JP2000249525A - Inclined incidence interferometer device - Google Patents

Inclined incidence interferometer device

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JP2000249525A
JP2000249525A JP11049545A JP4954599A JP2000249525A JP 2000249525 A JP2000249525 A JP 2000249525A JP 11049545 A JP11049545 A JP 11049545A JP 4954599 A JP4954599 A JP 4954599A JP 2000249525 A JP2000249525 A JP 2000249525A
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JP
Japan
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light
interference fringe
interference
oblique incidence
fringe observation
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP11049545A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Fumio Kobayashi
富美男 小林
Noboru Koizumi
昇 小泉
Chihiro Furuhata
千尋 古畑
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Fujinon Corp
Original Assignee
Fuji Photo Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To observe interference fringes with different sensitivity by using a plurality of sets of diffraction grating providing a specific selection means of light flux for interference fringe observation with different grating constants in the case of a return mirror reversing light flux for observing interference fringes. SOLUTION: A first and a second diffraction gratings 12 and 14 are constituted of two sets of gratings 12A, 12B, 14A and 14B with different grating constants to obtain light fluxes A and B for interference fringe observation with different measurement sensitivity. In front of a return mirror 26 for reversing the light fluxes A and B for interference fringe observation provided on a focusing optical system 20 for forming interference fringes on an interference fringe observation screen 18, a selection means 30 of light flux for interference fringe observation is provided. One of the light fluxes A and B for interference fringe observation is introduced in the return mirror 26 and on an interference fringe observation screen 18, only the interference fringes by selected one light flux for interference fringe observation is formed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、干渉縞観察用光線
束を逆進させる折り返しミラーを備えた斜入射干渉計装
置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a grazing incidence interferometer having a folding mirror for reversing a light beam for observing interference fringes.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、可干渉光を被検面に対して斜
めに入射し測定感度を低下させることにより、ある程度
凹凸の大きい被検面の表面形状を測定可能とした斜入射
干渉計装置が知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an oblique incidence interferometer device capable of measuring the surface shape of a test surface having a certain degree of unevenness by lowering measurement sensitivity by obliquely incident coherent light on the test surface. It has been known.

【0003】この斜入射干渉計装置の代表的な構成とし
ては、図8に示すようなものが知られている。
FIG. 8 shows a typical configuration of the oblique incidence interferometer.

【0004】この斜入射干渉計装置は、可干渉光を波面
分割手段102に入射させて2方向に波面分割し、一方
の光線束を被検面2aに対して斜めに入射させてその反
射光を物体光とするとともに他方の光線束を参照光と
し、これら物体光および参照光を波面合成手段104に
入射させて波面合成し、この波面合成手段104から同
一方向に射出される物体光と参照光との光干渉により生
じる干渉縞を、結像レンズ106を介してテレビカメラ
108で撮像し、その干渉縞画像に基づいて被検面2a
の形状を測定するようになっている。
In this oblique incidence interferometer, the coherent light is made incident on a wavefront splitting means 102 to split the wavefront in two directions. Is the object light, and the other light beam is the reference light. The object light and the reference light are made incident on the wavefront synthesizing means 104 to be wavefront-synthesized, and the object light and the reference light emitted from the wavefront synthesizing means 104 in the same direction. An interference fringe generated by optical interference with light is imaged by the television camera 108 via the imaging lens 106, and the surface 2a to be inspected is determined based on the interference fringe image.
Is to be measured.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の斜入射干渉計装置においては、被検面2aの各位置
から結像レンズ106までの光路長が異なるので、テレ
ビカメラ108に撮像された干渉縞画像に台形歪みが生
じてしまい、被検面2aの形状測定を正確に行うことが
できないという問題がある。
However, in the above-described conventional oblique incidence interferometer apparatus, since the optical path length from each position of the surface 2a to be inspected to the imaging lens 106 is different, the interference image picked up by the television camera 108 is taken. There is a problem that trapezoidal distortion occurs in the stripe image, and the shape measurement of the test surface 2a cannot be accurately performed.

【0006】これに対し、図9に示すように、被検面2
aと共役の位置に干渉縞観察スクリーン110を配置
し、この干渉縞観察スクリーン110に形成される干渉
縞画像をテレビカメラ108で撮像するようにすれば、
干渉縞画像に台形歪みが生じてしまうのを防止すること
できる。同図においては、結像レンズ106がその第1
焦点を被検面2aに位置させるようにして配置されると
ともに、この結像レンズ106とアフォーカルにコリメ
ータレンズ112が配置され、その第2焦点位置に干渉
縞観察スクリーン110が配置されている。
On the other hand, as shown in FIG.
If the interference fringe observation screen 110 is arranged at a position conjugate with a, and the interference fringe image formed on the interference fringe observation screen 110 is captured by the television camera 108,
It is possible to prevent trapezoidal distortion from occurring in the interference fringe image. In the figure, the imaging lens 106 is
The focal point is arranged so as to be located on the surface 2a to be inspected, a collimator lens 112 is arranged afocally with the imaging lens 106, and an interference fringe observation screen 110 is arranged at the second focal position.

【0007】このような構成を採用した場合において、
図10に示すように、結像レンズ106の第2焦点位置
に折り返しミラー114を設けて干渉縞観察用光線束を
逆進させるとともに、結像レンズ106と波面合成手段
104との間にハーフミラー116を設けてその偏向反
射光路内に干渉縞観察スクリーン110を配置するよう
にすれば、干渉計装置の全長が長くなってしまうのを防
止することができる。
When such a configuration is adopted,
As shown in FIG. 10, a folding mirror 114 is provided at the second focal position of the imaging lens 106 to reverse the light beam for interference fringe observation, and a half mirror is provided between the imaging lens 106 and the wavefront synthesizing means 104. If the interference fringe observation screen 110 is provided in the deflected reflection optical path and the interference fringe observation screen 110 is provided, it is possible to prevent the total length of the interferometer device from becoming long.

【0008】ところで、このように干渉縞観察スクリー
ン110に形成される干渉縞画像をテレビカメラ108
で撮像する場合において、異なる感度で干渉縞の観察を
行うことができれば、被検面2aの表面形状をより正確
に測定することが可能となる。
By the way, the interference fringe image formed on the interference fringe observation screen 110 is transmitted to the television camera 108.
If the interference fringes can be observed with different sensitivities in the case of imaging with, the surface shape of the test surface 2a can be measured more accurately.

【0009】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、干渉縞観察用光線束を逆進させる折り
返しミラーを備えた斜入射干渉計装置において、異なる
感度で干渉縞の観察を行うことができる斜入射干渉計装
置を提供することを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and in an oblique incidence interferometer apparatus provided with a folding mirror for reversing a light beam for interference fringe observation, observation of interference fringes with different sensitivities. It is an object of the present invention to provide a grazing incidence interferometer device capable of performing the following.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は、格子定数の異
なる複数組の回折格子を用いるとともに所定の干渉縞観
察用光線束選択手段を設けることにより、上記目的達成
を図るようにしたものである。
The present invention achieves the above object by using a plurality of sets of diffraction gratings having different grating constants and providing a predetermined light beam selecting means for observing interference fringes. is there.

【0011】すなわち、本発明に係る斜入射干渉計装置
は、可干渉光を波面分割手段に入射させて2方向に波面
分割し、一方の光線束を被検面に対して斜めに入射させ
てその反射光を物体光とするとともに他方の光線束を参
照光とし、これら物体光および参照光を波面合成手段に
入射させて波面合成し、この波面合成手段から同一方向
に射出される前記物体光と前記参照光との光干渉により
生じる干渉縞を干渉縞観察スクリーンに形成させるよう
に構成された斜入射干渉計装置において、前記干渉縞を
前記干渉縞観察スクリーンに形成する結像光学系が、前
記同一方向に射出される干渉縞観察用光線束を逆進させ
る折り返しミラーと、この折り返しミラーと前記波面合
成手段との間に、前記被検面および前記折り返しミラー
に第1および第2焦点を位置させるようにして設けられ
た結像レンズと、この結像レンズと前記波面合成手段と
の間に設けられ、前記折り返しミラーからの逆進光の少
なくとも一部を偏向反射させるハーフミラーとを備えて
なり、前記干渉縞観察スクリーンが、前記ハーフミラー
からの偏向反射光路内における前記被検面と共役の位置
に配置されており、前記波面分割手段および前記波面合
成手段が、格子定数の異なる複数組の回折格子からな
り、前記折り返しミラーの前記結像レンズ側に、前記複
数組の回折格子のうち所定の格子定数の回折格子により
形成される干渉縞観察用光線束のみを選択的に透過させ
る干渉縞観察用光線束選択手段が設けられていることを
特徴とするものである。
That is, in the oblique incidence interferometer according to the present invention, the coherent light is made incident on the wavefront splitting means to split the wavefront in two directions, and one light beam is obliquely incident on the surface to be measured. The reflected light is used as the object light and the other light beam is used as the reference light. The object light and the reference light are made incident on the wavefront synthesizing means for wavefront synthesis, and the object light emitted from the wavefront synthesizing means in the same direction. And in the oblique incidence interferometer device configured to form an interference fringe caused by optical interference with the reference light on the interference fringe observation screen, an imaging optical system that forms the interference fringe on the interference fringe observation screen, A folding mirror for reversing the light beam for interference fringe observation emitted in the same direction, and a first and a second mirror provided between the folding mirror and the wavefront combining means on the surface to be measured and the folding mirror. An imaging lens provided so as to position a point, and a half mirror provided between the imaging lens and the wavefront synthesizing means and deflecting and reflecting at least a part of the backward traveling light from the folding mirror. Wherein the interference fringe observation screen is disposed at a position conjugate with the test surface in the deflecting and reflecting optical path from the half mirror, and the wavefront dividing means and the wavefront synthesizing means have a lattice constant It comprises a plurality of different sets of diffraction gratings, and selectively selects only a light beam for interference fringe observation formed by a diffraction grating having a predetermined lattice constant among the plurality of sets of diffraction gratings on the imaging lens side of the folding mirror. A light beam selecting means for observing interference fringes to be transmitted is provided.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面を参照しながら説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】まず、本発明の第1実施形態について説明
する。図1は、本実施形態に係る斜入射干渉計装置10
を示す側面図であり、図2はその平面図である。
First, a first embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 shows an oblique incidence interferometer device 10 according to this embodiment.
FIG. 2 is a plan view of FIG.

【0014】これらの図に示すように、この斜入射干渉
計装置10は、水平方向に所定間隔を置いて対向配置さ
れた第1および第2回折格子12、14の中央下方位置
に被検体2を支持する被検体支持部材16が設けられて
なるバーチ型の斜入射干渉計装置であって、図示しない
光源から射出されて平行光とされた可干渉光を第1回折
格子12(波面分割手段)に入射させて複数の回折光に
波面分割し、+1次回折光を被検体2の被検面2aに対
して斜めに入射させてその反射光を物体光とするととも
に0次回折光を参照光とし、これら物体光および参照光
を第2回折格子14(波面合成手段)に入射させて波面
合成するようになっている。
As shown in these figures, the oblique incidence interferometer device 10 is provided at a position below the center of first and second diffraction gratings 12 and 14 which are opposed to each other at a predetermined interval in the horizontal direction. Is a birch type oblique incidence interferometer device provided with an object support member 16 for supporting the coherent light, which is emitted from a light source (not shown) and is converted into parallel light by a first diffraction grating 12 (wavefront splitting means). ) To split the wavefront into a plurality of diffracted lights, make the + 1st-order diffracted light obliquely incident on the test surface 2a of the subject 2, make the reflected light the object light, and use the 0th-order diffracted light as the reference light. The object light and the reference light are made incident on the second diffraction grating 14 (wavefront synthesizing means) to perform wavefront synthesis.

【0015】そして、この斜入射干渉計装置10におい
ては、第2回折格子14から斜め上方へ射出される物体
光の0次回折光と参照光の−1次回折光との光干渉によ
り生じる干渉縞を、結像光学系20により干渉縞観察ス
クリーン18に形成させるようになっている。
In the oblique incidence interferometer apparatus 10, interference fringes generated by optical interference between the 0th-order diffracted light of the object light and the -1st-order diffracted light of the reference light emitted obliquely upward from the second diffraction grating 14 are generated. The interference fringe observation screen 18 is formed by the imaging optical system 20.

【0016】第1回折格子12は、格子定数の小さい回
折格子12Aと格子定数の大きい回折格子12Bとから
なり、これら各回折格子12A、12Bからの+1次回
折光がいずれも被検面2aに入射するよう、回折格子1
2Aを上にして上下2段で設けられている。一方、第2
回折格子14は、格子定数の小さい回折格子14Aと格
子定数の大きい回折格子14Bとからなり、回折格子1
2Aからの物体光および参照光が回折格子14Aに入射
するとともに回折格子12Bからの物体光および参照光
が回折格子14Bに入射するよう、回折格子14Aを上
にして上下2段で設けられている。
The first diffraction grating 12 includes a diffraction grating 12A having a small lattice constant and a diffraction grating 12B having a large lattice constant, and + 1st-order diffracted light from each of the diffraction gratings 12A and 12B is incident on the surface 2a to be measured. So that the diffraction grating 1
It is provided in two upper and lower stages with 2A facing up. On the other hand, the second
The diffraction grating 14 includes a diffraction grating 14A having a small lattice constant and a diffraction grating 14B having a large lattice constant.
The object light and reference light from 2A are incident on the diffraction grating 14A, and the object light and reference light from the diffraction grating 12B are incident on the diffraction grating 14B. .

【0017】格子定数の小さい回折格子12Aは回折角
が大きいので、その+1次回折光の被検面2aへの入射
角は小さくなり、回折格子14Aから射出される干渉縞
観察用光線束(すなわち物体光の0次回折光および参照
光の−1次回折光からなる光線束)Aにより形成される
干渉縞の測定感度は大きくなる。一方、格子定数の大き
い回折格子12Bは回折角が小さいので、その+1次回
折光の被検面2aへの入射角は大きくなり、回折格子1
4Bから射出される干渉縞観察用光線束Bにより形成さ
れる干渉縞の測定感度は小さくなる。
Since the diffraction grating 12A having a small grating constant has a large diffraction angle, the angle of incidence of the + 1st-order diffracted light on the test surface 2a is small, and the light beam for observing interference fringes (ie, the object beam) emitted from the diffraction grating 14A. The measurement sensitivity of the interference fringe formed by the light beam (A) composed of the 0th-order diffracted light of the light and the -1st-order diffracted light of the reference light increases. On the other hand, since the diffraction grating 12B having a large lattice constant has a small diffraction angle, the angle of incidence of the + 1st-order diffracted light on the test surface 2a increases, and the diffraction grating 1B
The measurement sensitivity of interference fringes formed by the interference fringe observation light beam B emitted from 4B is reduced.

【0018】上記結像光学系20は、結像レンズ22
と、偏向ミラー24と、折り返しミラー26と、偏光ハ
ーフミラー28(ハーフミラー)とを備えてなってい
る。
The imaging optical system 20 includes an imaging lens 22
, A deflecting mirror 24, a folding mirror 26, and a polarizing half mirror 28 (half mirror).

【0019】また、結像レンズ22は、第1焦点距離お
よび第2焦点距離が等しい両凸レンズであって、その第
1焦点を被検面2aに位置させるようにして干渉縞観察
用光線束A、Bの光路内に設けられている。
The imaging lens 22 is a biconvex lens having a first focal length and a second focal length equal to each other. , B in the optical path.

【0020】また、偏向ミラー24は、この結像レンズ
22の像面側に設けられており、干渉縞観察用光線束
A、Bを鉛直下方へ偏向反射させるようになっている。
The deflecting mirror 24 is provided on the image plane side of the imaging lens 22, and deflects and reflects the light beams A and B for observing interference fringes vertically downward.

【0021】さらに、折り返しミラー26は、結像レン
ズ22の第2焦点に位置するようにして上向きに設けら
れており、干渉縞観察用光線束A、Bを逆進させるよう
になっている。ただし、これら干渉縞観察用光線束A、
Bは、干渉縞観察用光線束選択手段30により、そのい
ずれか一方のみが折り返しミラー26に入射し得るよう
になっている。
Further, the folding mirror 26 is provided upward so as to be located at the second focal point of the imaging lens 22, and reverses the light beams A and B for observing interference fringes. However, these interference fringe observation light fluxes A,
B is such that only one of them can enter the turning mirror 26 by the interference fringe observation light beam selecting means 30.

【0022】上記干渉縞観察用光線束選択手段30は、
折り返しミラー26の近傍に設けられた窓部材32(透
光部)を有するマスク部材34と、このマスク部材34
を図示矢印方向に往復動させるスライダ機構(これにつ
いては後述する)とからなり、その窓部材32を干渉縞
観察用光線束A、Bのうちいずれか一方のみを透過させ
る位置に移動させ、これにより干渉縞観察用光線束の選
択切換えを行うようになっている。窓部材32は1/4
波長板からなり、該窓部材32およびマスク部材34は
折り返しミラー26と非平行になるように配置されてい
る。
The light beam selecting means 30 for observing interference fringes
A mask member 34 having a window member 32 (light transmitting portion) provided in the vicinity of the folding mirror 26;
Is reciprocated in the direction of the arrow shown in the figure (this will be described later), and the window member 32 is moved to a position where only one of the interference fringe observation light fluxes A and B is transmitted. Thus, the selection of the light beam for interference fringe observation is switched. The window member 32 is 1/4
The window member 32 and the mask member 34 are arranged so as to be non-parallel to the folding mirror 26.

【0023】また、偏光ハーフミラー28は、結像レン
ズ22と第2回折格子14との間に設けられており、折
り返しミラー20からの逆進光を下方へ偏向反射させる
ようになっている。この偏光ハーフミラー28へ入射す
る逆進光は、1/4波長板32により90°回転してい
るので、偏光ハーフミラー28を透過することなくすべ
て下方へ偏向反射することとなる。
The polarization half mirror 28 is provided between the imaging lens 22 and the second diffraction grating 14 so as to deflect backward reflected light from the folding mirror 20 downward. Since the backward light incident on the polarization half mirror 28 is rotated by 90 ° by the 波長 wavelength plate 32, all the light is deflected and reflected downward without passing through the polarization half mirror 28.

【0024】また、干渉縞観察スクリーン18は、偏光
ハーフミラー28により偏向された偏向反射光路内にお
ける被検面2aと共役の位置に配置されている。この干
渉縞観察スクリーン18には、干渉縞観察用光線束A、
Bのうち干渉縞観察用光線束選択手段30により選択さ
れた一方の干渉縞観察用光線束(図1においては干渉縞
観察用光線束Aが選択されている)による干渉縞のみが
形成されるが、この干渉縞観察スクリーン18に形成さ
れる干渉縞画像を、ミラー36、38を介してCCD撮
像素子を有するテレビカメラ40で撮像するようになっ
ている。
The interference fringe observation screen 18 is arranged at a position conjugate with the test surface 2a in the deflected optical path deflected by the polarization half mirror 28. The interference fringe observation screen 18 includes a light flux A for interference fringe observation,
Among B, only interference fringes are formed by one of the interference fringe observation light fluxes selected by the interference fringe observation light flux selection means 30 (in FIG. 1, the interference fringe observation light flux A is selected). However, an interference fringe image formed on the interference fringe observation screen 18 is captured by a television camera 40 having a CCD image sensor via mirrors 36 and 38.

【0025】図3は、上記干渉縞観察用光線束選択手段
30を詳細に示す側断面図である。図示のように、この
上記干渉縞観察用光線束選択手段30は、折り返しミラ
ー26とともに防塵筐体42に収容されている。
FIG. 3 is a side sectional view showing the interference fringe observation light beam selecting means 30 in detail. As shown, the interference fringe observation light beam selecting means 30 is housed in a dustproof housing 42 together with the folding mirror 26.

【0026】この防塵筐体42は、基板44にシール部
材46を介してカバー部材48がネジ締め固定されてな
っている。カバー部材48の上面部48aには折り返し
ミラー26と略同じ大きさの開口部48bが形成されて
いる。
In the dustproof housing 42, a cover member 48 is screwed and fixed to a substrate 44 via a seal member 46. An opening 48 b having substantially the same size as the folding mirror 26 is formed in the upper surface 48 a of the cover member 48.

【0027】また、折り返しミラー26は、該折り返し
ミラー26を、干渉縞観察用光線束を正確に逆進させる
角度位置にアライメント調整し得るようにするため、基
板44に固定された球状支点部材50回りに傾動し得る
ように構成されている。具体的には、折り返しミラー2
6は、リテーナ52を介して支持板54にネジ締め固定
されており、この支持板54の下面には、複数箇所にお
いて基板44に螺着された調整ネジ56の上端が当接す
るようになっている。そして、各調整ネジ56の近傍に
は支持板54と基板44とに連結された引張バネ58が
設けられており、調整ネジ56により調整された角度位
置に折り返しミラー26を保持するようになっている。
The turning mirror 26 is provided with a spherical fulcrum member 50 fixed to the substrate 44 so that the turning mirror 26 can be adjusted to an angular position for accurately reversing the light beam for interference fringe observation. It is configured to be able to tilt around. Specifically, folding mirror 2
6 is fixedly screwed to a support plate 54 via a retainer 52, and an upper end of an adjustment screw 56 screwed to the substrate 44 at a plurality of locations abuts on a lower surface of the support plate 54. I have. A tension spring 58 connected to the support plate 54 and the substrate 44 is provided in the vicinity of each adjustment screw 56 so as to hold the folding mirror 26 at an angular position adjusted by the adjustment screw 56. I have.

【0028】干渉縞観察用光線束選択手段30を構成す
るマスク部材34は、ソレノイド等からなるスライダ機
構60に連結されており、該スライダ機構60の駆動に
より、カバー部材48の上面部48aの下面に沿って図
示矢印方向に往復動するようになっている。カバー部材
48には、その上面部48aと平行にガイド部材62が
設けられている。なお、同図においては、マスク部材3
4を、その窓部材32が干渉縞観察用光線束Aを透過さ
せる位置まで移動させた状態が示されている。
The mask member 34 constituting the interference fringe observation light beam selecting means 30 is connected to a slider mechanism 60 composed of a solenoid or the like. When the slider mechanism 60 is driven, the lower surface of the upper surface 48a of the cover member 48 is driven. Reciprocate in the direction of the arrow shown in FIG. The cover member 48 is provided with a guide member 62 parallel to the upper surface portion 48a. Incidentally, in FIG.
4 shows a state where the window member 32 has been moved to a position where the window member 32 transmits the light beam A for interference fringe observation.

【0029】次に、本実施形態の作用効果について説明
する。
Next, the operation and effect of this embodiment will be described.

【0030】本実施形態に係る斜入射干渉計装置10
は、第2回折格子14から斜め上方へ射出される物体光
の0次回折光と参照光の−1次回折光との光干渉により
生じる干渉縞を干渉縞観察スクリーン18に形成させる
ようになっているが、第1および第2回折格子12、1
4が、格子定数の異なる2組の回折格子12A、12B
および14A、14Bからなっているので、測定感度の
異なる2つの干渉縞観察用光線束A、Bを得ることがで
きる。そして、本実施形態に係る斜入射干渉計装置10
は、干渉縞を干渉縞観察スクリーン18に形成させるた
めの結像光学系20が、装置全長を短縮するために干渉
縞観察用光線束を逆進させる折り返しミラー26を備え
ているが、この折り返しミラー26には、干渉縞観察用
光線束選択手段30により、干渉縞観察用光線束A、B
のうちいずれか一方のみが入射し得るようになっている
ので、干渉縞観察スクリーン18には、選択された一方
の干渉縞観察用光線束AまたはBによる干渉縞のみが形
成されることとなる。そこで、この干渉縞観察スクリー
ン18に形成される干渉縞画像をテレビカメラ42で撮
像することにより異なる感度で干渉縞の観察を行うこと
ができ、これにより被検面2aの表面形状をより正確に
測定することが可能となる。
The grazing incidence interferometer device 10 according to this embodiment
The interference fringe observation screen 18 forms interference fringes generated by optical interference between the 0th-order diffracted light of the object light emitted obliquely upward from the second diffraction grating 14 and the -1st-order diffracted light of the reference light. Are the first and second diffraction gratings 12, 1
4 is two sets of diffraction gratings 12A and 12B having different grating constants.
And 14A and 14B, two light beams A and B for observing interference fringes having different measurement sensitivities can be obtained. The oblique incidence interferometer device 10 according to the present embodiment
The image forming optical system 20 for forming the interference fringes on the interference fringe observation screen 18 includes a folding mirror 26 for reversing the light beam for interference fringe observation in order to shorten the entire length of the apparatus. The interference fringe observation light fluxes A and B are provided on the mirror 26 by the interference fringe observation light flux selection means 30.
Only one of them can enter, so that only the interference fringes due to the selected one of the interference fringe observation light fluxes A or B is formed on the interference fringe observation screen 18. . Therefore, by observing the interference fringe image formed on the interference fringe observation screen 18 with the television camera 42, the interference fringes can be observed with different sensitivities, whereby the surface shape of the test surface 2a can be more accurately determined. It becomes possible to measure.

【0031】特に、本実施形態においては、干渉縞観察
用光線束選択手段30が、窓部材32を有するマスク部
材34と、このマスク部材34を図示矢印方向に往復動
させるスライダ機構60とからなっているので、簡易な
構成で干渉縞観察用光線束A、Bの選択切換えを行うこ
とができる。
In particular, in this embodiment, the interference fringe observation light beam selecting means 30 comprises a mask member 34 having a window member 32 and a slider mechanism 60 for reciprocating the mask member 34 in the direction of the arrow shown in the figure. Therefore, the selection of the interference fringe observation light fluxes A and B can be switched with a simple configuration.

【0032】しかも、上記窓部材32は、折り返しミラ
ー26と非平行になるように配置されているので、該窓
部材32で反射した光を干渉縞観察用光線束の光路から
外すことができ、これにより該反射光が干渉縞観察スク
リーン18に入射して干渉縞の測定に悪影響を及ぼして
しまうのを未然に防止することができる。また、この窓
部材32は、折り返しミラー26から離れた位置に設け
られているので、該窓部材32上に付着したゴミ等から
の散乱光による干渉縞測定への悪影響を未然に防止する
ことができる。さらに、この窓部材32は、1/4波長
板からなっているので、折り返しミラー26からの逆進
光を偏光ハーフミラー28を透過させることなくすべて
下方へ偏向反射させることができ、この点においても干
渉縞測定への悪影響を未然に防止することができる。
Further, since the window member 32 is disposed so as to be non-parallel to the folding mirror 26, the light reflected by the window member 32 can be removed from the optical path of the interference fringe observation light beam. Accordingly, it is possible to prevent the reflected light from being incident on the interference fringe observation screen 18 and adversely affecting the measurement of the interference fringes. Further, since the window member 32 is provided at a position distant from the folding mirror 26, it is possible to prevent the adverse effect on interference fringe measurement due to scattered light from dust or the like attached on the window member 32 beforehand. it can. Further, since the window member 32 is formed of a quarter-wave plate, all the backward traveling light from the return mirror 26 can be deflected and reflected downward without passing through the polarization half mirror 28. This can also prevent the adverse effect on the interference fringe measurement.

【0033】また、本実施形態に係る斜入射干渉計装置
10は、装置全長を短縮するために干渉縞観察用光線束
を鉛直下方へ偏向反射させる偏向ミラー24を備えてお
り、このため折り返しミラー26はその反射面が上向き
となりホコリ等の異物が非常に付着しやすいが、本実施
形態においては、折り返しミラー26の上方にマスク部
材34が設けられているので、折り返しミラー26への
異物の付着防止を図ることができる。特に、本実施形態
においては、マスク部材34も防塵筐体42に収容され
ているので、防塵機能を一層高めることができる。
The oblique incidence interferometer device 10 according to the present embodiment is provided with a deflecting mirror 24 for deflecting and reflecting the light beam for observing interference fringes vertically downward in order to shorten the entire length of the device. The reflecting surface of the mirror 26 faces upward, and foreign matter such as dust is very likely to adhere thereto. However, in the present embodiment, since the mask member 34 is provided above the folding mirror 26, the foreign matter adheres to the folding mirror 26. Prevention can be achieved. In particular, in the present embodiment, since the mask member 34 is also housed in the dustproof housing 42, the dustproof function can be further enhanced.

【0034】さらに、本実施形態においては、1つの結
像レンズ22で干渉縞観察用光線束A、Bを透過させる
ようになっているので、装置の簡素化および低コスト化
を図ることができる。なお、このようにする代わりに、
各干渉縞観察用光線束A、B毎に結像レンズを設けるよ
うにしてもよい。
Further, in this embodiment, since the light beams A and B for observing interference fringes are transmitted by one imaging lens 22, the apparatus can be simplified and the cost can be reduced. . Note that instead of doing this,
An imaging lens may be provided for each of the interference fringe observation light fluxes A and B.

【0035】ところで、本実施形態においては、結像光
学系20に偏向ミラー24が設けられている場合につい
て説明したが、図1に2点鎖線で示すように偏向ミラー
24が設けられていない場合においても、干渉縞観察用
光線束選択手段30により折り返しミラー26へ入射す
る干渉縞観察用光線束の選択切換えを行うようにすれ
ば、本実施形態と同様の作用効果をすることができる。
また、このようにした場合には、折り返しミラー26の
反射面にホコリ等の異物が比較的付着しにくくなるの
で、マスク部材34に窓部材32を設ける代わりに、こ
れを単なる透孔として透光部を構成することも可能であ
る。
In this embodiment, the case where the image forming optical system 20 is provided with the deflecting mirror 24 has been described. However, as shown by the two-dot chain line in FIG. In this case, if the interference fringe observation light beam selecting means 30 switches the selection of the interference fringe observation light beam incident on the turning mirror 26, the same operation and effect as the present embodiment can be obtained.
Further, in this case, foreign substances such as dust are relatively unlikely to adhere to the reflection surface of the folding mirror 26. Therefore, instead of providing the window member 32 in the mask member 34, the window member 32 is formed as a simple through hole. It is also possible to configure a unit.

【0036】また、本実施形態においては、第2回折格
子14から斜め上方へ射出される物体光の0次回折光と
参照光の−1次回折光との光干渉により生じる干渉縞を
干渉縞観察スクリーン18に形成するように構成されて
いるが、第2回折格子14から水平方向に射出される物
体光の+1次回折光と参照光の0次回折光との光干渉に
より生じる干渉縞を干渉縞観察スクリーン18に形成す
るようにしてもよい。
In the present embodiment, the interference fringes generated by the optical interference between the 0th-order diffracted light of the object light and the -1st-order diffracted light of the reference light emitted obliquely upward from the second diffraction grating 14 are used as interference fringe observation screens. 18, the interference fringes generated by the light interference between the + 1st-order diffracted light of the object light emitted from the second diffraction grating 14 in the horizontal direction and the 0th-order diffracted light of the reference light are used as interference fringe observation screens. 18 may be formed.

【0037】さらに、本実施形態においては、第1およ
び第2回折格子12、14が、格子定数の異なる2組の
回折格子12A、12Bおよび14A、14Bからなる
場合について説明したが、3組以上の回折格子を用いる
ようにしてもよく、このようにすることにより、測定感
度の異なる3つ以上の干渉縞観察用光線束を得ることが
できる。
Further, in the present embodiment, the case where the first and second diffraction gratings 12 and 14 consist of two sets of diffraction gratings 12A and 12B and 14A and 14B having different grating constants has been described. May be used. In this manner, three or more interference fringe observation light beams having different measurement sensitivities can be obtained.

【0038】次に、本発明の第2実施形態について説明
する。
Next, a second embodiment of the present invention will be described.

【0039】図4は、本実施形態に係る斜入射干渉計装
置10を示す側面図であり、図5はは、その干渉縞観察
用光線束選択手段30を詳細に示す側断面図である。こ
れらの図に示すように、本実施形態に係る斜入射干渉計
装置10は、干渉縞観察用光線束選択手段30の構成が
第1実施形態と異なっている。
FIG. 4 is a side view showing the oblique incidence interferometer device 10 according to the present embodiment, and FIG. 5 is a side sectional view showing the interference fringe observation light beam selecting means 30 in detail. As shown in these drawings, the oblique incidence interferometer device 10 according to the present embodiment is different from the first embodiment in the configuration of the interference fringe observation light beam selecting means 30.

【0040】すなわち、本実施形態の干渉縞観察用光線
束選択手段30は、マスク部材34がターレット状に形
成されており、このマスク部材34を回転軸72回りに
回動させるターレット機構74が用いられている。そし
て、このターレット機構74を駆動してマスク部材34
を回転軸72回りに所定角度回動させることにより、窓
部材32を干渉縞観察用光線束A、Bのうちいずれか一
方のみを透過させる位置に移動させ、これにより干渉縞
観察用光線束の選択切換えを行うようになっている。マ
スク部材34は、折り返しミラー26と非平行になるよ
うにして回転軸72に取り付けられており、これにより
窓部材32で反射した光を干渉縞観察用光線束の光路か
ら外すようになっている。
That is, the light beam selecting means 30 for observing interference fringes of the present embodiment uses the turret mechanism 74 for rotating the mask member 34 about the rotation axis 72 because the mask member 34 is formed in a turret shape. Have been. Then, the turret mechanism 74 is driven to drive the mask member 34.
Is rotated by a predetermined angle around the rotation axis 72, thereby moving the window member 32 to a position where only one of the interference fringe observation light fluxes A and B is transmitted. Selection switching is performed. The mask member 34 is attached to the rotating shaft 72 so as to be non-parallel to the folding mirror 26, so that the light reflected by the window member 32 is excluded from the optical path of the interference fringe observation light beam. .

【0041】また、図6に示すように、マスク部材34
の外周縁部には、所定角度間隔を置いて1対の切欠き3
4aが形成されており、このマスク部材34の外周縁部
近傍には、マスク部材34が所定の回動角度位置になっ
たときに切欠き34aと係合するクリックボール76が
設けられている。そして、このクリックボール76によ
り、窓部材32を干渉縞観察用光線束AまたはBの光路
上に選択的に位置決めするようになっている。
Further, as shown in FIG.
Are provided with a pair of notches 3 at a predetermined angular interval
In the vicinity of the outer peripheral edge of the mask member 34, a click ball 76 that engages with the notch 34a when the mask member 34 reaches a predetermined rotation angle position is provided. The click ball 76 selectively positions the window member 32 on the optical path of the interference fringe observation light beam A or B.

【0042】本実施形態の構成を採用することによって
も、第1実施形態と同様の作用効果を得ることができ
る。
By adopting the configuration of this embodiment, the same operation and effect as those of the first embodiment can be obtained.

【0043】次に、本発明の第3実施形態について説明
する。
Next, a third embodiment of the present invention will be described.

【0044】図7は、本実施形態に係る斜入射干渉計装
置の干渉縞観察用光線束選択手段30を詳細に示す側断
面図である。これらの図に示すように、本実施形態に係
る斜入射干渉計装置10は、干渉縞観察用光線束選択手
段30の構成が第1実施形態と異なっている。
FIG. 7 is a side sectional view showing in detail the interference fringe observation light beam selecting means 30 of the oblique incidence interferometer apparatus according to this embodiment. As shown in these drawings, the oblique incidence interferometer device 10 according to the present embodiment is different from the first embodiment in the configuration of the interference fringe observation light beam selecting means 30.

【0045】すなわち、本実施形態の干渉縞観察用光線
束選択手段30は、防塵筐体42のカバー部材48の上
面部48aに形成された開口部48bに、1対の液晶シ
ャッタ82A、82Bを有するマスク部材84が固定支
持されている。これら各液晶シャッタ82A、82B
は、干渉縞観察用光線束A、Bの各光路上に位置するよ
うに設けられており、図示しない駆動手段により交互に
オンオフされるようになっている。そして、常時いずれ
か一方の液晶シャッタにより、干渉縞観察用光線束A、
Bのうちいずれか一方のみを折り返しミラー26に入射
させるようになっている。マスク部材84は、折り返し
ミラー26と非平行になるようにしてカバー部材48に
取り付けられており、これにより液晶シャッタ82A、
82Bで反射した光を干渉縞観察用光線束の光路から外
すようになっている。
That is, the light beam selecting means 30 for interference fringe observation of the present embodiment is provided with a pair of liquid crystal shutters 82A and 82B in the opening 48b formed in the upper surface 48a of the cover member 48 of the dustproof housing 42. The mask member 84 is fixedly supported. These liquid crystal shutters 82A, 82B
Are provided on the respective optical paths of the interference fringe observation light fluxes A and B, and are alternately turned on and off by driving means (not shown). Then, the light flux A for interference fringe observation is always used by one of the liquid crystal shutters.
Only one of B is made to enter the turning mirror 26. The mask member 84 is attached to the cover member 48 so as to be non-parallel to the folding mirror 26, so that the liquid crystal shutter 82A,
The light reflected at 82B is removed from the optical path of the light beam for interference fringe observation.

【0046】本実施形態の構成を採用することによって
も、第1実施形態と同様の作用効果を得ることができ
る。しかも、本実施形態においては、マスク部材84を
機械的に移動させる移動機構が不要となるので、極めて
簡易な構成で上記作用効果を得ることができる。
By adopting the configuration of this embodiment, the same operation and effect as those of the first embodiment can be obtained. In addition, in the present embodiment, since a moving mechanism for mechanically moving the mask member 84 is not required, the above-described operation and effect can be obtained with an extremely simple configuration.

【0047】[0047]

【発明の効果】本発明に係る斜入射干渉計装置は、波面
合成手段から同一方向に射出される物体光と参照光との
光干渉により生じる干渉縞を干渉縞観察スクリーンに形
成させるようになっているが、波面分割手段および波面
合成手段が格子定数の異なる複数組の回折格子からなっ
ているので、測定感度の異なる複数組の干渉縞観察用光
線束を得ることができる。そして、干渉縞を干渉縞観察
スクリーンに形成させるための結像光学系は、装置全長
を短縮するために干渉縞観察用光線束を逆進させる折り
返しミラーを備えているが、この折り返しミラーには、
干渉縞観察用光線束選択手段により、上記複数組の干渉
縞観察用光線束のうち所定の干渉縞観察用光線束のみが
入射し得るようになっているので、干渉縞観察スクリー
ンには、選択された干渉縞観察用光線束による干渉縞の
みを形成させることができる。
The oblique incidence interferometer apparatus according to the present invention causes an interference fringe observation screen to form interference fringes caused by optical interference between object light and reference light emitted in the same direction from the wavefront combining means. However, since the wavefront dividing means and the wavefront synthesizing means are composed of a plurality of sets of diffraction gratings having different grating constants, a plurality of sets of interference fringe observation light beams having different measurement sensitivities can be obtained. The imaging optical system for forming interference fringes on the interference fringe observation screen includes a folding mirror that reverses the interference fringe observation light beam in order to reduce the overall length of the apparatus. ,
By the interference fringe observation light beam selecting means, only a predetermined interference fringe observation light beam out of the plurality of sets of interference fringe observation light beams can be incident. It is possible to form only interference fringes due to the obtained interference fringe observation light beam.

【0048】したがって、本発明によれば、干渉縞観察
用光線束を逆進させる折り返しミラーを備えた斜入射干
渉計装置において、異なる感度で干渉縞の観察を行うこ
とができる。
Therefore, according to the present invention, it is possible to observe interference fringes with different sensitivities in a grazing incidence interferometer apparatus having a folding mirror for reversing a light beam for interference fringe observation.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態に係る斜入射干渉計装置
を示す側面図
FIG. 1 is a side view showing an oblique incidence interferometer apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す斜入射干渉計装置を示す平面図FIG. 2 is a plan view showing the grazing incidence interferometer shown in FIG.

【図3】図1に示す斜入射干渉計装置の干渉縞観察用光
線束選択手段を示す側断面図
FIG. 3 is a side sectional view showing a light beam selecting unit for observing interference fringes of the oblique incidence interferometer apparatus shown in FIG. 1;

【図4】本発明の第2実施形態に係る斜入射干渉計装置
を示す側面図
FIG. 4 is a side view showing an oblique incidence interferometer apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図5】図2に示す斜入射干渉計装置の干渉縞観察用光
線束選択手段を示す側断面図
5 is a side sectional view showing a light beam selecting unit for observing interference fringes of the oblique incidence interferometer apparatus shown in FIG. 2;

【図6】図2に示す干渉縞観察用光線束選択手段を別の
方向から見て示す側断面図
6 is a side sectional view showing the light beam selecting means for observing interference fringes shown in FIG. 2 when viewed from another direction.

【図7】本発明の第3実施形態に係る斜入射干渉計装置
の干渉縞観察用光線束選択手段を示す側断面図
FIG. 7 is a side sectional view showing a light beam selecting unit for observing interference fringes of an oblique incidence interferometer apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【図8】従来例を示す側面図FIG. 8 is a side view showing a conventional example.

【図9】他の従来例を示す側面図FIG. 9 is a side view showing another conventional example.

【図10】さらに他の従来例を示す側面図FIG. 10 is a side view showing still another conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 被検体 2a 被検面 10 斜入射干渉計装置 12 第1回折格子(波面分割手段) 12A、12B 回折格子 14 第2回折格子(波面合成手段) 14A、14B 回折格子 16 被検体支持部材 18 干渉縞観察スクリーン 20 結像光学系 22 結像レンズ 24 偏向ミラー 26 折り返しミラー 28 偏光ハーフミラー(ハーフミラー) 30 干渉縞観察用光線束選択手段 32 窓部材(透光部)(1/4波長板) 34 マスク部材 34a 切欠き 36、38 ミラー 40 テレビカメラ 42 防塵筐体 44 基板 46 シール部材 48 カバー部材 48a 上面部 48b 開口部 50 球状支点部材 52 リテーナ 54 支持板 56 調整ネジ 58 引張バネ 60 スライダ機構(移動機構) 62 ガイド部材 72 回転軸 74 ターレット機構(移動機構) 76 クリックボール 82A、82B 液晶シャッタ 84 マスク部材 A、B 干渉縞観察用光線束 2 object 2a object surface 10 oblique incidence interferometer 12 first diffraction grating (wavefront splitting means) 12A, 12B diffraction grating 14 second diffraction grating (wavefront synthesis means) 14A, 14B diffraction grating 16 object support member 18 interference Fringe observation screen 20 Imaging optical system 22 Imaging lens 24 Deflection mirror 26 Folding mirror 28 Polarization half mirror (half mirror) 30 Interference fringe observation light beam selecting means 32 Window member (light transmitting part) (1/4 wavelength plate) 34 Mask member 34a Notch 36, 38 Mirror 40 TV camera 42 Dustproof housing 44 Substrate 46 Seal member 48 Cover member 48a Upper surface 48b Opening 50 Spherical fulcrum member 52 Retainer 54 Support plate 56 Adjusting screw 58 Tension spring 60 Slider mechanism ( (Movement mechanism) 62 Guide member 72 Rotary shaft 74 Turret mechanism (Movement machine) ) 76 click ball 82A, 82B liquid crystal shutter 84 mask member A, B interference fringe observation light beam

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 古畑 千尋 長野県岡谷市加茂町1丁目7番39号 岡谷 富士光機株式会社内 Fターム(参考) 2F064 AA09 BB07 CC10 EE10 FF01 GG12 GG13 GG22 GG23 GG38 GG49 GG59 HH08 2F065 AA50 BB26 DD13 EE08 FF04 FF48 FF52 GG04 HH03 HH12 JJ03 JJ26 LL04 LL12 LL30 LL36 LL37 LL42 LL46 PP23 TT01 UU07  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Chihiro Furuhata 1-7-39 Kamo-cho, Okaya-shi, Nagano F-term in Okaya Fujikoki Co., Ltd. 2F064 AA09 BB07 CC10 EE10 FF01 GG12 GG13 GG22 GG23 GG38 GG49 GG59 HH08 2F065 AA50 BB26 DD13 EE08 FF04 FF48 FF52 GG04 HH03 HH12 JJ03 JJ26 LL04 LL12 LL30 LL36 LL37 LL42 LL46 PP23 TT01 UU07

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 可干渉光を波面分割手段に入射させて2
方向に波面分割し、一方の光線束を被検面に対して斜め
に入射させてその反射光を物体光とするとともに他方の
光線束を参照光とし、これら物体光および参照光を波面
合成手段に入射させて波面合成し、この波面合成手段か
ら同一方向に射出される前記物体光と前記参照光との光
干渉により生じる干渉縞を干渉縞観察スクリーンに形成
させるように構成された斜入射干渉計装置において、 前記干渉縞を前記干渉縞観察スクリーンに形成する結像
光学系が、前記同一方向に射出される干渉縞観察用光線
束を逆進させる折り返しミラーと、この折り返しミラー
と前記波面合成手段との間に、前記被検面および前記折
り返しミラーに第1および第2焦点を位置させるように
して設けられた結像レンズと、この結像レンズと前記波
面合成手段との間に設けられ、前記折り返しミラーから
の逆進光の少なくとも一部を偏向反射させるハーフミラ
ーとを備えてなり、 前記干渉縞観察スクリーンが、前記ハーフミラーからの
偏向反射光路内における前記被検面と共役の位置に配置
されており、 前記波面分割手段および前記波面合成手段が、格子定数
の異なる複数組の回折格子からなり、 前記折り返しミラーの前記結像レンズ側に、前記複数組
の回折格子のうち所定の格子定数の回折格子により形成
される干渉縞観察用光線束のみを選択的に透過させる干
渉縞観察用光線束選択手段が設けられていることを特徴
とする斜入射干渉計装置。
1. Coherent light is made incident on a wavefront splitting means, and
Wavefront division in one direction, one of the light beams is made obliquely incident on the surface to be measured, its reflected light is used as object light, and the other light beam is used as reference light, and these object light and reference light are used as wavefront combining means. And oblique incidence interference configured to form, on an interference fringe observation screen, an interference fringe generated by optical interference between the object light and the reference light emitted from the wavefront synthesizing means in the same direction. An imaging optical system for forming the interference fringes on the interference fringe observation screen, a folding mirror for reversely moving the interference fringe observation light beam emitted in the same direction, and the folding mirror and the wavefront combining. Between the imaging lens and the wavefront synthesizing means, the imaging lens being provided so as to position first and second focal points on the test surface and the return mirror. A half mirror for deflecting and reflecting at least a part of the backward light from the return mirror, wherein the interference fringe observation screen is conjugated to the test surface in a deflecting and reflecting optical path from the half mirror. Wherein the wavefront splitting means and the wavefront synthesizing means comprise a plurality of sets of diffraction gratings having different grating constants, and the plurality of sets of diffraction gratings are provided on the imaging lens side of the folding mirror. An oblique incidence interferometer device comprising: an interference fringe observation light beam selecting means for selectively transmitting only an interference fringe observation light beam formed by a diffraction grating having a predetermined lattice constant.
【請求項2】 干渉縞観察用光線束選択手段が、透光部
を有するマスク部材と、前記透光部を前記所定の格子定
数の回折格子により形成される干渉縞観察用光線束の光
路上に位置させるように前記マスク部材を移動させる移
動機構とからなることを特徴とする請求項1記載の斜入
射干渉計装置。
2. A light beam selecting means for observing interference fringes, comprising: a mask member having a light transmitting portion; and a light transmitting portion on the optical path of the light beam for observing interference fringes formed by a diffraction grating having a predetermined lattice constant. 2. The oblique incidence interferometer according to claim 1, further comprising a moving mechanism for moving the mask member so that the mask member is located at a position corresponding to the oblique incidence.
【請求項3】 前記透光部が、前記干渉縞観察用光線束
を透過させる窓部材からなることを特徴とする請求項2
記載の斜入射干渉計装置。
3. The light transmission unit according to claim 2, wherein the light transmission unit comprises a window member that transmits the interference fringe observation light flux.
An oblique incidence interferometer device as described.
【請求項4】 前記ハーフミラーが偏光ハーフミラーか
らなり、前記窓部材が1/4波長板からなることを特徴
とする請求項3記載の斜入射干渉計装置。
4. The oblique incidence interferometer apparatus according to claim 3, wherein said half mirror comprises a polarization half mirror, and said window member comprises a quarter-wave plate.
【請求項5】 前記窓部材が、前記折り返しミラーと非
平行に配置されていることを特徴とする請求項3または
4記載の斜入射干渉計装置。
5. The oblique incidence interferometer according to claim 3, wherein the window member is arranged non-parallel to the folding mirror.
【請求項6】 前記移動機構が、前記マスク部材を回転
させるターレット機構からなることを特徴とする請求項
2〜5いずれか記載の斜入射干渉計装置。
6. The oblique incidence interferometer according to claim 2, wherein the moving mechanism comprises a turret mechanism for rotating the mask member.
【請求項7】 前記移動機構が、前記マスク部材を往復
動させるスライダ機構からなることを特徴とする請求項
2〜5いずれか記載の斜入射干渉計装置。
7. The oblique incidence interferometer according to claim 2, wherein the moving mechanism comprises a slider mechanism for reciprocating the mask member.
【請求項8】 前記ハーフミラーが偏光ハーフミラーか
らなり、前記干渉縞観察用光線束選択手段が、前記複数
組の回折格子の各々により形成される干渉縞観察用光線
束の光路上に液晶シャッタが設けられたマスク部材から
なることを特徴とする請求項1記載の斜入射干渉計装
置。
8. A half-mirror comprising a polarizing half-mirror, wherein said interference-fringe-observing light beam selecting means includes a liquid crystal shutter on an optical path of an interference-fringe-observing light beam formed by each of said plurality of sets of diffraction gratings. The oblique incidence interferometer device according to claim 1, wherein the oblique incidence interferometer device comprises a mask member provided with:
【請求項9】 前記液晶シャッタが、前記折り返しミラ
ーと非平行に配置されていることを特徴とする請求項8
記載の斜入射干渉計装置。
9. The liquid crystal shutter according to claim 8, wherein the liquid crystal shutter is arranged non-parallel to the folding mirror.
An oblique incidence interferometer device as described.
【請求項10】 前記結像レンズが、前記複数組の回折
格子の各々により形成されるすべての干渉縞観察用光線
束を透過させる単一のレンズからなることを特徴とする
請求項1〜9いずれか記載の斜入射干渉計装置。
10. The imaging lens according to claim 1, wherein the imaging lens is a single lens that transmits all the interference fringe observation light beams formed by each of the plurality of sets of diffraction gratings. An oblique incidence interferometer device according to any of the above.
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