JP2000235789A - Memory controller - Google Patents

Memory controller

Info

Publication number
JP2000235789A
JP2000235789A JP11036803A JP3680399A JP2000235789A JP 2000235789 A JP2000235789 A JP 2000235789A JP 11036803 A JP11036803 A JP 11036803A JP 3680399 A JP3680399 A JP 3680399A JP 2000235789 A JP2000235789 A JP 2000235789A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
refresh
address
refreshes
cycle
tref
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11036803A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masayuki Hirabayashi
正幸 平林
Masakazu Ikeda
政和 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP11036803A priority Critical patent/JP2000235789A/en
Publication of JP2000235789A publication Critical patent/JP2000235789A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dram (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent wasteful power consumption and reduction of a bandwidth due to excessive refreshes by allowing this controller to have a refresh counter counting a cycle shorter than a refresh cycle which is stipulated in a DRAM and an address storage circuit storing addresses accessed in a fixed time and performing refreshes while excluding these addresses. SOLUTION: When data access is not performed, a timing control circuit 2 performs collective refreshes in the proportion of one time to two times of a timing signal which is to be outputted by a refresh counter 4 and whose cycle is 1/2 of a refresh cycle (tREF) which is stipulated in the DRAM. When data access is performed during tREF/2 just before the collective refreshes are to be performed, a Row address storage circuit 5 stores these Row addresses. The timing control circuit 2 performs refreshes by excluding refreshes of these Row addresses at the time of performing the collective refreshes.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はメモリセルの記憶デ
ータを保持するために定期的なリフレッシュを必要とす
るメモリの制御装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a control device for a memory that requires periodic refreshing to hold data stored in a memory cell.

【0002】[0002]

【従来の技術】メモリはその機能から、主にROM(R
ead Only Memory)とRAM(Rand
om Access Memory)の2つの形式に分
けられる。さらに、RAMは大別するとSRAM(St
atic RAM)とDRAM(Dynamic RA
M)の2つの種類になる。DRAMは、1個のトランジ
スタと1個のコンデンサの2素子からなるシンプルなメ
モリ構造のため高集積化に適しており、SRAMに比べ
て低価格が実現できる。このため、パソコン、ワークス
テーション、大型計算機等の主記憶あるいは画像メモリ
等に多量に使用されている。
2. Description of the Related Art Due to their functions, memories are mainly ROM (R
ead Only Memory) and RAM (Rand)
om Access Memory). Furthermore, RAM is roughly classified into SRAM (St)
atomic RAM) and DRAM (Dynamic RA)
M). A DRAM is suitable for high integration because of a simple memory structure including two elements, one transistor and one capacitor, and can be realized at a lower price than an SRAM. For this reason, it is widely used in main memories or image memories of personal computers, workstations, large computers, and the like.

【0003】DRAMのメモリセルの情報はコンデンサ
に電荷として蓄積されるため、一定時間内に再書き込み
(リフレッシュ)が必要となる。DRAMのリフレッシ
ュは規定された時間tREF(リフレッシュ周期)内に
すべてのワード線をアクセスすることにより行われる。
このリフレッシュ周期tREFとワード線の数(リフレ
ッシュサイクル数に相当する)は品種によって決まって
いる。例えばデータバス幅が16ビットの4MビットD
RAMでは8ms以内に512リフレッシュサイクルを
行う必要がある。
Since information in a DRAM memory cell is stored as an electric charge in a capacitor, it needs to be rewritten (refreshed) within a predetermined time. The DRAM is refreshed by accessing all the word lines within a specified time tREF (refresh cycle).
The refresh cycle tREF and the number of word lines (corresponding to the number of refresh cycles) are determined depending on the product type. For example, a 4 Mbit D having a data bus width of 16 bits
In the RAM, it is necessary to perform 512 refresh cycles within 8 ms.

【0004】このリフレッシュサイクルを実行する方式
としては、tREF(8ms)毎にリフレッシュを連続
して行う集中リフレッシュ方式とtREF(8ms)/
512≒15.6μs毎に1サイクルずつ行う分散リフ
レッシュ方式等がある。図5(a)に集中リフレッシュ
方式、(b)に分散リフレッシュ方式のタイミングチャ
ートを示す。
[0004] As a method of executing this refresh cycle, a concentrated refresh method in which refresh is continuously performed every tREF (8 ms) and a method of performing tREF (8 ms) /
There is a distributed refresh method in which one cycle is performed every 512 ≒ 15.6 μs. FIG. 5A is a timing chart of the centralized refresh method, and FIG. 5B is a timing chart of the distributed refresh method.

【0005】さらに、それぞれのリフレッシュ方式に
は、RAS(Row AddressStrobe)に
同期してRowアドレスを入力することによりリフレッ
シュを行うRASオンリリフレッシュ、CAS(Col
umn Address Strobe)をRASより
前に立ち下げることによりリフレッシュを行うCASビ
フォアRASリフレッシュ、CASをRASより前に立
ち下げ、CASロー状態を100μs以上保持すること
により、リフレッシュモードに入るセルフリフレッシュ
等のモードがある。
Further, each refresh method includes a RAS only refresh in which a refresh is performed by inputting a Row address in synchronization with a RAS (Row Address Strobe), and a CAS (Col).
a CAS before RAS, a CAS before RAS, and a CAS low state for more than 100 μs to enter a refresh mode, such as a self-refresh mode. There is.

【0006】このうちセルフリフレッシュは一定周期で
DRAM自身がリフレッシュを行うモードであるが、こ
の間アクセスができなくなるためシステムスタンバイ等
に用いられ、通常使用時にはRASオンリリフレッシュ
あるいはCASビフォアRASリフレッシュが用いられ
る。
[0006] Of these, self-refresh is a mode in which the DRAM itself refreshes at a fixed cycle. During this time, access is disabled, so that it is used for system standby or the like.

【0007】RASオンリリフレッシュはワード線の選
択(Rowアドレスによって行われる)さえ行えば良
く、Columnアドレスを入力する必要はない。CA
SビフォアRASリフレッシュはDRAM内部のリフレ
ッシュアドレスカウンタを使用するためRowアドレス
の入力も必要ないが、RASオンリリフレッシュのよう
に自由にリフレッシュアドレスを選択することはできな
い。
The RAS only refresh only needs to select a word line (performed by a Row address), and does not need to input a Column address. CA
Since the S-before-RAS refresh uses a refresh address counter inside the DRAM, no input of a Row address is required, but a refresh address cannot be freely selected unlike the RAS only refresh.

【0008】DRAMからデータを読み出す場合は、R
owアドレスを指定して該当するデータをメモリセルか
ら一旦センスアンプに読み出して増幅し、さらに指定さ
れたColumnアドレスのデータのみ外部に出力す
る。同時にセンスアンプに読み出されて増幅されたデー
タはメモリセルに再度書き戻される。また、DRAMに
データを書き込む場合は、Rowアドレスを指定して該
当するデータをメモリセルから一旦センスアンプに読み
出して増幅し、さらに指定されたColumnアドレス
にのみ外部から入力されたデータに置き換え、その他の
データと共に、メモリセルに再度書き戻される。
When data is read from the DRAM, R
An ow address is designated, the corresponding data is once read out from the memory cell to the sense amplifier, amplified, and only the data of the designated Column address is output to the outside. At the same time, the data read and amplified by the sense amplifier is written back to the memory cell again. When writing data to a DRAM, a row address is designated and the corresponding data is temporarily read from a memory cell to a sense amplifier, amplified, and further replaced with data externally input only to a designated column address. Is written back into the memory cell together with the data.

【0009】これに対して、リフレッシュはDRAMの
各メモリセルのコンデンサからデータが失われる前に、
このデータを一旦センスアンプに読み出して増幅し、再
度書き戻す。すなわち、リフレッシュはデータの書き換
えや出力を除けばデータ読み出し、書き込みと全く同じ
動作である。
On the other hand, the refresh operation is performed before data is lost from the capacitor of each memory cell of the DRAM.
This data is once read out to the sense amplifier, amplified, and written back again. That is, refreshing is exactly the same operation as data reading and writing except for data rewriting and output.

【0010】このため画像メモリとして使用される場合
等、一定時間内に全てのRowアドレスをアクセスする
システムの場合はリフレッシュは必ずしも必要ではな
く、省略することがある。図6にDRAMのデータアク
セスとRASオンリリフレッシュのタイミングチャート
を示す。
For this reason, in the case of a system in which all Row addresses are accessed within a certain period of time, such as when it is used as an image memory, refresh is not always necessary and may be omitted. FIG. 6 shows a timing chart of DRAM data access and RAS only refresh.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】リフレッシュはワード
線やビット線の充放電を繰り返す処理であるため、でき
るだけリフレッシュ周期が長い方が消費電力は少なくな
る。また、DRAMのバンド幅(一定時間当たりのデー
タ転送能力)の低下を防ぐため、可能であればリフレッ
シュを省略することが望ましいが、一定時間内に全ての
Rowアドレスをアクセスするシステムの場合でなけれ
ばリフレッシュを省略できないという問題があった。
Since refresh is a process of repeating charging and discharging of word lines and bit lines, the longer the refresh cycle, the lower the power consumption. Further, in order to prevent a decrease in the bandwidth of the DRAM (data transfer capability per fixed time), it is desirable to omit the refresh if possible. There is a problem that refresh cannot be omitted.

【0012】本発明の目的は、一定時間内に全てのRo
wアドレスをアクセスするシステムではない場合でも、
メモリのリフレッシュを行う際に一定時間内にアクセス
されたアドレスを除外することにより、過剰なリフレッ
シュによる無駄な電力の消費とバンド幅の低下を防ぐメ
モリ制御装置を提供することにある。
It is an object of the present invention to provide a method in which all Ro
Even if the system does not access the w address,
An object of the present invention is to provide a memory control device that prevents unnecessary power consumption and bandwidth reduction due to excessive refresh by excluding addresses accessed within a predetermined time when refreshing a memory.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記した課題を解決する
ために、本発明のメモリ制御装置ではDRAMに規定さ
れたリフレッシュ周期よりも短い周期をカウントするリ
フレッシュカウンタと一定時間内にアクセスされたアド
レス記憶するアドレス記憶回路を有し、そのアドレスを
除外してリフレッシュを行う。
In order to solve the above-mentioned problems, in the memory control device of the present invention, a refresh counter for counting a cycle shorter than a refresh cycle specified in a DRAM and an address accessed within a predetermined time are provided. It has an address storage circuit for storing, and refresh is performed excluding the address.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明のメモリ制御装置の
実施例を図を参照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a memory control device according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】図1は本発明の第1の実施例であるメモリ
制御装置を示すブロック図である。図1において、1は
メモリ制御回路であり、タイミング制御回路2、アドレ
ス生成回路3、リフレッシュカウンタ4、Rowアドレ
ス記憶回路5で構成される。タイミング制御回路2はD
RAM制御信号RAS(Row Address St
robe)、CAS(Column Address
Strobe)、WE(Write Enable)に
よるDRAMの制御を行う。
FIG. 1 is a block diagram showing a memory control device according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a memory control circuit, which includes a timing control circuit 2, an address generation circuit 3, a refresh counter 4, and a row address storage circuit 5. The timing control circuit 2 has D
RAM control signal RAS (Row Address St)
probe), CAS (Column Address)
(Strobe) and WE (Write Enable).

【0016】アドレス生成回路3はDRAMに対する書
き込み、読み出しアドレス、およびリフレッシュアドレ
スの生成を行う。リフレッシュカウンタ4はDRAM規
定のリフレッシュ周期tREFの1/2であるtREF
/2のカウントを行う。Rowアドレス記憶回路5はア
ドレスデコーダ6とフラグレジスタ7で構成され、一定
時間内にアクセスが行われたすべてのRowアドレスの
フラグを立てて記憶する。
The address generation circuit 3 generates a write address, a read address, and a refresh address for the DRAM. The refresh counter 4 is tREF which is の of the refresh period tREF specified by the DRAM.
/ 2 is counted. The row address storage circuit 5 includes an address decoder 6 and a flag register 7, and sets and stores flags of all row addresses accessed within a predetermined time.

【0017】データアクセスが行われていない時、タイ
ミング制御回路2はリフレッシュカウンタ4により出力
されるtREF/2周期のタイミング信号の2回に1回
の割合で集中リフレッシュを行う。すなわち、リフレッ
シュ周期はtREFとなる。リフレッシュアドレスはア
ドレス生成回路3により生成される。
When data access is not being performed, the timing control circuit 2 performs intensive refresh once every two times of the timing signal of tREF / 2 cycle output from the refresh counter 4. That is, the refresh cycle is tREF. The refresh address is generated by the address generation circuit 3.

【0018】ここで、この集中リフレッシュが行われる
直前のtREF/2間にデータアクセスが行われなかっ
た場合は、そのまま2回に1回の割合で集中リフレッシ
ュを行う。図2(a)にタイミングチャートを示す。
Here, if data access is not performed during tREF / 2 immediately before the concentrated refresh is performed, the concentrated refresh is performed once every two times. FIG. 2A shows a timing chart.

【0019】この集中リフレッシュが行われる直前のt
REF/2間にデータアクセスが行われた場合は、Ro
wアドレス記憶回路5がそのすべてのRowアドレスの
フラグを立てて記憶する。タイミング制御回路2は集中
リフレッシュを行う際にそのRowアドレスのリフレッ
シュを除いてリフレッシュを行い、tREF/2後にそ
のRowアドレスのリフレッシュのみを行う。ここで、
tREF/2の間に再びデータアクセスが行われた場合
はリフレッシュは行わない。
T immediately before the concentrated refresh is performed
When data access is performed during REF / 2, Ro
The w address storage circuit 5 sets and flags all the Row addresses. When performing the concentrated refresh, the timing control circuit 2 performs the refresh except for the refresh of the Row address, and performs only the refresh of the Row address after tREF / 2. here,
If data access is performed again during tREF / 2, refresh is not performed.

【0020】その結果、リフレッシュ回数を削減するこ
とができ、データアクセスが行われてから次にリフレッ
シュが行われるまでの時間tREF’はtREF以下を
満足する。以後、そのRowアドレスのデータアクセス
が行われるまでtREF周期でリフレッシュを行う。こ
のように、あるRowアドレスのデータアクセスが行わ
れると、以後そのRowアドレスがリフレッシュされる
場合は、他のリフレッシュと異なるタイミングでリフレ
ッシュされることになるが、常にtREF周期は保たれ
る。図2(b)にタイミングチャートを示す。
As a result, the number of times of refresh can be reduced, and the time tREF ′ from the time of data access until the next refresh is performed satisfies tREF or less. Thereafter, the refresh is performed in the tREF cycle until the data access of the Row address is performed. As described above, when data access of a certain Row address is performed, when that Row address is subsequently refreshed, it is refreshed at a different timing from other refreshes, but the tREF cycle is always maintained. FIG. 2B shows a timing chart.

【0021】なお、上記実施例のRowアドレス記憶回
路5はアドレスデコーダ6とフラグレジスタ7で構成さ
れており、一定時間内にアクセスが行われたすべてのR
owアドレスのフラグを立てて記憶するものであるが、
言うまでもなくRowアドレス記憶回路5はRowアド
レスそのものを記憶しても良い。また、リフレッシュカ
ウンタ4の周期をDRAM規定のリフレッシュ周期tR
EFの1/2とした場合の例を示したが、リフレッシュ
カウンタ4の周期はtREF以下であればどのような値
でも良い。さらに、上記実施例ではデータアクセスが1
回の例を示したが、データアクセスは何回でも良い。
Note that the row address storage circuit 5 of the above embodiment comprises an address decoder 6 and a flag register 7, and all the R addresses accessed within a certain period of time.
The ow address flag is set and stored.
Needless to say, the row address storage circuit 5 may store the row address itself. Further, the cycle of the refresh counter 4 is set to a refresh cycle tR specified by the DRAM.
Although an example in the case of と し た of EF has been described, the cycle of the refresh counter 4 may be any value as long as it is equal to or less than tREF. Further, in the above embodiment, data access is 1
Although the example of the number of times has been described, any number of data accesses may be performed.

【0022】以上のような構成の本発明第1の実施例で
は、メモリの集中リフレッシュを行う際に一定時間内に
アクセスされたアドレスを除外することにより、過剰な
リフレッシュによる無駄な電力の消費とバンド幅の低下
を防ぐことができる。
In the first embodiment of the present invention having the above-described configuration, when performing the concentrated refresh of the memory, the addresses accessed within a predetermined time are excluded, so that unnecessary power consumption due to excessive refresh is reduced. Bandwidth can be prevented from lowering.

【0023】図3は本発明の第2の実施例であるメモリ
制御装置を示すブロック図である。図3において、8は
メモリ制御回路であり、タイミング制御回路9、アドレ
ス生成回路3、リフレッシュカウンタ10、Rowアド
レス記憶回路5で構成される。タイミング制御回路9は
DRAM制御信号RAS,CAS,WEによるDRAM
の制御を行う。アドレス生成回路3はDRAMに対する
書き込み、読み出しアドレス、およびリフレッシュアド
レスの生成を行う。リフレッシュカウンタ10はDRA
M規定の分散リフレッシュ周期tREF/512の1/
2である(tREF/512)/2のカウントを行う。
Rowアドレス記憶回路5は一定時間内にアクセスが行
われたすべてのRowアドレスのフラグを立てて記憶す
る。
FIG. 3 is a block diagram showing a memory control device according to a second embodiment of the present invention. In FIG. 3, reference numeral 8 denotes a memory control circuit, which comprises a timing control circuit 9, an address generation circuit 3, a refresh counter 10, and a Row address storage circuit 5. The timing control circuit 9 controls the DRAM based on the DRAM control signals RAS, CAS, and WE.
Control. The address generation circuit 3 generates a write address, a read address, and a refresh address for the DRAM. Refresh counter 10 is DRA
M prescribed distributed refresh cycle tREF / 512 1 /
2 (tREF / 512) / 2 is counted.
The row address storage circuit 5 sets and stores flags of all row addresses accessed within a predetermined time.

【0024】データアクセスが行われていない時、タイ
ミング制御回路9はリフレッシュカウンタ10により出
力される(tREF/512)/2周期のタイミング信
号の2回に1回の割合で分散リフレッシュを行う。すな
わち、分散リフレッシュの周期はtREF/512とな
り、各Rowアドレス単位でのリフレッシュの周期はt
REFとなる。リフレッシュアドレスはアドレス生成回
路3により生成される。
When data access is not being performed, the timing control circuit 9 performs distributed refreshing once every two times of the (tREF / 512) / 2 cycle timing signal output from the refresh counter 10. That is, the cycle of the distributed refresh is tREF / 512, and the cycle of the refresh in each Row address unit is tREF / 512.
REF. The refresh address is generated by the address generation circuit 3.

【0025】ここで、各Rowアドレスのリフレッシュ
が行われる直前のtREF/2間にデータアクセスが行
われなかった場合は、そのまま2回に1回の割合で分散
リフレッシュを行う。図4(a)にタイミングチャート
を示す。
Here, if data access is not performed during tREF / 2 immediately before the refresh of each Row address is performed, the distributed refresh is performed as it is once every two times. FIG. 4A shows a timing chart.

【0026】このリフレッシュが行われる直前のtRE
F/2間にデータアクセスが行われた場合は、Rowア
ドレス記憶回路5がそのRowアドレスのフラグを立て
て記憶する。タイミング制御回路9は分散リフレッシュ
を行う際にそのRowアドレスのリフレッシュを除いて
リフレッシュを行い、tREF/2後にそのRowアド
レスのリフレッシュのみを行う。ここで、tREF/2
の間に再びデータアクセスが行われた場合はリフレッシ
ュは行わない。
TRE immediately before the refresh is performed
When data access is performed during F / 2, the row address storage circuit 5 sets a flag of the row address and stores the flag. When performing the distributed refresh, the timing control circuit 9 performs the refresh except for the refresh of the Row address, and performs only the refresh of the Row address after tREF / 2. Here, tREF / 2
If the data is accessed again during this time, no refresh is performed.

【0027】その結果リフレッシュ回数を削減すること
ができ、データアクセスが行われてから次にリフレッシ
ュが行われるまでの時間tREF’はtREF以下を満
足することが可能である。以後、そのRowアドレスの
データアクセスが行われるまでtREF周期でリフレッ
シュを行う。このように、あるRowアドレスのデータ
アクセスが行われると、以後そのRowアドレスがリフ
レッシュされる場合は、それまでのリフレッシュと異な
るタイミングでリフレッシュされることになるが、常に
tREF周期は保たれる。図4(b)にタイミングチャ
ートを示す。
As a result, the number of times of refresh can be reduced, and the time tREF ′ from data access to the next refresh can satisfy tREF or less. Thereafter, the refresh is performed in the tREF cycle until the data access of the Row address is performed. As described above, when data access of a certain Row address is performed, when the Row address is refreshed thereafter, the refresh is performed at a timing different from that of the previous refresh, but the tREF cycle is always maintained. FIG. 4B shows a timing chart.

【0028】なお、上記実施例のRowアドレス記憶回
路5はアドレスデコーダ6とフラグレジスタ7で構成さ
れており、一定時間内にアクセスが行われたすべてのR
owアドレスのフラグを立てて記憶するものであるが、
言うまでもなくRowアドレス記憶回路5はRowアド
レスそのものを記憶しても良い。また、リフレッシュカ
ウンタ10の周期をDRAM規定のリフレッシュ周期t
REFの1/512のさらに1/2とした場合の例を示
したが、リフレッシュカウンタ10の周期はtREF/
512以下であればどのような値でも良い。さらに、実
施例ではデータアクセスが1回の例を示したが、データ
アクセスは何回でも良い。
The row address storage circuit 5 of the above embodiment is composed of an address decoder 6 and a flag register 7, and all the R addresses accessed within a certain time are used.
The ow address flag is set and stored.
Needless to say, the row address storage circuit 5 may store the row address itself. Further, the cycle of the refresh counter 10 is set to a refresh cycle t specified by the DRAM.
Although an example in which 1/2 of REF is set to 1/2 is shown, the cycle of the refresh counter 10 is tREF /
Any value may be used as long as it is 512 or less. Further, in the embodiment, the example in which the data access is performed once is shown, but the data access may be performed any number of times.

【0029】以上のような構成の本発明第2の実施例で
は、メモリの分散リフレッシュを行う際に一定時間内に
アクセスされたアドレスを除外することにより、過剰な
リフレッシュによる無駄な電力の消費とバンド幅の低下
を防ぐことができる。
In the second embodiment of the present invention having the above-described configuration, when performing distributed refresh of a memory, an address accessed within a predetermined time is excluded, so that unnecessary power consumption due to excessive refresh can be reduced. Bandwidth can be prevented from lowering.

【0030】なお、上記各実施例ではメモリにDRAM
を採用した場合を例として説明したが、本発明は上記各
実施例に限定されるものではなく、その主旨を逸脱しな
い範囲で種々に変形して実施することができるものであ
る。
In each of the above embodiments, the memory is a DRAM.
Has been described as an example, but the present invention is not limited to the above embodiments, and can be implemented in various modifications without departing from the gist of the invention.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明は、以上説明した構成により、以
下の効果が得られる。
According to the present invention, the following effects can be obtained by the configuration described above.

【0032】メモリのリフレッシュを行う際に一定時間
内にアクセスされたアドレスを除外することにより、過
剰なリフレッシュによる無駄な電力の消費とバンド幅の
低下を防ぐことができる。
By excluding addresses accessed within a certain period of time when refreshing the memory, it is possible to prevent unnecessary power consumption and bandwidth reduction due to excessive refresh.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1の実施例のメモリ制御回路の構成を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a memory control circuit according to a first embodiment.

【図2】第1の実施例のタイミングチャートを示す図で
ある。
FIG. 2 is a diagram showing a timing chart of the first embodiment.

【図3】第2の実施例のメモリ制御回路の構成を示すブ
ロック図である。
FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of a memory control circuit according to a second embodiment.

【図4】第2の実施例のタイミングチャートを示す図で
ある。
FIG. 4 is a diagram showing a timing chart of the second embodiment.

【図5】従来例のリフレッシュ方式のタイミングチャー
トを示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a timing chart of a conventional refresh method.

【図6】従来例のデータアクセスとリフレッシュのタイ
ミングチャートを示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a timing chart of data access and refresh of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…メモリ制御回路、2…タイミング制御回路、3…ア
ドレス生成回路、4…リフレッシュカウンタ、5…Ro
wアドレス記憶回路、6…アドレスデコーダ、7…フラ
グレジスタ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Memory control circuit, 2 ... Timing control circuit, 3 ... Address generation circuit, 4 ... Refresh counter, 5 ... Ro
w address storage circuit, 6 ... address decoder, 7 ... flag register.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5B024 AA01 AA09 BA21 BA29 DA10 DA14  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F-term (reference) 5B024 AA01 AA09 BA21 BA29 DA10 DA14

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】メモリに対するデータ入出力制御を行うメ
モリ制御装置において、メモリに規定されたリフレッシ
ュ周期よりも短い周期をカウントするリフレッシュカウ
ンタと、リフレッシュアドレスを生成するアドレス生成
回路と、データ入出力が行われたアドレスを記憶するア
ドレス記憶回路とを有し、一定時間内にデータ入出力が
行われたアドレスを除外してリフレッシュを行うことを
特徴とするメモリ制御装置。
1. A memory control device for controlling data input / output to / from a memory, comprising: a refresh counter for counting a cycle shorter than a refresh cycle specified for the memory; an address generating circuit for generating a refresh address; A memory control device, comprising: an address storage circuit that stores an executed address; and performing refresh while excluding an address for which data input / output has been performed within a predetermined time.
【請求項2】請求項1のメモリ制御装置において、アド
レス記憶回路はアドレスデコーダとフラグレジスタで構
成され、データ入出力が行われたアドレスのフラグを立
てて記憶すること特徴とするメモリ制御装置。
2. The memory control device according to claim 1, wherein the address storage circuit comprises an address decoder and a flag register, and stores a flag of an address at which data input / output has been performed.
【請求項3】請求項1のメモリ制御装置において、リフ
レッシュを集中リフレッシュ方式で行うことを特徴とす
るメモリ制御装置。
3. The memory control device according to claim 1, wherein the refresh is performed by a centralized refresh method.
【請求項4】請求項1のメモリ制御装置において、リフ
レッシュを分散リフレッシュ方式で行うことを特徴とす
るメモリ制御装置。
4. The memory control device according to claim 1, wherein the refresh is performed by a distributed refresh method.
JP11036803A 1999-02-16 1999-02-16 Memory controller Pending JP2000235789A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11036803A JP2000235789A (en) 1999-02-16 1999-02-16 Memory controller

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11036803A JP2000235789A (en) 1999-02-16 1999-02-16 Memory controller

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000235789A true JP2000235789A (en) 2000-08-29

Family

ID=12479955

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11036803A Pending JP2000235789A (en) 1999-02-16 1999-02-16 Memory controller

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000235789A (en)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100402099B1 (en) * 2000-12-29 2003-10-17 주식회사 하이닉스반도체 Refresh period generator in memory device
JP2004005933A (en) * 2002-04-18 2004-01-08 Samsung Electronics Co Ltd Refresh circuit having restoration time variable by operation mode of semiconductor memory device and its refresh method
KR100418926B1 (en) * 2001-06-30 2004-02-14 주식회사 하이닉스반도체 Circuit for Refreshing of DRAM Micro-controller
JP2004171660A (en) * 2002-11-19 2004-06-17 Sony Corp Information storage device, information storage method, and information storage program
WO2007007599A1 (en) * 2005-07-11 2007-01-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Memory control device
US7460425B2 (en) 2006-01-23 2008-12-02 Sanyo Electric Co., Ltd. Memory having count detection circuitry for detecting access frequency
JP2009043337A (en) * 2007-08-08 2009-02-26 Hitachi Ltd Information recording/reproducing apparatus and method of controlling memory
US7652908B2 (en) 2004-06-23 2010-01-26 Hideaki Miyamoto Ferroelectric memory having a refresh control circuit capable of recovering residual polarization of unselected memory cells
US9147460B2 (en) 2012-06-11 2015-09-29 Renesas Electronics Corporation Memory controller, memory control method, and memory control system

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100402099B1 (en) * 2000-12-29 2003-10-17 주식회사 하이닉스반도체 Refresh period generator in memory device
KR100418926B1 (en) * 2001-06-30 2004-02-14 주식회사 하이닉스반도체 Circuit for Refreshing of DRAM Micro-controller
JP2004005933A (en) * 2002-04-18 2004-01-08 Samsung Electronics Co Ltd Refresh circuit having restoration time variable by operation mode of semiconductor memory device and its refresh method
JP2004171660A (en) * 2002-11-19 2004-06-17 Sony Corp Information storage device, information storage method, and information storage program
US7652908B2 (en) 2004-06-23 2010-01-26 Hideaki Miyamoto Ferroelectric memory having a refresh control circuit capable of recovering residual polarization of unselected memory cells
WO2007007599A1 (en) * 2005-07-11 2007-01-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Memory control device
JPWO2007007599A1 (en) * 2005-07-11 2009-01-29 パナソニック株式会社 Memory control device
US7460425B2 (en) 2006-01-23 2008-12-02 Sanyo Electric Co., Ltd. Memory having count detection circuitry for detecting access frequency
JP2009043337A (en) * 2007-08-08 2009-02-26 Hitachi Ltd Information recording/reproducing apparatus and method of controlling memory
US9147460B2 (en) 2012-06-11 2015-09-29 Renesas Electronics Corporation Memory controller, memory control method, and memory control system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4036536B2 (en) DRAM device with self-refresh mode
US7710809B2 (en) Self refresh operation of semiconductor memory device
US20050108460A1 (en) Partial bank DRAM refresh
US20040027900A1 (en) Semiconductor memory device and system outputting refresh flag
JPS63155494A (en) Pseudo static memory device
US6834021B2 (en) Semiconductor memory having memory cells requiring refresh operation
US6219292B1 (en) Semiconductor memory device having reduced power requirements during refresh operation by performing refresh operation in a burst method
US20080285370A1 (en) Semiconductor memory and system
US6282606B1 (en) Dynamic random access memories with hidden refresh and utilizing one-transistor, one-capacitor cells, systems and methods
US6728157B2 (en) Semiconductor memory
JPH05266657A (en) Dynamic semiconductor memory
JP2004342244A (en) Semiconductor memory system and electronic device
US6657920B2 (en) Circuit for generating internal address in semiconductor memory device
JP2000235789A (en) Memory controller
US6175535B1 (en) Cycle control circuit for extending a cycle period of a dynamic memory device subarray
US7392339B2 (en) Partial bank DRAM precharge
US6603704B2 (en) Reduced current address selection circuit and method
JP4440118B2 (en) Semiconductor memory
JPH11339469A (en) Semiconductor memory device
JP2004185686A (en) Semiconductor storage device
US20060056263A1 (en) Semiconductor memory device and electronic apparatus
US5764582A (en) Apparatus and method of refreshing a dynamic random access memory
EP1647028B1 (en) 1t1c sram
JPH03102696A (en) Refresh controller
JP2004220697A (en) Refresh control of semiconductor memory device