JP2000293555A - Device and method for verifying lsi circuit - Google Patents

Device and method for verifying lsi circuit

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JP2000293555A
JP2000293555A JP11096016A JP9601699A JP2000293555A JP 2000293555 A JP2000293555 A JP 2000293555A JP 11096016 A JP11096016 A JP 11096016A JP 9601699 A JP9601699 A JP 9601699A JP 2000293555 A JP2000293555 A JP 2000293555A
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timing
error
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logic
library
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Tadashi Doi
直史 土居
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NEC Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an LSI verification device and its method capable of analyzing a false error of a timing verification result at the time of logical verification by executing timing error analysis based on logic. SOLUTION: After acquiring the information of a register to be analyzed on the basis of a library 15 having timing restriction information depending on timing error information 13, a net list 14 and logic, the logical value of each event is determined on the basis of a simulation pattern 17 and the logical value of the register to be analyzed is compared with a condition in the library 15, so that whether a timing error in the simulation pattern 17 is a real error or a false error can be analyzed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、LSI回路検証装
置およびLSI回路検証方法に関し、特に、タイミング
検証結果の疑似エラーの解析を行うLSI回路検証装置
およびLSI回路検証方法に関する。
The present invention relates to an LSI circuit verification device and an LSI circuit verification method, and more particularly, to an LSI circuit verification device and an LSI circuit verification method for analyzing a pseudo error of a timing verification result.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のLSI回路検証装置30では、図
11に示すように、サイクルベースシミュレータなどを
用いる論理検証ツール31と静的タイミング解析ツール
32とによるタイミング検証とを別々のフローで実行
し、それぞれ独立した論理検証結果33とタイミング検
証結果34とを解析することでLSI回路全般の検証を
行っている。LSI回路検証装置30が開発される以前
には、パターンを入力して信号を伝播させることによっ
て、論理検証とタイミング検証とを同時に行う遅延シミ
ュレーションによる検証が行われていた。
2. Description of the Related Art In a conventional LSI circuit verification apparatus 30, as shown in FIG. 11, a logic verification tool 31 using a cycle-based simulator or the like and a timing verification by a static timing analysis tool 32 are executed in separate flows. The entire LSI circuit is verified by analyzing the independent logic verification results 33 and the timing verification results 34, respectively. Prior to the development of the LSI circuit verification device 30, verification was performed by delay simulation in which logic verification and timing verification were simultaneously performed by inputting a pattern and transmitting a signal.

【0003】しかし、遅延シミュレーションによる検証
には、回路規模の増大に伴って検証時間が膨大になり検
証のカバレッジが低下するという課題があった。そこ
で、カバレッジの低下を改善するためにLSI回路検証
装置30が開発された。なお、静的タイミング解析で
は、パターンを用いずに回路全体の遅延パスの解析を網
羅的に行い、論理検証では遅延値を考慮することなく信
号伝播を行うことで、検証のカバレッジをあげつつ検証
時間の短縮を図っている。
[0003] However, the verification by the delay simulation has a problem that the verification time becomes enormous as the circuit scale increases and the coverage of the verification decreases. Therefore, an LSI circuit verification device 30 has been developed in order to improve the reduction in coverage. The static timing analysis comprehensively analyzes the delay path of the entire circuit without using a pattern, and the logic verification performs signal propagation without considering the delay value to increase the verification coverage while verifying. We are trying to reduce time.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のLSI
回路検証装置においては、次のような課題があった。第
一に、タイミング検証では遅延パスを網羅的に解析する
ため疑似エラーが多く、検証結果の中から真のエラーを
見つけ出して解析するのに時間を要した。第二に、論理
検証とタイミング検証を別々に実行するため、論理に依
存したタイミング制約条件の解析が十分に行うことがで
きなかった。
The above-mentioned conventional LSI
The circuit verification device has the following problems. First, in timing verification, there are many spurious errors due to comprehensive analysis of delay paths, and it took time to find and analyze true errors from the verification results. Second, since the logic verification and the timing verification are executed separately, it is not possible to sufficiently analyze the logic-dependent timing constraints.

【0005】本発明は、上記課題にかんがみてなされた
もので、論理に基づいたタイミングエラーの解析を行う
ことで、論理検証時にタイミング検証結果の疑似エラー
解析を行うことが可能なLSI回路検証装置およびLS
I回路検証方法の提供を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and is an LSI circuit verification device capable of performing a pseudo error analysis of a timing verification result at the time of logic verification by analyzing a timing error based on logic. And LS
It is intended to provide an I-circuit verification method.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1における発明は、タイミングエラー情報、
論理に依存したタイミング制約情報を有するライブラ
リ、ネットリストおよびシミュレーションパターンを入
力する入力手段と、タイミングエラー情報、ライブラリ
およびネットリストに基づいて解析対象レジスタの情報
を取得し、シミュレーションパターンに基づいて各イベ
ントの論理値を決定するとともに、解析対象レジスタの
論理値とライブラリにおける条件との比較を行い、シミ
ュレーションパターンにおいてタイミングエラー情報が
真のエラーかあるいは疑似エラーかの解析を行う論理検
証手段とを備える構成としてある。
In order to achieve the above-mentioned object, the invention according to claim 1 provides timing error information,
Input means for inputting a library having logic-dependent timing constraint information, a netlist and a simulation pattern, and obtaining information of a register to be analyzed based on the timing error information, the library and the netlist, and obtaining each event based on the simulation pattern Logic verification means for determining the logical value of the register, comparing the logical value of the analysis target register with the condition in the library, and analyzing whether the timing error information is a true error or a pseudo error in the simulation pattern. There is.

【0007】すなわち、入力手段にてタイミングエラー
情報、論理に依存したタイミング制約情報を有するライ
ブラリおよびネットリストが入力されたとき、論理検証
手段は、入力されたタイミングエラー情報、ライブラリ
およびネットリストに基づいて解析対象レジスタの情報
を取得する。
That is, when a library and a netlist having timing error information and logic-dependent timing constraint information are inputted to the input means, the logic verifying means, based on the inputted timing error information, library and netlist, To obtain the information of the analysis target register.

【0008】そして、入力手段にてシミュレーションパ
ターンが入力されると、論理検証手段は、入力されたシ
ミュレーションパターンに基づいて各イベントの論理値
を決定するとともに、解析対象レジスタの論理値とライ
ブラリにおける条件との比較を行い、シミュレーション
パターンにおいてタイミングエラー情報が真のエラーか
あるいは疑似エラーかの解析を行う。入力手段は、タイ
ミングエラー情報、論理に依存したタイミング制約情報
を有するライブラリ、ネットリストおよびシミュレーシ
ョンパターンを入力するものであれば良く、作業者によ
り逐次入力されるものであっても良いし、所定の手順で
自動的に入力されるものであっても良い。
When the simulation pattern is input by the input means, the logic verification means determines the logical value of each event based on the input simulation pattern, and determines the logical value of the analysis target register and the condition in the library. And analyze whether the timing error information in the simulation pattern is a true error or a pseudo error. The input means may be any means for inputting a timing error information, a library having logic-dependent timing constraint information, a netlist and a simulation pattern, and may be input sequentially by an operator, or may be a predetermined input. It may be input automatically in the procedure.

【0009】タイミングエラー情報の一例として、請求
項2における発明は、上記請求項1に記載のLSI回路
検証装置において、タイミングエラー情報は、静的タイ
ミング解析ツールから出力される構成としてある。すな
わち、静的タイミング解析ツールからタイミングエラー
情報が出力されると、出力されたタイミングエラー情報
が入力手段に入力される。
[0009] As an example of the timing error information, the invention according to claim 2 is the LSI circuit verification device according to claim 1, wherein the timing error information is output from a static timing analysis tool. That is, when the timing error information is output from the static timing analysis tool, the output timing error information is input to the input unit.

【0010】また、シミュレーションパターンは、単数
であっても良いし、複数であっても良く、後者の場合に
おける構成の一例として、請求項3における発明は、上
記請求項1または請求項2のいずれかに記載のLSI回
路検証装置において、入力手段は、複数のシミュレーシ
ョンパターンを入力し、論理検証手段は、各シミュレー
ションパターンに基づいて各イベントの論理値を決定す
るとともに、解析対象レジスタの論理値とライブラリに
おける条件との比較を行い、各シミュレーションパター
ンにおいてタイミングエラー情報が真のエラーかあるい
は疑似エラーかの解析を行う構成としてある。
The simulation pattern may be singular or plural, and as an example of the configuration in the latter case, the invention in claim 3 is based on any one of claims 1 and 2 above. The input means inputs a plurality of simulation patterns, and the logic verification means determines the logical value of each event based on each simulation pattern, and determines the logical value of the register to be analyzed. It is configured to compare with the conditions in the library and analyze whether the timing error information is a true error or a pseudo error in each simulation pattern.

【0011】すなわち、入力手段にて複数のシミュレー
ションパターンが入力されると、論理検証手段は、入力
された各シミュレーションパターンに基づいて各イベン
トの論理値を決定するとともに、解析対象レジスタの論
理値とライブラリにおける条件との比較を行い、各シミ
ュレーションパターンにおいてタイミングエラー情報が
真のエラーかあるいは疑似エラーかの解析を行う。
That is, when a plurality of simulation patterns are input by the input means, the logic verification means determines the logical value of each event based on each of the input simulation patterns, and determines the logical value of the register to be analyzed. A comparison is made with the conditions in the library, and an analysis is made as to whether the timing error information is a true error or a pseudo error in each simulation pattern.

【0012】論理検証手段は、タイミングエラー情報、
ライブラリおよびネットリストに基づいて解析対象レジ
スタの情報を取得し、シミュレーションパターンに基づ
いて各イベントの論理値を決定するとともに、解析対象
レジスタの論理値とライブラリにおける条件との比較を
行い、シミュレーションパターンにおいてタイミングエ
ラー情報が真のエラーかあるいは疑似エラーかの解析を
行うものであれば良く、解析結果を出力するものであっ
ても良いし、蓄積して保持するものであっても良い。
The logic verification means includes timing error information,
The information of the register to be analyzed is obtained based on the library and the netlist, the logical value of each event is determined based on the simulation pattern, and the logical value of the register to be analyzed is compared with the condition in the library. Any analysis of whether the timing error information is a true error or a pseudo error may be performed, and the analysis result may be output, or may be accumulated and held.

【0013】前者の場合における構成の一例として、請
求項4における発明は、上記請求項1〜請求項3のいず
れかに記載のLSI回路検証装置において、論理検証手
段は、シミュレーションパターンにおいてタイミングエ
ラー情報が真のエラーかあるいは疑似エラーかを解析し
た結果を回路検証結果として出力する構成としてある。
すなわち、論理検証手段がシミュレーションパターンに
おいてタイミングエラー情報が真のエラーかあるいは疑
似エラーかを解析すると、解析結果を回路検証結果とし
て出力する。
[0013] As an example of the configuration in the former case, the invention according to claim 4 is the LSI circuit verification apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the logic verification means includes a timing error information in a simulation pattern. Is configured to output a result of analyzing whether the error is a true error or a pseudo error as a circuit verification result.
That is, when the logic verification unit analyzes whether the timing error information is a true error or a pseudo error in the simulation pattern, the analysis result is output as a circuit verification result.

【0014】ここで、論理検証手段が複数のシミュレー
ションパターンにおいてタイミングエラーが発生するか
否かを解析する場合の構成の一例として、請求項5にお
ける発明は、上記請求項4に記載のLSI回路検証装置
において、論理検証手段は、入力手段にて入力された複
数のシミュレーションパターンにおいてタイミングエラ
ー情報が真のエラーかあるいは疑似エラーかの解析が終
了したときに回路検証結果を出力する構成としてある。
すなわち、入力手段にて複数のシミュレーションパター
ンが入力されたとき、論理検証手段は、入力された全て
のシミュレーションパターンについて解析が終了したと
きに回路検証結果を出力する。
Here, as an example of a configuration in which the logic verification means analyzes whether or not a timing error occurs in a plurality of simulation patterns, the invention according to claim 5 is directed to the LSI circuit verification according to claim 4. In the apparatus, the logic verification means is configured to output a circuit verification result when the analysis of whether the timing error information is a true error or a pseudo error in a plurality of simulation patterns input by the input means is completed.
That is, when a plurality of simulation patterns are input by the input unit, the logic verification unit outputs a circuit verification result when analysis of all the input simulation patterns is completed.

【0015】このように、入力された全てのシミュレー
ションパターンについて解析が終了したときに回路検証
結果を出力すると、解析結果をまとめて出力可能となる
点で適例であるが、各シミュレーションパターンについ
て回路検証結果を出力できれば良いとの観点から、各シ
ミュレーションパターンについて解析を行うごとに回路
検証結果を出力することも可能である。
As described above, when the circuit verification results are output when the analysis is completed for all the input simulation patterns, the analysis results can be output collectively. From the viewpoint that the verification result can be output, it is also possible to output the circuit verification result every time the analysis is performed for each simulation pattern.

【0016】以上のように、論理検証時にタイミング検
証結果の疑似エラーの解析を行う手法は、必ずしも実体
のある装置に限られる必要もなく、一例として、請求項
6における発明は、タイミングエラー情報、論理に依存
したタイミング制約情報を有するライブラリおよびネッ
トリストが入力されたとき、入力されたタイミングエラ
ー情報、ライブラリおよびネットリストに基づいて解析
対象レジスタの情報を取得し、シミュレーションパター
ンが入力されると、入力されたシミュレーションパター
ンに基づいて各イベントの論理値を決定するとともに、
上記解析対象レジスタの論理値と上記ライブラリにおけ
る条件との比較を行い、上記シミュレーションパターン
においてタイミングエラー情報が真のエラーかあるいは
疑似エラーかの解析を行う構成としてある。すなわち、
必ずしも実体のある装置に限らず、その方法としても有
効である。
As described above, the method of analyzing a pseudo error of a timing verification result at the time of logic verification is not necessarily limited to a substantial device. When a library and a netlist having logic-dependent timing constraint information are input, the input timing error information, the information of the register to be analyzed is obtained based on the library and the netlist, and when a simulation pattern is input, Determine the logical value of each event based on the input simulation pattern,
The logic value of the register to be analyzed is compared with the condition in the library, and the simulation pattern is analyzed to determine whether the timing error information is a true error or a pseudo error. That is,
The present invention is not necessarily limited to a substantial device, and is effective as a method.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、図面にもとづいて本発明の
実施形態を説明する。図1は、本発明の一実施形態にお
けるLSI回路検証装置の概略構成をブロック図により
示している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an LSI circuit verification device according to an embodiment of the present invention.

【0018】LSI回路検証装置10は、LSI回路の
タイミングの検証を静的に行う静的タイミング解析ツー
ル(一般的に、STAツールと呼ばれるツール)11
と、サイクルベースシミュレータに代表される論理検証
ツール部12とを備えている。静的タイミング解析ツー
ル11は、LSI回路のタイミング検証を静的に行い、
タイミングエラー情報13を出力する。タイミングエラ
ー情報13には、解析の結果、制約違反と判定されたレ
ジスタのインスタンス名、端子名がおよび前段のレジス
タから制約違反と判定されたレジスタまでのパスがレポ
ートされる。
The LSI circuit verification apparatus 10 includes a static timing analysis tool (a tool generally called an STA tool) 11 for statically verifying the timing of an LSI circuit.
And a logic verification tool unit 12 represented by a cycle-based simulator. The static timing analysis tool 11 statically verifies the timing of the LSI circuit,
The timing error information 13 is output. As a result of the analysis, the timing error information 13 reports the instance name and terminal name of the register determined to be in violation of the constraint and the path from the preceding register to the register determined to be in violation of the constraint.

【0019】論理検証ツール部12では、タイミングエ
ラー情報13、ネットリスト14および論理に依存した
タイミング制約情報を有するライブラリ15が与えられ
ると、解析対象レジスタの情報を設定する。なお、解析
対象レジスタとしては、タイミングエラー情報のエラー
が発生している各インタンスが設定される。そして、論
理検証を行うと同時に解析対象レジスタの解析を行い、
回路検証結果16を出力する。
The logic verification tool section 12, when given a timing error information 13, a net list 14, and a library 15 having logic-dependent timing constraint information, sets information of a register to be analyzed. As the analysis target register, each instance in which an error of the timing error information has occurred is set. At the same time as performing the logic verification, the analysis target register is analyzed,
The circuit verification result 16 is output.

【0020】解析対象レジスタの解析においては、タイ
ミングエラー情報が疑似エラーか否かの解析を行う。論
理に依存したタイミング制約情報を有するライブラリ1
5には、ブロック名および各ブッロクにおけるタイミン
グ制約が有効になるときの条件が論理式で示される。ネ
ットリスト14には、回路構成のインスタンス、ブロッ
ク、端子および接続情報が含まれる。
In analyzing the register to be analyzed, it is analyzed whether the timing error information is a pseudo error. Library 1 having logic-dependent timing constraint information
In FIG. 5, a block name and a condition when the timing constraint in each block becomes valid are indicated by a logical expression. The netlist 14 includes circuit configuration instances, blocks, terminals, and connection information.

【0021】シミュレーションパターン17は、論理検
証を行うための入力信号のスティミュラス情報が含まれ
る。回路検証結果16には、タイミング制約違反の情報
と論理検証の結果が含まれる。従って、タイミングエラ
ー情報13、ネットリスト14、ライブラリ15および
シュミレーションパターン17を入力する図示しない入
力部は、この意味で、本発明にいう入力手段を構成して
いる。また、LSI回路における論理検証を行う論理検
証ツール部12は、この意味で、本発明にいう論理検証
手段を構成している。
The simulation pattern 17 includes stimulus information of an input signal for performing logic verification. The circuit verification result 16 includes information on timing constraint violation and the result of logic verification. Therefore, the input unit (not shown) for inputting the timing error information 13, the net list 14, the library 15, and the simulation pattern 17 constitutes an input means according to the present invention in this sense. Further, the logic verification tool unit 12 for performing logic verification in the LSI circuit constitutes a logic verification unit according to the present invention in this sense.

【0022】次に、本実施形態におけるLSI回路検証
装置10の動作について図2を参照しながら説明する。
なお、各部の入出力となる情報(ファイル)の一例とし
て、図3〜図7に示すものを用いて説明する。図3に示
すタイミングエラー情報13の例では、制約違反と判定
されたレジスタのインスタンス名(ここでは、”/to
p/reg2”および”/top/reg3”)、ブロ
ック名(ここでは、”DFFS”および”DFFR”)お
よび前段から制約違反と判定されたレジスタまでのパス
のレポートを得る。
Next, the operation of the LSI circuit verification apparatus 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
An example of information (file) that is input / output of each unit will be described with reference to FIGS. In the example of the timing error information 13 shown in FIG. 3, the instance name (here, "/ to"
p / reg2 "and" / top / reg3 "), a block name (here," DFFS "and" DFFR "), and a report of the path from the previous stage to the register determined to have violated the constraint are obtained.

【0023】図4に示す論理に依存したタイミング制約
情報を有するライブラリ15の例では、ブロック名(こ
こでは、”DFF1”,”DFFS”,”DFFR”)
および各ブロックにおけるタイミング制約が存在すると
きの条件(ここでは、各ブロックのCheckEnab
leの項目)が論理式で示される。
In the example of the library 15 having the timing constraint information depending on the logic shown in FIG. 4, the block names (here, "DFF1", "DFFS", "DFFR") are used.
And a condition when a timing constraint exists in each block (here, CheckEnable of each block)
le item) is represented by a logical expression.

【0024】ネットリスト14としては図5に示す回路
を用い、また、シミュレーションパターン17および回
路検証結果16としては図6および図7に示すものをそ
れぞれに用いる。まず、LSI回路のタイミング検証を
静的に行い(ステップS100)、タイミングエラー情
報13を得る。
As the net list 14, the circuit shown in FIG. 5 is used, and as the simulation pattern 17 and the circuit verification result 16, those shown in FIGS. 6 and 7 are used. First, the timing of the LSI circuit is statically verified (step S100), and the timing error information 13 is obtained.

【0025】論理検証ツール部12においては、ステッ
プS100で得たタイミングエラー情報13、論理に依
存したタイミング制約情報を有するライブラリ15およ
びネットリスト14が与えられると、解析対象レジスタ
の設定を行う(ステップS110)。タイミングエラー
情報13のエラーが発生している各インスタンスが解析
対象レジスタとして設定され、論理に依存したタイミン
グ制約情報を有するライブラリ15およびネットリスト
14から解析対象インスタンス/ブロックの情報を得る
ことになる。ここでは、解析対象レジスタは、”DFF
S:/top/reg2”および”DFFR:/top
/reg3”に設定される。
In the logic verification tool section 12, when the timing error information 13 obtained in step S100, the library 15 having the logic-dependent timing constraint information and the netlist 14 are given, the register to be analyzed is set (step S100). S110). Each instance of the timing error information 13 where an error has occurred is set as an analysis target register, and information on the analysis target instance / block is obtained from the library 15 and the netlist 14 having logic-dependent timing constraint information. Here, the analysis target register is “DFF
S: / top / reg2 "and" DFFR: / top
/ Reg3 ".

【0026】シミュレーションパターン17を入力し、
シミュレーションを開始させると、論理検証ツール部1
2は、シミュレーションパターンの各イベントごとに処
理を行っていく(ステップS120)。イベントが発生
すると、まず論理値を決定させた後(ステップS13
0)、解析対象レジスタの解析を行う(ステップS14
0)。なお、解析対象レジスタの解析処理では、各イン
スタンスのエラーが真のエラーか疑似エラーかの判別を
行う。
The simulation pattern 17 is input,
When the simulation is started, the logic verification tool unit 1
2 performs processing for each event of the simulation pattern (step S120). When an event occurs, first, a logical value is determined (step S13).
0), and analyze the analysis target register (step S14)
0). In the analysis processing of the analysis target register, it is determined whether the error of each instance is a true error or a pseudo error.

【0027】各イベントによるレジスタの論理値が論理
に依存したタイミング制約情報を有するライブラリ15
のCheckEnableに記述されているタイミング
制約条件を満たす場合、レジスタは入力されたシミュレ
ーションパターン17よるシミュレーションにおいて必
ずタイミングエラーが発生するレジスタであるため、真
のエラーとみなす。一方、レジスタの論理値がタイミン
グ制約条件を満たさない場合は、シミュレーションにお
いてタイミングエラーが発生しないレジスタであるた
め、疑似エラーとみなす。
Library 15 having timing constraint information in which the logical value of the register by each event depends on the logic
When the timing constraint described in CheckEnable is satisfied, the register is regarded as a true error because the register always generates a timing error in the simulation using the input simulation pattern 17. On the other hand, when the logical value of the register does not satisfy the timing constraint condition, the register does not generate a timing error in the simulation, and is regarded as a pseudo error.

【0028】ここで、上述した処理をシミュレーション
パターンのEvent3の場合を用いて説明する。ま
ず、ステップS130で設定した解析対象レジスタのう
ち”DFFS:/top/reg2”について解析を行
う(ステップS150)。
Here, the above-described processing will be described using the case of Event 3 of the simulation pattern. First, analysis is performed on “DFFS: / top / reg2” among the analysis target registers set in step S130 (step S150).

【0029】Event3の時の”DFFS:/top
/reg2”の論理値は、SET=’0’となってお
り、論理に依存したタイミング制約情報を有するライブ
ラリ15のDFFSのCheckEnableに記述さ
れているタイミング制約条件”SET/=’1’&&
DIN/=DOUT”を満たしているため、解析対象レ
ジスタから除外する(ステップS160)。
"DFFS: / top" at Event 3
The logical value of “/ reg2” is SET = “0”, and the timing constraint “SET / =“ 1 ”&&” described in the CheckEnable of the DFFS of the library 15 having the logic-dependent timing constraint information.
Since DIN / = DOUT "is satisfied, it is excluded from the analysis target register (step S160).

【0030】すなわち、”DFFS:/top/reg
2”のタイミングエラーは疑似エラーでないことが確定
したため、以後のイベントでの解析から除くこととす
る。
That is, "DFFS: / top / reg"
Since it has been determined that the timing error “2” is not a pseudo error, it is excluded from the analysis in the subsequent events.

【0031】”DFFR:/top/reg3”につい
て同様の解析を行う(ステップS150)。Event
3の時の”DFFR:/top/reg3”の論理値
は、RESET=’1’となっており、DFFRの”C
heckEnable:RESET/=’1’&& D
IN/=DOUT”を満たしておらず、レジスタのタイ
ミングエラーが疑似エラーの可能性が残るため、解析対
象レジスタとして残す。上述した動作を各イベントにつ
いてイベント終了まで繰り返し処理を行う(ステップS
170)。
The same analysis is performed for "DFFR: / top / reg3" (step S150). Event
The logical value of “DFFR: / top / reg3” at the time of 3 is RESET = “1”, and the DFFR “C
HackEnable: RESET / = '1'&& D
IN / = DOUT ", and the timing error of the register remains as an analysis target register because the possibility of a pseudo error remains. The above-described operation is repeated for each event until the event ends (step S).
170).

【0032】シミュレーションイベントが終了するまで
解析対象レジスタとして残っていたレジスタは、このシ
ミュレーションパターン17の動作を行う限り、タイミ
ングエラーが発生しないレジスタであるため、疑似エラ
ーとして処理をする(ステップS180)。そして、タ
イミングエラー情報13のうち疑似エラーを除いたもの
を真のエラーとして回路検証結果16に出力する(ステ
ップS190)。シミュレーションパターン17におい
ては、”DFFR:/top/reg3”のレジスタに
タイミングエラーが発生する条件のパターンはないた
め、疑似エラーとして判断される。
The register remaining as an analysis target register until the simulation event ends is a register in which a timing error does not occur as long as the operation of the simulation pattern 17 is performed, so that the register is processed as a pseudo error (step S180). Then, the timing error information 13 excluding the pseudo error is output as a true error to the circuit verification result 16 (step S190). In the simulation pattern 17, since there is no condition pattern in which the timing error occurs in the register of "DFFR: / top / reg3", it is determined as a pseudo error.

【0033】従って、”DFFR:/top/reg
3”のエラーのみが真のエラーとして回路検証結果16
に出力される。本実施形態では、特定のシミュレーショ
ンパターンだけを用いて論理検証を行っているが、必ず
しも単数のシミュレーションパターンを用いた場合だけ
に限定されるものではなく、図8に示すように、複数の
シミュレーションパターンを用いることも可能である。
すなわち、n個のシミュレーションパターン20を入力
できるようにすることで、図9に示すように、図2の場
合と同じS200〜S240およびS250にステップ
S245を加え、解析対象レジスタが真のエラーか疑似
エラーかの判定を全入力シミュレーションパタンの終了
後に行っている。
Therefore, "DFFR: / top / reg
Only the 3 "error is a true error and the circuit verification result 16
Is output to In the present embodiment, the logic verification is performed using only a specific simulation pattern. However, the present invention is not necessarily limited to the case where a single simulation pattern is used, and as shown in FIG. Can also be used.
That is, by allowing n simulation patterns 20 to be input, as shown in FIG. 9, step S245 is added to S200 to S240 and S250 which are the same as in FIG. The determination as to whether an error has occurred is made after the end of all the input simulation patterns.

【0034】従って、例えば、本実施形態のシミュレー
ションパタンに加えて、図10のシミュレーションパタ
ンを入力した場合、”DFFR:/top/reg3”
のレジスタは疑似エラーとならず、真のエラーとして解
析されることとなる。
Therefore, for example, when the simulation pattern of FIG. 10 is input in addition to the simulation pattern of the present embodiment, “DFFR: / top / reg3”
Will not be a pseudo error but will be analyzed as a true error.

【0035】このように、タイミングエラー情報13、
ネットリスト14および論理に依存したタイミング制約
情報を有するライブラリ15に基づいて解析対象レジス
タの情報を取得した後、シミュレーションパターン17
に基づいて各イベントの論理値を決定するとともに、解
析対象レジスタの論理値と論理に依存したタイミング制
約情報を有するライブラリ15における条件との比較を
行い、シミュレーションパターン17においてタイミン
グエラー情報が真のエラーかあるいは疑似のエラーかの
解析を行うことが可能となる。
As described above, the timing error information 13,
After acquiring the information of the analysis target register based on the net list 14 and the library 15 having the logic-dependent timing constraint information, the simulation pattern 17 is obtained.
The logical value of each event is determined on the basis of the above, and the logical value of the register to be analyzed is compared with the condition in the library 15 having the timing constraint information depending on the logic. Or a pseudo error can be analyzed.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、論理検証
時にタイミング検証結果の疑似エラー解析を行うことが
可能なLSI回路検証装置を提供することができる。ま
た、請求項2における発明によれば、静的タイミング解
析ツールから出力されたタイミングエラー情報に基づく
解析を行うことができる。
As described above, the present invention can provide an LSI circuit verification device capable of performing a pseudo error analysis of a timing verification result at the time of logic verification. Further, according to the invention of claim 2, it is possible to perform an analysis based on the timing error information output from the static timing analysis tool.

【0037】さらに、請求項3における発明によれば、
複数のシュミレーションパターンに基づいて解析を行う
ことができる。さらに、請求項4における発明によれ
ば、解析結果を回路検証結果として出力することができ
る。
Further, according to the invention of claim 3,
Analysis can be performed based on a plurality of simulation patterns. Further, according to the invention of claim 4, it is possible to output an analysis result as a circuit verification result.

【0038】さらに、請求項5における発明によれば、
複数のシュミレーションパターンに基づいて解析を行う
場合、回路検証結果をまとめて出力することができる。
さらに、請求項6における発明によれば、論理検証時に
タイミング検証結果の疑似エラーの解析を行うことが可
能なLSI回路検証方法を提供することができる。
Further, according to the invention of claim 5,
When analysis is performed based on a plurality of simulation patterns, circuit verification results can be output together.
Further, according to the invention of claim 6, it is possible to provide an LSI circuit verification method capable of analyzing a pseudo error of a timing verification result at the time of logic verification.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施形態におけるLSI回路検証装置の概略
構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of an LSI circuit verification device according to an embodiment.

【図2】回路検証を行う際の手順を示すフローチャート
である。
FIG. 2 is a flowchart illustrating a procedure for performing circuit verification.

【図3】タイミングエラー情報の一例である。FIG. 3 is an example of timing error information.

【図4】論理に依存したタイミング制約情報を有するラ
イブラリの一例である。
FIG. 4 is an example of a library having logic-dependent timing constraint information.

【図5】ネットリストの一例を示す回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram showing an example of a net list.

【図6】シミュレーションパターンの一例を示すパター
ン図である。
FIG. 6 is a pattern diagram showing an example of a simulation pattern.

【図7】回路検証結果の一例である。FIG. 7 is an example of a circuit verification result.

【図8】変形例におけるLSI回路検証装置の概略構成
を示すブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram illustrating a schematic configuration of an LSI circuit verification device according to a modification.

【図9】変形例において回路検証を行う際の手順を示す
フローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart illustrating a procedure for performing circuit verification in a modified example.

【図10】変形例におけるシミュレーションパターンの
一例を示すパターン図である。
FIG. 10 is a pattern diagram illustrating an example of a simulation pattern according to a modification.

【図11】従来例におけるLSI回路検証装置の概略構
成を示すブロック図である。
FIG. 11 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional LSI circuit verification device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 LSI回路検証装置 11 静的タイミング解析ツール 12 論理検証ツール部 13 タイミングエラー情報 14 ネットリスト 15 論理に依存したタイミング制約情報を有するライ
ブラリ 16 回路検証結果 17 シミュレーションパターン
Reference Signs List 10 LSI circuit verification device 11 Static timing analysis tool 12 Logic verification tool unit 13 Timing error information 14 Netlist 15 Library having logic-dependent timing constraint information 16 Circuit verification result 17 Simulation pattern

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/82 T 9A001 Fターム(参考) 2G003 AA07 AB00 AF06 AH02 2G032 AA04 AB06 AB20 AC03 AC08 AD06 AE12 4M106 AA02 BA20 CA70 DH01 DJ20 5B046 AA08 BA04 JA05 JA07 5F064 HH06 HH09 HH10 HH12 HH13 HH14 9A001 BB05 DD15 HH32 LL05 Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI Theme coat II (reference) H01L 21/82 T 9A001 F term (reference) 2G003 AA07 AB00 AF06 AH02 2G032 AA04 AB06 AB20 AC03 AC08 AD06 AE12 4M106 AA02 BA20 CA70 DH01 DJ20 5B046 AA08 BA04 JA05 JA07 5F064 HH06 HH09 HH10 HH12 HH13 HH14 9A001 BB05 DD15 HH32 LL05

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 タイミングエラー情報、論理に依存した
タイミング制約情報を有するライブラリ、ネットリスト
およびシミュレーションパターンを入力する入力手段
と、 上記タイミングエラー情報、ライブラリおよびネットリ
ストに基づいて解析対象レジスタの情報を取得し、上記
シミュレーションパターンに基づいて各イベントの論理
値を決定するとともに、上記解析対象レジスタの論理値
と上記ライブラリにおける条件との比較を行い、上記シ
ミュレーションパターンにおいてタイミングエラー情報
が真のエラーかあるいは疑似エラーかの解析を行う論理
検証手段とを備えることを特徴とするLSI回路検証装
置。
An input means for inputting a library, a netlist and a simulation pattern having timing error information and logic-dependent timing constraint information, and information of a register to be analyzed based on the timing error information, the library and the netlist. Obtain and determine the logical value of each event based on the simulation pattern, compare the logical value of the analysis target register with the condition in the library, and determine whether the timing error information in the simulation pattern is a true error or An LSI circuit verification device comprising: logic verification means for analyzing whether a pseudo error has occurred.
【請求項2】 上記請求項1に記載のLSI回路検証装
置において、 上記タイミングエラー情報は、静的タイミング解析ツー
ルから出力されることを特徴とするLSI回路検証装
置。
2. The LSI circuit verification device according to claim 1, wherein the timing error information is output from a static timing analysis tool.
【請求項3】 上記請求項1または請求項2に記載のL
SI回路検証装置において、 上記入力手段は、複数のシミュレーションパターンを入
力し、 上記論理検証手段は、各シミュレーションパターンに基
づいて各イベントの論理値を決定するとともに、上記解
析対象レジスタの論理値と上記ライブラリにおける条件
との比較を行い、各シミュレーションパターンにおいて
タイミングエラー情報が真のエラーかあるいは疑似エラ
ーかの解析を行うことを特徴とするLSI回路検証装
置。
3. The L according to claim 1, wherein
In the SI circuit verification device, the input unit inputs a plurality of simulation patterns, the logic verification unit determines a logical value of each event based on each simulation pattern, and sets a logical value of the analysis target register and the logical value of the event. An LSI circuit verification device, which compares with conditions in a library and analyzes whether a timing error information is a true error or a pseudo error in each simulation pattern.
【請求項4】 上記請求項1〜請求項3のいずれかに記
載のLSI回路検証装置において、 上記論理検証手段は、上記シミュレーションパターンに
おいてタイミングエラー情報が真のエラーかあるいは疑
似エラーかを解析した結果を回路検証結果として出力す
ることを特徴とするLSI回路検証装置。
4. The LSI circuit verification device according to claim 1, wherein the logic verification means analyzes whether the timing error information in the simulation pattern is a true error or a pseudo error. An LSI circuit verification device for outputting a result as a circuit verification result.
【請求項5】 上記請求項4に記載のLSI回路検証装
置において、 上記論理検証手段は、上記入力手段にて入力された複数
のシミュレーションパターンにおいてタイミングエラー
情報が真のエラーかあるいは疑似エラーかの解析が終了
したときに上記回路検証結果を出力することを特徴とす
るLSI回路検証装置。
5. The LSI circuit verification device according to claim 4, wherein the logic verification means determines whether the timing error information is a true error or a pseudo error in the plurality of simulation patterns input by the input means. An LSI circuit verification device which outputs the circuit verification result when the analysis is completed.
【請求項6】 タイミングエラー情報、論理に依存した
タイミング制約情報を有するライブラリおよびネットリ
ストが入力されたとき、入力されたタイミングエラー情
報、ライブラリおよびネットリストに基づいて解析対象
レジスタの情報を取得し、シミュレーションパターンが
入力されると、入力されたシミュレーションパターンに
基づいて各イベントの論理値を決定するとともに、上記
解析対象レジスタの論理値と上記ライブラリにおける条
件との比較を行い、上記シミュレーションパターンにお
いてタイミングエラー情報が真のエラーかあるいは疑似
エラーかの解析を行うことを特徴とするLSI回路検証
方法。
6. When a library and a netlist having timing error information and logic-dependent timing constraint information are input, information on a register to be analyzed is acquired based on the input timing error information, library and netlist. When the simulation pattern is input, the logic value of each event is determined based on the input simulation pattern, the logical value of the analysis target register is compared with the condition in the library, and the timing in the simulation pattern is determined. An LSI circuit verification method characterized by analyzing whether error information is a true error or a pseudo error.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6910166B2 (en) 2001-11-06 2005-06-21 Fujitsu Limited Method of and apparatus for timing verification of LSI test data and computer product
US7739634B2 (en) 2006-05-01 2010-06-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Verification equipment of semiconductor integrated circuit, method of verifying semiconductor integrated circuit and process of manufacture of semiconductor device

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