JP2000286365A - 極薄bgaタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板 - Google Patents

極薄bgaタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板

Info

Publication number
JP2000286365A
JP2000286365A JP11089783A JP8978399A JP2000286365A JP 2000286365 A JP2000286365 A JP 2000286365A JP 11089783 A JP11089783 A JP 11089783A JP 8978399 A JP8978399 A JP 8978399A JP 2000286365 A JP2000286365 A JP 2000286365A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed wiring
wiring board
plastic package
thermosetting resin
glass cloth
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11089783A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidenori Kanehara
秀憲 金原
Nobuyuki Ikeguchi
信之 池口
Katsuji Komatsu
勝次 小松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
Original Assignee
Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Gas Chemical Co Inc filed Critical Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
Priority to JP11089783A priority Critical patent/JP2000286365A/ja
Publication of JP2000286365A publication Critical patent/JP2000286365A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Reinforced Plastic Materials (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 極薄で反りが殆どなく、耐熱性、吸湿後
の電気絶縁性、耐マイグレーション性などに優れたBGA
タイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板
を作成する。 【解決手段】 半導体プラスチックパッケージのサブス
トレートとして、厚さ0.04〜0.15mmのガラス布基材片面
面銅張積層板を用いて回路板を作成し、表面処理したも
のの片面に同一厚みのガラス布基材熱硬化性樹脂組成物
のプリプレグを積層成形し、サンドブラスト法にてボン
ディングパッド、ボールパッドの部分を除去後、貴金属
メッキを施し、プリント配線板とする。更には銅張積層
板及びプリプレグの樹脂として、多官能性シアン酸エス
テル樹脂組成物を用いる。 【効果】 プリント配線板及び半導体プラスチックパ
ッケージは反りが非常に小さく、耐熱性、プレッシャー
クッカー処理後の電気絶縁性、耐マイグレーション性な
どに優れ、量産性にも適したものが得られた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップを1
個、ほぼ同じ大きさの小型プリント配線板に搭載した形
態の、チップスケールパッケージ(CSP)用プリント配
線板に関する。得られたプリント配線板は、半導体チッ
プを搭載し、マイクロコントローラ、ASIC、メモリー等
の用途に使用される。本パッケージはハンダボールを用
いてマザーボードプリント配線板に接続され、電子機器
等として使用される。
【0002】
【従来の技術】従来、チップスケールパッケージ(CSP)
の基材としては、ガラスエポキシ材、ポリイミドフィル
ム材、セラミック材等の薄い板が主に使用されている。
これらのパッケージ類は、ハンダボール間隔が0.8m
m以上であるが、薄型、小型、軽量化を図るために近年
ますますハンダボールピッチ及び回路のライン/スペー
スが狭くなって来ており、基板の耐熱性、多層板とした
時の吸湿後の電気絶縁性、耐マイグレーション性等が問
題となっていた。また、従来のプラスチックボールグリ
ッドアレイ(P-BGA)、CSP等のハンダボールの基材への密
着性は、ハンダボールパッドの大きさが小さくなるに従
い、弱くなって、不良の原因となっていた。更には、基
板が薄いため表裏のソルダーレジストの厚みのばらつき
や銅箔の残存率の違いにより反りの発生は避けられない
ものであった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上の問題
点を改善したCSP用プリント配線板を提供するものであ
る。
【0004】
【発明が解決するための手段】本発明は、半導体チップ
スケールパッケージのサブストレートとして、厚さ150
μmから50μmの範囲のガラス布基材片面銅張積層板を用
い、少なくとも半導体チップボンディング用端子、ハン
ダボール接続用パッド及びボンディング端子と該パッド
を接続する銅箔回路を配置してなる回路板を作成した
後、回路形成側全面に、好ましくは同一の、ガラス布基
材を用いた熱硬化性樹脂プリプレグを重ね、加熱、加
圧、好ましくは真空下に積層成形した後、少なくともボ
ンディング用端子の表面の一部及びハンダボール接続用
パッドの一部のガラス布基材熱硬化性樹脂を除去してか
ら、ニッケルメッキ、金メッキを施して得られるプリン
ト配線板を提供する。更には、プリプレグ、片面銅張積
層板に使用する樹脂として、多官能性シアン酸エステ
ル、該シアン酸エステルプレポリマーを必須成分とする
熱硬化性樹脂組成物を使用することにより、耐熱性、吸
湿後の電気絶縁性、耐マイグレーション性等の特性に優
れたCSP用プリント配線板を得ることができた。
【0005】
【発明の実施の形態】本発明は、半導体チップスケール
パッケージ用サブストレートとして、厚さ150μm以下、
50μm以上のガラス布基材片面銅張積層板を用い、少な
くとも半導体ボンディング用端子、ハンダボール接続用
パッド及びボンディング端子と該パッドを配置してなる
回路板を作成後、回路形成側の全面にガラス布基材熱硬
化性樹脂プリプレグを重ねて加熱、加圧、好ましくは真
空下に積層成形してから、少なくともボンディング用端
子の表面の一部及びハンダボール接続用パッド表面の一
部のガラス布熱硬化性樹脂を除去して回路を露出させ、
この端子銅箔表面を必要により前処理し、ニッケルメッ
キ、金メッキを施したプリント配線板である。
【0006】半導体チップを上記プリント配線板の上に
熱伝導性接着剤で接着固定してワイヤボンディングで接
続し、表面を封止樹脂で封止するか、またはフリップチ
ップボンディングにより半導体下面のバンプをプリント
配線板の端子に溶融接合し、アンダーフィルレジンで半
導体チップ下面を接着固定した後、裏面にハンダボール
を溶融接合し、半導体プラスチックパッケージを得る。
また、プリプレグ、片面銅張積層板の熱硬化性樹脂組成
物としては、多官能性シアン酸エステル樹脂組成物を使
用することにより、耐熱性、プレッシャークッカー後の
電気絶縁性、耐マイグレーション性などに優れたプリン
ト配線板が得られる。
【0007】本発明のプリプレグ、片面銅張積層板とし
ては、一般に公知のガラス織布に熱硬化性樹脂を含浸、
乾燥して得られた片面銅張板が挙げられ、その多層板も
挙げられる。ガラス繊維としては、一般に公知のガラス
繊維、例えばE、S、D、Q、A、Cガラス繊維などの織布が
挙げられ、厚みは一般に30〜150μmが使用される。また
これらの糸を用いた混抄も使用し得る。基材では、薄い
ものは密度の高いものが好ましい。好適には、厚み50
±10μm、重量35〜60g/m2でかつ通気度5〜25
cm3/cm2・sec.の織布を1枚以上使用する。この厚みよ
り薄いものも使用可能である。又厚さ60〜150μm
のガラス織布を1枚使用することも可能である。織り方
についても特に限定はしないが、平織りが好ましい。
【0008】本発明で使用される熱硬化性樹脂組成物の
樹脂としては、一般に公知の熱硬化性樹脂が使用され
る。具体的には、エポキシ樹脂、多官能性シアン酸エス
テル樹脂、 多官能性マレイミドーシアン酸エステル樹
脂、多官能性マレイミド樹脂、不飽和基含有ポリフェニ
レンエーテル樹脂等が挙げられ、1種或いは2種類以上が
組み合わせて使用される。耐熱性、耐マイグレーション
性、吸湿後の電気的特性等の点から多官能性シアン酸エ
ステル樹脂組成物が好適である。
【0009】本発明の好適な熱硬化性樹脂分である多官
能性シアン酸エステル化合物とは、分子内に2個以上の
シアナト基を有する化合物である。具体的に例示する
と、1,3-又は1,4-ジシアナトベンゼン、1,3,5-トリシア
ナトベンゼン、1,3-、1,4-、1,6-、1,8-、2,6-又は2,7-
ジシアナトナフタレン、1,3,6-トリシアナトナフタレ
ン、4,4-ジシアナトビフェニル、ビス(4-ジシアナトフ
ェニル)メタン、2,2-ビス(4-シアナトフェニル)プロパ
ン、2,2-ビス(3,5-ジブロモー4-シアナトフェニル)プロ
パン、ビス(4-シアナトフェニル)エーテル、ビス(4-シ
アナトフェニル)チオエーテル、ビス(4-シアナトフェニ
ル)スルホン、トリス(4-シアナトフェニル)ホスファイ
ト、トリス(4-シアナトフェニル)ホスフェート、および
ノボラックとハロゲン化シアンとの反応により得られる
シアネート類などである。
【0010】これらのほかに特公昭41-1928、同43-1846
8、同44-4791、同45-11712、同46-41112、同47-26853及
び特開昭51-63149号公報等に記載の多官能性シアン酸エ
ステル化合物類も用いら得る。また、これら多官能性シ
アン酸エステル化合物のシアナト基の三量化によって形
成されるトリアジン環を有する分子量400〜6,000 のプ
レポリマーが使用される。このプレポリマーは、上記の
多官能性シアン酸エステルモノマーを、例えば鉱酸、ル
イス酸等の酸類;ナトリウムアルコラート等、第三級ア
ミン類等の塩基;炭酸ナトリウム等の塩類等を触媒とし
て重合させることにより得られる。このプレポリマー中
には一部未反応のモノマーも含まれており、モノマーと
プレポリマーとの混合物の形態をしており、このような
原料は本発明の用途に好適に使用される。一般には可溶
な有機溶剤に溶解させて使用する。
【0011】エポキシ樹脂としては、一般に公知のもの
が使用できる。具体的には、液状或いは固形のビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹
脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂;ブタ
ジエン、ペンタジエン、ビニルシクロヘキセン、ジシク
ロペンチルエーテル等の二重結合をエポキシ化したポリ
エポキシ化合物類;ポリオール、水酸基含有シリコン樹
脂類とエポハロヒドリンとの反応によって得られるポリ
グリシジル化合物類等が挙げられる。これらは1種或い
は2種類以上が組み合わせて使用され得る。
【0012】ポリイミド樹脂としては、一般に公知のも
のが使用され得る。具体的には、多官能性マレイミド類
とポリアミン類との反応物、特公昭57-005406 に記載の
末端三重結合のポリイミド類が挙げられる。これらの熱
硬化性樹脂は、単独でも使用されるが、特性のバランス
を考え、適宜組み合わせて使用するのが良い。
【0013】本発明の熱硬化性樹脂組成物には、組成物
本来の特性が損なわれない範囲で、所望に応じて種々の
添加物を配合することができる。これらの添加物として
は、不飽和ポリエステル等の重合性二重結合含有モノマ
ー類及びそのプレポリマー類;ポリブタジエン、エポキ
シ化ブタジエン、マレイン化ブタジエン、ブタジエン-
アクリロニトリル共重合体ポリクロロプレン、ブタジエ
ン-スチレン共重合体、ポリイソプレン、ブチルゴム、
フッ素ゴム、天然ゴム等の低分子量液状〜高分子量のel
asticなゴム類;ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリブ
テン、ポリ-4-メチルペンテン、ポリスチレン、AS樹
脂、ABS樹脂、MBS樹脂、スチレン-イソプレンゴム、ポ
リエチレン-プロピレン共重合体、4-フッ化エチレン-6-
フッ化エチレン共重合体類;ポリカーボネート、ポリフ
ェニレンエーテル、ポリスルホン、ポリエステル、ポリ
フェニレンサルファイド等の高分子量プレポリマー若し
くはオリゴマー;ポリウレタン等が例示され、適宜使用
される。また、その他、公知の有機の充填剤、染料、顔
料、増粘剤、滑剤、消泡剤、分散剤、レベリング剤、光
増感剤、難燃剤、光沢剤、重合禁止剤、チキソ性付与剤
等の各種添加剤が、所望に応じて適宜組み合わせて用い
られる。必要により、反応基を有する化合物は硬化剤、
触媒が適宜配合される。本発明の熱硬化性樹脂組成物
は、それ自体は加熱により硬化するが硬化速度が遅く、
作業性、経済性等に劣るため使用した熱硬化性樹脂に対
して公知の熱硬化触媒を用い得る。使用量は、熱硬化性
樹脂100重量部に対して0.005〜10重量部、好ましくは0.
01〜5重量部である。無機の絶縁性充填剤としては、一
般に公知のものが使用できる。具体的には、天然シリ
カ、焼成シリカ、アモルファスシリカ等のシリカ類や、
ホワイトカーボン、チタンホワイト、アエロジル、クレ
ー、タルク、ウォラストナイト、天然マイカ、合成マイ
カ、カオリン、アルミナ、パーライト、水酸化アルミニ
ウム、水酸化マグネシウム等が挙げられる。添加量は、
全組成物中の10〜80重量%、好適には、20〜70
重量%である。粒子径は1μm以下が好ましい。本発明
においては、水酸化アルミニウムと水酸化マグネシウム
の混合物が、耐燃性付与、炭酸ガスレーザー孔あけ用等
として特に好ましい。
【0014】ガラス基材補強銅張積層板は、まず上記補
強基材に熱硬化性樹脂組成物を含浸、乾燥させてBステ
ージとし、プリプレグを作成する。次に、このプリプレ
グの片面に銅箔を配置し、反対面には離型フィルムを配
置し、加熱、加圧、好適には真空下に積層成形し、銅張
積層板とする。片面の銅箔の厚みは、特に限定はない
が、好適には18〜200μmである。
【0015】厚さ0.04〜0.15mmのガラス布基材銅張積層
板は、薄いために腰がなく、上下のソルダーレジストの
厚みバラツキにより、更には銅箔残存率の差異により、
反りが発生する確率が高く、プリント配線板として作業
性に劣り、不良発生率が高いものであった。本発明は、
このソルダーレジストの代わりに、回路が形成され、ス
ルーホールが形成されたプリント基板の回路側に、ガラ
ス布基材熱硬化性樹脂プリプレグを配置し、その外側に
離型フィルムを配置し、加熱、加圧、好ましくは真空下
に積層成形して一体化することにより、反りが大幅に改
善されたものが得られた。このボンディング用端子の表
面の一部及び裏面のハンダボール接続用パッド表層のガ
ガラス布基材熱硬化性樹脂層を、好適にはサンドブラス
ト法にて除去し、その後、必要により銅箔表面をソフト
エッチングなどの処理を行い、定法にてニッケルメッ
キ、金メッキを行う。
【0016】
【実施例】以下に実施例、比較例で本発明を具体的に説
明する。尚、特に断らない限り、『部』は重量部を表
す。
【0017】実施例1 2,2-ビス(4-シアナトフェニル)プロパン900部、ビス(4-
マレイミドフェニル)メタン100部を150℃に熔融させ、
撹拌しながら4時間反応させ、プレポリマーを得た。こ
れをメチルエチルケトンとジメチルホルムアミドの混合
溶剤に溶解した。これにビスフェノールA型エポキシ樹
脂(商品名:エピコート1001、油化シェルエポキシ<株>
製)400部、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(商品
名:ESCN-220F、住友化学工業<株>製)600部を加え、均
一に溶解混合した。更に触媒としてオクチル酸亜鉛0.4
部を加え、溶解混合してワニスAを得た。これに無機充
填剤(商品名:焼成タルク、日本タルク<株>製)500部、
及び黒色顔料8部を加え、均一撹拌混合してワニスBを得
た。このワニスを厚さ50μm(重量:53g/m2)のガラ
ス織布に含浸し150℃で乾燥して、ゲル化時間(at170℃)
120秒、樹脂組成物含有量が51wt%のプリプレグC1及びゲ
ル化時間103秒、樹脂組成物含有量60wt%のプリプレグC2
を作成した。
【0018】厚さ70μmの電解銅箔を、上記プリプレグC
1(図1、b)の2枚の片面に配置し、200℃、20kgf/cm2、3
0mmHg以下の真空下で2時間積層成形し、 片面銅張積層
板を得た。この銅箔に回路を形成し、黒色酸化銅処理を
施し、片面プリント配線板D(a)とした。このプリント
配線板Dの回路を形成した面に上記プリプレグC2(c)を1
枚、その外側にプリプレグC1(b)を1枚置き、その外側
に離型フィルムを配置し、同様に積層成形してから離型
フィルムを剥離し、その後表裏全面に液状UV選択熱硬化
型塗料を塗布、乾燥してから、表面のボンディングパッ
ド部分(e)、裏面のボールパッド部分(f)以外をUV照射し
て硬化させてからアルカリ水溶液で現像してボンディン
グパッド部分及びボールパッド部分のレジストを除去
し、サンドブラスト法にてガラス布基材と熱硬化性樹脂
組成物を研削除去してボンディングパッド及びハンダボ
ールパッドを露出させた。その後、レジストを除去し、
露出した銅箔表面をソフトエッチングし、定法にてニッ
ケルメッキ、金メッキを施して25mm角のプリント配線
板Eとした。このプリント配線板Eの評価結果を表1に示
す。このプリント配線板Eの表面に15mm角の半導体チッ
プ(k)を銀ペースト(i)で接着し、エポキシ樹脂コンパウ
ンド(g)で全面を樹脂封止し、半導体プラスチックパッ
ケージFとした。
【0019】実施例2 実施例1のワニスAに水酸化アルミニウムと水酸化マグ
ネシウム(平均粒径10.8μm)をそれぞれ2100
部、900部の混合物とトリフェニルアンチモン10部
を加え、よく撹拌混合してワニスGとした。これを実施
例1のガラス織布に含侵、乾燥し、ゲル化時間148
秒、樹脂組成物含量70重量%のプリプレグHを得た。
又ゲル化時間140秒、樹脂組成物含量61重量%のプ
リプレグIを作成した。プリプレグIを2枚使用し、この
片面に105μmの電解銅箔を配置し、実施例1と同様
に積層成形して絶縁層の厚みが120μmの片面銅張積
層板Jを作成した。この銅箔に回路を形成し、黒色酸化
銅処理を施した面に上記プリプレグHを1枚、その上に
プリプレグIを1枚配置し、その外側に離型フィルムを
置き、積層成形した後、離型フィルムを剥離し、プリン
ト配線板Kを作成した。このプリント配線板Kの回路形成
面に、同様にUVレジストを塗布、乾燥し、表面の半導体
フリップチップバンプ部分、裏面のボールパッド部分以
外をUV照射し、同様にアルカリ水溶液で現像し、サンド
ブラスト法でガラス布基材及び熱硬化性樹脂組成物を除
去してからレジストを剥離除去し、同様にニッケルメッ
キ、金メッキを施し、プリント配線板Lとした。この評
価結果を表1に示す。
【0020】この16mm角のプリント配線板Lの上にフ
リップチップボンディング法にて15mm角の半導体チップ
を搭載し、半導体下側をアンダーフィルレジンで充填固
定し、裏面にハンダボールを溶融固定して半導体プラス
チックパッケージMとした。
【0021】比較例1 実施例1において、プリント配線板Cの回路が形成され
た表面にUV選択熱硬化レジストを50μmとなるように2
回塗布、乾燥を繰り返して、露光後に半導体チップボン
ディングパッド及び裏面のハンダボールパッド部分を現
像除去し、熱硬化後、ニッケルメッキ、金メッキを施し
てプリント配線板Nとした。これに同様に半導体チップ
を搭載、ワイヤボンディング、樹脂封止し、半導体プラ
スチックパッケージOとした。評価結果を表1に示す。
【0022】比較例2 実施例1において、熱硬化性樹脂組成物として、エポキ
シ樹脂(商品名:エピコート5045)700部、及びエポキシ
樹脂(商品名:ESCN-220F)300部、ジシアンジアミド35
部、2-エチル-4-メチルイミダゾール1部をメチルエチル
ケトンとジメチルホルムアミドの混合溶剤に溶解し、均
一に攪拌、混合したものを使用した。これを厚み51μ
m、重量48g/m2でかつ通気度50cm3/cm2・sec以上の
糸の隙間の多いガラスクロスに含浸させ、乾燥して、ゲ
ル化時間150秒のプリプレグPを作成した。このプリプレ
グPを2枚使用し、片面に70μmの電解銅箔を配置し、反
対面には離型フィルムを配置し、190℃、20kgf/cm2、30
mmHg以下の真空下で積層成形し片面銅張積層板を作成し
た。後は比較例1と同様に加工してプリント配線板Qを
作成し、表面は半導体チップ搭載、ワイヤボンディン
グ、樹脂封止を行い、裏面はハンダボールを接合し、半
導体プラスチックパッケージRとした。評価結果を表1
に示す。
【0023】 表1 項 目 実 施 例 比 較 例 1 2 1 2 ガラス転移温度(℃) 235 235 235 160 粘弾性 (10x1010dyne/cm2) 2.0 1.9 ー 1.2 プレッシャークッカー 処理後の絶縁抵抗(Ω) 常態 4x1014 ー ー 6x1014 200hrs.処理後 7x1012 2x1011 500hrs.処理後 5x1011 <1x108 700hrs.処理後 4x1010 ー 1,000hrs.処理後 1x1010 ー 耐マイグレーション性(Ω) 常態 6x1013 ー ー 2x1013 200hrs.処理後 6x1011 7x109 300hrs.処理後 4x1011 <1x108 500hrs.処理後 1x1011 ー 1,000hrs.処理後 8x1010 ー 耐燃性(UL94) ー V-0 ー ー
【0024】 表1(続) 項 目 実 施 例 比 較 例 1 2 1 2 反り(250x250mm) プリント配線板(mm) E 0.9 L 0.8 N >50 Q >50 半導体プラスチックパッケージ(μm) F 200 M 200 O >5000 R >5000
【0025】<測定方法> 1)ガラス転移温度:DMA法にて測定した。 2)粘弾性:銅箔をエッチング除去した積層板を用いて、
DMAにて測定した。 3)プレッシャークッカー処理後の絶縁抵抗値 ライン/スペース=50/50μmの櫛形パターンを作成し、
この上に、それぞれ使用したプリプレグを配置し、積層
成形したものを、121℃・2気圧で所定時間処理した後、
25℃・60%RHで2時間後処理を行い、500VDCを印加60秒後
に、その端子間の絶縁抵抗値を測定した。 4)耐マイグレーション性 上記3)の試験片を85℃・85%RH、50VDC印加して端子間の
絶縁抵抗値を測定した。 5)反り ・プリント配線板 ワークサイズの250x250mmを定盤上に置いて、反りの最
大値を測定した。 ・半導体プラスチックパッケージ 半導体チップ15mm角を16mmのプリント配線板に搭載した
場合の最大反りを測定した。 6)耐燃性 銅箔をエッチング除去し、UL94に準じて測定した。
【0026】
【発明の効果】本発明によれば、半導体チップスケール
パッケージのサブストレートとして、厚さ0.15mm以下、
0.05mm以上のガラス布基材片面銅張積層板を用いて、少
なくとも半導体チップボンディング用端子、ハンダボー
ル接続用パッド及びボンディング端子と該パッドを接続
する銅箔回路を配置してなる回路板を作成した後、回路
形成側の全面にガラス布基材プリプレグを重ねて加熱、
加圧、好ましくは真空下に積層成形した後、少なくと
も、ボンディング用端子の表面の一部、及びハンダボー
ル接続用パッドと表面の一部のガラス布、熱硬化性樹脂
組成物をサンドブラスト法などで除去し、極薄BGAタ
イプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板が
提供される。、貴金属メッキを行なった極薄BGAタイ
プ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板が提
供される。得られたプリント配線板は、プリント配線板
の反りが少なく、ワイヤボンディングまたはフリップチ
ップボンディングで半導体チップを搭載した半導体プラ
スチックパッケージも反りが少ないものが得られる。更
には熱硬化性樹脂組成物として多官能性シアン酸エステ
ル、該シアン酸エステルプレポリマーを必須成分として
用いることにより、耐熱性、プレッシャークッカー処理
後の電気絶縁性、耐マイグレーション性などに優れたも
のを得ることができ、且つ大量生産にも適したプリント
配線板が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1のプリント配線板及び半導体プラスチ
ックパッケージの製造工程図である。
【符号の説明】
a 片面プリント配線板Q b プリプレグC1 c プリプレグC2 d 回路 e ワイヤボンディングパッド部分 f ハンダボールパッド部分 g 封止樹脂 h ボンディングワイヤ i 銀ペースト j ハンダボール k 半導体チップ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 厚さ150μmから40μmのガラス布
    基材片面銅張積層板を用いて、少なくとも半導体チップ
    ボンディング用端子、ハンダボール接続用パッド及びボ
    ンディング端子と該パッドを接続する銅箔回路を配置し
    た回路板を作成した後、回路側全面にガラス布基材プリ
    プレグを重ねて加圧、加熱下に積層成形した後、少なく
    とも、ボンディング用端子の表面の一部、及びハンダボ
    ール接続用パッドと表面の一部のガラス布、熱硬化性樹
    脂組成物を除去することを特徴とする極薄BGAタイプ半
    導体プラスチックパッケージ用プリント配線板。
  2. 【請求項2】 ガラス布基材両面銅張積層板に使用する
    ガラス布が、厚み50±10μm、重量35〜60g/m2
    でかつ通気度5〜25cm3/cm2・sec.の織布を1枚以上
    組み合わせた請求項1記載の極薄BGAタイプ半導体プラ
    スチックパッケージ用プリント配線板。
  3. 【請求項3】 ガラス布、熱硬化性樹脂組成物をサンド
    ブラスト法にて除去して製造される請求項1又は2記載
    の極薄BGAタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリ
    ント配線板。
  4. 【請求項4】 ガラス布基材片面銅張板の熱硬化性樹脂
    組成物が、多官能性シアン酸エステル、該シアン酸エス
    テルプレポリマーを必須成分とする熱硬化性樹脂組成物
    である請求項1又は3記載の極薄BGAタイプ半導体プラ
    スチックパッケージ用プリント配線板。
  5. 【請求項5】 銅張積層板の樹脂組成物が、絶縁性無機
    充填剤を10〜80重量%含有する請求項1、3又は4
    記載の極薄BGAタイプ半導体プラスチックパッケージ用
    プリント配線板。
  6. 【請求項6】 絶縁性無機充填剤が、水酸化アルミニウ
    ムと水酸化マグネシウムとの混合物からなる請求項5記
    載の極薄BGAタイプ半導体プラスチックパッケージ用プ
    リント配線板。
JP11089783A 1999-03-30 1999-03-30 極薄bgaタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板 Pending JP2000286365A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11089783A JP2000286365A (ja) 1999-03-30 1999-03-30 極薄bgaタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11089783A JP2000286365A (ja) 1999-03-30 1999-03-30 極薄bgaタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000286365A true JP2000286365A (ja) 2000-10-13

Family

ID=13980291

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11089783A Pending JP2000286365A (ja) 1999-03-30 1999-03-30 極薄bgaタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000286365A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101699618B (zh) * 2009-11-03 2012-01-04 陕西华经微电子股份有限公司 厚膜bga防硫化工艺方法
US20130219712A1 (en) * 2012-02-29 2013-08-29 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Method of manufacturing multilayer wiring board
CN106564002A (zh) * 2016-11-09 2017-04-19 北京时代民芯科技有限公司 一种控制ccga器件焊柱共面性、位置度及垂直度的工装及方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101699618B (zh) * 2009-11-03 2012-01-04 陕西华经微电子股份有限公司 厚膜bga防硫化工艺方法
US20130219712A1 (en) * 2012-02-29 2013-08-29 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Method of manufacturing multilayer wiring board
US9179553B2 (en) * 2012-02-29 2015-11-03 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Method of manufacturing multilayer wiring board
CN106564002A (zh) * 2016-11-09 2017-04-19 北京时代民芯科技有限公司 一种控制ccga器件焊柱共面性、位置度及垂直度的工装及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100630482B1 (ko) 반도체 플라스틱 패키지용 인쇄배선판
JP2000286362A (ja) 極薄bgaタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板
JP2000286365A (ja) 極薄bgaタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板
JP2001102491A (ja) 極薄bgaタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板
JP2000068641A (ja) プリント配線板の製造方法
JP2005183599A (ja) Bステージ樹脂組成物シートおよびこれを用いたフリップチップ搭載用プリント配線板の製造方法。
JP2000294678A (ja) 高熱放散型ボールグリッドアレイタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板
JP2001294843A (ja) 半導体装置用接着剤組成物およびそれを用いた半導体装置用接着剤シートならびに半導体装置
JP2000150714A (ja) 半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板
JP2001007533A (ja) 放熱性に優れたボールグリッドアレイ型プリント配線板の製造方法
JPH11214572A (ja) 金属芯入り両面金属箔張多層板の製造方法
JP2000260900A (ja) 半導体プラスチックパッケージ用サブストレート
JP2001007240A (ja) 高熱放散型ボールグリッドアレイタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板
JP2000260901A (ja) 金属芯入半導体プラスチックパッケージ用多層プリント配線板
JP2000077567A (ja) プリント配線板の製造方法
JP2000315749A (ja) 金属芯入りボールグリッドアレイ型半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板
JP4022972B2 (ja) 半導体プラスチックパッケージ
JP2001196492A (ja) 極薄bgaタイプ半導体プラスチックパッケージ用プリント配線板
JP3852510B2 (ja) 半導体プラスチックパッケージ
JP2000286361A (ja) フリップチップ搭載用多層プリント配線板
JPH11214563A (ja) 半導体プラスチックパッケージ
JP2000315750A (ja) 熱放散性に優れたボールグリッドアレイ型プリント配線板の製造方法
JP2005079516A (ja) 金属芯入りキャビティ型半導体プラスチックパッケージ
JPH11238827A (ja) 金属芯の製造方法
JPH11330304A (ja) 半導体プラスチックパッケージ