JP2001093183A - Optical pickup - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクの光ピ
ックアップに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk optical pickup.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、半導体レーザ素子の光出力は、
周囲の温度変化などにより影響を受けないよう、半導体
レーザ素子を出射した光の一部を、モニタ用光検出器で
モニタし、レーザ光の光出力が例えば一定になるように
制御されている。再生専用の光ピックアップでは、半導
体レーザ素子のパッケージ内にフォトダイオードを持
ち、チップ後方に漏れる光を検出する方式がとられるこ
とが多い。一方、記録用の光ピックアップでは、再生専
用と比較して、より正確な光出力の制御が必要となるた
め、モニタ用光検出器を、半導体レーザ素子から対物レ
ンズまでの往路光学系の一部に関連させて設ける、いわ
ゆる前方モニタ方式がとられている。2. Description of the Related Art Generally, the optical output of a semiconductor laser device is
A part of the light emitted from the semiconductor laser element is monitored by a monitoring photodetector so as not to be affected by a change in ambient temperature or the like, and the light output of the laser light is controlled to be constant, for example. In a read-only optical pickup, a method is often adopted in which a photodiode is provided in a package of a semiconductor laser element and light leaking to the rear of the chip is detected. On the other hand, an optical pickup for recording requires more accurate control of the light output than a read-only optical pickup, so the monitoring photodetector is part of the forward optical system from the semiconductor laser element to the objective lens. A so-called front monitor system is provided in association with the above.
【0003】例えば、このモニタ用光検出器に光を導く
ためには、対物レンズに向かう光路を分割して、一部の
光がモニタ用光検出器に向かうようにする必要がある。
この種の光ピックアップでは、ディスク記録面に集光さ
せるための往路の光学系と、記録面で反射した光を、R
F信号やサーボ信号を検出するための光検出器に導くた
めの復路の光学系に分割するために例えばビームスプリ
ッタや偏光プリズムなどが使用されている。例えば、半
導体レーザ素子から光ディスクに向かうレーザ光は、こ
のビームスプリッタもしくは偏光プリズムを透過し、光
ディスクで反射して戻ってきた光は、このビームスプリ
ッタもしくは偏光プリズムで反射されて、光路を曲げら
れ、検出系に導かれる。上記の例では、半導体レーザ素
子からディスクに向かった光の一部は、ビームスプリッ
タもしくは偏光プリズムで反射されて、検出系とは反対
の方向に進み、この光を利用して、フォトダイオードな
どで光量を検出するようになっている。For example, in order to guide light to the monitoring photodetector, it is necessary to divide the optical path toward the objective lens so that a part of the light is directed to the monitoring photodetector.
In this type of optical pickup, an outward optical system for condensing light on a disk recording surface, and a light reflected on the recording surface
For example, a beam splitter, a polarizing prism, or the like is used to divide the optical signal into a return optical system for leading to an optical detector for detecting an F signal or a servo signal. For example, laser light traveling from the semiconductor laser element to the optical disk is transmitted through the beam splitter or the polarizing prism, and light returning from the optical disk is reflected by the beam splitter or the polarizing prism, and the optical path is bent. Guided to the detection system. In the above example, a part of the light from the semiconductor laser element toward the disk is reflected by the beam splitter or the polarizing prism, travels in the direction opposite to the detection system, and uses this light to generate a photodiode or the like. The amount of light is detected.
【0004】ここで従来の光ピックアップについて説明
する。図5は従来の光ピックアップの一例を示す構成
図、図6は従来の光ピックアップの他の例を示す構成図
である。図5中において、半導体レーザ素子2から出射
した読み書き用のレーザ光Lはコリメータレンズ4によ
り平行光束にされ、ビーム整形プリズム6によって半導
体レーザ素子2の発光パターンを楕円から円に変換す
る。更に、偏光ビームスプリッタ8を透過したレーザ光
が立上げ反射ミラー10、1/4波長板12を介して対
物レンズ14に入射する。そして、この対物レンズでレ
ーザ光は収束光となり光ディスクD上の記録面でスポッ
トを形成し、信号の記録、再生を可能とする。この記録
面で反射した光は再び対物レンズ14に入射して、平行
光束となり、1/4波長板12、反射ミラー10を介し
て偏光ビームスプリッタ8に入射する。この偏光ビーム
スプリッタ8に入射した光は、先の1/4波長板12を
往路と復路で2度通過したことにより、偏光方向が90
度回転しているために、このビームスプリッタ8により
反射されて検出系16に導かれ、サーボ信号の検出とR
F信号の検出が行なわれる。この検出系16は、例えば
シリンドリカルレンズ18や光検出器20等よりなる。Here, a conventional optical pickup will be described. FIG. 5 is a configuration diagram showing an example of a conventional optical pickup, and FIG. 6 is a configuration diagram showing another example of a conventional optical pickup. In FIG. 5, the read / write laser beam L emitted from the semiconductor laser element 2 is converted into a parallel light beam by the collimator lens 4, and the beam shaping prism 6 converts the light emission pattern of the semiconductor laser element 2 from an ellipse to a circle. Further, the laser light transmitted through the polarization beam splitter 8 is incident on the objective lens 14 via the rising reflection mirror 10 and the quarter wavelength plate 12. Then, the laser beam becomes convergent light by this objective lens, and a spot is formed on the recording surface on the optical disk D, thereby enabling signal recording and reproduction. The light reflected on the recording surface again enters the objective lens 14, becomes a parallel light beam, and enters the polarization beam splitter 8 via the 波長 wavelength plate 12 and the reflection mirror 10. The light that has entered the polarization beam splitter 8 has passed through the previous quarter-wave plate 12 twice in the forward path and the return path, so that the polarization direction is 90 degrees.
, The light is reflected by the beam splitter 8 and guided to the detection system 16, where the detection of the servo signal and the R
Detection of the F signal is performed. The detection system 16 includes, for example, a cylindrical lens 18 and a photodetector 20.
【0005】ここでモニタ用光検出器22は、偏光ビー
ムスプリッタ8の、検出系16と反対側に配置されてお
り、往路の光束のディスクDに向かう光の一部が偏光膜
8Aにより反射され、モニタ用光検出器22に入射す
る。ここで偏光膜8Aとは、例えばP偏光の光は透過
し、S偏光の光は反射するように設計された誘電体多層
膜などにより構成されている。そして、光制御部24
は、このモニタ用光検出器22の出力値に基づいて上記
半導体レーザ素子2の光量制御を行なう。また、図6に
示す光ピックアップにおいても、半導体レーザ素子2か
ら出射したレーザ光Lは、コリメータレンズ4で平行光
束に変換され、偏光ビームスプリッタ8に入射する。こ
のビームスプリッタ8を透過した光は、立上げ反射ミラ
ー10で光路を変えて対物レンズ14に入射し、収束さ
れて光ディスクD上の記録面に光スポットを形成する。
この光ディスクDで反射した光は、対物レンズ14で再
び平行光束に変換され、立上げ反射ミラー10を経てビ
ームスプリッタ8に入射する。そして、このスプリッタ
8で反射した光が検出系16に導かれ、サーボ信号の検
出と、RF信号の検出が行なわれる。一方、半導体レー
ザ素子2から射出したレーザ光Lの一部は、ビームスプ
リッタ8にて反射され、このビームスプリッタ8で反射
した光は、モニタ用光検出器22で光量を検出し、光制
御部24はこの検出値に基づいて前記半導体レーザ素子
2の光量制御を行なう。Here, the monitoring photodetector 22 is disposed on the opposite side of the detection system 16 of the polarization beam splitter 8, and a part of the light of the forward light beam toward the disk D is reflected by the polarizing film 8A. Incident on the monitoring photodetector 22. Here, the polarizing film 8A is composed of, for example, a dielectric multilayer film designed to transmit P-polarized light and reflect S-polarized light. Then, the light control unit 24
Performs light amount control of the semiconductor laser element 2 based on the output value of the monitoring photodetector 22. Also in the optical pickup shown in FIG. 6, the laser light L emitted from the semiconductor laser element 2 is converted into a parallel light beam by the collimator lens 4 and enters the polarization beam splitter 8. The light transmitted through the beam splitter 8 is incident on the objective lens 14 by changing the optical path by the rising reflection mirror 10, and is converged to form a light spot on the recording surface on the optical disk D.
The light reflected by the optical disk D is converted again into a parallel light beam by the objective lens 14 and enters the beam splitter 8 via the rising reflection mirror 10. Then, the light reflected by the splitter 8 is guided to the detection system 16, where the detection of the servo signal and the detection of the RF signal are performed. On the other hand, a part of the laser light L emitted from the semiconductor laser element 2 is reflected by the beam splitter 8, and the light reflected by the beam splitter 8 is detected by a monitor photodetector 22 to detect the amount of light, and is controlled by a light control unit. Reference numeral 24 controls the light amount of the semiconductor laser element 2 based on the detected value.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】ところで、図5に示す
ようにビームスプリッタや偏光ビームスプリッタ8で光
路を分割した場合、その光量の分割比は誘電体多層膜よ
りなる偏光膜8Aなどの膜設計によって決まる。また、
記録用の光ピックアップでは、再生専用と比較して、記
録時に高い光パワーを必要とするため、半導体レーザ素
子2の出射光量に対して、対物レンズ14により光ディ
スクDに集光させるための光量の比である結合効率をで
きるだけ大きくすることが必要とされるので、前方モニ
タ用光検出器22への光量は必要最小限にすることが望
ましい。しかしながら、偏光ビームスプリッタ8を設計
する場合は、ディスクに向かう側の光量を98%以上、
前方モニタ用光検出器22側の光量を1%以下と言った
ような仕様で設計されるのが普通であるが、この場合、
前方モニタ用光検出器22に入射する光量を管理するこ
とは非常に難しいという問題があった。すなわち、偏光
ビームスプリッタ8の製造上の特性のばらつきに影響さ
れて、モニタ用光検出器22に入射する光量が光ピック
アップ毎に異なってしまって、一定にすることが困難に
なるといった問題があった。When an optical path is divided by a beam splitter or a polarizing beam splitter 8 as shown in FIG. 5, the ratio of the light quantity is determined by the film design such as a polarizing film 8A made of a dielectric multilayer film. Depends on Also,
The optical pickup for recording requires a higher optical power at the time of recording as compared with the read-only optical pickup. Therefore, the amount of light emitted from the semiconductor laser element 2 is reduced by the objective lens 14 to be focused on the optical disk D. Since it is necessary to make the coupling efficiency, which is the ratio, as large as possible, it is desirable to minimize the amount of light to the front monitor photodetector 22 as necessary. However, when designing the polarization beam splitter 8, the light amount toward the disk should be 98% or more,
Normally, the light amount on the front monitor photodetector 22 side is designed to be 1% or less, but in this case,
There is a problem that it is very difficult to control the amount of light incident on the front monitor photodetector 22. In other words, there is a problem that the amount of light incident on the monitoring photodetector 22 is different for each optical pickup, and it is difficult to make the amount constant, because of the influence of manufacturing characteristics of the polarization beam splitter 8. Was.
【0007】また、図6に示す光ピックアップにおいて
は、ビームスプリッタ8や偏光プリズムは、上述のよう
に誘電体多層膜などよりなる偏光膜8Aを有しており、
これは屈折率の異なる材料を波長単位の厚さで何層も重
ね合わせた構造になっている。これら誘電体多層膜は、
周囲の温度変化により、膨張による厚みの変動、屈折率
変化などによって光量の分割比が変動することがある。
また、入射する光の偏光方向によってもその特性は異な
る。半導体レーザ素子2から出射するレーザ光Lは、P
偏光成分、もしくはS偏光成分のどちらか一方にそろっ
ているが、その反対の成分、すなわちP偏光の場合のS
偏光、またはその反対の成分も若干含まれている。その
割合は消光比、もしくは偏光比とも呼ばれている。そし
て、温度の変動や、半導体レーザ素子2の出射パワーの
変動により、この偏光比も若干変化する。従って、ビー
ムスプリッタ8や偏光プリズムに入射する光のP偏光成
分、S偏光成分の割合も変動することになる。In the optical pickup shown in FIG. 6, the beam splitter 8 and the polarizing prism have the polarizing film 8A made of a dielectric multilayer film as described above.
This has a structure in which a number of layers of materials having different refractive indices are stacked with a thickness of a wavelength unit. These dielectric multilayer films
The division ratio of the light amount may fluctuate due to a change in thickness due to expansion, a change in refractive index, or the like due to a change in ambient temperature.
Further, the characteristics also differ depending on the polarization direction of the incident light. The laser light L emitted from the semiconductor laser element 2 is P
It is aligned with either the polarization component or the S polarization component, but the opposite component, that is, the S component in the case of P polarization
Some polarization and vice versa are also included. The ratio is also called an extinction ratio or a polarization ratio. Then, the polarization ratio slightly changes due to a change in the temperature or a change in the output power of the semiconductor laser device 2. Therefore, the ratio of the P-polarized light component and the S-polarized light component of the light incident on the beam splitter 8 and the polarizing prism also changes.
【0008】このため、図6に示す光ピックアップのよ
うに半導体レーザ素子2からディスクDに向かう光路の
途中に、ビームスプリッタ8や偏光プリズムを挿入し、
透過(もしくは反射)する光をディスクに導き、反射
(もしくは透過)する光を利用してモニタ用光検出器2
2への入射光を得る方式の光ピックアップでは、周囲の
温度変化、光源の半導体レーザ素子2の出射パワー切り
替え時などに、ディスクに向かう光量とモニタ用光検出
器に向かう光量の割合が変動してしまうといった問題が
あった。特に、ディスクに信号を記録する光ピックアッ
プでは、記録時の光量制御が、記録特性に大きく影響す
るので、光量の制御を精密に行なうための光量検出方法
が必要である。For this reason, as in the optical pickup shown in FIG. 6, a beam splitter 8 and a polarizing prism are inserted in the optical path from the semiconductor laser device 2 to the disk D.
The transmitted (or reflected) light is guided to the disk, and the monitor photodetector 2 is used by using the reflected (or transmitted) light.
In the optical pickup of the type that obtains light incident on the optical disk 2, the ratio of the amount of light toward the disk to the amount of light toward the monitor photodetector fluctuates when the ambient temperature changes, when the output power of the semiconductor laser element 2 is switched, or the like. Problem. In particular, in an optical pickup for recording a signal on a disk, since the control of the light amount during recording greatly affects the recording characteristics, a light amount detection method for precisely controlling the light amount is required.
【0009】本発明は、以上のような問題点に着目し、
これを有効に解決すべく創案されたものである。本発明
の第1の目的は、使用する偏光ビームスプリッタの製造
時の特性上のばらつきに関係なく、モニタ用光検出器と
対物レンズに向かう光量の比率を製品間で一定になるよ
うに調整することができる光ピックアップを提供するこ
とにある。本発明の第2の目的は、温度変化による偏光
ビームスプリッタや偏光プリズムなどの光量分割比の変
動に影響を受けることなく対物レンズ(光ディスク)へ
入射する光量を常に一定になるように制御することがで
きる光ピックアップを提供することにある。The present invention focuses on the above problems,
It was created to solve this effectively. A first object of the present invention is to adjust the ratio of the amount of light directed to the monitor photodetector and the objective lens so as to be constant between products irrespective of variations in the characteristics of the polarizing beam splitter used during manufacture. It is an object of the present invention to provide an optical pickup that can perform the above operations. A second object of the present invention is to control the amount of light incident on an objective lens (optical disk) to be always constant without being affected by a change in a light amount division ratio of a polarizing beam splitter or a polarizing prism due to a temperature change. It is an object of the present invention to provide an optical pickup that can perform the above-described operations.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】請求項1に規定する第1
の発明は、光ディスクに情報を記録再生する光ピックア
ップにおいて、レーザ光源から出射する読み書き用のレ
ーザ光の偏光方向を光軸を中心として回転させることで
変える1/2波長板と、前記1/2波長板から出力する
レーザ光の光量を検出して、この検出結果が一定値とな
るように、前記レーザ光源のレーザ光出力を制御するた
めに使用するモニタ用光検出器と、前記1/2波長板か
ら出力するレーザ光を前記光ディスクに向かう光路と前
記モニタ用光検出器に向かう光路とに分割する偏光ビー
ムスプリッタとを備え、前記1/2波長板をその光軸を
回転中心として少なくとも0度から45度以内の範囲で
回転調整可能にする。これにより、光ピックアップの組
み立て段階にて、1/2波長板を回転角度調整した状態
で固定することにより、使用する偏光ビームスプリッタ
の製造時の特性上のばらつきに関係なく、モニタ用光検
出器と対物レンズに向かう光量の比率を製品間で一定に
なるように調整することができる。A first aspect of the present invention is defined by the first aspect.
The invention provides an optical pickup for recording / reproducing information on / from an optical disk, a half-wave plate that changes the polarization direction of a read / write laser beam emitted from a laser light source by rotating the optical axis around an optical axis, A monitor light detector used to control the laser light output of the laser light source so as to detect a light amount of the laser light output from the wave plate and to make the detection result a constant value; A polarizing beam splitter for splitting the laser light output from the wave plate into an optical path toward the optical disk and an optical path toward the monitor photodetector, wherein the half-wave plate is rotated at least 0 around its optical axis. The rotation can be adjusted within a range of 45 degrees to 45 degrees. Thus, by fixing the half-wave plate in a state where the rotation angle is adjusted at the stage of assembling the optical pickup, the monitor photodetector can be used regardless of the variation in the characteristics of the polarizing beam splitter to be used at the time of manufacture. And the ratio of the amount of light toward the objective lens can be adjusted to be constant between products.
【0011】請求項2に規定する第2の発明は、光ディ
スクに情報を記録再生するための光ピックアップにおい
て、レーザ光源から立上げ反射ミラーを介して、前記光
ディスクにレーザ光を集光させるための対物レンズを有
する光学系を備え、前記立上げ反射ミラーの反射部分以
外の部分から透過する前記レーザ光の光量を検出して、
この検出結果が一定値となるように、前記レーザ光源の
レーザ光出力を制御するために使用するモニタ用光検出
器を設ける。このように、偏光ビームスプリッタ或いは
偏光プリズムの後の、往路の光学系に関連づけてモニタ
用光検出器を設けるようにしたので、温度変化による偏
光ビームスプリッタや偏光プリズムなどの光量分割比の
変動に影響を受けることなく対物レンズ(光ディスク)
へ入射する光量を常に一定になるように制御することが
できる。According to a second aspect of the present invention, there is provided an optical pickup for recording / reproducing information on / from an optical disk, comprising: a laser light source for converging a laser beam onto the optical disk via a rising mirror; An optical system having an objective lens is provided, and the amount of the laser light transmitted from a portion other than the reflection portion of the rising reflection mirror is detected,
A monitoring light detector used to control the laser light output of the laser light source is provided so that the detection result becomes a constant value. As described above, since the monitoring photodetector is provided in association with the optical system on the outward path after the polarizing beam splitter or the polarizing prism, fluctuations in the light amount splitting ratio of the polarizing beam splitter or the polarizing prism due to temperature changes are provided. Objective lens (optical disk) without being affected
Can be controlled so that the amount of light incident on the surface is always constant.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】以下に、本発明に係る光ピックア
ップの一実施例を添付図面に基づいて詳述する。まず、
第1の発明について説明する。図1は第1の発明に係る
光ピックアップを示す構成図、図2は1/2波長板を示
す斜視図である。図1中において図5に示す構成部品と
同一部品については同一符号を付して説明する。図1に
示す本発明の光ピックアップ26が、図5に示す従来の
光ピックアップと異なる点は、半導体レーザ素子2と偏
光ビームスプリッタ8との間の光路に、回転可能に1/
2波長板28を挿入した点にある。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the optical pickup according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. First,
The first invention will be described. FIG. 1 is a configuration diagram showing an optical pickup according to the first invention, and FIG. 2 is a perspective view showing a half-wave plate. In FIG. 1, parts that are the same as the parts shown in FIG. 5 are given the same reference numerals and described. The optical pickup 26 of the present invention shown in FIG. 1 is different from the conventional optical pickup shown in FIG. 5 in that an optical path between the semiconductor laser element 2 and the polarization beam splitter 8 is rotatably 1 /.
The point is that the two-wavelength plate 28 is inserted.
【0013】すなわち、図中、2はレーザ光Lを出力す
るレーザ光源としての半導体レーザ素子、4はレーザ光
Lを平行光にするコリメータレンズ、6はレーザ光Lの
断面パターンを楕円形から円形に変換するビーム整形プ
リズム、8は内部に偏光膜8Aを有する偏光ビームスプ
リッタ、10は立上げ反射ミラー、12は1/4波長
板、14は光ディスクD上に光を集光させる対物レン
ズ、16はシリンドリカルレンズ18とサーボ信号やR
F信号を検出する光検出器20とよりなる検出系、22
は偏光ビームスプリッタ8より一部反射された光を検出
するモニタ用光検出器、24はこの検出器22の検出値
が一定値となるように半導体レーザ素子2の出力を制御
する光制御部である。そして、本実施例では、ビーム整
形プリズム6と偏光ビームスプリッタ8との間に、上述
のように1/2波長板28を介設している。That is, in the figure, reference numeral 2 denotes a semiconductor laser element as a laser light source for outputting a laser beam L, 4 denotes a collimator lens for converting the laser beam L into parallel light, and 6 denotes a cross-sectional pattern of the laser beam L from elliptical to circular. 8 is a polarizing beam splitter having a polarizing film 8A inside, 10 is a rising reflection mirror, 12 is a 波長 wavelength plate, 14 is an objective lens for condensing light on the optical disc D, 16 Are the cylindrical lens 18 and the servo signal or R
A detection system including a photodetector 20 for detecting an F signal;
Is a monitoring photodetector for detecting light partially reflected by the polarization beam splitter 8, and 24 is a light controller for controlling the output of the semiconductor laser element 2 so that the detection value of the detector 22 becomes a constant value. is there. In this embodiment, the half-wave plate 28 is interposed between the beam shaping prism 6 and the polarization beam splitter 8 as described above.
【0014】ここで、半導体レーザ素子2から出射した
レーザ光Lの偏光方向は例えばS偏光であり、このレー
ザ光Lを偏光ビームスプリッタ8に透過させるために
は、1/2波長板28によりレーザ光Lの偏光方向を9
0度回転させてP偏光とすればよい。そこで、この1/
2波長板28は、複屈折性を利用した光学素子であり、
この光学軸を偏光方向に対して45度に配置すること
で、レーザ光Lの偏光方向を90度回転させることがで
きる。これにより、偏光ビームスプリッタ8に入射する
レーザ光の偏光方向はP偏光となり、偏光ビームスプリ
ッタ8を透過する。偏光ビームスプリッタ8の設計は、
P偏光100%透過、S偏光0%透過、P偏光0%反
射、S偏光100%反射という条件で設計を行なってい
る。実際に製造される偏光ビームスプリッタ8の特性
は、偏光膜8Aを構成する誘電体膜や、プリズムのガラ
スによる反射損失などがあるため、P偏光透過100%
やS偏光反射100%とはならず、それぞれ99%程度
になっている。ただし、P偏光反射、及びS偏光透過は
略0%となっている。Here, the polarization direction of the laser light L emitted from the semiconductor laser element 2 is, for example, S-polarized light. In order to transmit this laser light L to the polarization beam splitter 8, the laser beam The polarization direction of light L is 9
What is necessary is just to rotate by 0 degree and to make it P-polarized light. Therefore, this 1 /
The two-wavelength plate 28 is an optical element utilizing birefringence,
By arranging this optical axis at 45 degrees with respect to the polarization direction, the polarization direction of the laser light L can be rotated by 90 degrees. As a result, the polarization direction of the laser beam incident on the polarization beam splitter 8 becomes P-polarized light and transmits through the polarization beam splitter 8. The design of the polarizing beam splitter 8
The design is performed under the conditions of 100% transmission of P polarized light, 0% transmission of S polarized light, 0% reflection of P polarized light, and 100% reflection of S polarized light. The characteristics of the polarization beam splitter 8 actually manufactured include a dielectric film constituting the polarization film 8A and reflection loss due to the glass of the prism.
And S-polarized light reflection is not 100%, but each is about 99%. However, P-polarized light reflection and S-polarized light transmission are approximately 0%.
【0015】従って、1/2波長板28の光学軸を45
度にした場合、偏光ビームスプリッタ8を通過する光量
の略100%が対物レンズ14すなわち光ディスクD側
に導かれ、上記モニタ用光検出器22に導かれる光量は
略0となる。ここで、この1/2波長板28の光学軸を
図2に示すように45度から回転させると、P偏光の成
分とS偏光の成分のそれぞれが、1/2波長板28の回
転角に応じて発生する。すなわち、ここでは、偏光ビー
ムスプリッタ8は偏光膜8Aで反射され、上記モニタ用
光検出器22に導かれる。このように、1/2波長板2
8を回転させることで、対物レンズ14、すなわち光デ
ィスクDに向かう光量とモニタ用光検出器22に向かう
光量の割合を、1/2波長板28の回転により管理する
ことが可能となる。従って、偏光ビームスプリッタ8の
偏光膜8Aの特性上のばらつきがあっても、光ピックア
ップ26を組み立てる際に、この1/2波長板28を適
宜回転させて調整し、モニタ用光検出器22における検
出値が所定値になるような点でこの1/2波長板28の
回転角度を固定し、この状態で出荷すればよい。これに
より、偏光ビームスプリッタ8の偏光膜8Aに特性上の
ばらつきがあっても、モニタ用光検出器22に入射する
光量と対物レンズ14(光ディスクD)に向かう光量と
の分配比率を常に一定になるように調整することが可能
となる。Accordingly, the optical axis of the half-wave plate 28 is set to 45
In this case, approximately 100% of the amount of light passing through the polarizing beam splitter 8 is guided to the objective lens 14, that is, the optical disk D side, and the amount of light guided to the monitoring photodetector 22 is substantially zero. Here, when the optical axis of the half-wave plate 28 is rotated from 45 degrees as shown in FIG. 2, each of the P-polarized light component and the S-polarized light component becomes Occurs accordingly. That is, here, the polarization beam splitter 8 is reflected by the polarization film 8A and guided to the monitoring photodetector 22. Thus, the half-wave plate 2
By rotating 8, the ratio of the amount of light going to the objective lens 14, that is, the optical disk D, to the amount of light going to the monitoring photodetector 22 can be managed by the rotation of the half-wave plate 28. Therefore, even if there is a variation in the characteristics of the polarizing film 8A of the polarizing beam splitter 8, when the optical pickup 26 is assembled, the half-wave plate 28 is appropriately rotated and adjusted, and The rotation angle of the half-wave plate 28 may be fixed at a point where the detection value becomes a predetermined value, and the plate may be shipped in this state. Thus, even if the polarization film 8A of the polarization beam splitter 8 has a variation in characteristics, the distribution ratio between the amount of light incident on the monitoring photodetector 22 and the amount of light traveling toward the objective lens 14 (optical disk D) is always kept constant. It can be adjusted to be
【0016】次に、第2の発明について説明する。図3
は第2の発明に係る光ピックアップを示す構成図、図4
は立上げ反射ミラーの変形例を示す図である。図3中に
おいて図6に示す構成部品と同一部品については同一符
号を付して説明する。図3に示す本発明の光ピックアッ
プ29が、図6に示す従来の光ピックアップと大きく異
なる点は、モニタ用光検出器を、ビームスプリッタや偏
光プリズムを通過した後の、往路の光学系に関連させて
設けた点にある。すなわち、図中、2はレーザ光Lを出
力する半導体レーザ素子、4はレーザ光Lを平行光にす
るコリメータレンズ、8は偏光ビームスプリッタ、30
は立上げ反射ミラー、14は光ディスクD上に光を集光
させる対物レンズ、16はシリンドリカルレンズ18と
サーボ信号やRF信号を検出する光検出器20とよりな
る検出系、22は立上げ反射ミラー30にて反射される
ことなくこれを通過した光の一部を検出するモニタ用光
検出器、24はこの光検出器22の検出値が一定値とな
るように半導体レーザ素子2の出力を制御する光制御部
である。尚、偏光ビームスプリッタ8に替えて偏光プリ
ズムを用いてもよい。Next, the second invention will be described. FIG.
FIG. 4 is a configuration diagram showing an optical pickup according to the second invention, FIG.
FIG. 9 is a view showing a modification of the rising reflection mirror. In FIG. 3, the same parts as those shown in FIG. The optical pickup 29 of the present invention shown in FIG. 3 is greatly different from the conventional optical pickup shown in FIG. 6 in that the monitoring photodetector is related to the optical system on the outward path after passing through a beam splitter or a polarizing prism. This is the point provided. That is, in the drawing, reference numeral 2 denotes a semiconductor laser element that outputs laser light L, 4 denotes a collimator lens that converts the laser light L into parallel light, 8 denotes a polarizing beam splitter, and 30 denotes a polarizing beam splitter.
Is a rising reflection mirror, 14 is an objective lens for condensing light on the optical disk D, 16 is a detection system including a cylindrical lens 18 and a photodetector 20 for detecting servo signals and RF signals, and 22 is a rising reflection mirror. A monitoring photodetector for detecting a part of the light that has passed therethrough without being reflected at 30, and controls the output of the semiconductor laser device 2 so that the detection value of the photodetector 22 becomes a constant value. This is a light control unit. Incidentally, a polarizing prism may be used instead of the polarizing beam splitter 8.
【0017】ここで、レーザ光Lの往路の光学系は、半
導体レーザ素子2、コリメータレンズ4、偏光ビームス
プリッタ8、立上げ反射ミラー30及び対物レンズ14
により構成され、他方、復路の光学系は、対物レンズ1
4、立上げ反射ミラー30、偏光ビームスプリッタ8、
シリンドリカルレンズ18及び光検出器20により構成
される。このように、本実施例では、偏光ビームスプリ
ッタ8を通過した後の往路の光学系に関連させて、具体
的には立上げ反射ミラー30に関連させてモニタ用光検
出器22を設けている。すなわち、図4(A)に示すよ
うにこの立上げ反射ミラー30は、その光入射面32の
内、中心部分のみに例えば円形に反射膜32Aを形成
し、これを反射面とし、その周辺部分32Bには反射膜
を形成しないで光を透過できるようにしている。そし
て、この反射ミラー30の後方に上記モニタ用光検出器
22を設置して、この透過光LBの一部を上記モニタ用
光検出器22にて検出できるようにしている。Here, the optical system on the outward path of the laser beam L includes a semiconductor laser element 2, a collimator lens 4, a polarizing beam splitter 8, a rising reflection mirror 30, and an objective lens 14.
On the other hand, the optical system on the return path includes the objective lens 1
4. Start-up reflection mirror 30, polarization beam splitter 8,
It comprises a cylindrical lens 18 and a photodetector 20. As described above, in the present embodiment, the monitoring photodetector 22 is provided in association with the optical system on the outward path after passing through the polarization beam splitter 8, specifically, in association with the rising reflection mirror 30. . That is, as shown in FIG. 4 (A), the rising reflection mirror 30 has a circular reflection film 32A formed only at the center portion of the light incident surface 32, and uses the reflection film 32A as a reflection surface. 32B is configured to transmit light without forming a reflective film. Then, the monitor photodetector 22 is provided behind the reflection mirror 30 so that a part of the transmitted light LB can be detected by the monitor photodetector 22.
【0018】このような装置では、半導体レーザ素子2
から出射したレーザ光Lは、コリメータレンズ4で平行
光束に変換され、偏光ビームスプリッタ8に入射する。
このビームスプリッタ8を透過した大部分の光は、立上
げ反射ミラー30の光入射面32の反射膜32Aに当た
って光路を変えて対物レンズ14に入射し、収束されて
光ディスクD上の記録面にスポットを形成する。ここ
で、反射ミラー30の外周の反射膜を付けないエリア3
2Bに入射した光はこれをそのまま透過し、この反射ミ
ラー30を透過した光LBは、モニタ用光検出器22に
入射し、半導体レーザ素子2の前方モニタとして使用さ
れる。すなわち、光制御部24は、このモニタ用光検出
器22の検出値が常に一定になるように半導体レーザ素
子2の出力を制御することになる。従って、温度変化に
よって、偏光ビームスプリッタ8における光量分割比に
変動が生じても、或いは半導体レーザ素子2から出射さ
れるレーザ光の偏光比に変動が生じても、対物レンズ1
4(光ディスクD)に入射する光量を常に一定値に維持
するように制御することができる。In such an apparatus, the semiconductor laser element 2
Is converted into a parallel light beam by the collimator lens 4 and enters the polarization beam splitter 8.
Most of the light transmitted through the beam splitter 8 impinges on the reflecting film 32A of the light incident surface 32 of the rising reflecting mirror 30, changes its optical path and enters the objective lens 14, where it is converged and spotted on the recording surface on the optical disk D. To form Here, an area 3 on the outer periphery of the reflection mirror 30 where no reflection film is provided.
The light incident on 2B is transmitted as it is, and the light LB transmitted through the reflection mirror 30 is incident on the monitoring photodetector 22, and is used as a front monitor of the semiconductor laser device 2. That is, the light control unit 24 controls the output of the semiconductor laser element 2 so that the detection value of the monitoring light detector 22 is always constant. Therefore, even if the light amount splitting ratio in the polarization beam splitter 8 fluctuates due to a temperature change, or the polarization ratio of the laser light emitted from the semiconductor laser element 2 fluctuates, the objective lens 1
4 (optical disc D) can be controlled to always maintain a constant light amount.
【0019】先の、図4(A)においては、立上げ反射
ミラー30の光入射面32の中心部には反射膜32Aを
形成するようにしたが、これに限定されず、モニタ用光
検出器22にレーザ光が反射することなく直接入射すれ
ばよいので、図4(B)に示すようにモニタ用光検出器
22に対応する部分のみ、図示例では光入射面32の上
部の一部のみに反射膜を形成しないエリア32Bを形成
し、他の部分全面に反射膜32Aを形成するようにして
もよい。また更に、図4(C)に示すように、図4
(B)中において反射膜32Aを設けないエリア32B
に相当する部分を予め削除したような形状の立上げ反射
ミラー30を形成するようにしてもよい。図4(C)に
おいては、削除部分34を一点鎖線で示している。尚、
上記第1及び第2の各発明における光ピックアップの構
成は、単に一例を示したに過ぎず、上述した構成以外の
光ピックアップについても本発明を適用できるのは勿論
である。In FIG. 4A, the reflecting film 32A is formed at the center of the light incident surface 32 of the rising reflecting mirror 30, but the present invention is not limited to this. Since the laser light need only be directly incident on the detector 22 without being reflected, only the portion corresponding to the monitoring photodetector 22 as shown in FIG. Only the area 32B where the reflective film is not formed may be formed only on the entire surface, and the reflective film 32A may be formed on the entire other portion. Further, as shown in FIG.
Area (B) in which no reflective film (32A) is provided in (B)
May be formed in such a shape that a portion corresponding to the above is deleted in advance. In FIG. 4C, the deleted portion 34 is indicated by a chain line. still,
The configuration of the optical pickup in each of the first and second inventions is merely an example, and it goes without saying that the present invention can be applied to optical pickups other than the configuration described above.
【0020】[0020]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ピック
アップによれば、次のように優れた作用効果を発揮する
ことができる。請求項1に規定する第1の発明によれ
ば、光ピックアップの組み立て段階にて、1/2波長板
を回転角度調整した状態で固定することにより、使用す
る偏光ビームスプリッタの製造時の特性上のばらつきに
関係なく、モニタ用光検出器と対物レンズに向かう光量
の比率を製品間で一定になるように調整することができ
る。請求項2に規定する第2の発明によれば、立上げ反
射ミラーの反射部分以外の部分から透過するレーザ光を
検出するようにモニタ用光検出器を設けるようにしたの
で、温度変化による偏光ビームスプリッタや偏光プリズ
ムなどの光量分割比の変動に影響を受けることなく対物
レンズ(光ディスク)へ入射する光量を常に一定になる
ように制御することができる。As described above, according to the optical pickup of the present invention, the following excellent functions and effects can be exhibited. According to the first aspect of the present invention, at the stage of assembling the optical pickup, the half-wave plate is fixed in a state where the rotation angle is adjusted, so that the polarization beam splitter to be used has a characteristic in manufacturing. Irrespective of the variation in the light amount, it is possible to adjust the ratio of the amount of light directed to the monitor photodetector and the objective lens to be constant between products. According to the second aspect of the present invention, the monitor photodetector is provided so as to detect the laser beam transmitted from a portion other than the reflection portion of the rising reflection mirror. It is possible to control so that the amount of light incident on the objective lens (optical disk) is always constant without being affected by the fluctuation of the light amount division ratio of the beam splitter or the polarizing prism.
【図1】第1の発明に係る光ピックアップを示す構成図
である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an optical pickup according to a first invention.
【図2】1/2波長板を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a half-wave plate.
【図3】第2の発明に係る光ピックアップを示す構成図
である。FIG. 3 is a configuration diagram showing an optical pickup according to a second invention.
【図4】立上げ反射ミラーの変形例を示す図である。FIG. 4 is a view showing a modification of the rising reflection mirror.
【図5】従来の光ピックアップの一例を示す構成図であ
る。FIG. 5 is a configuration diagram illustrating an example of a conventional optical pickup.
【図6】従来の光ピックアップの他の例を示す構成図で
ある。FIG. 6 is a configuration diagram showing another example of a conventional optical pickup.
1…半導体レーザ素子、8…偏光ビームスプリッタ、8
A…偏光膜、10…立上げ反射ミラー、14…対物レン
ズ、16…検出系、22…モニタ用光検出器、24…光
制御部、26…光ピックアップ、28…1/2波長板、
29…光ピックアップ、30…立上げ反射ミラー、32
…光入射面、32A…反射面、32B…反射膜を付けな
いエリア、D…光ディスク、L…レーザ光。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor laser element, 8 ... Polarization beam splitter, 8
A: polarizing film, 10: rising reflection mirror, 14: objective lens, 16: detection system, 22: photodetector for monitoring, 24: light control unit, 26: optical pickup, 28: 1/2 wavelength plate,
29: Optical pickup, 30: Start-up reflection mirror, 32
... Light incident surface, 32A ... reflective surface, 32B ... area without reflective film, D ... optical disk, L ... laser light.
Claims (2)
クアップにおいて、レーザ光源から出射する読み書き用
のレーザ光の偏光方向を光軸を中心として回転させるこ
とで変える1/2波長板と、前記1/2波長板から出力
するレーザ光の光量を検出して、この検出結果が一定値
となるように、前記レーザ光源のレーザ光出力を制御す
るために使用するモニタ用光検出器と、前記1/2波長
板から出力するレーザ光を前記光ディスクに向かう光路
と前記モニタ用光検出器に向かう光路とに分割する偏光
ビームスプリッタとを備え、前記1/2波長板をその光
軸を回転中心として少なくとも0度から45度以内の範
囲で回転調整可能にしたことを特徴とする光ピックアッ
プ。An optical pickup for recording / reproducing information on / from an optical disk, comprising: a half-wave plate for changing a polarization direction of a read / write laser beam emitted from a laser light source by rotating about an optical axis; A monitoring light detector used to control the laser light output of the laser light source so as to detect a light amount of the laser light output from the two-wavelength plate so that the detection result becomes a constant value; A polarizing beam splitter that divides the laser light output from the two-wavelength plate into an optical path toward the optical disk and an optical path toward the monitoring photodetector, wherein the half-wavelength plate has at least its optical axis as a rotation center. An optical pickup characterized in that rotation can be adjusted within a range of 0 to 45 degrees.
光ピックアップにおいて、レーザ光源から立上げ反射ミ
ラーを介して、前記光ディスクにレーザ光を集光させる
ための対物レンズを有する光学系を備え、前記立上げ反
射ミラーの反射部分以外の部分から透過する前記レーザ
光の光量を検出して、この検出結果が一定値となるよう
に、前記レーザ光源のレーザ光出力を制御するために使
用するモニタ用光検出器を設けたことを特徴とする光ピ
ックアップ。2. An optical pickup for recording / reproducing information on / from an optical disc, comprising: an optical system having an objective lens for converging laser light on the optical disc via a reflecting mirror which rises from a laser light source; A monitor used to control the laser light output of the laser light source so as to detect the amount of the laser light transmitted from a portion other than the reflection portion of the rising reflection mirror and to make the detection result a constant value. An optical pickup comprising a photodetector.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26632999A JP2001093183A (en) | 1999-09-20 | 1999-09-20 | Optical pickup |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP26632999A JP2001093183A (en) | 1999-09-20 | 1999-09-20 | Optical pickup |
Publications (1)
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ID=17429427
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008198258A (en) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical pickup device and optical disk device |
-
1999
- 1999-09-20 JP JP26632999A patent/JP2001093183A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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