JP2001024667A - Line communication test control system of atm line - Google Patents

Line communication test control system of atm line

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JP2001024667A
JP2001024667A JP11197492A JP19749299A JP2001024667A JP 2001024667 A JP2001024667 A JP 2001024667A JP 11197492 A JP11197492 A JP 11197492A JP 19749299 A JP19749299 A JP 19749299A JP 2001024667 A JP2001024667 A JP 2001024667A
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JP
Japan
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line
test
data
test pattern
atm
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Pending
Application number
JP11197492A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Ouchi
亮 大内
Sakae Watanabe
栄 渡辺
Michio Endo
美智夫 遠藤
Hisakatsu Watanabe
寿勝 渡辺
Toru Watanabe
徹 渡辺
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Hitachi Telecom Technologies Ltd
Original Assignee
Hitachi Telecom Technologies Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a line communication test control system and an ATM line terminal capable of easily segmenting the location of a line fault. SOLUTION: In this ATM line terminal 30 for terminating a line to be connected with a data physical line 20 and a repeating line 40, a function for setting loop back on a communication test line, a test pattern generating function to generate a test pattern in which a transmitted counter value is described and to transmit it on the test line, and a test pattern check function to check the test pattern received from the test line by comparing the transmitted counter value of the received test pattern with a received counter value.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、データ回線を収容
するATM回線終端装置において、回線の品質を試験す
る回線疎通試験制御方式、および、収容された保守端末
装置から回線の品質を試験することができるATM回線
終端装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a line communication test control system for testing line quality in an ATM line termination device accommodating a data line, and to test the line quality from a housed maintenance terminal device. The present invention relates to an ATM line termination device capable of performing the above.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、データ回線を収容するATM回線
終端装置(特にデータプロトコルを終端する装置)にお
いては、回線のビットエラー等を測定して回線の品質を
測定するに当たって、ビットエラーなどを測定する試験
器を回線に接続された端末装置に接続して回線試験を行
なっていた。このような方式では、ATM回線終端装置
からはなれた端末装置から回線の障害発生を試験するの
で、試験に当たってループバックの生成を試験個所で個
別に行わなければならず、回線障害部位の切り分け等に
時間を要している。
2. Description of the Related Art Conventionally, in an ATM line terminating device for accommodating a data line (particularly a device for terminating a data protocol), a bit error or the like is measured in measuring a line bit error or the like to measure the line quality. The line test was performed by connecting the tester to a terminal device connected to the line. In such a system, the occurrence of a line failure is tested from a terminal device separated from the ATM line termination device. Therefore, in the test, loopbacks must be individually generated at a test location, and the line failure portion is isolated. It takes time.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題を
解決するために、試験用機器を外部に接続することなく
回線試験を実施して回線障害部位の切り分けを容易にす
ることを可能とする回線疎通試験制御方式を提供すると
ともに、物理的に試験機器を接続する必要がなくなるこ
とから遠隔操作による回線試験を可能とした回線疎通試
験制御方式、ならびにこの方式に使用するATM回線終
端装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention makes it possible to perform a line test without connecting a test device to the outside and to easily isolate a line fault site. A line communication test control method that enables a line test by remote control because there is no need to physically connect test equipment, and an ATM line termination device used in this method. The purpose is to provide.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明は、ATM回線終
端装置内に疎通試験用データの固定パターン発生機能を
備え、試験モード時に、保守端末装置から疎通試験回線
上の所定の個所に論理ループバックを設定し、送出固定
パターンと送信カウンタ値を搭載したセルを疎通試験回
線へ送信し、ループバックして戻ってきたセルを受信し
てデータが合致しているか否かを検出して、回線品質試
験と障害部位の切り分け等を行う。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has a function of generating a fixed pattern for communication test data in an ATM line termination device. In a test mode, a logical loop is provided from a maintenance terminal device to a predetermined location on the communication test line. Set the back, send the cell with the fixed transmission pattern and the transmission counter value to the communication test line, receive the cell returned by looping back, and detect whether or not the data matches. Perform quality tests and isolate faulty parts.

【0005】請求項1の発明は、データ回線を収容する
ATM回線終端装置と、該ATM回線終端装置に収容さ
れる保守端末装置とからなるATM回線の疎通試験制御
方式において、保守端末装置からの指示によって、AT
M回線またはデータ回線の所定個所にループバックを形
成し、ATM回線終端装置から送出する試験データに送
信カウンタ値を搭載して前記回線に送出するようにし
た。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an ATM line communication test control system comprising an ATM line termination device accommodating a data line and a maintenance terminal device accommodated in the ATM line termination device. AT
A loopback is formed at a predetermined position of the M line or the data line, and the test data transmitted from the ATM line termination device is loaded with a transmission counter value and transmitted to the line.

【0006】請求項2の発明は、請求項1の回線疎通試
験制御方式において、ATM回線終端装置に、試験デー
タに搭載した送信カウンタ値と、受信カウント値を比較
する機能を設けた。
According to a second aspect of the present invention, in the line communication test control system of the first aspect, the ATM line termination device is provided with a function of comparing a transmission counter value mounted on test data with a reception count value.

【0007】請求項3の発明は、請求項2の回線疎通試
験制御方式において、ATM回線終端装置に、正常受信
カウンタとエラーカウンタを設け、回線の品質を測定す
る。
According to a third aspect of the present invention, in the line communication test control system of the second aspect, a normal reception counter and an error counter are provided in the ATM line termination device to measure the quality of the line.

【0008】請求項4の発明は、ATM回線終端装置に
テストパターンを生成し試験回線上に送出するテストパ
ターン生成機能と、試験回線上から受信したテストパタ
ーンをチェックするテストパターンチェック機能とを備
えた。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a test pattern generation function for generating a test pattern in the ATM line termination device and transmitting the test pattern on the test line, and a test pattern check function for checking the test pattern received from the test line. Was.

【0009】請求項5の発明は、請求項4のATM回線
終端装置において、試験回線上の任意の個所にループバ
ックを設定する機能を有する。
According to a fifth aspect of the present invention, in the ATM line terminating device of the fourth aspect, there is provided a function of setting a loopback at an arbitrary position on a test line.

【0010】請求項5の発明は、請求項4または請求項
5のATM回線終端装置において、テストパターン生成
機能が、テストパターンに送信カウント値を記載する機
能を有する。
According to a fifth aspect of the present invention, in the ATM line terminating device of the fourth or fifth aspect, the test pattern generation function has a function of writing a transmission count value in the test pattern.

【0011】請求項6の発明は、請求項4または請求項
5のATM回線終端装置において、テストパターンチェ
ック機能が、受信カウンタと、受信したテストパターン
の送信カウンタ値を受信カウンタの値を比較する機能を
有する。
According to a sixth aspect of the present invention, in the ATM line terminating device of the fourth or fifth aspect, the test pattern check function compares the value of the reception counter with the value of the transmission counter of the received test pattern. Has functions.

【0012】請求項7の発明は、請求項4または請求項
5のATM回線終端装置において、テストパターンチェ
ック機能が、テストパターンに搭載されたテストパター
ンであることを検出する機能を有する。
According to a seventh aspect of the present invention, in the ATM line termination device of the fourth or fifth aspect, the test pattern check function has a function of detecting that the test pattern is a test pattern mounted on the test pattern.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明にかかる回線疎通試
験制御方式の実施の形態を図面を参照して説明する。図
1を用いて、本発明の回線疎通試験制御方式が適用され
るデータ回線を収容するATM網ネットワークの構成を
説明する。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a circuit communication test control system according to the present invention. The configuration of an ATM network accommodating a data line to which the line communication test control method of the present invention is applied will be described with reference to FIG.

【0014】データ回線を収容するATM網ネットワー
クは、データ通信を行うデータ端末装置10と、対向装
置80のデータ端末装置81とを、データ物理回線20
と、ATM回線終端装置30と、物理回線40,ATM
スイッチ50,トランク65,中継回線70からなる回
線網を介して接続して構成される。
An ATM network accommodating a data line includes a data terminal device 10 for data communication and a data terminal device 81 of the opposite device 80 connected to a data physical line 20.
ATM line terminating device 30, physical line 40, ATM
It is configured to be connected via a network consisting of a switch 50, a trunk 65, and a relay line 70.

【0015】ATM回線終端装置30は、ATM装置デ
ータ回線収容パッケージ32と、パッケージ間通信スイ
ッチ部31と、中継回線パッケージ33と、バス34
と、主記憶装置35と、ATM回線終端装置の中央制御
装置36と、I/Oインターフェース37とを有して構
成される。さらに、ATM回線終端装置30には、I/
Oインターフェース37を介して保守端末装置50が接
続される。
The ATM line termination device 30 includes an ATM device data line accommodation package 32, an inter-package communication switch unit 31, a relay line package 33, and a bus 34.
, A main storage device 35, a central control device 36 of the ATM line termination device, and an I / O interface 37. Further, the ATM line termination device 30 has I / O
The maintenance terminal device 50 is connected via the O interface 37.

【0016】データ端末装置10は、フレームリレープ
ロトコル/HDLC/BSC等をサポートするデータ通
信を行う装置であり、データ物理回線20を経由してA
TM装置データ回線収容パッケージ32と接続される。
The data terminal device 10 is a device for performing data communication supporting the frame relay protocol / HDLC / BSC and the like.
It is connected to the TM device data line accommodation package 32.

【0017】データ回線収容パッケージ32は、データ
プロトコル手順の終端とセル組立/セル分解処理を行う
CLAD装置としての機能を有している。さらに、デー
タ回線収容パッケージ32は、データ物理回線20また
はパッケージ間スイッチ部31を経由した回線網との間
で、データ転送の状態を試験する障害情報収集機能を有
している。
The data line accommodating package 32 has a function as a CLAD device for performing termination of a data protocol procedure and cell assembly / cell disassembly processing. Further, the data line accommodating package 32 has a failure information collecting function for testing a state of data transfer between the data physical line 20 and a line network via the inter-package switch unit 31.

【0018】データ回線収容パッケージ32に接続され
たデータ物理回線20のパスは、パッケージ間通信スイ
ッチ部31を介して中継回線パッケージ33と接続され
る。
The path of the data physical line 20 connected to the data line accommodation package 32 is connected to the relay line package 33 via the inter-package communication switch unit 31.

【0019】中継回線パッケージ33は、物理回線40
と接続され中継網を経由してデータ端末装置81と接続
される。さらに、中継回線パッケージ33は、物理回線
40またはパッケージ間スイッチ部31もしくは回線網
との間で、データ転送の状態を試験する機能を有してい
る。
The trunk line package 33 includes a physical line 40
Is connected to the data terminal device 81 via the relay network. Further, the relay line package 33 has a function of testing the state of data transfer between the physical line 40 or the inter-package switch unit 31 or the line network.

【0020】ATM回線終端装置30の中央制御装置3
6は、バス34を介し主記憶装置35と、I/Oインタ
ーフェース37と、パッケージ間通信スイッチ部31に
接続される。
Central control unit 3 of ATM line termination unit 30
6 is connected to a main storage device 35, an I / O interface 37, and an inter-package communication switch unit 31 via a bus 34.

【0021】保守端末装置50は、I/Oインターフェ
ース37を介してATM回線終端装置30と通信するこ
とによって、ATM回線終端装置の構成情報のダウン
ロード、ATM回線終端装置の状態の確認、ATM
回線の障害情報の収集、ATM回線終端装置へのコマ
ンド発行等の起動を行う。
The maintenance terminal device 50 communicates with the ATM line termination device 30 via the I / O interface 37 to download the configuration information of the ATM line termination device, check the state of the ATM line termination device, check the state of the ATM line termination device,
It collects line fault information and starts commands such as issuing commands to ATM line terminators.

【0022】データ回線収容パッケージ32のブロック
構成を示す図2を用いて、データ回線パッケージの構成
とテストモードの動作を説明する。データ回線収容パッ
ケージ32は、データ受信機能321と、マイクロプロ
セッサ322と、セル組立機能323と、セル分解機能
324と、データ送出機能325とを有するCLAD装
置として構成される。さらに、データ回線収容パッケー
ジ32は、回線疎通試験を実行するに当たって、疎通試
験回線上に試験データであるテストパターンを生成する
機能と、受信したテストパターンを用いて回線の疎通状
態を検出する機能を有している。
The configuration of the data line package and the operation in the test mode will be described with reference to FIG. 2 showing the block configuration of the data line accommodation package 32. The data line accommodation package 32 is configured as a CLAD device having a data receiving function 321, a microprocessor 322, a cell assembling function 323, a cell disassembling function 324, and a data sending function 325. Further, the data line accommodating package 32 has a function of generating a test pattern, which is test data, on the communication test line and a function of detecting a line communication state using the received test pattern when executing the line communication test. Have.

【0023】データ受信機能321は、データ端末装置
10からのデータをデータ物理回線20を介して受信
し、マイクロプロセッサ322へ出力する。
The data receiving function 321 receives data from the data terminal device 10 via the data physical line 20 and outputs the data to the microprocessor 322.

【0024】マイクロプロセッサ322は、データ物理
回線20から受信したデータの手順を終端する機能を有
している。また、マイクロプロセッサ322は、セル分
解機能324から受信したデータをデータ手順フォーマ
ットに変換する機能を有している。
The microprocessor 322 has a function of terminating the procedure of data received from the data physical line 20. Further, the microprocessor 322 has a function of converting data received from the cell disassembly function 324 into a data procedure format.

【0025】マイクロプロセッサ322は、データ物理
回線20からの受信データの手順の終端を行いセル組立
機能323へ出力する。また、マイクロプロセッサ32
2は、物理回線40から受信したセルをデータ手順にフ
ォーマット変換しデータ送出機能325へ出力する。
The microprocessor 322 terminates the procedure of the data received from the data physical line 20 and outputs it to the cell assembling function 323. The microprocessor 32
2 converts the format of the cell received from the physical line 40 into a data procedure and outputs it to the data transmission function 325.

【0026】さらに、マイクロプロセッサ322は、テ
ストモード時に、テストパターンTPを生成してデータ
物理回線20またはパッケージ間スイッチ部31へ送出
する機能と、送出したテストパタンTPをカウントする
送出カウント機能と、データ物理回線20またはパッケ
ージ間スイッチ部31から受信したテストパターンTP
の数をカウントする受信カウント機能と、受信カウント
値が送信カウント値と一致しているか否かを検査するテ
ストパターンチェック機能とを有している。
Further, in the test mode, the microprocessor 322 has a function of generating a test pattern TP and transmitting it to the data physical line 20 or the inter-package switch unit 31, a transmission count function of counting the transmitted test pattern TP, Test pattern TP received from data physical line 20 or inter-package switch unit 31
And a test pattern check function for checking whether the received count value matches the transmitted count value.

【0027】通常通信モードの状態において、データ回
線収容パッケージ32は、データ端末装置10からデー
タ物理回線20を介して受信した受信データを、データ
受信機能321を介してマイクロプロセッサ322へ通
知する。
In the normal communication mode, the data line accommodation package 32 notifies the microprocessor 322 of data received from the data terminal device 10 via the data physical line 20 to the microprocessor 322 via the data reception function 321.

【0028】マイクロプロセッサ322は、受信データ
のデータの手順(フレームリレー・HDLC・BSC
等)の終端を行い、セル組立機能323を介して受信デ
ータをセルに組み立ててパッケージ間スイッチ部31へ
送信する。
The microprocessor 322 controls the data procedure of the received data (frame relay, HDLC, BSC
), And assembles the received data into cells via the cell assembling function 323 and transmits the cells to the inter-package switch unit 31.

【0029】データ端末装置10への送信データは、上
記とは反対にパッケージ間スイッチ部31からセル分解
機能324を介してセル分解されてマイクロプロセッサ
322へ通知され、データ手順フォーマットへ変換した
後、データ送出機能325を介してデータ端末装置10
へ送信される。
Contrary to the above, the data transmitted to the data terminal device 10 is disassembled from the inter-package switch unit 31 via the cell disassembly function 324 and notified to the microprocessor 322, and after being converted into the data procedure format, The data terminal device 10 via the data transmission function 325
Sent to

【0030】本発明にかかるATM回線終端装置の回線
疎通試験制御方式におけるループの設定の態様を図3を
用いて説明する。図3は図1に示したシステムを簡略化
して示している。破線で示すループは、コネクタを用い
て設定される物理的なループである。一方、実線で示す
ループは保守端末装置50から論理的に装置に設定され
る論理ループである。
Referring to FIG. 3, a description will be given of a mode of setting a loop in the line communication test control system of the ATM line terminal according to the present invention. FIG. 3 shows a simplified version of the system shown in FIG. The loop indicated by the broken line is a physical loop set using the connector. On the other hand, a loop indicated by a solid line is a logical loop that is logically set in the device from the maintenance terminal device 50.

【0031】送信側ATM回線終端装置のパッケージ間
スイッチ部31とデータ回線収容パッケージ32と中継
回線パッケージ33と、受信側ATM回線終端装置のパ
ッケージ間スイッチ部821とデータ回線パッケージ8
22と中継回線パッケージ823の受信側部分には、そ
れぞれ論理ループが保守端末装置50からの指令によっ
て設定される。中継回線パッケージ33,823の中継
回線40側、および、中継回線パッケージ823のデー
タ端末装置81側には、試験に当たって、ループコネク
タを接続することによって物理ループが設定される。
The inter-package switch unit 31, the data line accommodation package 32, and the trunk line package 33 of the transmission-side ATM line termination device, the inter-package switch unit 821 and the data line package 8 of the reception-side ATM line termination device
A logical loop is set in the receiving side of the relay line package 823 in accordance with a command from the maintenance terminal device 50. A physical loop is set on the side of the trunk line 40 of the trunk line packages 33 and 823 and on the side of the data terminal device 81 of the trunk line package 823 by connecting a loop connector in a test.

【0032】障害情報の収集を行うテストモードの説明
に先立って、図4を用いてテストパターンTPの構成
を、データ端末装置10とデータ回線収容パッケージ3
2との間で使用されるフレームリレープロトコルの場合
を例として説明する。データ回線収容パッケージ32と
回線網側との間ではATMプロトコルが使用され、固定
テストパターンと送信カウンタ値が搭載される。
Prior to the description of the test mode for collecting fault information, the configuration of the test pattern TP will be described with reference to FIG.
2 will be described as an example. The ATM protocol is used between the data line accommodation package 32 and the line network side, and a fixed test pattern and a transmission counter value are mounted.

【0033】フレームリレープロトコルの場合のデータ
フォーマットは、上位2バイトをアドレス等のヘッダフ
ィールド(アドレス=6/CR=1/EA=1/アドレ
ス=4/FECN=1/BECN=1/DE=1/EA
=1)として、下位2バイトをフレームチェックシーケ
ンス(FCS)フィールドとして規定化されている。さ
らに、ヘッダフィールドとFCSフィールドとの中間に
可変長のユーザー情報フィールドが規定されている。
In the data format in the case of the frame relay protocol, the upper 2 bytes are composed of header fields such as addresses (address = 6 / CR = 1 / EA = 1 / address = 4 / FECN = 1 / BECN = 1 / DE = 1). / EA
= 1), the lower two bytes are defined as a frame check sequence (FCS) field. Further, a variable length user information field is defined between the header field and the FCS field.

【0034】テストパターンTPは、ユーザ情報フィー
ルドに、テストデータとして、例えば、00H+11H
+22H・・・+EEH+FFHと送信カウンタ値から
構成される固定テストパターンを搭載して形成される。
送信カウンタ値は、送信されるフレームの送信順を示す
一連の番号からなる。
The test pattern TP is stored in the user information field as test data, for example, 00H + 11H
+ 22H... + EEH + FFH and a fixed test pattern composed of a transmission counter value.
The transmission counter value is composed of a series of numbers indicating the transmission order of the transmitted frame.

【0035】図2に示す回線網の障害情報を収集するテ
ストモード時において、回線網側へのデータ送信時の障
害情報を収集する送信テストモードの場合、マイクロプ
ロセッサ322は、テストパターン発生機能を用いて生
成したテストパターンTPを強制的にセル組立機能32
3でセルに組み立て、パッケージ間スイッチ部31へ送
信する。この場合、データ端末装置10側から受信した
データは無視され、回線網側には送出されない。送出さ
れるテストパターンTPのユーザ情報フィールドの送信
カウンタ値には、送出されるテストパターンTP毎に順
次カウントアップされた値が搭載されている。
In the test mode for collecting fault information of the network shown in FIG. 2, in the transmission test mode for collecting fault information at the time of data transmission to the network, the microprocessor 322 has a test pattern generation function. The test pattern TP generated by using the cell assembling function 32
At 3, the cell is assembled and transmitted to the inter-package switch unit 31. In this case, the data received from the data terminal device 10 is ignored and is not transmitted to the line network. The transmission counter value in the user information field of the test pattern TP to be transmitted includes a value that is sequentially counted up for each test pattern TP to be transmitted.

【0036】パッケージ間スイッチ部31方に設けたル
ープを介して返送されたテストパターンTPを搭載した
セルは、セル分解機能324でセル分解されて固定パタ
ーンと、送信カウンタ値が取り出され、受信した固定テ
ストパターンのチェックと、受信した送信カウンタ値と
送信カウンタの値との一致をチェックし、その結果を随
時ATM回線終端装置コントロールウェアへ通知する。
この場合、回線網側から受信した受信セルは無視され、
データ送出機能325から送信データとして出力しな
い。
The cell on which the test pattern TP returned via the loop provided in the inter-package switch unit 31 is mounted is disassembled by the cell disassembly function 324, and the fixed pattern and the transmission counter value are extracted and received. It checks the fixed test pattern, checks whether the received transmission counter value matches the value of the transmission counter, and notifies the ATM line termination device controlware of the result as needed.
In this case, the received cells received from the network side are ignored,
It is not output from the data transmission function 325 as transmission data.

【0037】一方、図2に示す回線網の障害情報を収集
するテストモード時において、データ物理回線側からの
データ受信時の障害情報を収集する受信テストモードの
場合、マイクロプロセッサ322は、テストパターン発
生機能で生成したテストパターンTPを強制的に送信デ
ータとして、データ送出機能325を介してデータ物理
回線20へ送信する。この場合、パッケージ間スイッチ
部31側からセル分解機能324を介して受信した受信
データは無視され、データ物理回線20側には送出され
ない。
On the other hand, in the test mode for collecting the fault information of the network shown in FIG. 2, in the reception test mode for collecting the fault information at the time of receiving data from the data physical line side, the microprocessor 322 includes the test pattern. The test pattern TP generated by the generation function is forcibly transmitted to the data physical line 20 via the data transmission function 325 as transmission data. In this case, the received data received from the inter-package switch unit 31 via the cell disassembly function 324 is ignored and is not transmitted to the data physical line 20 side.

【0038】データ物理回線20側に設けた物理的ルー
プで返送されたテストパターンTPはテストパターンチ
ェック機能によって、受信した固定テストパターンのチ
ェックと、受信した送信カウンタ値と送信カウンタの値
との一致をチェックし、結果を随時ATM回線終端装置
コントロールウェアへ通知する。この場合、データ物理
回線20から受信したデータはセル組立機能323側に
出力しない。
The test pattern TP returned by the physical loop provided on the data physical line 20 is checked by the test pattern check function to check the received fixed test pattern and to match the received transmission counter value with the transmission counter value. Is checked, and the result is notified to the ATM line termination equipment controlware as needed. In this case, the data received from the data physical line 20 is not output to the cell assembly function 323 side.

【0039】図5を用いて、障害情報収集開始コマンド
が投入されてからの処理シーケンスを説明する。まず、
保守員は保守端末装置50からループバックの設定対象
となる装置に対して、ループの設定を指示する。論理
ループの設定が可能な個所に対しては、保守端末装置5
0からの指示によって論理的にループが設定される。論
理ループの設定ができない個所に対しては、指示に従っ
て、人手もしくは機会によって物理ループが設定され
る。
The processing sequence after the failure information collection start command is input will be described with reference to FIG. First,
The maintenance staff instructs the loopback setting target device from the maintenance terminal device 50 to set the loop. For locations where a logical loop can be set, the maintenance terminal 5
A loop is logically set by an instruction from 0. At locations where a logical loop cannot be set, a physical loop is set manually or by an opportunity according to instructions.

【0040】対象個所にループが設定されると、保守員
は保守端末装置50から試験開始コマンドをATM回線
終端装置コントロールウェア(以下メインC/Wと称
す)へ向けて投入する。
When the loop is set at the target location, the maintenance person issues a test start command from the maintenance terminal device 50 to the ATM line termination device control ware (hereinafter referred to as main C / W).

【0041】保守端末装置50からメインC/Wへ通知
された試験開始コマンドは、メインC/Wでチェック後
データパッケージマイクロコントロールウェア(以下マ
イクロC/Wと称す)へ試験開始要求として通知される
The test start command notified from the maintenance terminal device 50 to the main C / W is notified as a test start request to the data package microcontrolware (hereinafter referred to as “micro C / W”) after checking in the main C / W. .

【0042】マイクロC/Wは試験開始を通知されたこ
とにより試験を開始し、かつ試験結果を随時メインC/
Wへ通知する。
The micro C / W starts the test when notified of the start of the test, and updates the test result as needed from the main C / W.
Notify W.

【0043】保守員が試験結果表示コマンドをメインC
/Wへ向けて投入する。試験結果は、メインC/Wか
ら保守端末装置50へ通知され、保守端末装置50の出
力手段に表示される。
The maintenance staff issues a test result display command to the main C
/ W. The test result is notified from the main C / W to the maintenance terminal device 50 and displayed on the output means of the maintenance terminal device 50.

【0044】所定の試験が終了すると、保守員は保守端
末装置50から面C/Wへ向けて試験終了コマンドを通
知する。
When the predetermined test is completed, the maintenance person notifies the maintenance terminal 50 of a test end command to the surface C / W.

【0045】保守端末装置50からメインC/Wへ通知
された試験終了コマンドは、メインC/Wでチェック後
マイクロC/Wへ試験終了要求として通知される。マ
イクロC/Wは試験を停止する処理を実行する。
The test end command notified from the maintenance terminal device 50 to the main C / W is checked by the main C / W and then notified to the micro C / W as a test end request. The micro C / W executes a process for stopping the test.

【0046】試験終了処理が終了すると、保守端末装置
50からループ開放指示を通知し、ループを開放し
て、試験を終了する。
When the test termination processing is completed, a loop release instruction is notified from the maintenance terminal device 50, the loop is released, and the test is terminated.

【0047】マイクロC/Wから取得する結果内容とし
ては、「試験開始日時」、「試験時間」、「送信データ
数」、「受信データ数」、「正常受信データ数」、「異
常データ受信数」等がある。
The contents of results obtained from the micro C / W include “test start date and time”, “test time”, “number of transmitted data”, “number of received data”, “number of normal received data”, “number of abnormal data received”. And so on.

【0048】テストモード時のパッケージマイクロC/
Wのテストパターンの送信制御を図6のフローチャート
を用いて説明する。上位のメインC/Wから試験開始要
求を受けると、パッケージマイクロC/Wは内部カウン
タを初期化する(S1)。
In the test mode, the package micro C /
The transmission control of the W test pattern will be described with reference to the flowchart of FIG. When receiving a test start request from the upper main C / W, the package micro C / W initializes an internal counter (S1).

【0049】次いで、内部カウンタのカウント値(この
場合はクリア値)を記載した送信カウンタ値と固定テス
トパターンデータを搭載したテストパターンTPを送信
する(S2)。
Next, a test pattern TP carrying fixed test pattern data and a transmission counter value describing the count value (clear value in this case) of the internal counter is transmitted (S2).

【0050】次いで、内部カウンタの送信カウンタ値を
更新する(S3)。その後、ステップS2へ戻って、試
験データ送信・内部カウンタ値の更新・送信カウンタ値
の更新を繰り返し制御する。
Next, the transmission counter value of the internal counter is updated (S3). Thereafter, the process returns to step S2, and repeats control of test data transmission, updating of the internal counter value, and updating of the transmission counter value.

【0051】テストモード時のパッケージマイクロC/
Wのテストパターンの受信制御を図7のフローチャート
を用いて説明する。試験が開始されると、受信データの
試験固定テストパターンデータを参照して受信データが
試験固定テストパターンデータであるか否かをチェック
する(S21)。
In the test mode, the package micro C /
The reception control of the test pattern of W will be described with reference to the flowchart of FIG. When the test is started, it is checked whether the received data is test fixed test pattern data by referring to the test fixed test pattern data of the received data (S21).

【0052】受信データが固定テストパターン以外であ
ればパターンチェック機能に設けたエラーカウンタの値
を更新する(S26)。
If the received data is other than the fixed test pattern, the value of the error counter provided in the pattern check function is updated (S26).

【0053】受信データが固定テストパターンであると
きには、受信データに記載されている送信カウンタ値が
パターンチェック機能に設けた受信カウンタの値と一致
するか否かをチェックする(S22)。
When the received data is a fixed test pattern, it is checked whether or not the transmission counter value described in the received data matches the value of the reception counter provided in the pattern check function (S22).

【0054】送信カウンタ値が正常であるときには、パ
ターンチェック機能に設けた受信カウンタの値を更新し
(S23)、パターンチェック機能に設けた正常受信カ
ウンタの値を更新する(S23)。
When the transmission counter value is normal, the value of the reception counter provided in the pattern check function is updated (S23), and the value of the normal reception counter provided in the pattern check function is updated (S23).

【0055】送信カウンタ値が不一致のときは、送信デ
ータが欠落したと認識してパターンチェック機能に設け
た受信カウンタ値を補正し(S25)、パターンチェッ
ク機能に設けたエラーカウントのカウント値を更新する
(S26)。
If the transmission counter values do not match, it is recognized that the transmission data is missing, the reception counter value provided for the pattern check function is corrected (S25), and the error count value provided for the pattern check function is updated. (S26).

【0056】ステップS24,26の後、ステップS2
1へ戻って次のテストデータの受信に対応する。送信カ
ウンタ値・受信カウンタ値・正常受信カウンタ値・エラ
ーカウンタ値は随時上位メインC/Wへ通知する。
After steps S24 and S26, step S2
Returning to step 1 corresponds to the reception of the next test data. The transmission counter value, reception counter value, normal reception counter value, and error counter value are notified to the upper main C / W at any time.

【0057】以上のように、本発明によれば、回線の疎
通試験時に、ATM端末回線終端装置に収容された保守
端末装置から回線上にループバックを自由に設定して、
回線の品質を試験することができるので、ループバック
個所を順次変更して試験することによって、障害個所の
切り分けを容易に行うことができる。
As described above, according to the present invention, a loopback can be freely set on a line from a maintenance terminal device accommodated in an ATM terminal line termination device during a line communication test.
Since the quality of the line can be tested, it is possible to easily identify the faulty part by sequentially changing the loopback part and performing the test.

【0058】上記説明は、ATM回線終端装置について
説明したが、本発明はATM回線終端装置に限らず全て
のデータ通信をサポートする回線終端装置に適用するこ
とができる。
Although the above description has been made with reference to an ATM line termination device, the present invention is not limited to the ATM line termination device but can be applied to a line termination device that supports all data communications.

【0059】[0059]

【発明の効果】本発明は容易に回線品質の測定すること
が可能であり、ATM回線終端装置の対向装置端末のル
ープのみならず図3に示すように装置内・ネットワーク
内で複数のループポイントを持つことにより場外部位の
切り分けに活用することも可能となる。また、装置を遠
隔で操作することにより容易に試験を実施することが可
能となる。
According to the present invention, it is possible to easily measure the line quality, and it is possible to easily measure not only the loop of the terminal of the opposite device of the ATM line termination device but also a plurality of loop points in the device and in the network as shown in FIG. With this, it is possible to utilize it for the separation of the outside of the field. In addition, a test can be easily performed by operating the apparatus remotely.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明回線疎通試験方式が適用されるATM回
線網の構成図。
FIG. 1 is a configuration diagram of an ATM network to which a circuit communication test method of the present invention is applied.

【図2】データ回線パッケージの構成を示すブロック
図。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a data line package.

【図3】ネットワーク内に設けるループバックポイント
の例を説明する図。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a loopback point provided in a network.

【図4】回線疎通試験時の送信テストデータ(テストパ
ターン)の例を示す図。
FIG. 4 is a diagram showing an example of transmission test data (test pattern) at the time of a line communication test.

【図5】回線疎通試験実施時のシーケンス図。FIG. 5 is a sequence diagram when a line communication test is performed.

【図6】データ回線収容パッケージマイクロコントロー
ルウェアの回線試験時の送信制御フローチャート。
FIG. 6 is a transmission control flowchart for a line test of the data line accommodation package microcontroller.

【図7】データ回線収容パッケージマイクロコントロー
ルウェアの回線試験時の受信制御フローチャート。
FIG. 7 is a reception control flowchart for a line test of the data line accommodation package microcontrolware.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 データ端末装置 20 データ物理回線 31 パッケージ間スイッチ部 32 データ回線収容パッケージ 33 中継回線パッケージ 34 バス 35 主記憶装置 36 中央制御装置 37 I/Oインターフェース 40 中継回線 50 保守端末装置 80 対向装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Data terminal device 20 Data physical line 31 Inter-package switch part 32 Data line accommodation package 33 Relay line package 34 Bus 35 Main storage device 36 Central control device 37 I / O interface 40 Relay line 50 Maintenance terminal device 80 Opposing device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 遠藤 美智夫 福島県郡山市字船場向94番地 株式会社日 立テレコムテクノロジー内 (72)発明者 渡辺 寿勝 福島県郡山市字船場向94番地 株式会社日 立テレコムテクノロジー内 (72)発明者 渡辺 徹 福島県郡山市字船場向94番地 株式会社日 立テレコムテクノロジー内 Fターム(参考) 5K019 AC09 BA51 BB32 CC14 CC15 CC16 CD08 CD11 5K030 GA12 GA14 HA10 JA08 JA10 KA16 MA03 MB20 MC02 5K035 AA07 BB01 CC06 FF04 GG06 HH03 9A001 BB04 CC06 KK56 LL05  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Michio Endo 94 Nippon Telecom Technology Co., Ltd. (72) Inventor: Toru Watanabe 94 Tochiba, Koriyama-shi, Fukushima Prefecture F-term in Hitachi Co., Ltd. F-term (reference) 5K019 AC09 BA51 BB32 CC14 CC15 CC16 CD08 CD11 5K030 GA12 GA14 HA10 JA08 JA10 KA16 MA03 MB20 MC02 5K035 AA07 BB01 CC06 FF04 GG06 HH03 9A001 BB04 CC06 KK56 LL05

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 データ回線を収容するATM回線終端装
置と、該ATM回線終端装置に収容される保守端末装置
とからなるATM回線の疎通試験制御方式において、 保守端末装置からの指示によって、ATM回線またはデ
ータ回線の所定個所にループバックを形成し、ATM回
線終端装置から送出する試験データに送信カウンタ値を
搭載して前記回線に送出するようにしたことを特徴とす
る回線疎通試験制御方式。
In an ATM line communication test control system comprising an ATM line termination device accommodating a data line and a maintenance terminal device accommodated in the ATM line termination device, an ATM line is controlled by an instruction from the maintenance terminal device. Alternatively, a loopback is formed at a predetermined portion of a data line, and a test counter data transmitted from an ATM line termination device is loaded with a transmission counter value and is transmitted to the line.
【請求項2】 ATM回線終端装置に、試験データに搭
載した送信カウンタ値と、受信カウント値を比較する機
能を設けたことを特徴とする請求項1に記載の回線疎通
試験制御方式。
2. The line communication test control method according to claim 1, wherein the ATM line termination device is provided with a function of comparing a transmission counter value mounted on test data with a reception count value.
【請求項3】 ATM回線終端装置に、正常受信カウン
タとエラーカウンタを設け、回線の品質を測定すること
を特徴とする請求項2に記載の回線疎通試験制御方式。
3. The line communication test control method according to claim 2, wherein a normal reception counter and an error counter are provided in the ATM line termination device to measure the line quality.
【請求項4】 テストパターンを生成し試験回線上に送
出するテストパターン生成機能と、試験回線上から受信
したテストパターンをチェックするテストパターンチェ
ック機能とを有することを特徴とするATM回線終端装
置。
4. An ATM line termination device having a test pattern generation function of generating a test pattern and transmitting the test pattern on a test line, and a test pattern check function of checking a test pattern received from the test line.
【請求項5】 試験回線上の任意の個所にループバック
を設定する機能を有することを特徴とする請求項4に記
載のATM回線終端装置。
5. The ATM line termination device according to claim 4, further comprising a function of setting a loopback at an arbitrary position on a test line.
【請求項6】 テストパターン生成機能は、テストパタ
ーンに送信カウント値を記載する機能を有することを特
徴とする請求項4または請求項5に記載のATM回線終
端装置。
6. The ATM line termination device according to claim 4, wherein the test pattern generation function has a function of writing a transmission count value in the test pattern.
【請求項7】 テストパターンチェック機能は、受信カ
ウンタと、受信したテストパターンの送信カウンタ値を
受信カウンタの値を比較する機能を有することを特徴と
する請求項4または請求項5に記載のATM回線終端装
置。
7. The ATM according to claim 4, wherein the test pattern check function has a function of comparing a reception counter with a transmission counter value of a received test pattern and a value of the reception counter. Line termination equipment.
【請求項8】 テストパターンチェック機能は、テスト
パターンに搭載されたテストパターンであることを検出
する機能を有することを特徴とする請求項4または請求
項5に記載のATM回線終端装置。
8. The ATM line termination device according to claim 4, wherein the test pattern check function has a function of detecting that the test pattern is a test pattern mounted on the test pattern.
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Cited By (5)

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