JP2001051058A - Apparatus for measuring distance - Google Patents

Apparatus for measuring distance

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JP2001051058A
JP2001051058A JP11227148A JP22714899A JP2001051058A JP 2001051058 A JP2001051058 A JP 2001051058A JP 11227148 A JP11227148 A JP 11227148A JP 22714899 A JP22714899 A JP 22714899A JP 2001051058 A JP2001051058 A JP 2001051058A
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Japan
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measurement
accuracy
measuring
distance measuring
distance
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Application number
JP11227148A
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Japanese (ja)
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Hidekazu Ide
英一 井手
Fumiya Yagi
史也 八木
Koichi Kanbe
幸一 掃部
Hiroshi Uchino
浩志 内野
Takashi Kondo
尊司 近藤
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate a wasteful measurement and to shorten the measuring time by repeating measuring while scanning in a measuring direction, and altering the measuring accuracy to a measuring point at every part in a measuring area. SOLUTION: A pulse light of a laser light source 11 is reflected by a polarizing mirror 31, and externally directed. The reflected and returned pulse light is converged to a photodetector 15 by a condenser lens 14, and the photodetector 15 outputs a light quantity conversion signal S15 of an amplitude corresponding to the received light quantity. The signal S15 is amplified by a signal processor 22, sampled and quantized by an A-D converter 23. A CPU 61 specifies a photodetecting time point based on the photodetected data of given number of times, calculates a flying time Tf from a transmitting time point to a receiving time point, calculates distance data DL response to a distance between objects from the time Tf and a light propagating velocity, and outputs the distance. The CPU 61 also refers to a measuring accuracy map of a map memory 26, gives a designation responsive to a set accuracy at each measuring point to a scanner controller 63, sets a stopping time of the mirror 31 only to a measurement necessary time, and does not stop a projecting direction of a set value 0.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、参照光を投射して
物体まで距離情報を得る距離測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring apparatus for projecting reference light to obtain distance information to an object.

【0002】[0002]

【従来の技術】光のパルスの送信から物体で反射して戻
ったパルスの受信までのいわゆる飛行時間(TOF:ti
me of flight)を測定することにより、既知の光伝搬速
度を適用して対物間距離を求めることができる。原理的
にはパルス幅が零に近いほど測定精度は高まるが、実際
には光源の応答性や受信感度などの制約で決まる値以上
のパルス幅となる。一般の測距装置において、パルス幅
は数cm程度の分解能が得られる50〜100ns程度
の値とされており、波形は単峰の山状である。受光波形
の頂点(ピーク)を検出して受信時点を特定することに
より、受光波形の振幅の大小に係わらず高精度の測定が
可能である。
2. Description of the Related Art A so-called flight time (TOF: ti) from transmission of a light pulse to reception of a pulse reflected by an object and returned.
By measuring the me of flight, the distance between the objectives can be determined by applying a known light propagation velocity. In principle, the closer the pulse width is to zero, the higher the measurement accuracy is. However, in practice, the pulse width is equal to or larger than a value determined by constraints such as light source response and reception sensitivity. In a general distance measuring device, the pulse width is set to a value of about 50 to 100 ns at which a resolution of about several cm can be obtained, and the waveform is a single-peak mountain-like shape. By detecting the peak (peak) of the received light waveform and specifying the time of reception, highly accurate measurement can be performed regardless of the magnitude of the amplitude of the received light waveform.

【0003】この測距手法のレンジファインダへの応用
例として、特開平7−218632号公報には、複数の
レーザ光源を順に発光させて互いに異なる方向に光を投
射する装置構成が記載されている。また、本出願人は偏
向ミラーで投射方向を変更する構成の測距装置を提案し
ている(特願平11−74837号)。多数の方向にパ
ルス光を投射して物体形状を細かく測定する場合には、
投射方向毎に光源を配置するよりも、偏向ミラーで投射
角度を変更する走査の方が装置構成の簡単化の点で有利
である。
As an application example of this distance measuring method to a range finder, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-218632 describes an apparatus configuration in which a plurality of laser light sources emit light in order and project light in different directions. . In addition, the present applicant has proposed a distance measuring device having a configuration in which the projection direction is changed by a deflecting mirror (Japanese Patent Application No. 11-74837). When projecting pulsed light in many directions to measure the object shape finely,
Scanning in which the projection angle is changed by the deflecting mirror is more advantageous than arranging a light source for each projection direction in terms of simplifying the device configuration.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述のように偏向ミラ
ーなどの走査機構を設けることにより、測距装置自体の
位置や姿勢を変えて測距を繰り返すのに比べて、多数方
向の測定を迅速に行うことができる。例えば2次元の走
査を行うように一定角度ずつ偏向ミラーを間欠的に駆動
させれば、測距装置を3次元入力装置として利用するこ
とができる。しかし、走査動作の設定で決まる多数の投
射方向(測距方向)の一部について、測距が無駄となる
場合がある。例えば測定対象の物体から外れた方向の測
距は無駄である。特に、測定精度を高めるために各方向
でパルス光の送受を繰り返し、複数回分の測定データを
平均化したり、最もノイズの影響の小さい測定データを
選択したりする場合には、無駄な測距の回数が増大して
しまう。測定時間の短縮及び測定データ量の低減の観点
において、有効な測距のみを行うのが望ましい。
By providing a scanning mechanism such as a deflecting mirror as described above, measurement in multiple directions can be performed more quickly than in the case where the distance measurement is repeated by changing the position and orientation of the distance measurement device itself. Can be done. For example, if the deflecting mirror is intermittently driven at a constant angle so as to perform two-dimensional scanning, the distance measuring device can be used as a three-dimensional input device. However, ranging may be useless for a part of a number of projection directions (ranging directions) determined by the setting of the scanning operation. For example, ranging in a direction deviating from an object to be measured is useless. In particular, when repeating transmission and reception of pulsed light in each direction to improve measurement accuracy and average measurement data from multiple measurements or select measurement data with the least influence of noise, useless ranging The number of times increases. From the viewpoint of reducing the measurement time and the amount of measurement data, it is desirable to perform only effective distance measurement.

【0005】また、用途によっては、物体の一部分につ
いては高精度の測定データが必要であり、他の部分につ
いては測定は必要だが精度は比較的に低くても良いとい
う場合がある。このような場合にも、従来では全ての方
向について一律の精度の測定を行わなければならなかっ
た。
In some applications, highly accurate measurement data is required for a part of the object, and measurement is required for the other part, but the accuracy may be relatively low. Even in such a case, conventionally, it is necessary to perform measurement with uniform accuracy in all directions.

【0006】本発明は、無駄な測距を無くして測定時間
の短縮及び測定データ量の低減を図ることを目的として
いる。他の目的は測定方向毎の測定精度の設定変更を可
能にして実用性を高めることである。
An object of the present invention is to reduce the measurement time and the amount of measurement data by eliminating useless distance measurement. Another object is to improve the practicability by enabling setting change of the measurement accuracy for each measurement direction.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明においては、例え
ば方向毎の測定回数の設定値を記憶しておき、この設定
値に基づいて走査を行う。設定値を零(0)とすれば測
距は行われない。設定値を大きくするほど測定回数が増
え、平均化などにより高精度(高信頼性)のデータを得
ることができる。走査範囲のモニタ表示を行い、モニタ
画像の領域指定により方向を指定するようにユーザイン
タフェースを構成すれば、ユーザーが簡単に用途に応じ
た測定回数の設定を行うことができる。
In the present invention, for example, a set value of the number of measurements for each direction is stored, and scanning is performed based on the set value. If the set value is set to zero (0), no distance measurement is performed. As the set value is increased, the number of measurements increases, and high-precision (high reliability) data can be obtained by averaging or the like. If the user interface is configured so that the scanning range is displayed on the monitor and the direction is specified by specifying the area of the monitor image, the user can easily set the number of measurements according to the application.

【0008】請求項1の発明の装置は、参照光を投光
し、被測定物での反射光を受光することにより被測定物
までの距離を測定する距離測定装置であって、測定方向
を走査しつつ測定を繰り返す走査手段と、走査が可能な
範囲である測定領域内の各部分毎に、測定点に対する測
定精度を変更する制御手段とを有する。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a distance measuring apparatus for measuring a distance to an object by projecting reference light and receiving light reflected by the object. Scanning means for repeating the measurement while scanning, and control means for changing the measurement accuracy with respect to the measurement point for each portion in the measurement area that is a scannable range.

【0009】請求項2の発明の距離測定装置において、
前記制御手段は、前記測定精度として測定回数を変更す
る。請求項3の発明の距離測定装置において、前記制御
手段は、測定回数に応じて測定方向を保持する時間を増
減するように前記走査手段を変則周期で動作させる。
In the distance measuring apparatus according to the second aspect of the present invention,
The control unit changes the number of measurements as the measurement accuracy. 4. The distance measuring device according to claim 3, wherein the control means operates the scanning means at irregular intervals so as to increase or decrease the time for maintaining the measurement direction according to the number of measurements.

【0010】請求項4の発明の距離測定装置は、前記測
定領域を視野とする撮影を行う撮影手段と、前記撮影手
段により得られた撮影像を表示するディスプレイと、前
記撮影像の任意の領域を前記部分として指定するための
操作入力手段とを有する。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a distance measuring apparatus, wherein: a photographing means for photographing with the measurement area as a field of view; a display for displaying a photographed image obtained by the photographing means; And an operation input means for designating the part as the part.

【0011】請求項5の発明の距離測定装置において、
前記操作入力手段は、前記測定精度の変更値を指定する
機能を有する。請求項6の発明の距離測定装置は、前記
操作入力手段で指定された部分以外の範囲の測定を行わ
ない。
[0011] In the distance measuring apparatus according to the present invention,
The operation input means has a function of designating a change value of the measurement accuracy. The distance measuring device according to the sixth aspect does not measure a range other than the portion designated by the operation input means.

【0012】請求項7の発明の距離測定装置において、
前記制御手段は、走査期間中に順に得られる複数の測定
方向のそれぞれについての測定結果を逐次に判別し、判
別結果に応じて以降の測定における測定精度を変更す
る。
[0012] In the distance measuring apparatus according to the present invention,
The control means sequentially determines the measurement results for each of a plurality of measurement directions sequentially obtained during the scanning period, and changes the measurement accuracy in subsequent measurements according to the determination results.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】図1は本発明に係る測距動作の概
略を示す図である。起点Aから仮想平面VSに向かって
パルス光を投射し、パルス光の飛行時間Tfを測定す
る。投射方向は、仮想平面VSを走査するように、偏向
ミラー31によって垂直方向及び水平方向に所定角度ず
つ順次変更される。起点Aから仮想平面VSに向かう多
数の方向について対物間距離を測定することにより、物
体Qの3次元入力を行うことができる。各投射方向は、
3次元入力におけるサンプリング点(測定点)に対応す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a view schematically showing a distance measuring operation according to the present invention. The pulse light is projected from the starting point A toward the virtual plane VS, and the flight time Tf of the pulse light is measured. The projection direction is sequentially changed by a predetermined angle in the vertical and horizontal directions by the deflecting mirror 31 so as to scan the virtual plane VS. The three-dimensional input of the object Q can be performed by measuring the inter-object distances in a number of directions from the starting point A to the virtual plane VS. Each projection direction is
This corresponds to a sampling point (measurement point) in three-dimensional input.

【0014】図2は本発明に係る3次元入力装置のブロ
ック図である。図中の実線矢印はデータの流れを示し、
破線矢印は制御信号の流れを示す。3次元入力装置1
は、パルス光の送受信のための光学系10、走査機構3
0、モニタ撮影のための光学系40、各種の電気回路要
素、及び動作指定のための入力手段70を備えている。
光学系10は、レーザ光源(半導体レーザ)11、光ビ
ームの広がり角を規定する投光レンズ12、光路設定の
ための反射プリズム13、受光レンズ14、及び光検出
器(フォトダイオード)15から構成されている。レー
ザ光源11は、発光ドライバ21からの電力供給に呼応
して100ns程度のパルス幅のパルス光を射出する。
パルス光は、投光レンズ12及び反射プリズム13を順
に経て走査機構30に入射し、偏向ミラー31で反射し
て外部へ向かう。外部で反射して偏向ミラー31に戻っ
たパルス光は受光レンズ14で集光されて光検出器15
に入射する。光検出器15は、受光量に応じた振幅の光
電変換信号S15を出力する。
FIG. 2 is a block diagram of a three-dimensional input device according to the present invention. Solid arrows in the figure indicate the flow of data,
The broken arrows indicate the flow of the control signal. 3D input device 1
Is an optical system 10 for transmitting and receiving pulsed light, and a scanning mechanism 3
0, an optical system 40 for monitor photographing, various electric circuit elements, and an input means 70 for operation designation.
The optical system 10 includes a laser light source (semiconductor laser) 11, a light projecting lens 12 for defining a spread angle of a light beam, a reflecting prism 13 for setting an optical path, a light receiving lens 14, and a photodetector (photodiode) 15. Have been. The laser light source 11 emits pulsed light having a pulse width of about 100 ns in response to power supply from the light emitting driver 21.
The pulsed light enters the scanning mechanism 30 through the light projecting lens 12 and the reflecting prism 13 in order, is reflected by the deflecting mirror 31, and travels to the outside. The pulse light reflected outside and returned to the deflecting mirror 31 is condensed by the light receiving lens 14 and is detected by the photodetector 15.
Incident on. The photodetector 15 outputs a photoelectric conversion signal S15 having an amplitude corresponding to the amount of received light.

【0015】光電変換信号S15は、信号処理回路22
で適切に増幅された後に、A/D変換器23により一定
周期でサンプリングされて量子化される。サンプリング
で得られた受光データは逐次に波形メモリ24に書き込
まれる。波形メモリ24は最大測定可能距離に相応する
時間分の波形記憶が可能である。受光データに基づいて
受光時点を特定し、送信時点から受光時点までの飛行時
間(光伝搬時間)Tfを算定する処理はCPU61が担
う。受光時点の特定において、重心演算でパルスのピー
クを求めることにより、データの極大値をピークとみな
す場合よりも分解能を高めることができる。送信時点に
ついては、発光制御に同期して波形記憶を開始すること
によって特定する。その制御のためにタイミングコント
ローラ62が設けられている。ただし、実際の発光量を
モニターしてピークを検出してもよい。
The photoelectric conversion signal S15 is supplied to a signal processing circuit 22.
After being appropriately amplified by the A / D converter 23, it is sampled and quantized by the A / D converter 23 at a constant period. The received light data obtained by the sampling is sequentially written into the waveform memory 24. The waveform memory 24 can store waveforms for a time corresponding to the maximum measurable distance. The CPU 61 is responsible for specifying the light receiving time based on the light receiving data and calculating the flight time (light propagation time) Tf from the transmission time to the light receiving time. By determining the peak of the pulse by calculating the center of gravity in specifying the light receiving point, the resolution can be improved as compared with the case where the local maximum value of the data is regarded as the peak. The transmission time is specified by starting waveform storage in synchronization with the light emission control. A timing controller 62 is provided for the control. However, the peak may be detected by monitoring the actual light emission amount.

【0016】飛行時間Tfの算定においては、パルス光
の送受を繰り返して1方向当たりの測定回数を増やすこ
とにより、測定精度を高めることができる。CPU61
は、マップメモリ26に記憶されている後述の測定精度
マップを参照して、測定点毎に設定されている精度に応
じた指示をタイミングコントローラ62及びスキャナコ
ントローラ63に与え、得られた所定回数分の受光デー
タに基づいて飛行時間Tfの算定を行う。そして、飛行
時間Tfと既知の光伝搬速度(3×108 m/s)とか
ら対物間距離に応じた距離データDLを算出して出力メ
モリ25に書き込む。距離データDLは、適時にコネク
タ27を介して接続された外部装置(例えばコンピュー
タ)へ転送される。出力メモリ25、マップメモリ2
6、及び後述の画像メモリ53のアクセスのためにデー
タ転送コントローラ65が設けられている。なお、外部
への出力に係わる装置構成は例示に限らない。例えば受
光データを3次元入力装置1の出力とし、外部のコンピ
ュータで距離データDLを求めるようにしてもよい。3
次元入力装置1の出力を光電変換信号S15とすること
もできる。さらに、発光ドライバ21などの制御を外部
装置が行う変形例もある。
In the calculation of the flight time Tf, the measurement accuracy can be improved by repeating the transmission and reception of the pulse light to increase the number of measurements per direction. CPU 61
Gives an instruction corresponding to the accuracy set for each measurement point to the timing controller 62 and the scanner controller 63 with reference to a measurement accuracy map described later stored in the map memory 26, The flight time Tf is calculated based on the received light data. Then, the distance data DL corresponding to the inter-object distance is calculated from the flight time Tf and the known light propagation speed (3 × 10 8 m / s), and written to the output memory 25. The distance data DL is appropriately transferred to an external device (for example, a computer) connected via the connector 27. Output memory 25, map memory 2
6, and a data transfer controller 65 for accessing an image memory 53 described later. The device configuration related to output to the outside is not limited to the example. For example, the received light data may be output from the three-dimensional input device 1, and the distance data DL may be obtained by an external computer. Three
The output of the dimension input device 1 can be used as the photoelectric conversion signal S15. Further, there is a modification in which an external device controls the light emitting driver 21 and the like.

【0017】3次元入力装置1では、偏向ミラー31を
間欠駆動して投射方向を変更する。1つの投射方向の測
距を行っている期間において、偏向ミラー31の駆動は
一時的に停止され、その投射方向が保持される。偏向ミ
ラー31の一時停止時間は、その投射方向における測定
回数の設定値が大きいほど長い。つまり、測定に必要な
時間だけ偏向ミラー31を停止させる。測定回数の設定
値が0の投射方向については、偏向ミラー31を停止さ
せず実質的に測距を省略する。これにより、走査の所要
時間を短縮することができる。
In the three-dimensional input device 1, the deflecting mirror 31 is intermittently driven to change the projection direction. During the distance measurement in one projection direction, the driving of the deflecting mirror 31 is temporarily stopped, and the projection direction is maintained. The suspension time of the deflecting mirror 31 is longer as the set value of the number of measurements in the projection direction is larger. That is, the deflecting mirror 31 is stopped for the time required for the measurement. For the projection direction in which the set value of the number of measurements is 0, the distance measurement is substantially omitted without stopping the deflection mirror 31. As a result, the time required for scanning can be reduced.

【0018】光学系40は、倍率可変のレンズ41、赤
外カットフィルタ42、及び2次元の撮像デバイス(C
CDセンサ、CMOSセンサなど)43から構成され、
走査可能範囲(仮想平面)を視野とする撮影を行う。レ
ンズ41は、その光軸が真正面にパルス光を投射すると
きの投射方向と平行になり且つ主点と投射の起点とが光
軸に直交する同一面内に位置するように配置されてお
り、レンズコントローラ64により制御される。撮像デ
バイス43の出力は、信号処理回路51を経た後にA/
D変換器52で量子化され、画像メモリ53により記憶
される。そして、画像メモリ53から読み出された撮影
データは、D/A変換器54で画像信号に変換され、モ
ニタ55によって表示される。本例では、レンズ41の
制御によりn段階(ここでは3段階)のズーミングが可
能であり、ユーザーによるズーミング操作に連動して偏
向ミラー31の回転角度範囲(走査範囲)が設定され
る。偏向幅(測定間隔)を一定とするモードにおける測
定点数の設定を表1に示し、測定点数を一定とするモー
ドにおける偏向幅の設定を表2に示す。
The optical system 40 includes a variable magnification lens 41, an infrared cut filter 42, and a two-dimensional imaging device (C
CD sensor, CMOS sensor, etc.) 43,
Imaging is performed with the scannable range (virtual plane) as the field of view. The lens 41 is arranged such that its optical axis is parallel to the projection direction when projecting the pulsed light in front of itself, and the principal point and the starting point of the projection are located in the same plane orthogonal to the optical axis, It is controlled by the lens controller 64. After the output of the imaging device 43 passes through the signal processing circuit 51, A /
The data is quantized by the D converter 52 and stored by the image memory 53. Then, the photographing data read from the image memory 53 is converted into an image signal by the D / A converter 54 and displayed on the monitor 55. In this example, n stages (here, three stages) of zooming are possible by controlling the lens 41, and the rotation angle range (scanning range) of the deflecting mirror 31 is set in conjunction with the zooming operation by the user. Table 1 shows the setting of the number of measurement points in the mode in which the deflection width (measurement interval) is constant, and Table 2 shows the setting of the deflection width in the mode in which the number of measurement points is constant.

【0019】[0019]

【表1】 [Table 1]

【0020】[0020]

【表2】 [Table 2]

【0021】ユーザーは、モニタ撮影像を見て走査範囲
の確認及び変更指定を行うことができるとともに、入力
手段70に備わる図示しないポインティングデバイスを
操作することによって、モニタ画面上での領域指定形式
で任意の測定点における測定精度(測定回数)の設定を
変更することができる。
The user can confirm and change the scanning range by looking at the monitor photographed image, and can operate a pointing device (not shown) provided on the input means 70 to specify the area on the monitor screen. The setting of the measurement accuracy (the number of times of measurement) at an arbitrary measurement point can be changed.

【0022】図3は走査機構の構成を示す斜視図であ
る。走査機構30は、偏向ミラー31、垂直偏向用のモ
ータ32、ミラーボックス33、水平偏向用のモータ3
4、及び固定フレーム35から構成されている。垂直方
向の偏向においては、ミラーボックス33が固定され、
ミラーボックス33内の偏向ミラー31が回転する。水
平方向の偏向は、ミラーボックス33ごとミラーボック
ス33を回転させることによって行われる。ミラーボッ
クス33及び固定フレーム35の底面部には送信光及び
受信光を通過させるのに十分な大きさの孔が設けられて
いる。
FIG. 3 is a perspective view showing the configuration of the scanning mechanism. The scanning mechanism 30 includes a deflecting mirror 31, a motor 32 for vertical deflection, a mirror box 33, and a motor 3 for horizontal deflection.
4 and a fixed frame 35. In the vertical deflection, the mirror box 33 is fixed,
The deflection mirror 31 in the mirror box 33 rotates. The horizontal deflection is performed by rotating the mirror box 33 together with the mirror box 33. Holes large enough to allow transmission light and reception light to pass therethrough are provided in the bottom portions of the mirror box 33 and the fixed frame 35.

【0023】図示のミラー配置状態において、反射プリ
ズム13から偏向ミラー31に入射したパルス光P1
は、偏向ミラー31の角度位置に応じた方向に偏向さ
れ、外部の物体Qへ向かう。物体Qに到達したパルス光
P1は物体表面で反射する。物体表面が鏡面でない限
り、その反射は拡散反射となる。したがって、物体表面
への入射が垂直入射でなくても反射したパルス光P2の
少なくとも一部は3次元入力装置1に向かう。3次元入
力装置1に戻ったパルス光P2は、偏向ミラー31によ
って偏向され、受光レンズ14を経て光検出器15に入
射する。
In the illustrated mirror arrangement state, the pulse light P1 incident on the deflection mirror 31 from the reflection prism 13
Is deflected in a direction corresponding to the angular position of the deflecting mirror 31, and travels toward an external object Q. The pulse light P1 that has reached the object Q is reflected on the object surface. As long as the object surface is not specular, its reflection will be diffuse. Therefore, at least a part of the reflected pulse light P <b> 2 goes to the three-dimensional input device 1 even if the incidence on the object surface is not normal incidence. The pulse light P2 returned to the three-dimensional input device 1 is deflected by the deflecting mirror 31, and enters the photodetector 15 via the light receiving lens.

【0024】図4は走査形態の模式図である。図4
(a)のように主走査を往復形式とすれば、仮想平面を
効率的に走査することができる。しかし、偏向ミラーの
回転方向に起因するミラー位置のずれがある場合は、図
4(b)のように主走査を片道形式とすれば、測定位置
のばらつきを低減することができる。
FIG. 4 is a schematic diagram of a scanning mode. FIG.
If the main scanning is of the reciprocating type as shown in FIG. 9A, the virtual plane can be efficiently scanned. However, when there is a deviation of the mirror position due to the rotation direction of the deflecting mirror, if the main scanning is of a one-way type as shown in FIG. 4B, the variation of the measurement position can be reduced.

【0025】図5は撮影光路の変形例の説明図である。
モニタ撮影の光軸を真正面へ投射するときの投射方向と
平行にすると、モニタ画像上での指定点と実際にパルス
光が投射される測定点とが図5(a)のように光軸間距
離だけずれる。通常、このずれは実質的に問題にならな
い。しかし、ずれをできるだけ小さくしたい場合には、
図5(b)のようにハーフミラー45を用いて測距の光
軸と撮影の光軸とを一致させる構成の光学系40bが好
適である。ハーフミラー45は、投射の起点との間の光
路長pがレンズ41の主点との間の光路長qと等しくな
るように配置される。
FIG. 5 is an explanatory view of a modification of the photographing optical path.
When the optical axis of the monitor shooting is parallel to the projection direction when projecting directly in front, the designated point on the monitor image and the measurement point where the pulse light is actually projected are located between the optical axes as shown in FIG. It shifts by a distance. Usually, this deviation is not substantially a problem. However, if you want to minimize the deviation,
As shown in FIG. 5B, an optical system 40b having a configuration in which the optical axis of distance measurement and the optical axis of photographing are made to coincide with each other using the half mirror 45 is preferable. The half mirror 45 is arranged so that the optical path length p between the half mirror 45 and the projection start point is equal to the optical path length q between the main point of the lens 41.

【0026】図6は測定精度の設定に係る領域指定の説
明図、図7は測定精度の設定動作のフローチャート、図
8はマップメモリの記憶内容の模式図である。ユーザー
が精度設定モードを指定すると、マップメモリ26に記
憶されている測定精度マップM1が初期化され、光学系
40で撮影されたモニタ画像G1が表示される(図7の
#1〜#3)。測定精度マップM1は、各測定点(投射
方向)の測定回数を示すデータ集合である。ユーザーは
図6(a)のように周知の対角2点指定形式でモニタ画
像G1の任意の位置及びサイズの矩形領域を指定し、所
望の精度レベルを入力する(#4〜#7)。本実施例で
は、レベル0〜4の5段階の精度設定が可能である。各
レベルにおける測定回数を表3に示す。
FIG. 6 is an explanatory diagram of the area designation related to the setting of the measurement accuracy, FIG. 7 is a flowchart of the setting operation of the measurement accuracy, and FIG. 8 is a schematic diagram of the contents stored in the map memory. When the user specifies the accuracy setting mode, the measurement accuracy map M1 stored in the map memory 26 is initialized, and the monitor images G1 captured by the optical system 40 are displayed (# 1 to # 3 in FIG. 7). . The measurement accuracy map M1 is a data set indicating the number of measurements at each measurement point (projection direction). As shown in FIG. 6A, the user designates a rectangular area of an arbitrary position and size of the monitor image G1 in a well-known diagonal two-point designation format and inputs a desired accuracy level (# 4 to # 7). In this embodiment, it is possible to set the accuracy in five levels of levels 0 to 4. Table 3 shows the number of measurements at each level.

【0027】[0027]

【表3】 [Table 3]

【0028】図6(b)が示すモニタ画像G2のよう
に、指定をされた領域g1,g2は強調表示される(#
8)。レベルの区別を色分けによって行ってもよいし、
文字でレベルを示してもよい。複数の異なる領域に同一
のレベルを指定することができるので、領域指定とレベ
ル入力とを繰り返すことにより、四角形以外の複雑な形
状の領域について所望のレベルを指定することができ
る。領域の最小サイズを1つの測定点に対応するサイズ
としてもよいし、複数の測定点に対応するサイズとして
もよい。つまり、レベル設定を測定点単位で行ってもよ
いし、所定数の測定点を一括したブロック単位で行って
もよい。
As shown in the monitor image G2 in FIG. 6B, the designated areas g1 and g2 are highlighted (#
8). Levels may be distinguished by color,
The level may be indicated by a letter. Since the same level can be specified for a plurality of different areas, a desired level can be specified for an area having a complex shape other than a quadrangle by repeating area specification and level input. The minimum size of the area may be a size corresponding to one measurement point or a size corresponding to a plurality of measurement points. That is, the level setting may be performed in units of measurement points, or a predetermined number of measurement points may be performed in block units.

【0029】このようなモニタ上での指定に合わせて、
図8のように測定精度マップM1における領域g1,g
2に対応したアドレス領域ag1,ag2についてレベ
ル値の書き換えが行われる(図7の#9、#10)。本
例ではデフォルト値が0であるので、モニタ上で指定さ
れなかった領域に対応する測定点については測定が省略
されることになる。
In accordance with the specification on such a monitor,
As shown in FIG. 8, regions g1, g in the measurement accuracy map M1
The level values are rewritten for the address areas ag1 and ag2 corresponding to No. 2 (# 9 and # 10 in FIG. 7). In this example, since the default value is 0, the measurement is omitted for the measurement points corresponding to the area not specified on the monitor.

【0030】測定精度が各測定点毎に設定されるので、
各測定点の距離データDLの測定精度を示す情報を外部
装置に出力する必要がある。そのため、測定点の測定結
果を測定順に出力メモリ25に保存し、同時に測定精度
マップM1も保存するようにする。これにより、各測定
点に対してどの測定精度で測定した測定結果なのかを判
別することができるようになる。測定点の測定結果は測
定順に限らず、特定の法則順に並べ替えても良い。測定
精度が一律である場合には、測定精度マップM1を保存
する必要はなく、測定結果データの配列順序と測定精度
レベルを示すへッダを付加して保存すれば良い。また、
測定精度が一律でない場合でも、ユーザーが各測定点別
の精度情報を必要としない場合があるので、その場合に
は精度情報を出力する必要はない。ただし、精度情報を
出力する必要がない場合でも、レベル0の設定が含まれ
ているときには、測定データと測定点の対応が取れるよ
うに測定点マップM2(図8参照)を同時に保存するよ
うにする。測定点マップM2は、各測定点において測定
が行なわれたかどうかを識別するための1測定点当たり
1ビットのデータ集合である。
Since the measurement accuracy is set for each measurement point,
It is necessary to output information indicating the measurement accuracy of the distance data DL of each measurement point to an external device. Therefore, the measurement results of the measurement points are stored in the output memory 25 in the measurement order, and the measurement accuracy map M1 is also stored at the same time. As a result, it is possible to determine with which measurement accuracy the measurement result is obtained for each measurement point. The measurement results of the measurement points are not limited to the measurement order, but may be rearranged in a specific rule order. When the measurement accuracy is uniform, it is not necessary to save the measurement accuracy map M1, and it is sufficient to add and save a header indicating the arrangement order of the measurement result data and the measurement accuracy level. Also,
Even when the measurement accuracy is not uniform, there is a case where the user does not need the accuracy information for each measurement point, and in that case, there is no need to output the accuracy information. However, even when it is not necessary to output the accuracy information, when the level 0 setting is included, the measurement point map M2 (see FIG. 8) is simultaneously saved so that the measurement data and the measurement point can be associated with each other. I do. The measurement point map M2 is a data set of one bit per measurement point for identifying whether or not measurement has been performed at each measurement point.

【0031】図9は測定精度の設定の第2例を示す図で
ある。上述の例はユーザーが走査範囲の切り分けを行う
ものであるが、これに代えてあらかじめ走査範囲を区分
して精度設定をしておいてもよい。図9の例では、走査
可能範囲(仮想平面)Am0に対して、中央部から外側
に向かって段階的に測定精度が変わる設定が行われてい
る。中央部分Am1の精度レベルが最高の4であり、中
央部分Am1を囲む所定幅の部分Am2の精度レベルが
3であり、周辺部分Am3の精度レベルが2である。一
般に、測定対象物が中心に位置するように走査範囲が決
められる。すなわち、中央部分Am1が最も重要視され
る。したがって、図9の設定によれば、重要度に応じた
適切な精度の測定を行うことができる。
FIG. 9 is a diagram showing a second example of setting the measurement accuracy. In the above-described example, the user performs the division of the scanning range. Alternatively, the accuracy may be set in advance by dividing the scanning range. In the example of FIG. 9, a setting is made such that the measurement accuracy changes stepwise from the center to the outside with respect to the scannable range (virtual plane) Am0. The accuracy level of the central portion Am1 is the highest, 4; the accuracy level of the portion Am2 of a predetermined width surrounding the central portion Am1 is 3, and the accuracy level of the peripheral portion Am3 is 2. Generally, the scanning range is determined so that the measurement target is located at the center. That is, the center portion Am1 is regarded as the most important. Therefore, according to the setting of FIG. 9, it is possible to perform measurement with appropriate accuracy according to the degree of importance.

【0032】図10は測定精度の設定の第3例を示す
図、図11は図10に対応したマップメモリの記憶内容
を示す図、図12は図10に対応した測定動作のフロー
チャートである。
FIG. 10 is a diagram showing a third example of the setting of the measurement accuracy, FIG. 11 is a diagram showing the contents stored in the map memory corresponding to FIG. 10, and FIG. 12 is a flowchart of the measuring operation corresponding to FIG.

【0033】走査中に逐次に得られる測定結果に応じ
て、以降の測定の精度を自動的に変更することができ
る。測定精度マップM1に従って走査を進め(図12の
#11〜#15)、最新の測定結果が注目距離範囲(例
えば10m〜20m)に該当すれば、当該測定点及びそ
の隣接8近傍の測定点うちで以降に走査される測定点の
測定精度レベルを変更する(#16、#17)。レベル
変更により測定回数が増えた場合は、増加分の追加測定
を行う(#18、#21)。図11では測定精度のデフ
ォルト値がレベル2であり、走査位置の測定点を含む5
個の測定点の測定精度がレベル4に変更されている。設
定レベルの回数の測定が終われば、測定回数分の受光デ
ータを平均して距離データDLを算出する(#19)。
最終測定点の測定が完了するまで、この動作を繰り返す
(図12の#20、#14)。
The accuracy of subsequent measurements can be automatically changed according to the measurement results obtained sequentially during scanning. The scanning is advanced in accordance with the measurement accuracy map M1 (# 11 to # 15 in FIG. 12). If the latest measurement result falls within the range of interest (for example, 10 to 20 m), the measurement point and the measurement points in the vicinity of the adjacent 8 are measured. Then, the measurement accuracy level of the measurement point scanned thereafter is changed (# 16, # 17). If the number of measurements increases due to the level change, additional measurements for the increase are performed (# 18, # 21). In FIG. 11, the default value of the measurement accuracy is level 2 and the measurement accuracy is 5
The measurement accuracy of the measurement points is changed to level 4. When the measurement of the set level is completed, the distance data DL is calculated by averaging the received light data for the number of measurements (# 19).
This operation is repeated until the measurement at the final measurement point is completed (# 20, # 14 in FIG. 12).

【0034】このようにして各測定点の精度レベルを更
新していくことで、予め設定した距離範囲内にある対象
物の3次元入力が高精度になる。なお、測定結果が注目
距離範囲内となった測定点については測定精度を更新せ
ず、その周囲の以後に走査される測定点のみについて測
定精度を更新してもよい。測定結果が注目距離範囲内と
なった測定点のみについて測定精度を更新してもよい。
また、測定点及びその近傍に限らず、以後に走査される
全ての測定点について測定精度を更新してもよい。
By updating the accuracy level of each measurement point in this way, three-dimensional input of an object within a preset distance range becomes highly accurate. Note that the measurement accuracy may not be updated for a measurement point whose measurement result is within the attention distance range, and the measurement accuracy may be updated only for a measurement point that is scanned after that around the measurement point. The measurement accuracy may be updated only for the measurement points whose measurement results fall within the range of interest.
Further, the measurement accuracy may be updated not only for the measurement points and the vicinity thereof but also for all the measurement points scanned thereafter.

【0035】上述の実施例では、複数回の測定データに
基づいて算出された結果をその点の測定データとして記
憶しているが(つまり、記憶されるデータは各測定点当
たり1個)、複数回の測定データをそのまま記憶しても
よい(つまり、記憶されるデータは各測定点当たりその
精度に対応した個数)。この場合は、測定精度マップを
記憶する必要がある。測定精度マップに基づき、何番目
のデータがどの点に対応するかを後で認識するためであ
る。
In the above-described embodiment, the result calculated based on a plurality of measurement data is stored as the measurement data at that point (that is, one data is stored for each measurement point). The measurement data of the measurement may be stored as it is (that is, the number of stored data corresponds to the accuracy of each measurement point). In this case, it is necessary to store the measurement accuracy map. This is because the number of data corresponds to which point based on the measurement accuracy map.

【0036】上述の実施例では、パルス光の投射から受
光までの時間により距離測定を行う例について説明した
が、これに限らず、物体の一部分の距離測定を行い、測
定方向を走査することにより物体形状を測定する場合に
は、本発明が適用可能である。
In the above-described embodiment, an example has been described in which the distance is measured based on the time from the projection of the pulsed light to the reception of the pulsed light. However, the present invention is not limited to this. When measuring the shape of an object, the present invention is applicable.

【0037】上述の第3例では、測定結果に応じて、測
定精度マップM1を変更するように構成したが、測定精
度マップを用いずに、測定結果に応じて、次の測定点で
の測定精度(測定回数)を制御するようにしてもよい。
つまり、走査中にある測定点で注目距離範囲の測定結果
が得られると、以後の精度をレベル4に設定し、測定結
果が注目距離範囲からはずれると、以後の精度をレベル
2に設定する。
In the above-described third example, the measurement accuracy map M1 is changed according to the measurement result. However, the measurement at the next measurement point is performed according to the measurement result without using the measurement accuracy map. The accuracy (the number of measurements) may be controlled.
That is, if the measurement result of the range of interest is obtained at a certain measurement point during scanning, the subsequent accuracy is set to level 4, and if the measurement result deviates from the range of interest, the subsequent accuracy is set to level 2.

【0038】[0038]

【発明の効果】請求項1乃至請求項7の発明によれば、
投射方向毎に独立に測定精度を設定することができ、走
査範囲内の全ての投射方向に対して一律に測定精度を設
定する場合に生じる無駄な測定を無くして測定時間の短
縮及び測定データ量の低減を図ることができる。
According to the first to seventh aspects of the present invention,
Measurement accuracy can be set independently for each projection direction, eliminating wasteful measurement that would occur when setting measurement accuracy uniformly for all projection directions within the scanning range, reducing measurement time and measuring data volume. Can be reduced.

【0039】請求項4乃至請求項6の発明によれば、ユ
ーザーが用途に応じて複数の測定方向に対して個別に測
定精度を設定することができる。
According to the fourth to sixth aspects of the present invention, the user can individually set the measurement accuracy in a plurality of measurement directions according to the application.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る測距動作の概略を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an outline of a distance measuring operation according to the present invention.

【図2】本発明に係る3次元入力装置のブロック図であ
る。
FIG. 2 is a block diagram of a three-dimensional input device according to the present invention.

【図3】走査機構の構成を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view illustrating a configuration of a scanning mechanism.

【図4】走査形態の模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram of a scanning mode.

【図5】撮影光路の変形例の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a modified example of a photographing optical path.

【図6】測定精度の設定に係る領域指定の説明図であ
る。
FIG. 6 is an explanatory diagram of area designation related to measurement accuracy setting.

【図7】測定精度の設定動作のフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart of a measurement accuracy setting operation.

【図8】マップメモリの記憶内容の模式図である。FIG. 8 is a schematic diagram of the contents stored in a map memory.

【図9】測定精度の設定の第2例を示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating a second example of the setting of measurement accuracy.

【図10】測定精度の設定の第3例を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a third example of setting of measurement accuracy.

【図11】図10に対応したマップメモリの記憶内容を
示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing storage contents of a map memory corresponding to FIG. 10;

【図12】図10に対応した測定動作のフローチャート
である。
FIG. 12 is a flowchart of a measurement operation corresponding to FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 3次元入力装置(距離測定装置) P1,P2 パルス光(参照光) 10 光学系(送信手段、受信手段) 30 走査機構(走査手段) 31 偏向ミラー 61 CPU(制御手段) Tf 飛行時間 DL 距離データ 26 マップメモリ(メモリ) 40 光学系(撮影手段) 55 ディスプレイ 70 入力手段(操作入力手段) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Three-dimensional input device (distance measuring device) P1, P2 Pulse light (reference light) 10 Optical system (transmission means, reception means) 30 Scanning mechanism (scanning means) 31 Deflection mirror 61 CPU (control means) Tf Flight time DL Distance Data 26 Map memory (Memory) 40 Optical system (Photographing means) 55 Display 70 Input means (Operation input means)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 掃部 幸一 大阪府大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 内野 浩志 大阪府大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 近藤 尊司 大阪府大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA02 AA06 DD06 FF12 FF32 FF33 GG04 GG12 HH04 HH13 JJ01 JJ09 JJ18 KK03 LL05 LL12 LL13 LL26 LL62 MM16 MM28 PP22 QQ01 QQ03 QQ23 QQ36 QQ42 SS02 SS13 2F112 AD01 BA05 CA06 CA12 DA09 DA15 DA19 DA25 EA05 FA07 FA21 FA36 5J084 AA05 AD01 BA04 BA11 BA36 BA50 BB02 BB11 BB21 BB28 CA03 CA23 CA61 CA65 CA70 DA01 DA09 EA04 EA40  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Koichi Sukebe 2-3-113 Azuchicho, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka Inside Osaka International Building Minolta Co., Ltd. (72) Inventor Hiroshi Uchino Azuchi-cho, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 2-3-1-3 Osaka International Building Minolta Co., Ltd. (72) Inventor Takashi Kondo 2-3-1-13 Azuchicho, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka F-term in Osaka International Building Minolta Co., Ltd. 2F065 AA02 AA06 DD06 FF12 FF32. CA03 CA23 CA61 CA65 CA70 DA01 DA09 EA04 EA40

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】参照光を投光し、被測定物での反射光を受
光することにより被測定物までの距離を測定する距離測
定装置であって、 測定方向を走査しつつ測定を繰り返す走査手段と、 走査が可能な範囲である測定領域内の各部分毎に、測定
点に対する測定精度を変更する制御手段と、 を有することを特徴とする距離測定装置。
1. A distance measuring device for measuring a distance to an object by projecting a reference light and receiving a reflected light from the object, wherein the measurement is repeated while scanning in a measuring direction. A distance measuring device comprising: a control unit that changes a measurement accuracy for a measurement point for each part in a measurement area within a scanable range.
【請求項2】前記制御手段は、前記測定精度として測定
回数を変更する請求項1記載の距離測定装置。
2. The distance measuring apparatus according to claim 1, wherein said control means changes the number of measurements as said measurement accuracy.
【請求項3】前記制御手段は、測定回数に応じて測定方
向を保持する時間を増減するように前記走査手段を変則
周期で動作させる請求項2記載の距離測定装置。
3. The distance measuring apparatus according to claim 2, wherein said control means operates said scanning means at irregular intervals so as to increase or decrease the time for maintaining the measurement direction in accordance with the number of measurements.
【請求項4】前記測定領域を視野とする撮影を行う撮影
手段と、 前記撮影手段により得られた撮影像を表示するディスプ
レイと、 前記撮影像の任意の領域を前記部分として指定するため
の操作入力手段と、 を有する請求項1記載の距離測定装置。
4. A photographing means for performing photographing with the measurement area as a field of view, a display for displaying a photographed image obtained by the photographing means, and an operation for designating an arbitrary area of the photographed image as the portion. The distance measuring device according to claim 1, further comprising: input means.
【請求項5】前記操作入力手段は、前記測定精度の変更
値を指定する機能を有する請求項4記載の距離測定装
置。
5. The distance measuring apparatus according to claim 4, wherein said operation input means has a function of designating a change value of said measurement accuracy.
【請求項6】前記操作入力手段で指定された部分以外の
範囲の測定を行わない請求項4又は請求項5記載の距離
測定装置。
6. The distance measuring device according to claim 4, wherein the measurement of a range other than the portion designated by the operation input means is not performed.
【請求項7】前記制御手段は、走査期間中に順に得られ
る複数の測定方向のそれぞれについての測定結果を逐次
に判別し、判別結果に応じて以降の測定における測定精
度を変更する請求項1記載の距離測定装置。
7. The control unit according to claim 1, wherein the control unit sequentially determines the measurement results in each of a plurality of measurement directions sequentially obtained during a scanning period, and changes the measurement accuracy in subsequent measurements according to the determination results. The distance measuring device as described.
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