JP2001091428A - Data sampling method in material testing machine and material testing machine - Google Patents

Data sampling method in material testing machine and material testing machine

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JP2001091428A
JP2001091428A JP26993299A JP26993299A JP2001091428A JP 2001091428 A JP2001091428 A JP 2001091428A JP 26993299 A JP26993299 A JP 26993299A JP 26993299 A JP26993299 A JP 26993299A JP 2001091428 A JP2001091428 A JP 2001091428A
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material test
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test piece
sampling
load
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Hiroshi Uno
博 宇野
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a data sampling method in a material testing machine and the material testing device continuously grasping the material testing conditions in a pretreatment process and in a main process. SOLUTION: This material testing machine carries out a material test consisting of a main process applying a target load to a material test piece 1 by automatic control, a pretreatment process before the main process, and a post-treatment process following the main process. The material testing device is provided with an automatic control time storage unit 57 storing load data applied to the material test piece, torsion data, a sampling time and the like sampled in the main process, and independently of the first storage unit, an overall process storage unit 56 storing load data applied to the material test piece, torsion data, a sampling time and the like sampled in the pretreatment process, the main process, and the post-treatment process.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、材料試験片に目標
負荷が自動制御によりかけられる材料試験装置における
データサンプル方法および材料試験装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a data sample method and a material test apparatus in a material test apparatus in which a target load is automatically applied to a material test piece.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、材料試験においては、材料試験装
置に材料試験片をセッティングする前処理工程と、材料
試験装置にセッティングされた材料試験片に目標負荷を
自動制御によりかける本工程と、この本工程の終了後、
材料試験片を材料試験装置から取り外す後処理工程とを
有している。そして、本工程においては、自動制御する
ためのアプリケーションソフトにより、材料試験片に加
わる荷重データや歪みデータなどの種々のデータが保存
されている。しかしながら、本工程以外の工程において
は、アプリケーションソフトは作動しておらず、材料試
験片に加わる荷重データや歪みデータなどの種々のデー
タは保存されていない。たとえば、材料試験片に三次元
の応力を加えて通水する材料試験装置では、前処理工程
において、チャンバーに材料試験片を収納して材料試験
装置にセッティングし、ついで、このチャンバー内の圧
力を設定圧まで増大するとともに、材料試験片に通水し
ている。この前処理工程は手動操作で行われており、材
料試験片に加わる荷重データや歪みデータなどの種々の
データは保存されていない。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a material test, a pretreatment step of setting a material test piece in a material test apparatus, a main step of automatically applying a target load to the material test piece set in the material test apparatus, and After the end of this process,
And a post-processing step of removing the material test piece from the material test apparatus. In this step, various data such as load data and strain data applied to the material test piece are stored by application software for automatic control. However, in steps other than this step, the application software is not operating, and various data such as load data and strain data applied to the material test piece are not stored. For example, in a material test apparatus that applies three-dimensional stress to a material test piece to pass water, in a pretreatment step, the material test piece is stored in a chamber and set in the material test apparatus, and then the pressure in the chamber is reduced. While increasing to the set pressure, water is flowing through the material test piece. This pretreatment process is performed manually, and various data such as load data and strain data applied to the material test piece are not stored.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、前処理工程
や後処理工程においても、材料試験片には負荷が加わる
ことがある。また、前処理工程や後処理工程において、
手動操作で付加的な材料試験を行うことがある。たとえ
ば、材料試験の本工程を開始する前に、通水する水圧を
多少変動させて、全体のバランスが如何に変化するかを
考察することがある。さらに、前処理工程から本工程の
開始の状態に円滑に移行させることが材料試験の遂行上
望ましい。特に、材料試験片に三次元の応力を加えて通
水する材料試験装置では、前処理工程において、手動操
作で、チャンバー内の圧力を増大し、その後通水してい
るので、この通水時などに圧力のバランスなどが崩れる
ことがあり、前処理工程から本工程の開始の状態に移行
するのに習熟度を要している。したがって、前処理工程
や後処理工程においても、本工程に継続して材料試験装
置の状態を把握しておくことが望まれている。
Incidentally, a load may be applied to the material test piece also in the pre-treatment step and the post-treatment step. In the pre-processing and post-processing steps,
Additional material testing may be performed manually. For example, before starting this step of the material test, it is sometimes necessary to slightly change the pressure of flowing water to consider how the overall balance changes. Further, it is desirable from the viewpoint of performing a material test to smoothly shift from the pretreatment step to the start state of the present step. In particular, in a material test apparatus in which water is applied by applying a three-dimensional stress to a material test piece, the pressure in the chamber is manually increased in the pretreatment step, and then water is passed. For example, the balance of pressure may be lost, and it may take time to move from the pretreatment process to the state at the start of the present process. Therefore, it is desired that the state of the material testing apparatus be grasped in the pre-processing step and the post-processing step as well as in the present step.

【0004】本発明は、以上のような課題を解決するた
めのもので、材料試験の前処理工程および本工程におけ
る状態を継続して把握することができる材料試験装置に
おけるデータサンプル方法および材料試験装置を提供す
ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and a data sampling method and a material test method in a material test apparatus capable of continuously grasping a pretreatment process of a material test and a state in this process. It is intended to provide a device.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明のデータサンプル
方法は、材料試験片(1)に目標負荷を自動制御により
かける本工程と、この本工程より前の前処理工程と、前
記本工程より後の後処理工程とからなる材料試験を行う
材料試験装置に採用されている。そして、前記本工程に
おいて、少なくとも、材料試験片に加わる荷重データお
よび歪みデータをサンプリングして、この荷重データ、
歪みデータおよびサンプリング時間を記憶する第1サン
プリングと、この第1サンプリングとは別に、前処理工
程および本工程において、少なくとも、材料試験片に加
わる荷重データおよび歪みデータをサンプリングして、
この荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を
記憶する第2サンプリングとを行っている。
According to the data sampling method of the present invention, there are provided a main step of automatically applying a target load to a material test piece (1), a pre-processing step prior to the main step, and a pre-processing step. It is used in a material testing apparatus for performing a material test including a post-processing step. Then, in the present step, at least load data and strain data applied to the material test piece are sampled, and the load data,
A first sampling for storing the strain data and the sampling time, and separately from the first sampling, in the pre-processing step and the present step, at least load data and strain data applied to the material test piece are sampled,
The second sampling for storing the load data, the strain data, and the sampling time is performed.

【0006】また、第2サンプリングが、前処理工程お
よび本工程に続いて後処理工程においても行われている
ことがある。
Further, the second sampling may be performed in a post-processing step following the pre-processing step and the main step.

【0007】さらに、前処理工程および後処理工程が、
手動操作で行われていることがある。
Further, a pre-processing step and a post-processing step include:
It may have been performed manually.

【0008】そして、材料試験片をチャンバー(2)内
にセッティングし、チャンバー内の圧力を上昇させる前
処理工程と、前処理工程でセッティングされた材料試験
片に目標負荷を自動的にかける本工程と、本工程の終了
後、材料試験片を取り外す後処理工程とを有する材料試
験を行う材料試験装置におけるデータサンプル方法であ
って、本工程において、少なくとも、材料試験片に加わ
る荷重データおよび歪みデータをサンプリングして、こ
の荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を記
憶する第1サンプリングと、この第1サンプリングとは
別に、前処理工程および本工程において、少なくとも、
材料試験片に加わる荷重データおよび歪みデータをサン
プリングして、この荷重データ、歪みデータおよびサン
プリング時間を記憶する第2サンプリングとを行ってい
る。
Then, a pretreatment step of setting the material test piece in the chamber (2) and increasing the pressure in the chamber, and a main step of automatically applying a target load to the material test piece set in the pretreatment step And a data sample method in a material test apparatus for performing a material test having a post-processing step of removing the material test piece after the end of this step, wherein in this step, at least load data and strain data applied to the material test piece And a first sampling for storing the load data, the strain data and the sampling time, and separately from the first sampling, in the pre-processing step and the present step, at least:
The load data and the strain data applied to the material test piece are sampled, and the second sampling for storing the load data, the strain data and the sampling time is performed.

【0009】また、本発明の材料試験装置は、材料試験
片に目標負荷を自動制御によりかける本工程と、この本
工程より前の前処理工程と、前記本工程より後の後処理
工程とからなる材料試験を行っている。そして、本工程
においてサンプリングされた材料試験片に加わる荷重デ
ータ、歪みデータおよびサンプリング時間を少なくとも
記憶する第1記憶部(57)、および、この第1記憶部
とは別に、前記前処理工程および本工程においてサンプ
リングされた材料試験片に加わる荷重データ、歪みデー
タおよびサンプリング時間を少なくとも記憶する第2記
憶部(56)を備えている。
Further, the material testing apparatus of the present invention comprises a main step of automatically applying a target load to a material test piece, a pre-processing step before the main step, and a post-processing step after the main step. Material tests. Then, a first storage unit (57) that stores at least load data, strain data, and a sampling time applied to the material test piece sampled in this step, and separately from the first storage unit, A second storage unit (56) is provided for storing at least load data, strain data, and sampling time applied to the material test specimen sampled in the process.

【0010】また、前記第2記憶部が、前処理工程およ
び本工程に続いて後処理工程においてサンプリングされ
た材料試験片に加わる荷重データ、歪みデータおよびサ
ンプリング時間を少なくとも記憶していることがある。
Further, the second storage unit may store at least load data, strain data and sampling time applied to the material test specimen sampled in the pre-processing step and the post-processing step following this step. .

【0011】そして、材料試験片をチャンバー内にセッ
ティングし、チャンバー内の圧力を上昇させる前処理工
程と、前処理工程でセッティングされた材料試験片に目
標負荷を自動的にかける本工程と、本工程の終了後、材
料試験片を取り外す後処理工程とを有する材料試験を行
う材料試験装置において、前記本工程においてサンプリ
ングされた材料試験片に加わる荷重データ、歪みデータ
およびサンプリング時間を少なくとも記憶する第1記憶
部、および、この第1記憶部とは別に、前記前処理工程
および本工程においてサンプリングされた材料試験片に
加わる荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間
を少なくとも記憶する第2記憶部を備えていることがあ
る。
A pretreatment step of setting the material test piece in the chamber and increasing the pressure in the chamber; a main step of automatically applying a target load to the material test piece set in the pretreatment step; After the end of the step, in the material test apparatus for performing a material test having a post-processing step of removing the material test piece, a load data, a strain data, and a sampling time applied to the material test piece sampled in the main step are stored at least. A first storage unit and, apart from the first storage unit, a second storage unit that stores at least load data, strain data, and sampling time applied to the material test specimen sampled in the preprocessing step and the main step. May be.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】次に、本発明における材料試験装
置の実施の一形態を説明する。図1は本発明の材料試験
装置の実施の一形態の構成を示すブロック図である。図
2は材料試験片に加わる応力および剪断力を説明する概
略図である。図3は材料試験のフローチャートである。
図4は図3の材料試験のフローチャートの続きである。
図5は材料試験のタイムチャートで、(a)が周囲圧の
タイムチャート、(b)が周囲圧用アクチュエータの変
位のタイムチャート、(c)が圧縮用変位センサの出力
のタイムチャートである。図6は材料試験のタイムチャ
ートで、(a)が荷重センサの検出値のタイムチャー
ト、(b)が剪断面に垂直な応力σnのタイムチャート
である。図7は材料試験のサンプリングのタイミングを
示すタイムチャートである。図8は記憶部のテーブルの
図で、(a)が全工程用記憶部のテーブル、(b)が自
動制御時用記憶部のテーブルである。なお、材料試験装
置は、コントローラおよびホストコンピュータにより制
御されるが、図1ではコントローラとホストコンピュー
タとを区別せずに、複数のブロックとして図示してい
る。
Next, an embodiment of a material testing apparatus according to the present invention will be described. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the material testing apparatus of the present invention. FIG. 2 is a schematic diagram illustrating stress and shear force applied to a material test piece. FIG. 3 is a flowchart of a material test.
FIG. 4 is a continuation of the material test flowchart of FIG.
5A and 5B are time charts of a material test, in which FIG. 5A is a time chart of an ambient pressure, FIG. 5B is a time chart of a displacement of an actuator for an ambient pressure, and FIG. 5C is a time chart of an output of a compression displacement sensor. 6A and 6B are time charts of the material test, in which FIG. 6A is a time chart of the detected value of the load sensor, and FIG. 6B is a time chart of the stress σn perpendicular to the shear plane. FIG. 7 is a time chart showing the sampling timing of the material test. 8A and 8B are diagrams of a table of the storage unit. FIG. 8A is a table of the storage unit for all processes, and FIG. 8B is a table of the storage unit for automatic control. The material testing apparatus is controlled by a controller and a host computer. However, FIG. 1 illustrates the material testing apparatus as a plurality of blocks without distinguishing between the controller and the host computer.

【0013】図1において、直径約20〜30mmの円
柱状の材料試験片1は、気密なチャンバー2内に収納さ
れている。また、材料試験片1を間に挟む状態で、固定
支持部3および可動支持部4が対向して配置されてい
る。この固定支持部3の先端部、可動支持部4の先端部
および材料試験片1の周囲を筒状のシール材5が覆って
いる。そして、固定支持部3には、材料試験片1に向か
って水を流す通水路6が、一方、可動支持部4には排水
路7が形成されている。可動支持部4は油圧式の圧縮用
アクチュエータ9により駆動されて移動する。この可動
支持部4の移動量すなわち圧縮用アクチュエータ9の駆
動部の変位量を、歪みデータとして圧縮用変位センサ1
1が検出している。また、圧縮用アクチュエータ9が材
料試験片1に加えている荷重Fを荷重センサ12が、荷
重データとして検出している。さらに、チャンバー2の
内部は、高圧ガスボンベやコンプレッサーなどで構成さ
れている増圧器17に、配管16を介して接続されてい
る。また、配管16にはシリンダ装置21が接続され、
このシリンダ装置21のピストン22は、周囲圧用の油
圧アクチュエータ23で駆動されている。ピストン22
の移動量すなわち周囲圧用アクチュエータ23の駆動部
の変位量を、周囲圧用変位センサ24が検出している。
さらに、配管16には、チャンバー2内の圧力である周
囲圧Pcを検出する周囲圧検出センサ26が取り付けら
れている。そして、固定支持部3の通水路6には、ポン
プ27からの吐出流路が接続されており、このポンプ2
7が稼働すると、水タンク28の水を吸い込んで、通水
路6に吐出している。ポンプ27の吐出圧は、水圧セン
サ29で検出されている。また、可動支持部4の排水路
7に流入した水は、水タンク28に戻っている。
In FIG. 1, a cylindrical material test piece 1 having a diameter of about 20 to 30 mm is housed in an airtight chamber 2. Further, the fixed support portion 3 and the movable support portion 4 are arranged to face each other with the material test piece 1 interposed therebetween. A cylindrical sealing material 5 covers the distal end of the fixed support 3, the distal end of the movable support 4, and the material test piece 1. A water passage 6 through which water flows toward the material test piece 1 is formed in the fixed support portion 3, and a drain passage 7 is formed in the movable support portion 4. The movable support 4 is driven and moved by a hydraulic compression actuator 9. The amount of movement of the movable support unit 4, that is, the amount of displacement of the drive unit of the compression actuator 9, is used as distortion data as the displacement sensor 1 for compression.
1 has detected. The load sensor 12 detects a load F applied to the material test piece 1 by the compression actuator 9 as load data. Further, the inside of the chamber 2 is connected via a pipe 16 to a pressure intensifier 17 composed of a high-pressure gas cylinder, a compressor, and the like. Further, a cylinder device 21 is connected to the pipe 16,
The piston 22 of the cylinder device 21 is driven by a hydraulic actuator 23 for ambient pressure. Piston 22
, That is, the displacement of the drive unit of the ambient pressure actuator 23 is detected by the ambient pressure displacement sensor 24.
Further, an ambient pressure detection sensor 26 that detects an ambient pressure Pc that is a pressure in the chamber 2 is attached to the pipe 16. The discharge passage from the pump 27 is connected to the water passage 6 of the fixed support portion 3.
When the 7 operates, the water in the water tank 28 is sucked and discharged to the water passage 6. The discharge pressure of the pump 27 is detected by a water pressure sensor 29. Further, the water that has flowed into the drainage channel 7 of the movable support portion 4 has returned to the water tank 28.

【0014】圧縮目標値発生部としての圧縮目標値発生
器31は、圧縮用制御目標入力信号Eiを加算部32に
出力している。また、圧縮用変位センサ11の検出信号
Daは、センサ用アンプ30で増幅されて加算部32に
出力されている。加算部32は、圧縮用制御目標入力信
号Eiから、圧縮用変位検出信号Daを減算して差信号
Erを算出し、この差信号Erを、アンプ33を介し
て、圧縮用アクチュエータ9のサーボバルブ34に出力
している。
A compression target value generator 31 serving as a compression target value generator outputs a compression control target input signal Ei to an adder 32. The detection signal Da of the compression displacement sensor 11 is amplified by the sensor amplifier 30 and output to the adding unit 32. The adder 32 calculates a difference signal Er by subtracting the compression displacement detection signal Da from the compression control target input signal Ei, and outputs the difference signal Er via the amplifier 33 to the servo valve of the compression actuator 9. 34.

【0015】周囲圧目標値発生部としての周囲圧目標値
発生器41は、周囲圧用制御目標入力信号Esを周囲圧
用加算部42に出力している。また、周囲圧用変位セン
サ24の出力信号Dsは、センサ用アンプ43で増幅さ
れ、変位制御用スイッチ45aを介して周囲圧用加算部
42に出力されている。さらに、周囲圧検出センサ26
の検出信号Dpは、センサ用アンプ44で増幅され、圧
力制御用スイッチ45bを介して周囲圧用加算部42に
出力されている。この両スイッチ45a,45bは、一
方がONの時には、他方はOFFである。そして、周囲
圧目標値発生器41には、荷重センサ12の検出信号E
fがセンサ用アンプ46を介して入力されているととも
に、周囲圧検出センサ26の検出信号Dpが入力されて
いる。また、周囲圧用加算部42の出力は、アンプ47
を介して、周囲圧用アクチュエータ23のサーボバルブ
48に入力されている。
An ambient pressure target value generator 41 as an ambient pressure target value generator outputs an ambient pressure control target input signal Es to an ambient pressure adder 42. The output signal Ds from the ambient pressure displacement sensor 24 is amplified by the sensor amplifier 43 and output to the ambient pressure adding unit 42 via the displacement control switch 45a. Further, the ambient pressure detection sensor 26
Is amplified by the sensor amplifier 44 and output to the ambient pressure addition unit 42 via the pressure control switch 45b. When one of the switches 45a and 45b is ON, the other is OFF. The detection signal E of the load sensor 12 is supplied to the ambient pressure target value generator 41.
f is input via the sensor amplifier 46, and the detection signal Dp of the ambient pressure detection sensor 26 is input. The output of the ambient pressure addition unit 42 is supplied to an amplifier 47.
Is input to the servo valve 48 of the actuator 23 for ambient pressure.

【0016】さらに、チャンバー2内のガスを加熱する
ヒーター51が設けられているとともに、チャンバー2
内のガスの温度を温度センサ52が検出している。そし
て、材料試験装置には、第2記憶部としての全工程用記
憶部56、および第1記憶部の自動制御時用記憶部57
が設けられ、各々、圧縮用変位センサ11の検出信号D
a、荷重センサ12の検出信号Ef、温度センサ52の
検出信号、周囲圧検出センサ26の検出信号Dpおよび
水圧センサ29の検出信号が、センサ用アンプ30,4
4,46,61,62を介して入力されている。この全
工程用記憶部56および自動制御時用記憶部57は、タ
イマー66の出力に基づいて前記各センサ11,12,
26,29,52の検出データなどをサンプリングして
記憶しているとともに、そのサンプリングの時間も記憶
している。全工程用記憶部56および自動制御時用記憶
部57は、RAMやハードディスクなどで構成され、デ
ータを図8に図示するようにテーブルの形式で、かつ、
互いに異なる場所(アドレス)に記憶しており、別ファ
イルとなっている。なお、全工程用記憶部56が記憶す
る項目と、自動制御時用記憶部57が記憶する項目とは
同じである。
Further, a heater 51 for heating the gas in the chamber 2 is provided.
A temperature sensor 52 detects the temperature of the gas inside the chamber. The material testing apparatus has a storage unit 56 for all processes as a second storage unit and a storage unit 57 for automatic control of the first storage unit.
And a detection signal D of the compression displacement sensor 11 is provided.
a, the detection signal Ef of the load sensor 12, the detection signal of the temperature sensor 52, the detection signal Dp of the ambient pressure detection sensor 26, and the detection signal of the water pressure sensor 29 are converted into sensor amplifiers 30 and 4
4, 46, 61, and 62. The storage unit 56 for all processes and the storage unit 57 for automatic control store the sensors 11, 12,
The detection data of 26, 29, and 52 are sampled and stored, and the sampling time is also stored. The storage unit 56 for all processes and the storage unit 57 for automatic control are configured by a RAM, a hard disk, or the like, and store data in the form of a table as shown in FIG.
They are stored in different locations (addresses), and are stored in different files. The items stored in the storage unit for all processes 56 and the items stored in the storage unit 57 for automatic control are the same.

【0017】この様に構成されている材料試験装置にお
いて、圧縮用アクチュエータ9を稼働させると、材料試
験片1に圧縮荷重Fが加わる。また、増圧器17でチャ
ンバー2内にアルゴンガスなどの不活性ガスを充填し、
チャンバー2内の圧力を大気圧よりも加圧して高圧と
し、材料試験片1に周囲から周囲圧Pcを加えることが
できる。この周囲圧Pcは、周囲圧用アクチュエータ2
3を稼働することにより調整することができる。この様
にして、図2に図示する様に、材料試験片1には、荷重
Fおよび周囲圧Pcが加わっている。そして、荷重Fの
荷重方向に垂直な面における材料試験片1の横断面積が
Aとすると、応力σfはF/Aとなる。
In the material testing apparatus having such a configuration, when the compression actuator 9 is operated, a compressive load F is applied to the material test piece 1. The chamber 2 is filled with an inert gas such as argon gas by the pressure intensifier 17,
The pressure in the chamber 2 is increased to a higher pressure than the atmospheric pressure, and an ambient pressure Pc can be applied to the material test piece 1 from the surroundings. This ambient pressure Pc is equal to the ambient pressure actuator 2
3 can be adjusted. Thus, as shown in FIG. 2, the load F and the ambient pressure Pc are applied to the material test piece 1. If the cross-sectional area of the material test piece 1 in a plane perpendicular to the load direction of the load F is A, the stress σf becomes F / A.

【0018】また、材料試験片1には、剪断に対する強
度が比較的低く大きな荷重Fが加わると剪断する断層面
などの剪断面bが形成されており、この剪断面bは、荷
重Fの荷重方向に対して角度θで傾斜している。なお、
図2において、符号σnは剪断面bに垂直に加わる応力
で、符号τは剪断面bに加わる剪断力である。そして、
力学的バランスは、下記1)式に示す通りである。 1)Pc=σn−(sinθ× sinθ) ×σf そして、地中では、応力σnは略一定で応力σfが増大
する(すなわち、剪断力τが増大する)ことにより、断
層面としての剪断面bが滑る現象が発生している。
Further, the material test piece 1 has a shear surface b such as a tomographic surface which is relatively low in shearing strength and shears when a large load F is applied. It is inclined at an angle θ to the direction. In addition,
In FIG. 2, the symbol σn is a stress applied perpendicular to the shear plane b, and the symbol τ is a shear force applied to the shear plane b. And
The mechanical balance is as shown in the following equation (1). 1) Pc = σn− (sinθ × sinθ) × σf In the ground, the stress σn is substantially constant and the stress σf increases (that is, the shearing force τ increases), so that the shear plane b as the fault plane b The phenomenon of slippage has occurred.

【0019】したがって、この材料試験装置では、地中
の現象を再現するために、荷重F(すなわちA×σf)
の増大に伴って、周囲圧用アクチュエータ23を作動し
て周囲圧Pcを低下させ、応力σnを略一定に維持して
いる(すなわち、初期応力σn0を維持している)。な
お、荷重Fが0の場合には、応力σnは周囲圧Pcと等
しくなっている。そして、(sinθ× sinθ) /Aは、材
料試験の前に確定しており、材料試験中は一定であるの
で、前もって計算させておく。この値は、材料試験中の
制御においては定数として処理される。
Therefore, in this material testing apparatus, in order to reproduce the underground phenomenon, the load F (ie, A × σf)
As the pressure increases, the ambient pressure actuator 23 is operated to lower the ambient pressure Pc, and the stress σn is maintained substantially constant (that is, the initial stress σn0 is maintained). When the load F is 0, the stress σn is equal to the ambient pressure Pc. Since (sin θ × sin θ) / A is determined before the material test and is constant during the material test, it is calculated in advance. This value is treated as a constant in the control during the material test.

【0020】ついで、材料試験のフローを図3および図
4のフローチャートに基づいて説明する。まず始めに、
ステップ1において、材料試験装置のメイン電源を入れ
る。すると、各種センサー11,12,26,29,5
2およびセンサ用アンプ30,44,46,61,62
が作動するとともに、その出力が、タイマー66の出力
に基づいて時間間隔ta毎に、サンプリングされて、全工
程用記憶部56に入力され、図8(a)に図示するよう
に、そのデータはサンプリング時間とともに記憶され
る。サンプリングの時間間隔taは操作者が指定すること
ができる。このサンプリング(以下、「第2サンプリン
グ」と呼ぶ)および記憶作動は材料試験の全工程におい
て継続的に行われる。なお、タイマー66はバッテリー
電源などにより駆動されており、メイン電源が切られて
も作動している。
Next, the flow of the material test will be described with reference to the flowcharts of FIGS. First of all,
In step 1, the main power supply of the material testing apparatus is turned on. Then, various sensors 11, 12, 26, 29, 5
2 and sensor amplifiers 30, 44, 46, 61, 62
Is activated, and its output is sampled at every time interval ta based on the output of the timer 66 and input to the storage unit 56 for all processes, and as shown in FIG. It is stored together with the sampling time. The sampling time interval ta can be specified by the operator. This sampling (hereinafter, referred to as “second sampling”) and the storing operation are continuously performed in all steps of the material test. The timer 66 is driven by a battery power supply or the like, and operates even when the main power supply is turned off.

【0021】ところで、初期状態においては、変位制御
用スイッチ45aがONであり、周囲圧目標値発生器4
1、周囲圧用加算部42、サーボバルブ48、周囲圧用
アクチュエータ23および周囲圧用変位センサ24など
で変位用フィードバック制御ループが構成されており、
周囲圧用加算部42は周囲圧用制御目標入力信号Esか
ら周囲圧用変位センサ24の出力信号Dsを引いてサー
ボバルブ48に出力している。そして、ステップ2にお
いて、ピストン22を中央位置にする中央位置信号を、
周囲圧目標値発生器41に設定する。すると、周囲圧目
標値発生器41は周囲圧用制御目標入力信号Esとして
目標位置信号を出力して、周囲圧用アクチュエータ23
のピストン22を中央位置にする。
In the initial state, the displacement control switch 45a is ON and the ambient pressure target value generator 4
1. A displacement feedback control loop is composed of the ambient pressure addition unit 42, the servo valve 48, the ambient pressure actuator 23, the ambient pressure displacement sensor 24, and the like.
The ambient pressure addition unit 42 subtracts the output signal Ds of the ambient pressure displacement sensor 24 from the ambient pressure control target input signal Es and outputs the result to the servo valve 48. Then, in step 2, a center position signal for setting the piston 22 to the center position is
It is set in the ambient pressure target value generator 41. Then, the ambient pressure target value generator 41 outputs a target position signal as the ambient pressure control target input signal Es, and outputs the ambient pressure actuator 23
Of the piston 22 to the center position.

【0022】ついで、ステップ3において、材料試験装
置のチャンバー2内に材料試験片1を入れて、圧縮用ア
クチュエータ9を手動操作で作動させ、固定支持部3と
可動支持部4とで材料試験片1を軽く挟んでセッティン
グする。
Next, in step 3, the material test piece 1 is put into the chamber 2 of the material test apparatus, and the compression actuator 9 is manually operated, and the fixed support portion 3 and the movable support portion 4 1 Set lightly.

【0023】材料試験片1のセッティング後、ステップ
4において、増圧器17を手動操作で稼働させ、チャン
バー2内の圧力すなわち周囲圧Pcを増大させ、材料試
験の本工程の開始時の圧力(たとえば、最大400MP
a)まで増圧させる。ステップ5において、ヒーター5
1を稼働させて、チャンバー2内の温度を、材料試験の
本工程の開始時の温度(たとえば、約700℃)まで手
動操作で上昇させる。この際には、増圧器17を作動さ
せて、周囲圧Pcは、略一定に維持する。ついで、ステ
ップ6において、ポンプ27を稼働して、通水路6を介
して材料試験片1に通水する。そして、材料試験片1に
通水する水圧を手動操作で多少変動させ、全体のバラン
スが如何に変化するかの試験を行う。その後、周囲圧P
cおよびチャンバー2内の温度を、材料試験の本工程の
開始時の状態に調整する。ステップ7において、圧縮用
変位センサ11をリセットし、その現在位置を0にセッ
トする。これで、材料試験の本工程の準備すなわち前処
理工程が完了する。これまでのステップ1からステップ
7までの工程が材料試験の前処理工程で、材料試験片1
のセッティングが手動操作または半自動で行われる。こ
の様にして、チャンバー2内の温度、および周囲圧Pc
が、所定の値になると、アプリケーションプログラムを
作動させて、材料試験の本工程を以下のステップに示す
様に自動的に行う。
After setting the material test piece 1, in step 4, the pressure intensifier 17 is operated manually to increase the pressure in the chamber 2, that is, the ambient pressure Pc, and to increase the pressure at the start of the main process of the material test (for example, , Up to 400MP
Increase pressure to a). In step 5, the heater 5
1 is operated, and the temperature in the chamber 2 is manually increased to the temperature at the start of this step of the material test (for example, about 700 ° C.). At this time, the pressure intensifier 17 is operated to maintain the ambient pressure Pc substantially constant. Next, in step 6, the pump 27 is operated to flow water to the material test piece 1 through the water passage 6. Then, the water pressure passing through the material test piece 1 is slightly changed by a manual operation, and a test is performed to see how the overall balance changes. Then, the ambient pressure P
c and the temperature in the chamber 2 are adjusted to the state at the start of this step of the material test. In step 7, the compression displacement sensor 11 is reset and its current position is set to zero. This completes the preparation for the main step of the material test, that is, the pretreatment step. The steps from step 1 to step 7 are the pre-processing steps of the material test.
Is set manually or semi-automatically. Thus, the temperature in the chamber 2 and the ambient pressure Pc
When the value reaches a predetermined value, the application program is activated to automatically perform the main step of the material test as shown in the following steps.

【0024】ステップ8において、周囲圧検出センサ2
6は、初期応力σn0である周囲圧Pcを初期値として検
出し検出信号を周囲圧目標値発生器41に入力する。周
囲圧目標値発生器41には記憶部が設けられており、こ
の周囲圧Pcの初期値を記憶する。また、変位制御用ス
イッチ45aをOFFするとともに、圧力制御用スイッ
チ45bをONして、周囲圧目標値発生器41、周囲圧
用加算部42、サーボバルブ48、周囲圧用アクチュエ
ータ23および周囲圧検出センサ26などで圧力用フィ
ードバック制御ループを構成しており、周囲圧用加算部
42は周囲圧用制御目標入力信号Esから周囲圧検出セ
ンサ26の検出信号Dpを引いてサーボバルブ48に出
力している。そして、周囲圧目標値発生器41は、周囲
圧用制御目標入力信号Esとして目標圧力信号である周
囲圧Pcの初期値を出力して、周囲圧Pcを初期値すな
わち初期応力σn0に維持する。
In step 8, the ambient pressure detection sensor 2
6 detects the ambient pressure Pc, which is the initial stress σn0, as an initial value, and inputs a detection signal to the ambient pressure target value generator 41. The storage unit is provided in the ambient pressure target value generator 41 and stores the initial value of the ambient pressure Pc. In addition, the displacement control switch 45a is turned off and the pressure control switch 45b is turned on, so that the ambient pressure target value generator 41, the ambient pressure adding unit 42, the servo valve 48, the ambient pressure actuator 23, and the ambient pressure detection sensor 26 A feedback control loop for pressure is constituted by the above, and the adding section 42 for ambient pressure subtracts the detection signal Dp of the ambient pressure detection sensor 26 from the control target input signal Es for ambient pressure and outputs it to the servo valve 48. Then, the ambient pressure target value generator 41 outputs the initial value of the ambient pressure Pc which is the target pressure signal as the ambient pressure control target input signal Es, and maintains the ambient pressure Pc at the initial value, that is, the initial stress σn0.

【0025】また、ステップ9において、各種センサー
11,12,26,29,52の出力が、タイマー66
の出力に基づいて時間間隔tb毎に、サンプリングされ
て、自動制御時用記憶部57に入力され、図8(b)に
図示するように、そのデータはサンプリング時間ととも
に記憶される。このサンプリング(以下、「第1サンプ
リング」と呼ぶ)および記憶作動は、アプリケーション
プログラムで作動しており、材料試験の本工程において
継続的に行われるが、他の工程においては行われていな
い。そして、第1サンプリングの時間間隔tbは、前記第
2サンプリングの時間間隔taよりも短くなっている。
In step 9, the outputs of the various sensors 11, 12, 26, 29, 52
Is sampled at each time interval tb based on the output of the control unit, and is input to the automatic control storage unit 57, and as shown in FIG. 8B, the data is stored together with the sampling time. The sampling (hereinafter, referred to as “first sampling”) and the storage operation are performed by the application program, and are continuously performed in this step of the material test, but are not performed in other steps. The time interval tb of the first sampling is shorter than the time interval ta of the second sampling.

【0026】ついで、ステップ10において、圧縮目標
値発生器31が一定速度で増大する目標変位信号を出力
し、圧縮用アクチュエータ9が図5(c)に図示する様
に稼働して、可動支持部4を材料試験片1に向かって一
定速度で移動させ、材料試験片1に圧縮荷重Fを負荷す
る。この荷重Fは図6(a)に図示する様に漸次増大す
る。
Next, in step 10, the compression target value generator 31 outputs a target displacement signal that increases at a constant speed, and the compression actuator 9 operates as shown in FIG. 4 is moved at a constant speed toward the material test piece 1, and a compressive load F is applied to the material test piece 1. This load F gradually increases as shown in FIG.

【0027】ステップ11において、この材料試験片1
に加わる荷重Fを荷重センサ12が検出し、周囲圧目標
値発生器41に出力している。そして、周囲圧目標値発
生器41は、前記1)式により、目標値である周囲圧P
cを求めている。すなわち、定数である(sinθ× sin
θ) /Aに荷重Fを掛けた値を、記憶している周囲圧P
cの初期値である初期応力σn0から引いて、周囲圧Pc
の目標値を決定し、ステップ12に行く。ステップ12
において、周囲圧目標値発生器41は、この周囲圧Pc
の目標値を周囲圧用加算部42に出力し、周囲圧用アク
チュエータ23を図5(b)に図示する様に稼働して、
チャンバー2内の圧力をこの周囲圧Pcの目標値にして
いる。ついで、ステップ13において、材料試験の本工
程が終了したか否かを判断し、終了している場合にはス
テップ14に行く。また、終了していない場合にはステ
ップ10に戻り、ステップ10からステップ13まで
を、たとえば0.2秒間隔で繰り返している。そして、
チャンバー2内の圧力は荷重Fの増大に比例して、図5
(a)に図示する様に段々と低下している。また、図6
(b)に図示する様に、剪断面bに垂直な応力σnは略
一定に維持されている。この様にして、材料試験は行わ
れており、材料試験片1が剪断面bに沿って剪断して破
断し、荷重センサ12の出力が略0になるまで行うこと
も可能であるし、材料試験片1を破断させないで途中で
停止することも可能である。そして、本工程が終了する
と、前述のように、ステップ13からステップ14に行
く。
In step 11, the material test piece 1
The load sensor 12 detects the load F applied to the target and outputs it to the target ambient pressure generator 41. The ambient pressure target value generator 41 calculates the ambient pressure P, which is the target value, according to the above equation (1).
Seeking c. That is, it is a constant (sin θ × sin
θ) / A multiplied by load F is stored as ambient pressure P
Subtracting from the initial stress σn0 which is the initial value of c, the ambient pressure Pc
Is determined, and the routine proceeds to step 12. Step 12
, The ambient pressure target value generator 41 calculates the ambient pressure Pc
Is output to the ambient pressure addition unit 42, and the ambient pressure actuator 23 is operated as shown in FIG.
The pressure in the chamber 2 is set to the target value of the ambient pressure Pc. Next, in step 13, it is determined whether or not the present step of the material test has been completed. If the processing has not been completed, the process returns to step 10, and steps 10 to 13 are repeated at intervals of, for example, 0.2 seconds. And
The pressure in the chamber 2 increases in proportion to the increase in the load F, as shown in FIG.
As shown in FIG. FIG.
As shown in (b), the stress σn perpendicular to the shear plane b is maintained substantially constant. In this manner, the material test is performed, and the material test piece 1 can be sheared along the shear plane b to break, and the test can be performed until the output of the load sensor 12 becomes substantially zero. It is also possible to stop on the way without breaking the test piece 1. Then, when this step is completed, the process goes from step 13 to step 14 as described above.

【0028】この様にして、材料試験の本工程が終了す
ると、アプリケーションプログラムの作動が終了し、つ
いで、手動操作で材料試験装置から材料試験片1を取り
外す後処理工程がステップ14で行われる。
When the main step of the material test is completed in this way, the operation of the application program is terminated, and then a post-processing step of removing the material test piece 1 from the material test apparatus by manual operation is performed in step 14.

【0029】ステップ14において、ヒーター51、ポ
ンプ27、周囲圧用アクチュエータ23および増圧器1
7を停止し、チャンバー2内の温度を略外気温と同じに
するとともに、通水路6への通水を止め、また、周囲圧
Pcを大気圧にする。そして、圧縮用アクチュエータ9
を手動操作または半自動で操作しながら、材料試験片1
を取り外す。取り外した材料試験片1は適宜保管してお
く。これで、材料試験は終了する。
In step 14, the heater 51, the pump 27, the ambient pressure actuator 23 and the intensifier 1
7, the temperature inside the chamber 2 is made substantially equal to the outside air temperature, the water flow to the water passage 6 is stopped, and the ambient pressure Pc is brought to the atmospheric pressure. And the compression actuator 9
While manually or semi-automatically operating the material test piece 1
Remove. The removed material test piece 1 is appropriately stored. This concludes the material test.

【0030】そして、材料試験の終了後、全工程用記憶
部56に記憶された種々のデータをモニターなどに表示
させて検討する。この全工程用記憶部56には、データ
としてサンプリング時間が記憶されているので、材料試
験を操作した時間と対比しながら検討することができ
る。検討する内容としては種々あるが、たとえば、ステ
ップ6において、手動操作で行った通水の水圧変動の影
響試験を考察する。また、前処理工程のステップ4から
ステップ7までの過程を検討して、次回材料試験におい
て、前処理工程から円滑に本工程に移行できる様にす
る。
After the completion of the material test, various data stored in the storage unit for all processes 56 are displayed on a monitor or the like and examined. Since the sampling time is stored as data in the storage unit for all processes 56, the sampling time can be examined in comparison with the operation time of the material test. Although there are various contents to be examined, for example, in Step 6, an influence test of the water pressure fluctuation of the passing water performed manually is considered. In addition, the process from step 4 to step 7 of the pretreatment process is examined so that the process can be smoothly shifted from the pretreatment process to the present process in the next material test.

【0031】前述の様に、この実施の形態では、剪断面
bに垂直な応力σnを略一定に維持して、荷重Fを増大
することができるので、実際の地中の状態を略再現する
ことができる。また、前処理工程、本工程および後処理
工程の全工程において、データを継続してサンプリング
しているので、前処理工程から本工程への移行時や、本
工程から後処理工程への移行時の状態を、材料試験終了
後、容易に検討することができる。その結果、この検討
結果を踏まえて、次回の材料試験を円滑に行うことがで
きる。特に、この実施の形態の前処理工程においては、
材料試験片をチャンバー内にセッティングし、チャンバ
ー内の圧力を上昇させるとともに、チャンバー内の圧力
上昇後、通水しているので、この通水時に、チャンバー
内の圧力バランスなどが崩れることがあり、本工程に移
行するのに時間などを要することがある。しかしなが
ら、前処理工程および本工程において、チャンバー内の
圧力、水圧、荷重データや歪みデータなどの種々のデー
タを継続してサンプリングしているので、このデータを
検討して、次回の材料試験を前回よりも円滑に行うこと
ができる。
As described above, in this embodiment, the load F can be increased while maintaining the stress .sigma.n perpendicular to the shear plane b substantially constant, so that the actual underground state is substantially reproduced. be able to. In addition, since data is continuously sampled in all steps of the pre-processing step, the main step and the post-processing step, the data is transferred from the pre-processing step to the main step or from the main step to the post-processing step. Can be easily examined after the end of the material test. As a result, the next material test can be performed smoothly based on the result of the examination. In particular, in the pretreatment step of this embodiment,
The material test piece is set in the chamber, and the pressure in the chamber is increased, and water is passed after the pressure in the chamber is increased.Therefore, when the water is passed, the pressure balance in the chamber may be lost. It may take time to move to this step. However, since various data such as pressure, water pressure, load data and strain data in the chamber are continuously sampled in the pretreatment process and this process, this data is examined and the next material test is performed in the previous process. It can be performed more smoothly.

【0032】なお、材料試験はチャンバーを用いる試験
に限らず、他の材料試験でも可能である。第2サンプリ
ングでサンプリングされるデータや、第2記憶部に記憶
されるデータは、少なくとも、荷重データ、歪みデータ
およびサンプリング時間が含まれていれば、他のデータ
たとえば、チャンバー内の圧力データなどを含めること
も可能である。第2サンプリングや第2記憶部は、少な
くとも、前処理工程および本工程の両者におけるデータ
を対象としていれば良く、後処理工程のデータは対象と
することも可能であるし、対象外とすることも可能であ
る。
The material test is not limited to a test using a chamber, but can be another material test. The data sampled in the second sampling and the data stored in the second storage unit include at least load data, strain data, and other data such as pressure data in the chamber if the sampling time is included. It is also possible to include. The second sampling and the second storage section only need to target data in at least both the pre-processing step and the present step, and the data in the post-processing step can be set as a target or not. Is also possible.

【0033】サンプリングの時間間隔は、前もって設定
されているが、前処理工程や本工程の全期間にわたって
一定である必要は必ずしもなく、途中で時間間隔が変更
されることも可能である。サンプリングされる材料試験
片に加わる荷重データおよび歪みデータなどは、材料試
験片に直接センサーを取り付けて検出することも可能で
あるし、センサーを圧縮用アクチュエータなどに取り付
けて間接的に検出することも可能である。さらに、デー
タを記憶する記憶部は、材料試験装置本体の外部に設け
ることも可能である。
Although the sampling time interval is set in advance, it is not necessarily required to be constant over the entire period of the pre-processing step and the main step, and the time interval can be changed in the middle. Load data and strain data applied to the sampled material specimen can be detected by attaching a sensor directly to the material specimen, or indirectly by attaching the sensor to a compression actuator or the like. It is possible. Further, the storage unit for storing data can be provided outside the main body of the material testing apparatus.

【0034】また、第1記憶部で記憶する項目と、第2
記憶部で記憶する項目とは、実施の形態においては同じ
であるが、異ならしめることも可能である。同様に、第
1サンプリングでサンプリングする項目と、第2サンプ
リングでサンプリングする項目とは、実施の形態におい
ては同じであるが、異ならしめることも可能である。た
だし、少なくとも、荷重データ、歪みデータおよびサン
プリング時間は、サンプリングしたり、また、記憶した
りする必要がある。
The items stored in the first storage section and the second
The items stored in the storage unit are the same in the embodiment, but can be different. Similarly, the items sampled by the first sampling and the items sampled by the second sampling are the same in the embodiment, but may be different. However, at least the load data, the strain data, and the sampling time need to be sampled and stored.

【0035】さらに、全工程用記憶部56で記憶された
データを外部出力しておくと、材料試験が停止している
際にも、試験過程の現象を考察することができる。ま
た、実施の形態においては、第2サンプリングの時間間
隔taは、第1サンプリングの時間間隔tbよりも長くなっ
ているが、同じ時間間隔taとすることも可能である。た
だし、記憶容量の関係で、第2サンプリングの時間間隔
を、第1サンプリングの時間間隔tbよりも長くすること
が好ましい。
Further, when the data stored in the storage unit for all processes 56 is output to the outside, a phenomenon in the test process can be considered even when the material test is stopped. Further, in the embodiment, the time interval ta of the second sampling is longer than the time interval tb of the first sampling, but may be the same time interval ta. However, due to the storage capacity, it is preferable that the time interval of the second sampling be longer than the time interval tb of the first sampling.

【0036】[0036]

【発明の効果】本発明によれば、自動制御により行われ
る本工程では、第1サンプリングが行われて第1記憶部
に記憶されているとともに、この第1サンプリングとは
別に、前処理工程および本工程において、第2サンプリ
ングが行われて第2記憶部に記憶されている。したがっ
て、材料試験終了後などに、第2サンプリングのデータ
を観察することにより、前処理工程から本工程までの現
象を継続して考察することができる。その結果、次回材
料試験の前処理工程から本工程への移行を円滑に行うこ
とができるとともに、前処理工程で行った付加的な実験
のデータも簡単に考察することができる。
According to the present invention, in this step performed by the automatic control, the first sampling is performed and stored in the first storage unit. In this step, the second sampling is performed and stored in the second storage unit. Therefore, by observing the data of the second sampling after the end of the material test or the like, the phenomenon from the pretreatment step to the present step can be continuously considered. As a result, the transition from the pretreatment step of the next material test to this step can be smoothly performed, and data of additional experiments performed in the pretreatment step can be easily considered.

【0037】また、第2サンプリングを前処理工程およ
び本工程に続いて、後処理工程まで行うと、材料試験の
全工程の現象を簡単に継続して考察することができる。
Further, when the second sampling is performed up to the post-processing step after the pre-processing step and the main step, the phenomena of all the steps of the material test can be easily and continuously considered.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は本発明の材料試験装置の実施の一形態の
構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of a material testing apparatus according to the present invention.

【図2】図2は材料試験片に加わる応力および剪断力を
説明する概略図である。
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating stress and shear force applied to a material test piece.

【図3】図3は材料試験のフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart of a material test.

【図4】図4は図3の材料試験のフローチャートの続き
である。
FIG. 4 is a continuation of the material test flowchart of FIG. 3;

【図5】図5は材料試験のタイムチャートで、(a)が
周囲圧のタイムチャート、(b)が周囲圧用アクチュエ
ータの変位のタイムチャート、(c)が圧縮用変位セン
サの出力のタイムチャートである。
5A and 5B are time charts of a material test, wherein FIG. 5A is a time chart of ambient pressure, FIG. 5B is a time chart of displacement of an actuator for ambient pressure, and FIG. 5C is a time chart of output of a displacement sensor for compression. It is.

【図6】図6は材料試験のタイムチャートで、(a)が
荷重センサの検出値のタイムチャート、(b)が剪断面
に垂直な応力σnのタイムチャートである。
FIGS. 6A and 6B are time charts of a material test, wherein FIG. 6A is a time chart of a detection value of a load sensor, and FIG. 6B is a time chart of a stress σn perpendicular to a shear plane.

【図7】図7は材料試験のサンプリングのタイミングを
示すタイムチャートである。
FIG. 7 is a time chart showing sampling timing of a material test.

【図8】図8は記憶部のテーブルの図で、(a)が全工
程用記憶部のテーブル、(b)が自動制御時用記憶部の
テーブルである。
8A and 8B are diagrams of a table of a storage unit, where FIG. 8A is a table of a storage unit for all processes, and FIG. 8B is a table of a storage unit for automatic control.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 材料試験片 2 チャンバー 56 全工程用記憶部(第2記憶部) 57 自動制御時用記憶部(第1記憶部) Reference Signs List 1 material test piece 2 chamber 56 storage unit for all processes (second storage unit) 57 storage unit for automatic control (first storage unit)

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 材料試験片に目標負荷を自動制御により
かける本工程と、この本工程より前の前処理工程と、前
記本工程より後の後処理工程とからなる材料試験を行う
材料試験装置におけるデータサンプル方法であって、 前記本工程において、少なくとも、材料試験片に加わる
荷重データおよび歪みデータをサンプリングして、この
荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を記憶
する第1サンプリングと、 この第1サンプリングとは別に、前処理工程および本工
程において、少なくとも、材料試験片に加わる荷重デー
タおよび歪みデータをサンプリングして、この荷重デー
タ、歪みデータおよびサンプリング時間を記憶する第2
サンプリングとを行っていることを特徴とする材料試験
装置におけるデータサンプル方法。
1. A material test apparatus for performing a material test including a main step of automatically applying a target load to a material test piece, a pre-processing step before the main step, and a post-processing step after the main step. A data sampling method, wherein at least the load data and the strain data applied to the material test specimen are sampled in the present step, and the load data, the strain data and the sampling time are stored; Separately from the sampling, in the pre-processing step and the present step, at least load data and strain data applied to the material test piece are sampled, and the load data, strain data and the sampling time are stored.
A data sampling method in a material testing apparatus, wherein sampling is performed.
【請求項2】 前記第2サンプリングが、前処理工程お
よび本工程に続いて後処理工程においても行われている
ことを特徴とする請求項1記載の材料試験装置における
データサンプル方法。
2. The data sampling method according to claim 1, wherein the second sampling is also performed in a post-processing step following the pre-processing step and the main step.
【請求項3】 前記前処理工程および後処理工程が、手
動操作で行われていることを特徴とする請求項1または
2記載の材料試験装置におけるデータサンプル方法。
3. The data sampling method in a material testing apparatus according to claim 1, wherein the pre-processing step and the post-processing step are performed manually.
【請求項4】 材料試験片をチャンバー内にセッティン
グし、チャンバー内の圧力を上昇させる前処理工程と、
前処理工程でセッティングされた材料試験片に目標負荷
を自動的にかける本工程と、本工程の終了後、材料試験
片を取り外す後処理工程とを有する材料試験を行う材料
試験装置におけるデータサンプル方法であって、 前記本工程において、少なくとも、材料試験片に加わる
荷重データおよび歪みデータをサンプリングして、この
荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を記憶
する第1サンプリングと、 この第1サンプリングとは別に、前処理工程および本工
程において、少なくとも、材料試験片に加わる荷重デー
タおよび歪みデータをサンプリングして、この荷重デー
タ、歪みデータおよびサンプリング時間を記憶する第2
サンプリングとを行っていることを特徴とする材料試験
装置におけるデータサンプル方法。
4. A pretreatment step of setting a material test piece in a chamber and increasing a pressure in the chamber;
A data sampling method for a material testing apparatus for performing a material test, comprising: a main step of automatically applying a target load to a material test piece set in a pre-processing step; and a post-processing step of removing the material test piece after completion of the main processing step. In this step, at least load data and strain data applied to the material test piece are sampled, and the load data, strain data and sampling time are stored, and a first sampling is separately performed. In the pre-processing step and the present step, at least the load data and the strain data applied to the material test piece are sampled, and the load data, the strain data and the sampling time are stored.
A data sampling method in a material testing apparatus, wherein sampling is performed.
【請求項5】 材料試験片に目標負荷を自動制御により
かける本工程と、この本工程より前の前処理工程と、前
記本工程より後の後処理工程とからなる材料試験を行う
材料試験装置において、 前記本工程においてサンプリングされた材料試験片に加
わる荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を
少なくとも記憶する第1記憶部、 および、この第1記憶部とは別に、前記前処理工程およ
び本工程においてサンプリングされた材料試験片に加わ
る荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を少
なくとも記憶する第2記憶部を備えていることを特徴と
する材料試験装置。
5. A material testing apparatus for performing a material test including a main step of automatically applying a target load to a material test piece, a pre-processing step before the main step, and a post-processing step after the main step. In the first storage unit that stores at least load data, strain data, and sampling time applied to the material test piece sampled in the main process, and separately from the first storage unit, A material testing apparatus comprising: a second storage unit that stores at least load data, strain data, and sampling time applied to a sampled material test piece.
【請求項6】 前記第2記憶部が、前処理工程および本
工程に続いて後処理工程においてサンプリングされた材
料試験片に加わる荷重データ、歪みデータおよびサンプ
リング時間を少なくとも記憶していることを特徴とする
請求項5記載の材料試験装置。
6. The method according to claim 6, wherein the second storage unit stores at least load data, strain data, and sampling time applied to the material test specimen sampled in the pre-processing step and the post-processing step following this step. The material testing apparatus according to claim 5, wherein
【請求項7】 材料試験片をチャンバー内にセッティン
グし、チャンバー内の圧力を上昇させる前処理工程と、
前処理工程でセッティングされた材料試験片に目標負荷
を自動的にかける本工程と、本工程の終了後、材料試験
片を取り外す後処理工程とを有する材料試験を行う材料
試験装置において、 前記本工程においてサンプリングされた材料試験片に加
わる荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を
少なくとも記憶する第1記憶部、 および、この第1記憶部とは別に、前記前処理工程およ
び本工程においてサンプリングされた材料試験片に加わ
る荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を少
なくとも記憶する第2記憶部を備えていることを特徴と
する材料試験装置。
7. A pretreatment step of setting a material test piece in a chamber and increasing a pressure in the chamber;
In a material testing apparatus for performing a material test, which includes a main step of automatically applying a target load to the material test piece set in the preprocessing step and a post-processing step of removing the material test piece after completion of the main step, A first storage unit that stores at least load data, strain data, and a sampling time applied to the material test piece sampled in the process, and separately from the first storage unit, the material sampled in the pretreatment process and the main process. A material testing apparatus, comprising: a second storage unit that stores at least load data, strain data, and sampling time applied to a test piece.
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