JP2001066530A - Laser marking device and its working method - Google Patents

Laser marking device and its working method

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JP2001066530A
JP2001066530A JP24103399A JP24103399A JP2001066530A JP 2001066530 A JP2001066530 A JP 2001066530A JP 24103399 A JP24103399 A JP 24103399A JP 24103399 A JP24103399 A JP 24103399A JP 2001066530 A JP2001066530 A JP 2001066530A
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laser
marking
galvanometer
emitted
beams
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美充 馬場
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a marking data device and its working method by which good-quality marking whose working depth is small and where soot is made little is easily worked at high speed, for example, in the marking for an IC package, etc. SOLUTION: In this laser marking device and its working method, marking is performed so as to simultaneously scan a worked surface by arranging plural thin laser beams to line up in series by a laser divider 4 and external switches 5 and 6 based on specified image data previously recorded in a CPU 1, and individually outputting and controlling plurally divided thin laser beams while scanning in a direction orthogonal to the line of the laser beams by galvanometers A8 and B9 and an fθ lens 10 with the N-laser beams scanning.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザマーキング
装置に関し、より詳細には、レーザ発振器から出射され
る複数に分割されたレーザビームで、レーザマーキング
を容易に、且つ高速に加工することができるレーザマー
キング装置及びその加工方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser marking device, and more particularly to a laser marking device capable of processing laser marking easily and at high speed with a plurality of divided laser beams emitted from a laser oscillator. The present invention relates to a laser marking device and a processing method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種のマーキング装置はICパ
ッケージの表面付近で集光させたレーザ光を走査してI
Cパッケージの表面に、例えば、ICの製品名、ロット
No. やその会社の商標やロゴマーク等をマーキングする
のに使用されている。
2. Description of the Related Art Heretofore, this type of marking device scans a laser beam focused near the surface of an IC package to scan the IC package.
On the surface of C package, for example, IC product name, lot
It is used to mark No. and trademarks and logos of the company.

【0003】例えば、特開平5−146887号公報に
は、2軸のガルバノメータを用いレーザ光を走査してマ
ーキングするマーキング装置が記載されている。
For example, Japanese Patent Laying-Open No. 5-146887 discloses a marking device that performs marking by scanning a laser beam using a two-axis galvanometer.

【0004】すなわち、図3に示す如く、その提案され
ているマーキング装置において、CPU22はマーキン
グのためのデータ作成と後述する各ユニットの制御を行
う。
That is, as shown in FIG. 3, in the proposed marking device, the CPU 22 creates data for marking and controls each unit described later.

【0005】また、レーザ発振器23内には、Qスイッ
チ素子24が内蔵され発振器内に発生するレーザの抑制
又はその抑制を解除し、レーザ光の出力を停止したり周
期的にレーザをON/OFFさせてレーザパルスを発生
させる。
The laser oscillator 23 has a built-in Q-switch element 24 for suppressing or canceling the suppression of the laser generated in the oscillator, and stopping the output of the laser light or periodically turning on / off the laser. Then, a laser pulse is generated.

【0006】レーザ光を反射するミラーが取り付けられ
た2つのガルバノメータA25,B26はレーザ発振器
23から出射されたレーザ光を走査する。また、これら
のガルバノメータより走査されるレーザ光はfθレンズ
27を介して、加工面28に集光・走査する。
The two galvanometers A 25 and B 26 provided with mirrors for reflecting the laser light scan the laser light emitted from the laser oscillator 23. The laser beam scanned by these galvanometers is condensed and scanned on the processing surface 28 via the fθ lens 27.

【0007】すなわち、図3,図4を参照すると、この
ようなレーザマーキング装置で加工面にレーザマーキン
グを加工せうに際しては、CPU22にてCADなどの
ソフトウェアを利用して作成したマーキングデータ29
のようなデータを介してマーキングをすることになる。
More specifically, referring to FIGS. 3 and 4, when laser marking is performed on a processing surface with such a laser marking device, the marking data 29 created by the CPU 22 using software such as CAD.
Marking is performed through data such as

【0008】マーキング部30(実線部)で示すような
線を描く部分では、Qスイッチ素子24を制御し、一定
の周期でレーザパルスを出射するとともに、レーザ光を
反射するミラーが取り付けられた2つのガルバノメータ
25,26で、一定の周期で出力されたレーザ光が加工
面28の位置でマーキング部30のような軌跡をたど
り、且つ、出射されたレーザ光が加工面28の位置で一
定の速度で移動するように制御を行う。
In a portion where a line is drawn as indicated by a marking portion 30 (solid line portion), a mirror for controlling the Q switch element 24 to emit a laser pulse at a constant cycle and to reflect a laser beam is attached. With the two galvanometers 25 and 26, the laser light output at a constant cycle follows a trajectory like the marking portion 30 at the position of the processing surface 28, and the emitted laser light has a constant speed at the position of the processing surface 28. Is controlled to move with.

【0009】また、移動部31(点線部)で示すような
線を描かない部分では、Qスイッチ素子24によりレー
ザ光を停止した状態で、2つのガルバノメータ25,2
6を高速に動作させ、レーザ光を出射した時の照射位置
を次のマーキング開始位置に移動させる。Qスイッチ素
子に出力制御され、ガルバノメータ25,26で走査さ
れ、fθレンズ27を通り集光されたスポット径が、例
えば、50〜300μmレーザパルスで加工面28に置
かれたICパッケージに照射されて、図4の従来マーキ
ング状態33のようなマーキングが得られる。
In a portion where no line is drawn as shown by the moving portion 31 (dotted line portion), the two galvanometers 25 and 2 are stopped while the laser light is stopped by the Q switch element 24.
6 is operated at high speed, and the irradiation position when the laser beam is emitted is moved to the next marking start position. The output of the Q switch element is controlled, the spot diameter scanned by the galvanometers 25 and 26, and condensed through the fθ lens 27 is applied to the IC package placed on the processing surface 28 by, for example, a laser pulse of 50 to 300 μm. 4, a marking like the conventional marking state 33 of FIG. 4 is obtained.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】以上のような状況にお
いて、既に上述する如く、従来のマーキング装置におい
ては、図4に示す如くのマーキングデータ29のよう
に、レーザ走査するときの方向や位置の情報をデータ化
したベクトルデータに基づいてレーザ光を走査させる。
すなわち、筆で図や文字を書く要領でマーキングを行う
ものである。
In the above situation, as described above, in the conventional marking apparatus, the direction and the position of the laser scanning as shown in the marking data 29 as shown in FIG. A laser beam is scanned based on vector data obtained by converting information into data.
That is, marking is performed in the manner of drawing figures and characters with a brush.

【0011】このようなマーキング方法では、図4に示
す鋭角交差部32のように線が鋭角に交わる部分では線
が途切れて見えないようにレーザパルスを重ねあわせて
マーキングしなければならず[図4(b)参照]、交差
部35のようにレーザパルスが重なり他の部分より多く
レーザが照射される部分がでてくるためにマーキングの
加工深さが深くなってしまう問題があった。
In such a marking method, the laser pulse must be superimposed so that the line does not appear broken at a portion where the line intersects at an acute angle, such as an acute intersection 32 shown in FIG. 4 (b)], there is a problem that the processing depth of the marking becomes deeper because the laser pulse overlaps and the portion irradiated with the laser more than the other portions appears like the intersection 35.

【0012】また、1度目のレーザ走査によりカーボン
の除去されたICパッケージの表面部の樹脂が2度目の
レーザ走査により燃えて煤が発生し、その煤がICパッ
ケージの表面に付着する問題があった。
In addition, the resin on the surface of the IC package from which carbon has been removed by the first laser scanning burns by the second laser scanning to generate soot, and the soot adheres to the surface of the IC package. Was.

【0013】イメージスキャナから読み込んだ、例えば
会社の商標などの図柄やグラフィカルユーザインターフ
ェス環境を持ったオペレーティング(ウィンドゥズ)な
どのフォントをマーキングするためにイメージデータ編
集ソフトウェアで作成したビットマップ形式などのドッ
トイメージのデータをマーキングに利用しようとした場
合、従来のマーキング装置では、図柄の輪郭を自動的に
抽出しベクトル化するソフトウェアを利用して作成され
たDXFデータのファイルなどのベクトル形式のデータ
をCAD(Computer Aided Design)に取り込み、ディスプ
レイに表示された輪郭のデータを人の手作業で再度トレ
ースし、既に上述する従来マーキングデータ29[図4
(a)参照]のようなベクトルデータを生成していたた
めにマーキングデータを作成するのに手間がかかった。
[0013] A dot, such as a bitmap format, created by image data editing software for marking a pattern such as a trademark of a company or a font such as an operating system having a graphical user interface environment (Windows) read from an image scanner. When attempting to use image data for marking, conventional marking devices convert vector-format data such as DXF data files created using software that automatically extracts and vectorizes the contours of the design into CAD. (Computer Aided Design), the contour data displayed on the display is manually traced again, and the conventional marking data 29 [FIG.
(See (a)), it took time to create the marking data because the vector data as shown in FIG.

【0014】また、塗りつぶしが必要な図柄や太い線幅
の文字をマーキングする場合には、CADなどを利用し
て、図5(a)に示す如くの太線文字マーキングデータ
A39のような2本の線から成るベクトル形式のデータ
や、図5(b)に示す如くの太線文字マーキングデータ
B40ような複数の輪郭のデータから成るベクトル形式
のデータを作成してマーキングしていたため、このよう
なマーキングデータ作成には、著しく手間を要すことに
なる。
When marking a pattern that needs to be painted or a character having a thick line width, two lines such as a thick line character marking data A39 as shown in FIG. Since vector-format data composed of lines and data of a plurality of contours such as thick-line character marking data B40 as shown in FIG. 5B are created and marked, such marking data is used. It takes a lot of time to create.

【0015】また、図6(b)に示す太線マーキングイ
メージ44のように、線幅を太くするためにレーザのビ
ーム径を大きくする方法もあるが、マーキングした例え
ばICの断面46[図6(d)参照]の加工深さ45の
ように線の中心部分が深い加工になる問題や、同じビー
ム径のレーザを使用して会社の商標などの図柄をマーキ
ングした時に細部が表現できないといった問題があっ
た。
As shown in a thick line marking image 44 shown in FIG. 6B, there is also a method of increasing the laser beam diameter in order to increase the line width. d)], there is a problem that the center of the line becomes deep like the processing depth 45, and a problem that details cannot be expressed when marking a pattern such as a company trademark using a laser having the same beam diameter. there were.

【0016】そこで、YAGレーザを用いてICパッケ
ージにコントラストが良く、浅いマーキングを行うため
にはQスイッチ素子により、10kHz〜90kHzの
繰り返しの周期でレーザをON/OFFし、レーザパル
スを発生させてマーキングを行う。
Therefore, in order to perform good and shallow marking on an IC package using a YAG laser, the laser is turned on / off at a repetition cycle of 10 kHz to 90 kHz by a Q switch element to generate a laser pulse. Perform marking.

【0017】この場合には、YAGレーザはQスイッチ
素子などにより、Nd:YAGロッドの上準位寿命であ
る約230μs以上のレーザ光をOFFした後に、レー
ザパルスを発射させると、レーザ発振器内の反転分布量
が最大になった後の先頭値の高いレーザパルスが出力さ
れるが、10KHz〜90KHzの周期で連続してレー
ザパルスを出射して線を描いている間は、レーザパルス
出力の間隔がNd:YAGロッドの上準位寿命より短く
なるために、上述した先頭値の高いレーザパルスより低
いパワーのレーザパルスが出射されることになる。
In this case, when the YAG laser is turned off by a Q switch element or the like for a laser beam of about 230 μs or more, which is the upper level life of the Nd: YAG rod, and then a laser pulse is emitted, A laser pulse having a high leading value after the inversion distribution amount is maximized is output, and the interval between laser pulse outputs is constant while laser pulses are continuously emitted at a period of 10 KHz to 90 KHz to draw a line. Is shorter than the upper-level life of the Nd: YAG rod, so that a laser pulse having a lower power than the above-described laser pulse having a high head value is emitted.

【0018】また、マーキング開始点まで移動した後に
出射するレーザパルスは、移動した距離により異なる
が、通常、レーザ停止時間がNd:YAGロッドの上準
位寿命より長くなり、上述した先頭値の高いレーザパル
スが出射される。
The laser pulse emitted after moving to the marking start point varies depending on the distance moved, but usually the laser stop time is longer than the upper level life of the Nd: YAG rod, and the above-mentioned high head value is high. A laser pulse is emitted.

【0019】その結果、マーキング線の書き始め部分が
他のマーキング部分に比べ深い加工になるといった不具
合があった。
As a result, there has been a problem that the portion where the writing of the marking line starts is deeper than the other marking portions.

【0020】また、上述したようにマーキング線の書き
始め部分が他のマーキング部分に比べ深い加工になる不
具合をなくすために、マーキングする線の書き始めで、
Qスイッチ素子による抑制力を徐々に落とし、弱いレー
ザを少しずつ出力することでNd:YAGロッドの反転
分布量を徐々に下げ、強いレーザパルスの発生を防ぐ装
置を使用する場合がある。
Further, as described above, in order to eliminate the drawback that the starting part of the marking line becomes deeper than the other marking parts, the writing of the marking line is started at the beginning.
In some cases, a device that prevents the generation of a strong laser pulse by gradually lowering the suppression force of the Q switch element and gradually outputting a weak laser to gradually reduce the inversion distribution amount of the Nd: YAG rod.

【0021】この場合には、Nd:YAGロッドの反転
分布量を徐々に下げるのに時間がかかりマーキングが遅
くなる問題や、マーキング線の書き始め部分を弱いレー
ザでマーキングするために薄いマーキングになったり、
ICパッケージ表面の樹脂を焼き飛ばし切れず煤が発生
させてしまう問題があった。
In this case, it takes time to gradually lower the population inversion distribution of the Nd: YAG rod, and the marking becomes slow. Also, since the writing start portion of the marking line is marked with a weak laser, the marking becomes thin. Or
There was a problem that the resin on the surface of the IC package could not be burned off and soot was generated.

【0022】従って、本発明の目的は、マーキングを短
時間に行なえる高速性を有し、また、データの作成等の
操作を容易にさせる操作性に優れ、且つICパッケージ
等の加工面に、既に上述する如くの多種・多様の文字及
び図柄を良好に、且つ鮮明にマーキングを行なえるレー
ザマーキング装置及びその加工方法を提供することであ
る。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a high-speed operation for performing marking in a short period of time, excellent operability for facilitating operations such as data creation, and the like, and for processing a surface such as an IC package. An object of the present invention is to provide a laser marking apparatus capable of satisfactorily and clearly marking various and various characters and designs as described above, and a processing method thereof.

【0023】[0023]

【課題を解決するための手段】以上から、本発明者は、
上述する課題に鑑みて、その課題を解決するために鋭意
検討を行った結果、レーザ発振器から出射されるレーザ
ビームを、2分割させて、CPUに予め記憶するイメー
ジデータに基づいて分割レーザビームを個別に出力制御
させながら、この分割されたレーザビームを集光と同時
に、加工面に対して別個に走査させられることを見出
し、本発明を完成するに至った。
From the above, the present inventor has set forth the following.
In view of the problems described above, as a result of intensive studies to solve the problems, the laser beam emitted from the laser oscillator is divided into two parts, and the divided laser beams are divided based on image data stored in the CPU in advance. The inventors have found that the laser beam can be condensed and scanned separately on the processing surface while controlling the output individually, and the present invention has been completed.

【0024】すなわち、本発明は、レーザ発振器から出
射されるビーム光により画像を形成するレーザマーキン
グ装置において、レーザビームを複数に分割する手段
と、個別に出力制御する手段と、分割されたレーザビー
ムを結合する手段と、個別に出力制御されたレーザビー
ムを同時に走査する手段を有するーザマーキング装置で
ある。
That is, the present invention relates to a laser marking device for forming an image by using a light beam emitted from a laser oscillator, a means for dividing a laser beam into a plurality of pieces, a means for individually controlling the output, And a means for simultaneously scanning laser beams whose output is individually controlled.

【0025】すなわち、レーザ発振器から出射される一
つのビーム光を複数に均等に分割するレーザ分割器を有
している。この複数に分割されたレーザ光を個々にON
/OFFしてレーザ結合器に向けて射出する外部スイッ
チを有している。このように複数に分割されたレーザ光
をガルバノメータに取り付けられたレーザ走査用のミラ
ーに集光させる第1ガルバノメータと、同時に、第1ミ
ラーで反射された前記複数に分割された個別のパルスレ
ーザビーム光を、第2ガルバノメータに取り付けられた
レーザ走査用の第2ミラーによって加工面に向けて走査
させるレーザマーキング装置を提供する。
That is, there is provided a laser splitter which splits one light beam emitted from the laser oscillator into a plurality of parts evenly. The laser light divided into a plurality is individually turned on.
It has an external switch for turning on / off and emitting toward the laser coupler. A first galvanometer for condensing the laser light thus divided into a plurality of laser beams on a laser scanning mirror attached to the galvanometer, and simultaneously, the individual pulse laser beam divided into the plurality of light beams reflected by the first mirror Provided is a laser marking device that causes light to scan toward a processing surface using a second laser scanning mirror attached to a second galvanometer.

【0026】また、本発明は、これらの前記レーザ分割
器と前記外部スイッチと前記ガルバノメータ等の制御動
作を連動するCPUによって制御実施させる。しかも、
予め、CPUに記録する所定のイメージデータに基づい
て、発振器から射出されるパルス化レーザービームを、
多数に、且つ均等に分割したビーム光を用いて、加工面
に別個のビーム光を同時に走査させてレーザマーキング
を形成することを特徴とするレーザマーキングの加工方
法を提供する。
In the present invention, control operations of the laser splitter, the external switch, the galvanometer, and the like are controlled and executed by a CPU that cooperates. Moreover,
In advance, based on predetermined image data recorded in the CPU, the pulsed laser beam emitted from the oscillator is
A laser marking processing method characterized in that a laser beam is formed by simultaneously scanning a processing surface with separate light beams by using a large number of light beams evenly divided.

【0027】このような本発明によれば、複数に分割さ
れたレーザビームを個別に出力制御してマーキングする
ので従来法に比べてマーキングが著しく早い。また、予
め記録させた所定のイメージデータをもとに、マーキン
グが行えるので、データの作成が容易且つ正確にでき
る。また、レーザ発振器の外で、レーザの出力制御を行
えるので、レーザ発振器内のQスイッチ素子によるレー
ザの停止時間が長くなった時に発生する先頭値の高いレ
ーザパルスの出力を削除でき、例えば、細いレーザビー
ムを平行に並ぶように走査してマーキングする場合に、
マーキング線を交差させることがなく、マーキングを鮮
明、正確にすることができる。
According to the present invention, since the laser beams divided into a plurality of portions are individually output-controlled for marking, the marking is markedly faster than in the conventional method. In addition, since marking can be performed based on predetermined image data recorded in advance, data can be easily and accurately created. In addition, since the output of the laser can be controlled outside the laser oscillator, it is possible to eliminate the output of the laser pulse having a high head value generated when the laser stop time by the Q-switch element in the laser oscillator becomes long. When marking by scanning laser beams in parallel,
Marking can be made clear and accurate without intersecting the marking lines.

【0028】[0028]

【発明の実施の形態】以下に、図1、図2,図7及び図
8を参照しながら、本発明によるレーザマーキング装置
及びその装置によるレーザマーキング加工の実施の形態
について詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a laser marking apparatus according to the present invention and an embodiment of laser marking processing by the apparatus will be described in detail with reference to FIGS. 1, 2, 7 and 8.

【0029】図1は本発明のレーザマーキング装置例に
おいて、CPU1には、例えば、図7(a)に示す如く
の、予め所定のマーキングの図柄を2値化したイメージ
データ47を作成し、CPUに記録する。
FIG. 1 shows an example of a laser marking apparatus according to the present invention. In a laser marking apparatus according to the present invention, for example, as shown in FIG. To record.

【0030】このイメージデータ47の1ドットは、レ
ーザビーム径と同じ(50μm)として考え、ドットの
位置はマーキング時のレーザの照射位置を示すものとし
て、また、ドットのON/OFFはレーザ照射の有無を
示すものとする。
One dot of the image data 47 is considered to be the same as the laser beam diameter (50 μm), the dot position indicates the laser irradiation position at the time of marking, and the dot ON / OFF is determined by the laser irradiation. The presence or absence shall be indicated.

【0031】CPU1には、もうひとつの機能として既
に、上述する各ユニット(図1を参照)の制御を行う。
As another function, the CPU 1 already controls the above-described units (see FIG. 1).

【0032】そこで、レーザ発振器2内のQスイッチ素
子3は、発振器内に発生しようとするレーザを抑制また
は抑制を解除し、レーザ光の出力を停止したり周期的に
レーザをON/OFFしてパルス化したレーザ光を発生
させる。また、レーザ発振器2は、前記Qスイッチ素子
3によりON/OFFされたレーザ光をレーザ分割器4
に向けて出射する。次いで、レーザ発振器2から出射さ
れたレーザ光はハーフミラーを用いたレーザ分割器4に
より2分割され、それぞれ外部スイッチA5、外部スイ
ッチB6に向けて出射される。
Therefore, the Q switch element 3 in the laser oscillator 2 suppresses or cancels the suppression of the laser to be generated in the oscillator, and stops the output of the laser light or periodically turns on / off the laser. A pulsed laser beam is generated. The laser oscillator 2 converts the laser light turned on / off by the Q switch element 3 into a laser splitter 4.
Emitted toward. Next, the laser light emitted from the laser oscillator 2 is split into two by a laser splitter 4 using a half mirror, and emitted toward an external switch A5 and an external switch B6, respectively.

【0033】ここで、外部スイッチA5及び外部スイッ
チA6はイメージデータ47を基に2つのレーザビーム
を個別にON/OFFし、レーザ結合器7に向けてレー
ザを出射する。また、このレーザ結合器7は、外部スイ
ッチA5及び外部スイッチB6で出力制御された2つの
レーザ光を加工面11でレーザビームによる加工径50
μmとほぼ同じピッチでレーザ発振器2から出射される
レーザの進行方向と同じ方向に並ぶように結合し、第1
ガルバノメータ8に取り付けられたレーザを反射する第
1ミラーに向けて出射する。
Here, the external switch A5 and the external switch A6 individually turn on / off the two laser beams based on the image data 47, and emit the laser toward the laser coupler 7. Further, the laser coupler 7 transmits the two laser beams whose output is controlled by the external switch A5 and the external switch B6 to a processing diameter
The laser beam is emitted from the laser oscillator 2 at a pitch substantially the same as that of the
The laser beam emitted from the galvanometer 8 is directed toward a first mirror that reflects the laser beam.

【0034】ここで、レーザ光を反射するミラーが取り
付けられた第1ガルバノメータ8は、レーザ結合器7を
通過した2つのレーザ光を加工面11に照射される2つ
のレーザ光のビームの並び方向に対し、平行した軸にレ
ーザを走査するよう動作し、第2ガルバノメータ9に向
けてレーザ光を出射する。
Here, the first galvanometer 8 provided with a mirror for reflecting the laser light is arranged in the direction in which the two laser lights passing through the laser coupler 7 are irradiated on the processing surface 11 in the arrangement direction of the two laser lights. Then, the laser beam is operated to scan a parallel axis, and a laser beam is emitted toward the second galvanometer 9.

【0035】一方、第2ガルバノメータ9は、第1ガル
バノメータ8と同様にレーザ光を反射する第2ミラーが
取り付けられ、加工面に照射される2つのレーザ光のビ
ームの並び方向に対し直交する軸に走査するよう動作
し、fθレンズ10に向けてレーザ光を出射する。ま
た、fθレンズ10は第1ガルバノメータ8と第2ガル
バノメータ9より走査されたレーザ光を加工面11で5
0μmのスポットで集光させる。
On the other hand, the second galvanometer 9 is provided with a second mirror for reflecting the laser light similarly to the first galvanometer 8, and has an axis perpendicular to the direction in which the two laser beams are irradiated on the processing surface. And emits a laser beam toward the fθ lens 10. Lens 10 scans the laser beam scanned by the first galvanometer 8 and the second galvanometer 9 on the processing surface 11 for 5 seconds.
The light is focused at a spot of 0 μm.

【0036】更に、これらの動作を、図1、図7及び図
8のフローチャート参照して、より具体的に説明する。
Further, these operations will be described more specifically with reference to the flowcharts of FIGS. 1, 7 and 8.

【0037】まず、既に上述する如く、マーキングはC
PU1にて作成された2値化されたイメージデータ47
を用いて行う。図8のフローチャートの処理A55のよ
うに外部スイッチA5,外部スイッチB6をレーザを停
止した状態にする。次いで、図8のフローチャートの処
理B56のように、Qスイッチ素子3の制御で、レーザ
発振器2から10kHz〜90kHzの周期でレーザパ
ルスを発生させる。
First, as already described above, the marking is C
Binary image data 47 created by PU1
This is performed using The external switch A5 and the external switch B6 are set to a state where the laser is stopped, as in the process A55 in the flowchart of FIG. Next, as in the process B56 in the flowchart of FIG. 8, the laser oscillator 2 generates a laser pulse at a period of 10 kHz to 90 kHz under the control of the Q switch element 3.

【0038】ここで図8に示す処理C57のように、マ
ーキングイメージの上ドット50及び下ドット51に当
たる位置へ加工面に出射された2つのレーザ光が照射さ
れるように第1ガルバノメータA8と第2ガルバノメー
タB9が移動する。
Here, as shown in a process C57 shown in FIG. 8, the first galvanometer A8 and the second galvanometer A8 are so arranged that the two laser beams emitted to the processing surface are irradiated to the positions corresponding to the upper dot 50 and the lower dot 51 of the marking image. The two galvanometer B9 moves.

【0039】次いで、図8に示す処理D58のように、
CPU1で2つのレーザビームの位置に該当するイメー
ジデータを読み込み、処理E59のように図7(b)に
示す上ドット50に相当するイメージデータがONの場
合には、外部スイッチA5にてレーザを出力させ、OF
Fの場合には外部スイッチA5でレーザを停止、また、
図7(b)に示す下ドット51に相当するイメージデー
タがONの場合には、外部スイッチB6でレーザを出力
させ、OFFの場合には外部スイッチB6でレーザを停
止する。
Next, as in a process D58 shown in FIG.
The CPU 1 reads the image data corresponding to the positions of the two laser beams, and when the image data corresponding to the upper dot 50 shown in FIG. Output, OF
In the case of F, the laser is stopped by the external switch A5.
When the image data corresponding to the lower dot 51 shown in FIG. 7B is ON, the laser is output by the external switch B6, and when OFF, the laser is stopped by the external switch B6.

【0040】次いで、図8に示す処理F60のように、
レーザ光の照射によりICパッケージが発色(変色)する
まで時間、その経過を待つ。更に、処理G61のよう
に、第1ガルバノメータA8,第2ガルバノメータB9
の位置がマーキングイメージを成立させて見たときの右
端の2ドットに当たる位置でなければ、マーキングイメ
ージ上で見たときの右隣のドットの示す位置へレーザ光
が照射されるよう第1ガルバノメータA8,第2ガルバ
ノメータB9を移動し、処理D58に戻って処理を行
う。
Next, as in a process F60 shown in FIG.
It waits for a period of time until the IC package is colored (discolored) by laser light irradiation. Further, as in the process G61, the first galvanometer A8 and the second galvanometer B9
Is not the position corresponding to the two rightmost dots when the marking image is formed and viewed, the first galvanometer A8 is so arranged that the laser light is irradiated to the position indicated by the dot on the right when viewed on the marking image. , The second galvanometer B9 is moved, and the process returns to the process D58 to perform the process.

【0041】このように既に上述したの処理D58から
処理G61の処理を繰り返し、又は1度行い、第1ガル
バノメータA8、第2ガルバノメータB9の位置がマー
キングイメージを成立させて見たときの右端の2ドット
に当たる位置まで着たら、マーキングイメージを成立さ
せて見たときの2ドット下のドットの並びの左端のドッ
トに当たる位置へレーザ光が照射されるよう第1ガルバ
ノメータA8と第2ガルバノメータB9を移動させ、フ
ローチャートの処理D58に戻って処理を行う。
As described above, the processing from the processing D58 to the processing G61 described above is repeated or performed once, and the positions of the first galvanometer A8 and the second galvanometer B9 correspond to the rightmost two when the marking image is established and viewed. When the image reaches the position corresponding to the dot, the first galvanometer A8 and the second galvanometer B9 are moved so that the laser light is applied to the position corresponding to the leftmost dot of the dot arrangement two dots below when the marking image is formed and viewed. Then, the process returns to the process D58 in the flowchart.

【0042】また、上述した処理C58から処理H62
の処理を繰り返し、又は1度行い、第1ガルバノメータ
A8,第2ガルバノメータB9の位置がマーキングイメ
ージを成立させて見たときの右下の端の2ドットに当た
る位置まで着たら、処理I63のとおり、Qスイッチ素
子3の制御で、レーザ発振器2からのレーザパルスの発
生を停止する。次いで、図8に示すフローチャートにお
ける処理J64のように、外部スイッチA5,外部スイ
ッチB6でレーザを停止する。
Further, the above-mentioned processing C58 to processing H62
Is repeated or performed once. When the positions of the first galvanometer A8 and the second galvanometer B9 reach the position corresponding to the two dots at the lower right end when the marking image is established and viewed, as in process I63, The generation of the laser pulse from the laser oscillator 2 is stopped by the control of the Q switch element 3. Next, the laser is stopped by the external switch A5 and the external switch B6 as in a process J64 in the flowchart shown in FIG.

【0043】また、本発明において、図2に示す如く、
上述する実施例より、出射するレーザビームを、少なく
とも2分割を超える多数分割光を適宜好適に用いること
ができる。
In the present invention, as shown in FIG.
According to the above-described embodiment, a laser beam to be emitted can be suitably used as a multi-divided light beam that exceeds at least two.

【0044】すなわち、図2に示す如く、レーザ分割器
15で、レーザ発振器で出射されるビーム光を8個の均
等な多数光に分割し、この8個のレーザビームを個別に
ON/OFFさせるものである。
That is, as shown in FIG. 2, the laser beam splitter 15 divides the beam emitted from the laser oscillator into eight equal multiple beams, and individually turns on / off the eight laser beams. Things.

【0045】この第2の実施形態により、上述する2当
分の分割光を用いる第1の実施形態の効果に加えて、レ
ーザ光の分割数を多くした分だけ、走査速度を無理に上
げなくても、更に、確実にマーキング時間を短縮させる
ことが可能であり、しかも、そのために、余分な機能を
装置的に増設させることを要せず、コスト的な利点も有
するものである。
According to the second embodiment, in addition to the effect of the first embodiment using the two equivalent light beams described above, the scanning speed does not need to be forcibly increased by increasing the number of laser light divisions. In addition, the marking time can be shortened more reliably, and furthermore, it is not necessary to add an extra function as a device, and there is a cost advantage.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上から、本発明によれば、レーザ発振
器から出射されるパルス化ビーム光を、レーザ分割器で
複数に均等分割されたレーザ光個々を結合、集光させな
がら、2個のガルバノメータに、それぞれ取り付けられ
たレーザ走査用のミラーを同時に加工面に対して分割ビ
ーム光を走査させることができる。
As described above, according to the present invention, two pulsed beam lights emitted from a laser oscillator are combined and condensed by a laser splitter into a plurality of equally split laser beams. The laser scanning mirrors respectively attached to the galvanometer can simultaneously scan the processing surface with the divided beam light.

【0047】これにより、走査スポット径が50μm程
度の細いレーザビームを平行に走査して、線の交差のな
いマーキングパターンを形成させられるので、浅く均一
な加工深さのマーキングが可能、また、加工面への煤付
着を少ないマーキングが可能である。
Thus, a marking pattern having no intersection of lines can be formed by scanning in parallel with a thin laser beam having a scanning spot diameter of about 50 μm, so that a marking with a shallow and uniform processing depth can be performed. Marking with less soot adhesion to the surface is possible.

【0048】また、パーソコンを動作させて、ドットデ
ータを画面表示のイメージを介して、マーキング時の走
査方向にならんだドットをつなぎ合わせて1本の線デー
タに変換する単純な処理の繰り返しで、マーキングデー
タを作成することができるので、マーキングデータの作
成が容易である。
Further, by operating the personal computer, the dot data is connected to the dots arranged in the scanning direction at the time of marking through the image displayed on the screen, and is converted into one line data by repeating a simple process. Since the marking data can be created, the creation of the marking data is easy.

【0049】また、輪郭のデータのオフセットさせたデ
ータを作成する手間がないので、文字の線幅を容易に変
化させられ、また、複数のレーザビームを同時に走査す
るので、文字の線幅を太くしても、従来と異なりマーキ
ングを短時間でよく、しかも、細いレーザビームを平行
に走査してマーキングパターンを形成させるため、マー
キング時の加工深さが深くならない。
Also, since there is no need to create offset data of the outline data, the line width of the character can be easily changed, and since a plurality of laser beams are scanned simultaneously, the line width of the character can be increased. However, unlike the related art, marking can be performed in a short time, and a thin laser beam is scanned in parallel to form a marking pattern. Therefore, the processing depth at the time of marking does not increase.

【0050】また、レーザ発振器からレーザが出射され
るレーザ光の出力制御をガルバノメータを動作させた
後、発振器内のQスイッチ素子による出力に係わる時間
的特性との動作により、線の書き始めの加工深さが目立
つようなことを防止され、また、線の書き始めが薄いマ
ーキングになることも、同様な動作関係が係わって、効
果的に防止され、同時に線の書き始めの煤の発生も同様
の理由で防止できる。
Further, after the galvanometer is operated to control the output of the laser beam emitted from the laser oscillator, the time characteristics of the output by the Q-switch element in the oscillator and the operation at the start of writing a line are determined. The depth is prevented from being noticeable, and the thin line marking at the beginning of the line is also effectively prevented by the same operation relationship, and the generation of soot at the beginning of the line is also reduced. Can be prevented.

【0051】また、これにより、複数のレーザビームを
1度に走査されることに加えて、強いレーザパルスを抑
制する必要がなく、従来のように、そのための待機時
間、ガルバノメータの走査を停止することがないため、
マーキング速度が著しく向上させることができるレーザ
マーキング装置及びその加工方法を提供することができ
る。
In addition to this, in addition to being scanned with a plurality of laser beams at once, there is no need to suppress strong laser pulses. Because there is no
It is possible to provide a laser marking device capable of markedly improving a marking speed and a processing method thereof.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第一の実施の形態の斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第二の実施の形態の斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of a second embodiment of the present invention.

【図3】従来技術の実施の形態の斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of an embodiment of the prior art.

【図4】従来技術においてのマーキングデータを図示し
たものである。
FIG. 4 illustrates marking data according to the related art.

【図5】従来技術においてのマーキングデータを図示し
たものと従来技術での太線文字をマーキングする場合の
マーキングデータを図示したものである。
FIG. 5 shows marking data in the prior art and marking data in the case of marking thick line characters in the prior art.

【図6】従来技術においてのマーキング状態を図示した
ものと従来技術での太線文字のマーキング状態を図示し
たものである。
FIG. 6 illustrates a marking state in the prior art and a marking state of thick line characters in the prior art.

【図7】本発明のマーキングを図示したもの。FIG. 7 illustrates a marking according to the invention.

【図8】本発明の装置の動作をフローチャートに表した
もの。
FIG. 8 is a flowchart showing the operation of the apparatus of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,12,22 CPU 2,13,23 レーザ発振器 3,14 Qスイッチ素子 4,15 レーザ分割器 5 外部スイッチ素子A 6 外部スイッチ素子B 7,17 レーザ結合器 8 第1ガルバノメータ 9 第2ガルバノメータ 10,20,27 fθレンズ 11,21,28 加工面 16 外部スイッチ 24 Qスイッチ素子 25 ガルバノメータA 26 ガルバノメータB 29 従来マーキングデータ 30 マーキング部 31 移動部 32 鋭角な交差部 33 従来マーキング状態 34 レーザパルス 35 交差部 36 ファーストパルスA 37 ファーストパルスB 38 ファーストパルスC 39 太線文字マーキングデータA 40 太線文字マーキングデータB 41 通常マーキング状態 42 加工深さA 43 ICの断面A 44 ビーム径拡大マーキング状態 45 加工深さB 46 ICの断面B 47 イメージデータ 48 レーザパルス照射位置 49 1、2行目左端 50 上ドット 51 下ドット 52 1,2行目 53 3,4行目 54 最終行2ドット 55 処理A 56 処理B 57 処理C 58 処理D 59 処理E 60 処理F 61 処理G 62 処理H 63 処理I 64 処理J 1,12,22 CPU 2,13,23 Laser oscillator 3,14 Q switch device 4,15 Laser splitter 5 External switch device A 6 External switch device B 7,17 Laser coupler 8 First galvanometer 9 Second galvanometer 10 , 20, 27 fθ lens 11, 21, 28 Work surface 16 External switch 24 Q switch element 25 Galvanometer A 26 Galvanometer B 29 Conventional marking data 30 Marking part 31 Moving part 32 Sharp intersection 33 Conventional marking state 34 Laser pulse 35 Intersection Part 36 First pulse A 37 First pulse B 38 First pulse C 39 Thick line character marking data A 40 Thick line character marking data B 41 Normal marking state 42 Processing depth A 43 IC cross section A 44 Beam diameter enlarged markin State 45 Processing depth B 46 Cross section of IC 47 Image data 48 Laser pulse irradiation position 49 Left end of first and second rows 50 Upper dot 51 Lower dot 52 First and second rows 53 Third and fourth rows 54 Last row 2 dots 55 Process A 56 Process B 57 Process C 58 Process D 59 Process E 60 Process F 61 Process G 62 Process H 63 Process I 64 Process J

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01S 3/00 H01S 3/00 B // B23K 101:40 Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat II (Reference) H01S 3/00 H01S 3/00 B // B23K 101: 40

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】レーザ発振器から出射されるパルス化ビー
ム光により画像を形成するレーザマーキング装置におい
て、前記出射される一つのビーム光を複数に均等に分割
するレーザ分割器と、前記複数に分割されたレーザ光を
個々にON/OFFしてレーザ結合器に向けて射出する
外部スイッチと、前記複数に分割されたレーザ光をガル
バノメータに取り付けられたレーザ走査用の第1ミラー
に集光させる第1ガルバノメータと、同時に前記複数に
分割されたレーザ光をガルバノメータに取り付けられた
レーザ走査用の第2ミラーで加工面を走査する第2ガル
バノメータとを有し、且つ連動するCPUによって、前
記レーザ分割器と前記外部スイッチと前記ガルバノメー
タを制御動作させてレーザマーキングすることを特徴と
するレーザマーキング装置。
1. A laser marking device for forming an image by using a pulsed light beam emitted from a laser oscillator, comprising: a laser splitter for equally splitting the emitted light beam into a plurality of light beams; An external switch for individually turning on / off the laser light and emitting the laser light toward the laser coupler; and a first switch for condensing the plurality of divided laser lights on a first mirror for laser scanning attached to a galvanometer. A galvanometer, and a second galvanometer that simultaneously scans the processing surface with a laser scanning second mirror attached to the galvanometer with the plurality of divided laser lights, and an interlocking CPU, and the laser splitter Laser marking by controlling the external switch and the galvanometer to perform laser marking. Grayed apparatus.
【請求項2】前記レーザ発振器に内蔵するQスイッチ素
子によって、パルス化レーザビームとして射出すること
を特徴とする請求項1に記載のレーザマーキング装置。
2. The laser marking device according to claim 1, wherein the laser beam is emitted as a pulsed laser beam by a Q-switch element incorporated in the laser oscillator.
【請求項3】前記レーザ分割器で、レーザ発振器から出
射される一つのパルスレーザビームを2分割することを
特徴とする請求項1又は2に記載のレーザマーキング装
置。
3. The laser marking device according to claim 1, wherein one pulse laser beam emitted from a laser oscillator is split into two by the laser splitter.
【請求項4】前記レーザ分割器で、レーザ発振器から出
射される一つのパルスレーザビームを2分割を超える多
数光に分割することを特徴とする請求項1又は2に記載
のレーザマーキング装置。
4. The laser marking device according to claim 1, wherein the laser splitter splits one pulse laser beam emitted from a laser oscillator into a large number of light beams exceeding two.
【請求項5】レーザマーキング装置によって、画像を形
成させるに際して、レーザ発振器から出射される一つの
パルスレーザビーム光を、レーザ分割器により、少なく
とも2分割以上の複数光に均等に分割させ、次いで外部
スイッチで前記複数の分割レーザ光を個別にON/OF
Fさせ、次いでレーザ結合器に射出された複数の分割レ
ーザ光を個別に、第1ガルバノメータに取り付けられた
レーザ走査用の第1ミラーに向けて集光させ、同時に、
第1ミラーで反射された前記複数に分割された個別のパ
ルスレーザビーム光を、第2ガルバノメータに取り付け
られたレーザ走査用の第2ミラーによって加工面に向け
て走査させることを特徴とするレーザマーキングの加工
方法。
5. When forming an image with a laser marking device, one pulsed laser beam emitted from a laser oscillator is evenly split into at least two or more split light beams by a laser splitter. ON / OF the plurality of divided laser beams individually with a switch
F, and then separately focus the plurality of split laser beams emitted to the laser coupler toward the first mirror for laser scanning attached to the first galvanometer,
Laser marking, wherein the plurality of divided individual pulse laser beam lights reflected by the first mirror are scanned toward a processing surface by a second laser scanning mirror mounted on a second galvanometer. Processing method.
【請求項6】前記第1ガルバノメータは、前記加工面に
照射される複数個のレーザビームの並び方向に対し、平
行した軸に前記ビームを走査するように動作させ、且つ
前記第2ガルバノメータは、前記加工面に照射される複
数個のレーザビームの並び方向に対し、直交する軸に走
査するように動作させることを特徴とする請求項5に記
載のレーザマーキングの加工方法。
6. The first galvanometer operates to scan the laser beam along an axis parallel to an arrangement direction of a plurality of laser beams applied to the processing surface, and the second galvanometer includes: The laser marking processing method according to claim 5, wherein the laser marking is operated so as to scan on an axis orthogonal to an arrangement direction of the plurality of laser beams applied to the processing surface.
【請求項7】前記CPUには、予め所定のイメージデー
タを記録させ、前記イメージデータを介してマーキング
データを作成することを特徴とする請求項5又は6に記
載のレーザマーキングの加工方法。
7. The laser marking processing method according to claim 5, wherein predetermined image data is recorded in the CPU in advance, and marking data is created based on the image data.
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