JP2000266231A - Semiconductor microvalve - Google Patents

Semiconductor microvalve

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JP2000266231A
JP2000266231A JP6920399A JP6920399A JP2000266231A JP 2000266231 A JP2000266231 A JP 2000266231A JP 6920399 A JP6920399 A JP 6920399A JP 6920399 A JP6920399 A JP 6920399A JP 2000266231 A JP2000266231 A JP 2000266231A
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JP
Japan
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bimetal
bimetal element
valve
flexible portion
valve port
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Withdrawn
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JP6920399A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaari Kamakura
將有 鎌倉
Shigeaki Tomonari
恵昭 友成
Hitoshi Yoshida
仁 吉田
Hiroshi Kawada
裕志 河田
Keiko Fujii
圭子 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor microvalve allowing low power consumption. SOLUTION: A valve port 10a is penetratedly provided on a silicon substrate 10. A flexible portion 22 is provided with a movable piece 22a comprising silicon provided with a valve element 23 at a center portion and the movable piece 22a constitutes a first bimetal element. A second bimetal element 24 is laminated on a predetermined position between the valve element 23 and a peripheral portion 22c in the movable piece 22a through an insulation layer 26. A bimetal is constituted by the first bimetal element and the second bimetal element 24. A wiring 27b as an energization means for only energizing to the second bimetal element 24 is connected to the bimetal element 24. An insulation layer 26 interposed between the first bimetal element and the second bimetal element 24 electrically and thermally insulates the first bimetal element from the second bimetal element 24.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、気体などの流体の
流量制御に用いられる半導体マイクロバルブに関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor microvalve used for controlling a flow rate of a fluid such as a gas.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、気体などの流体の流量制御に
用いられる半導体マイクロバルブとして、図3に示す構
成のものが提案されている。図3に示した半導体マイク
ロバルブは、常開型のバルブであって、厚み方向の一面
(図3における上面)から他面(図3における下面)に
わたって貫通した貫通孔よりなる弁口10aが形成され
たシリコン基板10と、中央部に弁口10aを開閉する
弁体23が設けられ且つ周部22cがシリコン基板10
の上記一面側にスペーサ30を介して結合され可撓性を
有する可撓部22とを備えている。なお、可撓部22の
要所には、流体の通る流通孔(図示せず)が形成されて
いる。この流通孔は、弁体23により弁口10aが開か
れた状態で弁口10aに連通する。
2. Description of the Related Art Conventionally, a semiconductor microvalve having a configuration shown in FIG. 3 has been proposed as a semiconductor microvalve used for controlling a flow rate of a fluid such as a gas. The semiconductor microvalve shown in FIG. 3 is a normally-open type valve, and has a valve port 10a formed of a through hole penetrating from one surface (upper surface in FIG. 3) in the thickness direction to the other surface (lower surface in FIG. 3). And a valve body 23 that opens and closes a valve port 10a at the center and a peripheral portion 22c
And a flexible portion 22 which is connected to the one surface side via a spacer 30 and has flexibility. In addition, a flow hole (not shown) through which a fluid passes is formed at a key point of the flexible portion 22. The communication hole communicates with the valve port 10a when the valve port 10a is opened by the valve element 23.

【0003】可撓部22は、中央部に弁体23が設けら
れたシリコンよりなる可動片22aを備え、可動片22
aにおいて弁体23と周部22cとの間の所定部位には
拡散抵抗層25が形成されている。拡散抵抗層25には
拡散抵抗層25へ通電するための配線27aが接続され
ている。ここにおいて、可動片22aは、第1のバイメ
タル要素を構成しており、拡散抵抗層25上には、絶縁
層26’を介して第2のバイメタル要素24が積層され
ている。第2のバイメタル要素24は、第1のバイメタ
ル要素と熱膨張係数の異なる材料により形成されてい
る。すなわち、可撓部22は、第1のバイメタル要素と
第2のバイメタル要素24とでバイメタルを構成してお
り、温度変化に対応して湾曲するようになっている。な
お、バイメタルは周知のように、熱膨張係数の異なる金
属板を貼り合わせて形成され、両金属板を同じ温度に上
昇させた場合に、2枚の金属板の長さが異なってくるこ
とにより、短い方の金属板を内側にして両金属板が円弧
状に湾曲するというものである。
The flexible portion 22 includes a movable piece 22a made of silicon and provided with a valve body 23 at a central portion.
In FIG. 5A, a diffusion resistance layer 25 is formed at a predetermined portion between the valve element 23 and the peripheral portion 22c. The diffusion resistance layer 25 is connected to a wiring 27a for supplying a current to the diffusion resistance layer 25. Here, the movable piece 22a constitutes a first bimetal element, and the second bimetal element 24 is laminated on the diffusion resistance layer 25 via an insulating layer 26 '. The second bimetal element 24 is formed of a material having a different coefficient of thermal expansion from the first bimetal element. That is, the flexible portion 22 is formed of a bimetal by the first bimetal element and the second bimetal element 24, and bends in response to a temperature change. As is well known, bimetals are formed by bonding metal plates having different coefficients of thermal expansion, and when both metal plates are heated to the same temperature, the lengths of the two metal plates differ. The two metal plates are curved in an arc with the shorter metal plate inside.

【0004】この図3に示した半導体マイクロバルブに
おいて、弁体23により弁口10aを閉じる場合には、
拡散抵抗層25へ通電し拡散抵抗層25を発熱させるこ
とによって、バイメタルの温度を上昇させ湾曲させる。
なお、上記絶縁層26’は、拡散抵抗層25と第2のバ
イメタル要素24との電気的絶縁をとるための層であ
り、拡散抵抗層25から第2のバイメタル要素24への
熱伝導が妨げられないように(熱絶縁されないように)
厚みを薄くしてある。
In the semiconductor microvalve shown in FIG. 3, when the valve port 10a is closed by the valve body 23,
By energizing the diffusion resistance layer 25 to generate heat, the temperature of the bimetal is raised and curved.
The insulating layer 26 'is a layer for providing electrical insulation between the diffusion resistance layer 25 and the second bimetal element 24, and prevents heat conduction from the diffusion resistance layer 25 to the second bimetal element 24. Not be insulated (not insulated)
The thickness has been reduced.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来構
成の半導体マイクロバルブにおいて、弁体23の変位量
を大きくするには、バイメタルを湾曲させるために拡散
抵抗層25へ供給する電力を増加させてバイメタルの温
度をより高く上昇させる必要がある。しかしながら、上
記従来構成の半導体マイクロバルブでは、拡散抵抗層2
5を発熱させることにより第2のバイメタル要素24の
温度も上昇させているので、バイメタルをより湾曲させ
る(弁体23の変位量をより大きくする)には、拡散抵
抗層25と第2のバイメタル要素24との両方の温度を
上昇させる必要があり、消費電力が高くなってしまうと
いう不具合があった。
By the way, in the above-mentioned conventional semiconductor microvalve, in order to increase the amount of displacement of the valve element 23, the power supplied to the diffusion resistance layer 25 for bending the bimetal is increased. The temperature of the bimetal needs to be raised higher. However, in the conventional semiconductor microvalve, the diffusion resistance layer 2
5, the temperature of the second bimetal element 24 is also increased by heating, so that the bimetal is more curved (to increase the displacement of the valve element 23), the diffusion resistance layer 25 and the second bimetal It is necessary to raise the temperature of both the element 24 and there is a problem that power consumption is increased.

【0006】本発明は上記事由に鑑みて為されたもので
あり、その目的は、低消費電力化が可能な半導体マイク
ロバルブを提供することにある。
[0006] The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a semiconductor microvalve capable of reducing power consumption.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、上記
目的を達成するために、厚み方向の一面から他面にわた
って弁口が形成された半導体基板と、半導体基板の上記
一面側に端部が取り付けられ可撓性を有する可撓部と、
可撓部に設けられ半導体基板の上記一面側において上記
弁口を開閉する弁体と、上記可撓部に設けられ互いに熱
膨張係数の異なる材料によりなる第1のバイメタル要素
と第2のバイメタル要素とが両バイメタル要素間を電気
的および熱的に絶縁する絶縁層を介して積層されたバイ
メタルと、第1のバイメタル要素と第2のバイメタル要
素とのいずれか一方のみに通電する通電手段とを備えて
なることを特徴とするものであり、第1のバイメタル要
素と第2のバイメタル要素とのいずれか一方のみに通電
することによって当該通電があった方のみの温度を上昇
させれば、第1のバイメタル要素と第2のバイメタル要
素との長さの差を従来のように両バイメタル要素が温度
上昇した場合に比べて大きくすることができるので、弁
体の変位量を従来に比べて大きくすることができ、しか
も第1のバイメタル要素と第2のバイメタル要素とのい
ずれか一方のみの温度を上昇させるための電力で済むか
ら、低消費電力化を図ることができる。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor substrate in which a valve port is formed from one surface in a thickness direction to another surface, and an end on the one surface side of the semiconductor substrate. A flexible portion to which a portion is attached and has flexibility;
A valve element provided on the flexible portion for opening and closing the valve port on the one surface side of the semiconductor substrate; a first bimetal element and a second bimetal element provided on the flexible portion and made of materials having different thermal expansion coefficients from each other A bimetal element laminated via an insulating layer that electrically and thermally insulates the two bimetal elements from each other, and energizing means for energizing only one of the first bimetal element and the second bimetal element. By energizing only one of the first bimetal element and the second bimetal element to increase the temperature of only the energized one, Since the difference in length between the first bimetal element and the second bimetal element can be made larger than in the conventional case where the temperature of both bimetal elements rises, the amount of displacement of the valve element can be reduced. Compared able to large and dealt with in a power for raising the temperature of either one of the first bimetallic element and a second bimetallic element, it is possible to reduce power consumption.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本実施形態の半導体マイクロバル
ブの基本構成は図3に示した従来構成と略同じであっ
て、図1に示すように、厚み方向の一面(図1における
上面)から他面(図1における下面)にわたって貫通し
た貫通孔よりなる弁口10aが形成されたシリコン基板
10と、中央部に弁口10aを開閉する弁体23が設け
られ且つ周部(端部)22cがシリコン基板10の上記
一面側にスペーサ30を介して結合され可撓性を有する
可撓部22とを備えている。ここにおいて、シリコン基
板10は、可撓部22の弁体23が接離する弁座13が
弁口10aの周縁から該シリコン基板10の厚み方向に
連続一体に突設されている。なお、可撓部22の要所に
は、流体の通る流通孔(図示せず)が形成されている。
この流通孔は、弁体23により弁口10aが開かれた状
態で弁口10aに連通する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The basic structure of a semiconductor microvalve according to this embodiment is substantially the same as the conventional structure shown in FIG. 3, and as shown in FIG. 1, from one surface in the thickness direction (the upper surface in FIG. 1). A silicon substrate 10 having a valve port 10a formed of a through-hole penetrating over the other surface (the lower surface in FIG. 1), and a valve element 23 for opening and closing the valve port 10a provided at a central portion and a peripheral portion (end portion) 22c. Is provided with a flexible portion 22 which is connected to the one surface side of the silicon substrate 10 via a spacer 30 and has flexibility. Here, in the silicon substrate 10, a valve seat 13 with which the valve body 23 of the flexible portion 22 comes in contact with or separates from the periphery of the valve port 10 a is continuously and integrally provided in the thickness direction of the silicon substrate 10. In addition, a flow hole (not shown) through which a fluid passes is formed at a key point of the flexible portion 22.
The communication hole communicates with the valve port 10a when the valve port 10a is opened by the valve element 23.

【0009】可撓部22は、中央部に弁体23が設けら
れたシリコンよりなる可動片22aを備えており、可動
片22aが第1のバイメタル要素を構成している。可動
片22aにおいて弁体23と周部22cとの間の所定部
位上には、絶縁層26を介して第2のバイメタル要素2
4が積層されている。第2のバイメタル要素24は、第
1のバイメタル要素と熱膨張係数の異なる材料により形
成されている。すなわち、可撓部22は、第1のバイメ
タル要素と第2のバイメタル要素24とでバイメタルを
構成しており、温度変化に対応して湾曲するようになっ
ている。
The flexible portion 22 has a movable piece 22a made of silicon and provided with a valve body 23 at the center, and the movable piece 22a constitutes a first bimetal element. On a predetermined portion between the valve element 23 and the peripheral portion 22c of the movable piece 22a, a second bimetal element 2 is provided via an insulating layer 26.
4 are stacked. The second bimetal element 24 is formed of a material having a different coefficient of thermal expansion from the first bimetal element. That is, the flexible portion 22 is formed of a bimetal by the first bimetal element and the second bimetal element 24, and bends in response to a temperature change.

【0010】ところで、本実施形態においては、第2の
バイメタル要素24へのみ通電するための通電手段たる
配線27bがバイメタル要素24へ接続されており、第
1のバイメタル要素と第2のバイメタル要素24との間
に介在する絶縁層26は、第1のバイメタル要素と第2
のバイメタル要素24とを電気的および熱的に絶縁する
ために設けられている。要するに、絶縁層26は、第2
のバイメタル要素24で発生した熱が第1のバイメタル
要素に伝導するのを防ぐ機能を有している。
In the present embodiment, a wiring 27b is connected to the bimetal element 24 as an energizing means for energizing only the second bimetal element 24, and the first bimetal element and the second bimetal element 24 are connected to each other. The insulating layer 26 interposed between the first bimetal element and the second
For electrical and thermal insulation from the bimetal element 24. In short, the insulating layer 26 is
Has a function of preventing heat generated in the bimetal element 24 from being conducted to the first bimetal element.

【0011】したがって、本実施形態の半導体マイクロ
バルブにおいて、弁体23により弁口10aを閉じる場
合には、第2のバイメタル要素24へ通電し第2のバイ
メタル要素24のみ発熱させることによって、バイメタ
ルを湾曲させる。
Therefore, in the semiconductor microvalve of the present embodiment, when the valve port 10a is closed by the valve element 23, the bimetal element 24 is energized to generate heat only in the second bimetal element 24, so that the bimetal is removed. Curve.

【0012】ここにおいて、本実施形態のバイメタルと
図3に示した従来構成におけるバイメタルの湾曲量の違
いについて図2に示す模式図を用いて説明する。いま、
バイメタルが図2(a)に示すように熱膨張係数の異な
る第1の金属板4A(第1のバイメタル要素に対応す
る)と第2の金属板4B(第2のバイメタル要素24に
対応する)とを貼り合わせて形成されているとする。こ
のようなバイメタルを湾曲させる場合、従来構成では、
バイメタル全体の温度が上昇するので、図2(b)に示
すように両金属板4A,4Bの長さが長くなり(両金属
板4A,4Bが熱膨張し)、2枚の金属板4A,4Bの
長さが異なってくることにより、図2(c)に示すよう
に短い方の金属板4Aを内側にして両金属板4A,4B
が円弧状に湾曲する。
Here, the difference in the amount of bending between the bimetal of the present embodiment and the conventional bimetal shown in FIG. 3 will be described with reference to the schematic diagram shown in FIG. Now
As shown in FIG. 2A, the bimetal has a first metal plate 4A (corresponding to the first bimetal element) and a second metal plate 4B (corresponding to the second bimetal element 24) having different coefficients of thermal expansion. And are formed by bonding together. When bending such a bimetal, in the conventional configuration,
Since the temperature of the entire bimetal rises, the lengths of both metal plates 4A and 4B become longer (both metal plates 4A and 4B thermally expand) as shown in FIG. Since the lengths of the two metal plates 4A and 4B are different from each other, as shown in FIG.
Are curved in an arc shape.

【0013】これに対し、本実施形態では、第2の金属
板4B(第2のバイメタル要素24に対応する)のみの
温度が上昇するので、図2(d)に示すように第2の金
属板4Bのみの長さが長くなり(第2の金属板4Bのみ
が熱膨張し)、2枚の金属板4A,4Bの長さが異なっ
てくることにより、図2(e)に示すように短い方の金
属板4Aを内側にして両金属板4A,4Bが円弧状に湾
曲する。
On the other hand, in the present embodiment, the temperature of only the second metal plate 4B (corresponding to the second bimetal element 24) rises, so that the second metal plate 4B as shown in FIG. As shown in FIG. 2E, only the length of the plate 4B increases (only the second metal plate 4B thermally expands) and the lengths of the two metal plates 4A and 4B differ. Both metal plates 4A and 4B are curved in an arc shape with the shorter metal plate 4A inside.

【0014】ところで、第2の金属板4Bについて着目
すると、従来構成と本実施形態とで第2の金属板4Bの
温度を同じ温度まで上昇させた場合、本実施形態の方が
第1の金属板4Aと第2の金属板4Bとの長さの差を大
きくすることができる(図2(b)および図2(d)参
照)。
By the way, focusing on the second metal plate 4B, when the temperature of the second metal plate 4B is raised to the same temperature in the conventional configuration and the present embodiment, the first embodiment is the first metal plate. The difference in length between the plate 4A and the second metal plate 4B can be increased (see FIGS. 2B and 2D).

【0015】しかして、本実施形態では、第1のバイメ
タル要素と第2のバイメタル要素24とのうちの第2の
バイメタル要素24のみに通電することによって第2の
バイメタル要素24のみの温度を上昇させることができ
るので、第1のバイメタル要素と第2のバイメタル要素
24との長さの差を従来のように両バイメタル要素が温
度上昇した場合に比べて大きくすることができるから、
弁体23の変位量を従来に比べて大きくすることがで
き、しかも第2のバイメタル要素24のみの温度を上昇
させるための電力で済むから、低消費電力化を図ること
ができる。
Thus, in the present embodiment, only the second bimetal element 24 of the first bimetal element and the second bimetal element 24 is energized to raise the temperature of only the second bimetal element 24. Since the length difference between the first bimetal element and the second bimetal element 24 can be increased as compared with the case where the temperature of both bimetal elements rises as in the related art,
The amount of displacement of the valve body 23 can be made larger than in the past, and moreover, only power for raising the temperature of the second bimetal element 24 is sufficient, so that low power consumption can be achieved.

【0016】なお、本実施形態では、第2のバイメタル
要素24にのみ通電するようになっているが、第1のバ
イメタル要素にのみ通電するような構成を採用してもよ
いことは勿論である。
In the present embodiment, only the second bimetal element 24 is energized. However, it is a matter of course that a configuration in which only the first bimetal element is energized may be adopted. .

【0017】[0017]

【発明の効果】請求項1の発明は、厚み方向の一面から
他面にわたって弁口が形成された半導体基板と、半導体
基板の上記一面側に端部が取り付けられ可撓性を有する
可撓部と、可撓部に設けられ半導体基板の上記一面側に
おいて上記弁口を開閉する弁体と、上記可撓部に設けら
れ互いに熱膨張係数の異なる材料によりなる第1のバイ
メタル要素と第2のバイメタル要素とが両バイメタル要
素間を電気的および熱的に絶縁する絶縁層を介して積層
されたバイメタルと、第1のバイメタル要素と第2のバ
イメタル要素とのいずれか一方のみに通電する通電手段
とを備えているので、第1のバイメタル要素と第2のバ
イメタル要素とのいずれか一方のみに通電することによ
って当該通電があった方のみの温度を上昇させれば、第
1のバイメタル要素と第2のバイメタル要素との長さの
差を従来のように両バイメタル要素が温度上昇した場合
に比べて大きくすることができるから、弁体の変位量を
従来に比べて大きくすることができ、しかも第1のバイ
メタル要素と第2のバイメタル要素とのいずれか一方の
みの温度を上昇させるための電力で済むから、低消費電
力化を図ることができるという効果がある。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor substrate having a valve opening formed from one surface to the other surface in a thickness direction, and a flexible portion having an end attached to the one surface of the semiconductor substrate and having flexibility. A valve body provided on the flexible portion for opening and closing the valve port on the one surface side of the semiconductor substrate; a first bimetallic element provided on the flexible portion and made of materials having different thermal expansion coefficients from each other; Energizing means for energizing only one of the first bimetal element and the second bimetal element, and a bimetal in which the bimetal element is laminated via an insulating layer electrically and thermally insulating between the two bimetal elements; Therefore, by energizing only one of the first bimetal element and the second bimetal element to raise the temperature of only the energized one, the first bimetal element The difference between the lengths of the two bimetal elements can be made larger than in the conventional case where the temperature of both bimetal elements rises, so that the displacement of the valve body can be made larger than in the conventional case. In addition, since power for raising the temperature of only one of the first bimetal element and the second bimetal element is sufficient, power consumption can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施形態を示す概略断面図である。FIG. 1 is a schematic sectional view showing an embodiment.

【図2】同上の要部の動作を説明するための模式図であ
る。
FIG. 2 is a schematic diagram for explaining an operation of a main part of the above.

【図3】従来例を示す概略断面図である。FIG. 3 is a schematic sectional view showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 シリコン基板 10a 弁口 13 弁座 22 可撓部 22a 可動片 23 弁体 24 第2のバイメタル要素 26 絶縁層 27b 配線 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Silicon substrate 10a Valve port 13 Valve seat 22 Flexible part 22a Movable piece 23 Valve element 24 Second bimetal element 26 Insulating layer 27b Wiring

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 仁 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 河田 裕志 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 藤井 圭子 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 Fターム(参考) 3H057 AA16 BB07 BB41 CC06 DD12 EE10 FA15 FA23 FB13 FC02 FD19 HH05  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Hitoshi Yoshida 1048 Kadoma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Works Co., Ltd. (72) Inventor Hiroshi Kawada 1048 Odaka Kadoma Kadoma City Osaka Prefecture Matsushita Electric Works Co., Ltd. ( 72) Inventor Keiko Fujii 1048 Kadoma, Kazuma, Osaka Prefecture F-term in Matsushita Electric Works, Ltd. 3H057 AA16 BB07 BB41 CC06 DD12 EE10 FA15 FA23 FB13 FC02 FD19 HH05

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 厚み方向の一面から他面にわたって弁口
が形成された半導体基板と、半導体基板の上記一面側に
端部が取り付けられ可撓性を有する可撓部と、可撓部に
設けられ半導体基板の上記一面側において上記弁口を開
閉する弁体と、上記可撓部に設けられ互いに熱膨張係数
の異なる材料によりなる第1のバイメタル要素と第2の
バイメタル要素とが両バイメタル要素間を電気的および
熱的に絶縁する絶縁層を介して積層されたバイメタル
と、第1のバイメタル要素と第2のバイメタル要素との
いずれか一方のみに通電する通電手段とを備えてなるこ
とを特徴とする半導体マイクロバルブ。
1. A semiconductor substrate in which a valve port is formed from one surface to another surface in a thickness direction, a flexible portion having an end attached to the one surface side of the semiconductor substrate and having flexibility, and provided on the flexible portion. A valve element for opening and closing the valve port on the one surface side of the semiconductor substrate; and a first bimetal element and a second bimetal element provided on the flexible portion and made of materials having different thermal expansion coefficients. A bimetal that is laminated via an insulating layer that electrically and thermally insulates the bimetal from each other, and energizing means that energizes only one of the first bimetal element and the second bimetal element. Characteristic semiconductor microvalve.
JP6920399A 1999-03-15 1999-03-15 Semiconductor microvalve Withdrawn JP2000266231A (en)

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JP6920399A Withdrawn JP2000266231A (en) 1999-03-15 1999-03-15 Semiconductor microvalve

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104455629A (en) * 2013-09-13 2015-03-25 浙江盾安人工环境股份有限公司 Micro valve

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