必要ではない。例えば、回折素子33を固
定した円筒体76を、光軸に平行方向と光軸を中心とし
た回転方向に位置調整自在なホルダーにより保持してお
き、スポット66、67の位置を監視しながら、検出線
60、63にスポット66、67が合致したところで円
筒体76を筐体70に半田や接着剤等の固定手段で直接
固定するようにしても良い。Such adjustment can be performed by adjusting the position of the cylindrical body 76 in the rotation direction indicated by the arrow 78 shown in FIG. 7A, or by adjusting the position in the direction parallel to the optical axis indicated by the arrow 79. However, in practice, the position adjustment of the diffraction element 33 in the direction parallel to the optical axis is about ± 100 μm, and the rotation direction is also about 2 to 3 degrees at most.
The fitting structure for position adjustment by the cylindrical bodies 74 and 76 shown in FIG. For example, the cylindrical body 76 to which the diffraction element 33 is fixed is held by a holder whose position can be adjusted in a direction parallel to the optical axis and in a rotational direction about the optical axis, and while monitoring the positions of the spots 66 and 67, When the spots 66 and 67 match the detection lines 60 and 63, the cylindrical body 76 may be directly fixed to the housing 70 by a fixing means such as solder or an adhesive.
【0043】次に前記回折素子33の倍率βと、回折素
子33の光軸45に平行方向についての調整によるスポ
ット66、67の受光素子集合体34に対する位置ずれ
について考慮する。図4(A)のように、回折素子33
の倍率βが1でない場合、回折素子33を矢印86で示
すように光軸45に平行方向に動かしたとき、図4
(C)に示すように、回折素子33の透過光である0次
光101の像面41は動かないが、±1次光100の像
面40は、矢印86の方向に動く。すなわち、動かす前
の±1次光100の像面40と0次光101の像面41
との間隔L3は、動かした後の±1次光100の像面4
0と0次光101の像面41との間隔L4と等しくなら
ない(L3≠L4)。Next, the displacement β of the spots 66 and 67 with respect to the light receiving element assembly 34 due to the adjustment of the magnification β of the diffraction element 33 and the direction parallel to the optical axis 45 of the diffraction element 33 will be considered. As shown in FIG.
Is not 1, when the diffraction element 33 is moved in a direction parallel to the optical axis 45 as shown by an arrow 86, FIG.
As shown in (C), the image plane 41 of the zero-order light 101, which is the transmitted light of the diffraction element 33, does not move, but the image plane 40 of the ± first-order light 100 moves in the direction of the arrow 86. That is, the image plane 40 of the ± first-order light 100 and the image plane 41 of the zero-order light 101 before moving.
Is the image plane 4 of the ± primary light 100 after the movement.
It is not equal to the distance L4 between 0 and the image plane 41 of the 0th-order light 101 (L3 ≠ L4).
【0044】一方、図4(B)に示すように、回折素子
33の倍率βが1の場合、回折素子33を光軸45に平
行方向に動かしても、±1次光100、0次光101の
像面40、41は双方とも動かない。なお、図4におい
ては、±1次光100は一方の1次光のみを示してい
る。On the other hand, as shown in FIG. 4B, when the magnification β of the diffractive element 33 is 1, even if the diffractive element 33 is moved in a direction parallel to the optical axis 45, ± first-order light 100 and zero-order light Both image planes 40 and 41 of 101 do not move. In FIG. 4, the ± primary light 100 shows only one primary light.
【0045】本発明においては、回折素子33を光軸に
平行方向に動かすことによって調整を行うので、この調
整作業によって回折光の像面40が光軸45に平行方向
に動くと、焦点誤差信号にオフセットを生じてしまう。
このため、回折素子33を光軸に平行方向に調整するた
めには、回折素子33の倍率βは1かあるいは1になる
べく近いことが好ましい。焦点誤差信号のオフセットが
再生信号のジッターに与える影響は大きい。図9(A)
は回折素子33の倍率βの変化に対するジッターの変化
を示す図である。In the present invention, since the adjustment is performed by moving the diffraction element 33 in a direction parallel to the optical axis, if the image plane 40 of the diffracted light moves in a direction parallel to the optical axis 45 by this adjustment work, the focus error signal Causes an offset.
Therefore, in order to adjust the diffraction element 33 in a direction parallel to the optical axis, it is preferable that the magnification β of the diffraction element 33 is 1 or as close to 1 as possible. The influence of the offset of the focus error signal on the jitter of the reproduced signal is large. FIG. 9 (A)
FIG. 9 is a diagram showing a change in jitter with respect to a change in magnification β of the diffraction element 33.
【0046】前記スポット66または67を検出線60
または63に合わせた時に、他方のスポット67または
66が検出線63または60に直交する方向に50μm
ずれている場合、倍率βが0.75から1.33程度の
範囲で、実用上問題のない値、すなわち、ジッターの最
低値より約1%程度の増大ですむ。回折素子33の倍率
βがこの範囲以外になると、ジッターが急激に悪くな
り、実用に耐えなくなる。この倍率βは0.80以上、
1.25以下であればさらに好ましく、0.95以上、
1.05以下であれば実質的に1.0とみなすことがで
きる。The spot 66 or 67 is connected to the detection line 60
Or 63, the other spot 67 or 66 is 50 μm in the direction orthogonal to the detection line 63 or 60.
In the case of deviation, when the magnification β is in the range of about 0.75 to 1.33, there is no practical problem, that is, about 1% increase from the lowest value of jitter. When the magnification β of the diffraction element 33 is out of this range, the jitter is sharply deteriorated, and the practical use cannot be tolerated. This magnification β is 0.80 or more,
More preferably 1.25 or less, 0.95 or more,
If it is 1.05 or less, it can be substantially regarded as 1.0.
【0047】本発明を実施する場合、図3(A)におい
て、回折素子33に入射する反射光の光軸方向に見て、
前記回折素子33の中心35と前記検出線60、63の
中心とを結ぶ線86、87と、検出線60、61との間
でなす角度θ3、θ4の少なくともいずれかを10度以
上80度以下とすることが好ましい。換言すれば、回折
素子33に入射する反射光の光軸方向に見て、検出線6
0、61にそれぞれ向かう回折光の各光軸と、各検出線
60、61との各捻れの少なくとも一方が前記角度の範
囲内にあることが好ましい。なぜならば、この角度θ3
またはθ4を10度未満にすると、回折素子33を光軸
45に平行方向に移動させた時の検出線60、63に対
するスポット66または67の相対移動が不十分とな
り、調整が困難となるからである。またこの角度θ3ま
たはθ4を80度より高く90度以下とすると、回折素
子33を回転させた際にスポット66または67を検出
線60または63に合わせることが困難になる。In practicing the present invention, in FIG. 3A, when viewed in the optical axis direction of the reflected light incident on the diffraction element 33,
At least one of the angles θ3 and θ4 between the lines 86 and 87 connecting the center 35 of the diffraction element 33 and the centers of the detection lines 60 and 63 and the detection lines 60 and 61 is set to 10 degrees or more and 80 degrees or less. It is preferable that In other words, when viewed in the optical axis direction of the reflected light incident on the diffraction element 33, the detection line 6
It is preferable that at least one of each optical axis of the diffracted light traveling toward 0 and 61 and each of the twists of each of the detection lines 60 and 61 be within the range of the angle. Because this angle θ3
If θ4 is less than 10 degrees, the relative movement of the spot 66 or 67 with respect to the detection lines 60 and 63 when the diffraction element 33 is moved in the direction parallel to the optical axis 45 becomes insufficient, and adjustment becomes difficult. is there. If the angle θ3 or θ4 is higher than 80 degrees and 90 degrees or less, it becomes difficult to align the spot 66 or 67 with the detection line 60 or 63 when the diffraction element 33 is rotated.
【0048】図3(B)、(C)は回折素子33に設け
るホログラムパターンの他の例である。図3(B)はホ
ログラムパターンが5分割されており、ホログラムパタ
ーン38は長い波長の再生時の焦点誤差検出に使用し、
ホログラムパターン36a、36bを、短い波長の再生
時の焦点誤差検出に使用する。ホログラムパターン3
5、37は、前記例と同様に、長短双方の波長での位相
差法によるトラック誤差検出に用いる。FIGS. 3B and 3C show another example of the hologram pattern provided on the diffraction element 33. FIG. FIG. 3B shows that the hologram pattern is divided into five parts, and the hologram pattern 38 is used for detecting a focus error during reproduction of a long wavelength.
The hologram patterns 36a and 36b are used for focus error detection during reproduction of a short wavelength. Hologram pattern 3
Reference numerals 5 and 37 are used for track error detection by the phase difference method at both long and short wavelengths, as in the above-described example.
【0049】図3(C)の例は、ホログラムパターンを
4分割とし、分割線90、91を前記検出線60、61
に対して傾斜させて形成したものである。この例におい
て、ホログラムパターン36は短い波長の再生時の焦点
誤差検出に使用する。また、ホログラムパターン38は
長い波長の再生時の焦点誤差検出に使用する。ホログラ
ムパターン35と37はプッシュプル法によるトラック
誤差検出に用いる。In the example of FIG. 3C, the hologram pattern is divided into four parts, and the division lines 90 and 91 are divided into the detection lines 60 and 61.
It is formed to be inclined with respect to. In this example, the hologram pattern 36 is used for detecting a focus error when reproducing a short wavelength. The hologram pattern 38 is used for detecting a focus error when reproducing a long wavelength. The hologram patterns 35 and 37 are used for detecting a track error by the push-pull method.
【0050】図9(B)は受光素子集合体34の他の例
であり、前記一方の受光素子群の受光素子47と前記他
方の受光素子群の受光素子52を1つの受光素子92に
まとめ、前記一方の受光素子群の受光素子48と前記他
方の受光素子群の受光素子53を1つの受光素子93に
まとめ、これにより受光素子集合体34のピン数を減ら
したものである。FIG. 9B shows another example of the light receiving element assembly 34, in which the light receiving elements 47 of the one light receiving element group and the light receiving elements 52 of the other light receiving element group are combined into one light receiving element 92. The light receiving element 48 of the one light receiving element group and the light receiving element 53 of the other light receiving element group are combined into one light receiving element 93, whereby the number of pins of the light receiving element assembly 34 is reduced.
【0051】上記実施例においては焦点誤差検出にナイ
フエッジ法またはフーコー法を用い、トラック誤差検出
に位相差法またはプッシュプル法を用いたが、焦点誤差
検出には、ビームサイズ法や非点収差法、トラック誤差
検出では3ビーム法などにも適用可能である。また、本
発明は、使用するレーザ光の種類が3種類の場合にも適
用できる。In the above embodiment, the knife edge method or Foucault method was used for focus error detection, and the phase difference method or push-pull method was used for track error detection. However, the beam size method and astigmatism were used for focus error detection. The method and the track error detection can be applied to a three-beam method and the like. The present invention is also applicable to a case where three types of laser light are used.
【0052】[0052]
【発明の効果】請求項1によれば、プリズムに前記複数
のレーザ素子に対応してそれぞれ波長選択性反射面を設
け、これらの反射面は互いに平行に配置すると共に、複
数のレーザ素子はプリズムに対して同じ側に配置したの
で、反射膜を設けたガラス板を貼り合わせたものを切断
することによりプリズムを作製することができる。この
ようなプリズムにおいては、反射面の位置ずれはガラス
板の位置ずれのみに依存し、貼り合わせ誤差がなくなる
ので、加工精度が向上し、光軸合わせが容易となる。こ
のため、製品の歩留まりが向上し、製造コストの低減に
寄与することができる。According to the first aspect of the present invention, the prism is provided with a wavelength-selective reflecting surface corresponding to each of the plurality of laser elements, and these reflecting surfaces are arranged in parallel with each other. The prism can be manufactured by cutting a glass plate provided with a reflective film and pasting the same. In such a prism, the positional deviation of the reflecting surface depends only on the positional deviation of the glass plate, and there is no sticking error, so that the processing accuracy is improved and the optical axis alignment is facilitated. For this reason, the yield of products is improved, and it is possible to contribute to a reduction in manufacturing costs.
【0053】請求項2によれば、請求項1に加え、さら
に、回折素子を光軸に平行方向と光軸を中心とした回転
方向に位置調整することにより、長短のいずれの波長の
レーザ光のスポットも焦点誤差検出用の受光素子に合わ
せることができる。このため、レーザ素子の位置ずれ
や、プリズムの製造誤差、寸法の製造誤差等を許容する
ことが可能であり、その結果、歩留りの向上や製造設備
のコスト低減に寄与し、光学ピックアップ装置のコスト
をさらに低減することができる。According to the second aspect, in addition to the first aspect, by further adjusting the position of the diffractive element in a direction parallel to the optical axis and in a rotational direction about the optical axis, the laser light of any of the long and short wavelengths is obtained. Can be adjusted to the light receiving element for focus error detection. For this reason, it is possible to tolerate the displacement of the laser element, the manufacturing error of the prism, the manufacturing error of the dimensions, and the like, thereby contributing to the improvement of the yield and the reduction of the cost of the manufacturing equipment, and the cost of the optical pickup device. Can be further reduced.
【図1】本発明による光学ピックアップ装置の一実施の
形態を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of an optical pickup device according to the present invention.
【図2】(A)は図1のプリズムとレーザ素子の配置
図、(B)はプリズムの製造工程の説明図である。2A is a layout view of a prism and a laser element of FIG. 1, and FIG. 2B is an explanatory view of a manufacturing process of the prism.
【図3】本実施の形態において、回折素子および受光素
子集合体を光軸方向に見た図である。FIG. 3 is a diagram of the diffraction element and the light receiving element assembly viewed in the optical axis direction in the present embodiment.
【図4】(A)は回折素子の倍率が1でない場合の回折
素子と像面との相関図、(B)は回折素子の倍率が1で
ある場合の回折素子と像面との相関図、(C)、(D)
はそれぞれ(A)、(B)の回折素子を光軸に平行方向
に移動した場合の回折素子と像面との相関図である。4A is a correlation diagram between the diffraction element and the image plane when the magnification of the diffraction element is not 1; FIG. 4B is a correlation diagram between the diffraction element and the image plane when the magnification of the diffraction element is 1; , (C), (D)
6A and 6B are correlation diagrams between the diffraction element and the image plane when the diffraction elements of FIGS. 7A and 7B are moved in a direction parallel to the optical axis.
【図5】(A)、(B)、(C)は図1の実施の形態に
おいて、それぞれ長い波長で再生する際に、焦点が光学
記録媒体の記録面位置と比較して奥にあるとき、焦点が
光学記録媒体の記録面位置と一致したとき、焦点が光磁
気記録媒体の記録面位置の手前にある時のスポットの形
状である。FIGS. 5A, 5B, and 5C show a case where the focal point is deeper than the recording surface position of the optical recording medium when reproducing at a longer wavelength in the embodiment of FIG. The shape of the spot when the focal point coincides with the recording surface position of the optical recording medium and the focal point is located before the recording surface position of the magneto-optical recording medium.
【図6】(A)、(B)、(C)は図1の実施の形態に
おいて、それぞれ短い波長で再生する際に、焦点が光学
記録媒体の記録面位置と比較して奥にあるとき、焦点が
光学記録媒体の記録面位置と一致したとき、焦点が光磁
気記録媒体の記録面位置の手前にある時のスポットの形
状である。FIGS. 6A, 6B, and 6C show a case where the focal point is deeper than the recording surface position of the optical recording medium when reproducing at a shorter wavelength in the embodiment of FIG. The shape of the spot when the focal point coincides with the recording surface position of the optical recording medium and the focal point is located before the recording surface position of the magneto-optical recording medium.
【図7】(A)は本発明において採用される回折素子の
位置調整機構の一例を示す断面図、(B)は従来の回折
素子の取付け構造を示す断面図である。FIG. 7A is a cross-sectional view illustrating an example of a position adjusting mechanism of a diffraction element employed in the present invention, and FIG. 7B is a cross-sectional view illustrating a conventional diffraction element mounting structure.
【図8】(A)〜(C)は本実施の形態において、回折
素子の位置調整方法を説明する図である。FIGS. 8A to 8C are diagrams illustrating a method for adjusting the position of a diffraction element in the present embodiment.
【図9】(A)は回折素子とジッターとの相関図、
(B)は本発明の受光素子の他の配置例を示す図であ
る。FIG. 9A is a correlation diagram between a diffraction element and jitter,
(B) is a figure which shows the other example of arrangement | positioning of the light receiving element of this invention.
【図10】(A)は従来の光学ピックアップ装置を示す
構成図、(B)は従来のプリズムの例を示す図である。FIG. 10A is a configuration diagram showing a conventional optical pickup device, and FIG. 10B is a diagram showing an example of a conventional prism.
【図11】(A)、(B)は従来の光学ピックアップ装
置のプリズムの製造工程を示す図である。FIGS. 11A and 11B are diagrams showing a manufacturing process of a prism of a conventional optical pickup device.
30:第1のレーザ素子、31:第2のレーザ素子、3
2:プリズム、33:回折素子、34:受光素子集合
体、35〜38:ホログラムパターン、40、41:像
面、42、43:回折光、45:光軸、46〜48:受
光素子、49:第1の受光素子、51:第2の受光素
子、52〜54:受光素子、58、59、61、62:
受光部、60、63:検出線、65:フォーカス制御回
路、66:トラッキング制御回路、66、66a〜66
c、67、67a〜67c:スポット、70:筐体、7
1:ホルダー、72:駆動コイル、73:ハウジング、
74、76:円筒体、75、77:固定手段、92、9
3:受光素子、102:取付台、103、104:三角
形プリズム、105:平行四辺形プリズム、106、1
07:反射膜30: first laser element, 31: second laser element, 3
2: prism, 33: diffraction element, 34: light receiving element assembly, 35 to 38: hologram pattern, 40, 41: image plane, 42, 43: diffracted light, 45: optical axis, 46 to 48: light receiving element, 49 : First light receiving element, 51: second light receiving element, 52 to 54: light receiving element, 58, 59, 61, 62:
Light receiving unit, 60, 63: detection line, 65: focus control circuit, 66: tracking control circuit, 66, 66a to 66
c, 67, 67a to 67c: spot, 70: housing, 7
1: holder, 72: drive coil, 73: housing,
74, 76: cylindrical body, 75, 77: fixing means, 92, 9
3: light receiving element, 102: mounting base, 103, 104: triangular prism, 105: parallelogram prism, 106, 1
07: reflective film
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木練 透 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 Fターム(参考) 5D119 AA41 AA43 BA01 EC47 FA05 FA08 JA07 JA13 JA27 KA04 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Toru Kineri 1-13-1, Nihonbashi, Chuo-ku, Tokyo TDK Corporation F-term (reference) 5D119 AA41 AA43 BA01 EC47 FA05 FA08 JA07 JA13 JA27 KA04
Claims (2)
の光記録媒体に対応して、波長が互いに異なるレーザ光
を出力する複数のレーザ素子と、 これらのレーザ素子からのレーザ光を光学記録媒体の記
録面に導くプリズムと、 前記光学記録媒体からの反射光を回折する回折素子と、 該回折素子により回折された回折光を受光する受光素子
集合体とを含む光学ピックアップ装置であって、 前記プリズムは、前記複数のレーザ素子に対応してそれ
ぞれ波長選択性反射面を有し、これらの反射面は互いに
平行に配置されると共に、複数のレーザ素子はプリズム
に対して同じ側に配置されていることを特徴とする光学
ピックアップ装置。1. A plurality of laser elements which output laser beams having different wavelengths corresponding to a plurality of types of optical recording media having different wavelengths of laser light to be used, and optically record laser light from these laser elements. An optical pickup device comprising: a prism that guides a recording surface of a medium; a diffraction element that diffracts light reflected from the optical recording medium; and a light receiving element assembly that receives the diffracted light diffracted by the diffraction element. The prism has a wavelength-selective reflecting surface corresponding to each of the plurality of laser elements, and the reflecting surfaces are arranged in parallel with each other, and the plurality of laser elements are arranged on the same side with respect to the prism. An optical pickup device, comprising:
2の光記録媒体に対応して、波長が互いに異なるレーザ
光を出力する第1、第2のレーザ素子と、 これらのレーザ素子からのレーザ光を前記第1、第2の
光学記録媒体の記録面に導く光学手段と、 前記第1、第2の光学記録媒体からの反射光を回折する
回折素子と、 該回折素子により回折された回折光を受光する受光素子
集合体とを含む光学ピックアップ装置であって、 前記プリズムは、前記第1、第2のレーザ素子に対応し
てそれぞれ波長選択性反射面を有し、これらの反射面は
互いに平行に配置されると共に、複数のレーザ素子はプ
リズムに対して同じ側に配置され、 前記第1のレーザ素子により発生し、かつ前記回折素子
に回折された回折光を受光する焦点誤差検出用の第1の
受光素子と、前記第2のレーザ素子により発生し、かつ
前記回折素子に回折された回折光を受光する焦点誤差検
出用の第2の受光素子とは、前記回折素子に入射する反
射光の光軸を中心として相対的に回転した位置に設け、 前記回折素子は、該回折素子に入射する反射光の光軸に
対して平行方向と該光軸を中心とする回転方向との少な
くとも2方向に位置調整されて、前記第1、第2の受光
素子への各回折光のスポットを合わせたことを特徴とす
る光学ピックアップ装置。2. A first and a second laser element for outputting laser beams having different wavelengths corresponding to first and second optical recording media having different wavelengths of laser light to be used, and these laser elements. Optical means for guiding the laser light from the optical disc to the recording surfaces of the first and second optical recording media; a diffractive element for diffracting the reflected light from the first and second optical recording media; A light receiving element assembly for receiving the diffracted light, wherein the prism has a wavelength-selective reflecting surface corresponding to the first and second laser elements, respectively. The reflecting surfaces are arranged in parallel with each other, the plurality of laser elements are arranged on the same side with respect to the prism, and the focal point receives diffracted light generated by the first laser element and diffracted by the diffractive element. First for error detection The light receiving element and the second light receiving element for focus error detection for receiving the diffracted light generated by the second laser element and diffracted by the diffractive element are light of reflected light incident on the diffractive element. The diffraction element is provided at a position relatively rotated about an axis, and the diffraction element is arranged in at least two directions of a direction parallel to an optical axis of reflected light incident on the diffraction element and a rotation direction about the optical axis. An optical pickup device wherein the positions of the respective diffracted lights on the first and second light receiving elements are adjusted by adjusting the position.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29564299A JP2001118282A (en) | 1999-10-18 | 1999-10-18 | Optical pickup device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29564299A JP2001118282A (en) | 1999-10-18 | 1999-10-18 | Optical pickup device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001118282A true JP2001118282A (en) | 2001-04-27 |
Family
ID=17823302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29564299A Withdrawn JP2001118282A (en) | 1999-10-18 | 1999-10-18 | Optical pickup device |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2001118282A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7218591B2 (en) | 2002-04-17 | 2007-05-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
-
1999
- 1999-10-18 JP JP29564299A patent/JP2001118282A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7218591B2 (en) | 2002-04-17 | 2007-05-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
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