JP2001043109A - Logic verifying system - Google Patents

Logic verifying system

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JP2001043109A
JP2001043109A JP11218378A JP21837899A JP2001043109A JP 2001043109 A JP2001043109 A JP 2001043109A JP 11218378 A JP11218378 A JP 11218378A JP 21837899 A JP21837899 A JP 21837899A JP 2001043109 A JP2001043109 A JP 2001043109A
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JP
Japan
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test
error
logic
menu
fault
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JP11218378A
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Japanese (ja)
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Koichiro Kiyota
浩一郎 清田
Hiroshi Kadota
博 門田
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Hitachi Ltd
Hitachi Information Technology Co Ltd
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Hitachi Ltd
Hitachi Information Technology Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a logic verifying system for improving and making uniform quality of logic verification for pointing out a fault by automatically executing optimized test menus hierarchically arranged on the basis of analysis of error contents when that error is detected. SOLUTION: Tests selected out of a test group 100 are prepared as test menus 201a-203a optimized corresponding to respective hierarchies. According to these prepared test menus 201a-203a, the tests classified into groups are executed. When any error is detected, the test menus 201c and 202c hierarchically arranged on the basis of the analysis of these error contents and optimized as tests by hierarchies are automatically executed. Thus, the optimal test can be executed for pointing out the logic fault without human intervention. Therefore, at the time point when the test is finished, a fault logic spot can be inferred.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、論理故障を摘出す
るために最適な、階層構造を持ったテストを自動的に選
択実行し、累積したエラー情報をもとに故障論理を推論
することにより、論理故障個所を特定することを可能と
する、論理検証方式に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for automatically selecting and executing a test having a hierarchical structure, which is optimal for extracting a logical fault, and inferring a fault logic based on accumulated error information. The present invention relates to a logic verification method capable of specifying a logic fault location.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より論理故障診断は、論理故障を摘
出するために有効なテストを実行し、その結果を分析す
るという方式が採用されているが、特定のテストでエラ
ーを検出した場合、さらに故障している個所を特定する
ために、別のテストを実行することがある。この場合、
どのようなテストメニューを実行するか、またテスト結
果のエラー情報を、収集し分析するという手段は人手で
行っていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, logical fault diagnosis employs a method of executing an effective test to extract a logical fault and analyzing the result. However, when an error is detected by a specific test, Further tests may be performed to further isolate the fault. in this case,
The means of executing a test menu and collecting and analyzing error information of test results have been manually performed.

【0003】このようなことから、故障論理を特定する
ための情報収集及び分析という、作業及びテストの質は
個人の資質に負うところが大きく、個人差によって論理
故障指摘の所用時間も異なっていた。
[0003] For these reasons, the quality of the work and test of information collection and analysis for specifying the failure logic largely depends on the qualities of the individual, and the time required for indicating the logical failure also differs depending on the individual difference.

【0004】本発明に類する論理検証方式に関連する公
知技術としてはランダムテスト方式、テストパターンの
発生方式、ハードウェア構成の影響を受けないテスト方
式等に関するものとして、例えば特開平7−2866
3、特開平7−110777、特開平7−24893
5、特開平7−253898、特開平7−25390
2、特開平7−262038等があるが、これらは本発
明に示すようなテストの階層化による自動選別実行、及
びエラー情報を蓄積しておき総合的に分析するというも
のではなく、本発明による論理検証方式は公知技術例か
らは見当たらない。
Known techniques related to a logic verification method similar to the present invention include a random test method, a test pattern generation method, a test method not affected by a hardware configuration, and the like, for example, see JP-A-7-2866.
3, JP-A-7-110777 and JP-A-7-24893
5, JP-A-7-253898, JP-A-7-25390
2. There are JP-A-7-262038 and the like, but these do not automatically execute sorting by hierarchical test as shown in the present invention and accumulate error information for comprehensive analysis. The logic verification method is not found in the known art.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このように上記従来技
術では、故障論理を特定するための情報収集及び分析と
いう作業は個人の資質に負うところが大きく、個人差に
よって論理故障指摘の所用時間も異なるという問題があ
った。
As described above, in the above-mentioned prior art, the work of collecting and analyzing information for specifying the fault logic largely depends on the qualities of the individual, and the time required for indicating the logical fault differs depending on the individual difference. There was a problem.

【0006】本発明の目的は、論理の故障指摘を個人の
資質に負うのではなく、テストの選択、エラーの分析を
自動化することにより、故障指摘のための論理検証の質
の向上と、均質化を実現する論理検証方式を提供するこ
とにある。
It is an object of the present invention to improve the quality of logic verification for fault indication by improving the quality of logic verification for fault indication by automating test selection and error analysis instead of relying on individual qualifications for logic fault indication. An object of the present invention is to provide a logic verification method for realizing the generalization.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記発明は、故障論理を
指摘するために必要なテストメニューを予め準備し、テ
ストメニューの実行結果から次に実行すべき階層化され
たテストを自動的に選択実行し、さらに蓄積したエラー
情報から総合的な分析を行うことによって、均質なテス
トと論理故障の指摘が可能となる。このことは、テスト
メニューとして準備したメニューに従って、グループに
分類されたテストを実行し、エラーを検出した場合、そ
のエラー内容の分析に基づき、階層化されているテスト
メニューを自動的に次に実行すべきテストメニューを順
次実行し、テスト結果としてエラーを検出した場合、エ
ラー情報を逐次退避格納しておき、テストを総て終了し
た時点で退避格納したエラー情報を総合的に分析すると
いう手段により達成される。
According to the present invention, a test menu necessary for indicating a fault logic is prepared in advance, and a hierarchical test to be executed next is automatically selected from the execution result of the test menu. By executing and performing comprehensive analysis from the accumulated error information, it is possible to perform a homogeneous test and indicate a logical failure. This means that according to the menu prepared as a test menu, the tests classified into groups are executed, and if an error is detected, the hierarchical test menu is automatically executed next based on the analysis of the error content. The test menu to be executed is executed sequentially, and if an error is detected as a test result, the error information is sequentially saved and stored, and the saved and saved error information is comprehensively analyzed when all the tests are completed. Achieved.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について、
図面により詳細に説明する。図1は、論理検証方式の一
例を示すブロック図であり、3階層でのテストを示す。
図1において、論理検証は、論理論理故障を診断するた
めのテストグループ100、テストを逐次実行するため
の階層テスト手順200、情報格納処理300、論理故
障推論テーブル400、論理故障指摘処理500から構
成される。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
This will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an example of a logic verification method, and shows a test at three levels.
In FIG. 1, the logic verification includes a test group 100 for diagnosing a logic / logic fault, a hierarchical test procedure 200 for sequentially executing tests, an information storage process 300, a logic fault inference table 400, and a logic fault indication process 500. Is done.

【0009】テストグループ100は、故障診断目的別
に構成され、これらの実行順序をテストメニューとして
階層テスト手順200に持っている。階層テスト手順2
00は、各階層でのテスト手順を有するテスト実行手順
201、202、203によって構成される。さらにテ
ストの結果、エラーを検出した場合、関連情報を蓄積格
納するためのエラー情報格納処理301、エラー情報格
納テーブル302から構成される情報格納処理300、
階層構造によるテストを総て終了した後に、蓄積された
情報から故障個所を推論するための論理故障推論テーブ
ル400、さらにエラー情報格納テーブル302と論理
故障推論テーブル400のデータをもと論理故障を推論
するための論理故推論処理501、論理故障の指摘50
2から構成される論理故障指摘処理500から構成され
る。
The test group 100 is configured for each purpose of fault diagnosis, and has the execution order of these in the hierarchical test procedure 200 as a test menu. Hierarchical test procedure 2
00 is composed of test execution procedures 201, 202, and 203 having a test procedure at each level. If an error is detected as a result of the test, an error information storage process 301 for accumulating and storing related information, an information storage process 300 including an error information storage table 302,
After all tests in the hierarchical structure are completed, a logical fault is inferred based on the data of the logical fault inference table 400 for inferring the fault location from the accumulated information, the error information storage table 302, and the logical fault inference table 400. Logical reasoning process 501 to perform, indicating a logical fault 50
2 is a logical fault indication process 500 comprising:

【0010】この階層方式によるテストの実行方法を、
図1及び図2を用いて具体的に示す。テストグループ1
00の中から選択したテストが、各階層に応じて最適化
されたテストメニューとして201a、202a、20
3aとして準備されており、最初に第1階層201のテ
ストが実行される。第1階層201のテストメニュー2
01aで示されているテストが順次実行され、その結果
エラーを検出した場合は、エラー情報格納処理301の
処理を介してエラー情報格納テーブル302にエラー情
報が格納される。さらにエラーの内容を分析し、結果/
実行対応マトリクス201bから次の第2階層のテスト
を実行するためのテストメニュー201cが呼出され、
第2階層202のテスト実行へ遷移する。
A method of executing a test by this hierarchical method is as follows.
This is specifically shown with reference to FIGS. Test group 1
00 are selected as test menus 201a, 202a, and 20 as test menus optimized for each layer.
3a, and the test of the first layer 201 is executed first. Test menu 2 on the first level 201
The tests indicated by 01a are sequentially executed, and when an error is detected as a result, the error information is stored in the error information storage table 302 through the error information storage processing 301. Analyze the details of the error, and
A test menu 201c for executing the next second hierarchical test is called from the execution correspondence matrix 201b,
Transition is made to test execution on the second hierarchy 202.

【0011】第1階層201のテスト結果呼出されるテ
ストメニューは、第2階層202のテストとして最適化
されたテストを実行するためのテストメニュー202a
として準備されており、このテストメニューで示されて
いるテストが順次実行される。第2階層のテスト実行に
おいてエラーを検出した場合は、第1階層でのエラー検
出と同様に、エラー情報格納処理301の処理を介し
て、エラー情報格納テーブル302にエラー情報として
蓄積格納される。さらにエラーの内容を分析し、結果/
実行対応マトリクス202bから次の第3階層のテスト
を実行するためのテストメニュー202cが呼出され、
第3階層203のテスト実行へ遷移する。
A test menu called as a test result of the first hierarchy 201 is a test menu 202 a for executing a test optimized as a test of the second hierarchy 202.
The tests shown in the test menu are sequentially executed. When an error is detected in the test execution of the second hierarchy, the error information is accumulated and stored in the error information storage table 302 through the error information storage processing 301 as in the case of the error detection in the first hierarchy. Analyze the details of the error, and
A test menu 202c for executing the next third hierarchical test is called from the execution correspondence matrix 202b,
The process proceeds to the test execution of the third hierarchy 203.

【0012】第2階層202のテスト結果呼出されるテ
ストメニューは、第3階層203のテストとして最適化
されたテストを実行するためのテストメニュー203a
として準備されており、このテストメニューで示されて
いるテストが順次実行される。第3階層のテスト実行に
おいてエラーを検出した場合は、第2階層でのエラー検
出と同様に、エラー情報格納処理301の処理を介し
て、エラー情報格納テーブル302にエラー情報として
蓄積格納される。エラーが検出されなかった場合は、結
果/実行対応マトリクス203bからの次階層のテスト
メニューは呼出されず、階層別テストの実行を終了す
る。このように階層化されたテストを逐次実行すること
により、人手を介することなく論理故障を指摘するため
に必要な総てのテストが可能となり、テスト結果はエラ
ー情報格納テーブルに蓄積されていることになる。総て
のテストの実行を終了すると、エラー情報が論理故障推
論テーブルの内容と論理故障推論処理501が比較さ
れ、502の処理で論理故障の指摘を行い、一連の処理
を終了する。
A test menu called as a test result of the second hierarchy 202 is a test menu 203 a for executing a test optimized as a test of the third hierarchy 203.
The tests shown in the test menu are sequentially executed. When an error is detected in the test execution of the third layer, the error information is accumulated and stored in the error information storage table 302 through the error information storage processing 301 as in the case of the error detection in the second layer. If no error is detected, the test menu of the next hierarchy from the result / execution correspondence matrix 203b is not called, and the execution of the hierarchical test is terminated. By sequentially executing such hierarchical tests, it is possible to perform all tests necessary to point out a logical failure without manual intervention, and the test results are stored in an error information storage table. become. When the execution of all the tests is completed, the error information is compared with the contents of the logical fault inference table and the logical fault inference processing 501, a logical fault is pointed out in the processing of 502, and a series of processing ends.

【0013】図2は各階層での主要な処理を示す、本発
明の一実施例を示すフローチャートである。各階層での
処理はテストメニューに従ってテストを実行するための
処理、エラー検出の有無のチェック、エラーを検出した
場合のエラー情報の格納処理、階層構造による次のテス
トメニューの存在をチェックする処理機能から構成され
ている。
FIG. 2 is a flow chart showing one embodiment of the present invention, showing main processing in each hierarchy. Processing at each layer is a function for executing tests according to the test menu, checking for the presence or absence of error detection, storing error information when an error is detected, and checking the existence of the next test menu according to the hierarchical structure It is composed of

【0014】図3はテストメニューを構成するための、
テストグループの一例を示すブロック図である。テスト
は目的別に幾つかのグループに分類され、各々グループ
1、グループ2等の分類識別を有し、テストメニュー、
結果/実行対応マトリクスのためのユニークな識別情報
として用いられる。
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a test menu.
It is a block diagram showing an example of a test group. The tests are classified into several groups according to their purpose, each having a classification identification such as Group 1, Group 2, etc., a test menu,
Used as unique identification information for the result / execution correspondence matrix.

【0015】図4はテストメニューの内容を示す、メニ
ュー構成の一実施例である。各階層における最適なテス
トの組合せが、このテストメニューで配列されている。
FIG. 4 shows an embodiment of the menu structure showing the contents of the test menu. The optimal test combinations in each hierarchy are arranged in this test menu.

【0016】図5はテストの実行手順をテストメニュ
ー、エラー情報格納テーブル、結果/実行対応マトリク
ス、階層テストメニューとして示した、ある階層におけ
るテストの実施を示す一実施例である。テストメニュー
に示されたテストが順次実行され、エラーが検出される
とエラーの内容がエラー情報としてエラー情報格納テー
ブルに格納され、結果/実行対応マトリクスからエラー
に対応したマトリクスが選択される。選択されたマトリ
クスには、次の階層でのテストのためのテストメニュー
が示されており、この示されているテストメニューが次
の階層のテストとして実行される。
FIG. 5 is an embodiment showing the execution of a test in a certain hierarchy, showing the test execution procedure as a test menu, an error information storage table, a result / execution correspondence matrix, and a hierarchy test menu. The tests shown in the test menu are sequentially executed, and when an error is detected, the content of the error is stored in the error information storage table as error information, and a matrix corresponding to the error is selected from the result / execution correspondence matrix. The selected matrix shows a test menu for a test in the next hierarchy, and the displayed test menu is executed as a test in the next hierarchy.

【0017】図6はテストの結果エラーを検出したとき
の、エラー情報を格納するためのエラー情報格納テーブ
ルへの格納情報の一例を示す。テストの実行結果エラー
を検出した場合は、そのとき実行していたテスト名称
と、エラーの結果(例えば論理演算エラー等)を対にし
て格納する。
FIG. 6 shows an example of information stored in an error information storage table for storing error information when an error is detected as a result of the test. When an error is detected in the test execution result, the name of the test being executed at that time and the result of the error (for example, a logical operation error) are stored as a pair.

【0018】図7はエラーのタイプから論理の故障状態
を推論するための、論理故障推論テーブルの一例を示
す。テーブルにはエラーのタイプ別に論理故障を推論す
るための、推論情報が格納されており、一つに絞り込め
ない場合は、複数の推論情報が格納されている。
FIG. 7 shows an example of a logical fault inference table for inferring a logical fault state from an error type. The table stores inference information for inferring logical faults for each type of error, and stores a plurality of pieces of inference information when it is not possible to narrow down to one.

【0019】なお上記実施例では、3階層での実行、且
つ1階層では1テストメニューでの実施となっている
が、テストの深さによっては多段の階層、及び多数のテ
ストメニューで構成し、これらが互いに関係を持ちなが
ら入れ子になる実行方式であってもよい。
In the above embodiment, execution is performed at three levels and one test is performed at one level. However, depending on the depth of the test, the test may be performed at multiple levels and a large number of test menus. An execution method in which these are nested while having a relationship with each other may be used.

【0020】[0020]

【発明の効果】以上説明したとおり本発明によれば、テ
ストメニューとして準備したメニューに従って、グルー
プに分類されたテストを実行し、エラーを検出した場
合、そのエラー内容の分析に基づき階層的に配列されて
いる、階層別テストとして適正化されているテストメニ
ューを自動的に実行することにより、人手を介すること
なく、論理故障を指摘するために最適なテストの実施が
可能となり、またテスト結果としてエラーを検出した場
合エラー情報を逐次退避格納しておくことにより、テス
トを総て終了した時点で退避格納したエラー情報を総合
的に分析し、故障論理個所を推論できるという効果を得
ることができる。
As described above, according to the present invention, according to the menu prepared as the test menu, tests classified into groups are executed, and when an error is detected, the error is hierarchically arranged based on the analysis of the error content. By automatically executing the test menu that has been optimized as a hierarchical test, it is possible to execute the most appropriate test to point out a logical failure without human intervention. By sequentially saving the error information when an error is detected, it is possible to obtain an effect that the error information saved and stored can be comprehensively analyzed at the time when all the tests have been completed, and a faulty logic part can be inferred. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】論理検証方式の一例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating an example of a logic verification method.

【図2】各階層での主要な処理を示す、本発明の一実施
例を示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing a main process in each layer, showing an embodiment of the present invention.

【図3】テストメニューを構成するための、テストグル
ープの一例を示すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing an example of a test group for forming a test menu.

【図4】テストメニューの内容を示す、メニュー構成の
一実施例である。
FIG. 4 is an example of a menu configuration showing the contents of a test menu.

【図5】テストの実行手順をテストメニュー、エラー情
報格納テーブル、結果/実行対応マトリクス、階層テス
トメニューとして示した、ある階層におけるテストの実
施を示す一実施例である。
FIG. 5 is an embodiment showing the execution of a test in a certain hierarchy in which the test execution procedure is shown as a test menu, an error information storage table, a result / execution correspondence matrix, and a hierarchy test menu.

【図6】テストの結果エラーを検出したときの、エラー
情報を格納するためのエラー情報格納テーブルへの格納
情報の一例を示す。
FIG. 6 shows an example of information stored in an error information storage table for storing error information when an error is detected as a result of a test.

【図7】エラーのタイプから論理の故障状態を推論する
ための、論理故障推論テーブルの一例を示す。
FIG. 7 shows an example of a logic failure inference table for inferring a logic failure state from an error type.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 論理論理故障を診断するためのテストグループ 200 階層テスト手順 201、202、203 テスト実行手順 201a、202a、203a テストメニュー 201b、202b、203b 結果/実行対応マトリ
クス 201c、202c 次階層用テストメニュー 300 情報格納処理 301 エラー情報格納処理 302 エラー情報格納テーブル 400 論理故障推論テーブル 500 論理故障指摘処理 501 論理故推論処理
Reference Signs List 100 Test group for diagnosing logical and logical failure 200 Hierarchical test procedure 201, 202, 203 Test execution procedure 201a, 202a, 203a Test menu 201b, 202b, 203b Result / execution correspondence matrix 201c, 202c Next hierarchy test menu 300 Information Storage processing 301 Error information storage processing 302 Error information storage table 400 Logical fault inference table 500 Logical failure indication processing 501 Logical reason inference processing

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 門田 博 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立インフォメーションテクノロジー内 Fターム(参考) 2G032 AA01 AB20 AE12 AG01 5B048 AA01 CC17 DD15  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Hiroshi Kadota 1 Horiyamashita, Hadano-shi, Kanagawa F-term (reference) 2G032 AA01 AB20 AE12 AG01 5B048 AA01 CC17 DD15

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】論理検証において、テストメニューとして
準備したメニューに従って、グループに分類されたテス
トを実行し、エラーを検出した場合、そのエラー内容の
分析に基づき階層的に配列されている、最適化されたテ
ストメニューを自動的に実行することにより、人手を介
することなく、論理故障を指摘するために最適なテスト
の実施を可能とする論理検証方式。
In the logic verification, according to a menu prepared as a test menu, a test classified into groups is executed, and when an error is detected, an optimization is hierarchically arranged based on an analysis of the error content. A logic verification method that automatically executes a given test menu, thereby enabling an optimum test to be performed to indicate a logic failure without manual intervention.
【請求項2】特許請求の範囲第1項記載の論理検証方式
において、テスト結果としてエラーを検出した場合、エ
ラー情報を逐次退避格納しておき、テストを総て終了し
た時点で退避格納したエラー情報を総合的に分析し、故
障論理個所を推論する機能を備えた論理検証方式。
2. The logic verification method according to claim 1, wherein when an error is detected as a test result, the error information is sequentially saved and stored, and the error information is saved when all the tests are completed. A logic verification method that has the function of comprehensively analyzing information and inferring the failure logic.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003025612A1 (en) * 2001-09-14 2003-03-27 Advantest Corporation Electric component test system and electric component test method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003025612A1 (en) * 2001-09-14 2003-03-27 Advantest Corporation Electric component test system and electric component test method
US6815943B2 (en) 2001-09-14 2004-11-09 Advantest Corporation Electric component test system and electric component test method

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