JP2000247437A - Substrate surface treatment device and method, surface conduction type electron source substrate and image forming device - Google Patents

Substrate surface treatment device and method, surface conduction type electron source substrate and image forming device

Info

Publication number
JP2000247437A
JP2000247437A JP5068199A JP5068199A JP2000247437A JP 2000247437 A JP2000247437 A JP 2000247437A JP 5068199 A JP5068199 A JP 5068199A JP 5068199 A JP5068199 A JP 5068199A JP 2000247437 A JP2000247437 A JP 2000247437A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
direction wiring
surface treatment
processing
wiring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5068199A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Makoto Kojima
誠 小島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP5068199A priority Critical patent/JP2000247437A/en
Publication of JP2000247437A publication Critical patent/JP2000247437A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable cutting-off of liquid on a substrate simultaneously at the time of pulling up the substrate from treatment liquid, and ensure an even surface treatment for a large sized substrate by additionally providing a substrate conveying means to a treatment tank capable of storing treatment liquid therein, and providing an air knife to a delivery outlet of the tank. SOLUTION: A substrate is held on a substrate cassette 24, then mounted at a fixed position 25 on a conveying means 13, and conveyed to the inside of a device by the means 13. The substrate cassette 24 is held toy a carrying robot 11 and sank in a treatment liquid 17 from a delivery inlet 18 of a treatment tank 16. By repeating the above steps while working a conveying means 14, the cassette 24 reaches a terminal end, and when the cassette 24 is held by a carrying robot 12, air knives 20, 21 mounted to a delivery outlet 19 of the tank 16 work. Thereafter, the substrate held by the cassette 24 is pulled up from a substrate treatment liquid 17 and the liquid on the substrate is cut off simultaneously therewith.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、表面伝導型電子源
基板などの電子素子を製造する上で基板の表面処理を行
う為の基板表面処理装置に関するものである。また本発
明は、基板の表面処理方法に関するものである。また本
発明は、この表面処理方法を適用して製造した基板上の
複数の任意の個所より電子放出が可能な表面伝導型電子
源基板に関するものである。また本発明は、表面伝導型
電子源基板を利用した、画像形成装置に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate surface treatment apparatus for performing a surface treatment of a substrate in manufacturing an electronic element such as a surface conduction electron source substrate. The present invention also relates to a method for treating a surface of a substrate. The present invention also relates to a surface conduction electron source substrate capable of emitting electrons from a plurality of arbitrary locations on a substrate manufactured by applying this surface treatment method. The present invention also relates to an image forming apparatus using a surface conduction electron source substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、基板を処理液に浸漬して表面処理
を行う基板表面処理装置として、たとえば特開平7−1
76507号公報には図9に示す基板表面処理装置が述
べられている。同装置は液晶ディスプレイ等に用いられ
る基板に対して、洗浄、エッチング、レジスト剥離等の
ウエット処理を行うものである。図9において112は
複数基板を収納したカセットであり、基板はローダー部
101において一定時間間隔で1枚ずつ取り出され、搬
送ローラ114によって浸漬処理部106に搬送され
る。基板方向変換部102により垂直にされた後、基板
113は枚葉搬送系104および搬送ロボット115の
動作により、枚葉浸漬槽105において一定時間浸漬処
理され、基板方向変換部103において水平にされる。
続いて基板はリンス部107においてスプレーノズル1
19によってリンス処理される。続いて基板は水洗部1
08においてスプレーノズル119によって水洗処理さ
れる。続いて基板は超音波水洗部109において超音波
洗浄機120によって水洗処理を行われる。続いて基板
は乾燥部110においてエアーナイフ121によって乾
燥される。図中118はリンス液または洗浄水を回収す
る下部タンクである。その後基板はアンローダ部111
において他のカセット122に収納される。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a substrate surface treatment apparatus for performing surface treatment by immersing a substrate in a treatment liquid, for example, Japanese Patent Laid-Open No.
Japanese Patent No. 76507 describes a substrate surface treatment apparatus shown in FIG. This apparatus performs a wet process such as cleaning, etching, and resist stripping on a substrate used for a liquid crystal display or the like. In FIG. 9, reference numeral 112 denotes a cassette containing a plurality of substrates. The substrates are taken out one by one at regular time intervals in the loader unit 101 and are transported to the immersion processing unit 106 by the transport rollers 114. After being made vertical by the substrate direction changing unit 102, the substrate 113 is immersed in the single wafer immersion tank 105 for a certain period of time by the operation of the single wafer transfer system 104 and the transfer robot 115, and is leveled in the substrate direction changing unit 103. .
Subsequently, the substrate is spray nozzle 1
19 for rinsing. Subsequently, the substrate is washed with water 1
At 08, a water washing process is performed by the spray nozzle 119. Subsequently, the substrate is subjected to a water washing process by an ultrasonic washing machine 120 in an ultrasonic washing section 109. Subsequently, the substrate is dried by the air knife 121 in the drying unit 110. In the figure, reference numeral 118 denotes a lower tank for collecting a rinsing liquid or cleaning water. Thereafter, the substrate is unloaded by the unloader unit 111.
Is stored in another cassette 122.

【0003】また、電子源基板の配線を印刷の手法によ
って形成する製造方法が特開平9−283060号公報
に述べられている。図8において説明する。まず図8
(a)の様に基板131(輪郭は不図示)の上に素子電
極132、133を形成する。次に図8(b)の様に導
電性ペーストを印刷、焼成して、下配線140を形成す
る。次に図8(c)の様に絶縁体ペーストを印刷、焼成
して帯状絶縁層142を形成する。次に図8(d)の様
に絶縁体ペーストを印刷、焼成して交差部絶縁層144
を形成する。次に図8(e)の様に導電性ペーストを印
刷、焼成して、上配線145を形成する。次に図8
(f)の様に導電性薄膜134を形成する。導電性薄膜
にはその後フォーミング処理と呼ばれる通電処理を施さ
れ、電子放出部が形成される。さらに活性化と呼ばれる
行程において、有機物質ガスを含有する雰囲気下で通電
処理を施すことで、電子放出量を増大させる処理が行わ
れる。この様にして、電子源基板の製造が行われる。
Further, a manufacturing method for forming wiring on an electron source substrate by a printing technique is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-283060. This will be described with reference to FIG. First, FIG.
Element electrodes 132 and 133 are formed on a substrate 131 (outline not shown) as shown in FIG. Next, as shown in FIG. 8B, a conductive paste is printed and fired to form the lower wiring 140. Next, as shown in FIG. 8C, the insulating paste is printed and baked to form the strip-shaped insulating layer 142. Next, as shown in FIG. 8D, an insulating paste is printed and baked to form the intersection insulating layer 144.
To form Next, as shown in FIG. 8E, a conductive paste is printed and baked to form the upper wiring 145. Next, FIG.
A conductive thin film 134 is formed as shown in FIG. The conductive thin film is then subjected to an energization process called a forming process to form an electron emission portion. Further, in a process called activation, a process of increasing the amount of electron emission is performed by performing an energization process in an atmosphere containing an organic substance gas. Thus, the manufacture of the electron source substrate is performed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし本発明者らが表
面伝導型電子源基板を作製する上で、従来の表面処理装
置を使用したところ、以下の様な問題点があった。
However, when the present inventors used a conventional surface treatment apparatus to produce a surface conduction electron source substrate, they had the following problems.

【0005】従来の浸漬タイプの表面処理装置では、表
面処理を行う処理槽と、基板から処理液の除去を行う部
分が分離されている。そのため基板を処理液から引き上
げた後、処理液の除去を行う部分に搬送される間、基板
には処理液が付着したままで放置されることになる。こ
の間に基板上では、処理液による反応が進行する。基板
表面の凹凸が少なく、基板サイズも小さい場合は、基板
表面に残存する処理液にむらが少ないため、従来の表面
処理装置でも処理むらは発生せず、問題は起きない。し
かし表面伝導型電子源基板を製造する場合の様に、印刷
配線が形成された基板であり、また基板サイズが大きな
場合においては、配線間の窪みに処理液が溜まったりす
ることで、基板表面に残存する処理液にむらができ、処
理むらが発生する場合があった。
In a conventional immersion type surface treatment apparatus, a treatment tank for performing surface treatment and a portion for removing a treatment liquid from a substrate are separated. Therefore, after the substrate is pulled up from the processing liquid, the substrate is left with the processing liquid attached thereto while being transported to a portion where the processing liquid is removed. During this time, the reaction by the processing liquid proceeds on the substrate. In the case where the surface of the substrate has little irregularities and the substrate size is small, there is little unevenness in the processing liquid remaining on the surface of the substrate. However, as in the case of manufacturing a surface conduction electron source substrate, this is a substrate on which printed wiring is formed, and when the substrate size is large, the processing liquid accumulates in recesses between the wirings, and the surface of the substrate is In some cases, the processing solution remaining on the surface was uneven, resulting in uneven processing.

【0006】本発明の目的は、印刷配線等が形成された
基板であり、また基板サイズが大きな場合においても、
均一に表面処理を行うことが可能な基板表面処理装置を
提供することにある。
An object of the present invention is to provide a substrate on which printed wiring and the like are formed, and even when the substrate size is large.
An object of the present invention is to provide a substrate surface treatment apparatus capable of performing a surface treatment uniformly.

【0007】また表面伝導型電子源基板を製造する上で
処理液(疎水化剤)として、例えばトリメチルメトキシ
シラン、ジメチルジメトキシシラン、メチルトリメトキ
シシラン等のシランカップリング剤に代表される有機ケ
イ素化合物を用いることがある。これら有機ケイ素化合
物は、基板上を処理液に浸漬後、液切りを行って放置す
ることでも処理を行うことができる。しかし液切り後、
例えば80℃〜150℃程度の加熱処理を施すことによ
って、基板表面での結合の定着や、未反応の化合物の蒸
発を短時間で済ますことができる。そこで、本発明の別
の目的は、こうした表面処理に有機ケイ素化合物等を用
いる場合に、より好ましい構成の表面処理装置を提供す
ることにある。
[0007] Further, as a processing liquid (hydrophobizing agent) for producing a surface conduction type electron source substrate, for example, an organosilicon compound represented by a silane coupling agent such as trimethylmethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, methyltrimethoxysilane and the like. May be used. These organic silicon compounds can also be treated by immersing the substrate in a treatment solution, draining the solution, and allowing the solution to stand. But after draining,
For example, by performing heat treatment at about 80 ° C. to 150 ° C., fixation of bonds on the substrate surface and evaporation of unreacted compounds can be completed in a short time. Therefore, another object of the present invention is to provide a surface treatment apparatus having a more preferable configuration when an organic silicon compound or the like is used for such surface treatment.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は第1に、内部に
処理液を溜めることができる処理槽と基板搬送手段とエ
アーナイフを備えた基板表面処理装置であって、処理槽
には基板搬入の為の搬入口と基板搬出の為の搬出口が設
けられており、基板搬送手段は基板を搬入口から処理槽
内に搬送する機能と、基板を処理槽内部で移動させる機
能と、基板を搬出口より処理槽外に搬送する機能を有
し、エアーナイフは処理槽の搬出口に設けられているこ
とを特徴とする基板表面処理装置である。
The present invention firstly provides a substrate surface treatment apparatus provided with a processing tank capable of storing a processing liquid therein, a substrate transfer means, and an air knife. A carry-in port for carrying in and a carry-out port for carrying out the substrate are provided, and the substrate carrying means has a function of carrying the substrate from the carry-in port into the processing bath, a function of moving the substrate inside the processing bath, The substrate is provided with a function of transporting the air from the processing port to the outside of the processing tank, and the air knife is provided at the processing port of the processing tank.

【0009】本発明の基板表面処理装置によれば、基板
を処理液より引き上げるのと同時に、基板の液切りを行
うことができる。そのため、印刷配線の形成された大き
なサイズの基板に対しても、むら無く表面処理が行え
る。
According to the substrate surface treatment apparatus of the present invention, the substrate can be drained at the same time as the substrate is pulled up from the treatment liquid. Therefore, surface treatment can be performed evenly on a large-sized substrate on which printed wiring is formed.

【0010】本発明は第2に、内部に処理液を溜めるこ
とができる処理槽と基板搬送手段とエアーナイフと基板
加熱手段を備えた基板表面処理装置であって、処理槽に
は基板搬入の為の搬入口と基板搬出の為の搬出口が設け
られており、基板搬送手段は基板を搬入口から処理槽内
に搬送する機能と、基板を処理槽内部で移動させる機能
と、基板を搬出口より処理槽外に搬送する機能と、基板
を基板加熱手段に通過させる機能を有し、エアーナイフ
は処理槽の搬出口に設けられており、基板加熱手段は処
理槽に対し基板の搬送方向後方に設けられることを特徴
とする基板表面処理装置である。
A second aspect of the present invention is a substrate surface treatment apparatus provided with a treatment tank capable of storing a treatment liquid therein, a substrate transfer means, an air knife, and a substrate heating means. A transfer port for loading and unloading the substrate is provided.The substrate transfer means has a function to transfer the substrate from the transfer port into the processing tank, a function to move the substrate inside the processing tank, and a function to transfer the substrate. It has the function of transporting the substrate out of the processing tank from the outlet and the function of passing the substrate to the substrate heating means.The air knife is provided at the exit of the processing tank. A substrate surface treatment apparatus is provided at the rear.

【0011】本発明の基板表面処理装置によれば、基板
を処理液より引き上げるのと同時に、基板の液切りを行
うことができる。そのため、印刷配線の形成された、大
きなサイズの基板に対しても、むら無く表面処理が行え
る。また基板加熱手段によって、浸漬処理に引き続いて
基板加熱を行うことができ、処理液に有機ケイ素化合物
を用いた場合に、より好ましい処理を行うことができ
る。
According to the substrate surface treatment apparatus of the present invention, the substrate can be drained at the same time as the substrate is pulled up from the treatment liquid. Therefore, surface treatment can be performed evenly on a large-sized substrate on which printed wiring is formed. Further, by the substrate heating means, the substrate can be heated subsequent to the immersion treatment, and more preferable treatment can be performed when an organosilicon compound is used as the treatment liquid.

【0012】本発明はまた、基板を有機ケイ素化合物を
含有する処理液に浸漬した後、基板を処理液より引き上
げるのと同時に、基板の液切りを行うことを特徴とする
基板の表面処理方法である。これにより、印刷配線の形
成された大きなサイズの基板に対しても、むら無く表面
処理が行える。
The present invention also provides a method for treating a surface of a substrate, comprising dipping the substrate in a treatment solution containing an organosilicon compound, removing the substrate from the treatment solution, and simultaneously draining the substrate. is there. As a result, the surface treatment can be performed evenly on a large-sized substrate on which the printed wiring is formed.

【0013】本発明はまた、基板を有機ケイ素化合物を
含有する処理液に浸漬した後、基板を処理液より引き上
げるのと同時に、基板の液切りを行い、その後基板を加
熱することを特徴とする基板の表面処理方法である。こ
れにより、印刷配線の形成された大きなサイズの基板に
対しても、むら無く表面処理が行える。また処理液に有
機ケイ素化合物を用いた場合に、より好ましい処理を行
うことができる。本発明はまた、前述の基板表面処理方
法によって製造されたことを特徴とする、表面伝導型電
子源基板である。本発明の表面伝導型電子源基板によれ
ば、均一な表面処理が行えるため、素子膜が均一に形成
できる。このため、均一な特性の表面伝導型電子源基板
が得られる。
The present invention is also characterized in that, after the substrate is immersed in a processing solution containing an organosilicon compound, the substrate is pulled up from the processing solution, and at the same time, the substrate is drained, and then the substrate is heated. This is a method for treating the surface of a substrate. As a result, the surface treatment can be performed evenly on a large-sized substrate on which the printed wiring is formed. Further, when an organosilicon compound is used for the treatment liquid, more preferable treatment can be performed. The present invention is also a surface conduction electron source substrate manufactured by the above-described substrate surface treatment method. According to the surface conduction electron source substrate of the present invention, a uniform surface treatment can be performed, so that an element film can be formed uniformly. Therefore, a surface conduction electron source substrate having uniform characteristics can be obtained.

【0014】本発明はまた、前述の表面伝導型電子源基
板を備えることを特徴とする画像形成装置である。本発
明の画像形成装置によれば、表示むらのない、画像形成
装置が得られる。
According to another aspect of the present invention, there is provided an image forming apparatus comprising the above-mentioned surface conduction electron source substrate. According to the image forming apparatus of the present invention, it is possible to obtain an image forming apparatus without display unevenness.

【0015】[0015]

【発明の実施の態様】本発明は、電子素子の形成におけ
る基板表面に設けられた機能膜形成領域に、導電性膜等
の各種機能膜を形成するための材料を含む液体、特に水
性液を適用して機能膜を形成する場合に、この機能膜形
成領域に疎水化処理剤を付与して液体の表面への適用性
を安定化あるいは改善するための表面処理に好適に適用
されるものであり、特に、画像形成装置における電子源
基板の形成におけるように表面に凹凸があり、さらに親
水性の部分と疎水性の部分とが細かく混在している場合
に特に好適である。また、この電子源基板の形成におい
て素子電極間に設けられる電子放出部を含む導電性薄膜
をインクジェット法のような液滴付与法で形成する場合
には特に好適である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention relates to a method for forming an electronic element, a method for forming a liquid containing a material for forming various functional films such as a conductive film, particularly an aqueous liquid, on a functional film forming region provided on a substrate surface. When applied to form a functional film, it is preferably applied to a surface treatment for stabilizing or improving the applicability of the liquid to the surface by applying a hydrophobizing agent to the functional film forming region. Particularly, it is particularly suitable when the surface has irregularities as in the formation of the electron source substrate in the image forming apparatus, and the hydrophilic portion and the hydrophobic portion are finely mixed. In addition, in the formation of the electron source substrate, it is particularly suitable when a conductive thin film including an electron emitting portion provided between element electrodes is formed by a droplet applying method such as an inkjet method.

【0016】以下この電子源基板の形成における場合を
代表例として本発明について説明する。
Hereinafter, the present invention will be described by taking the case of forming the electron source substrate as a representative example.

【0017】図1によって本発明の基板表面処理装置を
説明する。図1の表面処理装置10において、基板24
は電子源基板作製用のもので、例えば図6(d)の工程
を経て表面の所定部に一対の対向する素子電極が形成さ
れているものである。基板24は、搬送手段への固定や
搬送ロボットの搬送が容易な様に、基板カセット24に
保持された上で、表面処理が行われる。16は処理槽で
あり、内部には垂直に保持された基板カセットの全体が
浸る深さで処理液17を溜めることができる。処理槽1
6には、搬入口18と搬出口19がもうけてあり、搬出
口19にはエアーナイフ20、21が設けられている。
基板が処理液から引き上げられた後は、速やかにエアー
ナイフによる液切りが行われることが望ましく、エアー
ナイフ20、21の取り付け位置は、処理層内部に溜め
られた処理液17の液面に隣接していることが好まし
い。しかし、あまり接近すると、エアーナイフから噴射
された気体より、処理液が飛散する場合がある。エアー
ナイフ20、21の取り付け位置は、処理液17の液面
から2cm程度から20cm程度までの範囲が好まし
い。また処理槽16の内部には搬送手段14が設けて有
り、基板カセットを保持する為の個定位置26が複数設
けて有る。13と15は基板を処理槽外で搬送する搬送
手段である。これらにも、基板カセットを保持する為の
個定位置25、27が複数設けて有る。11、12は搬
送ロボットである。搬送ロボット11は基板カセットを
搬送手段13より掴み、処理槽16の搬入口18から内
部に入れ、搬送手段14の個定位置26に取り付ける動
作を行う。また搬送ロボット12は基板カセットを搬送
手段14より掴み、処理槽16の搬出口19から外部に
入出し、搬送手段15の個定位置27に取り付ける動作
を行う。
FIG. 1 illustrates a substrate surface treatment apparatus according to the present invention. In the surface treatment apparatus 10 of FIG.
Is for producing an electron source substrate, and has a pair of opposing device electrodes formed on a predetermined portion of the surface through, for example, the process of FIG. The substrate 24 is surface-treated after being held in the substrate cassette 24 so that the substrate 24 can be easily fixed to the transfer means or transferred by a transfer robot. Reference numeral 16 denotes a processing tank in which the processing liquid 17 can be stored at a depth at which the entire vertically held substrate cassette is immersed. Processing tank 1
6 has a carry-in port 18 and a carry-out port 19, and the carry-out port 19 is provided with air knives 20 and 21.
After the substrate is pulled out of the processing liquid, it is desirable that the liquid be removed by an air knife immediately. The mounting positions of the air knives 20 and 21 are adjacent to the liquid surface of the processing liquid 17 stored in the processing layer. Is preferred. However, when approaching too much, the processing liquid may scatter from the gas injected from the air knife. The attachment positions of the air knives 20 and 21 are preferably in a range from about 2 cm to about 20 cm from the liquid level of the processing liquid 17. The transfer means 14 is provided inside the processing tank 16, and a plurality of individual positions 26 for holding the substrate cassette are provided. 13 and 15 are transfer means for transferring the substrate outside the processing tank. These also have a plurality of individual positions 25 and 27 for holding the substrate cassette. 11 and 12 are transfer robots. The transfer robot 11 grasps the substrate cassette by the transfer unit 13, enters the inside through the transfer port 18 of the processing tank 16, and attaches the substrate cassette to the individual position 26 of the transfer unit 14. Further, the transfer robot 12 performs an operation of holding the substrate cassette by the transfer means 14, moving in and out of the processing tank 16 through the carry-out port 19, and attaching the substrate cassette to the individual position 27 of the transfer means 15.

【0018】次に図3〜4を用いて、本発明の表面処理
装置の動作を説明する。図3(a)の様に、基板は基板
カセットに保持された上で、31の位置で搬送手段13
上の個定位置に取り付けられる。そして、搬送手段13
によって、装置内部に搬送される。32の位置まで搬送
された基板カセットは、搬送ロボット11によって掴ま
れる。そして図3(b)の様に、処理槽16の搬入口よ
り処理液中に沈められ、処理槽16内部の搬送手段14
の個定位置に取り付けられる。搬送手段14を作動させ
ながら、以上の動作を繰り返すことで、図3(c)の様
に、基板カセットは34の位置まで到達する。搬送ロボ
ット12が34の位置の基板カセットを掴むと、処理槽
の搬出口に取り付けられたエアーナイフ20、21が作
動する。そして図4(a)の様に基板カセットを35の
位置まで搬出することで、基板の処理液からの引き上げ
と、液切りが同時に行われる。エアーナイフを通過させ
る時の基板の移動速度は、速すぎると十分に液切りを行
うことができない。しかし遅すぎると基板が処理液の液
面を出てから、エアーナイフに到達するまでに時間がか
かってしまい、好ましくない。エアーナイフを通過させ
る時の基板の移動速度は、0.5cm/秒程度から10
cm/秒程度までの範囲が好ましい。続いて図4(b)
の様に、搬送ロボット12は36の位置で基板カセット
を、搬送手段15上の個定位置に取り付ける。これらの
動作を繰り返し、図4(c)の様に、基板カセットが3
7の位置まで到達したら、搬送手段15より取り外さ
れ、一連の表面処理が終了する。
Next, the operation of the surface treatment apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 3A, the substrate is held in the substrate cassette, and the transfer means 13 is moved to the position 31.
It is attached to the upper fixed position. And the transport means 13
Is transported inside the apparatus. The substrate cassette transferred to the position 32 is gripped by the transfer robot 11. Then, as shown in FIG. 3B, the transfer means 14 is submerged in the processing liquid from the carrying-in port of the processing tank 16,
It is attached to a fixed position. By repeating the above operation while operating the transfer means 14, the substrate cassette reaches the position 34 as shown in FIG. When the transfer robot 12 grasps the substrate cassette at the position 34, the air knives 20, 21 attached to the carry-out port of the processing tank operate. Then, as shown in FIG. 4A, the substrate cassette is carried out to the position 35, whereby the substrate is pulled up from the processing liquid and the liquid is drained at the same time. If the moving speed of the substrate when passing through the air knife is too high, the liquid cannot be drained sufficiently. However, if it is too late, it takes time from when the substrate comes out of the surface of the processing liquid to when it reaches the air knife, which is not preferable. The moving speed of the substrate when passing through the air knife is about 0.5 cm / sec to 10
A range up to about cm / sec is preferred. Subsequently, FIG.
As described above, the transfer robot 12 attaches the substrate cassette at the position 36 to the fixed position on the transfer means 15. These operations are repeated, and as shown in FIG.
When it reaches the position 7, it is removed from the conveying means 15, and a series of surface treatments is completed.

【0019】図2は本発明の表面処理装置の別の形態を
示す図である。図2においては、図1の装置の構成に加
えて、処理槽16に対し基板の搬送方向後方に加熱室2
2が設けられている。加熱室22の内部には、加熱手段
23が設けられている。加熱手段23としては、赤外線
ヒーターや温風ヒーター等を用いることができる。
FIG. 2 is a view showing another embodiment of the surface treatment apparatus of the present invention. In FIG. 2, in addition to the configuration of the apparatus shown in FIG.
2 are provided. A heating unit 23 is provided inside the heating chamber 22. As the heating means 23, an infrared heater, a warm air heater, or the like can be used.

【0020】図2の表面処理装置の動作は、基板カセッ
トを表面処理装置にセットし、処理槽において浸漬処理
が行われ、搬送手段15に取り付けられるまでは、図3
〜4に示される通りであり、図1の表面処理装置の動作
と同様である。その後、図2の搬送手段15によって搬
送されることで、基板カセットは加熱室22を通過す
る。この間に基板は加熱手段23によって加熱処理が行
われる。そして基板カセットが搬送手段15の終端まで
到達したら、搬送手段15より取り外され、一連の表面
処理が終了する。
The operation of the surface treatment apparatus shown in FIG. 2 is the same as that shown in FIG. 3 until the substrate cassette is set in the surface treatment apparatus, immersion treatment is performed in the treatment tank, and the immersion treatment is performed.
4 to 4, which is the same as the operation of the surface treatment apparatus of FIG. Thereafter, the substrate cassette is transported by the transporting unit 15 in FIG. During this time, the substrate is subjected to a heat treatment by the heating means 23. When the substrate cassette reaches the end of the transfer means 15, the substrate cassette is removed from the transfer means 15, and a series of surface treatments is completed.

【0021】以上説明した装置では基板24の処理槽1
6内においてその被処理面が搬送方向に垂直に固定され
て処理されているが、基板の被処理面の搬送方向に対す
る向きはこれに限定されない。例えば、個定位置26に
おける固定手段による基板の固定方向を可変として、処
理効果の向上などを目的として基板の被処理面の搬送方
向に対する角度を0度(搬送方向に平行)〜90度(搬
送方向に対して垂直)の範囲から選択することができ
る。
In the apparatus described above, the processing tank 1 for the substrate 24 is used.
In 6, the processing surface is processed while being fixed perpendicular to the transport direction, but the orientation of the processing surface of the substrate with respect to the transport direction is not limited to this. For example, the direction in which the substrate is fixed by the fixing means at the individual position 26 is variable, and the angle of the surface to be processed of the substrate with respect to the transport direction is 0 degrees (parallel to the transport direction) to 90 degrees (transport) for the purpose of improving the processing effect. (Perpendicular to the direction).

【0022】また、処理槽16内には攪拌手段を設けて
処理液の基板被処理面への供給効率を向上させてもよ
い。
Further, a stirring means may be provided in the processing tank 16 to improve the efficiency of supplying the processing liquid to the surface to be processed.

【0023】電子源基板形成用の基板の表面処理におい
て導電性薄膜の形成のために基板表面を疎水化する場合
に用いる処理槽16内に充填する疎水化剤は、目的とす
る表面処理効果、すなわち基板表面に所望とする液滴付
与特性を付与できる、例えば所望とする疎水性を付与で
きる疎水化剤を含むものが用いられいる。この疎水化剤
としては種々のものが利用可能であるが、例えばトリメ
チルメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、メチ
ルトリメトキシシラン等のシランカップリング剤に代表
される有機ケイ素化合物等を含む液体を用いることがで
きる。
In the surface treatment of the substrate for forming the electron source substrate, the hydrophobizing agent filled in the processing tank 16 used for hydrophobizing the substrate surface for forming a conductive thin film has a desired surface treatment effect, That is, a material containing a hydrophobizing agent capable of imparting desired droplet imparting characteristics to the substrate surface, for example, imparting desired hydrophobicity is used. As the hydrophobizing agent, various ones can be used.For example, a liquid containing an organosilicon compound represented by a silane coupling agent such as trimethylmethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, and methyltrimethoxysilane may be used. it can.

【0024】本発明の方法を電子源基板の製造に適用す
る場合に、導電性薄膜の形成をインクジェット法により
行う場合は、例えば、特開平9−115428号公報等
に記載の方法を適用することができる。すなわち、主に
導電性を得る成分を生成させるための有機金属化合物
と、主に液体の基板表面への良好な付与特性を確保する
ためのアセチレンアルコールまたはアセチレングリコー
ルなどの有機化合物とを、水を主体とする溶媒に含有さ
せた液体をインクジェット法により液滴として一対の素
子電極の配置領域内の所定位置に付与し、乾燥、焼成
し、導電性膜、例えば50〜200Åの厚さの導電性薄
膜を得ることができる。
When the method of the present invention is applied to the manufacture of an electron source substrate, when a conductive thin film is formed by an ink jet method, for example, a method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-115428 or the like is applied. Can be. That is, an organic metal compound for mainly generating a component for obtaining conductivity and an organic compound such as acetylene alcohol or acetylene glycol for mainly securing a good property of applying a liquid to a substrate surface are mixed with water. The liquid contained in the main solvent is applied as droplets at a predetermined position in the arrangement region of the pair of element electrodes by an ink jet method, dried, and baked to form a conductive film, for example, a conductive film having a thickness of 50 to 200 mm. A thin film can be obtained.

【0025】有機金属化合物としては、金属の有機酸を
用いることができ、この有機酸としては、例えば、蟻
酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、イソ酪酸、シュウ酸、
マロン酸、コハク酸などの炭素数1〜4のカルボキシル
基を有する有機酸を挙げることができる。また、金属と
しては、白金、パラジウム、ルテニウム等の白金族元素
や、金、銅、クロム、タンタル、鉄、鉛、亜鉛、スズ、
タングステン等を挙げることができる。この有機金属化
合物はヒドロキシアルキルアミンとともに使用すること
ができる。このような形態の好ましい有機金属化合物と
しては、金属とエタノールアミン・カルボン酸錯体、例
えばエタノールアミン・酢酸パラジウム錯体を挙げるこ
とができる。液体中に含まれる金属の濃度は、適宜選択
されるが0.01重量%〜5重量%が好ましい。
As the organic metal compound, a metal organic acid can be used. Examples of the organic acid include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, isobutyric acid, oxalic acid, and the like.
Examples thereof include organic acids having a carboxyl group having 1 to 4 carbon atoms, such as malonic acid and succinic acid. As the metal, platinum, palladium, platinum group elements such as ruthenium, gold, copper, chromium, tantalum, iron, lead, zinc, tin,
Tungsten and the like can be mentioned. This organometallic compound can be used with a hydroxyalkylamine. Preferred organometallic compounds in such a form include a metal and an ethanolamine-carboxylic acid complex, for example, an ethanolamine-palladium acetate complex. The concentration of the metal contained in the liquid is appropriately selected, but is preferably 0.01% by weight to 5% by weight.

【0026】アセチレンアルコールまたはアセチレング
リコールの具体例としては、先に挙げた特開平9−11
5428号公報に記載された化合物等を用いることがで
き、その含有量は例えば0.01重量%〜5重量%とす
ることができる。
Specific examples of acetylene alcohol or acetylene glycol are disclosed in JP-A-9-11 / 1999.
Compounds described in Japanese Patent No. 5428 can be used, and the content thereof can be, for example, 0.01% by weight to 5% by weight.

【0027】水を主体とする媒体としては、水、あるい
は水に必要に応じて各種添加剤を配合したものが利用で
き、水の含有量は例えば50〜99重量%程度とされ
る。
As the medium mainly composed of water, water or a mixture of water and various additives as necessary can be used, and the content of water is, for example, about 50 to 99% by weight.

【0028】[0028]

【実施例】(実施例1)図1で示される、基板表面処理
装置を用意した。本表面処理装置において、基板は搬送
手段への固定や、搬送ロボットの搬送が容易な様に、基
板カセット24に保持された上で、表面処理が行われる
様にした。処理槽16の内部には処理液17として、ジ
メチルジメトキシシランの0.5%エタノール溶液を溜
めた。処理槽16には、搬入口18と搬出口19を設
け、搬出口19にはエアーナイフ20、21を設けた。
エアーナイフ20、21の取り付け位置は、処理液17
の液面から5cmの位置にした。また処理槽16の内部
には搬送手段14を設け、搬送手段14には基板カセッ
トを保持する為の個定位置26を複数設けた。13と1
5は基板を処理槽外で搬送する搬送手段であり、これら
にも、基板カセットを保持する為の個定位置25、27
を複数設けた。11、12は搬送ロボットである。搬送
ロボット11は基板カセットを搬送手段13より掴み、
処理槽16の搬入口18から内部に入れ、搬送手段14
の個定位置26に取り付ける動作を行う様にした。また
搬送ロボット12は基板カセットを搬送手段14より掴
み、処理槽16の搬出口から外部に入出し、搬送手段1
5の個定位置27に取り付ける動作を行う様にした。ま
た、装置の稼動スピードは、基板が処理液中に浸漬され
る時間が、5分間になる様に調整した。
(Example 1) A substrate surface treatment apparatus shown in FIG. 1 was prepared. In the present surface treatment apparatus, the substrate is held in the substrate cassette 24 and then subjected to surface treatment so that the substrate can be fixed to the transfer means or transferred easily by the transfer robot. A 0.5% ethanol solution of dimethyldimethoxysilane was stored as a processing liquid 17 in the processing tank 16. The processing tank 16 was provided with a carry-in port 18 and a carry-out port 19, and the carry-out port 19 was provided with air knives 20 and 21.
The mounting positions of the air knives 20 and 21 are
5 cm from the liquid level. Further, the transfer means 14 is provided inside the processing tank 16, and the transfer means 14 is provided with a plurality of individual positions 26 for holding the substrate cassette. 13 and 1
Reference numeral 5 denotes a transfer means for transferring the substrate outside the processing tank. These transfer means also include individual positions 25 and 27 for holding the substrate cassette.
Are provided. 11 and 12 are transfer robots. The transfer robot 11 grasps the substrate cassette by the transfer means 13 and
It is introduced into the processing tank 16 through the loading port 18,
The operation of attaching to the individual position 26 is performed. Further, the transfer robot 12 grasps the substrate cassette by the transfer means 14, enters and exits the outside through the outlet of the processing tank 16, and
The operation of attaching the device 5 to the individual fixed position 27 is performed. The operating speed of the apparatus was adjusted so that the time during which the substrate was immersed in the processing liquid was 5 minutes.

【0029】次にこの基板表面処理装置を用いて、表面
伝導型電子源基板の作製を行った。図6(a)の様にガ
ラス基板1上にスパッタリング法およびリフトオフ法を
用いて、厚み40nmのPtからなるの素子電極2、3
を形成した。次にペースト材料(ノリタケ(株)製NP
−4035C)を、スクリーン印刷の手法を用いて、基
板上に印刷し、450℃の焼成を加えることで、図6
(b)の様に印刷配線(列配線)90を形成した。印刷
配線90は素子電極2と導通がある様にした。次にペー
スト材料(ノリタケ(株)製NP−7710)を、スク
リーン印刷の手法を用いて、基板上に印刷し、570℃
の焼成を加えることで、図6(c)の様に絶縁膜85を
形成した。次にペースト材料(ノリタケ(株)製NP−
4035C)を、スクリーン印刷の手法を用いて、基板
上に印刷し、450℃の焼成を加えることで、図6
(d)の様に印刷配線91を形成した。印刷配線(行配
線)91と素子電極3は導通がある様にした。また、印
刷配線90と印刷配線91とは、絶縁膜85によって絶
縁される様にした。
Next, a surface conduction electron source substrate was manufactured using this substrate surface treatment apparatus. As shown in FIG. 6A, a device electrode 2, 3 made of Pt having a thickness of 40 nm is formed on a glass substrate 1 by a sputtering method and a lift-off method.
Was formed. Next, paste material (NP manufactured by Noritake Co., Ltd.)
-4035C) is printed on a substrate using a screen printing method, and is baked at 450 ° C. to obtain FIG.
A printed wiring (column wiring) 90 was formed as shown in FIG. The printed wiring 90 was made conductive with the element electrode 2. Next, a paste material (NP-7710 manufactured by Noritake Co., Ltd.) is printed on the substrate using a screen printing method,
By baking, an insulating film 85 was formed as shown in FIG. Next, paste material (NP- manufactured by Noritake Co., Ltd.)
4035C) is printed on a substrate using a screen printing method, and is baked at 450 ° C. to obtain FIG.
The printed wiring 91 was formed as shown in FIG. The printed wiring (row wiring) 91 and the element electrode 3 were made conductive. Further, the printed wiring 90 and the printed wiring 91 are insulated by the insulating film 85.

【0030】この様にしてできた、素子電極および印刷
配線の形成された基板を洗浄した後、用意した基板表面
処理装置によって、表面処理した。表面処理行程は図1
において説明する。まず基板を基板カセットに保持した
上で、24の位置で搬送手段13上の個定位置に取り付
けた。そして、搬送手段13によって、装置内部に搬送
した。装置内部に搬送された基板カセットは、搬送ロボ
ット11によって搬送手段13から外した。そして処理
槽16の搬入口より処理液中に沈め、搬送手段14の個
定位置に取り付けた。搬送手段14を作動させ、基板カ
セットが搬出口19の真下の位置まで到達したら、搬送
ロボット12で基板カセットを掴んだ。そして処理槽の
搬出口に取り付けられたエアーナイフ20、21を作動
した。そして基板カセットを搬出することで、基板の処
理液からの引き上げと、液切りを同時に行なった。この
時の基板の引き上げ速度は1cm/秒とすることで、良
好な液切りが行なわれていることが確認できた。また引
き上げ速度は0.5cm/秒及び10cm/秒において
も、良好な液切りが行なわれていることが確認できた。
続いて搬送ロボット12により基板カセットを、搬送手
段15上の個定位置に取り付けた。搬送手段15を作動
し、基板カセットが基板処理装置10の外部にまで到達
したら、搬送手段15より取り外し、一連の表面処理を
終了した。
After washing the substrate thus formed on which the element electrodes and the printed wiring were formed, the substrate was subjected to a surface treatment by a prepared substrate surface treatment apparatus. Figure 1 shows the surface treatment process
Will be described. First, after holding the substrate in the substrate cassette, the substrate was mounted at a position 24 on the transfer means 13 at an individual position. Then, the sheet was conveyed to the inside of the apparatus by the conveying means 13. The substrate cassette transferred into the apparatus was removed from the transfer unit 13 by the transfer robot 11. Then, it was immersed in the processing liquid from the loading port of the processing tank 16 and attached to the individual position of the transfer means 14. When the transfer means 14 was operated and the substrate cassette reached the position directly below the exit 19, the transfer robot 12 gripped the substrate cassette. Then, the air knives 20, 21 attached to the carry-out port of the processing tank were operated. Then, by taking out the substrate cassette, the substrate was pulled up from the processing liquid and the liquid was drained at the same time. By setting the substrate pulling speed at this time to 1 cm / sec, it was confirmed that good drainage was performed. Also, it was confirmed that good drainage was performed at the lifting speeds of 0.5 cm / sec and 10 cm / sec.
Subsequently, the substrate cassette was mounted on the transfer means 15 at a fixed position by the transfer robot 12. When the transfer means 15 was operated and the substrate cassette reached the outside of the substrate processing apparatus 10, the substrate cassette was removed from the transfer means 15, and a series of surface treatments was completed.

【0031】表面処理を終えた基板は、図7(a)にあ
るように、素子電極間に、バブルジェット方式の噴射装
置(キヤノン社製BJ-10V)を用い、酢酸パラジウムーエ
タノールアミン錯体アルコール水溶液を液滴9を1滴
(1ドット)づつ付与した。このとき付与された液滴は
基板上で素子電極2、3の端部をそれぞれ含む領域に図
7(a)の9’のように円形に広がって付着液滴を形成
した。
As shown in FIG. 7A, the substrate after the surface treatment is applied to a palladium acetate-ethanolamine complex alcohol using a bubble jet type jetting device (BJ-10V manufactured by Canon Inc.) between device electrodes. The aqueous solution was applied in droplets 9 one by one (one dot). At this time, the applied droplets spread in a circular shape as shown at 9 'in FIG. 7A to form adhering droplets in regions including the ends of the device electrodes 2 and 3 on the substrate.

【0032】液滴の付与後、基板を350℃で30分間
加熱処理をして図7(b)の様に酸化パラジウムからな
る導電性薄膜4を素子電極2、3を連絡する位置に形成
した。形成された導電性薄膜4を顕微鏡で観察したとこ
ろ、いずれもほぼ真円に近い円形であり、基板上でむら
なく、どの導電性薄膜も直径が等しく均一に形成されて
いることが確認できた。さらに基板の縦横の印刷配線間
に、通電処理を施して、図7(c)の様に導電性薄膜4
の中央部に電子放出部5を形成した。以上により、基板
上でむらのない表面伝導型電子源基板が形成できた。
After the application of the droplets, the substrate was heated at 350 ° C. for 30 minutes to form a conductive thin film 4 made of palladium oxide at a position where the device electrodes 2 and 3 were connected as shown in FIG. . When the formed conductive thin films 4 were observed with a microscope, it was confirmed that each of the conductive thin films 4 was almost circular in shape and almost even on the substrate, and that all the conductive thin films were formed to have the same diameter and uniformity. . Further, an electric current is applied between the printed wirings in the vertical and horizontal directions of the substrate, and the conductive thin film 4 is formed as shown in FIG.
The electron emission portion 5 was formed at the center of the. As described above, a surface conduction electron source substrate having no unevenness on the substrate was formed.

【0033】(実施例2)図2で示される、基板表面処
理装置を用意した。基板は搬送手段への固定や、搬送ロ
ボットの搬送が容易な様に、基板カセット24に保持さ
れた上で、表面処理が行われる様にした。処理槽16の
内部には処理液17として、ジメチルジメトキシシラン
の0.5%エタノール溶液を溜めた。処理槽16には、
搬入口18と搬出口19を設け、搬出口19にはエアー
ナイフ20、21を設けた。エアーナイフ20、21の
取り付け位置は、処理液17の液面から5cmの位置に
した。また処理槽16の内部には搬送手段14を設け、
搬送手段14には基板カセットを保持する為の個定位置
26を複数設けた。処理槽16に対し基板の搬送方向後
方に加熱室22を設けた。加熱室22の内部には、加熱
手段23として、赤外線ヒーターを設けた。13と15
は基板を処理槽外で搬送する搬送手段であり、とくに搬
送手段15は、加熱室22内部に基板カセットを通過さ
せる様にした。またこれら搬送手段13、15にも、基
板カセットを保持する為の個定位置25、27を複数設
けた。11、12は搬送ロボットである。搬送ロボット
11は基板カセットを搬送手段13より掴み、処理槽1
6の搬入口18から内部に入れ、搬送手段14の個定位
置26に取り付ける動作を行う様にした。また搬送ロボ
ット12は基板カセットを搬送手段14より掴み、処理
槽16の搬出口から外部に入出し、搬送手段15の個定
位置27に取り付ける動作を行う様にした。また、装置
の稼動スピードは、基板が処理液中に浸漬される時間
が、5分間になる様に調整した。また加熱室22におい
て、基板が搬送中に約120℃に加熱される様に、赤外
線ヒーターの出力を調整した。
Example 2 A substrate surface treatment apparatus shown in FIG. 2 was prepared. The substrate is held in a substrate cassette 24 and then subjected to a surface treatment so that the substrate can be easily fixed to a transfer means or transferred by a transfer robot. A 0.5% ethanol solution of dimethyldimethoxysilane was stored as a processing liquid 17 in the processing tank 16. In the processing tank 16,
A carry-in port 18 and a carry-out port 19 were provided, and the carry-out port 19 was provided with air knives 20 and 21. The mounting positions of the air knives 20 and 21 were 5 cm from the liquid surface of the processing liquid 17. Further, a transfer means 14 is provided inside the processing tank 16,
The transfer means 14 is provided with a plurality of individual positions 26 for holding the substrate cassette. A heating chamber 22 was provided behind the processing tank 16 in the substrate transport direction. An infrared heater was provided as a heating means 23 inside the heating chamber 22. 13 and 15
Is a transporting means for transporting the substrate outside the processing bath. In particular, the transporting means 15 is configured to allow the substrate cassette to pass through the heating chamber 22. In addition, a plurality of individual positions 25 and 27 for holding the substrate cassette are also provided on these transport means 13 and 15. 11 and 12 are transfer robots. The transfer robot 11 holds the substrate cassette by the transfer means 13 and
6 was inserted into the interior through the carry-in port 18 and attached to the individual position 26 of the transfer means 14. The transfer robot 12 grips the substrate cassette by the transfer means 14, enters and exits the outside through the transfer port of the processing tank 16, and mounts the substrate cassette at the individual position 27 of the transfer means 15. The operating speed of the apparatus was adjusted so that the time during which the substrate was immersed in the processing liquid was 5 minutes. In the heating chamber 22, the output of the infrared heater was adjusted so that the substrate was heated to about 120 ° C. during the transfer.

【0034】次にこの基板表面処理装置を用いて、表面
伝導型電子源基板の作製を行った。実施例1と同様の行
程により、図6(d)の様に素子電極および印刷配線の
形成された基板を製作した。基板を洗浄した後、用意し
た基板表面処理装置によって、表面処理した。表面処理
行程は図2において説明する。まず基板を基板カセット
に保持した上で、24の位置で搬送手段13上の個定位
置に取り付けた。そして、搬送手段13によって、装置
内部に搬送した。装置内部に搬送された基板カセット
は、搬送ロボット11によって搬送手段13から外し
た。そして処理槽16の搬入口より処理液中に沈め、搬
送手段14の個定位置に取り付けた。搬送手段14を作
動させ、基板カセットが搬出口19の真下の位置まで到
達したら、搬送ロボット12で基板カセットを掴んだ。
そして処理槽の搬出口に取り付けられたエアーナイフ2
0、21を作動した。そして基板カセットを搬出するこ
とで、基板の処理液からの引き上げと、液切りを同時に
行なった。この時の基板の引き上げ速度は1cm/秒と
した。続いて搬送ロボット12により基板カセットを、
搬送手段15上の個定位置27に取り付けた。続いて搬
送手段15を作動し、基板カセットを加熱室22の中に
通過させ、基板加熱を行った。そして、基板カセットが
基板処理装置10の外部にまで到達したら、搬送手段1
5より取り外し、一連の表面処理を終了した。
Next, a surface conduction electron source substrate was manufactured using this substrate surface treatment apparatus. By the same process as in Example 1, a substrate on which device electrodes and printed wiring were formed as shown in FIG. After washing the substrate, the substrate was subjected to surface treatment using a prepared substrate surface treatment apparatus. The surface treatment step will be described with reference to FIG. First, after holding the substrate in the substrate cassette, the substrate was mounted at a position 24 on the transfer means 13 at an individual position. Then, the sheet was conveyed to the inside of the apparatus by the conveying means 13. The substrate cassette transferred into the apparatus was removed from the transfer unit 13 by the transfer robot 11. Then, it was immersed in the processing liquid from the loading port of the processing tank 16 and attached to the individual position of the transfer means 14. When the transfer means 14 was operated and the substrate cassette reached the position directly below the exit 19, the transfer robot 12 gripped the substrate cassette.
And an air knife 2 attached to the carry-out port of the processing tank
0, 21 were activated. Then, by taking out the substrate cassette, the substrate was pulled up from the processing liquid and the liquid was drained at the same time. At this time, the lifting speed of the substrate was 1 cm / sec. Subsequently, the substrate cassette is moved by the transfer robot 12.
It was attached to the individual position 27 on the transfer means 15. Subsequently, the transfer means 15 was operated, the substrate cassette was passed through the heating chamber 22, and the substrate was heated. Then, when the substrate cassette reaches the outside of the substrate processing apparatus 10, the transport unit 1
5 to complete a series of surface treatments.

【0035】その後、実施例1と同様の行程で、インク
ジェット行程を経て、図7(b)の様に酸化パラジウム
からなる導電性薄膜4を形成した。形成された導電性薄
膜4を顕微鏡で観察したところ、いずれもほぼ真円に近
い円形であり、基板上でむらなく、どの導電性薄膜も直
径が等しく均一に形成されていることが確認できた。さ
らに基板の縦横の印刷配線間に、通電処理を施して、図
7(c)の様に導電性薄膜4の中央部に電子放出部5を
形成した。以上により、基板上でむらのない表面伝導型
電子源基板が形成できた。
Thereafter, a conductive thin film 4 made of palladium oxide was formed as shown in FIG. 7B through the ink jet process in the same process as in the first embodiment. When the formed conductive thin films 4 were observed with a microscope, it was confirmed that each of the conductive thin films 4 was almost circular in shape and almost even on the substrate, and that all the conductive thin films were formed to have the same diameter and uniformity. . Further, an electric current was applied between the printed wirings on the vertical and horizontal sides of the substrate to form an electron emitting portion 5 at the center of the conductive thin film 4 as shown in FIG. As described above, a surface conduction electron source substrate having no unevenness on the substrate was formed.

【0036】(実施例3)実施例2で形成された表面伝
導型電子源基板を用いて、図5に示す様な画像形成装置
を製作した。表面伝導型電子源基板をガラス材からなる
リアプレート6、支持枠7、フェースプレート(発光表
示板)100の中に収め、各部材を接着した。接着には
フリットガラスを用い、450℃に加熱して接着した。
フェースプレートの内側には、メタルバック98と、蛍
光体99が形成してあり、メタルバックに接続された高
圧端子97が画像形成装置外部に引き出される構造とし
た。また表面伝導型電子源基板上に形成された印刷配線
90、91は、画像形成装置外部に延びるX方向端子9
5、Y方向端子96に接続される構造とした。さらに不
図示の排気管を通し、真空ポンプを使って内部の空気を
排気した。内部の圧力がおよそ1×10-6Pa程度にな
ってから、内部にベンゾニトリル蒸気を分圧1.3×1
-4Paで導入し、X方向端子95およびY方向端子9
6の間にパルス電圧を印加し、30分間活性化を行っ
た。パルスは15V、1msの矩形パルスと、−15
V、1msの矩形パルスとを交替で100Hzで印加し
た。この処理は基板上に形成された電子放出部の近傍に
カーボンを堆積させ、電子放出量を増大させる為のもの
である。活性化行程の後に再び内部を十分に排気し、排
気管をガスバーナーで溶着させ、画像形成装置を完成さ
せた。この画像形成装置のメタルバック98には、高圧
端子97を通して4kVの電位を与え、X方向端子95
およびY方向端子96に画像信号を入力することで、画
像表示を行った。表示画面全面にわたって、むらのない
均一な表示が得られていることが、観察された。
Example 3 Using the surface conduction electron source substrate formed in Example 2, an image forming apparatus as shown in FIG. 5 was manufactured. The surface conduction type electron source substrate was placed in a rear plate 6, a support frame 7, and a face plate (light emitting display panel) 100 made of a glass material, and the respective members were bonded. A frit glass was used for bonding, and heated to 450 ° C. for bonding.
A metal back 98 and a phosphor 99 are formed inside the face plate, and a high voltage terminal 97 connected to the metal back is drawn out of the image forming apparatus. The printed wirings 90 and 91 formed on the surface conduction electron source substrate are connected to X-direction terminals 9 extending outside the image forming apparatus.
5. The structure was connected to the Y-direction terminal 96. Further, the inside air was exhausted using a vacuum pump through an exhaust pipe (not shown). After the internal pressure becomes about 1 × 10 −6 Pa, benzonitrile vapor is internally dispersed to a partial pressure of 1.3 × 1.
Introduced at 0 -4 Pa, X-direction terminal 95 and Y-direction terminal 9
A pulse voltage was applied during 6 to activate for 30 minutes. The pulse is a rectangular pulse of 15 V, 1 ms, and -15
V and a 1 ms rectangular pulse were alternately applied at 100 Hz. This process is for depositing carbon near the electron emitting portion formed on the substrate to increase the amount of emitted electrons. After the activation step, the inside was sufficiently evacuated again, and the exhaust pipe was welded with a gas burner to complete the image forming apparatus. A 4 kV potential is applied to the metal back 98 of this image forming apparatus through the high voltage terminal 97, and the X direction terminal 95 is applied.
An image was displayed by inputting an image signal to the Y-direction terminal 96. It was observed that uniform display without unevenness was obtained over the entire display screen.

【0037】[0037]

【発明の効果】本発明の基板表面処理装置によると、印
刷配線等の形成された、大きなサイズの基板に対して
も、むら無く表面処理が行える。また処理液に有機ケイ
素化合物等を用いた場合に、より好ましい処理を行うこ
とができる。
According to the substrate surface treating apparatus of the present invention, even a large-sized substrate on which printed wiring and the like are formed can be subjected to an even surface treatment. Further, when an organic silicon compound or the like is used for the treatment liquid, more preferable treatment can be performed.

【0038】本発明の表面伝導型電子源基板によると、
面内むらの無い、均一な特性が得られる。本発明の表面
伝導型電子源基板を備えた画像形成装置によると、表示
むらの無い、均一な表示が得られる。
According to the surface conduction electron source substrate of the present invention,
Uniform characteristics without in-plane unevenness can be obtained. According to the image forming apparatus provided with the surface conduction electron source substrate of the present invention, uniform display without display unevenness can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の基板表面処理装置の一例を示す模式図
である。
FIG. 1 is a schematic view showing one example of a substrate surface treatment apparatus of the present invention.

【図2】本発明の基板表面処理装置の他の例を示す模式
図である。
FIG. 2 is a schematic view showing another example of the substrate surface treatment apparatus of the present invention.

【図3】(a)〜(c)は本発明の基板表面処理装置の
動作を説明する模式図である。
FIGS. 3A to 3C are schematic diagrams illustrating the operation of the substrate surface treatment apparatus of the present invention.

【図4】(a)〜(c)は本発明の基板表面処理装置の
動作を説明する模式図である。
FIGS. 4A to 4C are schematic views illustrating the operation of the substrate surface treatment apparatus of the present invention.

【図5】本発明の画像形成装置を示す一部を省略した模
式図である。
FIG. 5 is a schematic view of the image forming apparatus of the present invention, with a part thereof omitted.

【図6】(a)〜(d)は表面伝導型電子放出素子の製
造過程を示す模式図である。
FIGS. 6A to 6D are schematic diagrams illustrating a process of manufacturing a surface conduction electron-emitting device.

【図7】(a)〜(c)は表面伝導型電子放出素子の製
造過程を示す模式図である。
FIGS. 7A to 7C are schematic diagrams showing a manufacturing process of the surface conduction electron-emitting device.

【図8】表面伝導型電子放出素子の製造過程を示す模式
図である。
FIG. 8 is a schematic view showing a manufacturing process of the surface conduction electron-emitting device.

【図9】従来の基板表面処理装置の例を示す模式図であ
る。
FIG. 9 is a schematic view showing an example of a conventional substrate surface treatment apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2〜3 素子電極 4 導電性薄膜 5 電子放出部 6 リアプレート 7 支持枠 8 インクジェット装置 9 液滴 9' 付着液滴 10 表面処理装置 11〜12 搬送ロボット 13〜15 搬送手段 16 処理槽 17 処理液 18 搬入口 19 搬出口 20〜21 エアーナイフ 22 加熱室 23 加熱手段 24基板カセット 25〜27 個定位置 31〜37 基板カセット 85 絶縁膜 90〜91 印刷配線 95 X方向端子 96 Y方向端子 97 高圧端子 98 メタルバック 99 蛍光体 100 フェースプレート 101 ローダ部 102〜103 基板方向変換部 104 枚葉搬送系 105 枚葉浸漬槽 106 浸漬処理部 107 リンス部 108 水洗部 109 超音波水洗部 110 乾燥部 111 アンローダー部 112 カセット 113 基板 114 搬送ローラ 115 搬送ロボット 116 基板固定位置 118 下部タンク 119 スプレーノズル 120 超音波洗浄機 121 エアーナイフ 122 他のカセット 131 基板 132〜133 素子電極 134 導電性薄膜 140 下配線 142 帯状絶縁層 144 交差部絶縁層 145 上配線 1 Substrate 2-3 Electrode 4 Conductive thin film 5 Electron emission section 6 Rear plate 7 Support frame 8 Inkjet device 9 Droplet 9 'Droplet 10 Surface treatment device 11-12 Transport robot 13-15 Transport means 16 Processing tank 17 Treatment liquid 18 Carry-in 19 Carry-out 20-21 Air knife 22 Heating chamber 23 Heating means 24 Substrate cassette 25-27 Fixed position 31-37 Substrate cassette 85 Insulating film 90-91 Print wiring 95 X-direction terminal 96 Y-direction terminal 97 High voltage terminal 98 Metal back 99 Phosphor 100 Face plate 101 Loader unit 102-103 Substrate direction conversion unit 104 Single wafer transfer system 105 Single wafer immersion tank 106 Immersion treatment unit 107 Rinse unit 108 Rinse unit 109 Ultrasonic rinsing unit 110 Drying unit 111 Unloader section 112 Cassette 113 Substrate 114 Transfer roller 115 Transfer robot 116 Substrate fixing position 118 Lower tank 119 Spray nozzle 120 Ultrasonic cleaner 121 Air knife 122 Other cassette 131 Substrate 132-133 Device electrode 134 Conductive thin film 140 Lower wiring 142 Strip-shaped insulating layer 144 Intersection insulating layer 145 Upper wiring

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 内部に処理液を溜めることができる処理
槽と、基板搬送手段と、エアーナイフとを備えた基板表
面処理装置であって、 該処理槽には基板搬入の為の搬入口と基板搬出の為の搬
出口が設けられており、該基板搬送手段は、基板を搬入
口から処理槽内に搬送する機能と、基板を処理槽内部で
移動させる機能と、基板を搬出口より処理槽外に搬送す
る機能とを有し、 該エアーナイフは該処理槽の搬出口に設けられているこ
とを特徴とする基板表面処理装置。
1. A substrate surface processing apparatus comprising: a processing tank capable of storing a processing liquid therein; a substrate transfer means; and an air knife; wherein the processing tank has a loading port for loading a substrate; A carry-out port for carrying out the substrate is provided, and the substrate carrying means has a function of carrying the substrate from the carry-in port into the processing tank, a function of moving the substrate inside the treatment tank, and a processing of the substrate from the carry-out port. A substrate surface treatment apparatus having a function of transferring the air knife outside the tank, wherein the air knife is provided at a carry-out port of the processing tank.
【請求項2】 内部に処理液を溜めることができる処理
槽と、基板搬送手段と、エアーナイフと、基板加熱手段
とを備えた基板表面処理装置であって、 該処理槽には基板搬入の為の搬入口と基板搬出の為の搬
出口が設けられており、該基板搬送手段は、基板を搬入
口から処理槽内に搬送する機能と、基板を処理槽内部で
移動させる機能と、基板を搬出口より処理槽外に搬送す
る機能と、基板を基板加熱手段に通過させる機能とを有
し、 該エアーナイフは該処理槽の搬出口に設けられており、 該基板加熱手段は該処理槽に対し基板の搬送方向後方に
設けられることを特徴とする基板表面処理装置。
2. A substrate surface processing apparatus comprising: a processing tank capable of storing a processing liquid therein; a substrate transporting unit; an air knife; and a substrate heating unit. And a carry-out port for carrying out the substrate. The substrate carrying means has a function of carrying the substrate from the carry-in port into the processing tank, a function of moving the substrate inside the processing tank, and a function of Has a function of transporting the substrate out of the processing tank from the carry-out port, and a function of passing the substrate to the substrate heating means. The air knife is provided at the carry-out port of the processing tank, and the substrate heating means A substrate surface treatment apparatus provided behind a tank in the direction of substrate transport.
【請求項3】 前記基板が電子素子の形成用であり、そ
の基板表面が機能膜形成用領域を含む請求項1または2
に記載の基板表面処理装置。
3. The substrate according to claim 1, wherein the substrate is for forming an electronic element, and the surface of the substrate includes a region for forming a functional film.
A substrate surface treatment apparatus according to any one of claims 1 to 4.
【請求項4】 前記電子素子が、絶縁基板上に、一対の
素子電極間を連絡し、電子放出部を有する導電性膜と、
交差部が絶縁膜を介して交差し、互いに絶縁された行方
向配線と列方向配線と、を有し、前記一対の素子電極の
一方が前記行方向配線に、他方が前記列方向配線に接続
する電子源基板であり、 前記機能膜が前記導電性膜であり、 更に前記機能膜形成用領域が前記行方向配線と列方向配
線で区画された前記一対の素子電極が配置された領域で
あり、 かつ前記行方向配線、前記列方向配線及びこれらの配線
の絶縁性を確保するための絶縁膜の少なくとも1つが印
刷法により形成されている請求項3に記載の基板表面処
理装置。
4. An electronic device, comprising: a conductive film on an insulating substrate, which communicates between a pair of device electrodes and has an electron emission portion;
Intersecting portions intersect via an insulating film, and have a row direction wiring and a column direction wiring that are insulated from each other, and one of the pair of element electrodes is connected to the row direction wiring and the other is connected to the column direction wiring. An electron source substrate, wherein the functional film is the conductive film, and the functional film forming region is a region in which the pair of element electrodes partitioned by the row direction wiring and the column direction wiring are arranged. 4. The substrate surface treatment apparatus according to claim 3, wherein at least one of the row-directional wiring, the column-directional wiring, and an insulating film for ensuring insulation of these wirings is formed by a printing method.
【請求項5】 前記処理液が、疎水化剤を含む請求項1
〜4のいずれかに記載の基板表面処理装置。
5. The treatment liquid according to claim 1, wherein the treatment liquid contains a hydrophobizing agent.
A substrate surface treatment apparatus according to any one of claims 1 to 4.
【請求項6】 前記疎水化剤が有機ケイ素化合物である
請求項5に記載の基板表面処理装置。
6. The substrate surface treatment apparatus according to claim 5, wherein the hydrophobizing agent is an organosilicon compound.
【請求項7】 基板を疎水化剤を含有する処理液に浸漬
した後、基板を処理液より引き上げるのと同時に、基板
の液切りを行うことを特徴とする基板の表面処理方法。
7. A method for treating a surface of a substrate, comprising: immersing a substrate in a treatment liquid containing a hydrophobizing agent; and removing the substrate at the same time as lifting the substrate from the treatment liquid.
【請求項8】 基板を疎水化剤を含有する処理液に浸漬
した後、基板を処理液より引き上げるのと同時に、基板
の液切りを行い、その後基板を加熱することを特徴とす
る基板の表面処理方法。
8. The surface of a substrate, wherein the substrate is dipped in a processing solution containing a hydrophobizing agent, and then the substrate is pulled up from the processing solution, and at the same time, the substrate is drained, and then the substrate is heated. Processing method.
【請求項9】 前記疎水化剤が有機ケイ素化合物である
請求項7または8に記載の表面処理方法。
9. The surface treatment method according to claim 7, wherein the hydrophobizing agent is an organosilicon compound.
【請求項10】 前記基板が電子素子の形成用であり、
その基板表面が機能膜形成用領域を含む請求項7〜9の
いずれかに記載の表面処理方法。
10. The substrate for forming an electronic element,
The surface treatment method according to claim 7, wherein the substrate surface includes a region for forming a functional film.
【請求項11】 前記電子素子が、絶縁基板上に、一対
の素子電極間を連絡し、電子放出部を有する導電性膜
と、交差部が絶縁膜を介して交差し、互いに絶縁された
行方向配線と列方向配線と、を有し、前記一対の素子電
極の一方が前記行方向配線に、他方が前記列方向配線に
接続する電子源基板であり、 前記機能膜が前記導電性膜であり、 更に前記機能膜形成用領域が前記行方向配線と列方向配
線で区画された前記一対の素子電極が配置された領域で
あるかつ前記行方向配線、前記列方向配線及びこれらの
配線の絶縁性を確保するための絶縁膜の少なくとも1つ
が印刷法により形成されている請求項10に記載の表面
処理方法。
11. A row in which said electronic element communicates between a pair of element electrodes on an insulating substrate, and a conductive film having an electron emitting portion, and a crossing portion intersected by an insulating film and insulated from each other. An electron source substrate having a direction wiring and a column direction wiring, wherein one of the pair of element electrodes is connected to the row direction wiring and the other is connected to the column direction wiring, and the functional film is the conductive film. The functional film formation region is a region where the pair of element electrodes partitioned by the row direction wiring and the column direction wiring are arranged, and the row direction wiring, the column direction wiring, and insulation of these lines are provided. The surface treatment method according to claim 10, wherein at least one of the insulating films for securing the property is formed by a printing method.
【請求項12】 絶縁基板上に、一対の素子電極間を連
絡し、電子放出部を有する導電性膜と、交差部が絶縁膜
を介して交差し、互いに絶縁された行方向配線と列方向
配線と、を、前記一対の素子電極の一方が前記行方向配
線に、他方が前記列方向配線に接続させて設けた電子源
基板の製造方法において、 絶縁基板上に、交差部が絶縁膜を介して交差し、互いに
絶縁された行方向配線と列方向配線とを設ける工程と、 これら行方向配線と列方向配線とで区画された領域内に
一対の素子電極を、それらの一方が前記行方向配線に、
他方が前記列方向配線に接続して配置する工程と、 前記素子電極が設けられた絶縁基板の表面を請求項11
に記載の表面処理方法により前記処理液として疎水化剤
を含む処理液を用いて処理する工程と、 前記表面処理後の前記一対の素子電極間に、これらの素
子電極を連絡し、電子放出部を有する導電性膜を設ける
工程とを有することを特徴とする電子源基板の製造方
法。
12. A conductive film having a pair of device electrodes on an insulating substrate, the conductive film having an electron emitting portion, and a crossing portion intersected by an insulating film and intersecting with each other in a row direction wiring and a column direction. A method of manufacturing an electron source substrate in which one of the pair of element electrodes is connected to the row-direction wiring and the other is connected to the column-direction wiring. Providing a row direction wiring and a column direction wiring that intersect with each other and insulated from each other; and forming a pair of element electrodes in a region defined by the row direction wiring and the column direction wiring, one of which is provided in the row. For directional wiring,
The other is connected to the column-directional wiring and disposed, and the surface of the insulating substrate provided with the element electrode is provided.
A step of treating with a treatment liquid containing a hydrophobizing agent as the treatment liquid according to the surface treatment method described in the above, and connecting the device electrodes between the pair of device electrodes after the surface treatment, thereby forming an electron emission portion. Providing a conductive film having the following formula:
【請求項13】 請求項12に記載の製造方法により得
られた表面伝導型電子源基板を備えることを特徴とする
画像形成装置。
13. An image forming apparatus comprising a surface conduction electron source substrate obtained by the manufacturing method according to claim 12.
JP5068199A 1999-02-26 1999-02-26 Substrate surface treatment device and method, surface conduction type electron source substrate and image forming device Pending JP2000247437A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5068199A JP2000247437A (en) 1999-02-26 1999-02-26 Substrate surface treatment device and method, surface conduction type electron source substrate and image forming device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5068199A JP2000247437A (en) 1999-02-26 1999-02-26 Substrate surface treatment device and method, surface conduction type electron source substrate and image forming device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000247437A true JP2000247437A (en) 2000-09-12

Family

ID=12865681

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5068199A Pending JP2000247437A (en) 1999-02-26 1999-02-26 Substrate surface treatment device and method, surface conduction type electron source substrate and image forming device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000247437A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100375279B1 (en) Production processes of printed substrate, electron-emitting element, electron source and image-forming apparatus
US6821551B2 (en) Method of manufacturing electron-emitting device, electron source and image-forming apparatus
JP2003133692A (en) Method and device for forming film pattern, film structure, electro-optical device, electronic equipment, and non-contact card medium obtained by the method and device
US20040082163A1 (en) Film formation method as well as device manufactured by employing the same, and method of manufacturing device
CN1323420C (en) Process of surface treatment, surface treating device, surface treated plate, and electro-optic device
KR100738880B1 (en) Image display apparatus
CN1248556C (en) Underlying pattern forming material for electrode and wiring material absorption and application thereof
JP2010153193A (en) Zinc oxide film forming method and zinc oxide film forming device
US7314768B2 (en) Formation method of electroconductive pattern, and production method of electron-emitting device, electron source, and image display apparatus using this
JP2000246190A (en) Substrate washer and washing method, surface conduction type electron source substrate, and image forming device
JP2000247437A (en) Substrate surface treatment device and method, surface conduction type electron source substrate and image forming device
US7749558B2 (en) Electron emitting device manufacture method and image display apparatus manufacture method
CN1763889A (en) Method of manufacturing electroconductive member pattern, and methods of manufacturing electron source and image displaying apparatus each using the same
JP2000246191A (en) Substrate surface treating device and method, surface conducting type electron source substrate, and image forming device
JP2004152651A (en) Surface conduction type electron emission element and manufacturing method of image forming device
CN1744796B (en) Method for producing electroconductive pattern and use thereof
JP3397569B2 (en) Surface conduction electron-emitting device, method of manufacturing the same, electron source equipped with the electron-emitting device, and image forming apparatus
JP4115360B2 (en) Method for manufacturing electron-emitting device and method for manufacturing image display device
JP2000246188A (en) Substrate washing method and manufacture of electron source, image forming device
JP4659256B2 (en) Metal composition for manufacturing electron-emitting device, and method for manufacturing electron-emitting device using the same
US6551442B2 (en) Method of producing semiconductor device and system for producing the same
JP2000251670A (en) Electron emission element, electron source, image forming device, manufacture of them and electron source manufacturing device
JP2001170582A (en) Ultrasonic treatment apparatus and manufacture of electronic part using the same
JP2002313223A (en) Ink jet device, manufacturing method of electron emitting element, electron source, and imaging device using the same
JPH09148095A (en) Plasma cleaning device, plasma cleaning method, and circuit module