JP2000253427A - Method for inspecting deflection yoke - Google Patents

Method for inspecting deflection yoke

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JP2000253427A
JP2000253427A JP11047365A JP4736599A JP2000253427A JP 2000253427 A JP2000253427 A JP 2000253427A JP 11047365 A JP11047365 A JP 11047365A JP 4736599 A JP4736599 A JP 4736599A JP 2000253427 A JP2000253427 A JP 2000253427A
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JP
Japan
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deflection yoke
television set
characteristic test
phosphor screen
cathode
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JP11047365A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomoyasu Nakayabu
智康 中藪
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Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a deflection yoke inspection method capable of preventing the generation of surface burning in a television(TV) set in the case of repeating characteristics tests of plural deflection yokes by using an inspecting TV set. SOLUTION: After ending a characteristic test of a deflection yoke 7 attached to a TV set 1, degauss circuit 15 for the TV set 1 is driven. After drawing out a drive cable 9 in the TV set 1 from a drive circuit 11, the yoke 7 is detached from the TV set 1 and a succeeding deflection yoke 7' is attached to the TV set 1. Then the drive cable 9 for the TV set 1 is inserted into the drive circuit 11 and a characteristic test of the yoke 7' attached to the TV set 1 is executed in a state stopping the operation of the circuit 15.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、陰極線管の偏向ヨ
ークの検査方法に関し、特には検査用のテレビセットに
順次偏向ヨークを取り付け、各偏向ヨークの特性試験を
繰り返し行う偏向ヨークの検査方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of inspecting a deflection yoke of a cathode ray tube, and more particularly to a method of inspecting a deflection yoke by sequentially attaching a deflection yoke to an inspection television set and repeating a characteristic test of each deflection yoke. .

【0002】[0002]

【従来の技術】陰極線管に設けられる偏向ヨークを検査
する場合には、検査用のテレビセットを用いて各偏向ヨ
ークの特性試験を行っている。この場合先ず、偏向ヨー
クを検査用のテレビセットのネック部に取り付けた後、
このネック部後端の電子銃から延設された当該テレビセ
ットのドライブケーブルをドライブ回路に接続する。次
に、テレビセットの蛍光面に27kV程度のアノード電
圧を印加することで、電子銃のカソードから放出された
熱電子を電子ビームとして蛍光面に照射させ、この状態
で当該テレビセットに取り付けられた偏向ヨークの特性
試験を行う。次に、テレビセットの蛍光面へのアノード
電圧の印加を停止させた状態で、ドライブケーブルをド
ライブ回路から抜き取り、特性試験を行った偏向ヨーク
をテレビセットから取り外す。その後、次に特性試験を
行う偏向ヨークを当該テレビセットに取り付け、以下同
様にして次の偏向ヨークの特性試験を行う。
2. Description of the Related Art When inspecting a deflection yoke provided in a cathode ray tube, a characteristic test of each deflection yoke is performed using a television set for inspection. In this case, first, after attaching the deflection yoke to the neck of the TV set for inspection,
A drive cable of the television set extended from the electron gun at the rear end of the neck portion is connected to a drive circuit. Next, by applying an anode voltage of about 27 kV to the phosphor screen of the television set, the thermoelectrons emitted from the cathode of the electron gun were irradiated as electron beams to the phosphor screen, and the thermoset was attached to the television set in this state. A characteristic test of the deflection yoke is performed. Next, with the application of the anode voltage to the phosphor screen of the television set stopped, the drive cable is removed from the drive circuit, and the deflection yoke subjected to the characteristic test is removed from the television set. Thereafter, a deflection yoke for performing a characteristic test is attached to the television set, and a characteristic test for the next deflection yoke is performed in the same manner.

【0003】以上のように、テレビセットを用いて複数
の偏向ヨークの特性試験を繰り返し行う偏向ヨークの検
査方法では、偏向ヨークの取り替え作業中はテレビセッ
トのドライブケーブルがドライブ回路から抜き取られて
電子銃のカソード部分をヒータで加熱できなくなる。こ
のため、検査用のテレビセットは、カソードを加熱する
ためのヒータにコーン側から外部電源を接続させ、カソ
ードを常時加熱できる構成になっている。そして、検査
を行う際には、カソードを常時加熱して熱電子を放出さ
せておき、蛍光面にアノード電圧を印加することで、蛍
光面への電子ビームの照射が即時に行われるようにし
て、検査の効率化を図っている。
As described above, in the deflection yoke inspection method in which the characteristic test of a plurality of deflection yokes is repeatedly performed using the television set, the drive cable of the television set is disconnected from the drive circuit while the deflection yoke is being replaced, and the electronic circuit is removed. The cathode portion of the gun cannot be heated by the heater. For this reason, the television set for inspection has a configuration in which an external power supply is connected to the heater for heating the cathode from the cone side so that the cathode can be constantly heated. When performing the inspection, the cathode is constantly heated to emit thermoelectrons, and the anode voltage is applied to the phosphor screen so that the phosphor screen is immediately irradiated with the electron beam. , To improve the efficiency of inspection.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところがこのような偏
向ヨークの検査方法には、次のような課題があった。す
なわち、偏向ヨークの特性試験を行う際には、テレビセ
ットの蛍光面に27kV程度のアノード電圧が印加され
るが、特性試験の終了後に蛍光面へのアノード電圧の印
加を停止しても、蛍光面の電位は直ちに0kVにはなら
ない。しかも、カソードが常時加熱されているため、特
性試験の終了後であってもカソードからは熱電子が放出
され、この熱電子はアノード電位が保たれた蛍光面に電
子ビームとして照射されることになる。またこの際、テ
レビセットのドライブケーブルは、偏向ヨークを取り替
えるためにドライブ回路から抜き取られるため、蛍光面
において電子ビームを偏向させることはできない。した
がって、電子ビームは、蛍光面上に静止状態で照射され
ることになり、蛍光面には面焼けが生じることになる。
However, such a method of inspecting a deflection yoke has the following problems. That is, when performing the characteristic test of the deflection yoke, an anode voltage of about 27 kV is applied to the phosphor screen of the television set. The surface potential does not immediately become 0 kV. Moreover, since the cathode is constantly heated, thermoelectrons are emitted from the cathode even after the end of the characteristic test, and the thermoelectrons are emitted as an electron beam to the phosphor screen where the anode potential is maintained. Become. At this time, since the drive cable of the television set is pulled out of the drive circuit to replace the deflection yoke, the electron beam cannot be deflected on the phosphor screen. Therefore, the electron beam is irradiated on the phosphor screen in a stationary state, and the phosphor screen is burnt.

【0005】そこで本発明は、検査用のテレビセットを
用いて複数の偏向ヨークの特性試験を繰り返し行った場
合に、テレビセットの面焼けを防止できる偏向ヨークの
検査方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a deflection yoke inspection method capable of preventing surface burn of a television set when a characteristic test of a plurality of deflection yokes is repeatedly performed using an inspection television set. I do.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るための本発明の請求項1記載の偏向ヨークの検査方法
は、以下のように行うことを特徴としている。先ず、テ
レビセットに取り付けた偏向ヨークの特性試験が終了し
た後、当該テレビセットのディガウス回路を作動させ
る。次に、前記テレビセットのドライブケーブルをドラ
イブ回路から抜き取った状態で、前記偏向ヨークを当該
テレビセットから取り外し、次の偏向ヨークを当該テレ
ビセットに取り付ける。その後、前記テレビセットのド
ライブケーブルをドライブ回路に差し込み、かつ前記デ
ィガウス回路の作動を停止させた状態で、当該テレビセ
ットに取り付けられた偏向ヨークの特性試験を行う。
A method of inspecting a deflection yoke according to a first aspect of the present invention for achieving the above object is characterized in that the method is performed as follows. First, after the characteristic test of the deflection yoke attached to the television set is completed, the Digauss circuit of the television set is operated. Next, with the drive cable of the television set disconnected from the drive circuit, the deflection yoke is removed from the television set, and the next deflection yoke is attached to the television set. Thereafter, a characteristic test of the deflection yoke attached to the television set is performed with the drive cable of the television set plugged into a drive circuit and the operation of the Digauss circuit stopped.

【0007】このような偏向ヨークの検査方法では、偏
向ヨークの特性試験が終了した後には、ディガウス回路
を作動させた状態で、テレビセットのドライブケーブル
がドライブ回路から抜き取られる。このため、ドライブ
回路の作動が停止された状態で、テレビセットの電子銃
から蛍光面に電子ビームが照射された場合であっても、
この電子ビームはディガウス回路の作動によって蛍光面
で走査されることになる。したがって、蛍光面上で電子
ビームが静止することはない。
In such a deflection yoke inspection method, after the deflection yoke characteristic test is completed, the drive cable of the television set is removed from the drive circuit while the digauss circuit is operated. Therefore, even if the phosphor screen is irradiated with an electron beam from the electron gun of the television set while the operation of the drive circuit is stopped,
This electron beam is scanned on the phosphor screen by the operation of the Digauss circuit. Therefore, the electron beam does not stop on the phosphor screen.

【0008】また、請求項2記載の偏向ヨークの検査方
法は、以下のように行うことを特徴としている。先ず、
テレビセットに取り付けた偏向ヨークの特性試験が終了
した後、当該テレビセットの蛍光面へのアノード電圧の
印加を停止させると共に、当該テレビセットのカソード
の加熱を停止する。次に、前記偏向ヨークを前記テレビ
セットから取り外し、次の偏向ヨークを当該テレビセッ
トに取り付ける。また、前記蛍光面のアノード電位が低
下した後、前記カソードを再加熱する。そして、前記カ
ソードが再加熱された後、前記テレビセットの蛍光面に
アノード電圧を印加した状態で当該テレビセットに取り
付けられた偏向ヨークの特性試験を行う。
A method for inspecting a deflection yoke according to a second aspect is characterized in that the method is performed as follows. First,
After the characteristic test of the deflection yoke attached to the television set is completed, the application of the anode voltage to the phosphor screen of the television set is stopped, and the heating of the cathode of the television set is stopped. Next, the deflection yoke is removed from the television set, and the next deflection yoke is attached to the television set. After the anode potential of the phosphor screen decreases, the cathode is reheated. Then, after the cathode is reheated, a characteristic test of a deflection yoke attached to the television set is performed while an anode voltage is applied to the phosphor screen of the television set.

【0009】このような偏向ヨークの検査方法では、偏
向ヨークの特性試験の終了後、蛍光面へのアノード電圧
の印加を停止させてから蛍光面のアノード電位が低下す
るまでの間は、カソードの加熱が停止されて熱電子の放
出が中断する。また、再加熱によってカソードから熱電
子が放出されるようになっても、蛍光面のアノード電位
が低下した状態になっているので、放出された熱電子が
電子ビームとして蛍光面に照射されることはない。しか
も、蛍光面のアノード電位が低下した後には、カソード
が再加熱されて熱電子が放出された状態になっているた
め、その後次の偏向ヨークの特性試験を行う際には、蛍
光面にアノード電圧を印加することで、熱電子は即時に
電子ビームとして蛍光面に照射されることになる。
In such a method of inspecting the deflection yoke, after the end of the characteristic test of the deflection yoke, the application of the anode voltage to the phosphor screen is stopped until the anode potential of the phosphor screen is reduced. The heating is stopped and emission of thermoelectrons is interrupted. In addition, even if thermal electrons are emitted from the cathode by reheating, the emitted thermal electrons are irradiated to the fluorescent screen as an electron beam because the anode potential of the fluorescent screen is in a reduced state. There is no. In addition, since the cathode is reheated and thermionic electrons are emitted after the anode potential of the phosphor screen is reduced, the anode is connected to the phosphor screen when performing the next characteristic test of the deflection yoke. By applying a voltage, the thermoelectrons are immediately irradiated on the phosphor screen as an electron beam.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した偏向ヨー
クの検査方法の実施形態を、図面に基づいて詳細に説明
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a deflection yoke inspection method to which the present invention is applied will be described below in detail with reference to the drawings.

【0011】(第1実施形態)図1は、請求項1記載の
発明を適用した第1実施形態の偏向ヨークの検査方法を
説明するための概略構成図である。先ず、図1(1)に
示すように、検査用のテレビセット1を用意する。この
テレビセット1は、ネック部3後端に設けられた電子銃
(図示省略)のカソードを加熱するヒータに、コーン5
側から外部電源(図示省略)を接続させた構成になって
おり、この外部電源によってカソードを常時加熱した状
態にしておく。
(First Embodiment) FIG. 1 is a schematic configuration diagram for explaining a deflection yoke inspection method according to a first embodiment of the present invention. First, as shown in FIG. 1A, a television set 1 for inspection is prepared. The television set 1 includes a heater for heating a cathode of an electron gun (not shown) provided at a rear end of a neck 3 and a cone 5.
An external power supply (not shown) is connected from the side, and the cathode is always heated by the external power supply.

【0012】次に、このテレビセット1のネック部3に
偏向ヨーク7を取り付ける。この際、テレビセット1の
ネック部3後端から延設されたドライブケーブル9をド
ライブ回路11から抜き取った状態で、ネック部3に偏
向ヨーク7を取り付けた後、ドライブケーブル9をドラ
イブ回路11に差し込んで接続させる。
Next, a deflection yoke 7 is attached to the neck 3 of the television set 1. At this time, with the drive cable 9 extended from the rear end of the neck portion 3 of the television set 1 pulled out from the drive circuit 11, the deflection yoke 7 is attached to the neck portion 3, and then the drive cable 9 is connected to the drive circuit 11. Insert and connect.

【0013】次に、コーン5の外周に設けられたディガ
ウスコイル13に接続するディガウス回路15の作動を
停止させた状態で、テレビセット1の蛍光面17に対し
て、フライバックトランス(以下、FBTと記す)19
から27kV程度のアノード電圧を印加する。これによ
って、加熱状態にあるカソードから放出された熱電子を
電子ビームとして蛍光面17に照射させる。
Next, with the operation of the Digauss circuit 15 connected to the Digauss coil 13 provided on the outer periphery of the cone 5 stopped, the flyback transformer (hereinafter, referred to as “thereby”) is applied to the fluorescent screen 17 of the television set 1. FBT) 19
From about 27 kV. As a result, the thermoelectrons emitted from the cathode in the heated state are irradiated on the phosphor screen 17 as an electron beam.

【0014】このような状態でドライブ回路11を作動
させることによって、電子銃から蛍光面17に照射され
た電子ビームを所定状態で走査させ、テレビセット1に
取り付けられた偏向ヨーク7の特性試験を行う。
By operating the drive circuit 11 in such a state, the electron beam emitted from the electron gun to the fluorescent screen 17 is scanned in a predetermined state, and the characteristic test of the deflection yoke 7 attached to the television set 1 is performed. Do.

【0015】以上のようにして偏向ヨーク7の特性試験
を行った後、図1(2)に示すように、ディガウスコイ
ル13に接続されたディガウス回路15を作動させると
共に、FBT19から蛍光面17へのアノード電圧の印
加を停止させる。
After the characteristic test of the deflection yoke 7 is performed as described above, as shown in FIG. 1 (2), the digauss circuit 15 connected to the digauss coil 13 is operated, and the FBT 19 and the fluorescent screen 17 are connected. The application of the anode voltage to is stopped.

【0016】このような状態で、テレビセット1のドラ
イブケーブル9をドライブ回路11から抜き取り、特性
試験を行った偏向ヨーク7をテレビセット1のネック部
3から取り外す。
In such a state, the drive cable 9 of the television set 1 is removed from the drive circuit 11, and the deflection yoke 7 on which the characteristic test has been performed is removed from the neck 3 of the television set 1.

【0017】その後、次に特性試験を行う偏向ヨーク
7’にドライブケーブル9を挿入し、偏向ヨーク7’を
ネック部3に取り付ける。そして、図1(1)に示した
ように、ドライブ回路11にドライブケーブル9を接続
して、偏向ヨーク7’をテレビセット1に取り付ける。
Thereafter, the drive cable 9 is inserted into the deflection yoke 7 ′ for performing a characteristic test, and the deflection yoke 7 ′ is attached to the neck 3. Then, as shown in FIG. 1A, the drive cable 9 is connected to the drive circuit 11, and the deflection yoke 7 'is attached to the television set 1.

【0018】次に、ディガウス回路15の作動を停止さ
せると共に、FBT19から蛍光面17にアノード電圧
を印加する。これによって、常時加熱された状態のカソ
ードから放出された熱電子を電子ビームとして蛍光面1
7に照射させる。
Next, the operation of the Digauss circuit 15 is stopped, and an anode voltage is applied from the FBT 19 to the fluorescent screen 17. As a result, the thermoelectrons emitted from the constantly heated cathode are converted into electron beams as the fluorescent screen 1.
7 is irradiated.

【0019】その後、上述したと同様にして、テレビセ
ット1に取り付けられた偏向ヨーク7’の特性試験を行
い、以下同様の工程を繰り返す。これによって、検査用
のテレビセットを用いて複数の偏向ヨーク7,7’の特
性試験を繰り返す、偏向ヨークの検査を行う。
Thereafter, in the same manner as described above, a characteristic test of the deflection yoke 7 'attached to the television set 1 is performed, and the same steps are repeated thereafter. Thus, the deflection yoke is inspected by repeating the characteristic test of the plurality of deflection yokes 7, 7 'using the inspection television set.

【0020】このような偏向ヨークの検査方法では、偏
向ヨーク7の特性試験が終了した後には、ディガウス回
路15を作動させた状態で、ドライブケーブル9がドラ
イブ回路11から抜き取られる。このため、特性試験が
終了した後には、ドライブ回路11による電子ビームの
走査が不可能になっても、ディガウス回路15の作動に
よって蛍光面17上で電子ビームが走査されることにな
る。したがって、特性試験が終了した後に、常時加熱状
態にあるカソードから放出された熱電子が、電子ビーム
として蛍光面17に照射されても、この電子ビームはデ
ィガウス回路15の作動によって蛍光面17で走査され
ることになる。この結果、蛍光面17上で電子ビームが
静止することはなく、蛍光面17の面焼けを防止するこ
とができる。そして、検査用のテレビセットの交換ロス
を防止できると共に、低コストでの実施が可能である。
In such a deflection yoke inspection method, after the characteristic test of the deflection yoke 7 is completed, the drive cable 9 is pulled out of the drive circuit 11 while the digauss circuit 15 is operated. For this reason, after the characteristic test is completed, even if the scanning of the electron beam by the drive circuit 11 becomes impossible, the electron beam is scanned on the fluorescent screen 17 by the operation of the digaussian circuit 15. Therefore, even after the characteristic test is completed, even if the thermoelectrons emitted from the cathode which is always in a heated state are irradiated on the phosphor screen 17 as an electron beam, the electron beam is scanned on the phosphor screen 17 by the operation of the Digauss circuit 15. Will be done. As a result, the electron beam does not stop on the phosphor screen 17 and the burning of the phosphor screen 17 can be prevented. In addition, it is possible to prevent exchange loss of the television set for inspection, and to implement the television set at low cost.

【0021】(第2実施形態)図2は、請求項2記載の
発明を適用した第2実施形態の偏向ヨークの検査方法を
説明するための概略構成図である。尚、第1実施形態で
説明したと同様の構成要素には同一の符号を付して説明
を行うこととする。
(Second Embodiment) FIG. 2 is a schematic structural view for explaining a deflection yoke inspection method according to a second embodiment of the present invention. Note that the same components as those described in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and will be described.

【0022】先ず、図2(1)に示すように、検査用の
テレビセット1を用意する。このテレビセット1は、ネ
ック部3後端に設けられた電子銃(図示省略)のカソー
ドを加熱するヒータにコーン5側から外部電源21を接
続させた構成になっている。この外部電源21には、ス
イッチ23が設けられ、タイマー動作による外部電源2
1のON/OFFによって、カソードが加熱されるよう
になっており、ここでは、外部電源21をONにしてカ
ソードを加熱しておく。
First, as shown in FIG. 2A, a television set 1 for inspection is prepared. The television set 1 has a configuration in which an external power supply 21 is connected from the cone 5 side to a heater for heating a cathode of an electron gun (not shown) provided at the rear end of the neck portion 3. The external power source 21 is provided with a switch 23, and the external power source 2 is operated by a timer.
The cathode is heated by ON / OFF of 1. In this case, the cathode is heated by turning on the external power supply 21.

【0023】次に、このテレビセット1のネック部3に
偏向ヨーク7を取り付ける。偏向ヨーク7の取り付け
は、第1実施形態で説明したと同様に行う。
Next, a deflection yoke 7 is attached to the neck 3 of the television set 1. The deflection yoke 7 is attached in the same manner as described in the first embodiment.

【0024】その後、テレビセット1の蛍光面17に対
して、ここでは図示を省略したFBTから27kV程度
のアノード電圧を印加する。これによって、加熱状態に
あるカソードから放出された熱電子を電子ビームとして
蛍光面17に照射させる。
Thereafter, an anode voltage of about 27 kV is applied to the fluorescent screen 17 of the television set 1 from an FBT (not shown). As a result, the thermoelectrons emitted from the cathode in the heated state are irradiated on the phosphor screen 17 as an electron beam.

【0025】このような状態でドライブ回路(図示省
略)を作動させることによって、蛍光面17上において
電子ビームを所定状態で走査させ、テレビセット1に取
り付けられた偏向ヨーク7の特性試験を行う。
By operating a drive circuit (not shown) in such a state, the electron beam is scanned on the fluorescent screen 17 in a predetermined state, and a characteristic test of the deflection yoke 7 attached to the television set 1 is performed.

【0026】以上のようにして偏向ヨーク7の特性試験
を行った後、図2(2)に示すように、FBTから蛍光
面17へのアノード電圧の印加を停止させると共に、ス
イッチ23によって外部電源21をOFFにして、テレ
ビセット1のカソードの加熱を停止する。
After the characteristic test of the deflection yoke 7 is performed as described above, as shown in FIG. 2B, the application of the anode voltage from the FBT to the phosphor screen 17 is stopped, 21 is turned off to stop heating the cathode of the television set 1.

【0027】このような状態で、特性試験を行った偏向
ヨーク7をテレビセット1のネック部3から取り外す。
偏向ヨーク7の取り外しは、第1実施形態で説明したと
同様に行う。
In such a state, the deflection yoke 7 subjected to the characteristic test is removed from the neck 3 of the television set 1.
Removal of the deflection yoke 7 is performed in the same manner as described in the first embodiment.

【0028】その後、次に特性試験を行う偏向ヨーク
7’を、ドライブケーブル9からネック部3に挿入す
る。そして、図2(1)に示したように、テレビセット
1に偏向ヨーク7’を取り付ける。
After that, the deflection yoke 7 ′ for performing the characteristic test is inserted into the neck 3 from the drive cable 9. Then, as shown in FIG. 2A, the deflection yoke 7 'is attached to the television set 1.

【0029】また、FBTから蛍光面17へのアノード
電圧の印加を停止させてから所定時間経過した後に、外
部電源21をONにし、テレビセット1のカソードを再
加熱する。ここで、外部電源21を再びONにしてカソ
ードを再加熱するタイミングは、カソードから放出され
る熱電子が電子ビームとして蛍光面17に照射されるこ
とのない程度に蛍光面17のアノード電位が十分に低下
する時間が経過した時点であることとする。蛍光面17
へのアノード電圧の印加を停止させてからカソードを再
加熱する時間は、データ採取によって予め求めておくこ
ととする。
After a predetermined time has elapsed since the application of the anode voltage from the FBT to the phosphor screen 17 is stopped, the external power supply 21 is turned on and the cathode of the television set 1 is reheated. Here, when the external power supply 21 is turned on again and the cathode is reheated, the anode potential of the phosphor screen 17 is sufficient such that thermoelectrons emitted from the cathode are not irradiated to the phosphor screen 17 as an electron beam. At the time when the time has elapsed. Phosphor screen 17
The time for reheating the cathode after stopping application of the anode voltage to the cathode is determined in advance by data collection.

【0030】次に、カソードが再加熱された後、FBT
から蛍光面17にアノード電圧を印加する。これによっ
て、加熱された状態のカソードから放出された熱電子を
電子ビームとして蛍光面17に照射させる。その後、上
述したと同様にして、テレビセット1に取り付けられた
偏向ヨーク7’の特性試験を行い、以下同様の工程を繰
り返す。これによって、検査用のテレビセット1を用い
て複数の偏向ヨーク7,7’の特性試験を繰り返す、偏
向ヨークの検査を行う。
Next, after the cathode is reheated, the FBT
, An anode voltage is applied to the fluorescent screen 17. As a result, the thermoelectrons emitted from the heated cathode are irradiated on the phosphor screen 17 as electron beams. Thereafter, a characteristic test of the deflection yoke 7 'attached to the television set 1 is performed in the same manner as described above, and the same steps are repeated thereafter. Thus, the deflection yoke is inspected by repeating the characteristic test of the plurality of deflection yokes 7, 7 'using the inspection television set 1.

【0031】このような偏向ヨークの検査方法では、偏
向ヨーク7の特性試験の終了後、蛍光面17へのアノー
ド電圧の印加を停止させてから蛍光面17のアノード電
位が低下するまでの間は、カソードの加熱が停止されて
熱電子の放出が中断される。また、再加熱によってカソ
ードから熱電子が放出されるようになっても、蛍光面1
7のアノード電位が低下した状態になっているので、次
の偏向ヨーク7’の特性試験のために蛍光面17にアノ
ード電圧を印加するまでは、放出された熱電子が電子ビ
ームとして蛍光面17に照射されることはない。このた
め、特性試験を繰り返す間に、ドライブケーブルがドラ
イブ回路から抜き取られてドライブ回路による電子ビー
ムの走査が不可能になっても、この間には蛍光面17に
電子ビームが照射されることはない。この結果、蛍光面
17の面焼けを防止することができる。しかも、蛍光面
のアノード電位が低下した後には、カソードが再加熱さ
れて熱電子が放出された状態になっているため、その後
次の偏向ヨーク7’の特性試験を行う際には、蛍光面1
7にアノード電圧を印加することで、熱電子は即時に電
子ビームとして蛍光面17に照射されることになる。し
たがって、検査効率が低下することもない。また、検査
用のテレビセットの交換ロスを防止できると共に、低コ
ストでの実施が可能である。
In such a deflection yoke inspection method, after the end of the characteristic test of the deflection yoke 7, the period from when the application of the anode voltage to the phosphor screen 17 is stopped to the time when the anode potential of the phosphor screen 17 decreases is reduced. Then, the heating of the cathode is stopped, and the emission of thermionic electrons is stopped. Further, even if thermoelectrons are emitted from the cathode by reheating, the phosphor screen 1
7 is in a state in which the anode potential is lowered, the emitted thermoelectrons are converted into an electron beam to the fluorescent screen 17 until an anode voltage is applied to the fluorescent screen 17 for the next characteristic test of the deflection yoke 7 '. Is not irradiated. For this reason, even if the drive cable is pulled out of the drive circuit during the repetition of the characteristic test and scanning of the electron beam by the drive circuit becomes impossible, the electron beam is not irradiated on the phosphor screen 17 during this time. . As a result, surface burning of the fluorescent screen 17 can be prevented. Moreover, after the anode potential of the phosphor screen is lowered, the cathode is reheated and thermions are emitted, so that when the next characteristic test of the deflection yoke 7 'is performed, the phosphor screen is 1
By applying the anode voltage to 7, the thermoelectrons are immediately irradiated on the phosphor screen 17 as an electron beam. Therefore, the inspection efficiency does not decrease. Further, it is possible to prevent the exchange loss of the television set for inspection, and to implement the system at low cost.

【0032】尚、以上で説明した第1実施形態と第2実
施形態とは、組み合わせて実施することも可能であり、
組み合わせた場合には第1実施形態及び第2実施形態と
同様の効果を得ることができる。
The first embodiment and the second embodiment described above can be implemented in combination.
When combined, the same effects as in the first embodiment and the second embodiment can be obtained.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項1記
載の偏向ヨークの検査方法によれば、偏向ヨークの特性
試験終了後に、ディガウス回路を作動させた状態でテレ
ビセットのドライブケーブルをドライブ回路から抜き取
って偏向ヨークを取り替える構成にしたことで、偏向ヨ
ークを取り替える際にも蛍光面で電子ビームを走査させ
ることが可能になる。この結果、偏向ヨークの特性検査
を繰り返し行う際に蛍光面上で電子ビームが静止するこ
とはなく、蛍光面の面焼けを防止することができる。
As described above, according to the deflection yoke inspection method according to the first aspect of the present invention, after the deflection yoke characteristic test is completed, the drive cable of the television set is driven with the Degauss circuit operated. With the configuration in which the deflection yoke is replaced by being extracted from the circuit, the electron beam can be scanned on the phosphor screen even when the deflection yoke is replaced. As a result, when the characteristic inspection of the deflection yoke is repeatedly performed, the electron beam does not stop on the phosphor screen, and the burn-in of the phosphor screen can be prevented.

【0034】また、請求項2記載の偏向ヨークの検査方
法によれば、偏向ヨークの特性試験終了後、蛍光面への
アノード電圧の印加を停止させてから蛍光面のアノード
電位が低下するまでの間、カソードの加熱を停止させる
構成にしたことで、次の偏向ヨークの特性試験のために
蛍光面にアノード電圧を印加するまで、蛍光面に電子ビ
ームが照射されることを防止できる。したがって、特性
試験と特性試験との間に、蛍光面の面焼けが生じること
を防止できる。しかも、蛍光面のアノード電位が低下し
た後にカソードを再加熱する構成にしたことで、次の偏
向ヨークの特性試験を行う際には即時に電子ビームが蛍
光面に照射されるため、検査効率を維持することが可能
になる。
According to the deflection yoke inspection method of the present invention, after the end of the characteristic test of the deflection yoke, the application of the anode voltage to the phosphor screen is stopped until the anode potential of the phosphor screen decreases. During this time, the configuration in which the heating of the cathode is stopped can prevent the phosphor screen from being irradiated with the electron beam until the anode voltage is applied to the phosphor screen for the next characteristic test of the deflection yoke. Therefore, it is possible to prevent the surface of the fluorescent screen from being burnt between the characteristic tests. In addition, since the cathode is reheated after the anode potential of the phosphor screen has dropped, the electron beam is immediately irradiated to the phosphor screen when the next deflection yoke characteristic test is performed. Can be maintained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】請求項1を適用した第1実施形態の偏向ヨーク
の検査方法を説明する図である。
FIG. 1 is a diagram for explaining a deflection yoke inspection method according to a first embodiment to which claim 1 is applied;

【図2】請求項2を適用した第2実施形態の偏向ヨーク
の検査方法を説明する図である。
FIG. 2 is a view for explaining a deflection yoke inspection method according to a second embodiment to which claim 2 is applied;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…テレビセット、7,7’…偏向ヨーク、9…ドライ
ブケーブル、11…ドライブ回路、15…ディガウス回
路、17…蛍光面
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Television set, 7, 7 '... Deflection yoke, 9 ... Drive cable, 11 ... Drive circuit, 15 ... Digauss circuit, 17 ... Phosphor screen

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 テレビセットに取り付けた偏向ヨークの
特性試験が終了した後、当該テレビセットのディガウス
回路を作動させる工程と、 前記テレビセットのドライブケーブルをドライブ回路か
ら抜き取った状態で、前記偏向ヨークを当該テレビセッ
トから取り外し、次の偏向ヨークを当該テレビセットに
取り付ける工程と、 前記テレビセットのドライブケーブルをドライブ回路に
差し込み、かつ前記ディガウス回路の作動を停止させた
状態で、当該テレビセットに取り付けられた偏向ヨーク
の特性試験を行う工程とを有することを特徴とする偏向
ヨークの検査方法。
A step of activating a degauss circuit of the television set after a characteristic test of the deflection yoke attached to the television set is completed; and a step of disconnecting a drive cable of the television set from the drive circuit. Is removed from the television set, and the next deflection yoke is attached to the television set.The drive cable of the television set is inserted into a drive circuit, and the operation of the Digauss circuit is stopped, and the television set is attached to the television set. Performing a characteristic test of the deflection yoke provided.
【請求項2】 テレビセットに取り付けた偏向ヨークの
特性試験が終了した後、当該テレビセットの蛍光面への
アノード電圧の印加を停止させると共に、当該テレビセ
ットのカソードの加熱を停止する工程と、 前記偏向ヨークを当該テレビセットから取り外し、次の
偏向ヨークを当該テレビセットに取り付ける工程と、 前記蛍光面のアノード電位が低下した後、前記カソード
を再加熱する工程と、 前記カソードが再加熱された後、前記テレビセットの蛍
光面にアノード電圧を印加した状態で当該テレビセット
に取り付けられた偏向ヨークの特性試験を行う工程とを
有することを特徴とする偏向ヨークの検査方法。
2. After the characteristic test of the deflection yoke attached to the television set is completed, stopping the application of the anode voltage to the phosphor screen of the television set and stopping the heating of the cathode of the television set. Removing the deflection yoke from the television set and attaching the next deflection yoke to the television set; reheating the cathode after the anode potential of the phosphor screen has decreased; and reheating the cathode. Performing a characteristic test of a deflection yoke attached to the television set while applying an anode voltage to the phosphor screen of the television set.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100439498B1 (en) * 2001-12-26 2004-07-09 삼성전기주식회사 Presser for measuring deflection coil in deflection yoke

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