JP2001007365A - Solar cell - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光エネルギーを電
気エネルギーに変換する太陽電池に関し、特にSi系の
太陽電池における半導体層の窓材を改良することによ
り、エネルギー変換効率の高効率化を図った太陽電池に
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solar cell for converting light energy into electric energy, and more particularly, to improving energy conversion efficiency by improving a window material of a semiconductor layer in a Si-based solar cell. Related to solar cells.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、Si系の太陽電池、なかでもa−
Si太陽電池は、金属または透明導電体からなる電極、
a−Siからなるp型半導体層(p層)、a−Siから
なるノンドープ層または絶縁性層(i層)、a−Siか
らなるn型半導体層(n層)、金属または透明導電体か
らなる電極、からなり、図1に示すようなバンドダイヤ
グラムになっている。図1において、Evは価電子帯の
項上のエネルギー、Ecは伝導帯の底のエネルギーであ
る。また、Efはフェルミ準位、hω1、hω2は入射し
た光子、白丸および黒丸はキャリアを表わしている。i
層では、光電流生成と生成されたキャリアの輸送がおこ
なわれ、pおよびn層は、i層中にキャリアドリフトを
促進する内蔵電位を作りだし、光生成キャリアを収集す
る。またp層は、光の入射側の窓に用いられ、ここで
は、光吸収が少なく、有効にi層に光を透過させる工夫
がなされている。2. Description of the Related Art Conventionally, Si-based solar cells, in particular, a-
Si solar cell is an electrode made of metal or transparent conductor,
a-type p-type semiconductor layer (p-layer) made of a-Si, non-doped layer or insulating layer (i-layer) made of a-Si, n-type semiconductor layer (n-layer) made of a-Si, metal or transparent conductor , And a band diagram as shown in FIG. In FIG. 1, Ev is the energy on the valence band term, and Ec is the energy on the bottom of the conduction band. Ef represents the Fermi level, hω 1 and hω 2 represent incident photons, and white circles and black circles represent carriers. i
The layers generate photocurrent and transport the generated carriers, and the p and n layers create a built-in potential that promotes carrier drift in the i layer and collect photogenerated carriers. The p-layer is used for a window on the light incident side. Here, the light absorption is small, and a device for effectively transmitting light to the i-layer is devised.
【0003】このような太陽電池において高いエネルギ
ー変換効率を得るためには、太陽電池を構成する各層と
接合構成を最適にする必要がある。In order to obtain high energy conversion efficiency in such a solar cell, it is necessary to optimize each layer constituting the solar cell and the junction structure.
【0004】基本的には、光エネルギーをできるだけ有
効に半導体内に導く光エネルギーの整合。半導体の光伝
導作用による光キャリアの生成。内部電場による光生成
キャリアの分極。光生成キャリアをなるべく有効に端子
に導き出す電極への収集。以上が効率よく行われる構造
にすればよい。[0004] Basically, light energy matching that guides light energy into a semiconductor as efficiently as possible. Generation of photocarriers by photoconductive action of semiconductor. Polarization of photogenerated carriers by internal electric field. Collection to the electrode that guides photogenerated carriers to the terminals as effectively as possible. What is necessary is just to make the structure which performs the above efficiently.
【0005】具体的には、高効率化を図る主な手段とし
ては、 (1)テクスチャ基板を用いた光トラッピング効果を利
用。例:凹凸電極を利用し、光吸収度を高める方法。 (2)a-Siより狭いバンドギャップ材と組み合わせたタ
ンデム構造。例:pin-pin-pin構造の採用。 (3)ワイドギャップp層を用いたヘテロ接合窓を採用
する。例:p型a-SiC窓の利用。などが挙げられる。
これらについてさらに詳細に説明すると、[0005] Specifically, the main means for achieving high efficiency are (1) utilizing the light trapping effect using a texture substrate. Example: A method of increasing light absorption by using a concave-convex electrode. (2) A tandem structure combined with a band gap material narrower than a-Si. Example: Adoption of pin-pin-pin structure. (3) A heterojunction window using a wide gap p-layer is employed. Example: Use of a p-type a-SiC window. And the like.
To explain these in more detail,
【0006】(1)は、例えば第30回応用物理学関係
連合講演会予稿集7a−A−10、(1983)349
ページに述べられている。光学的整合の部分で受けた太
陽の光エネルギーをなるべく有効に活性層である半導体
に閉じこめるための方策で、具体的にはAR(無反射)
コーティングとかテクスチャ表面処理などによって、一
旦半導体部に入射した光を、裏面電極などの反射で再び
外部に逃がさないように閉じこめる方法である。[0006] (1) is, for example, the 30th Applied Physics-related Lecture Meeting Proceedings 7a-A-10, (1983) 349.
Is stated on the page. This is a method to confine the solar light energy received in the optical matching part to the semiconductor, which is the active layer, as effectively as possible. Specifically, AR (anti-reflection)
This is a method in which light once entering the semiconductor portion is confined by coating, texture surface treatment, or the like so as not to escape to the outside again by reflection from the back electrode or the like.
【0007】(2)は、例えばH.TakamuraによりJpn.J.
Appl.Phys.31(1992)2394ページに述べられている。より
広いエネルギースペクトルを収集するため、2から3種
類の半導体によるスペクトル感度を光入射側からワイド
ギャップ材→ナローギャップ材へと積層し、全体として
のスペクトル感度を広げようとするものである。[0007] (2) is described, for example, by H. Takamura in Jpn.
Appl. Phys. 31 (1992) at page 2394. In order to collect a wider energy spectrum, spectral sensitivities of two or three types of semiconductors are stacked from a light incident side to a wide gap material → a narrow gap material, so as to broaden the spectral sensitivity as a whole.
【0008】本発明では、特に、上記(3)に注目して
いる。a−SiCをワイドギャップp層とした構造で
は、例えばSolar Energy Materials,6,(1982)299ページ
にT.Tawadaらにより述べられている。また、a−SiC
の他、p型a−SiOを用いることも検討されている。
これらの材料では、p層の吸収係数の減少とワイドギャ
ップ化によると思われるI−V特性の向上により高効率
化を達成している。The present invention pays particular attention to the above (3). The structure in which a-SiC has a wide gap p layer is described by T. Tawada et al. in, for example, Solar Energy Materials, 6, pp. 299 (1982). Also, a-SiC
In addition, the use of p-type a-SiO is also being studied.
In these materials, high efficiency is achieved by reducing the absorption coefficient of the p-layer and improving the IV characteristics presumably due to the wide gap.
【0009】このように、ワイドギャップp層を用いる
と高効率化が可能であるにもかかわらず、太陽電池とし
て、検討されたワイドギャプp層材は、p型a−SiC
または、p型a−SiOのみであった。その他のp型材
料は、アモルファス、または多結晶状態でワイドギャッ
プでp型導電性が得られ難いため、太陽電池として、検
討された例がなく、p層窓材による高効率化は進められ
ていない。As described above, despite the fact that high efficiency can be achieved by using a wide gap p-layer, a wide gap p-layer material studied as a solar cell is a p-type a-SiC.
Or, it was only p-type a-SiO. Since other p-type materials have difficulty in obtaining p-type conductivity in a wide gap in an amorphous or polycrystalline state, there has been no study on a solar cell, and higher efficiency by a p-layer window material is being promoted. Absent.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、多結
晶膜状態でp型半導体となるカルコパイライト化合物ま
たは変形カルコパイライト化合物または酸化物材料であ
るCuAlO2 、SrCu2O2 などのCuを含む複合
酸化物からなる層を太陽電池のp層窓材とすることによ
り、高効率で安価な太陽電池を提供することである。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a method for forming a p-type semiconductor in a polycrystalline film, such as a chalcopyrite compound or a modified chalcopyrite compound or an oxide material such as CuAlO 2 or SrCu 2 O 2. An object of the present invention is to provide a highly efficient and inexpensive solar cell by using a layer made of a composite oxide containing the same as a p-layer window material of the solar cell.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】このような目的は、下記
(1)〜(5)のいずれかの構成により達成される。 (1) Si系の太陽電池であって、p型半導体層が多
結晶薄膜であり、バンドギャップ2.4eV以上である
太陽電池。 (2) 前記p型半導体層がカルコパイライト化合物ま
たは変形カルコパイライト化合物である上記(1)の太
陽電池。 (3) 前記p型半導体層が少なくともCuを含む複合
酸化物である上記(1)の太陽電池。 (4) 前記Cuを含む複合酸化物がデラフォサイト化
合物である上記(3)の太陽電池。 (5) 前記Cuを含む複合酸化物の主成分がSrCu
2O2 である上記(3)の太陽電池。This object is achieved by any one of the following constitutions (1) to (5). (1) An Si-based solar cell, wherein the p-type semiconductor layer is a polycrystalline thin film and has a band gap of 2.4 eV or more. (2) The solar cell according to (1), wherein the p-type semiconductor layer is a chalcopyrite compound or a modified chalcopyrite compound. (3) The solar cell according to (1), wherein the p-type semiconductor layer is a composite oxide containing at least Cu. (4) The solar cell according to (3), wherein the composite oxide containing Cu is a delafossite compound. (5) The main component of the composite oxide containing Cu is SrCu
The solar cell of (3) above, which is 2 O 2 .
【0012】[0012]
【作用】本発明者らは、多結晶膜状態でワイドギャップ
でかつp型導電性の薄膜が太陽電池p層として、極めて
有効であることを見いだした。The present inventors have found that a thin film having a wide gap and a p-type conductivity in a polycrystalline film state is extremely effective as a solar cell p-layer.
【0013】本発明は、多結晶膜状態でp型半導体とな
るカルコパイライト化合物または変形カルコパイライト
化合物または酸化物材料であるCuAlO2 、SrCu
2O2 などのCuを含む複合酸化物からなる層を太陽電池
のp層窓材にしたものであり、従来のa−SiCp型窓
材に代えて、さらにバンドギャップの広い材料で高効率
で安価な太陽電池の実現が可能になるものである。The present invention provides a p-type semiconductor in a polycrystalline film state.
Chalcopyrite or modified chalcopyrite
CuAlO which is a compound or oxide materialTwo, SrCu
TwoOTwo A layer made of a composite oxide containing Cu such as a solar cell
And a conventional a-SiCp type window
Higher efficiency with wider band gap material instead of material
Inexpensive solar cells can be realized.
【0014】太陽電池用のp層は、でガラス基板等の上
に多結晶状態で形成できることが必要である。そこで各
種半導体材料の薄膜の薄膜形成と物性評価、およびa−
Siとの接合特性評価を行ない、検討を行った。It is necessary that a p-layer for a solar cell can be formed in a polycrystalline state on a glass substrate or the like. Therefore, thin film formation and physical property evaluation of thin films of various semiconductor materials, and a-
The bonding characteristics with Si were evaluated and examined.
【0015】この検討の中で、本発明者らは、p型a−
SiC型半導体薄膜に代わり、バンドギャップの大きい
p型半導体であるカルコパイライト化合物または変形カ
ルコパイライト化合物またはCuを含む複合酸化物から
なる層に注目した。In this study, the present inventors found that p-type a-
Instead of the SiC type semiconductor thin film, attention was paid to a layer made of a chalcopyrite compound, a modified chalcopyrite compound, or a composite oxide containing Cu, which is a p-type semiconductor having a large band gap.
【0016】すなわち、本発明は、従来のp型a−Si
C半導体の代わりに、よりバンドギャップの大きいp型
半導体であるカルコパイライト化合物または変形カルコ
パイライト化合物またはCuを含む複合酸化物からなる
p型半導体層を使用した結果、高効率化に有効であるこ
とがわかった。ちなみにa−SiCのバンドギャップ
は、2.0eV程度以下である。That is, the present invention provides a conventional p-type a-Si
As a result of using a p-type semiconductor layer made of a chalcopyrite compound or a modified chalcopyrite compound, which is a p-type semiconductor having a larger band gap, or a composite oxide containing Cu, instead of the C semiconductor, it is effective in increasing the efficiency. I understood. Incidentally, the band gap of a-SiC is about 2.0 eV or less.
【0017】p型ワイドギャップ窓材を用いた場合のバ
ンド構造を図2に示す。ここでは、通常のa−Si太陽
電池では、窓側のp型層の光吸収が大きいが、本発明で
はワイドギャップのp層窓を用いることにより光吸収が
少なく、また短波長の光も有効にi層に光を導くことが
できる。なお、図中の符号は図1と同様であるので説明
を省略する。FIG. 2 shows a band structure when a p-type wide gap window material is used. Here, in a normal a-Si solar cell, the light absorption of the p-type layer on the window side is large, but in the present invention, light absorption is small by using a wide-gap p-layer window, and light of short wavelength is also effectively used. Light can be guided to the i-layer. Note that the reference numerals in the figure are the same as those in FIG.
【0018】また、p層とi層の界面には、図2に示す
ようにフェルミ準位の差による電界ができるので、i層
内で生成された少数キャリアのうちp層側の電極に向か
うものが反射される。従って、p層側の電極近傍部で再
結合することがなくなり、n層側に向かうものが増加す
るため、効率が上がる。At the interface between the p-layer and the i-layer, an electric field is generated due to the Fermi level difference as shown in FIG. 2, so that the minority carriers generated in the i-layer are directed toward the electrode on the p-layer side. Things are reflected. Therefore, recombination does not occur in the vicinity of the electrode on the p-layer side, and the number of components toward the n-layer side increases, so that the efficiency increases.
【0019】さらに、p層とn層のフェルミ準位を用い
て、キャリアを有効に取り出すための内部電界を大きく
取れ、開放電圧の増大をもたらす。Further, by using the Fermi levels of the p-layer and the n-layer, an internal electric field for effectively extracting carriers can be increased, thereby increasing the open-circuit voltage.
【0020】なお、1価のCuを含む複合酸化物である
デラフォサイト化合物、SrCu2O2 化合物に関して
は、例えば、New GLASS 第13巻 2号
(1998)43ページ、川副博司、細野秀雄 ”p型導電
性透明酸化物の探索”、Nature 第389号
(1988) 941ページ、H.KAWAZOE、M.Y
ASUKAWA、H.HYODO、M.KURITA、
H.YANAGI、H.HOSONO ”P-type elect
rical conduction in transparent thin films ofCuAlO
2”、Applied Physics Letters 第73号(1998) 22
0ページ、A.KUDO、H.YANAGI、H.HO
SONO、H.KAWAZOE”SrCu2O2: Ap-type con
ductive oxide with wide band gap”等において検討さ
れている。The delafossite compound and the SrCu 2 O 2 compound which are monovalent Cu-containing composite oxides are described in, for example, New GLASS Vol.
(1998) p. 43, Hiroshi Kawasoe, Hideo Hosono "Search for p-type conductive transparent oxides", Nature No. 389
(1988) p. 941; KAWAZOE, M.A. Y
ASKAWA, H .; HYODO, M.A. KURITA,
H. YANAGI, H .; HOSONO "P-type elect
rical conduction in transparent thin films of CuAlO
2 ", Applied Physics Letters No. 73 (1998) 22
Page 0, A. KUDO, H .; YANAGI, H .; HO
SONO, H .; KAWAZOE ”SrCu 2 O 2 : Ap-type con
ductive oxide with wide band gap ".
【0021】しかしながら、上記文献で検討されている
薄膜材料は、透明導電体に関するもので、太陽電池のp
型窓材への応用については未だ検討されたものはない。However, the thin film materials discussed in the above literature relate to transparent conductors,
No application has been considered for mold window materials.
【0022】[0022]
【発明の実施の形態】本発明の太陽電池は、Si系太陽
電池において、p型半導体層が多結晶薄膜であり、バン
ドギャップ2.4eV以上であることを特徴とする。p
型半導体としては、カルコパイライト化合物または変形
カルコパイライト化合物または、少なくともCuを含む
複合酸化物が好ましい。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The solar cell of the present invention is characterized in that, in a Si-based solar cell, the p-type semiconductor layer is a polycrystalline thin film and has a band gap of 2.4 eV or more. p
As the type semiconductor, a chalcopyrite compound or a modified chalcopyrite compound, or a composite oxide containing at least Cu is preferable.
【0023】カルコパイライト化合物または変形カルコ
パイライト型化合物は、せん亜鉱(zincblende)に類似し
た結晶構造を有し、例えば、せん亜鉱を2つ積み重ねて
2価のZnを交互に1価のCuと、3価のFeで置き換
えたものと見なすことができる。カルコパイライト化合
物または変形カルコパイライト化合物は、エピタキシャ
ル膜でもよいが、非晶質、多結晶の薄膜においてもp型
導電性を示す薄膜が容易に得られる。ドーピングも簡単
である。また通電や温度による電気的特性変化も少な
く、電極材との電気化学反応もない。さらに透光性にも
優れている。The chalcopyrite compound or the modified chalcopyrite type compound has a crystal structure similar to zincite, for example, by stacking two zincite and alternately adding divalent Zn to monovalent Cu. And trivalent Fe. The chalcopyrite compound or the modified chalcopyrite compound may be an epitaxial film, but a thin film having p-type conductivity can be easily obtained even from an amorphous or polycrystalline thin film. Doping is also easy. In addition, there is little change in electrical characteristics due to energization or temperature, and there is no electrochemical reaction with the electrode material. Furthermore, it is excellent in translucency.
【0024】本発明で用いるカルコパイライト化合物ま
たは変形カルコパイライト化合物は、カルコパイライト
化合物としては、CuAlS2 に代表されるI−III−V
I2あるいはZnSnAs2 に代表されるII−IV−V2 、
ZnAl2Se4 に代表されるII−III2−VI4 (ここで
I族元素としてはCu、Agなど、III族元素としては
Al、Ga、In、Tlなど、VI族元素としては、S、
Se、Teなど、II族元素としては、Zn、Cdなど、
IV族元素としてはSi、Ge、Snなど、また、V 族元
素としてはP、As、Sbなど)などの化合物およびこ
れらの化合物を用いた複数成分の組み合わせの混晶化合
物が好ましい。The chalcopyrite compound or the modified chalcopyrite compound used in the present invention is a chalcopyrite compound, which is I-III-V represented by CuAlS 2.
II-IV-V 2 represented by I 2 or ZnSnAs 2,
II-III 2 -VI 4 typified by ZnAl 2 Se 4 (here, Cu, Ag, etc. as Group I elements, Al, Ga, In, Tl, etc. as Group III elements, S, V, etc. as Group VI elements)
Group II elements such as Se and Te include Zn and Cd.
Compounds such as Si, Ge, and Sn as Group IV elements, and compounds such as P, As, and Sb as Group V elements, and mixed crystal compounds of combinations of a plurality of components using these compounds are preferable.
【0025】変形カルコパイライト化合物としては、C
uAlGeS4 に代表されるI−III−IV−VI4 (I、I
II、IV、VIは上記と同様)の欠陥カルコパイライト化合
物、Cu5AlSe4 に代表されるI5−III−VI
4 (I、III、VIは上記と同様)の化合物およびこれら
の化合物を用いた複数成分の組み合わせの混晶化合物が
好ましい。Examples of the modified chalcopyrite compound include C
I-III-IV-VI 4 represented by uAlGeS 4 (I, I
II, IV, defect chalcopyrite compound of VI is similar to the above), typified by Cu 5 AlSe 4 I 5 -III- VI
4 (I, III, and VI are the same as described above) and a mixed crystal compound of a combination of a plurality of components using these compounds are preferable.
【0026】これらの化合物の組成比は厳密に上記した
値をとるのではなく、それぞれの元素に関してある程度
の固溶限を有している。従って、その範囲の組成比であ
ればよい。The composition ratios of these compounds do not exactly take the values described above, but each compound has a certain solid solubility limit. Therefore, the composition ratio may be within the range.
【0027】以上のような化合物の中でも、CuAlS
2 、CuAlSe2 、CuGaS2、CuGaSe2 、
AgAlS2 、AgAlSe2 、AgGaS2 、AgG
aSe2 およびこれらの混晶化合物は、組成制御が容易
でワイドギャップの半導体となるため特に好ましい。Among the above compounds, CuAlS
2 , CuAlSe 2 , CuGaS 2 , CuGaSe 2 ,
AgAlS 2 , AgAlSe 2 , AgGaS 2 , AgG
aSe 2 and their mixed crystal compounds are particularly preferable because they can be easily controlled in composition and become a wide-gap semiconductor.
【0028】1価のCuを含む複合酸化物のうち、デラ
フォサイト化合物、例えば、CuAlO2 化合物では、
1価のCuと、3価のAlによるCu+ 、AlO2 - が
それぞれc軸に垂直な2次元平面を形成し、交互に積層
している。SrCu2O2 は、O−Cu−Oのダンベル
構造のユニットがジグザグにつながり、1次元のチェー
ンを結晶構造中で形成している。デラフォサイト化合物
またはSrCu2O2は、エピタキシャル膜でもよいが、
非晶質、多結晶の薄膜においてもp型導電性を示す薄膜
が容易に得られる。ドーピングも可能である。また通電
や温度による電気的特性変化も少なく、電極材との電気
化学反応も少ないない。さらに透光性にも優れている。Among the composite oxides containing monovalent Cu, delafossite compounds, for example, CuAlO 2 compounds
A monovalent Cu, Cu + by trivalent Al, AlO 2 - to form a two-dimensional plane perpendicular to the c-axis, respectively, are alternately laminated. In SrCu 2 O 2 , units having a dumbbell structure of O—Cu—O are connected in a zigzag manner to form a one-dimensional chain in a crystal structure. The delafossite compound or SrCu 2 O 2 may be an epitaxial film,
A thin film having p-type conductivity can be easily obtained even in an amorphous or polycrystalline thin film. Doping is also possible. In addition, there is little change in electrical characteristics due to energization or temperature, and there is not much electrochemical reaction with the electrode material. Furthermore, it is excellent in translucency.
【0029】本発明で用いる1価のCuを含む複合酸化
物としては、デラフォサイト化合物であるCuAlO2
に代表されるI−III−VI2 あるいはZnAl2O4 に代
表されるII−III2−VI4 (ここでI族元素としてはC
u、Agなど、III族元素としてはAl、Ga、In、
Tlなど、VI族元素としては、O、S、Se、Teな
ど、II族元素としては、Zn、Cdなど、IV族元素とし
てはSi、Ge、Snなど、また、V族元素としては
P、As、Sbなど)などの化合物またはSrCu2O
2 、または、SrCu2O2 において、Srの代わりに
他のアルカリ土類金属、または、Sc、Yおよび他のア
ルカリ金属を用いた、例えば、BaCu2O2 等のAC
u2O2 (A:アルカリ土類金属、または希土類金属)
で表されるものが好ましい。さらに、およびこれらの化
合物を用いた複数成分の組み合わせの混晶化合物が好ま
しい。Composite oxidation containing monovalent Cu used in the present invention
The material is delafossite compound CuAlO.Two
I-III-VI represented byTwoOr ZnAlTwoOFourNiyo
II-III representedTwo−VIFour(Where the group I element is C
Group III elements such as u and Ag include Al, Ga, In,
Group VI elements such as Tl include O, S, Se, and Te.
Group II elements include group IV elements such as Zn and Cd.
Si, Ge, Sn, etc.
Pr, As, Sb, etc.) or SrCu2O
TwoOr SrCuTwoOTwo, Instead of Sr
Other alkaline earth metals or Sc, Y and other metals
For example, BaCu using rukari metalTwoOTwoAC such as
uTwoOTwo(A: alkaline earth metal or rare earth metal)
Is preferably represented by In addition, and their conversion
A mixed crystal compound of a combination of a plurality of components using a compound is preferred.
New
【0030】これらの化合物の組成比は厳密に上記した
値をとるのではなく、それぞれの元素に関してある程度
の固溶限を有している。従って、CuAlO2 、SrC
u2O2 などの酸化物は、その範囲の組成比であればよ
い。The composition ratio of these compounds does not exactly take the above-mentioned values, but has a certain solid solubility limit for each element. Therefore, CuAlO 2 , SrC
An oxide such as u 2 O 2 may have a composition ratio within the range.
【0031】以上のような化合物の中でも、CuAlO
2 、CuGaO2 、ACu2O2 (A:アルカリ土類金
属、または希土類金属で、特にSr、Baが好ましい)
およびこれらの混晶化合物は、組成制御が容易でワイド
ギャップの半導体となるため特に好ましい。Among the above compounds, CuAlO
2 , CuGaO 2 , ACu 2 O 2 (A: alkaline earth metal or rare earth metal, preferably Sr, Ba)
And these mixed crystal compounds are particularly preferable because composition control is easy and a wide gap semiconductor can be obtained.
【0032】また、本発明の無機物層は、バンドギャッ
プが2.5eV以上、より好ましくは2.7eV以上、さら
には3.0eV以上、特に3.2eVであるものであること
が好ましい。その上限は、特に規制されるものではない
が、通常、4eV程度である。バンドギャップが2.5eV
以上であると可視光で透明性を有する素子が得られる。
バンドギャップが2.5eV以上の無機物層に用いる材料
は、上述した1価のCuを含む複合酸化物中より適宜選
択して用いればよい。The inorganic layer of the present invention preferably has a band gap of at least 2.5 eV, more preferably at least 2.7 eV, further preferably at least 3.0 eV, particularly preferably at least 3.2 eV. The upper limit is not particularly limited, but is usually about 4 eV. 2.5 eV band gap
With the above, an element having transparency with visible light can be obtained.
The material used for the inorganic layer having a band gap of 2.5 eV or more may be appropriately selected from the above-described composite oxides containing monovalent Cu.
【0033】p型半導体層に用いる材料の中には、その
ままでp型半導体の性質を示すものもあるが、これらの
化合物の作製時に公知のドーピング物質またはガスを添
加してp型化を行うことが好ましい。また、ドーピング
を行わず、組成をずらすことによりp型化を行うことが
特に好ましい。p型半導体か否かはホール測定、または
ゼーベック効果により判断することができる。Some of the materials used for the p-type semiconductor layer show the properties of a p-type semiconductor as they are, but when these compounds are produced, a known doping substance or gas is added to make the p-type semiconductor. Is preferred. It is particularly preferable to perform p-type conversion by shifting the composition without doping. Whether a semiconductor is a p-type semiconductor can be determined by Hall measurement or the Seebeck effect.
【0034】p型半導体層の形態としては、非晶質薄
膜、微結晶薄膜、多結晶薄膜、エピタキシャル薄膜、単
結晶薄膜、または、これらの入り交じった薄膜、またこ
れらの積層薄膜や人工格子薄膜が用いられる。特に、太
陽電池ではガラス基板など非晶質基板を用いる場合が多
く、多結晶薄膜が好ましい。多結晶薄膜は大面積に形成
可能でかつ結晶性であるため、p型半導体層の半導体的
特性を効果的に利用することが可能である。Examples of the form of the p-type semiconductor layer include an amorphous thin film, a microcrystalline thin film, a polycrystalline thin film, an epitaxial thin film, a single crystal thin film, a mixed thin film thereof, a laminated thin film thereof and an artificial lattice thin film. Is used. In particular, a solar cell often uses an amorphous substrate such as a glass substrate, and a polycrystalline thin film is preferable. Since the polycrystalline thin film can be formed over a large area and is crystalline, the semiconductor characteristics of the p-type semiconductor layer can be effectively used.
【0035】p型半導体層の厚みとしては、特に制限は
ないが、1nm〜3μm 程度が使用される。p型化してい
る低抵抗率のp型半導体層は比較的厚くてよく、大面積
でピンホールフリーとするためおよび結晶性を高めるた
めに100nm〜2μm が好ましい。The thickness of the p-type semiconductor layer is not particularly limited, but is about 1 nm to 3 μm. The p-type low-resistivity p-type semiconductor layer may be relatively thick, and preferably 100 nm to 2 μm in order to provide a large-area, pinhole-free and high crystallinity.
【0036】上記のp型半導体層の製造方法としては、
スパッタ法、蒸着法、MBE法、CVD法などの各種の
物理的または化学的な薄膜形成方法などが用いられ、ま
た、特性向上のため、ポスト還元アニール法、セレン化
法、イオウ化法などの薄膜形成後に後処理を使用しても
よい。As a method for manufacturing the above p-type semiconductor layer,
Various physical or chemical thin film forming methods such as a sputtering method, a vapor deposition method, an MBE method, and a CVD method are used. In order to improve characteristics, a post reduction annealing method, a selenization method, a sulfuration method, and the like are used. Post-treatment may be used after thin film formation.
【0037】本発明において、太陽電池構造を形成する
基板としては、非晶質基板たとえば有機フィルム、有機
板、ガラス、石英など、結晶基板たとえば、Si、Ga
As、ZnSe、ZnS、GaP、InPなどがあげら
れ、またこれらの結晶基板または非晶質基板に結晶質、
非晶質あるいは金属のバッファ層を形成した基板も用い
ることができる。また金属基板としては、Al、Sb、
Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Y、Zr、
Nb、Mo、Pd、La、Hf、Ta、W、Re、I
r、PtおよびAuなどの1種または2種以上を用いる
ことができる。また、アルミナ、ジルコニア等のセラミ
ックス基板や、プラスチック等の有機基板も好ましい。
これらのなかでも、特にガラス基板が好ましい。In the present invention, as a substrate for forming a solar cell structure, an amorphous substrate such as an organic film, an organic plate, glass, quartz, etc., and a crystalline substrate such as Si, Ga
As, ZnSe, ZnS, GaP, InP and the like.
A substrate on which an amorphous or metal buffer layer is formed can also be used. Al, Sb,
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Y, Zr,
Nb, Mo, Pd, La, Hf, Ta, W, Re, I
One or more of r, Pt and Au can be used. Further, ceramic substrates such as alumina and zirconia, and organic substrates such as plastics are also preferable.
Among these, a glass substrate is particularly preferable.
【0038】一方、本発明におけるSi系薄膜からなる
i層(intrinsic semiconductor )は、不純物濃度が熱
的に発生した電子・正孔密度に比べて少ない半導体のこ
とである。熱的に発生した電子・正孔密度とは、有限の
温度において、熱擾乱によって価電子帯から伝導体に電
子が励起され、同数の正孔が価電子帯に発生した電子お
よび正孔の密度を意味する。On the other hand, the i-layer (intrinsic semiconductor) made of a Si-based thin film in the present invention is a semiconductor having a lower impurity concentration than the thermally generated electron / hole density. The density of thermally generated electrons and holes is the density of electrons and holes generated at the finite band at the finite temperature by thermal disturbance when electrons are excited from the valence band to the conductor. Means
【0039】このようなi層としては、前述のa−Si
の他に、従来公知の材料が全て適用される。例えば、a
−SiCH,a−SiF,a−SiHF,a−SiGe
H,a−SiGeF,a−SiGeHF,a−SiC
H,a−SiCF,a−SiCHF等が挙げられる。i
層の膜厚としては、使用する材料にもよるが、通常、5
nm〜5μm 程度である。As the i-layer, the above-mentioned a-Si
Besides, all conventionally known materials are applied. For example, a
-SiCH, a-SiF, a-SiHF, a-SiGe
H, a-SiGeF, a-SiGeHF, a-SiC
H, a-SiCF, a-SiCHF and the like can be mentioned. i
Although the thickness of the layer depends on the material used, it is usually 5
It is about nm to 5 μm.
【0040】Si系薄膜からなるn層(negative semic
onductor)は、例えばシリコンの中に不純物としてリン
等を加えた半導体が挙げられる。リン等のように、価電
子が5個ある元素では、電子が1つ余分となり、自由電
子となる。n層を得るための電子制御剤としては、V族
の元素、例えば、P,N,As,Sb等を挙げることが
できる。n層の膜厚としては、使用する材料にもよる
が、通常、10nm〜200nm程度である。An n-layer (negative semic) made of a Si-based thin film
Onductor) is, for example, a semiconductor obtained by adding phosphorus or the like as an impurity to silicon. An element having five valence electrons, such as phosphorus, has one extra electron and becomes a free electron. Examples of the electron control agent for obtaining the n layer include Group V elements, for example, P, N, As, Sb, and the like. The thickness of the n-layer is usually about 10 nm to 200 nm, although it depends on the material used.
【0041】電極材料は、一般的には、ITOが用いら
れる。ITOは、通常In2 O3 とSnOとを化学量論
組成で含有するが、O量は多少これから偏倚していても
よい。In2 O3 に対するSnO2 の混合比は、1〜2
0wt%、さらには5〜12wt%が好ましい。また、IZ
OでのIn2 O3 に対するZnOの混合比は、通常、1
2〜32wt%程度である。その他、ZnO、GaNなど
低抵抗の半導体が透明であり好ましい。さらに、これら
以外の電極材料としては、導電性酸化物が好ましく、特
に、以下の導電性酸化物を含む材料が好ましい。As the electrode material, ITO is generally used. ITO usually contains In 2 O 3 and SnO in a stoichiometric composition, but the amount of O may slightly deviate from this. The mixing ratio of SnO 2 to In 2 O 3 is 1-2.
0 wt%, more preferably 5 to 12 wt%. Also, IZ
The mixing ratio of ZnO to In 2 O 3 in O is usually 1
It is about 2 to 32% by weight. In addition, a low-resistance semiconductor such as ZnO or GaN is transparent and is preferable. Further, as the electrode material other than these, a conductive oxide is preferable, and particularly, a material containing the following conductive oxide is preferable.
【0042】NaCl型酸化物:TiO,VO,Nb
O,RO1-x( ここで、R:一種類以上の希土類(Sc
およびYを含む)、0≦x <1),LiVO2 等。NaCl type oxide: TiO, VO, Nb
O, RO 1-x (where, R: one or more rare earth elements (Sc
And Y), 0 ≦ x <1), LiVO 2 and the like.
【0043】スピネル型酸化物:LiTi2O4 ,Li
MxTi2-xO4 (ここで、M=Li,Al,Cr,0<
x<2),Li1-xMxTi2O4 (ここで、M=Mg,
Mn,0<x<1),LiV2O4 ,Fe3O4 等。Spinel oxide: LiTi 2 O 4 , Li
M x Ti 2-x O 4 (where M = Li, Al, Cr, 0 <
x <2), Li 1- x M x Ti 2 O 4 ( where, M = Mg,
Mn, 0 <x <1), LiV 2 O 4 , Fe 3 O 4 and the like.
【0044】ペロブスカイト型酸化物:ReO3 ,WO
3 ,MxReO3 (ここで、M金属,0<x<0.
5),MxWO3 (ここで、M=金属,0<x<0.
5),A2P8W32O112 (ここで、A=K,Rb,T
l),NaxTayW1-yO3 (ここで、0≦x<1,0
<y<1),RNbO3 (ここで、R:一種類以上の希
土類(ScおよびYを含む)),Na1-xSrxNbO3
(ここで、0≦x≦1),RTiO3 (ここで、R:一
種類以上の希土類(ScおよびYを含む)),Can+1
TinO3n+1-y(ここで、n=2,3,...,y>
0),CaVO3,SrVO3,R1-xSrxVO3 (ここ
で、R:一種類以上の希土類(ScおよびYを含む)、
0≦x≦1),R1-xBaxVO3 (ここで、R:一種類
以上の希土類(ScおよびYを含む)、0≦x≦1),
Srn+1VnO3n+1-y(ここで、n=1,2,
3....,y>0),Ban+1VnO3n+1-y(ここで、
n=1,2,3....,y>0),R4BaCu5O
13-y(ここで、R:一種類以上の希土類(ScおよびY
を含む)、0≦y),R5SrCu6O15(ここで、R:
一種類以上の希土類(ScおよびYを含む)),R2S
rCu2O6.2(ここで、R:一種類以上の希土類(S
cおよびYを含む)),R1-xSrxVO3 (ここで、
R:一種類以上の希土類(ScおよびYを含む)),C
aCrO3,SrCrO3,RMnO3(ここで、R:一
種類以上の希土類(ScおよびYを含む)),R1-xS
rxMnO3 (ここで、R:一種類以上の希土類(Sc
およびYを含む),0≦x≦1),R1- xBaxMnO3
(ここで、R:一種類以上の希土類(ScおよびYを含
む),0≦x≦1),Ca1-xRxMnO3-y (ここで、
R:一種類以上の希土類(ScおよびYを含む),0≦
x≦1,0≦y),CaFeO3 ,SrFeO3 ,Ba
FeO3 ,SrCoO3 ,BaCoO3 ,RCoO
3 (ここで、R:一種類以上の希土類(ScおよびYを
含む)),R1-xSrxCoO3 (ここで、R:一種類以
上の希土類(ScおよびYを含む),0≦x≦1),R
1-xBaxCoO3 (ここで、R:一種類以上の希土類
(ScおよびYを含む),0≦x≦1),RNiO
3 (ここで、R:一種類以上の希土類(ScおよびYを
含む)),RCuO3 (ここで、R:一種類以上の希土
類(ScおよびYを含む)),RNbO3 (ここで、
R:一種類以上の希土類(ScおよびYを含む)),N
b12O29,CaRuO3 ,Ca1-xRxRu1-yMnyO3
(ここで、R:一種類以上の希土類(ScおよびYを含
む),0≦x≦1,0≦y≦1),SrRuO3,Ca
1-xMgxRuO3 (ここで、0≦x≦1),Ca1-xS
rxRuO3(ここで、0<x<1),BaRuO3 ,C
a1-xBaxRuO3 (ここで、0<x<1),(Ba,
Sr)RuO3 ,Ba1-xKxRuO3 (ここで、0<x
≦1),(R,Na)RuO3(ここで、R:一種類以
上の希土類(ScおよびYを含む)),(R, M)R
hO3 (ここで、R:一種類以上の希土類(Scおよび
Yを含む),M=Ca,Sr,Ba),SrIrO3,
BaPbO3 ,(Ba,Sr)PbO3-y ( ここで、
0≦y<1),BaPb1-xBixO3 (ここで、0<x
≦1),Ba1-xK xBiO3 (ここで、0<x≦1),
Sr(Pb,Sb)O3-y (ここで、0≦y<1),S
r(Pb,Bi)O3-y (ここで、0≦y<1),Ba
(Pb,Sb)O3-y (ここで、0≦y<1), Ba
(Pb,Bi)O3-y(ここで、0≦y<1),MMo
O3 (ここで、M=Ca,Sr,Ba),(Ba,C
a,Sr)TiO3-x (ここで、0≦x)等。Perovskite oxide: ReOThree, WO
Three, MxReOThree(Where M metal, 0 <x <0.
5), MxWOThree(Where M = metal, 0 <x <0.
5), ATwoP8W32O112(Where A = K, Rb, T
l), NaxTayW1-yOThree(Where 0 ≦ x <1,0
<Y <1), RNbOThree(Where R: one or more rare
Earth (including Sc and Y)), Na1-xSrxNbOThree
(Where 0 ≦ x ≦ 1), RTiOThree(Where R: one
Or more rare earths (including Sc and Y)), Can + 1
TinO3n + 1-y(Where n = 2, 3,..., Y>
0), CaVOThree, SrVOThree, R1-xSrxVOThree(here
R: one or more rare earths (including Sc and Y);
0 ≦ x ≦ 1), R1-xBaxVOThree(Where R: one type
The above rare earths (including Sc and Y), 0 ≦ x ≦ 1),
Srn + 1VnO3n + 1-y(Where n = 1, 2,
3. . . . , Y> 0), Ban + 1VnO3n + 1-y(here,
n = 1, 2, 3,. . . . , Y> 0), RFourBaCuFiveO
13-y(Where R: one or more rare earth elements (Sc and Y
), 0 ≦ y), RFiveSrCu6OFifteen(Where R:
One or more rare earths (including Sc and Y)), RTwoS
rCuTwoO6.Two(Where R: one or more rare earths (S
c and Y)), R1-xSrxVOThree(here,
R: one or more rare earth elements (including Sc and Y)), C
aCrOThree, SrCrOThree, RMnOThree(Where R: one
Or more rare earths (including Sc and Y)), R1-xS
rxMnOThree(Where R: one or more rare earth elements (Sc
And Y), 0 ≦ x ≦ 1), R1- xBaxMnOThree
(Where R: one or more rare earth elements (including Sc and Y)
M), 0 ≦ x ≦ 1), Ca1-xRxMnO3-y(here,
R: one or more rare earth elements (including Sc and Y), 0 ≦
x ≦ 1, 0 ≦ y), CaFeOThree, SrFeOThree, Ba
FeOThree, SrCoOThree, BaCoOThree, RCoO
Three(Where R: one or more rare earths (Sc and Y
Including)), R1-xSrxCoOThree(Where R: one or more
Rare earths (including Sc and Y), 0 ≦ x ≦ 1), R
1-xBaxCoOThree(Where R: one or more rare earth elements
(Including Sc and Y), 0 ≦ x ≦ 1), RNiO
Three(Where R: one or more rare earth elements (Sc and Y
Including)), RCuOThree(Where R: one or more rare earths
(Including Sc and Y)), RNbOThree(here,
R: one or more rare earth elements (including Sc and Y)), N
b12O29, CaRuOThree, Ca1-xRxRu1-yMnyOThree
(Where R: one or more rare earth elements (including Sc and Y)
M), 0 ≦ x ≦ 1, 0 ≦ y ≦ 1), SrRuOThree, Ca
1-xMgxRuOThree(Where 0 ≦ x ≦ 1), Ca1-xS
rxRuOThree(Where 0 <x <1), BaRuOThree, C
a1-xBaxRuOThree(Where 0 <x <1), (Ba,
Sr) RuOThree, Ba1-xKxRuOThree(Where 0 <x
≦ 1), (R, Na) RuOThree(Where R: one or more
Rare earths (including Sc and Y)), (R, M) R
hOThree(Where R: one or more rare earths (Sc and
Y), M = Ca, Sr, Ba), SrIrOThree,
BaPbOThree, (Ba, Sr) PbO3-y( here,
0 ≦ y <1), BaPb1-xBixOThree(Where 0 <x
≦ 1), Ba1-xK xBiOThree(Where 0 <x ≦ 1),
Sr (Pb, Sb) O3-y(Where 0 ≦ y <1), S
r (Pb, Bi) O3-y(Where 0 ≦ y <1), Ba
(Pb, Sb) O3-y(Where 0 ≦ y <1), Ba
(Pb, Bi) O3-y(Where 0 ≦ y <1), MMo
OThree(Where M = Ca, Sr, Ba), (Ba, C
a, Sr) TiO3-x(Where 0 ≦ x) and the like.
【0045】層状ペロブスカイト型酸化物(K2NiF
4 型を含む):Rn+1NinO3n+1(ここで、R:Ba,
Sr,希土類(ScおよびYを含む)のうち一種類以
上,n=1〜5の整数),Rn+1CunO3n+1(ここで、
R:Ba,Sr,希土類(ScおよびYを含む)のうち
一種類以上,n=1〜5の整数),Sr2RuO4 ,S
r2RhO4 ,Ba2RuO4 ,Ba2RhO4 等。Layered perovskite oxide (K 2 NiF)
Type 4 ): R n + 1 Ni n O 3n + 1 (where R: Ba,
Sr, rare earth (including Sc and Y) one or more of, n = 1 to 5 integer), R n + 1 Cu n O 3n + 1 ( here,
R: Ba, Sr, one or more of rare earths (including Sc and Y), n = 1 to 5), Sr 2 RuO 4 , S
r 2 RhO 4 , Ba 2 RuO 4 , Ba 2 RhO 4 and the like.
【0046】パイロクロア型酸化物:R2V2O7-y(こ
こで、R:一種類以上の希土類(ScおよびYを含
む),0≦y<1),Tl2Mn2O7-y (ここで、0≦
y<1),R2Mo2O7-y (ここで、R:一種類以上の
希土類(ScおよびYを含む),0≦y<1),R2R
u2O7-y (ここで、R:Tl,Pb,Bi,希土類
(ScおよびYを含む)のうち一種類以上,0≦y<
1),Bi2-xPbxPt2-x Ru xO7-y (ここで、0
≦x≦2,0≦y<1),Pb2(Ru,Pb)O7-y
(ここで、0≦y<1),R2Rh2O7-y (ここで、
R:Tl,Pb,Bi,Cd,希土類(ScおよびYを
含む)のうち一種類以上,0≦y<1),R2Pd2O7-
y (ここで、R:Tl,Pb,Bi,Cd,希土類(S
cおよびYを含む)のうち一種類以上,0≦y<1),
R2Re2O7-y (ここで、R:Tl,Pb,Bi,C
d,希土類(ScおよびYを含む)のうち一種類以上,
0≦y<1),R2Os2O7−y (ここで、R:Tl,
Pb,Bi,Cd,希土類(ScおよびYを含む)のう
ち一種類以上,0≦y<1),R2Ir2O7-y (ここ
で、R:Tl,Pb,Bi,Cd,希土類(Scおよび
Yを含む)のうち一種類以上,0≦y<1),R2Pt2
O7-y (ここで、R:Tl,Pb,Bi,Cd,希土類
(ScおよびYを含む)のうち一種類以上,0≦y<
1)等。Pyrochlore type oxide: RTwoVTwoO7-y(This
Here, R: one or more rare earth elements (including Sc and Y)
M), 0 ≦ y <1), TlTwoMnTwoO7-y(Where 0 ≦
y <1), RTwoMoTwoO7-y(Where R: one or more
Rare earth (including Sc and Y), 0 ≦ y <1), RTwoR
uTwoO7-y(Where R: Tl, Pb, Bi, rare earth
(Including Sc and Y), 0 ≦ y <
1), Bi2-xPbxPt2-xRu xO7-y(Where 0
≦ x ≦ 2, 0 ≦ y <1), PbTwo(Ru, Pb) O7-y
(Where 0 ≦ y <1), RTwoRhTwoO7-y(here,
R: Tl, Pb, Bi, Cd, rare earth (Sc and Y
), 0 ≦ y <1), RTwoPdTwoO7-
y(Where R: Tl, Pb, Bi, Cd, rare earth (S
c and Y), 0 ≦ y <1),
RTwoReTwoO7-y(Where R: Tl, Pb, Bi, C
d, one or more of rare earths (including Sc and Y),
0 ≦ y <1), RTwoOsTwoO7−y(Where R: Tl,
Pb, Bi, Cd, rare earth (including Sc and Y)
At least one kind, 0 ≦ y <1), RTwoIrTwoO7-y(here
And R: Tl, Pb, Bi, Cd, rare earth (Sc and
Y), 0 ≦ y <1), RTwoPtTwo
O7-y(Where R: Tl, Pb, Bi, Cd, rare earth
(Including Sc and Y), 0 ≦ y <
1) etc.
【0047】その他の酸化物:R4Re6O19(ここで、
R:一種類以上の希土類(ScおよびYを含む)),R
4Ru6O19(ここで、R:一種類以上の希土類(Scお
よびYを含む)),Bi3Ru3O11,V2O3 ,Ti2O
3 ,Rh2O3 ,VO2 ,CrO2 ,NbO2 ,MoO
2 ,WO2 ,ReO2 ,RuO2 ,RhO2 ,Os
O 2 ,IrO2 ,PtO2 ,PdO2 ,V3O5 ,VnO
2n-1(n=4から9の整数),SnO2-x (ここで、0
≦x<1),La2Mo2O7,,(M,Mo)O(ここ
で、M=Na,K,Rb,Tl),MonO3n-1(n=
4,8,9,10),Mo17O47,Pd1-xLixO(こ
こで、x≦0.1)等。Inを含む酸化物。Other oxides: RFourRe6O19(here,
R: one or more rare earth elements (including Sc and Y)), R
FourRu6O19(Where R: one or more rare earth elements (Sc
And Y)), BiThreeRuThreeO11, VTwoOThree, TiTwoO
Three, RhTwoOThree, VOTwo, CrOTwo, NbOTwo, MoO
Two, WOTwo, ReOTwo, RuOTwo, RhOTwo, Os
O Two, IrOTwo, PtOTwo, PdOTwo, VThreeOFive, VnO
2n-1(N = integer from 4 to 9), SnO2-x(Where 0
≦ x <1), LaTwoMoTwoO7,, (M, Mo) O (here
Where M = Na, K, Rb, Tl), MonO3n-1(N =
4, 8, 9, 10), Mo17O47, Pd1-xLixO (this
Here, x ≦ 0.1) and the like. An oxide containing In.
【0048】これらのうち特に、Inを含む酸化物また
は導電性ペロブスカイト酸化物が好ましく、特にIn2
O3 、In2 O3 (Snドープ)、RCoO3 、RMn
O3、RNiO3 、R2 CuO4 、(R,Sr)CoO
3 、(R,Sr,Ca)RuO3 、(R,Sr)RuO
3 、SrRuO3 、(R,Sr)MnO3 (Rは、Yお
よびScを含む希土類)、およびそれらの関連化合物が
好ましい。一般に導電性酸化物、仕事関数が大きく、特
に陽極として使用することが好ましい。[0048] In particular among these, oxides or conductive perovskite oxide containing In are preferred, particularly In 2
O 3 , In 2 O 3 (Sn doped), RCoO 3 , RMn
O 3 , RNiO 3 , R 2 CuO 4 , (R, Sr) CoO
3 , (R, Sr, Ca) RuO 3 , (R, Sr) RuO
3 , SrRuO 3 , (R, Sr) MnO 3 (R is a rare earth containing Y and Sc), and their related compounds are preferred. Generally, a conductive oxide has a large work function, and it is particularly preferable to use it as an anode.
【0049】上記発明の太陽電池素子は、基板/電極/
p層/n層としても良いし、基板/電極/n層/p層/
電極と逆の構造にしても良い。これらは、たとえば、電
池の作製プロセスにより、適宜選択し使用される。特
に、陽極に不透明の材料を用いる場合には、基板/陰極
/発光機能を発現する層/陽極と逆の構造が好ましい。The solar cell element according to the above-mentioned invention is characterized in that:
A p-layer / n-layer or a substrate / electrode / n-layer / p-layer /
The structure may be reverse to that of the electrode. These are appropriately selected and used, for example, depending on the battery manufacturing process. In particular, when an opaque material is used for the anode, the reverse structure of the substrate / cathode / layer exhibiting a light emitting function / anode is preferable.
【0050】また、上記発明の素子は、電極層/発光機
能を発現する層/電極層/発光機能を発現する層/電極
層/発光機能を発現する層/電極層・・・と多段に重ね
てタンデム構造としても良い。このような素子構造によ
り、効率のさらなる向上ができる。The device of the present invention has a multi-layer structure of electrode layer / layer exhibiting light emitting function / electrode layer / layer exhibiting light emitting function / electrode layer / layer exhibiting light emitting function / electrode layer. It may be a tandem structure. With such an element structure, the efficiency can be further improved.
【0051】[0051]
【実施例】以下、本発明の具体的実施例を示し、本発明
をさらに詳細に説明実施例1 図2においてp型半導体層にカルコパイライト化合物で
あるCuGaS2 薄膜を用いた太陽電池を作製した。EXAMPLES Specific examples of the present invention will be described below to explain the present invention in further detail. Example 1 In FIG. 2, a solar cell using a CuGaS 2 thin film which is a chalcopyrite compound as a p-type semiconductor layer was manufactured. .
【0052】ガラス基板としてコーニング社製7059
基板を中性洗剤を用いてスクラブ洗浄した。As a glass substrate, 7059 manufactured by Corning Incorporated
The substrate was scrubbed with a neutral detergent.
【0053】この基板上にネサ膜をRFマグネトロンス
パッタリング法により、基板温度250℃で、膜厚20
0nmのITO透明電極層を形成した。A Nesa film was formed on this substrate by RF magnetron sputtering at a substrate temperature of 250 ° C. and a film thickness of 20 nm.
An ITO transparent electrode layer of 0 nm was formed.
【0054】次に、つづいて、基板温度を250℃と
し、原子比でCu:Ga:S=1.26:0.74:2
の組成で作製したターゲットを用い、ArガスによりR
Fマグネトロンスパッタリング法で膜厚200nmのCu
GaS2 薄膜を形成した。Next, the substrate temperature was set to 250 ° C., and Cu: Ga: S = 1.26: 0.74: 2 in atomic ratio.
Using a target prepared with the composition of
200 nm thick Cu by F magnetron sputtering
A GaS 2 thin film was formed.
【0055】CuGaS2 薄膜を蛍光X線分析により組
成分析した結果、原子比でCu:Ga:S=1.14:
0.98:1.88であった。X線回折によるとカルコ
パイライト型の結晶構造を有する多結晶薄膜であるり、
(112)に配向した薄膜であることがわかった。ま
た、CuGaS2 薄膜の抵抗率は640Ωcmであり、ゼ
ーベック係数の測定よりp型の半導体膜であり、光透過
特性からバンドギャップは2.5eVであることがわかっ
た。As a result of composition analysis of the CuGaS 2 thin film by X-ray fluorescence analysis, the atomic ratio of Cu: Ga: S = 1.14:
0.98: 1.88. According to X-ray diffraction, it is a polycrystalline thin film having a chalcopyrite type crystal structure,
It was found that the thin film was oriented to (112). The resistivity of the CuGaS 2 thin film was 640 Ωcm, and it was found from the measurement of the Seebeck coefficient that it was a p-type semiconductor film. The light transmission characteristics revealed that the band gap was 2.5 eV.
【0056】ここでは、CuGaS2 薄膜の評価のため
に取り出したが、実際の素子作製では、CuGaS2 薄
膜形成後、a−Siのi層とn層をCVDにより形成し
た。Here, the CuGaS 2 thin film was taken out for evaluation, but in actual device fabrication, after the CuGaS 2 thin film was formed, the i-layer and the n-layer of a-Si were formed by CVD.
【0057】また、i層として、SiH層を、400nm
形成した。このときの成膜条件は、プラズマCVD法に
より、SiH4 を流量50SCCMで導入して成膜した。Further, a SiH layer having a thickness of 400 nm
Formed. At this time, the film was formed by introducing a SiH 4 at a flow rate of 50 SCCM by a plasma CVD method.
【0058】n層として、微結晶Si層を、30nm形成
した。このときの成膜条件は、プラズマCVD法によ
り、SiH4 を流量10SCCMで導入し、このとき、これ
に加えて1000ppm 水素希釈PH3 を200SCCM導入
して成膜した。As an n layer, a microcrystalline Si layer was formed to a thickness of 30 nm. The film formation conditions at this time were as follows: SiH 4 was introduced at a flow rate of 10 SCCM by plasma CVD, and at this time, 1000 ppm hydrogen diluted PH 3 was introduced at 200 SCCM in addition to this.
【0059】さらに、電極として、スパッタ法により、
ITO透明電極膜を200nm形成した。電極面積は1cm
2 とした。Further, the electrodes were formed by sputtering.
An ITO transparent electrode film was formed to a thickness of 200 nm. Electrode area is 1cm
And 2 .
【0060】得られた太陽電池素子構造から真空中で、
プローブ電極を用いて、陽極、陰極から電極を引き出
し、電界を印加した。V−I特性はダイオード特性を示
した。From the obtained solar cell element structure in a vacuum,
Using a probe electrode, the electrode was pulled out from the anode and the cathode, and an electric field was applied. The VI characteristics showed diode characteristics.
【0061】さらに、ソーラーシュミレータを用い、太
陽電池の開放電圧を測定したところ、0.95Vと従来
のa−Si太陽電池の0.85Vにくらべ大きな値が得
られた。Further, when the open circuit voltage of the solar cell was measured using a solar simulator, a value larger than 0.95 V was obtained as compared with 0.85 V of the conventional a-Si solar cell.
【0062】本発明の太陽電池の効率は8.0%であ
り、同時に作製したα−Si太陽電池の7.5%とくら
べて効率も向上していた。The efficiency of the solar cell of the present invention was 8.0%, which was also higher than that of the simultaneously manufactured α-Si solar cell of 7.5%.
【0063】本実施例により、優れた効率が得られた理
由として、p型半導体層をワイドギャップのp層窓とし
てカルコパイライト化合物を用いたことにより、光吸収
が少なく、また短波長の光も有効にi層に光を導くこと
ができ、また、生成されたキャリアもp層側の電極近傍
部で再結合することがなくなり、n層側に向かうものが
増加するため、効率が上がったものと考えられる。また
内部電界が大きく取れたため、開放電圧の増大をもたら
したものと考えられる。The reason why excellent efficiency was obtained by this embodiment is that the use of a chalcopyrite compound as a p-type semiconductor layer as a wide-gap p-layer window results in less light absorption and shorter wavelength light. The light can be effectively guided to the i-layer, and the generated carriers do not recombine in the vicinity of the electrode on the p-layer side. it is conceivable that. Also, it is considered that the open voltage was increased because the internal electric field was large.
【0064】実施例2 図2においてp型半導体層にSrCu2O2 薄膜を用い
た太陽電池を作製した。 Example 2 A solar cell using a SrCu 2 O 2 thin film for the p-type semiconductor layer in FIG. 2 was produced.
【0065】実施例1と同様にネサ膜電極付きの基板上
に、多元反応性蒸着法を用いて、以下の手順でSrCu
2O2 薄膜をワイドギャップp層窓として形成した。In the same manner as in Example 1, SrCu was formed on a substrate with a Nesa film electrode by using a multiple reactive evaporation method according to the following procedure.
A 2 O 2 thin film was formed as a wide gap p-layer window.
【0066】真空槽内に設置された回転および加熱機構
を備えた基板ホルダーに上記基板を固定し、真空蒸着槽
を10-6Torrまでポンプにより排気した。酸素をチャン
バー内にノズルから25cc/分の割合で導入し、基板
を350℃に加熱し回転させた。回転数は20rpm とし
た。The substrate was fixed to a substrate holder provided in a vacuum chamber and provided with a rotation and heating mechanism, and the vacuum evaporation chamber was evacuated to 10 -6 Torr by a pump. Oxygen was introduced into the chamber at a rate of 25 cc / min from the nozzle, and the substrate was heated to 350 ° C. and rotated. The rotation speed was 20 rpm.
【0067】その後、金属SrおよびCuをそれぞれ独
立した蒸発源からSr/Cuモル比で0.5に制御しつ
つ同時に供給した。この時、チャンバー内の酸素圧は、
1×10-4Torrとし、SrおよびCu金属と酸素を
反応させ、厚さ約300nmのSrCu2O2 薄膜を形成
した。Thereafter, the metal Sr and Cu were simultaneously supplied from independent evaporation sources while controlling the Sr / Cu molar ratio to 0.5. At this time, the oxygen pressure in the chamber is
At 1 × 10 −4 Torr, Sr and Cu metal were reacted with oxygen to form an SrCu 2 O 2 thin film having a thickness of about 300 nm.
【0068】この薄膜の組成を蛍光X線分析により調べ
たところ、モル比でSr:Cu=3.2:6.8であっ
た。When the composition of this thin film was examined by X-ray fluorescence analysis, the molar ratio was Sr: Cu = 3.2: 6.8.
【0069】得られたSrCu2O2 薄膜について、X
RDによる評価を行った。XRDパターンから、形成さ
れたSrCu2O2 薄膜は多結晶薄膜であることが確認
できた。For the obtained SrCu 2 O 2 thin film, X
Evaluation by RD was performed. From the XRD pattern, it was confirmed that the formed SrCu 2 O 2 thin film was a polycrystalline thin film.
【0070】得られたSrCu2O2 薄膜について光透
過特性を測定し、可視領域、赤外領域で透明であること
を確認した。また、バンドギャップを計算したところ約
3.3eVであった。The obtained SrCu 2 O 2 thin film was measured for light transmission characteristics, and it was confirmed that the thin film was transparent in a visible region and an infrared region. The calculated band gap was about 3.3 eV.
【0071】SrCu2O2 薄膜は、室温でシート抵抗
0.11MΩ/□、抵抗率3.3Ωcmであった。ま
た、ゼーベック定数の極性からp型の導電性を確認し
た。The SrCu 2 O 2 thin film had a sheet resistance of 0.11 MΩ / □ and a resistivity of 3.3 Ωcm at room temperature. In addition, p-type conductivity was confirmed from the polarity of the Seebeck constant.
【0072】ここでは、SrCu2O2 薄膜の評価のた
めに取り出したが、実際の素子作製では、SrCu2O
2 薄膜形成後、a−Siのi層とn層を実施例1と同様
にCVDにより形成した。Here, the SrCu 2 O 2 thin film was taken out for evaluation, but in actual device fabrication, SrCu 2 O 2 was used.
After the formation of the two thin films, an i-layer and an n-layer of a-Si were formed by CVD in the same manner as in Example 1.
【0073】また、i層として、SiH層を、400nm
形成した。このときの成膜条件は、プラズマCVD法に
より、SiH4 を流量50SCCMで導入して成膜した。Further, as the i layer, a SiH layer was formed at a thickness of 400 nm.
Formed. At this time, the film was formed by introducing a SiH 4 at a flow rate of 50 SCCM by a plasma CVD method.
【0074】n層として、微結晶Si層を、30nm形成
した。このときの成膜条件は、プラズマCVD法によ
り、SiH4 を流量10SCCMで導入し、このとき、これ
に加えて1000ppm 水素希釈PH3 を200SCCM導入
して成膜した。As an n layer, a microcrystalline Si layer was formed to a thickness of 30 nm. The film formation conditions at this time were as follows: SiH 4 was introduced at a flow rate of 10 SCCM by plasma CVD, and at this time, 1000 ppm hydrogen diluted PH 3 was introduced at 200 SCCM in addition to this.
【0075】さらに、電極として、スパッタ法により、
ITO透明電極膜を200nm形成した。電極面積は1cm
2 とした。Further, the electrodes were formed by sputtering.
An ITO transparent electrode film was formed to a thickness of 200 nm. Electrode area is 1cm
And 2 .
【0076】得られた太陽電池素子構造から真空中で、
プローブ電極を用いて、陽極、陰極から電極を引き出
し、電界を印加した。V−I特性はダイオード特性を示
した。From the obtained solar cell element structure in a vacuum,
Using a probe electrode, the electrode was pulled out from the anode and the cathode, and an electric field was applied. The VI characteristics showed diode characteristics.
【0077】さらに、ソーラーシュミレータを用い、太
陽電池の開放電圧を測定したところ、0.93Vと従来
のa−Si太陽電池の0.85Vにくらべ大きな値が得
られた。Further, when the open-circuit voltage of the solar cell was measured using a solar simulator, a value larger than 0.93 V was obtained as compared with 0.85 V of the conventional a-Si solar cell.
【0078】効率は7.7%であり、同時に作製したα
−Si太陽電池の7.5%とくらべて効率も向上してい
た。The efficiency was 7.7%, and the α
The efficiency was also improved compared to 7.5% of the -Si solar cell.
【0079】本実施例により、優れた効率が得られた理
由として、p型半導体層をワイドギャップのp層窓とし
てSrCu2O2 を用いたことにより、光吸収が少な
く、また短波長の光も有効にi層に光を導くことがで
き、また生成されたキャリアもp層側の電極近傍部で再
結合することがなくなり、n層側に向かうものが増加す
るため、効率が上がったものと考えられる。また内部電
界が大きく取れたため、開放電圧の増大をもたらしたも
のと考えられる。The reason why excellent efficiency was obtained by this embodiment is that the use of SrCu 2 O 2 as a p-type semiconductor layer as a wide-gap p-layer window reduces light absorption and shortens the wavelength of light. Can effectively guide light to the i-layer, and the generated carriers do not recombine in the vicinity of the electrode on the p-layer side. it is conceivable that. Also, it is considered that the open voltage was increased because the internal electric field was large.
【0080】[0080]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、多結晶膜
状態でp型半導体となるカルコパイライト化合物または
変形カルコパイライト化合物または酸化物材料であるC
uAlO2 、SrCu2O2 などのCuを含む複合酸化
物からなる層を太陽電池のp層窓材とすることにより、
高効率で安価な太陽電池を提供することができる。As described above, according to the present invention, C is a chalcopyrite compound or a modified chalcopyrite compound or an oxide material which becomes a p-type semiconductor in a polycrystalline film state.
By using a layer made of a composite oxide containing Cu such as uAlO 2 or SrCu 2 O 2 as a p-layer window material of a solar cell,
A highly efficient and inexpensive solar cell can be provided.
【図1】従来のa−Si太陽電池の構造を示す図であ
る。FIG. 1 is a diagram showing a structure of a conventional a-Si solar cell.
【図2】本発明のa−Si太陽電池の構造を示す図であ
る。FIG. 2 is a diagram showing a structure of an a-Si solar cell of the present invention.
Claims (5)
層が多結晶薄膜であり、バンドギャップ2.4eV以上
である太陽電池。1. A Si-based solar cell, wherein the p-type semiconductor layer is a polycrystalline thin film and has a band gap of 2.4 eV or more.
合物または変形カルコパイライト化合物である請求項1
の太陽電池。2. The p-type semiconductor layer is a chalcopyrite compound or a modified chalcopyrite compound.
Solar cell.
む複合酸化物である請求項1の太陽電池。3. The solar cell according to claim 1, wherein said p-type semiconductor layer is a composite oxide containing at least Cu.
イト化合物である請求項3の太陽電池。4. The solar cell according to claim 3, wherein the composite oxide containing Cu is a delafossite compound.
rCu2O2 である請求項3の太陽電池。5. The main component of the composite oxide containing Cu is S
The solar cell of claim 3 is a RCU 2 O 2.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP11175040A JP2001007365A (en) | 1999-06-22 | 1999-06-22 | Solar cell |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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- 1999-06-22 JP JP11175040A patent/JP2001007365A/en not_active Withdrawn
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